CN101495854A - X射线检查装置和x射线检查程序 - Google Patents

Abstract

本发明提供X射线检查装置和X射线检查程序，其能够不依赖于传送装置的状态地实施高精度的校准并正确地进行被检查物的检查。X射线检查装置(10)是通过X射线线阵传感器(14)对向载置于传送装置(12)上的商品(G)照射的X射线的透过光进行检测，由此检测商品(G)中是否包含异物的装置，在进行X射线线阵传感器(14)所包括的多个像素(14a)的校准时，通过在装载于X射线检查装置(10)上的控制计算机(20)中形成的判定部(20a)和校准实行部(20b)等各种控制块，寻找适于进行传送装置(12)的校准的位置，根据在该位置由X射线线阵传感器(14)检测出的结果进行校准。

Description

X射线检查装置和X射线检查程序

技术领域

本发明涉及对作为检测对象的物品照射X射线，对物品进行检测的X射线检查装置和X射线检查程序。

背景技术

历来，在食品等商品的生产线中，在商品中混入了异物及商品有缺陷的情况下，为了防止不合格商品的出厂，使用X射线检测装置进行不合格商品的检查。在该X射线检查装置中，对由传送装置连续传送来的被检查物照射X射线，在线阵传感器等X射线接收部中检测该X射线的透过状态，判别被检查物中是否混入了异物，或被检查物中是否有缺陷，或被检查物内的单位内容物的数量是否不够。

例如，在专利文献1中公开了以下的X射线衍射装置(X射线检查装置)，其针对相对于背景(background)数据的角度的强度曲线和强度等级，根据标准试样的测定数据求取强度曲线，根据强度等级调整强度曲线的等级(level)，由此能够得到不依赖于测定对象的适当的背景数据。

专利文献1：日本特开平10-339707号公报(1998年12月22日公开)

然而，在上述历来的X射线检查装置中，存在以下所示的问题。

一般而言，在这种X射线检查装置中，为了得到线阵传感器的输出的初始和范围而进行校准。由此，通过校准而校正每个线阵传感器的X射线检测的灵敏度，由此，能够准确地检测出透过作为检测对象的物品的X射线，能够高精度地实施异物混入等检查。

但是，在上述公报所公开的X射线检查装置中，虽然能够通过从测定数据除去背景图像而取得不依赖于测定对象的背景数据，但是，在传送作为检测对象的商品的传送装置劣化或受到损伤的情况下，或者在使用例如由指状接头连接的传送装置的情况下，由于该劣化的部分、损伤的部分、以及接头部分吸收X射线，所以线阵传感器的输出与没有劣化等的部分相比变小(参照图9(b)和图9(c))。因此，在以包括该劣化部分等的位置为基准进行校准之后检查被检查物时，没有劣化等的部分的检测量增大到需要以上，根据检测数据制作的X射线图像变得过于明亮，存在不能得到适当的X射线图像、从而不能够正确地实施被检查物的检查的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种X射线检查装置和X射线检查程序，其能够不依赖传送装置的状态地实施高精度的校准(calibration)，正确地进行被检查物的检查。

本发明第一方面的X射线检查装置，是对被检查物照射X射线并检测透过被检查物的X射线透过光，来检查被检查物的X射线检查装置，该X射线检查装置包括传送装置、X射线照射部、线阵传感器、判定部、和校准执行部。传送装置将被检查物向规定的方向传送。X射线照射部对由传送装置传送来的被检查物照射X射线。线阵传感器包括多个像素，隔着传送装置对从X射线照射部照射的X射线进行检测。判定部根据在传送装置上未载置被检查物的状态下，在传送装置的各位置取得的线阵传感器对从X射线照射器照射的X射线进行检测的结果，对传送装置的各位置是否是适于进行线阵传感器的校准的位置进行判定。校准执行部在由判定部判定为适于进行校准的位置的位置根据线阵传感器的检测结果进行校准。

此处，在隔着传送装置对向被传送来的被检查物照射的X射线的透过光进行检测，并对包含在被检查物中的异物等进行混入检查的X射线检查装置中，在对包括在检测X射线的线阵传感器中的多个像素进行校准时，在用于传送被检查物的传送装置未载置被检查物的状态下使该传送装置停止多次，在各停止位置对X射线进行检测。然后，对于在这多个停止位置的检测结果中各像素的检测结果存在规定值以上的偏差的停止位置，判定为不适于进行校准的位置，另一方面，对于存在不到规定值的偏差的停止位置判定为适于进行校准的位置。之后，根据在判定为适于进行上述校准的位置的停止位置检测出的线阵传感器的检测结果，执行校准。

这里，所谓执行上述校准包括实际上实施校准的情况，以及蓄积校准用的数据等实施校准的前阶段的行为。

由此，即使是在传送装置的一部分局部地存在劣化的损伤、污垢等的情况下，以及传送装置包括指状接头等的情况下，也能够通过确定不适于进行校准的传送装置的停止位置，在该位置以外的位置实施校准。其结果是，能够防止因透过该劣化部分或接头部分等的X射线的一部分被吸收而引起不能够实施高精度的校准的情况，能够正确地进行被检查物的检查。

而且，在如指状接头那样，从使用的初始阶段起透过接头部分的X射线的量处于减少的情况下，在使用初始阶段取得校准用的数据，之后使用该数据即可。另一方面，对于传送装置的劣化和损伤，通过在每次运行开始时选择上述停止位置进行校准，能够按照经年变化的传送装置的状态实施适当的校准。

本发明第二方面的X射线检查装置是第一方面的X射线检查装置，在取得用于对传送装置的各位置是否为适于进行线阵传感器的校准的位置进行判定的数据时，使传送装置转一圈。

这里，为了确定传送装置中的劣化部分或损伤部分等不适当的位置，在实施校准之前，使传送装置转一圈，同时在各位置上通过线阵传感器取得透过X射线的检测数据。

由此，能够确定所有传送装置中的不适当的位置。结果是，通过在避开不适当的位置的位置实施校准，能够高精度地实施校准。进而，即使是在传送多个被检查物的同时连续进行检查的情况下，也能够避开确定的不适当的位置而进行检查，由此能够高精度地进行检查。

本发明第三方面的X射线检查装置是第一或第二方面的X射线检查装置，进一步设置有直方图(histogram)制作部，该直方图制作部根据在传送装置的各位置上由线阵传感器所包括的各像素取得的检测数据制作直方图。而且，判定部以直方图的中心为基准进行判定。

此处，根据线阵传感器取得的传送装置的各位置的检测数据制作直方图。然后，判定部以直方图的中央值、即最均匀的部分的检测数据值为基准，计算与各位置的检测数据的差，对各位置是适当的位置还是不适当的位置进行判定。

由此，能够容易地判定分散存在(以点的方式存在)于适当的位置中的劣化、损伤部分(不适当的位置)，并正确地对其进行确定。

本发明第四方面的X射线检查装置是第一～第三方面中任一方面的X射线检查装置，校准执行部使用为了判定部的判定而取得的线阵传感器的检测结果执行校准。

这里，为了对传送装置的各位置是适当的位置还是不适当的位置进行判定，根据在各位置上由线阵传感器取得的检测数据中的判定为适当的位置的位置的检测数据进行校准。

由此，因为仅一次取得为了判定适当的位置和不适当的位置而取得的检测数据就能够实施校准，所以能够提高校准的实施效率。

本发明第五方面的X射线检查装置是第一～第三方面中任一方面的X射线检查装置，校准执行部在判断部进行判定之后，通过线阵传感器重新取得校准用的数据。

此处，在判别传送装置的各位置是适当的位置还是不适当的位置之后，根据在判定为适当的位置的位置上通过线阵传感器新取得的检测数据进行校准。

由此，因为能够根据在适当的位置上新取得的检测数据实施校准，所以，与现有技术相比，能够实施高精度的校准。

本发明第六方面的X射线检查装置是第一～第五方面中任一方面的X射线检查装置，其进一步设置有控制传送装置的控制部。而且，控制部控制传送装置，使得不将被检查物搬入由判定部判定为不适当的位置。

这里，例如在包含劣化部分、损伤部分的传送装置转至接收被检查物的位置的情况下，通过进行控制而提高传送速度，能够使得被检查物不被载置于劣化部分之上。

由此，在对向被检查物照射的X射线进行检测而得到的X射线图像中，能够防止包含传送装置的劣化部分、损伤部分。结果是，能够避免误将传送装置的劣化部分等判定为混入被检查物中的异物。

本发明第七方面的X射线检查装置是第一～第六方面中任一方面的X射线检查装置，其还包括图像制作部和图像处理部。图像制作部根据线阵传感器对相对于被检查物照射的X射线进行检测的结果制作X射线图像。图像处理部在对被检查物进行检查的情况下，根据为了进行判定而通过线阵传感器取得的检测数据，对由图像制作部制作的X射线图像进行减法(subtraction)处理。

此处，对于根据向被检查物照射的X射线的检测结果制作的X射线图像，使用为了确定传送装置的不适当的位置而在多个位置取得的检测数据进行减法处理。

由此，能够从进行被检查物的检查时制作的X射线图像排除背景部分。结果是，在实施高精度的校准之后，能够使用预先取得的检测数据从被检查物的X射线图像排除背景部分，高精度地进行异物的检测。

本发明第八方面的X射线检查装置是对向被检查物照射的X射线的透过光进行检测，并进行被检查物的检查的X射线检查装置，其包括传送装置、X射线照射部、线阵传感器、和校准执行部。传送装置将被检查物向规定的方向传送。X射线照射部对通过传送装置被传送的被检查物照射X射线。线阵传感器对从X射线照射部照射的X射线进行检测。校准执行部对在从X射线照射部照射X射线且未载置被检查物地使传送装置动作的状态下，由线阵传感器所包括的多个像素检测出的X射线的量的平均值进行计算，根据平均值进行上述线阵传感器的校准。

此处，在不载置被检查物地使传送装置动作的同时照射X射线，针对各像素作为平均值而计算照射X射线时的各像素的检测数据。然后，将该平均值与不照射X射线时的各像素的检测数据进行比较，进行线阵传感器的校准。

由此，在包括传送装置的劣化、损伤的位置是全体的一部分的情况下，通过计算各像素的检测数据的平均值，能够排除劣化、损伤等的影响。这样，通过根据该平均值进行线阵传感器的校准，能够不受传送装置的劣化等的影响的高精度地实施被检查物的检查。

本发明第九方面的X射线检查程序是对向被检查物照射的X射线的透过光进行检测并进行被检查物的检查的X射线检查程序，其具有第一和第二步骤。第一步骤是，根据在传送装置上未载置被检查物的状态下，在传送装置的各位置取得的线阵传感器对X射线进行检测的结果，判定传送装置的各位置是否是适于进行线阵传感器的校准的适当位置。第二步骤根据在第一步骤中被判定为适于进行校准的位置的位置的线阵传感器的检测结果进行校准。

此处，在经传送装置对向被传送的被检查物照射的X射线的透过光进行检测，从而进行被检查物中包含的异物等的混入检查的X射线检查程序中，在对检测X射线的线阵传感器所包括的多个像素进行校准时，在用于传送被检查物的传送装置未载置被检查物的状态下使该传送装置停止多次，在各停止位置对X射线进行检测。然后，对于在这多个停止位置的检测结果中各像素的检测结果存在规定值以上的差的停止位置，判定为不适于进行校准的位置，另一方面，对于不到规定值的差的停止位置判定为适于进行校准的位置。之后，根据在判定为适于进行上述校准的位置的停止位置检测出的线阵传感器的检测结果，执行校准。此处，执行上述校准的情况包括实际上实施校准的情况，以及蓄积校准用的数据等实施校准的前阶段的行为。

由此，即使是在传送装置的一部分局部地存在劣化的损伤、污垢等的情况下，以及传送装置包括指状接头等的情况下，也能够通过确定不适于进行校准的传送装置的停止位置，在该位置以外的位置实施校准。其结果是，能够防止因透过该劣化部分或接头部分等的X射线的一部分被吸收而引起不能够实施高精度的校准的情况，能够正确地进行被检查物的检查。

而且，在如指状接头那样，从使用的初始阶段起透过接头部分的X射线的量总减少的情况下，在使用初始阶段取得校准用的数据，之后使用该数据即可。另一方面，对于传送装置的劣化、损伤，通过在每次运行开始时选择上述停止位置进行校准，能够与经年变化的传送装置的状态相应地实施适当的校准。

发明的效果

根据本发明的X射线检查装置，能够确定传送装置的所有不适当的位置。结果是，能够通过在避开不适当的位置的位置实施校准，高精度地实施校准。

附图说明

图1是本发明的一个实施方式的X射线检查装置的外观立体图。

图2是表示X射线检查装置的前后的结构的图。

图3是X射线检查装置的屏蔽箱内部的简易结构图。

图4是表示图1的X射线检查装置中装载的控制计算机的结构的框图。

图5是表示图1的X射线检查装置的X射线检查的原理的示意图。

图6是表示图4的控制计算机内形成的功能块的框图。

图7是表示在图4的控制计算机中读入X射线检查程序而执行的校准的流程的流程图。

图8(a)、(b)是表示图1的X射线检查装置中包括的X射线线阵传感器的校准的原理的说明图。

图9(a)～(c)是表示与装置的状态相应地进行变化的X射线线阵传感器的检测结果的示例的图。

图10(a)～(c)是表示根据图9(a)～(c)所示的检测结果的图表而制作的直方图。

图11是表示本发明的另一个实施方式中的校准的流程的流程图。

图12是表示本发明的又一个实施方式中的校准的流程的流程图。

符号的说明：

10X射线检查装置

11屏蔽箱

11a开口

12传送装置(transport conveyor)

12a传送带

12b传送框

12c开口部

12f传送电动机

12g旋转编码器

13X射线照射器(X射线照射部)

14X射线线阵传感器(线阵传感器)

14a像素

15光电传感器

16遮蔽帘

20控制计算机(判定部、校准执行部、直方图制作部、控制部、图像制作部、图像处理部)

20a判定部

20b校准执行部

20c直方图制作部

20d传送控制部(控制部)

20e图像制作部

20f图像处理部

21CPU

22ROM

23RAM

24USB

25CF(compact flash：注册商标)

26监视器

G商品

具体实施方式

使用图1～图10，对涉及本发明的一个实施方式的X射线检查装置10进行如下说明。

[X射线检查装置10的整体结构]

如图1所示，本发明的X射线检查装置10是一个在食品等商品的生产线上进行品质检查的装置。X射线检查装置10向连续传送来的商品照射X射线，根据透过商品的X射线的量，检查在商品中是否混入有异物。

如图2所示，作为X射线检查装置10的被检查物的商品G，通过前段传送装置60传送到X射线检查装置10。由X射线检查装置10判断商品G中是否混入有异物。该X射线检查装置10的判断结果被发送至配置于X射线检查装置10的下游侧的分配机构70。在商品G被X射线检查装置10判断为合格品的情况下，分配机构70直接将商品G发送至正规的线传送装置80。另一方面，在商品G被X射线检查装置10判断为不合格品的情况下，以下游侧的端部为旋转轴的臂70a以阻挡传送通路的方式转动。由此，能够通过配置于传送通路以外的位置的不合格品回收箱90回收被判断为不合格品的商品G。

如图1所示，X射线检查装置10主要包括：屏蔽箱11、传送装置(transport conveyor)12、遮蔽帘16、和具有触摸面板功能的监视器(显示装置)26。而且，如图3所示，在其内部设置有：X射线照射器(X射线照射部)13、X射线线阵传感器(线阵传感器)14、和控制计算机(判定部、校准执行部、直方图制作部、控制部、图像制作部、图像处理部)20(参照图4)。

[屏蔽箱11]

屏蔽箱11在商品的入口侧和出口侧的两个面上具有用于搬入搬出商品的开口11a。在该屏蔽箱11中，收纳有传送装置12、X射线照射器13、X射线线阵传感器14、和控制计算机20等。

此外，如图1所示，为了防止X射线向屏蔽箱11的外部泄漏，开口11a被遮蔽帘16遮蔽。该遮蔽帘16具有含铅的橡胶制的帘部分，在搬入搬出商品时被商品推开。

此外，在屏蔽箱11的正面上部，除了监视器26之外，还配置有钥匙的插入孔和电源开关。

[传送装置12]

传送装置12是用于在屏蔽箱11内将商品G向规定方向传送的装置，由图4的控制块中包括的传送电动机12f驱动。传送装置12的传送速度通过控制计算机20对传送电动机12f进行的逆变控制(invertercontrol)而被精细地控制，使得成为操作者输入的设定速度。

此外，如图3所示，传送装置12具有传送带12a和传送框12b，在能够卸下的状态下安装在屏蔽箱11上。由此，在进行食品等的检查的情况下，为了保持屏蔽箱11内的清洁，能够将传送装置卸下，频繁地进行清洗。

传送带12a是无端环形带，带的内侧被传送框12b支撑。这样，通过受到传送电动机12f的驱动力而进行旋转，能够将带上载置的物体向规定方向传送。

传送框12b从无端环形带的内侧支撑传送带12a，并如图3所示，在与传送带12a的内侧的面相对的位置，具有在相对于传送方向呈直角的方向上较长地开口的开口部12c。开口部12c形成于传送框12b上的连接X射线照射器13和X射线线阵传感器14的线上。换言之，开口部12c形成于传送框12b上的被来自X射线照射器13的X射线照射的区域，使得透过商品G后的X射线不被传送框12b遮蔽。

[X射线照射器13]

如图3所示，X射线照射器13配置于传送装置12的上方，经形成于传送框12b上的开口部12c，向配置于传送装置12的下方的X射线线阵传感器(线阵传感器)14以扇形形状照射X射线(参照图3的斜线部分)。

[X射线线阵传感器14]

X射线线阵传感器14配置于传送装置12(开口部12c)的下方，检测透过商品G和传送带12a而来的X射线。如图3和图5所示，该X射线线阵传感器14由多个像素14a构成，该多个像素14a在与传送装置12的传送方向正交的方向上水平配置成一条直线。

此外，在向X射线检查装置10内的商品G照射X射线的状态下，如图5所示，关于此时由构成X射线线阵传感器14的各像素14a检测出的X射线的量，与异物相对应的部分的像素14a的检测结果与周围相比较小。这样，在传送商品G的传送装置12的传送带12a等上存在垃圾、污垢、劣化部分等的情况下，或者在传送装置12具有指状接头的情况下，与图9(a)所示的正常的状态相比，如图9(b)和图9(c)所示，在X射线线阵传感器14的检测结果中产生偏差。

因为X射线线阵传感器14包括的像素14a由于各自的检测特性而产生灵敏度的误差，所以根据后述的X射线检测程序，进行用于排除灵敏度的误差的校准。其中，对于本实施方式中的各像素14a的校准的实施方法，在后面进行详细说明。

[监视器26]

监视器26是全点矩阵(full dot)显示的液晶面板。而且，监视器26具有触摸面板功能，显示督促输入与初始设定、不合格判断相关的参数的画面。

此外，监视器26显示实施后述的图像处理后的X射线图像。由此，能够使用户视觉地认识到商品G中包含的异物的有无、位置、大小等。

进一步，监视器26显示对因后述的X射线照射量的不稳定而形成在X射线图像中的暗的线纹部分进行补正的前后的X射线图像，以及显示因X射线照射器13的照射量的不稳定而不能进行检测的宗旨。

[控制计算机20]

控制计算机20在CPU 21中执行控制程序中包含的图像处理程序、检查判定处理程序等。而且，控制计算机20在CF(compact flash：注册商标)25等存储部中，保存积蓄与不合格商品对应的X射线图像以及检查结果、X射线图像的修正用数据等。

作为具体的结构，如图4所示，控制计算机20装载有CPU 21，并且，作为该CPU 21控制的主存储部，装载有ROM 22、RAM 23、和CF 25。在CF 25中，收纳有：用于对是否适于作为进行后述的校准的位置进行判定的传送装置12的各位置的检测数据25a，基于此的判定结果日志文件25b，作为用于修正X射线图像的背景部分而被确定的部分(图像14a)和存储该部分的亮度等的修正用数据，存储检查图像和检查结果的检查结果日志文件等。

此外，控制计算机20设置有：控制监视器26的数据显示的显示控制电路，对来自监视器26的触摸面板的键输入数据进行读取的键输入电路，用于进行未图示的打印机的数据打印的控制的I/O端口，作为外部连接端子的USB 24等。

而且，CPU 21、ROM 22、RAM 23和CF 25等，通过地址总线、数据总线等总线相互连接。

进一步，控制计算机20与传送电动机12f、旋转编码器12g、X射线照射器13、X射线线阵传感器14、和光电传感器15等连接。

旋转编码器12g安装在传送电动机12f上，对传送装置12的传送速度进行检测并发送至控制计算机20。

光电传感器15是用于检测出作为被检查物的商品G到达X射线线阵传感器14的位置的时间的同步传感器，由夹着传送装置而配置的一对投光器(发光器)和受光器构成。

在本实施方式中，在控制计算机20中，通过CPU 21读取ROM 22或RAM 23等存储部中存储的X射线检查程序，如图6所示，形成由判定部20a、校准执行部20b、直方图制作部20c、传送控制部(控制部)20d、图像制作部20e和图像处理部20f构成的功能块。

判定部20a根据后述的X射线检查程序，对传送装置12的各位置的状态是否为适于进行校准的位置进行判定。

校准执行部20b在由上述判定部20a判定为适于进行校准的位置的传送装置12的位置，进行X射线线阵传感器14包括的像素14a的校准。具体而言，如图8(a)所示，X射线线阵传感器14包括的各像素14a对向未载置商品G的传送装置12照射的X射线进行检测，然后如8(b)所示，对检测所得数据进行均匀化。通过实施这样的校准，能够修正每个像素14a的不同的灵敏度的差，从而能够高精度地实施商品G的检查。

直方图制作部20c根据后述的X射线检查程序，为了对传送装置12的各位置的状态是否为适于进行校准的位置进行判定，制作各位置的各像素14a的检测结果的直方图(参照图10(a)～图10(c))。

传送控制部20d是控制传送装置12的传送速度、传送开始和停止等的时刻的装置，根据按照后述的X射线检查程序实施的判定结果控制传送装置12，使得避开被判定为不适于实施校准的包含劣化、损伤等的位置，传送商品G。

图像制作部20e根据图5所示的X射线线阵传感器14包括的各像素14a的检测结果，制作用于进行异物混入检查的X射线图像。

图像处理部20f从由图像制作部20e制作的X射线图像除去背景部分，或反映校准的结果，进行用于使得容易发现异物部分的图像处理。而且，在本实施方式中，在根据上述判定部20a的判定结果实施校准之后，在对向传送装置12上载置的商品G照射的X射线进行检测并实施异物混入检查时，使用为了对是否是适于进行后述的传送装置12的校准的位置进行判定而取得的检测结果，能够通过上述图像处理部20f从X射线图像除去背景部分。

<控制计算机20对传送装置12的每个位置的状态进行的判定>

在本实施方式中，上述控制计算机20由CPU 21读取X射线检查程序并执行图7所示的流程，从而对传送装置12的各停止位置的状态进行判定，之后，执行X射线线阵传感器14的各像素14a的灵敏度误差的校准。

即，在步骤S1中，通过X射线线阵传感器14，在传送装置12上不载置商品G且未照射X射线的状态下，取得各像素的初始数据。

接着，在步骤S2中，在未载置商品G的状态下使传送装置12动作。

接着，在步骤S3中，在未载置商品G的状态下从X射线照射器13对传送装置12照射X射线。

接着，在步骤S4中，使传送装置12停止于多个规定的位置，同时通过X射线线阵传感器14进行X射线的检测，在传送装置12旋转一圈时停止传送装置12的动作。

接着，在步骤S5中，根据传送装置12的各停止位置的X射线线阵传感器14包括的各像素14a的检测结果，制作图10(a)～图10(c)所示的直方图。该直方图表示与传送装置12的各位置的检测结果对应的亮度与其频度的关系。而且，图10(a)的直方图表示传送装置12的状态正常，且未载置商品G的情况下的结果。图10(b)的直方图例如表示构成传送装置12的传送带12a和传送框12b中包含垃圾、劣化部分的情况下的结果。图10(c)的直方图表示传送装置12是指状接头的情况下的结果。如上所述，从图10(a)～图10(c)的结果可知，在传送装置12的状态正常的情况下，获得大致一定的亮度的检测结果，在传送装置12的一部分中包含垃圾、劣化部分的情况下，由于在该部分X射线被吸收或透过，所以在亮度上产生偏差。

接着，在步骤S6中，求取在步骤S5中制作的直方图的中心。即，求取传送装置12的各停止位置的亮度的平均。例如，如图10(a)所示，在传送装置12的状态正常的情况下，频度最高的部分是直方图的中心，如图10(b)所示，在传送装置12中包含垃圾、劣化部分的情况下，由于与正常的部分相比，暗的部分的频度增高，所以直方图的中心向暗的一侧移动。换言之，当传送装置12包含的劣化部分等波及的范围越广，则根据该停止位置的X射线线阵传感器14的检测结果制作的直方图越向暗的一侧移动，因此，此时的直方图与传送装置12的状态为正常的位置的直方图相比，其中心的亮度偏差变大。

接着，在步骤S7中，将各位置的结果与直方图中心进行比较，计算出偏差值。而且，此处的处理将直方图中的频度最高的亮度的部分确定为通过正常的状态的传送装置12后的X射线的量。

接着，在步骤S8中，根据步骤S7中的偏差值是否为规定量以上，对传送装置12的各停止位置的状态进行判定。具体而言，在偏差值为规定量以上的情况下，将该位置判定为异常的部分，在偏差值不到规定量的情况下，将该位置判定为正常位置。这样，在与直方图中心相当的检测结果、和实际上的各位置的检测结果的偏差值在规定量以上的情况下，因为推定劣化部分等的范围较大，所以通过将其判定为异常部分(劣化、损伤部分)，就能够容易地确定分散存在于传送装置12的正常的状态的部分中的异常的部分。

接着，在步骤S9中，从在步骤S8中判定为正常的位置的位置中选择一处，使用在该位置实际检测出的检测结果的数据，和在步骤S1中取得的初始数据，进行校准。由此，因为没有必要再次取得校准用的检测数据，所以能够高效率地实施校准处理。

以上，在本实施方式中，根据在使未载置商品G的状态下的传送装置12动作的状态下取得的多个停止位置的检测结果，对传送装置12的各停止位置的状态是否正常进行判定。此处，在包含不正常的部分(异常部分)的情况下，避开该异常部分，使用通过正常部分取得的检测结果进行校准。

由此，即使在传送装置12包含劣化部分、损伤等的情况下，也能够根据避开该位置而取得的检测结果实施校准，因此能够不依赖于传送装置12的状态地始终实施高精度的校准。

[本X射线检查装置10的特征]

(1)

如图3所示，本实施方式的X射线检查装置10是通过X射线线阵传感器14对向传送装置12上载置的商品G照射的X射线的透过光进行检测，由此检测商品G是否包含异物的装置，在进行X射线线阵传感器14包括的多个像素14a的校准时，通过在装载于X射线检查装置10上的控制计算机20中形成的各种控制块(参照图6)，寻找适于进行传送装置12的校准的位置，根据在该位置X射线线阵传感器14检测出的结果进行校准。

具体而言，如图7所示，在图6所示的判定部20a根据在传送装置12的各停止位置上检测出的检测结果，判定各位置的传送装置12的状态是否良好之后，校准执行部20b使用在传送装置12的状态良好的位置所取得的检测结果进行校准。

通常，在构成传送装置的表面的传送带上出现劣化时，在该劣化部分X射线被吸收或透过量增大，在配置于其下方的X射线线阵传感器的输出中，会产生X射线线阵传感器所包括的各像素的灵敏度差以外的偏差。因此，为了不依赖于传送装置地实施正常的校准，必须避开传送装置的劣化、损伤部分等实施校准。

由此，即使是在构成传送装置12的传送带12a和传送框12b等的一部分上存在劣化、损伤的情况下，也能够避开这样的不适于实施校准的位置而实施校准，因此，能够不依赖于传送装置12的状态而能够始终实施高精度的校准。

(2)

在本实施方式的X射线检查装置10中，在进行传送装置12的状态的判定时，如图7的步骤S4所示，传送装置12转一圈，取得各位置的检测数据。

由此，由于能够大致全面地识别整个传送装置12中的劣化等部分，所以能够通过传送控制部20d，采取对传送装置12的传送进行控制等的措施，使得商品G不被载置于该劣化等部分。

(3)

