CN115326628B - 一种晶体裂纹检测装置及其监测方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及裂纹检测装置技术领域，具体涉及一种晶体裂纹检测装置及其监测方法，所述检测装置包括支脚，所述支脚上安装有动力机构，动力机构上设有底架，所述底架上安装有第一电磁铁；所述底架经过动力机构调节第一电磁铁的位置，第一电磁铁对晶体表面的铁粉进行吸附；所述主体上表面设有抬升机构，通过设置铁粉配合动力机构以及第一电磁铁，对于晶体待检测面的存在的铁粉进行移动，在多次往复移动后经第一电磁铁带动多余铁粉的排除，由第二电磁铁吸附晶体待检测面残留的铁粉，配合称重器对吸附的残留铁粉进行称重，再对比标准镜面的数据确定晶体裂纹程度。

Description

一种晶体裂纹检测装置及其监测方法

技术领域

本发明涉及裂纹检测装置技术领域，尤其涉及一种晶体裂纹检测装置及其监测方法。

背景技术

起展示作用的晶体仅需要定性的判断其表面裂纹程度，因此需要对其表面裂纹进行检测，现有的检测方法主要有两种：一种是使用专业检测设备进行检测，其缺陷是检测成本高昂；另一种是人工检测，主要方式是通过触摸或者眼睛观察晶体表面，其缺陷是过于依赖人员的熟悉程度，检测准确性难以保证。

基于上述，申请人认为，当前缺乏一种兼顾检测成本以及检测准确性的检测装置。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提出一种晶体裂纹检测装置及其监测方法，以解决现有技术中的技术问题。

基于上述目的，本发明提供了一种晶体裂纹检测装置，包括主体，以及安装在主体下表面的支脚；

所述支脚上安装有动力机构，动力机构上设有底架，所述底架上安装有第一电磁铁；

其中，所述底架经过动力机构调节第一电磁铁的位置，在晶体表面均匀洒下铁粉，第一电磁铁对晶体表面的铁粉进行吸附，经过动力机构让铁粉在晶体待检测面往复移动，直至移出晶体待检测面范围；

所述主体上表面设有抬升机构，抬升机构内设有第二电磁铁，抬升机构内设有两个称重器，所述称重器的检测端安装有支撑杆，支撑杆底端设置有软胶片，软胶片与第二电磁铁黏贴，软胶片隔离第二电磁铁吸附的铁粉，以避免第二电磁铁直接接触铁粉。

其中，第二电磁铁配合软胶片的匹配使用，降低后续工作过程中出现第二电磁铁吸附铁粉后难以清理，而影响后续晶体检测结果的情况发生。

作为一种可选的实施方式，所述检测装置还包括支撑机构，所述支撑机构包括：顶架、固定架和橡胶片，所述的主体和底架之间固定安装有顶架，顶架内部均匀设有固定架，所述顶架内部下侧设有橡胶片，晶体由固定架固定，且晶体底部与橡胶片接触。

其中，经过固定架配合底部的橡胶片，在震动时实现其更大的自由度，实现对晶体表面铺设的铁粉更有效的均匀使用。

作为一种可选的实施方式，所述检测装置还包括：震动板、支柱和震动电机，所述第一电磁铁内开设有安装槽，所述安装槽内设有震动板，所述震动板上表面均匀设有支柱，支柱贯穿第一电磁铁，震动板下表面固定安装有震动电机，震动电机产生震动经震动板与支柱传导至晶体。

其中，经过震动板配合震动电机，将震动传导至上方的晶体上，实现对晶体待检测面上铁粉进行均匀铺设，方便铁粉更有效的在晶体待检测面上均匀移动，防止铁粉堆积造成检测结果不准确的情况发生。

作为一种可选的实施方式，所述动力机构包括：支架、外架、电磁滑杆和电磁滑块，所述支脚靠近顶端处固定安装有支架，所述支架一侧设有外架，两个所述外架靠近一端处固定安装有电磁滑杆，所述主体对应电磁滑杆配合设置有电磁滑块，经电磁滑块在电磁滑杆上移动带动底架和第一电磁铁移动。

作为一种可选的实施方式，所述抬升机构包括：台架、伸缩杆和延伸架，所述主体上表面两侧设有伸缩杆，所述伸缩杆外顶端处设有台架，台架开设有外孔，外孔内设有第二电磁铁，所述台架底端围绕第二电磁铁设有延伸架。

作为一种可选的实施方式，所述延伸架对应支撑杆处开设有操作孔，所述延伸架底端黏贴有橡胶垫。

作为一种可选的实施方式，所述检测装置还包括：螺纹杆，螺纹杆与固定架螺纹安装；橡胶囊，橡胶囊安装与螺纹杆顶端处；充气口，充气口位于橡胶囊一侧，且贯通橡胶囊外壁；其中，由橡胶囊控制夹持晶体的力度，以及控制晶体震动幅度，以对晶体进行稳定夹持。

作为本发明的第二个方面，提供了一种晶体裂纹检测装置的监测方法，与所述的一种晶体裂纹检测装置配合使用，包括如下步骤：

S1：晶体安装，经过充气口对橡胶囊内进行充气，将晶体摆放在顶架上，旋转螺纹杆使固定架固定住晶体；

S2：铁粉投放，将粒径符合要求的铁粉泼洒在S1安装好的晶体待检测面；

S3：检测操作，通过震动电机产生的震动，使铁粉均匀铺设在晶体待检测面上，开启第一电磁铁并控制在预设磁力，由电磁滑块和电磁滑杆控制第一电磁铁移动，在主体下方多次往复运动，通过第一电磁铁移动让多余铁粉落出晶体检测面；

S4：测定，经称重器检测重量，再经过伸缩杆控制台架向下移动，使软胶片与晶体待检测面接触，第二电磁铁启动吸附晶体待检测面上残留的铁粉，再经过伸缩杆抬高台架，使称重器检测得到重量A。

其中S4中的软胶片表面每次使用时需要对表面进行除尘清理。

其中S3和S4中检测过程中处于无尘环境下进行。

S5：比较，将待检测晶体替换为标准镜面，重复执行步骤S1-S4，检测得到重量B，将A与B对比，若A＞B则晶体裂纹程度低于标准值不符合要求，若A≤B则晶体裂纹程度高于标准值符合要求。

本发明的有益效果：本发明实施例中，经过设置铁粉配合动力机构以及第一电磁铁，驱动晶体待检测面的铁粉进行移动，在多次往复移动后，第一电磁铁带动铁粉从晶体表面移出，再经过第二电磁铁吸附晶体待检测面残留的铁粉，配合称重器对吸附的残留铁粉进行称重，再对比标准镜面的数据确定晶体裂纹程度，简单且便捷的对晶体裂纹程度进行检测，在保障检测精度情况下有效降低了检测成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明整体主视剖面结构示意图；

图2为本发明图1中A区域放大结构示意图；

图3为本发明图1中B区域放大结构示意图；

图4为本发明固定架主视结构示意图；

图5为本发明整体仰视结构示意图；

图6为本发明整体主视结构示意图。

图中标记为：

1、主体；11、支脚；12、支架；13、外架；14、底架；15、第一电磁铁；16、安装槽；17、安装槽；18、电磁滑杆；19、电磁滑块；2、震动板；21、支柱；22、充气口；23、橡胶囊；24、顶架；25、固定架；26、橡胶片；27、震动电机；28、螺纹杆；3、台架；31、伸缩杆；32、外孔；33、第二电磁铁；34、称重器；35、延伸架；36、支撑杆；37、软胶片；38、操作孔；39、橡胶垫。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，对本发明进一步详细说明。

需要说明的是，除非另外定义，本发明使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

实施例一：

如图1、图5和图6所示，一种晶体裂纹检测装置，包括主体1，以及安装在主体1下表面的支脚11；

所述支脚11上安装有动力机构，动力机构上设有底架14，所述底架14上安装有第一电磁铁15；

其中，所述底架14经过动力机构调节第一电磁铁15的位置，在晶体表面均匀洒下铁粉，第一电磁铁15对晶体表面的铁粉进行吸附，经过动力机构让铁粉在晶体待检测面往复移动，直至移出晶体待检测面范围。

如图1、图2和图6所示，所述主体1上表面设有抬升机构，抬升机构内设有第二电磁铁33，抬升机构内设有两个称重器34，所述称重器34的检测端安装有支撑杆36，支撑杆36底端设置有软胶片37，软胶片37与第二电磁铁33黏贴，软胶片37隔离第二电磁铁33吸附的铁粉，以避免第二电磁铁33直接接触铁粉。

本发明实施例中，经过设置铁粉配合动力机构以及第一电磁铁15，驱动晶体待检测面的铁粉进行移动，在多次往复移动后，第一电磁铁15带动铁粉从晶体表面移出，再经过第二电磁铁33吸附晶体待检测面残留的铁粉，配合称重器对吸附的残留铁粉进行称重，再对比标准镜面的数据确定晶体裂纹程度。

其中，第二电磁铁33配合软胶片37的匹配使用，降低后续工作过程中出现第二电磁铁33吸附铁粉后难以清理，而影响后续晶体检测结果的情况发生。

如图1、图3和图4所示，作为本发明的一种可选的实施方式，所述检测装置还包括支撑机构，所述支撑机构包括：顶架24、固定架25和橡胶片26，所述的主体1和底架14之间固定安装有顶架24，顶架24内部均匀设有固定架25，所述顶架24内部下侧设有橡胶片26，晶体由固定架25固定，且晶体底部与橡胶片26接触。

其中，在使用时经过固定架25配合底部的橡胶片26，在震动时实现其更大的自由度，实现对晶体表面铺设的铁粉更有效的均匀使用。

作为一种可选的实施方式，如图1和图3所示，所述检测装置还包括：震动板2、支柱21和震动电机27，所述第一电磁铁15内开设有安装槽17，所述安装槽17内设有震动板2，所述震动板2上表面均匀设有支柱21，支柱21贯穿第一电磁铁15，震动板2下表面固定安装有震动电机27，震动电机27产生震动经震动板2与支柱21传导至晶体。

其中，经过震动板2配合震动电机27，将震动传导至上方的晶体上，在使用时实现对晶体待检测面上铁粉进行均匀铺设，使得铁粉在使用时更有效的在晶体待检测面上均匀移动，防止铁粉堆积造成检测结果不准确的情况发生。

作为一种可选的实施方式，如图1、图5和图6所示，所述动力机构包括：支架12、外架13、电磁滑杆18和电磁滑块19，所述支脚11靠近顶端处固定安装有支架12，所述支架12一侧设有外架13，两个所述外架13靠近一端处固定安装有电磁滑杆18，所述主体1对应电磁滑杆18配合设置有电磁滑块19，经电磁滑块19在电磁滑杆18上移动带动底架14和第一电磁铁15移动。

其中，在使用时由动力机构对第一电磁铁15的移动调整，实现对整体使用时铁粉晶体表面顺畅流动的情况。

作为一种可选的实施方式，如图1和图2所示，所述抬升机构包括：台架3、伸缩杆31和延伸架35，所述主体1上表面两侧设有伸缩杆31，所述伸缩杆31外顶端处设有台架3，台架3开设有外孔32，外孔32内设有第二电磁铁33，所述台架3底端围绕第二电磁铁33设有延伸架35。

其中，经过第二电磁铁33以及延伸架35的设置，方便其检测时观察其具体情况。

如图2所示，所述延伸架35对应支撑杆36处开设有操作孔38，所述延伸架35底端黏贴有橡胶垫39。

其中，经过设置操作孔38降低其外壁对支撑杆36的影响，降低其误差的情况发生。

作为一种可选的实施方式，如图1和图4所示，所述检测装置还包括：

螺纹杆28，螺纹杆28与固定架25螺纹安装；

橡胶囊23，橡胶囊23安装与螺纹杆28顶端处；

充气口22，充气口22位于橡胶囊23一侧，且贯通橡胶囊23外壁。

其中，由橡胶囊23控制夹持晶体的力度，以及控制晶体震动幅度，以对晶体进行稳定夹持。

实施例二：

作为本发明的第二个方面，还提供了一种晶体裂纹检测装置的监测方法，与所述的一种晶体裂纹检测装置配合使用，所述监测方法包括如下步骤：

S1：晶体安装，经过充气口22对橡胶囊23内进行充气，将晶体摆放在顶架24上，旋转螺纹杆28使固定架25固定住晶体；

S2：铁粉投放，将粒径符合要求的铁粉泼洒在S1安装好的晶体待检测面；

S3：检测操作，通过震动电机27产生的震动，使铁粉均匀铺设在晶体待检测面上，开启第一电磁铁15并控制在预设磁力，由电磁滑块19和电磁滑杆18控制第一电磁铁15移动，在主体1下方多次往复运动，通过第一电磁铁15移动让多余铁粉落出晶体检测面。

S4：测定，经称重器34检测重量，再经过伸缩杆31控制台架3向下移动，使软胶片37与晶体待检测面接触，第二电磁铁33启动吸附晶体待检测面上残留的铁粉，再经过伸缩杆31抬高台架3，使称重器34检测得到重量A。

其中S4中的软胶片37表面每次使用时需要对表面进行除尘清理。

在清理软胶片37表面的粉尘以及铁粉，降低整体使用时误差。

其中S3和S4中检测过程中处于无尘环境下进行。

S5：比较，将待检测晶体替换为标准镜面，重复执行步骤S1-S4，检测得到重量B，将A与B对比，若A＞B则晶体裂纹程度低于标准值不符合要求，若A≤B则晶体裂纹程度高于标准值符合要求。

在无尘环境下操作降低整体使用时无尘环境下检测，降低其误差值，增加其准确度。

所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本发明的范围（包括权利要求）被限于这些例子；在本发明的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本发明的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。

本发明旨在涵盖落入所附权利要求的宽泛范围之内的所有这样的替换、修改和变型。因此，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种晶体裂纹检测装置，包括主体（1），以及安装在主体（1）下表面的支脚（11），其特征在于；

所述支脚（11）上安装有动力机构，动力机构上设有底架（14），所述底架（14）上安装有第一电磁铁（15）；

其中，所述底架（14）经过动力机构调节第一电磁铁（15）的位置，在晶体表面均匀洒下铁粉，第一电磁铁（15）对晶体表面的铁粉进行吸附，经过动力机构让铁粉在晶体待检测面往复移动，直至移出晶体待检测面范围；

所述主体（1）上表面设有抬升机构，抬升机构内设有第二电磁铁（33），抬升机构内设有两个称重器（34），所述称重器（34）的检测端安装有支撑杆（36），支撑杆（36）底端设置有软胶片（37），软胶片（37）与第二电磁铁（33）黏贴，软胶片（37）隔离第二电磁铁（33）吸附的铁粉，以避免第二电磁铁（33）直接接触铁粉；

所述检测装置还包括支撑机构， 所述支撑机构包括：

顶架（24）、固定架（25）和橡胶片（26），所述的主体（1）和底架（14）之间固定安装有顶架（24），顶架（24）内部均匀设有固定架（25），所述顶架（24）内部下侧设有橡胶片（26），晶体由固定架（25）固定，且晶体底部与橡胶片（26）接触；

所述检测装置还包括：

震动板（2）、支柱（21）和震动电机（27），所述第一电磁铁（15）内开设有安装槽（17），所述安装槽（17）内设有震动板（2），所述震动板（2）上表面均匀设有支柱（21），支柱（21）贯穿第一电磁铁（15），震动板（2）下表面固定安装有震动电机（27），震动电机（27）产生震动经震动板（2）与支柱（21）传导至晶体；

所述动力机构包括：

支架（12）、外架（13）、电磁滑杆（18）和电磁滑块（19），所述支脚（11）靠近顶端处固定安装有支架（12），所述支架（12）一侧设有外架（13），两个所述外架（13）靠近底架（14）一端处固定安装有电磁滑杆（18），所述主体（1）对应电磁滑杆（18）配合设置有电磁滑块（19），经电磁滑块（19）在电磁滑杆（18）上移动带动底架（14）和第一电磁铁（15）移动；

所述抬升机构包括：

台架（3）、伸缩杆（31）和延伸架（35），所述主体（1）上表面两侧设有伸缩杆（31），所述伸缩杆（31）外顶端处设有台架（3），台架（3）开设有外孔（32），外孔（32）内设有第二电磁铁（33），所述台架（3）底端围绕第二电磁铁（33）设有延伸架（35）；

所述检测装置还包括：

螺纹杆（28），螺纹杆（28）与固定架（25）螺纹安装；

橡胶囊（23），橡胶囊（23）安装与螺纹杆（28）顶端处；

充气口（22），充气口（22）位于橡胶囊（23）一侧，且贯通橡胶囊（23）外壁；

其中，由橡胶囊（23）控制夹持晶体的力度，以及控制晶体震动幅度，以对晶体进行稳定夹持。

2.根据权利要求1所述的一种晶体裂纹检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：

所述延伸架（35）对应支撑杆（36）处开设有操作孔（38），所述延伸架（35）底端黏贴有橡胶垫（39）。

3.一种晶体裂纹检测装置的监测方法，采用权利要求1中所述的一种晶体裂纹检测装置，其特征在于，包括如下步骤：

S1：晶体安装，经过充气口（22）对橡胶囊（23）内进行充气，将晶体摆放在顶架（24）上，旋转螺纹杆（28）使固定架（25）固定住晶体；

S2：铁粉投放，将粒径符合要求的铁粉泼洒在S1安装好的晶体待检测面；

S3：检测操作，通过震动电机（27）产生的震动，使铁粉均匀铺设在晶体待检测面上，开启第一电磁铁（15）并控制在预设磁力，由电磁滑块（19）和电磁滑杆（18）控制第一电磁铁（15）移动，在主体（1）下方多次往复运动，通过第一电磁铁（15）移动让多余铁粉落出晶体检测面；

S4：测定，经称重器（34）检测重量，再经过伸缩杆（31）控制台架（3）向下移动，使软胶片（37）与晶体待检测面接触，第二电磁铁（33）启动吸附晶体待检测面上残留的铁粉，再经过伸缩杆（31）抬高台架（3），使称重器（34）检测得到重量A；

S5：比较，将待检测晶体替换为标准镜面，重复执行步骤S1-S4，检测得到重量B，将A与B对比，若A＞B则晶体裂纹程度低于标准值，不符合要求，若A≤B则晶体裂纹程度高于标准值，符合要求。

4.根据权利要求3所述的一种晶体裂纹检测装置的监测方法，其特征在于，其中S4中的软胶片（37）表面每次使用时需要对表面进行除尘清理。

5.根据权利要求3所述的一种晶体裂纹检测装置的监测方法，其特征在于，其中S3和S4中检测过程中处于无尘环境下进行。

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