CN101867357B - 信号频率改变电路及其频率改变方法 - Google Patents
信号频率改变电路及其频率改变方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101867357B CN101867357B CN200910159246.2A CN200910159246A CN101867357B CN 101867357 B CN101867357 B CN 101867357B CN 200910159246 A CN200910159246 A CN 200910159246A CN 101867357 B CN101867357 B CN 101867357B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- signal
- delay
- clock signal
- frequency
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/316—Testing of analog circuits
- G01R31/3163—Functional testing
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
- H03K5/133—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals using a chain of active delay devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F7/00—Methods or arrangements for processing data by operating upon the order or content of the data handled
- G06F7/60—Methods or arrangements for performing computations using a digital non-denominational number representation, i.e. number representation without radix; Computing devices using combinations of denominational and non-denominational quantity representations, e.g. using difunction pulse trains, STEELE computers, phase computers
- G06F7/68—Methods or arrangements for performing computations using a digital non-denominational number representation, i.e. number representation without radix; Computing devices using combinations of denominational and non-denominational quantity representations, e.g. using difunction pulse trains, STEELE computers, phase computers using pulse rate multipliers or dividers pulse rate multipliers or dividers per se
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/00006—Changing the frequency
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
- H03K5/135—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals by the use of time reference signals, e.g. clock signals
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K2005/00013—Delay, i.e. output pulse is delayed after input pulse and pulse length of output pulse is dependent on pulse length of input pulse
- H03K2005/00019—Variable delay
- H03K2005/00058—Variable delay controlled by a digital setting
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Mathematical Analysis (AREA)
- Mathematical Optimization (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Pure & Applied Mathematics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Computational Mathematics (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Pulse Circuits (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Abstract
给出了一种信号频率改变电路及其频率改变方法。所述信号频率改变电路包括延迟线、检测器、控制器、多路复用部件和输出部件。延迟线对应于延迟控制信号把时钟信号延迟第一延迟时间以便生成延迟信号,并且把所述时钟信号延迟短于第一延迟时间的第二延迟时间以便生成预频率改变时钟信号。检测器生成锁相完成信号。控制器顺序地移位延迟控制信号和多路复用控制信号。多路复用部件选择并输出预频率改变时钟信号之一。输出部件生成频率改变时钟信号。
Description
相关申请的交叉引用
本申请按照35U.S.C119(a)要求了于2009年4月15日在韩国知识产权局提交的韩国申请序列号10-2009-0032898的优先权益,在此如完全阐明一般将其全部内容通过引用加以结合。
技术领域
本发明涉及一种半导体集成电路,尤其涉及一种信号频率改变电路及其频率改变方法。
背景技术
半导体集成电路需要其频率高于从外部控制器所提供的时钟信号的频率的时钟信号,以便测试其工作。
半导体测试设备没有提供具有高频率以便测试半导体集成电路的适当时钟信号。
因此,在半导体集成电路内部提供了信号频率改变电路,用于把从外部提供的时钟信号的频率例如改变为两倍频率那么高。
图1是依照在现有技术中公知的一个例子的信号频率改变电路1的电路图,并且图2是依照在现有技术中公知的另一例子的信号频率改变电路10的框图。
如图1所示,依照现有技术的信号频率改变电路1包括延迟器件‘DLY’和异或门‘XOR1’。
在图1中所示出的信号频率改变电路1对时钟信号‘CLK’和延迟器件‘DLY’的输出信号‘A’执行XOR操作,以便生成其频率为时钟信号‘CLK’频率两倍的输出信号‘OUT’。
如图2所示,依照现有技术的另一实施例的信号频率改变电路10包括计数器11、振荡器12和逻辑电路13。
在图2所示出的信号频率改变电路10中,振荡器12生成与时钟信号‘CLK’相比具有更高频率的振荡信号(OSC),以及计数器11进行计数并且输出振荡信号‘OSC’。而且,逻辑电路13使用计数器11的输出来生成其周期与时钟信号‘CLK’的一个周期的一半相对应的输出信号‘OUT’,即其频率为时钟信号‘CLK’频率的两倍。
尽管依照现有技术的信号频率改变电路1的结构简单,不过由于输出信号‘OUT’的占空度依照延迟器件‘DLY’而显著地波动,这增加了出现占空度错误的概率,所以可能出现问题。例如,时钟信号‘CLK’的占空度错误可能由于在输出信号‘OUT’的上升沿中的抖动而出现。
此外,由于依照振荡器12的工作而增加了电流消耗,并且依照计数器11的输出信号的位数的增加而增加了电路面积,所以依照现有技术的信号频率改变电路10可能会有问题。
发明内容
这里描述了能够使占空度错误最小化并且减少电流消耗的信号频率改变电路及其频率改变方法。
在一个实施例中,依照实施例的信号频率改变电路包括:延迟线,配置为对应于延迟控制信号把时钟信号延迟第一延迟时间以便生成延迟信号,并且把时钟信号延迟小于第一延迟时间的第二延迟时间以便生成预频率改变时钟信号;检测器,配置为使用延迟信号来检测时钟信号的具体相位以便生成锁相完成信号;控制器,配置为使用在锁相完成信号的激活时间点之前所提供的时钟信号来顺序地移位延迟控制信号和多路复用控制信号;多路复用部件,配置为响应于多路复用控制信号来选择并输出预频率改变时钟信号之一;和输出部件,配置为使用时钟信号和多路复用部件的输出信号来生成其频率被改变为不同于时钟信号的频率的频率改变时钟信号。
在另一实施例中,依照实施例的信号频率改变电路包括:延迟线,包括均具有逻辑器件的链结构的多个延迟单元,通过响应于延迟控制信号而被激活的延迟单元来延迟时钟信号以便生成延迟信号,并且输出在多个延迟单元的逻辑器件的链结构中与单位延迟时间的一半对应的逻辑器件的输出信号来作为预频率改变时钟信号,所述单位延迟时间指所述多个延迟单元中的各延迟单元的延迟时间;检测器,使用延迟信号来检测时钟信号的具体相位并且生成锁相完成信号;控制器,使用在锁相完成信号的激活时间点之前所提供的时钟信号来顺序地移位延迟控制信号和多路复用控制信号;多路复用部件,响应于多路复用控制信号来选择并输出预频率改变时钟信号之一;和输出部件,使用时钟信号和多路复用部件的输出信号来生成其频率被改变为不同于时钟信号的频率的频率改变时钟信号。
在又一实施例中,信号频率改变电路的频率改变方法是具有多个延迟单元的信号频率改变电路的频率改变方法,所述延迟单元把输入信号延迟单位延迟时间并输出,所述单位延迟时间指所述多个延迟单元中的各延迟单元的延迟时间。信号频率改变电路的频率改变方法包括:通过经由多个延迟单元延迟外部时钟信号来生成第一延迟信号,并且通过经由多个延迟单元中的每个把外部时钟信号延迟与单位延迟时间相比减少预定比率的延迟时间来生成第二延迟信号;以及在第二延迟信号当中选择与预定相位差在外部时钟信号和第一延迟信号之间生成的时间点相对应的第二延迟信号,并且通过组合所选的第二延迟信号和外部时钟信号来改变外部时钟信号的频率。
下面在“具体实施方式”中描述这些及其它特征、方面和实施例。
附图说明
结合附图来描述特征、方面和实施例,其中:
图1是依照现有技术一个例子的信号频率改变电路1的电路图;
图2是依照现有技术另一例子的信号频率改变电路10的框图;
图3是依照实施例的信号频率改变电路100的框图;
图4是图3的延迟线120的电路图;
图5是图3的控制器150的电路图;
图6是图3的控制器150的输出波形图;和
图7是依照实施例的信号频率改变电路100的输出波形图。
具体实施方式
以下,将参考附图详细描述优选实施例。
图3是依照实施例的信号频率改变电路100的框图。
如图3所示,依照实施例的信号频率改变电路100包括输入部件110、延迟线120、检测器130、分频器140、控制器150、多路复用部件160和输出部件170。
输入部件110包括第一与门‘AND11’和第二与门‘AND12’。
由于电源电压‘VDD’被施加到第一输入端子,所以向第一与门‘AND11’提供通过第二输入端子输入到延迟线120的时钟信号‘CLK’作为第一输入信号‘CLKI’。
第二与门‘AND12’可以响应于锁相完成信号‘LOCK’来向检测器130传送或中断时钟信号‘CLK’。换句话说,当将锁相完成信号‘LOCK’去激活到高电平时,第二与门‘AND12’把第二输入信号‘CLKI2’传送到检测器130作为时钟信号‘CLK’。当将锁相完成信号‘LOCK’激活到低电平时,第二与门‘AND12’通过把第二输入信号‘CLKI2’锁定到低电平来中断向检测器130输入时钟信号‘CLK’。
依照电路设计方案可以有选择地使用第一与门‘AND11’(其是虚设器件)。换句话说,优选地是,时钟信号‘CLK’输入到延迟线120时的时间点与时钟信号‘CLK’输入到检测器130时的时间点相匹配。因此,为了匹配时钟信号‘CLK’的输入时间点,第一与门‘AND11’被配置为具有与第二与门‘AND12’的延迟时间相同的信号延迟时间。因而,就时间点而言,第一输入信号‘CLKI’和第二输入信号‘CLKI2’可以被认为是相同的信号。
延迟线120接收第一输入信号‘CLKI’和延迟控制信号‘SEL<0:n>’,并且输出延迟信号‘CLKO’和预频率改变时钟信号‘M<0:n>’。
延迟信号‘CLKO’是通过延迟线120把第一输入信号‘CLKI’延迟对应于延迟控制信号‘SEL<0:n>’的时间的信号。
检测器130优选可以被配置为触发电路,并且响应于复位信号‘RST’被初始化。
检测器130按照延迟信号‘CLKO’的上升沿来检测第二输入信号‘CLKI2’的下降沿,以便在低电平激活锁相完成信号‘LOCK’。
分频器140划分第二输入信号‘CLKI2’以便生成划分的时钟信号‘CLK_DIV’。
控制器150使用划分的时钟信号‘CLK_DIV’来生成延迟控制信号‘SEL<0:n>’和多路复用控制信号‘C<0:n>’。
多路复用部件160响应于多路复用控制信号‘C<0:n>’来选择并输出预频率改变时钟信号‘M<0:n>’之一。例如,当多路复用控制信号‘C<n>’被激活时,多路复用部件160选择并输出预频率改变时钟信号‘M<n>’。
输出部件170包括复制物延迟部件171和异或门‘XOR11’。
复制物延迟部件171是延迟器件,其被配置为具有按照建模延迟时间的延迟时间,所述建模延迟时间用于建模实施例的信号频率改变电路的内部延迟时间。即,从输入第一输入信号‘CLKI’到生成多路复用部件160的输出信号的延迟时间。复制物延迟部件171把第一输入信号‘CLKI’延迟建模延迟时间,以便生成输出信号‘CLK_RD’。
异或门‘XOR11’对复制物延迟部件171的输出信号‘CLK_RD’和多路复用部件160的输出信号执行异或操作,以便输出频率改变时钟信号‘CLKFC’。
图4是图3的延迟线120的电路图。
如图4所示,延迟线120包括与非门‘ND10’和多个延迟单元‘DC0到DCn’。
由于经由延迟线120的延迟信号‘CLK0’相对于第一输入信号‘CLKI’具有反向的相位,于是与非门‘ND10’被配置为把延迟信号‘CLK0’的相位再次反向,以便恢复原始相位。
延迟控制信号‘SEL<0:n>’被逐位输入到多个延迟单元‘DC0到DCn’,并且预频率改变时钟信号‘M<0:n>’分别从多个延迟单元‘DC0到DCn’中的每个被逐位输出。延迟控制信号‘SEL<0:n>’是用于确定多个延迟单元‘DC0到DCn’中的每个是否被激活的信号。
多个延迟单元‘DC0到DCn’优选可以被配置为相同的。除别的以外,回顾一个延迟单元‘DC0’的配置,它基本上具有与非门链结构。换句话说,延迟单元被配置为链结构的多个与非门‘ND11到ND13’和反相器‘IV11’。第一输入信号‘CLKI’被施加到与非门‘ND11’的两个输入端子之一并且延迟控制信号‘SEL<0>’被施加到其另一个。由于延迟单元‘DC0’被设置为默认工作状态,所以施加电源电压‘VDD’作为延迟控制信号‘SEL<0>’。与非门‘ND11’的输出信号作为预频率改变时钟信号M<0>被输出。
实施例是用于改变并输出时钟信号‘CLK’的频率的电路。特别地是,所述实施例被配置为输出频率改变时钟信号‘CLKFC’,其频率为时钟信号‘CLK’的频率的两倍。
为了使频率改变时钟信号‘CLKFC’具有为时钟信号‘CLK’频率两倍的频率,预频率改变时钟信号‘M<0>’的延迟时间应当被设置为单位延迟时间的一半,即延迟单元‘DC0’的延迟时间的一半。因此,在用于配置延迟单元‘DC0’的多个与非门‘ND11到ND13’当中具有对应于单位延迟时间一半的延迟时间的任何一个与非门中,输出预频率改变时钟信号‘M<0>’。在图4的实施例中,描述了与非门‘ND11’的输出信号被输出作为预频率改变时钟信号‘M<0>’的例子。
如上所述,所述实施例可以在预频率改变时钟信号‘M<0>’的延迟时间对应于单位延迟时间一半时,通过改变延迟单元‘DC0’的电路即控制多个与非门‘ND11至ND13’的大小,来输出其它与非门‘ND12和ND13’的输出作为预频率改变时钟信号‘M<0>’。当然,延迟单元被配置为除与非门之外的其它逻辑器件的情况被预想为遵循上述原理。
从而,预频率改变时钟信号‘M<0:n>’具有与在多个延迟单元‘DC0到DCn’当中被激活的延迟单元的总延迟时间的一半相对应的延迟时间。例如,预频率改变时钟信号‘M<n>’具有对应于多个延迟单元‘DC0到DCn’全部的延迟时间一半的延迟时间。
图5是图3的控制器150的电路图。
如图5所示,控制器150包括移位寄存器151和延迟控制信号生成器152。
移位寄存器151可以包括多个反相器‘IV21和IV22’、与非门‘ND21’和多个触发电路‘FF0到FFn’。
延迟控制信号生成器152可以由多个NOR门‘NR30_0到NR30_n-1’和多个反相器‘IV30_0到IV30_n-2’来配置。
图6是图3的控制器150的输出波形图。
如图6所示,移位寄存器151响应于划分的时钟信号‘CLK_DIV’来变换电源电压‘VDD’的电平,以便生成多路复用控制信号‘C<0:n>’。当在高电平激活多路复用控制信号‘C<0:n>’的最高有效位‘C<n>’时,移位寄存器151中断划分的时钟信号‘CLK_DIV’的输入,以便停止电源电压‘VDD’变换操作。
延迟控制信号生成器152使用多路复用控制信号‘C<0:n-1>’生成延迟控制信号‘SEL<1:n>’。例如,地电压‘VSS’和多路复用控制信号‘C<0>’被或非以便生成延迟控制信号‘SEL<1>’,并且延迟控制信号‘SEL<1>’经过非运算后和后续序列的多路复用控制信号‘C<1>’被或非以便生成延迟控制信号‘SEL<2>’。
下面将描述如上配置的依照实施例的信号频率改变电路100的工作。
锁相完成信号‘LOCK’是在初始工作状态中在高电平未被激活的状态。因此,从第二与门‘AND12’输出的第二输入信号‘CLKI2’被输入到检测器130和分频器140。
图4的延迟线120把第一输入信号‘CLKI’延迟按照延迟控制信号‘SEL<0:n>’的初始值被激活的延迟单元(例如,‘DC0’)的延迟时间并且输出延迟信号‘CLK0’。此时,延迟控制信号‘SEL<0:n>’的初始值只激活在所有信号位中的‘SEL<0>’。
如图6所示,图5的控制器150按照从分频器140所生成的划分的时钟信号‘CLK-DIV’来顺序地移位多路复用控制信号‘C<0:n>’和延迟控制信号‘SEL<0:n>’。
同时,检测器130按照从延迟线120所输出的延迟信号‘CLK0’的上升沿来检测第二输入信号‘CLKI2’的下降沿。
增加按照顺序激活的延迟控制信号‘SEL<0:n>’被激活的延迟单元的数目,从而增加延迟线120的延迟时间。
图7是依照实施例的信号频率改变电路100的输出波形图。
如图7所示,逐渐地增加延迟信号‘CLK0’的延迟时间,并且检测器130在预定的时间点检测第二输入信号‘CLKI2’的下降沿以便在低电平激活锁相完成信号‘LOCK’。
由于在低电平激活锁相完成信号‘LOCK’,所以第二与门‘AND12’把第二输入信号‘CLKI2’锁定在低电平,由此中断时钟信号‘CLK’向检测器130和分频器140的输入。
由于在低电平锁定第二输入信号‘CLKI2’,所以检测器130把锁相完成信号‘LOCK’维持在低电平,并且控制器150停止多路复用控制信号‘C<0:n>’和延迟控制信号‘SEL<0:n>’的移位操作。
例如,假定控制器150处于激活多路复用控制信号‘C<4>’的状态,并且假定延迟控制信号‘SEL<4>’处于在低电平激活锁相完成信号‘LOCK’的时间点,于是多路复用控制信号‘C<5:n>’和延迟控制信号‘SEL<5:n>’不被激活。
多路复用部件160响应于激活的多路复用控制信号‘C<4>’而在预频率改变时钟信号‘M<0:n>’当中选择并输出预频率改变时钟信号‘M<4>’。
此时,通过在激活的延迟单元‘DC0到DC4’当中的延迟单元‘DC4’所输出的预频率改变时钟信号‘M<4>’的延迟时间与响应于延迟控制信号‘SEL<4>’的激活而经由延迟单元‘DC0到DC4’的第一输入信号‘CLKI’的延迟时间的一半相对应。
输出部件170的异或门‘XOR11’对预频率改变时钟信号‘M<4>’和通过复制物延迟部件171被延迟建模延迟时间的第一输入信号执行异或操作,以便输出频率改变时钟信号‘CLKFC’,如图7所示。此时,预频率改变时钟信号‘M<4>’和复制物延迟部件171的输出信号‘CLK_RD’的相位差对应于输出信号‘CLK_RD’周期的1/4。因此,当预频率改变时钟信号‘M<4>’和输出信号‘CLK_RD’被异或时,那么可以生成其频率为时钟信号‘CLK’的频率两倍的频率改变时钟信号‘CLKFC’。
如图7所示,可以理解,在于低电平去激活锁相完成信号‘LOCK’之后,可以生成频率改变时钟信号‘CLKFC’,其具有为第一输入信号‘CLKI’两倍的频率以及恒定的占空度。
本发明使用了通过延迟线120和检测器130来检测第一输入信号‘CLKI’和延迟信号‘CLK0’具有刚好彼此相反的相位时的时间点的方案。因此,可以生成频率改变时钟信号‘CLKFC’,其具有为时钟信号频率两倍的频率并且具有统一的占空度,而不考虑时钟信号‘CLK’的频率。
尽管以上实施例描述了用于把输入信号的频率改变为两倍那么高的频率的实施例,不过实施例并不局限于此。上述实施例的工作原理为:预频率改变时钟信号‘M<0>’的延迟时间应当被设置为单位延迟时间的一半,即延迟单元‘DC0’的延迟时间的一半,以便频率改变时钟信号‘CLKFC’具有为时钟信号频率两倍的频率。根据上述实施例可以理解,可以通过改变延迟线120的设计而使用不同的倍数(例如,三倍,四倍等)来改变输入信号的频率。
虽然上面已经描述了特定的实施例,不过应当理解所描述的实施例仅仅是为了举例。据此,不应当根据所描述的实施例来限制这里所描述的设备和方法。相反,这里所描述的设备和方法应当仅仅鉴于当结合以上描述和附图时的所附权利要求来加以限定。
Claims (29)
1.一种信号频率改变电路,包括:
延迟线,配置为响应于延迟控制信号把时钟信号延迟第一延迟时间以便生成延迟信号,并且把时钟信号延迟小于第一延迟时间的第二延迟时间以便生成预频率改变时钟信号;
检测器,配置为使用延迟信号来检测时钟信号的具体相位以便生成锁相完成信号;
控制器,配置为使用在锁相完成信号的激活时间点之前所提供的时钟信号来顺序地移位所述延迟控制信号和多路复用控制信号;
多路复用部件,配置为响应于多路复用控制信号来选择并输出预频率改变时钟信号之一;和
输出部件,配置为通过使用时钟信号和多路复用部件的输出信号来生成其频率被改变为不同于时钟信号的频率的频率改变时钟信号。
2.如权利要求1所述的信号频率改变电路,其中所述第二延迟时间对应于所述第一延迟时间的一半。
3.如权利要求1所述的信号频率改变电路,其中所述延迟线包括多个延迟单元,所述多个延迟单元中的每个具有多个逻辑器件的链结构,并且输出与所述第二延迟时间相对应的信号的多个逻辑器件之一的输出信号被生成作为呈链结构的预频率改变时钟信号的信号位。
4.如权利要求1所述的信号频率改变电路,其中所述检测器被配置为使用延迟信号的上升沿来检测时钟信号的下降沿,以便激活锁相完成信号。
5.如权利要求4所述的信号频率改变电路,其中所述检测器包括触发电路,所述触发电路被配置来使得时钟信号被输入到输入端子、延迟信号被输入到时钟信号端子以及锁相完成信号被输出到输出端子。
6.如权利要求1所述的信号频率改变电路,其中所述控制器被配置为响应于多路复用控制信号的最高有效位的激活来停止移位多路复用控制信号。
7.如权利要求1所述的信号频率改变电路,其中所述控制器包括:
移位寄存器,配置为通过响应于时钟信号而变换电源电压的电平来生成多路复用控制信号;和
延迟控制信号生成器,配置为通过按照位的序列以两位组合多路复用控制信号来生成延迟控制信号。
8.如权利要求7所述的信号频率改变电路,其中所述移位寄存器被配置为当多路复用控制信号的最高有效位未被激活时接收时钟信号。
9.如权利要求7所述的信号频率改变电路,其中所述延迟控制信号生成器被配置为通过按照位的序列以两位组合多路复用控制信号的除了最低有效位之外的其余位来生成延迟控制信号。
10.如权利要求1所述的信号频率改变电路,其中所述输出部件被配置为通过组合所述多路复用部件的输出信号和把时钟信号延迟从输入时钟信号到生成所述多路复用部件的输出信号的延迟时间的信号来生成频率改变时钟信号。
11.如权利要求1所述的信号频率改变电路,其中所述输出部件包括:
复制物延迟部件,配置为接收时钟信号;和
逻辑器件,配置为通过对所述复制物延迟部件的输出和所述多路复用部件的输出进行异或来生成频率改变时钟信号。
12.如权利要求1所述的信号频率改变电路,进一步包括用于在锁相完成信号的去激活周期期间向所述检测器和所述控制器提供时钟信号的输入部件。
13.如权利要求1所述的信号频率改变电路,进一步包括用于划分时钟信号并且把划分的时钟信号提供给所述控制器的分频器。
14.一种信号频率改变电路,包括:
延迟线,包括多个延迟单元,每个延迟单元具有逻辑器件的链结构,其中所述延迟线被配置为通过响应于延迟控制信号而被激活的延迟单元来延迟时钟信号以便生成延迟信号,并且所述延迟线输出多个延迟单元的链结构中与单位延迟时间的一半相对应的逻辑器件的输出信号来作为预频率改变时钟信号,所述单位延迟时间指所述多个延迟单元中的各延迟单元的延迟时间;
检测器,配置为使用延迟信号来检测时钟信号的具体相位并且生成锁相完成信号;
控制器,配置为使用在锁相完成信号的激活时间点之前所提供的时钟信号来顺序地移位延迟控制信号并且移位多路复用控制信号;
多路复用部件,配置为响应于多路复用控制信号来选择并输出预频率改变时钟信号之一;和
输出部件,配置为通过使用时钟信号和所述多路复用部件的输出信号来生成其频率被改变为不同于时钟信号的频率的频率改变时钟信号。
15.如权利要求14所述的信号频率改变电路,其中所述检测器被配置为通过使用延迟信号的上升沿来检测时钟信号的下降沿,以便激活锁相完成信号。
16.如权利要求15所述的信号频率改变电路,其中所述检测器包括触发电路,所述触发电路被配置来使得时钟信号被输入到输入端子、延迟信号被输入到时钟信号端子以及锁相完成信号被输出到输出端子。
17.如权利要求14所述的信号频率改变电路,其中所述控制器被配置为响应于多路复用控制信号的最高有效位的激活而停止移位多路复用控制信号。
18.如权利要求14所述的信号频率改变电路,其中所述控制器包括:
移位寄存器,配置为通过响应于时钟信号而变换电源电压的电平来生成多路复用控制信号;和
延迟控制信号生成器,配置为通过按照位的序列以两位组合多路复用控制信号来生成延迟控制信号。
19.如权利要求18所述的信号频率改变电路,其中所述移位寄存器被配置为当多路复用控制信号的最高有效位被去激活时接收时钟信号。
20.如权利要求18所述的信号频率改变电路,其中所述延迟控制信号生成器被配置为通过按照位的序列组合多路复用控制信号的除最低有效位之外的其余位来生成延迟控制信号。
21.如权利要求14所述的信号频率改变电路,其中所述输出部件被配置为通过组合所述多路复用部件的输出信号和把时钟信号延迟从输入时钟信号到生成所述多路复用部件的输出信号的延迟时间的信号来生成频率改变时钟信号。
22.如权利要求14所述的信号频率改变电路,其中所述输出部件包括:
复制物延迟部件,配置为接收时钟信号;和
逻辑器件,配置为通过对所述复制物延迟部件的输出和所述多路复用部件的输出进行异或来生成频率改变时钟信号。
23.如权利要求14所述的信号频率改变电路,进一步包括用于在锁相完成信号的去激活周期期间向所述检测器和所述控制器提供时钟信号的输入部件。
24.如权利要求14所述的信号频率改变电路,进一步包括用于划分时钟信号并且把划分的时钟信号提供给所述控制器的分频器。
25.一种具有多个延迟单元的信号频率改变电路的频率改变方法,所述多个延迟单元把输入信号延迟单位延迟时间并输出,所述单位延迟时间指所述多个延迟单元中的各延迟单元的延迟时间,该方法包括:
通过经由所述多个延迟单元延迟外部时钟信号来生成第一延迟信号,并且通过经由所述多个延迟单元中的每个把外部时钟信号延迟与所述单位延迟时间相比减少预定比率的延迟时间来生成第二延迟信号;以及
在第二延迟信号当中选择与预定相位差在外部时钟信号和第一延迟信号之间生成的时间点相对应的第二延迟信号,并且通过组合所选的第二延迟信号和外部时钟信号来改变外部时钟信号的频率。
26.如权利要求25所述的信号频率改变电路的频率改变方法,其中所述预定相位差是时钟信号的周期的一半的相位差。
27.如权利要求25所述的信号频率改变电路的频率改变方法,其中按照所述预定比率减少的延迟时间是对应于所述单位延迟时间的一半的延迟时间。
28.如权利要求25所述的信号频率改变电路的频率改变方法,其中通过使外部时钟信号的频率增为两倍来改变外部时钟信号的频率。
29.如权利要求25所述的信号频率改变电路的频率改变方法,其中通过组合把外部时钟信号延迟建模延迟时间的信号和所选的第二延迟信号来进行所选的第二延迟信号和外部时钟信号的组合,以及
所述建模延迟时间是从输入外部时钟信号到选择第二延迟信号的延迟时间。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090032898A KR101069671B1 (ko) | 2009-04-15 | 2009-04-15 | 신호 주파수 변경 회로 및 그 주파수 변경 방법 |
KR10-2009-0032898 | 2009-04-15 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101867357A CN101867357A (zh) | 2010-10-20 |
CN101867357B true CN101867357B (zh) | 2014-07-23 |
Family
ID=42958942
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN200910159246.2A Expired - Fee Related CN101867357B (zh) | 2009-04-15 | 2009-08-10 | 信号频率改变电路及其频率改变方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7876134B2 (zh) |
JP (1) | JP2010252288A (zh) |
KR (1) | KR101069671B1 (zh) |
CN (1) | CN101867357B (zh) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101562440B (zh) * | 2009-05-12 | 2010-11-10 | 华为技术有限公司 | 延迟模块和方法、时钟检测装置及数字锁相环 |
JP2012120045A (ja) * | 2010-12-02 | 2012-06-21 | Olympus Corp | パルス走行位置検出回路、a/d変換回路および固体撮像素子 |
US8552783B2 (en) * | 2011-06-10 | 2013-10-08 | International Business Machines Corporation | Programmable delay generator and cascaded interpolator |
CN102854451A (zh) * | 2011-06-29 | 2013-01-02 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 印刷电路板的信号群延迟分析系统及方法 |
CN103258571B (zh) * | 2012-02-20 | 2016-02-17 | 北京兆易创新科技股份有限公司 | 一种串行接口快闪存储器及时钟倍频电路 |
US20140218084A1 (en) * | 2013-02-06 | 2014-08-07 | Nvidia Corporation | Approach to clock frequency modulation of a fixed frequency clock source |
US9319037B2 (en) * | 2014-02-03 | 2016-04-19 | Advanced Micro Devices, Inc. | Self-adjusting clock doubler and integrated circuit clock distribution system using same |
US10481187B2 (en) * | 2014-12-31 | 2019-11-19 | Texas Instruments Incorporated | Frequency synthesizer output cycle counter including ring encoder |
US9948317B2 (en) * | 2016-04-12 | 2018-04-17 | Microchip Technology Incorporated | Time-based delay line analog to digital converter |
CN106646282B (zh) * | 2017-01-03 | 2023-05-26 | 中国地质大学(武汉) | 一种基于量化时延法提高fid信号测频精度的方法及电路 |
CN110502065A (zh) * | 2018-05-17 | 2019-11-26 | 瑞昱半导体股份有限公司 | 时钟管理电路及时钟管理方法 |
CN108832915B (zh) * | 2018-09-13 | 2024-05-14 | 长江存储科技有限责任公司 | 一种占空比校准电路 |
CN109856472B (zh) * | 2018-12-13 | 2021-06-29 | 江汉大学 | 基于多路检测信号的小型化鱼池捕检定装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1503362A (zh) * | 2002-11-27 | 2004-06-09 | 海力士半导体有限公司 | 半导体器件内的延迟锁定回路 |
KR20050066167A (ko) * | 2003-12-26 | 2005-06-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 내부 클럭 더블러 및 이를 포함한 반도체 메모리 장치 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05199088A (ja) * | 1991-02-25 | 1993-08-06 | Toshiba Corp | 遅延回路 |
JPH06164339A (ja) * | 1992-11-17 | 1994-06-10 | Nippondenso Co Ltd | デジタル制御遅延装置及びデジタル制御発振装置 |
JP3498891B2 (ja) * | 1998-03-18 | 2004-02-23 | 株式会社東芝 | クロック同期遅延制御回路 |
JP2000132266A (ja) | 1998-10-23 | 2000-05-12 | Mitsubishi Electric Corp | 内部クロック信号発生回路、位相比較器、および内部クロック信号発生回路の試験方法 |
JP2001228216A (ja) | 2000-02-18 | 2001-08-24 | Nec Corp | デバイス動的特性測定用テスト回路 |
US6362668B1 (en) * | 2000-03-23 | 2002-03-26 | Cypress Semiconductor Corp. | Circuit and method for frequency generator control |
US6339346B1 (en) | 2000-08-30 | 2002-01-15 | United Memories, Inc. | Low skew signal generation circuit |
JP2002132375A (ja) * | 2000-10-19 | 2002-05-10 | Yamaha Corp | クロック信号制御回路 |
JP3605033B2 (ja) * | 2000-11-21 | 2004-12-22 | Necエレクトロニクス株式会社 | 固定長遅延生成回路 |
KR100631164B1 (ko) * | 2003-05-31 | 2006-10-02 | 주식회사 하이닉스반도체 | 전력 소모를 줄인 레지스터 제어 지연고정루프 |
KR100682182B1 (ko) | 2004-04-12 | 2007-02-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 내부 클럭 더블러 및 이를 포함한 반도체 메모리 장치 및그의 데이터 출력방법 |
KR100613059B1 (ko) | 2004-04-20 | 2006-08-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 동기 루프 |
US7068081B2 (en) * | 2004-05-04 | 2006-06-27 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Frequency synthesizer with digital phase selection |
US7145371B2 (en) * | 2004-07-30 | 2006-12-05 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Variable frequency generator |
JP4642417B2 (ja) * | 2004-09-16 | 2011-03-02 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路装置 |
US7132863B2 (en) | 2005-04-04 | 2006-11-07 | Freescale Semiconductor, Inc. | Digital clock frequency doubler |
US7667504B2 (en) * | 2007-05-22 | 2010-02-23 | International Business Machines Corporation | Signal delay element, method and integrated circuit device for frequency adjustment of electronic signals |
-
2009
- 2009-04-15 KR KR1020090032898A patent/KR101069671B1/ko active IP Right Grant
- 2009-06-30 US US12/494,408 patent/US7876134B2/en active Active
- 2009-07-30 JP JP2009178346A patent/JP2010252288A/ja not_active Ceased
- 2009-08-10 CN CN200910159246.2A patent/CN101867357B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1503362A (zh) * | 2002-11-27 | 2004-06-09 | 海力士半导体有限公司 | 半导体器件内的延迟锁定回路 |
KR20050066167A (ko) * | 2003-12-26 | 2005-06-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 내부 클럭 더블러 및 이를 포함한 반도체 메모리 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010252288A (ja) | 2010-11-04 |
US7876134B2 (en) | 2011-01-25 |
KR101069671B1 (ko) | 2011-10-04 |
US20100264960A1 (en) | 2010-10-21 |
CN101867357A (zh) | 2010-10-20 |
KR20100114389A (ko) | 2010-10-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101867357B (zh) | 信号频率改变电路及其频率改变方法 | |
KR100789408B1 (ko) | 지연 동기 루프 회로 및 그것의 멀티플라이드 클럭생성방법 | |
US7457191B2 (en) | Apparatus and method of generating output enable signal for semiconductor memory apparatus | |
US7755405B2 (en) | DLL circuit and method of controlling the same | |
US7423461B2 (en) | Phase synchronous circuit | |
US7414446B2 (en) | DLL circuit of semiconductor memory apparatus and method of delaying and locking clock in semiconductor memory apparatus | |
US7889581B2 (en) | Digital DLL circuit | |
US8072822B2 (en) | Data alignment circuit and method of semiconductor memory apparatus | |
KR20140133671A (ko) | 위상 로테이팅 위상동기회로 및 그것의 동작 제어방법 | |
KR20030091015A (ko) | 내부 클럭신호 발생회로 및 방법 | |
KR102534241B1 (ko) | 위상 감지 회로, 이를 포함하는 클럭 생성 회로 및 반도체 장치 | |
KR20170091286A (ko) | 지터감지회로 및 이를 이용한 반도체시스템 | |
CN110007154B (zh) | 数字测量电路和使用数字测量电路的存储器系统 | |
US11170829B2 (en) | Semiconductor device performing duty ratio adjustment operation | |
KR102016532B1 (ko) | 반도체 장치 및 그의 구동방법 | |
CN104283556A (zh) | 时钟延迟检测电路及利用时钟延迟检测电路的半导体装置 | |
US7671649B2 (en) | Apparatus and method for generating multi-phase clocks | |
CN103955256A (zh) | 时钟频率调制的方法和时钟频率调制装置 | |
US20110156767A1 (en) | Delay locked loop and method for driving the same | |
US8125249B2 (en) | Frequency measuring circuit and semiconductor device having the same | |
US6707399B1 (en) | Data realignment techniques for serial-to-parallel conversion | |
US7348789B2 (en) | Integrated circuit device with on-chip setup/hold measuring circuit | |
KR102695012B1 (ko) | 반도체 장치를 테스트하기 위한 클럭 변환 방법 및 이를 포함하는 클럭 변환기 및 테스트 시스템 | |
US8514005B2 (en) | Circuit and method for generating multiphase clock signals and corresponding indication signals | |
US20080238490A1 (en) | Semiconductor device and method for driving the same |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20140723 Termination date: 20160810 |
|
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |