CN104884942B - 极化树脂膜及其制造方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜，其极大地降低了用作光学膜时的、由显示元件产生的影像或图像的质量的劣化。本发明提供一种极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜，其通过后述的缺陷测定方法测得的点状缺陷的数量为2,000个/m2以下。＜缺陷测定方法＞使用外观检查机，按照能够以相对于LED光源为45度的角度检测缺陷的方式设置CCD摄像机，一边在其下方以20m/分钟的速度进行扫描，一边在宽度方向(相对于扫描的行进方向成直角的方向)300mm、流动方向(扫描的行进方向)150mm的长方形的范围内读取膜的缺陷。就缺陷而言，首先选定明面积为1.5mm2以下且暗面积为1.4mm2以下的缺陷。接着，为除去这些缺陷中所含的、除电晕处理以外的原因的缺陷，以具有沿着扫描的行进方向的2边的方式设定缺陷的外接矩形，仅将外接宽度为2.88mm以下、外接长度为2.3mm以下、纵横比率为－3.9～+2.7、外接矩形中的占有面积比率为4,000～6,950、且面积比率为‑3,100～+5,200的缺陷作为点状缺陷，利用外观检查机自动地对其个数进行计数。

Description

极化树脂膜及其制造方法
技术领域
本发明涉及极化树脂膜及其制造方法。
背景技术
在液晶显示器等显示装置的前面设有作为输入装置的触摸面板的显示和输入装置正在被实用化，被用于手机等便携设备和家电产品的操作面板等。使用了触摸面板的显示和输入装置通过用户按压画面上的显示，能够直观地操作设备。
在此，在使用了触摸面板的显示和输入装置中，由于触摸面板设置于显示装置的前面，因此为了提高显示装置的显示的辨认性，要求触摸面板的透明性高。
近年来，具备触摸面板的手机、以及平板电脑正在迅速普及。其显示器是近距离观看的显示器，其显示器要求具有极高的画质。
在这种显示器中，使用各种树脂膜作为光学膜，其质量会在很大程度上影响显示器的画质。
作为给该光学膜的品质带来不良影响的原因，例如可举出膜的厚度的不均匀性、树脂组合物中的添加物的析出物、树脂的未熔融物、划痕、由树脂形成的交联凝胶等。而且，根据这种原因，分别提案了解决该问题的技术(例如，专利文献1～11)。
另一方面，作为触摸面板，提出了能够检测按压的高度(强度)、且透明性高的触摸面板。
作为这种触摸面板，例如，专利文献12提出了具备总雾度值小、且透明的、含有偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物的压电体层的触摸面板。
另外，专利文献13公开了实质上不存在各向异性、且表面的划痕少的极化的偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物膜。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2003-326542号公报
专利文献2：日本特开2004-149571号公报
专利文献3：日本特开2004-330651号公报
专利文献4：日本特开2005-138562号公报
专利文献5：日本特开2006-47532号公报
专利文献6：日本特开2006-142774号公报
专利文献7：日本特开2006-154709号公报
专利文献8：日本特开2008-101166号公报
专利文献9：日本特开2010-76128号公报
专利文献10：日本特开2010-100746号公报
专利文献11：日本特开2012-118479号公报
专利文献12：日本特开2010-026938号公报
专利文献13：日本特开2011-181748号公报
发明内容
发明所要解决的课题
但是，在专利文献12记载的触摸面板中，意图使用专利文献13公开的偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物膜作为透明的压电性膜，在将该膜与显示器组合使用的情况下，尽管该膜实质上不存在各向异性、且表面的划痕少，但所得到的画质不能说是如上所述的极高的画质，可知该膜会使由显示元件产生的影像或图像的质量劣化。
因此，本发明的目的在于提供一种极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜，其极大地降低了用作光学膜时的、由显示元件产生的影像或图像的质量的劣化。
另外，本发明的进一步的目的在于提供一种能够制造点状缺陷极少的极化树脂膜(特别是极化强介电体树脂膜)的制造方法和制造装置。
用于解决课题的技术方案
本发明的发明人从种种可能性中探索出了上述的影像或图像的质量劣化的原因，结果，查明其原因在于由于电晕处理而由偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物自身形成的突起(在本说明书中，有时称为点状缺陷)。
进而，本发明的发明人查明了该点状缺陷是因电晕处理时接地电极与直接载置于其上的非极化树脂膜(例如，偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜)之间存在空气而产生的，进一步发现在通过低施加电压的电晕处理将非极化树脂膜贴附于接地电极之后，通过利用高施加电压的电晕处理实施极化，能够高度地降低该点状缺陷的产生，进一步进行研究从而完成了本发明。
即，本发明包括下面的方式。
项1.
一种极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜，通过后述的缺陷测定方法测得的点状缺陷的数量为2,000个/m2以下，
<缺陷测定方法>
使用外观检查机，按照能够以相对于LED光源为45度的角度检测缺陷的方式设置CCD摄像机，一边在其下方以20m/分钟的速度进行扫描，一边在宽度方向(相对于扫描的行进方向成直角的方向)300mm、流动方向(扫描的行进方向)150mm的长方形的范围内读取膜的缺陷，
就缺陷而言，首先选定明面积为1.5mm2以下且暗面积为1.4mm2以下的缺陷，
接着，为除去这些缺陷中所含的、除电晕处理以外的原因的缺陷，以具有沿着扫描的行进方向的2边的方式设定缺陷的外接矩形，仅将外接宽度为2.88mm以下、外接长度为0.43～2.30mm、纵横比率为－39～+27、外接矩形中的占有面积比率为4,000～6,950、且面积比率为－3,100～+5,200的缺陷作为点状缺陷，利用外观检查机自动地对其个数进行计数。
项2.
根据项1所述的极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜，点状缺陷的数量为2,000个/m2以下。
项3.
一种极化树脂膜的制造方法，包括：
工序A，通过使用在与接地电极之间施加有施加电压的第一电极的电晕处理，使直接载置于上述接地电极上的非极化树脂膜带电，通过静电将上述非极化树脂膜贴附于上述接地电极上；和
工序B，通过使用在与上述接地电极之间施加有施加电压的第二电极的电晕处理，使贴附于上述接地电极上的非极化树脂膜极化。
项4.
根据项3所述的制造方法，一边使直接载置于上述接地电极上的上述非极化树脂膜相对于上述第一电极相对移动，一边实施上述工序A，并且，
上述第一电极是在相对于该移动方向垂直的方向上配置的多个针状电极。
项5.
根据项3或4所述的制造方法，上述非极化树脂膜是奇数链尼龙膜或聚偏氟乙烯系树脂。
项6.
根据项3或4所述的制造方法，上述非极化树脂膜是聚偏氟乙烯系树脂。
项7.
根据项6所述的制造方法，上述聚偏氟乙烯系树脂是偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜。
项8.
一种极化树脂膜的制造装置，具备：
第一电极，其以与被移送的接地电极相对的方式设置，利用与上述接地电极之间的施加电压产生电晕放电，从而使载置于上述接地电极上的非极化树脂膜带电，通过静电将上述非极化树脂膜贴附于上述接地电极上；和
第二电极，其以与上述接地电极相对的方式设置于上述第一电极的下游侧，利用与上述接地电极之间的施加电压产生电晕放电，从而使贴附于上述接地电极上的上述非极化树脂膜极化。
项9.
根据项8所述的制造装置，上述第一电极由在相对于上述接地电极的移动方向垂直的方向上隔开规定间隔配置的多个针状电极构成。
项10.
根据项9所述的制造装置，上述多个针状电极以能够通过电晕放电而带电的上述非极化树脂膜的带电区域与由相邻的针状电极产生的上述非极化树脂膜的带电区域至少一部分重叠的方式设定配置间隔。
项11.
根据项7～9中任一项所述的制造装置，上述第二电极由沿相对于上述移动方向垂直的方向延伸的线状电极构成。
项12.
根据项1或2所述的极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜，其用于触摸面板。
项13.
一种触摸面板，其具有项1或2所述的极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜。
发明效果
本发明的极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜极大地降低了用作光学膜时的、由显示元件产生的影像或图像的质量的劣化。
根据本发明的制造方法，能够得到极大地降低了用作光学膜时的、由显示元件产生的影像或图像的质量的劣化的极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜。
另外，根据本发明的制造方法，能够得到减轻了表面的划痕、且实质上不存在各向异性的极化树脂膜。
附图说明
图1是表示本发明的制造方法以及该制造方法所使用的制造装置的立体示意图。
图2是表示利用针状电极实现的偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜的带电区域的说明图。
图3是表示本发明的制造方法以及该制造方法所使用的制造装置的其他实施方式的概要的示意图。
图4是本发明中使用的膜的缺陷测定方法的说明图。
具体实施方式
下面，对本说明书所使用的术语进行说明。
在本说明书中，术语“各向异性”意指膜的面内各向异性。即，例如，“不存在各向异性”是指不存在膜的面内各向异性，不是指不存在膜的膜厚方向的各向异性。
在本说明书中，“触摸位置”的“检测”意指确定触摸位置，另一方面，“触摸压力”的“检测”意指确定有无按压、速度、大小(强弱)、它们的变化、或这些参数的组合。
在本说明书中，术语“触摸”包含触摸、被触摸、按压、被按压和接触。
1.极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜
本发明的“极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜”可以是表面电荷偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜。在此，“表面电荷偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜”是对表面赋予了电荷的偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜，即，驻极体。
另外，本发明的“极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜”优选为压电性偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜。
另外，本发明的“极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜”优选为强介电性偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜。在此，“强介电性”是指即使外部没有电场也能够维持极化的性质。
在本发明中，“偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜”是由偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物形成的树脂膜。
该“偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜”除了含有偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物以外，还可以含有树脂膜中通常使用的添加剂。
偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物只要不会明显损害本发明的性质，也可以含有源自偏氟乙烯和四氟乙烯以外的单体的重复单元。通常，这样的重复单元的含有率为10摩尔％以下。作为这样的单体的例子，只要能够与偏氟乙烯单体、四氟乙烯单体共聚即可，没有限定，作为其例子，可举出：
(1)含氟单体(例如，氟乙烯(VF)、三氟乙烯(TrFE)、六氟丙烯(HFP)、1-氯-1-氟-乙烯(1,1-CFE)、1-氯-2-氟-乙烯(1,2-CFE)、1-氯-2,2-二氟乙烯(CDFE)、三氟氯乙烯(CTFE)、三氟乙烯基单体、1,1,2-三氟丁烯-4-溴-1-丁烯、1,1,2-三氟丁烯-4-硅烷-1-丁烯、全氟烷基乙烯基醚、全氟甲基乙烯基醚(PMVE)、全氟正丙基乙烯基醚(PPVE)、全氟丙烯酸酯、2,2,2-三氟乙基丙烯酸酯、2-(全氟己基)乙基丙烯酸酯)；以及，
(2)烃系单体(例如，乙烯、丙烯、马来酸酐、乙烯基醚、乙烯基酯、烯丙基缩水甘油醚、丙烯酸系单体、甲基丙烯酸系单体、醋酸乙烯酯)。
本发明的“极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜”的厚度通常为1～200μm，优选为1～100μm，更优选为1～50μm。
