CN117907239A - 一种电子元器件检测测试装置及其方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及电子元器件检测测试技术领域，且公开了一种电子元器件检测测试装置及其方法，解决了工作人员需要观测电子元器件的多个面，工作效率较低，随着工作时间的增加，也容易导致人工检测精准度降低的问题，其包括检测箱，所述检测箱内设有第一支撑柱，第一支撑柱的底端和检测箱的底部内壁固定连接，第一支撑柱的顶端与位于检测箱上方的支撑盘固定连接，第一支撑柱的外部套设有旋转套，旋转套的外部固定套设有位于检测箱上方的旋转盘，旋转盘位于支撑盘的下方，且第一支撑柱和检测箱转动连接，旋转盘上开设有若干第一导向槽；不需要人工进行检测，即可完成电子元器件外观的检测，提高了检测的工作效率和精准度。

Description

一种电子元器件检测测试装置及其方法

技术领域

本发明属于电子元器件检测测试技术领域，具体为一种电子元器件检测测试装置及其方法。

背景技术

电子元器件是电子元件和电小型的机器、仪器的组成部分，其本身常由若干零件构成，可以在同类产品中通用；常指电器、无线电、仪表等工业的某些零件，如电容、晶体管、游丝、发条等子器件的总称。电子元器件在生产装配后需要对电子元器件进行测试，通常包括性能测试和外观检测两个部分组成，首先需要对电子元器件进行外观检测，将外观有缺陷的产品提前筛选出，避免性能测试资源的浪费，同时防止外观不合格的产品流入市场，通常通过人工对电子元器件的外观进行检测，工作人员需要观测电子元器件的多个面，工作效率较低，随着工作时间的增加，也容易导致人工检测的精准度降低，存在一定的局限性。

发明内容

针对上述情况，为克服现有技术的缺陷，本发明提供一种电子元器件检测测试装置及其方法，有效的解决了上述背景技术中工作人员需要观测电子元器件的多个面，工作效率较低，随着工作时间的增加，也容易导致人工检测精准度降低的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种电子元器件检测测试装置，包括检测箱，所述检测箱内设有第一支撑柱，第一支撑柱的底端和检测箱的底部内壁固定连接，第一支撑柱的顶端与位于检测箱上方的支撑盘固定连接，第一支撑柱的外部套设有旋转套，旋转套的外部固定套设有位于检测箱上方的旋转盘，旋转盘位于支撑盘的下方，且第一支撑柱和检测箱转动连接，旋转盘上开设有若干第一导向槽，第一导向槽内设有导向条，导向条上固定连接有支撑板，支撑板上贯穿有转动连接的第一转轴，第一转轴的顶端固定连接有检测盘，检测箱上设有与第一转轴相配合的啮合单元，旋转盘上设有与导向条相配合的阻尼滑动结构，检测箱的上方设有与支撑板相配合的拨动柱，检测箱上设有分别与旋转套和拨动柱相配合的同步驱动结构，支撑盘的上方设有按压板，按压板和支撑盘之间设有若干第一检测相机，支撑盘上设有分别与第一检测相机和按压板相配合的调整锁死机构，按压板上固定连接有第一连接板，第一连接板远离按压板的一端固定连接有与检测盘相配合的第二检测相机，支撑盘上设有与支撑板相配合的拨动复位器。

优选的，所述调整锁死机构包括固定安装于支撑盘顶部的固定块，固定块上开设有第二导向槽，第一检测相机上固定连接有安装架，安装架上固定连接有导向块，且导向块位于第二导向槽内，按压板的底部和安装架的顶部相接触，按压板和支撑盘通过锁死单元连接。

优选的，所述锁死单元包括若干固定安装于支撑盘顶部的丝杆，丝杆贯穿按压板，丝杆的外部套设有位于按压板顶部的螺母。

优选的，所述拨动复位器包括固定安装于支撑盘上的第一电机，第一电机的输出端固定连接有第二转轴，第二转轴上固定连接有与支撑板相配合的拨板。

优选的，所述啮合单元包括固定安装于第一转轴底端的齿轮，检测箱的上方设有齿圈，齿圈和检测箱通过若干第二连接板连接，且齿轮和齿圈相啮合。

优选的，所述阻尼滑动结构包括套设于旋转套外部的推块，推块位于旋转盘和检测箱之间，旋转套上固定连接有若干限位条，且限位条贯穿推块，第一导向槽的内壁上开设有凹槽，凹槽内设有与导向条相配合的按压块，凹槽的底部内壁开设有通孔，按压块的底部固定连接有固定板，固定板贯穿通孔，按压块的下方设有托板，推块上设有若干倾斜面，且倾斜面设置的数量和托板设置的数量一致，托板上设有与推块相配合的倾斜面，托板和固定板通过弹性件连接，检测箱上设有与推块相配合的按压器。

优选的，所述弹性件包括两个固定安装于托板上的导向柱，导向柱贯穿固定板，导向柱的外部套设有压缩弹簧，压缩弹簧的两端分别与托板和固定板固定连接。

优选的，所述按压器包括套设于旋转套外部的支撑环，支撑环的顶部和推块的底部相接触，检测箱内固定连接有液压伸缩杆，液压伸缩杆的顶端固定连接有支撑架，且支撑架的顶端和支撑环的底部固定连接。

优选的，所述同步驱动结构包括固定安装于检测箱内的第二电机，第二电机的输出端固定连接有蜗杆，旋转套的外部固定套设有蜗轮，蜗轮和蜗杆相啮合，蜗杆的外部套设有转动连接的支撑部，支撑部和检测箱的内壁固定连接，蜗杆的外部固定套设有凸轮，凸轮的顶部设有浮动板，拨动柱的底端和浮动板的顶部固定连接，浮动板的底部固定连接有两个固定套，固定套内设有第二支撑柱，第二支撑柱的底端和检测箱的底部内壁固定连接，第二支撑柱的顶端和浮动板的底部通过拉伸弹簧连接。

本发明还提供了一种电子元器件检测测试方法，包括如上述所述的电子元器件检测测试装置，包括以下步骤：

步骤一：通过同步驱动结构驱动旋转套和旋转盘旋转，旋转盘通过阻尼滑动结构驱动导向条同步旋转，导向条通过支撑板驱动第一转轴和检测盘同步旋转，同时通过同步驱动结构驱动拨动柱上移；

步骤二：当支撑板移动至上下料工位时，支撑板与拨动柱相接触，随着旋转盘的持续旋转，导向条在第一导向槽内滑动，当检测盘上有检测完毕后的待检测电子元器件时，通过机械手将检测盘上的电子元器件取下，当检测盘上没有待检测电子元器件，通过机械手将待检测的电子元器件放置于检测盘上；

步骤三：通过同步驱动结构驱动拨动柱下移，当拨动柱的顶部水平位置低于支撑板的底部水平位置时，解除对支撑板位置的限定，旋转盘通过阻尼滑动结构驱动导向条同步旋转，以使放有待检测电子元器件的检测盘跟随旋转盘同步旋转，同时通过啮合单元驱动第一转轴和检测盘自转，以使位于支撑盘上方的若干个第一检测相机对待检测电子元器件的四周进行检测；

步骤四：当待检测电子元器件移动至第二检测相机的下方时，通过第二检测相机对待检测电子元器件的顶部进行检测，当检测盘和支撑板移动至复位工位时，通过拨动复位器驱动支撑板相对旋转盘滑动，以使导向条相对第一导向槽复位至初始位置，当检测盘再次移动至上下料工位，即可再次对检测盘上检测完毕的电子元器件的进行下料，以及在检测盘上放置待检测电子元器件。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

当支撑板移动至上下料工位时，支撑板与拨动柱相接触，随着旋转盘的持续旋转，导向条在第一导向槽内滑动，当检测盘上有检测完毕后的待检测电子元器件时，通过机械手将检测盘上的电子元器件取下，当检测盘上没有待检测电子元器件，通过机械手将待检测的电子元器件放置于检测盘上，通过同步驱动结构驱动拨动柱下移，当拨动柱的顶部水平位置低于支撑板的底部水平位置时，解除对支撑板位置的限定，旋转盘通过阻尼滑动结构驱动导向条同步旋转，以使放有待检测电子元器件的检测盘跟随旋转盘同步旋转，同时通过啮合单元驱动第一转轴和检测盘自转，以使位于支撑盘上方的若干个第一检测相机对待检测电子元器件的四周进行检测，当待检测电子元器件移动至第二检测相机的下方时，通过第二检测相机对待检测电子元器件的顶部进行检测，当检测盘和支撑板移动至复位工位时，通过拨动复位器驱动支撑板相对旋转盘滑动，以使导向条相对第一导向槽复位至初始位置，当检测盘再次移动至上下料工位，即可再次对检测盘上检测完毕的电子元器件的进行下料，以及在检测盘上放置待检测电子元器件，不需要人工进行检测，即可完成电子元器件外观的检测，提高了检测的工作效率和精准度。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。

