CN107850609A - 自动分析装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实现一种自动分析装置,其具有为了接近检体容器设置部而所需进行的移动范围较小、且无需从检体设置部卸下也可移动的取样器防护部。取样器防护部(26)的移动方向为检体容器架设机构(1)的垂直方向以及检体容器架设机构(1)的上方区域内的水平方向,从而无需将取样器防护部(26)移动到检体容器架设机构(1)的上方区域外,就能够接近检体容器。因此,能够实现一种自动分析装置,其具有为了接近检体设置部而所需进行的移动范围较小、且无需从检体容器架设机构(1)卸下也可移动的取样器防护部(26)。
Description
技术领域
本发明涉及一种对血液和尿液等活体样本中的成分进行分析的自动分析装置。
背景技术
在临床检查用的自动分析装置中,搭载有以抽吸及吐出检体以及试剂等为目的的取样器。出于检体及试剂的微量分注等目的,自动分析装置的取样器具有前端又尖又细的形状。
在自动分析装置中,为了确保操作者的安全性,而需要采用降低操作者的手指与取样器前端部接触的风险的结构和对策。其中之一是取样器防护部,此取样器防护部是以限制操作者接近(access)取样器前端部或唤起对接近取样器前端部的注意为目的,且被设置在取样器的轨道周边的构件。
作为取样器防护部的一个示例,有专利文献1中记载的检体接触防止板。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利特开2006-284609号公报
发明内容
发明所要解决的技术问题
上述取样器防护部以为了确保操作者的安全性而限制对取样器前端部的接近以及唤起对取样器前端部的注意为目的,被设置在取样器前端部的轨道周边。其结果使得取样器防护部具有限制操作者接近检体设置部的功能,该功能有可能同时会造成对操作便利性的损害。
此处,专利文献1中记载的检体接触防止板采用若操作员用手按下则从样本盘上进行退避的结构。即,专利文献1中记载的检体接触防止板采用在下方部形成支点,通过以此支点为中心旋转来从样本盘进行退避的结构。
若如专利文献1中记载的检体接触防止板那样采用能够从样本盘上进行退避的结构,则操作者能够接近由检体接触防止板进行了防护的区域。
然而,在专利文献1中记载的检体接触防止板的情况下,为了从样本盘上进行退避而所需要的动作范围较大,所以不得不确保用于此的空间。
虽然若是大型的自动分析装置,则能确保为了使所述检体接触防止板从样本盘上进行退避所需要的动作范围(动作空间),但在小型的自动分析装置中较难确保缩退动作空间。
因此,在将检体接触防止板应用于小型的自动分析装置的情况下,操作者为了接近由检体接触防止板所防护的区域,而需要将检体接触防止板从自动分析装置完全卸下,从而操作者的操作变得繁杂,进而导致检体的分析效率降低。
本发明的目的在于实现一种自动分析装置,该自动分析装置具有为了接近检体容器设置部而所需进行的移动范围较小、且无需从检体容器设置部卸下也可移动的取样器防护部。
解决技术问题所采用的技术方案
为了达成上述目的,本发明具有下述结构。
本发明的自动分析装置中,具备:检体容器配置机构;试剂容器配置机构;反应容器配置机构;检体取样机构,该检体取样机构具有取样器,该取样器从配置在检体容器配置机构中的检体容器中抽吸检体,并向配置在反应容器配置机构中的反应容器吐出;试剂取样机构,该试剂取样机构从配置在试剂容器配置机构中的试剂容器中抽吸试剂,并向反应容器吐出;光度计,该光度计对反应容器内的检体进行分析;控制部,该控制部对检体容器配置机构、试剂容器配置机构、反应容器配置机构、检体取样机构、试剂取样机构的动作进行控制;取样器防护部,该取样器防护部具有当检体取样机构的取样器位于检体容器配置机构上时包围取样器的防护壁;以及上下水平方向移动限制部,该上下水平方向移动限制部在取样器防护部位于检体容器配置机构上的状态下,对取样器防护部向上下方向及水平方向的移动进行限制。
发明效果
本发明的目的在于,能够实现一种自动分析装置,其具有为了接近检体容器设置部而所需进行的移动范围较小、且无需从检体容器设置部卸下也可移动的取样器防护部。
附图说明
图1是应用本发明一实施例的自动分析装置的整体结构图。
图2是本发明一实施例中检体容器架设机构及取样器防护部的放大立体图。
图3是本发明一实施例中取样器防护部的立体图。
图4是本发明一实施例中取样器防护部的俯视图。
图5是示出本发明一实施例中将取样器防护部向垂直方向移动前的状态下的取样器防护部设置与否检测传感器与传感器检测面31的位置关系的图。
图6是示出本发明一实施例中将取样器防护部向垂直方向移动后的状态的图。
