CN104467833A - 相位检测设备和相位检测方法 - Google Patents
相位检测设备和相位检测方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN104467833A CN104467833A CN201410148537.2A CN201410148537A CN104467833A CN 104467833 A CN104467833 A CN 104467833A CN 201410148537 A CN201410148537 A CN 201410148537A CN 104467833 A CN104467833 A CN 104467833A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- signal
- clock signal
- phase
- phase detection
- frequency
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R25/00—Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
一种相位检测设备包括:时钟分频器,被配置成将时钟信号分频,并且产生多个分频时钟信号;恢复器,被配置成基于多个分频时钟信号来产生具有与时钟信号大体相同的频率的恢复的时钟信号;以及相位检测器,被配置成响应于数据选通信号来检测恢复的时钟信号的相位。
Description
相关申请的交叉引用
本申请要求2013年9月24日向韩国知识产权局提交的申请号为10-2013-0113109的韩国专利申请的优先权,其全部内容通过引用合并于此。
技术领域
各种实施例涉及一种相位检测设备和相位检测方法,更具体而言,涉及一种包括分频器的相位检测设备和恢复分频信号的相位检测方法。
背景技术
电子装置包括用于执行各种操作的各种操作单元。
在许多情况下,操作单元可以被设置在不同的位置。信号耦接线通常地提供与操作单元的电耦接。与独立操作单元中的每个相关联的不同的信号耦接线可以具有不同的特性。随着电子装置的操作速度增大,共同提供至操作单元的操作信号不能基本同时被提供。
发明内容
在一个实施例中,一种相位检测设备包括:时钟分频器,被配置成将接收的时钟信号分频并且产生多个分频时钟信号;恢复器,被配置成基于多个分频时钟信号来产生具有与时钟信号大体相同的频率的恢复的时钟信号;以及相位检测器,被配置成响应于数据选通信号来检测恢复的时钟信号的相位。
在一个实施例中,一种相位检测系统包括:控制器,被配置成产生时钟信号和外部数据选通信号;以及相位检测设备,被配置成:接收时钟信号和外部数据选通信号,响应地产生多个分频时钟信号和多个数据选通信号,基于分频时钟信号来产生具有与时钟信号大体相同频率的恢复的时钟信号,基于多个数据选通信号来检测恢复的时钟信号的相位,以及产生相位检测结果。
在一个实施例中,一种相位检测方法包括以下步骤:接收时钟信号和外部数据选通信号,将接收的时钟信号分频以产生多个分频时钟信号;基于多个分频时钟信号来产生具有与时钟信号大体相同频率的恢复的时钟信号;以及基于外部数据选通信号来检测恢复的时钟信号的相位。
HP140349W
附图说明
图1是一个实施例的相位检测系统的框图表示;
图2是存储器装置中的多个操作单元的框图表示,详示了从控制器提供至操作单元的控制信号的路径;
图3是设置在操作单元中的相位检测设备的一个实施例的框图;
图4是图3中所示的一个实施例的恢复器的电路图;
图5是说明由图4中所示的恢复器执行操作所产生的信号之间的关系的时序图;
图6是图3中所示的相位检测器的一个实施例的电路图;
图7是说明与一个实施例的相位检测设备的操作相关联的信号之间的关系的时序图;
图8和图9是说明与一个实施例的相位检测系统的操作相关联的信号之间的关系的一个实例的时序图;
图10是包括一个实施例的相位检测系统的电子装置的框图说明;以及
图11是一个实施例的相位检测方法的流程图说明。
具体实施方式
以下将参照附图来描述相位检测设备和相位检测方法的实施例。
参见图1,示出相位检测系统10的一个实施例的框图表示。
相位检测系统10的一个实施例可以包括控制器100和存储器装置200。
控制器100产生并且传送用于控制存储器装置200的操作的多个不同信号。一个实施例的控制器100的可以包括信号发生单元110和传送单元120。
信号发生单元110产生包括控制信号的多个不同信号。当控制器100处于相位检测模式下时,控制器100将命令信号、时钟信号CLK、CLKB和外部数据选通信号DQS、DQSB提供至存储器装置200。在一个实施例中,控制器100可以将时钟信号CLK、CLKB提供至存储器装置200,而与控制器100的操作模式无关。
在一个实施例中,控制器100提供时钟信号CLK、CLKB。时钟信号CLK以时钟提供,而时钟信号CLKB以反相时钟提供。控制器100提供外部数据选通信号DQS、DQSB。外部数据选通信号DQS以选通提供,而数据选通信号DQSB以反相选通提供。时钟信号CLK、CLKB和数据选通信号DQS、DQSB差分地提供。
时钟信号CLK、CLKB可以对应于第一控制信号,而外部数据选通信号DQS、DQSB可以对应于第二控制信号。时钟信号CLK、CLKB和外部数据选通信号DQS、DQSB由控制器100提供至存储器装置200。
控制器100可以基于从存储器装置200接收的相位检测结果PD来控制时钟信号CLK、CLKB的发生时间和边沿发生时间。控制器100可以基于从存储器装置200接收的相位检测结果PD来控制外部数据选通信号DQS、DQSB的发生时间和边沿发生时间。
在一个实施例中,信号发生单元110可以包括编码器(未示出)。在一个实施例中,编码器可以确定时钟信号CLK、CLKB和外部数据选通信号DQS、DQSB的发生时间。传送单元120接收由信号发生单元110产生的信号,并且将接收的信号从控制器100传送至存储器装置200。
存储器装置200包括至少一个操作单元210。当存储器装置200包括多个操作单元210时,多个操作单元210可以执行与独立操作单元相似的操作或不同的操作。
在一个实施例中,多个操作单元210可以包括用于储存数据的存储器模块(未示出)。每个存储器模块可以根据从控制器100接收的控制信号来独立操作。存储器模块可以包括用于储存数据的易失性和/或非易失性存储器单元。
存储器装置200的操作单元210可以经由多个信号耦接线从控制器100接收控制信号、和将信号传送至控制器100。多个信号耦接线将控制器100与存储器装置200电耦接。
控制器100将控制信号传送至存储器装置200中的多个操作单元210。控制信号的实例可以包括、但是不局限于时钟信号、命令信号、地址信号和数据选通信号。
控制信号可以被共同地或各自地提供至存储器装置200中的操作单元210。共同提供的控制信号旨在被提供至多个操作单元210。在一个实施例中,共同提供的控制信号旨在被提供至存储器装置200中的所有的操作单元210。在一个实施例中,共同提供的控制信号旨在被提供至存储器装置200的所有的操作单元210中的子组。各自提供的信号旨在被提供至特定的操作单元210。
例如,控制器100和存储器装置200可以被设置在各自的芯片上。控制器100和存储器装置200可以经由信号耦接线来传送和接收信号。信号耦接线可以包括引脚。控制信号可以被共同地提供。共同提供的控制信号经由单个信号耦接线从控制器100传送至存储器装置200。共同提供的控制信号在存储器装置200处被接收,并且经由存储器装置200中各自的信号路径提供至不同的操作单元210。这种配置可以被称作飞越(fly-by)设计。
经由将控制器100与特定操作单元210电耦接的信号耦接线,将各自提供的控制信号从控制器100各自地传送至特定的操作单元210。
以下将参照图2来更详细地描述控制信号的传送。
参见图2,示出了多个操作单元210a、210b、210c、210d的框图表示,详示了控制信号从控制器100被接收、并且发送至存储器装置200中的不同操作单元的路径。
从控制器100接收、用于传送至多个操作单元210a、210b、210c、210d的信号有两种类型。
在一个实施例中,两种类型的控制信号可以包括第一控制信号CON1和第二控制信号CON2。第一控制信号CON1通过不同的路径被顺序提供至每个操作单元210a、210b、210c、210d。第二控制信号CON2通过与特定操作单元210a、210b、210c、210d相关联的信号耦接线被提供至每个操作单元210a、210b、210c、210d。
在一个实施例中,控制器100经由与操作单元210a、210b、210c、210d相关联的各自的信号耦接线而与每个操作单元210a、210b、210c、210d电耦接。第二控制信号CON2可以经由与操作单元210a、210b、210c、210d相关联的各自的信号耦接线而从控制器100各自地传送至每个操作单元210a、210b、210c、210d。每个操作单元210a、210b、210c、210d可以具有用于从控制器100接收第一控制信号CON1的专用的端子或引脚。
在一个实施例中,控制器100通过公共耦接线与操作单元210a、210b、210c、210d电耦接。在一个实施例中,控制器100通过公共端子或公共引脚与操作单元210a、210b、210c、210d电耦接。第一控制信号CON1可以经由公共信号耦接线由存储器装置200接收,其中公共信号耦接线包括公共端子或公共引脚。控制器100可以通过公共信号耦接线将第二控制信号CON2传送至存储器装置200。在存储器装置200内部分支的信号路径可以用于将通过公共信号耦接线接收的第一控制信号CON1传送至相应的操作单元210a、210b、210c、210d。
第一控制信号CON1通过公共信号耦接线由操作单元210a、210b、210c、210d来接收,而第二控制信号CON2通过各自的信号耦接线由操作单元210a、210b、210c、210d来接收。第一控制信号CON1和第二控制信号CON2可以在不同的时间到达操作单元210a、210b、210c、210d。第一控制信号CON1和第二控制信号CON2之间可以存在由在操作单元210a、210b、210c、210d接收第一控制信号CON1和第二控制信号CON2的时间引起的相位差。
由于第一控制信号CON1通过不同的信号路径被提供至操作单元210a、210b、210c、210d,所以第一控制信号CON1到达第四操作单元210d相比于所述第一控制信号CON1到达第一控制单元210a会花费相对较长的时间。第二控制信号CON2通常以大体相同的时间到达操作单元210a、210b、210c、210d。
相位检测系统10通常将每个操作单元210a、210b、210c、210d中的第一控制信号CON1的相位与第二控制信号CON2的相位同步。
在相应的操作单元210a、210b、210c、210d的每个中的第一控制信号CON1和第二控制信号CON2之间的相位差可以变化。针对相应的操作单元210a、210b、210c、210d中的每个执行相位检测操作。
第一控制信号CON1和第二控制信号CON2之间的相位差可以由多个不同的因素引起。例如,相位差和/或检测相位的时间可以因上述信号路径的差异、信号完整性、或者在操作单元210a、210b、210c、210d中接收第一控制信号CON1和第二控制信号CON2的接收缓冲器的特性而不同。
确定信号完整性的因素可以包括、但是不局限于噪声、信号传送时间以及电磁干扰(EMI)。信号完整性特性可以根据经此提供第二控制信号CON2的信号耦接线的路径形状和相邻电路的特性来变化。检测第二控制信号CON2的电平的能力可以基于相应的接收缓冲器的特性来变化。
在一个实施例中,第一控制信号CON1可以对应于时钟信号CLK、CLKB,而第二控制信号CON2可以对应于外部数据选通信号DQS、DQSB。外部数据选通信号DQS、DQSB可以在特定的时间产生脉冲。时钟信号CLK、CLKB可以以预定的周期振荡。第一控制信号CON1和第二控制信号CON2的类型不分别局限于时钟信号CLK、CLKB和外部数据选通信号DQS、DQSB。第一控制信号CON1和第二控制信号CON2可以是其他类型的信号。
参见图3,示出设置在操作单元210中的相位检测设备250的一个实施例的框图表示。
相位检测设备250可以包括:第一分频器255、第二分频器257、恢复器258和相位检测器259。
如以上参照图1所述,差分时钟信号对——时钟信号CLK和反相时钟信号CLKB——从控制器100被传送、并且在第一分频器255处被接收作为内部时钟ICLK和反相内部时钟ICLKB。第一分频器255接收内部时钟信号ICLK和反相时钟信号ICLKB作为输入、将它们中的每个二分频、于是产生四个分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270。尽管在所述实施例中,接收的时钟信号被二分频,但是在可替选的实施例中,接收的时钟信号可以按其他数目分频。
分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270的使用不局限于与相位检测设备250相关联的操作,并且可以用于与存储器装置200的其他部件相关联的操作中。
在一个实施例中,可以响应于数据选通来检测分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270的相位。当分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270具有逻辑高状态时,各个分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270可以邻近上升沿或者下降沿。各个分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270的相位可以彼此不同。
恢复器258接收分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270,并且产生具有与时钟信号CLK和反相时钟信号CLKB大体相同频率的恢复的时钟信号RCLK。关于分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270中的任意一个,检测到大体相同的相位会是可能的。
恢复器258可以包括多个逻辑操作器。多个逻辑操作器可以用于针对分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270执行逻辑操作,并且产生恢复的时钟信号RCLK。
外部数据选通信号——外部数据选通信号DQS和反相外部数据选通信号DQSB——从控制器100被传送,并且在第二分频器257处被接收作为内部数据选通信号IDQS和反相的内部数据选通信号IDQSB。第二分频器257接收内部数据选通信号IDQS和反相的内部数据选通信号IDQSB,产生多个分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270。第二分频器257将多个分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270提供至相位检测器259。
外部数据选通信号DQS、DQSB可以被提供作为差分外部数据选通信号对,即外部数据选通信号DQS和反相的外部数据选通信号DQSB。
第二分频器257可以接收内部数据选通信号IDQS和反相的内部数据选通信号IDQSB作为输入,将接收的内部数据选通信号IDQS、IDQSB中的每个二分频,产生四个分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270,以及将四个分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270提供至相位检测器259。
尽管在所述的实施例中,内部数据选通信号IDQS、IDQSB被二分频,但是在可替选的实施例中,第二分频器257可以将数据选通信号IDQS和反相的数据选通信号IDQSB分成其他的数目。
相位检测器259响应于分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270中的至少一个来检测恢复的时钟信号RCLK的相位。相位检测器259基于检测的相位来产生相位检测结果PD。相位检测结果PD可以从存储器装置200提供至控制器100中的信号发生单元110。信号发生单元110可以通过基于相位检测结果PD调整多个信号CLK、CLKB、DQS、DQSB中的一个的发生时间,来响应地产生时钟信号CLK、CLKB和外部数据选通信号DQS、DQSB。
在一个实施例中,相位检测设备250可以包括第一缓冲器251。第一缓冲器251接收时钟信号CLK和反相的时钟信号CLK作为输入,并且产生内部时钟信号ICLK和反相的内部时钟信号ICLKB。第二缓冲器253接收外部数据选通信号DQS和反相的外部数据选通信号DQSB作为输入,并且产生内部数据选通信号IDQS和反相的内部数据选通信号IDQSB。
第一缓冲器251和第二缓冲器253每个都可以包括两个接收缓冲器以接收差分信号。
图4是图3中所示的恢复器258的一个实施例的电路图。
恢复器258可以包括多个逻辑操作器。多个逻辑操作器可以用于针对分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270执行逻辑操作,并且产生恢复的时钟信号RCLK。
第一反相器I1接收第二分频时钟信号ICLK90作为输入,并且产生反相的第二分频时钟信号ICLK90。第一分频时钟信号ICLK0和反相的第二分频时钟信号ICLK90被提供至第一逻辑操作器L1作为输入。
第一逻辑操作器L1执行逻辑操作,诸如例如与非(NAND)操作,并且产生第一中间恢复信号ICLK0_CHP。
第二反相器I2接收第四分频时钟信号ICLK270作为输入,并且产生反相的第四分频时钟信号ICLK270。第三分频时钟信号ICK180和反相的第四分频时钟信号ICLK270被提供至第二逻辑操作器L2作为输入。
第二逻辑操作器L2执行逻辑操作,诸如例如与非(NAND)操作,并且产生第二中间恢复信号ICLK90_CHP。
第一中间恢复信号ICLK0_CHP和第二中间恢复信号ICLK90_CHP被提供至第三逻辑操作器L3作为输入。第三逻辑操作器L3执行逻辑操作,诸如例如与非(NAND)操作,并且产生恢复的时钟信号RCLK。
参见图5,示出通过由图4的恢复器258执行操作而产生的信号的时序图。
针对多个分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270执行逻辑操作导致产生恢复的时钟信号RCLK。恢复的时钟信号RCLK具有与在由第一分频器255执行分频之前的时钟信号CLK、CLKB的频率大体相同的频率。
图6是图3中所示的相位检测器259的一个实施例的电路图。
相位检测器259包括边沿同步相位检测器2590和检测结果输出器2595。
边沿同步相位检测器2590从分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270中选择信号对,其中分频的数据选通信号对包括分频的数据选通信号和分频的反相的数据选通信号。边沿同步相位检测器259响应于所述信号对来检测恢复的时钟信号RCLK的相位。例如,分频的数据选通信号对可以包括第一分频的数据选通信号IDQS0和第三分频的数据选通信号IDQS180,或者分频的数据选通信号对可以包括第二分频的数据选通信号IDQS90和第四分频的数据选通信号IDQS270。选中的分频的数据选通信号对可以被提供至边沿同步相位检测器2590,作为边沿数据选通信号QDQS和反相的边沿数据选通信号QDQSB用于相位检测。
分频的数据选通信号可以选自由第二分频器257分频的多个分频的数据选通信号之中,并且选中的分频的数据选通信号的反相版本可以被提供至边沿同步相位检测器2590。
在一个实施例中,边沿同步相位检测器2590可以包括第一边沿触发触发器2591和第二边沿触发触发器2593。
第一边沿触发触发器2591响应于边沿数据选通信号QDQS的上升沿来产生恢复的时钟信号RCLK的相位。第二触发触发器2593响应于反相的边沿数据选通信号QDQSB的上升沿来产生恢复的时钟信号RCLK的相位。
第一边沿触发触发器2591和第二边沿触发触发器2593可以是D触发器。第一边沿触发触发器2591响应于边沿数据选通信号QDQS的上升沿来将第一边沿触发触发器2591接收作为输入的恢复的时钟信号RCLK储存,并且产生恢复的时钟信号RCLK的储存值。第二边沿触发触发器2593响应于反相的边沿数据选通信号QDQSB的上升沿来将第二边沿触发触发器2593接收作为输入的恢复的时钟信号RCLK储存,并且产生恢复的时钟信号RCLK的储存值。
第一边沿触发触发器2591响应于边沿数据选通信号QDQS的上升沿将恢复的时钟信号RCLK的相位作为第一检测相位LAT0提供至检测结果输出器2595。在一个实施例中,第一边沿触发触发器2591也可以将反相的第一检测相位LATT0提供至检测结果输出器2595。
第二边沿触发触发器2593响应于反相的边沿数据选通信号QDQSB的上升沿将恢复的时钟信号RCLK的相位作为第二检测相位LAT1提供至检测结果输出器2595。在一个实施例中,第二边沿触发触发器2593也可以将反相的第二检测相位LATT1提供至检测结果输出器2595。
检测结果输出器2595选择性地提供第一检测的相位LAT0和第二检测的相位LAT1作为相位检测结果PD。
检测结果输出器2595可以包括驱动部。驱动部包括互补PMOS晶体管MP1、MP2,互补NMOS晶体管MN1、MN2,以及锁存电路I3、I4。互补PMOS晶体管MP1、MP2和互补NMOS晶体管MN1、MN2串联交替地电耦接。锁存节点LN与在PMOS晶体管MP1和NMOS晶体管MN1之间的第一中间节点电耦接,并且与在PMOS晶体管MP1和NMOS晶体管MN2之间的第二中间节点电耦接。锁存电路I3、I4与锁存节点LN电耦接。
图7是说明与一个实施例的相位检测设备250的操作相关联的信号之间的关系的时序图。
以下将参照图3至图7来描述一个实施例的相位检测设备250的操作。
时钟信号CLK、CLKB和外部数据选通信号DQS、DQSB从控制器100被提供至存储器装置200。存储器装置200包括多个操作单元210。相位检测设备250被设置在多个操作单元210的每个中。分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270从时钟信号CLK和CLKB中分出。相位检测设备250基于分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270来产生恢复的时钟信号RCLK。
参见图7,时钟信号CLK、CLKB和恢复的时钟信号RCLK大体具有相同的频率,但是不同的相位。
分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270从外部数据选通信号DQS、DQSB分出。边沿数据选通信号QDQS和反相的边沿数据选通信号QDQSB选自分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270,并且不具有与外部数据选通信号DQS和DQSB相同的相位。相位差异归因于多个不同的因素,包括但是不局限于从控制器100提供至存储器装置200的信号的耦接、和相应的操作单元210的缓冲特性。
在时刻t1处,边沿同步相位检测器2590响应于边沿数据选通信号QDQS的上升沿,来将与恢复的时钟信号RCLK的相位相对应的逻辑低状态的第一检测相位LAT0提供至第一PMOS晶体管MP1。由于反相的第一检测相位LATT0对应于逻辑高状态,所以第一PMOS晶体管MP1和第一NMOS晶体管NM1导通,并且与逻辑高状态相对应的相位检测结果PD被输出至锁存节点LN。
与由第三反相器I3和第四反相器I4产生的值相同的值可以被储存在锁存电路中。
在时刻t2处,第二边沿触发触发器2593响应于反相的边沿数据选通信号QDQSB的上升沿来检测恢复的时钟信号RCLK的相位。由于恢复的时钟信号RCLK仍对应于逻辑低状态,所以与逻辑低状态相对应的第二检测相位LAT1、和与逻辑高状态相对应的反相的第二检测相位LATT1被分别提供至第二PMOS晶体管MP2的栅极端子和第二NMOS晶体管MN2的栅极端子。
由于第二PMOS晶体管MP2和第二NMOS晶体管MN2导通,并且锁存节点LN对应于逻辑高状态,所以相位检测结果PD未改变。
在时刻t3处,边沿同步相位检测器2590响应于边沿数据选通信号QDQS来检测恢复的时钟信号RCLK的相位。在时刻t4处,响应于反相的边沿数据选通信号QDQSB来检测恢复的时钟信号RCLK的相位。
在时刻t3和t4处,由于恢复的时钟信号RCLK对应于逻辑低状态,所以相位检测结果PD保持在逻辑高状态。经由这个过程,有可能实现在边沿数据选通信号QDQS的上升沿和下降沿处都检测相位的效果。由于恢复的时钟信号RCLK具有与时钟信号CLK、CLKB大体相同的频率,所以控制器100会能够基于相位检测结果来校正相位。
在时刻t5处,由于通过第一边沿触发触发器2591响应于边沿数据选通信号QDQS而检测恢复的时钟信号RCLK的相位,所以确定出恢复的时钟信号RCLK的相位对应于逻辑高状态。
由于第一检测相位LAT0对应于逻辑高状态,并且反相的第一检测相位LATT0对应于逻辑低状态,所以第一PMOS晶体管MP1和第二NMOS晶体管MN1被关断。
相位检测结果PD转换成逻辑低状态。由于相位检测结果PD在时刻t5处改变,所以控制器100可以确定出相位同步可能在时刻t5之前或之后发生。
通过控制器100提供的时钟信号CLK、CLKB是在产生分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270之前的信号。如果利用分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270中的一个而不是恢复的时钟信号RCLK来检测相位,则当分频时钟信号的逻辑状态为高时会出现问题,因为离分频时钟信号的上升沿或下降沿的距离未知。
在相位检测设备250的一个实施例中,由于分频时钟ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270被产生作为恢复的时钟信号RCLK,其中恢复的时钟信号RCLK具有与原始的时钟信号CLK、CLKB大体相同的频率,所以可以检测相位并且可以将时钟信号CLK、CLKB的相位和外部数据选通信号DQS、DQSB的相位同步。
参见图8和图9,示出说明与一个实施例的相位检测系统10的操作相关联的信号之间的关系的实例的时序图。
在将时钟信号CLK、CLKB和外部数据选通信号DQS、DQSB分频之后,存储器装置200使用从控制器100接收的时钟信号CLK、CLKB和外部数据选通信号DQS、DQSB。这是因为从控制器100接收的信号的转换速度较高。
因为信号会由于诸如信号完整性等的因素而失真,所以会不容易检测以较高速度转换的信号的边沿。在响应于外部数据选通信号DQS、DQSB来检测恢复的时钟信号RCLK的相位的情况下,外部数据选通信号DQS和DQSB的边沿的不当检测会影响相位检测的精度。
控制器100和存储器装置200经由信号耦接线电耦接。如果外部数据选通信号DQS、DQSB具有脉冲,则在已经被保持预定时间的逻辑低状态之后的脉冲的上升沿会导致外部数据选通信号DQS和DQSB的失真。当外部数据选通信号DQS、DQSB具有在已经被保持短于预定时间的时间的逻辑低状态之后的上升沿时,可以降低外部数据选通信号DQS、DQSB的失真的影响。
通过排除外部数据选通信号DQS、DQSB的失真信号,并且通过利用失真信号之后的信号的上升沿来执行用于恢复的时钟信号RCLK的相位检测。
外部数据选通信号DQS、DQSB具有脉冲或上升沿。尽管脉冲不具有实质的保持时间,但是外部数据选通信号DQS、DQSB,分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270,基于外部数据选通信号DQS、DQSB产生的边沿数据选通信号QDQS和反相的边沿数据选通信号QDQSB具有预定的高电平时段和低电平时段。高电平时段对应于保持逻辑高状态的时段,即脉冲持续时段。低电平时段对应于保持逻辑低状态的时段,即不产生脉冲的时段。
在响应于命令信号而进入相位检测模式之后,相位检测设备250中的相位检测器259忽略外部数据选通信号DQS、DQSB的第一脉冲,并且从第二脉冲的上升沿起检测相位。第一上升沿可以对应于外部数据选通DQS的第一脉冲。
例如,外部数据选通信号DQS的第一脉冲可以从第二缓冲器253中去除,并且不被提供至第二分频器257,或者可以通过忽略第二分频器257中的外部数据选通信号DQS的第一脉冲来产生分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270。
忽略外部数据选通信号DQS的第一脉冲的操作可以通过相位检测设备250中单独的控制单元(未示出)来执行,或者控制器100可以将控制信号提供至相位检测设备250以不利用外部数据选通信号DQS的第一脉冲来执行相位检测。
控制器100随预定的时段内的两个上升沿(即,脉冲)发行进入相位检测模式之后所提供的外部数据选通信号DQS。在一个实施例中,两个上升沿之间的间隔可以与时钟信号CLK、CLKB的一个周期大体相同。
第一上升沿可以被定义成进入相位检测模式之后的第一脉冲。第一上升沿可以被定义成:在进入相位检测模式之后,外部数据选通信号DQS已经被发行处于低逻辑状态大体等于或长于预定时间的时段之后产生的脉冲的上升沿。
在外部数据选通信号DQS被发行处于用逻辑低状态预定的时间之后上升的情况下,忽略紧接的上升沿,并且基于随后的上升沿来执行相位检测。在信号的一个或更多个特性相对稳定之后执行相位检测会使得相位检测的精度得到改善。
相位检测器259检测外部数据选通信号DQS的当前上升沿与紧邻的前一上升沿之间的时间间隔。当上升沿之间的时间间隔大体等于或长于预定的时间时,相位检测器259不基于当前上升沿执行相位检测。相位检测器259可以不针对分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270中的一个执行相位检测,其中,分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270基于这种外部数据选通信号DQS来产生。
在一个实施例中,第二缓冲器253可以不针对外部数据选通信号DQS的第一上升沿产生内部数据选通信号IDQS。当产生分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270时,第二分频器257可以忽略外部数据选通信号DQS的第一上升沿。
外部数据选通信号DQS的高逻辑电平时段和低逻辑电平时段可以从外部设备接收。例如,控制器100可以包括关于用于产生外部数据选通信号DQS的高逻辑电平时段和低逻辑电平时段的信息。相位检测器259可以从控制器100中接收关于外部数据选通信号DQS的高逻辑电平时段和低逻辑电平时段的信息。用于忽略特定上升沿的方法可以基于低时段的持续时间来改变。
图8提供与外部数据选通信号DQS的低逻辑电平时段tDQSL被指定为最大值的情况相关联的细节。图9提供与外部数据选通信号DQS的低逻辑电平时段tDQSL被指定为最小值相关联的细节。
参见图8,时钟信号CLK、CLKB可以是被差分提供至存储器装置200的互补信号。利用差分操作执行相位检测操作可以改善检测时钟信号CLK、CLKB的相位的相对准确性。例如,图3中的相位检测器259可以基于差分时钟信号CLK、CLKB,并且基于差分外部数据选通信号DQS、DQSB来执行相位检测。
存储器装置200中的操作单元210可以根据芯片选择信号CS来选择。
基于命令信号CMD的接收,进入针对时钟信号CLK、CLKB和外部数据选通信号DQS执行相位检测的相位检测模式。在一个实施例中,相位检测模式可以包括写入均衡(write leveling)。写入均衡可以被定义为检测恢复的时钟信号RCLK、和分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270中的至少一个分频的数据选通信号的操作。分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270基于外部数据选通信号DQS。外部数据选通信号DQS、DQSB的发生时间被调整成将时钟信号CLK、CLKB的相位与外部数据选通信号DQS、DQSB的相位同步。例如,可以在训练操作之前执行写入均衡
在时刻t1处,当在接收命令CMD之后经过预定的时段之后,外部数据选通信号DQS从逻辑低状态转换成逻辑高状态。换言之,第一脉冲被提供。在时刻t1的外部数据选通信号DQS的第一脉冲的上升沿会难以正确地检测。
图3中的相位检测器259忽略在第一时刻t1的外部数据选通信号DQS的第一上升沿。相位检测器259响应于时刻t2的外部数据选通信号DQS的脉冲的上升沿来检测时钟信号CLK、CLKB的相位。
针对外部数据选通信号DQS,可以限定高电平时段tDQSH和低电平时段tDQSL。当低电平时段tDQSL大体等于或长于预定的时段时,会发生相位检测操作的激活。外部数据选通信号DQS的连续上升沿之间的时间间隔对应于通过将高电平时段tDQSH与低电平时段tDQSL相加获得的值。时间间隔可以用作预定时段的参考。
例如,相位检测操作的激活基于低电平时段tDQSL是否为第一时间。外部数据选通信号DQS的连续上升沿之间的间隔可以对应于将第一时间与预定的高电平时段tDQSH相加获得的值。以这种方式获得的外部数据选通信号DQS的连续上升沿之间的时间间隔被称作为第二时间。
相位检测器259可以基于从控制器100中接收的关于响应于命令信号CMD而进入相位检测模式之后连续的上升沿之间的间隔的信息来执行相位检测操作。
在响应于命令信号CMD进入相位检测模式之后,忽略在时刻t1处的外部数据选通信号DQS的第一上升沿。在时刻t2处,由于当前上升沿和紧邻的前一个上升沿之间的间隔比第二时间更短,所以相位检测器259可以利用外部数据选通信号DQS来执行恢复的时钟信号RCLK的相位检测。
在一个实施例中,外部数据选通信号DQS的第一上升沿和第二上升沿之间的间隔(图8中的时刻t1和时刻t2之间的时段)可以与时钟CLK的周期大体相同。
在时刻t3处,外部数据选通信号DQS从逻辑高状态转换成逻辑低状态。时刻t3可以对应于下降沿。时刻t2和时刻t3之间的时段被称作为高电平时段tDQSH。高电平时段tDQSH可以对应于外部数据选通信号DQS具有逻辑高状态的时段或脉冲持续时段。
相位检测器259可以在时刻t2处检测时钟信号CLK、CLKB的相位,并且可以在时刻t4处将相位检测结果PD提供至控制器100。相位检测结果PD可以通过检测恢复的时钟信号RCLK的相位来产生。恢复的时钟信号RCLK在内部时钟信号ICLK被第一分频器255分频之后恢复。在一个实施例中,相位检测结果PD可以通过数据输入/输出引脚(DQ)被提供至控制器100。
针对外部数据选通信号DQS定义的低电平时段可以是时刻t3和时刻t5之间的时段。低电平时段可以对应于外部数据选通信号DQS具有逻辑低状态的时段。
如果外部数据选通信号DQS的低电平时段大体等于或长于预定的时段,例如第一时间,则会难以基于在大体等于第一时间的低电平时段之后提供至存储器装置200的外部数据选通信号DQS来对信号执行相位检测。
相位检测器259忽略时刻t5处外部数据选通信号DQS的上升沿,并且响应于时刻t6处第二控制信号CON2的上升沿来对第一控制信号CON1执行相位检测。
在一个实施例中,忽略外部数据选通信号DQS的特定脉冲或上升沿的功能可以通过第二缓冲器253、第二分频器257或相位检测器259来执行。
第二缓冲器253可以不通过单独的控制配置来将外部数据选通信号DQS的特定脉冲或上升沿提供作为内部数据选通信号IDQS。在一个实施例中,第二分频器257可以不执行针对内部数据选通信号IDQS的特定脉冲或上升沿的分频操作。
在时刻t6处检测恢复的时钟信号RCLK的相位。在对应于时刻t6之后经过预设的时间tWLO时的时刻t7处,相位检测结果PD转换成逻辑高状态。
时刻t5和时刻t6之间的时段可以与时钟信号CLK、CLKB或恢复的时钟信号RCLK的周期大体相同。
控制器100可以基于相位检测结果PD来提前或延迟外部数据选通信号DQS、DQSB的脉冲发生时间。
在相位检测方法的一个实施例中,第二缓冲器253的信号完整性和特性可以影响检测初始提供的外部数据选通信号DQS、DQSB的相位的相对精确性。控制器100提供在预定的时段(诸如第二时间)内具有两个上升沿的外部数据选通信号DQS、DQSB。
外部数据选通信号DQS、DQSB的第二上升沿可以实现相对更加准确的相位检测。第二上升沿可以被定义为在接收命令信号CMD之后的第二上升沿、或者在外部数据选通信号DQS、DQSB的低电平时段之后的第二上升沿,其中低电平时段被设定成大体等于或长于预定的时间。预定的时间可以例如是第一时间。
参见图9,示出提供与外部数据选通信号DQS、DQSB的低电平时段并非大体等于或长于预定的时段的情况相关联的细节的时序图。
从相位检测系统10接收命令信号CMD时起至相位检测系统10接收外部数据选通信号DQS时的时刻t3的过程与参照图8所述的过程相似。
在图9中,在当第二上升沿大体等于或短于预定时间时之后的时刻t3处接收外部数据选通信号DQS的低电平时段。预定时间的一个实例是第一时间。在图9中,外部数据选通信号DQS的低电平时段被设定为时刻t5和时刻t6之间的时段。
相位检测器259响应于分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270中的至少一个而连续地检测恢复的时钟信号RCLK的相位,其中,分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270基于外部数据选通信号DQS来产生。基于时刻t2处第二上升沿的相位检测结果被产生为时刻t4处的相位检测结果PD,其中时刻t4对应于经过预定的时段时的时刻。
恢复的时钟信号RCLK与分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270中的至少一个之间的相位差在时刻t9处产生,其中,分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270基于在时刻t7处的外部数据选通DQS的上升沿。恢复的时钟信号RCLK的相位基于分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270中的至少一个来检测,其中,分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270基于在时刻t8处的外部数据选通信号DQS的上升沿。恢复的时钟信号RCLK的相位被提供为在时刻t10处的相位检测结果。
由于从时刻t4至时刻t10检测的恢复的时钟信号RCLK的相位检测结果与在时刻t8检测的恢复的时钟信号RCLK的相位检测结果彼此不同,所以在时刻t10处的相位检测结果PD从逻辑低状态转换成逻辑高状态。
参见图9,在外部数据选通信号DQS、DQSB的连续上升沿之间的低状态时段被设定成比预定的时段更短的情况下,可以响应于分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270中的至少一个重复地执行相位检测,其中分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270基于外部数据选通信号DQS的上升沿。预定时段的一个实例是第一时间。由于外部数据选通信号DQS、DQSB的相位遭受较小的因信号完整性或接收缓冲器的特性而引起的失真,所以所有的上升沿用于相位检测,除了响应于命令信号CMD基于外部数据选通信号DQS的第一上升沿产生的分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270之外。
在一个实施例中,在进入相位检测模式之后外部数据选通信号DQS的当前上升沿与前一个上升沿之间的时间间隔比预定的时段更短的情况下,相位检测方法和相位检测设备执行相位检测。预定的时段的一个实例是第二时间。例如,在当前上升沿是外部数据选通信号DQS的第一上升沿、或者外部数据选通信号DQS的低电平时段被设定成大体等于或长于预定的时段的情况下,可以不执行相位检测。预定时段的一个实例是第一时间。在接收命令信号CMD之后当前上升沿和之前的上升沿之间的时间间隔大体等于或长于预定的时段。预定的时段的一个实例是第二时间。
图10是包括一个实施例的相位检测系统10的电子装置1的框图表示。
电子装置1可以包括主机20和相位检测系统10。
相位检测系统10可以具有与以上参照图1至图9所述的相同的配置和操作特性。
在一个实施例中,电子装置1可以包括控制器100。控制器100可以从主机20中接收与操作模式相关联的信号。控制器100可以响应于从主机20接收的信号来产生命令信号CMD,并且将命令信号CMD提供至存储器装置200。设置在存储器装置200中的操作单元210可以根据接收的命令信号CMD来操作。
在一个实施例中,操作单元210可以执行由相位检测设备250执行的相位检测操作,以及数据写入/读取操作。在用于储存数据的存储器被提供在每个操作单元210中时可以执行数据写入/读取操作。存储器可以包括易失性存储器和非易失性存储器中的至少一种。
数据写入/读取操作可以根据从主机20中接收的操作模式命令来执行。数据写入/读取操作可以根据通过控制器100内部产生的命令来执行。
根据相位检测系统10的一个实施例,在具有较高转换速度的时钟信号CLK、CLKB和外部数据选通信号DQS、DQSB被控制器100提供、并且被存储器装置200分频之后,恢复的时钟信号RCLK通过将分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270恢复来产生,然后可以执行相位检测操作。对于相位检测,具有较好的信号特性的脉冲可以从外部数据选通信号DQS、DQSB中被选择性地使用。相位检测特性可以得到改善,并且与电子装置1的操作相关联的相位错误可以较低。
如果与电子装置1的操作相关联的相位错误减少,则整个操作的可靠性会得到改善。在电子装置1以较高的操作速度操作的情况下,在相位检测的相对精确性上会有改善。
图11是相位检测方法的一个实施例的流程图表示。
从外部设备接收时钟信号CLK、CLKB和外部数据选通信号DQS、DQSB(步骤S1130)。在一个实施例中,相位检测设备250被设置在存储器装置200中,并且可以从控制器100中接收差分时钟信号CLK、CLKB和差分外部数据选通信号DQS、DQSB。在一个实施例中,相位检测设备250可以从控制器100中接收单个时钟信号CLK和单个外部数据选通信号DQS。
接收的时钟信号CLK、CLKB通过第一缓冲器251被提供至第一分频器255。第一缓冲器255将接收的时钟信号CLK、CLKB分频,并且产生多个分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270(步骤D1140)。
恢复器258基于多个分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270来产生具有与时钟信号CLK、CLKB大体相同的频率的恢复的时钟信号RCLK(步骤S1150)。恢复器258可以通过对多个分频时钟信号ICLK0、ICLK90、ICLK180、ICLK270执行与非(NAND)操作来产生恢复的时钟信号RCLK。
相位检测器259响应于分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270中的至少一个来检测恢复的时钟信号RCLK的相位,其中,分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270基于外部数据选通信号DQS、DQSB来产生(步骤S1170)。在一个实施例中,相位检测器259可以基于恢复的时钟信号RCLK的检测的相位来产生相位检测结果PD,并且将相位检测结果PD提供至控制器100。例如,相位检测结果PD可以通过包括相位检测设备250的存储器装置200的DQ焊盘被传送至控制器100。
控制器100可以基于相位检测结果PD来调整外部数据选通信号DQS、DQSB的脉冲或上升沿的发生时间(步骤S1180)。通过重复这个过程,在相位检测设备250接收的外部数据选通信号DQS、DQSB和时钟信号CLK、CLKB的相位可以相对于彼此大体同步。
在一个实施例中,第二分频器257可以分频外部数据选通信号DQS、DQSB,并且产生分频的数据选通信号IDQS0、IDQS90、IDQS180、IDQS270(步骤S1160)。
在相位检测方法的一个实施例中,当相位检测方法基于外部数据选通信号DQS时,通过忽略外部数据选通信号DQS的特定脉冲来执行相位检测。
在一个实施例中,相位检测系统10响应于从主机20接收的命令信号CMD而进入相位检测模式(步骤S1110)。
在相位检测系统10进入相位检测模式之后,控制器100将外部数据选通信号DQS提供至相位检测系统10。外部数据选通信号DQS具有在预定的时段内产生的两个上升沿。外部数据选通信号DQS的第一脉冲会失真(步骤S1120)。
当外部数据选通信号DQS的两个连续的上升沿在相位检测系统10处接收时,第二缓冲器253可以忽略第一上升沿,并且可以随着接收的外部数据选通信号DQS的第二上升沿开始而将外部数据选通信号DQS作为内部数据选通信号IDQS提供至第二分频器257。
在一个实施例中,当外部数据选通信号DQS的两个连续上升沿作为内部数据选通信号IDQS都被提供至第二分频器257时,第二分频器257可以忽略内部数据选通信号IDQS的第一上升沿,并且随着内部数据选通信号IDQS的第二上升沿开始而执行分频操作。
在一个实施例中,相位检测器259可以通过忽略基于外部数据选通信号DQS的第一上升沿的信号来执行相位检测操作。
在一个实施例中,尽管存储器装置200可以执行相位检测操作,而与外部数据选通信号DQS的特性无关,但是控制器100可以丢弃相位检测系统10基于外部数据选通信号DQS的第一上升沿而提供的相位检测结果。
相位检测设备和相位检测方法可以减少在低逻辑状态保持预定的时段之后提供的脉冲的较不好的信号特性的影响。具有两个连续脉冲的控制信号可以在进入相位检测模式之后被提供至相位检测系统10。通过忽略第一脉冲和利用下一个脉冲来实施相位检测。
相位检测方法和相位检测系统的实施例可以降低在低逻辑状态保持预定的时间之后提供的脉冲的潜在的不好信号特性的影响。在进入相位检测模式之后提供具有两个连续脉冲的控制信号,并且通过忽略第一脉冲和利用下一个脉冲来实施相位检测。
相位检测方法和相位检测系统的实施例可以改善相位检测的精确度,并且由于相位失配引起的错误可以被最小化。相位检测方法和相位检测系统的实施例的使用可以改善操作可靠性。
相位检测系统的实施例可以用于执行高速操作的较小尺寸的电子装置。
尽管以上已经描述了某些实施例,但是对于本领域的技术人员将理解的是,描述的实施例仅仅示例。因此,不应基于所描述的实施例来限定本文描述的相位检测设备和相位检测方法。更确切地说,应当仅根据所附权利要求并结合以上描述和附图来限定本文描述的相位检测设备和相位检测方法。
通过以上实施例可以看出,本申请提供了以下的技术方案。
技术方案1.一种相位检测设备,包括:
时钟分频器,被配置成将时钟信号分频,并且产生多个分频时钟信号;
恢复器,被配置成基于所述多个分频时钟信号来产生恢复的时钟信号,所述恢复的时钟信号具有与所述时钟信号大体相同的频率;以及
相位检测器,被配置成响应于数据选通信号来检测所述恢复的时钟信号的相位。
技术方案2.如技术方案1所述的相位检测设备,还包括:
数据选通分频器,被配置成将外部数据选通信号分频,并且产生所述数据选通信号。
技术方案3.如技术方案1所述的相位检测设备,其中,所述时钟信号包括具有时钟信号和反相时钟信号的差分时钟信号对。
技术方案4.如技术方案1所述的相位检测设备,其中,所述恢复器被配置成通过对所述多个分频时钟信号执行“与AND”操作来产生所述恢复的时钟信号。
技术方案5.一种相位检测系统,包括:
控制器,被配置成产生时钟信号和外部数据选通信号;以及
相位检测设备,被配置成:接收所述时钟信号和所述外部数据选通信号,响应地产生多个分频时钟信号和多个数据选通信号,基于所述多个分频时钟信号来产生具有与所述时钟信号大体相同的频率的恢复的时钟信号,基于所述多个数据选通信号来检测所述恢复的时钟信号的相位,以及产生相位检测结果。
技术方案6.如技术方案5所述的相位检测系统,其中,所述控制器基于所述相位检测结果来确定所述外部数据选通信号的发生时间。
技术方案7.如技术方案5所述的相位检测系统,其中,所述相位检测设备包括:
时钟分频器,被配置成将从所述控制器接收的所述时钟信号分频,并且产生所述多个分频时钟信号;
恢复器,被配置成基于所述多个分频时钟信号来产生所述恢复的时钟信号;
数据选通分频器,被配置成将所述外部数据选通信号分频,并且产生多个数据选通信号;以及
相位检测器,被配置成响应于所述多个数据选通信号来检测所述恢复的时钟信号的相位。
技术方案8.如技术方案5所述的相位检测系统,其中,所述控制器提供差分时钟信号对和差分外部数据选通信号对,其中,所述差分时钟信号对包括一对互补的时钟信号,而所述差分外部数据选通信号对包括一对互补的外部数据选通信号。
技术方案9.如技术方案5所述的相位检测系统,其中,所述相位检测设备将所述时钟信号二分频,并且将所述外部数据选通信号二分频。
技术方案10.如技术方案9所述的相位检测系统,其中,所述分频时钟信号基于“与AND”操作而被产生为所述恢复的时钟信号。
技术方案11.如技术方案5所述的相位检测系统,其中,在基于接收的命令信号进入相位检测模式之后,所述控制器忽略响应于所述多个数据选通信号的第一边沿产生的所述恢复的时钟信号的相位检测结果。
技术方案12.如技术方案11所述的相位检测系统,其中,所述接收的命令信号是写入均衡模式信号。
技术方案13.如技术方案5所述的相位检测系统,
其中,多个相位检测设备被设置在存储器装置中,以及
其中,当所述存储器装置通过第一信号耦接线和通过多个第二信号耦接线与所述控制器电耦接时,其中,所述时钟信号通过所述第一信号耦接线被提供至所述多个相位检测设备,以及所述外部数据选通信号通过所述多个第二信号耦接线被提供至所述多个相位检测设备。
技术方案14.一种相位检测方法,包括以下步骤:
接收时钟信号和外部数据选通信号;
将接收的时钟信号分频,以产生多个分频时钟信号;
基于所述多个分频时钟信号来产生恢复的时钟信号,所述恢复的时钟信号具有与所述时钟信号大体相同的频率;以及
基于所述外部数据选通信号来检测所述恢复的时钟信号的相位。
技术方案15.如技术方案14所述的相位检测方法,还包括以下步骤:
基于所述恢复的时钟信号的检测的相位来调整所述外部数据选通信号的发生时间。
技术方案16.如技术方案14所述的相位检测方法,还包括以下步骤:
基于所述外部数据选通信号来产生多个分频的数据选通信号,
其中,检测所述相位的步骤包括基于所述分频的数据选通信号来检测所述恢复的时钟信号的相位。
技术方案17.如技术方案14所述的相位检测方法,还包括以下步骤:
响应于命令信号而进入相位检测模式;
当在所述相位检测模式时处理接收的时钟信号和接收的外部数据选通信号,
其中,所述恢复的时钟信号的相位通过忽略所述外部数据选通信号的第一边沿来检测。
技术方案18.如技术方案14所述的相位检测方法,所述方法还包括以下步骤:
响应于命令信号而进入相位检测模式;
在所述相位检测模式中接收所述时钟信号和所述外部数据选通信号;以及
在进入所述相位检测模式之后提供在预定时间内具有两个连续边沿的外部数据选通信号。
技术方案19.如技术方案14所述的相位检测方法,还包括以下步骤:
响应于命令信号而进入相位检测模式;
在所述相位检测模式中接收所述时钟信号和所述外部数据选通信号;
检测所述恢复的时钟信号的相位;以及
判断所述恢复的时钟信号的相位与所述外部数据选通信号的相位是否大体相似;
基于所述判断来结束所述相位检测模式。
技术方案20.如技术方案14所述的相位检测方法,
其中,将所述时钟信号分频的步骤包括以下步骤:
接收所述时钟信号作为一对差分时钟信号;以及
将接收的差分时钟信号的每个二分频,以及
其中,将所述外部数据选通信号分频的步骤包括以下步骤:
接收所述外部数据选通信号作为一对差分外部数据选通信号;以及
将接收的差分外部数据选通信号的每个二分频。
Claims (10)
1.一种相位检测设备,包括:
时钟分频器,被配置成将时钟信号分频,并且产生多个分频时钟信号;
恢复器,被配置成基于所述多个分频时钟信号来产生恢复的时钟信号,所述恢复的时钟信号具有与所述时钟信号大体相同的频率;以及
相位检测器,被配置成响应于数据选通信号来检测所述恢复的时钟信号的相位。
2.如权利要求1所述的相位检测设备,还包括:
数据选通分频器,被配置成将外部数据选通信号分频,并且产生所述数据选通信号。
3.如权利要求1所述的相位检测设备,其中,所述时钟信号包括具有时钟信号和反相时钟信号的差分时钟信号对。
4.如权利要求1所述的相位检测设备,其中,所述恢复器被配置成通过对所述多个分频时钟信号执行“与AND”操作来产生所述恢复的时钟信号。
5.一种相位检测系统,包括:
控制器,被配置成产生时钟信号和外部数据选通信号;以及
相位检测设备,被配置成:接收所述时钟信号和所述外部数据选通信号,响应地产生多个分频时钟信号和多个数据选通信号,基于所述多个分频时钟信号来产生具有与所述时钟信号大体相同的频率的恢复的时钟信号,基于所述多个数据选通信号来检测所述恢复的时钟信号的相位,以及产生相位检测结果。
6.如权利要求5所述的相位检测系统,其中,所述控制器基于所述相位检测结果来确定所述外部数据选通信号的发生时间。
7.如权利要求5所述的相位检测系统,其中,所述相位检测设备包括:
时钟分频器,被配置成将从所述控制器接收的所述时钟信号分频,并且产生所述多个分频时钟信号;
恢复器,被配置成基于所述多个分频时钟信号来产生所述恢复的时钟信号;
数据选通分频器,被配置成将所述外部数据选通信号分频,并且产生多个数据选通信号;以及
相位检测器,被配置成响应于所述多个数据选通信号来检测所述恢复的时钟信号的相位。
8.如权利要求5所述的相位检测系统,其中,所述控制器提供差分时钟信号对和差分外部数据选通信号对,其中,所述差分时钟信号对包括一对互补的时钟信号,而所述差分外部数据选通信号对包括一对互补的外部数据选通信号。
9.如权利要求5所述的相位检测系统,其中,所述相位检测设备将所述时钟信号二分频,并且将所述外部数据选通信号二分频。
10.如权利要求9所述的相位检测系统,其中,所述分频时钟信号基于“与AND”操作而被产生为所述恢复的时钟信号。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020130113109A KR102087235B1 (ko) | 2013-09-24 | 2013-09-24 | 위상 감지 장치 및 위상 감지 방법 |
KR10-2013-0113109 | 2013-09-24 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN104467833A true CN104467833A (zh) | 2015-03-25 |
CN104467833B CN104467833B (zh) | 2019-01-22 |
Family
ID=52101839
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201410148537.2A Active CN104467833B (zh) | 2013-09-24 | 2014-04-14 | 相位检测设备和相位检测方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8917113B1 (zh) |
KR (1) | KR102087235B1 (zh) |
CN (1) | CN104467833B (zh) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110246528A (zh) * | 2018-03-09 | 2019-09-17 | 爱思开海力士有限公司 | 半导体系统 |
CN112908378A (zh) * | 2017-12-18 | 2021-06-04 | 美光科技公司 | 多相位时钟分割 |
WO2024188121A1 (zh) * | 2023-03-10 | 2024-09-19 | 东芯半导体股份有限公司 | 写入均衡检测器、写入均衡检测电路及存储器 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102163431B1 (ko) * | 2014-03-05 | 2020-10-08 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 및 그를 포함하는 반도체 시스템 |
KR102256556B1 (ko) * | 2014-03-05 | 2021-05-26 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 및 그를 포함하는 반도체 시스템 |
KR102472123B1 (ko) * | 2016-03-16 | 2022-11-30 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 시스템 및 그의 동작 방법 |
US10186309B2 (en) * | 2016-06-29 | 2019-01-22 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Methods of operating semiconductor memory devices and semiconductor memory devices |
KR102681737B1 (ko) * | 2016-06-29 | 2024-07-05 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치의 동작 방법 및 반도체 메모리 장치 |
KR20190043875A (ko) | 2017-10-19 | 2019-04-29 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 및 이를 이용한 반도체 시스템 |
US10607671B2 (en) * | 2018-02-17 | 2020-03-31 | Micron Technology, Inc. | Timing circuit for command path in a memory device |
CN113764024B (zh) | 2020-06-02 | 2023-07-07 | 长鑫存储技术有限公司 | 差分信号偏移校准电路及半导体存储器 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1922787A (zh) * | 2004-02-27 | 2007-02-28 | 三洋电机株式会社 | Pll电路 |
US20080062780A1 (en) * | 2006-09-07 | 2008-03-13 | Wen-Chang Cheng | Phase detection method, memory control method, and related device |
US20110085387A1 (en) * | 2008-02-05 | 2011-04-14 | Hynix Semiconductor, Inc. | Semiconductor memory apparatus with clock and data strobe phase detection |
US20110156766A1 (en) * | 2009-12-29 | 2011-06-30 | Ahn Seung-Joon | Delay locked loop |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5286845B2 (ja) * | 2008-03-12 | 2013-09-11 | 株式会社リコー | データリカバリ回路 |
KR101082426B1 (ko) * | 2009-06-22 | 2011-11-11 | 주식회사 엑시콘 | 클럭 생성 회로 및 클럭 생성 회로를 포함하는 테스트 시스템 |
KR101179462B1 (ko) * | 2010-11-30 | 2012-09-07 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 그를 포함하는 반도체 메모리 시스템 |
KR20120110877A (ko) * | 2011-03-30 | 2012-10-10 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치에서의 라이트 타이밍 측정 가속 방법 및 그에 따른 측정 가속 회로 |
-
2013
- 2013-09-24 KR KR1020130113109A patent/KR102087235B1/ko active IP Right Grant
-
2014
- 2014-03-31 US US14/231,060 patent/US8917113B1/en active Active
- 2014-04-14 CN CN201410148537.2A patent/CN104467833B/zh active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1922787A (zh) * | 2004-02-27 | 2007-02-28 | 三洋电机株式会社 | Pll电路 |
US20080062780A1 (en) * | 2006-09-07 | 2008-03-13 | Wen-Chang Cheng | Phase detection method, memory control method, and related device |
US20110085387A1 (en) * | 2008-02-05 | 2011-04-14 | Hynix Semiconductor, Inc. | Semiconductor memory apparatus with clock and data strobe phase detection |
US20110156766A1 (en) * | 2009-12-29 | 2011-06-30 | Ahn Seung-Joon | Delay locked loop |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112908378A (zh) * | 2017-12-18 | 2021-06-04 | 美光科技公司 | 多相位时钟分割 |
CN112908378B (zh) * | 2017-12-18 | 2024-03-15 | 美光科技公司 | 多相位时钟分割 |
CN110246528A (zh) * | 2018-03-09 | 2019-09-17 | 爱思开海力士有限公司 | 半导体系统 |
WO2024188121A1 (zh) * | 2023-03-10 | 2024-09-19 | 东芯半导体股份有限公司 | 写入均衡检测器、写入均衡检测电路及存储器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20150033293A (ko) | 2015-04-01 |
CN104467833B (zh) | 2019-01-22 |
US8917113B1 (en) | 2014-12-23 |
KR102087235B1 (ko) | 2020-03-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN104467833A (zh) | 相位检测设备和相位检测方法 | |
KR100571744B1 (ko) | 반도체 집적 회로 장치 | |
KR100425661B1 (ko) | 데이타 고속 전송 동기 시스템 및 데이타 고속 전송 동기 방법 | |
KR100763849B1 (ko) | 멀티 위상 클럭 신호들간의 위상 스큐를 감소시키는 위상보정 회로, 그 방법 및 상기 회로를 구비하는 반도체 장치 | |
KR100703976B1 (ko) | 동기식 메모리 장치 | |
CN100431267C (zh) | 用于安排粗细延迟间隔的同步镜像延迟(smd)电路及方法 | |
CN1977487B (zh) | 相位同步电路 | |
US9602112B2 (en) | Clock delay detecting circuit and semiconductor apparatus using the same | |
CN111435602A (zh) | 与时钟信号同步的信号生成电路及使用其的半导体装置 | |
US20160065196A1 (en) | Multi-phase clock generation | |
KR102684998B1 (ko) | 테스트 회로, 테스트 장치 및 이의 테스트 방법 | |
US20140344611A1 (en) | Deserializers | |
US20140253188A1 (en) | Divided clock generation device and divided clock generation method | |
CN103728893B (zh) | 一种探地雷达高精度时序控制电路 | |
US8427457B2 (en) | Display driver and built-in-phase-calibration circuit thereof | |
US11962309B2 (en) | Phase adjusting circuit, delay locking circuit, and memory | |
US8498175B2 (en) | Burst order control circuit | |
US9374096B2 (en) | Semiconductor apparatus and semiconductor system including the same, and method of operating the same | |
US10522206B2 (en) | Semiconductor device and system | |
CN106847319B (zh) | 一种fpga电路及窗口信号调整方法 | |
US6172544B1 (en) | Timing signal generation circuit for semiconductor test system | |
CN102332975A (zh) | 一种接口自适应采样方法和装置 | |
US20070130395A1 (en) | Bus processing apparatus | |
CN103248343A (zh) | 用于校正时钟占空比的边沿选择技术 | |
JP3409790B2 (ja) | エラスティックストア回路及び遅延信号受信方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |