CN109873914A - 图像读取装置和图像读取方法 - Google Patents

Abstract

公开了图像读取装置和图像读取方法。提供了一种图像读取装置，该图像读取装置被配置为避免不必要地执行阴影校正处理。当检测到ADF的打开状态然后检测到其关闭状态时，图像读取装置检测原稿是否被放置在原稿托盘上。在原稿被放置在原稿托盘上的情况下，图像读取装置执行用于流读取的阴影校正，并且在没有原稿放置在原稿托盘上的情况下，图像读取装置执行用于压板盖读取的阴影校正。

Description

图像读取装置和图像读取方法

技术领域

本公开涉及被配置为从原稿读取图像(原稿图像)的图像读取装置和图像读取方法。

背景技术

图像读取装置执行扫描操作，该扫描操作涉及在放置于压板玻璃上的原稿被压板盖按压时通过图像传感器一行一行地读取原稿上的原稿图像。如上所述的在将原稿放置于压板玻璃上时执行的扫描操作在下文中称为“压板盖读取”。在压板盖读取中，图像传感器在垂直于扫描方向的方向上移动的同时读取原稿图像。

包括自动文档馈送器(ADF)的图像形成装置执行扫描操作，该扫描操作涉及在原稿被一个一个输送的同时，通过固定在预定位置(下文中称为“流读取位置”)的图像传感器读取原稿上的原稿图像。在如上所述的输送原稿的同时执行的扫描操作在下文中称为“流读取”。在流读取中，多个原稿从ADF的原稿托盘相继馈送。因此，图像传感器可以相继读取多个原稿上的原稿图像。

在这种图像读取装置中，用户要求减少从开始读取第一原稿到输出表示读取的原稿图像的图像数据所需的处理时间。作为读取原稿图像之前的准备，图像读取装置获取要用于阴影校正的阴影校正数据。阴影校正数据是用于校正参考数据与通过图像传感器读取图像读取装置中提供的参考白板所获得的读取结果之间的差异的数据。图像读取装置在准备图像读取的阶段获取阴影校正数据，以减少处理时间。在准备图像读取的阶段获取阴影校正数据的触发在压板盖读取的情况下是检测压板盖从打开状态到关闭状态的改变(日本专利申请特许公开号2011-023990)，并且在流读取的情况下是检测原稿被放置在原稿托盘上(美国专利No.8,587,843(B2))。

相关技术的图像读取装置在每次发生触发时执行获取阴影校正数据的处理。用于压板盖读取的参考数据和用于流读取的参考数据分开准备。因此，对于用于压板盖读取的参考数据和用于流读取的参考数据中的每一个执行获取阴影校正数据的处理。在这种情况下，可能如下不必要地执行获取阴影校正数据的处理。

例如，当发生卡纸并且打开和关闭压板盖进行恢复时，触发发生，从而执行获取用于压板盖读取的阴影校正数据的处理。

另外，例如，在将原稿放置在ADF的原稿托盘上之后，当打开和关闭ADF以检查原稿是否留在压板玻璃上时，执行获取用于流读取的阴影校正数据的处理和获取用于压板盖读取的阴影校正数据的处理二者。当图像读取装置检测到原稿放置在ADF的原稿托盘上并且压板盖从打开状态变为关闭状态时，图像读取装置首先执行获取用于压板盖读取的阴影校正数据的处理。在获取用于压板盖读取的阴影校正数据的处理结束之后，图像读取装置执行获取用于流读取的阴影校正数据的处理。

在这两种情况下，都不必要地执行了获取用于压板盖读取的阴影校正数据的处理。不必要地执行获取用于压板盖读取的阴影校正数据的处理导致处理时间的增加并且妨碍高速图像读取。

另外，本发明的一个目的是提供一种能够高速读取第一原稿而不会不必要地执行获取阴影校正数据的处理的图像读取装置。该目的可以如上所述地实现。

发明内容

根据本公开的图像读取装置包括：原稿台，要在所述原稿台上放置原稿；文档馈送器，被配置为输送原稿，所述文档馈送器包括：原稿托盘，要在所述原稿托盘上放置原稿，第一感测设备，被配置为检测原稿被放置在原稿托盘上，输送部，被配置为输送放置在原稿托盘上的原稿，以及片材排出托盘，原稿要被排出到所述片材排出托盘；参考构件；第二感测设备，被配置为检测文档馈送器的打开状态和关闭状态；读取设备，被配置为读取放置在原稿台上的原稿和要由文档馈送器输送的原稿中的一个，读取设备被配置为在第一模式下在读取设备移动读取位置的状态下读取放置在原稿台上的原稿，并且在第二模式下读取要由输送部输送到预定读取位置的原稿；图像处理设备，被配置为使用第一阴影校正数据对在第一模式下从读取设备输出的图像数据执行阴影校正，并且使用第二阴影校正数据对在第二模式下从读取设备输出的图像数据执行阴影校正；以及处理设备，被配置为基于读取设备读取参考构件的结果来生成用于第一模式的第一阴影校正数据和用于第二模式的第二阴影校正数据中的一个，其中，在第一感测设备检测到没有原稿被放置在原始托盘上并且第二感测设备检测到原稿台从打开状态改变的情况下，处理设备生成第一阴影校正数据，并且其中，在第一感测设备检测到原稿放置在原稿托盘上并且第二感测设备检测到原稿台从打开状态改变的情况下，阻止处理设备生成第一阴影校正数据。

