JPS6329210B2 - - Google Patents
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- JPS6329210B2 JPS6329210B2 JP57151046A JP15104682A JPS6329210B2 JP S6329210 B2 JPS6329210 B2 JP S6329210B2 JP 57151046 A JP57151046 A JP 57151046A JP 15104682 A JP15104682 A JP 15104682A JP S6329210 B2 JPS6329210 B2 JP S6329210B2
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- JP
- Japan
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- integrating sphere
- sample
- light
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/065—Integrating spheres
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は積分球反射測定を行う複光束分光光度
計に関する。試料の分光反射特性を測定する場
合、通常積分球が用いられる。本発明はこのよう
な試料の反射特性測定用の分光光度計に関する。
計に関する。試料の分光反射特性を測定する場
合、通常積分球が用いられる。本発明はこのよう
な試料の反射特性測定用の分光光度計に関する。
試料面の光反射に関する性質は拡散面を鏡面の
２種類があるが一般には両方の性質が混じつてお
り、反射光も拡散成分と鏡面反射成分の両方を含
んでいる。従つて反射測定には拡散成分だけを測
定する場合と鏡面反射も含めた全反射光を測定す
る場合の２通りがある。一つの積分球だけを用い
て複光束法により上記２通りの測定を行う場合、
従来次のような問題があつた。第１図は従来例を
示す。第１図Ａの例ではＩが積分球、Ｒは対照試
料、Ｓが測定試料でｒは対照光束、ｓは測定光束
である。積分球Ｉの図で向う側に窓ａがあり、そ
の向うに受光素子が置かれている。２つの光束
ｒ，ｓは積分球の中心を外して互に平行に積分球
Ｉに入射し、各試料Ｒ，Ｓは各対応光束に対して
傾けてセツトされ鏡面反射成分が積分球の頂部図
で直上に来るようになつている。この構成で拡散
反射成分のみの測定を行う場合、積分球Ｉの頂部
の窓に光トラツプＴを置いて鏡面反射成分を除去
する。拡散成分と鏡面反射成分の両方を含む全反
射成分を測定する場合には積分球Ｉの頂部の窓に
光トラツプの代りに白板Ｗをセツトする。この構
成では下記の欠点がある。
２種類があるが一般には両方の性質が混じつてお
り、反射光も拡散成分と鏡面反射成分の両方を含
んでいる。従つて反射測定には拡散成分だけを測
定する場合と鏡面反射も含めた全反射光を測定す
る場合の２通りがある。一つの積分球だけを用い
て複光束法により上記２通りの測定を行う場合、
従来次のような問題があつた。第１図は従来例を
示す。第１図Ａの例ではＩが積分球、Ｒは対照試
料、Ｓが測定試料でｒは対照光束、ｓは測定光束
である。積分球Ｉの図で向う側に窓ａがあり、そ
の向うに受光素子が置かれている。２つの光束
ｒ，ｓは積分球の中心を外して互に平行に積分球
Ｉに入射し、各試料Ｒ，Ｓは各対応光束に対して
傾けてセツトされ鏡面反射成分が積分球の頂部図
で直上に来るようになつている。この構成で拡散
反射成分のみの測定を行う場合、積分球Ｉの頂部
の窓に光トラツプＴを置いて鏡面反射成分を除去
する。拡散成分と鏡面反射成分の両方を含む全反
射成分を測定する場合には積分球Ｉの頂部の窓に
光トラツプの代りに白板Ｗをセツトする。この構
成では下記の欠点がある。
(1) 対照試料、測定試料とも積分球Ｉの接平面上
にない。従つて積分球内面が欠球状になつて完
全な積分作用が行われない。
にない。従つて積分球内面が欠球状になつて完
全な積分作用が行われない。
(2) ２種類の測定を行うためには光トラツプＴと
白板Ｗとを交換しなければならず操作ミスを招
く可能性がある。
白板Ｗとを交換しなければならず操作ミスを招
く可能性がある。
(3) 白板Ｗと積分球Ｉの内面の塗装材とが経時的
に同じ反射特性を持つようにすることが困難で
ある。このため測定結果が経時的に変つて来
る。
に同じ反射特性を持つようにすることが困難で
ある。このため測定結果が経時的に変つて来
る。
第１図Ｂの例についても第１図Ａの各部と対応
する部分には同じ符号がつけてある。この例で上
の図は拡散成分のみを測定する場合を示し、各試
料には夫々の光束が垂直に入射し、鏡面反射光は
積分球Ｉの各光束の入射窓から外へ送り出され
る。第１図Ｂの下の図は全反射光成分の測定を行
う場合を示している。この場合測定試料Ｓと積分
球Ｉとの間に傾いたスペーサSpを介在させ、測
定試料Ｓの鏡面反射成分が積分球Ｉの内面に入射
するようにする。この構成においては下記の欠点
がある。
する部分には同じ符号がつけてある。この例で上
の図は拡散成分のみを測定する場合を示し、各試
料には夫々の光束が垂直に入射し、鏡面反射光は
積分球Ｉの各光束の入射窓から外へ送り出され
る。第１図Ｂの下の図は全反射光成分の測定を行
う場合を示している。この場合測定試料Ｓと積分
球Ｉとの間に傾いたスペーサSpを介在させ、測
定試料Ｓの鏡面反射成分が積分球Ｉの内面に入射
するようにする。この構成においては下記の欠点
がある。
(1) 全反射光測定の場合スペーサSpを用いるの
で、測定試料Ｓが積分球Ｉの接平面から外れて
傾き、また接平面より後方に位置するため、測
定試料Ｓの反射光中の拡散成分の一部がスペー
サSpに当るため正確な積分球測定ができない。
で、測定試料Ｓが積分球Ｉの接平面から外れて
傾き、また接平面より後方に位置するため、測
定試料Ｓの反射光中の拡散成分の一部がスペー
サSpに当るため正確な積分球測定ができない。
(2) ２種の測定に応じてスペーサSpを着脱しな
ければならないから操作が面倒である。
ければならないから操作が面倒である。
以上要するに単一の積分球を用いて２種の測定
を行う場合、２つの試料のうち少くとも一つが積
分球の接平面から離れ、また２種の測定に応じて
部品の交換着脱を行う必要があつて操作が面倒で
あり、操作ミスを誘発する可能性がある。
を行う場合、２つの試料のうち少くとも一つが積
分球の接平面から離れ、また２種の測定に応じて
部品の交換着脱を行う必要があつて操作が面倒で
あり、操作ミスを誘発する可能性がある。
本発明は上述した問題点を解消した積分球反射
測定用複光束分光器を得ることを目的としてい
る。
測定用複光束分光器を得ることを目的としてい
る。
本発明は、２つの試料設定窓と、各試料設定窓
に向つて積分球内に光を入射させる２つの光入射
窓を有し、１つの試料設定窓とそれに対応する光
入射窓の各中心を結ぶ線が中心を外れているよう
にした積分球を用い、一つの試料設定窓にセツト
した試料に対しては光が斜め入射するようにした
積分球を用い、測定の種類に応じて対照試料と測
定試料の設定位置を交換するようにした積分球反
射測定用複光束分光光度計を提供するものであ
る。
に向つて積分球内に光を入射させる２つの光入射
窓を有し、１つの試料設定窓とそれに対応する光
入射窓の各中心を結ぶ線が中心を外れているよう
にした積分球を用い、一つの試料設定窓にセツト
した試料に対しては光が斜め入射するようにした
積分球を用い、測定の種類に応じて対照試料と測
定試料の設定位置を交換するようにした積分球反
射測定用複光束分光光度計を提供するものであ
る。
以下本発明の実施例を説明する。第２図は積分
球Ｉの部分だけを示し、第２図Ａは拡散成分のみ
を測定する場合、第２図Ｂは鏡面反射光を含む全
反射光を測定する場合を示す。拡散成分測定の場
合図で積分球Ｉの側方の試料設定窓Wsに測定試
料Ｓをセツトし、下方の試料設定窓Wbに対照試
料Ｒをセツトする。積分球Ｉの窓Wsの真反対側
に光入射窓Wisがあり、この窓を通して測定光束
ｓを測定試料Ｓに垂直に入射させる。この場合試
料Ｓからの鏡面反射成分は光入射窓Wisから外に
出て除かれる。図で積分球Ｉの真上から少し側方
に寄つた位置に試料設定窓Wbに対応する光入射
窓Wibがあり、この窓を通して対照光束ｒを対照
試料Ｒに対して斜めに入射させる。この場合対照
試料Ｒが鏡面反射成分を有すると、その鏡面反射
成分は除けないが、対照試料はベースライン補正
の信号を得るのが目的で光源及び測光系の波長特
性とがドリフトに応答できればよいので鏡面反射
成分を除去する必要はない。積分球Ｉの図で向う
側の壁に窓ａがあつてその窓から出射する光を測
光する。第２図Ｂは全反射光を測定する場合を示
し、対照試料Ｒと測定試料Ｓの設定場所は第２図
Ａの場合と入れ替つている。この配置では窓Wib
から入射した測定光束は測定試料Ｓに斜めに入射
し、鏡面反射光は積分球Ｉの内面に入射するよう
になつて測光系に捕捉される。またこの場合対照
試料Ｒに対し対照光束ｒが垂直入射することにな
り、対照試料Ｒの鏡面反射光は光入射窓Wisから
外へ放出されてしまうが、前述したのと全く同じ
理由でベースライン補正に対しては何等の障害に
もならない。
球Ｉの部分だけを示し、第２図Ａは拡散成分のみ
を測定する場合、第２図Ｂは鏡面反射光を含む全
反射光を測定する場合を示す。拡散成分測定の場
合図で積分球Ｉの側方の試料設定窓Wsに測定試
料Ｓをセツトし、下方の試料設定窓Wbに対照試
料Ｒをセツトする。積分球Ｉの窓Wsの真反対側
に光入射窓Wisがあり、この窓を通して測定光束
ｓを測定試料Ｓに垂直に入射させる。この場合試
料Ｓからの鏡面反射成分は光入射窓Wisから外に
出て除かれる。図で積分球Ｉの真上から少し側方
に寄つた位置に試料設定窓Wbに対応する光入射
窓Wibがあり、この窓を通して対照光束ｒを対照
試料Ｒに対して斜めに入射させる。この場合対照
試料Ｒが鏡面反射成分を有すると、その鏡面反射
成分は除けないが、対照試料はベースライン補正
の信号を得るのが目的で光源及び測光系の波長特
性とがドリフトに応答できればよいので鏡面反射
成分を除去する必要はない。積分球Ｉの図で向う
側の壁に窓ａがあつてその窓から出射する光を測
光する。第２図Ｂは全反射光を測定する場合を示
し、対照試料Ｒと測定試料Ｓの設定場所は第２図
Ａの場合と入れ替つている。この配置では窓Wib
から入射した測定光束は測定試料Ｓに斜めに入射
し、鏡面反射光は積分球Ｉの内面に入射するよう
になつて測光系に捕捉される。またこの場合対照
試料Ｒに対し対照光束ｒが垂直入射することにな
り、対照試料Ｒの鏡面反射光は光入射窓Wisから
外へ放出されてしまうが、前述したのと全く同じ
理由でベースライン補正に対しては何等の障害に
もならない。
第３図は上述本発明の一実施例の全体を示す。
１は分光器、２は分光器１の出射光を時系列的に
２光束に分割する装置で、光チヨツパを兼ねたセ
クターミラーCH、鏡Ｍ１〜Ｍ６より成り、２光
束ｆ１，ｆ２が交互に積分球Ｉに入射せしめられ
る。Ｄは光検出器で、積分球の光出射窓ａから出
射する光を受光するようになつており例えばホト
マルチプライヤを用いている。光検出器Ｄの出力
信号はプリアンプPA、サンプリングスイツチＳ
１，Ｓ２を経てサンプルホールド回路Ｈ１，Ｈ２
に入力される。サンプルホールド回路Ｈ１の出力
信号は負高圧回路Ｖを介して光検出器Ｄにフイー
ドバツクされ対照光測定出力が一定になるように
光検出器Ｄの感度調整を行う。サンプルホールド
回路Ｈ２の出力信号は測定試料反射光の測定出力
でＡ／Ｄ変換器を経てコンピユータCPUに読込
まれ、更にＤ／Ａ変換器を経てレコーダRDによ
つて記録される。上述したように測定の種類によ
つて対照試料Ｒと測定試料Ｓとはそのセツト位置
が入れ替わるので、それに応じて２光束ｆ１，ｆ
２も何れを対照光束とし、測定光束とするかの切
換えをする必要がある。ブロツク３で囲んだ部分
がこの切換えを行う部分で、切換えはサンプリン
グスイツチＳ１，Ｓ２の開閉のタイミングを変更
することにより行われる。即ち試料の拡散光成分
だけを測定する場合第２図Ａに示すように測定試
料Ｓは積分球の試料設定窓Wsにセツトされ、対
照試料Ｒは窓Wbにセツトされて、光束ｆ１が測
定光束となり、ｆ２が対照光束となる。従つてこ
の場合には光束ｆ１が積分球Ｉに入射しているタ
イミングでスイツチＳ１が閉じＳ２が開となり、
光束ｆ２が積分球Ｉに入射しているタイミングで
Ｓ１が開、Ｓ２が閉となる。試料の全反射成分を
測定する場合には第２図Ｂに示すように測定試料
Ｓと対照試料Ｒのセツト位置が上の場合と入れ替
るのでｆ２が測定光束となりｆ１が対照光束とな
る。従つてこの場合スイツチＳ１，Ｓ２の開閉の
タイミングは上の場合と反対になる。Ｓ１，Ｓ２
の開閉はセクターミラーCHの回転と同期して行
われ、４はそのための同期信号発生器で、光束ｆ
１の測光出力をサンプリングする信号sf１と光束
ｆ２の測光信号をサンプリングする信号sf２を発
生しており、この両信号が切換え部３においてス
イツチＳ１，Ｓ２の何れに送るかの切換えがなさ
れる。コンピユータCPUは指定された測定の種
類に応じて切換え部３を操作する。
１は分光器、２は分光器１の出射光を時系列的に
２光束に分割する装置で、光チヨツパを兼ねたセ
クターミラーCH、鏡Ｍ１〜Ｍ６より成り、２光
束ｆ１，ｆ２が交互に積分球Ｉに入射せしめられ
る。Ｄは光検出器で、積分球の光出射窓ａから出
射する光を受光するようになつており例えばホト
マルチプライヤを用いている。光検出器Ｄの出力
信号はプリアンプPA、サンプリングスイツチＳ
１，Ｓ２を経てサンプルホールド回路Ｈ１，Ｈ２
に入力される。サンプルホールド回路Ｈ１の出力
信号は負高圧回路Ｖを介して光検出器Ｄにフイー
ドバツクされ対照光測定出力が一定になるように
光検出器Ｄの感度調整を行う。サンプルホールド
回路Ｈ２の出力信号は測定試料反射光の測定出力
でＡ／Ｄ変換器を経てコンピユータCPUに読込
まれ、更にＤ／Ａ変換器を経てレコーダRDによ
つて記録される。上述したように測定の種類によ
つて対照試料Ｒと測定試料Ｓとはそのセツト位置
が入れ替わるので、それに応じて２光束ｆ１，ｆ
２も何れを対照光束とし、測定光束とするかの切
換えをする必要がある。ブロツク３で囲んだ部分
がこの切換えを行う部分で、切換えはサンプリン
グスイツチＳ１，Ｓ２の開閉のタイミングを変更
することにより行われる。即ち試料の拡散光成分
だけを測定する場合第２図Ａに示すように測定試
料Ｓは積分球の試料設定窓Wsにセツトされ、対
照試料Ｒは窓Wbにセツトされて、光束ｆ１が測
定光束となり、ｆ２が対照光束となる。従つてこ
の場合には光束ｆ１が積分球Ｉに入射しているタ
イミングでスイツチＳ１が閉じＳ２が開となり、
光束ｆ２が積分球Ｉに入射しているタイミングで
Ｓ１が開、Ｓ２が閉となる。試料の全反射成分を
測定する場合には第２図Ｂに示すように測定試料
Ｓと対照試料Ｒのセツト位置が上の場合と入れ替
るのでｆ２が測定光束となりｆ１が対照光束とな
る。従つてこの場合スイツチＳ１，Ｓ２の開閉の
タイミングは上の場合と反対になる。Ｓ１，Ｓ２
の開閉はセクターミラーCHの回転と同期して行
われ、４はそのための同期信号発生器で、光束ｆ
１の測光出力をサンプリングする信号sf１と光束
ｆ２の測光信号をサンプリングする信号sf２を発
生しており、この両信号が切換え部３においてス
イツチＳ１，Ｓ２の何れに送るかの切換えがなさ
れる。コンピユータCPUは指定された測定の種
類に応じて切換え部３を操作する。
第４図は本発明の他の実施例を示す。この実施
例では積分球Ｉに入射する２光束ｆ１，ｆ２が直
交しており試料設定窓Wbが光束ｆ２に対して傾
くように設けられている。拡散光のみを測定する
場合は測定試料Ｓを窓Wsにセツトし、対照試料
を窓Wbにセツトする。鏡面反射光も含めた全反
射光を測定する場合は測定試料Ｓを窓Wbにセツ
トし、対照試料Ｒを窓Wsにセツトする。なお積
分球以外の部分の構成は基本的に前記第２，第３
図に示した実施例と同じでよく、説明及び図示を
省略する。
例では積分球Ｉに入射する２光束ｆ１，ｆ２が直
交しており試料設定窓Wbが光束ｆ２に対して傾
くように設けられている。拡散光のみを測定する
場合は測定試料Ｓを窓Wsにセツトし、対照試料
を窓Wbにセツトする。鏡面反射光も含めた全反
射光を測定する場合は測定試料Ｓを窓Wbにセツ
トし、対照試料Ｒを窓Wsにセツトする。なお積
分球以外の部分の構成は基本的に前記第２，第３
図に示した実施例と同じでよく、説明及び図示を
省略する。
本発明は上述した所から明かなように、対照試
料の測定は光源の変動とか測定回路のドリフトに
応答できればよく、光を垂直に入射させるか斜め
入射にするかとか鏡面反射光を含めるか除去する
か等にこだわる必要のないことを着眼し、積分球
に２つの試料設定窓を設けて、その一方は光束が
垂直入射するようにし、他方は光束が斜め入射す
るようにして測定の種類に応じて測定試料と対照
試料のセツト位置を入れ替えるようにしたもので
あるから、前述従来例のような光トラツプと白板
の着け替え、或はスペーサの着脱等誤操作を招く
ような操作が不要であり、白板を用いることによ
る経時的な変化の問題とかスペーサを用いること
による拡散光成分の一部がセツトされる問題等が
なくなり、測定試料も対照試料とも積分球に接し
てセツトすることができる等の効果が得られる。
料の測定は光源の変動とか測定回路のドリフトに
応答できればよく、光を垂直に入射させるか斜め
入射にするかとか鏡面反射光を含めるか除去する
か等にこだわる必要のないことを着眼し、積分球
に２つの試料設定窓を設けて、その一方は光束が
垂直入射するようにし、他方は光束が斜め入射す
るようにして測定の種類に応じて測定試料と対照
試料のセツト位置を入れ替えるようにしたもので
あるから、前述従来例のような光トラツプと白板
の着け替え、或はスペーサの着脱等誤操作を招く
ような操作が不要であり、白板を用いることによ
る経時的な変化の問題とかスペーサを用いること
による拡散光成分の一部がセツトされる問題等が
なくなり、測定試料も対照試料とも積分球に接し
てセツトすることができる等の効果が得られる。
なお上の説明では全反射光測定の場合常に拡散
成分と鏡面反射成分が混合しているものとしてい
るが、拡散成分を殆んど含まないような鏡面試料
に対しては全反射光測定によつて鏡面反射測定が
できることは云うまでもない。
成分と鏡面反射成分が混合しているものとしてい
るが、拡散成分を殆んど含まないような鏡面試料
に対しては全反射光測定によつて鏡面反射測定が
できることは云うまでもない。
第１図Ａ，Ｂは夫々従来例の積分球断面図、第
２図は本発明の一実施例の積分球断面を示し、第
３図は同実施例の全体構成を示す平面図及びブロ
ツク図、第４図は本発明の他の実施例の積分球断
面図である。 Ｉ……積分球、Ws，Wb……試料設定窓、Ｗ…
…光の出射窓、Ｒ……対照試料、Ｓ……測定試
料、Ｄ……光検出器、Ｓ１，Ｓ２……サンプリン
グスイツチ、Ｈ１，Ｈ２……サンプルホールド回
路、１……分光器、２……光束分割装置、３……
切換え部、４……同期信号発生器。
２図は本発明の一実施例の積分球断面を示し、第
３図は同実施例の全体構成を示す平面図及びブロ
ツク図、第４図は本発明の他の実施例の積分球断
面図である。 Ｉ……積分球、Ws，Wb……試料設定窓、Ｗ…
…光の出射窓、Ｒ……対照試料、Ｓ……測定試
料、Ｄ……光検出器、Ｓ１，Ｓ２……サンプリン
グスイツチ、Ｈ１，Ｈ２……サンプルホールド回
路、１……分光器、２……光束分割装置、３……
切換え部、４……同期信号発生器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ ２つの試料設定窓と、これらの試料設定窓の
一方には光が垂直に入射するように、また他方に
は光が斜め入射するように、これら各試料設定窓
に対向させて設けられた光入射窓とを有する積分
球と、上記光入射窓を通して対応する上記試料設
定窓に向けて光を入射させる２光束形成光学手段
とよりなる積分球式複光束反射測定装置。 ２ 積分球に入射せしめられる２光束の何れを試
料光束とし、何れを対照光束とするかの切換え手
段を設けた特許請求の範囲第１項記載の積分球式
複光束反射測定装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57151046A JPS5940144A (ja) | 1982-08-30 | 1982-08-30 | 積分球式複光束反射測定装置 |
| GB08307375A GB2128359B (en) | 1982-08-30 | 1983-03-17 | Double-beam spectrophotometer |
| US06/477,523 US4540281A (en) | 1982-08-30 | 1983-03-21 | Double-beam spectrophotometer |
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