KR20070021932A - 촬상 장치, 결함 화소 보정 장치 및 방법 - Google Patents

Abstract

복수의 화소의 신호 가산을 수반하는 읽어냄 모드를 선택 가능한 고체 촬상 소자를 이용한 경우에, 결함 화소의 검출 공정의 복잡화나 회로 규모의 증대를 초래하지 않고, 항상 결함 화소의 신호를 적절하게 보정하도록 한다. 결함 화소 정보 보유부(140)는, 전체 화소를 순차적으로 판독하는 통상 모드의 선택 시에 검출된 결함 화소의 위치 정보를 기억한다. 결함 화소 보정부(160)는, 결함 화소 정보 보유부(140)에 기억된 위치 정보에 기초하는 보정 타이밍에서, 고체 촬상 소자에 의한 촬상 화상 신호 중의 대응하는 화소의 신호를 보정한다. 보정 신호 생성부(130)는, 화소 가산 모드의 선택 시에는, 결함 화소 정보 보유부(140)에 기억된 위치 정보를, 화소 가산 모드에서의 고체 촬상 소자에 의한 촬상 화상 신호의 화소 배열과 일치하도록 변환하고, 변환 후의 위치 정보에 기초하여 결함 화소 보정부(160)의 보정 타이밍을 출력한다.

CMOS 센서, AFE 회로, 마이크로 컨트롤러, 불휘발성 메모리, 타이밍 신호, 보정 펄스, 메모리 컨트롤러, 픽셀 CLK

Description

촬상 장치, 결함 화소 보정 장치 및 방법{IMAGE-PICKUP DEVICE, AND DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING DEFECTIVE PIXEL}

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 촬상 장치의 주요부 구성을 도시하는 블록도.

도 2는 결함 화소 처리부의 내부 구성을 도시하는 블록도.

도 3은 촬상 소자의 화소 배열 및 읽어냄 모드의 예를 도시하는 도면.

도 4는 도 3의 각 읽어냄 모드에서의 결함 화소에 대해서 설명하기 위한 도면.

도 5는 도 3의 각 읽어냄 모드에 대응한 보정 신호 생성부에서의 회로 구성예를 도시하는 도면.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

1 : 광학 블록

2 : CMOS 이미지 센서(CMOS 센서)

3 : 아날로그 프론트 엔드(AFE) 회로

4 : 카메라 신호 처리 회로

5 : 마이크로 컨트롤러

6 : 불휘발성 메모리

7 : 입력부

11 : 드라이버

12 : 타이밍 제너레이터(TG)

41 : 결함 화소 처리부

42 : 그 밖의 신호 처리부

110 : 검출·보정 타이밍 생성부

120 : 결함 화소 검출부

130 : 보정 신호 생성부

140 : 결함 화소 정보 보유부

150 : 메모리 컨트롤러

160 : 결함 화소 보정부

[특허 문헌 1] 일본 특개 2003-163842호 공보(단락 번호 [0016]~[0019], 도 3)

본 발명은, 고체 촬상 소자를 이용하여 화상을 촬상하는 촬상 장치, 및 이 촬상 장치에서의 결함 화소 보정 장치, 결함 화소 보정 방법에 관한 것으로, 특히, 복수의 화소의 신호 가산을 수반하는 읽어냄 모드를 선택 가능한 고체 촬상 소자를 이용한 촬상 장치, 및 이 촬상 장치에서의 결함 화소 보정 장치, 결함 화소 보정 방법에 관한 것이다.

일반적으로, 디지털 스틸 카메라나 디지털 비디오 카메라 등에 탑재되는 고체 촬상 소자에서는, 결함이 발생한 화소를 포함하는 경우가 많다. 이러한 결함은, 암전류의 발생이나 포토다이오드의 이상 등의 다양한 원인에 의해 발생하며, 결함이 발생한 화소는 이상 레벨의 신호를 출력한다. 이 때문에, 종래의 촬상 장치에서는, 결함 화소의 출력 신호에 대하여 그 결함의 정도에 따른 보정 처리를 실시하여, 화질의 열화를 방지하고 있었다. 예를 들면, 출하 시 등에 결함 화소의 위치나 결함의 정도를 검출하여, 이들 정보를 메모리에 저장해 두고, 촬영 시에 그들 정보에 기초하여 결함 화소의 신호를 주위의 화소의 신호를 이용하여 보간하였다.

한편, 최근, 촬상 소자의 다화소화가 진행되고 있지만, 소비 전력을 저감하기 위해, 촬상 소자의 구동 주파수를 가능한 한 낮게 하고자 하는 요구가 있다. 또한, 촬상 장치의 부가 기능으로서 통상보다 고속의 화면 레이트로 촬상하고자 하는 요구도 있다. 이러한 요구로부터, 촬상 소자 상의 동색 필터에 대응하는 복수의 화소의 신호를 촬상 소자의 회로 상에서 가산하여 읽어내거나, 혹은 화소를 씨닝하여 읽어낸다고 하는 읽어냄 방법이 시도되고 있다. 또한, 최근 많이 채용되고 있는 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)형 이미지 센서 등의 소위 XY 주사형 이미지 센서는, 구조적으로 이러한 읽어냄 방법을 실현하기 쉽다고 하는 특징이 있다.

여기서, 이러한 촬상 소자 상에서의 화소 가산 혹은 화소 씨닝의 기능을 구비한 촬상 장치에서의 결함 화소 검출·보정에 대해서 고려한다. 결함 화소의 검출 시에, 화소 가산 혹은 화소 씨닝이 행하여진 경우, 검출된 결함 화소의 정보를 이용하여 보정을 행할 때에는, 검출 시와 마찬가지의 화소 가산 혹은 화소 씨닝이 행하여질 필요가 있다. 그러나, 화소 가산이나 화소 씨닝을 행할지의 여부의 절환 기능, 혹은 복수의 읽어냄 패턴에 의한 화소 가산이나 화소 씨닝의 절환 기능을 구비한 촬상 장치에서는, 그 중의 1개의 읽어냄 상태에서만 결함 화소를 검출한 경우에는, 보정 시에 검출 시와 동일한 읽어냄 상태로 되지 않는 상황이 발생한다. 이 상황에서는, 검출 시에 기억한 결함 화소의 어드레스와, 보정 시에서의 촬상 소자 상의 화소의 배열이 대응하지 않게 되어, 적절한 보정을 행할 수 없게 된다.

또한, 관련되는 종래 기술로서, 촬상 소자로부터 상하 반전 혹은 좌우 반전한 화상 신호를 출력하는 기능을 갖는 촬상 장치에서, 결함 화소의 보정 시에, 상하 반전 혹은 좌우 반전의 유무를 판정하고, 그 판정 결과에 따라서, 메모리에 저장된 결함 화소 정보의 어드레스 변환을 행하며, 변환 후의 결함 화소 정보를 이용하여 보정을 행하도록 한 것이 있었다(예를 들면, 특허 문헌 1 참조).

상술한 바와 같이, 촬상 소자로부터의 읽어냄 패턴을 선택 가능한 촬상 장치에서는, 1개의 읽어냄 패턴에 대해서만 결함 화소의 검출을 행한 경우에는, 그 검출 결과를 그대로 사용하여 모든 읽어냄 패턴을 적용한 화상 신호로부터의 결함 화소 보정을 행할 수 없다고 하는 문제가 있었다. 종래의 촬상 장치에서는, 이와 같 이 읽어냄 패턴을 선택하는 기능은 없고, 그 결과, 결함 화소의 검출 시와 보정 시에서 읽어냄 상태가 변화되는 경우는 없었기 때문에, 상기한 문제가 발생하는 경우는 없었다. 그러나, 특히, 촬상 소자의 다화소화나 촬상 소자의 부가 가치를 산출하는 관점에서, 금후는 보다 다양한 화소 가산이나 화소 씨닝을 수반하는 읽어냄 패턴이 탑재될 가능성이 있어, 상기한 문제의 해결이 필수로 된다.

또한, 이 문제를 해결하기 위해, 읽어냄 패턴마다 결함 화소를 검출하여, 그들 검출 결과를 메모리에 기억해 두고, 보정 시에는 그 때 선택되어 있는 읽어냄 패턴에 대응하는 결함 화소의 정보를 이용하도록 하는 것이 생각된다. 그러나, 이 방법에서는, 선택 가능한 읽어냄 패턴의 수만큼 검출 결과의 메모리의 기억 영역을 준비해 두어야만 하여, 회로 규모나 제조 코스트가 증가한다고 하는 문제가 있었다. 또한, 결함 화소의 검출 공정이 복잡화되는 것도 문제로 된다. 예를 들면, 결함 화소의 검출은 제품 출하 시의 공정에서 행하여지는 경우가 많지만, 이 경우, 결함 화소의 검출의 공수가 증가하여 제조 효율이 저하되게 된다.

본 발명은 이러한 점을 감안하여 이루어진 것으로, 고체 촬상 소자에서 복수의 화소의 신호 가산을 수반하는 읽어냄 모드를 선택 가능한 경우에, 결함 화소의 검출 공정의 복잡화나 회로 규모의 증대를 초래하지 않고, 항상 결함 화소의 신호를 적절하게 보정할 수 있도록 한 촬상 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

또한, 본 발명의 다른 목적은, 복수의 화소의 신호 가산을 수반하는 읽어냄 모드를 선택 가능한 고체 촬상 소자를 이용한 경우에, 결함 화소의 검출 공정의 복잡화나 회로 규모의 증대를 초래하지 않고, 항상 결함 화소의 신호를 적절하게 보 정할 수 있도록 한 결함 화소 보정 장치 및 방법을 제공하는 것이다.

본 발명에서는 상기 과제를 해결하기 위해, 화상을 촬상하는 촬상 장치에 있어서, 전체 화소의 신호를 순차적으로 읽어내는 통상 모드와, 동색 필터에 대응하는 복수의 화소의 신호를 가산하여 출력하는 1종류 이상의 화소 가산 모드를 포함하는 복수의 읽어냄 모드를 선택 가능한 고체 촬상 소자와, 상기 통상 모드의 선택 시에 검출된 상기 고체 촬상 소자 상의 결함 화소의 위치 정보를 기억하는 결함 정보 기억 수단과, 상기 결함 정보 기억 수단에 기억된 상기 위치 정보에 기초하여, 상기 고체 촬상 소자에 의한 촬상 화상 신호 중의 대응하는 화소의 신호를 보정하는 신호 보정 수단과, 상기 화소 가산 모드의 선택 시에, 상기 결함 정보 기억 수단에 기억된 상기 위치 정보를, 상기 화소 가산 모드에서의 상기 고체 촬상 소자에 의한 촬상 화상 신호의 화소 배열과 일치하도록 변환하여, 상기 신호 보정 수단에 공급하는 위치 정보 변환 수단을 갖는 것을 특징으로 하는 촬상 장치가 제공된다.

이러한 촬상 장치에서는, 전체 화소의 신호를 순차적으로 읽어내는 통상 모드의 선택 시에 검출된 고체 촬상 소자 상의 결함 화소의 위치 정보만이, 결함 정보 기억 수단에 기억되어, 결함 화소의 신호 보정 시에 신호 보정 수단에 이용된다. 통상 모드의 선택 시에는, 신호 보정 수단은, 결함 정보 기억 수단에 기억된 위치 정보를 그대로 이용하여, 결함 화소를 특정하고, 그 출력 신호를 보정한다. 또한, 화소 가산 모드의 선택 시에는, 결함 정보 기억 수단에 기억된 위치 정보가, 화소 가산 모드에서의 고체 촬상 소자에 의한 촬상 화상 신호의 화소 배열과 일치 하도록 변환되어, 신호 보정 수단에 공급된다. 이에 의해, 신호 보정 수단에서는, 화소 가산 모드에서도 적절한 신호 보정이 실행된다.

<실시예>

이하, 본 발명의 실시예를 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.

도 1은, 본 발명의 실시예에 따른 촬상 장치의 주요부 구성을 도시하는 블록도이다.

도 1에 도시하는 촬상 장치는, 광학 블록(1), CMOS형 이미지 센서(이하, CMOS 센서로 약칭함)(2), 아날로그 프론트 엔드(AFE) 회로(3), 카메라 신호 처리 회로(4), 마이크로 컨트롤러(5), 불휘발성 메모리(6), 및 입력부(7)를 구비한다. 또한, 이 촬상 장치에는 또한, 광학 블록(1) 내의 기구의 동작을 제어하는 드라이버(11), CMOS 센서(2)의 구동을 제어하는 타이밍 제너레이터(TG)(12)가 설치되어 있다.

광학 블록(1)은, 피사체로부터의 광을 CMOS 센서(2)에 집광하기 위한 렌즈, 렌즈를 이동시켜 포커스 맞춤이나 줌잉을 행하기 위한 구동 기구, 셔터 기구, 아이리스 기구 등을 구비하고 있다. 드라이버(11)는, 마이크로 컨트롤러(5)로부터의 제어 신호에 기초하여, 광학 블록(1) 내의 각 기구의 구동을 제어한다.

CMOS 센서(2)는, CMOS 기판 상에, 포토다이오드(포토 게이트), 전송 게이트(셔터 트랜지스터), 스위칭 트랜지스터(어드레스 트랜지스터), 증폭 트랜지스터, 리세트 트랜지스터(리세트 게이트) 등으로 이루어지는 복수의 화소가 2차원 형상으로 배열되어 형성됨과 함께, 수직 주사 회로, 수평 주사 회로, 화상 신호의 출력 회로 등이 형성된 것이다. CMOS 센서(2)는, TG(12)로부터 출력되는 타이밍 신호에 기초하여 구동되며, 피사체로부터의 입사광을 전기 신호로 변환한다. TG(12)는, 마이크로 컨트롤러(5)의 제어 하에서 타이밍 신호를 출력한다.

이 CMOS 센서(2)는, 동색 필터에 대응하는 복수의 화소의 신호를 가산하여 동시에 읽어내는 기능이나, 화소를 씨닝하여 읽어내는 기능을 구비하고 있다. 이러한 기능에 의해, 예를 들면, 화소 신호를 읽어낼 때의 동기 주파수를 높이지 않고, 통상보다 고속의 화면 레이트로 화상 신호를 출력하는 것이 가능하게 된다. 또한, 본 실시예에서는, 화소 가산 및 화소 씨닝을 수반하는 읽어냄 모드(이하, 가산·씨닝 읽어냄 모드로 부름)와, 이들을 수반하지 않는 통상 읽어냄 모드의 각각을, 유저의 설정에 의해 절환하여 실행시키는 것이 가능하게 되어 있다. 또한, 화소 가산이나 화소 씨닝을 수반하는 복수의 읽어냄 모드를 절환 가능하게 되어 있어도 된다. 또한, 이 촬상 소자로서는, 예를 들면 CCD(Charge Coupled Device) 등, CMOS 센서 이외의 것이 이용되어도 된다.

AFE 회로(3)는, 예를 들면 1개의 IC(Integrated Circuit)로서 구성되며, CMOS 센서(2)로부터 출력된 화상 신호에 대하여, CDS(Correlated Double Sampling) 처리에 의해 S/N(Signal/Noise)비를 양호하게 유지하도록 샘플 홀드를 행하고, 또한 AGC(Auto Gain Control) 처리에 의해 이득을 제어하고, A/D 변환을 행하여 디지털 화상 신호를 출력한다. 또한, CDS 처리를 행하는 회로는, CMOS 센서(2)와 동일 기판 상에 형성되어도 된다.

카메라 신호 처리 회로(4)는, 예를 들면 1개의 IC로 구성되며, AFE 회로(3) 로부터의 화상 신호에 대한 AF(Auto Focus), AE(Auto Exposure), 화이트 밸런스 조정, 감마 보정 등의 각종 카메라 신호 처리나 그 제어를 위한 검파·연산 처리, 또는 그들 처리의 일부를 실행한다. 또한, 본 실시예에서는 특히, 결함 화소의 검출 및 보정을 행하는 결함 화소 처리부(41)를 구비하며, 촬영 시에는, 결함 화소 처리부(41)에 의해 결함 화소의 신호가 보정된 화상 신호가, 상기한 AF, AE 등의 처리 블록을 포함하는 후단의 그 밖의 신호 처리부(42)에 입력되도록 되어 있다.

마이크로 컨트롤러(5)는, 예를 들면, CPU(Central Processing Unit), ROM(Read Only Memory), RAM(Random Access Memory) 등으로 구성되며, ROM 등에 기억된 프로그램을 실행함으로써, 이 촬상 장치의 각 부를 통괄적으로 제어한다. 또한, 이 마이크로 컨트롤러(5)에는, 예를 들면 EEPROM(Electrically Erasable Programmable ROM) 등으로 이루어지는 불휘발성 메모리(6)가 접속되어 있다. 본 실시예에서는 특히, 이 불휘발성 메모리(6)에는, 결함 화소 처리부(41)에 의해 검출된 결함 화소의 정보(결함 화소 정보)가 기억된다.

입력부(7)는, 유저의 조작 입력을 접수하는 조작 키, 다이얼, 레버 등을 포함하며, 조작 입력에 따른 제어 신호를 마이크로 컨트롤러(5)에 출력한다. 이 입력부(7)로서는, 전원의 투입/절단이나, 상술한 CMOS 센서(2)에서의 읽어냄 모드 선택을 위한 조작 키 등을 포함한다.

이 촬상 장치에서는, CMOS 센서(2)에 의해 수광되어 광전 변환된 신호가, 순차적으로 AFE 회로(3)에 공급되어, CDS 처리나 AGC 처리가 실시된 후, 디지털 신호로 변환된다. 카메라 신호 처리 회로(4)는, AFE 회로(3)로부터 공급된 디지털 화 상 신호를 화질 보정 처리하고, 최종적으로 휘도 신호(Y)와 색차 신호(C)로 변환하여 출력한다.

카메라 신호 처리 회로(4)로부터 출력된 화상 데이터는, 도시하지 않은 그래픽 I/F에 공급되어 표시용의 화상 신호로 변환되며, 이에 의해 LCD(Liquid Crystal Display) 등의 표시부에 카메라 스루 화상이 표시된다. 또한, 입력부(7)에 대한 유저의 입력 조작 등에 의해 마이크로 컨트롤러(5)에 대하여 화상의 기록이 지시되면, 카메라 신호 처리 회로(4)로부터의 화상 데이터는 도시하지 않은 인코더에 공급되어, 소정의 압축 부호화 처리가 실시되어 도시하지 않은 기록 매체에 기록된다. 정지 화상의 기록 시에는, 카메라 신호 처리 회로(4)로부터는 1프레임분의 화상 데이터가 인코더에 공급되며, 동화상의 기록 시에는, 카메라 신호 처리 회로(4)에서 처리된 화상 데이터가 인코더에 연속적으로 공급된다.

다음으로, 이 촬상 장치에서의 결함 화소 검출 및 보정의 동작에 대해서 설명한다.

이 촬상 장치에서는, CMOS 센서(2)에서의 결함 화소의 검출, 및 결함 화소의 신호 보정이, 카메라 신호 처리 회로(4) 내의 결함 화소 처리부(41)에서 행하여진다. 결함 화소의 검출은, 예를 들면, 공장으로부터의 출하 공정에서 행하여지며, 이 때에 검출된 결함 화소 정보가, 마이크로 컨트롤러(5)를 통해서 불휘발성 메모리(6)에 기억된다. 결함 화소 정보로서는, 결함 화소의 어드레스나, 결함 레벨 등, 결함의 상태를 나타내는 정보가 포함된다. 그리고, 실제의 촬영 시에는, 예를 들면 전원 투입시 등에 불휘발성 메모리(6)로부터 결함 화소 처리부(41)에 대하여 결함 화소 정보가 읽어들여지고, 결함 화소 처리부(41)는, 읽어들인 결함 화소 정보에 기초하여, 결함 화소의 신호를 주위의 동색 필터에 대응하는 신호로 보간하여, 보정한다.

이 실시예에서는, 1개의 읽어냄 모드만을 선택한 상태에서 결함 화소의 검출이 행하여지며, 그 검출 결과가 결함 화소 정보로서 기억된다. 예를 들면, 화소 가산이나 화소 씨닝을 수반하지 않는 통상 읽어냄 모드에서 검출이 행하여진다. 한편, 보정 시에는, 검출 시와 동일한 읽어냄 모드가 선택되어 있으면, 기억된 결함 화소 정보에 기초하여 보정이 행하여지지만, 검출 시와 다른 읽어냄 모드가 선택된 경우에는, 결함 화소의 어드레스가 그 읽어냄 모드에 맞추어 변환되고, 변환 후의 어드레스 정보를 이용하여 보정이 행하여진다. 결함 화소 처리부(41)는, 이러한 어드레스 변환 기능을 구비하고 있다.

도 2는, 결함 화소 처리부(41)의 내부 구성을 도시하는 블록도이다.

결함 화소 처리부(41)는, 도 2에 도시하는 바와 같이, 검출·보정 타이밍 생성부(110), 결함 화소 검출부(120), 보정 신호 생성부(130), 결함 화소 정보 보유부(140), 메모리 컨트롤러(150), 결함 화소 보정부(160)를 구비한다.

검출·보정 타이밍 생성부(110)는, 결함 화소 검출부(120) 및 보정 신호 생성부(130)에 대하여, 결함 화소의 검출 및 보정 시의 동작 타이밍을 나타내는 타이밍 신호를 출력한다. 구체적으로는, AFE 회로(3)로부터 입력되는 화상 신호에 동기한 픽셀 클럭, 수직 동기 신호(VD), 수평 동기 신호(HD)에 기초하여, 검출·보정 동작을 유효로 하는 타이밍을 나타내는 타이밍 신호를 출력함과 함께, 수평·수직 방향의 픽셀수를 나타내는 카운트값을 출력한다.

결함 화소 검출부(120)는, 검출·보정 타이밍 생성부(110)로부터의 타이밍 신호에 기초하여, AFE 회로(3)로부터의 입력 화상 신호로부터 결함 화소를 검출한다. 예를 들면, 흑 결함의 검출 시에는, 입력 화상 신호의 레벨이 소정의 임계값보다 낮은 경우에 결함 화소로 판정하고, 그 때의 검출·보정 타이밍 생성부(110)로부터의 카운트값을 결함 화소의 어드레스(결함 어드레스)로 하여, 결함 화소 정보 보유부(140)에 저장한다. 또한, 백 결함의 검출 시에는, 입력 화상 신호의 레벨이 소정의 임계값보다 높은 경우에 결함 화소로 판정하고, 마찬가지로 결함 어드레스를 결함 화소 정보 보유부(140)에 저장한다. 또한, 결함 화소의 판정 시에, 임계값으로부터의 레벨차를 결함의 정도를 나타내는 정보로서 결함 화소 정보 보유부(140)에 저장해도 된다.

보정 신호 생성부(130)는, 검출·보정 타이밍 생성부(110)로부터의 타이밍 신호에 기초하여, 결함 화소 정보 보유부(140)로부터 결함 어드레스를 읽어들이고, 결함 화소의 보정 타이밍을 나타내는 보정 펄스를 결함 화소 보정부(160)에 대하여 출력한다. 이 보정 신호 생성부(130)는, 검출·보정 타이밍 생성부(110)로부터의 타이밍 신호에 기초하여, 결함 어드레스의 읽어냄을 제어하는 리드 타이밍 신호를 결함 화소 정보 보유부(140)에 대하여 출력하여, 보유되어 있는 결함 어드레스를 작은 순으로 읽어들인다. 그리고, 읽어들인 결함 어드레스와, 검출·보정 타이밍 생성부(110)로부터의 카운트값을 비교하고, 이들이 일치하였을 때에 결함 화소의 보정 타이밍으로 판정하여, 보정 펄스를 출력한다.

또한, 보정 신호 생성부(130)는, 마이크로 컨트롤러(5)로부터 읽어냄 모드를 식별하는 식별 신호를 받아, 가산·씨닝 읽어냄 모드가 선택되어 있는 경우에는, 결함 화소 정보 보유부(140)로부터 읽어들인 결함 어드레스를, 읽어냄 패턴에 따라서 변환하고, 변환 후의 어드레스와 검출·보정 타이밍 생성부(110)로부터의 카운트값을 비교하여, 보정 펄스를 출력한다. 이에 의해, 1개의 읽어냄 모드에서 검출된 결함 어드레스를 이용하여, 다른 읽어냄 모드에서의 촬영 시에도 적절한 결함 화소 보정을 실행할 수 있게 된다.

결함 화소 정보 보유부(140)는, 예를 들면 SRAM(Static RAM) 등의 휘발성 메모리로 이루어진다. 이 결함 화소 정보 보유부(140)는, 결함 화소 검출부(120)에 의해 검출된 결함 화소 정보를 일시적으로 보유하고, 그 후의 전원 절단 시 등에, 보유한 정보를 메모리 컨트롤러(150) 및 마이크로 컨트롤러(5)를 통해서, 불휘발성 메모리(6)에 전송한다. 또한, 촬영 시에는, 불휘발성 메모리(6)에 기억된 결함 화소 정보를 읽어들여, 보정 신호 생성부(130)에 대하여 결함 어드레스를 출력한다.

메모리 컨트롤러(150)는, 결함 화소 정보 보유부(140)에서의 읽어냄·기입 동작을 제어한다. 이 메모리 컨트롤러(150)는, 결함 화소 정보 보유부(140)가 기억하는 결함 화소 정보의 불휘발성 메모리(6)에의 전송, 불휘발성 메모리(6)로부터 결함 화소 정보 보유부(140)에의 결함 화소 정보의 읽어들임, 결함 화소 검출부(120) 및 보정 신호 생성부(130)로부터의 결함 화소 정보 보유부(140)에의 액세스 제어 등의 제어 기능을 구비한다.

결함 화소 보정부(160)는, AFE 회로(3)로부터의 입력 화상 신호를 받아, 보 정 신호 생성부(130)로부터 보정 펄스가 출력되었을 때, 그 때의 화소의 신호를, 그 주위에 존재하는 동색 필터에 대응하는 화소의 신호를 이용하여 보간한 신호로 치환한다. 이 보간 처리에서는, 예를 들면 결함 화소 정보 보유부(140)에 기억된 결함 레벨 등의 정보가 이용되어, 그 정보에 따른 처리가 실행되어도 된다. 이러한 처리에 의해, 입력 화상 신호의 결함 화소의 신호가 보정되어, 후단의 신호 처리 블록(그 밖의 신호 처리부(42))에 출력된다.

이 결함 화소 처리부(41)에서는, 기본적으로, 촬상 장치가 공장으로부터 출하될 때의 공정에서, 결함 화소의 검출이 행하여진다. 이 공정에서는, 통상 읽어냄 모드가 선택되고, 소정의 피사체(전체 흑의 피사체, 전체 백의 피사체 등)를 촬상한 화상 신호가 결함 화소 검출부(120)에 입력되어 결함 화소의 검출이 행하여지며, 검출된 결함 화소 정보가 결함 화소 정보 보유부(140)에 일단 저장된다. 그리고, 검출의 종료 후, 예를 들면 전원 절단시 등에, 결함 화소 정보 보유부(140)에 기억된 결함 화소 정보가, 불휘발성 메모리(6)에 기입된다.

그 후, 유저에 의한 촬영 시에는, 예를 들면 전원 투입시 등에 불휘발성 메모리(6)의 결함 화소 정보가 결함 화소 정보 보유부(140)에 읽어들여지고, 그 결함 화소 정보를 이용하여 보정 신호 생성부(130)로부터 보정 펄스가 출력되어, 결함 화소 보정부(160)에서의 신호 보정이 행하여진다.

또한, 출하 후의 전원 투입시나 촬영 시 등에도, 결함 화소 검출부(120)에 의해 결함 화소의 검출을 행함으로써, 소위 후발 결함을 검출할 수 있도록 해도 된다. 이 경우, 검출한 후발 결함의 정보를 결함 화소 정보 보유부(140)에 또한 등 록하고, 기억 정보를 갱신한다. 혹은, 후발 결함에 대응하는 전용의 기억 수단(예를 들면 플립플롭 회로 등)을 설치해 두고, 예를 들면, 이미 기억되어 있는 어드레스 이외의 결함 화소가 후발 결함으로서 검출되면, 그 기억 수단에 어드레스 정보 등을 일시적으로 보유시키고, 보정 시에 사용하도록 해도 된다.

다음으로, 구체적인 읽어냄 패턴의 예를 들어, 결함 화소의 검출 및 보정의 동작에 대해서 설명한다. 또한, 여기서는, 설명을 알기 쉽게 하기 위해, R, G, B의 각 필터 성분에 대응하는 촬상 소자(CMOS 센서(2))를 구비한 경우의 예를 들어, 그들 중 1개의 촬상 소자로부터의 출력 신호에 대한 결함 검출·보정에 대해서 설명한다. 이 경우, 실제로는, 각 필터 성분에 대응하는 화상 신호에 대해서, 마찬가지의 결함 검출·보정이 실행되게 된다.

도 3은, 촬상 소자의 화소 배열 및 읽어냄 모드의 예를 도시하는 도면이다.

도 3의 (A)에서는, 예로서, 수직 방향으로 6행, 수평 방향으로 9열의 화소로 구성되는 촬상 소자를 도시하고 있다. 이 촬상 소자에서는, 도면에서 왼쪽 상측으로부터 화소의 주사가 개시되어, 왼쪽 상측으로부터 순서대로 수평 방향, 수직 방향으로 각각 0, 1, 2, ……와 같은 어드레스를 부여하고 있다. 여기에서, 수직 방향, 수평 방향의 어드레스가 "0"인 화소를 화소(00), 수직 방향의 어드레스가 "0", 수평 방향의 어드레스가 "1"인 화소를 화소(01)와 같이 부르기로 한다. 통상 읽어냄 모드에서는, 화소(00), 화소(01), 화소(02), …… 화소(08), 화소(10), 화소(11), …… 화소(18), 화소(20), ……과 같이 , 상기 배열의 촬상 소자로부터 모든 화소의 신호가 순차적으로 출력된다.

도 3의 (B)는, 상기 배열의 촬상 소자에서의 가산·씨닝 읽어냄 모드에서의 읽어냄 방법의 예를 도시하고 있다. 이 예에서는, 인접하는 2행×2열의 화소를 가산하여 1개의 화소의 신호로서 출력하고, 그 화소군의 주위의 1행 및 1열의 화소의 신호를 씨닝하고 있다. 예를 들면, 화소(00), 화소(01), 화소(10), 화소(11)의 4화소를 가산하여 화소(00')로서 출력하고, 그 다음으로, 화소(03), 화소(04), 화소(13), 화소(14)의 4화소를 가산하여 화소(01')로서 출력하며, 또한 그 다음으로, 화소 (06), 화소(07), 화소(16), 화소(17)의 4화소를 가산하여 화소(02')로서 출력한다. 또한, 2행째에서는, 화소(10'), 화소(11'), 화소(12')의 순으로 신호가 출력된다. 이러한 읽어냄 패턴에 의해, 출력 화상의 해상도(화소수)는 1/9로 되며, 예를 들면 동일한 화면 레이트로 한 경우에는 촬상 소자로부터의 읽어냄 주파수를 저감할 수 있고, 반대로, 읽어냄 주파수를 동일하게 한 경우에는 화면 레이트를 9배로 할 수 있다.

도 4는, 상기 각 읽어냄 모드에서의 결함 화소에 대해서 설명하기 위한 도면이다.

도 4의 (A)에 도시하는 바와 같이, 통상 읽어냄 모드에서의 검출 동작에 의해, 예를 들면, 화소(01), 화소(34), 화소(58)이 결함 화소로서 검출되고, 이들의 어드레스가 결함 화소 정보로서 기억된 것으로 한다. 여기서, 가산·씨닝 읽어냄 모드에서는, 신호를 가산하는 화소군 중 1개라도 결함 화소로 판정되어 있으면, 가산 후의 화소도 결함 화소로 간주하는 것으로 하면, 도 4의 (B)에 도시하는 바와 같이, 예를 들면, 화소(01)가 결함 화소로 판정되어 있기 때문에, 이 화소(01)을 가산에 이용하는 화소(00')도 결함 화소로 간주한다. 마찬가지로, 화소(11')도 결함 화소로 간주한다. 또한, 화소(58)은, 가산·씨닝 읽어냄 모드에서는 씨닝되므로, 결함 화소로서 나타나지 않는다.

그런데, 촬영 시에 통상 읽어냄 모드가 선택된 경우에는, 이들 결함 어드레스를 그대로 이용하여 결함 화소의 위치를 판정하고, 그 화소의 신호를 보정하면 된다. 그러나, 검출 시와 다른 읽어냄 모드가 선택된 경우에는, 화소 배열이 서로 다른 것으로 되므로, 검출 시의 결함 어드레스를 그대로 이용하여 보정을 행할 수는 없다. 즉, 검출 시의 결함 어드레스를, 선택된 읽어냄 모드에서의 화소 배열에 맞추어 변환할 필요가 있다.

여기서, 통상 읽어냄 모드에서 결함 화소 처리부(41)에 입력되는 화상 신호의 수평 방향, 수직 방향의 어드레스를 각각 Hnorm, Vnorm으로 하고, 가산·씨닝 읽어냄 모드에서의 입력 화상 신호의 수평 방향, 수직 방향의 어드레스를 각각 Hadd, Vadd로 한다. 통상 읽어냄 모드에서의 결함 화소의 수평 방향, 수직 방향의 어드레스를 각각 Hnormx, Vnormx로 하고, 이하의 수학식 1~4를 세운다.

결함 화소 처리부(41)의 보정 신호 생성부(130)는, 가산·씨닝 읽어냄 모드가 선택되었을 때, 결함 화소 정보 보유부(140)로부터 읽어들인 결함 어드레스가, 상기의 수학식 1 또는 수학식 2를 충족시키고, 또한, 수학식 3 또는 수학식 4를 충족시킨 경우에, 보정 펄스를 출력한다. 즉, 이러한 조건에 의해, 결함 어드레스가 가산되는 화소군에 포함되는지의 여부를 판정할 수 있으며, 포함되어 있는 경우에 결함 화소로 판정된다.

예를 들면, 결함 어드레스로서 화소(34)의 어드레스, 즉 (Hnormx, Vnormx)=(4, 3)이 보정 신호 생성부(130)에 읽어들여졌을 때, 가산·씨닝 읽어냄 모드에서의 입력 화상 신호의 어드레스 (Hadd, Vadd)가 (1, 1)로 된 타이밍(즉, 화소(11')이 입력된 타이밍)에서, 상기한 수학식 2와 수학식 3이 동시에 충족되므로, 보정 신호 생성부(130)는 이 화소(11')을 결함 화소로 판정하여 보정 펄스를 출력한다. 이에 의해, 해당 화소의 신호가 결함 화소 보정부(160)에 의해 보정된다.

도 5는, 상기한 각 읽어냄 모드에 대응한 보정 신호 생성부(130)에서의 회로 구성예를 도시하는 도면이다.

도 5에 도시하는 보정 신호 생성부(130)는, 일치 비교 회로(301~303, 311~313), AND 회로(321~323, 331~333, 341, 342), OR 회로(351~353), 인버터 회로(361 및 362), 승산 회로(371 및 372), 가산 회로(381 및 382)에 의해 구성된다.

이 보정 신호 생성부(130)에서, 통상 읽어냄 모드가 선택된 경우에는, 마이크로 컨트롤러(5)로부터의 읽어냄 모드 식별 신호가 L 레벨로 되어, 이 신호를 인버터 회로(361 및 362)를 통해서 각각 수신한 AND 회로(321 및 331)의 동작이 유효로 되며, 또한, AND 회로(322, 323, 332, 333)의 동작이 무효로 된다. 이 때, 결함 화소 정보 보유부(140)로부터 읽어들여진 수평 방향의 결함 어드레스 Hnormx와, 검출·보정 타이밍 생성부(110)로부터의 H 카운트값이, 일치 비교 회로(301)에서 비교된다. 그리고, 이들 값이 일치한 경우에는, AND 회로(321)의 출력이 H 레벨로 된다. 또한, 결함 화소 정보 보유부(140)로부터 읽어들여진 수직 방향의 결함 어드레스 Vnormx와, 검출·보정 타이밍 생성부(110)로부터의 V 카운트값이, 일치 비교 회로(311)에서 비교되고, 이들 값이 일치한 경우에는, AND 회로(331)의 출력이 H 레벨로 된다. 이상의 동작에 의해, 입력 화상 신호와 결함 어드레스가 일치한 경우에는, AND 회로(341)로부터 OR 회로(351)에의 출력이 H 레벨로 되어, OR 회로(351)로부터 보정 펄스가 출력된다.

한편, 가산·씨닝 읽어냄 모드가 선택된 경우에는, 읽어냄 모드 식별 신호가 H 레벨로 되어, AND 회로(321 및 331)의 동작이 무효로 되고, AND 회로(322, 323, 332, 333)의 동작이 유효로 된다. 이 때, 결함 화소 정보 보유부(140)로부터 읽어들여진 수평 방향의 결함 어드레스 Hnormx는, 승산 회로(371)에서 "3"이 승산되고, 승산 후의 값이 일치 비교 회로(302)에 입력된다. 또한, 승산 후의 값에 가산 회 로(381)에 의해 "1"이 가산되고, 가산 후의 값이 일치 비교 회로(303)에 입력된다. 일치 비교 회로(302 및 303)는, 상기 각 입력값과, 검출·보정 타이밍 생성부(110)로부터의 H 카운트값을 비교하고, 이들이 일치한 경우에, AND 회로(322 및 323)에의 출력을 H 레벨로 한다. 즉, 일치 비교 회로(302)로부터 AND 회로(322)에의 라인, 및 일치 비교 회로(303)로부터 AND 회로(323)에의 라인에 의해, 각각 상기의 수학식 1 및 수학식 2의 조건이 판정되어, 어느 하나의 조건을 충족시켰을 때에, OR 회로(352)로부터 AND 회로(342)에의 출력이 H 레벨로 된다.

수직 방향에 대해서도 마찬가지로, 결함 화소 정보 보유부(140)로부터 읽어들여진 수직 방향의 결함 어드레스 Vnormx는, 승산 회로(372)에서 "3"이 승산되고, 승산 후의 값이 일치 비교 회로(312)에 입력된다. 또한, 승산 후의 값에 가산 회로(382)에 의해 "1"이 가산되고, 가산 후의 값이 일치 비교 회로(313)에 입력된다. 일치 비교 회로(312 및 313)는, 상기 각 입력값과, 검출·보정 타이밍 생성부(110)로부터의 V 카운트값을 비교하고, 이들이 일치한 경우에, AND 회로(332 및 333)에의 출력을 H 레벨로 한다. 즉, 일치 비교 회로(312)로부터 AND 회로(332)에의 라인, 및 일치 비교 회로(313)로부터 AND 회로(333)에의 라인에 의해, 각각 상기의 수학식 2 및 수학식 4의 조건이 판정되어, 어느 하나의 조건을 충족시켰을 때에, OR 회로(353)로부터 AND 회로(342)에의 출력이 H 레벨로 된다. 그리고, OR 회로(352 및 353)의 출력이 모두 H 레벨로 되면, AND 회로(342)로부터 OR 회로(351)에의 출력이 H 레벨로 되어, OR 회로(351)로부터 보정 펄스가 출력된다.

이상의 보정 신호 생성부(130)에서는, 결함 화소의 검출 시와 읽어냄 패턴이 다른 가산·씨닝 읽어냄 모드가 선택된 경우에도, 결함 화소 정보 보유부(140)로부터 읽어들인 결함 어드레스를, 선택된 읽어냄 모드에서의 화소 배열에 대응하도록 변환하고 나서, 결함 화소의 신호 보정의 필요 여부를 판정하므로, 항상 적절한 결함 화소의 신호 보정을 행하는 것이 가능하게 된다. 또한, 결함 화소 정보로서는, 1개의 읽어냄 모드(여기서는 통상 읽어냄 모드)에서의 검출 결과만 보유하므로, 그를 위한 기억 영역을 억제할 수 있어, 회로 규모나 제조 코스트의 증대를 방지할 수 있다. 또한, 1개의 읽어냄 모드에서만 결함 화소를 검출하면 되므로, 결함 화소의 검출 공정을 단순화·단축화할 수 있고, 예를 들면 출하 시의 공정에서 결함 화소를 검출하는 경우에는, 그 공정을 효율화하여, 제조 코스트를 억제하는 것이 가능하게 된다.

또한, 상기한 도 5의 회로를 하드웨어로 구성함으로써, 어드레스 변환의 동작을 고속으로 실행시킬 수 있어, 예를 들면 셔터 래그 등, 표시나 기록까지의 동작 지연을 축소할 수 있음과 함께, 촬영 시에서의 마이크로 컨트롤러(5) 등의 처리 부하를 경감할 수 있다.

또한, 상기 각 수학식의 계수나 각 수학식을 이용한 조건은, 읽어냄 시의 가산이나 씨닝의 사양에 따라서 결정된다. 예를 들면, 가산·씨닝 모드에서, 수평 방향으로 x개, 수직 방향으로 y개(단, x, y는 1 이상의 정수)의 동색 필터에 대응하는 인접 화소의 신호를 가산하여 출력하고, 또한, 가산되는 x×y 화소의 화소군에 대하여 수평 방향·수직 방향으로 각각 인접하는 m열, n행(단, m, n은 0 이상의 정수)의 화소의 신호를 씨닝하도록 한 경우를 생각한다. 이 경우, 수학식 1~수학 식 4의 우변 제1항에서 Hadd 및 Vadd에 승산하는 계수는, 각각 (x+m) (y+n)으로 된다. 또한, 우변 제2항에서는, 가산되는 화소군에 포함되는 열 및 행의 수(즉 x, y)만큼, 각각 서로 다른 수를 가산한 조건식을 세울 필요가 있다. 예를 들면 수평 방향 성분에 대해서는, 우변 제1항의 "Hadd×(x+m)"의 각각에 대해서, "+0"(수학식 1에 대응) "+1" "+2" …… "+(x-1)"과 같은 가산을 행한 x개분의 조건식을 세울 필요가 있다. 마찬가지로 수직 성분에 대해서는, 우변 제1항의 "Vadd×(y+n)"의 각각에 대해서, "+0"(수학식 3에 대응) "+1" "+2" …… "+(y-1)"과 같은 가산을 행한 ｙ개분의 조건식을 세울 필요가 있다. 그리고, x개 중의 어느 하나의 조건식이 충족되며, 또한, y개 중의 어느 하나의 조건식이 충족된 경우에, 결함 화소의 보정 타이밍인 것으로 판정한다.

이상의 예와 같이, 통상적으로, 화소의 가산이나 씨닝은 규칙성을 갖고 실행되므로, 상기 각 수학식과 같은 비교적 간단한 조건식을 이용하여, 어드레스의 변환을 행할 수 있다. 따라서, 어드레스 변환 기능은, 도 5의 회로와 같이, 가산, 승산, 일치 비교, 인버터 회로, 각종 논리 회로 등으로 이루어지는 비교적 단순한 회로로 구성할 수 있다. 또한, 상기한 x개분 및 y개분의 각각의 조건식에 대응하는 회로의 라인을 모우 형성해 두고, 후단의 AND 회로 등에서, 선택 가능한 읽어냄 패턴에 따라서 필요한 라인만 선택하도록 구성해 둠으로써, 다양한 읽어냄 패턴에 대한 범용성을 회로에 갖게 할 수도 있다.

또한, 본 발명은, 디지털 비디오 카메라, 디지털 스틸 카메라 등의 고체 촬상 소자를 이용한 촬상 장치, 및 이러한 촬상 기능을 구비하는 휴대 전화기나 PDA(Personal Digital Assistants) 등의 기기에 대하여 적용할 수 있다. 또한, PC(퍼스널 컴퓨터) 등에 접속되는 영상 전화용 혹은 게임 소프트용 등의 소형 카메라에 의한 촬상 신호에 대한 처리 장치나 기록 장치에도, 본 발명을 적용 할 수 있다.

또한, 상기한 결함 화소 검출·보정의 처리 기능은, 컴퓨터에 의해 실현할 수 있다. 그 경우, 이 장치가 가질 기능(결함 화소 처리부(41) 또는 그 일부 등에 대응하는 기능)의 처리 내용을 기술한 프로그램이 제공된다. 그리고, 그 프로그램을 컴퓨터에서 실행함으로써, 상기 처리 기능이 컴퓨터 상에서 실현된다. 처리 내용을 기술한 프로그램은, 컴퓨터에서 판독 가능한 기록 매체에 기록해 둘 수 있다. 컴퓨터에서 판독 가능한 기록 매체로서는, 자기 기록 장치, 광 디스크, 광 자기 디스크, 반도체 메모리 등이 있다.

프로그램을 유통시키는 경우에는, 예를 들면, 그 프로그램이 기록된 광 디스크나 반도체 메모리 등의 가반형 기록 매체가 판매된다. 또한, 프로그램을 서버 컴퓨터의 기억 장치에 저장해 두고, 네트워크를 통하여, 서버 컴퓨터로부터 다른 컴퓨터에 그 프로그램을 전송할 수도 있다.

프로그램을 실행하는 컴퓨터는, 예를 들면, 가반형 기록 매체에 기록된 프로그램 또는 서버 컴퓨터로부터 전송된 프로그램을, 자기의 기억 장치에 저장한다. 그리고, 컴퓨터는, 자기의 기억 장치로부터 프로그램을 판독하여, 프로그램에 따른 처리를 실행한다. 또한, 컴퓨터는, 가반형 기록 매체로부터 직접 프로그램을 판독하여, 그 프로그램에 따른 처리를 실행할 수도 있다. 또한, 컴퓨터는, 서버 컴퓨 터로부터 프로그램이 전송될 때마다, 축차, 수취한 프로그램에 따른 처리를 실행할 수도 있다.

본 발명의 촬상 장치에 따르면, 화소 가산 모드의 선택 시에는, 통상 모드의 선택 시에 검출되어 기억된 위치 정보가, 화소 가산 모드에서의 고체 촬상 소자에 의한 촬상 화상 신호의 화소 배열과 일치하도록 변환되어, 신호 보정 수단에 공급되므로, 통상 모드의 선택 시뿐만 아니라, 화소 가산 모드의 선택 시에서도 적절한 신호 보정을 실행할 수 있게 된다. 또한, 결함 화소의 검출을 통상 모드에서만 행함으로써, 그 검출 공정을 단순화할 수 있음과 함께, 검출에 의해 얻어진 결함 정보를 기억하는 메모리 용량을 적게 할 수 있어, 회로 규모를 삭감할 수 있다.

Claims (9)

1. 화상을 촬상하는 촬상 장치에 있어서,

   전체 화소의 신호를 순차 읽어내는 통상 모드와, 동색 필터에 대응하는 복수의 화소의 신호를 가산하여 출력하는 1종류 이상의 화소 가산 모드를 포함하는 복수의 읽어냄 모드를 선택 가능한 고체 촬상 소자와,

   상기 통상 모드의 선택 시에 검출된 상기 고체 촬상 소자 상의 결함 화소의 위치 정보를 기억하는 결함 정보 기억 수단과,

   상기 결함 정보 기억 수단에 기억된 상기 위치 정보에 기초하여, 상기 고체 촬상 소자에 의한 촬상 화상 신호 중의 대응하는 화소의 신호를 보정하는 신호 보정 수단과,

   상기 화소 가산 모드의 선택 시에, 상기 결함 정보 기억 수단에 기억된 상기 위치 정보를, 상기 화소 가산 모드에서의 상기 고체 촬상 소자에 의한 촬상 화상 신호의 화소 배열에 일치하도록 변환하여, 상기 신호 보정 수단에 공급하는 위치 정보 변환 수단

   을 갖는 것을 특징으로 하는 촬상 장치.
2. 제1항에 있어서,

   상기 위치 정보 변환 수단은, 상기 통상 모드에서의 촬상 화상 신호의 화소 배열에서의 상기 위치 정보에 기초하는 결함 화소가, 상기 화소 가산 모드의 선택 시에 가산에 의해 1개의 화소로서 읽어내어지는 상기 고체 촬상 소자 상의 화소군에 1개라도 포함되는 경우에, 해당 화소군에 대응하는 상기 화소 가산 모드에서의 촬상 화상 신호 상의 화소 위치를 변환 후의 상기 위치 정보로서 상기 신호 보정 수단에 공급하는 것을 특징으로 하는 촬상 장치.
3. 제1항에 있어서,

   상기 고체 촬상 소자는, 상기 화소 가산 모드에서, 수평 방향으로 x개, 수직 방향으로 y개(단, x, y는 1 이상의 정수)의 동색 필터에 대응하는 인접 화소의 신호를 가산하여 출력하고,

   상기 위치 정보 변환 수단은,

   상기 위치 정보의 수평 방향 성분 및 수직 방향 성분에 대하여 각각 x, y를 승산하는 복수의 승산 수단과,

   수평 방향에 대응하는 상기 승산 수단의 출력값에 대하여 1~(x-1)까지의 정수를 각각 가산하고, 수직 방향에 대응하는 상기 승산 수단의 출력값에 대하여 1~(y-1)까지의 정수를 각각 가산하는 복수의 가산 수단과,

   수평 방향 성분에 대응하는 상기 승산 수단 또는 어느 하나의 상기 가산 수단의 출력값이, 상기 화소 가산 모드에서의 촬상 화상 신호의 수평 방향 어드레스와 일치하며, 또한, 수직 방향 성분에 대응하는 상기 승산 수단 또는 어느 하나의 상기 가산 수단의 출력값이, 상기 화소 가산 모드에서의 촬상 화상 신호의 수직 방향 어드레스와 일치했을 때, 해당 수평 방향 어드레스 및 수직 방향 어드레스를 변 환 후의 상기 위치 정보로서 상기 신호 보정 수단에 공급하는 논리 연산 수단

   을 갖는 것을 특징으로 하는 촬상 장치.
4. 제1항에 있어서,

   상기 고체 촬상 소자는, 상기 화소 가산 모드로서, 동색 필터에 대응하는 복수의 인접 화소의 신호를 가산하여 읽어내며, 또한, 가산되는 화소군에 인접하는 일정수의 행 또는 열 또는 그 쌍방의 화소의 신호를 씨닝하는 가산·씨닝 모드를 선택 가능하게 되고,

   상기 위치 정보 변환 수단은, 상기 통상 모드에서의 촬상 화상 신호의 화소 배열에서의 상기 위치 정보에 기초하는 결함 화소가, 상기 가산·씨닝 모드의 선택 시에 상기 화소군에 1개라도 포함되는 경우에, 해당 화소군에 대응하는 상기 가산·씨닝 모드에서의 촬상 화상 신호 상의 화소 위치를 변환 후의 상기 위치 정보로서 상기 신호 보정 수단에 공급하는 것을 특징으로 하는 촬상 장치.
5. 제1항에 있어서,

   상기 고체 촬상 소자는, 상기 화소 가산 모드로서, 수평 방향으로 x개, 수직 방향으로 y개(단, x, y는 1이상의 정수)의 동색 필터에 대응하는 인접 화소의 신호를 가산하여 출력하며, 또한, 가산되는 화소군에 대하여 수평 방향·수직 방향으로 각각 인접하는 m열, n행(단, m, n은 0 이상의 정수)의 화소의 신호를 씨닝하는 가산·씨닝 모드를 선택 가능하게 되고,

   상기 위치 정보 변환 수단은,

   상기 위치 정보의 수평 방향 성분 및 수직 방향 성분에 대하여 각각 (x+m), (y＋n)을 승산하는 복수의 승산 수단과,

   수평 방향에 대응하는 상기 승산 수단의 출력값에 대하여 1~(x-1)까지의 정수를 각각 가산하고, 수직 방향에 대응하는 상기 승산 수단의 출력값에 대하여 1~(y-1)까지의 정수를 각각 가산하는 복수의 가산 수단과,

   수평 방향 성분에 대응하는 상기 승산 수단 또는 어느 하나의 상기 가산 수단의 출력값이, 상기 가산·씨닝 모드에서의 촬상 화상 신호의 수평 방향 어드레스와 일치하며, 또한, 수직 방향 성분에 대응하는 상기 승산 수단 또는 어느 하나의 상기 가산 수단의 출력값이, 상기 가산·씨닝 모드에서의 촬상 화상 신호의 수직 방향 어드레스와 일치했을 때, 해당 수평 방향 어드레스 및 수직 방향 어드레스를 변환 후의 상기 위치 정보로서 상기 신호 보정 수단에 공급하는 논리 연산 수단

   을 갖는 것을 특징으로 하는 촬상 장치.
6. 제1항에 있어서,

   상기 통상 모드의 선택 시에, 상기 고체 촬상 소자에 의한 촬상 화상 신호로부터 결함 화소를 검출하여, 해당 결함 화소의 상기 위치 정보를 상기 결함 정보 기억 수단에 저장하는 결함 화소 검출 수단을 더 갖는 것을 특징으로 하는 촬상 장치.
7. 제1항에 있어서,

   유저에 의한 상기 읽어냄 모드의 선택 조작을 접수하는 선택 입력 수단을 더 갖는 것을 특징으로 하는 촬상 장치.
8. 전체 화소의 신호를 순차적으로 읽어내는 통상 모드와, 동색 필터에 대응하는 복수의 화소의 신호를 가산하여 출력하는 1종류 이상의 화소 가산 모드를 포함하는 복수의 읽어냄 모드를 선택 가능한 고체 촬상 소자에 의해 촬상된 화상 신호의 입력을 받아, 상기 고체 촬상 소자 상의 결함 화소의 출력 신호를 보정하는 결함 화소 보정 장치로서,

   상기 통상 모드의 선택 시에 검출된 상기 고체 촬상 소자 상의 결함 화소의 위치 정보를 기억하는 결함 정보 기억 수단과,

   상기 결함 정보 기억 수단에 기억된 상기 위치 정보에 기초하여, 상기 고체 촬상 소자에 의한 촬상 화상 신호 중의 대응하는 화소의 신호를 보정하는 신호 보정 수단과,

   상기 화소 가산 모드의 선택 시에, 상기 결함 정보 기억 수단에 기억된 상기 위치 정보를, 상기 화소 가산 모드에서의 상기 고체 촬상 소자에 의한 촬상 화상 신호의 화소 배열과 일치하도록 변환하여, 상기 신호 보정 수단에 공급하는 위치 정보 변환 수단

   을 갖는 것을 특징으로 하는 결함 화소 보정 장치.
9. 전체 화소의 신호를 순차적으로 읽어내는 통상 모드와, 동색 필터에 대응하는 복수의 화소의 신호를 가산하여 출력하는 1종류 이상의 화소 가산 모드를 포함하는 복수의 읽어냄 모드를 선택 가능한 고체 촬상 소자에 의해 촬상된 화상 신호의 입력을 받아, 상기 고체 촬상 소자 상의 결함 화소의 출력 신호를 보정하기 위한 결함 화소 보정 방법으로서,

   결함 정보 기억 수단이, 상기 통상 모드의 선택 시에 검출된 상기 고체 촬상 소자 상의 결함 화소의 위치 정보를 기억하는 스텝과,

   신호 보정 수단이, 상기 결함 정보 기억 수단에 기억된 상기 위치 정보에 기초하여, 상기 고체 촬상 소자에 의한 촬상 화상 신호 중의 대응하는 화소의 신호를 보정하는 스텝과,

   위치 정보 변환 수단이, 상기 화소 가산 모드의 선택 시에, 상기 결함 정보 기억 수단에 기억된 상기 위치 정보를, 상기 화소 가산 모드에서의 상기 고체 촬상 소자에 의한 촬상 화상 신호의 화소 배열과 일치하도록 변환하여, 상기 신호 보정 수단에 공급하는 스텝

   을 포함하는 것을 특징으로 하는 결함 화소 보정 방법.

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