CN1036633A - 光学编码器 - Google Patents

光学编码器 Download PDF

Info

Publication number
CN1036633A
CN1036633A CN89101853.0A CN89101853A CN1036633A CN 1036633 A CN1036633 A CN 1036633A CN 89101853 A CN89101853 A CN 89101853A CN 1036633 A CN1036633 A CN 1036633A
Authority
CN
China
Prior art keywords
grating
pitch
light
optical encoder
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
CN89101853.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN1015407B (zh
Inventor
市川宗次
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitutoyo Corp
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitutoyo Corp filed Critical Mitutoyo Corp
Publication of CN1036633A publication Critical patent/CN1036633A/zh
Publication of CN1015407B publication Critical patent/CN1015407B/zh
Expired legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/36Forming the light into pulses
    • G01D5/38Forming the light into pulses by diffraction gratings

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optical Transform (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

三光栅系统光学编码器,用于透过照射第一光栅 的光的第二光栅的栅距P设置为比第一光栅距P更 大且第二光栅透光部分的长度比栅距P的长度小。 此布置可改善透过第二光栅各照射光间的不相干性, 提高检测信号的SN。使用时,第二和第三光栅彼此 分开地形成在第二刻度尺状组件上的彼此不同位置, 还可形成具有彼此不同的相位差的多元第三光栅,从 而可获具有不同的相位差的多元的光接收信号。可 实现所需的三光栅系统的反射型光学编码器。

Description

本发明涉及到的是光学编码器,更具体地说,是一种称之为三光栅的光学编码器,它包括有:三个刻度尺状组件(透射型编码器)或两个刻度尺状组件(反射型编码器),且每一组刻度尺状组件都是与三种类型的周期性光栅相结合而构成的;一个用于照射这三类光栅的光源;一个用于接收已受到这三类光栅限制了的照射光的光接收元件;并可由此而提供一个相应于某两个部件间相对位移的周期性的检测信号。
在机床及其它类似的设备中,对于测量一固定部件和一可移动部件间相对位移的测量装置来说,现已公知的位移测量装置包括一个用以产生一相应于相对位移的周期性检测信号的光学编码器和一个用以将一检测信号转换为脉冲信号、并对其计数、积分的计算器。
对光学编码器而言,除了利用两类光栅重叠而形成的种种变化的普通编码器之外,现已公知的还有所谓的三光栅系统,这一系统是利用三类光栅12、14和16重叠而形成的种种变化,如图11所示。这类三光栅系统的基本原理如《美国光科学(Journal    of    the    Optical    Sociaty    of    America)》,1965年,Vol    55、No4,pp373-381所示,并已公开在美国专利3812352和英国专利申请44522/74中,尽管它们尚不十分理想。
图11所示的系统就是《SPIE(Society    of    Photo-Optical    Instrumentation    Engineers)》,Vol136,1st    European    Congress    on    Optics    Applied    to    Metrology(1977),pp325-331中所公开的系统。
如图11所示,这种已简化了的三光栅系统包括:一个栅距为P1的第一光栅12;一个栅距为P2的第二光栅14,它设置在距第一光栅12的距离为U的位置上;一个栅距为P3的第三光栅16,它与第二光栅14相向设置且距第一光栅12的距离为V;一个光源18,它产生一个穿过第二光栅14的且沿第一、第三光栅12、16方向传播的漫射光;一个位于第三光栅16后面的光接收元件20,它用于检测已受到第一至第三光栅12、14和16限制了的照射光并对其进行光电变换;一个用以放大光接收元件20给出的信号并将其转换为检测信号a的前置放大器22;而且当第一光栅方位为X方向时,检测信号a为一周期性正弦波。
为清楚起见,现将前述的参数P1、P2、P3、U、V和检测信号a之间的关系划分成几何系统和衍射系统两类,如表1所示。在表1中,l为自然数,λ为照射光有效波长。
表1
几何系统    衍射系数
p1p1p1
p2{(u+v)/v}p1{(u+v)/v}(p1/2
p3{(u+v)/u}p1{(u+v)/u}(p1/2
u    u    u
V ≠(lup2 1)/(λu-lp2 1
(l为大于等于的整数)
检测信 p1p1/2
号节距    (光学意义上的二分之一)
以前面描述的传统的三光栅系统,比如说几何系统为例,若第一光栅12的暗部分长度等于其亮部分长度=10μm,则栅距p1=20μm,若光栅间隔u=v≠5mm,则可知
第二光栅14的栅距p2
{(u+v)/v}p1=40μm,
第三光栅16的栅距p3
{(u+v)/u}p1=40μm。
若再以衍射系统为例,若第一光栅12的暗部分长度=其亮部分长度=20μm,该栅距p1=40μm,且光栅间隔u=v≠5mm,则可知
第二光栅14的栅距p2
{(u+v)/v}(p1/2)=40μm,
第三光栅16的栅距p3
{(u+v)/u}(p1/2)=40μm
然而,对于传统的三光栅系统,虽然所提供的检测信号a中的直流分量是足够大的,但周期性信号中的交流分量的峰峰值却很小,如12所示,因而不能充分满足后继电路中所要求的信噪比(SN比)。
根据本发明者所作的实验,若用传统的方法进行十一次采样,若采用前述的几何系统,并且每一次实验的光栅栅距分别为p1=20μm,p2=40μm,p3=40μm,光栅间隔为u=v≠5mm,各光栅均具有相等长度的暗部分和亮部分,则按下述方程式
SN比=(PP/DC)X100%    (1)
所确定的SN比最低为12%,最高为17%,其平均值为14.7%因而所得到的SN比是不能令人满意的。
若采用前述的衍射系统用传统方法进行类似的实验,且各光栅栅距分别为p1=40μm,p2=40μm,p3=40μm,光栅间隔为u=V≠5mm,各光栅均具有相等长度的暗部分和亮部分,则所得到的实验数据和上述的数据基本上相同,显然也不能得到令人满意的SN比。
当利用三光栅系统制作反射型编码器时,如果将第一光栅12形成在某一反射型主刻度尺状组件上,而将形成在分刻度尺组件上的第二光栅14和第三光栅16作为共用光栅,则栅距p2=p3,因而存在着栅距p2和p3不能彼此相对变化的缺点。
本发明为消除前述的现有技术的缺点而进行了改进,本发明的首要目的就是提供一种能使其检测信号具有足够高的SN比,从而能实现高精度测量的光学编码器。
本发明的第二个目的就是提供一种反射型光学编码器,其中形成在一个并且与原反射型光学编码器中使用的刻度尺状组件相同的组件(分刻度尺状组件)上的第二和第三光栅的栅距p2和p3可以设置为彼此不同的值,从而可以改善设计上的自由度。
为了实现其第一个目的,根据本发明构造的光学编码器应包括:
一个固定在一可相对移动的部件上的且形成有第一光栅的第一刻度尺状组件;
一个用于发射某种非准直照射光的光源;一个形成有第二光栅的第二刻度尺状组件,它用于部分地屏蔽来自光源的且照射第一光栅的照射光;一个形成有第三光栅的第三刻度尺状组件,它用于进一步限制已被第二和第一光栅限制了的照射光;一个用于检测已被第一至第三光栅限制了的照射光的光接收元件;上述各组件均固定在另一可相对移动的部件上;
上述两部件之间的相对位移可根据光接收元件给出的周期性变化的检测信号加以检测;
第二光栅的栅距p2应设置为比第一光栅的栅距p1更大,且第二光栅的透光部分的长度比第一光栅的栅距p1的长度更小。
为了实现其第二个目的,根据本发明构造的反射型光学编码器应包括:
一个固定在一可相对移动的部件上的且形成有第一光栅的反射型第一刻度尺状组件;
一个用于发射某种非准直照射光的光源;一个形成有第二光栅的和在其相位上彼此不同且和第二光栅相分离的多元的第三光栅的第二刻度尺状组件,第二光栅用于部分地屏蔽来自光源的且照射第一光栅的照射光,第三光栅用于进一步限制已受到第二和第一光栅限制了的照射光;一个多元的光接收元件,它用于检测被第一至各相应的第三光栅分别限制了的照射光;所有上述组件均固定在可相对移动的另一部件上;
这两个部件之间的相对位移可根据光接收元件给出的周期性变化着的检测信号加以检测。
在根据本发明构造的上述三光栅光学编码器中,把用于透过照射第一光栅的光的第二光栅的栅距p2设置为比第一光栅的栅距p1更大,且使其透光部分(亮部分)的长度比第一光栅的栅距p1的长度更小,从而改善了穿透过第二光栅的各束照射光之间的不相干性,提高了检测信号的SN比。其结果是简化了后继的信号处理并可实现高精度的位移检测。
更具体地说,比较好的形式是使这些彼此间有尽可能少的相互关联的不相干的次级光源由第二光栅14的各亮部分14B1、14B2、……14Bn所形成。换句话说,若由前述的亮部分14B1、14B2……14Bn所形成的这种次级光源是彼此不相干的次生光源,则是最理想的。然而,如果用发光二极管(LEC)或灯泡作为初级光源18照射第二光栅14,那么,当各亮部分14B之间的间隔相当小时,则很难形成彼此不相干的次级光源,且当第一光栅12作相对移动时,光接收元件20所给出的检测信号的SN比将会降低。因此根据本发明的教导,将第二光栅14的栅距p2设置为比第一光栅12的栅距p1更大且将第二光栅14的亮部分14B的长度设置为比第一光栅12的栅距p1的长度更小,因此能增大各亮部分14B之间的间隔,从而改善了各次级光源之间的非相干性。
更具体地说就是,当第二光栅14的栅距p2比第一光栅12的栅距p1更大时,照射第一光栅12的光的散射性(照度偏差)将会增加,而当第二光栅14的亮部分14B相当小时,亮部分14B将会形成点光源,因而使光源变为高度散射光源。因此,所希望的是使第二光栅14的亮部分长度等于第一光栅12的栅距p1或比其更小。用这种高度散射性的光照射第一光栅12,其结果将使得信号的峰峰分量与直流分量的比变大,从而大大地改善了SN比。
根据本发明,当用通用的方程式,如下所示,来分别描述这些关系时,采用几何系统的光栅成象可以被测定。
p2≥((u+v)/v)·m1·p1≥p1(1)
p3≥((u+v)/u)·u1·p1(2)
第二光栅亮部分的长度=第一光栅的栅距p1的长度 (3)
u=v=d    (在反射型的情况下)    (4)
v=1up2 1/(λu-lp2 1) (在透射型的情况下)(5)
