JPS60129645A - ガス濃度測定装置 - Google Patents
ガス濃度測定装置Info
- Publication number
- JPS60129645A JPS60129645A JP58238340A JP23834083A JPS60129645A JP S60129645 A JPS60129645 A JP S60129645A JP 58238340 A JP58238340 A JP 58238340A JP 23834083 A JP23834083 A JP 23834083A JP S60129645 A JPS60129645 A JP S60129645A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- signal
- cell
- gas
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 23
- 239000004575 stone Substances 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明はし」豐光の吸収によシガス濃度を測定する装置
に関す右。
に関す右。
(ロ)従来技術 □
光吸収によ″シガス濃度を測定する場合、通常光ビーム
を分割し、参照光、試料光を夫々光検出器で測定するが
、この方法では光検出器側々の性能のバラツキが問□題
となる他、レーザを光源とした場合、□出力光の偏光面
がわずかに回転することに11反射、透過光学系士の各
偏光面における反射率、透過率が異なることによる測定
値の変動が生じる欠点があった。
を分割し、参照光、試料光を夫々光検出器で測定するが
、この方法では光検出器側々の性能のバラツキが問□題
となる他、レーザを光源とした場合、□出力光の偏光面
がわずかに回転することに11反射、透過光学系士の各
偏光面における反射率、透過率が異なることによる測定
値の変動が生じる欠点があった。
この点を改善すべく、本発明者は既に、回転セルを用い
る手法を提縞した(特開昭55−125420号)。こ
の手法は、参照ガスの入る参照セルと試料ガスの入る試
料セルとを、それらがレーザ光路に交互に入るべく回転
させるもので、これによシ参照光並びに試料光を共通の
光学系で扱え、かつこれら両光を共通の光検出器で検出
できるため非常に有効なものであるが、試料ガスを試料
セルに導入し続けつつ測定する必要がめる場合、回転し
ている1試料セルにガスを導入しカければならない点で
不利である。
る手法を提縞した(特開昭55−125420号)。こ
の手法は、参照ガスの入る参照セルと試料ガスの入る試
料セルとを、それらがレーザ光路に交互に入るべく回転
させるもので、これによシ参照光並びに試料光を共通の
光学系で扱え、かつこれら両光を共通の光検出器で検出
できるため非常に有効なものであるが、試料ガスを試料
セルに導入し続けつつ測定する必要がめる場合、回転し
ている1試料セルにガスを導入しカければならない点で
不利である。
e→発明の目的
本発明は、上記の如き回転セルを用いることなく、従来
の欠点を除去することにめる。
の欠点を除去することにめる。
に)発明の構成
本発明のガス濃度測定装置は、反射鏡、半透鏡台2個に
よ多構成される四角形の光路を有し、上記光路に入射し
た光が振幅分割された後、再び一つに合致する配置の光
学系、該光学系の2つの平行な光路に夫々配されて、参
照ガスを導入する参照セル及び試料ガスを導入する試料
セル、上記両セルの各光路を互いに逆位相で断接する回
転チョッパ、該回転チョッパの作用によシ上記光路から
時分割的に交互に導出される参照光及び試料光を検出す
る共通の光検出器、上記回転チョッパによる光の時分割
タイミングに同期して上記光検出器の出力を分離弁別し
、分離された信号強度の比からガス濃度を演算する弁別
・演算回路を具備することを特徴とする。
よ多構成される四角形の光路を有し、上記光路に入射し
た光が振幅分割された後、再び一つに合致する配置の光
学系、該光学系の2つの平行な光路に夫々配されて、参
照ガスを導入する参照セル及び試料ガスを導入する試料
セル、上記両セルの各光路を互いに逆位相で断接する回
転チョッパ、該回転チョッパの作用によシ上記光路から
時分割的に交互に導出される参照光及び試料光を検出す
る共通の光検出器、上記回転チョッパによる光の時分割
タイミングに同期して上記光検出器の出力を分離弁別し
、分離された信号強度の比からガス濃度を演算する弁別
・演算回路を具備することを特徴とする。
(l実 施 例
第1図は本実施例のブロック図を示す。
半透l[1)(23及び反射鏡(37(41によシ四角
形の光路からなる光学系が構成されている。He−Ne
レーザ(5)よシ発振され反射鏡]6)で偏向された後
上記光路に入ったビーム光は、半透鏡(1)Kて振幅分
割され、その1つは反射鏡f37 K向う試料光(7)
となシ、他の1つは反射鏡+41 f:経て半透鏡(2
に至る参照光【8)となって、これら両光は半透鏡(2
)にて再び合致して上記光学系よシ導出され光検出器(
9)に入る。
形の光路からなる光学系が構成されている。He−Ne
レーザ(5)よシ発振され反射鏡]6)で偏向された後
上記光路に入ったビーム光は、半透鏡(1)Kて振幅分
割され、その1つは反射鏡f37 K向う試料光(7)
となシ、他の1つは反射鏡+41 f:経て半透鏡(2
に至る参照光【8)となって、これら両光は半透鏡(2
)にて再び合致して上記光学系よシ導出され光検出器(
9)に入る。
試料セル11(l及び参照セルαυが夫々試料、光(7
)及び参照光(8)の各通路vchDs試料セル[1(
IIcは図示せる毎く矢印方向に試料ガスが導入、排出
され、又参照セル住υには参照ガスが封入されている。
)及び参照光(8)の各通路vchDs試料セル[1(
IIcは図示せる毎く矢印方向に試料ガスが導入、排出
され、又参照セル住υには参照ガスが封入されている。
上記光学系において1.試料光(7)及び参照光(8)
共に反射2回、透過1回となり、ており、と、の結果各
党の偏光面の回転に起因する、反射光及び透過光の強度
の変動は完全に相殺される。
共に反射2回、透過1回となり、ており、と、の結果各
党の偏光面の回転に起因する、反射光及び透過光の強度
の変動は完全に相殺される。
回転チョツノ姥2は図示しな恰モータによ〕定速回転さ
れ、試料光17J及び参照光(8)の舞通路を互いに逆
位相で断接する。第2図に回転チョッパ11りの正面を
示す。同一円周上に奇数−の孔03Q31−4i同で角
ピッチで設けられておル、試料セルQ(Iに孔03を通
して光が入ったときは、参照セル9υは速断領域の中央
にろシ、2逆に参照セクαυに光が入ったときは、試料
セル(IIは速断領域の中央に6る。従って、光検出器
(9)は第3図AK示、す如く、参照、信号(SR□)
と試料信号(8m)とを時分割的vcg互に導出する。
れ、試料光17J及び参照光(8)の舞通路を互いに逆
位相で断接する。第2図に回転チョッパ11りの正面を
示す。同一円周上に奇数−の孔03Q31−4i同で角
ピッチで設けられておル、試料セルQ(Iに孔03を通
して光が入ったときは、参照セル9υは速断領域の中央
にろシ、2逆に参照セクαυに光が入ったときは、試料
セル(IIは速断領域の中央に6る。従って、光検出器
(9)は第3図AK示、す如く、参照、信号(SR□)
と試料信号(8m)とを時分割的vcg互に導出する。
回転チョッパ11擾咳は、又孔a3よル外方の同一円周
上にて合孔a3と整列するスリットIと、更にその外方
の同一円周上にて、合孔03の中間に位置する他のスリ
ツ)f151が形成されており、第1フオト5カプラ1
161及び第2フオトカプラaηが夫々スリットI及び
115+と対向したときに、第3図B及びCK示す如く
、参照信号(、S R)と同期する第1タイミング信号
(T1)及び試料信号(Sa)と同期する第2タイミン
グ信号(T2)を発生するO 光検出器(9)の出力信号は、次いで、第1、第2タイ
ミング信号(Tl)(T2)に基いて弁別・演算回路1
21)Kて処理される。
上にて合孔a3と整列するスリットIと、更にその外方
の同一円周上にて、合孔03の中間に位置する他のスリ
ツ)f151が形成されており、第1フオト5カプラ1
161及び第2フオトカプラaηが夫々スリットI及び
115+と対向したときに、第3図B及びCK示す如く
、参照信号(、S R)と同期する第1タイミング信号
(T1)及び試料信号(Sa)と同期する第2タイミン
グ信号(T2)を発生するO 光検出器(9)の出力信号は、次いで、第1、第2タイ
ミング信号(Tl)(T2)に基いて弁別・演算回路1
21)Kて処理される。
第1弁別ゲート(2没は第1タイミング信号(T1)で
開放され、このとき参興信号(、SR)を第1ホールド
回路12に送シ込み、5又第2弁別ゲート(ハ)は第2
タイミング信号(T2)で開放され、このとき試料信号
(Slt第2ホールド回路■に送シ込む。第1、第2ホ
ールド回路Q21(2)は11.それらへのパルス状入
力信号を積分し、直流レベルア表わされた信号(Sn’
)(Ssりを出力する。
開放され、このとき参興信号(、SR)を第1ホールド
回路12に送シ込み、5又第2弁別ゲート(ハ)は第2
タイミング信号(T2)で開放され、このとき試料信号
(Slt第2ホールド回路■に送シ込む。第1、第2ホ
ールド回路Q21(2)は11.それらへのパルス状入
力信号を積分し、直流レベルア表わされた信号(Sn’
)(Ssりを出力する。
ナントゲートGは、第1及び第2タイミング信M(Tl
)(T2 )t=+y)”処理し、第5図DK示すゼ
ロ点指示信号(Sz)を第3ゲート1261に送シ込む
。ゼロ点指示信号(8z)は図からも明らかな如く、光
検出器(9)に試料光や参照光が入っていない状態に対
応している。第6ゲート田はゼロ点指示信号(13z)
で開放されて、このとき光検出器(9)の出力信号を第
3ホールド回路のに送り込む。こ\に、ゼロ点指示信号
(Sz)vc同期して生ずる光検出器(9)の出力は、
試料光や参照光ではなく、光検出器[9に入る外部迷光
に基づくものであることに注意すべきである。第3ホー
ルド回路面は、それへのパルス状入力信号を積分し、直
流レベルで表わされた信号(SA)を出力する。
)(T2 )t=+y)”処理し、第5図DK示すゼ
ロ点指示信号(Sz)を第3ゲート1261に送シ込む
。ゼロ点指示信号(8z)は図からも明らかな如く、光
検出器(9)に試料光や参照光が入っていない状態に対
応している。第6ゲート田はゼロ点指示信号(13z)
で開放されて、このとき光検出器(9)の出力信号を第
3ホールド回路のに送り込む。こ\に、ゼロ点指示信号
(Sz)vc同期して生ずる光検出器(9)の出力は、
試料光や参照光ではなく、光検出器[9に入る外部迷光
に基づくものであることに注意すべきである。第3ホー
ルド回路面は、それへのパルス状入力信号を積分し、直
流レベルで表わされた信号(SA)を出力する。
第1増幅器酩は信号(Snりと徊号(SA )とを差動
増幅することにより、外部迷光の影蕃を除−た、即ちゼ
ロ点補償のなされた参照情報信号(IR)を出力し、又
第2増幅器(至)は信号(、Sg’) ・と信号(SA
)とを差動増幅することによ)、ゼロ点補償のなされた
試料情報信号(Is)を中力する。これら両信号(I”
i’) (I s )は対数増幅器c3Iに入力されて
、そこで振幅の比の対数、即ち、光検出器(9)に入る
参照光と試料光との強度比の対数がとられ、直読可能な
ガス濃度値に換算される。
増幅することにより、外部迷光の影蕃を除−た、即ちゼ
ロ点補償のなされた参照情報信号(IR)を出力し、又
第2増幅器(至)は信号(、Sg’) ・と信号(SA
)とを差動増幅することによ)、ゼロ点補償のなされた
試料情報信号(Is)を中力する。これら両信号(I”
i’) (I s )は対数増幅器c3Iに入力されて
、そこで振幅の比の対数、即ち、光検出器(9)に入る
参照光と試料光との強度比の対数がとられ、直読可能な
ガス濃度値に換算される。
(へ)発明の効果
本発明によれば、レーザ光の吸収によりガス濃度を測定
する技量において、参照光並びに試料光を共通の光学系
で扱え、かつこれら両光を共通の光検出器で検出できる
ため、高精度の測定が可能であり、又試料セルは動かな
いので、このセルに逐次試料ガスを導入り、乍らの測定
も容易になし得る。
する技量において、参照光並びに試料光を共通の光学系
で扱え、かつこれら両光を共通の光検出器で検出できる
ため、高精度の測定が可能であり、又試料セルは動かな
いので、このセルに逐次試料ガスを導入り、乍らの測定
も容易になし得る。
図は本発明の夾施例を示し、第1図はブロック図、第2
図は回転チョッパの正面図、第6図は信号波形図である
。 aト・・試料、セル、aυ・・・参照セル、(12+・
・・回転チョッパ、(9)・・・光検出器、翰・・・弁
別・演算回路。
図は回転チョッパの正面図、第6図は信号波形図である
。 aト・・試料、セル、aυ・・・参照セル、(12+・
・・回転チョッパ、(9)・・・光検出器、翰・・・弁
別・演算回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1L反射鏡、半透釧各2個により構成される四角形の
光路を有し、上記光路に入射した光が振幅分割された後
、再び一つに合致する配置の光学系、該光学系の2゛つ
の平行な光路に夫々配されて、参照ガスを導入子る参照
セル及び試料ガスを導入すゐ試料セル、上記両セルの各
光路を互いに逆位相で断接する回転チーツバ、該回転チ
台ツぶの作用によ〕上記光路から時亦割的に交互に導出
される参照光及び試料光を検出する共通の光検出器、上
□記回転≠目ツバによる*、6時分割タイ電ジグに同期
してi配光検出器の出力を分離弁別し1分離された信号
−匿の比からガス濃度を演算する弁別・演算回路を真傭
ぜるガス濃度測嚢装置。 (2、特許請求の範囲第1項においそ、□上記回転チョ
ツ貝は、□同一円周上に同−角ピツ讐で設けられた奇数
個の孔から光を通j構造でおることを特徴とす石ガス濃
度測定装置。 (3)特許請求の範囲第1項において、上記弁別・演算
回路は、上記回転チョッパの回転位相を検出する2つの
フォトカブ÷を備え、該両カプラの出力を上記時分割夛
イミングを表わす信号とすると共に、上記両カプラの出
力を組合わせてゼロ点讃宗信号を作シ、□該信号に基い
て、上記分離された各信号のゼロ点補償をなすことを特
徴とするガス濃度測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58238340A JPS60129645A (ja) | 1983-12-16 | 1983-12-16 | ガス濃度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58238340A JPS60129645A (ja) | 1983-12-16 | 1983-12-16 | ガス濃度測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60129645A true JPS60129645A (ja) | 1985-07-10 |
Family
ID=17028744
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58238340A Pending JPS60129645A (ja) | 1983-12-16 | 1983-12-16 | ガス濃度測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60129645A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02247545A (ja) * | 1989-03-20 | 1990-10-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 煙霧透過率測定装置 |
JPH02247544A (ja) * | 1989-03-20 | 1990-10-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 煙霧透過率測定装置 |
US5614719A (en) * | 1992-02-07 | 1997-03-25 | Hayes; Alan J. | Fluid monitoring |
JPWO2020148878A1 (ja) * | 2019-01-17 | 2021-10-14 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ用吸光度検出器および基準位置検出方法 |
-
1983
- 1983-12-16 JP JP58238340A patent/JPS60129645A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02247545A (ja) * | 1989-03-20 | 1990-10-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 煙霧透過率測定装置 |
JPH02247544A (ja) * | 1989-03-20 | 1990-10-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 煙霧透過率測定装置 |
US5614719A (en) * | 1992-02-07 | 1997-03-25 | Hayes; Alan J. | Fluid monitoring |
JPWO2020148878A1 (ja) * | 2019-01-17 | 2021-10-14 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ用吸光度検出器および基準位置検出方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6029060B2 (ja) | 混合ガス中の酸化窒素濃度の測定装置 | |
JPS5940144A (ja) | 積分球式複光束反射測定装置 | |
US4758086A (en) | Apparatus for measuring spectral power of a light beam | |
JPS60129645A (ja) | ガス濃度測定装置 | |
JPS62121335A (ja) | フイルムまたはコ−テイングの厚さ、含水量、その他のパラメ−タの測定装置 | |
US3572938A (en) | Polarimeter | |
US4484815A (en) | Spectrophotometer | |
JPS6073343A (ja) | 分光光度計 | |
RU2676835C1 (ru) | Оптический смеситель излучения с применением призм из оптически активных материалов | |
JPS6082808A (ja) | 角度検出装置 | |
SU1695145A1 (ru) | Эллипсометр | |
JPS599526A (ja) | 温度測定装置 | |
JPH11101739A (ja) | エリプソメトリ装置 | |
RU2337331C1 (ru) | Способ измерения азимута плоскости поляризации оптического излучателя | |
SU953892A1 (ru) | Устройство дл измерени поперечной скорости вращени плазменного шнура | |
JPS60128330A (ja) | 薄膜の屈折率測定装置 | |
SU940018A1 (ru) | Двухлучевой фотометр | |
JPH05264687A (ja) | 光式磁界センサ | |
JPS6388411A (ja) | 積分球装置 | |
JPS61226619A (ja) | 積分球を用いる分光光度計 | |
SU1062573A1 (ru) | Способ нефелометрических измерений | |
SU1561031A1 (ru) | Цифровое устройство измерени агрегации тромбоцитов | |
SU1479825A1 (ru) | Лазерный измеритель углового положени объекта | |
SU1026001A1 (ru) | Пол ризационный интерферометр | |
SU539288A1 (ru) | Оптико-электронное измерительное устройство |