JPS606752Y2 - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPS606752Y2 JPS606752Y2 JP1979086364U JP8636479U JPS606752Y2 JP S606752 Y2 JPS606752 Y2 JP S606752Y2 JP 1979086364 U JP1979086364 U JP 1979086364U JP 8636479 U JP8636479 U JP 8636479U JP S606752 Y2 JPS606752 Y2 JP S606752Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- exit
- exit slit
- spectrophotometer
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は分光光度計、特にフローセルのような試料領域
が細長い試料の分光的分析に適した分光光度計に関する
。
が細長い試料の分光的分析に適した分光光度計に関する
。
分光分析でベースラインの補正、光源の変動に対する測
定結果の安定性の確保を完全に行うにはダブルビーム方
式を採用するのが普通であるが、この方式によると光学
系が複雑になるため装置が高価となる。
定結果の安定性の確保を完全に行うにはダブルビーム方
式を採用するのが普通であるが、この方式によると光学
系が複雑になるため装置が高価となる。
従って比較的簡易な分析目的に対しては装置価格が不釣
合いである。
合いである。
しかし簡易な分析といえどもベースラインの自動的な補
正、光源の変動に対する安定性と云った問題は等しく要
求される所である。
正、光源の変動に対する安定性と云った問題は等しく要
求される所である。
従ってシングルビーム方式と殆んど同じ光学系の構成を
有し、しかもダルビーム方式の光学系を用いたのと同じ
性能の得られる分光光度計が得られ）ばその実用的効果
はきわめて大きい。
有し、しかもダルビーム方式の光学系を用いたのと同じ
性能の得られる分光光度計が得られ）ばその実用的効果
はきわめて大きい。
本考案は上記目的をフローセルを用いる場合のような比
較的細長い試料を扱うに適した分光光度計において実現
したもので、分光器において分光素子と出口スリットの
間で出口スリットに向って収束する光束中に光束分割用
の透明反射素子を挿入し、この素子によって反射された
光束の収束位置にも出口スリットを配置し、上記各出口
スリットの直後に夫々測光素子を配置し、試料を上記何
れかの出口スリットとその後の測光素子との間に配置す
るようにした分光光度計を提供するものである。
較的細長い試料を扱うに適した分光光度計において実現
したもので、分光器において分光素子と出口スリットの
間で出口スリットに向って収束する光束中に光束分割用
の透明反射素子を挿入し、この素子によって反射された
光束の収束位置にも出口スリットを配置し、上記各出口
スリットの直後に夫々測光素子を配置し、試料を上記何
れかの出口スリットとその後の測光素子との間に配置す
るようにした分光光度計を提供するものである。
以下実施例によって本考案を説明する。第１図は本考案
の一実施例を示す。
の一実施例を示す。
Ｍは分光器であって、Ｓｌはその光入口スリット、Ｇは
凹面回折格子、Ｓ２は第１の光出口スリットで、Ｌは光
源、ｍはコンデンサ鏡である。
凹面回折格子、Ｓ２は第１の光出口スリットで、Ｌは光
源、ｍはコンデンサ鏡である。
光源りから出た光はコンデンサ鏡ｍによって入口スリッ
トＳ１から分光器Ｍ内に導入され回折格子Ｇによって回
折され、特定波長の光が第１の出口スリットＳ２上に収
束する。
トＳ１から分光器Ｍ内に導入され回折格子Ｇによって回
折され、特定波長の光が第１の出口スリットＳ２上に収
束する。
この回折格子Ｇから第１の出口スリットＳ２に向って収
束する特定波長の光の光束中に透明平行平面板Ｔを斜め
に挿入しである。
束する特定波長の光の光束中に透明平行平面板Ｔを斜め
に挿入しである。
従ってＧから第１出ロスリツトＳ２に向う光の一部は透
明板Ｔで反射され、第２の出口スリットＳ２’上に収束
する。
明板Ｔで反射され、第２の出口スリットＳ２’上に収束
する。
透明平行平面板Ｔは格子Ｇに向う面に反射処理を施して
半透明鏡にしてもよいが、単に水晶等の透明板をそのま
）用いてもよい。
半透明鏡にしてもよいが、単に水晶等の透明板をそのま
）用いてもよい。
後者の場合、透明板Ｔによる反射率は表裏両面合せて約
１０％、透過率は９０％である。
１０％、透過率は９０％である。
またこの場合同一波長の光についてはＴで反射された光
の収束点の位置は表面反射のものと裏面反射のものとで
異なるから第２出ロスリツトＳ２’には２種の異なる波
長の光が集まることになる。
の収束点の位置は表面反射のものと裏面反射のものとで
異なるから第２出ロスリツトＳ２’には２種の異なる波
長の光が集まることになる。
この難点は透明板Ｔを反射光が図の紙面に垂直の方向と
なるような向きに挿入することで解決され、また近似的
にはＴの厚さをなるべく薄くすることで解決される。
なるような向きに挿入することで解決され、また近似的
にはＴの厚さをなるべく薄くすることで解決される。
第１、第２の各出口スリットの後方に夫々測光素子Ｄｓ
、 Ｄｒが配置される。
、 Ｄｒが配置される。
Ｃは第１出ロスリツトと測光素子Ｄｓとの間に配置され
たフローセルで試料液が流通せしめられる。
たフローセルで試料液が流通せしめられる。
上述構成において透明板Ｔを透過した光は試料光であり
、Ｔで反射された光は参照光である。
、Ｔで反射された光は参照光である。
測光素子Ｄｓ、 Ｄｒの出力は第２図に示すような回路
で夫々対数変換器Ａｓ、 Ａｒで対数変換された後引算
回路Ｓｕでんの出力からｋの出力が引算される。
で夫々対数変換器Ａｓ、 Ａｒで対数変換された後引算
回路Ｓｕでんの出力からｋの出力が引算される。
この引算出力で試料無しのときの値を１００とすれは試
料の吸光度が求まる。
料の吸光度が求まる。
第３図は従来のダブルビーム式の光学系の一例を示す。
この構成ては分光器Ｍの出口から出た分光された光の発
散性の光束中に光束分割素子Ｔ′を挿入していたから、
Ｔ′を透過及び反射した光束を再び平行或は収束性とし
て試料セルＣ及び測光素子Ｄｒ、 Ｄｓに入射させるた
めに収斂性の光学素子Ｘ、 Ｙが必要となり、装置全体
が複雑化、大型化していた。
散性の光束中に光束分割素子Ｔ′を挿入していたから、
Ｔ′を透過及び反射した光束を再び平行或は収束性とし
て試料セルＣ及び測光素子Ｄｒ、 Ｄｓに入射させるた
めに収斂性の光学素子Ｘ、 Ｙが必要となり、装置全体
が複雑化、大型化していた。
また光学素子Ｘ、 Ｙの付加のため光の損失も生じる。
これに対して本考案は光束分割素子である透明板Ｔを分
光器内で分光素子と出口スリットの間に挿入し、出口ス
リットの直後に測光素子を配置したから従来例における
Ｘ、 Ｙのような余分な光学素子の付加を要せず構造的
にはシングルビーム方式の分光光度計と殆ど同じであっ
て、しかも試料光と参照光とが各波長において対照され
るので、従来のダブルビーム方式と同様光源の変動が補
償され、波長を変えても試料側と参照側とは同じ割合で
変化するから両者のバランスが自動的に保たれていてバ
ランス調整機構が不要である。
光器内で分光素子と出口スリットの間に挿入し、出口ス
リットの直後に測光素子を配置したから従来例における
Ｘ、 Ｙのような余分な光学素子の付加を要せず構造的
にはシングルビーム方式の分光光度計と殆ど同じであっ
て、しかも試料光と参照光とが各波長において対照され
るので、従来のダブルビーム方式と同様光源の変動が補
償され、波長を変えても試料側と参照側とは同じ割合で
変化するから両者のバランスが自動的に保たれていてバ
ランス調整機構が不要である。
第１図は本考案の一実施例装置の平面図、第２図は測光
回路の一例を示す回路図、第３図は従来のダブルビーム
方式の分光光度計の一例の平面図である。
回路の一例を示す回路図、第３図は従来のダブルビーム
方式の分光光度計の一例の平面図である。
Claims (1)
- 分光器内で分光素子と出口スリットとの間で出口スリッ
トに向って収束する光束中に光束分割用透明反射素子を
挿入し、この素子によって反射された光束の収束位置に
も出口スリットを配置し、上記各出口スリットの直後に
夫々測光素子を配置し、上記何れかの出口スリットとそ
の後方の測光素子との間に試料を配置するようにした分
光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1979086364U JPS606752Y2 (ja) | 1979-06-23 | 1979-06-23 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1979086364U JPS606752Y2 (ja) | 1979-06-23 | 1979-06-23 | 分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS564844U JPS564844U (ja) | 1981-01-17 |
| JPS606752Y2 true JPS606752Y2 (ja) | 1985-03-05 |
Family
ID=29319586
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1979086364U Expired JPS606752Y2 (ja) | 1979-06-23 | 1979-06-23 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS606752Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007240181A (ja) * | 2006-03-06 | 2007-09-20 | Hitachi High-Tech Science Systems Corp | 医用分析装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6010247A (ja) * | 1983-06-29 | 1985-01-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光可溶化組成物 |
-
1979
- 1979-06-23 JP JP1979086364U patent/JPS606752Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6010247A (ja) * | 1983-06-29 | 1985-01-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光可溶化組成物 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007240181A (ja) * | 2006-03-06 | 2007-09-20 | Hitachi High-Tech Science Systems Corp | 医用分析装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS564844U (ja) | 1981-01-17 |
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