图7是示出本发明一实施例中取样器防护部的设置状态以及向水平方向移动时的状态的图。
图8是示出本发明一实施例中取样器防护部的设置状态以及向水平方向移动时的状态的图。
图9是示出本发明一实施例中取样器防护部的设置状态以及向水平方向移动时的状态的图。
图10是示出本发明一实施例中快门(shutter)、取样器防护部设置与否检测传感器以及取样器防护部轴承的结构及位置关系的图。
图11是示出本发明一实施例中取样器防护部的具体部位的图。
图12是示出本发明一实施例中取样器防护部的具体部位的图。
图13是示出本发明一实施例中取样器防护部轴承内的取样器防护部引导部的结构的图。
图14是示出本发明一实施例中取样器防护部被安装到检体容器架设机构的状态下,取样嘴、取样器防护部、取样器防护部设置与否检测传感器、传感器检测面、快门的位置关系的图。
图15是示出本发明一实施例中取样器防护部从检体容器架设机构被卸下的状态下,取样嘴、取样器防护部设置与否检测传感器、传感器检测面、快门的位置关系的图。
图16是示出了本发明一实施例中利用取样器防护部设置与否检测传感器的警告发生逻辑的流程图。
具体实施方式
以下,参照附图,说明本发明的实施方式。
另外,在用于说明本实施方式的所有附图中,对具有相同功能的部分原则上标注相同标号,并且尽可能省略对其的重复说明。
实施例
图1是应用本发明一实施例的自动分析装置的整体结构图。
图1中,自动分析装置具备:检体容器架设机构(检体容器配置机构)1、反应槽机构(反应容器配置机构)2、试剂保冷机构(试剂容器配置机构)3、光度计7、光源25、以及带触摸屏的LCD(表示部)16。
反应槽机构2被设置为可间歇性旋转,在盘上沿周向安装有由透光性材料构成的多个反应单元19。反应单元19由恒温槽4来维持在规定温度(例如,37℃)。恒温槽4内的流体由恒温维持装置20来进行温度调整。
容纳血液、尿液等活体样本的多个检体容器21在图示的示例中双层地沿周向放置在检体容器架设机构1上。并且,在检体容器架设机构1的附近配置有检体取样机构5。此检体取样机构5主要由可动臂22、以及安装于可动臂22的取样嘴23构成。通过此结构,在样本分注时,检体取样机构5的取样嘴(取样器)23通过可动臂22来适当移动到分注位置,从位于检体容器架设机构1的抽吸位置的检体容器21中抽吸规定量的样本,再将该样本吐出到处于反应槽机构2上的吐出位置的反应单元19内。
在试剂保冷机构3中沿试剂保冷机构3的周向分别放置有多个试剂瓶24。这些试剂瓶24中容纳有与可由自动分析装置进行分析的分析项目相对应的试剂液。
另外,在试剂保冷机构3的附近配置有构成与检体取样机构5大致一样的机构的试剂移液(pipetting)机构(试剂取样机构)9。在试剂分注时,利用具备此试剂移液机构9的移液管嘴,来从被定位在反应槽机构2上的试剂接收位置上的与检查项目相对应的试剂瓶24中抽吸试剂,并向相对应的反应单元19内吐出。
在被反应槽机构2、试剂保冷机构3以及试剂移液机构9包围的位置上配置有搅拌机构8。反应单元19内所容纳的样本与试剂的混合液由此搅拌机构8来进行搅拌,从而其反应得到促进。
此处,光源25被配置在反应槽机构2的中心部附近,光度计7被配置在反应槽机构2的外周侧,完成搅拌后的反应单元19的列进行旋转移动以经过被光源25与光度计7夹住的测光位置。另外,光源25和光度计7构成光检测系统。光度计7是检测透射光或散射光的多波长光度计。
在反应槽机构2的旋转动作期间,各反应单元19内的样本与试剂的反应液在每次横穿过光度计7的前方时被测光。对每个样本测定出的散射光的模拟信号经由接口13而被输入到Log转换·A/D转换器56。使用完毕的反应单元19由配置在反应槽机构2的附近的反应单元清洗机构6来清洗内部,从而能够进行反复使用。
接着,对图1的自动分析装置中的控制系统以及信号处理系统进行简单说明。微型计算机(控制部)14经由接口13而与样本分注控制部10、试剂分注控制部12、洗净水泵11连接。微型计算机14对样本分注控制部10发送指令,来控制样本的分注动作。并且,微型计算机14对试剂分注控制部12发送指令,来控制试剂的分注动作。
另外,微型计算机14连接有用于打印的打印机17、存储介质18。存储介质18例如由硬盘存储器或外部存储器构成。存储介质18中存储各画面的显示等级、分析参数、分析项目请求内容、标定结果、分析结果等信息。
接着,说明图1的自动分析装置中的样本的分析动作。可由自动分析装置进行分析的项目的相关分析参数预先经由带触摸屏的LCD16等的信息输入装置被输入,并被存储在存储介质18中。操作者使用操作功能画面来对各个样本选择所请求的检查项目。
