JP4358679B2 - 静電容量式近接センサ - Google Patents

静電容量式近接センサ Download PDF

Info

Publication number
JP4358679B2
JP4358679B2 JP2004145502A JP2004145502A JP4358679B2 JP 4358679 B2 JP4358679 B2 JP 4358679B2 JP 2004145502 A JP2004145502 A JP 2004145502A JP 2004145502 A JP2004145502 A JP 2004145502A JP 4358679 B2 JP4358679 B2 JP 4358679B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
detection
ground electrode
detection electrode
capacitance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004145502A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005327636A (ja
Inventor
靖 中村
史夫 矢島
信正 見崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujikura Ltd
Original Assignee
Fujikura Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujikura Ltd filed Critical Fujikura Ltd
Priority to JP2004145502A priority Critical patent/JP4358679B2/ja
Priority to CNB2005100692234A priority patent/CN100394213C/zh
Priority to US11/127,244 priority patent/US7138809B2/en
Publication of JP2005327636A publication Critical patent/JP2005327636A/ja
Priority to HK06103352A priority patent/HK1083555A1/xx
Application granted granted Critical
Publication of JP4358679B2 publication Critical patent/JP4358679B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/94Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
    • H03K17/96Touch switches
    • H03K17/962Capacitive touch switches
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01VGEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V3/00Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation
    • G01V3/08Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices
    • G01V3/088Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices operating with electric fields
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/94Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
    • H03K17/96Touch switches
    • H03K2017/9602Touch switches characterised by the type or shape of the sensing electrodes

Landscapes

  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Geology (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Geophysics (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Switches That Are Operated By Magnetic Or Electric Fields (AREA)

Description

本発明は、物体の近接を静電容量の変化で検出する静電容量式近接センサに関する。
従来、この種の静電容量式近接センサとして、絶縁基板上の一方の面(検出面)に検出電極と接地電極とを形成し、他方の面(背面)に検出電極及び接地電極の形成領域を覆うようにシールド電極を形成することにより、検出面側に電気力線を集中させて、検出面の側方や背面の物体の影響を排除するようにした静電容量式近接センサが知られている(例えば特許文献1)。
このような静電容量式近接センサでは、検出電極と接地電極との間の静電容量に基づく周波数で発振する発振回路と、この発振回路の発振周波数を判別する判定回路とを含んだ検知回路を備え、この検知回路によって検出電極と接地電極とに物体が近接することによる静電容量の変化を検出して、物体の有無や距離を判別するようにしている。
特開2000−48694号公報(段落0006,0012、図1,図2)
上述した従来の静電容量式近接センサでは、シールド効果を期待して接地電極が検出電極を取り囲むように形成されている。しかしながら、本発明者の実験によると、物体の検知感度が高いのは検出電極の近傍であり、接地電極の近傍ではないことが明らかとなった。
本発明は、このような点に鑑みてなされたもので、検出感度の高い静電容量式近接センサを提供することを目的とする。
本発明に係る静電容量式近接センサは、絶縁基板と、この絶縁基板の一方の面に所定のパターンで形成された検知電極及び接地電極と、前記検知電極と接地電極との間の静電容量を検出して前記検知電極及び接地電極に物体が接近したことを検出する検知回路とを備えた静電容量式近接センサにおいて、前記絶縁基板の他方の面に配置された第1の絶縁材からなるスペーサと、前記スペーサの前記絶縁基板側とは反対側の面に、該スペーサを介して該絶縁基板と所定間隔離れるように配置されたシールド材と、前記シールド材の前記スペーサ側とは反対側の面に配置された第2の絶縁材とを更に備え、前記検知電極は、前記接地電極を取り囲む形状に形成されていることを特徴とする。
本発明の一つの実施形態において、検知電極は、接地電極を取り囲むコの字状のパターンからなる。また本発明の他の実施形態において、検知電極は、接地電極を中心として対称に分離された第1の検知電極及び第2の検知電極からなり、検知回路は、第1の検知電極と接地電極との間の容量と、第2の検知電極と接地電極との間の容量とにより、物体が接近した方向を判定する。本発明の更に他の実施形態において、シールド材は、絶縁基板の他方の面側に、検知電極及び接地電極の形成領域全体を覆うように形成されている。
本発明によれば、検知電極が接地電極を取り囲むように形成されているので、検知電極と接地電極との間の静電容量を高くすることができ、これにより外部ノイズの影響を排除することができると共に、物体の近接の有無による静電容量の変化も大きくとることができ、もって検出感度が高く、広範囲な領域での検知が可能な静電容量式近接センサを提供することができる。
以下、添付の図面を参照して、本発明の好ましい実施の形態を説明する。
図1及び図2は、本発明の一実施形態に係る静電容量式近接センサの概略構成を示す図である。この近接センサは、センサ部10と、検知回路20とにより構成されている。
センサ部10は、フレキシブルプリント回路(FPC)、リジットプリント回路(RPC)等により構成されたもので、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、又はエポキシ樹脂などの絶縁体からなる絶縁基板11と、この絶縁基板11上にパターン形成された銅、銅合金又はアルミニウムなどからなる検知電極12及び接地電極13とを備えて構成されている。接地電極13は、正方形又は長方形で、検知電極12は、この接地電極13の両側及び上辺を取り囲むコの字形に形成されている。
検知回路20は、図2に示すように、検知電極12及び接地電極13の間の静電容量に応じて発振周波数が変化する発振回路21と、この発振回路21の発振出力周波数の大きさを検知する周波数検知回路22と、この周波数検知回路22で検知された周波数の大きさに基づいて物体の近接、距離等を判定する判定回路23と、これらの回路を制御する制御回路24とを備えて構成されている。ここで発振回路21に接続された検知電極12には、発振出力に対応した交番電圧が与えられるが、接地電極13は接地電位に固定される。周波数検知回路22は、ローパスフィルタのような周波数を電圧に変換する周波数−電圧変換器、発振出力の例えば立ち上がりエッジを計数する周波数計数器等により構成することができる。判定回路23は、電圧コンパレータやCPU等のプログラマブルデバイスにより構成することができる。制御回路24は、例えば発振回路、周波数検知回路22及び判定回路23に使用される増幅器のゲイン調整用、及び温度、湿度等の外部環境の補正用の回路であり、判定回路23と一緒に構成されていても良い。
なお、以上は検知回路20の一例であって、この他にも、例えば一定の周波数で発振する発振回路と、この発振回路の出力パルスのデューティーを検知電極及び接地電極の静電容量で変化させる単安定マルチバイブレータと、この単安定マルチバイブレータの出力の平均値を出力するローパスフィルタとにより検知回路を構成することもできる。
次に、上述のように構成された静電容量式近接センサの効果について説明する。
実施例1
図3に示すような40mm角の電極1の上辺及び左右辺の周りに10mmのギャップを介して幅40mmのコの字形の電極2を形成した。電極1を接地電位に接続して接地電極とし、電極2を検知電極として、図2の回路の所定のフィードバック経路に接続し、30mm角の平板の接地電極を、図3の各ポイントA,B,C,Dにそれぞれ近づけたときの各ポイントまでの距離と電極1,2間の静電容量との関係を測定した。その結果を図4(a)に示す。図示のように、中央の電極1よりも小さな30mm角の平板の接地電極を中央の接地電極となる電極1のポイントAに近づけた場合、静電容量の変化は全く観測されなかった。これに対し、検知電極となるコの字形の電極2の各ポイントB,C,Dは、距離20mmまで近づいてから以降の静電容量自体及びその変化が6〜10pFと大きく、検出感度が良好であることが確認された。
実施例2
図3の電極1,2に近づける接地電極を50mm角に変えて、実施例1と同様の測定を行った。その結果を図4(b)に示す。このように近づける接地電極を電極1より大きくした場合には、電極1のポイントAにおいても静電容量の変化がわずかながら観測された。また、検知電極となるコの字形の電極2の各ポイントB,C,Dは、距離20mmまで近づいてから以降の静電容量変化が7.5〜12pFとなり、実施例1よりも大きな静電容量及びその変化が観測された。
比較例1
電極1を検知電極、電極2を接地電極とする以外は、実施例1と同様の測定を行った。その結果を図5(a)に示す。
比較例2
電極1を検知電極、電極2を接地電極とする以外は、実施例2と同様の測定を行った。その結果を図5(b)に示す。
図5(a),(b)からも明らかなように、静電容量の変化が観測されたのは、電極1のポイントAのみであり、その静電容量及びその変化は、比較例1で6〜7.5pF、比較例2で6〜8pFと小さく、検出感度、検出範囲共に実施例1,2よりも劣っていた。
比較例3
図6に示すように、40mm角の3つの電極3,4,5を10mmのギャップを空けて一列に配設し、電極3を接地電極、電極4を検知電極、電極5には何も接続しない状態とし、30mm角の平板状の接地電極を各ポイントA,B,Cに近づけて静電容量の変化を測定した。その結果を図7(a)に示す。
比較例4
比較例3と同様の3つの電極3,4,5のうち、電極3を接地電極、電極5を検知電極、電極4には何も接続しない状態とし、比較例3と同様の測定をした。その結果を図7(b)に示す。
図7(a),(b)から明らかなように、静電容量の変化が観測されるのは、検知電極のポイントB,Cのみであり、静電容量自体が3.5〜6.5pF、3.8〜6.8pFと小さかった。
以上のように、本実施形態の静電容量式近接センサによれば、高い検出感度を有し、外部雑音にも強いという効果を奏することができる。
なお、図1において、検知電極12による検知感度を高めるためには、電極の裏面に対するシールドが効果的である。
図8は、図1のセンサ部10のI−I′断面図である。絶縁基板11の下面には、検知電極12及び接地電極13の形成範囲の全体を覆うようにシールド材14が形成されている。これにより、絶縁基板11の裏面側からの電気力線の影響を無くして耐ノイズ性を高めることができる。
図9は、絶縁基板11の下面に、絶縁体からなるスペーサ15を介して、シールド材14が形成された絶縁材16を配置した例である。即ち、絶縁基板11が例えば75μm程度のメンブレンシートである場合、検知電極12とシールド材14とが近接しすぎて両者の間に電気力線が集中してしまうので、スペーサ15を介在させることで、上面側の電気力線を増加させて検出感度を更に向上させることができる。
図10は、図8のシールド材14を絶縁基板11の下面だけでなく電極12,13の側面を囲む高さまで延ばした例、図11は、図9のシールド材14及び絶縁材16を電極12,13の側面を囲む高さまで延ばした例である。これらの例のように、シールド材14で電極12,13の側面も覆うようにすると、下面側からの影響を更に完全に排除することができる。
図12及び図13は、本発明の他の実施形態に係る静電容量式近接センサの概略構成を示す図である。この実施形態では、センサ部30を構成する検知電極が2つに分割されている点と、検知回路40が2つの検知電極で物体の近接、距離及び移動方向を判定する点が先の実施形態とは異なっている。
センサ部30は、絶縁基板31と、この絶縁基板31上にパターン形成された検知電極32a,32b及び接地電極33とを備えて構成されている。接地電極13は、正方形又は長方形で、検知電極32aは、この接地電極33の左側及び上辺の左半分を取り囲み、検知電極32bは、この接地電極33の右側及び上辺の右半分を取り囲むくの字形に形成されている。
検知回路40は、図13に示すように、検知電極32a及び接地電極33の間の静電容量に応じて発振周波数が変化する発振回路41aと、検知電極32b及び接地電極33の間の静電容量に応じて発振周波数が変化する発振回路41bと、これら発振回路41a,41bの発振出力周波数の大きさをそれぞれ検知する周波数検知回路42a,42bと、これらの周波数検知回路42a,42bで検知された周波数の大きさに基づいて物体の近接、距離及び移動方向等を判定する判定回路43と、これらの回路を制御する制御回路44とを備えて構成されている。
この実施形態では、物体が図12の左から右に移動してきた場合には、検知電極32aの静電容量が変化した後、検知電極32bの静電容量が変化し、逆に、物体が図12の右から左に移動してきた場合には、検知電極32bの静電容量が変化した後、検知電極32aの静電容量が変化するので、物体の移動方向を検出することができる。
なお、本発明は上述した実施形態に限定されるものではない。
例えば、電極の形態としては、図14に示すように、円形の接地電極51と、この接地電極51の周りを取り囲むような円環状の検知電極52とを同心円上に配置させたパターンとしても良いし、また、図15に示すように、矩形波状の接地電極61と、その周りを取り囲む矩形の検知電極62とによるパターンでも良い。
要するに、本発明は、検知電極が、接地電極を取り囲む形状に形成されていることを特徴とするものであり、その趣旨を変更しない限度で種々の変形実施が可能である。
本発明の一実施形態に係る静電容量式近接センサの概略構成を示す図である。 同近接センサの検知回路の詳細を示すブロック図である。 同近接センサの実施例1,2及び比較例1,2の電極の平面図である。 同実施例1,2の測定結果である検出対象の距離と電極の静電容量との関係を示すグラフである。 同比較例1,2の測定結果である検出対象の距離と電極の静電容量との関係を示すグラフである。 近接センサの比較例3,4の電極の平面図である。 同比較例3,4の測定結果である検出対象の距離と電極の静電容量との関係を示すグラフである。 図1のI−I′断面の一例を示す断面図である。 図1のI−I′断面の他の例を示す断面図である。 図1のI−I′断面の更に他の例を示す断面図である。 図1のI−I′断面の更に他の例を示す断面図である。 本発明の他の実施形態に係る静電容量式近接センサの概略構成を示す図である。 同近接センサの検知回路の詳細を示すブロック図である。 本発明の更に他の実施形態に係る電極を示す平面図である。 本発明の更に他の実施形態に係る電極を示す平面図である。
符号の説明
10,30…センサ部、11,31…絶縁基板、12,32a,32b,52,62…検知電極、13,33,51,61…接地電極、14…シールド材、15…スペーサ、16…絶縁材、20,40…検知回路、21,41a,41b…発振回路、22,42a,42b…周波数検知回路、23,43…判定回路、34,44…制御回路。

Claims (4)

  1. 絶縁基板と、
    この絶縁基板の一方の面に所定のパターンで形成された検知電極及び接地電極と、
    前記検知電極と接地電極との間の静電容量を検出して前記検知電極及び接地電極に物体が接近したことを検出する検知回路と
    を備えた静電容量式近接センサにおいて、
    前記絶縁基板の他方の面に配置された第1の絶縁材からなるスペーサと、
    前記スペーサの前記絶縁基板側とは反対側の面に、該スペーサを介して該絶縁基板と所定間隔離れるように配置されたシールド材と、
    前記シールド材の前記スペーサ側とは反対側の面に配置された第2の絶縁材とを更に備え、
    前記検知電極は、前記接地電極を取り囲む形状に形成されていることを特徴とする静電容量式近接センサ。
  2. 前記検知電極は、前記接地電極を取り囲むコの字状のパターンからなることを特徴とする請求項1記載の静電容量式近接センサ。
  3. 前記検知電極は、前記接地電極を中心として対称に分離された第1の検知電極及び第2の検知電極からなり、
    前記検知回路は、前記第1の検知電極と接地電極との間の容量と、前記第2の検知電極と接地電極との間の容量とにより、前記物体が接近した方向を判定するものである
    ことを特徴とする請求項1又は2記載の静電容量式近接センサ。
  4. 前記シールド材は、前記絶縁基板の他方の面に、前記検知電極及び接地電極の形成領域全体を覆うように形成されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項記載の静電容量式近接センサ。
JP2004145502A 2004-05-14 2004-05-14 静電容量式近接センサ Expired - Fee Related JP4358679B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004145502A JP4358679B2 (ja) 2004-05-14 2004-05-14 静電容量式近接センサ
CNB2005100692234A CN100394213C (zh) 2004-05-14 2005-05-12 电容式接近传感器
US11/127,244 US7138809B2 (en) 2004-05-14 2005-05-12 Electrical capacitance proximity sensor
HK06103352A HK1083555A1 (en) 2004-05-14 2006-03-16 Electrical capacitance proximity sensor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004145502A JP4358679B2 (ja) 2004-05-14 2004-05-14 静電容量式近接センサ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005327636A JP2005327636A (ja) 2005-11-24
JP4358679B2 true JP4358679B2 (ja) 2009-11-04

Family

ID=35349543

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004145502A Expired - Fee Related JP4358679B2 (ja) 2004-05-14 2004-05-14 静電容量式近接センサ

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7138809B2 (ja)
JP (1) JP4358679B2 (ja)
CN (1) CN100394213C (ja)
HK (1) HK1083555A1 (ja)

