JPH09145478A - マルチチャンネル型分光光度計 - Google Patents
マルチチャンネル型分光光度計Info
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- JPH09145478A JPH09145478A JP30750395A JP30750395A JPH09145478A JP H09145478 A JPH09145478 A JP H09145478A JP 30750395 A JP30750395 A JP 30750395A JP 30750395 A JP30750395 A JP 30750395A JP H09145478 A JPH09145478 A JP H09145478A
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- light source
- signal processing
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光源の劣化や光源、光学系の変更等があって
も常にノイズの影響をできるだけ小さくして、高感度で
測定できるとともに、ランプの使用時間を飛躍的に長く
できるようにする。 【解決手段】 測定者が最適な蓄積時間の設定プログラ
ムをスタートさせると、信号処理・制御回路9は、試料
セル4に試料を入れない状態で、シャッター3を開にし
て明状態とし、フォトダイオードアレイ7を走査して、
各素子の受光量を測定する。次に、信号処理・制御回路
9は各素子の受光量から最適な電化蓄積時間を判定し、
その最適電化蓄積時間に対応したクロック周期を蓄積時
間設定手段8に設定する。この後、信号処理・制御回路
9は暗電流測定、バックグラウンド測定を行った後、試
料の測定を行って試料の吸光度スペクトルを求める。
も常にノイズの影響をできるだけ小さくして、高感度で
測定できるとともに、ランプの使用時間を飛躍的に長く
できるようにする。 【解決手段】 測定者が最適な蓄積時間の設定プログラ
ムをスタートさせると、信号処理・制御回路9は、試料
セル4に試料を入れない状態で、シャッター3を開にし
て明状態とし、フォトダイオードアレイ7を走査して、
各素子の受光量を測定する。次に、信号処理・制御回路
9は各素子の受光量から最適な電化蓄積時間を判定し、
その最適電化蓄積時間に対応したクロック周期を蓄積時
間設定手段8に設定する。この後、信号処理・制御回路
9は暗電流測定、バックグラウンド測定を行った後、試
料の測定を行って試料の吸光度スペクトルを求める。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、汎用分光光度計と
して、あるいは液体クロマトグラフ検出器として使用さ
れる分光光度計、特に検出器としてフォトダイオードア
レイを備えたマルチチャンネル型分光光度計に関する。
して、あるいは液体クロマトグラフ検出器として使用さ
れる分光光度計、特に検出器としてフォトダイオードア
レイを備えたマルチチャンネル型分光光度計に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のフォトダイオードアレイを備えた
マルチチャンネル型分光光度計の基本構成を図4に示
す。図4において、1は光源、2は光源1からの光を集
光して試料セルへ導く集光レンズ、3はシャッター、4
は試料セル、5は分光器の入り口スリット、6は分光器
の分散素子である凹面グレーティング、7は分光器の出
口位置に設けられたマルチチャンネル検出器としてのフ
ォトダイオードアレイ、9は信号処理・制御回路、10
はメモリである。凹面グレーティング6は試料セルの透
過光を分光するとともに、フォトダイオードアレイ7の
受光面上にスリット5の像を結像させる。
マルチチャンネル型分光光度計の基本構成を図4に示
す。図4において、1は光源、2は光源1からの光を集
光して試料セルへ導く集光レンズ、3はシャッター、4
は試料セル、5は分光器の入り口スリット、6は分光器
の分散素子である凹面グレーティング、7は分光器の出
口位置に設けられたマルチチャンネル検出器としてのフ
ォトダイオードアレイ、9は信号処理・制御回路、10
はメモリである。凹面グレーティング6は試料セルの透
過光を分光するとともに、フォトダイオードアレイ7の
受光面上にスリット5の像を結像させる。
【0003】フォトダイオードアレイ7は、例えば50