在附图中：

图1为本发明整体的结构示意图之一。

图2为本发明整体的结构示意图之二。

图3为本发明检测箱内部的结构示意图。

图4为本发明支撑板的结构示意图。

图5为本发明浮动板底部的结构示意图。

图6为本发明推块和限位条拆分的结构示意图。

图7为本发明丝杆和螺母拆分的结构示意图。

图8为本发明旋转盘剖切的结构示意图。

图中：1、检测箱；2、第一支撑柱；3、旋转套；4、旋转盘；5、支撑盘；6、第一导向槽；7、导向条；8、支撑板；9、第一转轴；10、检测盘；11、按压板；12、第一检测相机；13、第二检测相机；14、第一连接板；15、拨动柱；16、固定块；17、第二导向槽；18、安装架；19、导向块；20、丝杆；21、螺母；22、第一电机；23、第二转轴；24、拨板；25、齿轮；26、齿圈；27、第二连接板；28、推块；29、限位条；30、凹槽；31、通孔；32、按压块；33、固定板；34、托板；35、导向柱；36、压缩弹簧；37、支撑环；38、支撑架；39、液压伸缩杆；40、蜗杆；41、第二电机；42、蜗轮；43、凸轮；44、浮动板；45、第二支撑柱；46、固定套；47、拉伸弹簧；48、支撑部。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例；基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例一，由图1至图8给出，本发明包括检测箱1，检测箱1内设有第一支撑柱2，第一支撑柱2的底端和检测箱1的底部内壁固定连接，第一支撑柱2的顶端与位于检测箱1上方的支撑盘5固定连接，第一支撑柱2的外部套设有旋转套3，旋转套3的外部固定套设有位于检测箱1上方的旋转盘4，旋转盘4位于支撑盘5的下方，且第一支撑柱2和检测箱1转动连接，旋转盘4上开设有若干第一导向槽6，第一导向槽6内设有导向条7，导向条7上固定连接有支撑板8，支撑板8上贯穿有转动连接的第一转轴9，第一转轴9的顶端固定连接有检测盘10，检测箱1上设有与第一转轴9相配合的啮合单元，旋转盘4上设有与导向条7相配合的阻尼滑动结构，检测箱1的上方设有与支撑板8相配合的拨动柱15，检测箱1上设有分别与旋转套3和拨动柱15相配合的同步驱动结构，支撑盘5的上方设有按压板11，按压板11和支撑盘5之间设有若干第一检测相机12，支撑盘5上设有分别与第一检测相机12和按压板11相配合的调整锁死机构，按压板11上固定连接有第一连接板14，第一连接板14远离按压板11的一端固定连接有与检测盘10相配合的第二检测相机13，支撑盘5上设有与支撑板8相配合的拨动复位器；当支撑板8移动至上下料工位时，支撑板8与拨动柱15相接触，随着旋转盘4的持续旋转，导向条7在第一导向槽6内滑动，当检测盘10上有检测完毕后的待检测电子元器件时，通过机械手将检测盘10上的电子元器件取下，当检测盘10上没有待检测电子元器件，通过机械手将待检测的电子元器件放置于检测盘10上，通过同步驱动结构驱动拨动柱15下移，当拨动柱15的顶部水平位置低于支撑板8的底部水平位置时，解除对支撑板8位置的限定，旋转盘4通过阻尼滑动结构驱动导向条7同步旋转，以使放有待检测电子元器件的检测盘10跟随旋转盘4同步旋转，同时通过啮合单元驱动第一转轴9和检测盘10自转，以使位于支撑盘5上方的若干个第一检测相机12对待检测电子元器件的四周进行检测，当待检测电子元器件移动至第二检测相机13的下方时，通过第二检测相机13对待检测电子元器件的顶部进行检测，当检测盘10和支撑板8移动至复位工位时，通过拨动复位器驱动支撑板8相对旋转盘4滑动，以使导向条7相对第一导向槽6复位至初始位置，当检测盘10再次移动至上下料工位，即可再次对检测盘10上检测完毕的电子元器件的进行下料，以及在检测盘10上放置待检测电子元器件，不需要人工进行检测，即可完成电子元器件外观的检测，提高了检测的工作效率和精准度。

实施例二，在实施例一的基础上，由图2和图7给出，调整锁死机构包括固定安装于支撑盘5顶部的固定块16，固定块16上开设有第二导向槽17，第一检测相机12上固定连接有安装架18，安装架18上固定连接有导向块19，且导向块19位于第二导向槽17内，按压板11的底部和安装架18的顶部相接触，按压板11和支撑盘5通过锁死单元连接，锁死单元包括若干固定安装于支撑盘5顶部的丝杆20，丝杆20贯穿按压板11，丝杆20的外部套设有位于按压板11顶部的螺母21；

工作人员驱动第一检测相机12和安装架18相对固定块16滑动，导向块19在第二导向槽17内滑动，调整第一检测相机12相对固定块16和支撑盘5的初始位置，当第一检测相机12的位置调整完毕后，工作人员驱动螺母21旋转，螺母21驱动按压板11下移，当按压板11按压安装架18的顶部时，螺母21停止旋转，通过按压板11限位安装架18的位置，以使安装架18和第一检测相机12相对固定块16和支撑盘5固定，便于根据实际需求，调节相邻两个第一检测相机12之间的间距。

实施例三，在实施例一的基础上，由图2和图4给出，拨动复位器包括固定安装于支撑盘5上的第一电机22，第一电机22的输出端固定连接有第二转轴23，第二转轴23上固定连接有与支撑板8相配合的拨板24，啮合单元包括固定安装于第一转轴9底端的齿轮25，检测箱1的上方设有齿圈26，齿圈26和检测箱1通过若干第二连接板27连接，且齿轮25和齿圈26相啮合；

当检测盘10和支撑板8移动至复位工位时，通过第一电机22驱动第二转轴23旋转，第二转轴23驱动拨板24旋转至支撑板8的一侧，随着第二转轴23的持续旋转，拨板24拨动支撑板8相对旋转盘4滑动，导向条7在第一导向槽6内滑动，以使导向条7相对第一导向槽6复位至初始位置，当支撑板8和第一转轴9跟随旋转盘4旋转时，第一转轴9驱动齿轮25在齿圈26上滚动，使得支撑板8跟随旋转盘4旋转时，齿轮25驱动第一转轴9和检测盘10相对支撑板8自转。

实施例四，在实施例一的基础上，由图3、图6和图8给出，阻尼滑动结构包括套设于旋转套3外部的推块28，推块28位于旋转盘4和检测箱1之间，旋转套3上固定连接有若干限位条29，且限位条29贯穿推块28，第一导向槽6的内壁上开设有凹槽30，凹槽30内设有与导向条7相配合的按压块32，凹槽30的底部内壁开设有通孔31，按压块32的底部固定连接有固定板33，固定板33贯穿通孔31，按压块32的下方设有托板34，推块28上设有若干倾斜面，且倾斜面设置的数量和托板34设置的数量一致，托板34上设有与推块28相配合的倾斜面，托板34和固定板33通过弹性件连接，检测箱1上设有与推块28相配合的按压器，弹性件包括两个固定安装于托板34上的导向柱35，导向柱35贯穿固定板33，导向柱35的外部套设有压缩弹簧36，压缩弹簧36的两端分别与托板34和固定板33固定连接，按压器包括套设于旋转套3外部的支撑环37，支撑环37的顶部和推块28的底部相接触，检测箱1内固定连接有液压伸缩杆39，液压伸缩杆39的顶端固定连接有支撑架38，且支撑架38的顶端和支撑环37的底部固定连接；

当旋转套3驱动旋转盘4旋转时，旋转套3通过限位条29驱动推块28同步旋转，推块28在支撑环37的顶部旋转，压缩弹簧36初始状态为压缩状态，压缩弹簧36对固定板33和按压块32施加压力，以使按压块32按压在导向条7上，当拨动柱15与支撑板8相接触，拨动柱15的顶部水平位置高于支撑板8的底部水平位置时，随着旋转盘4的持续旋转时，导向条7相对按压块32滑动，且导向条7在第一导向槽6内滑动，当拨动柱15的顶部水平位置低于支撑板8的底部水平位置时，随着旋转盘4的持续旋转，按压块32通过摩擦力驱动导向条7和支撑板8跟随旋转盘4同步旋转，通过液压伸缩杆39驱动支撑架38和支撑环37竖直方向移动，支撑环37推动推块28相对限位条29和旋转套3竖直方向滑动，推块28推动托板34相对固定板33水平方向移动，改变托板34和固定板33之间的间距，即可调整压缩弹簧36的初始长度，进而调节按压块32按压导向条7的力度，即可根据实际需求，调节按压块32和导向条7之间的摩擦力。

实施例五，在实施例一的基础上，由图3和图5给出，同步驱动结构包括固定安装于检测箱1内的第二电机41，第二电机41的输出端固定连接有蜗杆40，旋转套3的外部固定套设有蜗轮42，蜗轮42和蜗杆40相啮合，蜗杆40的外部套设有转动连接的支撑部48，支撑部48和检测箱1的内壁固定连接，蜗杆40的外部固定套设有凸轮43，凸轮43的顶部设有浮动板44，拨动柱15的底端和浮动板44的顶部固定连接，浮动板44的底部固定连接有两个固定套46，固定套46内设有第二支撑柱45，第二支撑柱45的底端和检测箱1的底部内壁固定连接，第二支撑柱45的顶端和浮动板44的底部通过拉伸弹簧47连接；

拉伸弹簧47的初始状态为拉伸状态，拉伸弹簧47对浮动板44施加拉力，以使浮动板44的底部和凸轮43紧贴，通过第二电机41驱动蜗杆40旋转，蜗杆40通过蜗轮42驱动旋转套3旋转，旋转套3旋转的同时，蜗杆40驱动凸轮43旋转，凸轮43驱动浮动板44竖直方向往复移动，浮动板44即可驱动拨动柱15竖直方向往复移动，拨动柱15即可使得每个支撑板8移动至上下料工位时停止一段预设时间，便于机械手在检测盘10的顶部进行上下料。

本实施例的一种电子元器件检测测试方法，包括如上述的电子元器件检测测试装置，包括以下步骤：

步骤一：通过同步驱动结构驱动旋转套3和旋转盘4旋转，旋转盘4通过阻尼滑动结构驱动导向条7同步旋转，导向条7通过支撑板8驱动第一转轴9和检测盘10同步旋转，同时通过同步驱动结构驱动拨动柱15上移；

步骤二：当支撑板8移动至上下料工位时，支撑板8与拨动柱15相接触，随着旋转盘4的持续旋转，导向条7在第一导向槽6内滑动，当检测盘10上有检测完毕后的待检测电子元器件时，通过机械手将检测盘10上的电子元器件取下，当检测盘10上没有待检测电子元器件，通过机械手将待检测的电子元器件放置于检测盘10上；

步骤三：通过同步驱动结构驱动拨动柱15下移，当拨动柱15的顶部水平位置低于支撑板8的底部水平位置时，解除对支撑板8位置的限定，旋转盘4通过阻尼滑动结构驱动导向条7同步旋转，以使放有待检测电子元器件的检测盘10跟随旋转盘4同步旋转，同时通过啮合单元驱动第一转轴9和检测盘10自转，以使位于支撑盘5上方的若干个第一检测相机12对待检测电子元器件的四周进行检测；

步骤四：当待检测电子元器件移动至第二检测相机13的下方时，通过第二检测相机13对待检测电子元器件的顶部进行检测，当检测盘10和支撑板8移动至复位工位时，通过拨动复位器驱动支撑板8相对旋转盘4滑动，以使导向条7相对第一导向槽6复位至初始位置，当检测盘10再次移动至上下料工位，即可再次对检测盘10上检测完毕的电子元器件的进行下料，以及在检测盘10上放置待检测电子元器件。

工作原理：工作时，通过同步驱动结构驱动旋转套3和旋转盘4旋转，旋转盘4通过阻尼滑动结构驱动导向条7同步旋转，导向条7通过支撑板8驱动第一转轴9和检测盘10同步旋转，同时通过同步驱动结构驱动拨动柱15上移，当支撑板8移动至上下料工位时，支撑板8与拨动柱15相接触，拨动柱15限位支撑板8的位置，随着旋转盘4的持续旋转，导向条7在第一导向槽6内滑动，导向条7和支撑板8相对检测箱1保持静止，当检测盘10上有检测完毕后的待检测电子元器件时，通过机械手将检测盘10上的电子元器件取下，当检测盘10上没有待检测电子元器件，通过机械手将待检测的电子元器件放置于检测盘10上，随着旋转盘4的持续旋转，通过同步驱动结构驱动拨动柱15下移，当拨动柱15的顶部水平位置低于支撑板8的底部水平位置时，解除对支撑板8位置的限定，随着旋转盘4的持续旋转，旋转盘4通过阻尼滑动结构驱动导向条7同步旋转，以使放有待检测电子元器件的检测盘10跟随旋转盘4同步旋转，同时通过啮合单元驱动第一转轴9和检测盘10自转，以使位于支撑盘5上方的若干个第一检测相机12对待检测电子元器件的四周进行检测，当待检测电子元器件移动至第二检测相机13的下方时，通过第二检测相机13对待检测电子元器件的顶部进行检测，当待检测电子元器件检测完毕后，随着旋转盘4的持续旋转，检测盘10和支撑板8移动至复位工位时，通过拨动复位器驱动支撑板8相对旋转盘4滑动，导向条7在第一导向槽6内滑动，以使导向条7相对第一导向槽6复位至初始位置，当检测盘10再次移动至上下料工位，即可再次对检测盘10上检测完毕的电子元器件的进行下料，以及在检测盘10上放置待检测电子元器件，不需要人工进行检测，即可完成电子元器件外观的检测，提高了检测的工作效率和精准度；

工作人员驱动第一检测相机12和安装架18相对固定块16滑动，导向块19在第二导向槽17内滑动，调整第一检测相机12相对固定块16和支撑盘5的初始位置，当第一检测相机12的位置调整完毕后，工作人员驱动螺母21旋转，螺母21驱动按压板11下移，当按压板11按压安装架18的顶部时，螺母21停止旋转，通过按压板11限位安装架18的位置，以使安装架18和第一检测相机12相对固定块16和支撑盘5固定，便于根据实际需求，调节相邻两个第一检测相机12之间的间距；

当检测盘10和支撑板8移动至复位工位时，通过第一电机22驱动第二转轴23旋转，第二转轴23驱动拨板24旋转至支撑板8的一侧，随着第二转轴23的持续旋转，拨板24拨动支撑板8相对旋转盘4滑动，导向条7在第一导向槽6内滑动，以使导向条7相对第一导向槽6复位至初始位置，当支撑板8和第一转轴9跟随旋转盘4旋转时，第一转轴9驱动齿轮25在齿圈26上滚动，使得支撑板8跟随旋转盘4旋转时，齿轮25驱动第一转轴9和检测盘10相对支撑板8自转；

当旋转套3驱动旋转盘4旋转时，旋转套3通过限位条29驱动推块28同步旋转，推块28在支撑环37的顶部旋转，压缩弹簧36初始状态为压缩状态，压缩弹簧36对固定板33和按压块32施加压力，以使按压块32按压在导向条7上，当拨动柱15与支撑板8相接触，拨动柱15的顶部水平位置高于支撑板8的底部水平位置时，随着旋转盘4的持续旋转时，导向条7相对按压块32滑动，且导向条7在第一导向槽6内滑动，当拨动柱15的顶部水平位置低于支撑板8的底部水平位置时，随着旋转盘4的持续旋转，按压块32通过摩擦力驱动导向条7和支撑板8跟随旋转盘4同步旋转，通过液压伸缩杆39驱动支撑架38和支撑环37竖直方向移动，支撑环37推动推块28相对限位条29和旋转套3竖直方向滑动，推块28推动托板34相对固定板33水平方向移动，改变托板34和固定板33之间的间距，即可调整压缩弹簧36的初始长度，进而调节按压块32按压导向条7的力度，即可根据实际需求，调节按压块32和导向条7之间的摩擦力；

