CN104300847A - 转动检测设备及其校正方法、马达控制设备和从动设备 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及转动检测设备及其校正方法、马达控制设备和马达从动设备。该转动检测设备包括：可转动构件(106c)，其可随着马达(106a)的转动而转动，并在转动方向上具有多个图案元件部；信号输出器(107)，用于输出响应于图案元件的转动而发生改变的检测信号；以及存储器(111a)，用于存储校正值，其中校正值各自是针对图案元件部各自所设置的，并且用于对可转动构件的转动位置和检测信号的变化之间的关系的误差进行校正。校正器(111)用于以马达所驱动的从动构件(105)位于原点位置的原点状态下的可转动构件的基准位置作为基准，针对可转动构件从基准位置起转动的情况下的检测信号的各变化，通过使用各校正值来进行该校正。

Description

转动检测设备及其校正方法、马达控制设备和从动设备
技术领域
本发明涉及还被称为“旋转编码器”的转动检测设备，尤其涉及马达的控制所使用的转动检测设备。
背景技术
通过如下反馈控制来进行马达的转动量或转动速度的精确控制，其中该反馈控制对旋转编码器所检测到的实际转动量或实际速度进行反馈，并且控制该马达，以使得所检测到的转动量或转动速度变得更接近目标转动量或转动速度。该旋转编码器包括随着马达的转动而转动的可转动构件、以及该可转动构件所设置的以磁性或光学方式检测转动检测用图案(转动检测图案)的传感器。
转动检测图案由在可转动构件的转动方向上所配置的(作为S极磁化部和N极磁化部或者光透过/反射部和非光透过/反射部的)多个图案元件部构成。将这些图案元件部精确地配置在可转动构件上的设计位置处，这样使得能够精确地检测马达的转动量或转动速度。然而，可转动构件的制造误差经常使图案元件部的配置相对于其设计位置发生偏移，这被称为配置误差。
为了消除马达的驱动磁体中的磁化间距的误差的影响，日本特开平10-229691公开了以下方法，其中该方法根据从编码器输出的变化沿到在时间上为预定数量的沿之前的另一变化沿之间的沿间隔来获取周期，并且基于该周期来计算转动速度。
然而，日本特开平10-229691所公开的方法在没有使用邻接的图案元件部的情况下计算转动速度，这样导致转动速度的检测分辨率下降，并由此导致无法检测到转动速度的微小振荡。
发明内容
本发明提供一种能够在构成转动检测图案的图案元件部中存在任何配置误差的情况下以高精度检测马达的转动的转动检测设备，并且提供各自包括该转动检测设备的马达控制设备和马达从动设备。
作为本发明的方面，提供一种转动检测设备，包括：可转动构件，其能够随着马达的转动进行转动，并且在所述可转动构件的转动方向上配置有形成转动检测用图案的多个图案元件部；信号输出器，用于输出响应于所述图案元件部随着所述可转动构件的转动进行转动而发生改变的检测信号；存储器，用于存储多个校正值，其中多个所述校正值各自是针对各所述图案元件部所设置的、并且用于对所述可转动构件的转动位置和所述检测信号的变化之间的关系的误差进行校正，所述误差是由于所述可转动构件上的所述图案元件部的配置误差所引起的；以及校正器，其特征在于，所述校正器以所述马达所驱动的从动构件位于原点位置的原点状态下的所述可转动构件的一个转动位置作为基准位置，针对所述可转动构件从所述基准位置起转动的情况下的所述检测信号的各变化，通过使用各所述校正值来进行所述校正。
作为本发明的另一方面，提供一种马达控制设备，包括：上述的转动检测设备；以及控制器，用于通过使用所述校正器校正之后的所述检测信号来控制所述马达的驱动。
作为本发明的又一方面，提供一种马达从动设备，包括：马达；从动构件，其利用由所述马达进行驱动；原点检测器，用于检测所述从动构件的原点位置；以及上述的马达控制设备。
作为本发明的还一方面，提供一种转动检测设备的校正方法，所述转动检测设备包括可转动构件，所述可转动构件能够随着马达的转动进行转动，并且在所述可转动构件的转动方向上配置有形成转动检测用图案的多个图案元件部，所述校正方法包括以下步骤：提供各自针对各所述图案元件部所设置的多个校正值；以及通过使用所述多个校正值来对所述可转动构件的转动位置和所输出的检测信号的变化之间的关系的误差进行校正，其中所述检测信号是响应于所述图案元件部随着所述可转动构件的转动进行转动而发生改变的信号，所述误差是由于所述可转动构件上的所述图案元件部的配置误差所引起的，其中，所述校正方法以所述马达所驱动的从动构件位于原点位置的原点状态下的所述可转动构件的一个转动位置作为基准位置，针对所述可转动构件从所述基准位置起转动的情况下的所述检测信号的各变化，通过使用各所述校正值来进行所述校正。
作为本发明的还一方面，提供一种非瞬态计算机可读存储介质，其存储有校正程序作为计算机程序，所述计算机程序使转动检测设备中所设置的计算机利用上述所述转动检测设备的校正方法来进行校正处理。
通过以下说明和附图，本发明的其它方面将变得明显。
附图说明
图1是示出包括作为本发明实施例的磁性旋转编码器的数字单镜头反光照相机的结构的框图。
图2是示出本实施例中的包括步进马达的调焦马达单元的立体图。
图3是本实施例中的用以检测调焦透镜的原点位置的机构的立体图。
图4是示出本实施例中的步进马达的励磁波形及其步值的关系的图。
图5是示出本实施例中的编码器磁体的磁化间距的误差的图。
图6是示出本实施例中的编码器输出和校正值之间的关系的图。
图7是示出本实施例中的由于温度变化所引起的调焦透镜的原点位置的变化的图。
图8是示出本实施例中的编码器(霍尔IC)的输出图案的图。
图9是示出本实施例中的用于获取编码器磁体的校正信息的操作的流程图。
图10A和10B是示出本实施例中的用于控制调焦透镜的操作的流程图。
图11是示出本实施例中所使用的格雷码的概念图。
图12是示出作为本实施例的变形例的光学旋转编码器的结构的图。
具体实施方式
以下将参考附图来详细说明本发明的典型实施例。
图1示出作为包括本发明实施例的磁性旋转编码器的马达从动设备的可更换镜头200的结构。图1还示出作为可拆卸地安装有可更换镜头200的摄像设备的数字单镜头反光照相机100的结构。该摄像设备可以是数字静态照相机、数字摄像机、镜头一体型照相机或显微镜。
可更换镜头200包括摄像光学系统，其中该摄像光学系统按从被摄体侧起的顺序依次由固定透镜101、变焦透镜102、光圈103、图像稳定透镜104和调焦透镜(光学元件)105构成。使变焦透镜102在光轴的方向(以下称为“光轴方向”)上移动以进行变倍。使调焦透镜105在光轴方向上移动以进行调焦。光圈103改变其开口直径以控制穿过光量。使图像稳定透镜104在与光轴垂直的方向上移动(偏移)以减少(校正)由于手抖动引起的照相机抖动而造成的图像模糊。
可更换镜头200还包括：变焦驱动器110，用于驱动变焦透镜102；光圈驱动器109，用于驱动光圈103；移位驱动器108，用于驱动图像稳定透镜104；以及调焦驱动器106，用于驱动调焦透镜105。这些驱动器各自包括诸如用作驱动源的马达等的致动器。这些驱动器各自由设置在可更换镜头200内的并且用作镜头控制器的镜头IC111来控制。
响应于用户对可更换镜头200所设置的变焦环(未示出)的操作，镜头IC111根据该操作量来经由变焦驱动器110驱动变焦透镜102。以电子方式检测变焦透镜102的位置。基于所检测到的位置，镜头IC111计算调焦透镜105的驱动方向和驱动量，从而维持聚焦状态。然后，镜头IC111将指示驱动方向和驱动量的变焦追踪驱动命令供给至调焦驱动器106。响应于用户对可更换镜头200所设置的手动调焦环(未示出)所进行的操作，镜头IC111基于该操作量来计算调焦透镜105的驱动量。然后，镜头IC111将表示该驱动量的手动调焦驱动命令供给至调焦驱动器106。可选地，镜头IC111接收后面所述的来自照相机IC118的自动调焦(AF)驱动命令，并且经由调焦驱动器106使调焦透镜105移动以进行AF。
镜头IC111从照相机IC118接收基于测光结果的光圈驱动指示，并且经由光圈驱动器109来驱动光圈103。另外，基于由于利用可更换镜头200(或照相机100)所设置的诸如陀螺仪传感器等的抖动传感器122所检测到的手抖动而引起的镜头抖动(即，照相机抖动)，镜头IC111经由移位驱动器108使移位透镜104移位。
另一方面，在图1中，照相机100包括：作为由CMOS传感器或CCD传感器构成的光电转换元件的图像传感器112；CDS/AGC电路113，用于对图像传感器112的输出进行采样并且进行增益控制；以及摄像处理器114。摄像处理器114响应于来自作为照相机控制器的照相机IC118的命令，对来自CDS/AGC电路113的输出信号进行各种图像处理，以产生图像(图像数据)。将所产生的图像显示在监视器115上，并且利用记录器116将该图像记录至诸如半导体存储器(未示出)等的记录介质。
照相机100还包括AF处理器117。该AF处理器117从来自CDS/AGC电路113的所有像素的输出信号中的焦点检测所使用的像素的输出信号中提取高频成分或亮度差成分，以根据该高频成分或亮度差成分产生AF评价信号。照相机IC118搜索AF评价信号的值(AF评价值)变为最大的调焦透镜105的位置(聚焦位置)。然后，为了使调焦透镜105移动至聚焦位置，照相机IC118向镜头IC111输出调焦驱动命令。基于该调焦驱动命令，镜头IC111经由调焦驱动器106来控制马达(步进马达)106a的励磁线圈的通电。该通电控制使得能够控制马达106a的驱动及其转动速度(加速、恒速和减速)，因而使得能够控制调焦透镜105的移动及其移动速度。这样，进行了自动调焦(AF)控制。
图2和3示出调焦驱动器106中所包括的调焦马达单元的结构。该调焦马达单元包括作为无刷马达的步进马达106a和作为马达106a的输出轴的导螺杆106b。利用马达保持件106e来保持步进马达106a和导螺杆106b。无刷马达不限于步进马达，并且可以是磁阻马达或任何其它无刷马达。
调焦马达单元还包括编码器磁体106c，其中该编码器磁体106c安装至导螺杆106b的端部，并且用作与导螺杆106b一体转动的可转动构件。调焦马达单元还包括用作马达保持件106e所保持的信号输出器的霍尔IC(磁性检测元件)107。与马达106a内所设置的磁体转子(未示出)相同，编码器磁体106c由圆筒状的永磁体构成。编码器磁体106c在其外周面上具有N(北)极磁化部和S(南)极磁化部。N极磁化部和S极磁化部这两者用作图案元件部；并且N极磁化部和S极磁化部交替配置在编码器磁体106c的转动方向上。如此交替配置的N极磁化部和S极磁化部形成转动检测所用的图案(转动检测图案)。编码器磁体106c中的N极磁化部和S极磁化部的总数(在本实施例中为10个磁极)等于磁体转子的磁化部的数量。
霍尔IC107响应于由于编码器磁体106c的转动所引起的磁通密度(磁场)的变化来生成表示步进马达106a的转动的两相电信号。这些两相电信号是具有两个相互不同的相位的交变信号。霍尔IC107将两相电信号(交变信号)分别转换成输出值在“高(High)”电平和“低(Low)”电平之间交变的二值数字信号(脉冲信号)。高电平和低电平依赖于交变信号的值是否超过预定值(即，霍尔IC107是否接收到强度超过预定强度的磁场)。然后，霍尔IC107输出各自交替包括上升沿(从低向高的变化)和下降沿(从高到低的变化)的两相二值信号(检测信号)。编码器磁体106c、霍尔IC107和如后面所述用作用以校正来自霍尔IC107的输出(两相二值信号)的校正器的镜头IC111构成了作为转动检测设备的磁性旋转编码器。该编码器和用于基于校正后的来自该编码器的输出来控制调焦透镜105的驱动的镜头IC111构成了马达控制设备。
旋转编码器不限于如本实施例那样的输出二值信号的数字编码器，并且可以是输出正弦波信号的模拟编码器。
调焦马达单元还包括：马达驱动器106d，用于对马达106a的励磁线圈(未示出)通电；以及齿条106f，其与导螺杆106b啮合。如图3所示，将齿条106f安装至调焦透镜105(更精确地，安装至用作保持调焦透镜105的构件的调焦透镜保持架106i)。利用该结构，马达106a的转动以及由此带来的导螺杆106b的转动经由齿条106f在导螺杆106b延伸的光轴方向上驱动调焦透镜105。
图3还示出调焦马达单元中所设置的原点检测机构。调焦透镜105在预定驱动范围内在光轴方向上可移动。调焦透镜保持架106i内形成有遮光壁部106g。可更换镜头200包括镜筒本体(未示出)，其中在该镜筒本体中的、与作为调焦透镜105的位置检测所用的基准位置的调焦透镜105的原点位置相对应的位置处固定有光遮断器106h。
光遮断器106h由以彼此面对的方式安装的发光元件和受光元件构成。在与调焦透镜105一起移动的遮光壁部106g没有进入发光元件和受光元件之间的状态(透光状态)下，来自发光元件的光被受光元件接收到，这导致受光元件输出“高”电平的信号。作为对比，在遮光壁部106g进入发光元件和受光元件之间以进行遮光而防止被受光元件接收到的状态(遮光状态)下，受光元件输出“低”电平的信号。来自受光元件的信号的从高电平向着低电平的该切换使得能够检测到调焦透镜105位于原点位置，这被称为“原点状态”。
接着，在本实施例中将说明对从霍尔IC(以下还称为“编码器”)107所输出的两相检测信号(二值信号)进行校正所要使用的校正信息。该校正信息包含应用于从编码器107输出的两相检测信号(以下各自还称为“编码器输出”)的各沿的校正值、原点状态下的两相编码器输出的组合(以下还称为“编码器输出图案”)、以及获取校正信息时的温度信息。尽管后面将说明原点状态中的编码器输出图案和获取校正信息时的温度，但以下将说明应用于编码器输出的各沿的校正值。
图4示出马达驱动器106d响应于来自镜头IC111的调焦驱动命令而施加于马达106a的各励磁线圈的励磁信号(励磁电压)的电压波形(以下简称为“励磁波形”)。在本实施例中，使用在对脉冲宽度进行调制的情况下保持输入电压的振幅恒定的PWM控制，以产生正弦波状的励磁波形。另外，在本实施例中，如图4所示，将正弦波状的励磁波形的一个周期分割成1000步并且在各步中产生预定的PWM比，这使得能够进行马达106a的正弦波驱动。
图5示出编码器磁体106c的磁化部的配置。如上所述，编码器磁体106c在其外周上，沿转动方向设置有10个磁极的磁化部。期望这10个磁极的磁化部被均匀磁化。然而，实际上，磁化过程涉及如下：磁化所使用的磁轭的错位、以及由于使多个编码器磁体同时磁化所引起的制造误差。这种磁轭错位和制造误差导致各个编码器磁体106c中的10个磁极的磁化部被不均匀磁化，并且进一步导致在编码器磁体的磁化状态之间产生差异(变化)。
10个磁极的磁化部在被均匀磁化的情况下，可以形成如图5所示的、按等间距配置并且分别位于36度、72度、108度、144度、188度、216度、252度、288度和324度处的磁化部，并且这些磁化部的磁极交替改变。然而，制造误差导致在任意磁化部中产生配置误差(以下还称为“磁化间距偏移”)。本实施例根据编码器输出来计算马达106a的角速度，计算该角速度与目标速度的差，并且对马达106a进行反馈控制以使该差减小为0。在该结构中，编码器磁体106c的磁化间距偏移直接影响所计算出的角速度并且使计算的精度下降。因而，高精度的反馈控制要求从编码器输出中去除由于磁化间距偏移所引起的误差成分。为了满足该要求，本实施例将以下所述的校正值应用于编码器输出的各沿，并且从编码器输出中去除由于磁化间距偏移所引起的误差成分。该校正值是用于对由于编码器磁体106c的磁化部的配置误差所引起的、编码器磁体106c的转动位置和编码器输出的相应沿之间的关系的误差进行校正的校正信息。
在本实施例中，作为校正器的镜头IC111根据与各个编码器输出的各沿(变化时刻)相对应的马达106a的励磁电压的步值(0～999)来计算(提供)校正值。编码器磁体106c中的10个磁极的磁化部在被均匀磁化的情况下，针对N极和S极各自向恒速转动期间的编码器输出的各变化时刻处的励磁电压的步值赋予唯一值。因此，镜头IC111对具有磁化间距偏移的编码器磁体106c设置校正值，以使得恒速转动期间编码器输出的各变化时刻处的励磁电压的步值可以变为唯一值。镜头IC111需要将哪个校正值与哪个转动位置相对应连同该设置一起存储。
具体地，在使马达106a恒速转动的情况下，镜头IC111将编码器输出的任意变化时刻处的励磁电压的步值设置为基准值，并且设置校正值，以使得编码器输出的下一变化时刻处的步值相对于基准值的差为500。然后，镜头IC111对校正值进行设置，以使得另一下一变化时刻处的励磁电压的步值变为与基准值相同。镜头IC111针对编码器磁体106c中的10个磁极的所有磁化部分别重复校正值的该计算，以针对各相的编码器输出产生10个校正值。基准值并非必须与调焦透镜105的原点位置处的编码器输出的变化时刻的励磁电压的步值一致。
在本实施例中，考虑到依赖于编码器磁体106c的转动方向的误差成分的差，镜头IC111针对正转动方向和负转动方向产生校正值。正转动方向例如与驱动调焦透镜105以聚焦于较近距离侧的被摄体的方向(以下称为“近方向”)相对应。负转动方向与驱动调焦透镜105以聚焦于更无限侧的被摄体的方向(以下称为“无限远方向”)相对应。这样，镜头IC111对于各相的编码器输出，针对10个磁极产生正转动方向和负转动方向这两个转动方向用的20个校正值，由此提供总共40个校正值作为校正信息。镜头IC111将这40个校正值存储在其内所设置的ROM(存储单元)111a中。
然后，镜头IC111在开始马达106a的驱动的情况下，从ROM111a读出与编码器磁体106c的转动方向和转动位置以及编码器输出的相位相对应的一个校正值，然后对该编码器输出进行校正。校正值的内容及其生成方法可以不同于本实施例所述的校正值的内容及其生成方法，并且可以是针对编码器输出的各沿可应用的任何校正值。
图6示出针对编码器输出的校正的示例。图6的上部示出编码器磁体106c(即，马达106a)的以恒速转动的未校正的编码器输出(图5中箭头所示的区间中的编码器输出)的示例波形；其横轴表示时间并且其纵轴表示编码器输出的值。图6的中部列出包括针对图5中的箭头所示的方向上的转动而应用于两相编码器输出其中之一的10个沿的示例校正值的校正值阵列。图6的下部还示出校正后的编码器输出的示例波形；其横轴表示时间并且其纵轴表示编码器输出的值。
在图6的上部中，虚线表示在使用不具有磁化间距偏移的理想编码器磁体的情况下的编码器输出的波形，并且实线表示在使用具有磁化间距偏移的编码器磁体106c的情况下的编码器输出的波形。校正是用以使实线所表示的编码器输出的波形与虚线所表示的编码器输出的波形更接近(期望为一致)的处理。
编码器输出的最初沿与编码器磁体106c在324度的转动位置处的输出相对应，因而将步值-8作为校正值应用于该最初沿。尽管该校正值在时间上是负方向的步值，但在本实施例中该编码器输出仅用于进行马达106a的角速度的计算，因此不会产生问题。
编码器输出的下一沿与编码器磁体106c在0度的转动位置处的输出相对应，因而将步值7作为校正值应用于该下一沿。同样，向编码器磁体106c在转动位置为36度、72度和108度处的各沿，分别应用与这些沿相对应的步值(校正值)。如图6的下部所示，该处理在镜头IC111内给出在时间上具有相等间隔的伪编码器输出。
在确定与最初应用了校正值阵列中的校正值其中之一的编码器输出的沿相对应的编码器磁体106c的转动位置(基准位置)之后，可以针对通过使编码器磁体106c从基准位置起转动而出现的各沿顺次应用校正值阵列中的后续校正值。然而，将诸如标记等的用于判断转动位置的信息添加至编码器磁体106c的任意转动位置，这可能需要附加构件和处理。因此，期望在无需添加该信息的情况下设置用作基准位置的转动位置。
由于该原因，在本实施例中，与作为马达106a所驱动的从动构件的调焦透镜105的原点位置相对应的编码器磁体106c的转动位置用作基准位置，并且校正值阵列中的校正值的顺次应用以与该基准位置相对应的校正值开始。由于原点位置和编码器磁体106c的转动位置之间的关系是唯一确定的，因此这是有效的。来自基准位置的编码器输出的沿数表示编码器磁体106c相对于基准位置的相对转动位置。
另一方面，利用图3所示的原点检测机构来检测调焦透镜105的原点位置；该原点检测机构包含误差。特别地，光遮断器106h具有温度依赖特性，因此还需要校正由此检测到的作为与调焦透镜105的原点位置相对应的编码器磁体106c的基准位置(转动位置)的原点位置。
图7示出由于温度的变化所引起的与调焦透镜105的原点位置相对应的励磁电压的步值的变化。在该图中，横轴表示温度，并且纵轴表示与原点位置相对应的励磁电压的步值。尽管为了方便、以负值表示纵轴上的0以下的值，但步值-100等同于步值900。例如，利用TempROM来表示在获取到温度信息时所测量到的(检测到的)温度，并且将与此时的原点位置相对应的励磁电压的步值定义为160。在这种情况下，在温度为-10℃下检测原点位置的情况下，励磁电压的步值为-120(＝880)，而该步值与获取到校正信息时的步值160之间的差(偏移)为280步。该步差与正弦波中的90度以上的差相对应，这表示观察到与获取到校正信息时作为基准位置所设置的磁极不同的编码器磁体106c上的磁极。
在本实施例中，如图7所示，基于原点状态下的励磁电压的步值随着温度的上升而单调增加的温度依赖特性，镜头IC111响应于从获取到校正信息时起的温度变化来估计原点状态下的编码器磁体106c的基准位置的偏移量。在本实施例中，尽管如以下所述、镜头IC111通过使用编码器输出图案的变化来估计由于温度变化所引起的基准位置的偏移量，但还可以基于温度依赖特性来唯一确定基准位置的偏移量。
将参考图8所示的编码器输出的示例变化来说明用于估计由于温度变化所引起的基准位置的偏移量的方法。图8示出示例性的两相编码器输出(A相编码器输出和B相编码器输出)、以及分别包含应用于A相编码器输出和B相编码器输出的各沿的校正值的A相校正值阵列和B相校正值阵列。各编码器输出具有二值的值；在本说明书中，利用1来表示高电平的输出值，并且利用0来表示低电平的输出值。此外，将A相编码器输出分配至高位并且将B相编码器输出分配至低位，由此将A相编码器输出和B相编码器输出集体写为包括高位和低位的两位图案(编码器输出图案)。该图仅列出在近方向上驱动马达106a的情况下的校正值。
在图8中，在作为获取到校正信息时(即，检测到并存储调焦透镜105的原点位置时)的原点状态下的基准信号的编码器输出图案是(11)b的情况下，近方向上的下一编码器输出图案是(10)b，并且无限远方向上的相邻图案是(01)b。因此，可以根据编码器输出图案来估计相对于所存储的原点位置的1/2磁极以下的偏移量。
对于相对于所存储的原点位置的1个磁极的偏移量，在近方向和无限远方向中的任意方向上，编码器输出图案均为(00)b。因而，无法根据编码器输出图案来估计偏移量。在这种情况下，将温度依赖特性用于获取到校正信息时所存储的温度(基准温度)和随后检测到原点位置时(原点状态下)所测量到的(所检测到的)温度之间的比较结果，这样使得能够估计出偏移量。如图1所示，可以利用可更换镜头200(或照相机100)所设置的温度传感器121来测量(检测)该温度。
对于相对于所存储的原点位置的3/2个磁极的偏移量，编码器输出图案在近方向上为(01)b，并且在无限远方向上为(10)b。因此，可以根据编码器输出图案来估计偏移量。尽管编码器输出图案与针对1/2个磁极的偏移的编码器输出图案相同，但仅在温度变化大的情况下才发生3/2的偏移。因而，还进行温度的比较，以在温度的差大于预定阈值的情况下判断为偏移量为3/2个磁极，然后根据编码器输出图案来估计该偏移的方向。
如图8所示，在获取到校正信息时的原点位置处的编码器输出值和随后检测到的原点位置处的编码器输出值具有1个磁极的偏移量的情况下，在近方向上驱动时要应用于B相的最初编码器输出沿的校正值不是1而是-2。
尽管本实施例使得能够针对多达3/2个磁极的偏移量对编码器输出进行校正，但代替温度的大小，可以通过使用温度差的大小来实现针对大于3/2个磁极的偏移量的校正。
接着将参考图9、10A和10B的流程图来说明本实施例中的用于校正编码器输出的校正处理(方法)。该校正处理由作为计算机的镜头IC111根据作为计算机程序的校正程序来执行。
图9的流程图例示校正处理中的用于获取校正信息的处理。通过使用与调焦透镜105的原点位置相对应的编码器磁体106c的转动位置作为基准位置并且使用该转动位置处的编码器输出作为基准信号，来进行该用于获取校正信息的处理。此外，在从制造可更换镜头200的工厂出厂之前进行可更换镜头200(即，编码器107)的调整时(即，工厂调整时)，进行用于获取校正信息的该处理。该处理不需要照相机100，只要向可更换镜头200供给电力即可。图9的流程图仅示出用于针对在近方向上驱动的情况下的A相编码器输出获取校正信息的处理。
在步骤S101中，镜头IC111从诸如个人计算机等的外部终端接收校正值信息获取命令。在接收到该命令的情况下，镜头IC111进入步骤S102。
在步骤S102中，镜头IC111驱动马达106a以检测调焦透镜105的原点位置。如上所述，镜头IC111将光遮断器106h从透光状态改变为遮光状态的时刻的转动位置设置为原点位置，并且停止马达106a的驱动。在检测到原点位置之后，镜头IC111进入步骤S103。尽管没有示出，但检测原点位置时的失败导致镜头IC111得出原点检测机构存在故障并且停止进行后续处理。
在步骤S103中，镜头IC111将原点位置处的作为A相编码器输出和B相编码器输出的组合的编码器输出图案以及当前温度存储至ROM111a。然后，镜头IC111进入步骤S104。
在步骤S104中，镜头IC111进行用以获取校正值的初始化处理。在以下说明中，n表示A相校正值阵列中的各校正值的(即，编码器磁体106c的各磁化部的)编号(序号)，并且将第n个校正值表示为校正值[n]。另外，cnt表示作为获取到校正值(校正信息)时的编码器磁体106c的转动次数的计数值。在本实施例中，针对编码器磁体106c的各转动位置多次获取校正值，并且使用该转动位置的多个校正值的平均值作为要应用的校正值。该获取方法使得能够使用对噪声具有鲁棒性的校正值。在本实施例中，由于针对各转动位置四次获取校正值，因此转动次数计数器cnt取1～4的值。在完成了初始化的情况下，镜头IC111进入步骤S105。
在步骤S105中，镜头IC111在近方向上驱动马达106a。镜头IC111对驱动速度进行设置以使得没有产生转矩纹波，并且在编码器磁体106c的输出不会影响驱动速度的开环控制下驱动马达106a。仅在已从步骤S104进入步骤S105的情况下，镜头IC111才在驱动速度变得稳定的时刻进入步骤S106，并且转动位置位于与原点位置相同的位置处。在从其它步骤进入的情况下，镜头IC111在各次生成励磁波形时进入步骤S106。该处理使校正值[0]与原点位置相对应。
在步骤S106中，镜头IC111判断编码器输出是否已改变。如果编码器输出已改变，则镜头IC111进入步骤S107。如果编码器输出没有改变，则镜头IC111进入步骤S105。
在步骤S107中，镜头IC111判断是否已输出用作基准信号的编码器输出的沿。具体地，镜头IC111判断是否满足n＝0且cnt＝1。在满足n＝0且cnt＝1的情况下，镜头IC111进入步骤S108。在不满足n＝0且cnt＝1的情况下，镜头IC111进入步骤S110。
在步骤S108中，镜头IC111将与编码器输出的当前沿相对应的励磁电压的步值设置为真的基准步值。利用该真的基准步值作为基准，然后镜头IC111确定A相编码器输出的基准步值和B相编码器输出的基准步值。在真的基准步值例如是128的情况下，基准步值针对偶数n为128并且针对奇数n为628，并且将基准步值和编码器输出改变时的步值之间的差设置为校正值。对于B相，利用真的基准步值128，基准步值针对偶数n为878并且针对奇数n为378。在确定了基准步值的情况下，镜头IC111进入步骤S109。
在步骤S109中，镜头IC111将0代入校正值[0]，并且将校正值编号n设置为1。在该设置之后，镜头IC111进入步骤S105。
在步骤S110中，镜头IC111累积校正值编号n的第n个校正值。所累积的校正值是当前励磁电压的步值和基准步值之间的差。在累积了校正值的情况下，镜头IC111进入步骤S111。
在步骤S111中，镜头IC111使校正值编号n递增。只要马达106a在一个方向上连续驱动，与下一编码器输出相对应的转动位置就始终是与当前磁极邻接的磁极。在该处理之后，镜头IC111进入步骤S112。
在步骤S112中，镜头IC111判断校正值编号n是否为10。如果校正值编号n为10，则镜头IC111进入步骤S113。如果校正值编号n不为10，则镜头IC111进入步骤S105。
在步骤S113中，由于判断为编码器磁体106c已转动了一次，因此镜头IC111将校正值编号n初始化为0并且使转动次数计数器cnt递增。在完成该处理之后，镜头IC111进入步骤S114。
在步骤S114中，镜头IC111判断转动次数计数器cnt是否为5，即编码器磁体106c在开始校正值的获取之后是否转动了四次。如果编码器磁体106c转动了四次，则镜头IC111进入步骤S115。如果编码器磁体106c没有转动四次，则镜头IC111返回至步骤S105。
在步骤S115中，镜头IC111计算校正值的平均值。具体地，镜头IC111计算通过累积四次所获取到的各校正值[n](n＝0,1,2,...,9)的平均值，以确定针对编码器磁体106c的各转动位置的校正值。在该步骤之后，镜头IC111进入步骤S116。
在步骤S116中，镜头IC111将步骤S115中所计算出的校正值存储在ROM111a中。在该处理之后，镜头IC111进入步骤S117。
在步骤S117中，响应于校正信息的获取完成，镜头IC111进行终止处理。在该终止处理中，镜头IC111使调焦透镜105返回至原点位置，在该原点位置处保持向着马达106a的通电并持续预定时间段，然后终止该通电。另外，镜头IC111清除所设置的驱动速度以及诸如校正值编号n和转动次数计数器cnt等的变量。在完成该终止处理之后，镜头IC111完成用于获取校正信息的处理。
在以上所述的用于获取校正信息的处理中，在负荷根据调焦透镜105的驱动位置而显著不同的情况下，期望在平均化处理之前进行异常值检测并且去除与显著不同的负荷相对应的数据。在获取无限远方向的校正值的情况下，镜头IC111为了使校正值编号n与近方向相对应，将其初始值(n)设置为9，在步骤S111中使校正值编号n递减，然后在S112中判断校正值编号n是否为-1。需要将步骤S108中的基准步值与针对近方向上的驱动的基准步值分开设置。
图10A和10B的流程图示出镜头IC111的用以控制调焦透镜105的驱动的控制操作。镜头IC111驱动调焦透镜105，从而响应于从照相机IC118所接收到的AF驱动命令进行AF，响应于用户对变焦环的操作进行变焦追踪，并且响应于用户对手动调焦环的操作进行手动调焦。
镜头IC111响应于将可更换镜头200安装至照相机100或者解除安装有可更换镜头200的照相机100的休眠模式来开始以下操作。在步骤S201～S214中，镜头IC111对调焦透镜105进行复位。在步骤S215～S225中，镜头IC111进行驱动处理，以响应于来自照相机IC118的AF驱动命令、变焦环操作和手动调焦环操作来驱动调焦透镜105。
将说明ROM111a中所存储的调焦透镜105的原点状态下的编码器输出图案与图8所示的编码器输出图案相同的情况。在调焦透镜105的原点位置偏移了1/2个磁极而到达与图8中的获取到校正信息时所存储的原点位置邻接的位置的情况下，将步骤S208～S213中所设置的校正值编号n和nb的初始值设置为彼此不同；n表示针对A相编码器输出的校正值编号(以下称为“A相校正值编号”)，并且nb表示针对B相编码器输出的校正值编号(以下称为“B相校正值编号”)。
在步骤S201中，镜头IC111进行复位操作以检测调焦透镜105的原点位置。本实施例的调焦机构不具有用于对调焦透镜105的位置的绝对值进行编码的部件。由于该原因，使用遮光壁部106g和光遮断器106h来定义原点位置，并且使用在从原点位置起的移动期间向着马达106a的施加脉冲数来获取调焦透镜105的相对位置。尽管镜头IC111在复位操作中进行反馈控制，但由于校正值不与编码器磁体106c的转动位置相对应，因此镜头IC111计算A相和B相各自的10个校正值的平均值以向A相编码器输出和B相编码器输出各自应用一个校正值(平均值)。
然而，在校正值的分散大于预定阈值的情况下，镜头IC111在无需使用校正值的情况下(即，在无需对A相编码器输出和B相编码器输出进行校正的情况下)进行反馈控制，或者进行开环控制。用于在没有定义原点位置的状态下进行涉及校正处理的反馈控制的原因是使得能够在较短时间内进行复位操作。在检测到原点位置之后，镜头IC111进入步骤S202。
在步骤S202中，镜头IC111将步骤S201中现在检测到的编码器输出图案(A,B)now与获取到步骤S103中存储在ROM111a中的校正信息时的编码器输出图案(A,B)ROM进行比较。如果编码器输出图案(A,B)now等于编码器输出图案(A,B)ROM，则由于当前时间的原点位置相对于获取到校正信息时的原点位置没有改变，因此镜头IC111进入步骤S203。如果编码器输出图案(A,B)now等于编码器输出图案(A,B)ROM，则镜头IC111判断为原点位置偏移了编码器磁体106c的一个磁极，然后进入步骤S205。在除这些情况以外的情况下，镜头IC111判断为原点位置偏移了编码器磁体106c的1/2或3/2个磁极，然后进入步骤S204。
在步骤S203中，镜头IC111将校正值编号n和nb设置为0。由于在步骤S103中存储在ROM111a中的原点位置和步骤S201中所检测到的原点位置之间不存在差异，因此镜头IC111将与ROM111a中所存储的原点位置相对应的校正值编号n设置为校正值编号的初始值。在完成该步骤之后，镜头IC111进入步骤S214。
在步骤S204中，镜头IC111判断当前原点位置相对于获取到ROM111a中所存储的校正信息时的原点位置是否偏移了1/2或3/2个磁极。具体地，镜头IC111将当前温度与获取到步骤S103中存储在ROM111a中的校正信息时的温度进行比较。如果这些温度之间的差等于或大于预定温度，则镜头IC111判断为偏移量是3/2个磁极并且进入步骤S206。如果上述温度之间的差小于预定温度，则镜头IC111判断为偏移量是1/2个磁极并且进入步骤S207。如图7所示，温度差较大趋于导致原点位置的偏移量较大，由此使该步骤的判断成立。
在步骤S205中，镜头IC111将当前温度与获取到步骤S103中存储在ROM111a中的校正信息时的温度进行比较，并且判断原点位置的偏移方向。如果当前温度高于其它温度，则镜头IC111判断为原点位置偏移至无限远方向，然后进入步骤S212。如果当前温度不高于其它温度，则镜头IC111判断为原点位置偏移至近方向，然后进入步骤S213。该步骤的判断是基于以下趋势：如图7所示，在较高温度下，原点位置在更大程度上向着无限远方向偏移。
在步骤S206中，与步骤S202的比较相同，镜头IC111将与当前原点位置相对应的编码器输出图案和与获取到ROM111a中所存储的校正信息时的原点位置相对应的编码器输出图案进行比较。镜头IC111在步骤S204中已判断为原点位置偏移了3/2个磁极，由此镜头IC111在该步骤进行比较以确定偏移方向。
通过使用格雷码(交变二进制码)来进行该步骤的判断。格雷码具有任何两个邻接码之间的Hamming(汉明)距离始终为1的特性。在本实施例中，将格雷码应用于编码器输出图案。图11示意性示出2位的格雷码。图11中的箭头的方向分别定义递增方向和递减方向。如果当前的编码器输出图案相对于校正信息中的编码器输出图案在格雷码的递增方向上，则镜头IC111判断为原点位置向着无限远方向偏移，然后进入步骤S208。如果当前的编码器输出图案在递减方向上，则镜头IC111判断为原点位置向着近方向偏移，然后进入步骤S209。
在步骤S207中，与步骤S202的比较相同，镜头IC111将与当前原点位置相对应的编码器输出图案和与ROM111a中所存储的原点位置相对应的编码器输出图案进行比较。镜头IC111在如上所述的步骤S204中已判断为偏移为1/2个磁极，由此镜头IC111在该步骤中进行比较以确定偏移方向。与步骤S206相同，也通过使用格雷码来进行该比较。如果当前的编码器输出图案相对于校正信息中的编码器输出图案在格雷码的递增方向上，则镜头IC111判断为原点位置向着近方向偏移，然后进入步骤S211。如果当前的编码器输出图案在递减方向上，则镜头IC111判断为原点位置向着无限远方向偏移，然后进入步骤S210。
在步骤S208中，由于当前原点位置相对于获取到校正信息时的原点位置在无限远方向上偏移了3/2个磁极，因此镜头IC111将A相校正值编号n设置为8并且将B相校正值编号nb设置为9。之后，镜头IC111进入步骤S214。
在步骤S209中，由于当前原点位置相对于获取到校正信息时的原点位置在近方向上偏移了3/2个磁极，因此镜头IC111将A相校正值编号n设置为1并且将B相校正值编号nb设置为2。之后，镜头IC111进入步骤S214。
在步骤S210中，由于当前原点位置相对于获取到校正信息时的原点位置在无限远方向上偏移了1/2个磁极，因此镜头IC111将A相校正值编号n设置为9并且将B相校正值编号nb设置为0。之后，镜头IC111进入步骤S214。
在步骤S211中，由于当前原点位置相对于获取到校正信息时的原点位置在近方向上偏移了1/2个磁极，因此镜头IC111将A相校正值编号n设置为0并且将B相校正值编号nb设置为1。之后，镜头IC111进入步骤S214。
在步骤S212中，由于当前原点位置相对于获取到校正信息时的原点位置在无限远方向上偏移了1个磁极，因此镜头IC111将A相校正值编号n设置为9并且将B相校正值编号nb设置为9。之后，镜头IC111进入步骤S214。
在步骤S213中，由于当前原点位置相对于获取到校正信息时的原点位置在近方向上偏移了1个磁极，因此镜头IC111将A相校正值编号n设置为1并且将B相校正值编号nb设置为1。之后，镜头IC111进入步骤S214。
在步骤S214中，镜头IC111向照相机IC118通知调焦透镜105的复位操作和偏移的原点位置的校正已完成并且可以进行摄像。
尽管本实施例说明了通过使用图7所示的温度依赖特性来进行基于温度的基准位置校正，但还可以使用除图7所示的温度依赖特性以外的任何温度依赖特性。
接着，在步骤S215中，镜头IC111等待直到从照相机IC118接收到AF驱动命令为止、或者等待变焦操作和手动调焦操作。响应于接收到AF驱动命令、或者变焦操作和手动调焦操作，镜头IC111进入步骤S216。
在步骤S216中，镜头IC111使马达驱动器106d产生用于对马达106a进行励磁的励磁波形，并且驱动马达106a。马达驱动器106d以步为单位生成与从镜头IC111提供的驱动速度和功率比相对应的励磁波形。镜头IC111设置加速和减速，并且使马达驱动器106d产生用于在调焦透镜105移动得接近其目标停止位置的情况下开始减速的励磁波形。在该步骤中将调焦透镜105驱动了一个步值之后，镜头IC111进入步骤S217。
在步骤S217中，镜头IC111进行停止位置判断。具体地，镜头IC111判断在步骤S216中开始了驱动的调焦透镜105是否已达到目标停止位置。如果调焦透镜105已达到目标停止位置，则镜头IC111进入步骤S230。如果调焦透镜105没有达到目标停止位置，则镜头IC111进入步骤S218。
在步骤S218中，镜头IC111判断A相编码器输出是否已改变。如果A相编码器输出已改变，则镜头IC111进入步骤S219。如果A相编码器输出没有改变，则镜头IC111进入步骤S223。由于本实施例中的控制周期针对编码器输出的每一次变化而开始，因此镜头IC111在编码器输出的各变化时刻计算马达106a的驱动速度，并且更新反馈信息。
在步骤S219中，镜头IC111将校正值[n]应用于检测A相编码器输出的沿时的励磁波形的步值。换句话说，镜头IC111通过使用校正值[n]来校正A相编码器输出。该校正防止了由于编码器磁体106c的磁化间距的偏移所引起的A相编码器输出的沿的偏移对反馈控制系统产生影响。在校正了A相编码器输出之后，镜头IC111进入步骤S220。
在步骤S220中，镜头IC111判断调焦透镜105是否在近方向上驱动。如果调焦透镜105在近方向上驱动，则镜头IC111进入步骤S221。如果调焦透镜105没有在近方向上(而是在无限远方向上)驱动，则镜头IC111进入步骤S222。
在步骤S221中，镜头IC111针对调焦透镜105在近方向上的驱动，进行A相校正值编号n的更新(递增)。镜头IC111在先前的A相校正值编号n为9的情况下将新的A相校正值编号n设置为0，并且在其它情况下使校正值编号n增加1。在该步骤之后，镜头IC111进入步骤S228。
在步骤S222中，镜头IC111针对调焦透镜105在无限远方向上的驱动，进行A相校正值编号n的更新(递减)。具体地，镜头IC111在先前的A相校正值编号n为0的情况下将新的A相校正值编号n设置为9，并且在其它情况下使校正值编号n减少1。在该步骤之后，镜头IC111进入步骤S228。
在步骤S223中，镜头IC111判断B相编码器输出是否已改变。如果B相编码器输出已改变，则镜头IC111进入步骤S224。如果B相编码器输出没有改变，则镜头IC111进入步骤S216。
在步骤S224中，镜头IC111将校正值[nb]应用于检测B相编码器输出的沿时的励磁波形的步值。换句话说，镜头IC111通过使用校正值[nb]来校正B相编码器输出。该校正防止了由于编码器磁体106c的磁化间距的偏移所引起的B相编码器输出的沿的偏移对反馈控制系统产生影响。在校正了B相编码器输出之后，镜头IC111进入步骤S225。
在步骤S225中，镜头IC111判断调焦透镜105是否在近方向上驱动。如果调焦透镜105在近方向上驱动，则镜头IC111进入步骤S226。如果调焦透镜105没有在近方向上(而是在无限远方向上)驱动，则镜头IC111进入步骤S227。
在步骤S226中，镜头IC111针对调焦透镜105在近方向上的驱动，进行B相校正值编号nb的更新(递增)。镜头IC111在先前的B相校正值编号nb为9的情况下将新的B相校正值编号nb设置为0，并且在其它情况下使B相校正值编号nb增加1。在该步骤之后，镜头IC111进入步骤S228。
在步骤S227中，镜头IC111针对调焦透镜105在无限远方向上的驱动，进行B相校正值编号nb的更新(递减)。具体地，镜头IC111在先前的B相校正值编号nb为0的情况下将新的B相校正值编号nb设置为9，并且在其它情况下使B相校正值编号nb减少1。在该步骤之后，镜头IC111进入步骤S228。
在步骤S228中，镜头IC111基于步骤S219～S224中校正后的编码器输出的沿间隔来计算周期，并且计算步进马达106a的驱动速度。在计算出驱动速度之后，镜头IC111进入步骤S229。
在步骤S229中，镜头IC111计算步骤S228中所计算出的驱动速度和目标驱动速度之间的速度差以基于该速度差来设置马达106a的驱动速度。在该步骤之后，镜头IC111返回至步骤S216并且将如此设置的驱动速度反映到马达驱动器106d所产生的励磁波形上。
在步骤S230中，由于调焦透镜105已到达目标停止位置，因此镜头IC111进行调焦驱动终止处理。具体地，镜头IC111在该目标停止位置处保持向着马达106a的通电并持续预定时间段，然后终止该通电。另外，镜头IC111清除所设置的变量。然而，镜头IC111保持校正值编号n和nb。这样完成了用于对调焦透镜105的驱动进行控制的操作。
如上所述，本实施例的转动检测设备(镜头IC111)针对各磁化部(针对各沿)，预先将用于对编码器磁体106c的转动位置和编码器输出的沿之间的关系的误差进行校正的校正值存储至ROM111a，其中该误差是由于编码器磁体106c的磁化部的配置误差所引起的。此外，转动检测设备将马达106a所驱动的调焦透镜105位于原点位置的原点状态下的编码器磁体106c的转动位置设置为基准位置。然后，转动检测设备在使编码器磁体106c相对于基准位置转动时的编码器输出的各沿处，通过顺次使用与这些沿相对应的校正值来进行误差的校正。该校正使得尽管在编码器磁体106c的磁化部中存在配置误差、也能够以高精度检测马达106a的转动位置和转动速度。使用如此校正后的编码器输出使得能够以高精度对马达106a的转动位置和转动速度等进行反馈控制，由此使得能够以高精度来控制调焦透镜105的驱动位置和驱动速度。
此外，在本实施例中，参考用于检测调焦透镜105的位置的原点位置来设置编码器磁体106c的基准位置，这样不需要用于设置基准位置的附加构件。该设置使得能够在不会增加成本的情况下提高控制精度。
此外，编码器不限于与本实施例相同的磁性编码器，并且还可以是由光电传感器和设置有用作图案元件部的转动检测图案的光学构件(可转动构件)构成的光学编码器，其中该转动检测图案包括反光部和非反光部、或者透光部和非透光部(遮光部)。光电传感器包括发光部和受光部。从发光部经由透光部或反光部入射的光被受光部接收到。图12示出光学编码器的结构的示例。将图2所示的导螺杆106b安装至可转动板201，其中透光部和非透光部交替配置在可转动板201的转动方向上。可转动板201可转动地配置在光遮断器202中所设置的发光部和受光部之间。
在使用这种光学编码器的情况下，应用本实施例所述的校正处理使得能够去除由于诸如用作可转动板201中所形成的多个透光部的孔的大小变化及其偏心误差等的制造误差所引起的影响。
另外，可应用本实施例所述的校正处理的编码器期望是N极磁化部和S极磁化部的间距相等的磁性编码器、或者透光部的间距相等和不透光部的间距相等的光学编码器。然而，这些部并非必须以等间距配置，只要规则配置即可。
此外，本实施例说明了通过使用编码器输出图案和温度来估计获取到校正信息时所存储的调焦透镜105的原点位置和之后所检测到的原点位置之间的偏移量的情况。然而，除此之外，还可以检测调焦透镜105的(即，可更换镜头200和照相机100的)姿势。将检测结果反映到原点位置的偏移量估计上，这使得能够以较高的精度进行估计。
其它实施例
还可以通过读出并执行记录在存储介质(例如，非瞬态计算机可读存储介质)上的计算机可执行指令以进行本发明的上述实施例中的一个或多个的功能的系统或设备的计算机和通过下面的方法来实现本发明的实施例，其中，该系统或设备的计算机通过例如从存储介质读出并执行计算机可执行指令以进行上述实施例中的一个或多个的功能来进行上述方法。该计算机可以包括中央处理单元(CPU)、微处理单元(MPU)或其它电路中的一个或多个，并且可以包括单独计算机或单独计算机处理器的网络。例如可以从网络或存储介质将这些计算机可执行指令提供至计算机。该存储介质可以包括例如硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、分布式计算机系统的存储器、光盘(诸如致密盘(CD)、数字多功能盘(DVD)或蓝光盘(BD)TM)、闪速存储装置和存储卡等中的一个或多个。
尽管已经参考典型实施例说明了本发明，但是应该理解，本发明不限于所公开的典型实施例。所附权利要求书的范围符合最宽的解释，以包含所有这类修改、等同结构和功能。

Claims (11)

1.一种转动检测设备，包括：
可转动构件(106c)，其能够随着马达(106a)的转动进行转动，并且在所述可转动构件的转动方向上配置有形成转动检测用图案的多个图案元件部；
信号输出器(107)，用于输出响应于所述图案元件部随着所述可转动构件的转动进行转动而发生改变的检测信号；
存储器(111a)，用于存储多个校正值，其中多个所述校正值各自是针对各所述图案元件部所设置的、并且用于对所述可转动构件的转动位置和所述检测信号的变化之间的关系的误差进行校正，所述误差是由于所述可转动构件上的所述图案元件部的配置误差所引起的；以及
校正器(111)，
其特征在于，所述校正器以所述马达所驱动的从动构件(105)位于原点位置的原点状态下的所述可转动构件的一个转动位置作为基准位置，针对所述可转动构件从所述基准位置起转动的情况下的所述检测信号的各变化，通过使用各所述校正值来进行所述校正。
2.根据权利要求1所述的转动检测设备，其特征在于，所述校正器存储所述原点状态下的所述检测信号作为基准信号，并且基于所述基准信号和存储所述基准信号之后的所述原点状态下所输出的所述检测信号之间的差，来校正所述基准位置。
3.根据权利要求1所述的转动检测设备，其特征在于，所述校正器存储所述原点状态下所检测到的温度作为基准温度，并且基于所述基准温度和存储所述基准温度之后的所述原点状态下所检测到的另一温度之间的差，来校正所述基准位置。
4.根据权利要求1所述的转动检测设备，其特征在于，在向着所述原点位置驱动所述从动构件的情况下，所述校正器不进行所述校正、或者通过使用所述多个校正值的平均值来进行所述校正。
5.根据权利要求1所述的转动检测设备，其特征在于，所述可转动构件是作为所述图案元件部的S极磁化部和N极磁化部交替配置在所述转动方向上的磁体，以及
所述信号输出器是磁性检测元件，所述磁性检测元件用于输出响应于由于所述S极磁化部和所述N极磁化部随着所述可转动构件的转动进行转动所引起的磁通密度的变化而发生改变的所述检测信号。
6.根据权利要求1所述的转动检测设备，其特征在于，所述可转动构件是光学构件，其中在所述光学构件中，作为所述图案元件部的(a)透光部和非透光部或者(b)反光部和非反光部交替配置在所述转动方向上，以及
所述信号输出器包括发光部和受光部，其中所述受光部用于检测从所述发光部经由所述透光部或所述反光部入射的光。
7.根据权利要求1所述的转动检测设备，其特征在于，所述多个校正值是在所述转动检测设备的工厂调整时设置的。
8.一种马达控制设备，包括：
转动检测设备；以及
控制器(111)，
其中，所述转动检测设备包括：
可转动构件(106c)，其能够随着马达(106a)的转动进行转动，并且在所述可转动构件的转动方向上配置有形成转动检测用图案的多个图案元件部；
信号输出器(107)，用于输出响应于所述图案元件部随着所述可转动构件的转动进行转动而发生改变的检测信号；
存储器(111a)，用于存储多个校正值，其中多个所述校正值各自是针对各所述图案元件部所设置的、并且用于对所述可转动构件的转动位置和所述检测信号的变化之间的关系的误差进行校正，所述误差是由于所述可转动构件上的所述图案元件部的配置误差所引起的；以及
校正器(111)，
其特征在于，所述校正器以所述马达所驱动的从动构件位于原点位置的原点状态下的所述可转动构件的一个转动位置作为基准位置，针对所述可转动构件从所述基准位置起转动的情况下的所述检测信号的各变化，通过使用各所述校正值来进行所述校正，以及
所述控制器通过使用所述校正器进行校正后的所述检测信号来控制所述马达的驱动。
9.一种马达从动设备，包括：
马达(106a)；
从动构件(105)，其由所述马达进行驱动；
原点检测器(106h)，用于检测所述从动构件的原点位置；以及
马达控制设备，
其中，所述马达控制设备包括：
转动检测设备；以及
控制器(111)，
其中，所述转动检测设备包括：
可转动构件(106c)，其能够随着所述马达的转动进行转动，并且在所述可转动构件的转动方向上配置有形成转动检测用图案的多个图案元件部；
信号输出器(107)，用于输出响应于所述图案元件部随着所述可转动构件的转动进行转动而发生改变的检测信号；
存储器(111a)，用于存储多个校正值，其中多个所述校正值各自是针对各所述图案元件部所设置的、并且用于对所述可转动构件的转动位置和所述检测信号的变化之间的关系的误差进行校正，所述误差是由于所述可转动构件上的所述图案元件部的配置误差所引起的；以及
校正器(111)，
其特征在于，所述校正器以所述马达所驱动的从动构件位于原点位置的原点状态下的所述可转动构件的一个转动位置作为基准位置，针对所述可转动构件从所述基准位置起转动的情况下的所述检测信号的各变化，通过使用各所述校正值来进行所述校正，以及
所述控制器通过使用所述校正器进行校正后的所述检测信号来控制所述马达的驱动。
10.根据权利要求9所述的马达从动设备，其特征在于，所述从动构件是用于进行摄像的光学元件。
11.一种转动检测设备的校正方法，所述转动检测设备包括可转动构件(106c)，所述可转动构件能够随着马达(106a)的转动进行转动，并且在所述可转动构件的转动方向上配置有形成转动检测用图案的多个图案元件部，所述校正方法包括以下步骤：
提供各自针对各所述图案元件部所设置的多个校正值(S101-S117)；以及
通过使用所述多个校正值来对所述可转动构件的转动位置和所输出的检测信号的变化之间的关系的误差进行校正(S201-S227)，其中所述检测信号是响应于所述图案元件部随着所述可转动构件的转动进行转动而发生改变的信号，所述误差是由于所述可转动构件上的所述图案元件部的配置误差所引起的，
其中，所述校正方法以所述马达所驱动的从动构件位于原点位置的原点状态下的所述可转动构件的一个转动位置作为基准位置，针对所述可转动构件从所述基准位置起转动的情况下的所述检测信号的各变化，通过使用各所述校正值来进行所述校正。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104618635A (zh) * 2015-02-27 2015-05-13 浙江宇视科技有限公司 光遮断装置、摄像机及其运动恢复方法和装置
CN106899788A (zh) * 2015-12-21 2017-06-27 意法半导体公司 光学图像增稳致动器驱动器功率分配控制
CN108253883A (zh) * 2018-01-31 2018-07-06 东莞市盘石机电科技有限公司 一种马达校正检测设备
CN108768243A (zh) * 2018-05-23 2018-11-06 中山瑞信智能控制系统有限公司 一种开关磁阻电机角度补偿的控制方法
CN109297149A (zh) * 2018-08-24 2019-02-01 珠海格力电器股份有限公司 人感运动装置的位置控制方法、装置、存储介质及空调
US10197421B2 (en) 2015-02-27 2019-02-05 Zhejiang Uniview Technologies Co., Ltd Camera, posture change detection and posture restoration thereof
CN109391185A (zh) * 2017-08-07 2019-02-26 发那科株式会社 同步电动机的磁极位置检测装置以及磁极位置检测方法
US10459243B2 (en) 2015-10-22 2019-10-29 Stmicroelectronics, Inc. Optical image stabilization synchronization of gyroscope and actuator drive circuit
US10527867B2 (en) 2015-12-21 2020-01-07 Stmicroelectronics, Inc. Optical image stabilization actuator driver power distribution control
CN113541532A (zh) * 2020-04-20 2021-10-22 佳能株式会社 驱动系统、光刻装置以及物品的制造方法

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104776879B (zh) * 2015-04-27 2017-04-05 扬州电力设备修造厂有限公司 一种多圈绝对编码器的性能检测装置的检测方法
JP6787260B2 (ja) * 2017-06-14 2020-11-18 株式会社デンソー ポジションセンサ
JP7003610B2 (ja) * 2017-12-07 2022-02-04 日本精工株式会社 トルク測定装置付回転伝達装置
US10931175B2 (en) * 2018-10-31 2021-02-23 Waymo Llc Magnet ring with jittered poles
CN111866495B (zh) * 2019-04-28 2022-12-13 北京小米移动软件有限公司 一种位置检测方法及装置、电子设备、可读存储介质
CN112595355B (zh) * 2020-12-29 2022-05-27 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种光电调焦编码器误码检测系统及检测方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1022961A (ja) * 1996-06-28 1998-01-23 Nec Corp Ａｄｍ装置を用いた１対ｎ光ラインスイッチシステム
CN1616971A (zh) * 2003-11-13 2005-05-18 阿斯莫株式会社 具有旋转传感器的旋转机器
US20080199170A1 (en) * 2007-02-15 2008-08-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd Camera system
CN101893807A (zh) * 2009-05-19 2010-11-24 佳能株式会社 调焦透镜控制设备和摄像设备
CN102594235A (zh) * 2011-01-12 2012-07-18 日本电产伺服有限公司 步进马达的驱动电路以及驱动方法

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61228309A (ja) * 1985-04-02 1986-10-11 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 位置検出方法
JPS63273010A (ja) * 1987-04-30 1988-11-10 Sony Magnescale Inc 変位量検出装置
JPH02195208A (ja) * 1989-01-25 1990-08-01 Yamaha Corp エンコーダ用検出信号処理回路
JP3233292B2 (ja) * 1991-12-28 2001-11-26 ソニー株式会社 レンズ駆動装置
JP3090779B2 (ja) * 1992-05-20 2000-09-25 富士写真光機株式会社 レンズ位置検出装置
JP3010107B2 (ja) * 1993-08-05 2000-02-14 株式会社三協精機製作所 エンコーダシステム
JP3581513B2 (ja) * 1997-01-23 2004-10-27 キヤノン株式会社 光学機器
JP3344914B2 (ja) 1997-02-17 2002-11-18 株式会社三協精機製作所 ３相モータの速度制御装置
JPH116951A (ja) * 1997-06-16 1999-01-12 Canon Inc レンズ装置または光学機器
JP4596710B2 (ja) * 2001-09-10 2010-12-15 住友重機械工業株式会社 インクリメンタルエンコーダを使用した位置検出器による位置のプリセット方法
JP2003338448A (ja) * 2002-05-21 2003-11-28 Nikon Corp 位置計測方法と位置計測装置、及び露光方法と露光装置並びにマーク計測方法
JP2004012239A (ja) * 2002-06-05 2004-01-15 Canon Inc 欠陥検査方法及び装置
JP2004226180A (ja) * 2003-01-22 2004-08-12 Howa Mach Ltd 位置検出装置及び電動アクチュエータ
JP2007127560A (ja) * 2005-11-04 2007-05-24 Seiko Epson Corp 位置検出装置、スケールおよび位置検出装置の原点復帰方法
JP5105244B2 (ja) * 2007-07-06 2012-12-26 株式会社Ｊｖｃケンウッド 原点検出装置及び原点検出方法
JP5115419B2 (ja) * 2008-09-18 2013-01-09 パナソニック株式会社 光学式エンコーダ
DE102008043556B4 (de) * 2008-11-07 2022-03-31 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Positionsmesseinrichtung
JP2010122301A (ja) * 2008-11-17 2010-06-03 Hitachi Ltd フォーカス制御装置、およびフォーカス制御方法
WO2011089893A1 (ja) * 2010-01-20 2011-07-28 キヤノン株式会社 変位検出装置及び変位検出装置用スケールの誤差補正方法
JP2012018008A (ja) * 2010-07-06 2012-01-26 Mitsutoyo Corp 産業機械および産業機械の制御方法
JP2012103394A (ja) * 2010-11-09 2012-05-31 Canon Inc 光学機器およびその制御方法
JP5906435B2 (ja) * 2011-03-16 2016-04-20 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 カメラシステム、カメラ本体およびレンズユニット
JP6004626B2 (ja) * 2011-10-12 2016-10-12 キヤノン株式会社 エンコーダシステム、位置検出機能付き装置、および、複写機

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1022961A (ja) * 1996-06-28 1998-01-23 Nec Corp Ａｄｍ装置を用いた１対ｎ光ラインスイッチシステム
CN1616971A (zh) * 2003-11-13 2005-05-18 阿斯莫株式会社 具有旋转传感器的旋转机器
US20080199170A1 (en) * 2007-02-15 2008-08-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd Camera system
CN101893807A (zh) * 2009-05-19 2010-11-24 佳能株式会社 调焦透镜控制设备和摄像设备
CN102594235A (zh) * 2011-01-12 2012-07-18 日本电产伺服有限公司 步进马达的驱动电路以及驱动方法

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10197421B2 (en) 2015-02-27 2019-02-05 Zhejiang Uniview Technologies Co., Ltd Camera, posture change detection and posture restoration thereof
CN104618635A (zh) * 2015-02-27 2015-05-13 浙江宇视科技有限公司 光遮断装置、摄像机及其运动恢复方法和装置
US10466503B2 (en) 2015-10-22 2019-11-05 Stmicroelectronics, Inc. Optical image stabilization synchronization of gyroscope and actuator drive circuit
US10459243B2 (en) 2015-10-22 2019-10-29 Stmicroelectronics, Inc. Optical image stabilization synchronization of gyroscope and actuator drive circuit
US10649229B2 (en) 2015-12-21 2020-05-12 Stmicroelectronics, Inc. Optical image stabilization actuator driver power distribution control
US10520748B2 (en) 2015-12-21 2019-12-31 Stmicroelectronics, Inc. Optical image stabilization actuator driver power distribution control
US10527867B2 (en) 2015-12-21 2020-01-07 Stmicroelectronics, Inc. Optical image stabilization actuator driver power distribution control
US10649228B2 (en) 2015-12-21 2020-05-12 Stmicroelectronics, Inc. Optical image stabilization actuator driver power distribution control
CN106899788A (zh) * 2015-12-21 2017-06-27 意法半导体公司 光学图像增稳致动器驱动器功率分配控制
CN106899788B (zh) * 2015-12-21 2020-12-25 意法半导体公司 电子系统和驱动电路
CN109391185A (zh) * 2017-08-07 2019-02-26 发那科株式会社 同步电动机的磁极位置检测装置以及磁极位置检测方法
CN108253883A (zh) * 2018-01-31 2018-07-06 东莞市盘石机电科技有限公司 一种马达校正检测设备
CN108768243A (zh) * 2018-05-23 2018-11-06 中山瑞信智能控制系统有限公司 一种开关磁阻电机角度补偿的控制方法
CN108768243B (zh) * 2018-05-23 2022-01-07 中山瑞信智能控制系统有限公司 一种开关磁阻电机角度补偿的控制方法
CN109297149A (zh) * 2018-08-24 2019-02-01 珠海格力电器股份有限公司 人感运动装置的位置控制方法、装置、存储介质及空调
CN113541532A (zh) * 2020-04-20 2021-10-22 佳能株式会社 驱动系统、光刻装置以及物品的制造方法

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