CN111678466A - 一种smt表贴连接器平面度的测试装置及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种SMT表贴连接器平面度的测试装置及测试方法，包括：测试台和电子显微镜；所述测试台中间设置定位台，所述定位台的顶面设置水平测试面；所述定位台一侧设置反射面，所述反射面与测试台竖直侧面呈45°角，所述电子显微镜的竖直视角与水平测试面的平面延长线垂直相交在所述反射面上。本发明把待测连接器通过定位柱限位在测试台上，通过直角三棱镜的光反射，用电子显微镜观察测试PIN脚的共面程度增加SMT表贴连接器器件良率。

Description

一种SMT表贴连接器平面度的测试装置及测试方法

技术领域

本发明属于元器件电性连接技术领域，具体涉及一种SMT表贴连接器平面度的测试装置及测试方法。

背景技术

随着科技的快速发展，越来越多的电源端子也开始使用表面贴装技术，SMT表面贴装连接器(以下简称“SMT表贴连接器”)因其低组装成本、高密度和高速性能的优点被广泛应用，但是，SMT表贴连接器同时也存在一些已经被公众认知的缺点，尤其是在组装过程中，连接器的PIN脚共面性所导致的细节问题往往容易被忽视，然而可靠的PIN脚在所有工业设计中是非常重要的，故在装配阶段，连接器的PIN脚共面性是需要被重视的。

通常在连接器来料检验和PCBA的生产过程中，经常会出现SMT表贴连接器器件PIN脚变形的情况，这种PIN脚变形的情况如果不检验出来，直接会影响生产良率，浪费生产效率，浪费了作业时间，甚至有可能导致PCBA板卡烧毁，造成一定危险性。

目前还未有针对上述问题的工具和测试方法，导致SMT表贴连接器器件测试不到位，从而引起使用故障的发生。

发明内容

针对现有技术的上述不足，本发明提供一种SMT表贴连接器平面度的测试装置及测试方法，以解决上述技术问题。

第一方面，本发明提供一种SMT表贴连接器平面度的测试装置，包括：测试台和电子显微镜；所述测试台中间设置定位台，所述定位台的顶面设置水平测试面；所述定位台一侧设置反射面，所述反射面与测试台竖直侧面呈45°角，所述电子显微镜的竖直视角与水平测试面的平面延长线垂直相交在所述反射面上。

进一步的，所述反射面有两个，两个所述的反射面轴对称设置在定位台两侧。

进一步的，所述定位台上设置至少一个定位孔，所述定位孔与所测连接器底部的定位柱适配。

进一步的，所述测试台的边缘设置侧壁，所述侧壁与定位台平行，所述反射面一端靠在侧壁上，另一端靠在定位台的底端。

进一步的，所述反射面为等边直角三棱镜的斜面，且等边直角三棱镜的一个直角面紧贴测试台，等边直角三棱镜的另一个直角面紧贴所述侧壁。

第二方面，本发明提供一种SMT表贴连接器平面度的测试方法，包括：

电子显微镜的镜头对准反射面，获取所测连接器的每个PIN脚与定位台的水平测试面的间隙长度；

筛选出所有间隙长度中的最大值，将所述最大值作为平面度测试值；

获取所测连接器的平面度标准值，计算并输出将所述平面度测试值与平面度标准值的差值。

进一步的，所述方法还包括：

判断所述差值是否为正数：

若是，则判定所测连接器平面度不合格；

若否，则判断所测连接器平面度合格。

进一步的，所述方法还包括：

多次获取所测PIN脚与定位台的水平测试面的间隙长度，并对所测PIN脚的间隙长度求取平均值；

筛选出所有平均值中的最大平均值，将所述最大平均值作为平面度测试值。

本发明的有益效果在于，

本发明提供的一种SMT表贴连接器平面度的测试装置及测试方法，把待测连接器通过定位柱限位在测试台上，通过直角三棱镜的光反射，用电子显微镜观察测量连接器PIN脚的变形情况，测量PIN脚的平面度；同时本发明提供针对该装置的使用方法，对电子显微镜获取的共面情况进行分析处理，与标准值进行对比，得出PIN脚是否合格，从而帮助筛选出SMT表贴连接器的异常品，增加SMT表贴连接器器件良率，节省生产效率和作业时间，降低PCBA板卡烧毁等重大质量异常的发生，大大降低表贴连接器的损耗，降低PCBA板卡的报废率，减少不良和测试故障的发生。