拉伸弹簧47的初始状态为拉伸状态，拉伸弹簧47对浮动板44施加拉力，以使浮动板44的底部和凸轮43紧贴，通过第二电机41驱动蜗杆40旋转，蜗杆40通过蜗轮42驱动旋转套3旋转，旋转套3旋转的同时，蜗杆40驱动凸轮43旋转，凸轮43驱动浮动板44竖直方向往复移动，浮动板44即可驱动拨动柱15竖直方向往复移动，拨动柱15即可使得每个支撑板8移动至上下料工位时停止一段预设时间，便于机械手在检测盘10的顶部进行上下料。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种电子元器件检测测试装置，包括检测箱（1），其特征在于：所述检测箱（1）内设有第一支撑柱（2），第一支撑柱（2）的底端和检测箱（1）的底部内壁固定连接，第一支撑柱（2）的顶端与位于检测箱（1）上方的支撑盘（5）固定连接，第一支撑柱（2）的外部套设有旋转套（3），旋转套（3）的外部固定套设有位于检测箱（1）上方的旋转盘（4），旋转盘（4）位于支撑盘（5）的下方，且第一支撑柱（2）和检测箱（1）转动连接，旋转盘（4）上开设有若干第一导向槽（6），第一导向槽（6）内设有导向条（7），导向条（7）上固定连接有支撑板（8），支撑板（8）上贯穿有转动连接的第一转轴（9），第一转轴（9）的顶端固定连接有检测盘（10），检测箱（1）上设有与第一转轴（9）相配合的啮合单元，旋转盘（4）上设有与导向条（7）相配合的阻尼滑动结构，检测箱（1）的上方设有与支撑板（8）相配合的拨动柱（15），检测箱（1）上设有分别与旋转套（3）和拨动柱（15）相配合的同步驱动结构，支撑盘（5）的上方设有按压板（11），按压板（11）和支撑盘（5）之间设有若干第一检测相机（12），支撑盘（5）上设有分别与第一检测相机（12）和按压板（11）相配合的调整锁死机构，按压板（11）上固定连接有第一连接板（14），第一连接板（14）远离按压板（11）的一端固定连接有与检测盘（10）相配合的第二检测相机（13），支撑盘（5）上设有与支撑板（8）相配合的拨动复位器。

2.根据权利要求1所述的一种电子元器件检测测试装置，其特征在于：所述调整锁死机构包括固定安装于支撑盘（5）顶部的固定块（16），固定块（16）上开设有第二导向槽（17），第一检测相机（12）上固定连接有安装架（18），安装架（18）上固定连接有导向块（19），且导向块（19）位于第二导向槽（17）内，按压板（11）的底部和安装架（18）的顶部相接触，按压板（11）和支撑盘（5）通过锁死单元连接。

3.根据权利要求2所述的一种电子元器件检测测试装置，其特征在于：所述锁死单元包括若干固定安装于支撑盘（5）顶部的丝杆（20），丝杆（20）贯穿按压板（11），丝杆（20）的外部套设有位于按压板（11）顶部的螺母（21）。

4.根据权利要求1所述的一种电子元器件检测测试装置，其特征在于：所述拨动复位器包括固定安装于支撑盘（5）上的第一电机（22），第一电机（22）的输出端固定连接有第二转轴（23），第二转轴（23）上固定连接有与支撑板（8）相配合的拨板（24）。

5.根据权利要求1所述的一种电子元器件检测测试装置，其特征在于：所述啮合单元包括固定安装于第一转轴（9）底端的齿轮（25），检测箱（1）的上方设有齿圈（26），齿圈（26）和检测箱（1）通过若干第二连接板（27）连接，且齿轮（25）和齿圈（26）相啮合。