在透明性的观点中，该厚度优选更薄，在重视压电性的情况下，优选更厚。基于此，本发明的“极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜”的厚度可以根据其用途等适当设定。
本发明的极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜的通过后述的缺陷测定方法测得的点状缺陷的数量为2,000个/m2以下，优选为1,560个以下，更优选为1,500个/m2以下，进一步优选为560个以下，更进一步优选为240个以下，特别优选为50个以下。
由此，本发明的极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜极大地降低了用作光学膜时的由显示元件生产的影像或图像的质量的劣化。
＜缺陷测定方法＞
使用外观检查机，按照能够以相对于LED光源(恒流驱动，连续点亮方式，光量50％(光量能够基本上直线地调光到1～100％，以100％输出，60,000Lux))为45度的角度检测缺陷的方式设置CCD摄像机，一边在其下方以20m/分钟的速度进行扫描(scan)，一边在宽度方向(相对于扫描的行进方向成直角的方向)300mm、流动方向(扫描的行进方向)150mm的长方形的范围内读取膜的缺陷。
进一步详细而言，使用具备CCD摄像机(该CCD摄像机具有长度596mm的带状实际视野、0.040mm/scan的扫描方向分辨率和0.088mm/pixel的实际视野宽度方向分辨率)、缝隙和白色LED光源的外观检查机，在通过了上述缝隙的上述白色LED光源的光的行进方向上，使上述CCD摄像机与上述实际视野的长度方向和上述缝隙的方向一致地配置，以使其能够接受该光，一边使被检查的膜在上述缝隙与上述CCD摄像机之间沿其纵向以20m/分钟的速度移动，一边由上述CCD摄像机透过上述被检查的膜接受上述白色LED光源的光，由此在该膜的宽度方向(相对于扫描的行进方向成直角的方向)300mm、和流动方向(扫描的行进方向)150mm的长方形的范围内进行扫描。此时，被检查的膜以上述白色LED光源的光的行进方向从相对于该膜平面垂直的方向向该膜的纵向倾斜45°的方式配置。该膜的纵向与上述流动方向(扫描的行进方向)一致。
作为缺陷，首先选定明面积为1.5266mm2以下、暗面积为1.416mm2以下、且明面积与暗面积的合计(以下，将其称为“总面积”)为2.3987mm2以下的部分。
明面积是比基质(即，不存在点状缺陷和划痕等缺陷的部分)更明亮的部分(明部分)的面积。
暗面积是比基质更暗的部分(暗部分)的面积。
在此，用波形确认CCD摄像机的影像水平，以基质成为明度5的灰色的方式进行调光控制，将其设为零。
明部分是将从明度5到明度10(雪白)的范围分割成127份、并将阈值设定为65/127的情况下超过该阈值的(即，更明亮的)部分。
暗部分是将从明度5到明度0(漆黑)的范围分割成127份、并将阈值设定为100/127的情况下超过该阈值的(即，更暗的)部分。
接着，为了除去这些缺陷中所含的、除电晕处理以外的原因的缺陷(例如擦痕)，以具有沿着扫描的行进方向的2边的方式设定缺陷的外接矩形，仅将外接宽度为2.88mm以下、外接长度为0.43～2.30mm以下、纵横比率为－39～+27、外接矩形的占有面积比率为4,000～6,950、且面积比率为－3,100～+5,200的缺陷作为点状缺陷，利用外观检查机对其个数进行计数。
作为外观检查机，使用MaxEye.Impact(商品名，FUTEC INC.)、或在上述缺陷测定方法中得到与之同样的测定结果的外观检查机。
在此，“外接宽度”、“外接长度”、“纵横比率”、“占有面积比率”和“面积比率”的含义如下。
“外接宽度”定义为缺陷的、相对于扫描(scan)的流动方向成直角的方向(横向)的尺寸，即，缺陷的外接矩形的宽度。
“外接长度”定义为缺陷的、扫描(scan)的流动方向(纵向)的尺寸，即，缺陷的外接矩形的长度。
“纵横比率”是缺陷的外接长度与外接宽度的比率，在本发明中，定义为外接长度和外接宽度中的较大的值除以较小的值、且在外接长度较大的情况下在商上标记正(+)号、而在外接宽度较大的情况下在商上标记负(－)号而得到的值。
“占有面积比率”定义为总面积(明部分与暗部分的合计面积)相对于缺陷的外接矩形的比率。
“面积比率”是缺陷判定部分的明面积和暗面积的比率，在本发明中，定义为明面积减去暗面积所得的值除以总面积而得到的值。因此，在面积比率的值为正数的情况下缺陷为明缺陷，而在面积比率的值为负数的情况下缺陷为暗缺陷。
在使用MaxEye.Impact(商品名，FUTEC INC.)的情况下，具体如下所述设定参数进行测定。
＜明度＞
[LP]
最大值：127
最小值：65
[DP]
最大值：127
最小值：100
＜明面积＞
[LA]
最大值：1.5266
＜暗面积＞
[DA]
最大值：1.4161
＜总面积＞
最大值：2.3987
＜宽度＞
[W]
最大值：2.88
＜长度＞
[L]
最大值：2.30
最小值：0.43
然后，测定结果满足以下全部条件(1)～(10)的部分作为点状缺陷被计数。
(1)65＜LP
(2)100＜DP
(3)LA≤1.5266
(4)DA≤1.4161
(5)A≤2.3987
(6)W＜2.88
(7)0.43＜L＜2.30
(8)－39＜R1＜+27
(在此，在W＞L时，R1＝W/L×(－1)、
在W＜L时，R1＝L/W)
(9)4,000≤R2≤6,950
(在此，R2＝A/(W×L)×10,000)
(10)－3,100≤R3≤5,200
(在此，R3＝(LA－DA)/A×10,000)
本发明的极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜可以通过后述的极化树脂膜的制造方法来制造。
2.极化树脂膜的制造方法
本发明的极化树脂膜(特别是极化强介电体树脂膜)的制造方法包括：
工序A，通过使用在与接地电极之间施加有施加电压的第一电极的电晕处理，使直接载置于上述接地电极上的非极化树脂膜带电，通过静电将上述非极化树脂膜贴附于上述接地电极上；和
工序B，通过使用在与上述接地电极之间施加有施加电压的第二电极的电晕处理，使贴附于上述接地电极上的非极化树脂膜极化。
2.1.工序A
在工序A中，通过使用在与接地电极之间施加有施加电压的第一电极的电晕处理，使直接载置于上述接地电极上的非极化树脂膜带电，通过静电将上述非极化树脂膜贴附于上述接地电极上。
作为非极化树脂膜，例如可以举出奇数链尼龙膜和聚偏氟乙烯系树脂等。
作为奇数链尼龙膜的例子，可以举出尼龙11等。
作为聚偏氟乙烯系树脂的例子，可以举出：
进行拉伸处理而采取β型晶体结构(I型晶体结构)的聚偏氟乙烯树脂膜；和
含有偏氟乙烯50摩尔％以上(优选为70摩尔％以上)的、偏氟乙烯和能够与偏氟乙烯共聚的其他单体的共聚物树脂膜等。
能够与偏氟乙烯共聚的其他单体例如为选自三氟乙烯、四氟乙烯、六氟丙烯、三氟氯乙烯和氟乙烯等中的一种以上。
作为本发明所使用的非极化树脂膜，优选聚偏氟乙烯系树脂，特别优选偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物。
工序A所使用的树脂膜例如可以通过使用聚合物溶液的浇铸法、热压法、熔融挤出法等公知的方法来制造。工序A所使用的树脂膜优选不拉伸。另外，在本发明的制造方法中，也优选非极化树脂膜不拉伸。由此，通过本发明的制造方法，能够得到减轻了表面的划痕、且实质上不存在各向异性的膜。
作为工序A所使用的“非极化树脂膜”，也可以在制膜后进行热处理。
热处理的方法没有特别限定，例如，可以通过用两块金属板夹持树脂膜并将该金属板加热的方法、将树脂膜的辊在恒温槽中加热的方法、或在辊对辊方式的树脂膜的生产中将金属辊加热并使树脂膜与该经加热的金属辊接触的方法来进行。上述接地电极可兼作该金属板。
通过该热处理，能够提高结晶度，并提高压电性。该热处理的温度例如为构成树脂膜的聚合物的熔点－100℃～构成树脂膜的聚合物的熔点+50℃。在此，在加热到构成树脂膜的聚合物的熔点以上的温度的情况下，优选在加热后缓慢冷却，在加热到低于构成树脂膜的聚合物的熔点的温度的情况下，优选维持加热。
另外，通过该热处理，能够使非极化树脂膜的残余应力下降，能够减小因加热引起的收缩等的变形。此时的加热温度低于熔点。
另外，从维持非极化树脂膜的透明性的观点考虑，优选以低于熔点的温度进行热处理。
热处理的时间也取决于非极化树脂膜的量(体积、重量)，但通常为240小时以下。短时间的加热例如可以通过与经加热的辊接触来实施。
在热处理后，根据需要，在工序A之前将非极化树脂膜冷却到规定温度。该温度优选为0℃～50℃，冷却速度优选为15℃/分钟～0.5℃/分钟。
工序A所使用的非极化树脂膜的厚度可以选择与要得到的极化树脂膜的厚度同样的厚度。
电晕放电可以使用负电晕和正电晕中的任一种，从非极化树脂膜的带电度容易程度的观点考虑，优选使用负电晕。
通过该带电，将上述非极化树脂膜通过静电贴附于上述接地电极。
通过该带电，优选将上述非极化树脂膜在上述接地电极上以挤出其间的空气的方式通过静电而贴附。
挤出非极化树脂膜与上述接地电极之间的空气例如可以通过从非极化树脂膜的一端向相反侧的一端连续地进行电晕处理来进行。即，由此，非极化树脂膜从其一端连续地贴附于上述接地电极，因此空气被挤出。
因此，工序A优选一边使直接载置于上述接地电极上的上述非极化树脂膜相对于上述第一电极相对移动一边实施。有时将该移动的速度称为工序A的处理速度。该移动例如可以通过使上述接地电极和/或上述第一电极移动以改变上述非极化树脂膜的接受电晕处理的位置来实施。
第一电极例如可以是针状电极或线状电极，优选为针状电极。
在第一电极为针状电极的情况下，上述第一电极为在相对于该移动方向垂直的方向上配置的多个针状电极。该多个针状电极只要在该移动方法中在大致垂直方向上配置即可，另外，可以配置成一列或多列。
该多个针状电极优选以能够使非极化树脂膜无间隙地带电的方式配置。即，优选多个针状电极配置在一定的距离内。这样的距离因针状电极的形状、针状电极与非极化树脂膜的距离、以及施加于针状电极的电压等而有所不同，具体而言，例如为低于1.5cm、低于1.2cm等。在电压高的情况下，可增大该距离。
由于上述第一电极是这样的电极，在从非极化树脂膜的一端向相反侧的一端的连续的电晕处理中，空气容易被挤出，能够高度地抑制空气的残留。可以推测这是基于非极化树脂膜的贴附于接地电极的部分的一端的形状不是一条直线而带来的空气的易挤出度(空气的易排出度)，但本发明不局限于此。
作为工序A的电晕处理的条件，设定适合非极化树脂膜的带电的条件。
虽然在后述工序B中也进行电晕处理，但在工序A中，以比工序B弱的条件进行电晕处理。具体而言，例如，就带电而言，对工序A的电晕处理(带电处理)和工序B的电晕处理(极化处理)进行比较时，处理后的膜的表面电位为工序A(带电处理)＜工序B(极化处理)。例如，在对象物(膜)距电极的距离相同的情况下，施加电压为工序A(带电处理)＜工序B(极化处理)。另外，在从电极向对象物(膜)施加的电压相同的情况下，对象物(膜)距电极的距离为工序A(带电处理)＞工序B(极化处理)。
在该条件过于缓和时，带电变得不充分，非极化树脂膜与上述接地电极之间残留空气，有时在最终得到的极化树脂膜上产生点状缺陷。另一方面，在该条件过于严格时，在非极化树脂膜上产生电晕处理造成的缺陷，结果，有时在最终得到的极化树脂膜上残留点状缺陷。
作为这样的电晕处理的条件的要素，例如可以举出与接地电极之间在第一电极上施加的电压、第一电极与非极化树脂膜之间的距离、和工序A的处理速度。
在这些要素中在某要素选择了严格的条件的情况下，为了综合地形成适当的电晕处理的条件，可以在其他要素中选择缓和的条件。
在与上述接地电极之间在第一电极上施加的电压越强，工序A中的电晕处理的条件越严格。具体而言，该电压例如为－5～－15kV。
第一电极与非极化树脂膜之间的距离和第一电极与接地电极之间的距离实质上相同，这些距离越短，工序A中的电晕处理的条件越严格。具体而言，该距离例如为1mm～50mm、5～15mm。
工序A的处理速度越慢，工序A中的电晕处理的条件越严格。作为工序A的处理速度，具体而言，例如选择10～500cm/分钟。该速度因第一电极的形状等而有所不同。例如，在第一电极为线状电极的情况下，其数量越多，越能够提高该速度。
2.2.工序B
在工序B中，通过使用与上述接地电极之间施加有施加电压的第二电极的电晕处理，使贴附于上述接地电极的非极化树脂膜极化。
电晕放电可以使用负电晕和正电晕中的任一种，但从非极化树脂膜的极化容易程度的观点考虑，优选使用负电晕。
工序B在通过上述工序A而使得非极化树脂膜贴附于上述接地电极期间实施。
工序B优选一边使直接载置于上述接地电极上的上述非极化树脂膜相对于上述第二电极相对移动一边实施。有时将该移动的速度称为工序B的处理速度。该移动例如可以通过使上述接地电极和/或上述第二电极移动以改变上述非极化树脂膜的接受电晕处理的位置来实施。
在上述工序A中，在从非极化树脂膜的一端向相反侧的一端实施连续的电晕处理的情况下，可在上述工序A的电晕处理到达相反侧的一端之前，从上述一端开始进行工序B的电晕处理。
第二电极例如可以是针状电极或线状电极。
在第二电极为线状电极的情况下，该线状电极在相对于上述非极化树脂膜的移动方向垂直的方向上配置。第二电极的数量可以为1个，也可以为多个(例如两个)。从以较低电压完全地进行非极化树脂膜的极化的观点考虑，该线状电极的数量优选为多个，具体而言，例如优选为两个。
通过以较低的电压进行非极化树脂膜的极化，能够减轻因高电压而引发膜的点状缺陷。
在第二电极为针状电极的情况下，上述第二电极是在相对于该移动方向垂直的方向上配置的多个针状电极。该多个针状电极只要在该移动方法中在大致垂直的方向配置即可，另外，可以配置成一列或多列(换言之一维或二维)。
该多个针状电极优选以能够将非极化树脂膜无间隙地极化的方式配置。即，优选多个针状电极配置在一定的距离内。这样的距离因针状电极的形状、针状电极与非极化树脂膜之间的距离、以及施加于针状电极的电压等而有所不同，具体而言，例如低于1.5cm、低于1.2cm。在电压高的情况下，可以增大该距离。
作为工序B中的电晕处理的条件，设定适合于非极化树脂膜的极化的条件。
由工序A相关的记载可知，在工序B中，以比工序A强的条件进行电晕处理。
当该条件过于缓和时，极化不充分。另一方面，当该条件过于严格时，会在非极化树脂膜上产生因电晕处理造成的点状缺陷。
作为这样的条件的要素，例如可举出在与接地电极之间在第二电极上施加的电压、第二电极与非极化树脂膜之间的距离、以及工序B的处理速度。
在这些要素中某要素中选择了严格的条件的情况下，为了综合地形成适当的电晕处理的条件，可在其他要素上选择缓和的条件。
在与上述接地电极之间在第二电极上施加的电压越强，工序B中的电晕处理的条件越严格。该电压因第二电极与非极化树脂膜之间的距离等而有所不同，具体而言，例如为－15～－25kV。
第二电极与非极化树脂膜之间的距离和第二电极与接地电极之间的距离实质上相同，这些距离越短，工序B中的电晕处理的条件越严格。该距离例如为1～50mm，优选为10～25mm。
工序B的处理速度越慢，工序B中的电晕处理的条件越严格。工序B的处理速度例如为10～500cm/分钟。该速度因第二电极的形状等而有所不同。例如，在第二电极为线状电极的情况下，其数量越多，越能够提高该速度。
工序B中的电晕处理时的非极化树脂膜的温度优选为20℃～120℃，更优选为20℃～85℃。通过在极化中边加热边放电，能够提高充电的电荷、压电性的耐热性。
本发明的极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜极大地降低了用作光学膜时的由显示元件产生的影像或图像的质量的劣化程度，适合用作光学膜。
另外，由本发明的制造方法制得的极化树脂膜实质上不存在各向异性，且表面划痕少，因此适合用作具有压电性的光学膜。
通常，在光学用途中使用的膜优选总雾度(HAZE)值(total haze)低，具体而言，总雾度值优选为2.5％以下，更优选为2％以下，进一步优选为1％以下。
本发明的极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜以及由本发明的制造方法制得的极化树脂膜的总雾度值可以为这样的值。
接着，参照图1对本发明的制造方法的一个方式进行更为详细的说明。
图1表示本发明的制造方法所使用的制造装置的概要。
本实施方式的制造装置1具备：设置于被移送的接地电极2的上方的第一电极3、和设置于接地电极2的上方且沿着接地电极2的移动方向设置于第一电极3的下游侧的第二电极4。
接地电极2接地，另一方面，在第一电极3和第二电极4上分别连接有第一高压电源5和第二高压电源6。在第一电极3和第二电极4与接地电极2之间，分别从第一高压电源5和第二高压电源6施加电压，由此从第一电极3和第二电极4向接地电极2发生电晕放电。
在本实施方式中，接地电极2具有平坦的上表面，在其上表面上直接载置非极化树脂膜7。通过接地电极2被沿图1所示的箭头X方向移送，非极化树脂膜7也被沿同方向移送，构成为依次与第一电极3和第二电极4相对配置。
在本实施方式中，第一电极3由在相对于接地电极2的移动方向X垂直的方向Y上隔开规定间隔配置的多个针状电极30构成。各针状电极30为了有效地产生电晕放电，前端为削尖的针状。各针状电极30例如由铝、不锈钢、钨、钽等形成，其表面也可以实施镀金等处理。其前端与接地电极2相对。各针状电极30设为充分覆盖非极化树脂膜7的上述垂直方向Y的宽度的程度。其中，在图1中，多个针状电极30在接地电极2的移动方向X上仅设有一列，但也可以设置多列。另外，多个针状电极30只要在大致垂直于接地电极2的移动方向X的方向上配置即可。
在本实施方式中，第二电极4由沿着相对于接地电极2的移动方向X垂直的方向Y延伸的线状电极40构成。线状电极40例如由铝、不锈钢、钨、钽等形成，其表面可以实施镀金等处理。线状电极40在接地电极2上平行延伸到能够充分覆盖非极化树脂膜7的上述垂直方向Y的宽度的程度。其中，在图1中，线状电极40在接地电极2的移动方向X上设有两根，但也可以设置一根或三根以上。另外，线状电极40只要沿着大致垂直于接地电极2的移动方向X的方向延伸即可。
在上述结构的制造装置1中，通过边将接地电极2向移动方向X移送，边首先在第一电极3与接地电极2之间施加电压，接地电极2上的非极化树脂膜7通过由第一电极3产生的电晕放电，从其一端部(移动方向X侧的端部)向另一端部(移动方向X的相反侧的端部)依次带电。通过该带电，非极化树脂膜7通过静电从其一端部到另一端部连续地贴附于接地电极2。此时，介于接地电极2与非极化树脂膜7之间的空气被向移动方向X的相反方向挤出，从非极化树脂膜7的另一端部被排出，因此接地电极2上的非极化树脂膜7能够完美地贴附而不会出现气泡或折皱。接下来，在贴附有非极化树脂膜7的状态下，接地电极2被进一步向移动方向X移送，在第二电极4与接地电极2之间施加电压，由此，通过由第二电极4产生的电晕放电，非极化树脂膜7从其一端部到另一端部被连续地极化。
在此，在上述的利用第一电极3实现的非极化树脂膜7向接地电极2的贴附处理(工序A)中，作为在第一电极3与接地电极2之间施加的电压，例如选择－5～－15kV左右。另外，第一电极3与非极化树脂膜7之间的距离和第一电极3与接地电极2之间的距离实质上相同，作为该距离，例如选择1mm～50mm左右，优选选择5～15mm。另外，作为接地电极2的移送速度，例如选择10～500cm/分钟。
进一步，如图2所示，构成第一电极3的多个针状电极30以能够通过电晕放电而带电的非极化树脂膜的带电区域9与相邻的针状电极30产生的非极化树脂膜的带电区域9至少一部分重叠的方式设定配置间隔d。由此，非极化树脂膜7能够通过多个针状电极30无间隙地带电。另外，此时，非极化树脂膜7的贴附于接地电极2的部分的端部10的形状不为直线状，而是波线状，从而使得接地电极2与非极化树脂膜7之间的空气容易被挤出，能够高度地抑制空气的残留。
另一方面，在上述的利用第二电极4实现的非极化树脂膜7的极化处理(工序B)中，作为在第二电极4与接地电极2之间施加的电压，例如选择－15～－25kV左右。另外，第二电极4与非极化树脂膜7之间的距离和第二电极4与接地电极2之间的距离实质上相同，作为该距离，例如选择1mm～50mm左右，优选选择10～25mm。另外，作为接地电极2的移送速度，例如选择10～500cm/分钟。
此外，接地电极2与温度控制装置8连接，通过控制接地电极2的温度，能够调节施加电压时的非极化树脂膜7的温度。用未图示的温度计等测量施加电压时的非极化树脂膜7的温度，将工序A中的贴附处理时的非极化树脂膜7的温度优选控制在20℃～120℃，更优选控制成在20℃～85℃。另外，将工序B中的极化处理时的非极化树脂膜7的温度优选控制在20℃～120℃，更优选控制在20℃～85℃。通过在极化中边加热边放电，能够提高充电的电荷、压电性的耐热性。
其中，上述说明的本发明的方式表示的是本发明的一个方式，本发明不局限于此，可以在具备本发明的必要条件、能够实现本发明的目的和效果的范围内进行变形或改进，这种变形物和改进物当然也包括在本发明的内容中。
例如，第一电极3也可以由线状电极构成，第二电极4也可以由针状电极构成。
另外，接地电极2不需要以上表面为平坦的状态被移送，也可以如图3所示沿着辊11被移送。
本发明的极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜、由本发明的制造方法制得的极化树脂膜、以及使用本发明的制造装置制得的极化树脂膜(以下，有时将它们称为本发明的树脂膜)优选具有压电性，适合用于压电面板(例如，触摸面板(优选能够检测触摸压力的触摸面板))。
本发明的树脂膜可用于电阻膜方式和静电容量方式等所有方式的触摸面板。
本发明的树脂膜在用于触摸面板时，不一定必须为了检测触摸位置和触摸压力两者而使用，本发明的压电膜也可以用于检测触摸位置或触摸压力中的任一方。
具有本发明的树脂膜的、压电面板(例如，触摸面板(优选能够检测触摸压力的触摸面板))具有：
(1)本发明的树脂膜(优选为本发明的极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜)、和
(2)透明电极。
作为该透明电极的例子，可举出ITO(氧化铟锡)电极和氧化锡电极等。
具有本发明的树脂膜的压电面板(例如，触摸面板(优选能够检测触摸压力的触摸面板))优选依次具有：第一电极、本发明的树脂膜和第二电极。
第一电极直接或间接地配置于本发明的树脂膜的一个主面上，并且，第二电极直接或间接地配置于本发明的树脂膜的另一个主面上。
第一电极和第二电极可以为上述透明电极。
在用手指等按压具有本发明的树脂膜的“能够检测触摸压力的触摸面板”时，能够得到与本发明的树脂膜的应变的时间变化相应的电信号，因此如果使用该“能够检测触摸压力的触摸面板”，能够确定有无按压、速度、大小(强弱)、它们的变化、或这些参数的组合。在此，按压的大小(即，静压)可利用上述电信号的积分值来确定。
在这种压电面板中，本发明的树脂膜可使用一片或两片以上(优选为两片)。
在使用两片以上(优选为两片)的本发明的树脂膜的情况下，该两片以上的本发明的树脂膜也可以通过粘接片而相互贴合。该粘接片只要能够将本发明的树脂膜相互贴合即可，没有特别限定，可由1层或2层以上构成。即，在该粘接片由1层构成的情况下，该粘接片由粘接剂层构成，另外，在该粘接片由2层以上构成的情况下，其两外层为粘接剂层。在该粘接片由3层以上构成的情况下，该粘接片也可以具有基材层作为内层。
上述粘接剂层例如优选为含有丙烯酸系粘接剂作为粘接剂的层。
上述基材层只要是透明膜即可，例如优选为聚酰亚胺、聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚对苯二甲酸丁二醇酯、聚碳酸酯、聚对苯硫醚、聚酰胺酰亚胺。
例如，具有本发明的树脂膜的压电面板(例如，触摸面板(优选能够检测触摸压力的触摸面板))优选依次具有：第一电极、第一本发明的树脂膜、粘接片、第二本发明的树脂膜和第二电极。
第一电极配置于第一本发明的树脂膜的外表面上，并且，第二电极配置于第二本发明的树脂膜的外表面上。
本发明的树脂膜能够具有热电性，但在该压电面板中，在将第一本发明的树脂膜和第二本发明的树脂膜以因温度上升而产生同极性的电荷(例如，正电荷和正电荷)的面分别为外侧的方式配置、并且由第一电极和第二电极得到该两个面之间的电位差作为电信号的情况下，因热电性产生的电信号降低，能够选择性地得到由压电性产生的电信号。
这种触摸面板可用于触摸输入装置和触摸传感器装置。具有该触摸面板的输入装置(即，具有本发明的压电膜的输入装置)能够实现基于触摸位置、触摸压力或其两者的输入(例如，基于笔压等按压的大小(强弱)的输入)。具有该触摸面板的输入装置可以具有位置检测部和压力检测部。
本发明的触摸面板(优选具有极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜的触摸面板)可用于电子设备。作为该电子设备的例子，可举出智能手机、平板PC、数字化仪、触摸板和汽车导航系统等。该电子设备能够实现基于触摸位置、触摸压力或其两者的操作(例如，在绘画软件中，根据笔压，改变显示于屏幕的线的粗细等的操作)。
该电子设备可以具备触摸输入装置或触摸传感器装置，或者也可以由触摸输入装置或触摸传感器装置构成。该触摸输入装置和该触摸传感器装置分别具有本发明的触摸面板。
实施例
下面，通过实施例对本发明进行更详细的说明，但本发明不局限于此。
在后述的实施例和比较例中，使用下面的电极。
＜使用电极＞
(1)在20mm宽度(10mm厚、500mm长)的黄铜棒的中心线上以10mm间隔排列一列电极用针(针状电极)(R＝0.06mm，森田制针所制)的针状电极棒
(2)与(1)同样地以15mm间隔排列一列电极用针(R＝0.06mm，森田制针所制)的针状电极棒
(3)直径0.1mm的经过镀金的钨制线状电极(500mm长)
在后述的实施例和比较例中，通过下面的方法，测定总光线透射率、总雾度值、机电耦合系数、膜的点状缺陷。
＜总光线透射率＞
使用HAZE-GARD II(产品名，东洋精机制作所)，基于ASTMD1003记载的方法进行测定。
＜总雾度值＞
使用HAZE-GARD II(产品名，东洋精机制作所)，基于ASTMD1003记载的方法进行测定。
＜机电耦合系数＞
在透明压电膜的两侧形成Al蒸镀电极，在透明压电膜的规定部位切出13mm的圆板，使用阻抗分析仪(Hewlett-Packard Company制4194A)进行测定，按照H.Ohigashi等人在“The application of ferroelectric polymer,Ultrasonic transducers in themegahertz range”中记载的方法，计算出机电耦合系数。
＜点状缺陷＞
按照下面的方法检测点状缺陷，数出其数量。
＜缺陷测定方法＞
使用外观检查机，按照能够以相对于LED光源(恒流驱动，连续点亮方式，光量50％(光量能够基本上直线地调光到1～100％，以100％输出，60,000Lux))为45度的角度检测缺陷的方式设置CCD摄像机，一边在其下方以20m/分钟的速度进行扫描(scan)，一边在宽度方向(相对于扫描的行进方向成直角的方向)300mm、流动方向(扫描的行进方向)150mm的长方形的范围内读取膜的缺陷。
参照图4对该方法进行更详细的说明。进一步详细而言，该方法使用具备CCD摄像机51(该CCD摄像机51具有长度596mm的带状的实际视野、0.040mm/scan的扫描方向分辨率和0.088mm/pixel的实际视野宽度方向分辨率)、缝隙52和白色LED光源53的外观检查机，在通过了上述缝隙52的上述白色LED光源53的光的行进方向(图4中的空心箭头的方向)上，使上述CCD摄像机51与上述实际视野的长度方向和上述缝隙52的方向一致地配置，以使其能够接受该光，一边使被检查的膜54在上述缝隙52与上述CCD摄像机51之间沿其纵向以20m/分钟的速度移动，一边由上述CCD摄像机51透过上述被检查的膜54接受上述白色LED光源53的光，由此在该膜54的宽度方向(相对于扫描的行进方向成直角的方向)300mm、和流动方向(扫描的行进方向(图4中的细的黑箭头的方向))150mm的长方形范围的范围内进行扫描。此时，被检查的膜54以上述白色LED光源53的光的行进方向从相对于该膜54平面垂直的方向向该膜54的纵向倾斜45°的方式(即，以图4中的θ1为45°的方式)配置。该膜54的纵向与上述流动方向(扫描的行进方向)一致。
作为缺陷，首先选定明面积为1.5266mm2以下、暗面积为1.416mm2以下、且明面积与暗面积的合计(以下，将其称为“总面积”)为2.3987mm2以下的部分。
明面积是比基质(即，不存在点状缺陷和划痕等缺陷的部分)更明亮的部分(明部分)的面积。
暗面积是比基质更暗的部分(暗部分)的面积。
在此，用波形确认CCD摄像机的影像水平，以基质成为明度5的灰色的方式进行调光控制，将其设为零。
明部分是将从明度5到明度10(雪白)的范围分割成127份、并将阈值设定为65/127的情况下超过该阈值的(即，更明亮的)部分。
暗部分是将从明度5到明度0(漆黑)的范围分割成127份、并将阈值设定为100/127的情况下超过该阈值的(即，更暗的)部分。
接着，为了除去这些缺陷中所含的、除电晕处理以外的原因的缺陷(例如擦痕)，以具有沿着扫描的行进方向的2边的方式设定缺陷的外接矩形，仅将外接宽度为2.88mm以下、外接长度为0.43～2.30mm以下、纵横比率为－39～+27、外接矩形的占有面积比率为4,000～6,950、且面积比率为－3,100～+5,200的缺陷作为点状缺陷，利用外观检查机对其个数进行计数。
作为外观检查机，使用MaxEye.Impact(商品名，FUTEC INC.)、或在上述缺陷测定方法中得到与之同样的测定结果的外观检查机。
在此，“外接宽度”、“外接长度”、“纵横比率”、“占有面积比率”和“面积比率”的含义如下。
“外接宽度”定义为缺陷的、相对于扫描(scan)的流动方向成直角的方向(横向)的尺寸，即，缺陷的外接矩形的宽度。
“外接长度”定义为缺陷的、扫描(scan)的流动方向(纵向)的尺寸，即，缺陷的外接矩形的长度。
“纵横比率”是缺陷的外接长度与外接宽度的比率，在本发明中，定义为外接长度和外接宽度中的较大的值除以较小的值、且在外接长度较大的情况下在商上标记正(+)号、而在外接宽度较大的情况下在商上标记负(－)号而得到的值。
“占有面积比率”定义为总面积(明部分与暗部分的合计面积)相对于缺陷的外接矩形的比率。
“面积比率”是缺陷判定部分的明面积和暗面积的比率，在本发明中，定义为明面积减去暗面积所得的值除以总面积而得到的值。因此，在面积比率的值为正数的情况下缺陷为明缺陷，而在面积比率的值为负数的情况下缺陷为暗缺陷。
在使用MaxEye.Impact(商品名，FUTEC INC.)的情况下，具体如下所述设定参数进行测定。
＜明度＞
[LP]
最大值：127
最小值：65
[DP]
最大值：127
最小值：100
＜明面积＞
[LA]
最大值：1.5266
＜暗面积＞
[DA]
最大值：1.4161
＜总面积＞
最大值：2.3987
＜宽度＞
[W]
最大值：2.88
＜长度＞
[L]
最大值：2.30
最小值：0.43
然后，测定结果满足以下全部条件(1)～(10)的部分作为点状缺陷被计数。
(1)65＜LP
(2)100＜DP
(3)LA≤1.5266
(4)DA≤1.4161
(5)A≤2.3987
(6)W＜2.88
(7)0.43＜L＜2.30
(8)－39＜R1＜+27
(在此，在W＞L时，R1＝W/L×(－1)、
在W＜L时，R1＝L/W)
(9)4,000≤R2≤6,950
(在此，R2＝A/(W×L)×10,000)
(10)－3,100≤R3≤5,200
(在此，R3＝(LA－DA)/A×10,000)
使用外观检查机Max Eye.Impact(FUTEC INC.)，数出极化后膜的规定范围内的点状缺陷的个数。
具体而言，按照能够以相对于LED光源为45度的角度检测缺陷的方式设置CCD摄像机，一边在其下方以20m/分钟的速度进行扫描，一边在宽度方向(相对于扫描的行进方向成直角的方向)300mm、流动方向(扫描的行进方向)150mm的长方形的范围内读取膜的缺陷。
作为缺陷，首先选定相当于目视确认了点状缺陷时的膜表面的反射光的闪耀的明面积为1.5mm2以下、且暗面积为1.4mm2以下的缺陷。
接着，为了除去这些缺陷中所含的、除电晕处理以外的原因的缺陷，以具有沿着扫描的行进方向的2边的方式设定缺陷的外接矩形，仅将外接宽度为2.88mm以下、外接长度为2.3mm以下、纵横比率为－39～+27、外接矩形的占有面积比率为4,000～6,950、且面积比率为－3,100～+5,200的缺陷作为点状缺陷，数出其个数。
制造例1(树脂膜的制造)
按照下面的制造方法，制造厚度40μm的偏氟乙烯-四氟乙烯共聚物膜(摩尔比80：20)。
将偏氟乙烯-四氟乙烯共聚物(摩尔比80：20)的二甲基乙酰胺(DMAc)溶液或丁酮(MEK)溶液流延到PET(聚对苯二甲酸乙二醇酯)基材上，以180℃使溶剂气化，形成厚度40μm的膜。
将膜从PET基材剥离后，裁剪成适当的大小后使用。
实施例1
如图1的示意图所示，在能够沿水平方向运转的SUS制的、上表面平坦的接地电极(300mm×210mm)上，设置切成320mm×230mm的厚度40μm的偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜(以下，有时简称为膜)。作为第一电极，将上述(1)的针状电极以针状电极的排列相对于接地电极的运转方向垂直、且针状电极的前端位于向上空距膜10mm的方式配置。并且，在距上述(1)的针状电极棒的针状电极100mm的位置和距针状电极150mm的位置，作为第二电极，将直径0.1mm的经过镀金的钨制的线状电极(500mm长)以位于向上空距膜20mm的方式设置。
此外，设有膜的接地电极以能够使针状电极线状电极沿水平(图1中的两箭头的方向)移动的方式设置。
膜以完全成为针状电极(第一电极)的外侧的方式移动，向针状电极(第一电极)施加－10kV的电压，向线状电极(第二电极)施加－15kV的电压，之后，使偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜以96cm/分钟的速度通过由针状电极(第一电极)的前端和与其接续的线状电极(第二电极)产生的电晕放电的下方。
在施加电压后，由接地的铝板去除在膜表面充电的电荷，之后，将膜从SUS平板剥离，观察其表面的状态。
膜通过从针状电极的尖端起扩展成同心圆状的电晕放电而贴附于SUS平板。距针状电极越远，贴附越不充分，但几乎观察不到通过了针状电极下(第一电极)后的膜与SUS平板上残留的空气，所得到的极化膜是透明(transparent)的，且缺陷极少。将总光线透射率、总雾度值、机电耦合系数、每150×300mm的四边形的点状缺陷数的评价数据表示在表1中。
实施例2
使用上述(2)的针间距离为15mm的电极作为针状电极，除此以外，按照与实施例1相同的方法进行电晕处理。结果，在各针状电极针状电极间观察到残留空气，虽然所得到的极化膜是透明(transparent)的，但凸状缺陷看上去比实施例1多。将总光线透射率、总雾度值、机电耦合系数、每150×300mm四边形的点状缺陷数的评价数据表示在表1中。
实施例3
使用上述(3)的线状电极代替针状电极，除此以外，按照与实施例1相同的方法进行电晕处理。与针状电极的情况不同，在偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物氟树脂膜与接地电极之间观察到了大量的残留空气，虽然所得到的极化膜是透明(transparent)的，但凸状缺陷看上去比实施例2更多。将总光线透射率、总雾度值、机电耦合系数、每150×300mm四边形的点状缺陷数的评价数据表示在表1中。
比较例1
不使用第一电极，仅使用用于极化的作为第二电极的线状电极，按照与实施例1相同的方法进行电晕处理。在偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物氟树脂膜与接地电极之间观察到了大量的残留空气，虽然所得到的极化膜是透明(transparent)的，但凸状缺陷的数量看上去很多，另外，凸状缺陷比实施例1、2和3更多。将总光线透射率、总雾度值、机电耦合系数、每150×300mm见方的点状缺陷数的评价数据表示在表1中。
[表1]
总光线透射率 总雾度值 机电耦合系数 每150×300mm四边形的点状缺陷数
实施例1 95％ 1.80％ 0.065 0个
实施例2 95％ 2.07％ 0.062 50个
实施例3 95％ 2.15％ 0.063 90个
比较例1 95％ 2.60％ 0.059 105个
产业上的可利用性
本发明的极化树脂膜能够用作光学膜。
符号说明
1：制造装置；2：接地电极；3：第一电极；4：第二电极；5：第一高压电源；6：第二高压电源；7：非极化树脂膜。

Claims (4)

1.一种极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜，其特征在于，
通过后述的缺陷测定方法测得的点状缺陷的数量为560个/m2以下，
缺陷测定方法：
使用外观检查机，按照能够以相对于LED光源为45度的角度检测缺陷的方式设置CCD摄像机，一边在其下方以20m/分钟的速度进行扫描，一边在宽度方向300mm、流动方向150mm的长方形的范围内读取膜的缺陷，其中，所述宽度方向为相对于扫描的行进方向成直角的方向，所述流动方向为扫描的行进方向，
就缺陷而言，首先选定明面积为1.5mm2以下且暗面积为1.4mm2以下的缺陷，其中，所述明面积是比作为不存在缺陷的部分的基质更明亮的明部分的面积，所述暗面积是比所述基质更暗的暗部分的面积，
接着，为除去这些缺陷中所含的、除电晕处理以外的原因的缺陷，以具有沿着扫描的行进方向的2边的方式设定缺陷的外接矩形，仅将外接宽度为2.88mm以下、外接长度为0.43～2.30mm、纵横比率为－39～+27、外接矩形中的占有面积比率为4,000～6,950、且面积比率为－3,100～+5,200的缺陷作为点状缺陷，利用外观检查机自动地对其个数进行计数，
其中，所述外接宽度定义为缺陷的、相对于扫描的流动方向成直角的方向的尺寸，
所述外接长度定义为缺陷的、扫描的流动方向的尺寸，
所述纵横比率定义为外接长度和外接宽度中的较大的值除以较小的值、且在外接长度较大的情况下在商上标记正号、而在外接宽度较大的情况下在商上标记负号而得到的值，
所述占有面积比率定义为明部分与暗部分的合计面积相对于缺陷的外接矩形的比率，
所述面积比率定义为明面积减去暗面积所得的值除以总面积而得到的值。
2.根据权利要求1所述的极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜，其特征在于：
所述点状缺陷的数量为50个/m2以下。
3.根据权利要求1或2所述的极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜，其特征在于，
其用于触摸面板。
4.一种触摸面板，其特征在于，
具有权利要求1或2所述的极化偏氟乙烯/四氟乙烯共聚物树脂膜。
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