JPS6358127A - デンシトメ−タ - Google Patents

デンシトメ−タ

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Publication number
JPS6358127A
JPS6358127A JP20350986A JP20350986A JPS6358127A JP S6358127 A JPS6358127 A JP S6358127A JP 20350986 A JP20350986 A JP 20350986A JP 20350986 A JP20350986 A JP 20350986A JP S6358127 A JPS6358127 A JP S6358127A
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JP
Japan
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light source
laser
mirror
spectroscope
slit
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Application number
JP20350986A
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English (en)
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JPH0833344B2 (ja
Inventor
Kenji Nakamura
健次 中村
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication of JPS6358127A publication Critical patent/JPS6358127A/ja
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Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59Transmissivity
    • G01N21/5907Densitometers
    • G01N21/5911Densitometers of the scanning type

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は薄層プレート(TLC)や電気泳動ゲルの定量
測定に用いられ、光源からの光を分光器を経て試料プレ
ートに照射し、試料プレート上に分離された物質を定量
測定するデンシトメータに関するものである。
(従来の技術) デンシトメータには光源として連続波長の連続光源を用
い分光器によって分光して試料に光照射を行なうシステ
ムと、光源としてレーザを用いるシステムとがある。
分解器と連続光源を用いるシステムは、(1)任意の波
長を測定光として使用でき、あらゆる場合に使用できる
、 (2)発色試薬による発色という前処理を省略できる、
というような長所をもつ反面、 (1)エネルギーの高い光源を得ることが難かしい、 (2)通常の分光器では迷光があるため、吸光度3.0
以上については測光値の直線性がない、などという短所
をもつ。
一方、レーザを光源として使用するデンシトメータは、 (1)エネルギーの高い光を得ることができる、(2)
単色性の高い光を得ることができるため吸光度5.0以
上の測定も可能である、という長所をもつ反面、 (1)試料を前処理によって着色し、特定の波長の光を
吸収するようにしなければならない、(2)サンプル照
射光を任意の形状にすることが難かしい、などという短
所をもつ。
このように、分光器を用いたデンシトメータは汎用機と
しての性格をもっているのに対し、レーザ光源を用いた
デンシトメータは特定物質に対する専用機としての性格
をもっているといえる。
従来は連続光源と分光器を用いたデンシトメータと、レ
ーザを用いたデンシトメータとは互いに独立に存在して
いる。
(発明が解決しようとする問題点) 試料プレートによっては連続光源と分光器を用いたデン
シトメータを使用する方が便利な場合もあり、逆にレー
ザを用いたデンシトメータを使用する方が便利な場合も
ある。しかしながら、従来は、汎用機としての性格と専
用機としての性格をともに備えたデンシトメータは存在
しないので、2種類の装置を用意しておく必要がある。
本発明は、−台のデンシトメータで、連続光源と分光器
を用いた波長可変の汎用機としての性格と、レーザ光源
を用いた専用機としての性格とをともに達成することを
目的とするものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明のデンジ1〜メータでは、光源室に連続光源とレ
ーザとを備えるとともに、光源室にさらに連続光源選択
用の球面鏡とレーザ選択用の平面鏡とを切換え可能に備
え、分光器には分光素子を光路に着脱可能に備え、かつ
、分光器の出ロスリッ1〜をレーザ光束より十分広い幅
に広げつる可変のものとした。
(実施例) 図は本発明の一実施例の光学系を表わすものである。
2は光源室であり、タングステンランプや重水素ランプ
などの連続光源4と、レーザ6とが備えられている。光
源室2にはまた、光源切換え機構8が設けられ、光源切
換え機構8上に球面鏡10と平面鏡12が取りつけられ
ている。光源切換え機構8は回転して球面鏡10又は平
面鏡12を光源選択位置に移動させる。連続光源4を使
用するときは、球面鏡】0によって連続光源4の光を分
光器14の入口スリット16に集光させ、レーザ6を使
用するときは図のように平面鏡]2でレーザ光を分光器
の入口スリット16に入射させる。
分光器14では回折格子18と平面鏡20が切換え機構
22によって切換えることができるようになっている。
入口スリット16から入射した光は集光鏡24を経て回
折格子18又は平面鏡20に入射され、出ロスリッ1〜
26から出射する。連続光源4を使用する場合は回折格
子18を用いて分光器を構成するが、レーザ6を使用す
る場合は平面鏡20を用いて全エネルギーを使用する。
レーザ光は高い平行性をもっているが、現実には多少の
ビームの広がりをもっているため、長い光路を通すと大
きな光束になってしまう。そのため、分光器14の集光
鏡24により入ロスリッ1−16の位置の像を出口スリ
ット26に結像するようにする。
出ロスリッ1〜26はその幅が可変であり、レーザ光を
使用する場合はその光束よりも十分広い幅に広げること
によって、レーザ光の全エネルギーを使用する。
28は集光鏡であり、分光器の出口スリット2Gの像を
試料プレート30上に結像する。出ロスリッ1へ26と
集光鏡28の間にはハーフミラ−32が設けられている
。出口スリット26を出た光の一部はハーフミラ−32
でモニター検出器34に入射され、時間的エネルギー変
動を補正する信号として利用される。
試料プレー1−30に入射された光は、測定モードによ
り反射光検出器36又は透過光検出器38により検出さ
れる。
」二記の実施例は分光器に回折格子を用いた例を示して
いるが、回折格子を用いないフィルタ分光方式の場合に
も適用することができる。その場合、連続光源を用いる
ときは分光器で測定光がフィルタを透過するようにフィ
ルタを所定の位置に設置し、レーザを使用するときは測
定光がフィルタを透過しないようにフィルタを所定の位
置から除去するようにすればよい。
(発明の効果) 本発明によれば、光源室に連続光源とレーザとを備えて
両光源を切り換えて使用できるようにし、連続光源を使
用する場合には分光器で分光素子を使用し、レーザを使
用する場合には分光器で分光素子を使用せずに全エネル
ギーを使用するようにし、かつ、分光器の出ロスリッ1
〜をレーザ光束より十分広い幅に広げるようにした。そ
の結果、連続光源を使用した汎用性に富む分光方式と、
レーザ光源を用いた専用性を同時に実現することができ
る。そして、測光方式やデータ処理は全〈従来の汎用機
の機能と同じものを使用することができる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例の光学系を示す概略図である。 2・・・・・・光源室、 一7= 4・・・・・・連続光源、 6・・・・・・レーザ、 8・・・・・・切換え機構、 10・・・・・・球面鏡、 12・・・・・・平面鏡、 14・・・・・・分光器、 18・・・・・・回折格子、 20・・・・・・平面鏡、 22・・・・・・切換え機構、 26・・・・・・出口スリット。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光源室の光源からの光を分光器を経て試料プレー
    トに照射し、試料プレート上に分離された物質を定量測
    定するデンシトメータにおいて、前記光源室に連続光源
    とレーザとを備えるとともに、光源室にさらに連続光源
    選択用の球面鏡とレーザ選択用の平面鏡とを切換え可能
    に備え、前記分光器には分光素子を光路に着脱可能に備
    え、かつ、前記分光器の出口スリットをレーザ光束より
    十分広い幅に広げうる可変のものとしたデンシトメータ
JP20350986A 1986-08-28 1986-08-28 デンシトメ−タ Expired - Lifetime JPH0833344B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20350986A JPH0833344B2 (ja) 1986-08-28 1986-08-28 デンシトメ−タ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20350986A JPH0833344B2 (ja) 1986-08-28 1986-08-28 デンシトメ−タ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6358127A true JPS6358127A (ja) 1988-03-12
JPH0833344B2 JPH0833344B2 (ja) 1996-03-29

Family

ID=16475334

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP20350986A Expired - Lifetime JPH0833344B2 (ja) 1986-08-28 1986-08-28 デンシトメ−タ

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JP (1) JPH0833344B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6927859B2 (en) * 2001-03-08 2005-08-09 The Hong Kong Polytechnic University Microdensitometer system with micrometer resolution for reading radiochromic films
US7003075B2 (en) * 2002-07-12 2006-02-21 Canon Kabushiki Kaisha Optical measuring device
WO2016166981A1 (ja) * 2015-04-17 2016-10-20 ミツミ電機株式会社 分光器および生体情報測定装置

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WO2016166981A1 (ja) * 2015-04-17 2016-10-20 ミツミ電機株式会社 分光器および生体情報測定装置

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JPH0833344B2 (ja) 1996-03-29

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