此时,还从带触摸屏的LCD16输入患者ID等信息。为了分析对各样本所指示的检查项目,检体取样机构5的取样嘴23按照分析参数从检体容器21向反应单元19分注规定量的样本。
分注有样本的反应单元19通过反应槽机构2的旋转而被移送,并停止在试剂接收位置。试剂移液机构9的移液管嘴按照相对应的检查项目的分析参数,向反应单元19分注规定量的试剂液。样本与试剂的分注顺序也可以与本示例相反地为试剂在样本之前。
然后,利用搅拌机构8来进行样本与试剂的搅拌,以使样本与试剂混合。此反应单元19在横穿过测光位置时,由光度计7来对反应液的透射光或散射光进行测光。进行了测光的透射光或散射光的测光结果由Log转换·A/D转换器15转换成与光量成比例的数值,再经由带触摸屏的LCD16存入存储介质18。
使用该转换得到的数值,并基于根据每个检查项目所指定的分析法而预先测定出的校准曲线(calibration curve),来算出浓度数据。作为各检查项目的分析结果的成分浓度数据被输出到打印机17。
在执行以上的测定动作之前,操作者经由带触摸屏的LCD16来进行分析测定所需的各种参数的设定和样本的登录。另外,操作者根据带触摸屏的LCD16或来自打印机17的打印来确认测定后的分析结果。
图1中,取样器防护部26被安装到检体容器架设机构1。并且,取样器防护部设置与否检测传感器30经由接口13与微型计算机14相连接。
图2是本发明一实施例中检体容器架设机构1及取样器防护部26的放大立体图。
图2中,取样器防护部26通过被支承并固定于检体容器架设机构1的中央部及外周部而位于检体容器架设机构1的上部。取样器防护部26中,形成沿着检体取样机构5的取样嘴23的移动轨道的防护壁27,利用该防护壁27能遮挡操作者接近取样机构5的取样嘴23。
图3是取样器防护部26的立体图,图4是取样器防护部26的俯视图,这些图3、图4是示出取样器防护部26从固定于检体容器架设机构1的位置在不卸下的情况下进行移动后的状态的图。
图3及图4中,取样器防护部26是在被安装到检体容器架设机构1的状态下可沿垂直方向28及水平方向29移动的结构,是通过使其移动从而能够接近因取样器防护部26的设置而被限制接近的区域的机构。例如,取样器防护部26可沿垂直方向移动5~10cm,向水平方向(转动方向)可移动被取样器防护部26限制接近的左右各两个样本容器的量。
图5是示出将取样器防护部26向垂直方向移动前的状态下的取样器防护部设置与否检测传感器30与传感器检测面31的位置关系的图。图6是示出将取样器防护部26向垂直方向移动后的状态的图。
图5中,传感器检测面31是将取样器防护部26向检体容器架设机构1的外周部设置的设置部的外表面部,取样器防护部设置与否检测传感器30通过面向传感器检测面31来检测传感器检测面31,对取样器防护部26设置于检体容器架设机构1的情况进行监视。
图6中,取样器防护部26可沿垂直方向28移动,当从设置部位进行了移动时,由取样器防护部设置与否检测传感器30检测到取样器防护部26已从检体容器架设机构1的设置部取下。
图7、图8、图9是示出取样器防护部26的设置状态以及向水平方向移动时的状态的图。取样器防护部26在向图6所示的垂直方向被举起的状态下,可沿水平方向移动。在沿水平方向进行了移动时,外周壁35(图11所示)位于取样器移动轨道33上,由此防止用户与取样器(取样嘴23)的接触,从而维持用户的安全。
图10是示出快门32、取样器防护部设置与否检测传感器30以及取样器防护部轴承34的结构及位置关系的图。图10中,快门32被配置在检体容器移动机构1的外周,通常,当取样器防护部26被设置到检体容器移动机构1时,快门32位于被容纳在取样器防护部26的下部的状态。然后,当从检体容器移动机构1卸下取样器防护部26时,快门32从容纳位置向上方移动,并位于取样器移动轨道33上,由此来维持用户的安全。关于具体内容将参照图14、15进行说明。
取样器防护部轴承34位于检体容器架设机构1的中央,限制取样器防护部26的设置、移动方向以及移动范围。取样器防护部轴承34上形成有:插入后文将要阐述的取样器防护部26的轴40的轴插入孔41、以及插入后文将要阐述的导销36的取样器防护部引导部39。
图11及图12是示出取样器防护部26的具体部位的图。图11及图12中,轴40被插入到轴承34的轴插入孔41。该轴40形成于支承部43,导板42形成在支承部43的端部,是与轴40相平行地延伸的圆弧状的板。此导板42上形成有导销36。如上所述,该导销36被插入到轴承34的取样器引导部39。
导销36具有下述功能,即:当取样器防护部26被设置到取样器防护部轴承34上时,通过与取样器引导部39的组合来限制取样器防护部26的移动方向和移动范围。