此外，本发明设计原理可靠，结构简单，具有非常广泛的应用前景。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明一个实施例的装置的立体结构示意图；

图2是本发明一个实施例的装置的侧面结构示意图；

图3是本发明一个实施例的装置的俯视结构示意图；

图4是本发明一个实施例的连接器的俯视结构示意图；

图5是本发明一个实施例的装置的使用过程示意图；

图6是本发明一个实施例的方法的流程图；

其中，1、测试台；2、直角三棱镜；3、定位台；4、水平测试面；5、定位孔；6、电子显微镜；7、侧壁；8、连接器；9、定位柱。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

实施例1

如图1、图2、图3、图4和图5所示，本实施例提供一种SMT表贴连接器平面度的测试装置，包括：测试台1、等边直角三棱镜2、电子显微镜6；所述测试台1中间设置定位台3，所述定位台3的顶面设置水平测试面4，所述定位台3上设置至少一个定位孔5，所述定位孔5与所测连接器8底部的定位柱9适配；所述测试台的边缘设置侧壁7，所述侧壁7与定位台3平行，所述等边直角三棱镜有两个，两个所述的等边直角三棱镜轴对称设置在定位台两侧。所述等边直角三棱镜2的一个直角面紧贴测试台1，等边直角三棱镜2的另一个直角面紧贴所述侧壁7；所述电子显微镜的竖直视角与水平测试面4的平面延长线垂直相交在所述反射面5上。

将所测SMT表贴连接器8插入装置定位台2中，将所述SMT表贴连接器8的定位柱9插入定位台3的定位孔5中，直到连接器8的最长PIN脚接触到定位台3的水平测试面4，调整连接器8保持水平，然后放在电子显微镜6观察；开启电子显微镜6，并将电子显微镜6对准等腰直角三棱镜2，不断调整位置使可以看到连接器8的PIN脚的影像，调整焦距至影像清晰，通过电子显微镜6测量零件尺寸的工具软件，在电子显微镜6的画面上截取各个PIN脚与定位台3水平测试面4的间隙长度，输入电子显微镜6此刻的观察倍数，所述工具软件将自动计算出每个PIN脚与定位台3的水平测试面4的间隙长度。

此外，两个轴对称设置的等边直角三棱镜轴可用于观察连接器正反两面的PIN脚的变形情况，为平面度的测试排除客观因素的影响，同时也进一步帮助筛选出SMT表贴连接器的异常产品。

图6是本发明一个实施例的方法的示意性流程图。

如图6所示，该方法100包括：

步骤110，电子显微镜的镜头对准反射面，获取所测连接器的每个PIN脚与定位台的水平测试面的间隙长度；

步骤120，筛选出所有间隙长度中的最大值，将所述最大值作为平面度测试值；

步骤130，获取所测连接器的平面度标准值，计算并输出将所述平面度测试值与平面度标准值的差值。

可选地，作为本发明一个实施例，所述方法还包括：

判断所述差值是否为正数：

若是，则判定所测连接器平面度不合格；

若否，则判断所测连接器平面度合格。

可选地，作为本发明一个实施例，所述方法还包括：

多次获取所测PIN脚与定位台的水平测试面的间隙长度，并对所测PIN脚的间隙长度求取平均值；

筛选出所有平均值中的最大平均值，将所述最大平均值作为平面度测试值。

为了便于对本发明的理解，下面以本发明SMT表贴连接器平面度的测试方法的原理，结合实施例中对SMT表贴连接器平面度的测试装置进行应用的过程，对本发明提供的SMT表贴连接器平面度的测试方法做进一步的描述。

