JPS64576Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS64576Y2 JPS64576Y2 JP11478879U JP11478879U JPS64576Y2 JP S64576 Y2 JPS64576 Y2 JP S64576Y2 JP 11478879 U JP11478879 U JP 11478879U JP 11478879 U JP11478879 U JP 11478879U JP S64576 Y2 JPS64576 Y2 JP S64576Y2
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- Japan
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- sample
- light
- wavelength
- beams
- spectrometer
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- Expired
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 claims description 3
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 3
- CIWBSHSKHKDKBQ-JLAZNSOCSA-N Ascorbic acid Chemical compound OC[C@H](O)[C@H]1OC(=O)C(O)=C1O CIWBSHSKHKDKBQ-JLAZNSOCSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 239000002612 dispersion medium Substances 0.000 description 2
- 238000002798 spectrophotometry method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は二波長分光光度計に関する。二波長分
光測光では個々の試料について最も適当な二つの
波長を選択しなければならい。このため従来は本
来の測定に先立つて予め二つの波長を決定するた
めの分光的測定を行つていた。
光測光では個々の試料について最も適当な二つの
波長を選択しなければならい。このため従来は本
来の測定に先立つて予め二つの波長を決定するた
めの分光的測定を行つていた。
本考案は従来の二波長分光光度計に簡単な付加
を行つただけの構造で容易に二波長の選択ができ
かつ二波長測光が行える分光光度計を得ることを
目的としてなされた。
を行つただけの構造で容易に二波長の選択ができ
かつ二波長測光が行える分光光度計を得ることを
目的としてなされた。
通常の二波長分光光度計は試料セルを通過した
光を波長の異なる二種の光に分け、夫々の光につ
いて測光を行う構成になつている。本考案はこの
ような構成の分光光度計において二つに分けられ
た各光束の光路中に第２の試料室を設けたもので
ある。
光を波長の異なる二種の光に分け、夫々の光につ
いて測光を行う構成になつている。本考案はこの
ような構成の分光光度計において二つに分けられ
た各光束の光路中に第２の試料室を設けたもので
ある。
第１図は通常の二波長分光光度計を示す。Ｓは
光源、Ｃは試料セルで光源Ｓから出た光束は試料
セルＣを通過後ビームスプリツタＢによつて二光
束に分割され、各光束は夫々回折格子Ｇ１，Ｇ２
等の分光素子に入射せしめられ、互に異なる波長
の光が取出されて測光素子Ｄ１，Ｄ２に入射する
ようになつている。二波長分光光度計において試
料セルＣの右側のレンズより右側の光学系は二つ
の分光器で、通常一つの外筐に囲まれており自由
に物を出入れすることはできないようになつてい
る。本考案はこのような分光光度計において試料
セルを通過した光束が２光束に分割された以後の
各光路の適宜の位置において分光器外筐に試料出
入用窓を設け、分光器内に第２の試料室を配置し
たものであつて、この位置は分光素子（第１図で
は格子Ｇ１，Ｇ２）通過後の位置に限ることはな
く、ビームスプリツタＢ以後の二光束に分割され
た各光束の光路内の光束が細く絞り込まれた位置
であればよく、実際上光束が細く絞り込まれてい
るのは分光器の入出射スリツト位置であるが、ス
リツト位置に試料を置くことはできないから、各
スリツトに近接したスリツト前後位置であればよ
く、このような位置は各光束毎に４個所あるか
ら、各光束毎にそれら４個所のうちの一つを採用
すればよい。以下実施例によつて本考案を説明す
る。
光源、Ｃは試料セルで光源Ｓから出た光束は試料
セルＣを通過後ビームスプリツタＢによつて二光
束に分割され、各光束は夫々回折格子Ｇ１，Ｇ２
等の分光素子に入射せしめられ、互に異なる波長
の光が取出されて測光素子Ｄ１，Ｄ２に入射する
ようになつている。二波長分光光度計において試
料セルＣの右側のレンズより右側の光学系は二つ
の分光器で、通常一つの外筐に囲まれており自由
に物を出入れすることはできないようになつてい
る。本考案はこのような分光光度計において試料
セルを通過した光束が２光束に分割された以後の
各光路の適宜の位置において分光器外筐に試料出
入用窓を設け、分光器内に第２の試料室を配置し
たものであつて、この位置は分光素子（第１図で
は格子Ｇ１，Ｇ２）通過後の位置に限ることはな
く、ビームスプリツタＢ以後の二光束に分割され
た各光束の光路内の光束が細く絞り込まれた位置
であればよく、実際上光束が細く絞り込まれてい
るのは分光器の入出射スリツト位置であるが、ス
リツト位置に試料を置くことはできないから、各
スリツトに近接したスリツト前後位置であればよ
く、このような位置は各光束毎に４個所あるか
ら、各光束毎にそれら４個所のうちの一つを採用
すればよい。以下実施例によつて本考案を説明す
る。
第２図は本考案の一実施例分光光度計を示す。
Ｓは光源、ｌ１，ｌ２はレンズでｌ１，ｌ２の間
に第１試料室Ｒ１が設けられ、レンズｌ２の後方
にビームスプリツタＢが配置される。第１試料室
を通過した光束はビームスプリツタＢで二つの光
束に分割され、夫々の光束はレンズｌ２によつて
スリツトＳ１，Ｓ２上に集光せしめられ、Ｓ１，
Ｓ２を通つて回折格子Ｇ１，Ｇ２に入射する。こ
の実施例では第２試料室Ｒ２，Ｒ２′がビームス
プリツタＢとスリツトＳ１，Ｓ２との間で前述し
たようにスリツトＳ１，Ｓ２に近接した位置に設
けられている。なおこゝで試料室と云うのは個々
に分離して囲まれた空間の意ではなく、分光器の
所定の位置に取付けられた、試料を位置決めして
設置するための試料位置決め装置の意味である。
回折格子Ｇ１，Ｇ２は相互独立に波長走査可能で
あり、また連動させることもできる。回折格子Ｇ
１，Ｇ２で回折され光のうち或る波長のものが出
口スリツトＳ１′，Ｓ２′上に集光せしめられ、同
スリツトを通過して測光素子Ｄ１，Ｄ２に入射す
る。
Ｓは光源、ｌ１，ｌ２はレンズでｌ１，ｌ２の間
に第１試料室Ｒ１が設けられ、レンズｌ２の後方
にビームスプリツタＢが配置される。第１試料室
を通過した光束はビームスプリツタＢで二つの光
束に分割され、夫々の光束はレンズｌ２によつて
スリツトＳ１，Ｓ２上に集光せしめられ、Ｓ１，
Ｓ２を通つて回折格子Ｇ１，Ｇ２に入射する。こ
の実施例では第２試料室Ｒ２，Ｒ２′がビームス
プリツタＢとスリツトＳ１，Ｓ２との間で前述し
たようにスリツトＳ１，Ｓ２に近接した位置に設
けられている。なおこゝで試料室と云うのは個々
に分離して囲まれた空間の意ではなく、分光器の
所定の位置に取付けられた、試料を位置決めして
設置するための試料位置決め装置の意味である。
回折格子Ｇ１，Ｇ２は相互独立に波長走査可能で
あり、また連動させることもできる。回折格子Ｇ
１，Ｇ２で回折され光のうち或る波長のものが出
口スリツトＳ１′，Ｓ２′上に集光せしめられ、同
スリツトを通過して測光素子Ｄ１，Ｄ２に入射す
る。
上述装置において二波長分光分析を行う場合、
まず試料を入れた試料セルを第２試料室Ｒ２に置
き、他の第２試料室Ｒ２′に空の試料セル或は試
料室が分散媒に分散されたようなものであるとき
は分散媒のみを入れた試料セルを置いてＧ１，Ｇ
２を同一波長で連動させて波長走査を行つて二光
束につき夫々測光してその結果を比較すれば、試
料に対して特異な吸収を示す波長とその波長に近
く試料によつて特別な吸収を受けない波長とを容
易に見出すことができる。従つてその後第２試料
室Ｒ２，Ｒ２′は空にして第１試料室Ｒ１に試料
を置いて選択された二波長を用いて測光を行う。
まず試料を入れた試料セルを第２試料室Ｒ２に置
き、他の第２試料室Ｒ２′に空の試料セル或は試
料室が分散媒に分散されたようなものであるとき
は分散媒のみを入れた試料セルを置いてＧ１，Ｇ
２を同一波長で連動させて波長走査を行つて二光
束につき夫々測光してその結果を比較すれば、試
料に対して特異な吸収を示す波長とその波長に近
く試料によつて特別な吸収を受けない波長とを容
易に見出すことができる。従つてその後第２試料
室Ｒ２，Ｒ２′は空にして第１試料室Ｒ１に試料
を置いて選択された二波長を用いて測光を行う。
第３図は本考案の他の実施例を示す。この実施
例は第２試料室Ｒ２，Ｒ２′を二光束が夫々特定
の波長に分光された後の出口スリツトＳ１′，Ｓ
２′の背後に配置したものである。Ｍはビームス
プリツタとしての扇形回転鏡であり、その他第２
図と対応する部分には同じ符号を付し一々の説明
は省略する。なおこの実施例ではビームスプリツ
タに扇形回転鏡Ｍを用いているので分割された二
光束の各々についての情報は時分割的に交互に得
られるから、鏡ｍを用い二つの光束を一個の測光
素子Ｄに入射させ、Ｄの出力を電気的操作によつ
て各光束の情報に分離するようにしている。この
ような信号処理は第２図の例でもビームスプリツ
タＢを扇形回転鏡とすることによつて実施できる
ことは云うまでもない。
例は第２試料室Ｒ２，Ｒ２′を二光束が夫々特定
の波長に分光された後の出口スリツトＳ１′，Ｓ
２′の背後に配置したものである。Ｍはビームス
プリツタとしての扇形回転鏡であり、その他第２
図と対応する部分には同じ符号を付し一々の説明
は省略する。なおこの実施例ではビームスプリツ
タに扇形回転鏡Ｍを用いているので分割された二
光束の各々についての情報は時分割的に交互に得
られるから、鏡ｍを用い二つの光束を一個の測光
素子Ｄに入射させ、Ｄの出力を電気的操作によつ
て各光束の情報に分離するようにしている。この
ような信号処理は第２図の例でもビームスプリツ
タＢを扇形回転鏡とすることによつて実施できる
ことは云うまでもない。
本考案分光光度計は上述したような構成で単に
二波長分光分析の準備測定が簡単にできると云う
だけでなく、第２試料室を利用することにより一
波長二光束方式の測定にも使うことができ、構造
上は第二試料室が付加されるだけで光学系や信号
処理の電気系は従来の二波長分光光度計と同じて
あるから構造上、価格上従来例と大差なしに機能
的向上が得られる。
二波長分光分析の準備測定が簡単にできると云う
だけでなく、第２試料室を利用することにより一
波長二光束方式の測定にも使うことができ、構造
上は第二試料室が付加されるだけで光学系や信号
処理の電気系は従来の二波長分光光度計と同じて
あるから構造上、価格上従来例と大差なしに機能
的向上が得られる。
第１図は従来の二波長分光光度計の平面図、第
２、第３図は夫々本考案の異なる実施例分光光度
計の平面図である。 Ｓ……光源、Ｓ１，Ｓ２……入口スリツト、Ｓ
１′，Ｓ２′……出口スリツト、Ｃ……試料セル、
Ｇ１，Ｇ２……回折格子、Ｂ……ビームスプリツ
タ、Ｒ１……第１試料室、Ｒ２，Ｒ２′……第２
試料室、Ｄ，Ｄ１，Ｄ２……測光素子。
２、第３図は夫々本考案の異なる実施例分光光度
計の平面図である。 Ｓ……光源、Ｓ１，Ｓ２……入口スリツト、Ｓ
１′，Ｓ２′……出口スリツト、Ｃ……試料セル、
Ｇ１，Ｇ２……回折格子、Ｂ……ビームスプリツ
タ、Ｒ１……第１試料室、Ｒ２，Ｒ２′……第２
試料室、Ｄ，Ｄ１，Ｄ２……測光素子。
Claims (1)
- 光源の光を二光束に分割し、各光束毎に分光を
行う型の二光束分光器を備えた分光光度計におい
て、光源とビームスプリツタとの間に試料室を設
け、上記ビームスプリムツタ以後の二光束の各光
路毎に、入出射スリツトに近接したスリツト前後
位置の何れかに試料を設置し得るために、上記分
光器外筐に試料出入用の窓を設けると共に分光器
の上記位置に夫々試料を位置決めして設置する試
料位置決め装置を取付けてなる分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11478879U JPS64576Y2 (ja) | 1979-08-20 | 1979-08-20 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11478879U JPS64576Y2 (ja) | 1979-08-20 | 1979-08-20 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5633534U JPS5633534U (ja) | 1981-04-02 |
| JPS64576Y2 true JPS64576Y2 (ja) | 1989-01-09 |
Family
ID=29347030
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11478879U Expired JPS64576Y2 (ja) | 1979-08-20 | 1979-08-20 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS64576Y2 (ja) |
-
1979
- 1979-08-20 JP JP11478879U patent/JPS64576Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5633534U (ja) | 1981-04-02 |
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