JPS6153527A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPS6153527A JPS6153527A JP17501484A JP17501484A JPS6153527A JP S6153527 A JPS6153527 A JP S6153527A JP 17501484 A JP17501484 A JP 17501484A JP 17501484 A JP17501484 A JP 17501484A JP S6153527 A JPS6153527 A JP S6153527A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- spectroscope
- reflected
- concave surface
- light source
- Prior art date
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- Pending
Links
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- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 abstract description 4
- 230000004075 alteration Effects 0.000 abstract description 2
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- YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N Deuterium Chemical compound [2H] YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N 0.000 description 3
- 229910052805 deuterium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 3
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は分光光度計に係り、配特に瀬谷−波岡形マウテ
イング方式の分光光度計に関する。
イング方式の分光光度計に関する。
従来の瀬谷−波岡形分光光度計の光学系の構成例を第２
図に示す、光源であるハロゲンランプ１または重水素放
電管２から出る光は、光源ミラー３によって分光器４に
設けられた入射スリット５上に集光され、該分光器４内
に入る。この分光器４内に入った光は分光ＦｇＩ４内に
設けられた分散子としての凹面回折格子６で分散され、
この分散された光は該分光器４に設けられた射出スリッ
ト７上にスペクトル結像する。このスペクトル結像した
光のうち前記射出スリット７を通過した光だけが単色光
として取り出され、凹面ミラー８によってセクタモータ
９により回転するセクタミラー１０上に集光される。こ
のセクタミラー１０上に集光された前記単色光のうち、
一部は反射して平面ミラー１１．凹面ミラー１２および
平面ミラー１３により順次反射されて検知器１４に入る
。また前記セクタミラー１０上に集光された単色光のう
ち他の一部は透過して、平面ミラー１５，１６、凹面ミ
ラー１７および平面ミラー１８により順次反射されて検
知器１４に入る。この検知器１４に入った単色光により
試料に対する吸収の度合を計測する。このときのこの単
色光の波長の駆動は前記凹面回折格子６の微小の回転に
よって行なわれる。
図に示す、光源であるハロゲンランプ１または重水素放
電管２から出る光は、光源ミラー３によって分光器４に
設けられた入射スリット５上に集光され、該分光器４内
に入る。この分光器４内に入った光は分光ＦｇＩ４内に
設けられた分散子としての凹面回折格子６で分散され、
この分散された光は該分光器４に設けられた射出スリッ
ト７上にスペクトル結像する。このスペクトル結像した
光のうち前記射出スリット７を通過した光だけが単色光
として取り出され、凹面ミラー８によってセクタモータ
９により回転するセクタミラー１０上に集光される。こ
のセクタミラー１０上に集光された前記単色光のうち、
一部は反射して平面ミラー１１．凹面ミラー１２および
平面ミラー１３により順次反射されて検知器１４に入る
。また前記セクタミラー１０上に集光された単色光のう
ち他の一部は透過して、平面ミラー１５，１６、凹面ミ
ラー１７および平面ミラー１８により順次反射されて検
知器１４に入る。この検知器１４に入った単色光により
試料に対する吸収の度合を計測する。このときのこの単
色光の波長の駆動は前記凹面回折格子６の微小の回転に
よって行なわれる。
上記のように構成された従来の分光光度計においては、
射出スリット７上に結像されたスペクトルは一般的に第
３図に示す如く湾曲した像となる。
射出スリット７上に結像されたスペクトルは一般的に第
３図に示す如く湾曲した像となる。
このような像の湾曲の度合は、凹面回折格子を用いる場
合の方が平面回折格子を用いる場合に比べで大きくなり
、分光光度計の分解能向上のための大きな障害となって
いた。なお第３図における１００は０次光、１０１は＋
１次スペクトル、１０２は＋２次スペクトル、１０３は
一１次スペクトル、１０４は一２次スペクトルである。
合の方が平面回折格子を用いる場合に比べで大きくなり
、分光光度計の分解能向上のための大きな障害となって
いた。なお第３図における１００は０次光、１０１は＋
１次スペクトル、１０２は＋２次スペクトル、１０３は
一１次スペクトル、１０４は一２次スペクトルである。
本発明は上述の点に鑑みてなされたもので、その目的と
するところは、スペクトルの湾曲を解消し良好な分解性
能を有する分光光度計を提供するにある。
するところは、スペクトルの湾曲を解消し良好な分解性
能を有する分光光度計を提供するにある。
本発明は分光光度計を２つの分光器によって構成し、そ
れぞれの分光器に凹面回折格子を設けて対称的に対向す
る位置になるようにし、光源からの光を２度これらの２
つの凹面回折格子により反射させることにより、スペク
トルの湾曲を低減させるようにしたものである。
れぞれの分光器に凹面回折格子を設けて対称的に対向す
る位置になるようにし、光源からの光を２度これらの２
つの凹面回折格子により反射させることにより、スペク
トルの湾曲を低減させるようにしたものである。
以下本発明に係る分光光度計の一実施例を図面を参照し
て説明する。
て説明する。
第１図に本発明の一実施例を示す、該図において第２図
に示す従来例と同一または同等の部分は同一符号にて示
す０分光器４内の光学系の構成および試料室系の光学系
の構成は第２図に示す従来例と同様であるので説明を省
略する１本実施例の特徴は従来例の光源ミラー３に相当
する位置に凹面回折格子１９を設けたことである。すな
わち、主分光器４に形成された入射スリット５の外側に
前置分光器２０を設け、この前置分光器２０内に前記主
分光器４内の凹面回折格子６と対称的な位置に該凹面回
折格子１９を収納し、さらにハロゲンランプ１または重
水素放電管２の光源から発し光源ミラ３で反射された光
を該前置分光器２０内に入れる入射スリット２１をこの
前置分光器２０に設けである。従って前記入射スリット
５は中間不対スリットとなる。
に示す従来例と同一または同等の部分は同一符号にて示
す０分光器４内の光学系の構成および試料室系の光学系
の構成は第２図に示す従来例と同様であるので説明を省
略する１本実施例の特徴は従来例の光源ミラー３に相当
する位置に凹面回折格子１９を設けたことである。すな
わち、主分光器４に形成された入射スリット５の外側に
前置分光器２０を設け、この前置分光器２０内に前記主
分光器４内の凹面回折格子６と対称的な位置に該凹面回
折格子１９を収納し、さらにハロゲンランプ１または重
水素放電管２の光源から発し光源ミラ３で反射された光
を該前置分光器２０内に入れる入射スリット２１をこの
前置分光器２０に設けである。従って前記入射スリット
５は中間不対スリットとなる。
上記の如く構成された本実施例の作用を以下に説明する
。光源１または２から発し光源ミラー３で反射された光
は入射スリット２１上に集光され前置分光器２０内に入
る。この前置分光器２０内に入った光は凹面回折格子１
９で分散反射され、中間入射スリット５を通って主分光
器４内に入り、以下従来例と同様に単色光として検知器
１４に入る。このように光が２回凹面回折格子１９およ
び６によって折り返えし反射するため、収差によるスペ
クトルの湾曲の程度を軽減することができる。
。光源１または２から発し光源ミラー３で反射された光
は入射スリット２１上に集光され前置分光器２０内に入
る。この前置分光器２０内に入った光は凹面回折格子１
９で分散反射され、中間入射スリット５を通って主分光
器４内に入り、以下従来例と同様に単色光として検知器
１４に入る。このように光が２回凹面回折格子１９およ
び６によって折り返えし反射するため、収差によるスペ
クトルの湾曲の程度を軽減することができる。
（発明の効果〕
上述のとおり本発明によれば、分光光度計の主分光器の
前に前置分光器を設けて、それぞれ設けられた凹面回折
格子によって光を２回折り返えし反射するようにしたも
のであるから、スペクトルの湾曲の程度を軽減し分割性
能を向上することがでミるようになったので、その効果
は大である。
前に前置分光器を設けて、それぞれ設けられた凹面回折
格子によって光を２回折り返えし反射するようにしたも
のであるから、スペクトルの湾曲の程度を軽減し分割性
能を向上することがでミるようになったので、その効果
は大である。
第１図は本発明に係る分光光度計の一実施例の光学系統
図、第２図は従来の分光光度計の光学系統図、第３図は
従来の分光光度計によるスペクトル結像例である。 １・・・ハロゲンランプ、２・・・重水素放電管、３・
・・光源ミラー、４・・・主分光器、５．２１・・・入
射スリット、６，１９・・・凹面回折格子、７・・・射
出スリット、１４・・・検知器、２０・・・前置分光器
。
図、第２図は従来の分光光度計の光学系統図、第３図は
従来の分光光度計によるスペクトル結像例である。 １・・・ハロゲンランプ、２・・・重水素放電管、３・
・・光源ミラー、４・・・主分光器、５．２１・・・入
射スリット、６，１９・・・凹面回折格子、７・・・射
出スリット、１４・・・検知器、２０・・・前置分光器
。
Claims (1)
- １、凹面回折格子を用いた分光光度計において、それぞ
れに該凹面回折格子を設けた主分光器と前置分光器とを
対称位置に配設してこれらの２つの凹面回折格子が対向
するようにし、光源からの光を２度これらの２つの凹面
回折格子により反射させることにより、スペクトルの湾
曲を低減させたことを特徴とする分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17501484A JPS6153527A (ja) | 1984-08-24 | 1984-08-24 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17501484A JPS6153527A (ja) | 1984-08-24 | 1984-08-24 | 分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6153527A true JPS6153527A (ja) | 1986-03-17 |
Family
ID=15988706
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17501484A Pending JPS6153527A (ja) | 1984-08-24 | 1984-08-24 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6153527A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102564585A (zh) * | 2011-12-14 | 2012-07-11 | 上海元析仪器有限公司 | 一种紫外可见分光光度计的光路 |
| DE112011103836T5 (de) | 2010-11-19 | 2013-08-29 | Hitachi High-Technologies Corporation | Spektrophotometer |
-
1984
- 1984-08-24 JP JP17501484A patent/JPS6153527A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE112011103836T5 (de) | 2010-11-19 | 2013-08-29 | Hitachi High-Technologies Corporation | Spektrophotometer |
| CN102564585A (zh) * | 2011-12-14 | 2012-07-11 | 上海元析仪器有限公司 | 一种紫外可见分光光度计的光路 |
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