JPS5940144A - 積分球式複光束反射測定装置 - Google Patents

積分球式複光束反射測定装置

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JPS5940144A
JPS5940144A JP57151046A JP15104682A JPS5940144A JP S5940144 A JPS5940144 A JP S5940144A JP 57151046 A JP57151046 A JP 57151046A JP 15104682 A JP15104682 A JP 15104682A JP S5940144 A JPS5940144 A JP S5940144A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は積分球反射測定を行う複光束分光光度計に関す
る。試料の分光反射特性を測定する場合、通常積分球が
用いられる。本発明はこのような試料の反射特性測定用
の分光光度計に関する。
試料面の光反射に関する性質は拡散面と鏡面の２種類が
あるが一般には両方の性質が混じっており、反射光も拡
散成分と鏡面反射成分の両方を含んでい名。従って反射
測定には拡散成分だけを測定する場合と鏡面反射も含め
た全反射光を測定する場合の２通シがある。一つの積分
球だけを用いて複光束法によシ上記２通シの測定を行う
場合、従来次のような問題があった。第１図は従来例を
示す。第１図Ａの例では工が積分球、Ｒは対照試料、Ｓ
が測定試料でｒは対照光束、Ｓは測定光束である。積分
理工の図で向う側に窓ａがあシ、その向うに受光素子が
置かれている。２つの光束ｒ、Ｓは積分球の中心を外し
て互に平行に積分理工に入射し、各試料Ｒ，Ｓは各対応
光束に対して傾けてセットされ鏡面反射成分が積分球の
頂部図で直上に来るようになっている。この構成で拡散
反射成分のみの測定を行う場合、積分理工の頂部の窓に
光トラップＴを置いて鏡面反射成分を除去する。拡散成
分と鏡面反射成分の両方を含む全反射成分を測定する場
合には積分理工の頂部の窓に光トラップの代りに白板Ｗ
をセットする。この構成では下記の欠点がある。
（１）対照試料、測定試料とも積分理工の接平面上にな
い。従って積分球内面が欠球状になって完全な積分作用
が行われない。
（２）２種類の測定を行うためには光トラップＴと白板
Ｗとを交換しなければならず操作ミスを招く可能性があ
る。
（３）白板Ｗと積分球■の内面の塗装材とが経時的に同
じ反射特性を持つようにすることが困難である。このだ
め測定結果が経時的に変って来る。
第１図Ｂの例についても第１図Ａの各部と対応する部分
には同じ符号がつけである。この例で上の図は拡散成分
のみを測定する場合を示し、各試料には夫々の光束が垂
直に入射し、鏡面反射光は積分球■の各光束の入射窓か
ら外へ送り出される。
第１図Ｂの下の図は全反射光成分の測定を行う場合を示
している。この場合測定試料Ｓと積分球ｒとの間に傾い
たスペーサＳｐを介在させ、測定試料Ｓの鏡面反射性分
が積分理工の内面に入射するようにする。この構成にお
いては下記の欠点がある。
（１）全反射光測定の場合スペーサＳｐを用いるので、
測定試料Ｓが積分球■の接平面から外れて傾き、また接
平面より後方に位置するため、測定試料Ｓの反射光中の
拡散成分の一部がスペーサＳｐに当るため正確な積分球
測定ができない。
（２）２種の測定に応じてスペーサＳＪ、）を着脱しな
ければならないから操作が面倒である。
以上要するに単一の積分球を用いて２種の測定を行う場
合、２つの試料のうち少くとも−・つが積分球の接平面
から離れ、捷た２種の測定に応じて部品の交換着脱を行
う必要があって操作が面倒であシ、操作ミスを誘発する
可能性がある。
本発明は上述した問題点を解消した積分球反射測定用複
光束分光器を得ることを目的としている。
本発明は、２つの試料設定窓と、各試別設定窓に向って
積分球内に光を入射させる２の光入射窓を有し、１つの
試料設定窓とそれに対応する光入射窓の各中心を結ぶ線
が中心を外れているようにしだ積分球を用い、一つの試
料設定窓にセットした試料に対しでは光が斜め入射する
ようにした積分球を用い、測定の種類に応じて対照試料
と測定試料の設定位置を交換するようにした積分球′反
射測定用複光束分光光度計を提供するものである。
以下本発明の詳細な説明する。第２図は積分球■の部分
だけを示し、第２図Ａは拡散成分のみを測定する場合、
第２図Ｂは鏡面反射光を含む全反射光を測定する場合を
示す。拡散成分測定の場合図で積分理工の側方の試料設
定窓Ｗｓに測定試料Ｓをセットし、下方の試料設定窓ｗ
ｂに対照試料Ｒをセットする。積分理工の窓Ｗｓの真反
対側に光入射窓Ｗｉｓがあり、この窓を通して測定光束
Ｓを測定試Ｉｔ、　Ｓ　（（（＋ｐ直に入射させる。こ
の場合試料Ｓからの鏡面反射成分は光入射窓Ｗ　」−ｓ
から外に出て除かれる。）図で積分理工の真上から少し
側方に寄った位置に試料設定窓ｗｂに対応する光入射窓
Ｗｉｂがあり、この窓を通して対照光束ｒを対照試料Ｒ
に対して斜めに入射させる。この場合対照試料Ｒが鏡面
反射成分を有すると、その鏡面反射成分は除けないが、
対照試料はベースライン補正の信号を得るのが目的で光
源及び測光系の波長特性とかドリフトに応答できればよ
いので鏡面反射成分を除去する必要はない。積分球■の
図で向う側の壁に窓ａがあってその窓から出射する光を
測光する。第２図Ｂは全反射光を測定する場合を示し、
対照試料Ｒと測定試料Ｓの設定場所は第２図Ａの場合と
入れ替っている。この配置では窓Ｗｉｂから入射した測
定光束は測定試料Ｓに斜めに入射し、鏡面反射光は積分
理工の内面に入射するようになって測光系に捕捉される
。またこの場合対照試料Ｒに対し対照光束ｒが垂直入射
することになり、対照試料Ｒの鏡面反射光は光入射窓Ｗ
　ｉ　ｓから外へ放出されてしまうが、前述したのと全
く同じ理由でベースライン補正に対しては何等の障害に
もならない。
第３図は上述本発明の一実施例の全体を示す。
１は分光器、２は分光器１の出射光を時系列的に２光束
に分割する装置で、光チョッパを兼ねたセクターミラー
Ｈ２鏡Ｍ１〜Ｍ６より成り、２光束ｆｌ、ｆ２が交互に
積分理工に入射せしめられるＯＤは光検出器で、積分球
の光出射窓ａから出射する光を受光するようになってお
り例えばホトマルチプライヤを用いている。光検出器り
の出力信号はプリアンプＦＡ、サンプリングスイ・ノチ
Ｓｌ。
Ｓ２を経てサンプルホールド回路Ｈ１，Ｈ２に入力され
る。サンプルホールド回路Ｈ１の出力信号は負高圧回路
Ｖを介して光検出器りにフィード、Ｃツクされ対照光測
定出力が一定になるように光検出器りの感度調整を行う
。サンプルホールド回路Ｈ２の出力信号は測定試料反射
光の測定出力でＡ／Ｄ変換器を経てコンピュータＣＰＵ
に読込まれ、更にＤ　／　Ａ変換器を経てレコーダＲＤ
によって記録される。上述したように測定の種類によっ
て対照試料Ｒと測定試料Ｓとはそのセット位置が入れ替
わるので、それに応じて２光束ｆｌ、ｆ２も何れを対照
光束とし、測定光束とするかの切換えをする必要がある
。ブロック３で囲んだ部分がこの切換えを行う部分で、
切換えはサン′プリングスイッチＳｌ、Ｓ２の開閉のタ
イミングを変更するととによシ行われる。即ち試料の拡
散光成分だけを測定する場合第２図Ａに示すように測定
試料Ｓは積分球の試料設定窓Ｗｓにセットされ、対照試
料Ｒは窓ｗｂにセットされて、・光束ｆｌが測定光束と
なり、ｆ２が対照光束となる。従ってこの場合には光束
ｆ１が積分理工に入射しているタイミングでスイッチＳ
１が閉じＳ２が開となシ、−光束ｆ２が積分理工に入射
しているタイミングでＳｌが開、Ｓ２が閉となる。試料
の全反射成分を測定する場合には第２図Ｂに示すように
測定試料Ｓと対照試料只のセット位置が１上の場合と人
Ｊし替るのでｆ２が測定光束となりｆｌが対照光束とな
る。従ってこの場合スイッチＳ１．Ｓ２の開閉のタイミ
ングは上の場合と反対になる。８１．８２の開閉はセク
ターミラーＣＨの回転と同期して行われ、４はそのだめ
の同期信号発生器で、光束ｆ１の測光出力をサンプリン
グする信号ｏｆｌ−と光束ｆ２の測光信号をサンプリン
グする信号ｓｆ２を発生しておシ、この両信号が切換え
部３においてスイッチ８１．８２の何れに送るかのリノ
換えがなさ７″Ｌる○コンピュータＣＰＵは指定された
測定の種類に応じて切換え部３を操作する。
第４図は本発明の他の実施例を示す。この実施例では積
分理工に入射する２光束ｆｌ、ｆ２が直交しており試料
設定窓ｗｂが光束ｆ２に対して傾くように設けられてい
る。拡散光のみを測定する場合は測定試料Ｓを窓Ｗｓに
セットし、対照試料を窓ｗｂにセットする。鏡面反射光
も含めた全反射光を測定する場合は測定試料（Ｓ）を窓
ｗｂに七ツ１−　Ｌ、対照試料（Ｒ）を窓Ｗｓにセット
する。なお積分球以外の部分の構成は基本的に前記第２
．第３図に示しだ実施例と同じでよく、説明及び図示を
省略する。
本発明は上述した所から明かなように、対照試料の測定
は光源の変動とか測光回路のドリフトに応答できればよ
く、光を垂直に入射させるか斜め入射にするかとか鏡面
反射光を含めるか除去するか等にこだわる必要のないこ
とに着眼し、積分球に２つの試料設定窓を設けて、その
一方は光束が垂直入射するようにし、他方は光束が斜め
入射するようにして測定の種類に応じて測定試享′１と
対照試料のセット位置を入れ替えるようにしたものであ
るから、前述従来例のような光トラップと白板の着は替
え、或はスペーサの着脱等誤操作を招くような操作が不
要であり、白板を用いることによる経時的な変化の問題
とかスペーサを用いることによる拡散光成分の一部がカ
ットされる問題等がなくなり、測定試料も対照試料とも
積分球に接してセットすることができる等の効果が得ら
れる。
なお上の説明では全反射光測定の場合常に拡散成分と鏡
面反射成分が混合しているものとしているが、拡散成分
を殆んど含まないような鏡面試料に対しては全反射光測
定によって鏡面反射測定ができることは云うまでもない
。
【図面の簡単な説明】
第１図Ａ、Ｂは夫々従来例の積分球断面図、第２図は本
発明の一実施例の積分球断面を示し、第３図は同実施例
の全体構成を示す平面図及びブロック図、第４図は朱へ
本発明の他の実施例の積分球断面図である。 エ・・・積分球、Ｗｓ、　　Ｗｂ・・・試料設定窓、Ｗ
・・・光の出射窓、Ｒ・・・対照試料、Ｓ・・・測定試
料、Ｄ・・・光検出器、６１１．８２・・・サンプリン
グスイッチ、Ｈｌ、　　Ｈ２・・・サンプルホールド回
路、１・・・分光器、２・・・光束分割装置、３・・・
切換え部、４・・・同期信号発生器。 代理人　弁理士　　課　　　浩　　介 手　　続　　補　　正　　書（自発） 昭和９’８年８月１ｚ日 ２、発明の名称 檀介紬′隻複光束り射３列声袈ｉ ３、補正をする者 事件との関係　　特許出願人 ４、代理人 ５、補正により増加する発明の数　　０６、補正の対象 ＠＠書　発明の訂？］１な説明の欄 特願昭５’ｉ’−：Ｌ５１０４６号補正の内容刃１」紙
（１）明細書第３頁第２０行目の、「鏡面反射性分」を
、 「鏡面反射成分」と補正する。 （２）第４頁第１８行１］の、「２の」を、「２つの」
と補正する。 （３）第６頁第２０行目の、「ミラーＨ」を「ミラーＣ
ＨＪと補正する。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）２つの試料設定窓と、これらの試料設定窓の一方
    には光が垂直に入射するように、また他方には光が斜め
    入射するように、これら各試料設定窓に対向させて設け
    られた光入射窓とを有する積分球と、上記光入射窓を通
    して対応する上記試料設定窓に向けて光を入射させる２
    光束形成光学手段とよシなる積分球式複光束反射測定装
    置。
  2. （２）積分球に入射せしめられる２光束の何れを試料光
    束とし、何れを対照光束とするかの切換え手段を設けた
    特許請求の範囲第１項記載の積分球式％式％
JP57151046A 1982-08-30 1982-08-30 積分球式複光束反射測定装置 Granted JPS5940144A (ja)

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US06/477,523 US4540281A (en) 1982-08-30 1983-03-21 Double-beam spectrophotometer
DE19833311954 DE3311954A1 (de) 1982-08-30 1983-03-31 Zweistrahliges spektralfotometer

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102645275A (zh) * 2012-05-04 2012-08-22 中国计量科学研究院 一种产生对比度和色差观察目标的装置
CN105928906A (zh) * 2016-06-20 2016-09-07 中国工程物理研究院流体物理研究所 一种随温度变化的材料反射率动态测量系统以及测量方法

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6276433A (ja) * 1985-09-30 1987-04-08 Shimadzu Corp 分光光度計における積分球測定装置
JPH0799326B2 (ja) * 1986-08-30 1995-10-25 株式会社マキ製作所 球塊状物品の外観検査方法と装置
DE4009334C2 (de) * 1990-03-23 2000-11-23 Perkin Elmer Bodenseewerk Zwei Beleuchtungsanordnung zur Beaufschlagung eines Photomultipliers bei einem Zweistrahlphotometer
US5369481A (en) * 1992-05-08 1994-11-29 X-Rite, Incorporated Portable spectrophotometer
DE4423698A1 (de) * 1994-06-24 1996-01-04 Ingo Hennig Meßanordnung zur optoelektronischen Bestimmung des gerichteten und gestreuten Anteils der Reflexion von Körperoberflächen
WO1996008703A1 (en) * 1994-09-14 1996-03-21 X-Rite, Incorporated Scanning colorimeter
WO1996008710A1 (en) * 1994-09-14 1996-03-21 X-Rite Incorporated Compact spectrophotometer
US5898181A (en) * 1995-06-30 1999-04-27 Hdi Instrumentation Thin film optical measurement system
US5726455A (en) * 1995-06-30 1998-03-10 Stormedia, Inc. Disk film optical measurement system
JP3353560B2 (ja) * 1995-08-24 2002-12-03 ミノルタ株式会社 反射特性測定装置
WO1997041417A1 (en) * 1996-05-02 1997-11-06 The United States Of America, Represented By The Secretary Of Commerce Method and apparatus for artificial weathering
JP2001272272A (ja) * 2000-03-24 2001-10-05 Ushikata Shokai:Kk 光のモニター
DE102010001189B4 (de) 2010-01-25 2021-08-19 BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Photolumineszenzquantenausbeute und weiterer optischer Eigenschaften einer Probe
CN102657510B (zh) * 2012-05-04 2014-12-03 中国计量科学研究院 一种产生照度和颜色观察目标的装置
US10126244B2 (en) 2016-11-11 2018-11-13 B&W Tek Llc Apparatuses and methods for performing spectroscopic analysis of a subject
US10119917B2 (en) 2016-11-11 2018-11-06 B & W Tek LLC Apparatus and method for bidirectional Raman spectroscopy
US10119916B2 (en) * 2016-11-11 2018-11-06 B&W Tek Llc Light delivery and collection device for measuring Raman scattering of a sample
US10113969B2 (en) 2016-11-11 2018-10-30 B&W Tek Llc Methods and devices for measuring Raman scattering of a sample
WO2024025871A1 (en) * 2022-07-26 2024-02-01 Mississippi State University Methods and systems for integrating-sphere-assisted resonance synchronous (isars) spectroscopy

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2515762A (en) * 1950-07-18 Commutator for spectrophotometer
US2347067A (en) * 1942-02-13 1944-04-18 American Cyanamid Co Spectrophotometer attachment for absorbing specular reflection
US2992588A (en) * 1958-02-03 1961-07-18 Beckman Instruments Inc Photometer reflectance unit
DE1921432A1 (de) * 1969-04-26 1970-11-12 Licentia Gmbh Reflexionsgradmesser
DE2606675C3 (de) * 1976-02-19 1979-02-22 Vladimir Dipl.-Ing. 5100 Aachen Blazek Anordnung zur spektralanalytischen Untersuchung des Remissionsvermögens einer Probe
DE2950139A1 (de) * 1979-12-13 1981-06-19 Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen In den probenraum eines spektralphotometers einsetzbares zusatzgeraet fuer remissions- oder fluoreszenzmessungen
JPS582641U (ja) * 1981-06-29 1983-01-08 株式会社島津製作所 分光光度計

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102645275A (zh) * 2012-05-04 2012-08-22 中国计量科学研究院 一种产生对比度和色差观察目标的装置
CN105928906A (zh) * 2016-06-20 2016-09-07 中国工程物理研究院流体物理研究所 一种随温度变化的材料反射率动态测量系统以及测量方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE3311954A1 (de) 1984-03-01
DE3311954C2 (ja) 1992-02-06
US4540281A (en) 1985-09-10
JPS6329210B2 (ja) 1988-06-13
GB2128359B (en) 1986-11-12
GB2128359A (en) 1984-04-26
GB8307375D0 (en) 1983-04-27

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