从以下示例性实施例的描述(参考附图)，本发明的其它特征将变得清楚。

附图说明

图1是用于图示图像读取装置的示例性配置图。

图2A和图2B是用于图示图像读取装置和ADF的内部配置图。

图3是用于图示控制器的配置图。

图4是用于图示打开/关闭检测传感器的解释图。

图5是用于图示打开/关闭检测传感器的解释图。

图6是用于图示打开/关闭检测传感器的解释图。

图7是用于图示图像读取处理的流程图。

图8是用于图示图像读取处理的流程图。

图9是用于图示图像读取处理的流程图。

图10是用于图示图像读取处理的流程图。

图11A、图11B、图11C和图11D是用于图示在流读取时前表面读取器的位置的改变的解释图。

图12A、图12B、图12C和图12D是用于图示在压板盖读取时前表面读取器的位置的改变的解释图。

图13是用于图示图像读取装置和ADF的操作的时序图。

具体实施方式

现在，参考附图示例性地详细描述本公开的优选实施例。

整体配置

图1是用于图示根据本实施例的图像读取装置的示例性配置图。用作自动文档馈送器的ADF 200被安装到图像读取装置100。ADF 200可通过打开/关闭铰链110a和110b而相对于图像读取装置100自由地打开和关闭。图像读取装置100具有稍后将描述的内置控制器。图像读取装置100包括图像传感器，该图像传感器被配置为读取原稿的一个表面(前表面)上的原稿图像。ADF 200包括图像传感器，该图像传感器被配置为读取原稿的另一个表面(后表面)上的原稿图像。

在图像读取装置100的与ADF 200相对的表面上，提供压板玻璃101和前表面流读取玻璃102。参考白板103被提供在前表面流读取玻璃102上。参考白板103被提供在图像读取装置100的内侧。图像读取装置100的图像传感器可以读取参考白板103。ADF 200的图像传感器可以通过前表面流读取玻璃102的中介作用(intermediation)来读取参考白板103。当要生成阴影校正数据时，参考白板103被读取。

ADF 200包括片状原稿要放置在其上的原稿托盘201和片材排出托盘220。在ADF200的与图像读取装置100相对的表面上，在覆盖压板玻璃101的位置处提供压板盖白板221。ADF 200经由图像读取装置100的图像传感器的读取位置和ADF 200的图像传感器的读取位置将放置在原稿托盘201上的原稿一个一个地排出到片材排出托盘220。

图2A和图2B是用于图示图像读取装置100和ADF 200的内部配置图。图2A是流读取时的配置的图示，图2B是待机时的配置的图示。

图像读取装置

图像读取装置100在其内侧包括用作图像传感器的前表面读取器104、光学马达(未示出)和读取移动引导件109。在压板盖读取的情况下，在使用光学马达沿着读取移动引导件109移动前表面读取器104的同时，图像读取装置100一行一行地读取放置在压板玻璃101上的原稿的前表面。放置在压板玻璃101上的原稿是通过关闭的ADF 200的压板白板221按压而被固定的。在流读取的情况下，图像读取装置100将前表面读取器104固定在流读取位置处，并且将来自由ADF 200输送的原稿的原稿图像读取到前表面流读取玻璃102上。

前表面读取器104包括前表面发光部分105和106、前表面透镜阵列107和前表面线传感器108。前表面发光部分105和106包括多个发光二极管(LED)或其它发光元件。前表面发光部分105和106朝着原稿辐射光。前表面透镜阵列107是通过组合多个透镜而配置的光学系统。前表面透镜阵列107引导从前表面发光部分105和106发射并被原稿朝着前表面线传感器108的光接收表面反射的光(反射光)。前表面线传感器108是通过将多个光接收元件布置成线而配置的光接收部分。前表面线传感器108根据由光接收元件的光接收表面接收的反射光来输出表示原稿的前表面上的原稿图像的图像数据。前表面线传感器108的光接收元件布置在图2A的深度方向上。布置光接收元件的方向与前表面读取器104的主扫描方向对应。

ADF

ADF 200在其内侧包括原稿输送路径、用作图像传感器的后表面读取器212以及后表面流读取玻璃217。后表面流读取玻璃217被提供在输送路径与后表面读取器212之间。流读取引导件211被提供在后表面流读取玻璃217上。流读取引导件211被提供在流读取时前表面读取器104的读取位置处，以确保原稿输送路径。在下面的描述中，“上游”和“下游”分别指的是原稿的输送方向上的“上游”和“下游”。

在原稿托盘201上，可以堆叠由一个或多个原稿形成的原稿堆叠。原稿托盘201包括调节板202，调节板202用于在垂直于原稿的输送方向的方向(图2A和图2B中的深度方向)上对准原稿堆叠。原稿托盘201包括被配置为检测原稿在输送方向上的尺寸的原稿长度检测传感器203a和203b。

原稿从原稿托盘201一个一个地进入输送路径。因此，输送路径包括作为原稿分离机构的分离辊对206a和206b以及拾取辊204。分离辊对206a和206b被配置为在开始原稿输送之前调节原稿堆叠从原稿托盘201的突出和进入下游。原稿托盘201包括被配置为检测原稿的存在或不存在的原稿存在/不存在传感器205。拾取辊204下降到堆叠在原稿托盘201上的原始堆叠的最上表面，并且当要输送原稿时旋转，以输送原始堆叠的最上面的原稿。由拾取辊204输送的最上面的原稿通过分离辊对206a和206b的作用被分开输送。原稿可以通过已知的分离技术分离。

由分离辊对206a和206b分离的原稿被输送到对准辊对208a和208b。在这个时候，对准辊对208a和208b的旋转停止，因此原稿抵靠(abut against)对准辊对208a和208b。当与对准辊对208a和208b抵靠时，原稿在其前缘部分处形成环。以这种方式，在原稿输送期间校正了歪斜(skew)馈送。在分离辊对206a和206b与对准辊对208a和208b之间，提供有被配置为检测原稿的片材馈送传感器207。根据片材馈送传感器207的检测结果来控制使对准辊对208a和208b旋转的操作。

在校正原稿的歪斜馈送之后，开始对准辊对208a和208b的旋转。以这种方式，原稿通过对准辊对208a和208b以被输送到读取上游辊对209a和209b。读取上游辊对209a和209b将原稿输送到前表面读取器104的读取位置(流读取位置)和后表面读取器212的读取位置。前表面读取器104的读取位置位于前表面流读取玻璃102与后表面流读取玻璃217的流读取引导件211之间。后表面读取器212的读取位置位于后表面流读取玻璃217与前表面流读取玻璃102的参考白板103之间。在读取上游辊对209a和209b与前表面读取器104的读取位置之间，提供有被配置为检测原稿的读取传感器210。根据读取传感器210的检测结果来控制前表面读取器104和后表面读取器212的操作。

当要读取原稿的前表面时，在原稿通过前表面流读取玻璃102与后表面流读取玻璃217的流读取引导件211之间时，通过前表面发光部分105和106用光照射原稿。前表面线传感器108经由前表面透镜阵列107接收来自原稿的反射光以读取原稿的前表面上的原稿图像。

当要读取原稿的后表面时，在原稿通过后表面流读取玻璃217与前表面流读取玻璃102的参考白板103之间时，原稿被后表面读取器212读取。后表面读取器212具有与前表面读取器104的配置类似的配置，并且包括后表面发光部分213和214、后表面透镜阵列215以及后表面线传感器216。后表面读取器212被固定到ADF 200。后表面读取器212的主扫描方向和前表面读取器104的主扫描方向相同，并且与原稿的输送方向正交。当原稿通过后表面流读取玻璃217与前表面流读取玻璃102的参考白板103之间时，后表面读取器212通过后表面发光部分213和214用光照射原稿。后表面线传感器216经由后表面透镜阵列215接收来自原稿的反射光以读取原稿的后表面上的原稿图像。

已被读取原稿图像的原稿通过读取下游辊对218a和218b被输送到片材排出辊对219a和219b。片材排出辊对219a和219b将原稿排出到片材排出托盘220上。

前表面读取器104和后表面读取器212均由接触图像传感器(CIS)或由使用透镜阵列和反射镜的缩小光学系统形成的电荷耦合器件(CCD)实现。

控制器

图3是用于图示控制器的配置图。控制器包括读取器控制器300和系统控制器310。读取器控制器300和系统控制器310通过控制器IF 321和图像数据总线322彼此连接，并且彼此协作地操作。读取器控制器300主要控制图像读取装置100和ADF 200的操作。系统控制器310对由前表面读取器104和后表面读取器212读取的原稿图像执行例如图像处理，并且将图像数据输出到诸如图像形成装置和个人计算机之类的外部装置。另外，系统控制器310接收由用户输入的各种设置或指令。

读取器控制器300是包括读取器中央处理单元(CPU)301、只读存储器(ROM)302和随机存取存储器(RAM)303的计算机。读取器CPU 301使用RAM 303作为工作区执行存储在ROM 302中的计算机程序以控制图像读取装置100和ADF 200的操作。读取器控制器300还包括被配置为对由前表面读取器104和后表面读取器212读取的原稿图像执行图像处理的图像处理器304。

读取器CPU 301被连接到输送马达306，输送马达306被配置为驱动每个辊进行输送以实现原稿输送功能。对准辊对208a和208b以及其它辊经由离合器连接到输送马达306，离合器被配置为在驱动和停止之间切换。在这个实施例中，输送马达306是脉冲马达。读取器CPU 301控制驱动脉冲的数量，以管理输送马达306的脉冲。脉冲的数量表示正被输送的原稿的输送距离，并且读取器CPU 301基于从马达脉冲计算的输送距离来控制每个负载等以输送原稿。读取器CPU 301被连接到被配置为检测堆叠在原稿托盘201上的原稿的原稿存在/不存在传感器205，并且被连接到片材馈送传感器207以及被配置为检测输送路径上的原稿边缘部分的读取传感器210。读取器CPU 301根据相应传感器的检测结果来控制输送马达306、前表面读取器104和后表面读取器212的操作。

读取器CPU 301被连接到打开/关闭检测传感器250和251。读取器CPU 301根据打开/关闭检测传感器250和251的检测结果来检测ADF 200的打开状态和关闭状态。打开/关闭检测传感器250和251的细节在后面描述。读取器CPU 301被连接到光学马达305。读取器CPU 301可以使得光学马达305在压板盖读取时沿着读取移动引导件109移动前表面读取器104。

读取器CPU 301被连接到前表面发光部分105和106、后表面发光部分213和214、前表面线传感器108以及后表面线传感器216，以便实现图像读取功能。前表面线传感器108和后表面线传感器216在读取器CPU 301的控制下将图像数据发送到图像处理器304。图像处理器304执行各种类型的图像处理(包括对图像数据的阴影校正)，并且经由图像数据总线322将图像处理的结果发送到系统控制器310。另外，与读取原稿的定时同步地，读取器CPU301经由控制器IF 321向系统控制器310通知用作图像数据的前端的参考的垂直同步信号以及用作一行的像素前端的参考的水平同步信号。另外，读取器CPU 301基于读取参考白板103的结果生成用于流读取的阴影校正数据和用于压板盖读取的阴影校正数据。

系统控制器310是包括系统CPU 311、ROM 312和RAM 313的计算机。系统CPU 311使用RAM 313作为工作区执行存储在ROM 312中的计算机程序，以执行各种类型的处理。系统控制器310还包括图像处理器314和图像存储器315。系统CPU 311经由控制器IF 321向读取器CPU 301发送与图像读取控制有关的数据和从读取器CPU 301接收与图像读取控制有关的数据。图像处理器314经由图像数据总线322获取来自读取器控制器300的图像处理器304的图像数据。图像处理器314对获取的图像数据执行诸如颜色确定之类的预定图像处理，并将图像处理的结果存储在图像存储器315中。

系统控制器310被连接到操作显示器316。操作显示器316是用户接口。操作显示器316包括用作输入设备的各种键按钮和触摸面板，以及用作输出设备的显示器等。从操作显示器316输入的指令等经由系统控制器310输入到读取器控制器300。例如，操作显示器316在系统控制器310的控制下显示图像。

打开/关闭检测传感器

图4、图5和图6是用于图示打开/关闭检测传感器250和251的解释图。图4是ADF200关闭的状态的图示。图5是ADF 200半关闭的状态的图示。图6是ADF 200完全打开的状态的图示。打开/关闭检测传感器250和251检测ADF 200的这种打开和关闭状态。

打开/关闭检测传感器250和251基于标志252来检测ADF 200是打开还是关闭，标志252被配置为随着ADF 200的打开和关闭而致动。当ADF 200处于关闭状态时，标志252被打开/关闭检测传感器250和251两者检测到(图4)。当ADF 200半关闭时，标志252被打开/关闭检测传感器250检测到，但不被打开/关闭检测传感器251检测到(图5)。当ADF 200完全处于打开状态时，标志252既不被打开/关闭检测传感器250也不被打开/关闭检测传感器251检测到(图6)。如上所述，ADF 200的打开和关闭状态由打开/关闭检测传感器250和251二者的检测结果表示。

打开/关闭检测传感器250和251由例如光斩波器(photo-interrupter)形成。基于光斩波器的光路是否被标志252中断来确定是否检测到标志252。读取器CPU 301基于光斩波器的光路的状态来检测ADF 200的打开和关闭状态。打开/关闭检测传感器250和251以及标志252用作ADF 200的打开/关闭检测机构。即使当代替ADF 200安装用于按压放置在压板玻璃101上的原稿的构件(压板盖)时，通过使用具有类似配置的打开/关闭检测机构，也可以检测压板盖的打开和关闭状态。

图像读取控制

给出要由具有上面提到的配置的图像读取装置100和ADF 200执行的图像读取处理的描述。图7、图8、图9和图10是用于图示图像读取处理的流程图。这个处理是用于前表面读取器104的处理。前表面读取器104的控制细节取决于在开始读取原稿时ADF 200的打开和关闭以及原稿托盘201上是否存在原稿而改变。当原稿放置在原稿托盘201上时，可以假设以下使用情况。一种情况是用户在发生卡纸时打开和关闭ADF 200以进行恢复，另一种情况是用户在原稿放置在原稿托盘201上之后检查原稿是否留在了压板玻璃101上。在那些使用情况下，在这个实施例中，首先生成用于流读取的阴影校正数据。图11A至图11D是用于图示在流读取时前表面读取器104的位置改变的解释图。图12A至图12D是用于图示在压板盖读取时前表面读取器104的位置改变的说明图。

图7是在执行图像读取之前要根据ADF 200的打开和关闭的检测以及原稿的检测执行的处理的图示。

读取器CPU 301执行ADF 200的原稿检测确定处理(步骤S101)。稍后详细描述原稿检测确定处理。读取器CPU 301使打开/关闭检测传感器250和251检测ADF 200是否处于打开状态(步骤S102)。下文中将ADF 200称为“压板盖”。如图2B中所示，ADF 200包括压板盖白板221。ADF 200的打开和关闭状态与压板盖(压板盖白板221)的打开和关闭状态相同。

当压板盖处于关闭状态时(步骤S102：否)，读取器CPU 301检查是否发出了开始读取的指令(步骤S114)。当用户操作操作显示器316时发出开始读取的指令，并且该指令经由系统CPU 311被输入到读取器CPU 301。当未发出开始读取的指令时(步骤S114：否)，读取器CPU 301返回步骤S102的处理。当发出开始读取的指令时(步骤S114：是)，读取器CPU 301执行稍后描述的读取操作。即，在执行ADF 200的原稿检测确定处理之后，读取器CPU 301等待压板盖的打开状态和开始读取的指令中的任何一个。

当压板盖进入打开状态时(步骤S102：是)，读取器CPU 301使打开/关闭检测传感器250和251检测压板盖是否进入关闭状态(步骤S103)。当压板盖仍处于打开状态时(步骤S103：否)，读取器CPU 301执行稍后将描述的确定经过了预定时间段的处理(步骤S113)，并且检测压板盖是否再次进入关闭状态。即，除非ADF 200进入打开状态并且然后进入关闭状态，否则读取器CPU 301执行确定经过了预定时间段的处理。当压板盖进入关闭状态时(步骤S103：是)，读取器CPU 301接通前表面发光部分105和106(步骤S104)。即，当ADF 200进入打开状态并且然后进入关闭状态时，读取器CPU 301使前表面读取器104发光。在前表面读取器104发光之后，读取器CPU 301使原稿存在/不存在传感器205检测原稿托盘201上是否存在原稿(步骤S105)。

当原稿放置在原稿托盘201上时(步骤S105：是)，读取器CPU 301确定前表面读取器104是否位于流读取位置102处(步骤106)，流读取位置102在图2A中所示的前表面流读取玻璃102和流读取引导件211的正下方。这种情况意味着原稿被放置在原稿托盘201上，并且ADF 200在之前被打开然后被关闭。即，这种情况与如下的情况对应，其中在原稿被放置在原稿托盘201上之后，用户检查原稿是否留在了压板玻璃101上。在下面的描述中，前表面读取器104被称为“滑架(carriage)”。

在这个实施例中，如图2A和图2B中所示，前表面发光部分105和106、前表面透镜阵列107以及前表面线传感器108被布置在作为前表面读取器104的滑架上。但是，可以采用如下的配置，其中前表面线传感器被固定到预定位置，并且反射镜和发光部分被移动，以移动前表面线传感器执行读取的读取位置。

当滑架不位于流读取位置时(步骤106：否)，读取器CPU 301使光学马达305开始将滑架移动到流读取位置(步骤S107)。图11A是滑架开始从待机位置向流读取位置移动的情形的图示。当滑架朝着流读取位置移动时，读取器CPU 301执行用于流读取的阴影校正，以获取阴影校正数据(步骤S108)。即，读取器CPU 301在滑架在图11A和图11B中所示的阴影区域中移动的同时执行用于流读取的阴影校正。当前表面流读取玻璃102的玻璃表面经受抗静电或防尘处理(诸如电荷涂覆)时，读取的图像变暗。因此，为了获得与由压板玻璃101读取的图像相同的值，通过将用于压板盖读取的阴影校正数据的值乘以预定系数来获得用于流读取的阴影校正数据的值。

在生成阴影校正数据之后，读取器CPU 301一直等到滑架移动到流读取位置完成(步骤S111：否)。在滑架移动到流读取位置完成之后(步骤S111：是)，读取器CPU 301关掉前表面发光部分105和106以结束处理(步骤S112)。当滑架位于流读取位置时(步骤S106：是)，读取器CPU 301关掉前表面发光部分105和106，而不执行用于流读取的新的阴影校正来结束处理(步骤S112)。

如上所述，根据这个实施例，即使当压板盖从打开状态改变时(步骤S103：是)，在原稿存在于原稿托盘201上的情况下，也不生成用于压板盖读取的阴影校正数据。因此，可以防止在现有技术中执行的不需要的阴影校正数据的生成。

当没有原稿放置在原稿托盘201上时(步骤S105：否)，读取器CPU 301使光学马达305开始将滑架向图12A中所示的加速开始位置移动(步骤S109)。加速开始位置是当开始压板盖读取时布置前表面读取器104的位置。这种情况意味着在原稿不放置在原稿托盘201上的情况下ADF 200在之前被打开并且然后被关闭。即，这种情况与在发生卡纸时用户打开和关闭压板盖以便恢复的情况对应。当滑架朝着加速开始位置移动时，读取器CPU 301执行用于压板盖读取的阴影校正，以获取阴影校正数据(步骤S110)。即，当滑架在图12A和图12B中所示的阴影区域中移动时，读取器CPU 301生成用于压板盖读取的阴影校正数据。在执行阴影校正之后，读取器CPU 301一直等到滑架移动到加速开始位置完成(步骤S111：否)。在完成滑架到加速开始位置的移动之后(步骤S111：是)，读取器CPU 301关掉前表面发光部分105和106以结束处理(步骤S112)。在执行图像读取之前，执行从步骤S103到步骤S112的处理。

图8是在步骤S101中执行的ADF 200的原稿检测确定处理的图示。

读取器CPU 301使原稿存在/不存在传感器205检测原稿托盘201上是否存在原稿(步骤S201)。当原稿托盘201上没有放置原稿时(步骤S201：否)，读取器CPU 301结束原稿检测确定处理。当原稿放置在原稿托盘201上时(步骤S201：是)，读取器CPU 301确定滑架是否位于流读取位置(步骤S202)。当滑架位于流读取位置时(步骤S202：是)，读取器CPU 301结束原稿检测确定处理。当滑架不位于流读取位置时(步骤S202：否)，读取器CPU 301接通前表面发光部分105和106(步骤S203)。

读取器CPU 301使光学马达305开始将滑架向流读取位置移动(步骤S204)。当滑架朝着流读取位置移动时，读取器CPU 301执行用于流读取的阴影校正，以获取阴影校正数据(步骤S205)。在执行阴影校正之后，读取器CPU 301一直等到滑架移动到流读取位置完成(步骤S206：否)。在完成滑架到流读取位置的移动之后(步骤S206：是)，读取器CPU 301关掉前表面发光部分105和106以结束处理(步骤S207)。即，当原稿放置在原稿托盘201上时，读取器CPU 301可以在ADF 200的打开和关闭以及开始读取的指令之前获取用于流读取的阴影校正数据。

图9是在步骤S113中执行的确定经过了预定时间段的处理的图示。

读取器CPU 301确定在压板盖进入打开状态之后是否经过了预定时间段而没有进入关闭状态(步骤S301)。当还没有经过预定时间段时(步骤S301：否)，读取器CPU 301结束处理，并且在确定压板盖是否进入关闭状态的同时一直等到经过预定时间段。当在压板盖未进入关闭状态的情况下经过了预定时间段时(步骤S301：是)，如图2B中所示，读取器CPU301使光学马达305开始将滑架向参考白板103的端部移动(步骤S302)。参考白板103的端部与用作滑架的待机位置的起始位置(HP)对应。读取器CPU 301一直等到滑架到HP的移动完成(步骤S303：否)。读取器CPU 301在滑架到HP的移动完成之后结束处理(步骤S303：是)。滑架移动到的待机位置(HP)被设置在靠近参考白板103的位置，使得可以以最短时间生成阴影校正数据。

图10是在步骤S114的处理中发出开始读取指令的情况的处理的图示。

读取器CPU 301一直等到发出开始读取的指令(步骤S401：否)。当发出开始读取的指令时(步骤S401：是)，读取器CPU 301确定装置是否处于未生成阴影校正数据的状态或者滑架未移动的状态(滑架在HP处等待的状态)(步骤S402)。当装置处于未生成阴影校正数据的状态或者滑架未移动的状态时(步骤S402：是)，读取器CPU 301首先接通前表面发光部分105和106，以执行阴影校正(步骤S403)。已经接通前表面发光部分105和106的读取器CPU301确定开始读取的指令是否是用于流读取的指令(步骤S404)。

当发出用于流读取的指令时(步骤S404：是)，读取器CPU 301使光学马达305开始将滑架向流读取位置移动(步骤S405)。以这种方式，滑架开始移动，如图11A中所示。当滑架朝着流读取位置移动时，读取器CPU 301获取用于流读取的阴影校正数据(步骤S406)。当滑架在图11A和图11B中所示的阴影区域中移动时，读取器CPU 301生成用于流读取的阴影校正数据。在生成了阴影校正数据之后，读取器CPU 301一直等到滑架到流读取位置的移动完成(步骤S409：否)。

在滑架到流读取位置的移动完成之后(步骤S409：是)，读取器CPU 301执行原稿读取操作。然后，图像处理器304利用用于流读取的阴影校正数据对所获得的原稿图像数据执行阴影校正(步骤S410)。如图11C中所示，ADF 200将原稿从原稿托盘201输送到流读取位置。前表面读取器104在原稿通过流读取位置的定时处执行读取操作。当对所有原稿的读取处理结束时，读取器CPU 301关掉前表面发光部分105和106(步骤S411)，并且如图11D中所示，光学马达305开始将滑架向待机位置移动(步骤S412)。读取器CPU 301一直等到滑架向待机位置的移动结束(步骤S413：否)，并且在移动结束之后，读取器CPU 301结束处理(步骤S413：是)。

当没有发出用于流读取的指令而是发出用于压板盖读取的指令时(步骤S404：否)，读取器CPU 301使光学马达305开始将滑架向加速开始位置移动(步骤S407)。以这种方式，滑架开始移动，如图12A中所示。当滑架朝着加速开始位置移动时，读取器CPU 301执行用于压板盖读取的阴影校正，以获取阴影校正数据(步骤S408)。当滑架在图12A和图12B中所示的阴影区域中移动时，读取器CPU 301生成用于压板盖读取的阴影校正数据。在生成阴影校正数据之后，读取器CPU 301一直等到滑架到加速开始位置的移动完成(步骤S409：否)。

在滑架到加速开始位置的移动完成之后(步骤S409：是)，读取器CPU 301在滑架移动到原稿下方的同时执行原始读取操作。然后，图像处理器304利用用于压板盖读取的阴影校正数据对从滑架的线传感器输出的原稿图像数据执行阴影校正(步骤S410)。在滑架在如图12C中所示的箭头方向移动的同时，前表面读取器104从图像前端位置读取压板玻璃101上的原稿。在滑架移动到原稿的后缘并且原稿读取处理结束之后，读取器CPU 301使光学马达305让滑架返回到加速开始位置。以这种方式，完成原稿的读取。在原稿读取处理结束之后，读取器CPU 301关掉前表面发光部分105和106(步骤S411)，并且如图12D中所示，使光学马达305开始将滑架向待机位置移动(步骤S412)。读取器CPU 301一直等到滑架到待机位置的移动结束(步骤S413：否)，并且在移动结束之后，读取器CPU 301结束处理(步骤S413：是)。

当已经执行了阴影校正和滑架的移动时(步骤S402：否)，读取器CPU 301使前表面读取器104在滑架保持静止的情况下读取原稿(步骤S410)。在原稿读取处理结束之后，读取器CPU 301关掉前表面发光部分105和106(步骤S411)，并且读取器CPU 301使光学马达305开始将滑架向待机位置移动(步骤S412)。读取器CPU 301一直等到滑架到待机位置的移动结束(步骤S413：否)，并且在移动结束之后，读取器CPU 301结束处理(步骤S413：是)。

操作定时

图13是用于图示图像读取装置100和ADF 200的操作的时序图。图13是在执行流读取之前滑架位于HP的情况与在执行流读取之前滑架位于流读取位置的情况之间的处理时间差异的图示。在这个实施例中，在执行流读取之前，执行步骤S107和后续步骤中的处理(参见图7)或者执行步骤S204和后续步骤中的处理(参见图8)。因此，滑架已经移动到流读取位置。

当滑架位于HP时，图像读取装置100和ADF 200在以下定时处操作。ADF 200输送原稿。ADF 200需要一直等到图像读取装置100侧的处理结束，因此在原稿通过流读取位置之前，ADF 200使原稿立即停止。当在读取之前图像读取装置100的准备处理(阴影校正数据的生成和滑架的移动)结束时，ADF 200重新开始原稿的输送。在重新开始原稿的输送之后，图像读取装置100使前表面读取器104读取原稿。在读取结束之后，ADF 200排出原稿。在读取结束之后，图像读取装置100将滑架移动到HP。

当滑架已经位于流读取位置时，图像读取装置100和ADF 200在以下定时处操作。在读取之前图像读取装置100的准备处理(阴影校正数据的生成和滑架的移动)结束，因此ADF 200不需要在开始输送原稿之后在流读取位置之前立即停止原稿。原稿被直接输送，因此可以缩短处理时间而不会造成待机时间。因此，可以缩短从开始读取第一原稿到输出表示读取的原稿图像的图像数据所需的时间。

如上所述，当原稿存在于ADF 200的原稿托盘201上时，即使在ADF 200(压板盖)被打开和关闭时，也执行用于流读取的阴影校正，而不生成用于压板盖读取的阴影校正数据。用作被配置为读取前表面的图像传感器的前表面读取器104在这个时候移动到流读取位置，因此可以省略不必要的操作。即，在这个实施例的图像读取装置100和ADF 200中，基于ADF 200的打开和关闭的检测结果以及原稿的检测来控制图像读取装置100，使得首先生成用于流读取的阴影校正数据。在这种情况下，滑架从HP到流读取位置的移动已经完成，因此可以省略在读取操作之前的不必要操作，并且可以缩短从开始读取第一原稿到输出表示读取的原稿图像的图像数据所需的时间。

虽然已经参考示例性实施例描述了本发明，但是应当理解的是，本发明不限于所公开的示例性实施例。以下权利要求的范围应被赋予最广泛的解释，以涵盖所有此类修改已经等同的结构和功能。

本申请要求于2017年12月5日提交的日本专利申请No.2017-233388的权益，该申请通过引用整体并入本文。

Claims (15)

1.一种图像读取装置，其特征在于，包括：

原稿台，要在所述原稿台上放置原稿；

文档馈送器，被配置为输送原稿，所述文档馈送器包括：

原稿托盘，要在所述原稿托盘上放置原稿；

第一感测设备，被配置为检测原稿被放置在原稿托盘上；

输送部，被配置为输送放置在原稿托盘上的原稿；以及

片材排出托盘，原稿要被排出到所述片材排出托盘；

参考构件；

第二感测设备，被配置为检测文档馈送器的打开状态和关闭状态；

读取设备，被配置为读取放置在原稿台上的原稿和要由文档馈送器输送的原稿中的一个，

读取设备被配置为在第一模式下在读取设备移动读取位置的状态下读取放置在原稿台上的原稿，并且在第二模式下读取要由输送部输送到预定读取位置的原稿；

图像处理设备，被配置为使用第一阴影校正数据对在第一模式下从读取设备输出的图像数据执行阴影校正，并且使用第二阴影校正数据对在第二模式下从读取设备输出的图像数据执行阴影校正；以及

处理设备，被配置为基于读取设备读取参考构件的结果来生成用于第一模式的第一阴影校正数据和用于第二模式的第二阴影校正数据中的一个，

其中，在第一感测设备检测到没有原稿被放置在原始托盘上并且第二感测设备检测到原稿台从打开状态改变的情况下，处理设备生成第一阴影校正数据，并且

其中，在第一感测设备检测到原稿放置在原稿托盘上并且第二感测设备检测到原稿台从打开状态改变的情况下，阻止处理设备生成第一阴影校正数据。

2.如权利要求1所述的图像读取装置，其中，参考构件在读取位置的移动方向上被布置在预定读取位置与原稿台的要放置原稿的区域之间。

3.如权利要求1所述的图像读取装置，其中，在第一感测设备检测到原稿被放置在原稿托盘上的情况下，处理设备生成第二阴影校正数据。

4.一种图像读取装置，其特征在于，包括：

要在其上放置原稿的原稿台；

第一感测设备，被配置为检测要放置在原稿托盘上的原稿的存在或不存在；

读取设备，被配置为从原稿读取图像；

参考构件，用于阴影校正；

输送部，被配置为将原稿从原稿托盘输送到要由读取设备使用的读取位置；

在读取设备被移动的状态下从中读取图像的原稿要放置在其上的原稿台；

压板盖，相对于原稿台能自由地打开和关闭；

第二感测设备，被配置为检测压板盖的打开状态和关闭状态中的一个；

阴影校正设备，被配置为在读取设备读取从原稿托盘输送的原稿的情况下根据由读取设备读取参考构件的结果生成第一阴影校正数据以执行阴影校正，并且在读取设备读取放置在原稿台上的原稿的情况下生成第二阴影校正数据以执行阴影校正；以及

控制设备，被配置为在第一感测设备检测到原稿被放置在原稿托盘上的情况下：

使阴影校正设备生成第一阴影校正数据以执行阴影校正，而不管第二感测设备的检测结果如何；以及

将读取设备移动到用于读取从原稿托盘输送的原稿的位置，以使读取设备读取原稿的图像。

5.如权利要求4所述的图像读取装置，其中，控制设备被配置为在第二感测设备检测到压板盖的打开状态并且然后检测到压板盖的关闭状态的情况下：

在第一感测设备检测到原稿被放置在原稿托盘上的情况下，使阴影校正设备生成第一阴影校正数据以执行阴影校正，并将读取设备移动到用于读取从原稿托盘输送的原稿的位置；以及

在第一感测设备检测到没有原稿被放置在原稿托盘上的情况下，使阴影校正设备生成第二阴影校正数据以执行阴影校正，并将读取设备移动到用于读取放置在原稿台上的原稿的位置。

6.如权利要求5所述的图像读取装置，其中，在第二感测设备检测到压板盖的打开状态之后直到检测到关闭状态之前经过预定时间段的情况下，控制设备将读取设备移动到待机位置。

7.如权利要求4所述的图像读取装置，其中，控制设备被配置为在当第二感测设备检测到压板盖的关闭状态时开始读取的指令被发出并且第一感测设备检测到原稿被放置在原稿托盘上的情况下：

使阴影校正设备生成第一阴影校正数据以执行阴影校正；以及

将读取设备移动到用于读取从原稿托盘输送的原稿的位置。

8.如权利要求7所述的图像读取装置，其中，在第二感测设备检测到压板盖的关闭状态时开始读取的指令被发出、并且读取设备位于图像在读取位置可读的位置处、并且进一步地阴影校正设备已经使用第一阴影校正数据执行了阴影校正的情况下，控制设备阻止阴影校正设备执行阴影校正。

9.如权利要求4所述的图像读取装置，其中，控制设备被配置为在开始读取的指令被发出并且第二感测设备检测到压板盖的关闭状态并且第一感测设备检测到没有原稿被放置在原稿托盘上的情况下：

使阴影校正设备生成第二阴影校正数据以执行阴影校正；以及

将读取设备移动到用于读取放置在原稿台上的原稿的位置。

10.如权利要求4所述的图像读取装置，

其中，当从由输送部输送的原稿读取图像时，读取设备被固定在用于读取从原稿托盘输送的原稿的第一位置处，

其中，当从放置在原稿台上的原稿读取图像时，读取设备被配置为在读取设备从用于读取放置在原稿台上的原稿的第二位置移动的状态下读取原稿，

其中，当阻止读取设备读取图像时，读取设备被布置在待机位置处，

其中，控制设备被配置为在第二感测设备检测到压板盖的关闭状态并且进一步地第一感测设备检测到原稿被放置在原稿托盘上的情况下，当读取设备位于待机位置时，使读取设备在读取设备从待机位置向第一位置移动的状态下读取参考构件，并且

其中，阴影校正设备被配置为根据在读取设备从待机位置向第一位置移动的状态下由读取设备读取参考构件所获得的结果来执行用于允许读取设备读取由输送部输送的原稿的阴影校正。

11.如权利要求10所述的图像读取装置，其中，控制设备被配置为使读取设备在完成读取设备的移动之后在第一位置处等待。

12.如权利要求10所述的图像读取装置，其中，在第二感测设备检测到压板盖的关闭状态并且进一步地第一感测设备检测到原稿被放置在原稿托盘上的情况下，当读取设备位于第一位置时，控制设备使读取设备在第一位置处保持静止。

13.如权利要求10所述的图像读取装置，

其中，控制设备被配置为在第二感测设备检测到压板盖的关闭状态并且进一步地第一感测设备检测到没有原稿被放置在原稿托盘上的情况下，使读取设备在读取设备从待机位置向第二位置移动的状态下读取参考构件，以及

其中，阴影校正设备被配置为根据在读取设备从待机位置向第二位置移动的状态下由读取设备读取参考构件所获得的结果来执行用于允许读取设备读取放置在原稿台上的原稿的阴影校正。

14.如权利要求13所述的图像读取装置，其中，控制设备被配置为使读取设备在完成读取设备的移动之后在第二位置处等待。

15.一种由装置执行的图像读取方法，其特征在于，所述装置包括：

原稿托盘，要在所述原稿托盘上放置原稿；

第一感测设备，被配置为检测放置在原稿托盘上的原稿的存在或不存在；

读取设备，被配置为从原稿读取图像；

参考白板，用于读取设备的阴影校正；

输送部，被配置为将原稿从原稿托盘输送到要由读取设备使用的读取位置；

原稿台，要在所述原稿台上放置在读取设备被移动的状态下从中读取图像的原稿；

压板盖，相对于原稿台能自由地打开和关闭；

第二感测设备，被配置为检测压板盖的打开状态和关闭状态中的一个；

阴影校正设备，被配置为在读取设备读取从原稿托盘输送的原稿时根据由读取设备读取参考白板的结果生成第一阴影校正数据以执行阴影校正，并且在读取设备读取放置在原稿台上的原稿时生成第二阴影校正数据以执行阴影校正；以及

所述图像读取方法包括：

在第一感测设备检测到原稿被放置在原稿托盘上的情况下通过阴影校正设备生成第一阴影校正数据以执行阴影校正，而不管第二感测设备的检测结果如何；以及

将读取设备移动到用于读取从原稿托盘输送的原稿的位置，以使读取设备读取原稿的图像。