CN104641238A - 样本输送系统 - Google Patents
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Abstract
一种样本输送系统,其由线性模块(B)(B1至B3)、转向模块(C)(C1至C3)和连接模块(D)(D1至D7)构成,其中,相邻的模块在结构形式上相互连接并且从而能够相互通信,并且模块形成多个路径,从一个样本输出装置(A)输出的样本架通过所述多个路径输送至多个分析装置(E)(E1至E7)。每个路径均关联于指示所述路径能否用来输送的节点信号,并且构成包括各路径的多个节点信号的节点信号序列。在样本输送系统(100)中,从下游侧向上游侧传送节点信号序列,并且通过使用所述节点信号序列解决了诸如在样本输送系统(100)中的样本架滞留的问题。
Description
技术领域
本发明涉及样本输送系统。
背景技术
样本输送系统是输送例如收容在样本架中的样本的系统,并且将收容了从样本预处理装置获取的样本的样本架等输送到用于样本等的分析装置等。例如,多个分析装置连接到样本输送系统,并且样本输送系统通过恰当地控制例如改变样本的输送路径的转向单元等来将样本输送到多个分析装置中的对应于样本而识别的分析装置(专利文献1和2)。
通常,在如样本输送系统这样的系统中,设置有控制和管理整个系统的中央控制单元。例如,通过计算机等形成的中央控制系统控制对应于样本或样本架的样本输送系统中的多个转向单元等,来将样本或样本架输送到对应于该样本或样本架的分析装置。
[相关技术引用]
[专利文献]
[专利文献1]JP 2007-315835 A
[专利文献2]JP 2000-55924 A
发明内容
[技术问题]
鉴于上述的相关技术,本发明人对涉及样本输送系统的新的系统结构进行了研究和开发。特别地,本发明人重点关注于显著减少由中央控制单元进行的控制的系统结构,以及理想地不需要中央控制系统的系统结构。
在上述的研究和开发的过程中作出了本发明,并且其优点是实现了涉及样本输送系统的改进的系统结构。
[问题的解决方案]
根据本发明的一个方案,提供了一种包括多个模块的样本输送系统,其中,由多个模块从上游至下游形成用于输送样本的多个路径,对于每个所述路径,关联了指示在所述路径中能/不能输送的节点信号,并且形成了由用于所述多个路径的多个所述节点信号组成的节点信号阵列,所述多个模块包括布置在每个所述路径中途的中间模块,并且所述中间模块具有:将从上游侧输送来的样本向下游侧输送的功能;将从下游侧获得的所述节点信号阵列向上游侧发送的功能;以及当中间模块变为不能输送时,将在要发送的节点信号阵列中的包括有所述中间模块的路径的节点信号改变为不能输送的功能。
上述的样本输送系统包括多个模块,并且,构建的样本输送系统中,例如,每个模块将从上游侧输送来的样本向下游侧输送。由指示路径能/不能输送的节点信号形成节点信号阵列,并且将节点信号阵列从下游侧向上游侧发送。通过使用节点信号阵列,例如,能够在上游侧的模块或装置处检查能输送的路径和不能输送的路径。因此,例如,能够在显著减少由管理整个系统的中央控制单元进行的控制的同时,或者,更期望的是在不需求中央控制单元的同时,检查每个路径能否输送。
根据本发明的另一方案,优选地,所述多个模块能够相互自由组合,并且相邻的所述模块相互连接以形成多个所述路径。
根据本发明的另一方案,优选地,所述多个模块包括布置在每个所述路径的最上游侧的最上游模块,并且所述最上游模块具有向连接在上游侧的装置请求要向每个所述路径输送的样本的功能。
根据本发明的另一方案,优选地,所述最上游模块参照从连接在下游侧的下游模块获得的所述节点信号阵列而向处在上游侧的装置请求要向所述节点信号指示能输送的路径输送的样本,同时避免请求要向所述节点信号指示不能输送的路径输送的样本。
根据本发明的另一方案,优选地,所述多个模块包括布置在每个所述路径的最下游侧的最下游模块,并且所述最下游模块具有连接下游侧的样本分析装置的功能。
根据本发明的另一方案,优选地,所述最下游模块具有当连接在下游侧的所述分析装置不能接收样本时,将经过该最下游模块到该分析装置的路径的节点信号改变为不能传输的功能。
[本发明的有益效果]
根据本发明的各种方案,能够实现涉及样本输送系统的改进的系统结构。例如,根据本发明的优选结构,通过使用由指示路径能/不能输送的节点信号形成的节点信号阵列,能够在显著减少由管理整个系统的中央控制单元进行的控制的同时,或者更期望的是,在不需求中央控制单元的同时,检查每个路径能否输送。
附图说明
图1是示出在实施本发明的优选的样本输送系统的总体结构图。
图2是示出转向模块的设定和控制的第一具体示例的结构图。
图3是示出转向模块的设定和控制第二具体示例结构。
图4是示出每个模块的结构的图。
图5是模块之间交换的信号的时序图。
图6是示出其中在所有模块中均能输送的具体示例结构的图。
图7是示出其中在连接模块处不能输送的具体示例结构的图。
图8是示出其中在转向模块处不能输送的具体示例结构的图。
图9是示出其中在直线模块处不能输送的具体示例结构的图。
具体实施方式
图1是示出在本发明的实施中的优选的样本输送系统100的总体结构图。样本输送系统100为将从诸如样本预处理装置的样本输出装置A输出的样本输送到多个分析装置E(E1~E7)的系统。样本收容在诸如试管的容器中,一个或多个收容样本的容器收容在样本架中,并且样本输送系统100输送样本架。
图1的样本输送系统100由多个模块形成。在图1中,“直线M”示出了直线模块,“转向M”示出了转向模块,并且“连接M”示出了连接模块。因此,在图1所示的具体示例结构中,样本输送系统100包括直线模块B(B1~B3),转向模块C(C1~C3),和连接模块D(D1~D7)。
多个模块能够相互自由组合,相邻的模块在结构上和通信上相互连接,并且多个模块形成多个路径来将从一个样本输出装置A输出的样本架输送到多个分析装置E(E1~E7)。图1示出的样本输送系统100仅为多个模块的组合的示例结构,并且可替代地,样本输送系统100可以通过与图1的示例结构不同的组合来形成。
直线模块B是沿直线移动从上游侧输送来的样本架并且将样本架输送至下游侧的模块。例如,直线模块B1沿直线移动从样本输出装置A输出并输送至直线模块B1的样本架,并且将样本架输送至转向模块C3。
直线模块B包括直线状运送装置(conveyer),并且将样本架置于直线状运送装置上来移动样本架。例如,在运送装置的入口(上游侧)设置样本架的止动器和用于检测样本架的有无的传感器,并且,例如,在运送装置的出口(下游侧)也设置该止动器和传感器。
转向模块C是旋转地移动从上游侧输送来的样本架,并且将样本架输送至对应于样本架的预期的下游侧的模块。例如,转向模块C3旋转地将从直线模块B1输送来的样本架移动至对应于样本架的旋转方向(方向1~3),并且将样本架输送至连接模块D6、连接模块D7和直线模块B2中的一个。
转向模块C包括转盘,其将从上游侧输送来的样本架布置在转盘上来旋转地将样本架移动至对应于样本架的方向,并且将样本架输送至对应于方向1~3中的一个方向的下游侧。例如,在转盘的入口(上游侧)设置样本架的止动器和用于检测样本架的有无的传感器,并且,例如,在转盘的出口(下游侧)也设置该止动器和传感器。
连接模块D是将从上游侧输送来的样本架输送至在下游侧的分析装置E的模块。例如,连接模块D6将从转向模块C3的方向2输送来的样本架输送至分析装置E6。
图1示出了,作为多个模块的代表性示例的直线模块B、转向模块C和连接模块D。可替代地,必要时也可以设置除了这些模块的其他模块。例如,可以设置将输送来的样本架暂时收回并改变样本架的输送顺序的缓冲模块。可替代地,可以设置长度互有不同的直线模块或方向数互有不同的转向模块。
此外,可以设置代替或附加于转向模块的分支模块,例如,横向输送模块或升降输送模块。
横向输送模块是使从上游侧输送来的样本架在水平面滑动,并且将样本架输送至对应于样本架的预期的下游侧的模块。例如,横向输送模块使从上游侧输送来的样本架在水平面中沿垂直于样本架的输送方向滑动,并且将样本架输送至预期的下游侧。另一方面,升降输送模块是使从上游侧输送来的样本架沿垂直方向(上下方向)移动,并且将样本架移动至对应于样本架的预期的下游侧的模块。
可以选择诸如横向输送模块和升降输送模块的能够选择期望的下游侧而不旋转样本架的分支模块。可替代地,分支模块可以用来恰当地组合样本架的旋转、在水平面中的滑动和沿垂直方向的移动。
图1的样本输送系统100基于相关于每个样本架的目的地代码信号,沿通过目的地代码信号指示的路径来输送样本架。当将从上游侧输送来的样本架输送至下游侧时,样本输送系统100的各个模块随样本架一起向下游侧发送相关于样本架的目的地代码信号。例如,与样本架的输送并行地发送目的地代码信号。
特别地,转向模块C沿根据随样本架一起发送的目的地代码信号的方向1~3的一个方向旋转样本架,来选择对应于目的地代码信号的下游侧。转向模块C具有能够根据包括有转向模块C的多个模块的自由组合来对于每个由目的地代码信号指示的代码而自由地设定样本架的旋转方向的功能。现在将描述对转向模块C进行旋转方向设定和在转向模块C中进行旋转方向控制。
图2是示出转向模块的设定和控制的第一具体示例结构的图。图2示出了在图1的样本输送系统100中的三个转向模块C(C1~C3)的旋转方向的设定和转向模块C中的旋转方向的控制的具体示例结构。图2中的多个分析装置E(E1~E7)还对应于在图1的样本输送系统100中的分析装置E。
在图2中,目的地代码信号由3比特形成,并且每个由3比特识别的代码为与每个分析装置E相关联。换句话说,每个代码关联于每个分析装置E的路径。例如,当以比特2、比特1和比特0的顺序示出代码时,目的地代码信号(L,L,H)关联于分析装置E1,并且目的地代码信号(L,H,L)关联于分析装置E2。
在图2的第一具体示例结构中,设置了用于转向模块C的多个方向开关(方向SW)。各方向SW SW1~SW7相关于目的地代码信号的代码。例如,SW1关联于目的地代码信号(L,L,H),并且SW2关联于目的地代码信号(L,H,L)。
各目的地SW SW1~SW7通过用于确定旋转方向的2比特的设定比特来形成。例如,根据构建的系统并且通过自由组合多个模块来构建样本输送系统100(图1)的系统构建者来设定每个方向SW的设定比特。
以在每个方向SW中的2比特的设定比特,设定对应于方向SW的样本架的旋转方向。在图2的第一具体示例结构中,如果方向SW的设定比特以比特1和比特0的顺序示出,则设定比特(OFF,ON)指示旋转方向为0度,设定比特(ON,OFF)指示旋转方向为向右90度,并且设定比特(ON,ON)指示旋转方向为向左90度。
图2中示出的涉及转向模块C的开关SW的设定对应于图1的样本输送系统100中的输送路径。因此,将参照图1描述图2的第一具体示例结构中的转向模块C的控制。
例如,当要由分析装置E1进行分析的样本架从样本输出装置A输出时,直线模块B1使目的地代码信号(L,L,H)关联到样本架,将样本架输送至转向模块C3,并且向转向模块C3发送目的地代码信号(L,L,H)。
转向模块C3使用多个转向SW中的对应于目的地代码信号(L,L,H)的SW1的设定比特(OFF,ON)。因此,控制样本架的旋转方向至为0度的方向1,并且将样本架输送至直线模块B2。直线模块B2将输送来的样本架输送至转向模块C2,并且向转向模块C2发送关联于样本架的目的地代码信号(L,L,H)。
转向模块C2使用多个转向SW中的对应于目的地代码信号(L,L,H)的SW1的设定比特(OFF,ON)。因此,控制样本架的旋转方向至为0度的方向1,并且将样本架输送至直线模块B3。直线模块B3将输送来的样本架输送至转向模块C1,并且向转向模块C1发送关联于样本架的目的地代码信号(L,L,H)。
转向模块C1使用多个转向SW中的对应于目的地代码信号(L,L,H)的SW1的设定比特(OFF,ON)。因此,控制样本架的旋转方向至为0度的方向1,并且将样本架输送至连接模块D1。连接模块D1将输送来的样本架输送至分析装置E1。
以这样的方式,样本架沿样本输送系统100中形成的从样本输出装置A至分析装置E1的路径从处在最上游侧的直线模块B1被输送至处在最下游侧的连接模块D1。
另外,例如,当要由分析装置E6进行分析的样本架从样本输出装置输出时,直线模块B1将目的地代码信号(H,H,L)关联到样本架,将样本架输送至转向模块C3,并且向转向模块C发送目的地代码信号(H,H,L)。
转向模块C3使用多个转向SW中的对应于目的地代码信号(H,H,L)的SW6的设定比特(ON,OFF)。因此,控制样本架的旋转方向至为向右90度的方向2,并且将样本架输送至连接模块D6。连接模块D6将输送来的样本架输送至分析装置E6。
以这样的方式,样本架沿样本输送系统100中形成的从样本输出装置A至分析装置E6的路径从处在最上游侧的直线模块B1被输送至处在最下游侧的连接模块D6。因为从样本输出装置A至分析装置E6的路径没有使用转向模块C2和C1,所以将对应于分析装置E6的目的地代码信号(H,H,L)的SW6的设定比特设定为(OFF,OFF),或为未设定状态。
已经描述了从样本输出装置A到分析装置E1和到分析装置E6的控制的具体示例结构。对于其他的分析装置E(E2~E5,E7)而言,转向模块C也根据涉及图2所示的转向模块C的方向SW的设定来控制,并且样本架从样本输出装置A输送至预期的分析装置E。
图3是示出转向模块的设定和控制的第二具体示例结构的图。图3示出了在图1的样本输送系统100的三个转向模块C(C1~C3)的旋转方向的设定和转向模块C中的旋转方向的控制的具体示例结构。图3的多个分析装置E(E1~E7)也对应于在图1中的样本输送系统100的分析装置E。
与图2的第一具体示例结构相似,在图3的第二具体示例结构中,目的地代码信号也形成为具有3比特,并且由3比特识别的代码与分析装置E相关联。换句话说,每个代码关联于对应分析装置E的路径。
在图3的第二具体示例结构中,设置了用于转向模块C的从SW1至SW3的3排的dip开关(双列直插式封装开关,简称DPSW)。每排开关(SW1~SW3)形成有7比特的dip开关。Dip开关的每个比特(比特1~比特7)关联于目的地代码信号的各个代码。例如,dip开关的比特1关联于目的地代码信号(L,L,H),并且dip开关的比特2关联于目的地代码信号(L,H,L)。
在图3的第二具体示例结构中,以从SW1至SW3的3排dip开关(DPSW)的设定,确定了在转向模块C处的样本架的旋转方向。这3排dip开关(DPSW)例如可根据构建的系统和通过自由组合多个模块来构建样本输送系统100(图1)的构建者来设定。
在图3的第二具体示例结构中,如果dip开关的设定状态显示为SW1、SW2和SW3的顺序,则设定状态(ON,OFF,OFF)指示0度的旋转方向,设定状态(OFF,ON,OFF)指示向右90度的旋转方向,并且设定状态(OFF,OFF,ON)指示向左90度的旋转方向。
图3中示出的用于转向模块C的涉及dip开关的设定还对应于图1的样本输送系统100中的输送路径。因此,将参照图1描述对图3的第二具体示例结构中的转向模块C的控制。
例如,当要由分析装置E3进行分析的样本架从样本输出装置A输出时,直线模块B1使目的地代码信号(L,H,H)与样本架相关联,将样本架输送至转向模块C3,并且向转向模块C3发送目的地代码信号(L,H,H)。
转向模块C3使用7比特的dip开关的对应于目的地代码信号(L,H,H)的比特3的设定状态(ON,OFF,OFF)。因此,控制样本架的旋转方向至为0度的方向1,并且将样本架输送至直线模块B2。直线模块B2将输送来的样本架输送至转向模块C2,并且向转向模块C2发送关联于样本架的目的地代码信号(L,H,H)。
转向模块C2使用7比特的dip开关的对应于目的地代码信号(L,H,H)的比特3的设定状态(ON,OFF,OFF)。因此,控制样本架的旋转方向至为0度的方向1,并且将样本架输送至直线模块B3。直线模块B3将输送来的样本架输送至转向模块C1,并且向转向模块C1发送关联于样本架的目的地代码信号(L,L,H)。
转向模块C1使用7比特的dip开关的对应于目的地代码信号(L,H,H)的比特3的设定状态(OFF,OFF,ON)。因此,控制样本架的旋转方向至为向左90度的方向3,并且将样本架输送至连接模块D3。连接模块D3将输送来的样本架输送至分析装置E3。
以这样的方式,样本架沿样本输送系统100中形成的从样本输出装置A至分析装置E3的路径从处在最上游侧的直线模块B1被输送至处在最下游侧的连接模块D3。
另外,例如,当要由分析装置E7进行分析的样本架从样本输出装置输出时,直线模块B1将目的地代码信号(H,H,H)关联到样本架,并将样本架输送至转向模块C3,并且向转向模块C发送目的地代码信号(H,H,H)。
转向模块C3使用7比特的dip开关的对应于目的地代码信号(H,H,H)的比特3的设定状态(OFF,OFF,ON)。因此,控制样本架的旋转方向至为向左90度的方向3,并且将样本架输送至连接模块D7。连接模块D7将输送来的样本架输送至分析装置E7。
以这样的方式,样本架沿样本输送系统100中形成的从样本输出装置A至分析装置E7的路径从处在最上游侧的直线模块B1被输送至处在最下游侧的连接模块D7。因为从样本输出装置A至分析装置E7的路径没有使用转向模块C2和C1,所以将对应于分析装置E7的目的地代码信号(H,H,H)的比特7的设定状态设定为(OFF,OFF,OFF),或为未设定状态。
已经描述了从样本输出装置A到分析装置E3和到分析装置E7的控制的具体示例结构。对于其他的分析装置E(E1,E2,E4~E6)而言,转向模块C也根据图3所示的涉及转向模块C的dip开关的设定状态来控制,并且样本架从样本输出装置A输送至预期的分析装置E。
在图3的设定状态中,例如,当分析装置E由于故障等而变得不可用时,转向模块C3的dip开关的比特7的设定状态从(OFF,OFF,ON)改变为(OFF,OFF,OFF)。通过这样的处理,在转向模块C3中,将对应于分析装置E7的目的地代码信号(H,H,H)的比特7的设定状态设定为(OFF,OFF,OFF)或为未设定状态,并且施加控制从而使得不将样本架输送至分析装置E7。当分析装置E7重新变得可用时,转向模块C3的dip开关的比特7的设定状态可以回到(OFF,OFF,ON)。
以这样的方式,从样本输出装置A输出的样本架输送到了对应于目的地代码信号的分析装置E。下面,将描述在样本输送系统100中使用的每个模块的结构。
图4是示出每个模块的结构的示意图。每个模块均具有用于连接处在上游侧或下游侧的其他模块或其他装置的连接单元。每个模块均进一步具有例如由运送装置和止动器形成的架输送单元50,其将从上游侧输送来的样本架输送至下游侧。
在其上置有样本架并移动样本架的运送装置的入口(上游侧),设置了检测样本架的有无的传感器20,并且,例如,传感器20也设置在运送装置的出口(下游侧)。例如,基于传感器20的检测结果,可检查每个模块中的样本架的有无。
控制器10控制每个模块中的元件。因为对于控制器10来说,只控制具有控制器10的模块中的各元件是足够的,因此,控制器10能够使用例如相对小尺寸的微机等而不使用组装在计算机等中的相对大尺寸的CPU等来实现。
显示器30上可显示模块等的设定状态。显示器30可以由例如LCD的显示装置来实现,或者可替代地通过具有LED等的示出方向SW(图2)或dip开关(图3)的设定状态的简单结构来实现。
操作单元40接受使用者的操作,特别是构建样本输送系统的系统构建者的操作。操作单元40可以由触控面板等与显示器30一起来实现,或可以可替代地通过切换方向SW(图2)或dip开关(图3)的ON/OFF状态的多个开关来实现。
以上描述了模块的共同结构。另外,根据模块的种类,例如,对于转向模块,设置用于旋转样本架的具有转盘等的架旋转单元60;对于缓冲模块,设置用于暂时收回样本架来改变样本架的输送顺序的架收回单元70;并且对于连接模块,设置连接下游侧的分析装置的分析装置连接单元80。
此外,各个模块与在上游侧连接的上游模块和在下游侧连接的下游侧模块交换各种信号。例如,将架请求信号、模块状态信号、以及节点信号阵列从该模块发送至上游模块,以及从下游模块发送至该模块。另外,将目的地代码信号和架发送信号从上游模块发送至该模块,并且从该模块发送至下游模块。
图5是当输送样本架时模块之间交换的信号的时序图。在图5的时序图中,示出了在样本架的输送过程中在相互连接的上游侧模块和下游侧模块之间交换的各种信号。换句话说,图5示出了目的地代码信号、架发送信号、架请求信号和模块状态信号。例如,在使样本输送系统100(图1)上电(ON)之后立刻进行的系统的初始化过程中将这些信号全部设定为H(OFF)。
在样本架的输送中,首先参考模块状态信号。模块状态信号是指示输出信号的模块是否处在能够接收样本架的状态的信号。例如,当不能接收样本架时将模块状态信号设定为H(OFF),并且当能够接收样本架时将模块状态信号设定为L(ON)。
在图5所示的示例结构中,在时间T1,从下游侧模块向上游侧模块输出的模块状态信号设定为L(ON)。换句话说,示例结构示出了下游侧模块表现为在时间T1时该模块能够接收样本架的状态。当模块状态信号设定为L(ON)时,上游侧模块输出相关于样本架的目的地代码信号。
目的地代码信号由例如3比特形成,并且每个识别为具有3比特的代码相关联于各个分析装置E(参照图2和图3)。在图5的示例结构中,在时间T2,从上游侧模块向下游侧模块输出的目的地代码信号设定为L(ON)。换句话说,由3比特形成的目的地代码信号的至少一个比特在时间T2设定为L(ON)。
当目的地代码信号设定为L(ON)时,下游侧模块判定是否能够接收对应于目的地代码信号的样本架,并且,当能够接收样本架时,将架请求信号设定为L(ON)。例如,模块基于将在之后描述的节点信号阵列来判定能否接收样本架。在图5的示例结构中,在时间T3,从下游侧模块向上游侧模块输出的架请求信号设定为L(ON)。
当上游侧模块确认架请求信号设定为L(ON)时,上游侧模块将架发送信号设定为L(ON)。架发送信号是指示样本架的输送时机的信号。在图5的示例结构中,在时间T4,从上游侧模块向下游侧模块输出的架发送信号设定为L(ON)。上游侧模块在时间T4通过激活架输送单元来启动样本架的输出,并且下游侧模块也在时间T4通过激活样本架输送单元来启动样本架的输入。
以这样的方式,在上游侧模块和下游侧模块之间启动了样本架的输入和输出,并且当在下游侧模块完成了样本架的输入时,下游侧模块完成样本架的输入操作,并且将架请求信号设定为H(OFF)。在图5的示例结构中,在时间T5,从下游侧模块向上游侧模块输出的架请求信号设定为H(OFF)。
当上游侧模块确认架请求信号设定为H(OFF)时,上游侧模块完成样本架的输出操作,并且将架发送信号设定为H(OFF)并且将所有的目的地代码信号设定为H(OFF)。在图5的示例结构中,在时间T6,从上游侧模块向下游侧模块输出的架发送信号和目的地代码信号设定为H(OFF)。
当下游侧模块确认架发送模块设定为H(OFF)时,下游侧模块将模块状态信号设定为H(OFF)。在图5的示例结构中,在时间T7,从下游侧模块向上游侧模块输出的模块状态信号设定为H(OFF)。换句话说,时序图示出了因为下游侧模块中存在样本架,所以下游侧模块无法接收下一个样本架的状态。
当存在于下游侧的模块中的样本架输出至更下游侧的模块时,完成了样本架输出的该下游侧模块表现为能够从上游侧模块接收下一个样本架的状态,并且因此,将模块状态信号重新设定为L(ON)。在图5所示的示例结构中,在时间T1(2),模块状态信号设定为L(ON),下游侧模块变为能够接收下一个样本架的状态,并且下一个样本架在上游侧和下游侧模块之间输送。
通过上述的在上游侧模块和下游侧模块之间的信号交换来依次地传送样本架,使多个样本架依次输送至对应于样本架的目的地代码信号的分析装置E。
下面,将描述用于图1中的样本输送系统100的节点信号阵列。形成样本输送系统100的多个模块能够相互自由组合,相邻的模块在结构上和通信上相互连接,并且,以这样的结构构建了例如图1的样本输送系统100。也就是说,形成了从一个样本输出装置A输出到多个分析装置E(E1~E7)的用于输送样本架的多个路径。对于每个路径,关联了指示在该路径上能/不能输送的节点信号,并且由用于多个路径的多个接点信号形成了节点信号阵列。
在模块的控制器10(图4)的控制下,样本输送系统100的每个模块均将从下游侧获得的节点信号阵列向下游侧发送,并且当模块变为能够输送时,在要发送的节点信号阵列中改变包括要输送的模块的路径的节点信号。通过使用节点信号阵列,能够解决诸如样本输送系统100中的样本架的滞留问题。
图6至图8是用于说明图1的样本输送系统100中的节点信号阵列和使用节点信号阵列的具体示例控制的示意图。现在将基于图6和图8并且参照图1来描述具体示例控制。
图6是示出当所有模块均能够输送的具体示例控制的示意图。多个节点形成节点信号阵列。每个节点相关联于样本输送系统100中的各个路径。
在图6的具体示例控制中,节点1关联于至分析装置E1的路径;也就是说,从处在最上游侧的直线模块B1至处在最下游侧的连接模块D1的路径。节点2是关联于分析装置E2的路径;也就是说,从处在最上游侧的直线模块B2至处在最下游侧的连接模块D2的路径。相似地,节点3-7分别关联于分析装置E3~E7。在图6的具体示例控制中,没有使用节点8。
例如,可在使样本输送系统100(图1)上电(ON)之后立刻进行的系统的初始化过程中将形成节点信号阵列的从节点1至节点8的所有节点均设定为OFF。
从上游侧模块依次向下游侧模块发送节点信号阵列。例如,在图6和图1的示例结构中,连接模块D1是在对应于分析装置E1的节点1的路径中处在最下游侧的模块,其检查连接到下游侧的分析装置E1是否能接收样本架,并且当能够接收样本架时将对应于分析装置E1的节点1设定为ON(能输送)。在图6的示例结构中,由连接模块D1将节点1设定为ON(能输送)。
连接模块D2是在对应于分析装置E2的节点2的路径中处在最下游侧的模块,其检查连接到下游侧的分析装置E2是否能接收样本架,并且当能够接收样本架时将对应于分析装置E2的节点2设定为ON(能输送)。在图6的示例结构中,由连接模块D2将节点2设定为ON(能输送)。
相似地,连接模块D3~D7检查与其连接的分析装置E3~E7的状态,并且当能够接收样本架时将对应的节点设定为ON(能输送)。在图6的示例结构中,所有的分析装置E1~E7均能够接收样本架,并且每个连接模块D1~D7均将节点1至节点7的对应的节点设定为ON(能输送)。
从下游侧模块依次向上游侧模块发送节点信号阵列。例如,在图6和图1的示例结构中,连接模块D1~D3连接到转向模块C1的下游侧。因此,从每个连接模块D1~D3向转向模块C1发送节点信号阵列,并且转向模块C将从连接模块D1~D3获得的节点信号阵列合并,并且向转向模块C1的上游侧发送节点信号阵列。
具体地,在图6的示例结构中,因为连接模块D1~D3的每个均将节点1至节点3的对应节点设定为ON,所以转向模块C1产生将节点1至节点3的所有节点均设定为ON的节点信号阵列,并且将产生的节点信号阵列发送至处在上游侧的直线模块B3。直线模块B3将送转向模块C1发送的节点信号阵列发送至处在上游侧的转向模块C2。
在转向模块C2处,连接模块D4和D5以及直线模块B3连接在下游侧。因此,从连接模块D4和D5和直线模块B3向转向模块C2发送节点信号阵列。转向模块C2将从连接模块D4和D5和直线模块B3获得的节点信号阵列合并,并且向转向模块C2的上游侧发送节点信号阵列。
具体地,在图6的示例结构中,连接模块D4和D5将节点4和节点5的对应的节点设定为ON,并且在从直线模块B3获得的节点信号阵列中将节点1至节点3设定为ON。因此,转向模块C2产生将节点1至节点5的所有节点均设定为ON的节点信号阵列,并且向处在上游侧的直线模块B2发送产生的节点信号阵列。直线模块B2将从转向模块C2发来的节点信号阵列发送至处在上游侧的转向模块C3。
在转向模块C3处,连接模块D6和D7以及直线模块B2连接在下游侧。因此,从连接模块D6和D7和直线模块B2向转向模块C3发送节点信号阵列。转向模块C3将从连接模块D6和D7和直线模块B2获得的节点信号阵列合并,并且向转向模块C3的上游侧发送节点信号阵列。
具体地,在图6的示例结构中,连接模块D6和D7将节点6和节点7的对应的节点设定为ON,并且在从直线模块B2获得的节点信号阵列中将节点1至节点5设定为ON。因此,转向模块C3产生将节点1至节点7的所有节点均设定为ON的节点信号阵列,并且向处在上游侧的直线模块B1发送产生的节点信号阵列。
布置在最上游侧的直线模块B1参照从下游侧发送的节点信号阵列而向连接在上游侧的样本输出装置A请求要被输送至每个路径的样本架。直线模块B1请求向对应于在节点信号阵列中设定为ON(能输送)的节点的路径输送的样本架,同时避免请求向对应于设定为OFF(不能输送)的节点的路径输送的样本架。
具体地,在图6的示例结构中,节点1至节点7的所有的路径均设定为ON(能输送),并且所有的分析装置E1~E7均能够接收样本架。因此,直线模块B1能够向样本输出装置A请求涉及节点1至节点7的所有路径的样本架。
图7是示出连接模块不能输送的具体示例结构的示意图。图7示出了从所有模块均能够输送(图6)的状态变为连接模块D3无法输送的状态的具体示例结构。
在上述的图6的示例结构中,连接模块D3检查连接在下游侧的分析装置E3的状态,并且因为分析装置E3能够接收样本架,所以已将节点3设定为ON(能输送)。
然而,例如,当在分析装置E3正在对已输送到的样本架进行分析而无法接收下一个样本架时,或当在分析装置E3中发生某些故障而无法接收样本架时,如图7所示,连接模块D3将节点3设定为OFF(不能输送)。当连接模块D3本身发生某种故障而无法接收样本架时,连接模块D3也将节点3设定为OFF(不能输送)。
当在从连接模块D3获得的节点信号阵列中的节点3被设定为OFF时,在合并了连接模块D1~D3的节点信号阵列的转向模块C1中,节点3也设定为OFF,并且在转向模块C1中合并的节点信号阵列经由直线模块B3发送至转向模块C2。
当在从直线模块B3获得的节点信号阵列中的节点3被设定为OFF时,在合并了来自直线模块B3和连接模块D4和D5的节点信号阵列的转向模块C2中,节点3也设定为OFF,并且在转向模块C2中合并的节点信号阵列经由直线模块B2发送至转向模块C3。
当在从直线模块B2获得的节点信号阵列中的节点3被设定为OFF时,在合并了来自直线模块B2和连接模块D6和D7的节点信号阵列的转向模块C3中,节点3也设定为OFF,并且在转向模块C3中合并的节点信号阵列经由直线模块B1发送至转向模块C3。
布置在最上游侧的直线模块B1参照从下游侧发送的节点信号阵列而向连接在上游侧的样本输出装置A请求要被输送至每个路径的样本架。直线模块B1请求请求向对应于在节点信号阵列中设定为ON(能输送)的节点的路径输送的样本架,同时避免请求向对应于设定为OFF(不能输送)的节点的路径输送的样本架。
在图7的示例结构中,因为节点3的路径设定为OFF,所以直线模块B1请求涉及被设定为ON的节点的路径的样本架,同时避免请求涉及节点3的路径的样本架。避免请求的样本架暂时保留在例如样本架输出装置A中。当样本输送系统100在节点3的路径设置为OFF时输送节点3的样本架时,样本架被输送至能够输送样本架的位置;例如,输送到连接模块D3。换句话说,通过配置系统使样本架尽可能地不滞留在样本输送系统100的上游侧,能够确保通往分析装置E1、E2和E4~E7的路径。
图8是示出转向模块无法输送的具体示例结构的示意图。图8示出了从所有模块均能够输送(图6)的状态变为转向模块C1无法输送的状态的具体示例结构。
在上述的图6的示例结构中,因为在下游侧的连接模块D1~D3已将节点1至节点3的相对应的节点设定为ON,所以转向模块C已产生将节点1至节点3的所有节点均设定为ON的节点信号阵列。
然而,例如,当在转向模块C1中发生某些故障并且转向模块C1表现为无法接收样本架的状态时,转向模块C1将包括有转向模块C1的所有路径的节点均设定为OFF。具体地,如图8所示,转向模块C1将涉及转向模块C1的对应于通往连接模块D1~D3(分析装置E1~E3)的路径的所有的节点1至节点3全部设定为OFF(不能输送)。在转向模块C1中合并的节点信号阵列经由直线模块B3发送至转向模块C2。
当在从直线模块B3获得的节点信号阵列中的节点1至节点3均被设定为OFF时,在合并了来自直线模块B3和连接模块D4和D5的节点信号阵列的转向模块C2中,节点1至节点3也设定为OFF,并且在转向模块C2中合并的节点信号阵列经由直线模块B2发送至转向模块C3。
当在从直线模块B2获得的节点信号阵列中的节点1至节点3被设定为OFF时,在合并了来自直线模块B2和连接模块D6和D7的节点信号阵列的转向模块C3中,节点1至节点3也设定为OFF,并且在转向模块C3中合并的节点信号阵列发送至直线模块B1。
布置在最上游侧的直线模块B1参照从下游侧发送的节点信号阵列而向连接在上游侧的样本输出装置A请求要被输送至每个路径的样本架。直线模块B1请求向对应于在节点信号阵列中设定为ON的节点的路径输送的样本架,同时避免请求向对应于设定为OFF的节点的路径输送的样本架。
在图8的示例结构中,因为节点1至节点3的路径设定为OFF,所以直线模块B1请求涉及被设定为ON的节点的路径的样本架,同时避免请求涉及节点1至节点3的路径的样本架。避免请求的样本架暂时停留在例如样本架输出装置A中。当样本输送系统100在节点1至节点3的路径设置为OFF时输送节点1至节点3的样本架时,样本架被输送至能够输送样本架的位置;例如,输送到连接模块D3。换句话说,通过采用使样本架尽可能地不滞留在样本输送系统100的上游侧的配置,确保了通往分析装置E4~E7的路径。
图9是示出直线模块无法输送的具体示例结构的示意图。图9示出了从所有模块均能够输送(图6)的状态变为直线模块B2无法输送的状态的具体示例结构。
在上述图6的示例结构中,直线模块B2已从处在下游侧的转向模块C2获得将节点1至节点5均设定为ON的节点信号阵列。
然而,例如,当在直线模块B2中发生某些故障并且无法接收样本架时,直线模块B2将包括直线模块B2本身的所有路径的节点都设定为OFF。具体地,如图9所示,直线模块B2将涉及直线模块B2的对应于通往连接模块D1~D5(分析装置E1~E5)的路径的节点1至节点5均设定为OFF(不能输送)。在直线模块B2中改变的节点信号阵列被发送至转向模块C3。
当在从直线模块B2获得的节点信号阵列中的节点1至节点5均被设定为OFF时,在合并了来自直线模块B2和连接模块D6和D7的节点信号阵列的转向模块C3中,节点1至节点5也设定为OFF,并且将在转向模块C3中合并的节点信号阵列发送至直线模块B1。
布置在最上游侧的直线模块B1参照从下游侧发送的节点信号阵列而向连接在上游侧的样本输出装置A请求要被输送至每个路径的样本架。直线模块B1请求向对应于在节点信号阵列中设定为ON的节点的路径输送的样本架,同时避免请求向对应于设定为OFF的节点的路径输送的样本架。
在图9的示例结构中,因为节点1至节点5的路径设定为OFF,所以直线模块B1请求涉及被设定为ON的节点的路径的样本架,同时避免请求涉及节点1至节点5的路径的样本架。避免请求的样本架暂时停留在例如样本架输出装置A中。当样本输送系统100在节点1至节点5的路径设置为OFF时输送节点1至节点5的样本架时,样本架被输送至能够输送样本架的位置,并且采用使样本架尽可能地不滞留在样本输送系统100的上游侧的配置。
已经描述了本发明的优选结构。然而,上述的实施例仅为在所有观点中的简单的范例,并不限制本发明的范围。在本发明的范围和精神内,本发明包括各种改进结构。
[附图标记说明]
B直线模块;C转向模块;D连接模块;100样本输送系统
Claims (15)
1.一种包括多个模块的样本输送系统,其中
由所述多个模块形成从上游至下游输送样本的多个路径,
对于每个所述路径,关联有指示在该路径中能/不能输送的节点信号,并且形成由用于所述多个路径的多个所述节点信号组成的节点信号阵列,
所述多个模块包括布置在每个所述路径的中途的中间模块,并且
所述中间模块具有:
将从上游侧输送来的样本向下游侧输送的功能;
将从下游侧获得的所述节点信号阵列向上游侧发送的功能;
当中间模块变为不能输送时,将在要发送的节点信号阵列中的包括有所述中间模块的路径的节点信号改变为不能输送的功能。
2.根据权利要求1所述的样本输送系统,其中
所述多个模块能够相互自由组合,并且相邻的所述模块相互连接以形成多个所述路径。
3.根据权利要求1所述的样本输送系统,其中
所述多个模块包括布置在每个所述路径的最上游侧的最上游模块,并且
所述最上游模块具有向连接在上游侧的装置请求要向每个所述路径输送的样本的功能。
4.根据权利要求3所述的样本输送系统,其中
所述最上游模块参照从连接在下游侧的下游模块获得的所述节点信号阵列而向处在上游侧的装置请求要向所述节点信号指示能输送的所述路径输送的样本,同时避免请求要向所述节点信号指示不能输送的路径输送的样本。
5.根据权利要求1所述的样本输送系统,其中
所述多个模块包括布置在每个所述路径的最下游侧的最下游模块,并且
所述最下游模块具有连接下游侧的用于样本的分析装置的功能。
6.根据权利要求5所述的样本输送系统,其中
所述最下游模块具有当连接在下游侧的所述分析装置不能接收样本时,将经过该最下游模块到该分析装置的路径的节点信号改变为不能输送的功能。
7.根据权利要求1所述的样本输送系统,其中
所述中间模块包括能够在下游侧连接多个下游模块的分支模块,并且
所述分支模块具有从多个连接在下游侧的下游模块中选择对应于输送的样本的下游模块的功能。
8.根据权利要求7所述的样本输送系统,其中
所述分支模块具有合并从连接在下游侧的所述多个下游模块获得的所述节点信号阵列,并且向上游侧发送合并的节点信号阵列的功能。
9.根据权利要求1所述的样本输送系统,其中
所述中间模块包括能够在下游侧连接多个下游模块的分支模块,
所述分支模块具有合并从连接在下游侧的所述多个下游模块获得的所述节点信号阵列,并且向上游侧发送合并的节点信号阵列的功能,
所述多个模块包括布置在每个所述路径的最下游侧的最下游模块,并且
所述最下游模块具有当连接在下游侧的分析装置不能接收样本时,将经过该最下游模块到该分析装置的路径的所述节点信号改变为不能输送的功能。
10.根据权利要求1所述的样本输送系统,其中
所述多个模块包括布置在每个所述路径的最上游侧的最上游模块,
所述最上游模块具有参照从连接在下游侧的下游模块获得的所述节点信号阵列而向连接在上游侧的装置请求要向所述节点信号指示能输送的路径输送的样本,同时避免请求要向所述节点信号指示不能输送的路径输送的样本的功能,
所述中间模块包括能够在下游侧连接多个下游模块的分支模块,并且
所述分支模块具有合并从连接在下游侧的所述多个下游模块获得的节点信号阵列,并且向上游侧发送合并的节点信号阵列的功能。
11.根据权利要求10所述的样本输送系统,其中
所述多个模块包括布置在每个所述路径的最下游侧的最下游模块,并且
所述最下游模块具有当连接在下游侧的所述分析装置不能接收样本时,将经过该最下游模块到该分析装置的路径的节点信号改变为不能输送的功能。
12.根据权利要求1所述的样本输送系统,其中
所述中间模块包括各在上游侧和下游侧连接其他模块的单元,将从上游侧输送来的样本向下游侧输送的单元,以及将从上游侧所获得的样本的目的地信号向下游侧发送的单元,并且
所述多个模块能够相互自由组合,并且相邻的所述模块相互连接以形成多个所述路径,并且每个模块将从上游侧输送来的样本向与样本的目的地信号对应的下游侧输送,以沿对应于目的地信号的路径来输送所述样本。
13.根据权利要求12所述的样本输送系统,其中
所述样本收容在样本架中,
所述中间模块包括能够在下游侧连接多个下游模块的分支模块,并且
所述中间模块选择与相关联于从上游侧输送来的所述样本架的所述目的地信号对应的下游模块,并且将所述样本架输送至所选择的下游模块。
14.根据权利要求13所述的样本输送系统,其中
所述分支模块具有对从上游侧输送来的所述样本架进行旋转的单元,并且该单元根据相关于所述样本架的所述目的地信号而旋转所述样本架来选择对应于目的地信号的所述下游模块。
15.根据权利要求14所述的样本输送系统,其中
对于通过所述多个模块的自由组合形成的多个路径中的每个路径,均关联了识别该路径的代码,并且
所述分支模块包括能够根据包括有所述分支模块的多个模块的自由组合而对与多个路径中的各路径关联的各代码自由设定样本架的旋转方向的单元。
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WO (1) | WO2014050822A1 (zh) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105253569A (zh) * | 2015-11-15 | 2016-01-20 | 曹汝安 | 一种血样试管环形转运方法 |
CN108657768A (zh) * | 2017-03-28 | 2018-10-16 | 株式会社大福 | 物品搬运设备 |
CN109975568A (zh) * | 2017-12-28 | 2019-07-05 | 深圳市新产业生物医学工程股份有限公司 | 样本架调度控制方法、系统以及医学检测设备 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016080362A1 (ja) * | 2014-11-18 | 2016-05-26 | 伊東電機株式会社 | コンベヤ装置、コンベヤシステム、ゾーンコントローラ、cad装置及びコンベヤ装置の製造方法 |
EP3095739A1 (en) * | 2015-05-22 | 2016-11-23 | Roche Diagniostics GmbH | Method of operating a laboratory sample distribution system, laboratory sample distribution system and laboratory automation system |
CN108027379B (zh) | 2015-06-26 | 2021-07-23 | 雅培实验室 | 用于诊断分析设备的反应容器交换装置 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000055924A (ja) * | 1998-08-07 | 2000-02-25 | Hitachi Ltd | 検体処理システム |
JP2000088860A (ja) * | 1998-09-11 | 2000-03-31 | Aloka Co Ltd | 検体搬送システムおよび検体搬送方法 |
JP2000314737A (ja) * | 1999-05-06 | 2000-11-14 | Hitachi Ltd | 検体搬送システム |
US20030044319A1 (en) * | 2001-08-31 | 2003-03-06 | Teruaki Itoh | Specimen conveying system |
JP2003098180A (ja) * | 2001-09-27 | 2003-04-03 | Aloka Co Ltd | 検体処理システム |
JP2007315835A (ja) * | 2006-05-24 | 2007-12-06 | Aloka Co Ltd | ラック搬送システム |
CN102236025A (zh) * | 2010-03-30 | 2011-11-09 | 希森美康株式会社 | 样本处理系统及样架运送方法 |
US20120004766A1 (en) * | 2008-11-28 | 2012-01-05 | Karlsruher Institut Fuer Technologie | Locally controlled material transport |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4360216A (en) * | 1980-12-05 | 1982-11-23 | Wiemers George H | Universally-positionable bilaterally-symmetrical three-cylinder-operated hitch |
JP2939161B2 (ja) * | 1995-08-16 | 1999-08-25 | 株式会社エイアンドティー | 検体搬送システムにおける搬送装置 |
JP4250787B2 (ja) * | 1998-08-07 | 2009-04-08 | 株式会社デンソー | 車両用乗員保護システム及びその衝突判定装置 |
US6594535B1 (en) * | 1999-01-11 | 2003-07-15 | Demand Flow Institute, Llc | Material and inventory control system for a demand flow process |
JP4324288B2 (ja) * | 1999-09-29 | 2009-09-02 | 株式会社日立製作所 | 検体搬送装置 |
JP2001242179A (ja) * | 2000-02-28 | 2001-09-07 | Hitachi Ltd | 検体搬送システム |
US6651110B1 (en) * | 2000-09-28 | 2003-11-18 | Rockwell Automation Technologies, Inc. | Configurable object for industrial control and monitoring networks |
US6600418B2 (en) * | 2000-12-12 | 2003-07-29 | 3M Innovative Properties Company | Object tracking and management system and method using radio-frequency identification tags |
US7120884B2 (en) * | 2000-12-29 | 2006-10-10 | Cypress Semiconductor Corporation | Mask revision ID code circuit |
JP2003121451A (ja) | 2001-10-12 | 2003-04-23 | Hitachi Sci Syst Ltd | 自動分析装置 |
JP3990945B2 (ja) | 2002-06-28 | 2007-10-17 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
ITMI20030550A1 (it) | 2003-03-21 | 2004-09-22 | Delta Biolog S R L | Macchina ad architettura modulare per l'esecuzione di analisi mediche. |
US7242302B2 (en) * | 2005-03-31 | 2007-07-10 | Xerox Corporation | Systems and methods for capturing workflow information |
ATE425817T1 (de) * | 2005-12-05 | 2009-04-15 | Deutsche Post Ag | Verfahren zum sortieren von postsendungen und vorrichtung mit einer datenstruktur fur einen sortierplan |
US7873469B2 (en) * | 2006-06-19 | 2011-01-18 | Kiva Systems, Inc. | System and method for managing mobile drive units |
US8538692B2 (en) * | 2006-06-19 | 2013-09-17 | Amazon Technologies, Inc. | System and method for generating a path for a mobile drive unit |
CN101512604B (zh) * | 2006-07-10 | 2014-02-19 | 高级技术材料公司 | 用于管理具有信息存储元件的材料存储容器的系统和方法 |
JP4899981B2 (ja) * | 2007-03-28 | 2012-03-21 | 和光純薬工業株式会社 | マイクロプレートの搬送装置 |
JP5192263B2 (ja) | 2008-03-07 | 2013-05-08 | シスメックス株式会社 | 分析装置および検体の搬送方法 |
JP5280522B2 (ja) * | 2009-04-28 | 2013-09-04 | キヤノンアネルバ株式会社 | 識別情報設定装置、および識別情報設定方法 |
JP5638823B2 (ja) * | 2010-03-31 | 2014-12-10 | シスメックス株式会社 | 検体処理システム |
GB2487234B (en) * | 2011-01-17 | 2017-08-02 | Agilent Technologies Inc | Fluidic network with distributed netlist |
DE202012001229U1 (de) * | 2012-02-07 | 2012-04-04 | Transnorm System Gmbh | Fördervorrichtung zum Transport und/oder Sortieren von Gegenständen |
US8918202B2 (en) * | 2012-08-21 | 2014-12-23 | Amazon Technologies, Inc. | Controlling mobile drive units with active markers |
-
2012
- 2012-09-26 JP JP2012213100A patent/JP5414866B1/ja active Active
-
2013
- 2013-09-24 EP EP13841352.1A patent/EP2902789A4/en not_active Withdrawn
- 2013-09-24 US US14/411,953 patent/US9448245B2/en active Active
- 2013-09-24 WO PCT/JP2013/075725 patent/WO2014050822A1/ja active Application Filing
- 2013-09-24 CN CN201380048128.9A patent/CN104641238B/zh active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000055924A (ja) * | 1998-08-07 | 2000-02-25 | Hitachi Ltd | 検体処理システム |
JP2000088860A (ja) * | 1998-09-11 | 2000-03-31 | Aloka Co Ltd | 検体搬送システムおよび検体搬送方法 |
JP2000314737A (ja) * | 1999-05-06 | 2000-11-14 | Hitachi Ltd | 検体搬送システム |
US20030044319A1 (en) * | 2001-08-31 | 2003-03-06 | Teruaki Itoh | Specimen conveying system |
JP2003098180A (ja) * | 2001-09-27 | 2003-04-03 | Aloka Co Ltd | 検体処理システム |
JP2007315835A (ja) * | 2006-05-24 | 2007-12-06 | Aloka Co Ltd | ラック搬送システム |
US20120004766A1 (en) * | 2008-11-28 | 2012-01-05 | Karlsruher Institut Fuer Technologie | Locally controlled material transport |
CN102236025A (zh) * | 2010-03-30 | 2011-11-09 | 希森美康株式会社 | 样本处理系统及样架运送方法 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105253569A (zh) * | 2015-11-15 | 2016-01-20 | 曹汝安 | 一种血样试管环形转运方法 |
CN108657768A (zh) * | 2017-03-28 | 2018-10-16 | 株式会社大福 | 物品搬运设备 |
CN108657768B (zh) * | 2017-03-28 | 2021-07-09 | 株式会社大福 | 物品搬运设备 |
CN109975568A (zh) * | 2017-12-28 | 2019-07-05 | 深圳市新产业生物医学工程股份有限公司 | 样本架调度控制方法、系统以及医学检测设备 |
CN109975568B (zh) * | 2017-12-28 | 2022-11-11 | 深圳市新产业生物医学工程股份有限公司 | 样本架调度控制方法、系统以及医学检测设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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US9448245B2 (en) | 2016-09-20 |
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