CN102565437B - 样本分析装置 - Google Patents

样本分析装置 Download PDF

Info

Publication number
CN102565437B
CN102565437B CN2011103057826A CN201110305782A CN102565437B CN 102565437 B CN102565437 B CN 102565437B CN 2011103057826 A CN2011103057826 A CN 2011103057826A CN 201110305782 A CN201110305782 A CN 201110305782A CN 102565437 B CN102565437 B CN 102565437B
Authority
CN
China
Prior art keywords
sample
processing
dispensing
unit
reagent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN2011103057826A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102565437A (zh
Inventor
若宫裕二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sysmex Corp
Original Assignee
Sysmex Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sysmex Corp filed Critical Sysmex Corp
Publication of CN102565437A publication Critical patent/CN102565437A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102565437B publication Critical patent/CN102565437B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/025Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations having a carousel or turntable for reaction cells or cuvettes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/0092Scheduling

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

本发明公开了一种样本分析装置,包括:分装样本用的样本分装部件;可沿运送路线固定数个反应容器,并沿运送路线依次运送反应容器的样本运送部件;处理站,包括固定反应容器,并对各反应容器中的样本进行处理的数个处理部件;移送部件,在运送路线上的取出位置取出反应容器,并将其移送到某一个处理部件,处理步骤完毕后,再将反应容器移送到运送路线上的返还位置,以此在数个处理部件和样本运送部件之间移送反应容器;及用于实施样本处理作业的控制部件。控制部件判断是不是数个处理部件中的某一个发生了异常,当某一个处理部件发生了异常时,改变样本分装时间,以便用发生了异常的处理部件之外的处理部件继续进行样本处理作业。

Description

样本分析装置
技术领域:
本发明涉及一种自动分析血液或尿液等样本的样本分析装置。
背景技术:
过去人们已知样本分析装置有免疫分析装置、生化分析装置、血细胞计数装置、血液凝固测定装置、尿中有形成分分析装置、尿定性分析装置等。
日本专利申请公开(JP laid-open patent applicationpublication)H03-183955中公开的自动分析装置具有:有许多盛放试样(样本)和试剂的反应容器,在旋转驱动部件的作用下按一定旋转特性旋转的反应台;向反应容器分装试样的试样分装部件;向已分装有试样的反应容器分装试剂的试剂分装部件;搅拌反应容器中的试样和试剂的搅拌部件;测定反应容器中试样浓度的测光部件;以及控制各部件运行的控制部件。
H03-183955中公开的自动分析装置的结构如下所述:控制部件检测出异常,并判断该异常的内容是否与试样分装部件、试剂分装部件、以及搅拌部件中的某一个有关。当判断异常的内容与上述各部件中的某个有关时,停止反应台以及与测光相关的部分以外的构件的运行,继续反应台和测光部件的运行。以此,对在异常发生时已经完成了搅拌的试样进行测光,获得数据。
然而,在上述专利文献1公开的自动分析装置中,当装置的一部分发生异常时,不能分装新的样本,继续进行样本处理。
本发明有鉴于此,其主要目的在于提供一种样本分析装置,当装置器的一部分发生异常时也能够分装新的样本,从而继续进行样本处理。
发明内容:
(1)样本分析装置,包括:样本分装部件,在样本分装位置向反应容器分装样本;样本运送部件,能沿运送路线固定数个反应容器,并沿运送路线依次运送反应容器;处理站,包括数个处理部件,所述数个处理部件用于固定反应容器,并对各反应容器中的样本进行处理;移送部件,在运送路线上的取出位置取出反应容器,并移送到某一个处理部件,处理步骤完成后将反应容器移送到运送路线上的返回位置,以此在数个处理部件和样本运送部件之间移送反应容器;及控制部件,实施样本处理作业,其中样本处理作业包括:
(i)用样本分装部件在样本分装位置以一定周期依次向数个容器分装数个样本;
(ii)由样本运送部件将分装后的样本容器逐一运送到取出位置;
(iii)由移送部件将反应容器从取出位置移送到数个处理部件中的某一个;
(iv)由数个处理部件对各反应容器实施所述数个处理步骤;及
(v)由移送部件将完成了所述数个处理步骤的反应容器移送到取出位置;
其中,控制部件判断是不是数个处理部件中的某一个发生了异常,当某个处理部件发生了异常时,改变样本分装时间,以便用发生了异常的处理部件之外的处理部件继续进行样本处理作业。
(2)根据上述(1)所述样本分析装置,其中:处理部件的个数为n个;样本分装部件周期性地反复进行一个循环的作业,一个循环的作业中包含以一定周期重复进行的n次样本分装,以此进行样本分装;当m个处理部件发生异常时,控制部件控制样本分装部件,将一个循环的作业中的样本分装次数变为(n-m)次,其中n>m>0。
(3)根据上述(1)所述样本分析装置,其中:所述数个处理部件具有第一处理部件和第二处理部件;样本分装部件周期性地重复进行包含第一次分装时间和第二次分装时间在内的一个循环的作业,以此进行样本分装;移送部件将在第一次分装时间中分装了样本的反应容器移送到第一处理部件,将在在第二次分装时间中分装了样本的反应容器移送到第二处理部件;控制部件控制样本分装部件,当第一处理部件发生异常时,在第一次分装时间中跳过样本分装。
(4)根据上述(1)所述样本分析装置,其中:所述数个处理部件至少有三个处理部件;样本分装部件周期性地重复进行包含第一次分装时间、第二次分装时间、以及第三次分装时间在内的一个循环的作业,以此进行样本分装;移送部件将在第一次分装时间进行了样本分装的反应容器移送到三个处理部件中的一个,将在第二次分装时间进行了样本分装的反应容器移送到其余二个处理部件中的一个,将在第三次分装时间进行了样本分装的反应容器移送到其余另一个处理部件;控制部件控制样本分装部件,当发生异常的处理部件的个数为一个时,跳过第一次~第三次分装时间中的一次分装时间中的样本分装作业,当发生异常的处理部件的个数为二个时,跳过第一次~第三次分装时间中的二次分装时间的样本分装作业。
(5)根据上述(1)所述样本分析装置,还包括:在运送路线上的取出位置的上游的第一试剂分装位置向反应容器分装试剂的第一试剂分装部件;其中,控制部件控制第一试剂分装部件在第一试剂分装位置依次向样本运送部件依次运送过来的已分装完样本的反应容器分装试剂,控制移送部件在取出位置取出样本运送部件依次运送过来的已分装完试剂的各反应容器,并将其移送到某一个处理部件。
(6)根据上述(5)所述样本分析装置,其中:控制部件控制第一试剂分装部件,当某一个处理部件发生了异常时,不向在发生异常时尚未到达第一试剂分装位置且预定向发生了异常的处理部件移送的反应容器中分装试剂。
(7)根据上述(1)所述样本分析装置,其中:还具有第二试剂分装部件,用于在位于运送路线上的返回位置下游的第二试剂分装位置向反应容器分装试剂;控制部件控制第一试剂分装部件,在第一试剂分装位置依次向样本运送部件依次运送过来的、所述处理部件已处理完毕的各反应容器分装试剂。
(8)根据上述(7)所述样本分析装置,其中:控制部件控制第二试剂分装部件,当某一个处理部件发生了异常时,向在发生异常时尚未到达第二试剂分装位置且已经由所述处理部件处理完毕的反应容器中分装试剂。
(9)根据上述(1)所述样本分析装置,其中:控制部件控制移送部件和样本运送部件,当某一个处理部件发生了异常时,不让移送部件取出原定移送到发生了异常的处理部件的反应容器,而使该反应容器从取出位置通过。
(10)根据上述(9)所述样本分析装置,还包括:光学测定部件,用于对反应容器内的样本进行光学测定;废弃部件,用于废弃反应容器;及第二移送部件,取出运到运送路线上的第二取出位置的反应容器,并将取出的反应容器移送到光学测定部件和废弃部件;其中,控制部件控制第二移送部件,在第二取出位置取出未被移送部件取出的、从取出位置通过的反应容器,将取出的反应容器移送至废弃部件。
(11)根据上述(1)所述样本分析装置,其中:样本运送部件有用于沿运送路线依次运送所固定的数个反应容器的运送台。
(12)根据上述(1)所述样本分析装置,还包括:第二运送部件,依次向样本分装位置运送反应容器;及第三移送部件,将已分装完样本的反应容器从第二运送部件移至样本运送部件。
(13)根据上述(12)所述样本分析装置,还包括:在第二运送部件的运送路线上的第三试剂分装位置上,向反应容器分装试剂的第三试剂分装部件;控制部件控制第二运送部件和第三试剂分装部件,将反应容器移送到第三试剂分装部件的第三试剂分装位置,向位于第三试剂分装位置上的反应容器分装试剂,再将已分装完试剂的反应容器运送到样本分装位置。
(14)根据上述(1)所述样本分析装置,其中:当数个处理部件均发生异常时,控制部件停止样本分装部件的样本分装作业。
(15)根据上述(1)所述样本分析装置,还包括:第二处理站,包括:数个处理部件,用于固定反应容器,并对各反应容器中的样本进行数个处理步骤;移送部件,在运送路线上的第三取出位置取出反应容器,并将其移送到某一个处理部件,处理步骤完成后,再将反应容器移回运送路线上的第三返回位置,以此在数个处理部件和样本运送部件之间移送反应容器;控制部件判断第二处理站的各处理部件是否发生异常,当某一个处理部件发生了异常时,控制样本分装部件改变样本分装时间,以便用未发生异常的处理部件继续进行样本处理作业。
(16)根据上述(15)所述样本分析装置,其中:控制部件控制样本分装部件,当所述处理站的某一个处理部件发生了异常,且所述第二处理站的某一个处理部件也发生了异常时,根据所述处理站和所述第二处理站中处理部件发生异常的次数多的一方的异常发生次数,改变样本分装时间。
(17)根据上述(15)所述样本分析装置,其中:当所述处理站的某一个处理部件发生异常,且所述第二处理站的某一个处理部件也发生异常时,控制部件按一定分配顺序向各反应容器分配所述处理站中未发生异常的处理部件,同时按一定分配顺序分配所述第二处理站中未发生异常的处理部件。
(18)根据上述(15)所述样本分析装置,其中:当所述处理站和所述第二处理站的某一方中所有的处理部件均发生异常时,控制部件停止样本分装部件的样本分装作业。
(19)根据上述(1)所述样本分析装置,其中:处理部件的处理是B/F分离处理,即去除反应容器中的样本所含有的未反应的抗原。
(20)根据上述(1)所述样本分析装置,还包括:分别与数个处理部件相对应地设置,用于检测出各处理部件的异常的数个异常检测部件。
(21)根据上述(20)所述样本分析装置,其中:所述处理部件有用于搅拌反应容器的马达;所述异常检测部件用于检测出马达的异常。
根据(1)~(20)的发明,即使处理站的数个处理部件中的某个发生了异常,也可以改变样本分装部件周期性进行的样本分装的时间,依次继续进行样本处理作业。
附图说明
图1为实施方式涉及的样本分析装置的结构斜视图;
图2为实施方式涉及的样本分析装置的结构平面图;
图3为测定单元的部分结构框图;
图4为测定单元的控制部件的结构框图;
图5为一次B/F分离部件的简要结构平面图;
图6为实施方式涉及的样本分析装置中样本的分析步骤的流程图;
图7为一次B/F分离处理的步骤流程图;
图8为测定控制处理的步骤流程图;
图9为样本测定计划表的一例的部分时间图;
图10为制定计划这一处理的步骤流程图;
图11为样本测定的计划表的另一例的部分时间图。
具体实施方式
下面参照附图,说明本发明的优选实施方式。
[样本分析装置的结构]
图1为本实施方式涉及的样本分析装置的结构斜视图,图2为其平面图。本实施方式涉及的样本分析装置1是用血液等样本进行乙型肝炎、丙型肝炎、肿瘤标记物、以及甲状腺激素等各项检查的免疫分析装置。在该样本分析装置1中,将测定目标血液等样本与缓冲液(R1试剂)混合,再向此混合液中添加负载有可与样本中所含抗原结合的捕捉抗体的磁性粒子(R2试剂)。捕捉抗体与抗原结合(Bound)后,用一次B/F(Bound Free)分离部件11(参照图1和图2)的磁块(无图示)吸引磁性粒子,除去未反应(Free)的抗原。再添加标记抗体(R3试剂),让与磁性粒子结合的抗原与标记抗体结合,用二次B/F分离部件12的磁块(无图示)吸住结合(Bound)后的磁性粒子并将其吸过来,以此除去未反应(Free)的标记抗体。然后,添加在与分散液(R4试剂)以及与标记抗体的反应过程中会发光的发光基质(R5试剂)后,测定标记抗体与发光基质反应产生的发光量。通过如上过程,定量地测定与标记抗体结合了的、样本中所含的抗原。
此样本分析装置1如图1和图2所示,包括测定单元2、与测定单元2相邻配置的样本运送单元(取样器)3、以及与测定单元2通过电路连接的、由PC(电脑)构成的信息处理单元4。
图3为测定单元2的部分结构框图。测定单元2由样本分装臂5、R1试剂分装臂6、R2试剂分装臂7、R3试剂分装臂8、反应部件9、反应杯供应部件10、一次B/F分离部件11、二次B/F分离部件12、吸头供应部件13、检测部件14、R4/R5试剂供应部件15、试剂放置部件16、废弃部件17、以及夹钳18构成。此外,如图3所示,测定单元2中的各构件(各种分装臂、反应部件9、以及试剂放置部件16等)由设置于测定单元2中的控制部件2a控制。样本运送单元3也由控制部件2a控制。
图4为测定单元2的控制部件2a的结构框图。控制部件2a如图4所示,主要由CPU2b、ROM2c、RAM2d、以及通信接口2e构成。CPU2b可执行存储在ROM2c中的计算机程序和RAM2d读取的计算机程序。ROM2c中储存着供CPU2b执行的计算机程序和执行计算机程序所用的数据。RAM2d用于读取存储在ROM2c中的计算机程序,并可在CPU2b执行这些计算机程序时,作为其工作空间使用。通信接口2e与信息处理单元4连接,其功能是向信息处理单元4传送样本的光学信息(标记抗体和发光基质反应发出的发光量数据),接收信息处理单元4的控制部件发出的信号。通信接口2e还负责发送CPU2b下达的、用于驱动样本运送单元3和测定单元2的各部分的指令。
样本运送单元3可以运送固定有装着样本的数个试管的管架。样本运送单元3将装着样本的试管运送到样本分装臂5的吸样位置1a(参照图2)。
信息处理单元4由计算机构成,该计算机主要包括:具有CPU、ROM、RAM、硬盘等的控制部件(无图示);显示器4b;以及键盘4c。该信息处理单元4接受用户输入的测定指令、测定开始指示、试剂更换指示等,并根据输入的内容向测定单元2和样本运送单元3输出运行命令。此外,信息处理单元4能够分析测定单元2测定样本获得的测定数据,获取样本的分析结果,将分析结果输出到显示器4b。
下面详细说明测定单元2的结构。
反应杯供应部件10可容纳多个反应杯,能够依次逐个地向样本分装臂5的样本分装台1b供应反应杯。以一定时间间隔(比如9秒)划分出连续的周期(turn),在测定单元2中,在每个周期中各构件都重复同样的作业,以此进行样本测定。上述反应杯供应部件10也是同样,在一个周期中供应一个反应杯,连续进行此作业,以此依次、逐个供应反应杯。样本分装台1b有数个环状排列的、可固定反应杯的孔。样本分装台1b在反应杯接受位置接受所供应的反应杯。样本分装台1b逆时针旋转一定角度,将在反应杯接受位置接受的空反应杯移送到R1试剂分装臂6的试剂分装位置,再移送到样本分装臂5的样本分装位置。在一个周期中,此样本分装台1b旋转一定角度的作业仅进行一次。因此,在样本分装台1b上,接受反应杯(准备反应杯)、向空反应容器分装R1试剂、以及向已分装R1试剂的反应容器分装样本的作业同时进行。
R1试剂分装臂6吸移放置在试剂放置部件16的R1试剂,并将吸移的R1试剂分装(排出)到在样本分装台1b上的反应杯中。R1试剂分装臂6如图2所示,装配有用于吸移和排出R1试剂的吸移管6a。此R1试剂分装臂6吸移R1试剂以及向反应杯的分装R1试剂的作业在一个周期内进行一次。
吸头供应部件13的能够将放入的数个吸头(无图示)逐一运送到样本分装臂5的吸头安装位置。吸头在吸头安装位置被安装到样本分装臂5的吸移管前端。此吸头供应部件13在一个周期供应一个吸头。
样本分装臂5在吸头安装位置装上吸头后,吸移由样本运送单元3运送到吸样位置1a的试管内的样本,在样本分装位置,将样本注入(排出)到已由R1试剂分装臂6分装了R1试剂的反应杯中。此样本分装臂5一个周期中对一个样本进行吸移和向反应杯中的分装。样本分装位置旁边设有夹钳1c,用于移送反应杯。夹钳1c抓住样本分装台1b上的、已分装入样本的反应杯,将该反应杯从样本分装台1b的孔中抽出,插入反应部件9的孔(反应杯放置部件9a)。如此,已分装有样本的反应杯由夹钳1c从样本分装台1b移送至反应部件9。
R2试剂分装臂7具有吸移放置在试剂放置部件16的R2试剂的功能。R2试剂分装臂7将吸移的R2试剂分装(排出)到装有R1试剂和样本的反应杯中。R2试剂分装臂7如图2所示,装有吸移和排出R2试剂用的吸移管7a。此R2试剂分装臂7在一个周期进行一次R2试剂的吸移和向反应杯内的分装。
反应部件9如图1和图2所示,是中空的圆形,围绕在平面看时呈圆形形状的试剂放置部件16的周围。反应部件9有沿其外形、隔一定间隔配置的数个反应杯放置部件9a,反应杯放置部件9a为圆形凹状,可插入反应杯。反应部件9具有将插在反应杯放置部件9a的反应杯加热到约42℃的功能。即,在反应部件9中将反应杯中的试样加热到约42℃。以此可以促进反应杯中的样本与各种试剂的反应。反应部件9可顺时针方向(箭头A1方向)旋转,可以将放在反应杯放置部件9a中的反应杯移送到进行各种处理(分装试剂等)的各个处理位上。在此反应部件9,在一个周期中向A1方向旋转的角度为相邻二个反应杯放置部件9a之间的角度,如此不断地进行间歇性的旋转。
一次B/F分离部件11的作用是从反应杯中的试样分离出未反应的抗原和磁性粒子(B/F分离)。图5为一次B/F分离部件11的简要结构平面图。如图5所示,一次B/F分离部件11具有用于放置反应杯的固定部件11a;夹持着反应部件9中的反应杯并向固定部件11a移送的夹钳11b;以及用于搅拌反应杯的搅拌部件11c。固定部件11a中呈一列地设置有用于固定反应杯的四个固定孔110a、110b、110c、110d。固定部件11a靠无图示的马达驱动,可向与上述固定孔110a、110b、110c、110d的排列方向垂直的方向(图中X1、X2方向)水平移动。夹钳11b可水平摆动,且可上下移动,当放在反应部件9中的反应杯到达取出位置9A时,夹住该反应杯并向上移动,将反应杯从反应部件9的反应杯放置部件9a抽出。然后,夹钳11b旋转,将所夹持的反应杯移送到固定孔110a、110b、110c、110d中空孔的上方,再下降,将反应杯插入该固定孔。之后,夹钳11b向离开该反应杯的方向旋转,放开反应杯。如此,反应杯从反应部件9移送到固定部件11a。
在固定有反应杯的状态下,固定部件11a向X1方向移动。固定部件11a的X1方向一侧设有搅拌部件11c。搅拌部件11c上并列设置有四个搅拌构件111a、111b、111c、111d。搅拌构件111a、111b、111c、111d分别可夹持反应杯。搅拌构件111a、111b、111c、111d分别对应于各固定孔110a、110b、110c、110d,固定部件11a向X1方向移动,固定在固定孔110a的反应杯被搅拌构件111a夹住,固定在固定孔110
b的反应杯被搅拌构件111b夹住,固定在固定孔110c的反应杯被搅拌构件111c夹住,固定在固定孔110d的反应杯被搅拌构件111d夹住。搅拌部件11c可在无图示的马达驱动下向上下方向移动。在搅拌构件111a、111b、111c、111d分别夹住固定孔110a、110b、110c、110d中的反应杯的状态下,搅拌部件11c向上移动,从固定孔110a、110b、110c、110d抽出各反应杯。搅拌构件111a、111b、111c、111d中分别设有振动马达112a、112b、112c、112d(参照图3)。在搅拌构件111a、111b、111c、111d夹着从固定孔110a、110b、110c、110d抽出的反应杯的状态下,振动马达112a、112b、112c、112d驱动。以此,搅拌构件111a、111b、111c、111d与反应杯一起振动,搅拌反应杯内的样本、R1试剂和R2试剂。
反应杯内的液体搅拌后,搅拌部件11c下降,搅拌构件111a、111b、111c、111d夹着的反应杯再次插入固定孔110a、110b、110c、110d。反应杯插入后,固定部件11a向X2方向移动到图5所示位置。
在图5所示状态下,各固定孔110a、110b、110c、110d的上方分别配置有可上下移动的四个吸移管(无图示)。这四个吸移管下移,分别插入固定孔110a、110b、110c、110d的各反应杯中。各固定孔110a、110b、110c、110d的内壁分别装有磁块(无图示),各反应杯的侧面分别配置有一个磁块。各反应杯内的磁性粒子被磁块吸住(集磁),吸移管只吸移反应杯内的液体。各吸移管还要向反应杯内排出清洗液。清洗液注入反应杯内后,固定部件11a再次向X1方向移动。反应杯被搅拌构件111a、111b、111c、111d举起来,搅拌反应杯内的液体和磁性粒子,然后,反应杯插入固定部件11a,磁性粒子(以及与磁性粒子结合的抗原和捕捉抗体)再次集磁,吸移管从反应杯内吸移液体。此作业反复数次,即可除去反应杯内的未反应抗原。
当固定部件11a向X2方向移动时,夹钳11b夹住已完成了去除未反应抗原的步骤、即完成了一次B/F分离这一步骤的反应杯(即插在固定孔110a、110b、110c、110d的反应杯中第一个从反应部件9移送到固定部件11a的反应杯),并以此状态上升,从该固定孔抽出反应杯。然后,夹钳11b旋转,将夹着的反应杯运送到反应部件9的返回位置9B的反应杯放置部件9a上方,然后再下降,将反应杯插入该反应杯放置部件9a。之后,夹钳11b向离开该反应杯的方向旋转,放开反应杯。如此,反应杯被从固定部件11a移送到反应部件9。
在此一次B/F分离部件11中,在一个周期中将一个反应杯从反应部件9移送到固定部件11a,搅拌插在固定部件11a的反应杯中的液体和磁性粒子,除去反应杯中的液体,并将一个反应杯从固定部件11a移送到反应部件9。各固定孔110a、110b、110c、110d分别对应着用于搅拌反应杯中的液体和磁性粒子、以及除去反应杯中的不要成分(一次B/F分离处理)的端口。更具体地说,固定孔110a相当于第一端口,固定孔110b相当于第二端口,固定孔110c相当于第三端口,固定孔110d相当于第四端口。在制作后述计划表时,给每个反应杯分配一个端口,在分配的端口对各反应杯进行一次B/F分离处理。即,在一个周期中向固定部件11a送入一个新的反应杯,对一个反应杯,在共计四个周期的时间里,在一次B/F分离部件11中进行液体及磁性粒子的搅拌,并用吸移管吸移液体,在一个周期中,从固定部件11a运出一个反应杯。运到一次B/F分离部件11的反应杯放置在从固定孔110a、110b、110c、110d中分配得到的一个固定孔(端口)中,该反应杯在其放置在一次B/F分离部件11中的四个周期时间里不会向其他固定孔(端口)移动。也就是说,一个反应杯对应着搅拌构件111a、111b、111c、111d中的一个,在四个周期的时间里由该搅拌构件搅拌该反应杯内的液体和磁性粒子。
如图3所示,一次B/F分离部件11的固定部件11a、夹钳11b、和搅拌部件11c分别连接着控制部件2a,由控制部件2a控制。设置在搅拌部件11c的各搅拌构件111a、111b、111c、111d中的振动马达112a、112b、112c、112d分别通过驱动电路113a、113b、113c、113d连接到控制部件2a。驱动电路113a、113b、113c、113d上设有用于控制稳压电源(无图示)与振动马达112a、112b、112c、112d进行连接/断开的开关(无图示),控制部件2a通过控制开关的开/关,控制振动马达112a、112b、112c、112d的运行/停止。驱动电路113a、113b、113c、113d上还分别设有用于检测振动马达112a、112b、112c、112d断路的断路检测电路114a、114b、114c、114d。这些断路检测电路114a、114b、114c、114d有设在稳压电源与振动马达之间的、用来检测断路的电阻,流到此电阻的电流值输出到控制部件2a。控制部件2a接收各断路检测电路114a、114b、114c、114d的输出信号,并将各个电流值与一定基准值进行比较。在振动马达112a、112b、112c、112d驱动期间,有超过基准值的电流流到断路检测用电阻,但当振动马达112a、112b、112c、112d中的某一个发生断路时,与该振动马达连接的电阻就没有电流流入。当断路检测用电阻的电流值低于基准值时,控制部件2a判断为发生断路。
R3试剂分装臂8用于吸移放置在试剂放置部件16的R3试剂。当装有一次B/F分离部件11进行了B/F分离后的试样的反应杯从一次B/F分离部件11运到反应部件9时,R3试剂分装臂8将吸移的R3试剂分装(排出)到该反应杯中。R3试剂分装臂8如图2所示,安装有用于吸移和排出R3试剂的吸移管8a。在此R3试剂分装臂8中,在一个周期中进行一次R3试剂的吸移和向反应杯的分装。
二次B/F分离部件12的作用是:在无图示的夹钳将装有经一次B/F分离部件11进行了B/F分离后的试样和R3试剂的反应杯从反应部件9移送到二次B/F分离部件12后,从反应杯内的试样分离出未反应的R3试剂(不要成份)和磁性粒子。此二次B/F分离部件12的结构与一次B/F分离部件11的结构相同,故省略说明。
R4/R5试剂供应部件15通过无图示的管,向装有经二次B/F分离部件12进行了B/F分离后的试样的反应杯依次分装R4试剂和R5试剂。在此R4/R5试剂供应部件15中,在一个周期中向一个反应杯分装R4试剂,下一个周期向该反应杯分装R5试剂。
检测部件14用于通过光电倍增管(Photo Multiplier Tube)获取与进行了一定处理的样本的抗原结合的标记抗体和发光基质在反应过程中发出的光,以此测定该样本内所含抗原的量。此检测部件14在一个周期中进行一个样本的抗原量测定。
废弃部件17包括用于放入检测部件已检测的反应杯的孔;以及用于收纳放入的反应杯的废弃袋(无图示)。
夹钳18用于取出位于反应部件9的一定取出位置的反应杯,并将其移送到检测部件14。夹钳18还用于取出检测部件已检测的反应杯,并将其投入废弃部件17。
[样本分析装置的运行]
下面就本实施方式涉及的样本分析装置1的运行进行说明。
<各个样本的分析步骤>
首先,就样本分析步骤进行说明。本实施方式涉及的样本分析装置1的样本分析步骤并不因样本的测定项目(乙型肝炎、丙型肝炎、肿瘤标记物、及甲状腺激素等)而有所不同,均按一定步骤进行。
图6为本实施方式涉及的样本分析装置中的样本分析步骤的流程图。首先,样本运送单元3运送载有数支装有样本的试管的管架,使装有样本的试管位于吸样位置1a(步骤S101)。与此同时,由反应杯供应部件10供应一个反应杯(步骤S102)。此反应杯固定在样本分装台1b上,随着样本分装台1b的逆时针旋转而到达R1试剂的试剂分装位置,由R1试剂分装臂6向该反应杯分装R1试剂(步骤S103)。其后,样本分装台1b旋转,使分装了R1试剂的反应杯位于样本分装位置。
吸头供应部件13供应吸头,将吸头装在样本分装臂5上。由样本分装臂5从位于吸样位置1a的试管中吸移样本,并将样本注入位于样本分装位置的反应杯(步骤S104)。
分装了R1试剂和样本的反应杯从样本分装台1b移送到反应部件9的一个反应杯放置部件9a,反应部件9向A1方向旋转,以及将反应杯运送到R2试剂的分装位置(步骤S105)。此时,因反应部件9一个周期只旋转一定角度,所以反应杯到达R2试剂的分装位置所用的时间为一定的R1试剂的反应时间。反应杯到达R2试剂的分装位置后,由R2试剂分装臂7向该反应杯分装R2试剂(步骤S106)。R2试剂分装完后,反应部件9就再向A1方向旋转,反应杯被运送到上述取出位置9A(步骤S107)。到达取出位置9A的反应杯由夹钳11b移送到一次B/F分离部件11,对装在该反应杯中的样本进行一次B/F分离(步骤S108)。
完成了一次B/F分离的反应杯由夹钳11b移送至反应部件9的上述返回位置9B的反应杯放置部件9a,通过反应部件9向A1方向旋转,反应杯被运到R3试剂的分装位置(步骤S109)。反应杯到达R3试剂的分装位置后,由R3试剂分装臂8向该反应杯分装R3试剂(步骤S110)。R3试剂分装完毕后,反应部件9再向A1方向旋转,反应杯被运到二次B/F分离用的反应杯取出位置9C(步骤S111)。到达该取出位置9C的反应杯由二次B/F分离部件12的夹钳移到二次B/F分离部件12,对装在该反应杯中的样本进行二次B/F分离(步骤S112)。
完成了二次B/F分离的反应杯由二次B/F分离部件12的夹钳移送到反应部件9的一定返回位置9D的反应杯放置部件9a。然后,反应部件9向A1方向旋转,将反应杯运到用于供应R4/R5试剂用的反应杯取出位置(步骤S113)。反应杯到达该反应杯取出位置后,由无图示的夹钳将该反应杯移到R4/R5试剂供应部件15,并分装R4试剂(步骤S114),再分装R5试剂(步骤S115)。
R4/R5试剂分装完毕后,反应杯从R4/R5试剂供应部件15移到反应部件9的一定位置上的反应杯放置部件9a,反应部件9再向A1方向旋转,反应杯运到一定取出位置所花费的时间为一定反应的时间(步骤S116)。反应杯到达该取出位置时,由夹钳18从反应部件9取出反应杯,将该反应杯移至检测部件14,由检测部件14对该样本进行抗原量的测定(检测处理)(步骤S117)。测定结果从测定单元2传送至信息处理单元4,由信息处理单元4分析测定数据,生成样本分析结果。此样本分析结果存入信息处理单元4的硬盘。检测处理结束后,夹钳18从检测部件14取出反应杯,将反应杯固定到无图示的架设部件。固定在架设部件的反应杯中的液体由无图示的排液嘴吸移,夹钳18从架设部件取出反应容器并放入废弃部件17,以此进行废弃处理(步骤S118),样本分析结束。
如此,在样本分析装置1中,由反应部件9运送一个反应杯(样本),在运送过程中依次对样本进行处理。数个样本按一个周期一个依次吸移,错开分析(测定)开始时间,进行并列处理。
<一次B/F分离处理>
下面详细说明控制部件2a控制一次B/F分离部件11的控制处理(一次B/F分离处理)。控制部件2a的CPU2b在每一个周期重复一次下述一次B/F分离处理。图7为一次B/F分离处理步骤的流程图。在一次B/F分离处理中,首先,CPU2b判断一次B/F分离处理的目标样本(反应杯)是否到达反应部件9的取出位置9A(步骤S201)。如果样本未到达取出位置9A(步骤S201为否),则CPU2b结束处理。
在步骤S201中,若果样本到达了取出位置9A时(步骤S201为是),CPU2b控制夹钳11b,将位于取出位置9A的反应杯移送到在制定后述计划表时预先分配号的端口(步骤S202)。即,在计划表中被分配到第一端口的反应杯移送到第一端口,被分配到第二端口的反应杯移送到第二端口,被分配到第三端口的反应杯移送到第三端口,被分配到第四端口的反应杯移送到第四端口。
然后,CPU2b让固定部件11a向X1方向(参照图5)移动,用搅拌构件111a、111b、111c、111d夹住放在各端口的反应杯后,使搅拌构件111a、111b、111c、111d上升,进行反应杯内的磁性粒子及与磁性粒子结合的抗原和捕捉抗体的集磁;不要成分的吸移;以及清洗(步骤S203),再驱动振动马达112a、112b、112c、112d,进行反应杯内的液体和磁性粒子的搅拌(步骤S204)。
CPU2b判断振动马达112a、112b、112c、112d中的某一个是否发生了断路(步骤S205)。如果所有振动马达均未发生断路(步骤S205为否),则CPU2b判断是否实施了一定次数的一次B/F分离作业(反应杯内的磁性粒子、以及与磁性粒子结合的抗原和捕捉抗体的集磁;不要成分的吸移;清洗;以及搅拌)(步骤S206),若尚未进行一定次数(步骤S206为否),则将处理退回步骤S203,再次实施一次B/F分离作业。如果已经实施了一定次数的一次B/F分离作业(步骤S206为是),则CPU2b控制夹钳11b,将放在固定部件11a的反应杯中第一个从反应部件9移送到固定部件11a的反应杯移送到反应部件9的返回位置9B(步骤S207),结束处理。
另一方面,当在步骤S205中判断振动马达112a、112b、112c、112d中的某一个发生了断路时(步骤S205为是),对于被分配到振动马达发生了断路的端口的反应杯(试验),将其计划表设为错误(步骤S208)。对计划表被设为错误的反应杯,CPU2b不进行设定为错误以后的处理(分装试剂、一次B/F分离、二次B/F分离、检测处理),直接废弃。比如,在到达一次B/F分离部件前被设定为错误的反应杯不移送到一次B/F分离部件11,直接从一次B/F分离部件11的取出位置9A通过。在R3试剂分装臂8的试剂分装位置,不分装R3试剂,直接从试剂分装位置通过。也不移送到二次B/F分离部件12,从二次B/F分离部件12的取出位置9C通过。R4试剂和R5试剂也不分装,直接从各试剂分装位置通过,最后到达检测部件14的取出位置。到达检测部件14取出位置的反应杯由夹钳18取出,不送到检测部件14,放入无图示的架设部件。放到架设部件的反应杯由无图示的排液嘴吸走反应杯内的液体后,被夹钳18移到废弃部件17废弃。
接下来,CPU2b将振动马达断路的端口设为不可用(步骤S209)。在此处理中,将不可用端口的信息存入控制部件2a的RAM2d。然后,CPU2b判断是否有可用的端口,即是否第一端口~第四端口都不可用(步骤S210)。当在步骤S210判断有可用端口时(步骤S210为是),CPU2b结束处理。反之,没有可用端口时(步骤S210为否),CPU2b停止一次B/F分离以前的处理,即停止管架的运送、反应杯的供应、试剂的分装R1、样本的分装、R2试剂的分装、以及一次B/F分离(步骤S211),并结束处理。如此,即使所有端口都不可用,一次B/F分离以后的处理,即R3试剂的分装、二次B/F分离处理、R4、R5试剂的分装、以及检测处理还继续进行。因此,在判断为一次B/F分离部件的所有端口均不可用之前完成了一次B/F分离的样本可以照常分析,从而防止样本浪费。
<计划表的制作>
在实施样本分析前,先在样本分析装置1中登录测定指令。通过此测定指令指定样本的测定项目。样本分析装置1可由用户登录测定指令,也可从无图示的服务器装置接受测定指令。即,用户登录测定指令时,用户操作信息处理单元4的键盘4c,向样本分析装置1输入测定指令。从服务器接受测定指令时,用户事先将测定指定登录在服务器装置中。在本实施方式中,所谓测定指令是指对各个样本指定一个或数个测定项目,命令样本分析装置1测定所指定的测定项目。因此,对一个样本输入一条测定指令,一条测定指令中包含一个或数个测定项目。
由用户或服务器装置登录了测定指令后,所登录的测定指令存入信息处理单元4的硬盘。信息处理单元4将所登录的测定指令发送到测定单元2。控制部件2a的CPU2b将收到的测定指令存入RAM2d。
测定指令的登录在信息处理单元4收到用户的开始测定指示之前或之后均可。用户向信息处理单元4下达开始测定指示后,信息处理单元4向测定单元2输出开始样本测定作业的命令。CPU2b收到此命令后,开始以下所述测定控制处理。
图8为控制部件2a的测定控制处理的步骤流程图。首先,CPU2b判断RAM2d中是否存有尚未进行样本测定的测定指令(新的测定指令)(步骤S301)。若RAM2d中没有新的测定指令(步骤S301为否),CPU2b结束处理。而当RAM2d中存有新的测定指令时(步骤S301为是),CPU2b实施用于制定样本测定计划表的制定计划处理(步骤S302)。制定计划处理详见后述。
CPU2b控制测定单元2的各个构件和样本运送单元3,开始样本测定(步骤S303)。据此,按上述样本分析步骤测定各样本。
CPU2b判断是否正在进行样本测定(步骤S304)。有时在样本测定进行中也会有新的测定指令登录。因此,当正在进行样本测定时(步骤S304为是),CPU2b判断是否又有新的测定指令存入RAM2d(步骤S305)。当有新的测定指令存入RAM2d时(步骤S305为是),CPU2b根据追加的新测定指令再次进行制定计划处理(步骤S306),然后将处理返回步骤S304。反之,当在步骤S305没有新的测定指令存入RAM2d时(步骤S305为否),CPU2b直接回到步骤S304的处理。当在步骤S304未进行样本测定时(步骤S304为否),CPU2b结束处理。
下面就样本测定中的计划表的制作进行详细说明。在制定计划处理中,根据测定指令制作样本测定的计划表。图9为样本测定计划表一例的部分时间图。如图9所示,给各个按一定时间间隔(比如9秒)划分的连续的周期(turn)分配要执行的作业,以此制定样本测定计划表。以图9为例,指示对样本号为1的样本进行项目a和b的测定。在样本号为1的样本中,测定项目a的测定(试验)计划如下:在第1个周期供应反应杯,第2个周期分装R1试剂,在第3个周期分装样本(从试管中吸移样本,分装到反应杯中),在第4~6个周期运送反应杯,在第7个周期分装R2试剂,在第8、9个周期运送反应杯,第10~13个周期在第一端口进行一次B/F分离,在第14个周期运送反应杯,在第15个周期分装R3试剂,在第16、17个周期运送反应杯,第18~21个周期在第一端口进行二次B/F分离,在第22个周期运送反应杯,在第23个周期分装R4试剂,在第24个周期分装R5试剂,在第25、26个周期运送反应杯,在第27个周期进行测光(测定抗原量),在第28个周期废弃反应杯。在样本号为1的样本中,测定项目b的试验计划如下:在第2个周期供应反应杯,之后按同样的顺序继续进行与测定项目a的试验相同的步骤。即,样本号为1的样本的测定项目b的试验计划与测定项目a相同,只是错后了一个周期。
关于样本号为2的样本,指示其进行测定项目a的测定,关于样本号为3的样本,指示其进行测定项目c的试验,关于样本号为4的样本,指示其进行测定项目a、b、c的试验。同样,分别指示样本号为5的样本进行测定项目c的试验,样本号为6和7的样本进行测定项目b的试验,样本号为8的样本进行测定项目a、c的试验,样本号为9的样本进行测定项目a的试验,样本号为10的样本进行测定项目c的试验,样本号为11和12的样本进行测定项目b的试验,样本号为13的样本进行测定项目c的试验。按每一个试验制作计划表,各计划表有与样本号为1的样本的测定项目a的试验同样的步骤,且顺序相同。这些各试验的计划表均向后错延一周期开始。
下面就控制部件2a制作上述样本测定计划表的制定计划处理进行说明。图10为进程制定计划处理的步骤流程图。在制定计划处理中,首先CPU2b进行周期数和端口号的初始设定(步骤S401)。在此处理中,在测定单元2后启动后的第一次制定计划处理中,周期数和端口号的初始值分别设定(选择)为1。当开始第二次以后的制定计划处理时,均不使用周期数和端口号的初始值,选择上次制定计划处理中最后选择的周期数和端口号的下一个周期数和端口号。即,当上次制定计划处理中最后选择的周期数为“10”,端口号为“2”时,在进行下一次制定计划处理的第一步时,即在S401中,周期数选为“11”,端口号选为“3”。端口号为1~4中的某一个,端口号1~4反复使用。即,上次的端口号为“4”时,下一个端口号为“1”。
然后,CPU2b从RAM2d中存储的新测定指令所含测定项目(试验)中选择一个尚制作计划表的测定项目(步骤S402)。
然后,CPU2b分别判断一次B/F分离部件11和二次B/F分离部件12是否各有至少一个可用端口(即判断是否未设为所有端口不可用)(步骤S403)。当一次B/F分离部件11和二次B/F分离部件12分别至少有一个可用端口时(步骤S403为是),CPU2b判断是否有用于所选试验的试剂(步骤S404)。当有用于所选试验的试剂时(步骤S404为是),判断所选编号的端口是否可用(步骤S405)。当所选编号的端口可用时(步骤S405为是),CPU2b在制作该试验的计划表时,使该试验从所选周期数开始,并将计划表存入RAM2d(步骤S406)。
CPU2b判断是否已就RAM2d中所存储是新测定指令的所有试验制作了计划表(步骤S407)。在此,当尚有未制作计划表的试验时(步骤S407为否),CPU2b选择下一个周期数和端口号(步骤S408),并将处理推移至S402。另一方面,当已就新测定指令的所有试验制作了计划表时(步骤S407为是),CPU2b使处理返回主程序(测定控制处理)中的制定计划处理的调出地址。如此,反复进行步骤S402~S408的处理,制作图9所示计划表。
在步骤S403中,当一次B/F分离部件11和二次B/F分离部件12其中之一的所有端口均设为不可用时(步骤S403为否),CPU2b将新测定指令的所有试验设为错误(步骤S409),将处理返回主程序(测定控制处理)中的制定计划处理的调出地址。以此,停止新的计划表的制作,停止样本分装臂吸移和分装新的样本。
在步骤S404,当没有用于所选试验的试剂时(步骤S404为否),CPU2b将所选试验设为错误(步骤S410),判断是否已就RAM2d中所存储的新测定指令的所有试验制作了计划表(步骤S411)。在此,当有尚未制作计划表的试验时(步骤S411为否),CPU2b直接返回步骤S402的处理。另一方面,当已就新测定指令的所有试验制作了计划表时(步骤S411为是),CPU2b使处理返回主程序(测定控制处理)中的制定计划处理的调出地址。
在步骤S405,当所选编号的端口不可用时(步骤S405为否),CPU2b选择下一个周期数和端口号(步骤S412),处理返回步骤S405。如此避开不可用端口,分配一次B/F分离和二次B/F分离的端口。
图11为样本测定计划表另一例的部分时间图。图11显示的是在已制作了图9所示计划表的情况下,第13个周期的一次B/F分离部件11的第2端口不可用时的计划表。在一次B/F分离部件11的第2端口出现异常时,在计划表中被分配了端口号为“2”的端口的有:样本号为1的样本的测定项目b的试验、样本号为4的样本的测定项目b试验、以及样本号为7的样本的测定项目b的试验。在检测出该异常时,这些所有的试验均未完成一次B/F分离。因此,检出出这些试验的异常后,本来应该实施的步骤不再实施。图中用黑色表示这些已取消步骤。
如图9所示,当一次B/F分离部件11的第2端口未发生异常时,就样本号为10的样本的测定项目c的试验,其计划表从周期数“14”开始,但如图11所示,当一次B/F分离部件11的第2端口发生异常时,样本号为10的样本的测定项目c的试验错后了一个周期,其计划表从周期数“15”开始,一次B/F分离部件11分配到的端口号为“3”。如果计划表从第14个周期开始,此试验的一次B/F分离处理就必须从第23个周期开始,但在第23个周期,未发生异常的其余端口均未空闲。另一方面,如上所述将周期错后一个,一次B/F分离处理就可从第24个周期开始。在第24个周期,由于在前面的第23个周期中第三端口的一次B/F分离处理完成,无需停止样本分析装置1的周期性作业,就可以开始一次B/F分离处理。
与上述相同,当一次B/F分离部件11的第2端口未发生异常时,就样本号为13的样本的测定项目c的试验,计划表不是从周期数“18”开始,而是错后一个周期,从周期数“19”开始。在此计划表中,一次B/F分离部件11的端口分配的是“3”。
如此,在一次B/F分离部件11的第2端口发生异常时,延迟样本分装时间,使计划表在分配一次B/F分离部件11的端口时避开不可用的第2端口,从而可以使用未发生异常的第1、第3和第4端口继续测定样本。
在本实施方式的样本分析装置1中,按一定周期向反应杯分装样本,将数个反应杯放置在反应部件9,周期性地让反应部件9和第一B/F分离部件11等各部件运行,以此使样本和试剂在各个反应杯中进行预定时间的反应。当第一B/F分离部件11的四个端口其中之一发生异常时,如果要以与发生异常前同样的周期分装样本,只能在未发生异常的其余端口进行一次B/F分离处理,要进行所有样本的一次B/F分离处理的话则会端口不够,因此必须等到使用中的端口空闲出来。要等待端口空闲,就需要停止反应部件9的周期性运行,有的反应杯反应时间就会比预定的时间延长。在本实施方式中,改变样本分装时间,以便使用未发生异常的其余端口继续进行样本处理,因此,无需等待未发生异常的端口空闲下来,可以不影响装置内正在反应中的反应杯预定的反应时间,继续处理样本。
在上述图11所示例中,样本分装在第16个周期中止一次后,在第17~19个周期这三个周期连续实施,在第20个周期再中止一次,再连续实施三个周期。如此,当四个端口中仅有一个端口发生异常时,样本分装仅中止一个周期,其后连续进行三个周期,反复进行这一系列的作业。在此,当四个端口中有连续使用的二个端口(第1和第2端口、第2和第3端口、第3和第4端口、或第4和第1端口)发生异常时,样本分装连续中止二个周期,然后连续进行二个周期,如此反复这一系列的作业。这样,在未发生异常的状态下每个周期都进行样本分装,但当连续使用的数个端口发生异常时,在与发生异常的端口数相应个数的周期数中暂停样本分装,再进行与未发生异常的端口数相应的周期数的样本分装,如此反复进行。
如上所述,当一次B/F分离部件11的所有端口均未发生异常时,将与端口数相同次数的,即四次连续的样本分装作业作为一个循环,这种循环反复进行。另一方面,当一个端口发生异常时,四次样本分装作业中有一次作业中止。当二个端口发生异常时,四次样本分装作业中有二次作业中止。当三个端口发生异常时,四次样本分装作业中有三次作业中止。即,如果未发生异常,在一个循环中进行四次样本分装作业,而当发生异常时,与端口数相同的四次样本分装作业中,作业中止的次数与发生异常的端口数相同。如此可以不影响预定的反应时间,继续进行样本处理。
另外,虽然图11中未进行图示,但样本号为11的样本的二次B/F分离用的是二次B/F分离部件12的端口号2,样本号为12的样本的二次B/F分离用的是二次B/F分离部件12的端口号3,样本号为13的样本的二次B/F分离用的是二次B/F分离部件12的端口号4。即,对于在第13个周期发生异常时已经分配了二次B/F分离部件12的端口号的试验,使用已分配的端口继续测定。另一方面,对于在第13个周期发生异常后分配了二次B/F分离部件12的端口号的试验,没有必要与一次B/F分离部件11的端口号相应地分配二次B/F分离部件12的端口号,因此,对于这些试验从1至4中依次分配二次B/F分离部件12的端口号。
如上结构有利于以下情形。假设一次B/F分离部件11的端口号2发生异常,二次B/F分离部件12的端口号3也发生异常。此时,如果必须向一次B/F分离部件11和二次B/F分离部件12分配相同端口号的话,则只剩下两种组合,即:一次B/F分离部件11的端口号1和二次B/F分离部件12的端口号1、一次B/F分离部件11的端口号4和二次B/F分离部件12的端口号4。即,尽管一次B/F分离部件11的端口号3和二次B/F分离部件12的端口号2未发生异常也不能使用。因此,尽管各B/F分离部件个体的处理能力仅降为四分之三,但整体来说处理能力将减半。另一方面,如果允许一次B/F分离部件11和二次B/F分离部件12可以分配各不相同的端口号的话,各B/F分离部件未发生异常的三个端口均可以使用。这样,可以使处理能力保持为四分之三,可以将处理能力的下降控制在最小范围。
采取上述结构,即使一次B/F分离部件11或二次B/F分离部件12中的某一个的搅拌构件发生了异常,也可以使用发生异常的搅拌构件以外的搅拌构件搅拌反应容器内的混合物。以此,发生上述异常后也可以分装新样本,继续进行样本分析。在一次B/F分离部件11和二次B/F分离部件12的结构中,各端口错后一个周期进行相同的B/F分离处理,因此,控制部件2a只要对各端口各错开一个周期执行用于B/F分离处理的控制程序即可,从而可以使一次B/F分离部件11和二次B/F分离部件12用的控制程序的结构很简单。当一次B/F分离部件11或二次B/F分离部件12的某一端口因异常而不能使用时,仅需错开二个周期执行上述控制程序就可以避开不可用端口,不必另外准备发生异常时用的控制程序,可以控制程序开发的工时和成本。另外,采取上述结构,在位于发生异常的B/F分离部件的上游的反应杯中,除原定要用发生异常的搅拌构件进行处理的反应杯外的反应杯可以按原计划进行搅拌,继续测定。因此,与将位于发生异常的B/F分离部件的上游的反应杯全部废弃的传统技术比较,可以大大减少B/F分离部件发生异常时样本和试剂的浪费。
(其他实施方式)
在上述实施方式中,由测定单元2的控制部件2a控制测定单元2的各个构件,但不限于此。也可以由样本分析装置1的信息处理单元4对上述各构件实施控制处理。
在上述实施方式中,当一次B/F分离部件11或二次B/F分离部件12的端口发生异常时,对于在发生异常时已制定了计划表且分配好端口的试验,中止异常发生后本应要实施的处理步骤,但不限于此。也可以在检测出异常时对包括已制定了计划表且分配好端口的试验在内的数项试验,重新制作不使用有异常端口的计划表,按照计划表进行样本测定。
在上述实施方式中,在一次B/F分离部件11(二次B/F分离部件12)中设置了进行同一处理(搅拌)的数个搅拌构件111a、111b、111c、111d,当其中一部分发生异常时,用未发生异常的搅拌构件进行搅拌处理,但不限于此。也可以设置数个搅拌构件以外的其他构件,如设置数个R1试剂分装臂,当所有R1试剂分装臂均未发生异常时,反复用一个R1试剂分装臂对一个反应杯进行R1试剂分装步骤,用其他R1试剂分装臂对其他反应杯进行R1试剂分装步骤,当一个R1试剂分装臂发生异常时,用其他R1试剂分装臂实施其后的R1试剂分装步骤。
在上述实施方式中,将已分装有R1试剂和样本的反应杯移送到反应部件,但不限于此。比如也可以在反应部件放置空反应杯,向其中分装R1试剂和样本。
在上述实施方式中,以免疫分析装置为例,就样本分析装置1进行了说明,但不限于此。样本分析装置也可以是血细胞计数装置、血液凝固测定装置、生化分析装置、尿中有形成分分析装置、或尿定性分析装置等免疫分析装置以外的样本分析装置,该样本分析装置最好是能通过转盘状运送部件运送反应杯,在运送部件的运送路线中的多处可进行样本分装、试剂分装等处理的生化分析装置、血液凝固测定装置。
在上述实施方式中,R2试剂分装臂7具有分装R2试剂的功能,R3试剂分装臂具有分装R3试剂的功能,但是也可以设置一个既分装R2试剂又分装R3试剂的多功能单元。

Claims (20)

1.一种样本分析装置,包括:
样本分装部件,在样本分装位置向反应容器分装样本;
样本运送部件,能沿运送路线固定数个反应容器,并沿运送路线依次运送反应容器;
处理站,包括数个处理部件,所述数个处理部件用于固定反应容器,并对各反应容器中的样本进行处理;
移送部件,在运送路线上的取出位置取出反应容器,并移送到某一个处理部件,处理步骤完成后将反应容器移送到运送路线上的返回位置,以此在数个处理部件和样本运送部件之间移送反应容器;及
控制部件,实施样本处理作业,
其中样本处理作业包括:
(i)用样本分装部件在样本分装位置以一定周期依次向数个容器分装数个样本;
(ii)由样本运送部件将分装后的样本容器逐一运送到取出位置;
(iii)由移送部件将反应容器从取出位置移送到数个处理部件中的某一个;
(iv)由数个处理部件对各反应容器实施所述数个处理步骤;及
(v)由移送部件将完成了所述数个处理步骤的反应容器移送到取出位置;
其中,
控制部件判断是不是数个处理部件中的某一个发生了异常,当某个处理部件发生了异常时,改变样本分装时间,以便用发生了异常的处理部件之外的处理部件继续进行样本处理作业;以及
处理部件的个数为n个;
样本分装部件周期性地反复进行一个循环的作业,一个循环的作业中包含以一定周期重复进行的n次样本分装,以此进行样本分装;
当m个处理部件发生异常时,控制部件控制样本分装部件,将一个循环的作业中的样本分装次数变为(n-m)次,其中n>m>0。
2.根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
所述数个处理部件具有第一处理部件和第二处理部件;
样本分装部件周期性地重复进行包含第一次分装时间和第二次分装时间在内的一个循环的作业,以此进行样本分装;
移送部件将在第一次分装时间中分装了样本的反应容器移送到第一处理部件,将在在第二次分装时间中分装了样本的反应容器移送到第二处理部件;
控制部件控制样本分装部件,当第一处理部件发生异常时,在第一次分装时间中跳过样本分装。
3.根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
所述数个处理部件至少有三个处理部件;
样本分装部件周期性地重复进行包含第一次分装时间、第二次分装时间、以及第三次分装时间在内的一个循环的作业,以此进行样本分装;
移送部件将在第一次分装时间进行了样本分装的反应容器移送到三个处理部件中的一个,将在第二次分装时间进行了样本分装的反应容器移送到其余二个处理部件中的一个,将在第三次分装时间进行了样本分装的反应容器移送到其余另一个处理部件;
控制部件控制样本分装部件,当发生异常的处理部件的个数为一个时,跳过第一次~第三次分装时间中的一次分装时间中的样本分装作业,当发生异常的处理部件的个数为二个时,跳过第一次~第三次分装时间中的二次分装时间的样本分装作业。
4.根据权利要求1所述的样本分析装置,还包括:
在运送路线上的取出位置的上游的第一试剂分装位置向反应容器分装试剂的第一试剂分装部件;
其中,
控制部件控制第一试剂分装部件在第一试剂分装位置依次向样本运送部件依次运送过来的已分装完样本的反应容器分装试剂,控制移送部件在取出位置取出样本运送部件依次运送过来的已分装完试剂的各反应容器,并将其移送到某一个处理部件。
5.根据权利要求4所述的样本分析装置,其特征在于:
控制部件控制第一试剂分装部件,当某一个处理部件发生了异常时,不向在发生异常时尚未到达第一试剂分装位置且预定向发生了异常的处理部件移送的反应容器中分装试剂。
6.根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
还具有第二试剂分装部件,用于在位于运送路线上的返回位置下游的第二试剂分装位置向反应容器分装试剂;
控制部件控制第一试剂分装部件,在第一试剂分装位置依次向样本运送部件依次运送过来的、所述处理部件已处理完毕的各反应容器分装试剂。
7.根据权利要求6所述的样本分析装置,其特征在于:
控制部件控制第二试剂分装部件,当某一个处理部件发生了异常时,向在发生异常时尚未到达第二试剂分装位置且已经由所述处理部件处理完毕的反应容器中分装试剂。
8.根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
控制部件控制移送部件和样本运送部件,当某一个处理部件发生了异常时,不让移送部件取出原定移送到发生了异常的处理部件的反应容器,而使该反应容器从取出位置通过。
9.根据权利要求8所述的样本分析装置,还包括:
光学测定部件,用于对反应容器内的样本进行光学测定;
废弃部件,用于废弃反应容器;及
第二移送部件,取出运到运送路线上的第二取出位置的反应容器,并将取出的反应容器移送到光学测定部件和废弃部件;
其中,
控制部件控制第二移送部件,在第二取出位置取出未被移送部件取出的、从取出位置通过的反应容器,将取出的反应容器移送至废弃部件。
10.根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
样本运送部件有用于沿运送路线依次运送所固定的数个反应容器的运送台。
11.根据权利要求1所述的样本分析装置,还包括:
第二运送部件,依次向样本分装位置运送反应容器;及
第三移送部件,将已分装完样本的反应容器从第二运送部件移至样本运送部件。
12.根据权利要求11所述的样本分析装置,还包括:
在第二运送部件的运送路线上的第三试剂分装位置上,向反应容器分装试剂的第三试剂分装部件;
控制部件控制第二运送部件和第三试剂分装部件,将反应容器移送到第三试剂分装部件的第三试剂分装位置,向位于第三试剂分装位置上的反应容器分装试剂,再将已分装完试剂的反应容器运送到样本分装位置。
13.根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
当数个处理部件均发生异常时,控制部件停止样本分装部件的样本分装作业。
14.根据权利要求1所述的样本分析装置,还包括:
第二处理站,包括:
数个处理部件,用于固定反应容器,并对各反应容器中的样本进行数个处理步骤;
移送部件,在运送路线上的第三取出位置取出反应容器,并将其移送到某一个处理部件,处理步骤完成后,再将反应容器移回运送路线上的第三返回位置,以此在数个处理部件和样本运送部件之间移送反应容器;
控制部件判断第二处理站的各处理部件是否发生异常,当某一个处理部件发生了异常时,控制样本分装部件改变样本分装时间,以便用未发生异常的处理部件继续进行样本处理作业。
15.根据权利要求14所述的样本分析装置,其特征在于:
控制部件控制样本分装部件,当所述处理站的某一个处理部件发生了异常,且所述第二处理站的某一个处理部件也发生了异常时,根据所述处理站和所述第二处理站中处理部件发生异常的次数多的一方的异常发生次数,改变样本分装时间。
16.根据权利要求14所述的样本分析装置,其特征在于:
当所述处理站的某一个处理部件发生异常,且所述第二处理站的某一个处理部件也发生异常时,控制部件按一定分配顺序向各反应容器分配所述处理站中未发生异常的处理部件,同时按一定分配顺序分配所述第二处理站中未发生异常的处理部件。
17.根据权利要求14所述的样本分析装置,其特征在于:
当所述处理站和所述第二处理站的某一方中所有的处理部件均发生异常时,控制部件停止样本分装部件的样本分装作业。
18.根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
处理部件的处理是B/F分离处理,即去除反应容器中的样本所含有的未反应的抗原。
19.根据权利要求1所述的样本分析装置,还包括:
分别与数个处理部件相对应地设置,用于检测出各处理部件的异常的数个异常检测部件。
20.根据权利要求19所述的样本分析装置,其特征在于:
所述处理部件有用于搅拌反应容器的马达;
所述异常检测部件用于检测出马达的异常。
CN2011103057826A 2010-10-12 2011-10-11 样本分析装置 Active CN102565437B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010229947A JP5613522B2 (ja) 2010-10-12 2010-10-12 検体分析装置
JP2010-229947 2010-10-12

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102565437A CN102565437A (zh) 2012-07-11
CN102565437B true CN102565437B (zh) 2013-12-25

Family

ID=44946965

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2011103057826A Active CN102565437B (zh) 2010-10-12 2011-10-11 样本分析装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9304140B2 (zh)
EP (1) EP2442111B1 (zh)
JP (1) JP5613522B2 (zh)
CN (1) CN102565437B (zh)

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9535082B2 (en) 2013-03-13 2017-01-03 Abbott Laboratories Methods and apparatus to agitate a liquid
US10058866B2 (en) 2013-03-13 2018-08-28 Abbott Laboratories Methods and apparatus to mitigate bubble formation in a liquid
USD978375S1 (en) 2013-03-13 2023-02-14 Abbott Laboratories Reagent container
USD962471S1 (en) 2013-03-13 2022-08-30 Abbott Laboratories Reagent container
CN104111343B (zh) * 2013-04-16 2018-01-23 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 一种样本试剂分注装置、免疫分析仪及其方法
EP3149475B1 (en) * 2014-05-29 2021-12-08 Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Method and apparatus for reducing carryover of reagents and samples in analytical testing
JP6322114B2 (ja) * 2014-09-30 2018-05-09 シスメックス株式会社 検体処理装置
JP6432883B2 (ja) * 2014-11-21 2018-12-05 国立研究開発法人産業技術総合研究所 動作指令生成装置、動作指令生成方法、コンピュータプログラム、及び処理システム
CN110045112B (zh) * 2015-03-31 2022-08-05 希森美康株式会社 免疫测定装置
CN106841645B (zh) * 2017-01-06 2018-09-21 深圳迎凯生物科技有限公司 一种反应孵育装置、免疫分析仪及反应孵育方法
CN108398311A (zh) * 2017-03-03 2018-08-14 冷彦宁 全封闭式磁分离系统
CN110691975B (zh) * 2017-06-02 2024-02-02 株式会社日立高新技术 自动分析装置和分析方法
JP6637550B2 (ja) * 2018-06-27 2020-01-29 シスメックス株式会社 検体分析装置
JP6659773B2 (ja) * 2018-06-27 2020-03-04 シスメックス株式会社 検体分析装置
JP6979054B2 (ja) * 2018-06-27 2021-12-08 シスメックス株式会社 検体分析装置
WO2020041923A1 (zh) * 2018-08-27 2020-03-05 深圳迎凯生物科技有限公司 清洗方法及样本分析方法
CN113032943B (zh) * 2019-12-24 2024-04-02 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 样本分析系统及其输入装置、输出装置、区域配置方法
CN113125779A (zh) * 2019-12-31 2021-07-16 科美诊断技术股份有限公司 样本处理方法和装置
CN114008460A (zh) * 2019-12-31 2022-02-01 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 一种样本分析装置和样本分析方法
CN116008046B (zh) * 2022-12-26 2023-11-10 广州市进德生物科技有限公司 一种自动稀释加样装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101520463A (zh) * 2008-02-29 2009-09-02 希森美康株式会社 分析装置及从异常重新开始测定的方法
CN101520464A (zh) * 2008-02-27 2009-09-02 希森美康株式会社 标本分析装置及其异常控制方法和控制系统

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2815433B2 (ja) 1989-12-13 1998-10-27 株式会社日立製作所 自動分析装置
JP3493910B2 (ja) * 1996-08-23 2004-02-03 株式会社日立製作所 自動化処理システム
JP3428426B2 (ja) 1997-03-26 2003-07-22 株式会社日立製作所 検体分析システム
JP3646531B2 (ja) * 1998-09-14 2005-05-11 株式会社日立製作所 検体搬送システム
JP4763160B2 (ja) * 2001-06-18 2011-08-31 日立アロカメディカル株式会社 分注良否判定装置
JP3990945B2 (ja) * 2002-06-28 2007-10-17 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP3972012B2 (ja) * 2003-03-19 2007-09-05 株式会社日立ハイテクノロジーズ 試料分注機構及びそれを備えた自動分析装置
JP4213574B2 (ja) * 2003-12-02 2009-01-21 株式会社東芝 化学分析装置及びその分析処理方法
JP4538345B2 (ja) * 2005-03-02 2010-09-08 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
US20070172390A1 (en) 2006-01-23 2007-07-26 Sysmex Corporation Analyzing apparatus, solid-liquid separation device and solid-liquid separation method
WO2007135921A1 (ja) * 2006-05-22 2007-11-29 Olympus Corporation 分析装置
JP2008209339A (ja) * 2007-02-28 2008-09-11 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2008224439A (ja) * 2007-03-13 2008-09-25 Olympus Corp 分析装置および異常特定方法
KR20100009645A (ko) * 2007-06-19 2010-01-28 베크만 컬터, 인코포레이티드 이상 특정 방법 및 분석 장치
JP5220014B2 (ja) * 2007-07-18 2013-06-26 ベックマン コールター, インコーポレイテッド 分析装置とその異常対処方法
JP5170737B2 (ja) * 2007-09-20 2013-03-27 シスメックス株式会社 検体分析装置
JP5203979B2 (ja) * 2008-02-06 2013-06-05 株式会社東芝 自動分析装置
JP5171368B2 (ja) * 2008-04-17 2013-03-27 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP5143630B2 (ja) * 2008-05-22 2013-02-13 シスメックス株式会社 分析装置
JP2010060334A (ja) * 2008-09-01 2010-03-18 Olympus Corp 撹拌装置、その回転数監視方法及び分析装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101520464A (zh) * 2008-02-27 2009-09-02 希森美康株式会社 标本分析装置及其异常控制方法和控制系统
CN101520463A (zh) * 2008-02-29 2009-09-02 希森美康株式会社 分析装置及从异常重新开始测定的方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JP特开2008-224439A 2008.09.25

Also Published As

Publication number Publication date
CN102565437A (zh) 2012-07-11
EP2442111A2 (en) 2012-04-18
EP2442111A3 (en) 2015-12-02
US20120087830A1 (en) 2012-04-12
JP2012083227A (ja) 2012-04-26
EP2442111B1 (en) 2021-09-01
US9304140B2 (en) 2016-04-05
JP5613522B2 (ja) 2014-10-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102565437B (zh) 样本分析装置
JP6132884B2 (ja) 自動分析装置
CN102914662B (zh) 样本分析装置
WO2013103119A1 (ja) 自動分析装置および自動分析装置における試薬処理方法
WO2018163674A1 (ja) 自動分析装置
CN113219193B (zh) 样本分析方法和样本分析装置
JP3391734B2 (ja) 生体サンプルの取扱い方法及び分析装置
WO2020235134A1 (ja) 自動分析装置
CN101393224A (zh) 标本分析仪及其移液装置
CN113219191B (zh) 分析装置
CN113219194B (zh) 分析装置
WO2020183982A1 (ja) 自動分析装置および自動分析方法
CN112166327B (zh) 自动分析装置及试样的搬送方法
JP4101466B2 (ja) 生体サンプルの分析装置
CN113219195A (zh) 分析装置
CN113272653B (zh) 自动分析装置、自动分析系统以及检体的自动分析方法
JP2000258430A (ja) 自動分析方法および自動分析装置
CN113219185B (zh) 稀释方法及稀释装置
JP3380542B2 (ja) 生体サンプルの分析方法
CN113874730A (zh) 自动分析系统及样本的传送方法
CN113219192B (zh) 反应器转移方法
WO2020166611A1 (ja) 分析装置
JP2000266758A (ja) 自動分析装置及びそれを用いる分析方法
JP2010151670A (ja) 自動分析装置
CN117805357A (zh) 样本分析仪及注液控制方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant