CN102870404A

CN102870404A - 摄像设备及其暗电流校正方法

Info

Publication number: CN102870404A
Application number: CN2011800220129A
Authority: CN
Inventors: 河村典子; 古田善工
Original assignee: Fujifilm Corp
Current assignee: Fujifilm Corp
Priority date: 2010-10-29
Filing date: 2011-10-27
Publication date: 2013-01-09
Anticipated expiration: 2031-10-27
Also published as: CN102870404B; JP5162730B2; US20130021497A1; JPWO2012057277A1; WO2012057277A1; US8462234B2

Abstract

本发明的目的是不管成像元件芯片上的布局或外围电路的驱动方式如何都允许执行高精度的暗电流校正。在本发明中，根据由有效像素区域、OB部分、成像元件驱动电路形成的成像元件的操作模式，例如，根据其中在有效像素区域与OB部分之间产生温度差的驱动电路的操作模式（步骤S1、S2、S5），基于由OB像素检测到的黑电平，通过校正操作处理（步骤S3、S6、S7）来获取有效像素区域内的有效像素的检测到的信号中包含的黑电平（在下文中称为第二黑电平），以便将与驱动电路的驱动方式相对应的第二黑电平视为箝位电平（步骤S4），从有效像素的输出信号的电平中减去该箝位电平。

Description

摄像设备及其暗电流校正方法

技术领域

本发明涉及一种配备固态摄像装置的摄像设备及其校正方法。

背景技术

通过使用固态摄像装置拍摄对象的图像的摄像设备在固态摄像装置的有效像素区域之内的各个像素（光接收元件；光敏二极管）中接收来自对象的入射光，并且输出与来自有效像素区域之内的各个像素的入射光量相对应的摄像图像信号。

即使当像素处于没有接收到光的遮光状态下时，从固态摄像装置的每个像素中也产生由热激发的电子所引起的信号（其被称为暗电流）。因此，暗电流成分包含在从有效像素区域之内的各个像素输出的摄像图像信号中，于是，只有从摄像图像信号中减去暗电流成分，才能获得对象的与接收到的光量相对应的图像数据。

因此，如下面专利文献1至4中所述的，在固态摄像装置的有效像素区域的外围部分中设置有称为光学黑体（OB）部分的遮光像素区域，并且从OB部分的像素中输出与暗电流相对应的信号，以便校正摄像图像信号。

现有技术文件

专利文献

[专利文献1]JP 2000-152098A

[专利文献2]JP 2008-118293A

[专利文献3]JP 2009-033321A

[专利文献4]JP 2010-068056A

发明内容

要解决的问题

在最近的固态摄像装置中，已实现了多像素化，并且通常使用其上安装有至少10兆像素的固态摄像装置。10兆像素表示有效像素区域中的像素数量，从而，当想要确保用于以高精确度检测暗电流的OB区域或者OB区域的像素数量时，需要准备具有更大芯片面积的固态摄像装置，由此增加了成本。因此，不得不缩小OB部分的面积。

此外，由于作为热产生源的外围电路制作在同一芯片上，因此外围电路的热产生量反映到暗电流，使得难以通过外围电路的驱动方式利用缩窄的OB部分中的OB像素的输出信号以高精确度执行暗电流校正。也就是说，暗电流校正的精确程度受到关于作为热产生源的外围电路或驱动电路设置在哪里的决定（即，摄像装置芯片的布局）的影响。

本发明的目的是提供一种摄像设备，其不利用外围电路的驱动方式或摄像装置芯片上的布局就能够以高精确度校正暗电流，以及一种用于该摄像设备的暗电流校正方法。

解决问题的手段

根据本发明的一个实施例，提供了一种摄像设备，其包括：摄像装置，其配备有有效像素区域、光学黑体部分、和所述摄像装置的驱动电路；信号检测单元，其配置成检测所述光学黑体部分的像素的信号和所述有效像素区域的像素的信号；存储单元，其配置成存储校正模式，所述校正模式用于基于由所述信号检测单元事先根据所述摄像装置的驱动电路的操作模式而从所述光学黑体部分的像素中检测到的第一黑电平来获取所述有效像素区域的有效像素的检测到的信号中所包含的第二黑电平；以及箝位单元，其配置成根据所述摄像装置的驱动电路的操作模式，按照从所述存储单元读出的所述校正模式和所述第一黑电平来获取所述第二黑电平，并且从所述有效像素的输出信号的电平中减去作为箝位电平的所述第二黑电平。

根据本发明的另一个实施例，提供了一种用于所述摄像设备的暗电流校正方法，所述摄像设备包括：摄像装置，其配备有有效像素区域、光学黑体部分、和所述摄像装置驱动电路；信号检测单元，其检测所述光学黑体部分的像素的信号和所述有效像素区域的像素的信号；存储单元，其存储校正模式，所述校正模式用于基于由所述信号检测单元事先根据所述摄像装置的驱动电路的操作模式而从所述光学黑体部分的像素中检测到的第一黑电平来获取所述有效像素区域的有效像素的检测到的信号中所包含的第二黑电平。在所述暗电流校正方法中，根据所述摄像装置的驱动电路的操作模式，按照从所述存储单元读出的所述校正模式和所述第一黑电平来获取所述第二黑电平，并且将作为箝位电平的所述第二黑电平从所述有效像素的输出信号的电平中减去。

发明的有益效果

根据本发明，即使根据固态摄像装置的操作模式产生了有效像素与光学黑体部分的像素之间的温度差，并且在有效像素的暗电流与光学黑体部分的暗电流之间产生了暗电流差，也基于暗电流差来校正对所述有效像素的输出信号进行箝位的箝位电平。因此，可以在不破坏图像的情况下获得对象的高质量图像。

附图说明

图1是示出根据本发明的一个示例性实施例的摄像设备的功能框图。

图2是示出图1的CPU所执行的箝位电平确定处理的顺序的流程图。

图3是示出图1所示的固态摄像装置的布局的一个示例的示意图。

图4是示出OB像素的黑电平与有效像素的黑电平彼此相等的情况的示意图。

图5是示出有效像素的黑电平（包括暗电流）小于OB像素的黑电平的情况的示意图。

图6是示出有效像素的黑电平（包括暗电流）大于OB像素的黑电平的情况的示意图。

图7是示出具有图5所示的操作模式的固态摄像装置中的箝位电平确定处理的顺序的流程图。

图8是示出箝位电平确定处理的顺序的流程图，其中通过调整添加像素的数量以及调整具有图5和图6所示的操作模式的固态摄像装置中的增益来确定箝位电平。

图9是通过使用图8中的添加像素的数量的调整来进行校正的说明图。

图10是通过图8中的增益调整来进行校正的说明图。

具体实施方式

在下文中，将参照附图描述本发明的示例性实施例。

图1是示出根据本发明的一个示例性实施例的摄像设备的功能框图。本实施例的数码相机10具有拍摄对象的静止图像或活动图像的功能，以及对数码相机10中的摄像图像信号执行数字处理的功能。数码相机10包括：拍摄透镜20；固态摄像装置21，其布置在将要安装在摄像装置的成像表面中的拍摄透镜20之后；模拟信号处理单元22，其对从固态摄像装置21的各个像素中输出的模拟图像数据执行诸如自动增益调整（AGC）或相关双采样（CDC）之类的模拟信号处理；以及模拟-数字转换（A/D）单元23，其将从模拟信号处理单元22中输出的模拟图像数据转换成数字图像数据。数码相机10进一步包括：驱动控制器24，其根据从系统控制单元（CPU）29发出的指令来控制A/D单元23、模拟信号处理单元22、固态摄像装置21、以及拍摄透镜20的驱动；以及闪光灯25，其根据从CPU 29发出的指令来发出光。

数码相机10还包括：数字信号处理单元26，其获得从A/D单元23输出的数字图像数据以执行内插处理、白平衡校正处理、或RGB-YC转换处理；压缩和扩展单元27，其将所述图像数据压缩成JPEG格式的图像数据并且扩展所压缩的图像数据；显示单元28，其显示菜单、直通图像（through-image）、或摄像图像；系统控制单元（CPU）29，其综合管理并且控制数码相机整体；内部存储器30，例如帧存储器；介质接口（I/F）单元31，其与存储JPEG格式的图像数据的记录介质32接口；总线40，其连接这些构成元件；以及操控单元33，其连接到CPU 29并且用于输入用户的指令。

本实施例的固态摄像装置21是CMOS类型，并且固态摄像装置21的输出信号由模拟信号处理单元（模拟前端（AFE））22处理。AFE部分（包括相关双采样处理电路、箝位电路、执行增益控制的信号放大电路等）通常作为外围电路设置在固态摄像装置芯片上。另外，水平扫描电路、垂直扫描电路、降噪电路、同步信号产生电路等作为外围电路设置在固态摄像装置芯片上的光接收部分的周围，并且图1所示的A/D单元23也可以设置在光接收部分的周围。CPU 29基于如下所述的黑电平确定接近于OB像素探测到的黑电平（第一黑电平）的黑电平（第二黑电平）。箝位电路执行其中从有效像素区域中的像素所探测到的信号中减去作为暗电流成分的第二黑电平的处理（箝位）。

图2是示出其中当CPU 29通过驱动控制器24控制箝位电路时确定箝位电平的箝位电平（黑电平）确定处理的顺序的流程图。

首先，在步骤S1，识别固态摄像装置21的芯片上所形成的外围电路的操作模式。根据由CPU 29发布至驱动控制器24的用于固态摄像装置21的操作指令来确定操作模式。

根据芯片的布局来确定外围电路在固态摄像装置芯片中布置的位置。固态摄像装置中已有的操作模式的种类数量取决于芯片的布局。在此示例中，假设存在三种类型的操作模式Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ而进行描述。

在步骤S1之后的步骤S2，确定操作模式的类型是否为Ⅰ。如果确定操作模式的类型是Ⅰ，则处理前进到步骤S3并且对OB像素的输出电平执行针对操作模式Ⅰ的校正计算处理Ⅰ。然后处理前进到步骤S4并且确定由校正计算处理Ⅰ计算的箝位电平，然后针对操作模式Ⅰ的箝位电平确定处理结束。

如果在步骤S2确定操作模式的类型不是Ⅰ，则在步骤S5确定操作模式的类型是否为Ⅱ。如果确定操作模式是Ⅱ，则处理前进到步骤S6并且对OB像素的输出电平执行针对操作模式Ⅱ的校正计算处理Ⅱ。然后处理前进到步骤S4并且确定由校正计算处理Ⅱ计算的箝位电平，然后针对操作模式Ⅱ的箝位电平确定处理结束。

如果在步骤S5确定操作模式的类型不是Ⅱ，则操作模式的类型被识别为Ⅲ，并且处理前进到步骤S7。在步骤S7，对OB像素的输出电平执行针对操作模式Ⅲ的校正计算处理Ⅲ。然后处理前进到步骤S4并且确定由校正计算处理Ⅲ计算的箝位电平，然后针对操作模式Ⅲ的箝位电平确定处理结束。

如上所述，在本实施例中，基于固态摄像装置21的操作模式来改变对象图像数据的钳位电平（参考黑电平），并且针对每个操作模式执行不同的暗电流校正。

图2中，假设操作模式的类型数量为三种类型。由于根据摄像装置的布局事先确定了将要利用的操作模式，因此可以采用任何数量的操作模式的类型。在下面的描述中，利用具体示例描述本实施例。为了简单化，操作的类型数量设定为两种类型。

图3是示出图1的固态摄像装置21的表面布局的一个示例的示意图。矩形有效像素区域21a设置成从固态摄像装置芯片的中心部分至下部。在传统固态摄像装置中，OB部分设置在有效像素区域的整个外围。然而，在图3示出的布局的示例中，OB部分21b设置成与有效像素区域21a的左部和上部相邻。此外，外围电路（A）21c设置成与OB部分21b的上部相邻，而且外围电路（B）21d设置成直接地与有效像素区域21a的右部相邻。

如在传统固态摄像装置中，如图4所示，当OB部分可以占用大的芯片面积，并且OB部分可以设置在远离作为热产生源的外围电路的区域时，从OB像素检测到的黑电平与暗电流量的之和等于有效像素（即，有效像素区域中的各像素）的黑电平与暗电流量的之和。于是，当将黑电平与暗电流量的之和设定为箝位电平时，可以高精确度地确定参考黑电平。当已确定了该箝位电平时，执行调整使得该箝位电平对应于10比特的1024级灰度的64LSB。

在图3所述的这样的布局中，当以高速驱动外围电路（A）21C 从而热产生量增加时，与外围电路（A）21C相邻的OB像素的温度增加至大于有效像素的温度，从而增大了暗电流。同时，当以高速驱动外围电路（B）21d从而热产生量增加时，与外围电路（B）21d直接相邻的有效像素的温度增加至大于与外围电路（B）21d相隔开的OB像素的温度，从而增大了暗电流。

如上所述，一旦在固态摄像装置中存在长时间曝光或者应用了高增益（其中根据操作模式的类型产生了有效像素区域与OB部分之间的温度差，即暗电流差），就会产生更多的暗电流差。因此，对象的图像质量会严重劣化，除非以高精确度校正暗电流。

图5示出了在OB像素的暗电流大于有效像素的暗电流的情况下的OB像素和有效像素的每一个的黑电平与暗电流量之和。OB像素的输出信号中包含的实际黑电平与实际暗电流量不能分别被检测，但其可以彼此混合地检测为黑电平与暗电流量之和。

当作为包括实际黑电平与实际暗电流量的检测到的黑电平的OB像素的输出电平被箝位电路箝位并且从有效像素的输出信号中减去时，也去除了一部分感光数据（与入射光量相对应的实际成像信号）。在由于外围电路的热产生加上长时间曝光而引起温度进一步增加并且仅由暗电流而导致黑电平变为64LSB或者大于64LSB的情况下，已受到箝位的感光数据变为0LSB或者小于0LSB，从而破坏图像。

因此，在本实施例中，通过使用如下文所述的等式（校正模式）来执行针对OB像素的输出电平的校正计算处理，并且确定箝位电平，在该校正计算处理中获得了有效像素的输出信号变为黑电平与暗电流量之和时的位置（点C的位置）。

上面提到的等式可以通过针对固态摄像装置的每一个驱动方式（操作模式）执行实验或模拟来获得，并且可以事先存储在CPU 29的可重写ROM（未示出）中。点C的位置可以通过使用该等式从OB像素的输出电平中计算得出。校正模式可以存储在摄像装置芯片或摄像装置模块上设置的存储器中。

图6示出了有效像素的暗电流大于OB像素的暗电流的情况。在此情况下，当有效像素的信号箝位至OB像素的输出电平时，该信号被箝位至将暗电流差加到感光数据上的位置处。在由于长时间曝光而温度增加以及暗电流增加的情况下，感光数据的饱和区变小，从而也破坏图像。

因此，如图5的情况所示，在本实施例中，针对OB像素的输出电平，通过使用所述等式来执行校正计算处理，并且确定箝位电平，在该校正计算处理中获得了有效像素的输出信号变为黑电平与暗电流量之和的位置（点D的位置）。

图7是示出用于确定图5和图6的每个情况以及针对该情况执行适当的箝位电平确定的处理顺序的流程图。首先，在步骤S10，识别图3所示的外围电路的操作模式。接着，在步骤S11，确定操作模式的类型是否对应于其中外围电路A的温度大于外围电路B的温度的操作模式。例如，通过根据驱动条件（例如，外围电路A和B是否以高速驱动、是否长时间曝光、以及是否施加高增益）而估计热产生量来确定外围电路A的温度是大于还是小于外围电路B的温度。

当操作模式对应于其中外围电路A的温度大于外围电路B的温度的操作模式时，OB像素的黑电平大于有效像素的黑电平，于是，处理前进到步骤S12并且执行针对图5的情况的校正计算处理。接着，在步骤S13，执行箝位电平确定处理并且完成该箝位电平确定处理。

如果在步骤S11确定操作模式对应于其中外围电路B的温度等于或大于外围电路A的温度的操作模式时，OB像素的黑电平大于有效像素的黑电平，于是，处理从步骤S11前进到步骤S14并且执行针对图6的情况的校正计算处理。接着，在步骤S13，执行箝位电平确定处理并且完成该箝位电平确定处理。

图8是示出根据另一个示例性实施例的箝位电平确定处理的顺序的流程图。在上述的示例中，通过使用事先获得的一个等式来获取针对OB像素的输出电平的图5的点C和图6的点D的位置。然而，与图5和图6的使用事先获得的那些等式的情况相比，在图8的箝位电平确定处理中可以更为容易地获取箝位电平。

例如，在图4的情况下，当添加并输出8个有效像素时，添加8个OB像素的箝位电平的结果变为在添加8个有效像素时的黑电平的箝位电平。同时，在图5的情况下，在添加8个有效像素时的箝位电平变得比在添加8个OB像素的情况时小，于是，例如，可以执行添加7个有效像素或6个有效像素。在图6的情况下，相比于图5的情况，有效像素的添加数量大于OB像素的添加数量。

即，如图9所示，当针对每个操作模式事先确定了设定为参考黑电平的OB像素的添加数量“a”以及有效像素的添加数量“b”时，通过控制添加像素数量可以高精确度地实现暗电流的校正。可以事先通过执行实验或模拟来针对固态摄像装置的每个操作模式获取OB像素与有效像素之间的添加像素数量的关系。在CMOS类型固态摄像装置的情况下，可以任意地且分别地确定OB像素的添加数量和有效像素的添加数量。

当需要对等于或大于单个像素的黑电平与暗电流量之和的暗电流成分进行校正时，可以通过使用添加的像素数量来校正该暗电流成分。然而，当需要对等于或小于单个像素的黑电平与暗电流量之和的暗电流成分进行校正时，不能高精确度地控制使用添加的像素数量所进行的校正。

在此情况下，如图10所示，通过使关于OB像素的输出信号的增益“a”随着关于有效像素的输出信号的增益“b”而改变来执行校正。利用图1的模拟信号处理电路22的自动增益控制（AGC）功能来执行增益的调整。

例如，在图5中，当以增益“1”对有效像素的输出信号执行增益控制时，以增益“0.8”对OB像素的输出信号执行增益控制，从而确定箝位电平。

图8是示出用于基于上述原则确定箝位电平的处理顺序的流程图。在图8的处理顺序中，在步骤S20首先识别外围电路的操作模式。在步骤S21确定该操作模式的类型是否与其中外围电路A的温度大于外围电路B的温度的操作模式相对应。

当该操作模式与图5中的外围电路A的温度大于外围电路B的温度的操作模式相对应时，OB像素的黑电平大于有效像素的黑电平，于是处理前进到步骤S22。当该操作模式与图6中的外围电路B的温度等于或大于外围电路A的温度的操作模式相对应时，OB像素的黑电平小于有效像素的黑电平，于是处理前进到步骤S23。

在步骤S22，确定使得OB像素的添加数量小于有效像素的添加数量的校正计算是否是可能的。如果确定该校正计算是可能的，则处理前进到步骤S24。否则，处理前进到步骤S25。

在步骤S23，确定使得OB像素的添加数量大于有效像素的添加数量的校正计算是否是可能的。如果确定该校正计算是可能的，则处理前进到步骤S24。否则，处理前进到步骤S25。

在步骤S24，由于使用添加像素数量的校正是可能的，因此执行如下校正计算处理：其中改变了OB像素的添加数量和有效像素的添加数量。具体地，在光学黑体部分的像素的温度大于有效像素的温度的操作模式的情况下，调整将要施加到输出信号的增益以使得将要施加到有效像素的增益大于将要施加到OB部分像素的增益。相反，在光学黑体部分的像素的温度小于有效像素的温度的操作模式的情况下，调整将要施加到输出信号的增益以使得将要施加到有效像素的增益小于将要施加到OB部分像素的增益，从而获取第一黑电平。基于获取的第一黑电平获取第二黑电平。接着，在步骤S26确定箝位电平，并且完成箝位电平确定处理。

在步骤S25，由于使用添加像素数量的校正是可能的，因此执行如下校正计算处理：其中改变了将要施加到OB像素和有效像素的增益。接着，在步骤S26执行箝位电平确定处理，并且完成箝位电平确定处理。

如上所述的根据上述实施例的摄像设备包括：摄像装置，其配备了有效像素区域、光学黑体部分、和该摄像装置的驱动电路；信号检测单元，其检测光学黑体部分的像素的信号和有效像素区域的像素的信号；存储单元，其存储校正模式，该校正模式用于基于由信号检测单元事先根据摄像装置的驱动电路的操作模式而从光学黑体部分的像素中检测到的第一黑电平来获取有效像素区域的有效像素的检测到的信号中所包含的第二黑电平。在摄像设备的暗电流校正方法中，根据摄像装置的驱动电路的操作模式按照从存储单元读出的校正模式和第一黑电平来获取第二黑电平，并且将作为箝位电平的第二黑电平从有效像素的输出信号的电平中减去。

此外，在根据实施例的摄像设备和用于摄像设备的暗电流校正方法中，信号检测单元在光学黑体部分和有效像素区域中添加多个像素并且检测光学黑体部分和有效像素区域的像素的各自的信号。在操作模式是光学黑体部分的像素的温度变得高于有效像素的温度的模式的情况下，校正模式将OB部分的添加像素数量调整为小于有效像素的添加像素数量，并且在操作模式是光学黑体部分的像素的温度变得低于有效像素的温度的模式的情况下，校正模式将OB部分的添加像素数量调整为大于有效像素的添加像素数量，结果，获取到第一黑电平。基于所获取的第一黑电平获取第二黑电平。

此外，在根据实施例的摄像设备和用于摄像设备的暗电流校正方法中，信号检测单元执行如下校正计算处理：其中对施加到OB部分和有效像素区域的信号的各自的增益进行改变。在光学黑体部分的像素的温度变得高于有效像素的温度的操作模式的情况下，校正模式调整将要施加到输出信号的增益以使得将要施加到有效像素的增益变得大于将要施加到OB部分像素的增益，并且在光学黑体部分的像素的温度变得低于有效像素的温度的操作模式的情况下，校正模式调整将要施加到输出信号的增益以使得将要施加到有效像素的增益变得小于将要施加到OB部分像素的增益。结果，获取到第一黑电平。基于所获取的第一黑电平获取第二黑电平。

此外，可以通过针对固态摄像装置的每个操作模式执行实验或模拟来获取根据实施例的摄像设备和用于该摄像设备的暗电流校正方法的校正模式，并且将校正模式事先存储在所述存储单元中。

根据上述的实施例，在提供了光接收像素部分和光学黑体部分的固态摄像装置芯片上设置外围电路，以便即使当在光接收像素部分和光学黑体部分之间发生温度差时，也可以基于从光学黑体部分的像素检测到的暗电流量来高精确度地校正光接收像素部分的暗电流量。因此，可以在各种图片拍摄条件（例如，长时间曝光或高增益应用倍数）下获得对象的高质量图像。

工业实用性

根据本发明的暗电流校正方法，即使当由于光接收表面中不均匀温度分布而导致在光学黑体部分和有效像素之间的暗电流成分的量上产生差别时，也可以高精确度地校正暗电流并且可以获得对象的高质量图像。因此，本发明的暗电流校正方法在应用于通用数码相机（例如，数字照相机或数字视频摄像机）、内窥镜摄像机、以及具有内置摄像机的移动电话时非常有用。

本申请基于并且要求2010年10月29日提交的日本专利申请第2011-244824号的优先权，其公开的内容通过引用整体并入本文中。

参考标号说明

10成像装置

21固态摄像装置

21a有效像素

21b OB部分

21c、21d外围电路

22模拟信号处理单元（包括相关双采样电路、箝位电路、增益调整电路）

24驱动控制器

26数字信号处理单元

29系统控制单元（CPU）。

Claims

1.一种摄像设备，包括：

摄像装置，其中形成了有效像素区域、光学黑体部分、和用于所述摄像装置的驱动电路；

信号检测单元，其检测所述光学黑体部分的像素的信号和所述有效像素区域的像素的信号；

存储单元，其事先存储校正模式，所述校正模式用于基于由所述信号检测单元根据所述摄像装置的驱动电路的操作模式而从所述光学黑体部分的像素中检测到的第一黑电平来获取所述有效像素区域的有效像素的检测到的信号中所包含的第二黑电平；以及

箝位单元，其根据所述摄像装置的驱动电路的操作模式和所述第一黑电平，按照从所述存储单元读出的所述校正模式来获取所述第二黑电平，并且从所述有效像素的输出信号的电平中减去作为箝位电平的所述第二黑电平。

2.根据权利要求1所述的摄像设备，其中所述信号检测单元在所述光学黑体部分和所述有效像素区域中添加多个像素并且检测所述光学黑体部分和所述有效像素区域的像素各自的信号，

其中在所述操作模式是所述光学黑体部分的像素的温度变得高于所述有效像素的温度的模式的情况下，所述校正模式将所述光学黑体部分的添加像素数量调整为小于所述有效像素的添加像素数量，并且在所述光学黑体部分的像素的温度变得低于所述有效像素的温度的操作模式的情况下，所述校正模式将所述光学黑体部分的添加像素数量调整为大于所述有效像素的添加像素数量，以便获取所述第一黑电平，并且

其中基于所获取的第一黑电平获取所述第二黑电平。

3.根据权利要求2所述的摄像设备，其中所述信号检测单元执行如下校正计算处理：其中对用于所述光学黑体部分和所述有效像素区域的像素的信号各自的增益进行改变，

其中在所述操作模式是所述光学黑体部分的像素的温度变得高于所述有效像素的温度的模式的情况下，所述校正模式调整将要施加到输出信号的增益以使得将要施加到所述有效像素的增益变得大于将要施加到所述光学黑体部分的像素的增益，并且在所述操作模式是所述光学黑体部分的像素的温度变得低于所述有效像素的温度的操作模式的情况下，所述校正模式调整将要施加到输出信号的增益以使得将要施加到所述有效像素的增益变得小于将要施加到所述光学黑体部分的像素的增益，从而获取所述第一黑电平，并且

其中基于所获取的第一黑电平获取所述第二黑电平。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的摄像设备，其中通过针对固态摄像装置的每个操作模式执行实验或模拟来获取所述校正模式，并且所述校正模式被事先存储在所述存储单元中。

5.一种用于摄像设备的暗电流校正方法，所述摄像设备包括：摄像装置，其中形成了有效像素区域、光学黑体部分、和所述摄像装置的驱动电路；信号检测单元，其检测所述光学黑体部分的像素的信号和所述有效像素区域的像素的信号；存储单元，其存储校正模式，所述校正模式用于基于由所述信号检测单元事先根据所述摄像装置的驱动电路的操作模式而从所述光学黑体部分的像素中检测到的第一黑电平来获取所述有效像素区域的有效像素的检测到的信号中所包含的第二黑电平，

其中根据所述摄像装置的驱动电路的操作模式和所述第一黑电平，按照从所述存储单元读出的所述校正模式来获取所述第二黑电平，并且将作为箝位电平的所述第二黑电平从所述有效像素的输出信号的电平中减去。

6.根据权利5所述的暗电流校正方法，其中所述信号检测单元在所述光学黑体部分和所述有效像素区域的每一个中添加多个像素并且检测所述光学黑体部分和所述有效像素区域的像素各自的信号，

其中在所述操作模式是所述光学黑体部分的像素的温度变得高于所述有效像素的温度的模式的情况下，所述校正模式将所述光学黑体部分的添加像素数量调整为小于所述有效像素的添加像素数量，并且在所述操作模式是所述光学黑体部分的像素的温度变得低于所述有效像素的温度的模式的情况下，所述校正模式将所述光学黑体部分的添加像素数量调整为大于所述有效像素的添加像素数量，以便获取所述第一黑电平，并且

其中基于所获取的第一黑电平获取所述第二黑电平。

7.根据权利要求6所述的暗电流校正方法，其中所述信号检测单元执行如下校正计算处理：其中对用于所述光学黑体部分和所述有效像素区域的像素的信号各自的增益进行改变，

其中在所述操作模式是所述光学黑体部分的像素的温度变得高于所述有效像素的温度的模式的情况下，所述校正模式调整将要施加到输出信号的增益以使得将要施加到所述有效像素的增益变得大于将要施加到所述光学黑体部分的像素的增益，并且在所述操作模式是所述光学黑体部分的像素的温度变得低于所述有效像素的温度的模式的情况下，所述校正模式调整将要施加到输出信号的增益以使得将要施加到所述有效像素的增益变得小于将要施加到所述光学黑体部分的像素的增益，从而获取所述第一黑电平，并且

其中基于所获取的第一黑电平获取所述第二黑电平。

8.根据权利要求5至7中任一项所述的暗电流校正方法，其中通过针对固态摄像装置的每个操作模式执行实验或模拟来获取所述校正模式，并且所述校正模式被事先存储在所述存储单元中。