CN102736341A - 一种液晶显示面板及其修复方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种液晶显示面板及其修复方法，该液晶显示面板包括多根数据线以及多个子像素区域，每个子像素区域包括对应的像素电极以及薄膜晶体管，其中，点缺陷所在的子像素区域和与其相邻的正常显示的子像素区域电连接，且点缺陷所在的子像素区域和正常显示的子像素区域用于同一颜色的显示；点缺陷对应的薄膜晶体管和与其对应的数据线以及像素电极之间的连接均断开。通过以上方式，本发明能够使亮点变为好点，提高了液晶显示面板的显示品质，并且可适用于对无需存储电容的电极设计的液晶显示面板进行修复。

Description

一种液晶显示面板及其修复方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种液晶显示面板及其修复方法。
背景技术
目前，由于TFT(Thin Film Transistor，薄膜场效应晶体管)的制程缺陷会导致个别的TFT的内部电特性出现异常，从而导致液晶显示面板出现亮点等点缺陷的现象，影响显示品质。
对液晶显示面板而言，亮点是一种非常难解决的点缺陷，目前主要的解决方案是采用修复的方法将亮点变成暗点。其中，以垂直配向（Vertical Alignment，VA）型显示面板为例，主要是将出现亮点的子像素区域对应的像素电极和存储电容的公共电极进行短路，使得出现亮点的子像素区域中施加在液晶两端的电压差为零，由此使得液晶在无电场的情况下不发生扭转，保持正常的不透光的“黑色”的状态。
然而，现有的上述修复方法只可将亮点修复为暗点，无法彻底修复亮点缺陷；并且，对于电极结构的设计较为特殊的面板，例如无需存储电容的电极设计的显示面板，现有的修复方法并不适用。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种液晶显示面板及其修复方法，能够把液晶显示面板中的亮点修复为好点，提高显示品质，并且可适用于无需存储电容的电极设计的液晶显示面板。
为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种液晶显示面板，其包括：多根数据线、与数据线相交的扫描线以及由两相邻扫描线和两相邻数据线所限定的多个子像素区域，每个子像素区域包括对应的像素电极以及与像素电极电连接的薄膜晶体管，薄膜晶体管的栅极连接一根扫描线，源极连接一根数据线，漏极连接对应的像素电极，其中，点缺陷所在的子像素区域和与其相邻的正常显示的子像素区域电连接，且点缺陷所在的子像素区域和正常显示的子像素区域用于同一颜色的显示；点缺陷所在的子像素区域中的薄膜晶体管和与其对应的数据线以及像素电极之间的连接均断开。
其中，点缺陷所在的子像素区域和正常显示的子像素区域对应的两个像素电极之间通过金属条电连接。
其中，金属条的材质为钨。
其中，每相邻三个分别用于显示红色、绿色或蓝色的子像素区域形成一像素区域，且在每一像素区域中，三个子像素区域对应的三个薄膜晶体管的栅极分别连接三条不同的扫描线，且三个薄膜晶体管的源极连接于同一条数据线。
为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种液晶显示面板的修复方法，其包括以下步骤：检测面板以确定存在点缺陷的子像素区域；电连接点缺陷所在的子像素区域和与其相邻的正常显示的子像素区域，其中，正常显示的子像素区域和点缺陷所在的子像素区域用于同一颜色的显示；断开出现点缺陷的子像素区域中的薄膜晶体管和与其对应的数据线以及像素电极之间的连接。
其中，通过Array测试机台检出点缺陷，上传点缺陷所在的子像素区域的坐标，并将面板传送至激光化学气相沉积机台。
其中，激光化学气相沉积机台利用坐标对点缺陷进行修补，在点缺陷所在的子像素区域和与其相邻的正常显示的子像素区之间镀金属条，以电连接点缺陷所在的子像素区域和与其相邻的正常显示的子像素区。
其中，金属条的材质为钨。
其中，修补方法进一步包括：完成修补后再次进行测试，如果面板中仍存在点缺陷，则重复上述修补步骤。
其中，通过激光切割断开出现点缺陷的子像素区域中的薄膜晶体管的源极和与其对应的数据线之间的连接以及薄膜晶体管的漏极和与其对应的像素电极之间的连接。
本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明设置液晶显示面板中点缺陷所在的子像素区域和与其相邻的正常显示的并且同一颜色显示的子像素区域电连接，并且该点缺陷所在的子像素区域中的薄膜晶体管和与其对应的数据线以及像素电极之间的连接均断开，本发明更提供了相应的液晶显示面板的修复方法，通过上述的液晶显示面板及其修复方法，使得当出现点缺陷时，该点缺陷所在的子像素区域中的薄膜晶体管无效，通过相邻的用于同一颜色显示且处于正常显示状态的子像素区域所对应的数据线提供所需电压，以此实现正常显示，由此能够使得亮点变成好点，提高液晶显示面板的显示品质，并且本发明的修复方法中，不需借助存储电容的公共电极来实现亮点的修复，因此可适用于对无需存储电容的电极设计的液晶显示面板进行修复。
附图说明
图1是本发明一种液晶显示面板的第一实施例的局部结构示意图；
图2是本发明一种液晶显示面板的第二实施例的局部结构示意图；
图3是本发明一种液晶显示面板的第三实施例的局部结构示意图；
图4是本发明一种液晶显示面板的修复方法的实施例的流程图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细说明。
请参考图1，图1是本发明一种液晶显示面板的第一实施例的局部结构示意图，如图1所示，本发明的液晶显示面板100包括多条数据线，如图1中的S1、S2、S3以及S4，与多条数据线相交的多条扫描线，如图1所示的G1、G2以及G3，以及多个子像素区域，如图1所示的101-106。
本实施例中，两相邻数据线与两相邻扫描线限定一个子像素区域，例如数据线S1、S2分别与扫描线G1、G2相交所围成的子像素区域101。
由于每个子像素区域的结构都相同，因此下文仅举例说明子像素区域104的结构。
具体地，子像素区域104包括像素电极P14以及薄膜晶体管T4。其中，薄膜晶体管T4的栅极连接扫描线G2，源极连接数据线S1、漏极连接像素电极P14并且像素电极P14连接存储电容C4。因此，扫描线G2为薄膜晶体管T4提供扫描电压，以使得薄膜晶体管T4导通，数据线S1为薄膜晶体管T4提供数据电压，使得薄膜晶体管T4中的像素电极P14显示相应于该数据电压的灰阶，存储电容C4在薄膜晶体管T4关闭期间存储像素电极P14的显示电压。
其中，每相邻的三个分别用于显示红色、绿色或蓝色的子像素区域形成一像素区域，具体地：
在本实施例中，沿着扫描线G1、G2以及G3的延伸方向水平间隔设置的三个子像素区域101、子像素区域102以及子像素区域103形成一像素区域10。其中，子像素区域101用于显示红色（R）、子像素区域102用于显示绿色（G）以及子像素区域103用于显示蓝色（B），并且，子像素区域101对应的薄膜晶体管T1的源极连接数据线S1，子像素区域102对应的薄膜晶体管T2的源极连接数据线S2，子像素区域103对应的薄膜晶体管T3的源极连接数据线S3。且薄膜晶体管T1、T2以及T3的栅极都连接于扫描线G1。
同理，子像素区域104、105以及106也形成另一像素区域（未标示），其内部结构与像素区域10的相同，在此不再赘述。
本实施例中，当子像素区域中的薄膜晶体管内部的电特性异常时会导致液晶显示面板100出现亮点或者暗点等点缺陷，特别是亮点缺陷对液晶显示面板100的显示效果影响很大，因此需要对液晶显示面板100的结构进行调整，以使得亮点缺陷变为好点。具体调整为：
点缺陷所在的子像素区域和与其相邻的用于同一颜色的显示且处于正常显示状态的子像素区域电连接，同时断开点缺陷所在的子像素区域中的薄膜晶体管和与其对应的数据线以及像素电极之间的连接。
例如图1中点缺陷所在的子像素区域为子像素区域101。则子像素区域101和与其相邻的正常显示的子像素区域104电连接，且子像素区域101和子像素区域104用于同一颜色R的显示。其中，子像素区域101中的薄膜晶体管T1和数据线S1之间的连接断开，并且薄膜晶体管T1和像素电极P11之间的连接也断开。
本实施例中，子像素区域101和子像素区域104电连接具体为像素电极P11和像素电极P14之间通过金属条E1电连接，并且金属条E1的材质优选为钨；同时，沿着如图1所示的箭头方向断开薄膜晶体管T1的源极与数据线S1之间的连接以及薄膜晶体管T1的漏极与像素电极P11之间的连接。
承前所述，当出现点缺陷时，使得点缺陷所在的子像素区域中的薄膜晶体管无效，且避免出现薄膜晶体管的栅极与漏极短路的情况时，栅极的电压直接影响漏极连接的像素电极的电压，因此在断开点缺陷所在的子像素区域对应的数据线和薄膜晶体管之间的连接时，同时也断开该薄膜晶体管的漏极与对应的像素电极之间的连接，以此通过相邻的用于同一颜色显示且处于正常显示状态的子像素区域所对应的数据线为点缺陷所在的子像素区域提供所需的数据电压，由此实现点缺陷所在的子像素区域101的正常显示，将亮点缺陷修复为可正常显示的好点。
图2是本发明一种液晶显示面板第二实施例的局部结构示意图。图2所示的液晶显示面板200与图1所示的实施例中的液晶显示面板100的主要不同之处在于，图2所示的液晶显示面板200省去了存储电容的结构。具体而言，请参阅图2所示，液晶显示面板200中分别用于显示红色（R）、绿色（G）以及蓝色（B）的子像素区域201、202以及203沿着数据线S 1的方向间隔排列以形成一像素区域20。其中，子像素区域201中的薄膜晶体管T21的栅极连接扫描线G1，子像素区域202中的薄膜晶体管T22的栅极连接扫描线G2，子像素区域203中的薄膜晶体管T23的栅极连接扫描线G3，薄膜晶体管T21、T22以及T23的源极均连接数据线S1。
采用像素区域20的结构可减少数据芯片的数量，以1366*768分辨率的液晶显示面板为例，与图1中所示的结构相比，本实施例中的液晶显示面板200的扫描线增加，将变为768*RGB=2304根，但相应的数据线则减少为三分之一，因此可以减少成本较高的数据芯片的数量，从而降低了成本。同时，为了加快扫描的速度，液晶显示面板200省去了图1所示的实施例中的存储电容，以避免存储电容对充电时间的影响，因此达到更好的充电效果；另外，无存储电容的电极设计可以使得液晶显示面板200获得更大的开口率，提高显示的品质。
类似的，以子像素区域201为点缺陷所在子像素区域为例进行说明，当存在点缺陷时，同时断开子像素区域201对应的数据线S1和薄膜晶体管T21之间的连接以及像素电极P21和薄膜晶体管T21之间的连接，电连接子像素区域201与相邻的用于同一颜色显示且处于正常显示状态的子像素区域204，通过正常显示的子像素区域204所对应的数据线S2为子像素区域201提供所需的数据电压，以此实现子像素区域201的正常显示，将亮点缺陷修复为可正常显示的好点。
进一步的，当图1与图2所示的液晶显示面板中相邻点缺陷所在的子像素区域的至少一个同色显示的子像素区域也存在点缺陷时，则最旁边的两个点缺陷所在的子像素区域分别连接其相邻的正常显示且用于同一颜色显示的子像素区域。如图3所示：
图3是本发明液晶显示面板第三实施例的局部结构示意图。图3中的相邻的两个用于同一颜色显示的两个子像素区域302和子像素区域303都存在点缺陷，此时，子像素区域302中的像素电极P32与相邻的正常显示且用于同一颜色显示的子像素区域301中的像素电极P31通过金属条E1连接，并且子像素区域303中的像素电极P33与相邻的正常显示且用于同一颜色显示的子像素区域304的像素电极P34之间也通过金属条E2连接。
其中，金属条E1和金属条E2的材质均优选为钨。
在本实施例中，如果子像素区域304也存在点缺陷，则子像素区域304按照上述的方法继续连接其相邻的正常显示且用于同一颜色显示的子像素区域305，在此不再赘述。
请参考图4，图4是本发明液晶显示面板的修复方法的实施例的流程图，如图4所示，本发明的液晶显示面板的修复方法包括以下步骤：
步骤401：检测面板以确定存在点缺陷的子像素区域；
步骤402：电连接点缺陷所在的子像素区域和与其相邻的正常显示的子像素区，其中，正常显示的子像素区域和点缺陷所在的子像素区域用于同一颜色的显示；
步骤403：断开出现点缺陷的子像素区域中的薄膜晶体管和与其对应的数据线以及像素电极之间的连接；
步骤404：检测面板是否还存在点缺陷。
其中，在步骤401中，首先将液晶显示面板送到Array（阵列）测试机台进行检测，如果液晶显示面板存在亮点等点缺陷，则Array测试机台检测出该点缺陷以及该点缺陷所在的位置，并用坐标表示，继而上传该点缺陷所在的子像素区域的坐标，并将面板传送至激光化学气相沉积（Laser Chemical Vapor Depo sition，Laser CVD）机台。
在步骤402中，Laser CVD机台利用坐标对该点缺陷进行修补，具体为：利用化学气相沉积法在点缺陷所在的子像素区域和与其相邻的正常显示的子像素区之间镀金属条，以电连接该点缺陷所在的子像素区域和与其相邻的正常显示的子像素区。其中，该金属条的材质优先为钨。
在步骤403中，通过步骤401中检测出的点缺陷的坐标找到点缺陷的位置，再利用激光切割法断开该点缺陷的子像素区域中的薄膜晶体管的源极和与其对应的数据线之间的连接以及薄膜晶体管的漏极和与其对应的像素电极之间的连接。
其中，还可通过电弧切割法或者等离子弧切割法断开点缺陷的子像素区域中的薄膜晶体管的源极和与其对应的数据线之间的连接以及薄膜晶体管的漏极和与其对应的像素电极之间的连接。目的是把出现点缺陷的子像素区域中的薄膜晶体管无效，且避免出现薄膜晶体管的栅极与漏极短路的情况时，栅极的电压直接影响漏极连接的像素电极的电压。
其中，完成步骤403后进行步骤404，具体为：将面板送到Array测试机台进行测试，以检测面板是否还存在点缺陷，如果Array测试机台测试出当前的液晶显示面板中仍存在点缺陷，则继续重复上述步骤402和403的修补步骤，直至检测结果为液晶显示面板中无亮点缺陷，则结束。
值得注意的是，在其他实施例中，前述的步骤402和403的执行顺序可以调换，即：完成步骤401后，可先进行步骤403，再进行步骤402，由此亦可实现相同的效果。
此外，本发明中的前述实施例以修复亮点缺陷为例进行说明，应理解，当液晶显示面板中存在暗点缺陷时，也可通过相同的修复方式将暗点修复为可进行正常显示的好点，在此不在赘述。
综上所述，本发明设置液晶显示面板中点缺陷所在的子像素区域和与其相邻的正常显示的并且同一颜色显示的子像素区域电连接，并且该点缺陷所在的子像素区域中的薄膜晶体管和与其对应的数据线以及像素电极之间的连接均断开，本发明更提供了相应的液晶显示面板的修复方法，通过上述的液晶显示面板及其修复方法，使得当出现点缺陷时，该点缺陷所在的子像素区域中的薄膜晶体管无效，通过相邻的用于同一颜色显示且处于正常显示状态的子像素区域对应的数据线提供所需电压，以此实现正常显示，因此能够使得亮点变成好点，提高液晶显示面板的显示品质，并且本发明的修复方法中，不需借助存储电容的公共电极来实现亮点的修复，因此可适用于对无需存储电容的电极设计的液晶显示面板进行修复。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种液晶显示面板，其包括：
多根数据线、与所述数据线相交的扫描线以及由两相邻所述扫描线和两相邻所述数据线所限定的多个子像素区域，每个所述子像素区域包括对应的像素电极以及与所述像素电极电连接的薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的栅极连接一根所述扫描线，源极连接一根所述数据线，漏极连接对应的所述像素电极，其特征在于：
点缺陷所在的子像素区域和与其相邻的正常显示的子像素区域电连接，且所述点缺陷所在的子像素区域和所述正常显示的子像素区域用于同一颜色的显示；
所述点缺陷所在的子像素区域中的所述薄膜晶体管和与其对应的所述数据线以及所述像素电极之间的连接均断开。
2.根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，所述点缺陷所在的子像素区域和所述正常显示的子像素区域对应的两个所述像素电极之间通过金属条电连接。
3.根据权利要求2所述的液晶显示面板，其特征在于，所述金属条的材质为钨。
4.根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，每相邻三个分别用于显示红色、绿色或蓝色的所述子像素区域形成一像素区域，且在每一所述像素区域中，三个所述子像素区域对应的三个所述薄膜晶体管的栅极分别连接三条不同的所述扫描线，且三个所述薄膜晶体管的源极连接于同一条所述数据线。
5.一种液晶显示面板的修复方法，其特征在于，包括以下步骤：
检测所述面板以确定存在点缺陷的子像素区域；
电连接点缺陷所在的子像素区域和与其相邻的正常显示的子像素区域，其中，所述正常显示的子像素区域和所述点缺陷所在的子像素区域用于同一颜色的显示；
断开出现所述点缺陷的子像素区域中的薄膜晶体管和与其对应的数据线以及像素电极之间的连接。
6.根据权利要求5所述的液晶显示面板的修复方法，其特征在于，通过Array测试机台检出点缺陷，上传所述点缺陷所在的子像素区域的坐标，并将所述面板传送至激光化学气相沉积机台。
7.根据权利要求6所述的液晶显示面板的修复方法，其特征在于，所述激光化学气相沉积机台利用所述坐标对所述点缺陷进行修补，在所述点缺陷所在的子像素区域和与其相邻的正常显示的子像素区之间镀金属条，以电连接所述点缺陷所在的子像素区域和与其相邻的所述正常显示的子像素区。
8.根据权利要求7所述的液晶显示面板的修复方法，其特征在于，所述金属条的材质为钨。
9.根据权利要求7所述的液晶显示面板的修复方法，其特征在于，所述修补方法进一步包括：
完成所述修补后再次进行测试，如果所述面板中仍存在所述点缺陷，则重复上述修补步骤。
10.根据权利要求5所述的液晶显示面板的修复方法，其特征在于，通过激光切割断开出现点缺陷的所述子像素区域中的薄膜晶体管的源极和与其对应的所述数据线之间的连接以及所述薄膜晶体管的漏极和与其对应的所述像素电极之间的连接。
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