Families Citing this family (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7265494B2 (en) 1998-10-09 2007-09-04 Azoteq Pty Ltd. Intelligent user interface with touch sensor technology
US7528508B2 (en) 1998-10-09 2009-05-05 Azoteq Pty Ltd. Touch sensor user interface with compressible material construction
JP4604739B2 (ja) * 2005-01-28 2011-01-05 アイシン精機株式会社 静電容量検出装置
US7218124B1 (en) * 2006-01-30 2007-05-15 Synaptics Incorporated Capacitive sensing apparatus designs
EP2713515B1 (en) * 2006-01-31 2019-05-22 Ares Trading S.A. Injection device with a capacitive proximity sensor
EP1857329A1 (en) * 2006-05-17 2007-11-21 Hitachi Computer Products (Europe) S.A.S. Method for improving the localisation of a target in regard of a sensor
KR100828128B1 (ko) * 2006-07-20 2008-05-09 에이디반도체(주) 시분할 복수 주파수를 이용하는 정전용량 검출방법 및검출장치
JP4749354B2 (ja) * 2007-02-06 2011-08-17 三菱自動車工業株式会社 タッチスイッチ構造
CN101369812B (zh) * 2007-08-17 2010-11-10 凌通科技股份有限公司 具交流电源免疫能力的触碰电容式传感器
EP2223051B1 (en) * 2007-12-13 2019-12-04 Koninklijke Philips N.V. Capacitive type proximity sensor
JP5315523B2 (ja) * 2007-12-25 2013-10-16 株式会社フジクラ 検知電極およびそれを用いたヘッドレスト位置調整装置
JP4968121B2 (ja) * 2008-03-10 2012-07-04 富士通セミコンダクター株式会社 容量センサー
US8049451B2 (en) * 2008-03-19 2011-11-01 GM Global Technology Operations LLC Embedded non-contact detection system
FI121197B (fi) * 2008-05-16 2010-08-13 Marimils Oy Anturi johtavien kappaleiden havaitsemiseen
US20090296997A1 (en) * 2008-06-03 2009-12-03 James Rocheford Method and apparatus for securing a computer
US8417296B2 (en) * 2008-06-05 2013-04-09 Apple Inc. Electronic device with proximity-based radio power control
KR100982282B1 (ko) * 2008-09-19 2010-09-15 주식회사 애트랩 센서, 센서의 센싱 방법, 및 센서의 필터
JP5655223B2 (ja) 2009-01-30 2015-01-21 株式会社フジクラ 乗員姿勢検知装置
US8115499B2 (en) * 2009-05-22 2012-02-14 Freescale Semiconductor, Inc. Device with proximity detection capability
DE102009029021B4 (de) * 2009-08-31 2022-09-22 Robert Bosch Gmbh Sensorsystem zur Umfeldüberwachung an einem mechanischen Bauteil und ein Verfahren zur Ansteuerung und Auswertung des Sensorsystems
KR20110047600A (ko) * 2009-10-30 2011-05-09 삼성전자주식회사 근접 센싱이 가능한 전자장치
US8558802B2 (en) * 2009-11-21 2013-10-15 Freescale Semiconductor, Inc. Methods and apparatus for performing capacitive touch sensing and proximity detection
DE102009057960B4 (de) * 2009-12-11 2014-02-20 Ident Technology Ag Sensoreinrichtung und Verfahren zur Detektion eines Umgreifens eines Handgerätes mit zumindest einer Hand
KR101088412B1 (ko) 2010-06-14 2011-12-01 연세대학교 산학협력단 비가압 캐패시터 타입의 접촉센서 및 그 제조방법
DE102010031034A1 (de) * 2010-07-07 2012-01-12 Robert Bosch Gmbh Erfassung eines dielektrischen Gegenstandes
CN101950360A (zh) * 2010-09-07 2011-01-19 成都方程式电子有限公司 一种能识别活体手指的光学指纹采集仪
DE102010044820B4 (de) * 2010-09-09 2015-01-22 Ident Technology Ag Sensoreinrichtung sowie Verfahren zur Annäherungs- und Berührungsdetektion
DE202011111000U1 (de) 2010-12-20 2018-02-23 Balluff Gmbh Kapazitiver Näherungssensor
DE102010064328A1 (de) * 2010-12-29 2012-07-05 Robert Bosch Gmbh Sensorsystem zur Umfeldüberwachung an einem mechanischen Bauteil und Verfahren zur Ansteuerung und Auswertung des Sensorsystems
TWI483548B (zh) * 2011-11-15 2015-05-01 Quanta Comp Inc Method of manufacturing proximity sensor module
DE102012205097A1 (de) * 2012-03-29 2013-10-02 Robert Bosch Gmbh Kapazitives Ortungsgerät
CN102981741B (zh) * 2012-11-14 2016-08-03 广东欧珀移动通信有限公司 一种移动终端控制音频播放的方法及系统
US9300342B2 (en) 2013-04-18 2016-03-29 Apple Inc. Wireless device with dynamically adjusted maximum transmit powers
DE102013110010A1 (de) 2013-09-12 2015-03-12 Huf Hülsbeck & Fürst Gmbh & Co. Kg Betätigungseinrichtung für Kraftfahrzeuge
CN103486956B (zh) * 2013-10-10 2015-12-23 中国计量科学研究院 一种实现高精度测量竖直移动方向的装置及方法
JP6267521B2 (ja) * 2014-01-22 2018-01-24 京セラディスプレイ株式会社 液晶表示装置
US9398456B2 (en) 2014-03-07 2016-07-19 Apple Inc. Electronic device with accessory-based transmit power control
US9791490B2 (en) 2014-06-09 2017-10-17 Apple Inc. Electronic device having coupler for tapping antenna signals
CN104682941B (zh) * 2014-07-08 2018-11-09 广东美的厨房电器制造有限公司 金属板触摸按键组件
US10108292B2 (en) * 2015-04-22 2018-10-23 Microchip Technology Incorporated Capacitive sensor system with multiple transmit electrodes
US10524592B2 (en) 2015-12-01 2020-01-07 Black & Decker Inc. Picture hanging device
JP6658427B2 (ja) * 2016-09-27 2020-03-04 株式会社デンソーウェーブ 静電容量式タッチスイッチ装置
JP6347564B1 (ja) * 2017-04-26 2018-06-27 株式会社トライフォース・マネジメント 物体センサ
US11451683B2 (en) * 2018-01-11 2022-09-20 Mitsubishi Electric Corporation Image reading device
JP7107547B2 (ja) * 2018-02-16 2022-07-27 東京パーツ工業株式会社 静電容量式近接センサおよびこの静電容量式近接センサを用いた人体検知方法
JP6468622B2 (ja) * 2018-05-22 2019-02-13 株式会社トライフォース・マネジメント 物体センサ
CN109764896B (zh) * 2019-01-24 2021-03-19 深圳市阿美特科技有限公司 一种水表用射频卡接近检测的系统及方法
KR20230048418A (ko) * 2020-10-01 2023-04-11 파나소닉 아이피 매니지먼트 가부시키가이샤 근접 센서, 제어 시스템 및 기기

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4766368A (en) * 1986-09-30 1988-08-23 Cox Harold A Capacitive sensor
US5227667A (en) * 1989-01-10 1993-07-13 Omron Corporation Microwave proximity switch
US5223796A (en) * 1991-05-28 1993-06-29 Axiomatics Corporation Apparatus and methods for measuring the dielectric and geometric properties of materials
US5512836A (en) * 1994-07-26 1996-04-30 Chen; Zhenhai Solid-state micro proximity sensor
US5917314A (en) * 1996-08-08 1999-06-29 Zircon Corporation Electronic wall-stud sensor with three capacitive elements
US6724324B1 (en) * 2000-08-21 2004-04-20 Delphi Technologies, Inc. Capacitive proximity sensor
JP2004045173A (ja) * 2002-07-11 2004-02-12 Nitta Ind Corp 静電容量式センサ

Also Published As

Publication number Publication date
CN1696743A (zh) 2005-11-16
US20050264304A1 (en) 2005-12-01
US7138809B2 (en) 2006-11-21
JP2005327636A (ja) 2005-11-24
HK1083555A1 (en) 2006-07-07
CN100394213C (zh) 2008-06-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4358679B2 (ja) 静電容量式近接センサ
JP2007018839A (ja) 静電容量式近接センサ
JP4463653B2 (ja) ハイブリッドセンサ
JP5305478B2 (ja) 近接センサ装置及びそれを用いた入力補助装置
WO2018012329A1 (ja) 近接触覚センサ
JP2015122141A (ja) 静電容量センサ電極
US9140738B2 (en) Electrostatic capacitance detection device
JP7285311B2 (ja) 検出装置
JP5063050B2 (ja) 静電容量型の検出装置
US20200052695A1 (en) Input device with function triggering or control which takes place on the basis of a capacitively measured actuation force and adaptation by means of capacitive contact detection
KR101717062B1 (ko) 고감도 터치 압력 검출 장치
JP4260540B2 (ja) タッチセンサ
JP6692459B2 (ja) 傾き耐性を有するリニア変位センサ
JP5677372B2 (ja) 静電容量式乗員検知センサ
WO2017134718A1 (ja) タッチセンサ及びそれを備えた入力装置
US10305475B2 (en) Capacitance touch switch
JP2008292426A (ja) 静電容量式センサ
JP2012104017A (ja) 静電入力装置
JP7058409B2 (ja) 設置自由度の高い静電容量型センサ
US11002570B2 (en) Fixed element and position detection device
JP6908353B2 (ja) 静電容量結合方式スイッチ用電極構造
JP2018006036A (ja) 電界センサ
JP6650325B2 (ja) 入力装置
JP2014126457A (ja) 静電容量式検出装置
KR102293936B1 (ko) 터치센서 모듈

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061128

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090422

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090512

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090709

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090728

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090806

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120814

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120814

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120814

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130814

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees