CN109239431B - 静电压测量装置和静电压测量方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供能够精度良好地测量显示面板的表面的静电压的静电压测量装置和静电压测量方法。静电压测量装置(1)包括保持部(11)、剥离机构(12)、以及测量器(13)。保持部(11)保持显示面板(2)。剥离机构(12)通过使保持部(11)沿预定的移动方向(D1)移动来使保护薄膜(22)自显示面板(2)的表面(21)剥离。测量器(13)在比自显示面板(2)的表面(21)剥离保护薄膜22的位置(剥离位置(P))靠移动方向(D1)的下游侧处，以与显示面板(2)的表面(21)相对的方式固定于规定位置，并测量表面(21)的静电压。

Description

静电压测量装置和静电压测量方法

技术领域

本发明涉及用于测量在将贴合于显示面板的表面的保护薄膜剥离时的静电压的静电压测量装置和静电压测量方法。

背景技术

在显示装置所使用的液晶面板、有机EL(Electro Luminescence：电致发光)面板等显示面板上，通常，为了保护其表面而贴合有保护薄膜。显示面板是在贴合有保护薄膜的状态下输送的，在制成显示装置之后，自显示面板的表面剥离保护薄膜。

在这种显示面板中安装有很多电气部件。例如，在液晶显示面板中设有TFT(ThinFilm Transistor：薄膜晶体管)、用于驱动TFT的驱动器IC(Integrated Circuit：集成电路)等。因此，在使保护薄膜自显示面板的表面剥离时，存在TFT、驱动器IC等电气部件因在显示面板的表面产生的静电压而被破坏的风险。

因此，提出一种保护薄膜剥离装置，该保护薄膜剥离装置能够通过利用静电检测部来检测显示面板的表面电位并根据检测出的表面电位来控制保护薄膜的剥离速度，从而防止面板表面的表面电位上升(例如参照下述专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2008－51906号公报

发明内容

发明要解决的问题

然而，在上述专利文献1所公开的那样的结构中，静电检测部配置于显示面板的与保护薄膜被剥离的一侧的面相反的那一侧。因此，存在无法准确地测量显示面板的保护薄膜被剥离的一侧的面的静电压这样的问题。

另外，在上述专利文献1所公开的那样的结构中，具有用于使静电检测部移动的第1移动部，一边利用该第1移动部使静电检测部移动一边进行静电压的测量。因此，存在静电检测部与显示面板之间的距离容易产生偏差而使测量精度进一步变差这样的问题。

本发明是鉴于上述情况而做出的，其目的在于，提供能够精度良好地测量显示面板的表面的静电压的静电压测量装置和静电压测量方法。

用于解决问题的方案

(1)本发明提供一种静电压测量装置，其用于测量在将贴合于显示面板的表面的保护薄膜剥离时的静电压，其中，该静电压测量装置包括保持部、剥离机构、以及测量器。所述保持部保持所述显示面板。所述剥离机构通过使所述保持部沿预定的移动方向移动来使所述保护薄膜自所述显示面板的表面剥离。所述测量器在比自所述显示面板的表面剥离所述保护薄膜的位置靠所述移动方向的下游侧处，以与所述表面相对的方式固定于规定位置，并测量所述表面的静电压。

采用这样的结构，通过使保持显示面板的保持部沿预定的移动方向移动，从而自显示面板的表面剥离保护薄膜。由此，能够一边将自显示面板的表面剥离保护薄膜的位置(剥离位置)保持为恒定一边剥离保护薄膜。因而，通过以使测量器不移动并与比剥离位置靠下游侧的位置相对的方式将测量器固定在规定位置，能够精度良好地测量显示面板的保护薄膜被剥离的那一侧的面的静电压。

(2)优选的是，使所述保护薄膜自所述显示面板的表面剥离时的所述保持部的移动速度为10m/min～100m/min。

采用这样的结构，由于能够一边使保持部以适当的移动速度移动一边使保护薄膜自显示面板的表面剥离，因此，测量结果不易产生偏差，能够进一步精度良好地测量显示面板的表面的静电压。

(3)优选的是，所述测量器以隔开5mm～50mm的间隔地与所述显示面板的表面相对的方式固定在规定位置。

采用这样的结构，一边将测量器固定于适当的位置来测量静电压一边使保护薄膜自显示面板的表面剥离，因此测量结果不易产生偏差，能够进一步精度良好地测量显示面板的表面的静电压。

(4)也可以是，所述剥离机构具有使所述保持部以设定好的移动速度沿所述移动方向移动的移动机构。

采用这样的结构，能够使保持部以设定好的移动速度精度良好地移动。因而，测量结果不易产生偏差，能够进一步精度良好地测量显示面板的表面的静电压。

(5)也可以是，所述保持部沿所述移动方向移动自如。在该情况下，也可以是，所述剥离机构利用在自所述显示面板的表面剥离所述保护薄膜时作用于所述显示面板的力来使所述保持部沿所述移动方向移动。

采用这样的结构，通过自显示面板的表面连续地剥离保护薄膜，能够利用剥离保护薄膜时作用于显示面板的力来使保持部稳定地移动。因而，即使是不具有移动机构的简单的结构，也能够使测量结果不易产生偏差，能够精度良好地测量显示面板的表面的静电压。

(6)本发明提供一种静电压测量方法，其用于测量在将贴合于显示面板的表面的保护薄膜剥离时的静电压，其中，该静电压测量方法具有剥离步骤和测量步骤。在所述剥离步骤中，通过使保持所述显示面板的保持部沿预定的移动方向移动来使所述保护薄膜自所述显示面板的表面剥离。在测量步骤中，利用在比自所述显示面板的表面剥离所述保护薄膜的位置靠所述移动方向的下游侧处、以与所述表面相对的方式固定于规定位置的测量器，来测量所述表面的静电压。

发明的效果

采用本发明，通过以使测量器不移动并与剥离位置相对的方式将测量器固定在规定位置，能够精度良好地测量显示面板的保护薄膜被剥离的那一侧的面的静电压。

附图说明

图1是表示本发明的一个实施方式的静电压测量装置的结构例的概略侧视图。

图2是静电压测量装置的概略俯视图。

图3是表示静电压测量装置的电气结构的一个例子的框图。

图4是局部地表示静电压测量装置的变形例的概略侧视图。

附图标记说明

1、静电压测量装置；2、显示面板；10、控制部；11、保持部；12、剥离机构；13、测量器；14、显示部；21、表面；22、保护薄膜；23、连接构件；24、剥离构件；111、保持面；112、辊；120、移动机构；121、剥离旋转杆；122、角度变更辊；123、卷绕辊；124、剥离用马达；125、移动用马达；221、端缘部。

具体实施方式

1.静电压测量装置的整体结构

图1是表示本发明的一个实施方式的静电压测量装置1的结构例的概略侧视图。另外，图2是静电压测量装置1的概略俯视图。该静电压测量装置1是用于测量在将贴合于显示面板2的表面21的保护薄膜22剥离时在该表面21产生的电压(静电压)的装置。在静电压测量装置1中设有保持部11、剥离机构12以及测量器13等。

显示面板2例如是具有偏振板(未图示)的液晶面板。为了保护偏振板的表面，在显示面板2上借助粘合剂(未图示)贴合有保护薄膜22。另外，在液晶面板上安装有TFT、驱动器IC等电气部件(未图示)。

在自显示面板2的表面21剥离保护薄膜22时，因静电而使表面21带电，存在电气部件因该静电压而被破坏的风险。因此，若使用本实施方式的静电压测量装置1来测量显示面板2的表面21的静电压，则能够确认是否产生容许值以上的静电压。

显示面板2由保持部11保持。保持部11例如是平板状的载置台，保持部11的上表面构成用于载置并保持显示面板2的保持面111。在保持部11的底部设有多个辊112。保持部11能够通过多个辊112的旋转而沿预定的移动方向D1移动。

显示面板2的与保护薄膜22所在侧相反的那一侧的面载置在保持部11的保持面111上。保持面111例如由沿水平方向延伸的平坦面构成。在保持部11设有用于在保持面111上固定显示面板2的固定机构(未图示)，在自显示面板2剥离保护薄膜22时，能够防止显示面板2与保持面111分离或显示面板2在保持面111上发生偏移。作为固定机构，能够例示使显示面板2吸附在保持面111上的吸附机构等，但并不限于此。

剥离机构12是用于自显示面板2的表面21剥离保护薄膜22的机构。在剥离机构12中设有剥离旋转杆121、角度变更辊122以及卷绕辊123等。剥离旋转杆121、角度变更辊122以及卷绕辊123分别被框架(未图示)保持为能够旋转，保持部11被设置为能够相对于该框架相对地移动。

在本实施方式中，剥离机构12使保持部11沿预定的移动方向D1移动，由此能够使保护薄膜22自显示面板2的表面21剥离。上述移动方向D1例如是相对于保持面111平行的方向，在该例子中为水平方向。

保护薄膜22首先在端缘部221自显示面板2的表面21剥离，通过该端缘部221被向剥离方向D2拉拽，从而将保护薄膜22自表面21逐渐地剥离(参照图2)。剥离方向D2例如是在图2所示的俯视情况下相对于保持部11的移动方向D1相反的方向。自显示面板2的表面21剥离保护薄膜22的位置(剥离位置P)、即被剥离的保护薄膜22的背面与显示面板2的表面21的交界位置沿着相对于剥离方向D2正交的方向呈直线状延伸。

剥离旋转杆121、角度变更辊122以及卷绕辊123分别沿相对于剥离方向D2正交的方向延伸。保护薄膜22的端缘部221借助例如由另外的薄膜或带等形成的连接构件23连接于卷绕辊123，通过使卷绕辊123旋转，从而保护薄膜22被卷绕于卷绕辊123的外周面。由此，能够一边自显示面板2的表面21连续地剥离保护薄膜22，一边以对保护薄膜22赋予张力的状态将保护薄膜22卷绕于卷绕辊123。

剥离旋转杆121被保持为旋转自如，剥离旋转杆121在剥离位置P与卷绕辊123之间接触于自显示面板2的表面21剥离的保护薄膜22的表面。因而，利用来自由卷绕辊123卷绕的保护薄膜22进行作用的力，一边使剥离旋转杆121旋转一边输送保护薄膜22。

角度变更辊122被保持为旋转自如，角度变更辊122在剥离旋转杆121与卷绕辊123之间接触于自显示面板2的表面21剥离的保护薄膜22的背面。该角度变更辊122如图1的虚线所示那样被保持为能够平行移动。因而，通过使角度变更辊122的位置平行移动，能够改变在剥离位置P被剥离的保护薄膜22的角度。由此，能够根据保护薄膜22的种类而以适当的角度自显示面板2的表面21剥离保护薄膜22。但是，还能够省略角度变更辊122。

测量器13以与剥离了保护薄膜22的显示面板2的表面21相对的方式配置，并测量该表面21的静电压。具体而言，测量器13位于比剥离位置P靠移动方向D1的下游侧的位置。测量器13的位置优选为尽量靠近剥离位置P，但要配置在不与被剥离的保护薄膜22发生干扰的位置。测量器13相对于剥离位置P固定在规定位置。即，测量器13以在测量中不移动的方式固定在预先确定的恒定位置。此外，测量器13也可以是在非测量时能够移动的结构。

在该静电压测量装置1中，在保护薄膜22被施加有张力的状态下，如图1和图2中虚线所示那样使保持显示面板2的保持部11沿预定的移动方向D1移动，从而自显示面板2的表面21剥离保护薄膜22(剥离步骤)。由此，能够将自显示面板2的表面21剥离保护薄膜22的位置(剥离位置P)保持为恒定并剥离保护薄膜22。

此时，在比剥离位置P靠移动方向D1的下游侧处，利用测量器13来测量显示面板2的表面21的静电压(测量步骤)。因而，通过以使测量器13不移动并与比剥离位置P靠下游侧的位置相对的方式将测量器13固定在规定位置，能够精度良好地测量显示面板2的被剥离保护薄膜22的那一侧的面(表面21)的静电压。

测量器13例如以隔开5mm～50mm的间隔并与显示面板2的表面21相对的方式固定于规定位置。由此，能够一边将测量器13固定于适当的位置来测量静电压，一边使保护薄膜22自显示面板2的表面21剥离，因此测量结果不易产生偏差，能够进一步精度良好地测量显示面板2的表面21的静电压。

在该例子中，显示面板2的朝向相对于移动方向D1倾斜。即，矩形形状的显示面板2的长边方向和短边方向分别相对于移动方向D1倾斜。其结果，保护薄膜22被从位于与显示面板2的角部相对应的位置的端缘部221剥离。但是，并不限于这样的结构，也可以是如下那样的结构，例如通过使显示面板2的长边方向或短边方向相对于移动方向D1平行地配置，从而自沿着显示面板的长度或短边延伸的端缘部剥离保护薄膜22。

2.静电压测量装置的电气结构

图3是表示静电压测量装置1的电气结构的一个例子的框图。通过使例如具有CPU(Central Processing Unit：中央处理器)的控制部10执行程序，从而控制该静电压测量装置1的动作。控制部10除了与上述剥离机构12和测量器13电连接以外，还与显示部14等电连接。

剥离机构12具有剥离用马达124。剥离用马达124借助齿轮(未图示)等机械性连接于卷绕辊123。通过使该剥离用马达124进行驱动，从而使卷绕辊123进行旋转，能够一边使保护薄膜22自显示面板2的表面21剥离一边将保护薄膜22卷绕于卷绕辊123。卷绕辊123的转速既可以是预先设定好的恒定速度，也能够由用户设定为任意速度。

在本实施方式中，剥离机构12具有用于使保持部11沿移动方向D1移动的移动机构120。移动机构120具有借助齿轮(未图示)等而机械性连接于保持部11的移动用马达125。通过使该移动用马达125进行驱动，能够使保持部11以设定好的移动速度沿移动方向D1移动。上述移动速度既可以是预先设定好的恒定速度，也能够由用户设定为任意速度。

移动用马达125与剥离用马达124同步地进行驱动。即，以与利用剥离用马达124来卷绕保护薄膜22的速度相同的速度，利用移动用马达125使保持部11沿移动方向D1移动。但是，也可以是通过1个马达的驱动来同步进行卷绕辊123的旋转和保持部11的移动那样的结构。

显示部14例如由液晶显示器构成。在显示部14显示由测量器13测得的显示面板2的表面21的电压值等测量结果。用户通过确认显示在显示部14的测量结果，能够评价测量对象物即显示面板2能否被使用。根据该评价，例如，还能够采取增加在保护薄膜22的粘合剂中含有的抗静电剂的量等改善措施。但是，显示部14并不限于与测量器13分离地设置的结构，例如也可以是与测量器13一体地设置的结构等。

如此，在本实施方式中，能够使用移动机构120使保持部11以设定好的移动速度精度良好地移动。因而，测量结果不易产生偏差，能够进一步精度良好地测量显示面板2的表面21的静电压。

在使保护薄膜22自显示面板2的表面21剥离时的保持部11的移动速度例如为10m/min～100m/min。由此，能够一边使保持部11以适当的移动速度移动一边使保护薄膜22自显示面板2的表面21剥离，因此，测量结果不易产生偏差，能够进一步精度良好地测量显示面板2的表面21的静电压。

3.静电压测量装置的变形例

图4是局部地表示静电压测量装置1的变形例的概略侧视图。在该例子中，并不利用移动机构120使保持部11移动，而是利用剥离保护薄膜22时作用于显示面板2的力来使保持部11移动，这点与上述实施方式不同。

具体而言，保持部11沿着上述移动方向D1移动自如。即，设于保持部11的多个辊112旋转自如，在外力作用于保持部11的情况下，保持部11能够沿着移动方向D1自由地移动。

另外，在剥离位置P的附近固定有剥离构件24。自显示面板2的表面21剥离的保护薄膜22的表面滑动接触于剥离构件24，并被引导而自移动方向D1转向至剥离方向D2。但是，剥离构件24并不限于被固定的结构，例如也可以由能够利用来自被剥离的保护薄膜22进行作用的力进行旋转的辊等构成。

在该情况下，当使保护薄膜22自显示面板2的表面21剥离时，力沿图4中箭头D2所示的剥离方向作用于保护薄膜22。在连续地剥离保护薄膜22的情况下，利用在保护薄膜22的粘合剂与显示面板2的表面21之间产生的粘合力将显示面板2沿移动方向D1拉拽，力沿图4中箭头D3所示的方向作用于显示面板2。能够利用剥离该保护薄膜22时作用于显示面板2的力来使保持部11沿移动方向D1移动。

在该例子中，通过自显示面板2的表面21连续地剥离保护薄膜22，能够利用剥离保护薄膜22时作用于显示面板2的力来使保持部11稳定地移动。因而，即使是不具有移动机构120的简单的结构，也能够使测量结果不易产生偏差，能够精度良好地测量显示面板2的表面21的静电压。

4.其他变形例

用于使保护薄膜22自显示面板2的表面21剥离的剥离机构12并不限于将保护薄膜22卷绕于卷绕辊123那样的结构，也可以是仅通过拉拽保护薄膜22来使保护薄膜22剥离那样的结构等。

在以上的实施方式中，说明了显示面板2是液晶面板的情况。但是，本发明并不限于液晶面板，还能够应用于有机EL(Electro Luminescence)面板等其他显示面板。

另外，在以上的实施方式中，说明了使用静电压测量装置1来自动地测量显示面板2的表面21的静电压那样的结构。但是，并不限于这样的结构，也可以是，通过用户进行操作，从而利用手动来进行剥离步骤和测量步骤中的至少一者。

5.静电压测量的实验结果

以下，说明使用静电压测量装置以多个测量条件来测量显示面板的表面的静电压的结果。在测量中使用的显示面板2的尺寸是JIS(日本工业标准)中的A4尺寸。本发明的静电压测量装置还能够使用于A4尺寸以外的显示面板，但尺寸越大的显示面板越容易产生因静电压导致的显示面板的故障等，因此，本发明使用于A4尺寸以上的显示面板的价值较高。

在以各测量条件进行测量时，自同一批的卷状物随机地切出各100张保护薄膜，将其贴合在显示面板上，从而制作了100个测量对象物。随后，将这些测量对象物依次设于静电压测量装置，通过在各显示面板的中央部的1点测量静电压，从而基于该测量结果计算出标准偏差。其结果表示在以下的表1中。

【表1】

(1)实施例1

通过不使测量器移动而使显示面板沿移动方向D1移动，从而一边以30m/min的剥离速度剥离保护薄膜，一边在与显示面板的表面隔开30mm的间隔的位置处利用测量器测量静电压，所测量到的结果是上述表1中的实施例1对应的结果。按照该测量结果，可知，在实施例1中，标准偏差为0.013这样比较小的值(小于0.05)，能够精度良好地测量静电压。

(2)实施例2

通过不使测量器移动而使显示面板沿移动方向D1移动，从而一边以10m/min的剥离速度剥离保护薄膜，一边在与显示面板的表面隔开30mm的间隔的位置处利用测量器来测量静电压，所测量到的结果是上述表1中的实施例2对应的结果。按照该测量结果，可知，在实施例2中，标准偏差是0.020这样比较小的值(小于0.05)，能够精度良好地测量静电压。

(3)实施例3

通过不使测量器移动而使显示面板沿移动方向D1移动，从而一边以100m/min的剥离速度剥离保护薄膜，一边在与显示面板的表面隔开30mm的间隔的位置处利用测量器来测量静电压，所测量到的结果是上述表1中的实施例3对应的结果。按照该测量结果，可知，在实施例3中，标准偏差是0.031这样比较小的值(小于0.05)，能够精度良好地测量静电压。

(4)实施例4

通过不使测量器移动而使显示面板沿移动方向D1移动，从而一边以30m/min的剥离速度剥离保护薄膜，一边在与显示面板的表面隔开5mm的间隔的位置处利用测量器来测量静电压，所测量到的结果是上述表1中的实施例4对应的结果。按照该测量结果，可知，在实施例4中，标准偏差是0.031这样比较小的值(小于0.05)，能够精度良好地测量静电压。

(5)实施例5

通过不使测量器移动而使显示面板沿移动方向D1移动，从而一边以30m/min的剥离速度剥离保护薄膜，一边在与显示面板的表面隔开50mm的间隔的位置处利用测量器来测量静电压，所测量到的结果是上述表1中的实施例5对应的结果。按照该测量结果，可知，在实施例5中，标准偏差是0.011这样比较小的值(小于0.05)，能够精度良好地测量静电压。

(6)比较例1

通过不使测量器移动而使显示面板沿移动方向D1移动，从而一边以30m/min的剥离速度剥离保护薄膜，一边在与显示面板的背面隔开30mm的间隔的位置处利用测量器来测量静电压，所测量到的结果是上述表1中的比较例1对应的结果。具体而言，使用治具将测量器安装于保持部的背面，并在保持部的与测量点(显示面板的中央部的1点)相对应的位置设置通孔，从而测量了显示面板的背面的静电压。按照该测量结果，可知，在比较例1中，标准偏差是0.032这样比较小的值(小于0.05)。

在比较例1中，不仅针对显示面板的背面利用测量器测量静电压，还同时在与表面隔开30mm间隔的位置处利用测量器测量静电压，并计算出标准偏差。此时的标准偏差为0.069这样比较大的值(0.05以上)。如此，由于在测量显示面板的背面的静电压时和测量表面的静电压时标准偏差存在较大的偏差，因此可知，与实施例1～实施例5的情况相比，在比较例1中，静电压的测量精度较低。

(7)比较例2

一边不使显示面板移动而以30m/min的剥离速度剥离保护薄膜，一边使测量器沿与移动方向D1相反的方向移动，在与显示面板的表面隔开30mm的间隔的位置处利用测量器测量静电压，所测量到的结果是上述表1中的比较例2对应的结果。按照该测量结果，可知，在比较例2中，标准偏差是0.19这样比较大的值(0.05以上)，与实施例1～实施例5的情况相比，静电压的测量精度较低。

(8)参考例1

通过不使测量器移动而使显示面板沿移动方向D1移动，从而一边以30m/min的剥离速度剥离保护薄膜，一边在与显示面板的表面隔开3mm的间隔的位置处利用测量器来测量静电压，所测量到的结果是上述表1中的参考例1对应的结果。按照该测量结果，可知，在参考例1中，标准偏差是0.12这样比较大的值(0.05以上)，与实施例1～实施例5的情况相比，静电压的测量精度较低。

由以上所述的实验结果可知，使保护薄膜自显示面板剥离时的剥离速度(保持部的移动速度)优选为10m/min～100m/min。另外，可知，优选的是，测量器以与显示面板的表面相对的方式配置，且该测量器与显示面板的表面之间的间隔为5mm～50mm。

Claims (5)

1.一种静电压测量装置，其用于测量在将贴合于显示面板的表面的保护薄膜剥离时的静电压，其特征在于，

该静电压测量装置包括：

保持部，其保持所述显示面板；

剥离机构，其通过在对所述保护薄膜施加有张力的状态下使所述保持部沿预定的移动方向移动，来使所述保护薄膜自所述显示面板的表面剥离；以及

测量器，该测量器在比自所述显示面板的表面剥离所述保护薄膜的位置靠所述移动方向的下游侧处，与所述表面相对且相对于所述剥离的位置固定于规定位置，并测量所述表面的静电压，

所述测量器以隔开30mm～50mm的间隔地与所述显示面板的表面相对的方式固定在规定位置。

2.根据权利要求1所述的静电压测量装置，其特征在于，

使所述保护薄膜自所述显示面板的表面剥离时的所述保持部的移动速度为10m/min～100m/min。

3.根据权利要求1或2所述的静电压测量装置，其特征在于，

所述剥离机构具有使所述保持部以设定好的移动速度沿所述移动方向移动的移动机构。

4.根据权利要求1或2所述的静电压测量装置，其特征在于，

所述保持部沿所述移动方向移动自如，

所述剥离机构利用在自所述显示面板的表面剥离所述保护薄膜时作用于所述显示面板的力来使所述保持部沿所述移动方向移动。

5.一种静电压测量方法，其用于测量在将贴合于显示面板的表面的保护薄膜剥离时的静电压，其特征在于，

该静电压测量方法包括以下步骤：

剥离步骤，通过在对所述保护薄膜施加有张力的状态下使保持所述显示面板的保持部沿预定的移动方向移动，来使所述保护薄膜自所述显示面板的表面剥离；以及

测量步骤，利用在比自所述显示面板的表面剥离所述保护薄膜的位置靠所述移动方向的下游侧处、与所述表面相对且相对于所述剥离的位置固定于规定位置的测量器，来测量所述表面的静电压，

所述测量器以隔开30mm～50mm的间隔地与所述显示面板的表面相对的方式固定在规定位置。