JPH1063442A - 半導体ディスク装置 - Google Patents

半導体ディスク装置

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JPH1063442A
JPH1063442A JP22135696A JP22135696A JPH1063442A JP H1063442 A JPH1063442 A JP H1063442A JP 22135696 A JP22135696 A JP 22135696A JP 22135696 A JP22135696 A JP 22135696A JP H1063442 A JPH1063442 A JP H1063442A
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flash
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flash eeprom
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JP22135696A
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Hiroshi Sukegawa
博 助川
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】ポーリング結果待ちや動作指示待ちなどによる
フラッシュメモリに対するアクセスの遅れをなくし、半
導体ディスク装置の性能向上を図る。 【解決手段】NANDインターフェース19にはフラッ
シュEEPROM11−1〜11−16それぞれからの
レディー/ビジー信号が独立に入力され、個々のフラッ
シュEEPROMのレディー状態の確認はNANDイン
ターフェース19自体によって行われる。NANDイン
ターフェース19は、各々が一連の制御動作を含む複数
の動作パターンについてそれに対応する動作シーケンス
を実行できるように構成されており、MPU14などに
よってレジスタ群20にセットされた動作指示情報に従
って、動作する。従って、ファームウェアからの動作指
示やレディ確認を待つことなく、フラッシュEEPRO
Mに対する一連の制御動作をハードウェア制御で実行す
ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は半導体ディスク装
置に関し、特に複数のフラッシュEEPROMを内蔵
し、ホストからのディスクアクセス要求に応じてそれら
フラッシュEEPROMをアクセスする半導体ディスク
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のワークステーションやパーソナル
コンピュータ等の情報処理装置の多くは、2次記憶装置
として磁気ディスク装置を用いていた。磁気ディスク装
置は、記録の信頼性が高い、ビット単価が安いなどの利
点がある反面、装置のサイズが大きい、物理的な衝撃に
弱いなどの欠点を持つ。
【0003】そこで、近年、装置のサイズが小さく物理
的な衝撃にも強い半導体ディスク装置に注目が集まって
いる。半導体ディスク装置とは、電気的に一括消去が可
能な不揮発性の半導体メモリであるフラッシュEEPR
OMを、従来の磁気ディスク装置などと同様にパーソナ
ルコンピュータなどの2次記憶装置として用いるもので
ある。この半導体ディスク装置には、磁気ディスク装置
の磁気ヘッドや回転ディスクのような機械的な可動部分
を含まないため、物理的な衝撃による誤動作や故障が発
生しにくい。また、装置としてのサイズも小さくなる等
の利点がある。
【0004】ところで、最近では、全ての動作モードが
外部からのコマンドによって指定可能ないわゆるコマン
ド制御タイプのフラッシュEEPROMが種々開発され
ている。
【0005】この種のフラッシュEEPROMは、1ペ
ージ分のデータを保持するデータレジスタを備えてお
り、データレジスタからメモリセルアレイへのデータ書
込み動作や、メモリセルアレイからデータレジスタへの
データ読み出し動作を外部からの制御なしで自動実行す
る事ができる。外部システムは、フラッシュEEPRO
Mのデータ書き込み/読み出し動作が終了したかどうか
を、フラッシュEEPROMからのレディー/ビジー信
号によって判断する事ができる。
【0006】このようなコマンド制御タイプの複数のフ
ラッシュEEPROMを半導体ディスク装置に内蔵して
使用した場合には、その半導体ディスク装置内のコント
ローラは、各種コマンド発行によってフラッシュEEP
ROMの動作モードを一旦指定しさえすればその後はそ
のフラッシュEEPROMの制御から解放される。この
ため、例えば、あるフラッシュEEPROMの書き込み
動作中に、待機中の別のフラッシュEEPROMに対す
るライトアクセスを行う事が可能である。
【0007】しかしながら、従来の半導体ディスク装置
では、複数のフラッシュEEPROMそれぞれからのレ
ディー/ビジー信号のAND出力を1本の信号線として
コントローラに入力する構成が採用されており、フラッ
シュEEPROM毎に独立してその動作状態(レディ−
/ビジ−)を検出する事ができなかった。
【0008】このため、フラッシュEEPROMのコマ
ンド制御機能を有効利用する事ができず、あるフラッシ
ュEEPROMの書き込み動作中に、待機中の別のフラ
ッシュEEPROMに対するライトアクセスを行うとい
った並列処理は行われていなかった。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】そこで、最近では、複
数のフラッシュEEPROMそれぞれからのレディー/
ビジー信号を独立に半導体ディスク装置のコントローラ
に入力し、そのコントローラのMPUによるファームウ
ェア制御の下でそれらレディー/ビジー信号の状態を個
別に管理する技術が提案されている。
【0010】この場合、ファームウェアによるポーリン
グによって複数のレディー/ビジー信号の状態が順番に
調べられることにより、アクセス対象のフラッシュEE
PROMがレディー状態であるか否かが判断される。レ
ディー状態であれば、その時点でそのフラッシュEEP
ROMに対するアクセスのための制御がファームウェア
によって開始される。この制御動作は、フラッシュEE
PROMの信号線を駆動する制御回路に対して、例え
ば、リードコマンドの発行、アドレスの設定、レディー
確認、データ転送などといった一連の動作の実行をファ
ームウェアが逐次指示することによって行われる。
【0011】しかし、この構成では、ファームウェアに
よってアクセス対象の1つのフラッシュEEPROMが
選択される度に、その選択されたフラッシュEEPRO
Mのレディー状態がポーリングによって確認されるのを
待つ必要がある。このため、その分だけフラッシュEE
PROMに対するアクセス開始が遅れ、また次の動作に
移行できるフラッシュEEPROMがあってもファーム
ウェアによるレディー確認やコマンド発行指示などが制
御回路に送られるまではその動作に移ることはできない
という問題がある。
【0012】また、選択されたフラッシュEEPROM
がレディー状態であることが確認された後も再びファー
ムウェアが制御回路に対して動作指示を逐次発行する必
要があるので、ファームウェアがフラッシュEEPRO
Mのアクセス制御から解放されるまでに時間がかかり、
コントローラのMPUの負荷が増大するという問題もあ
る。さらに、個々のフラッシュEEPROMのレディー
/ビジー状態をポーリングによって監視し続ける必要が
あるため、フラッシュEEPROMのアクセス制御から
解放された後もコントローラのMPUを動作停止するこ
とができず、これによって消費電力が増大するという問
題も起こる。
【0013】この発明はこのような点に鑑みてなされた
もので、ポーリング結果待ちや動作指示待ちなどによる
アクセスの遅れを解消することにより、次の動作に移行
できるフラッシュEEPROMがあれば直ちにそのため
の動作制御を開始できるようにし、個々のフラッシュE
EPROMの性能を最大限発揮させることが可能な半導
体ディスク装置を提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】この発明は、複数のフラ
ッシュEEPROMを内蔵し、ホストからのディスクア
クセス要求に応じてそれら複数のフラッシュEEPRO
Mをアクセスする半導体ディスク装置において、前記各
フラッシュEEPROMをアクセス制御するための一連
の制御動作をそれぞれ含む複数の動作パターンとそれら
動作パターンを実行させるべきフラッシュEEPROM
との対応関係を示す動作指示情報がセットされるレジス
タ群と、前記複数のフラッシュEEPROMに接続さ
れ、前記動作指示情報に従って前記各フラッシュEEP
ROMを制御する制御回路であって、前記複数のフラッ
シュEEPROMから出力される複数のレディー/ビジ
ー信号をそれぞれ受信する複数の入力ポートと、前記複
数の動作パターンそれぞれに対応する複数の動作シーケ
ンスを実行可能に構成され、前記複数の入力ポートで受
信した複数のレディー/ビジー信号をそれぞれ監視し、
前記動作指示情報で動作制御対象として指定されたフラ
ッシュEEPROMの中でレディー状態が検出されたフ
ラッシュEEPROMから順にそのフラッシュEEPR
OMに対して実行させるべき動作パターンに対応する動
作シーケンスの実行を開始する制御回路とを具備するこ
とを特徴とする。
【0015】この半導体ディスク装置においては、フラ
ッシュEEPROMを制御するハードウェアである制御
回路に複数のフラッシュEEPROMそれぞれからのレ
ディー/ビジー信号が独立に入力され、個々のフラッシ
ュEEPROMのレディー状態の確認は制御回路自体に
よって行われる。
【0016】また、その制御回路は、例えば、リードコ
マンドの発行、アドレス転送、レディ確認、データ転送
といった一連の制御動作を含むページリードのための動
作パターンや、ページライトのための一連の制御動作と
ページステータスリードのための制御動作とを組み合わ
せた動作パターンなど、の複数の動作パターンについ
て、それに対応する動作シーケンスを実行できるように
構成されており、例えば半導体ディスク装置のMPUや
ホスト装置などによってレジスタ群にセットされた動作
指示情報に従って、動作する。
【0017】この場合、動作指示情報は、個々の制御動
作を指示するものではなく、前述した複数の動作パター
ンとそれらを実行させるべき複数のフラッシュEEPR
OMとの関係を示すものである。
【0018】したがって、ファームウェアからの動作指
示やレディ確認を待つことなく、フラッシュEEPRO
Mに対する一連の制御動作を開始することができるよう
になり、次の動作に移行できるフラッシュEEPROM
があれば直ちにそのための動作制御を開始することが可
能となる。よって、個々のフラッシュEEPROMの性
能を最大限発揮し得る高速半導体ディスク装置を実現で
きる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明の
実施形態を説明する。図1には、この発明の一実施例に
係わる半導体ディスク装置の構成が示されている。この
半導体ディスク装置10は、ハードディスク装置の代替
としてパーソナルコンピュータなどのホストシステムに
接続されて使用されるものであり、ホストシステム(フ
ァイルシステム、磁気ディスク装置用のドライバ)から
のディスクアクセス要求をフラッシュEEPROMに対
するアクセス要求にエミュレートして、半導体ディスク
装置10内蔵のフラッシュEEPROMをアクセスす
る。この半導体ディスク装置10には、16個のNAN
D型フラッシュEEPROM11−1〜11−16が搭
載されている。半導体ディスク装置10には、さらに、
コントローラ12、およびRAM13が設けられてい
る。
【0020】フラッシュEEPROM11−1〜11−
16は、この半導体ディスク装置10の記録媒体として
使用されるものであり、ハードディスク装置の磁気記録
媒体に相当する。これらフラッシュEEPROM11−
1〜11−16はNANDメモリバス14を介してコン
トローラ12に接続されている。NANDメモリバス1
4には、8ビット幅のデータバス、および各フラッシュ
EEPROMの制御信号端子に接続される各種制御信号
線が定義されている。I/Oデータバスおよび各種制御
信号線は、それぞれフラッシュEEPROM11−1〜
11−16のデータ入出力端子I/O、および制御信号
入力端子CONT(コマンドラッチイネーブル端子CL
E、アドレスラッチイネーブル端子ALE、ライトイネ
ーブル端子WE、リードイネーブル端子REなどを含
む)に共通接続されている。
【0021】さらに、フラッシュEEPROM11−1
〜11−6とコントローラ12の間には、チップセレク
ト信号(CS1〜CS8)線、およびReady/Bu
sy信号線(R/B1〜R/B16)がそれぞれチップ
毎に独立して配設されている。
【0022】これらフラッシュEEPROM11−1〜
11−6はそれぞれ16MビットのNAND型EEPR
OMであり、図2に示されているように、メモリセルア
レイ111とデータレジスタ112を備えている。メモ
リセルアレイ111は、8K行×264列×8ビットの
ビット構成を有し、512個のブロックを有している。
データ消去はこのブロック単位で実行することができ
る。各ブロックは16ページ(行)から構成されてお
り、各ページは、256バイトのデータ記憶領域と8バ
イトの冗長領域を備えている。データの書込みと読み出
しは、256+8バイトのデータレジスタ112を介し
てページ単位で実行される。この半導体ディスク装置に
おいては、各ページの冗長領域はECCや書き換え回数
データの格納に利用されている。
【0023】フラッシュEEPROM11−1〜11−
6はそれぞれライトモード、リードモード、消去モード
などの動作モードを有しており、これら動作モードはそ
れぞれコントローラ12からのコマンド制御によって指
定される。
【0024】リードモードにおいては、メモリセルアレ
イ111からデータレジスタ112へのページ単位のデ
ータ転送はフラッシュEEPROM内部で自動実行され
る。このデータ転送期間中はReady/Busy信号
線はBusy状態に設定され、これによってページリー
ド動作中であることがコントローラ12に通知される。
データレジスタ112に転送された1ページ分のデータ
は、コントローラ12の制御の下、入出力端子I/O0
〜I/O7から8ビット単位でシリアルに読み出され
る。1ページ分のデータのシリアルリードが終了する
と、次のページのページリードが自動的に実行される。
【0025】ライトモードにおいては、データレジスタ
112からメモリセルアレイ111へのページ単位のデ
ータ転送はフラッシュEEPROM内部で自動実行され
る。このデータ転送期間中はReady/Busy信号
線はBusy状態に設定され、これによってページライ
ト動作中であることがコントローラ12に通知される。
【0026】消去モードにおいては、コントローラから
のコマンドによって指定された任意のブロックの記憶内
容が一括消去される。次に、半導体ディスク装置10の
ディスクコントローラ12の構成を説明する。
【0027】ディスクコントローラ12は1個のLSI
によって実現されており、そのLSIチップには、図1
に示されているように、マイクロプロセッサ(MPU)
14、プロセッサバスインタフェース15、ROM1
6、外部バスインタフェース17、バッファメモリコン
トローラ18、およびNANDバスインタフェース19
が集積形成されている。
【0028】マイクロプロセッサ14は、ROM16に
格納されたファームウェアを実行してこの半導体ディス
ク装置10全体の動作を制御するものであり、パーソナ
ルコンピュ−タのCPU1から送られるディスクアクセ
スのためのホストアドレスを、フラッシュEEPROM
11−1〜11−16をアクセスするためのメモリアド
レスに変換するアドレス変換処理、フラッシュEEPR
OM11−1〜11−16の中でアクセス対象のフラッ
シュEEPROMとそれに対して実行すべきアクセス内
容を決定する処理、フラッシュEEPROM11−1〜
11−6それぞれのデータ書換回数の管理、およびデー
タ書換回数を平準化するためのスワッピング処理の制御
などを行う。
【0029】ROM16には、マイクロプロセッサ14
によって実行されるファームウェア、およびパーソナル
コンピュータのCPU1によって実行されるオペレーテ
ィングシステムやアプリケーションプログラムなどの各
種プログラムが格納されている。オペレーティングシス
テムやアプリケーションプログラムはROM16内でフ
ァイルとして管理されており、それらプログラムはCP
U1から半導体ディスク装置10に対して発行される読
み出し要求に応じてROM16から読み出され、そして
パーソナルコンピュータのメインメモリ3にロードされ
る。
【0030】ROM16およびフラッシュEEPROM
11−1〜11−16には、連続するディスクアドレス
がマッピングされており、ROM16もディスク装置1
0の記憶媒体の一部として利用される。このため、RO
M16に格納されているオペレーティングシステムやア
プリケーションプログラムの読み出しは、CPU1から
の読み出し要求が、ある特定の番地を指定している時に
のみ実行され、その他の番地を指定している時はフラッ
シュEEPROM11−1〜11−16に対するリード
アクセスが行われる。
【0031】RAM13はダイナミックRAMから構成
されており、その記憶領域の一部はパーソナルコンピュ
ータのCPU1から転送されるライトデータ、およびフ
ラッシュEEPROM11−1〜11−16から読み出
されるリードデータを保持するデータバッファ131と
して使用される。また、RAM13は、マイクロプロセ
ッサ14の作業領域として使用され、ここには、ホスト
システムからのディスクアドレスをメモリアドレスに変
換するためのアドレス変換テーブル132、フラッシュ
EEPROMに書き込むべき1ブロック分のブロックデ
ータの格納位置を管理するヘッダテーブル133、フラ
ッシュEEPROM11−1〜11−16の書換回数を
ブロック単位で管理するための書換回数管理テーブル1
34などが格納される。
【0032】外部バスインタフェース17は、IDEや
PCMCIA仕様に準拠したインタフェースであり、パ
ーソナルコンピュータのシステムバス2に接続される。
外部バスインタフェース17には、CPU1との通信の
ためのI/Oレジスタ群が設けられている。レジスタ群
には、セクタナンバレジスタ171、セクタカウントレ
ジスタ172、データレジスタ173、シリンダレジス
タ174、ドライブ/ヘッドレジスタ175、コマンド
レジスタ176、ステータスレジスタ177などが含ま
れている。これらレジスタは、マイクロプロセッサ14
およびパーソナルコンピュータのCPU1によってそれ
ぞれリード/ライト可能である。
【0033】セクタナンバレジスタ171には、アクセ
ス先頭位置を指定するセクタ番号がCPU1によってラ
イトされる。セクタカウントレジスタ172には、リー
ド/ライト対象のセクタ数がCPU1によってライトさ
れる。データレジスタ173には、CPU1から供給さ
れるライトデータまたは半導体ディスク装置10から読
み出されるリードデータが設定される。シリンダレジス
タ174には、リード/ライト対象のシリンダ番号がC
PU1によってライトされる。ドライブ/ヘッドレジス
タ175には、リード/ライト対象のドライブ番号、お
よびヘッド番号がCPU1によってライトされる。コマ
ンドレジスタ176には、半導体ディスク装置10の動
作を指定するリードコマンドやライトコマンド等がCP
U1によってライトされる。ステータスレジスタ177
には、CPU1に通知すべき半導体ディスク装置10の
各種ステータスがセットされる。
【0034】バッファメモリコントローラ18は、RA
M13をアクセス制御するためのものであり、システム
バス2とRAM13間のデータ転送などを行う。データ
転送には、システムバス2とRAM13間のデータ転送
の他、RAM13とフラッシュEEPROM11−1〜
11−16間のデータ転送がある。後者のデータ転送
は、NANDバスインタフェース19によって実行され
る。
【0035】NANDバスインタフェース19は、マイ
クロプロセッサ14の制御の下にフラッシュEEPRO
M11−1〜11−16をアクセス制御するハードウェ
アロジックであり、フラッシュEEPROMとの間の各
種制御信号を駆動することによりフラッシュEEPRO
M11−1〜11−16との間のデータ転送などを行
う。
【0036】このNANDバスインタフェース19に
は、図示のように、NANDメモリバス14に接続され
る入出力端子の他、16個のフラッシュEEPROM1
1−1〜11−16それぞれからのReady/Bus
y信号線(R/B1〜R/B16)をそれぞれチップ毎
に独立して入力するための16個の入力端子と、16個
のフラッシュEEPROM11−1〜11−16それぞ
れにチップセレクト信号(CS1〜CS8)を独立して
出力するための16個の出力端子が設けられている。
【0037】また、NANDバスインタフェース19に
は、マイクロプロセッサ14によってリード/ライト可
能なI/Oレジスタ群20と、ECC演算回路21が設
けられている。ECC演算回路21は、ECC生成のた
めの演算およびECCチェックのための演算を行う。
【0038】I/Oレジスタ群20には、MPU14に
よってNANDバスインタフェース19に対する動作指
示情報が格納される。この動作指示情報は、フラッシュ
EEPROMに対する各種制御動作の組み合わせからそ
れぞれ構成される複数の動作パターンとそれら動作パタ
ーンをそれぞれ実行されるべきフラッシュEEPROM
のチップ番号との対応関係を示すものであり、この動作
指示情報にしたがってはNANDバスインタフェース1
9によるフラッシュEEPROMの制御が行われる。I
/Oレジスタ群20に設定される動作指示情報の構成例
を図3に示す。
【0039】ここでは、動作パターン1から5までの5
つの動作パターンが用意されている。まず、これら各動
作パターンについて説明する。 (1)動作パターン1 (ページデータ読み出し)この動作パターン1は、ペー
ジデータ読み出しに関する一連の制御動作の組み合せを
示すものであり、[読み出しコマンドの発行]→[アド
レスの設定]→[該当チップのBUSY状態終了の確
認]→[データ転送]という制御動作を含んでいる。
【0040】この動作パターン1は、例えば、ホストシ
ステムからのリード要求に対する通常のページデータ読
み出しや、ホストシステムからのライト要求に対応した
ページデータ書き込みに先立って行われる巻き添え消去
データの読み出しのためなどに利用される。巻き添え消
去データとは、書き込み対象の消去ブロックに存在する
データの中でホストシステムによって書き換えが要求さ
れていないデータであり、この巻き添え消去データと書
き込みデータとによって1ブロック分の書き込みデータ
が作成され、ブロック消去後にその1ブロック分の書き
込みデータを書き込むためのページデータ書き込みが実
行される。 (2)動作パターン2 (ページデータ冗長部読み出し)この動作パターン2
は、ページデータ冗長部の読み出しに関する一連の制御
動作の組み合せを示すものであり、[冗長部読み出しコ
マンドの発行]→[アドレスの設定]→[該当チップの
BUSY状態終了の確認]→[データ転送]という制御
動作を含んでいる。
【0041】この動作パターン2は、例えば、消去対象
となったブロックの書き換え回数を調べたる時などに行
われる。 (3)動作パターン3 (ブロック消去)この動作パターン3は、ブロック消去
に関する一連の制御動作の組み合せを示すものであり、
[ブロック消去コマンドの発行]→[アドレスの設定]
という制御動作を含んでいる。
【0042】この動作パターン2は、ホストシステムか
らのライト要求に対応したページデータ書き込みに先立
って行われるブロック消去動作のために利用される。 (4)動作パターン4 (ページデータ書き込み)この動作パターン4は、フラ
ッシュEEPROMからのステータス読み出しに関する
一連の制御動作とページデータ書き込みに関する一連の
制御動作との組み合せを示すものであり、[ステータス
読み出しコマンドの発行]→[それ以前の動作に対する
ステータス(エラーの有無)をI/Oレジスタにセッ
ト]→[ページデータ書き込みコマンドの発行]→[ア
ドレスの設定]→[データ転送]→[書き込み実行コマ
ンドの発行]という制御動作を含んでいる。
【0043】この動作パターン4は、ホストシステムか
らのライト要求に対応したページデータ書き込みにのた
めに利用される。 (5)動作パターン5 (メモリチップステータス確認)この動作パターン5
は、フラッシュEEPROMからのステータス読み出し
に関する一連の制御動作の組み合せを示すものであり、
[ステータス読み出しコマンドの発行]→[それ以前の
動作に対するステータス(エラーの有無)をI/Oレジ
スタにセット]という制御動作を含んでいる。
【0044】この動作パターン5は、例えば、ホストシ
ステムからのライト要求に応じて実行したブロック内部
最終ページのデータ書き込み動作が完了した後のステー
タス(エラーの有無)の確認のために利用される。
【0045】これら5つの動作パターン1〜5の中のど
の動作パターンをどのフラッシュEEPROMに実行さ
せるかを指定するために、図3においては、5つの動作
パターン1〜5それぞれに対応するパラメタ設定用のI
/Oレジスタが規定されている。
【0046】動作パターン1(ページデータ読み出し)
については、その動作パターン1を実行すべきフラッシ
ュEEPROMのチップ番号が設定されるチップNo.
レジスタ1、読み出し対象ページのページアドレスが設
定されるアドレスレジスタ1、読み出したページデータ
を転送すべきデータバッファ131上のアドレスが設定
されるバッファアドレスレジスタ1、およびこれらパラ
メタで指定された動作パターン1の実行を開始したか否
かを示す動作開始フラグが設定されるレジスタなどが利
用される。
【0047】動作パターン2(ページデータ冗長部読み
出し)については、その動作パターン2を実行すべきフ
ラッシュEEPROMのチップ番号が設定されるチップ
No.レジスタ2、読み出し対象ページ冗長部のページ
アドレスが設定されるアドレスレジスタ2、読み出した
冗長部の内容をセットするためのレジスタを指定する冗
長部データセットレジスタ2、およびこれらパラメタで
指定された動作パターン2の実行を開始したか否かを示
す動作開始フラグが設定されるレジスタなどが利用され
る。
【0048】動作パターン3(ブロック消去)について
は、その動作パターン3を実行すべきフラッシュEEP
ROMのチップ番号が設定されるチップNo.レジスタ
3、消去対象ブロックのブロックアドレスが設定される
アドレスレジスタ3、およびこれらパラメタで指定され
た動作パターン3の実行を開始したか否かを示す動作開
始フラグが設定されるレジスタなどが利用される。
【0049】動作パターン4(ページデータ書き込み)
は、高優先順位、中優先順位、および低優先順位の3つ
のチップに対するページデータ書き込みを並行して実行
できるように、それら各優先順位について、その動作パ
ターン4を実行すべきフラッシュEEPROMのチップ
番号が設定されるチップNo.レジスタ4、ページデー
タ書き込み対象のページアドレスが設定されるアドレス
レジスタ4、ステータス読み出しで読み出したステータ
スを設定すべきレジスタを指定するステータスセットレ
ジスタ4、データバッファ131上の書き込みデータの
位置を示すバッファアドレスレジスタ4、およびこれら
パラメタで指定された動作パターン4の実行を開始した
か否かを示す動作開始フラグが設定されるレジスタなど
が利用される。
【0050】動作パターン5(メモリチップステータス
確認)は、高優先順位、中優先順位、および低優先順位
の3つのチップに対するステータス確認を並行して実行
できるように、それら各優先順位について、動作パター
ン5を実行すべきフラッシュEEPROMのチップ番号
が設定されるチップNo.レジスタ5、ステータス読み
出しで読み出したステータスを設定すべきレジスタを指
定するステータスセットレジスタ5、およびこれらパラ
メタで指定された動作パターン5の実行を開始したか否
かを示す動作開始フラグが設定されるレジスタなどが利
用される。
【0051】このようなレジスタの利用を行う動作指示
情報により、動作パターン1〜5毎にそれを実行させる
べきフラッシュEEPROMのチップ番号などのパラメ
タが指定される。
【0052】図4には、図3の動作指示情報に従ってフ
ラッシュEEPROMのアクセス制御を行うNANDバ
スインターフェース19の具体的な構成の一例が示され
ている。
【0053】NANDバスインターフェース19には、
フラッシュEEPROMのアクセス制御を行うための機
構として、シーケンサロジック191およびOR回路1
92が設けられている。
【0054】シーケンサロジック191は、前述の5つ
の動作パターン1〜5それぞれに対応する5つの動作シ
ーケンスを実行可能に構成されている。このシーケンサ
ロジック191は、フラッシュEEPROM11−1〜
11−16の中で動作パターン1〜5が登録されている
制御対象チップの何れかがレディー状態であることを条
件に動作を開始する。この条件成立の有無は、制御対象
チップ全てのレディー/ビジー信号を選択して、それら
の論理和を出力するセレクタ付きOR回路192の出力
によって判定することができる。
【0055】シーケンサロジック191は、フラッシュ
EEPROM11−1〜11−16それぞれからのレデ
ィー/ビジー信号を監視し、図3の動作指示情報で動作
制御対象として指定されたフラッシュEEPROMの中
でレディー状態が検出されたフラッシュEEPROMか
ら順にそのフラッシュEEPROMに対して実行させる
べき動作パターンに対応する動作シーケンスの実行を開
始する。
【0056】この場合、シーケンサロジック191は、
動作パターン1から動作パターン5の順番でI/Oレジ
スタ群20のチップNo.レジスタを選択し、その選択
したレジスタで指定されるチップ番号のフラッシュEE
PROMがレディー状態か否かを検出する。レディー状
態であれば、そのフラッシュEEPROMに対応する動
作パターンに対応する動作シーケンスの実行が開始さ
れ、またレディー状態でなかった場合には、次の動作パ
ターンに対応するチップNo.レジスタが選択され、そ
の選択したレジスタで指定されるチップ番号のフラッシ
ュEEPROMについてレディー状態か否かが検出され
る。
【0057】次に、シーケンサロジック191によって
実行される個々の動作シーケンスについて説明する。図
5には、動作パターン1(ページデータ読み出し)に対
応するシーケンサロジック191の一連の動作が示され
ている。
【0058】(1)チップNo.レジスタで指定される
リード対象のフラッシュEEPROMチップに対応する
チップセレクト信号CSをアクティブにする。このチッ
プセレクト信号はリード対象チップのチップイネーブル
入力CEに供給され、これによってリード対象チップが
イネーブル状態に設定される。
【0059】(2)シーケンサロジック191は、コマ
ンドラッチイネーブル信号CLEをアクティブ状態、つ
まり“1”レベルに設定する。 (3)ライトイネーブル信号WEをアクティブ状態、つ
まり“1”レベルに設定し、且つリードコマンド“00
h”を入出力端子I/Oに転送する。これにより、リー
ド対象のフラッシュEEPROMチップにリードコマン
ド“00h”が受け付けられる。
【0060】(4)コマンドラッチイネーブル信号CL
Eをインアクティブにする。 (5)アドレスラッチイネーブル信号ALEをアクティ
ブ状態、つまり“1”レベルに設定する。
【0061】(6)〜(8)ライトイネーブル信号WE
をアクティブ状態、つまり“1”レベルに設定し、且つ
ページアドレスを入出力端子I/Oに8ビット単位で転
送する。このアドレス転送により、リード対象のフラッ
シュEEPROMチップにページアドレスが設定され
る。
【0062】(9)アドレスラッチイネーブル信号AL
Eをインアクティブにする。リード対象のフラッシュE
EPROMチップは、レディー/ビジー信号をビジー状
態に設定し、メモリセルアレイからページレジスタへの
ページリードを開始し、終了したときにレディー/ビジ
ー信号をレディー状態に戻す。
【0063】(10)レディー/ビジー信号がビジー状
態からレディー状態に戻るのを確認する。 (11)リードイネーブル信号REを繰り返し発生し、
バイト単位で256バイトのページデータをフラッシュ
EEPROMチップから読み出す。そして、そのデータ
をデータバッファに格納する。
【0064】(12)チップセレクト信号CSをインア
クティブにする。図6には、動作パターン2(ページ冗
長部読み出し)に対応するシーケンサロジック191の
一連の動作が示されている。
【0065】(1)チップNo.レジスタで指定される
リード対象のフラッシュEEPROMチップに対応する
チップセレクト信号CSをアクティブにする。このチッ
プセレクト信号はリード対象チップのチップイネーブル
入力CEに供給され、これによってリード対象チップが
イネーブル状態に設定される。
【0066】(2)コマンドラッチイネーブル信号CL
Eをアクティブ状態、つまり“1”レベルに設定する。 (3)ライトイネーブル信号WEをアクティブ状態、つ
まり“1”レベルに設定し、且つページデータ冗長部リ
ードコマンド“50h”を入出力端子I/Oに転送す
る。これにより、リード対象のフラッシュEEPROM
チップにページデータ冗長部リードコマンド“50h”
が受け付けられる。
【0067】(4)コマンドラッチイネーブル信号CL
Eをインアクティブにする。 (5)アドレスラッチイネーブル信号ALEをアクティ
ブ状態、つまり“1”レベルに設定する。
【0068】(6)〜(8)ライトイネーブル信号WE
をアクティブ状態、つまり“1”レベルに設定し、且つ
ページアドレスを入出力端子I/Oに8ビット単位で転
送する。このアドレス転送により、リード対象のフラッ
シュEEPROMチップにページアドレスが設定され
る。
【0069】(9)アドレスラッチイネーブル信号AL
Eをインアクティブにする。リード対象のフラッシュE
EPROMチップは、レディー/ビジー信号をビジー状
態に設定し、メモリセルアレイからページレジスタへの
ページデータ冗長部のリードを開始し、終了したときに
レディー/ビジー信号をレディー状態に戻す。
【0070】(10)レディー/ビジー信号がビジー状
態からレディー状態に戻るのを確認する。 (11)リードイネーブル信号REを繰り返し発生し、
バイト単位で8バイトのページデータをフラッシュEE
PROMチップから読み出す。そして、そのデータを所
定のI/Oレジスタに設定する。
【0071】(12)チップセレクト信号CSをインア
クティブにする。 図7には、動作パターン3(ブロック消去)に対応する
シーケンサロジック191の一連の動作が示されてい
る。
【0072】(1)チップNo.レジスタで指定される
消去対象のフラッシュEEPROMチップに対応するチ
ップセレクト信号CSをアクティブにする。このチップ
セレクト信号はリード対象チップのチップイネーブル入
力CEに供給され、これによって消去対象チップがイネ
ーブル状態に設定される。
【0073】(2)コマンドラッチイネーブル信号CL
Eをアクティブ状態、つまり“1”レベルに設定する。 (3)ライトイネーブル信号WEをアクティブ状態、つ
まり“1”レベルに設定し、且つブロックイレーズコマ
ンド“60h”を入出力端子I/Oに転送する。これに
より、消去対象のフラッシュEEPROMチップにブロ
ックイレーズコマンド“60h”が受け付けられる。
【0074】(4)コマンドラッチイネーブル信号CL
Eをインアクティブにする。 (5)アドレスラッチイネーブル信号ALEをアクティ
ブ状態、つまり“1”レベルに設定する。
【0075】(6)〜(7)ライトイネーブル信号WE
をアクティブ状態、つまり“1”レベルに設定し、且つ
ブロックアドレスを入出力端子I/Oに8ビット単位で
転送する。このアドレス転送により、消去対象のフラッ
シュEEPROMチップにブロックアドレスが設定され
る。
【0076】(8)アドレスラッチイネーブル信号AL
Eをインアクティブにする。 (9)コマンドラッチイネーブル信号CLEをアクティ
ブ状態、つまり“1”レベルに設定する。
【0077】(10)ライトイネーブル信号WEをアク
ティブ状態、つまり“1”レベルに設定し、且つブロッ
クイレーズ開始コマンド“D0h”を入出力端子I/O
に転送する。これにより、消去対象のフラッシュEEP
ROMチップにブロックイレーズ開始コマンド“D0
h”が受け付けられる。
【0078】(11)コマンドラッチイネーブル信号C
LEをインアクティブにする。 (12)チップセレクト信号CSをインアクティブにす
る。消去対象のフラッシュEEPROMチップは、コマ
ンド“D0h”を受け付けた段階で、レディー/ビジー
信号をビジー状態に設定し、ブロック消去を開始し、終
了したときにレディー/ビジー信号をレディー状態に戻
す。
【0079】図8には、動作パターン4(ページデータ
書き込み)に対応するシーケンサロジック191の一連
の動作が示されている。 (1)チップNo.レジスタで指定されるライト対象の
フラッシュEEPROMチップに対応するチップセレク
ト信号CSをアクティブにする。このチップセレクト信
号はライト対象チップのチップイネーブル入力CEに供
給され、これによってライト対象チップがイネーブル状
態に設定される。
【0080】(2)コマンドラッチイネーブル信号CL
Eをアクティブ状態、つまり“1”レベルに設定する。 (3)ライトイネーブル信号WEをアクティブ状態、つ
まり“1”レベルに設定し、且つステータスリードコマ
ンド“70h”を入出力端子I/Oに転送する。これに
より、ライト対象のフラッシュEEPROMチップにス
テータスリードコマンド“70h”が受け付けられる。
【0081】(4)リードイネーブル信号REを発生
し、ステータスをライト対象のフラッシュEEPROM
チップからリードし、それを所定のI/Oレジスタに転
送する。
【0082】(5)コマンドラッチイネーブル信号CL
Eをインアクティブにする。 (6)コマンドラッチイネーブル信号CLEをアクティ
ブ状態に設定する。 (7)ライトイネーブル信号WEをアクティブ状態、つ
まり“1”レベルに設定し、且つデータ入力コマンド
“80h”を入出力端子I/Oに転送する。これによ
り、ライト対象のフラッシュEEPROMチップにデー
タ入力コマンド“80h”が受け付けられる。
【0083】(8)コマンドラッチイネーブル信号CL
Eをインアクティブにする。 (9)アドレスラッチイネーブル信号ALEをアクティ
ブ状態、つまり“1”レベルに設定する。
【0084】(10)〜(12)ライトイネーブル信号
WEをアクティブ状態、つまり“1”レベルに設定し、
且つページアドレスを入出力端子I/Oに8ビット単位
で転送する。このアドレス転送により、ライト対象のフ
ラッシュEEPROMチップにページアドレスが設定さ
れる。
【0085】(13)アドレスラッチイネーブル信号A
LEをインアクティブにする。 (14)ライトイネーブル信号WEを繰り返しアクティ
ブにしながら、1ページ分のライトデータをバイト単位
でライト対象のフラッシュEEPROMチップに転送す
る。
【0086】(15)コマンドラッチイネーブル信号C
LEをアクティブ状態に設定する。 (16)ライトイネーブル信号WEをアクティブ状態、
つまり“1”レベルに設定し、且つページライトコマン
ド“10h”を入出力端子I/Oに転送する。これによ
り、ライト対象のフラッシュEEPROMチップにペー
ジライトコマンド“10h”が受け付けられる。ライト
対象のフラッシュEEPROMチップは、レディー/ビ
ジー信号をビジー状態に設定し、ページレジスタのペー
ジデータをメモリセルアレイに書き込むページライトを
開始し、終了したときにレディー/ビジー信号をレディ
ー状態に戻す。
【0087】図9には、動作パターン5(ページステー
タス確認)に対応するシーケンサロジック191の一連
の動作が示されている。 (1)チップNo.レジスタで指定されるフラッシュE
EPROMチップに対応するチップセレクト信号CSを
アクティブにする。このチップセレクト信号は該当する
チップのチップイネーブル入力CEに供給され、これに
よって対象チップがイネーブル状態に設定される。
【0088】(2)コマンドラッチイネーブル信号CL
Eをアクティブ状態、つまり“1”レベルに設定する。 (3)ライトイネーブル信号WEをアクティブ状態、つ
まり“1”レベルに設定し、且つステータスリードコマ
ンド“70h”を入出力端子I/Oに転送する。これに
より、対象のフラッシュEEPROMチップにステータ
スリードコマンド“70h”が受け付けられる。
【0089】(4)リードイネーブル信号REを発生
し、ステータスをライト対象のフラッシュEEPROM
チップからリードし、それを所定のI/Oレジスタに転
送する。
【0090】(5)コマンドラッチイネーブル信号CL
Eをインアクティブにする。 (6)チップセレクト信号CSをインアクティブにす
る。次に、図10のフローチャートを参照して、シーケ
ンサロジック191の制御動作全体の流れを説明する。
【0091】シーケンサロジック191は、まず、セレ
クタ付きOR回路192の出力によって制御対象チップ
の中でレディー状態のチップが存在するか否かを調べる
ことにより動作シーケンスの実行が可能か否かを調べる
(ステップS11)。レディー状態のチップが出現した
時点で以下の処理が開始される。
【0092】すなわち、シーケンサロジック191は、
まず、動作パターン1に対応するチップNo.レジスタ
1を参照し、そのチップNo.レジスタ1で指定される
チップ番号のフラッシュEEPROMがレディー状態で
あるか否かを調べ、その結果により動作パターン1の実
行可能判定を行う(ステップS12)。ビジー状態であ
ったならば、ステップS15の動作パターン2について
実行可能判定に移行する。
【0093】このようにして動作パターン1から5につ
いて順番に実行可能な動作パターンが調べられ(ステッ
プS12,S15,S17,S19,S21,S23,
S25,S27,またはS29)、実行できるものがあ
ればその動作パターンが実行される(ステップS13,
S16,S18,S20,S22,S24,S26,S
28,またはS30)。この後、MPU14に対して実
行した動作パターンについての実行終了を示すイベント
変化の通知が行われた後(ステップS14)、再びステ
ップS11から処理が再開される。イベント変化の通知
に応答して、MPU14は動作指示情報の更新処理など
を行う。また、このイベント変化の通知は、アイドル状
態のMPU14を起動させるトリガとしても利用され
る。すなわち、MPU14は、動作パターンさえ指定す
れば、後はNANDバスバスインターフェース19の動
作制御には一切関与しないので、MPU14自身の処理
を終えた後は、その動作クロックなどを停止することが
できる。この状態で、イベント変化の通知が発生する
と、これがイベント発生として扱われ、MPU14に対
するクロック供給が再開される。したがって、NAND
バスバスインターフェース19などにMPU14のクロ
ック制御回路を持たせることにより、低消費電力化を図
ることができる。また、通常のMPUは、外部割り込み
信号の入力に応答して動作停止状態から抜けるという機
能を有しているので、アイドル時にはMPU14自身が
停止命令HALTなどを実行して自身の動作を停止し、
NANDバスバスインターフェース19によってイベン
トが通知された時にそれに対する処理を開始するように
しても良い。
【0094】ステップS11から処理が再開されると、
実行開始フラグによりその動作が実行されている動作パ
ターンについては実行可能判定が行われず、未実行のも
のについてのみ実行可能判定が行われる。
【0095】例えば、最初のサイクルで、動作パターン
1の実行が可能であると判定され、その動作パターン1
に対応する動作シーケンスが実行され、且つ動作パター
ン1について新たなパラメタが設定されなかった場合に
は、次のサイクルでは、動作パターン1の実行可能判定
は行われず、ステップS15の動作パターン2について
の実行可能判定から処理が開始される。
【0096】図11には、動作指示情報の第2の構成例
が示されている。前述した図3の動作指示情報は動作パ
ターンを基準としてそれを実行すべきチップ番号などの
パラメタを指定する構造であったが、ここでは、チップ
番号が基準として用いられ、チップ番号毎にそのチップ
に実行させるべき動作パターンやそれを実行するための
パラメタが指定される。この場合、チップ番号毎に指定
される動作パターンとパラメタは各チップについて複数
組登録することができる。
【0097】次に、図12のフローチャートを参照し
て、図11の動作指示情報を利用した場合におけるシー
ケンサロジック191の制御動作全体の流れを説明す
る。シーケンサロジック191は、まず、セレクタ付き
OR回路192の出力によってレディー状態のチップが
存在するか否かを調べることにより動作シーケンスの実
行が可能か否かを調べる(ステップS41)。レディー
状態のチップが出現した時点で以下の処理が開始され
る。
【0098】すなわち、シーケンサロジック191は、
まず、チップ番号1に対応するレジスタ群を参照し、動
作パターンの実行が指定されていれば、そのチップ番号
1に対する動作パターンの実行可能判定を行う(ステッ
プS42)。これはチップ番号1のフラッシュEEPR
OMがレディー状態であるか否かを調べることによって
行われる。ビジー状態であったならば、ステップS45
のチップ番号2について実行可能判定に移行する。
【0099】このようにしてチップ番号1から16につ
いて順番に動作パターンの実行可能なチップが調べられ
(ステップS42,S45,S47,S49)、実行で
きるものがあればそのチップに対応する動作パターンが
実行される(ステップS43,S46,S48,S5
0)。この後、MPU14に対して実行した動作パター
ンについての実行終了を示すイベント変化の通知が行わ
れた後(ステップS44)、再びステップS41から処
理が再開される。イベント変化の通知に応答して、MP
U14は動作指示情報の更新処理などを行う。
【0100】ステップS41から処理が再開されると、
実行開始フラグによりその動作が実行されている動作パ
ターンについては実行可能判定が行われず、未実行のも
のについてのみ実行可能判定が行われる。
【0101】以上のように、この実施形態では、フラッ
シュEEPROMを制御するハードウェアであるNAN
Dインターフェース19にフラッシュEEPROM11
−1〜11−16それぞれからのレディー/ビジー信号
が独立に入力され、個々のフラッシュEEPROMのレ
ディー状態の確認はNANDインターフェース19自体
によって行われる。また、NANDインターフェース1
9は、リードコマンドの発行、アドレス転送、レディ確
認、データ転送といった一連の制御動作を含むページリ
ードのための動作パターン1や、ページライトのための
一連の制御動作とページステータスリードのための制御
動作とを組み合わせた動作パターン4など、の複数の動
作パターンについて、それに対応する動作シーケンスを
実行できるように構成されており、MPU14などによ
ってレジスタ群20にセットされた動作指示情報に従っ
て、動作する。この場合、動作指示情報は、個々の制御
動作を指示するものではなく、前述した複数の動作パタ
ーンとそれらを実行させるべき複数のフラッシュEEP
ROMとの関係を示すものであるので、ファームウェア
からの動作指示やレディ確認を待つことなく、フラッシ
ュEEPROMに対する一連の制御動作をハードウェア
制御で実行することができるようになり、次の動作に移
行できるフラッシュEEPROMがあれば直ちにそのた
めの動作制御を開始することが可能となる。
【0102】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、ポーリング結果待ちや動作指示待ちなどによるアク
セスの遅れを解消することにより、次の動作に移行でき
るフラッシュEEPROMがあれば直ちにそのための動
作制御を開始できるようなり、個々のフラッシュEEP
ROMの性能を最大限発揮させることが可能な高速半導
体ディスク装置を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施形態に係る半導体ディスク装
置の構成を示すブロック図。
【図2】同実施形態の半導体ディスク装置で使用される
NAND型フラッシュEEPROMを説明するための
図。
【図3】同実施形態の半導体ディスク装置で使用される
動作指示情報の構成を示す図。
【図4】同実施形態の半導体ディスク装置に設けられて
いるNANDバスインターフェースのハードウェア構成
を示すブロック図。
【図5】図4のNANDバスインターフェースによって
実行されるページデータ読み出しのための一連の制御動
作を説明するための図。
【図6】図4のNANDバスインターフェースによって
実行されるページデータ冗長部読み出しのための一連の
制御動作を説明するための図。
【図7】図4のNANDバスインターフェースによって
実行されるブロック消去のための一連の制御動作を説明
するための図。
【図8】図4のNANDバスインターフェースによって
実行されるページデータ書き込みのための一連の制御動
作を説明するための図。
【図9】図4のNANDバスインターフェースによって
実行されるメモリチップステータス確認のための一連の
制御動作を説明するための図。
【図10】図4のNANDバスインターフェースの制御
動作全体の流れを示すフローチャート。
【図11】同実施形態の半導体ディスク装置で使用され
る動作指示情報の第2の構成例を示す図。
【図12】図11の動作指示情報を利用した場合におけ
るNANDバスインターフェースの制御動作全体の流れ
を示すフローチャート。
【符号の説明】
10…半導体ディスク装置、11−1〜11−16…N
AND型フラッシュEEPROM、12…コントロー
ラ、13…RAM、14…マイクロプロセッサ、16…
ROM、17…外部バスインタフェース、19…NAN
Dバスインタフェ−ス、20…I/Oレジスタ群、21
…ECC演算回路、131…データバッファ、132…
アドレス変換テーブル、133…ヘッダテーブル、13
4…書換回数管理テーブル、191…シーケンスロジッ
ク。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のフラッシュEEPROMを内蔵
    し、ホストからのディスクアクセス要求に応じてそれら
    複数のフラッシュEEPROMをアクセスする半導体デ
    ィスク装置において、 前記各フラッシュEEPROMをアクセス制御するため
    の一連の制御動作をそれぞれ含む複数の動作パターンと
    それら動作パターンを実行させるべきフラッシュEEP
    ROMとの対応関係を示す動作指示情報がセットされる
    レジスタ群と、 前記複数のフラッシュEEPROMに接続され、前記動
    作指示情報に従って前記各フラッシュEEPROMを制
    御する制御回路であって、 前記複数のフラッシュEEPROMから出力される複数
    のレディー/ビジー信号をそれぞれ受信する複数の入力
    ポートと、 前記複数の動作パターンそれぞれに対応する複数の動作
    シーケンスを実行可能に構成され、前記複数の入力ポー
    トで受信した複数のレディー/ビジー信号をそれぞれ監
    視し、前記動作指示情報で動作制御対象として指定され
    たフラッシュEEPROMの中でレディー状態が検出さ
    れたフラッシュEEPROMから順にそのフラッシュE
    EPROMに対して実行させるべき動作パターンに対応
    する動作シーケンスの実行を開始する制御回路とを具備
    することを特徴とする半導体ディスク装置。
  2. 【請求項2】 前記動作指示情報は、前記複数の動作パ
    ターン毎にそれを実行させるべきフラッシュEEPRO
    Mのチップ番号を示しており、 前記制御回路は、 前記動作指示情報に含まれる複数の動作パターンに対応
    する複数のチップ番号を予め決められた動作パターンの
    順番で選択してその選択したチップ番号のフラッシュE
    EPROMがレディー状態か否かを検出し、レディー状
    態のフラッシュEEPROMに対応する動作パターンか
    ら順に、その動作パターンに対応する動作シーケンスの
    実行を開始するように構成されていることを特徴とする
    請求項1記載の半導体ディスク装置。
  3. 【請求項3】 前記動作指示情報は、同一動作パターン
    に対してそれを実行させるべき複数のフラッシュEEP
    ROMのチップ番号を互いに異なる優先度を伴って示し
    ており、 前記制御回路は、 前記動作指示情報に含まれる同一動作パターンに対応す
    る複数のチップ番号を優先度順に選択し、同一動作パタ
    ーンを実行させるべき複数のフラッシュEEPROMの
    中でレディー状態のフラッシュEEPROMから順に、
    前記動作パターンに対応する動作シーケンスの実行を開
    始するように構成されていることを特徴とする請求項2
    記載の半導体ディスク装置。
  4. 【請求項4】 前記動作指示情報は、前記複数のフラッ
    シュEEPROM毎にそれに実行させるべき動作パター
    ンを示しており、 前記制御回路は、 前記動作指示情報に含まれる複数の動作パターンを前記
    複数のフラッシュEEPROMに予め割り当てられたチ
    ップ番号の順番で選択してその選択したチップ番号のフ
    ラッシュEEPROMがレディー状態か否かを検出し、
    レディー状態のフラッシュEEPROMに対応する動作
    パターンから順に、その動作パターンに対応する動作シ
    ーケンスの実行を開始するように構成されていることを
    特徴とする請求項1記載の半導体ディスク装置。
  5. 【請求項5】 前記動作指示情報には、その動作指示情
    報で指定された動作パターンの実行の有無を示すフラグ
    情報が含まれており、 前記制御回路は、 前記動作指示情報に含まれる複数の動作パターンを動作
    パターン順またはチップ番号順に選択する動作を繰り返
    し実行するように構成され、動作シーケンスの実行を開
    始する度に該当するフラグ情報を書き換えることにより
    次回の選択動作からは実行済みの動作パターンを選択対
    象から除外するように構成されていることを特徴とする
    請求項2または4記載の半導体ディスク装置。
  6. 【請求項6】 前記動作指示情報には、その動作指示情
    報で指定された動作パターンの実行の有無を示すフラグ
    情報が含まれており、 前記制御回路は、 前記半導体ディスク装置内のMPUによって実行される
    ファームウェアによって前記動作指示情報が更新できる
    ように、動作シーケンスを実行する度に該当するフラグ
    情報の書き換えと前記半導体ディスク装置内のMPUに
    対するイベント発生通知、もしくはMPUへのクロック
    供給が停止していた場合のクロック供給再開を行うよう
    に構成されていることを特徴とする請求項1記載の半導
    体ディスク装置。
  7. 【請求項7】 複数のフラッシュEEPROMを内蔵
    し、ホストからのディスクアクセス要求に応じてそれら
    複数のフラッシュEEPROMをアクセスする半導体デ
    ィスク装置において、 MPUと、 このMPUによって、前記各フラッシュEEPROMを
    アクセス制御するための一連の制御動作をそれぞれ含む
    複数の動作パターンとそれら動作パターンを実行させる
    べきフラッシュEEPROMとの対応関係を示す動作指
    示情報がセットされるレジスタ群と、 前記複数のフラッシュEEPROMに接続され、前記M
    PUによって前記レジスタ群にセットされた動作指示情
    報に従って前記各フラッシュEEPROMを動作制御す
    る制御回路であって、 前記複数のフラッシュEEPROMから出力される複数
    のレディー/ビジー信号をそれぞれ受信する複数の入力
    ポートと、 前記複数の動作パターンそれぞれに対応する複数の動作
    シーケンスを実行可能に構成され、前記複数の入力ポー
    トで受信した複数のレディー/ビジー信号をそれぞれ監
    視し、前記動作指示情報で動作制御対象として指定され
    たフラッシュEEPROMの中でレディー状態が検出さ
    れたフラッシュEEPROMから順にそのフラッシュE
    EPROMに対して実行させるべき動作パターンに対応
    する動作シーケンスの実行を開始する制御回路とを具備
    することを特徴とする半導体ディスク装置。
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Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002202948A (ja) * 2000-12-28 2002-07-19 Mega Chips Corp データ転送回路およびデータ転送方法
US6445615B2 (en) 2000-01-12 2002-09-03 Hitachi Ltd. Non-volatile semiconductor memory device and semiconductor disk device
KR100441608B1 (ko) * 2002-05-31 2004-07-23 삼성전자주식회사 낸드 플래시 메모리 인터페이스 장치
JP2006107530A (ja) * 1999-11-14 2006-04-20 國順 ▲でん▼ 電子フラッシュ・メモリ式外部記憶方法及びその装置
JP2006260981A (ja) * 2005-03-17 2006-09-28 Shin Kobe Electric Mach Co Ltd バッテリコントローラ
JP2008033425A (ja) * 2006-07-26 2008-02-14 Tdk Corp システムコントローラ、システムコントローラを有するフラッシュメモリシステム、およびフラッシュメモリモジュールの制御方法
JP2008070919A (ja) * 2006-09-12 2008-03-27 Tdk Corp メモリコントローラ及びメモリコントローラを備えるフラッシュメモリシステム、並びにフラッシュメモリの制御方法
JP2008077468A (ja) * 2006-09-22 2008-04-03 Tdk Corp メモリコントローラ及びメモリコントローラを備えるフラッシュメモリシステム、並びにフラッシュメモリの制御方法
JP2011065694A (ja) * 2009-09-16 2011-03-31 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置及びその試験方法
USRE42397E1 (en) 1999-04-05 2011-05-24 Sandisk Il Ltd. Architecture for a universal serial bus-based PC flash disk
JP4938893B2 (ja) * 2007-08-06 2012-05-23 サンディスク コーポレイション 不揮発性メモリのための改良された書き込み中断機構
JP2014515533A (ja) * 2011-05-31 2014-06-30 マイクロン テクノロジー, インク. メモリシステムコントローラを含む装置および関連する方法

Cited By (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USRE42443E1 (en) 1999-04-05 2011-06-07 Sandisk Il Ltd. Architecture for a universal serial bus-based PC flash disk
USRE42397E1 (en) 1999-04-05 2011-05-24 Sandisk Il Ltd. Architecture for a universal serial bus-based PC flash disk
USRE44641E1 (en) 1999-04-05 2013-12-10 Sandisk Il, Ltd USB flash memory device with integrated USB controller
USRE44653E1 (en) 1999-04-05 2013-12-17 Sandisk Il, Ltd USB flash memory device with integral memory technology driver
JP2010244558A (ja) * 1999-11-14 2010-10-28 Netac Technology Co Ltd フラッシュ・メモリ式外部記憶装置およびフラッシュ・メモリ式外部記憶方法
US7788447B2 (en) 1999-11-14 2010-08-31 Netac Technology Co., Ltd. Electronic flash memory external storage method and device
JP2006107530A (ja) * 1999-11-14 2006-04-20 國順 ▲でん▼ 電子フラッシュ・メモリ式外部記憶方法及びその装置
US7116586B2 (en) 2000-01-12 2006-10-03 Hitachi, Ltd. Non-volatile semiconductor memory device and semiconductor disk device
US7359244B2 (en) 2000-01-12 2008-04-15 Renesas Technology Corp. Non-volatile semiconductor memory device and semiconductor disk device
US6813185B2 (en) 2000-01-12 2004-11-02 Renesas Technology Corp. Non-volatile semiconductor memory device and semiconductor disk device
US6714452B2 (en) 2000-01-12 2004-03-30 Renesas Technology Corp. Non-volatile semiconductor memory device and semiconductor disk device
US6445615B2 (en) 2000-01-12 2002-09-03 Hitachi Ltd. Non-volatile semiconductor memory device and semiconductor disk device
JP2002202948A (ja) * 2000-12-28 2002-07-19 Mega Chips Corp データ転送回路およびデータ転送方法
US6985778B2 (en) 2002-05-31 2006-01-10 Samsung Electronics Co., Ltd. NAND flash memory interface device
KR100441608B1 (ko) * 2002-05-31 2004-07-23 삼성전자주식회사 낸드 플래시 메모리 인터페이스 장치
JP2006260981A (ja) * 2005-03-17 2006-09-28 Shin Kobe Electric Mach Co Ltd バッテリコントローラ
JP2008033425A (ja) * 2006-07-26 2008-02-14 Tdk Corp システムコントローラ、システムコントローラを有するフラッシュメモリシステム、およびフラッシュメモリモジュールの制御方法
JP2008070919A (ja) * 2006-09-12 2008-03-27 Tdk Corp メモリコントローラ及びメモリコントローラを備えるフラッシュメモリシステム、並びにフラッシュメモリの制御方法
JP2008077468A (ja) * 2006-09-22 2008-04-03 Tdk Corp メモリコントローラ及びメモリコントローラを備えるフラッシュメモリシステム、並びにフラッシュメモリの制御方法
JP4938893B2 (ja) * 2007-08-06 2012-05-23 サンディスク コーポレイション 不揮発性メモリのための改良された書き込み中断機構
JP2011065694A (ja) * 2009-09-16 2011-03-31 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置及びその試験方法
JP2014515533A (ja) * 2011-05-31 2014-06-30 マイクロン テクノロジー, インク. メモリシステムコントローラを含む装置および関連する方法
US9430373B2 (en) 2011-05-31 2016-08-30 Micron Technology, Inc. Apparatus including memory channel control circuit and related methods for relaying commands to logical units

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