CN111602178A - 静电电容检测装置及图像读取装置 - Google Patents

Abstract

本发明的静电电容检测装置包括：夹住沿着片状的检测对象物(3)被传送的方向即传送方向的传送路径(5)、且至少一部分相对的第1电极(1)和第2电极(2)；在第1电极(1)与第2电极(2)之间形成电场(9)的振荡电路；检测第1电极(1)与第2电极(2)之间的静电电容的变化的检测电路；形成有振荡电路与检测电路中的至少一方的第1基板(11)和第2基板(12)；形成在第1电极(1)与传送路径(5)之间的绝缘性的第1平板(6)；以及形成在第2电极(2)与传送路径(5)之间的绝缘性的第2平板(7)。

Description

静电电容检测装置及图像读取装置

技术领域

本发明涉及对以夹住检测对象物的方式设置的电极间的静电电容的变化进行检测的静电电容检测装置、以及具有该静电电容检测装置的图像读取装置。

背景技术

以往存在如下装置：对以夹住包含纸币、有价证券等的片状的检测对象物的方式设置的电极间的静电电容进行检测，并检测表面上粘贴有例如微小尺寸的胶带、即异物的情况(例如，参照专利文献1)。此外，存在如下装置：包括检测静电电容的变化的静电电容传感器以及检测其它信息的传感器，以判别检测对象物的真假(真伪)(例如，参照专利文献2)。专利文献1和2所公开的检测静电电容的变化的装置即静电电容传感器使检测对象物在平行平板电容器的电极间传送，来对检测对象物在电极间的静电电容的变化进行检测。

专利文献1和专利文献2所公开的装置适用于需要对包含纸币、有价证券的片状的检测对象物的真假进行判别的装置。上述那样的判别真假的装置例如有ATM(AutomatedTeller/Telling Machine：自动提款机)、兑换机、自动柜员机、售票机、自动贩卖机。为了判别检测对象物的真假，存在具备纸厚检测装置的ATM，该纸厚检测装置具有压辊、超声波传感器，对纸的厚度进行检测。该纸厚检测装置能判别具有异常的纸厚的纸币及有价证券。能根据该纸的厚度的判别及静电电容的变化，来检测在纸币和有价证券上粘贴有异物的情况。

破损的纸币和有价证券有时通过例如树脂透明胶带来修补并再利用。为了防止修补后的纸币和有价证券在市场中流通，ATM对检测对象物即纸币和有价证券上粘贴有异物的情况进行检测，并在ATM的装置内部回收检测出的纸币和有价证券。例如，如专利文献2所公开的那样，ATM检测用胶带或纸修补后的纸币和有价证券，将修复了一部分破损后得到的纸币收纳在拒绝箱中，例如，如果是将切成条状的纸币连接起来而得到的假币，则退还至出币口。另外，专利文献2所公开的纸币厚度传感器检测二张以上重叠传送的检测对象物。

此外，以往存在光学地对包含纸币、有价证券的片状的检测对象物的图像信息进行读取的图像读取装置(例如，参照专利文献3)。专利文献3所公开的图像读取装置具有多个光源。专利文献3的图24中公开了图像读取装置，其具备遮光构件，以使得从光源射出的光不照射到所希望的区域以外。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2001－240271号公报

专利文献2：日本专利特开2005－10968号公报

专利文献3：日本专利特开2007－249475号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

如上所述，为了防止修补后的纸币和有价证券流通而需要纸厚检测装置。然而，具有压辊、超声波传感器的纸厚检测装置成为ATM大型化、高成本化的原因。因此，如专利文献1所公开的那样，检测异物的附着而非检测对象物的厚度，对于防止修补后的纸币和有价证券的流通是有效的。然而，在专利文献1所公开的检测静电电容的装置中，静电电容检测电极具有难以进行小型化的立体形状。立体形状难以进行小型化的原因之一在于，需要对覆盖了电极的电介质的角进行倒角加工。因此，专利文献1所公开的检测静电电容的装置的构造较为复杂，装置的小型化及分解受限。

此外，专利文献2中公开了为了在上传送引导件与下传送引导件之间传送检测对象物而设置的上传送辊和下传送辊。专利文献2所公开的静电电容传感器在与上传送辊和下传送辊同列的位置分别具有梯形状的突起部。对上述两个突起部的与检测对象物相对的面设置施加电极和检测电极，由此来形成静电电容传感器。因此，专利文献2所公开的静电电容传感器的构造较为复杂，装置的小型化及分解受限。

由此，专利文献1所公开的检测静电电容的装置、以及专利文献2所公开的静电电容传感器存在构造复杂的问题。此外，现有的静电电容传感器存在如下问题：与对检测对象物的静电电容的变化以外的信息进行检测的装置或传感器之间的协作性不高。另外，检测静电电容的变化以外的信息的装置或传感器可举出专利文献2所公开的传感器、以及以上述超声波传感器为代表的传感器。专利文献2中公开了对检测对象物的图案(图像)进行检测的图像传感器、对检测对象物的磁图案进行检测的磁传感器、以及对检测对象物的荧光图像进行检测的荧光传感器。

本发明是鉴于上述情况而完成的，其目的在于使静电电容检测装置或具有静电电容检测装置的图像读取装置的构造简化及小型化。

解决技术问题所采用的技术方案

为了达到上述目的，本发明所涉及的静电电容检测装置包括：第1电极和第2电极，该第1电极和第2电极夹住沿着片状的检测对象物被传送的方向即传送方向的传送路径，且至少一部分相对；振荡电路，该振荡电路在第1电极与第2电极之间形成电场；以及检测电路，该检测电路检测第1电极与第2电极之间的静电电容的变化。静电电容检测装置还包括：形成有振荡电路和检测电路的至少一方的第1基板；以及形成有振荡电路和检测电路的至少另一方的第2基板。其特征在于，第1电极和第2电极配置在读取检测对象物的图像的图像读取部中的读取位置的、传送路径的传送方向的上游侧或下游侧。

发明效果

根据本发明，第1电极和第2电极配置在图像读取部中的读取位置的传送方向的上游侧或下游侧，由此，能使传送方向的大小变小，能使静电电容检测装置的构造简化和小型化。

附图说明

图1是本发明实施方式1所涉及的静电电容检测装置的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图2是实施方式1所涉及的静电电容检测装置的主要部分的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图3是示出实施方式1所涉及的静电电容检测装置的检测值的示例的曲线图。

图4是实施方式1所涉及的静电电容检测装置的比较例的主要部分的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图5是示出实施方式1所涉及的静电电容检测装置的比较例的检测值的示例的曲线图。

图6是实施方式1所涉及的静电电容检测装置的主要部分的立体图。

图7是实施方式1所涉及的静电电容检测装置的主要部分的立体图。

图8是实施方式1所涉及的图像读取装置的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图9是实施方式1所涉及的静电电容检测装置的主要部分的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图10是本发明实施方式2所涉及的图像读取装置的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图11是实施方式2所涉及的图像读取装置的第1变形例的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图12是实施方式2所涉及的图像读取装置的第2变形例的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图13是实施方式2所涉及的图像读取装置的第3变形例的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图14是实施方式2所涉及的图像读取装置的第4变形例的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图15是实施方式2所涉及的图像读取装置的第5变形例的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图16是实施方式2所涉及的图像读取装置的第6变形例的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图17是实施方式2所涉及的图像读取装置的第7变形例的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图18是实施方式2所涉及的图像读取装置的第8变形例的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图19是实施方式2所涉及的图像读取装置的第9变形例的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图20是实施方式2所涉及的图像读取装置的第10变形例的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图21是实施方式2所涉及的图像读取装置的第11变形例的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图22是实施方式2所涉及的图像读取装置的第12变形例的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图23是对实施方式1和2所涉及的图像读取装置的第1电极与第1基板之间的电连接的部分进行放大而得的放大图。

图24是实施方式1和2所涉及的图像读取装置的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图25是实施方式2所涉及的图像读取装置的第13变形例的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图26是实施方式2所涉及的图像读取装置的第14变形例的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图27是实施方式2所涉及的图像读取装置的第15变形例的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图28是实施方式2所涉及的图像读取装置的第16变形例的沿传送方向及电场方向的剖视图。

图29是实施方式2所涉及的静电电容检测装置的主要部分的立体图。

图30是实施方式2所涉及的静电电容检测装置的主要部分的连接说明图。

图31是实施方式2所涉及的静电电容检测装置的主要部分的立体图。

图32是实施方式1和2所涉及的静电电容检测装置(变形例)的主要部分的立体图。

图33是实施方式1和2所涉及的静电电容检测装置(变形例)的沿传送方向及电场方向的剖视图。

具体实施方式

下面，参照附图对本发明所涉及的实施方式进行说明。另外，以下各实施方式中，有时对同样的结构要素标注同一标号并省略说明。此外，图中，X轴方向是传送方向，意味着检测对象物被传送的方向。Y轴方向是在传送面上与传送方向正交的方向，表示排列方向。Z轴方向是与X轴方向和Y轴方向正交的方向，表示电场方向以及静电电容检测装置或图像读取装置的高度方向。传送方向不仅包含检测对象物被传送时的移动方向，也包含检测对象物被固定、静电电容检测装置或图像读取装置移动时的静电电容检测装置或图像读取装置的移动方向。排列方向也称为主扫描方向。传送方向也称为副扫描方向。电场方向也称为光轴方向。关于主扫描方向、副扫描方向、光轴方向，在说明图像读取装置时进行详细说明。

实施方式1.

使用图1至图9对实施方式1所涉及的静电电容检测装置20的主要结构进行说明。静电电容检测装置20包含于图像读取装置40。图1是本实施方式所涉及的静电电容检测装置20的沿传送方向及电场方向的剖视图。在图1中，第1电极1与第2电极2夹住沿着片状的检测对象物3被传送的方向即传送方向的传送路径5而相对。检测对象物3在X轴正方向上被传送。X轴正方向是X轴方向的正方向，是从传送方向的上游朝向下游的方向。检测对象物3是静电电容检测的对象、即片状的任意物体，例如是包含纸币和有价证券的印刷物。第1平板6是形成有第1电极1的绝缘性的平板。第2平板7是形成有第2电极2的绝缘性的平板。第1电极1和第2电极2使用印刷技术分别形成于第1平板6和第2平板7。

在传送方向上，第1电极1和第2电极2分别具有数mm至数cm的长度。第1电极1和第2电极2在传送方向上无需具有彼此相同的长度。此外，第1电极1和第2电极2在电场方向上至少一部分相对即可。换言之，也可以说第1电极1和第2电极2在传送方向和排列方向上至少一部分重复即可。即，只要是作为平行平板电容器进行动作的范围，则第1电极1和第2电极2在传送方向上错开也无妨。同样地，第1电极1和第2电极2也可以在排列方向上错开。

在图1中，振荡电路在第1电极1与第2电极2之间形成电场9。即，通过振荡电路，传送路径5的至少一部分的空间中形成电场9。图中，用两端具有箭头的虚线来表示电场9。电场9沿着Z轴方向而形成。此外，电场9形成在第1平板6与第2平板7之间的一定的间隔、即间隙d之间。间隙d如图2所示，是第1平板6与第2平板7之间的电场方向的长度。

检测电路对第1电极1与第2电极2之间的静电电容的变化进行检测。第1基板11形成有振荡电路和检测电路中的至少一方，第2基板12形成有振荡电路和检测电路中的至少另一方。图1的示例中，第1基板11的侧面在电场方向上与第1电极1(第1平板6)相对。此外，第2基板12的侧面在电场方向上与第2电极2(第2平板7)相对。第1基板11和第2基板12具有侧面的传送方向的长度比主面的电场方向的长度要短的薄板状的形状。即，第1基板11和第2基板12的主面的延伸方向相对于传送方向垂直。

此外，在图1中，壳体13a和壳体13b是静电电容检测装置20的壳体。壳体13a将第1基板11收纳在内部。壳体13b将第2基板12收纳在内部。第1基板11和第2基板12是沿着电场方向延伸的电路基板。各实施方式中，以第1基板11形成有振荡电路、第2基板12形成有检测电路的情况为前提来进行说明。当然，第1基板11可以形成有检测电路，第2基板12也可以形成有振荡电路。壳体13a的传送路径5一侧的表面上设有第1电极1形成在壳体13a的内部侧的第1平板6。壳体13b的传送路径5一侧的表面上设有第2电极2形成在壳体13b的内部侧的第2平板7。传送路径5意味着在壳体13a与壳体13b之间检测对象物3所通过的部位。此外，间隙d意味着电场方向上的第1平板6与第2平板7之间的距离。

在图1所记载的静电电容检测装置20中，检测对象物3沿着传送方向在隔开间隙d配置的第1平板6与第2平板7之间的传送路径5上被传送。此时，第1电极1和第2电极2形成具有间隙d的平行平板电容器并在传送路径5内形成电场9。因此，累积电荷量因电介质即检测对象物3被插入平行平板电容器中而增加，平行平板电容器的静电电容发生变化。能利用振荡电路和检测电路来检测平行平板电容器的静电电容的变化。若预先知道成为检测对象的静电电容，则能根据静电电容的检测值来识别被传送的检测对象物3。

检测电路可以包含识别该检测对象物3的功能。此外，具有识别功能的识别电路也可以设置在检测电路的外部。另外，在胶带等电介质的异物附着于检测对象物3的情况下，与未附着异物的情况相比，平行平板电容器中的累积电荷量增加，静电电容增加。

在静电电容检测装置20中，绝缘性的第1平板6、绝缘性的第2平板7分别如下所示那样。第1平板6位于第1电极1与传送路径5之间。第2平板7位于第2电极2与传送路径5之间。本实施方式中，第1电极1直接形成于第1平板6，第2电极7直接形成于第2平板7。

接着，使用图2至图5进一步对实施方式1所涉及的静电电容检测装置20的动作进行说明。图2是本实施方式所涉及的静电电容检测装置的主要部分的沿传送方向及电场方向的剖视图。图3是示出本实施方式所涉及的静电电容检测装置的检测值的示例的曲线图。图4是静电电容检测装置的比较例的主要部分的沿传送方向及电场方向的剖视图。图5是示出静电电容检测装置的比较例的检测值的示例的曲线图。

如图2所示，在形成有第1电极1的第1平板6、与形成有第2电极2的第2平板7之间、即间隙d处形成有电场9。图3示出了间隙d为2.5mm时的静电电容的检测值相对于第1电极1与第2电极2之间的位置的变化的曲线图。图3的横轴表示检测对象物3在离第1平板6多远的位置上被传送。即，0mm的间隙长度表示第1平板6的面，2.5mm的间隙长度表示第2平板7的面。图3的纵轴表示静电电容的检测值。图3中，用黑色的菱形来表示检测对象物3粘贴有胶带的情况下的检测值。此外，用黑色的正方形来表示检测对象物3未粘贴有胶带的情况下的检测值。

根据图3所示的静电电容的检测值可知，不论有无胶带，即使间隙长度变化，静电电容的检测值也不发生变化。此外，可知静电电容的检测值为200至250fr，较大。其原因在于，因检测电极即第1电极1和第2电极2各自分别与电介质即第1平板6和第2平板7接触配置，导致平行平板电容器中的静电电容增大。

另一方面，对实施方式1所涉及的静电电容检测装置20的比较例即静电电容检测装置30进行说明。图4所示的静电电容检测装置30中，电介质即第1平板6b和第2平板7b各自并未形成有第1电极1b和第2电极2b。第1电极1b和第2电极2b分别具有数mm至数cm的长度。第1电极1b和第2电极2b由金属板形成。第1基板11配置为第1基板11的侧面在电场方向上与第1电极1b相对。同样地，第2基板12配置为第2基板12的侧面在电场方向上与第2电极2b相对。如图4所示，第1电极1b与第2电极2b之间形成有电场9b。使得沿传送方向被传送的检测对象物3不与第1电极1b和第2电极2b接触，因此，传送方向的上游侧和下游侧分别配置有夹住传送路径5而相对的第1平板6b和第2平板7b。第1平板6b和第2平板7b也可以仅配置于传送方向的上游侧或下游侧中的任一方。

图5是示出在静电电容检测装置30中、第1电极1b与第2电极2b之间的距离为2.5mm时的静电电容的检测值相对于第1电极1b与第2电极2b之间的位置的变化的曲线图。图5的横轴表示检测对象物3在离第1电极1b多远的位置上被传送。即，0mm的间隙长度表示第1电极1b的面，2.5mm的间隙长度表示第2电极2b的面。图5的纵轴表示静电电容的检测值。图5的观察方式与图3相同。

根据图5所示的静电电容的检测值可知，不论有无胶带，即使间隙长度变化，静电电容的检测值也不发生变化。然而，可知相对于实施方式1所涉及的静电电容检测装置20，静电电容的检测值为112至113fr，较小。这是由于检测电极即第1电极1b和第2电极2b并未各自分别与电介质即第1平板6b和第2平板7b接触配置。

图6是示出实施方式1所涉及的静电电容检测装置20的壳体13a一侧的主要部分的立体图。图6中，单一的第1电极1沿着排列方向而配置。排列方向与检测对象物3的长边方向或短边方向相一致。即，第1电极1的排列方向的长度在检测对象物3的长边方向的长度或短边方向的长度以上。排列方向与长边方向和短边方向的哪一个相一致由检测对象物3被传送的方向来决定(以下的说明中也相同)。第1电极1和第1基板11的一部分配置在第1平板6的背面侧、即壳体13a的内部，因此用虚线来图示。虽然省略了图示，但壳体13b一侧的主要部分也同样地，单一的第2电极2沿着排列方向配置。即，第2电极2的排列方向的长度在检测对象物3的长边方向的长度或短边方向的长度以上。在静电电容检测装置20具有单一的第1电极1和第2电极2的情况下，静电电容检测装置20具有单一的振荡电路和检测电路。

由图6所示的沿着排列方向的单一的第1电极1、沿着排列方向的单一的第2电极2形成平行平板电容器。如上所述，只要是作为平行平板电容器进行动作的范围，则第1电极1和第2电极2在传送方向上错开也无妨。同样地，第1电极1和第2电极2也可以在排列方向上错开。

图7是示出实施方式1所涉及的其它示例的静电电容检测装置20的壳体13a一侧的主要部分的立体图。图7中，与图6不同，多个第1电极1沿着排列方向而配置。即，多个第1电极1的排列方向的全长在检测对象物3的长边方向的长度或短边方向的长度以上。第1电极1和第1基板11的一部分配置在第1平板6的背面侧、即壳体13a的内部，因此用虚线来图示。虽然省略了图示，但壳体13b一侧的主要部分也同样地，多个第2电极2沿着排列方向配置。即，多个第2电极2的排列方向的全长在检测对象物3的长边方向的长度或短边方向的长度以上。在静电电容检测装置20具有多个排列的第1电极1和多个排列的第2电极2的情况下，静电电容检测装置20按每个第1电极1和第2电极2具有振荡电路和检测电路。

由图7所示的沿着排列方向的多个第1电极1、沿着排列方向的多个第2电极2形成平行平板电容器。如上所述，只要在作为平行平板电容器进行动作的范围内，则第1电极1和第2电极2在传送方向上错开也无妨。同样地，第1电极1和第2电极2也可以在排列方向上错开。详细而言，多个排列的第1电极1、多个排列的第2电极2可以整体上在排列方向上错开，也可以在传送方向上错开。此外，夹住传送路径5且至少一部分相对的各个第1电极1和第2电极2可以在排列方向上错开，也可以在传送方向上错开。

图6所示的实施方式1所涉及的静电电容检测装置20中，第1电极1和第2电极2沿着排列方向分别形成有1个，且检测对象物3被传送，因此能获取多个静电电容的检测值，因而能得到一维的静电电容的检测值。

此外，图7所示的实施方式1所涉及的静电电容检测装置20中，第1电极1和第2电极2沿着排列方向形成有多个，因此，能检测与排列方向一致的检测对象物3的长边方向或短边方向的一维的静电电容。并且，由于检测对象物3被传送，因此将一维的静电电容的检测值作为一列，能获取多列的一维信息，因而最终能得到二维的静电电容的检测值。

因此，实施方式1所涉及的静电电容检测装置20在以专利文献2(日本专利特开2005-10968号公报)的图8所公开的纸币为检测对象物3的情况下，也能容易地检测粘贴有异物、例如胶带的检测对象物3上的位置。换言之，能识别检测对象物3上的粘贴有异物的区域。检测电路的内部或外部所具备的识别电路不仅能根据检测电路检测出的静电电容的变化来识别被传送的检测对象物3的种类，也能识别检测对象物3的存在异物的位置。该情况下，静电电容检测装置20也具有点传感器的功能。

在识别出种类的检测对象物3在电场9内通过的过程中第1电极1与第2电极2之间的静电电容进一步发生了变化的情况下，识别电路能判定为检测对象物3附着有异物。这能在针对每个检测对象物3预先知道检测对象物3的静电电容的变化时进行判定。因此，若还针对每个异物种类预先知道检测对象物3附着有异物的情况下的静电电容的变化，则也能识别附着于检测对象物3的异物。即，识别电路能识别附着于检测对象物3的异物的种类。基于上述理由，即使在检测对象物3的整个表面粘贴有异物的情况下，识别电路也能根据检测电路所检测出的静电电容的变化，判定为所传送的检测对象物3附着有异物。该情况下，也能判定附着于检测对象物3的异物的种类。

本实施方式所涉及的静电电容检测装置20可以具备与第1基板11电连接的电路基板11s、以及与第2基板12电连接的电路基板12s中的至少一方。电连接的方法可以采用一般的电路连接方法。图1中示出了电路基板11s和电路基板12s双方。电路基板11s在第1基板11中的第1电极1相反侧的侧面与第1基板11电连接。电路基板11s可以设为第1基板11的一部分。电路基板12s在第2基板12中的第2电极2相反侧的侧面与第2基板12电连接。电路基板12s可以设为第2基板12的一部分。电路基板11s、电路基板12s可以形成有振荡电路或检测电路。并且，电路基板11s、电路基板12s可以形成有识别电路。电路基板11s、电路基板12s也可以是与外部的接口。

实施方式1所涉及的静电电容检测装置20中，沿着电场方向配置第1基板11和第2基板12的至少一方的主面，由此，能容易地使传送方向上的尺寸小型化。因此，静电电容检测装置20能提高与对检测对象物3的静电电容的变化以外的信息进行检测的装置或传感器之间的协作性。

由此，实施方式1所涉及的静电电容检测装置20中，不仅能高精度地对检测对象物3的静电电容进行检测，与对检测对象物3的静电电容的变化以外的信息进行检测的装置或传感器之间的协作性也得以提高。对检测对象物3的静电电容的变化以外的信息进行检测的装置或传感器例如是专利文献2所公开的传感器、或压辊或超声波传感器。专利文献2中公开了对检测对象物的图案进行检测的图像传感器、对检测对象物的磁图案进行检测的磁传感器、以及对检测对象物的荧光图像进行检测的荧光传感器。荧光传感器可以是图像传感器所具有的功能的一部分。

对于本实施方式所涉及的图像读取装置40，使用图8来说明。图8是图像读取装置40的沿着传送方向和电场方向的剖视图。图像读取装置40包含对检测对象物3的静电电容的变化以外的信息进行检测的装置或传感器。图像读取装置40具备读取检测对象物3的图像的图像读取部14，并具备静电电容检测装置20，该静电电容检测装置20在传送路径5的传送方向上、在图像读取部14的上游侧或下游侧具有第1电极1和第2电极2。即，第1电极1和第2电极2位于图像读取部14的图像读取位置的、传送方向的上游侧或下游侧。图8示出了第1电极1和第2电极2配置于图像读取部14的传送路径5的传送方向的上游侧的示例。

在图8中，壳体13c是以传送路径5为边界并配置在与壳体13b相同侧的图像读取部14的壳体。壳体13c在内部收纳透镜元件(成像光学透镜)15、传感器元件(受光元件)16、光源18a。此外，在壳体13c的传送路径5的相反侧形成有电路基板17。图像读取部14至少包含传感器元件16。图像读取部14可以具有透镜元件15、光源18a和电路基板17中的至少任一个、以及传感器元件16。另外，电路基板17可以包含电路基板11s或电路基板12s。此外，电路基板17也可以包含向光源18a提供电源、驱动信号的电路。

在图8中，透镜元件15将来自检测对象物3的光聚合。透镜元件15是成像光学系统透镜。传感器元件16接收透镜元件15所聚合的光。本实施方式中，作为透镜元件15，使用在排列方向上排列有多个棒形透镜的棒形透镜阵列。此外，作为传感器元件16，使用在排列方向上排列有多个传感器的多芯片传感器。因此，排列方向是图像读取装置40中的主扫描方向。此外，传送方向是图像读取装置40中的副扫描方向。并且，电场方向是透镜元件15(图像读取部14)的光轴方向。因此，静电电容检测装置20的第1基板11和第2基板12的至少一个的主面配置成与图像读取部14的光轴平行。图像读取部14(透镜元件15)的光轴与正交于传送方向的方向(Z轴方向)平行。

透镜元件15不仅可以是棒形透镜阵列，也可以是微透镜阵列。此外，透镜元件15可以不是棒形透镜阵列、微透镜阵列等正立等倍光学系统的透镜元件，而是缩小光学系统等图像读取用的透镜元件。此外，透镜元件15也可以是拍摄元件。

在透镜元件15为正立等倍光学系统的透镜元件的情况下，透镜元件15配置于检测对象物3的长边方向或短边方向。即，与第1电极1和第2电极2同样地，透镜元件15的主扫描方向的长度在检测对象物3的长边方向的长度或短边方向的长度以上。同样地，在传感器元件16为多芯片传感器的情况下，传感器元件16配置于检测对象物3的长边方向或短边方向。即，与第1电极1和第2电极2同样地，传感器元件16的主扫描方向的长度在检测对象物3的长边方向的长度或短边方向的长度以上。

此外，在图8中，电路基板17是形成有传感器元件16的基板。电路基板17对传感器元件16接收到的光进行光电转换。电路基板17可以具有对光电转换后的信号进行处理的信号处理基板的功能。信号处理基板可以与形成有传感器元件16的电路基板17分开形成。反射光用的光源即光源18a具有在主扫描方向上延伸的导光体。光源18a所具有的导光体的主扫描方向的长度在检测对象物3的长边方向的长度或短边方向的长度以上。光源18a沿着主扫描方向对检测对象物3照射线状的光。电路基板17可以包含向含有光源18a的光源提供电源、驱动信号的电路。

壳体13c的传送路径5一侧设有盖板构件7c。盖板构件7c的材料是供光源18a的光透过的任意的材料，例如，是包含玻璃、或聚碳酸酯树脂或丙烯酸树脂的透明的树脂。如图8中虚线的箭头所示那样，从光源18a射出的光透过盖板构件7c，照射到检测对象物3。如图8中沿着光轴方向的虚线的箭头所示那样，该照射出的光被检测对象物3反射，该反射光透过盖板构件7c经由透镜元件15被传感器元件16所接收。根据该受光后的反射光，图像读取装置40能得到检测对象物3的图像。

实施方式1所涉及的图像读取装置40在副扫描方向上具备小型的静电电容检测装置20，因此作为整体能容易地实现小型化。另外，通过对实施方式1所涉及的静电电容检测装置20的第1平板6和第2平板7的至少一方使用与盖板构件7c相同的材料，从而能实现成本下降。即，第1平板6和第2平板7的至少一方的从光源18a射出的光的透射率在阈值以上。阈值例如根据从光源18a射出的光的光量来确定。

并且，为了简化使用与盖板构件7c相同的材料的第1平板6或第2平板7的配置，可以利用透明电极来形成第1电极1或第2电极2。即，第1平板6和第1电极1、以及第2平板7和第2电极2的至少一方的从光源18a射出的光的透射率在阈值以上。可以用透射率在第1阈值以上的构件来形成第1平板6和第2平板7，并用透射率在第2阈值以上的构件来形成第1电极和第2电极。第1阈值和第2阈值例如根据从光源18a射出的光的光量来确定。第1阈值和第2阈值可以是相同的值，也可以是不同的值。

当第1平板6和第2平板7是由与盖板构件7c相同的构件来形成的透明的板时，第1电极1和第2电极2可以是形成在透明的板上的透明电极。透明电极例如是ITO(Indium TinOxide：铟锡氧化物)膜。由此，若使用ITO膜，则能容易地使透明电极与透明的板一体化。另外，从光源18a射出的光并不限于可见光。此外，不论第1电极1、第2电极2、第1平板6和第2平板7的从光源18a射出的光的透射率如何，均能通过使第1电极1和第1平板6一体化、并使第2电极2和第2平板7一体化，来实现静电电容检测装置20的薄型化。

在实施方式1所涉及的静电电容检测装置20中，在第1基板11与第1平板6的线膨胀系数不同的情况下、或第2基板12与第2平板7的线膨胀系数不同的情况下，使用图9来进行说明。图9是静电电容检测装置的主要部分的沿传送方向及电场方向的剖视图。例如，在第1平板6使用与上述盖板构件7c相同的材料的情况下、且第1基板11与第1平板6的线膨胀系数存在较大不同的情况下，需要考虑线膨胀系数的不同。在第2基板12与第2平板7的线膨胀系数存在较大不同的情况下也同样。

该情况下，为了维持形成在第1基板11上的第1电极1与第1基板11之间的电连接，在第1电极1与第1基板11之间配置导电性的缓冲构件并连接二者。同样地，为了维持形成在第2基板12上的第2电极2与第2基板12之间的电连接，在第2电极2与第2基板12之间配置导电性的缓冲构件并连接二者。图9示出了对第2电极2与第2基板12的连接使用了缓冲构件12a的静电电容检测装置20的壳体13b侧的结构。静电电容检测装置20的壳体13a侧也为同样的结构。缓冲构件是成为缓冲的任意构件。缓冲构件例如是包含导电橡胶的导电性的弹性体、或是包含由磷青铜板形成的缓冲弹簧的针连接器。

图像读取装置40具有静电电容检测装置20。实施方式1的示例中，在传送路径5上、图像读取装置40的图像读取部14的传送方向的上游侧或下游侧配置有静电电容检测装置20。在透明树脂胶带作为异物附着于检测对象物3的情况下，相对于透射光和反射光是透明的，因此，例如，不容易出现在反射图像或透射图像的图像上。因此，对于粘贴有透明树脂胶带的检测对象物3的识别，静电电容的检测与图像读取(光学读取)的并用是有效的。由此，像实施方式1所涉及的图像读取装置40那样，将检测静电电容的静电电容检测装置20与进行图像读取的图像读取部14排列在传送方向上来配置，由此，能用一对模块来对检测对象物3的静电电容图像与光学图像进行检测。

如以上所说明的那样，本实施方式1所涉及的图像读取装置40包括：以夹住沿着片状的检测对象物3被传送的传送方向的传送路径5的方式设置的第1电极1和第2电极2；在第1电极1与第2电极2之间形成电场9的振荡电路；以及检测第1电极1与第2电极2之间的静电电容的变化的检测电路。此外，包括形成有振荡电路与检测电路中的至少一方的第1基板11和第2基板12。第1基板11和第2基板12是薄板状的基板，主面的延伸方向相对于传送方向垂直。此外，第1电极1和第2电极2配置在读取检测对象物3的图像的图像读取部14中的图像读取位置的、传送路径5的传送方向的上游侧或下游侧。由此，能使静电电容检测装置20在传送方向上小型化，能可靠地进行异物的检测。

实施方式2.

使用图10至图31对实施方式2所涉及的静电电容检测装置21的主要结构进行说明。图10是本实施方式所涉及的图像读取装置41的沿传送方向及电场方向的剖视图。图11-22及25-28是本实施方式所涉及的图像读取装置41的变形例即图像读取装置42-58的沿传送方向及电场方向的剖视图。

实施方式2所涉及的图像读取装置41在壳体13a和壳体13b的内部具备振荡电路和检测电路中的至少一方。图像读取部14所具有的传感器元件16设置在被第1平板6和第2平板7中的至少一方密封的壳体13c的内部。图像读取部14读取检测对象物3的图像。

对静电电容检测装置21的结构进行说明，该静电电容检测装置21在图像读取装置41中、对检测对象物3的静电电容的变化以外的信息进行检测的装置或传感器检测包含印刷于检测对象物3的图像或水印在内的信息的情况下更为适用。第1平板6和第2平板7是能应用于对实施方式1所涉及的图像读取装置40的壳体13c进行密封的盖板构件7c的透明的板。第1电极1和第2电极2是形成在第1平板6和第2平板7上的透明电极。

具有实施方式1所涉及的静电电容检测装置20的图像读取装置40中，如图8所示，壳体13c的盖板构件7c与壳体13b的第2平板7是分开的构件。具有本实施方式所涉及的静电电容检测装置21的图像读取装置41如图10所示，在第2平板7对壳体13c进行密封、且第2平板7为透明的板这点上与实施方式1所涉及的图像读取装置40不同。第2平板7中的从光源18a射出的光的透射率在阈值以上。另外，在图10中，第1平板6也可以不是透明的板。即使第1平板6遮住光源18a的光，只要是不妨碍图像读取部14的读取的范围，则第1平板6也可以不是透明的板。另外，从光源18a射出的光并不限于可见光。

在图10至图31中，图像读取部14至少具有传感器元件16。透镜元件15经由第1平板6和第2平板7的至少一方将检测对象物3所反射的光、或透过了检测对象物3的光聚合。传感器元件16接收透镜元件15所聚合的聚合光。光源18a、18b、18c将光照射向检测对象物3。透镜元件15所聚合的光是从光源18a、18b照射到检测对象物3、并由检测对象物3反射的光，或者是从光源18b、18c照射到检测对象物3、并透过了检测对象物3的光。光源18a、18b、18c相对于第1平板6或第2平板7配置于传送路径5的相反侧。即，光源18a、18b、18c内置于壳体13a、13b、13c中的任一个。

图11所示的图像读取装置42将静电电容检测装置21的壳体13a和壳体13b分别与图10所示的图像读取装置41的壳体13c一体化。详细而言，图11所示的壳体13b将图10所示的壳体13b与壳体13c一体化。此外，在传送路径5上，传送方向的上游侧和下游侧的壳体13b的端部分别具有锥形的倾斜，因此，减少了检测对象物3被传送时在端部卡住的可能性。

图11所示的壳体13a的外形以及收纳于壳体13a的图像读取部14与图11所示的壳体13b的外形以及收纳于壳体13b的图像读取部14相同。然而，图像读取部14的结构的一部分不同。由此，图11所示的图像读取装置42能读取检测对象物3的两面的图像。即，图像读取装置42能读取与壳体13b相对的检测对象物3的表面、以及与壳体13a相对的检测对象物3的背面的图像。壳体13a中，在传送方向的上游侧配置有光源18a，在下游侧配置有反射光和透射光用的光源即光源18b。壳体13b中，在传送方向的上游侧配置有光源18b，在下游侧配置有光源18a。光源18b具有在主扫描方向上延伸的导光体。光源18b所具有的导光体的主扫描方向的长度在检测对象物3的长边方向的长度或短边方向的长度以上。

在图11中，如相对于光轴方向具有倾斜的虚线的箭头所示，来自光源18a和光源18b的光被照射到检测对象物3。在图11中，如沿着光轴方向的虚线的箭头所示那样，该照射出的光被检测对象物3反射，该反射光透过玻璃罩即第1平板6或第2平板7经由透镜元件15被传感器元件16所接收。在图11中，如沿着光轴方向的虚线的箭头所示，光从光源18b照射到检测对象物3。在图11中，如沿着光轴方向的虚线的箭头所示那样，该照射出的光透过检测对象物3，该透射光透过第1平板6或第2平板7经由透镜元件15被传感器元件16所接收。这里，光轴方向是相对于传送方向和排列方向垂直的方向。

如实施方式1中所说明的那样，光源18a沿着主扫描方向线状地向检测对象物3照射光。光源18a相对于传送方向和光轴方向倾斜地向检测对象物3照射一列光。另一方面，光源18b如图11所示，沿着主扫描方向对检测对象物3照射两列线状的光。第一列线状的光与从光源18a照射的光同样地，从光源18b相对于传送方向和光轴方向倾斜地照射。第二列线状的光相对于光轴方向平行地照射。将光源18b的出射光的光轴与透镜元件15的光轴的位置对准，由此，相对于光轴方向平行地照射的光透过检测对象物3，经由透镜元件15被传感器元件16所接收。详细而言，壳体13a一侧的光源18b的光轴与壳体13b一侧的透镜元件15的光轴相一致，壳体13b一侧的光源18b的光轴与壳体13a一侧的透镜元件15的光轴相一致。图11所示的图像读取装置42具备还能读取检测对象物3的水印的图像的图像读取部14。

此外，图11所示的图像读取装置42中，除了传送方向的上游侧所存在的第1电极1和第2电极2，在传送方向的下游侧，第1平板6和第2平板7也分别形成有第1电极1和第2电极2。由此，将第1基板11和第2基板12从传送方向的上游侧移除并更换，从而能在传送方向的下游侧构成静电电容检测装置21。如图12所示的图像读取装置43那样，除了传送方向的上游侧，在下游侧也具有包括第1基板11和第2基板12的静电电容检测装置21。图11所示的图像读取装置42和图12所示的图像读取装置43的不同仅在于传送方向的下游侧所具备的第1基板11和第2基板12，因此省略详细说明。

图12所示的图像读取装置43中，能利用上游侧和下游侧的任意一个静电电容检测装置21、或两个静电电容检测装置21来检测在传送路径5上被传送的检测对象物3的静电电容的变化。在将表示由上游侧和下游侧的静电电容检测装置21中的任一个检测出的静电电容的检测值的信号或图像数据移交至上位系统的情况下，可以在上游侧与下游侧间切换信号线的连接。

图13所示的图像读取装置44中，光源18b仅设置在壳体13a一侧。在仅利用一个图像读取部14来读取检测对象物3的水印的图像即可的情况下，使用图像读取装置44。图像读取装置44可以具备图14所示的图像读取装置45中使用的光源18c，以代替光源18b。光源18c是照射一列光的透射光用的光源，具有在主扫描方向上延伸的导光体。光源18c所具有的导光体的主扫描方向的长度在检测对象物3的长边方向的长度或短边方向的长度以上。在图像读取装置44具备光源18b的情况下，光源18b照射两列光，因此，在壳体13a的内部，不设置位于光源18b与透镜元件15之间的光源18a也无妨。

此外，图13所示的图像读取装置44中，第1电极1沿着传送方向延伸，通过壳体13a内的靠近透镜元件15相反侧的端部的部分经由连接布线(连接电极)与第1基板11电连接。即，第1电极1通过相对于第1电极1的传送方向的中心更远离图像读取部14的光轴的部分，经由连接布线与第1基板11电连接。同样地，第2电极2沿着传送方向延伸，通过壳体13b内的靠近透镜元件15相反侧的端部的部分经由连接布线(连接电极)与第2基板12电连接。即，第2电极2通过相对于第2电极2的传送方向的中心更远离图像读取部14的光轴的部分，经由连接布线与第2基板12电连接。通过采用上述结构，能使静电电容检测装置22靠近图像读取部14。这是因为不使第1基板11接近图像读取部14而使第1电极1接近图像读取部14较为容易，此外，不使第2基板12接近图像读取部14而使第2电极2接近图像读取部14较为容易。图14以后的附图所示的第1电极1和第2电极2也为同样的形状。

图14所示的图像读取装置45中，仅在壳体13a一侧设有图像读取部14。在仅利用一个图像读取部14来读取检测对象物3的水印的图像即可、且仅读取检测对象物3单面的图像即可的情况下，使用图像读取装置45。壳体13b的内部设有透射光用光源即光源18c。光源18c与光源18b不同，沿着主扫描方向对检测对象物3照射一列线状的光。光源18c相对于光轴方向平行地照射光。将光源18c的出射光的光轴与透镜元件15的光轴的位置对准，由此，相对于光轴方向平行地照射出的光经由第2平板7透过检测对象物3，并经由透镜元件15被传感器元件16所接收。详细而言，壳体13b一侧的光源18c的光轴与壳体13a一侧的透镜元件15的光轴相一致。另外，光源18a与光源18c的组合相当于图13的光源18b。

图15所示的图像读取装置46采用将光源18c从图14所示的图像读取装置45的壳体13b中去除后得到的结构。虽然无法读取检测对象物3的水印的图像，但能实现相当于省去光源18c的部分的小型化。

图16所示图像读取装置47为如下结构：将图13所示的图像读取装置44的壳体13a一侧的光源18a与光源18b一体化，且仅设为光源18b。此外，图16所示的图像读取装置47中，壳体13a和壳体13b分别各自收纳1个光源18a，因此能实现小型化。

在图17所示的图像读取装置48中，在传送方向上、壳体13a的图像读取部14的下游侧、壳体13b的图像读取部14的上游侧配置有静电电容检测装置22。设置于壳体13a一侧的第1电极1通过相对于第1电极1的传送方向的中心更远离壳体13a内的透镜元件15的部分，经由连接布线与第1基板11电连接。设置于壳体13b一侧的第2电极2通过相对于第2电极2的传送方向的中心更远离壳体13b内的透镜元件15的部分，经由连接布线与第2基板12电连接。

在图17所示的图像读取装置48中，第1基板11和第2基板12的主面分别配置为与正交于传送方向的方向(Z轴方向)平行，第1基板11和第2基板12配置为在传送方向上错开。在图17所示的图像读取装置48中，第1基板11与第2基板12的至少一方可以起到作为遮光构件的功能，该遮光构件对从光源18a照射出的光进行遮光。

在图8以及图10至图16中，第1基板11和第2基板12的主面分别配置为与正交于传送方向的方向(Z轴方向)平行，第1基板11和第2基板12不在传送方向上错开，而是配置于在传送方向上相一致的场所。在图8以及图10至图16中，第1基板11与第2基板12的至少一方可以起到作为遮光构件的功能，该遮光构件对从光源18a、光源18b、光源18c中的任一个照射出的光进行遮光。在图8以及图10至图17中，在第1电极1和第2电极2的至少一方通过有色的电极来形成的情况下，与第1基板11和第2基板12相同地，第1电极1和第2电极2可以是遮光构件。该情况下，在与第1电极1和第2电极2对应的位置，第1平板6和第2平板7无需是透明的。换言之，若在与第1电极1和第2电极2对应的位置处将第1平板6和第2平板7设为有色，则第1电极1和第2电极2既可以为有色也可以为无色。

图18至图22所示的图像读取装置49、50、51、52、53示出了如下情况：第1电极1或第2电极2的一部分在光轴方向上与光源18a重复。图18至图22所示的图像读取装置49、50、51、52、53中，壳体13a和壳体13b的传送方向的上游侧和下游侧的端部不具有锥形的倾斜。壳体13a和壳体13b的传送方向的上游侧和下游侧的端部也可以具有锥形的倾斜。

图18至图21所示的图像读取装置49、50、51、52中，第2电极2的一部分在光轴方向上与传送方向上的壳体13b的下游侧的光源18a重复。图22所示的图像读取装置53中，第1电极1的一部分在光轴方向上与传送方向上的壳体13a的上游侧的光源18a重复。此外，传送方向上的壳体13b的下游侧的光源18a与第2电极2在光轴方向上重复。

图18至图22所示的图像读取装置49、50、51、52、53中，虽然第1电极1或第2电极2的一部分与光源18a重复，但当第1电极1或第2电极2为透明电极时，并不容易妨碍光从光源18a向检测对象物3的照射。另一方面，在光源18a、18b、18c的光量不下降、或能确保所需的光量时，第1电极1或第2电极2也可以不是透明的。即，若以避开从向检测对象物3照射光的光源18a、18b、18c照射向检测对象物3的光的光轴与图像读取部14(透镜元件15)的光轴的方式形成第1电极1和第2电极2，则第1电极1或第2电极2可以不是透明的。例如，在不遮挡从光源18a、18b、18c到检测对象物3的光路、以及从检测对象物3到图像读取部14的光路的位置形成第1电极1和第2电极2的情况下，第1电极1和第2电极2可以不是透明的。即使第1电极1或第2电极2遮挡光源18a、18b、18c的光，只要是不妨碍图像读取部14的读取的范围，则第1电极1或第2电极2也可以不是透明电极。另外，光不限于可见光。

另外，关于图11、图12、图13所示的图像读取装置42、43、44，虽然在光轴方向上第1电极1或第2电极2与光源18a隔开距离，但第1电极1或第2电极2的一部分也与光源18a重复。在图11、图12、图13所示的图像读取装置42、43、44中，若对第1电极1或第2电极2使用透明电极，则更不容易妨碍光从光源18a向检测对象物3的照射。

图18所示的图像读取装置49为与图13所示的图像读取装置44类似的结构。图19所示的图像读取装置50为与图14所示的图像读取装置45类似的结构，接近于使壳体13a与壳体13b在光轴方向上进行上下翻转后得到的结构。图20所示的图像读取装置51为与图15所示的图像读取装置46类似的结构，接近于使壳体13a与壳体13b在光轴方向上进行上下翻转后得到的结构。图21所示的图像读取装置52为与图16所示的图像读取装置47类似的结构。图22所示的图像读取装置53为与图17所示的图像读取装置48类似的结构。

图22和图24所示的图像读取装置53中，第1基板11和第2基板12的主面分别配置为与光轴方向平行。然而，在图22和图24中，第1基板11和第2基板12在副扫描方向上错开地配置。由此，第1基板11和第2基板12可以在副扫描方向上错开地配置。该在副扫描方向上错开的配置也能应用于实施方式1和2所涉及的其它图像读取装置。此外，在图22和图24中，配置为与光轴方向平行的基板可以是第1基板11和第2基板12中的任一方。

以图22所示的图像读取装置53为例，说明第1基板11与第1电极1的电连接、以及第2基板12与第2电极2的电连接的详细情况。图23是对图22所示的图像读取装置53中的第1电极1与第1基板11电连接的部分以及壳体13a进行放大而得的图。在图23中，省略了壳体13a的一部分以及光源18a的记载。在图23中，第1基板11的主面配置为与图像读取部14的光轴平行。经由在电场方向上形成于与第1电极1相对的第1基板11的侧面的侧面布线(连接布线)11b，第1基板11与第1电极1电连接。图23的示例中，侧面布线11b从与第1电极1相对的第1基板11的侧面沿着第1基板11的主面延伸。如所图示的那样，可以使导电性的缓冲构件11a介于第1电极1与侧面布线11b之间。

同样地，第2基板12的主面配置为与图像读取部14的光轴平行。经由在电场方向上形成于与第2电极2相对的第2基板12的侧面的侧面布线，第2基板12与第2电极2电连接。此外，可以使导电性的缓冲构件介于第2电极2与侧面布线之间。侧面布线11b由在第1基板11的侧面所形成的导体图案(侧面电极)所形成。同样地，在第2基板12的侧面所形成的侧面布线是形成于第2基板12的侧面的导体图案。另外，第1基板11的侧面以及第2基板12的侧面是指与传送方向平行的第1基板11和第2基板12的侧面中、传送路径5一侧的面。

详细而言，在实施方式1和2所涉及的图像读取装置40-53中，侧面布线11b是从第1基板11的侧面跨过与光轴方向平行的第1基板11的主面而形成的L字形的导体图案(电极)。在与光轴方向平行的第1基板11的主面上，侧面布线11b与振荡电路和检测电路的至少一方电连接。同样地，侧面布线12b是从第2基板12的侧面跨过与光轴方向平行的第2基板12的主面而形成的L字形的导体图案。在与光轴方向平行的第2基板12的主面上，侧面布线12b与振荡电路和检测电路的至少一方电连接。

在图22所示的图像读取装置53中，第1基板11和第2基板12的主面分别配置为与正交于传送方向的方向(Z轴方向)平行，第1基板11和第2基板12配置为在传送方向上错开。在图22所示的图像读取装置53中，第1基板11与第2基板12的至少一方可以起到作为遮光构件的功能，该遮光构件对从光源18a照射出的光进行遮光。在图18至图21中，第1基板11和第2基板12的主面分别配置为与正交于传送方向的方向(Z轴方向)平行，第1基板11和第2基板12不在传送方向上错开，而是配置于在传送方向上相一致的场所。在图18至图21中，第1基板11与第2基板12的至少一方可以起到作为遮光构件的功能，该遮光构件对从光源18a、光源18b、光源18c中的任一个照射出的光进行遮光。在图18至图22中，在第1电极1和第2电极2的至少一方通过有色的电极来形成的情况下，与第1基板11和第2基板12相同地，第1电极1和第2电极2可以设为遮光构件。该情况下，在与第1电极1和第2电极2对应的位置，第1平板6和第2平板7无需是透明的。换言之，若在与第1电极1和第2电极2对应的位置处将第1平板6和第2平板7设为有色，则第1电极1和第2电极2既可以为有色也可以为无色。

若进一步详细地说明图23，则第1电极1沿着传送方向延伸，并通过相对于第1电极1的传送方向的中心更远离透镜元件15的光轴的部分经由侧面布线11b与第1基板11电连接。同样地，第2电极2沿着传送方向延伸，并通过相对于第2电极2的传送方向的中心更远离透镜元件15的光轴的部分经由侧面布线12b与第2基板12电连接。该情况下，也可以在第1电极1与侧面布线11b之间配置导电性的缓冲构件11a。当然，第1基板也可以通过第1电极1的传送方向上的中心部分、或相对于第1电极1的传送方向的中心更接近透镜元件15的光轴的部分，并经由侧面布线11b来进行电连接。该情况下，也可以在第1电极1与侧面布线11b之间配置导电性的缓冲构件11a。并且，也可以不使用侧面布线11b，而通过连接布线来对第1基板11与第1电极1进行电连接。在第2电极2的情况下也相同。

至此，对实施方式1和2所涉及的图像读取装置40-53中、光源18a、18b、18c为在主扫描方向上延伸的导光体的情况进行了说明。然而，光源18a、18b、18c并不限于具有导光体的光源。图24所示的图像读取装置54具备光源18d，以代替图22所示的图像读取装置53的光源18a。在图24中，光源18d是形成在沿主扫描方向的延伸的基板上、将多个LED(LightEmitting Diode：发光二极管)元件排列在主扫描方向上而得到的LED阵列光源。构成光源18d的基板的主扫描方向的长度在检测对象物3的长边方向的长度或短边方向的长度以上。

图24所示的光源18d是反射光用光源，但其它用途的光源也可以替换为LED阵列光源。例如，反射光、透射光用光源即光源18b、或透射光用光源即光源18c也可以替换为LED阵列光源。此外，可以将LED阵列光源与导光体并用来形成光源18a、18b、18c。并且，可以将导光体仅作为光源18d的聚焦透镜来利用，从而形成光源18a、18b、18c。此外，在实施方式1和2所涉及的图像读取装置40-54中，光源18a、18b、18c、18d可以配置在壳体13a、13b、13c的外部。

在图24所示的图像读取装置54中，第1基板11和第2基板12的主面分别配置为与正交于传送方向的方向(Z轴方向)平行，第1基板11和第2基板12配置为在传送方向上错开。在图24所示的图像读取装置54中，第1基板11与第2基板12的至少一方可以起到作为遮光构件的功能，该遮光构件对从光源18d照射出的光进行遮光。在图24中，在第1电极1和第2电极2的至少一方通过有色的电极来形成的情况下，与第1基板11和第2基板12相同地，第1电极1和第2电极2可以设为遮光构件。该情况下，在与第1电极1和第2电极2对应的位置，第1平板6和第2平板7无需是透明的。换言之，若在与第1电极1和第2电极2对应的位置处将第1平板6和第2平板7设为有色，则第1电极1和第2电极2既可以为有色也可以为无色。

图25所示的图像读取装置55是组合图14所示的图像读取装置45与图19所示的图像读取装置50而得的结构。详细而言，图像读取装置55中，在图像读取装置45的传送方向的下游侧形成图像读取装置50的静电电容检测装置22以外的、图像读取装置50的图像读取部14和光源18a、18c。即，第1电极1和所述第2电极2配置于在第1读取位置141读取检测对象物3的图像的第1图像读取部(相当于图像读取装置45的图像读取部14)中的、传送路径5的传送方向的下游侧。此外，第1电极1和所述第2电极2配置于在第2读取位置142读取检测对象物3的图像的第2图像读取部(相当于图像读取装置50的图像读取部14)中的、传送路径5的传送方向的上游侧。由此，第1电极1和第2电极2配置在第1读取位置141与第2读取位置142之间。

图25所示的图像读取装置55中，将相对于静电电容检测装置22位于传送方向更上游、照射第1读取位置141的光源18a、光源18c称为第1光源。同样地，图25所示的图像读取装置55中，将相对于静电电容检测装置22位于传送方向更下游、照射第2读取位置142的光源18a、光源18c称为第2光源。

图26、图27所示的图像读取装置56、图像读取装置57是将照射第1读取位置141的光源18c从图25所示的图像读取装置55中省去后得到的结构。第1光源仅为光源18a。图像读取装置56与图像读取装置57的不同点在于，在图像读取装置57中省去了光源18c，省去这部分可使壳体13b小型化。另外，在图25、图26、图27所示的图像读取装置55、图像读取装置56、图像读取装置57中，可以将光源18a、光源18c的至少1个设为LED阵列光源的光源18d。

在图25、图26、图27所示的图像读取装置55、图像读取装置56、图像读取装置57中，第1基板11和第2基板12的主面分别配置为与正交于传送方向的方向(Z轴方向)平行，第1基板11和第2基板12配置为在传送方向上错开。在图25、图26、图27所示的图像读取装置55、图像读取装置56、图像读取装置57中，第1基板11与第2基板12的至少一方可以起到作为遮光构件的功能，该遮光构件对从光源18a、18c照射出的光进行遮光。在图25、图26、图27中，在第1电极1和第2电极2的至少一方通过有色的电极来形成的情况下，与第1基板11和第2基板12相同地，第1电极1和第2电极2可以设为遮光构件。该情况下，在与第1电极1和第2电极2对应的位置，第1平板6和第2平板7无需是透明的。换言之，若在与第1电极1和第2电极2对应的位置处将第1平板6和第2平板7设为有色，则第1电极1和第2电极2既可以为有色也可以为无色。

在图25、图26、图27所示的图像读取装置55、图像读取装置56、图像读取装置57中，详细而言，对于第2读取位置142，第1基板11和第2基板12的至少一方(包含第1电极1和第2电极2的至少一方)对从第1光源(靠近第1基板11的光源18a)照射出的光进行遮光。同样地，对于第1读取位置141，第1基板11和第2基板12的至少一方(包含第1电极1和第2电极2的至少一方)对从第2光源(靠近第2基板12的光源18a)照射出的光进行遮光。

图28所示的图像读取装置58是将图25所示的图像读取装置55的第1基板11和第2基板12变更为第1基板11f和第2基板12f后得到的结构。除此以外，为与图25、图26、图27所示的图像读取装置55、图像读取装置56、图像读取装置57相同的结构，各结构要素可互相替换。第1基板11f和第2基板12f是包含柔性基板的具有可挠性的基板。图中，将第1基板11和第2基板12双方变更为了第1基板11f和第2基板12f，但也可以仅变更任意一方。

图像读取装置58的第1基板11f的第1端部弯曲，与第1平板6直接或间接接触。或者，第1基板11f的第1端部弯曲，与第1平板6相对。即，在第1基板11f中，在与第1平板6直接或间接接触的部分形成第1电极1。或者，在第1基板11f中，在与第1平板6相对的部分形成第1电极1，并且，第1基板11f中，第1端部相反侧的第2端部弯曲，在第2端部处第1基板11f与电路基板17电连接。例如，形成于电路基板17的连接器17c与第1基板11f的第2端部电连接。当然，也可以通过焊接等将第1基板11f的第2端部固定于电路基板17。第1基板11f的主面配置在第1端部与第2端部之间。第1基板11f的主面是在形成有第1电极1的部分以外、沿着第1电极1与第2电极2的至少一部分相对的方向、即电场方向的部分。

图像读取装置58的第2基板12f的第1端部弯曲，与第2平板7直接或间接接触。或者，第2基板12f的第1端部弯曲，与第2平板7相对。即，在第2基板12f中，在与第2平板7直接或间接接触的部分形成第2电极2。或者，在第2基板12f中，在与第2平板7相对的部分形成第2电极2，并且，第2基板12f中，第1端部相反侧的第2端部弯曲，在第2端部处第2基板12f与电路基板或电路基板17电连接。例如，形成于电路基板17的连接器17c与第2基板12f的第2端部电连接。当然，也可以通过焊接等将第2基板12f的第2端部固定于电路基板或电路基板17。第2基板12f的主面配置在第1端部与第2端部之间。第2基板12f的主面是在形成有第2电极2的部分以外、沿着第1电极1与第2电极2的至少一部分相对的方向、即电场方向的部分。

在图28所示的图像读取装置58中，第1基板11f和第2基板12f的主面分别配置为与正交于传送方向的方向(Z轴方向)平行，第1基板11f和第2基板12f配置为在传送方向上错开。在图28所示的图像读取装置58中，第1基板11f与第2基板12f的至少一方可以起到作为遮光构件的功能，该遮光构件对从光源18a、光源18c照射出的光进行遮光。在图28中，可以将第1电极1和第2电极2与第1基板11f和第2基板12f同样地设为遮光构件。该情况下，在与第1电极1和第2电极2对应的位置，第1平板6和第2平板7无需是透明的。换言之，若在与第1电极1和第2电极2对应的位置处将第1平板6和第2平板7设为有色，则第1电极1和第2电极2既可以为有色也可以为无色。

在图28所示的图像读取装置58中，详细而言，对于第2读取位置142，第1基板11f和第2基板12f的至少一方(包含第1电极1和第2电极2的至少一方)对从第1光源(靠近第1基板11的光源18a)照射出的光进行遮光。同样地，对于第1读取位置141，第1基板11f和第2基板12f的至少一方(包含第1电极1和第2电极2的至少一方)对从第2光源(靠近第2基板12的光源18a)照射出的光进行遮光。

使用图29、图30、图31所示的第2基板12f进一步进行详细说明。第1基板11f与第2基板12f为相同的结构，因此省略第1基板11f的说明。如图29所示，第2基板12f的第1端部具有弯曲部分12c与电极部分12e。电极部分12e上，沿着排列方向形成有多个第2电极2。引出线分别从第2电极2被引出。将第2基板12f的弯曲部分12c弯曲，使第2电极2与第2平板7接触。

此外，如图28所示，将壳体13a的收纳第1基板11f的空间取得较大，从而能安装其它部件。此外，将壳体13a的收纳第1基板11f的空间取得较大，由此，弯曲部分11c的弯曲率的选择的幅度变宽。同样地，如图28所示，将壳体13b的收纳第2基板12f的空间取得较大，从而能安装其它部件。此外，将壳体13b的收纳第2基板12f的空间取得较大，由此，弯曲部分12c的弯曲率的选择的幅度变宽。

第1基板11f的第1端部在电场方向上与第1平板6相对。此外，第2基板12f的第1端部在电场方向上与第2平板7相对。第1基板11和第2基板12具有侧面的传送方向的长度比主面的电场方向的长度要短的薄板状的形状。第2电极2向第2平板7的固定可以是按压固定，但在想要进一步牢固地固定的情况下，如图30、图31所示，在第2电极2上设置非导电性的粘接层12g来固定于第2平板7。粘接层12g优选非导电性的双面胶带、非导电性的粘接剂。由于粘接层12g为非导电性，因此如图31所示，在多个第2电极2(第1电极1)上遍布形成。第1电极1向第1平板6的固定也与第2电极2向第2平板7的固定相同。

由此，第1基板11f设为第1端部弯曲，与第1平板6直接或间接接触。同样地，第2基板12f设为第1端部弯曲，与第2平板7直接或间接接触。此外，第1基板11f和第2基板12f无需分别与第1平板6或第2平板7直接或间接接触，可以通过自身来维持形状，也可以利用其它构件来支承。即，第1基板11f可以设为第1端部弯曲，并与第1平板6相对。同样地，第2基板12f可以设为第1端部弯曲，并与第2平板7相对。可以使上述构造的第1基板11f与第2基板12f混合，也可以进一步使第1基板11、第2基板12混合。

并且，实施方式2所涉及的其它静电电容检测装置21、22可以使用第1基板11f与第2基板12的组合、或第1基板11与第2基板12f的组合。此外，第1基板11f与第2基板12f可以具备第1端部与第2端部中的任一方。例如，第1基板11f可以仅具备第1端部，与第2端部相当的部分可以是与第1基板11相同的结构。此外，第1基板11f可以仅具备第2端部，与第1端部相当的部分可以是与第1基板11相同的结构。同样地，第2基板12f可以仅具备第1端部，与第2端部相当的部分可以是与第2基板12相同的结构。此外，第2基板12f可以仅具备第2端部，与第1端部相当的部分可以是与第2基板12相同的结构。

如以上所说明的那样，本实施方式2所涉及的图像读取装置41-58的静电电容检测装置21、22与实施方式1所涉及的静电电容检测装置20同样地，包括：以夹住沿着片状的检测对象物3被传送的方向即传送方向的传送路径5的方式设置的至少一部分相对的第1电极1和第2电极2；在第1电极1与第2电极2之间形成电场9的振荡电路；检测第1电极1与第2电极2之间的静电电容的变化的检测电路；形成有振荡电路与检测电路中的至少一方的第1基板11(第1基板11f)和第2基板12(第2基板12f)；形成在第1电极1与传送路径5之间的绝缘性的第1平板6；以及形成在第2电极2与传送路径5之间的绝缘性的第2平板7。图像读取装置41-58具有图像读取部14，该图像读取部14在第1电极1和第2电极2的传送方向的上游侧或下游侧具有读取位置。使第1电极1和第2电极2、以及第1基板11、11f和第2基板12、12f在传送方向上彼此前后地配置。由此，能在传送方向上使静电电容检测装置21、22进一步小型化。

图28所示的图像读取装置58的静电电容检测装置22的结构也可以应用于其它静电电容检测装置，可以形成在图像读取装置或静电电容检测装置的其它壳体内。

图32是实施方式1和2所涉及的静电电容检测装置20、21、22的变形例的主要部分的立体图。实施方式1和2所涉及的静电电容检测装置20、21、22如图32所示，可以仅形成1个第1电极1和第2电极2，且仅具备1个分别与第1电极1和第2电极2相连接的第1基板11和第2基板12。虽然省略了图示，但实施方式1和2所涉及的静电电容检测装置20、21、22可以沿着排列方向形成多个图32所示那样的第1电极1和第2电极2。通过采用这样的结构，从而静电电容检测装置20、21、22起到作为点传感器的功能，该点传感器对检测对象物3的静电电容进行检测。即，在粘贴有异物、例如胶带的检测对象物3被传送来的情况下，形成有1个或数个第1电极1和第2电极2的静电电容检测装置20、21、22能根据第1电极1和第2电极2的配置来对检测对象物3的异物的位置进行检测。

图33是实施方式1和2所涉及的静电电容检测装置20、21、22的变形例的沿传送方向及电场方向的剖视图。如图33所示，静电电容检测装置20、21、22将第1电极1形成在第1基板11的侧面。同样地，静电电容检测装置20、21、22将第2电极2形成在第2基板12的侧面。图33的示例中，形成有第1电极1的第1基板11的侧面在电场方向上与第1平板6相对。此外，形成有第2电极2的第2基板12的侧面在电场方向上与第2平板7相对。第1基板11和第2基板12具有侧面的传送方向的长度比主面的电场方向的长度要短的薄板状的形状。

如上所述，实施方式1和2所涉及的静电电容检测装置20-22(图像读取装置40-58)也适用于如下装置：检测包含纸币和有价证券的检测对象物3粘贴有异物的情况，回收所检测出的纸币和有价证券，或将其切碎以防止再流通。

另外，本发明在不脱离本发明的广义思想与范围的情况下，可实现各种实施方式和变形。另外，上述实施方式用于对本发明进行说明，而不对本发明的范围进行限定。即，本发明的范围由权利要求的范围来表示，而不由实施方式来表示。并且，在权利要求的范围内及与其同等发明意义的范围内实施的各种变形也视为在本发明的范围内。

本申请基于2018年1月11日提出的日本专利申请特愿2018－002416号。本说明书中参照并引入日本专利申请特愿2018－002416号的说明书、专利权利要求书及全部附图。

标号说明

1、1b 第1电极

2、2b 第2电极

3 检测对象物

5 传送路径

6、6b 第1平板

7、7b 第2平板

7c 盖板构件

9、9b 电场

11、11f 第1基板

11a、12a 缓冲构件

11b、12b 侧面布线

12、12f 第2基板

11s、12s 电路基板

12g 粘接层

11c、12c 弯曲部分

11e、12e 电极部分

13a、13b、13c 壳体

14 图像读取部

141 第1读取位置

142 第2读取位置

15 透镜元件

16 传感器元件

17 电路基板

17c 连接器

18a、18b、18c、18d 光源

20、21、22、30、静电电容检测装置

40、41、42、43、44、45、46、47、48、49、50、51、52、53、54、55、56、57、58 图像读取装置。

Claims (38)

1.一种静电电容检测装置，其特征在于，包括：

第1电极和第2电极，该第1电极和第2电极夹住沿着片状的检测对象物被传送的方向即传送方向的传送路径，且至少一部分相对；振荡电路，该振荡电路在所述第1电极与所述第2电极之间形成电场；检测电路，该检测电路检测所述第1电极与所述第2电极之间的静电电容的变化；第1基板，该第1基板形成有所述振荡电路和所述检测电路的至少一方；以及第2基板，该第2基板形成有所述振荡电路和所述检测电路的至少另一方，

所述第1电极和所述第2电极配置在读取所述检测对象物的图像的第1图像读取部中的第1读取位置的、所述传送路径的所述传送方向的上游侧或下游侧。

2.如权利要求1所述的静电电容检测装置，其特征在于，

还包括形成在所述第1电极与所述传送路径之间的绝缘性的第1平板、以及形成在所述第2电极与所述传送路径之间的绝缘性的第2平板。

3.如权利要求1或权利要求2所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第1电极与所述第1基板通过导电性的缓冲构件电连接，所述第2电极与所述第2基板通过导电性的缓冲构件电连接。

4.如权利要求1至3的任一项所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第1基板中，在所述第1电极与所述第2电极的至少一部分相对的方向即电场方向上，所述第1基板的侧面与所述第1电极相对，并经由形成在所述第1基板的侧面的连接布线与所述第1电极电连接。

5.如权利要求1至4的任一项所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第2基板中，在所述第1电极与所述第2电极的至少一部分相对的方向即电场方向上，所述第2基板的侧面与所述第2电极相对，并经由形成在所述第2基板的侧面的连接布线与所述第2电极电连接。

6.如权利要求2所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第1电极形成于所述第1平板，所述第2电极形成于所述第2平板。

7.如权利要求2所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第1电极形成于所述第1基板。

8.如权利要求2所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第1电极形成于所述第1基板的侧面。

9.如权利要求7所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第1基板在形成有所述第1电极的部分以外，具有沿着所述第1电极与所述第2电极的至少一部分相对的方向即电场方向的部分。

10.如权利要求2或权利要求7所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第1基板的端部弯曲，并与所述第1平板直接或间接接触，或者，所述第1基板的端部弯曲，并与所述第1平板相对。

11.如权利要求2所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第2电极形成于所述第2基板。

12.如权利要求2所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第2电极形成于所述第2基板的侧面。

13.如权利要求11所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第2基板在形成有所述第2电极的部分以外，具有沿着所述第1电极与所述第2电极的至少一部分相对的方向即电场方向的部分。

14.如权利要求2或权利要求11所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第2基板的端部弯曲，并与所述第2平板直接或间接接触，或者，所述第2基板的端部弯曲，并与所述第2平板相对。

15.如权利要求1至14的任一项所述的静电电容检测装置，其特征在于，

还包括识别电路，该识别电路根据所述检测电路检测出的所述静电电容的变化，对所传送的所述检测对象物的种类进行识别。

16.如权利要求15所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述识别电路在判定出所述种类的所述检测对象物通过所述电场的过程中、所述静电电容进一步发生变化的情况下，根据该变化判定为所述检测对象物附着有异物。

17.如权利要求1至14的任一项所述的静电电容检测装置，其特征在于，

还包括识别电路，该识别电路根据所述检测电路检测出的所述静电电容的变化，判定为所传送的所述检测对象物附着有异物。

18.如权利要求17所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述识别电路在判定为附着有所述异物的所述检测对象物通过所述电场的过程中、所述静电电容进一步发生变化的情况下，根据该变化来识别附着于所述检测对象物的所述异物的种类。

19.一种图像读取装置，其特征在于，包括：

权利要求1至权利要求18的任一项所述的静电电容检测装置；向所述检测对象物照射光的第1光源；利用所述第1光源的光在所述检测对象物的反射光或透射光来读取图像的所述第1图像读取部。

20.如权利要求19所述的图像读取装置，其特征在于，

所述第1基板和所述第2基板的至少一方对从所述第1光源照射出的光进行遮光。

21.一种图像读取装置，其特征在于，包括：

权利要求1至权利要求18的任一项所述的静电电容检测装置；向所述检测对象物照射光的第2光源；利用所述第2光源的光在所述检测对象物的反射光或透射光来读取图像的第2图像读取部，

所述第2图像读取部在所述传送方向上位于所述静电电容检测装置的所述第1图像读取部的相反侧。

22.如权利要求21所述的图像读取装置，其特征在于，

所述第1基板和所述第2基板的至少一方对从所述第2光源照射出的光进行遮光。

23.如权利要求19至22的任一项所述的图像读取装置，其特征在于，

所述第1基板和所述第2基板的至少一方的主面配置为与正交于所述传送方向的方向平行。

24.如权利要求19至22的任一项所述的图像读取装置，其特征在于，

所述第1基板和所述第2基板的主面配置为分别与正交于所述传送方向的方向平行，所述第1基板和所述第2基板在所述传送方向上错开配置。

25.一种静电电容检测装置，其特征在于，包括：

第1电极和第2电极，该第1电极和第2电极夹住沿着片状的检测对象物被传送的方向即传送方向的传送路径，且至少一部分相对；振荡电路，该振荡电路在所述第1电极与所述第2电极之间形成电场；检测电路，该检测电路检测所述第1电极与所述第2电极之间的静电电容的变化；第1基板，该第1基板形成有所述振荡电路和所述检测电路的至少一方；第2基板，该第2基板形成有所述振荡电路和所述检测电路的至少另一方；绝缘性的第1平板，该绝缘性的第1平板形成在所述第1电极与所述传送路径之间；以及绝缘性的第2平板，该绝缘性的第2平板形成在所述第2电极与所述传送路径之间。

26.如权利要求25所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第1电极形成于所述第1基板。

27.如权利要求25所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第1电极形成于所述第1基板的侧面。

28.如权利要求26所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第1基板在形成有所述第1电极的部分以外，具有沿着所述第1电极与所述第2电极的至少一部分相对的方向即电场方向的部分。

29.如权利要求25或权利要求26所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第1基板的端部弯曲，并与所述第1平板直接或间接接触，或者，所述第1基板的端部弯曲，并与所述第1平板相对。

30.如权利要求25所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第2电极形成于所述第2基板。

31.如权利要求25所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第2电极形成于所述第2基板的侧面。

32.如权利要求30所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第2基板在形成有所述第2电极的部分以外，具有沿着所述第1电极与所述第2电极的至少一部分相对的方向即电场方向的部分。

33.如权利要求25或权利要求30所述的静电电容检测装置，其特征在于，

所述第2基板的端部弯曲，并与所述第2平板直接或间接接触，或者，所述第2基板的端部弯曲，并与所述第2平板相对。

34.一种图像读取装置，其特征在于，包括：

权利要求25至权利要求33的任一项所述的静电电容检测装置；向所述检测对象物照射光的光源；利用所述光源的光在所述检测对象物的反射光或透射光来读取图像的图像读取部，

在所述图像读取部的图像读取位置的、所述传送路径的所述传送方向的上游侧或下游侧配置所述第1电极和所述第2电极。

35.如权利要求34所述的图像读取装置，其特征在于，

所述图像读取部包括：

透镜元件，该透镜元件经由所述第1平板和所述第2平板的至少一方将被所述检测对象物所反射的光、或透过了所述检测对象物的光聚合；以及传感器元件，该传感器元件接收所述透镜元件所聚合的聚合光。

36.如权利要求34或权利要求35所述的图像读取装置，其特征在于，

所述第1基板和所述第2基板的至少一方对从所述光源照射出的光进行遮光。

37.如权利要求34至权利要求36的任一项所述的图像读取装置，其特征在于，

所述第1基板和所述第2基板的至少一方的主面配置为与正交于所述传送方向的方向平行。

38.如权利要求34至权利要求36的任一项所述的图像读取装置，其特征在于，

所述第1基板和所述第2基板的主面配置为分别与正交于所述传送方向的方向平行，所述第1基板和所述第2基板在所述传送方向上错开配置。

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