具体的，所述SMT表贴连接器平面度的测试方法包括：

S1、电子显微镜的镜头对准反射面，获取所测连接器的每个PIN脚与定位台的水平测试面的间隙长度；

目前电子显微镜常用来测量小零件的尺寸，一般是通过电子显微镜获取图片，通过图片上的长度和电子显微镜此时的倍数进行长度计算，随着技术的发展，市面上有很多软件可以捕捉图片，自动计算用户想计算的长度的实际值，本实施例在每个PIN脚和测试面之间的间隙进行长度测量；

S2、筛选出所有间隙长度中的最大值，将所述最大值作为平面度测试值；

将显微镜获取的每个PIN脚的间隙长度进行大小排序，选择其中的最大值，机PIN脚与水平测试面间隙最大的，作为本连接器的测试值。在测试过程中最长的PIN脚与水平测试面直接接触，其他PIN脚与水平测试面未接触且形成一定距离的间隙，通过测量间隙可以得出PIN脚的平面度情况；

S3、获取所测连接器的平面度标准值，计算并输出将所述平面度测试值与平面度标准值的差值；

每个连接器在测试时，对于其平面度的测试标准都有一个阈值，工作人根据工业要求对该阈值进行限定，作为平面度标准值；将所述平面度测试值与平面度标准值进行对比：本实施例利用做差值的方式进行大小比较，判断所述平面度测试值与平面度标准值的差值是否为正数：若是，则判定所测连接器平面度不合格；若否，则判断所测连接器平面度合格。

尽管通过参考附图并结合优选实施例的方式对本发明进行了详细描述，但本发明并不限于此。在不脱离本发明的精神和实质的前提下，本领域普通技术人员可以对本发明的实施例进行各种等效的修改或替换，而这些修改或替换都应在本发明的涵盖范围内/任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.一种SMT表贴连接器平面度的测试装置，其特征在于，包括：测试台和电子显微镜；所述测试台中间设置定位台，所述定位台的顶面设置水平测试面；所述定位台一侧设置反射面，所述反射面与测试台竖直侧面呈45°角，所述电子显微镜的竖直视角与水平测试面的平面延长线垂直相交在所述反射面上。

2.根据权利要求1所述的一种SMT表贴连接器平面度的测试装置，其特征在于，所述反射面有两个，两个所述的反射面轴对称设置在定位台两侧。

3.根据权利要求1所述的一种SMT表贴连接器平面度的测试装置，其特征在于，所述定位台上设置至少一个定位孔，所述定位孔与所测连接器底部的定位柱适配。

4.根据权利要求1所述的一种SMT表贴连接器平面度的测试装置，其特征在于，所述测试台的边缘设置侧壁，所述侧壁与定位台平行，所述反射面一端靠在侧壁上，另一端靠在定位台的底端。

5.根据权利要求4所述的一种SMT表贴连接器平面度的测试装置，其特征在于，所述反射面为等边直角三棱镜的斜面，且等边直角三棱镜的一个直角面紧贴测试台，等边直角三棱镜的另一个直角面紧贴所述侧壁。

6.一种SMT表贴连接器平面度的测试方法，其特征在于，包括：

电子显微镜的镜头对准反射面，获取所测连接器的每个PIN脚与定位台的水平测试面的间隙长度；

筛选出所有间隙长度中的最大值，将所述最大值作为平面度测试值；

获取所测连接器的平面度标准值，计算并输出将所述平面度测试值与平面度标准值的差值。

7.根据权利要求6所述的一种SMT表贴连接器平面度的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

判断所述差值是否为正数：

若是，则判定所测连接器平面度不合格；

若否，则判断所测连接器平面度合格。

8.根据权利要求6所述的一种SMT表贴连接器平面度的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

多次获取所测PIN脚与定位台的水平测试面的间隙长度，并对所测PIN脚的间隙长度求取平均值；

筛选出所有平均值中的最大平均值，将所述最大平均值作为平面度测试值。

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