6.根据权利要求1所述的一种电子元器件检测测试装置，其特征在于：所述阻尼滑动结构包括套设于旋转套（3）外部的推块（28），推块（28）位于旋转盘（4）和检测箱（1）之间，旋转套（3）上固定连接有若干限位条（29），且限位条（29）贯穿推块（28），第一导向槽（6）的内壁上开设有凹槽（30），凹槽（30）内设有与导向条（7）相配合的按压块（32），凹槽（30）的底部内壁开设有通孔（31），按压块（32）的底部固定连接有固定板（33），固定板（33）贯穿通孔（31），按压块（32）的下方设有托板（34），推块（28）上设有若干倾斜面，且倾斜面设置的数量和托板（34）设置的数量一致，托板（34）上设有与推块（28）相配合的倾斜面，托板（34）和固定板（33）通过弹性件连接，检测箱（1）上设有与推块（28）相配合的按压器。

7.根据权利要求6所述的一种电子元器件检测测试装置，其特征在于：所述弹性件包括两个固定安装于托板（34）上的导向柱（35），导向柱（35）贯穿固定板（33），导向柱（35）的外部套设有压缩弹簧（36），压缩弹簧（36）的两端分别与托板（34）和固定板（33）固定连接。

8.根据权利要求6所述的一种电子元器件检测测试装置，其特征在于：所述按压器包括套设于旋转套（3）外部的支撑环（37），支撑环（37）的顶部和推块（28）的底部相接触，检测箱（1）内固定连接有液压伸缩杆（39），液压伸缩杆（39）的顶端固定连接有支撑架（38），且支撑架（38）的顶端和支撑环（37）的底部固定连接。

9.根据权利要求1所述的一种电子元器件检测测试装置，其特征在于：所述同步驱动结构包括固定安装于检测箱（1）内的第二电机（41），第二电机（41）的输出端固定连接有蜗杆（40），旋转套（3）的外部固定套设有蜗轮（42），蜗轮（42）和蜗杆（40）相啮合，蜗杆（40）的外部套设有转动连接的支撑部（48），支撑部（48）和检测箱（1）的内壁固定连接，蜗杆（40）的外部固定套设有凸轮（43），凸轮（43）的顶部设有浮动板（44），拨动柱（15）的底端和浮动板（44）的顶部固定连接，浮动板（44）的底部固定连接有两个固定套（46），固定套（46）内设有第二支撑柱（45），第二支撑柱（45）的底端和检测箱（1）的底部内壁固定连接，第二支撑柱（45）的顶端和浮动板（44）的底部通过拉伸弹簧（47）连接。

10.一种电子元器件检测测试方法，采用如权利要求1所述的电子元器件检测测试装置，其特征在于：所述方法包括以下步骤：

步骤一：通过同步驱动结构驱动旋转套（3）和旋转盘（4）旋转，旋转盘（4）通过阻尼滑动结构驱动导向条（7）同步旋转，导向条（7）通过支撑板（8）驱动第一转轴（9）和检测盘（10）同步旋转，同时通过同步驱动结构驱动拨动柱（15）上移；

步骤二：当支撑板（8）移动至上下料工位时，支撑板（8）与拨动柱（15）相接触，随着旋转盘（4）的持续旋转，导向条（7）在第一导向槽（6）内滑动，当检测盘（10）上有检测完毕后的待检测电子元器件时，通过机械手将检测盘（10）上的电子元器件取下，当检测盘（10）上没有待检测电子元器件，通过机械手将待检测的电子元器件放置于检测盘（10）上；

步骤三：通过同步驱动结构驱动拨动柱（15）下移，当拨动柱（15）的顶部水平位置低于支撑板（8）的底部水平位置时，解除对支撑板（8）位置的限定，旋转盘（4）通过阻尼滑动结构驱动导向条（7）同步旋转，以使放有待检测电子元器件的检测盘（10）跟随旋转盘（4）同步旋转，同时通过啮合单元驱动第一转轴（9）和检测盘（10）自转，以使位于支撑盘（5）上方的若干个第一检测相机（12）对待检测电子元器件的四周进行检测；

步骤四：当待检测电子元器件移动至第二检测相机（13）的下方时，通过第二检测相机（13）对待检测电子元器件的顶部进行检测，当检测盘（10）和支撑板（8）移动至复位工位时，通过拨动复位器驱动支撑板（8）相对旋转盘（4）滑动，以使导向条（7）相对第一导向槽（6）复位至初始位置，当检测盘（10）再次移动至上下料工位，即可再次对检测盘（10）上检测完毕的电子元器件的进行下料，以及在检测盘（10）上放置待检测电子元器件。