CN101802923A - 用于非易失性存储器的增强型写中断机制 - Google Patents

用于非易失性存储器的增强型写中断机制 Download PDF

Info

Publication number
CN101802923A
CN101802923A CN200880102322A CN200880102322A CN101802923A CN 101802923 A CN101802923 A CN 101802923A CN 200880102322 A CN200880102322 A CN 200880102322A CN 200880102322 A CN200880102322 A CN 200880102322A CN 101802923 A CN101802923 A CN 101802923A
Authority
CN
China
Prior art keywords
voltage
low
memory array
nonvolatile memory
management device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN200880102322A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101802923B (zh
Inventor
史蒂文·T·斯普劳斯
达瓦尔·帕里克
阿琼·卡普尔
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Delphi International Operations Luxembourg SARL
Original Assignee
SanDisk Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from US11/890,708 external-priority patent/US20090040842A1/en
Priority claimed from US11/890,734 external-priority patent/US7599241B2/en
Application filed by SanDisk Corp filed Critical SanDisk Corp
Publication of CN101802923A publication Critical patent/CN101802923A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101802923B publication Critical patent/CN101802923B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/34Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
    • G11C16/3436Arrangements for verifying correct programming or erasure
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/56Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency
    • G11C11/5621Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency using charge storage in a floating gate
    • G11C11/5628Programming or writing circuits; Data input circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/22Safety or protection circuits preventing unauthorised or accidental access to memory cells
    • G11C16/225Preventing erasure, programming or reading when power supply voltages are outside the required ranges
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/30Power supply circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/02Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/02Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
    • G11C29/021Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters in voltage or current generators
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/143Detection of memory cassette insertion or removal; Continuity checks of supply or ground lines; Detection of supply variations, interruptions or levels ; Switching between alternative supplies
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C2029/0409Online test

Abstract

在具有控制器和由控制器控制的非易失性存储器阵列的非易失性存储器(NVM)器件中,电压管理器电路监视为NVM器件供电的电压源的输出。电压管理器电路可以是NVM器件的一部分或者耦连到它。电压管理器电路被配置为响应于检测到为NVM器件供电的电压源的输出下降到预定值以下,使“低电压”信号有效。该控制器被配置为当“低电压”信号无效时将数据写到存储器阵列中,以及当“低电压”信号有效时暂停写数据。响应于“低电压”信号的有效,该控制器完成未决情况下的写周期/编程操作,以及在“低电压”信号的有效期间阻止任何另外的(一个或多个)写周期/编程操作。

Description

用于非易失性存储器的增强型写中断机制
相关申请的声明
本发明可以被视为与申请人共有的以发明人Steven T.Sprouse、DhavalParikh和Arjun Kappour的名义于同一天提交的发明名称为“用于非易失性存储器的增强型写中断机制(Enhanced Write Abort Mechanism forNon-Volatile Memory)”的共同未决美国专利申请序列号11/xxx,xxx(代理人案号SDA-1181X(060589-004))相关。
技术领域
本发明大体上涉及用于非易失性存储器的写中断(abort)机制。
背景技术
二进制和多级单元(MLC)NAND(与非)闪存是具有高数据存储密度和高性能的非易失性存储器(NVM)的形式,然而,由于热拔(hot removal)、供电不足(brownout)、供电中断(blackout)等引起的电力故障(power failure)可能导致由于数据被写入这类存储器的方式的特性而造成数据损坏或丢失。典型地,一次将“一页”或一组比特写到NVM。如果在写周期/编程操作期间发生电力故障,则可能少于该页的所有比特的一些比特被成功编程到NVM中。当读回包含未成功编程的比特的页时,一些比特将具有新的值,而一些将具有旧的值,因此,该页将被损坏。在一些之前的方法中,将主机数据的复杂的数据结构和多重拷贝保存在NVM器件中,以保证在大部分环境下的适度的恢复。不幸的是,该方法降低了性能和数据存储密度。例如,典型地,使用闪速类型的存储器的NVM编程周期取决于存储器的类型而具有0.5-10毫秒的数量级。
可以通过使用被布置来直接对NVM供电的诸如电池或非常大的值的电容器(1000uF的数量级)之类的备用或次级电源来解决该问题,但这些解决方案通常成本高或需要过多的空间。改进的解决方案将是期望的。
发明内容
在具有控制器和由控制器控制的非易失性存储器阵列的非易失性存储器(NVM)器件中,电压管理器电路监视为NVM器件供电的电压源(voltagesupply)的输出。电压管理器电路可以是NVM器件的一部分或者耦连到它。电压管理器电路被配置为响应于检测到为NVM器件供电的电压源的输出下降到预定值以下,使“低电压”信号有效(assert)。控制器被配置为当“低电压”信号无效(deassert)时将数据写到存储器阵列中,以及当“低电压”信号有效时暂停写数据。响应于“低电压”信号的有效,控制器完成未决(pending)情况下的写周期/NVM编程操作,以及在“低电压”信号的有效期间阻止任何另外的(一个或多个)写周期/编程操作。在一个实施例中,公开了一种用于执行写中断处理来在低电压条件期间暂停由存储器控制器将数据写到非易失性存储器阵列中的尝试的方法。该方法可以包括:监视为非易失性存储器阵列供电的电压源的输出;确定在电压源的输出处是否存在低电压条件;以及在低电压条件存在时暂停任何未处理的写命令。而且,公开了一种包括非易失性存储器阵列的非易失性存储器装置。该非易失性存储器装置还可以包括电压管理器电路,被配置为监视为该装置供电的电压源的输出,并且响应于检测到电压源的输出处于低电压状态,使信号有效。另外,可以包括存储器控制器,它与存储器阵列通信,并且被配置为当信号无效时将数据写到存储器阵列中,以及响应于该信号的有效而暂停写数据。
附图说明
合并在说明书中并组成说明书的一部分的附图图示了一个或多个实施例的示例,并且与示例实施例的描述一起,用于解释实施例的原则和实施方式。
在附图中:
图1是图形化地图示来自个人计算机的一个典型电源的断电概况的电压/时间图。
图2是图形化地图示来自个人计算机的另一典型电源的断电概况的类似的电压/时间图。
图3图示了根据一个实施例的耦连到主机的非易失性(NVM)存储器器件的示意性框图。
图4图示了根据一个实施例的理想的电压/时间图和可用来完成未决的写操作的时间。
具体实施方式
这里,在具有控制从/向相关联的非易失性存储器阵列读和写数据的控制器的该类非易失性存储器器件的上下文中,描述示例实施例。本领域技术人员将意识到,下面的描述仅仅是说明性的,并且不试图以任何方式来限制。对于得益于该公开的这种技术人员将容易想到其他实施例。现在将详细进行参考以实现如附图中所图示的示例实施例。贯穿于附图和下面的描述,将使用相同的参考标记来表示相同或类似的项目。
为了清楚,没有示出和描述在这里描述的实施方式的所有常规特征。当然,将理解的是,在任何这种实际实施方式的开发中,必须作出许多实施方式特定的决定以达到诸如符合应用和商业相关的限制之类的开发者的特定目标,并且这些特定目标将在不同实施方式和不同开发者之间改变。而且,将理解的是,这种开发努力可能是复杂和耗时的,但是对于得益于该公开的本领域技术人员,将是常规的工程任务。
根据该公开,可以使用各种类型的操作系统、计算平台、计算机程序和/或通用的机器来实现在这里描述的部件、处理步骤和/或数据结构。另外,本领域技术人员将意识到在不脱离在这里描述的发明构思的范围和精神的情况下,也可以使用诸如硬连线器件、现场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)等具有更少通用目特性的器件。在由计算机或机器来实现包括一系列处理步骤的方法且那些处理步骤可以被存储为由该机器可读的一系列指令的情况下,可以将它们存储在有形介质上,例如计算机存储器器件(例如,ROM(只读存储器)、PROM(可编程只读存储器)、EEPROM(电可擦除可编程只读存储器)、FLASH存储器、跳跃盘等)、磁存储介质(例如,磁带、磁盘等)、光存储介质(例如,CD-ROM、DVD-ROM、纸卡、纸带等)以及其他类型的程序存储器。
在NVM的嵌入式应用中,在(例如,由于存储器器件相对地不可触及、或焊接在位(soldered in place)等)热拔不是实质问题的情况下,可能利用(leverage)该系统的固有电容(例如,电源电容器和印刷电路板电容)来允许“未决”或处理中的NVM程序或者写周期的成功完成。
返回到图1和2,图1是图形化地图示来自个人计算机的一个典型电源的断电概况的电压/时间图。图2是来自个人计算机的另一典型电源的断电概况的类似电压/时间图。在每种情况下,垂直比例尺是每个刻度1伏DC(VDC),以及水平比例尺是每个刻度20毫秒。有趣的是如下事实:在关闭电源时,电源能够在保持该电压达几乎两个刻度,然后电压开始下降。该电压在4.5VDC和2.7VDC之间的电压范围中花了大约25毫秒。在一个实施例中,期望NVM应该能够在大约0.5-5毫秒中完成写周期/编程操作,从而如果在中断电力时存储器正要完成当前的写周期/编程操作并且不开始其他的(一个或多个)写周期/编程操作,则可以在这种NVM应用中消除数据损坏问题。
为了利用大电源的该特征,如图3所示的电压管理器电路304用于检测电压什么时候明显下降——在此(从刚好在5.0VDC以上)到4.5VDC以下的预定电平。在这点上,电压管理器电路被配置为使指示低于电源的正常电压输出的“低电压信号”有效(assert)来警告NVM控制器暂停向NVM存储器阵列进一步写。该方法充分利用如下事实:尽管指定的Vcc_min是4.5VDC,但是控制器和存储器将继续运作(在一个实施例中),直到电压下降到大约2.7VDC。如果斜坡下降率足够低,如图4所示,例如在一个实施例中在大约5-20毫秒中从4.4VDC下降到2.7VDC,则将存在足够的时间来完成未决的写周期/编程操作,并且当由电压管理器电路304继续使“低电压”信号有效时,将暂停进一步的(一个或多个)写周期/编程操作。可以以本领域技术人员已知的便利方式来得到电压管理器电路304的实施方式。
在图3中,系统框图图示了耦连到主机电源302和主机设备304的NVM器件300的配置。主机电源302和主机设备304是传统设计。NVM器件300包括非易失性存储器控制器306、闪存阵列308和电压管理器电路310。在检测到电源的输出电压(Vcc-GND)低于预定值(这里,我们使用5VDC系统中的示例4.4VDC)时,在一个实施例中的电压管理器电路310在线312上使“低电压”信号或“中断”有效。控制器306响应于该信号的有效,完成任何未决(例如,已经启动了)的写周期/NVM编程操作,然后(在一个实施例中)执行重复的算法或循环来重复检测以看低电压信号是否无效(deassert),如同在导致整个电力关闭之前供电中断/供电不足自己解决了的情况下将出现的。运行该重复算法的结果是锁定控制器306,使得(在不使它重置的情况下)没有进一步的写周期/编程操作可以被启动。当然,如果没有恢复电力,则控制器306将最终由于缺乏电力而重置,但是因为很快解决了许多电力小故障,所以该方法在避免不必要的重置的同时保护了存储器内容。在另一实施例中,将“低电压”信号应用为已知为“就绪/繁忙”或“rb”信号的标准闪存控制信号。根据该方法,如果电压管理器310要检测到低电压条件并且从而使该信号有效,则存储器阵列308将完成任何未决的(一个或多个)写周期/编程操作,并且内部地,它将使它的“就绪/繁忙”线无效来向控制器306发信号告知它准备好了执行另一命令(例如,另一写)。然而,电压管理器310可以通过向控制器306使“就绪/繁忙”有效,在效果上推翻(override)来自闪存阵列308的信号,从而阻止存储器有效地发信号告知它做好了准备。以这种方式,控制器306被欺骗以至于作出存储器仍然繁忙的结论(即,直到电压管理器310对于控制器306使“就绪/繁忙”无效)。
根据各种各样的实施例,电压管理器电路304可以是在包括闪存阵列308和控制器306的封装(例如,支持并互连多电路部件的多芯片(chip)模块或者其他封装技术)或裸片(die)(也就是来自半导体晶片的裸片)的外部(该封装或芯片经由与外部电压管理器310的电耦连来接收低电压信号),或者可以将电压管理器电路310集成到包括闪存阵列308和控制器306的封装或裸片中,被实现为封装或裸片自身的一部分的电压管理器电路310从在该封装或裸片外面的电源(例如,从主机电源302)接收+Vcc和GND电力信号。类似地,可以将闪存阵列308和电压管理器310一起集成到单一封装或裸片中,并耦连到外部的控制器306。在这种实施方式中,在包括该阵列/电压管理器的封装/裸片处检测低电压条件,并且电压管理器向外部的控制器306发回信号。而且预期,可以将控制器306和电压管理器310一起集成到与闪存阵列308分开的单个封装/裸片中。
注意,在图3中示出的实施方式中,没有直接向闪存阵列308提供电力线Vcc,而是通过将控制器306耦连到闪存阵列308的控制/数据线来从控制器306提供向闪存阵列308提供的电力。
虽然,示出和描述了实施例和应用,但是将明显的是,对于得益于该公开的本领域技术人员,比上述多的许多修改是可能的而不脱离在此公开的发明构思。因此,除了所附权利要求的精神之外,本发明不受限制。

Claims (18)

1.一种用于执行写中断处理来在低电压条件期间暂停由存储器控制器将数据写到非易失性存储器阵列中的尝试的方法,所述方法包括:
监视为所述非易失性存储器阵列供电的电压源的输出;
确定在所述电压源的输出处是否存在低电压条件;以及
在所述低电压条件存在时暂停任何未处理的写命令。
2.根据权利要求1所述的方法,其中监视所述电压源的输出包括:用电压管理器电路监视所述电压源的输出。
3.根据权利要求1所述的方法,其中确定所述低电压条件是否存在包括:
用电压管理器电路检测在所述电压源的输出处的所述低电压条件,以及如果检测到所述低电压条件,则使低电压条件信号有效。
4.根据权利要求3所述的方法,其中在所述低电压条件存在时暂停任何未处理的写命令包括:完成任何未决的写周期并且阻止后续写命令的任何处理。
5.根据权利要求3所述的方法,其中暂停任何未处理的写命令包括:所述存储器控制器重复执行用于检查以确定所述低电压条件信号的无效的算法,直到所述低电压条件信号无效。
6.根据权利要求2所述的方法,其中确定所述低电压条件是否存在包括:用所述电压管理器电路检测所述电压源的所述低电压条件,以及响应于此,在所述存储器控制器的就绪/繁忙信号线上使低电压条件信号有效。
7.根据权利要求6所述的方法,其中在所述低电压条件存在时暂停任何未处理的写命令包括:
通过使所述控制器响应于在所述存储器控制器的所述就绪/繁忙信号线上的所述低电压条件信号的有效而将所述非易失性存储器阵列视为繁忙以及继续将所述非易失性存储器阵列视为繁忙直到所述低电压条件信号无效,来在所述就绪/繁忙信号线上使所述低电压条件信号有效时暂停任何未处理的写命令。
8.一种非易失性存储器装置,包括:
非易失性存储器阵列;
电压管理器电路,被配置为监视为所述装置供电的电压源的输出,并且响应于检测到所述电压源的输出处于低电压状态,使低电压条件信号有效;以及
存储器控制器,与所述非易失性存储器阵列通信,并且被配置为从所述电压管理器电路接收所述低电压条件信号,其中所述存储器控制器还被配置为在所述低电压条件信号无效时将数据写到所述非易失性存储器阵列中,以及响应于所述低电压条件信号的有效而暂停写数据。
9.根据权利要求8所述的装置,其中所述非易失性存储器阵列、所述存储器控制器和所述电压管理器电路被集成到单一封装中。
10.根据权利要求8所述的装置,其中所述非易失性存储器阵列、所述存储器控制器和所述电压管理器电路被集成到单一裸片中。
11.根据权利要求8所述的装置,其中所述非易失性存储器阵列和所述存储器控制器被集成到单一封装中,以及所述电压管理器电路在所述封装之外。
12.根据权利要求8所述的装置,其中所述非易失性存储器阵列和所述存储器控制器被集成到单一裸片中,以及所述电压管理器电路在所述裸片之外。
13.根据权利要求8所述的装置,其中所述非易失性存储器阵列和所述电压管理器电路被集成到单一封装中,以及所述存储器控制器在所述封装之外。
14.根据权利要求8所述的装置,其中所述非易失性存储器阵列和所述电压管理器电路被集成到单一裸片中,以及所述存储器控制器在所述裸片之外。
15.根据权利要求8所述的装置,其中所述电压管理器电路和所述存储器控制器被集成到单一封装中,以及所述非易失性存储器阵列在所述封装之外。
16.根据权利要求8所述的装置,其中所述电压管理器电路和所述存储器控制器被集成到单一裸片中,以及所述非易失性存储器阵列在所述裸片之外。
17.根据权利要求8所述的装置,其中所述存储器控制器被配置为通过重复检查所述低电压条件信号的状态直到所述低电压条件信号无效,来暂停写数据。
18.根据权利要求8所述的装置,其中所述控制器被配置为响应于在所述控制器的就绪/繁忙信号线上的所述低电压条件信号的有效来暂停写数据,直到所述低电压条件信号无效。
CN200880102322.XA 2007-08-06 2008-08-01 用于非易失性存储器的增强型写中断机制 Active CN101802923B (zh)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/890,734 2007-08-06
US11/890,708 2007-08-06
US11/890,708 US20090040842A1 (en) 2007-08-06 2007-08-06 Enhanced write abort mechanism for non-volatile memory
US11/890,734 US7599241B2 (en) 2007-08-06 2007-08-06 Enhanced write abort mechanism for non-volatile memory
PCT/US2008/071865 WO2009020845A1 (en) 2007-08-06 2008-08-01 Enhanced write abort mechanism for non-volatile memory

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101802923A true CN101802923A (zh) 2010-08-11
CN101802923B CN101802923B (zh) 2014-09-03

Family

ID=40341657

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200880102322.XA Active CN101802923B (zh) 2007-08-06 2008-08-01 用于非易失性存储器的增强型写中断机制

Country Status (5)

Country Link
EP (1) EP2183749B1 (zh)
JP (1) JP4938893B2 (zh)
KR (1) KR101070601B1 (zh)
CN (1) CN101802923B (zh)
WO (1) WO2009020845A1 (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104050107A (zh) * 2013-03-12 2014-09-17 光宝科技股份有限公司 固态储存装置及遭遇低电压时的数据处理方法
CN106683703A (zh) * 2017-03-15 2017-05-17 珠海格力电器股份有限公司 一种数据读取方法、集成电路及芯片
CN108536622A (zh) * 2017-03-06 2018-09-14 爱思开海力士有限公司 存储装置、数据处理系统以及操作存储装置的方法
CN109117391A (zh) * 2017-06-22 2019-01-01 旺宏电子股份有限公司 用于存储器系统的控制器
CN109192234A (zh) * 2018-07-13 2019-01-11 上海移远通信技术股份有限公司 一种保护电路及通信模块

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4863865B2 (ja) * 2006-12-28 2012-01-25 富士通株式会社 情報処理装置,記憶部誤書込み防止方法,および情報処理システム
US8832353B2 (en) 2009-04-07 2014-09-09 Sandisk Technologies Inc. Host stop-transmission handling
JP5348541B2 (ja) * 2009-05-20 2013-11-20 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
KR101624354B1 (ko) * 2009-12-15 2016-06-07 엘지이노텍 주식회사 마이크로 컨트롤러의 데이터 기록 방법
JP5085744B2 (ja) * 2011-01-05 2012-11-28 株式会社東芝 半導体記憶装置
US9202577B2 (en) 2012-03-30 2015-12-01 Intel Corporation Solid state drive management in power loss recovery
WO2013147894A1 (en) * 2012-03-30 2013-10-03 Intel Corporation Solid state drive management in power loss recovery
US9037902B2 (en) 2013-03-15 2015-05-19 Sandisk Technologies Inc. Flash memory techniques for recovering from write interrupt resulting from voltage fault
KR20150054206A (ko) * 2013-11-11 2015-05-20 삼성전자주식회사 플래시 메모리의 데이터 보호 방법 및 장치
JP6541998B2 (ja) * 2015-03-24 2019-07-10 東芝メモリ株式会社 メモリデバイス、半導体装置および情報処理装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6246626B1 (en) * 2000-07-28 2001-06-12 Micron Technology, Inc. Protection after brown out in a synchronous memory
CN1639799A (zh) * 2002-03-05 2005-07-13 皇家飞利浦电子股份有限公司 用于防止错误的数据存储的产品和方法
US20060034120A1 (en) * 2004-08-13 2006-02-16 Kabushiki Kaisha Toshiba Non-volatile semiconductor memory device

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1063442A (ja) * 1996-08-22 1998-03-06 Toshiba Corp 半導体ディスク装置
JP4299890B2 (ja) * 1996-10-30 2009-07-22 株式会社東芝 半導体メモリ応用装置の電源供給回路
US5943263A (en) * 1997-01-08 1999-08-24 Micron Technology, Inc. Apparatus and method for programming voltage protection in a non-volatile memory system
KR100255956B1 (ko) * 1997-07-16 2000-05-01 윤종용 강유전체 메모리 장치 및 그것의 데이터 보호 방법
JP3763192B2 (ja) * 1997-08-04 2006-04-05 富士電機システムズ株式会社 瞬停電時積算値保存回路
JP2000122813A (ja) * 1998-10-13 2000-04-28 Toshiba Corp ディスクアレイ装置
JP2002014947A (ja) * 2000-06-29 2002-01-18 Toshiba Corp マイクロコンピュータ
US6711701B1 (en) * 2000-08-25 2004-03-23 Micron Technology, Inc. Write and erase protection in a synchronous memory
KR100399365B1 (ko) * 2000-12-04 2003-09-26 삼성전자주식회사 페일 비트 검출 스킴을 구비한 불휘발성 반도체 메모리장치 및 그것의 페일 비트 카운트 방법
JP2003002132A (ja) * 2001-06-19 2003-01-08 Koyo Seiko Co Ltd 車両用制御装置
JP2003330627A (ja) * 2002-05-16 2003-11-21 Mitsubishi Electric Corp 記憶装置
KR100471182B1 (ko) * 2002-09-03 2005-03-10 삼성전자주식회사 레디/비지 핀을 이용하여 내부 전압 레벨을 알리는 반도체메모리 장치
US6822899B1 (en) * 2002-12-23 2004-11-23 Cypress Semiconductor Corporation Method of protecting flash memory from data corruption during fast power down events
JP2005286502A (ja) * 2004-03-29 2005-10-13 Casio Comput Co Ltd 携帯情報機器、プログラム書き換え方法、及びプログラム
JP4863865B2 (ja) * 2006-12-28 2012-01-25 富士通株式会社 情報処理装置,記憶部誤書込み防止方法,および情報処理システム

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6246626B1 (en) * 2000-07-28 2001-06-12 Micron Technology, Inc. Protection after brown out in a synchronous memory
CN1639799A (zh) * 2002-03-05 2005-07-13 皇家飞利浦电子股份有限公司 用于防止错误的数据存储的产品和方法
US20060034120A1 (en) * 2004-08-13 2006-02-16 Kabushiki Kaisha Toshiba Non-volatile semiconductor memory device

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104050107A (zh) * 2013-03-12 2014-09-17 光宝科技股份有限公司 固态储存装置及遭遇低电压时的数据处理方法
CN104050107B (zh) * 2013-03-12 2017-01-25 光宝电子(广州)有限公司 固态储存装置及遭遇低电压时的数据处理方法
CN108536622A (zh) * 2017-03-06 2018-09-14 爱思开海力士有限公司 存储装置、数据处理系统以及操作存储装置的方法
CN108536622B (zh) * 2017-03-06 2023-07-21 爱思开海力士有限公司 存储装置、数据处理系统以及操作存储装置的方法
CN106683703A (zh) * 2017-03-15 2017-05-17 珠海格力电器股份有限公司 一种数据读取方法、集成电路及芯片
CN106683703B (zh) * 2017-03-15 2023-09-15 珠海零边界集成电路有限公司 一种数据读取方法、集成电路及芯片
CN109117391A (zh) * 2017-06-22 2019-01-01 旺宏电子股份有限公司 用于存储器系统的控制器
CN109192234A (zh) * 2018-07-13 2019-01-11 上海移远通信技术股份有限公司 一种保护电路及通信模块

Also Published As

Publication number Publication date
JP4938893B2 (ja) 2012-05-23
EP2183749B1 (en) 2013-05-29
CN101802923B (zh) 2014-09-03
KR101070601B1 (ko) 2011-10-06
JP2010536098A (ja) 2010-11-25
EP2183749A1 (en) 2010-05-12
EP2183749A4 (en) 2010-08-04
WO2009020845A1 (en) 2009-02-12
KR20100029268A (ko) 2010-03-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101802923B (zh) 用于非易失性存储器的增强型写中断机制
US9389673B2 (en) Systems and methods of performing a data save operation
US9092150B2 (en) Systems and methods of performing a data save operation
KR102401578B1 (ko) 보조 전원 검사 방법 및 이를 적용한 전자 장치
US8914594B2 (en) Systems and methods of loading data from a non-volatile memory to a volatile memory
US11409348B2 (en) Power backup architecture to manage capacitor health
TWI602115B (zh) 資料儲存裝置之資料儲存方法
JP3687740B2 (ja) 電源供給システム、コンピュータ装置、および最大電力制御方法
TW201216292A (en) Non-volatile memory storage apparatus, memory controller and data storage method
US20140082406A1 (en) Data protection through power loss prediction
US8897092B2 (en) Memory storage device, memory controller and controlling method
KR20060103883A (ko) 반도체 장치
US7599241B2 (en) Enhanced write abort mechanism for non-volatile memory
US20090132798A1 (en) Electronic device and method for resuming from suspend-to-memory state thereof
US20090040842A1 (en) Enhanced write abort mechanism for non-volatile memory
US20090249087A1 (en) Power Event Indicator for Managed Memory Device
US7694163B1 (en) System for generating and monitoring voltages generated for a variety of different components on a common printed circuit board
CN106503542A (zh) 设备参数防改写方法、设备和空调器
TW201042640A (en) Hard disk drive device capable of increasing the execution efficiency, and its read/write method
CN106484567A (zh) 一种flash数据备份的使用方法及系统
US20200105312A1 (en) NVDIMM System with UPS power source
KR101503873B1 (ko) 보조 전원 장치 및 그것을 포함하는 사용자 장치
KR101777810B1 (ko) 보조 전원 장치 및 그것을 포함하는 사용자 장치
CN113050896A (zh) 一种支持nvdimm的国产飞腾服务器及数据保护方法
KR100849224B1 (ko) 메모리 카드 시스템의 메모리 카드에 전원을 공급하는 방법및 메모리 카드 시스템

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
ASS Succession or assignment of patent right

Owner name: SANDISK CORPORATION

Free format text: FORMER OWNER: SANDISK CORP.

Effective date: 20140811

C14 Grant of patent or utility model
C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
GR01 Patent grant
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20140811

Address after: American Texas

Applicant after: Sandisk Corp.

Address before: American California

Applicant before: Sandisk Corp.

C56 Change in the name or address of the patentee
CP03 Change of name, title or address

Address after: texas

Patentee after: DELPHI INT OPERATIONS LUX SRL

Address before: American Texas

Patentee before: Sandisk Corp.