防护板44上形成内周分注口37、外周分注口38。此外,防护板44上形成有防护壁27。防护壁27是与检体容器配置机构1上的检体取样机构5的取样器移动轨道平行,且向上下方向立起的壁状构件。
防护板44具有沿水平方向延伸的接近限制部分。外周壁35从防护板44的端部沿平行于上述轴40的方向延伸。外周壁35由检体容器架设机构1的外周部来保持。另外,在机构外周壁35的端部面形成有传感器检测面31。
上述内周分注口37、外周分注口38分别是用于使取样嘴23接近位于取样器防护部26的下方的检体容器21的取样器防护部26内的开放部。
图13是示出取样器防护部轴承34内的取样器防护部引导部39的结构的图。取样器防护部引导部39形成为用于使图11所示的导销36通过的凹槽形状,限制取样器防护部26向垂直、水平方向的移动范围。
即,取样器引导部39中形成有:从取样器防护部轴承34的上表面向下方延伸的插入及取出用凹槽39a;与该插入及取出用凹槽39a连通、沿水平方向延伸的水平方向移动用凹槽39b;以及与该水平方向移动用凹槽39b连通、沿垂直方向延伸的固定用凹槽39c。
在将取样器防护部26安装到检体容器架设机构1的情况下,将取样器防护部26的轴40插入轴承34的轴插入孔41,并且将导销36插入到插入及取出用凹槽39a。然后,使导销36沿水平方向移动用凹槽39b向水平方向移动。接着,使导销36沿固定用凹槽39c向垂直方向移动,并且将轴40插入轴插入孔41。
在将取样器防护部26从固定用凹槽39c卸下的情况下,与上述反方向地,使取样器防护部26移动。
在不将取样器防护部26从检体容器架设机构1卸下的情况下接近检体容器21时,将导销36沿着固定用凹槽39c向上移动,再使导销36沿着水平方向移动用凹槽39b向水平方向移动,由此能够接近检体容器21。接近检体容器21结束后,通过使导销36沿着固定用凹槽39c向下移动,能够将取样器防护部26固定到检体容器架设机构1。
图14是示出在取样器防护部26被安装到检体容器架设机构1的状态下,取样嘴23、取样器防护部26、取样器防护部设置与否检测传感器30、传感器检测面31、快门32的位置关系的图。图15是示出在取样器防护部26从检体容器架设机构1被卸下的状态下,取样嘴23、取样器防护部设置与否检测传感器30、传感器检测面31、快门32的位置关系的图。
如图14所示,在取样器防护部26被安装到检体容器架设机构1的状态下,快门32位于取样器防护部26的下方,取样器防护部设置与否检测传感器30与传感器检测面31处于彼此相对的位置关系。在取样器防护部设置与否检测传感器30与传感器检测面31彼此相对的情况下,取样器防护部设置与否检测传感器30将检测信号经由接口13向微型计算机14传输。由此,微型计算机14识别出取样器防护部26被安装到检体容器架设机构1的情况。
如图15所示,在将取样器防护部26从检体容器架设机构1卸下的状态下,快门32向上方移动,位于取样器轨道移动33(如图7~图9所示)上。由此,防止取样嘴23向用户侧移动,从而维持用户的安全。另外,来自取样器防护部设置与否检测传感器30的检测传感器检测面31的信号不再被传输到微型计算机14。由此,微型计算机14识别出取样器防护部26从检体容器架设机构1被卸下的情况。
图16是示出了利用取样器防护部设置与否检测传感器30的警告发生逻辑的流程图。
在图16的步骤S1中,由自动分析装置来进行检体容器架设机构1、检体取样机构5的动作准备。然后,在步骤S2中,使取样器防护部设置与否检测传感器30处于动作状态。接着,在步骤S3中,微型计算机14对取样器防护部设置与否检测传感器30是否检测到取样器防护部26进行判断。在步骤S3中,当取样器防护部设置与否检测传感器30检测到取样器防护部26时,进入步骤S8以进行通常的分析动作。
在步骤S3中,当取样器防护部设置与否检测传感器30未检测到取样器防护部26时,进入步骤S4。然后,在步骤S4中,微型计算机14使检体容器架设机构1及检体取样机构5的动作停止(利用快门进行取样嘴23(取样器)的切断)。
然后,在步骤S5中,微型计算机14在带触摸屏的LCD16上显示警告(取样器防护部被卸下的警报)。
然后,在步骤S6中,若微型计算机14检测到取样器防护部26已被设置到正确的位置,则进入步骤S7,微型计算机14解除警告,并返回步骤S1。
当在分析期间取样器防护部26从检体容器架设机构1被卸下,然后取样器防护部26再次被设置到检体容器架设机构1,并重新开始分析动作时,也可以在分析结果数据中附加警告。
如上述动作那样对取样器防护部26的设置与否进行检测,在未设置取样器防护部26时,能够通过进行警告显示来维持用户的安全。
如上所述,根据本发明的一实施例,取样器防护部26能够从设置于检体容器架设机构1的状态起向检体容器架设机构1的上方移动,利用取样器防护部轴承34的水平方向移动用凹槽39b,能够限制取样器防护部26向上方的移动,并且使向水平方向的移动在一定范围内进行。
由此,能够在将取样器防护部26已被安装到检体容器架设机构1的状态下,接近受到取样器防护部26防护的检体容器。取样器防护部26的移动方向为检体容器架设机构1的上下方向(垂直方向)、以及检体容器架设机构1的上方区域内的水平方向,无需将取样器防护部26移动到检体容器架设机构1的上方区域外也可接近检体容器。
因此,能够实现一种自动分析装置,其具有为了接近检体设置部而所需进行的移动范围较小、且无需从检体设置部卸下也可移动的取样器防护部。根据本发明,即使是小型的自动分析装置,无需将取样器防护部从检体容器设置部(检体容器架设机构)卸下也可对其移动。
此外,根据本发明的一实施例,当将取样器防护部26从检体容器架设机构1卸下时,由于能够利用快门32来限制取样嘴23(取样器)的移动,保护操作者以免接近取样嘴23,因此能够提高安全性。
另外,上述示例采用了下述结构:通过将导销36从插入及取出用凹槽39a中取出并且将轴40从轴插入孔41中取出,从而能够将取样器防护部26从检体容器架设机构1卸下的结构,但也可以采用在轴承34以及取样器防护部26的支承部43形成限制取样器防护部26的上下水平方向的移动的其他结构的上下水平方向移动限制部。
例如,也可采用在取样器防护部轴承34的外表面上部形成具有纵向凹槽的檐状构件,并将导销36插入檐状构件的纵向凹槽的结构。在此情况下,也可以在取样器防护部轴承34形成限制取样器防护部26的转动的止动构件。
另外,也可采用下述结构:将取样器防护部轴承34设为圆柱形状,将取样器防护部26的支承部43设为圆筒形状,并将此圆筒形状的支承部43套在圆柱形状的取样器防护部轴承34上,由此对取样器防护部26进行支承。在此情况下,在轴承34的外表面形成突部,在圆筒形状的支承部43上形成十字形状的凹槽,将轴承34的外表面所形成的突部插入此凹槽。由此,能够限制取样器防护部26的上下水平方向的移动。
另外,在上述示例中采用了由检体容器架设机构(检体容器配置机构)1来支承取样器防护部26的结构,但也可采用下述结构,即:不是由检体容器架设机构1而由检体容器架设机构的外周部来支承取样器防护部。
标号说明
1 检体容器架设机构
2 反应槽机构
3 试剂保冷机构
4 恒温槽
5 检体取样机构
6 反应单元清洗机构
7 光度计
8 搅拌机构
9 试剂移液机构
10 样本分注控制部
11 清洗水泵
12 试剂分注控制部
13 接口
14 微型计算机
15 Log转换·A/D转换器
16 带触摸屏的LCD
17 打印机
18 存储介质
19 反应单元
20 恒温维持装置
21 检体容器
22 可动臂
23 取样嘴
24 试剂瓶
25 光源
26 取样器防护部
27 防护壁
28 检体取样机构轨道(垂直方向)
29 检体取样机构轨道(水平方向)
30 取样器防护部设置与否检测传感器
31 传感器检测面
32 快门
33 取样器轨道
34 取样器防护部轴承
35 外周壁
36 导销
37 分注口1
38 分注口2
39 取样器防护部引导部
39a 插入及取出用凹槽
39b 水平方向移动用凹槽
39c 固定用凹槽
40 轴
41 轴插入孔
42 导板
43 指示部
44 防护板
Claims (11)
1.一种自动分析装置,其特征在于,包括:
检体容器配置机构,该检体容器配置机构用于配置检体容器,并对所配置的检体容器进行移动;
试剂容器配置机构,该试剂容器配置机构用于配置试剂容器;
反应容器配置机构,该反应容器配置机构用于配置使检体与试剂反应的反应容器;
检体取样机构,该检体取样机构具有取样器,该取样器从配置在所述检体容器配置机构中的检体容器中抽吸检体,向配置在所述反应容器配置机构中的反应容器吐出;
试剂取样机构,该试剂取样机构从配置在所述试剂容器配置机构中的试剂容器中抽吸试剂,向配置在所述反应容器配置机构中的反应容器吐出;
光度计,该光度计对配置在所述反应容器配置机构中的反应容器内的检体进行分析;
控制部,该控制部对所述检体容器配置机构、所述试剂容器配置机构、所述反应容器配置机构、所述检体取样机构、所述试剂取样机构的动作进行控制;
取样器防护部,该取样器防护部具有当所述检体取样机构的取样器位于所述检体容器配置机构上时,将所述取样器包围的防护壁;以及
上下水平方向移动限制部,该上下水平方向移动限制部在所述取样器防护部位于所述检体容器配置机构上的状态下,对所述取样器防护部向上下方向及水平方向的移动进行限制。
2.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述上下水平方向移动限制部包括:形成于所述检体容器配置机构的中央部的轴承;以及与所述取样器防护部的防护壁形成为一体,且被所述检体容器配置机构的轴承所支承的支承部,所述轴承以及所述取样器防护部的支承部在所述取样器防护部的所述支承部被所述轴承支承的状态下,对所述取样器防护部向上下方向及水平方向的移动进行限制。
3.如权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,
所述取样器防护部的支承部具有:轴;与该轴相平行地进行延伸的导板;以及形成于该导板的导销,
所述轴承具有:轴插入孔;从所述轴承的上表面向上下方向延伸的插入及取出用凹槽;与该插入及取出用凹槽连通、且沿水平方向延伸的水平方向移动用凹槽;以及与该插入及取出用凹槽的中央部连通、且沿上下方向延伸的固定用凹槽,
所述取样器防护部的轴被插入到所述轴承插入孔,形成于所述导板的导销被插入到所述插入及取出用凹槽,再穿过所述水平方向移动用凹槽而插入到所述固定用凹槽,从而所述取样器防护部被所述轴承支承。
4.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述取样器防护部的防护壁是与所述检体容器配置机构上的所述检体取样机构的所述取样器移动轨道相平行,且向上下方向立起的壁状构件。
5.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述取样器防护部由所述检体容器配置机构的中央部和所述检体容器配置机构的外周部来保持。
6.如权利要求5所述的自动分析装置,其特征在于,
具备传感器,该传感器对所述取样器防护部是否被保持在所述检体配置机构上进行检测。
7.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述控制部若基于来自所述传感器的信号,检测到所述取样器防护部未被保持在所述检体配置机构上,则使所述检体取样机构及所述检体容器配置机构的动作停止。
8.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述取样器防护部具有:支承于所述检体容器配置机构的中央部的支承部;以及由所述检体容器配置机构的外周部支承的外壁部,在所述取样器防护部以所述支承部为中心沿垂直方向及水平方向移动的范围内,所述取样器防护部的所述外壁部位于所述检体取样机构的所述取样器轨道上,从而防止所述取样器向所述检体容器架设机构上侵入。
9.如权利要求3所述的自动分析装置,其特征在于,
具备快门,该快门配置在所述检体容器配置机构的外周部侧,若将所述取样器防护部从所述检体容器排气机构卸下,则该快门移动到所述取样器的轨道上,从而防止所述取样器向所述检体容器配置机构上侵入。
10.如权利要求3所述的自动分析装置,其特征在于,
具备:取样器防护部设置与否检测传感器,该取样器防护部设置与否检测传感器检测所述取样器防护部是否被安装到所述检体容器配置机构;以及显示部,若所述取样器防护部设置与否检测传感器检测到所述取样器防护部未被安装到所述检体容器配置机构,则所述控制部使所述显示部显示警告。
11.如权利要求10所述的自动分析装置,其特征在于,
当在检体分析动作期间利用取样器防护部设置与否检测传感器检测到所述取样器防护部从所述检体容器配置机构卸下、并再次安装了所述检体容器配置机构时,所述控制部在所述检体分析动作的分析结果数据中附加警告,并使所述显示部显示警告。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014-154868 | 2014-07-30 | ||
JP2014154868 | 2014-07-30 | ||
PCT/JP2015/066765 WO2016017294A1 (ja) | 2014-07-30 | 2015-06-10 | 自動分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN107850609A true CN107850609A (zh) | 2018-03-27 |
CN107850609B CN107850609B (zh) | 2020-04-21 |
Family
ID=55217199
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201580032829.2A Active CN107850609B (zh) | 2014-07-30 | 2015-06-10 | 自动分析装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10073111B2 (zh) |
EP (1) | EP3176586B1 (zh) |
JP (1) | JP6181313B2 (zh) |
CN (1) | CN107850609B (zh) |
WO (1) | WO2016017294A1 (zh) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6886243B2 (ja) * | 2016-02-25 | 2021-06-16 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
JP6869844B2 (ja) * | 2017-07-26 | 2021-05-12 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000131328A (ja) * | 1998-10-29 | 2000-05-12 | Kyoto Electron Mfg Co Ltd | サンプルチェンジャー |
EP1041386A2 (en) * | 1999-03-25 | 2000-10-04 | Tosoh Corporation | Analyzer |
CN1570650A (zh) * | 2003-04-16 | 2005-01-26 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置 |
CN102023224A (zh) * | 2009-09-16 | 2011-04-20 | 希森美康株式会社 | 回收单元以及检测体处理装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3764326B2 (ja) | 2000-08-28 | 2006-04-05 | 株式会社日立製作所 | 自動分析装置 |
JP4457091B2 (ja) | 2006-07-31 | 2010-04-28 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
JP5175679B2 (ja) | 2008-10-08 | 2013-04-03 | 株式会社東芝 | 自動分析装置及びその収納庫の蓋駆動方法 |
JP5903054B2 (ja) | 2013-02-01 | 2016-04-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
JP2014211401A (ja) | 2013-04-22 | 2014-11-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
-
2015
- 2015-06-10 CN CN201580032829.2A patent/CN107850609B/zh active Active
- 2015-06-10 WO PCT/JP2015/066765 patent/WO2016017294A1/ja active Application Filing
- 2015-06-10 US US15/319,416 patent/US10073111B2/en active Active
- 2015-06-10 EP EP15826394.7A patent/EP3176586B1/en active Active
- 2015-06-10 JP JP2016538202A patent/JP6181313B2/ja active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3176586A1 (en) | 2017-06-07 |
EP3176586B1 (en) | 2019-02-06 |
CN107850609B (zh) | 2020-04-21 |
US20170153259A1 (en) | 2017-06-01 |
JPWO2016017294A1 (ja) | 2017-04-27 |
WO2016017294A1 (ja) | 2016-02-04 |
JP6181313B2 (ja) | 2017-08-16 |
EP3176586A4 (en) | 2018-05-30 |
US10073111B2 (en) | 2018-09-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |