CN103221802A - 分光光度计 - Google Patents

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CN103221802A CN2011800548951A CN201180054895A CN103221802A CN 103221802 A CN103221802 A CN 103221802A CN 2011800548951 A CN2011800548951 A CN 2011800548951A CN 201180054895 A CN201180054895 A CN 201180054895A CN 103221802 A CN103221802 A CN 103221802A
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Abstract

在单光束方式的分光光度计，即使光源的光量随时间变动，也能得到高S/N且能长时间抑制漂移的高稳定透过光谱及吸收光谱。分光光度计具备：光源；试样池；多色仪，其通过将来自上述光源的光中的透过上述试样池内的试样的光分光为多个波长成分，来生成上述试样的透过光谱；图像传感器，其检测上述试样的透过光谱；光源监视用光检测器，其检测来自上述光源的光中的没有透过上述试样池的光；以及运算部，其使用上述光源监视用光检测器的输出信号修正上述试样的透过光谱。

Description

分光光度计
技术领域
本发明涉及测量试样的透过光谱或吸收光谱的分光光度计，尤其涉及单光束方式的分光光度计。
背景技术
以往，作为测定透过光谱或吸收光谱的分光光度计，已知所谓双光束方式的分光光度计。在双光束方式的分光光度计中，通过设置试样池和参照池两个池，测量通过各池的光的光量，并求出其比值从而得到透过光谱。此外，通过对透过光谱的纵轴进行对数变换，从而得到吸收光谱。在双光束方式的分光光度计中，由于同时测量试样池用光束和参照池用光束，因此具有即使光源的光量随时间变动，也能得到试样的准确透过光谱的优点。
在日本特开昭59-230124号公报及日本特开昭63-198832号公报中，记载了使用图像传感器的双光束方式的分光光度计的例子。使用图像传感器的双光束方式的分光光度计存在构造复杂化、体积增大、制造成本增大的问题。因此，在装配有图像传感器的分光光度计中，一般采用单光束方式。
在日本特开平11-108830号公报中，记载了通过色散元件对来自光源的光进行波长色散，并通过阵列式光检测元件对其进行检测的单光束方式的吸光度测定器。
并且，在日本特开昭61-53527号公报中，记载了搭载有紫外区用氘放电管和可视区用卤素灯2种光源的分光光度计。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开昭59-230124号公报
专利文献2：日本特开昭63-198832号公报
专利文献3：日本特开平11-108830号公报
专利文献4：日本特开昭61-53527号公报
发明内容
发明所要解决的课题
单光束方式的分光光度计具有构造简单、体积小、制造成本低等优点。但是，当光源的光量随时间变动时，单光束方式的分光光度计难以得到试样的准确透过光谱。
本发明的目的在于，在单光束方式的分光光度计中，即使光源的光量随时间变动，也能得到高S/N且能长时间抑制漂移的高稳定透过光谱及吸收光谱。
用于解决课题的手段
根据本发明，分光光度计具备：光源；试样池；多色仪，其通过将来自上述光源的光中的透过上述试样池的光分光为多个波长成分，来生成上述试样池内的试样的透过光谱；图像传感器，其检测上述试样的透过光谱；光源监视用光检测器，其检测来自上述光源的光中的没有透过上述试样池的光；以及运算部，其使用上述光源监视用光检测器的输出信号修正上述试样的透过光谱。
上述运算部通过用上述透过光谱除以根据上述光源监视用光检测器的输出信号求出的修正系数来对其进行修正。
发明效果
根据本发明，在单光束方式的分光光度计中，即使光源的发光强度随时间变动，也能得到高S/N且能长时间抑制漂移的高稳定透过光谱及吸收光谱。
附图说明
图1是表示根据本发明的分光光度计的第1例的结构的附图。
图2是对卤素灯和氘放电灯的发光强度的波长光谱的例子进行说明的图。
图3是对卤素灯和氘放电灯的发光强度的时间变动进行说明的图。
图4A是对卤素灯和氘放电灯的发光强度的时间变动进行说明的另一图。
图4B是对卤素灯和氘放电灯的发光强度的时间变动进行说明的又一图。
图5是表示根据本发明的分光光度计的第2例的结构的图。
图6是将本发明的分光光度计的第2例的一部分放大后的图。
具体实施方式
参照图1，对本发明的分光光度计的第1例进行说明。本示例的分光光度计具有第1及第2光源1,2、试样池5、检测光学系统、检测光学系统运算部、光源监视光学系统、光源监视系统运算部以及计算机17。检测光学系统具有分色镜3、成像透镜7、多色仪10以及一维图像传感器12。也可以使用二维图像传感器代替一维图像传感器12。检测光学系统运算部具有放大器15及A/D转换器16。
光源监视光学系统具有第1及第2光纤21A,21B、第1及第2透镜23A,23B以及第1及第2光源监视用光检测器24A,24B。光纤21A,21B也可以为光纤束。光源监视光学系统运算部具有第1及第2放大器25A,25B以及A/D转换器26。
第1光源1为长波长区域用光源，第2光源2为短波长区域用光源。在本示例中，第1光源1中使用可视区用卤素灯，第2光源2中使用紫外区用氘放电灯。作为试样池5可以使用具有适合于固体、液体、气体等各种形态的试样的构造的试样池。在图示的例子中，试样池5为液体试样用流通池。试样如箭头所示，沿着检测光学系统的光轴流动。流通池适合用作液体色谱仪的检测器。
首先，对检测光学系统和检测光学系统运算部进行说明。从第1及第2光源1,2射出的光通过分色镜3耦合，射入试样池5。通过试样池5的光在成像透镜7聚光后，射入多色仪10。多色仪10具有入射狭缝10A和波长色散元件10B。波长色散元件10B也可以为衍射光栅。经由入射狭缝10A射入的光通过波长色散元件10B进行波长色散，在出射侧焦平面形成透过光谱图像11。透过光谱图像11表示试样池5中的液体试样的分光透过特性。透过光谱图像11在通过一维图像传感器12针对每个波长区域转换成电信号，并通过放大器15放大后，通过A/D转换器16被数字信号化。把数字信号化后的透过光谱保存在计算机17的存储器中。通过对透过光谱进行对数变换来得到吸收光谱。
接着，关于光源监视光学系统和光源监视系统运算部进行说明。从第1及第2光源1,2射出的光，分别经由第1及第2光纤21A,21B被导入第1及第2透镜23A,23B，在此分别被聚光。聚光后的光分别通过第1及第2光源监视用光检测器24A,24B进行检测，被转换为电信号。这些电信号通过第1及第2放大器25A,25B分别被放大，并通过A/D转换器26分别被数字信号化。把数字信号化的检测信号保存在计算机17的存储器中。
将第1光纤21A的入射侧端面配置在第1光源1附近。由此，从第1光纤21A的入射侧端面仅取出第1光源1的一部分发光。此外，将第2光纤21B的入射侧端面配置在第2光源2附近。由此，从第2光纤21B的入射侧端面仅取出第2光源2的一部分发光。此时，以与从2个光源1,2向试样池5的光的光路不干扰的方式配置光纤21A,21B。
以不通过第1光纤21A检测来自第2光源2的发光，且不通过第2光纤21B检测来自第1光源1的发光的方式配置第1及第2光纤21A,21B的入射端。
并且，以使来自第1光纤21A的出射侧端面的出射光经由第1透镜23A射入第1光源监视用光检测器24A的方式设置第1光纤21A。以使来自第2光纤21B的出射侧端面的出射光经由第2透镜23B射入第2光源监视用光检测器24B的方式设置第2光纤21B。
首先，对空白修正进行说明。在通过一维图像传感器12得到的透过光谱图像11的强度分布中，不只反映了试样池5内的试样的分光透过特性，还反应了光源1,2的分光发光特性、多色仪10的分光效率特性等设备引起的光学特性。因此，需要从透过光谱图像11的强度分布中除去设备引起的光学特性。
首先，在试样池5中没有试样流动的状态下取得透过光谱图像。试样池5中没有试样流动的状态包括纯水或空白试样流动的状态。将其作为参照用透过光谱保存在计算机17的存储器上。参照用透过光谱表示设备引起的光学特性。
其次，在试样池5中有分析对象的试样流动的状态下取得透过光谱图像。将其作为试样的透过光谱保存在计算机17的存储器上。试样的透过光谱包括试样的分光透过特性和设备引起的光学特性双方。
在透过光谱中，以乘法的形式反映设备引起的光学特性。因此，为了消除设备引起的光学特性的影响，只要除以设备引起的光学特性即可。即，只要用试样的透过光谱中每个波长的强度除以参照用透过光谱中的对应的每个波长的强度即可。这样，可以得到除去设备引起的光学特性后的试样的透过光谱。
按照下述方式进行吸收光谱的空白修正。通过对参照用透过光谱和试样的透过光谱分别进行对数变换，可以得到参照用吸收光谱和试样的吸收光谱。在吸收光谱中，以加法的形式反映设备引起的光学特性。因此，为了除去设备引起的光学特性的影响，只要减去设备引起的光学特性即可。即，只要用试样的吸收光谱中每个波长的强度减去参照用吸收光谱中的对应的每个波长的强度即可。这样，可以得到除去设备引起的光学特性之后的吸收光谱。
如果光源1,2的发光强度变动，则上述设备引起的光学特性中的光源1,2的分光发光特性发生变化。因此，如果光源1,2的发光强度变动，则参照用透过光谱发生变化。由于本示例的分光光度计是单光束方式，因此参照用透过光谱和试样的透过光谱的取得时刻有偏差。如果在2个透过光谱的取得时刻之间光源1,2的发光强度变动，则透过光谱产生误差。为了避免这种情况发生，只要随时取得参照用透过光谱，始终使用最新的参照用透过光谱即可。
当试样池5为流通池时，有时会分析流通池中流动的液体的成分浓度或组成比例在预定时间内如何变化。此时，无法在需要时随时取得参照用透过光谱。
因此，根据本发明，在进行空白修正之后，再进行光量修正。如以下详细说明的那样，通过光源监视光学系统测定光源1,2的发光强度，并由此修正透过光谱及吸收光谱。
图2表示卤素灯及氘放电灯的发光强度的光谱的示例，纵轴为发光强度，横轴为波长。曲线201表示卤素灯的发光光谱，曲线202表示氘放电灯的发光强度的光谱。卤素灯发出可视区的光，氘放电灯发出紫外区的光。但是，来自2个灯的光的波长区域部分重叠。因此，沿横轴设定3个波长区域W1,W2,W3。第1波长区域W1是仅氘放电灯的发光的区域，第2波长区域W2是2个灯的发光重叠的区域，第3区域W3是仅卤素灯的发光的区域。
图3表示卤素灯及氘放电灯的发光强度的时间变化特性的一例。根据图3可以判断出，在卤素灯的时间变动和氘放电灯的时间变动之间没有很大关联。
图4A表示开始测定来自氘放电灯的光的测定开始时和10分钟后的发光强度之间的关联。横轴表示测定开始时每个波长的发光强度，纵轴表示测定开始10分钟后每个波长的发光强度。图4B表示开始测定来自卤素灯的光的测定开始时和10分钟后的发光强度之间的关联。横轴表示测定开始时每个波长的发光强度，纵轴表示测定开始10分钟后每个波长的发光强度。在测定开始时和10分钟后的发光强度之间，能够微微看到两种灯的每个波长不同的变动，但可以判断出变动量中的主要部分与波长无关，是以共通的比率进行变动的成分。
根据图4A及图4B的图表可以判断出，聚集各光源的广阔的波长区域中的发光强度求出1个修正值，如此，即使针对每个波长修正在试样侧照射的光量，也能得到较大的改善效果。
以下对本例的分光光度计中的光量修正进行说明。首先，为了简化而对只使用2个光源中的第1光源1、即卤素灯的情况进行说明。设定在时刻t=0取得参照用透过光谱，之后，在时刻t=ti（i=1,2,3，…）取得试样的透过光谱S（λ，ti）（λ表示波长）。将时刻t=0及t=ti（i=1,2,3，…）的卤素灯的发光强度分别设定为H（0）、H（ti）。使用参照用透过光谱按照上述方式对试样的透过光谱进行空白修正。针对空白修正后的试样的透过光谱进一步进行光量修正。在透过光谱中，以乘法的形式反映光源的光量变动。因此，为了除去光源的光量变动的影响，只要用试样的透过光谱中的每个波长的强度除以表示光源的光量变动的修正系数α即可。使用下述的式1求出修正后的试样的透过光谱S’（λ,ti）。
S’（λ,ti）=S（λ,ti）/α=S（λ,ti）/（H（ti）/H（0））  式1
S（λ,ti）为空白修正后的试样的透过光谱，S’（λ,ti）为光量修正后的试样的透过光谱。式1右边的各项H（0）、H（ti）表示第1光源监视用光检测器24A的输出信号。该式右边的分母α=H（ti）/H（0）为修正系数。
如式1所示，时刻t=ti（i=1,2,3，…）表示取得试样的透过光谱的时间间隔。在本例中，设定监视各灯的光量变动的时间间隔与取得试样的透过光谱的时间间隔相等。但是，可以针对各灯的时间变动特性将监视各灯的光量变动的时间间隔设定为合适的间隔。
这里，对仅使用卤素灯的情况进行了说明。但代替卤素灯仅使用氘放电灯的情况也是一样的。而且，随时间切换2个灯的发光的方式也是一样的。并且，在图2的仅氘放电灯的发光的第1波长区域W1或仅卤素灯的发光的第3区域W3中的测定也是一样的。
接着，考察如图1的例子那样，通过分色镜将2个灯的发光耦合，始终对试样同时照射来自双方光源的发光的情况。这相当于图2的氘放电灯和卤素灯2个灯的波长区域重叠的第2波长区域W2中的测定。
设定在时刻t=0取得参照用透过光谱，之后，在时刻t=ti（i=1,2,3，…）取得试样的透过光谱S（λ，ti）（λ表示波长）。将时刻t=0及t=ti的卤素灯的发光强度分别设定为H（0）、H（ti），将时刻t=0及t=ti的氘放电灯的发光强度分别设定为D（0）、D（ti）。使用参照用透过光谱按照上述方式对试样的透过光谱进行空白修正。针对空白修正后的试样的透过光谱进一步进行光量修正。在透过光谱中，以乘法的形式反映光源的光量变动。因此，为了除去光源的光量变动的影响，只要用试样的透过光谱中每个波长的强度除以表示光源的光量变动的修正系数β即可。使用下述的式2求出修正后的试样的透过光谱S’（λ,ti）。
S’（λ,ti）=S（λ,ti）/β=S（λ,ti）/｛（H（ti）+D（ti））/（H（0）+D（0））｝  式2
S（λ,ti）为空白修正后的试样的透过光谱，S’（λ,ti）为光量修正后的试样的透过光谱。公式2右边的项H（0）、H（ti）表示第1光源监视用光检测器24A的输出信号，右边的项D（0）、D（ti）表示第2光源监视用光检测器24B的输出信号。该公式右边的分母β=（H（ti）+D（ti））/（H（0）+D（0））为修正系数。
如式2所示，时刻t=ti（i=1,2,3，…）表示取得试样的透过光谱的时间间隔。在本例中，设监视各灯的光量变动的时间间隔与取得试样的透过光谱的时间间隔相等。但是，可以针对各灯的时间变动特性将监视各灯的光量变动的时间间隔设定为合适的间隔。
在吸收光谱中，以加法的形式反映光源的光量变动。因此，为了除去光源的光量变动的影响，只要用试样的吸收光谱中每个波长的强度减去对修正系数α、β进行对数变换得到的值即可。
在式2右边的修正系数β的分母及分子中，直接相加第1光源监视用光检测器24A的输出信号H（0）、H（ti）和第2光源监视用光检测器24B的输出信号D（0）、D（ti）。但是，2个检测光学系统的输出信号的比根据各光纤的设置状态或各光检测器的分光感度特性等影响而发生变化。因此，2个输出信号H（t）、D（t）的比未必准确表示实际射入试样池5的光中的来自第1光源1的光量与来自第2光源2的光量的比率。
因此，预先测定实际射入试样池5的光中的来自第1光源1的光量与来自第2光源2的光量的比率。用该比率k与2个检测光学系统的输出信号H（t）、D（t）中的一方相乘。H（t）+D（t）成为H（t）+k×D（t）或k×H（t）+D（t）。如果这样考虑2个检测光学系统的输出信号H（t）、D（t）的比k，则用下述的式3求出修正后的试样的透过光谱S’（λ,ti）。
S’（λ,ti）=S（λ,ti）/｛（H（ti）+k×D（ti））/（H（0）+k×D（0））｝式3
这里，在k=1时，式3和式2相同。这样，在本例中，即使光源的发光强度随时间变动，也能测定对光量变动的影响进行修正后的高稳定光谱。
参照图5，对本发明的分光光度计的第2例进行说明。本例的分光光度计具有第1及第2光源1,2、试样池5、检测光学系统、检测光学系统运算部、光源监视光学系统以及计算机17。本例的分光光度计与图1的第1例相比，不同点在于光源监视光学系统的结构不同，并且，在本例中省去了光源监视光学系统运算部，而使用检测光学系统运算部来替代。
在此，省去对检测光学系统和检测光学系统运算部的说明，对光源监视光学系统的结构进行说明。光源监视光学系统具有第1及第2光纤21A,21B、透镜22。在本例的分光光度计中，检测光学系统和光源监视光学系统两者都使用一维图像传感器12。
参照图6，对本发明的分光光度计的第2例中的一维图像传感器12的使用方法进行说明。在图示的例子中，一维图像传感器12的受光面包含1024像素。在1024像素中，将4个像素设定为第2光源监视用像素121，将与该第2光源监视用像素121相邻的4个像素设定为分离用像素122，将与该分离用像素122相邻的4个像素设定为第1光源监视用像素120，将与该第1光源监视用像素120相邻的4个像素设定为分离用像素122，将其余的像素123设定为检测光学系统用像素123。第1及第2光源监视用像素120,121分别具有图1所示的分光光度计的第1例的第1及第2光源监视用光检测器24A,24B的功能。
一般情况下，一维图像传感器12的像素及方向的间距约25微米左右。2个光源监视用像素120,121之间的距离小于图1所示的第1例中的2个光源监视用光检测器24A,24B之间的距离。因此，来自2个光纤21A,21B的出射侧端面的出射光通过共用的透镜22聚光，并在2个光源监视用像素120,121上缩小成像。
2个光源监视用像素120,121之间的分离用像素122是为了防止两者的光信号或电信号串扰而设置的。此外，第1光源监视用像素120与检测光学系统用像素123之间的分离用像素122是为了防止两者间的光信号或电信号串扰而设置的。
在本示例中，将来自第1光源监视用像素120的4个像素的输出信号相加后得到的值成为式2中的H（t），把来自第2光源监视用像素121的4个像素的输出信号相加后得到的值成为式2中的D（t）。在本例子中，修正第1及第2光源1,2的光量变动的方法与第1例相同，因此以下省略说明。
作为与第1例相同的效果，在本例中，即使光源的发光强度随时间变动，也能测定对光量变动的影响进行修正后的高稳定光谱。并且，在本示例中，不需要第1例中需要的光源监视用光学系统及运算部。因此，能够提供低成本且节省空间的装置。
此外，在本例中作为2个光源监视用像素120,121使用4个像素，但也可以以在上述修正计算中以得到需要的S/N比为目的适当地增减像素数。
虽然在以上内容中对本发明的示例进行了说明，但作为本领域技术人员容易理解到本发明并不局限于上述示例，能在权利要求书中记载的发明的范围内作各种变更。
符号说明
1,2-光源；3-分色镜；5-试样池；7-成像透镜；10A-入射狭缝；10-多色仪；11-透过光谱图像；12-图像传感器；15-放大器；16-A/D转换器；17-计算机；21A,21B-光纤；22,23A,23B-透镜；24A,24B-光源监视用光检测器；25A,25B-放大器；26-A/D转换器；120,121-光源监视用像素；122-分离用像素；123-检测光学系统用像素

Claims (20)

1.一种分光光度计，其特征在于，
具备：光源；
试样池；
多色仪，其通过将来自上述光源的光中的透过上述试样池的光分光为多个波长成分，来生成上述试样池内的试样的透过光谱；
图像传感器，其检测上述试样的透过光谱；
光源监视用光检测器，其检测来自上述光源的光中的没有透过上述试样池的光；以及
运算部，其使用上述光源监视用光检测器的输出信号修正上述试样的透过光谱，
上述运算部通过将上述透过光谱除以修正系数来对其进行修正，该修正系数表示根据上述光源监视用光检测器的输出信号求出的光源的光量变动。
2.根据权利要求1所述的分光光度计，其特征在于，
在将时刻t=0以及t=ti（i=1,2,3,…）的上述光源的发光强度分别设为H（0）、H（ti），将时刻t=ti（i=1,2,3,…）的试样的透过光谱设为S（λ，ti）（λ表示波长）时，上述运算部通过下述的式1求出修正后的透过光谱S’（λ,ti）。
S’（λ,ti）=S（λ,ti）/（H（ti）/H（0））  式1
3.根据权利要求1所述的分光光度计，其特征在于，
在时刻t=0，上述试样池中不存在分析对象的试样的状态下，通过上述多色仪取得参照用透过光谱，并使用该参照用透过光谱修正时刻t=ti（i=1,2,3,…）的上述试样的透过光谱S（λ，ti）（λ表示波长）。
4.根据权利要求1中所述的分光光度计，其特征在于，
设有用于将来自上述光源的光中的没有透过上述试样池的光导入上述光源监视用光检测器的光纤。
5.根据权利要求1所述的分光光度计，其特征在于，
将上述图像传感器的像素中的一部分作为上述光源监视用光检测器使用，将其他部分作为用于检测上述试样的透过光谱的光检测器使用。
6.根据权利要求5所述的分光光度计，其特征在于，
在上述图像传感器的像素中的作为上述光源监视用光检测器使用的像素区域和用于检测上述试样的透过光谱的像素区域之间，设置有不检测光的像素区域。
7.根据权利要求1所述的分光光度计，其特征在于，
上述运算部通过对上述透过光谱进行对数变换来求出吸收光谱，并通过将该吸收光谱减去修正系数来对其进行修正，该修正系数表示根据上述光源监视用光检测器的输出信号的对数变换值求出的光源的光量变动。
8.根据权利要求1中所述的分光光度计，其特征在于，
上述光源具有发光的波长区域互不相同的第1及第2光源，
在将时刻t=0以及t=ti（i=1,2,3,…）的上述第1光源的发光强度分别设为H（0）、H（ti），将时刻t=0以及t=ti的上述第2光源的发光强度分别设为D（0）、D（ti），将时刻t=ti（i=1,2,3,…）的试样的透过光谱设为S（λ，ti）（λ表示波长）时，上述运算部通过下述的式2求出修正后的透过光谱S’（λ,ti）。
S’（λ,ti）=S（λ,ti）/β=S（λ,ti）/｛（H（ti）+D（ti））/（H（0）+D（0））｝  式2
9.根据权利要求8所述的分光光度计，其特征在于，
上述第1光源为可视区用卤素灯，上述第2光源为紫外区用氘放电灯。
10.一种分光光度计，其特征在于，
具备：发光的波长区域互不相同的第1及第2光源；
试样池；
检测光学系统，其根据来自上述第1及第2光源的光中的透过上述试样池的光生成上述试样池内的试样的透过光谱；
光源监视光学系统，其检测来自上述第1及第2光源的光中的没有透过上述试样池的光；以及
运算部，其使用来自上述光源监视光学系统的输出信号修正上述试样的透过光谱，
上述运算部通过将上述透过光谱除以修正系数来对其进行修正，该修正系数表示根据上述光源监视光学系统的输出信号求出的光源的光量变动。
11.根据权利要求10所述的分光光度计，其特征在于，
在将时刻t=0以及t=ti（i=1,2,3,…）的上述第1光源的发光强度分别设为H（0）、H（ti），将上述第2光源的发光强度分别设为D（0）、D（ti）,将时刻t=ti（i=1,2,3,…）的试样的透过光谱设为S（λ，ti）（λ表示波长）,将来自上述第1光源的光量与来自上述第2光源的光量的比率设为k时，上述运算部通过下述的式3求出修正后的透过光谱S’（λ,ti）。
S’（λ,ti）=S（λ,ti）/｛（H（ti）+k×D（ti））/（H（0）+k×D（0））｝式3
12.根据权利要求10所述的分光光度计，其特征在于，
在时刻t=0，上述试样池中不存在分析对象的试样的状态下，通过上述检测光学系统取得参照用透过光谱，使用该参照用透过光谱修正时刻t=ti（i=1,2,3,…）的上述试样的透过光谱S（λ，ti）（λ表示波长）。
13.根据权利要求10所述的分光光度计，其特征在于，
上述检测光学系统具有：多色仪，其通过将来自上述第1及第2光源的光中的透过上述试样池的光分光为多个波长成分，来生成上述试样池内的试样的透过光谱；以及图像传感器，其检测上述试样的透过光谱，
上述光源监视光学系统具有第1及第2光纤，该第1及第2光纤分别取入来自上述第1及第2光源的光中的没有透过上述试样池的光，
通过上述图像传感器检测上述第1及第2光纤取入的光，。
14.根据权利要求13所述的分光光度计，其特征在于，
将上述图像传感器的像素中的一部分作为上述光源监视用光检测器使用，将其他部分作为用于检测上述试样的透过光谱的光检测器使用。
15.根据权利要求14所述的分光光度计，其特征在于，
在上述图像传感器的像素中作为上述光源监视用光检测器使用的像素区域和用于检测上述试样的透过光谱的像素区域之间，设置有不检测光的像素区域。
16.根据权利要求10所述的分光光度计，其特征在于，
上述第1光源为可视区用卤素灯，上述第2光源为紫外区用氘放电灯。
17.一种分光光度计，其特征在于，
具备：发光的波长区域互不相同的第1及第2光源；
试样池；
检测光学系统，其根据来自上述第1及第2光源的光中的透过上述试样池的光生成上述试样池内的试样的透过光谱；
光源监视光学系统，其检测来自上述第1及第2光源的光中的没有透过上述试样池的光；以及
运算部，其使用来自上述光源监视光学系统的输出信号修正上述试样的透过光谱，
上述检测光学系统具有：多色仪，其通过将来自上述第1及第2光源的光中的透过上述试样池的光分光为多个波长成分，来生成上述试样池内的试样的透过光谱；以及图像传感器，其检测上述试样的透过光谱，
上述图像传感器具有：作为上述光源监视光学系统的光检测器使用的像素区域；以及用于检测上述试样的透过光谱的像素区域。
18.根据权利要求17所述的分光光度计，其特征在于，
在将时刻t=0以及t=ti（i=1,2,3,…）的上述第1光源的发光强度分别设为H（0）、H（ti），将上述第2光源的发光强度分别设为D（0）、D（ti）,将时刻t=ti（i=1,2,3,…）的试样的透过光谱设为S（λ，ti）（λ表示波长）,将来自上述第1光源的光量与来自上述第2光源的光量的比率设为k时，上述运算部通过下述的式3求出修正后的透过光谱S’（λ,ti）。
S’（λ,ti）=S（λ,ti）/｛（H（ti）+k×D（ti））/（H（0）+k×D（0））｝式3
19.根据权利要求17所述的分光光度计，其特征在于，
在时刻t=0，上述试样池中没有收纳试样的状态下，通过上述多色仪取得参照用透过光谱，使用该参照用透过光谱修正时刻t=ti（i=1,2,3,…）的上述试样的透过光谱S（λ，ti）（λ表示波长）。
20.根据权利要求17所述的分光光度计，其特征在于，
上述光源监视光学系统具有：取入来自上述第1光源的光的第1光纤；以及取入来自上述第2光源的光的第2光纤，
将上述第1及第2光纤取入的光导入上述图像传感器的作为上述光源监视光学系统的光检测器使用的像素区域。
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