其中,m1为大于1的正整数,n1最好为大于1的正整数,即自然数,l为自然数。
当采用通用的方程式,如下所示,来分别描述上述关系式时,采用衍射系统的光栅成象可以被测定。
p2≥((u+v)/v)·m2·p1/2≥p1(6)
p3≥((u+v)/u)·n2·p1/2(7)
第二光栅亮部分长度≤第一光栅栅距p1的长度 (8)
u=v=d    (在反射型的情况下)    (9)
v=lup2 1/(λu-lp2 1)(在透射型的情况下) (10)
其中,m2为大于1的正整数,n2最好为大于1的正奇数。
根据本发明者所进行的实验,第二光栅的挡光部分14A与透光部分14B之比的最佳范围是3∶1至7∶1。
根据本发明者所进行的实验,若类似传统的实例那样采用如图1所示的几何系统进行实验,每次实验均进行十一次采样,在测量SN比时,取第一光栅12的栅距p1=20μm(其亮部分12B的长度=其暗部分12A的长度=10μm),第二光栅14的光栅栅距p2=80μm(此为传统方法的两倍,而且其亮部分14B的长度为20μm,暗部分14A的长度为60μm),第三光栅16的光栅栅距p3=40μm(其亮部分长度=其暗部分长度=20μm)、而且光栅间隔u=v≠5mm,则获得的SN比最低为25%,最高为35%,平均值为30.4%,因此表明其SN比较传统实例改善了大约两倍。
类似的,在采用如图2所示的衍射系统的时候,若第一光栅12的光栅栅距p1=40μm(其亮部分12B的长度=暗部分12A的长度),第二光栅14的光栅栅距p2=80μm(此为传统方法的两倍,而且其亮部分14B的长度为20μm,暗部分14A的长度为60μm),第三光栅16的光栅栅距p3=40μm,(其亮部分长度=暗部分长度=20μm),且光栅间隔u=v≠5mm,所得到的数据基本上和相应的几何系统的相同。
附带说一下,采用本发明时,光源18和第二光栅14不一定必须彼此分开,也可以采用某种将光源和第二光栅彼此结合成一体的阵列形光源30,如图3所示。在这种情况下,结构可以被简化。
而且,第三光栅16和光接收元件20也不一定必须互相分开,也可以采用某种将第三光栅和光接收元件彼此结合成一体的阵列形的光接收元件32,如图4所示。这种布置也可使结构简化。
阵列形的光源30和阵列形的光接收元件32两者可以同时使用,此时将使结构进一步简化。
当使用三光栅系统来构造反射型编码器时,如果仅仅将第一光栅12形成在反射型第一刻度尺状组件上,而将在第二(第三)刻度尺状组件上形成的第二光栅14和第三光栅16作为共用光栅,则有光栅栅距p2=p3,p2和p3在数值上不能彼此相对变化。因此重要的是,第二光栅14和第三光栅16应该彼此分开地形成在第二刻度尺组件上的彼此不同的位置上,进而还可以形成具有彼此不同的相位差的多元的第三光栅16,从而可以得到彼此具有不同相位差的多元的光接收信号。
利用以上所描述的布置,即使是反射型编码器,光栅栅距p2和p3也可以设置为彼此不同的值,因此,设计的自由度增加了。
进而,所需要的三光栅系统的反射型编码器是可以实现的,该编码器与透射型编码器相比,在尺寸上更为紧凑,因而更易于安装到被测的部件上。
本发明的确切的本质特征以及其它目的和优点,将根据下面的结合附图进行的详细描述进一步加以说明,各图中相同的或相类似的组件已附以相同的参考标号。
图1是本发明应用于几何系统的光学编码器的一个例子的示意图。
图2是应用本发明的衍射系统光学编码器的一个例子的示意图。
图3是利用了阵列形光源的一个例子的示意图。
图4是利用了阵列形光接收元件的一个例子的示意图。
图5是根据本发明构造的光学编码器的一个最佳实施例的主要部件的配置的剖视图。
图6是沿图5中v1-v1线所取的剖视图,它示出了上述最佳实施例中的第一光栅的构成。
图7是沿图5中v-v线所取的剖视图,它示出了上述最佳实施例中的第二和第三光栅的布置。
图8、图9是与图7相类似的剖视图,示出了第二和第三光栅的其它布置方式。
图10示出了上述实施例中信号处理回路的基本布置的电路示意图。
图11是传统的三光栅系统光学编码器的布置示意图。
图12是一幅用于表明检测信号的SN比的曲线图。
以下将结合附图描述本发明的最佳实施例。
第一个实施例是将本发明应用于几何系统的反射型光学编码器。如图5所示,根据第一实施例构造的反射型光学编码器应包括:
一个由玻璃制成的作为第一刻度尺状组件的主刻度尺状组件40,在其下表面上形成有栅距为p1的第一光栅12,所说的主刻度尺组件固定在一可相对移动的部件上;
一个由LEP(发光二极管)或灯泡构成的、用于发射非准直照射光(波长λ≠0.8μm)的光源42;一个由玻璃制成的作为第二和第三刻度尺状组件的共用分刻尺状组件44,在其上表面上的相应部位形成有一个栅距为p2的第二光栅14和若干个栅距为p3的第三光栅16,第二光栅14用于部分地屏蔽来自光源42的且照射主刻度尺状组件40上的第一光栅12的照射光,第三光栅16用于进一步限制已被第二和第一光栅14和12限制了的照射光,在这种布置中,第三光栅16夹着第二光栅14;一个光接收元件48,它用于接收已受到第一至各相应的第三光栅12、14和16限制了的照射光,所说的光接收元件被固定在与位于开口组件46之下的第三光栅16的相对应的位置处,如图5所示,在它们之间形成有用于通过来自光源42的照射光的开口46A;上述这些组件均固定在可相对移动的另一部件上。
如图6所示,第一光栅12由设置在主刻度尺状组件40下表面上的栅距为p1的纵向条纹状刻度所形成。
如图7详细所示,第二光栅14和第三光栅16是这样布置的,即在分刻度尺状组件44的中央部位形成用于形成多个线性光源的栅距为p2的第二光栅14,在第二光栅14的两侧形成有四个栅距为p3的第三光栅16,后者分别具有其相位依次相差90°的相位A、相位B、相位 A、相位 B。在这两类光栅的周围是一铬沉积表面50,以防止如干扰光等等所产生的不良影响。而且,相位A、相位B、相位 A和相位 B的排列方式并不仅仅局限于图7所示的方式,还可以采用如图8、9所示的以及其它种不同的布置方式。而当仅仅需要区分其方向而不需要区分其相位时,则可仅采用两种相位。
如图10所示,用于处理由光接收元件48给出的输出信号以分别形成具有在相位上彼此相差90°的相位A和相位B的两相检测信号的电路回路应包括:
用于放大光接收元件48给出的相位分别为相位A、相位B、相位 A和相位 B的输出信号的电阻52A、52 A、52B、52 B以及运算放大器54A、54 A、54B、54 B;
用于差分放大相位为A的输出信号和相位为 A的输出信号或相位为B的输出信号和相位为 B的输出信号以分别形成相位为A的输出信号或相位为B的输出信号的电阻58A、58 A、58B、58 B和60A、60B和62A、62B以及运算放大器64A、64B。
采用几何系统的第一实施例中,第二光栅14的暗部分14A的长度为60μm,第二光栅14的亮部分14B的长度为20μm,该光栅栅距p2为80μm。第一光栅12的暗部分12A的长度为10μm,第一光栅12的亮部分12B的长度为10μm,该光栅栅距p1为20μm。第三光栅16的暗部分的长度为20μm,第三光栅16的亮部分的长度为20μm,该光栅栅距p3为40μm。光栅间隔u=v=d可依玻璃折射率被校正并换算成空气折射率时的计算取为0.7~6mm。
当用实验的方式测定由这种第一实施方式所得到的检测信号的SN比时,正如已描述的那样,这一SN比已为30.4%,因而表明第一实施方式的SN比已大约改善为相应于第一实施方式的布置的传统布置方式的两倍。
本发明的第二最佳实施例是将本发明应用于下面将描述的衍射系统的反射型光学编码器。
在第二实施例中,第二光栅14的暗部分14A的长度为60μm,第二光栅14的亮部分14B的长度为20μm,该光栅栅距p2为80μm,第一光栅12的暗部分的长度为20μm,第一光栅12的亮部分的长度为20μm,该光栅栅距p1为40μm,第三光栅16的暗部分的长度为20μm,第三光栅16的亮部分的长度为20μm,该光栅栅距p3为40μm,光栅间隔u=v=d=0.5mm或更大。
这种布置的其它方面与第一实施例相类似,因而不再重复说明。
现已查明,第二实施例的SN比相应的传统布置改善了大约两倍,这与第一实施例相类似。
在上述各实施例中,应用本发明的反射型光学编码器均包括有由玻璃制作的主刻度尺状组件40,然而本发明的应用范围并不仅限于此,显然,本发明还可以应用于具有金属制作的反射型主刻度状组件的反射型光学编码器,以及应用于具有由玻璃制作的透射型主刻度尺状组件的透射型光学编码器,其第二光栅14和第三光栅16形成在设置在所说的主刻度尺状组件(第一光栅)两侧的两个刻度尺状组件上,其布置方式如图1至图4所示。
在上述的各实施例中,本发明是应用于直线型编码器,然而本发明的应用范围并不仅限于此,显然,本发明还可以应用于类似的环型编码器。

Claims (10)

1、一种光学编码器,包括:
一个固定在一可相对移动的部件上的且形成有第一光栅的第一刻度尺状组件;
一个用于发射非准直照射光的光源;一个形成有第二光栅的第二刻度尺状组件,它用于部分地屏蔽来自光源的且照射第一光栅的照射光;一个形成有第三光栅的第三刻度尺状组件,它用于进一步限制已被第二和第一光栅限制了的照射光;一个用于检测已被第一至第三光栅限制了的照射光的光接收元件;上述各组件均固定在另一可相对移动的部件上;
上述两部件之间的相对位移可根据光接收元件给出的周期性变化着检测信号加以检测;
其特征在于第二光栅的栅距P2应设置为比第一光栅的栅距P1更大,且第二光栅的透光部分的长度比第一光栅的栅距P1的长度更小。
2、如权利要求1所述的光学编码器,其特征在于所说的光源是发光二极管或灯泡。
3、如权利要求1所说的光学编码器,其特征在于第二光栅栅距P2、第三光栅栅距P3、第一光栅和第二光栅间的光栅间隔u以及第一光栅和第三光栅间的光栅间隔v的设置应进一步满足下述方程式所限定的关系,由此来检测反射型几何系统的光栅成象,
p2≥((u+v)/v)·m1·p1≥p1
p3≥((u+v)/u)·n1·p1
u=v
其中,m1、n1分别是m1>1、n1≥1的自然数。
4、如权利要求1所说的光学编码器,其特征在于第二光栅栅距P2、第三光栅栅距p3、第一光栅和第二光栅间的光栅间隔u以及第一光栅和第三光栅间的光栅间隔v的设置应进一步满足下述方程式所限定的关系,由此来检测透射型几何系统的光栅成象。
p2≥((u+v)/v)·m1·p1≥p1
p3≥((u+v)/u)·n1·p1
v=1up2 1/(λu-1p2 1
其中,m1n1、l分别是m1>1、n1≥1、l≥1的自然数,λ是光源的有效波长。
5、如权利要求1所说的光学编码器,其特征在于第二光栅栅距p2、第三光栅栅距p3、第一光栅和第二光栅间的光栅间隔u以及第一光栅和第三光栅间的光栅间隔v的设置应进一步满足下述方程式所限定的关系,由此来检测反射型衍射系统的光栅成象。
p2≥((u+v)/v)·m2·p1/2≥p1
p3≥((u+v)/u)·n2·p1/2
u=v
其中,m2是m2>1的自然数,n2是n2≥1的正奇数。
6、如权利要求1所说的光学编码器,其特征在于第二光栅栅距p2、第三光栅栅距p3、第一光栅和第二光栅间的光栅间隔u以及第一光栅和第三光栅间的光栅间隔v的设置应进一步满足下述方程式所限定的关系,由此来检测透射型衍射系统的光栅成象,
p2≥((u+v)/v)·m2·p1/2≥p1
p3≥((u+v)/u)·n2·p1/2
v=1up2 1/(λu-lp2 1
其中,m3是m2>1的自然数,n2是n2≥1的正奇数,l是自然数,λ是光源的有效波长。
7、如权利要求1所说的光学编码器,其特征在于所说的光源和第二光栅相互结合成一体以形成一阵列形光源。
8、如权利要求1所说的光学编码器,其特征在于所说的第三光栅和光接收元件相互合成一体以形成一阵列形光接收元件。
9、一种反射型光学编码器,包括:
一个固定在一可相对移动的部件上的且形成有第一光栅的反射型第一刻度尺状组件;
一个用于发射某种非准直照射光的光源;一个形成有第二光栅和在其相位上彼此不同且和第二光栅相分离的多元的第三光栅的第二刻度尺状组件,第二光栅用于部分地屏蔽来自光源的且照射第一光栅的照射光,第三光栅用于进一步限制已受到第二和第一光栅限制了的照射光;一个多元的光接收元件,它用于检测被第一至各相应的第三光栅分别限制了的照射光;所有上述组件均固定在可相对移动的另一部件上;
这两个部件间的相对位移根据所说的光接收元件给出周期性变化着的检测信号加以检测。
10、如权利要求9所说的反射型光学编码器,其特征在于第二光栅的栅距p2设置为比第一光栅的栅距p1更大且第二光栅的透光部分的长度比第一光栅的栅距p1更小。
CN89101853.0A 1988-02-22 1989-02-22 光学编码器 Expired CN1015407B (zh)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2203188 1988-02-22
JP22031/88 1988-02-22
JP130027/88 1988-10-04
JP1988130027U JPH07888Y2 (ja) 1988-02-22 1988-10-04 光学式変位検出器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1036633A true CN1036633A (zh) 1989-10-25
CN1015407B CN1015407B (zh) 1992-02-05

Family

ID=26359189

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN89101853.0A Expired CN1015407B (zh) 1988-02-22 1989-02-22 光学编码器

Country Status (6)

Country Link
US (2) US5026164A (zh)
JP (1) JPH07888Y2 (zh)
CN (1) CN1015407B (zh)
DE (1) DE3904898C2 (zh)
GB (1) GB2216256B (zh)
IN (1) IN171487B (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100346186C (zh) * 2005-09-13 2007-10-31 浙江大学 多模干涉型光学逻辑编码器
CN104783762A (zh) * 2015-04-23 2015-07-22 天津大学 一种位置正弦波频率编码的成像光测量装置
CN105547162A (zh) * 2016-01-18 2016-05-04 梁磊 一种集成式称重卷尺测量工具及其测量方法

Families Citing this family (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2239088B (en) * 1989-11-24 1994-05-25 Ricoh Kk Optical movement measuring method and apparatus
US5204524A (en) * 1991-03-22 1993-04-20 Mitutoyo Corporation Two-dimensional optical encoder with three gratings in each dimension
US5198663A (en) * 1991-04-03 1993-03-30 Mitutoyo Corporation Angular velocity sensor with displacement scale and sensor means
DE4206544A1 (de) * 1992-03-02 1993-09-09 Lpkf Cad Cam Systeme In Thueri Zweikoordinaten-wegmesssystem
US5390022A (en) 1992-04-07 1995-02-14 Canon Kabushiki Kaisha Displacement information detection apparatus for receiving a divergent light beam
WO1993021639A1 (en) * 1992-04-09 1993-10-28 Mitutoyo Corporation X-y table apparatus
JPH06160114A (ja) * 1992-11-26 1994-06-07 Ono Sokki Co Ltd エンコーダ
JP3210111B2 (ja) * 1992-12-24 2001-09-17 キヤノン株式会社 変位検出装置
JPH06194123A (ja) * 1992-12-24 1994-07-15 Canon Inc 変位検出装置
JP3005131B2 (ja) * 1992-12-28 2000-01-31 キヤノン株式会社 変位検出装置
US5652426A (en) * 1993-04-19 1997-07-29 Ricoh Company, Ltd. Optical encoder having high resolution
DE4323712C2 (de) * 1993-07-15 1997-12-11 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Lichtelektrische Längen- oder Winkelmeßeinrichtung
JP2965444B2 (ja) * 1993-10-01 1999-10-18 株式会社ミツトヨ 定圧型測定機
JP3196459B2 (ja) * 1993-10-29 2001-08-06 キヤノン株式会社 ロータリーエンコーダ
JP3256628B2 (ja) * 1994-05-23 2002-02-12 株式会社リコー エンコーダ装置
JP3808516B2 (ja) * 1994-12-27 2006-08-16 シグマテック株式会社 位置決め装置
JPH08178702A (ja) * 1994-12-27 1996-07-12 Canon Inc 光学式センサ
DE19527287C2 (de) * 1995-07-26 2000-06-29 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Fotoelektrisches Weg- und Winkelmeßsystem zum Messen der Verschiebung zweier Objekte zueinander
JP3631551B2 (ja) * 1996-01-23 2005-03-23 株式会社ミツトヨ 光学式エンコーダ
DE19738751A1 (de) * 1996-09-10 1998-03-12 Harmonic Drive Systems Optischer Codierer
JP3429961B2 (ja) * 1996-11-05 2003-07-28 株式会社ミツトヨ 光学式エンコーダ
DE19726935B4 (de) * 1997-06-25 2014-06-12 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Optische Positionsmeßeinrichtung
DE19754595B4 (de) * 1997-12-10 2011-06-01 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Lichtelektrische Positionsmeßeinrichtung
EP1028309B1 (de) 1999-02-04 2003-04-16 Dr. Johannes Heidenhain GmbH Optische Positionsmesseinrichtung
DE19918101A1 (de) 1999-04-22 2000-10-26 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Optische Positionsmeßeinrichtung
US6279248B1 (en) 1999-09-22 2001-08-28 Central Purchasing, Inc. Digital measuring system having a multi-row encoder disk
JP4658452B2 (ja) * 2003-02-07 2011-03-23 オリンパス株式会社 光学式エンコーダ
DE112004002777B4 (de) * 2004-03-03 2013-11-07 Mitsubishi Denki K.K. Optischer Codierer
JP4880893B2 (ja) * 2004-11-08 2012-02-22 株式会社ミツトヨ 光電式エンコーダ
EP1701138B1 (en) * 2005-03-11 2016-02-17 Mitutoyo Corporation Photoelectric encoder
JP5113000B2 (ja) * 2008-09-19 2013-01-09 株式会社ミツトヨ 光電式エンコーダ
JP5562076B2 (ja) * 2010-03-10 2014-07-30 キヤノン株式会社 光学式エンコーダおよび変位計測装置
US8598509B2 (en) * 2010-03-11 2013-12-03 Stratasys, Inc. Optical encoder
DE102011082570A1 (de) * 2011-09-13 2013-03-14 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Rotatorische Positionsmesseinrichtung
US8997369B2 (en) 2012-05-15 2015-04-07 Mitutoyo Corporation Fast rotary drive for a handheld micrometer
US8739428B2 (en) 2012-07-03 2014-06-03 Mitutoyo Corporation Constant force spring actuator for a handheld micrometer
US9377282B2 (en) 2013-09-03 2016-06-28 Mitutoyo Corporation Method for validating a workpiece measurement in a dimensional metrology hand tool
CN111089612B (zh) * 2014-09-24 2022-06-21 原相科技股份有限公司 光学传感器及光学感测系统
US9482509B2 (en) 2014-12-12 2016-11-01 Mitutoyo Corporation Ergonomic micrometer including two modes of adjustment
US9689715B2 (en) * 2015-05-19 2017-06-27 Mitutoyo Corporation Light source array used in an illumination portion of an optical encoder
JP6664155B2 (ja) * 2015-06-11 2020-03-13 株式会社ミツトヨ 光学式エンコーダ
CN105973287B (zh) * 2016-05-04 2018-07-06 广东工业大学 一种多轨绝对光栅尺图像编码解码方法
US11422292B1 (en) * 2018-06-10 2022-08-23 Apple Inc. Super-blazed diffractive optical elements with sub-wavelength structures
US11754767B1 (en) 2020-03-05 2023-09-12 Apple Inc. Display with overlaid waveguide
US20210348954A1 (en) * 2020-05-08 2021-11-11 Canon Kabushiki Kaisha Optical encoder and control apparatus

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3768911A (en) * 1971-08-17 1973-10-30 Keuffel & Esser Co Electro-optical incremental motion and position indicator
US3812352A (en) * 1972-08-28 1974-05-21 Itek Corp Encoder readout system
US3842261A (en) * 1973-12-20 1974-10-15 Itek Corp Optical encoder using diffraction imagery in a reflective mode
US4049965A (en) * 1975-03-06 1977-09-20 National Research Development Corporation Measurement apparatus
GB1516536A (en) * 1975-08-22 1978-07-05 Ferranti Ltd Measuring apparatus
DE2826213B2 (de) * 1978-06-15 1980-06-04 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Photoelektrisches inkrementales Längen- und Winkelmeßsystem
FR2433949A1 (fr) * 1978-08-25 1980-03-21 Commissariat Energie Atomique Substrat hydrophobe apte a liberer une substance chimique
JPS57157115A (en) * 1981-03-24 1982-09-28 Mitsutoyo Mfg Co Ltd Photoelectric type encoder
JPS57157118A (en) * 1981-03-24 1982-09-28 Mitsutoyo Mfg Co Ltd Photoelectric type displacement detecting device
GB8413955D0 (en) * 1984-05-31 1984-07-04 Pa Consulting Services Displacement measuring apparatus
JPS6142416U (ja) * 1985-07-04 1986-03-19 株式会社ミツトヨ 光電型エンコ−ダ
GB8615196D0 (en) * 1986-06-21 1986-07-23 Renishaw Plc Opto-electronic scale reading apparatus
GB2195179B (en) * 1986-09-11 1991-05-15 Synergy Computer Graphics Registration system for a moving substrate

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100346186C (zh) * 2005-09-13 2007-10-31 浙江大学 多模干涉型光学逻辑编码器
CN104783762A (zh) * 2015-04-23 2015-07-22 天津大学 一种位置正弦波频率编码的成像光测量装置
CN105547162A (zh) * 2016-01-18 2016-05-04 梁磊 一种集成式称重卷尺测量工具及其测量方法

Also Published As

Publication number Publication date
US5026164A (en) 1991-06-25
GB8903837D0 (en) 1989-04-05
JPH01180615U (zh) 1989-12-26
DE3904898A1 (de) 1989-08-31
IN171487B (zh) 1992-10-31
US5067816A (en) 1991-11-26
GB2216256A (en) 1989-10-04
GB2216256B (en) 1992-08-19
JPH07888Y2 (ja) 1995-01-11
CN1015407B (zh) 1992-02-05
DE3904898C2 (de) 1997-11-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1036633A (zh) 光学编码器
CN1036545C (zh) 绝对位置测定系统
CN1308651C (zh) 对单一特征的光学度量
CN1483995A (zh) 干涉测位仪
CN1281927C (zh) 位置测量装置
US7381942B2 (en) Two-dimensional optical encoder with multiple code wheels
CN1232036C (zh) 物体位置的光检测方法和设备
CN1288419C (zh) 可在绝对位置传感器中使用的改进的定标结构和方法
CN1670486A (zh) 光学式编码器
CN1302260C (zh) 位置测量装置
CN1740753A (zh) 用于光学编码器的检测器阵列
CN1134321C (zh) 一种在扭矩传感器的光栅元件表面上制造光栅图形的方法
US8173950B2 (en) Single track optical encoder
CN1157586C (zh) 具有至少一张透镜片的光编码器
CN1573286A (zh) 距离测量传感器及装备有该距离测量传感器的电子设备
JP6563813B2 (ja) 光学要素
CN1538149A (zh) 光电式编码器
US7969579B2 (en) Rotary encoder apparatus
JP2004340934A (ja) エンコーダ
CN1250933C (zh) 位置测量装置及运行位置测量装置的方法
CN1712903A (zh) 线性编码器
CN112013887A (zh) 光学编码器
JP3738742B2 (ja) 光学式絶対値エンコーダ及び移動装置
JP5378524B2 (ja) 光学式位置測定装置
CN1043786A (zh) 用可见光断层扫描技术测定烟尘浓度场的方法和装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C13 Decision
GR02 Examined patent application
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C15 Extension of patent right duration from 15 to 20 years for appl. with date before 31.12.1992 and still valid on 11.12.2001 (patent law change 1993)
OR01 Other related matters
C19 Lapse of patent right due to non-payment of the annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee