JPS60129645A - ガス濃度測定装置 - Google Patents

ガス濃度測定装置

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Publication number
JPS60129645A
JPS60129645A JP58238340A JP23834083A JPS60129645A JP S60129645 A JPS60129645 A JP S60129645A JP 58238340 A JP58238340 A JP 58238340A JP 23834083 A JP23834083 A JP 23834083A JP S60129645 A JPS60129645 A JP S60129645A
Authority
JP
Japan
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light
signal
cell
gas
sample
Prior art date
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Pending
Application number
JP58238340A
Other languages
English (en)
Inventor
Akira Maeda
暁 前田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Sanyo Denki Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
Sanyo Denki Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd, Sanyo Denki Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP58238340A priority Critical patent/JPS60129645A/ja
Publication of JPS60129645A publication Critical patent/JPS60129645A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3504Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis

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  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 本発明はし」豐光の吸収によシガス濃度を測定する装置
に関す右。
(ロ)従来技術 □ 光吸収によ″シガス濃度を測定する場合、通常光ビーム
を分割し、参照光、試料光を夫々光検出器で測定するが
、この方法では光検出器側々の性能のバラツキが問□題
となる他、レーザを光源とした場合、□出力光の偏光面
がわずかに回転することに11反射、透過光学系士の各
偏光面における反射率、透過率が異なることによる測定
値の変動が生じる欠点があった。
この点を改善すべく、本発明者は既に、回転セルを用い
る手法を提縞した(特開昭55−125420号)。こ
の手法は、参照ガスの入る参照セルと試料ガスの入る試
料セルとを、それらがレーザ光路に交互に入るべく回転
させるもので、これによシ参照光並びに試料光を共通の
光学系で扱え、かつこれら両光を共通の光検出器で検出
できるため非常に有効なものであるが、試料ガスを試料
セルに導入し続けつつ測定する必要がめる場合、回転し
ている1試料セルにガスを導入しカければならない点で
不利である。
e→発明の目的 本発明は、上記の如き回転セルを用いることなく、従来
の欠点を除去することにめる。
に)発明の構成 本発明のガス濃度測定装置は、反射鏡、半透鏡台2個に
よ多構成される四角形の光路を有し、上記光路に入射し
た光が振幅分割された後、再び一つに合致する配置の光
学系、該光学系の2つの平行な光路に夫々配されて、参
照ガスを導入する参照セル及び試料ガスを導入する試料
セル、上記両セルの各光路を互いに逆位相で断接する回
転チョッパ、該回転チョッパの作用によシ上記光路から
時分割的に交互に導出される参照光及び試料光を検出す
る共通の光検出器、上記回転チョッパによる光の時分割
タイミングに同期して上記光検出器の出力を分離弁別し
、分離された信号強度の比からガス濃度を演算する弁別
・演算回路を具備することを特徴とする。
(l実 施 例 第1図は本実施例のブロック図を示す。
半透l[1)(23及び反射鏡(37(41によシ四角
形の光路からなる光学系が構成されている。He−Ne
レーザ(5)よシ発振され反射鏡]6)で偏向された後
上記光路に入ったビーム光は、半透鏡(1)Kて振幅分
割され、その1つは反射鏡f37 K向う試料光(7)
となシ、他の1つは反射鏡+41 f:経て半透鏡(2
に至る参照光【8)となって、これら両光は半透鏡(2
)にて再び合致して上記光学系よシ導出され光検出器(
9)に入る。
試料セル11(l及び参照セルαυが夫々試料、光(7
)及び参照光(8)の各通路vchDs試料セル[1(
IIcは図示せる毎く矢印方向に試料ガスが導入、排出
され、又参照セル住υには参照ガスが封入されている。
上記光学系において1.試料光(7)及び参照光(8)
共に反射2回、透過1回となり、ており、と、の結果各
党の偏光面の回転に起因する、反射光及び透過光の強度
の変動は完全に相殺される。
回転チョツノ姥2は図示しな恰モータによ〕定速回転さ
れ、試料光17J及び参照光(8)の舞通路を互いに逆
位相で断接する。第2図に回転チョッパ11りの正面を
示す。同一円周上に奇数−の孔03Q31−4i同で角
ピッチで設けられておル、試料セルQ(Iに孔03を通
して光が入ったときは、参照セル9υは速断領域の中央
にろシ、2逆に参照セクαυに光が入ったときは、試料
セル(IIは速断領域の中央に6る。従って、光検出器
(9)は第3図AK示、す如く、参照、信号(SR□)
と試料信号(8m)とを時分割的vcg互に導出する。
回転チョッパ11擾咳は、又孔a3よル外方の同一円周
上にて合孔a3と整列するスリットIと、更にその外方
の同一円周上にて、合孔03の中間に位置する他のスリ
ツ)f151が形成されており、第1フオト5カプラ1
161及び第2フオトカプラaηが夫々スリットI及び
115+と対向したときに、第3図B及びCK示す如く
、参照信号(、S R)と同期する第1タイミング信号
(T1)及び試料信号(Sa)と同期する第2タイミン
グ信号(T2)を発生するO 光検出器(9)の出力信号は、次いで、第1、第2タイ
ミング信号(Tl)(T2)に基いて弁別・演算回路1
21)Kて処理される。
第1弁別ゲート(2没は第1タイミング信号(T1)で
開放され、このとき参興信号(、SR)を第1ホールド
回路12に送シ込み、5又第2弁別ゲート(ハ)は第2
タイミング信号(T2)で開放され、このとき試料信号
(Slt第2ホールド回路■に送シ込む。第1、第2ホ
ールド回路Q21(2)は11.それらへのパルス状入
力信号を積分し、直流レベルア表わされた信号(Sn’
)(Ssりを出力する。
ナントゲートGは、第1及び第2タイミング信M(Tl
 )(T2 )t=+y)”処理し、第5図DK示すゼ
ロ点指示信号(Sz)を第3ゲート1261に送シ込む
。ゼロ点指示信号(8z)は図からも明らかな如く、光
検出器(9)に試料光や参照光が入っていない状態に対
応している。第6ゲート田はゼロ点指示信号(13z)
で開放されて、このとき光検出器(9)の出力信号を第
3ホールド回路のに送り込む。こ\に、ゼロ点指示信号
(Sz)vc同期して生ずる光検出器(9)の出力は、
試料光や参照光ではなく、光検出器[9に入る外部迷光
に基づくものであることに注意すべきである。第3ホー
ルド回路面は、それへのパルス状入力信号を積分し、直
流レベルで表わされた信号(SA)を出力する。
第1増幅器酩は信号(Snりと徊号(SA )とを差動
増幅することにより、外部迷光の影蕃を除−た、即ちゼ
ロ点補償のなされた参照情報信号(IR)を出力し、又
第2増幅器(至)は信号(、Sg’) ・と信号(SA
)とを差動増幅することによ)、ゼロ点補償のなされた
試料情報信号(Is)を中力する。これら両信号(I”
i’) (I s )は対数増幅器c3Iに入力されて
、そこで振幅の比の対数、即ち、光検出器(9)に入る
参照光と試料光との強度比の対数がとられ、直読可能な
ガス濃度値に換算される。
(へ)発明の効果 本発明によれば、レーザ光の吸収によりガス濃度を測定
する技量において、参照光並びに試料光を共通の光学系
で扱え、かつこれら両光を共通の光検出器で検出できる
ため、高精度の測定が可能であり、又試料セルは動かな
いので、このセルに逐次試料ガスを導入り、乍らの測定
も容易になし得る。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の夾施例を示し、第1図はブロック図、第2
図は回転チョッパの正面図、第6図は信号波形図である
。 aト・・試料、セル、aυ・・・参照セル、(12+・
・・回転チョッパ、(9)・・・光検出器、翰・・・弁
別・演算回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1L反射鏡、半透釧各2個により構成される四角形の
    光路を有し、上記光路に入射した光が振幅分割された後
    、再び一つに合致する配置の光学系、該光学系の2゛つ
    の平行な光路に夫々配されて、参照ガスを導入子る参照
    セル及び試料ガスを導入すゐ試料セル、上記両セルの各
    光路を互いに逆位相で断接する回転チーツバ、該回転チ
    台ツぶの作用によ〕上記光路から時亦割的に交互に導出
    される参照光及び試料光を検出する共通の光検出器、上
    □記回転≠目ツバによる*、6時分割タイ電ジグに同期
    してi配光検出器の出力を分離弁別し1分離された信号
    −匿の比からガス濃度を演算する弁別・演算回路を真傭
    ぜるガス濃度測嚢装置。 (2、特許請求の範囲第1項においそ、□上記回転チョ
    ツ貝は、□同一円周上に同−角ピツ讐で設けられた奇数
    個の孔から光を通j構造でおることを特徴とす石ガス濃
    度測定装置。 (3)特許請求の範囲第1項において、上記弁別・演算
    回路は、上記回転チョッパの回転位相を検出する2つの
    フォトカブ÷を備え、該両カプラの出力を上記時分割夛
    イミングを表わす信号とすると共に、上記両カプラの出
    力を組合わせてゼロ点讃宗信号を作シ、□該信号に基い
    て、上記分離された各信号のゼロ点補償をなすことを特
    徴とするガス濃度測定装置。
JP58238340A 1983-12-16 1983-12-16 ガス濃度測定装置 Pending JPS60129645A (ja)

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JP58238340A JPS60129645A (ja) 1983-12-16 1983-12-16 ガス濃度測定装置

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JPS60129645A true JPS60129645A (ja) 1985-07-10

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02247545A (ja) * 1989-03-20 1990-10-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd 煙霧透過率測定装置
JPH02247544A (ja) * 1989-03-20 1990-10-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd 煙霧透過率測定装置
US5614719A (en) * 1992-02-07 1997-03-25 Hayes; Alan J. Fluid monitoring
JPWO2020148878A1 (ja) * 2019-01-17 2021-10-14 株式会社島津製作所 クロマトグラフ用吸光度検出器および基準位置検出方法

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