0個の受光素子を備え、フォトダイオードアレイ7の受
光面上で試料セル4の透過光のスペクトルの200nm
の光が一番目の受光素子に、700nmの光が500番
目の受光素子に入射して、200〜700nmの光を検
出するように設置されている。
0個の受光素子を備え、フォトダイオードアレイ7の受
光面上で試料セル4の透過光のスペクトルの200nm
の光が一番目の受光素子に、700nmの光が500番
目の受光素子に入射して、200〜700nmの光を検
出するように設置されている。
【0004】シャッター3はフォトダイオードアレイ7
の暗電流補正を行うためのものであり、暗電流補正を行
う場合にはシャッター3を閉じて暗状態を作り、駆動回
路によってフォトダイオードアレイ7を走査し、各受光
素子の暗電流値を測定する。
の暗電流補正を行うためのものであり、暗電流補正を行
う場合にはシャッター3を閉じて暗状態を作り、駆動回
路によってフォトダイオードアレイ7を走査し、各受光
素子の暗電流値を測定する。
【0005】このマルチチャンネル型分光光度計の使用
方法を説明すると、まず、シャッター3を閉じて暗状態
を作り、各受光素子の暗電流値を測定してメモリ10に
記憶する。次に、吸収スペクトルのバックグラウンドを
測定するためにシャッター3を開にして明状態とし、フ
ォトダイオードアレイ7を走査して各受光素子の信号を
測定し、この測定値から各受光素子の暗電流値を引くこ
とによりバックグラウンドスペクトルを求め、メモリ1
0に記憶する。
方法を説明すると、まず、シャッター3を閉じて暗状態
を作り、各受光素子の暗電流値を測定してメモリ10に
記憶する。次に、吸収スペクトルのバックグラウンドを
測定するためにシャッター3を開にして明状態とし、フ
ォトダイオードアレイ7を走査して各受光素子の信号を
測定し、この測定値から各受光素子の暗電流値を引くこ
とによりバックグラウンドスペクトルを求め、メモリ1
0に記憶する。
【0006】次に、試料セル4にサンプルを注入し、同
じくシャッター3を開にして明状態とした上で、光源1
からの光を集光レンズ2により集光して試料セル4に導
き、試料セル4の透過光がスリット5を経て凹面グレー
ティング6により分光された後、フォトダイオードアレ
イ7の受光面上にスリット5の像が結像される。そし
て、この状態でフォトダイオードアレイ7を走査して各
受光素子の信号を信号処理・制御回路9に入力し、暗電
流補正とバックグラウンド補正を行うことにより試料の
吸収スペクトルが求められる。
じくシャッター3を開にして明状態とした上で、光源1
からの光を集光レンズ2により集光して試料セル4に導
き、試料セル4の透過光がスリット5を経て凹面グレー
ティング6により分光された後、フォトダイオードアレ
イ7の受光面上にスリット5の像が結像される。そし
て、この状態でフォトダイオードアレイ7を走査して各
受光素子の信号を信号処理・制御回路9に入力し、暗電
流補正とバックグラウンド補正を行うことにより試料の
吸収スペクトルが求められる。
【0007】従来のマルチチャンネル型分光光度計は以
上のように構成されているが、このとき使用しているフ
ォトダイオードアレイの具体的構成を図5により詳しく
説明する。
上のように構成されているが、このとき使用しているフ
ォトダイオードアレイの具体的構成を図5により詳しく
説明する。
【0008】図5において、21はシフトレジスタ、2
2はフォトダイオード、23はスイッチ、24はコンデ
ンサである。各コンデンサ24に電荷を蓄積した状態
で、各フォトダイオード22に光を当てると、光電効果
によって各コンデンサ24に蓄積された電荷が放電され
ていく。そして、図5のクロックパルスの一周期毎にシ
フトレジスタ21が順次スイッチ23をオンにし、この
とき各コンデンサ24に充電された電荷量を測定するこ
とにより、各コンデンサ24から放電された電荷量を求
めることができ、この測定を繰り返すことによって各電
荷量から各フォトダイオードに入射した光量を知ること
ができる。
2はフォトダイオード、23はスイッチ、24はコンデ
ンサである。各コンデンサ24に電荷を蓄積した状態
で、各フォトダイオード22に光を当てると、光電効果
によって各コンデンサ24に蓄積された電荷が放電され
ていく。そして、図5のクロックパルスの一周期毎にシ
フトレジスタ21が順次スイッチ23をオンにし、この
とき各コンデンサ24に充電された電荷量を測定するこ
とにより、各コンデンサ24から放電された電荷量を求
めることができ、この測定を繰り返すことによって各電
荷量から各フォトダイオードに入射した光量を知ること
ができる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところで、分光光度計
に使用されている重水素ランプ等の光源ランプは、時間
を経るとともに、図6に示すように光量が減っていくた
め、分光光度計の感度が落ちてくる。このため、現状で
はある保証時間を設けてこの保証時間を超えた場合に
は、ランプを交換している。例えば、重水素ランプの場
合、保証時間は2000時間であり、一日8時間使用すると
仮定すると、一年以内に交換することが必要となってい
る。
に使用されている重水素ランプ等の光源ランプは、時間
を経るとともに、図6に示すように光量が減っていくた
め、分光光度計の感度が落ちてくる。このため、現状で
はある保証時間を設けてこの保証時間を超えた場合に
は、ランプを交換している。例えば、重水素ランプの場
合、保証時間は2000時間であり、一日8時間使用すると
仮定すると、一年以内に交換することが必要となってい
る。
【0010】一方、例えばスリットを細くするなど、光
学系を変更した場合も、光量が落ちて分光光度計の感度
が低下する。また、タングステンランプと重水素ランプ
を使用している分光光度計の場合、図7の実線に示すよ
うな波長−強度特性を有しているが、光源ランプの構成
を変更、例えばタングステンランプのみで測定を行うよ
うに変更すると、図7の一点鎖線に示すような波長−強
度特性となり、光量が減少するので、分光光度計の感度
が低下する。
学系を変更した場合も、光量が落ちて分光光度計の感度
が低下する。また、タングステンランプと重水素ランプ
を使用している分光光度計の場合、図7の実線に示すよ
うな波長−強度特性を有しているが、光源ランプの構成
を変更、例えばタングステンランプのみで測定を行うよ
うに変更すると、図7の一点鎖線に示すような波長−強
度特性となり、光量が減少するので、分光光度計の感度
が低下する。
【0011】しかしながら、従来のマルチチャンネル型
分光光度計は上記のように構成されており、フォトダイ
オードアレイの一連の測定手順は図5のスタートパルス
とクロックパルスにより制御されるが、この二つのクロ
ックの周期は従来、固定の値が設定されている。即ち、
電荷蓄積型の光電変換素子は飽和電荷量が有限であるの
に対し、光源のスペクトルは図7に示すように波長によ
って強度が異なるので、最も光量の多い波長で飽和が起
こらないようにするためには電荷蓄積時間をあまり大き
くできず、図7のA点の強度により電荷蓄積時間を設定
している。一方、フォトダイオードのノイズの主因は回
路ノイズおよびリセットノイズであり、この値は信号の
大きさにかかわらず一定である。したがって、電荷蓄積
時間を固定の値に設定した場合、光源ランプが劣化した
り、光学系の変更、光源ランプの構成の変更を行って光
量が減少すると、固定の電荷蓄積時間で得られる信号が
小さくなるためノイズに埋もれてしまうという問題点が
あった。
分光光度計は上記のように構成されており、フォトダイ
オードアレイの一連の測定手順は図5のスタートパルス
とクロックパルスにより制御されるが、この二つのクロ
ックの周期は従来、固定の値が設定されている。即ち、
電荷蓄積型の光電変換素子は飽和電荷量が有限であるの
に対し、光源のスペクトルは図7に示すように波長によ
って強度が異なるので、最も光量の多い波長で飽和が起
こらないようにするためには電荷蓄積時間をあまり大き
くできず、図7のA点の強度により電荷蓄積時間を設定
している。一方、フォトダイオードのノイズの主因は回
路ノイズおよびリセットノイズであり、この値は信号の
大きさにかかわらず一定である。したがって、電荷蓄積
時間を固定の値に設定した場合、光源ランプが劣化した
り、光学系の変更、光源ランプの構成の変更を行って光
量が減少すると、固定の電荷蓄積時間で得られる信号が
小さくなるためノイズに埋もれてしまうという問題点が
あった。
【0012】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、光源の劣化や光源、光学系の変更等が
あっても常にノイズの影響をできるだけ小さくして、高
感度で測定することができるとともに、ランプの使用時
間を飛躍的に長くすることができるマルチチャンネル型
分光光度計を提供することを目的とする。
たものであって、光源の劣化や光源、光学系の変更等が
あっても常にノイズの影響をできるだけ小さくして、高
感度で測定することができるとともに、ランプの使用時
間を飛躍的に長くすることができるマルチチャンネル型
分光光度計を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明のマルチチャンネル型分光光度計は、光源
と、光源からの光が導かれる試料セルと、試料セルの透
過光が導かれる分光器と、分光器により分光された光が
入射するフォトダイオードアレイとを備えたものにおい
て、フォトダイオードアレイに入射する光量を判定する
光量判定手段と、この光量判定手段の判定結果によって
フォトダイオードの電荷蓄積時間を自動的に設定する蓄
積時間設定手段とを備えることを特徴とする。
め、本発明のマルチチャンネル型分光光度計は、光源
と、光源からの光が導かれる試料セルと、試料セルの透
過光が導かれる分光器と、分光器により分光された光が
入射するフォトダイオードアレイとを備えたものにおい
て、フォトダイオードアレイに入射する光量を判定する
光量判定手段と、この光量判定手段の判定結果によって
フォトダイオードの電荷蓄積時間を自動的に設定する蓄
積時間設定手段とを備えることを特徴とする。
【0014】本発明の分光光度計は上記のように構成さ
れており、例えば、光源の経時変化によって光源の波長
−強度特性が図8のAからBに変化した場合、光量判定
手段によってフォトダイオードアレイに入射する光量を
判定し、蓄積時間設定手段がその光量に応じて蓄積時間
を自動的に設定、例えば蓄積時間を40msから80msに変更
し、図9のように波長−強度特性が変化するので、光量
に最も適した蓄積時間を選択することができ、ノイズの
影響を最小限にくいとめて、高感度な測定を行うことが
できる。
れており、例えば、光源の経時変化によって光源の波長
−強度特性が図8のAからBに変化した場合、光量判定
手段によってフォトダイオードアレイに入射する光量を
判定し、蓄積時間設定手段がその光量に応じて蓄積時間
を自動的に設定、例えば蓄積時間を40msから80msに変更
し、図9のように波長−強度特性が変化するので、光量
に最も適した蓄積時間を選択することができ、ノイズの
影響を最小限にくいとめて、高感度な測定を行うことが
できる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明のマルチチャンネル
型分光光度計の一実施例について図1を用いて説明す
る。図1において、1は光源、2は光源からの光を集光
して試料セルへ導く集光レンズ、3はシャッター、4は
試料セル、5は分光器の入り口スリット、6は分光器の
分散素子である凹面グレーティング、7は分光器の出口
位置に設けられたフォトダイオードアレイ、8は蓄積時
間設定手段、9は信号処理・制御回路、10はメモリで
ある。
型分光光度計の一実施例について図1を用いて説明す
る。図1において、1は光源、2は光源からの光を集光
して試料セルへ導く集光レンズ、3はシャッター、4は
試料セル、5は分光器の入り口スリット、6は分光器の
分散素子である凹面グレーティング、7は分光器の出口
位置に設けられたフォトダイオードアレイ、8は蓄積時
間設定手段、9は信号処理・制御回路、10はメモリで
ある。
【0016】図1の分光光度計の動作を図2のフローチ
ャート及び図5のフォトダイオードアレイの具体的構成
を示す図を用いて説明する。まず、測定者が最適な蓄積
時間の設定プログラムをスタートさせると、信号処理・
制御回路9は標準の蓄積時間に対応する標準周期をクロ
ック周期として蓄積時間設定手段8に設定した後、測定
を行う。即ち、試料セル4に試料を入れない状態で、シ
ャッター3を開にして明状態とし、シフトレジスタ21
により順次スイッチ23をオンにして各フォトダイオー
ド22に並列接続されたコンデンサ24に充電された電
荷量を繰り返し測定することにより、各コンデンサ24
から放電された電荷量を求め、波長−強度特性(スペク
トル)を得る。次に、信号処理・制御回路9は各フォト
ダイオードの電荷量が飽和電荷量を越えたか否かを判断
する。測定電荷量が飽和電荷量を越えていない場合に
は、信号処理・制御回路9がさらにもう少し長い周期を
クロック周期として蓄積時間設定手段8に再設定する。
そして、測定電荷量が飽和電荷量を越えると、信号処理
・制御回路9はその直前のクロック周期を最適なクロッ
ク周期として蓄積時間設定手段8に最終的に設定する。
ャート及び図5のフォトダイオードアレイの具体的構成
を示す図を用いて説明する。まず、測定者が最適な蓄積
時間の設定プログラムをスタートさせると、信号処理・
制御回路9は標準の蓄積時間に対応する標準周期をクロ
ック周期として蓄積時間設定手段8に設定した後、測定
を行う。即ち、試料セル4に試料を入れない状態で、シ
ャッター3を開にして明状態とし、シフトレジスタ21
により順次スイッチ23をオンにして各フォトダイオー
ド22に並列接続されたコンデンサ24に充電された電
荷量を繰り返し測定することにより、各コンデンサ24
から放電された電荷量を求め、波長−強度特性(スペク
トル)を得る。次に、信号処理・制御回路9は各フォト
ダイオードの電荷量が飽和電荷量を越えたか否かを判断
する。測定電荷量が飽和電荷量を越えていない場合に
は、信号処理・制御回路9がさらにもう少し長い周期を
クロック周期として蓄積時間設定手段8に再設定する。
そして、測定電荷量が飽和電荷量を越えると、信号処理
・制御回路9はその直前のクロック周期を最適なクロッ
ク周期として蓄積時間設定手段8に最終的に設定する。
【0017】そして、クロック周期の設定が完了する
と、まず、信号処理・制御回路9がシャッター3を閉じ
て暗状態を作り、各フォトダイオードの暗電流値を測定
してメモリ10に記憶する。次に、信号処理・制御回路
9は吸収スペクトルのバックグラウンドを測定するため
にシャッター3を開にして明状態とし、フォトダイオー
ドアレイ7を走査して各フォトダイオードの電荷量を測
定し、この測定値から各フォトダイオードの暗電流値を
引くことによりバックグラウンドスペクトルR(n)を
求め、メモリ10に記憶する。
と、まず、信号処理・制御回路9がシャッター3を閉じ
て暗状態を作り、各フォトダイオードの暗電流値を測定
してメモリ10に記憶する。次に、信号処理・制御回路
9は吸収スペクトルのバックグラウンドを測定するため
にシャッター3を開にして明状態とし、フォトダイオー
ドアレイ7を走査して各フォトダイオードの電荷量を測
定し、この測定値から各フォトダイオードの暗電流値を
引くことによりバックグラウンドスペクトルR(n)を
求め、メモリ10に記憶する。
【0018】次に、試料セル4にサンプルを注入し、同
じくシャッター3を開にして明状態とした上で、光源1
からの光を集光レンズ2により集光して試料セル4に導
き、サンプルの透過光をスリット5を経て凹面グレーテ
ィング6により分光した後、フォトダイオードアレイ7
の受光面上にスリット5の像を結像させる。そして、こ
の状態で信号処理・制御回路9はフォトダイオードアレ
イ7を走査して、各フォトダイオードの電荷量を測定
し、暗電流補正を行って、サンプルの透過光信号S
(n)を演算し、メモリ11に記憶する。
じくシャッター3を開にして明状態とした上で、光源1
からの光を集光レンズ2により集光して試料セル4に導
き、サンプルの透過光をスリット5を経て凹面グレーテ
ィング6により分光した後、フォトダイオードアレイ7
の受光面上にスリット5の像を結像させる。そして、こ
の状態で信号処理・制御回路9はフォトダイオードアレ
イ7を走査して、各フォトダイオードの電荷量を測定
し、暗電流補正を行って、サンプルの透過光信号S
(n)を演算し、メモリ11に記憶する。
【0019】そして、この信号系列S(n)と、予め測
定しておいた試料のないときの信号系列R(n)を用い
て試料の吸光度スペクトルA(n)を A(n)=−log10(S(n)/R(n)) によって制御及び信号処理回路9で演算し、吸光度スペ
クトルA(n)を求める。
定しておいた試料のないときの信号系列R(n)を用い
て試料の吸光度スペクトルA(n)を A(n)=−log10(S(n)/R(n)) によって制御及び信号処理回路9で演算し、吸光度スペ
クトルA(n)を求める。
【0020】上記実施例では、電荷蓄積時間としてのク
ロック周期を徐々に長くすることにより、最適なクロッ
ク周期を設定するようにしたが、測定前に光源スペクト
ルを測定し、そのときのピーク強度によってクロック周
期を設定することもできる。このように、測定前のスペ
クトルのピーク強度によってクロック周期を設定する場
合の実施例を図1及び図3のフローチャートを用いて説
明する。
ロック周期を徐々に長くすることにより、最適なクロッ
ク周期を設定するようにしたが、測定前に光源スペクト
ルを測定し、そのときのピーク強度によってクロック周
期を設定することもできる。このように、測定前のスペ
クトルのピーク強度によってクロック周期を設定する場
合の実施例を図1及び図3のフローチャートを用いて説
明する。
【0021】まず、測定前の光量を測定するために、信
号処理・制御回路9はシャッター3を開にして明状態と
し、フォトダイオードアレイ7を走査して各フォトダイ
オードの電荷量を測定し、この測定値を光源スペクトル
としてメモリ10に記憶しておく。
号処理・制御回路9はシャッター3を開にして明状態と
し、フォトダイオードアレイ7を走査して各フォトダイ
オードの電荷量を測定し、この測定値を光源スペクトル
としてメモリ10に記憶しておく。
【0022】次に、信号処理・制御回路9はこの光源ス
ペクトルのメモリ10に記憶された全測定波長範囲での
ピーク強度を求める。そして、信号処理・制御回路9が
使用開始時のピーク強度値と今回のピーク強度値の比と
標準クロック周期から最適なクロック周期を演算し、蓄
積時間設定手段9に設定する。
ペクトルのメモリ10に記憶された全測定波長範囲での
ピーク強度を求める。そして、信号処理・制御回路9が
使用開始時のピーク強度値と今回のピーク強度値の比と
標準クロック周期から最適なクロック周期を演算し、蓄
積時間設定手段9に設定する。
【0023】そして、クロック周期の設定が完了する
と、上記第一の実施例と同様に、信号処理・制御回路9
は暗電流測定、バックグラウンド測定を行った後、試料
の測定を行い、測定信号に対して暗電流補正とバックグ
ラウンド補正を行って試料の吸光度スペクトルを求め
る。
と、上記第一の実施例と同様に、信号処理・制御回路9
は暗電流測定、バックグラウンド測定を行った後、試料
の測定を行い、測定信号に対して暗電流補正とバックグ
ラウンド補正を行って試料の吸光度スペクトルを求め
る。
【0024】なお、上記実施例では、測定者の指示によ
り蓄積時間の設定を行うようにしたが、一定時間経過毎
に自動的に蓄積時間の設定を行ったり、また、光学系の
変更や光源の構成変更を行ったときに、自動的に蓄積時
間の設定を行うことも可能である。
り蓄積時間の設定を行うようにしたが、一定時間経過毎
に自動的に蓄積時間の設定を行ったり、また、光学系の
変更や光源の構成変更を行ったときに、自動的に蓄積時
間の設定を行うことも可能である。
【0025】また、上記実施例では、汎用の分光光度計
に本発明を適用した場合について説明したが、液体クロ
マトグラフの検出器として使用することもできる。即
ち、試料セルとしてフローセルを使用し、カラムからの
流出液をフローセルに流し、そのフローセルを透過した
光のスペクトルをフォトダイオードアレイで時々刻々測
定する場合にも、本発明を適用することができる。
に本発明を適用した場合について説明したが、液体クロ
マトグラフの検出器として使用することもできる。即
ち、試料セルとしてフローセルを使用し、カラムからの
流出液をフローセルに流し、そのフローセルを透過した
光のスペクトルをフォトダイオードアレイで時々刻々測
定する場合にも、本発明を適用することができる。
【0026】さらに、上記実施例では光源からの光を集
光する手段として集光レンズを使用したが、凹面ミラー
を用いて光源からの光を集光することもできる。
光する手段として集光レンズを使用したが、凹面ミラー
を用いて光源からの光を集光することもできる。
【0027】以上、本発明の実施例を説明したが、本発
明は上記実施例に限定されるものではなく特許請求の範
囲に記載された本発明の要旨の範囲内で種々の変更を行
うことが可能である。本発明の変更実施態様を下記に例
示する。
明は上記実施例に限定されるものではなく特許請求の範
囲に記載された本発明の要旨の範囲内で種々の変更を行
うことが可能である。本発明の変更実施態様を下記に例
示する。
【0028】(1)光源と、光源からの光が導かれる試
料セルと、試料セルの透過光が導かれる分光器と、分光
器により分光された光が入射するフォトダイオードアレ
イとを備えたマルチチャンネル型分光光度計において、
フォトダイオードアレイに入射する光量を判定する光量
判定手段と、この光量判定手段の判定結果によってフォ
トダイオードの電荷蓄積時間を自動的に設定する蓄積時
間設定手段とを備え、上記蓄積時間設定手段は電荷蓄積
時間を徐々に長くすることにより、最適な電荷蓄積時間
を設定することを特徴とするマルチチャンネル型分光光
度計。
料セルと、試料セルの透過光が導かれる分光器と、分光
器により分光された光が入射するフォトダイオードアレ
イとを備えたマルチチャンネル型分光光度計において、
フォトダイオードアレイに入射する光量を判定する光量
判定手段と、この光量判定手段の判定結果によってフォ
トダイオードの電荷蓄積時間を自動的に設定する蓄積時
間設定手段とを備え、上記蓄積時間設定手段は電荷蓄積
時間を徐々に長くすることにより、最適な電荷蓄積時間
を設定することを特徴とするマルチチャンネル型分光光
度計。
【0029】(2)光源と、光源からの光が導かれる試
料セルと、試料セルの透過光が導かれる分光器と、分光
器により分光された光が入射するフォトダイオードアレ
イとを備えたマルチチャンネル型分光光度計において、
フォトダイオードアレイに入射する光量を判定する光量
判定手段と、この光量判定手段の判定結果によってフォ
トダイオードの電荷蓄積時間を自動的に設定する蓄積時
間設定手段とを備え、上記蓄積時間設定手段は試料のな
い状態での測定波長範囲内のピーク強度によって蓄積時
間を決定することを特徴とするマルチチャンネル型分光
光度計。
料セルと、試料セルの透過光が導かれる分光器と、分光
器により分光された光が入射するフォトダイオードアレ
イとを備えたマルチチャンネル型分光光度計において、
フォトダイオードアレイに入射する光量を判定する光量
判定手段と、この光量判定手段の判定結果によってフォ
トダイオードの電荷蓄積時間を自動的に設定する蓄積時
間設定手段とを備え、上記蓄積時間設定手段は試料のな
い状態での測定波長範囲内のピーク強度によって蓄積時
間を決定することを特徴とするマルチチャンネル型分光
光度計。
【0030】
【発明の効果】本発明のマルチチャンネル型分光光度計
は上記のように構成されており、光源の経時変化等によ
って光源の波長−強度特性が変化した場合、光量判定手
段によってフォトダイオードアレイに入射する光量を判
定し、蓄積時間設定手段がその光量に応じて蓄積時間を
自動的に設定するので、光源ランプが劣化したり、光学
系の変更、光源ランプの構成の変更を行って光量が減少
した場合にも、常にノイズの影響をできるだけ小さくし
て、高感度で測定することができる。
は上記のように構成されており、光源の経時変化等によ
って光源の波長−強度特性が変化した場合、光量判定手
段によってフォトダイオードアレイに入射する光量を判
定し、蓄積時間設定手段がその光量に応じて蓄積時間を
自動的に設定するので、光源ランプが劣化したり、光学
系の変更、光源ランプの構成の変更を行って光量が減少
した場合にも、常にノイズの影響をできるだけ小さくし
て、高感度で測定することができる。
【0031】また、分光光度計に使用されている重水素
ランプ等の光源ランプは、時間を経るとともに、光量が
減っていくため、保証時間を超えた場合には、ランプを
交換していたが、本発明のマルチチャンネル型分光光度
計では、光源光量の経時変化があっても、それに応じて
電荷蓄積時間を変更することにより、感度低下を補償す
ることができるので、ランプの使用時間を飛躍的に長く
することができる。
ランプ等の光源ランプは、時間を経るとともに、光量が
減っていくため、保証時間を超えた場合には、ランプを
交換していたが、本発明のマルチチャンネル型分光光度
計では、光源光量の経時変化があっても、それに応じて
電荷蓄積時間を変更することにより、感度低下を補償す
ることができるので、ランプの使用時間を飛躍的に長く
することができる。
【図1】本発明のマルチチャンネル型分光光度計の一実
施例を示す図である。
施例を示す図である。
【図2】クロック周期設定のフローチャートを示す図で
ある。
ある。
【図3】クロック周期設定の他の実施例のフローチャー
トを示す図である。
トを示す図である。
【図4】従来のマルチチャンネル型分光光度計を示す図
である。
である。
【図5】フォトダイオードアレイの具体的構成を示す図
である。
である。
【図6】重水素ランプの光量経時変化を示す図である。
【図7】光源の波長−強度特性を示す図である。
【図8】重水素ランプの波長−強度特性の経時変化を示
す図である。
す図である。
【図9】蓄積時間を変えた時の波長−強度特性の変化を
示す図である。
示す図である。
1 光源 2 集光レンズ 3 シャッター 4 試料セル 5 スリット 6 凹面グレーティング 7 フォトダイオードアレイ 8 蓄積時間設定手段 9 信号処理・制御回路 10 メモリ
Claims (1)
- 【請求項1】 光源と、光源からの光が導かれる試料セ
ルと、試料セルの透過光が導かれる分光器と、分光器に
より分光された光が入射するフォトダイオードアレイと
を備えたマルチチャンネル型分光光度計において、フォ
トダイオードアレイに入射する光量を判定する光量判定
手段と、この光量判定手段の判定結果によってフォトダ
イオードの電荷蓄積時間を自動的に設定する蓄積時間設
定手段とを備えることを特徴とするマルチチャンネル型
分光光度計。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30750395A JPH09145478A (ja) | 1995-11-27 | 1995-11-27 | マルチチャンネル型分光光度計 |
DE19649221A DE19649221B4 (de) | 1995-11-27 | 1996-11-27 | Mehrkanal-Spektrophotometer |
US08/949,212 US5920389A (en) | 1995-11-27 | 1997-10-10 | Multi-channel spectro-photometers |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30750395A JPH09145478A (ja) | 1995-11-27 | 1995-11-27 | マルチチャンネル型分光光度計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09145478A true JPH09145478A (ja) | 1997-06-06 |
Family
ID=17969873
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30750395A Pending JPH09145478A (ja) | 1995-11-27 | 1995-11-27 | マルチチャンネル型分光光度計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09145478A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003523510A (ja) * | 2000-02-15 | 2003-08-05 | ベアリアン・オーストラリア・プロプライエタリー・リミテッド | 分光分析のための方法および装置 |
JP2008070274A (ja) * | 2006-09-15 | 2008-03-27 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
JP2009145182A (ja) * | 2007-12-13 | 2009-07-02 | Shimadzu Corp | 分析システム |
WO2012067068A1 (ja) * | 2010-11-19 | 2012-05-24 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分光光度計 |
JP2018508015A (ja) * | 2015-01-23 | 2018-03-22 | リガク ラマン テクノロジーズ インコーポレイテッド | 分光計の非ランダム固定パターンを最小化するシステム及び方法 |
JP2018091639A (ja) * | 2016-11-30 | 2018-06-14 | 株式会社熊平製作所 | 分光分析装置およびそれを備えた液体検査装置 |
-
1995
- 1995-11-27 JP JP30750395A patent/JPH09145478A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2012112663A (ja) * | 2010-11-19 | 2012-06-14 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光光度計 |
CN103221802A (zh) * | 2010-11-19 | 2013-07-24 | 株式会社日立高新技术 | 分光光度计 |
JP2018508015A (ja) * | 2015-01-23 | 2018-03-22 | リガク ラマン テクノロジーズ インコーポレイテッド | 分光計の非ランダム固定パターンを最小化するシステム及び方法 |
JP2018091639A (ja) * | 2016-11-30 | 2018-06-14 | 株式会社熊平製作所 | 分光分析装置およびそれを備えた液体検査装置 |
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