CN116692442B - 基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN116692442B
CN116692442B CN202310492343.3A CN202310492343A CN116692442B CN 116692442 B CN116692442 B CN 116692442B CN 202310492343 A CN202310492343 A CN 202310492343A CN 116692442 B CN116692442 B CN 116692442B
Authority
CN
China
Prior art keywords
tested
board
area
board card
feeding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202310492343.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN116692442A (zh
Inventor
梁金宝
王汝逊
杨明
丛杰雄
张爱龙
唐燊
王明正
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Guoneng Zhishen Control Technology Co ltd
Guoneng Zhishen Tianjin Control Technology Co ltd
Original Assignee
Guoneng Zhishen Tianjin Control Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Guoneng Zhishen Tianjin Control Technology Co ltd filed Critical Guoneng Zhishen Tianjin Control Technology Co ltd
Priority to CN202310492343.3A priority Critical patent/CN116692442B/zh
Publication of CN116692442A publication Critical patent/CN116692442A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN116692442B publication Critical patent/CN116692442B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G47/00—Article or material-handling devices associated with conveyors; Methods employing such devices
    • B65G47/74—Feeding, transfer, or discharging devices of particular kinds or types
    • B65G47/90—Devices for picking-up and depositing articles or materials
    • B65G47/905—Control arrangements
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G43/00—Control devices, e.g. for safety, warning or fault-correcting
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G43/00—Control devices, e.g. for safety, warning or fault-correcting
    • B65G43/08—Control devices operated by article or material being fed, conveyed or discharged
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G47/00—Article or material-handling devices associated with conveyors; Methods employing such devices
    • B65G47/74—Feeding, transfer, or discharging devices of particular kinds or types
    • B65G47/90—Devices for picking-up and depositing articles or materials
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G2203/00—Indexing code relating to control or detection of the articles or the load carriers during conveying
    • B65G2203/02—Control or detection
    • B65G2203/0208—Control or detection relating to the transported articles
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G2203/00—Indexing code relating to control or detection of the articles or the load carriers during conveying
    • B65G2203/04—Detection means
    • B65G2203/041—Camera
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G2203/00—Indexing code relating to control or detection of the articles or the load carriers during conveying
    • B65G2203/04—Detection means
    • B65G2203/042—Sensors
    • B65G2203/044—Optical
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本发明提供一种基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质，属于老化测试技术领域。所述方法包括：获取待测板卡的上料信息：根据上料信息匹配待测板卡在调整区的调整位和在上料区的插料位；抓取来料区的待测板卡移至调整区匹配的调整位；在调整位完成对待测板卡的调整后，抓取调整位上的待测板卡插入至上料区匹配的插料位。本发明的方法能够实现对待测板卡的自动上料，而下料过程与上料过程相反，具有较高的上下料效率，提高待测板卡的老化测试作业效率；其次，通过自动匹配待测板卡的安装工位(插料位)，具有较高的匹配精度，能够有效避免待测卡板的针脚出现损伤而影响老化测试的准确性。

Description

基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质
技术领域
本发明涉及老化测试技术领域，具体地涉及一种基于老化测试的板卡上下料方法、一种基于老化测试的板卡上下料装置、一种电子设备和一种计算机可读存储介质。
背景技术
老化测试主要是模拟产品在现实使用过程中的各种恶劣条件的高强度测试，同时根据使用的要求，合理地预测产品使用寿命。
目前，产品的批量老化测试通常在老化房中进行测试作业，老化房是针对高性能电子产品仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备。
现有技术中，产品的批量老化测试大部分由工作人员进行上下料操作，该上料方式的效率极低且人力成本较高；其次，采用人工上下料的方式，在上下料的操作过程中，不同类型的产品需要安装不同型号的工位上，由于工作人员的疏忽，未能正确将测试产品安装到对应工位或其他误操作，会对待测试产品的针脚造成损坏，导致老化测试结果的准确度降低。
发明内容
本发明实施例的目的是提供一种基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质，解决现有上料方式存在着效率低、出错率高等问题。.
为了实现上述目的，本发明提供一种基于老化测试的板卡上下料方法，所述方法包括：
获取待测板卡的上料信息；
根据上料信息为待测板卡匹配调整区的调整位和上料区的插料位；
抓取来料区的待测板卡并移至调整区内匹配的调整位；
在调整位完成对待测板卡的调整后，抓取调整位上已调整的待测板卡插入至上料区内匹配的插料位。
优选地，所述上料信息包括：来料区的待测板卡的工单信息、调整区信息和上料区信息。
优选地，抓取来料区的待测板卡并移至调整区内匹配的调整位，包括：
基于图像识别抓取来料区内的待测板卡；
根据调整区信息将抓取的待测板卡移至调整区；
基于图像识别确定调整区内处于空闲状态的调整位；
将待测板卡插入至空闲状态的调整位。
优选地，基于图像识别抓取来料区内的待测板卡，包括：
基于图像识别确定待测板卡在来料区内的摆放位；
判断待测板卡在摆放位内的摆放方向与预设方向是否一致；
在确定待测板卡在摆放位内的摆放方向与预设方向不一致，调整对待测板卡的抓取方向。
优选地，还包括：在调整位对待测板卡进行方向调节，所述待测板卡的方向调节方式为翻转调节。
优选地，抓取调整位上的待测板卡插入至上料区匹配的插料位，包括：
基于图像识别抓取调整位上的待测板卡；
根据上料区信息将抓取的待测板卡移至上料区；
计算待测板卡向匹配的插料位内的插入方向；
根据插入方向将待测板卡插入至插料位。
优先地，所述上料区具有多块呈倾斜设置的料板，所述料板上设置有多个插料位，每个插料位上安装有基座，所述待测卡板插设在对应的基座上；
计算匹配的插料位的插入方向，包括：
获取待测板卡的端面与料板表面之间的相对距离；
在确定相对距离达到预设距离时，获取料板上的多个第一预设参考点的位置信息；
根据多个第一预设参考点的位置信息确定料板的倾斜角度和坡度；
根据倾斜角度和坡度调整待测板卡的插入角度；
获取基座上的多个校准点；
根据校准点确定待测板卡的插入位置和插入位移量。
本发明还提供一种基于老化测试的板卡上下料装置，用于实现上述的基于老化测试的板卡上下料方法，所述装置包括：
获取模块，用于获取待测板卡的上料信息；
匹配模块，用于根据上料信息为待测板卡匹配调整区的调整位和上料区的插料位；
第一位移模块，用于输出指令控制抓取来料区的待测板卡并移至调整区内匹配的调整位；
第二位移模块，用于在调整位完成对待测板卡的调整后，输出指令控制抓取调整位上已调整的待测板卡插入至上料区内匹配的插料位。
本发明还提供一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的基于老化测试的板卡上下料方法。
本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述的基于老化测试的板卡上下料方法。
通过上述技术方案，本发明至少具有如下技术效果：
1、本发明的方法能够实现对待测板卡的自动上料，而下料过程与上料过程相反，具有较高的上下料效率，提高待测板卡的老化测试作业效率；
2、本发明通过自动匹配待测板卡的安装工位(插料位)，具有较高的匹配精度，能够有效避免待测卡板的针脚出现损伤而影响老化测试的准确性。
本发明实施例的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
附图是用来提供对本发明实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明实施例，但并不构成对本发明实施例的限制。在附图中：
图1是本发明一种实施方式提供的基于老化测试的板卡上下料方法应用场景示意图；
图2是本发明一种实施方式提供的基于老化测试的板卡上下料方法应用场景的老化架结构示意图；
图3是本发明一种实施方式提供的基于老化测试的板卡上下料方法的流程图；
图4是本发明一种实施方式提供的基于老化测试的板卡上下料装置的框图。
附图标记说明
1-老化房；2-老化架；3-来料区；4-机械手；5-调整区；6-上料区；7-运输小车；8-料板；9-安装孔位；10-轨道。
具体实施方式
以下结合附图对本发明实施例的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明实施例，并不用于限制本发明实施例。
图1是本发明一种实施方式提供的基于老化测试的板卡上下料方法应用场景示意图，如图1所示，该场景包括老化房1，所述老化房1用于对待测板卡进行老化测试，老化房1内布置有老化架2，待测板卡安装在老化架2上，老化房1具有上料运输区和下料运输区，上料运输区和下料运输区的布局结构相同，上料运输区和下料运输区可以采用一个运输区，将其既作为上料运输区，也作为下料运输区，上下料操作交替进行；在本实施例中，只针对上料流程进行说明，下料流程为上料流程的相反操作。
上料运输区内具有来料区3、机械手4、调整区5和上料区6，上料区6内具有运输老化架2的运输小车7，运输小车7通过轨道10将老化架2从上料区6运输至老化房1内，或将老化架2从老化房1内运输至下料区。
在本实施例中，用于安装待测板卡的老化架2的结构如图2所示，该老化架2具有三层料板8，每层料板8设置有多个安装孔位9，一个安装孔位9作为一个插料位，安装孔位9用于安装待测板卡的基座，基座可以通过螺栓等方式安装在安装孔位9上(基座为现有结构，未在附图2中画出)，每层料板8呈倾斜设置，料板8的倾斜角度为30°～60°，优选设置为45°，老化架2的左右两侧均设置三层料板8，运输小车7通过旋转老化架2的方向，实现对老化架2两侧的料板8进行上料操作。
基于图1和图2所示的应用场景，如图3所示，本发明实施例提供一种基于老化测试的板卡上下料方法，所述方法包括：
步骤S101：获取待测板卡的上料信息，在本实施例中，所述上料信息包括：来料区的待测板卡的工单信息、调整区信息和上料区信息，其中工单信息包括待测卡板的工号、卡板型号等，调整区信息包括：调整区相对于机械手的相对位置坐标、以及调整区内的调整位的空闲状态等，上料区信息包括：上料区相对于机械手的相对位置坐标，上料区是否存在有能够上料的老化架，以及老化架的每个料板上的基座型号，上料信息还包括来料区相对于机械手的相对位置坐标。
步骤S102：根据上料信息为待测板卡匹配调整区的调整位和上料区的插料位；
在本实施例中，当来料区内具有待上料的卡板时，先获取该卡板的工单信息，判断上料区的老化架上是否具有该卡板的基座，需要匹配对应的基座，也就是匹配对应的插料位；由于来料区内待测板卡的放置方向与料板上的待测卡板的放置方向是相反的，例如待测板卡具有针脚的一端是朝上，或者是朝向水平的；因此需要将待测卡板运输至调整区，通过调整区对待测卡板的方向进行调整，确保待测板卡具有针脚的一端插入到基座上；在实际应用中，部分待测板卡放置时其针脚是朝下的，此时不需要对待测板卡进行翻转调节，则不需要设置调整区；而本发明只针对针脚朝上或水平放置的待测板卡。
步骤S103：抓取来料区的待测板卡并移至调整区内匹配的调整位；
具体地，抓取来料区的待测板卡移至调整区匹配的调整位，包括：
步骤a01：基于图像识别抓取来料区内的待测板卡；
在本实施例中，通过搭载与机械手上的摄像头，拍摄来料区的图片信息，识别出待测板卡的边界位置，然后通过激光测距仪等测距设备计算机械手与待测板卡的距离，当达到夹持距离后，夹住待测板卡实现对待测板卡的抓取。
作为本实施例的进一步优化，由于待测板卡在来料区内摆放的针脚的前后方向或左右方向存在差异，在抓取的过程中需要通过调整抓取方向使待测板运输到调整区中的摆放方向是一致的。
具体地，基于图像识别抓取来料区内的待测板卡，包括：
步骤a01.1：基于图像识别确定待测板卡在来料区内的摆放位；
步骤a01.2：判断待测板卡在摆放位内的摆放方向与预设方向是否一致；
步骤a01.3：在确定待测板卡在摆放位内的摆放方向与预设方向不一致，调整对待测板卡的抓取方向。
步骤a02：根据调整区信息将抓取的待测板卡移至调整区；
在本实施例中，根据来料区相对于机械手的相对位置坐标和调整区相对于机械手的相对位置坐标，可将从来料区抓取的待测板卡移动至调整区；
步骤a03：基于图像识别确定调整区内处于空闲状态的调整位；
步骤a04：将待测板卡插入至空闲状态的调整位。
本发明通过将待测板卡运输至调整区，调整区内具有统一、标准的调整位，能够矫正因来料区的用于存放板卡的料框的做工即放置位置所导致的公差，确保待测板卡经过调整区的调整后，使待测板卡具有统一、标准的位置，使机械手能够准确的夹住待测板卡的夹持位置，便于后续将待测板卡准确的插入到插料位内。
作为本实施例的进一步优化，还包括：在调整位对待测板卡进行方向调节，所述待测板卡的方向调节方式为翻转调节，可利用气缸等将待测板卡翻转成能够插料的状态。
步骤S104：在调整位完成对待测板卡的调整后，抓取调整位上已调整的待测板卡插入至上料区内匹配的插料位。
具体地，抓取调整位上已调整的待测板卡插入至上料区内匹配的插料位，包括：
步骤b01：基于图像识别抓取调整位上的待测板卡；
在完成对待测板卡的位置调整后，通过摄像头的图像识别，识别出待测板卡抓取位置，对该调整位上的待测板卡进行抓取。
步骤b02：根据上料区信息将抓取的待测板卡移至上料区；
在本实施例中，根据调整区相对于机械手的相对位置坐标和上料区相对于机械手的相对位置坐标，可将从调整区抓取的待测板卡移动至上料区。
步骤b03：计算待测板卡向匹配的插料位内的插入方向；
在本实施例中，所述上料区具有多块呈倾斜设置的料板，所述料板上设置有多个插料位，每个插料位上安装有基座，所述待测卡板插设在对应的基座上；
具体地，计算匹配的插料位的插入方向，包括：
步骤b03.1：获取待测板卡的端面与料板表面之间的相对距离，在本实施例中可通过安装在机械手上的测距仪进行测量相对距离，测距仪可以是激光测距仪、也可以是超声波测距仪。
步骤b03.2：在确定相对距离达到预设距离时，获取料板上的多个第一预设参考点的位置信息；在本实施例中，可以在料板上设置三个第一预设参考点，根据三个第一预设参考点即可确定出料板所在的平面。
步骤b03.3：根据多个第一预设参考点的位置信息确定料板的倾斜角度和坡度；
步骤b03.4：根据倾斜角度和坡度调整待测板卡的插入角度，即根据倾斜角度和坡度通过调整机械手末端的角度，使待测卡板插入端的端面与料板的平面保持平行。
步骤b03.5：获取基座上的多个校准点；在本实施例中，可以设置两个校准点，两个校准点可以是激光对准点，在机械手同时接收到两个校准点发出的激光后，能够调整待测板卡的插入位置，使待测板卡对准基座。
步骤b03.6：根据校准点确定待测板卡的插入位置和插入位移量。
再由超声波或激光测距仪检测机械手的插入位移量，确保待测卡板能够准确的插入到基座内。
步骤b04：根据插入方向将待测板卡插入至插料位。
本发明的方法能够实现对待测板卡的自动上料，而下料过程与上料过程相反，具有较高的上下料效率，提高待测板卡的老化测试作业效率；其次，通过自动匹配待测板卡的安装工位(插料位)，具有较高的匹配精度，能够有效避免待测卡板的针脚出现损伤而影响老化测试的准确性。
图4是本发明一种实施方式提供的基于老化测试的板卡上下料装置的框图，如图4所示，本发明还提供一种基于老化测试的板卡上下料装置，用于实现上述的基于老化测试的板卡上下料方法，所述装置包括：
获取模块，用于获取待测板卡的上料信息；
匹配模块，用于根据上料信息为待测板卡匹配调整区的调整位和上料区的插料位；
第一位移模块，用于输出指令控制抓取来料区的待测板卡并移至调整区内匹配的调整位；
第二位移模块，用于在调整位完成对待测板卡的调整后，输出指令控制抓取调整位上已调整的待测板卡插入至上料区内匹配的插料位。
本发明还提供一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的基于老化测试的板卡上下料方法。
本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述的基于老化测试的板卡上下料方法。
本发明的方法能够实现对待测板卡的自动上料，而下料过程与上料过程相反，具有较高的上下料效率，提高待测板卡的老化测试作业效率；其次，通过自动匹配待测板卡的安装工位(插料位)，具有较高的匹配精度，能够有效避免待测卡板的针脚出现损伤而影响老化测试的准确性。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
在一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。
存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。存储器是计算机可读介质的示例。
计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。
还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (9)

1.一种基于老化测试的板卡上下料方法，其特征在于，所述方法包括：
获取待测板卡的上料信息；所述上料信息包括：来料区的待测板卡的工单信息、调整区信息和上料区信息；所述工单信息包括：待测板卡的工号和待测卡板的型号；所述调整区信息包括：调整区相对于机械手的相对位置坐标和调整区内的调整位的空闲状态；所述上料区信息包括：上料区相对于机械手的相对位置坐标、上料区内老化架的空闲状态、老化架的每个料板上的基座型号和来料区相对于机械手的相对位置坐标；
根据上料信息为待测板卡匹配调整区的调整位和上料区的插料位；
抓取来料区的待测板卡并移至调整区内匹配的调整位；
在调整位完成对待测板卡的调整后，抓取调整位上已调整的待测板卡插入至上料区内匹配的插料位。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，抓取来料区的待测板卡并移至调整区内匹配的调整位，包括：
基于图像识别抓取来料区内的待测板卡；
根据调整区信息将抓取的待测板卡移至调整区；
基于图像识别确定调整区内处于空闲状态的调整位；
将待测板卡插入至空闲状态的调整位。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，基于图像识别抓取来料区内的待测板卡，包括：
基于图像识别确定待测板卡在来料区内的摆放位；
判断待测板卡在摆放位内的摆放方向与预设方向是否一致；
在确定待测板卡在摆放位内的摆放方向与预设方向不一致，调整对待测板卡的抓取方向。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：在调整位对待测板卡进行方向调节，所述待测板卡的方向调节方式为翻转调节。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，抓取调整位上的待测板卡插入至上料区匹配的插料位，包括：
基于图像识别抓取调整位上的待测板卡；
根据上料区信息将抓取的待测板卡移至上料区；
计算待测板卡向匹配的插料位内的插入方向；
根据插入方向将待测板卡插入至插料位。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述上料区具有多块呈倾斜设置的料板，所述料板上设置有多个插料位，每个插料位上安装有基座，所述待测卡板插设在对应的基座上；
计算匹配的插料位的插入方向，包括：
获取待测板卡的端面与料板表面之间的相对距离；
在确定相对距离达到预设距离时，获取料板上的多个第一预设参考点的位置信息；
根据多个第一预设参考点的位置信息确定料板的倾斜角度和坡度；
根据倾斜角度和坡度调整待测板卡的插入角度；
获取基座上的多个校准点；
根据校准点确定待测板卡的插入位置和插入位移量。
7.一种基于老化测试的板卡上下料装置，用于实现权利要求1-6中任一项所述的基于老化测试的板卡上下料方法，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，用于获取待测板卡的上料信息；
匹配模块，用于根据上料信息为待测板卡匹配调整区的调整位和上料区的插料位；
第一位移模块，用于输出指令控制抓取来料区的待测板卡并移至调整区内匹配的调整位；
第二位移模块，用于在调整位完成对待测板卡的调整后，输出指令控制抓取调整位上已调整的待测板卡插入至上料区内匹配的插料位。
8.一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1-6中任一项所述的基于老化测试的板卡上下料方法。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述的基于老化测试的板卡上下料方法。
CN202310492343.3A 2023-05-04 2023-05-04 基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质 Active CN116692442B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310492343.3A CN116692442B (zh) 2023-05-04 2023-05-04 基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310492343.3A CN116692442B (zh) 2023-05-04 2023-05-04 基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN116692442A CN116692442A (zh) 2023-09-05
CN116692442B true CN116692442B (zh) 2024-02-09

Family

ID=87834761

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202310492343.3A Active CN116692442B (zh) 2023-05-04 2023-05-04 基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN116692442B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116736072B (zh) * 2023-05-04 2024-03-26 国能智深(天津)控制技术有限公司 卡件测试控制方法、装置、设备及存储介质

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011086140A1 (en) * 2010-01-13 2011-07-21 Eles Semiconductor Equipment S.P.A. Integrated system for testing electronic devices
CN104931090A (zh) * 2015-06-10 2015-09-23 潍坊路加精工有限公司 测试工装及其测试方法
CN106053997A (zh) * 2016-07-15 2016-10-26 广东斯泰克电子科技有限公司 一种电子产品自动检测及自动老化系统
CN109581135A (zh) * 2018-12-29 2019-04-05 歌尔股份有限公司 产品自动测试装置及方法
CN110436141A (zh) * 2019-08-09 2019-11-12 银河水滴科技（北京）有限公司 上料机上料的方法及装置
CN112379243A (zh) * 2020-11-02 2021-02-19 上海无线电设备研究所 一种电路板常温测试自动上下料与插拔系统及方法
CN114392939A (zh) * 2022-03-04 2022-04-26 武汉普赛斯电子技术有限公司 To器件的测试分拣方法、计算机设备及计算机存储介质
CN217085115U (zh) * 2021-11-22 2022-07-29 天津突破电气技术有限公司 产品测试生产线
CN218200868U (zh) * 2022-06-08 2023-01-03 广州市长崎自动化科技有限公司 一种方便上下料的老化设备
CN115877111A (zh) * 2022-12-30 2023-03-31 中山市新益昌自动化设备有限公司 老化测试机
CN218859709U (zh) * 2022-06-08 2023-04-14 广州市长崎自动化科技有限公司 一种自动上下料老化设备

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE112009005202T5 (de) * 2009-09-02 2012-07-19 Advantest Corporation Prüfvorrichtung, Prüfverfahren und Prog ramm

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011086140A1 (en) * 2010-01-13 2011-07-21 Eles Semiconductor Equipment S.P.A. Integrated system for testing electronic devices
CN104931090A (zh) * 2015-06-10 2015-09-23 潍坊路加精工有限公司 测试工装及其测试方法
CN106053997A (zh) * 2016-07-15 2016-10-26 广东斯泰克电子科技有限公司 一种电子产品自动检测及自动老化系统
CN109581135A (zh) * 2018-12-29 2019-04-05 歌尔股份有限公司 产品自动测试装置及方法
CN110436141A (zh) * 2019-08-09 2019-11-12 银河水滴科技（北京）有限公司 上料机上料的方法及装置
CN112379243A (zh) * 2020-11-02 2021-02-19 上海无线电设备研究所 一种电路板常温测试自动上下料与插拔系统及方法
CN217085115U (zh) * 2021-11-22 2022-07-29 天津突破电气技术有限公司 产品测试生产线
CN114392939A (zh) * 2022-03-04 2022-04-26 武汉普赛斯电子技术有限公司 To器件的测试分拣方法、计算机设备及计算机存储介质
CN218200868U (zh) * 2022-06-08 2023-01-03 广州市长崎自动化科技有限公司 一种方便上下料的老化设备
CN218859709U (zh) * 2022-06-08 2023-04-14 广州市长崎自动化科技有限公司 一种自动上下料老化设备
CN115877111A (zh) * 2022-12-30 2023-03-31 中山市新益昌自动化设备有限公司 老化测试机

Also Published As

Publication number Publication date
CN116692442A (zh) 2023-09-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN116692442B (zh) 基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质
CN111051902B (zh) 集成电路装置上自动老化测试的系统和方法
US11327866B2 (en) Memory test method
KR980005983A (ko) 반도체 디바이스 시험장치
CN114187955B (zh) 存储器阵列的测试方法、装置、设备及存储介质
CN114333961B (zh) 存储器阵列的测试方法、装置、设备及存储介质
CN109886956A (zh) 检测缺陷点聚集性的方法及装置
CN109822326A (zh) 一种空调底盘的定位方法及装置、存储介质和处理器
CN1233212C (zh) 元件箱的标识装置
CN101179808B (zh) 高速移动条件下智能天线性能测试方法
JPH08150583A (ja) Ｉｃ移載装置つきオートハンドラ
US20200166542A1 (en) Inspection System
KR100818324B1 (ko) 테스트핸들러의 테스트 지원방법 및 테스트핸들러
US20140091820A1 (en) Probe out-of-position sensing for automated test equipment
JP5531933B2 (ja) 電子部品実装システムおよび電子部品実装方法
US7501809B2 (en) Electronic component handling and testing apparatus and method for electronic component handling and testing
US20200264228A1 (en) Apparatus for testing integrated circuit devices and method thereof
JPS59128125A (ja) ロ−ダ・アンロ−ダ
CN112636994A (zh) 设备测试方法、系统、网络设备和可读存储介质
CN116736072B (zh) 卡件测试控制方法、装置、设备及存储介质
KR100809365B1 (ko) 테스트핸들러의 테스트지원방법 및 테스트핸들러
CN112804704B (zh) 一种wifi模块自动测试设备及测试方法
CN113947295B (zh) 货运箱倒置、侧置次数记录系统、方法、终端及存储介质
CN114453262B (zh) 用于检测器件的方法、装置、存储介质及检测设备
CN115519544B (zh) 一种生鲜分拣机器人抓取方法、装置、设备及存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20240425

Address after: Room 2-5378, Building A, No. 6 Huafeng Road, Huaming High tech Industrial Zone, Dongli District, Tianjin, 300300

Patentee after: Guoneng Zhishen (Tianjin) Control Technology Co.,Ltd.

Country or region after: China

Patentee after: Guoneng Zhishen Control Technology Co.,Ltd.

Address before: Room 2-5378, Building A, No. 6 Huafeng Road, Huaming High tech Industrial Zone, Dongli District, Tianjin, 300300

Patentee before: Guoneng Zhishen (Tianjin) Control Technology Co.,Ltd.

Country or region before: China

TR01 Transfer of patent right