在本实施方式的X射线检查装置10中，在进行传送装置12的状态的判定时，如图7的步骤S5所示，根据在各停止位置由X射线线阵传感器14的各像素14a取得的检测结果，图6所示的直方图制作部20c制作图10(a)～图10(c)所示的直方图。然后，如图7的步骤S6所示，求取直方图的中心，按照该中心的亮度与各停止位置的检测结果的差，判定是否为适于实施校准的位置。

由此，通过将直方图的中心识别为与正常位置的检测结果相当的亮度，能够将与该正常位置的亮度存在差异的部分确定为传送装置12的不适于校准的部分。结果是，即使在传送装置12中包含劣化、损伤等部分的情况下，也能够容易地确定该位置，在正确的位置高精度地实施校准。

(4)

在本实施方式的X射线检查装置10中，如图7的步骤S9所示，校准执行部20b使用由判定部20a判定为适于实施校准的传送装置12的位置的检测结果进行校准。

由此，与在进行判定传送装置12的状态的处理之后，根据判定结果，传送装置12在正常的位置再次取得检测结果的情况相比，能够高效率地进行高精度的校准处理。

(5)

在本实施方式的X射线检查装置10中，图6所示的传送控制部20d控制传送装置12，使得在作为上述判定部20a的判定结果被判定为不适于进行校准的传送装置12的位置不载置商品G。

由此，能够防止在传送装置12的包含劣化部分、损伤的部分上载置商品G，在进行高精度的校准之后，能够实施高精度的异物检测检查。

(6)

在本实施方式的X射线检查装置10中，在判定上述传送装置12的状态并执行校准之后，实际上通过传送装置12传送商品G，同时对照射的X射线进行检测并在图像制作部20e(参照图6)制作X射线图像，图像处理部20f(参照图6)在从由图像制作部20e制作的X射线图像除去背景部分时，使用为了上述判定而取得的检测结果。

即，在上述传送装置12的状态的判定中，使用在传送装置12的规定的停止位置取得的结果。因此，计算出这些检查结果的平均值，将该平均值作为X射线图像的背景除去。即，通过计算各停止位置的X射线线阵传感器14的检查结果的平均值，能够使与劣化部分等相当的X射线透过量少的部分的影响平均化，其中，该劣化部分是存在于传送装置12的正常部分的一部分中的劣化部分。

由此，通过直接使用为了实施高精度地校准而取得的检测数据除去X射线图像的背景部分，能够高精度且高效率地对商品G中是否包含有异物进行检查。

[另一个实施方式]

以上，对本发明的一个实施方式进行了说明，但本发明不限于上述实施方式，在不超过本发明的宗旨的范围内能够进行各种变更。

(A)

如图7所示，在上述实施方式中，对根据传送装置12的各停止位置上的X射线线阵传感器14的检测结果制作的直方图的中央值与初始值进行比较，从而判定传送装置12的各位置的状态，以上述情况为例进行了说明。但是，本发明并不限于此。

例如，也可以是，如图11所示，在步骤S11～步骤S13中进行与图7所示的步骤S1～步骤S3同样的处理，在步骤S14中在使传送装置12动作的状态下通过X射线线阵传感器14对X射线进行检测，之后，在步骤S15中计算出各像素14a的检查结果的平均值。然后，在步骤S16中，计算出该各像素14a的检查结果的平均值与不照射X射线时的各像素的输出值(初始值)的差，在步骤S17中，将该差设定为线阵传感器的各像素的X射线检测范围，实施校准。

在这种情况下，在使传送装置12动作的同时也能够获得由各像素14a检测出的X射线的量的平均值，由此能够对因传送装置12所包括的传送带12a的劣化等而状态差的部分进行平均化并将其除去。结果是，即使是在传送装置12上存在劣化、损伤等的状态下，也能够实施正确的校准。

(B)

在上述实施方式中，直接使用为了确定传送装置12的适当的位置而在多个位置取得的检测数据进行校准，以上述情况为例进行了说明。但是，本发明并不限于此。

例如，也可以如图12的流程图所示，根据在传送装置12的多个停止位置由X射线线阵传感器14取得的检测数据制作直方图，确定传送装置12的适当的位置(参照步骤S21～步骤S28)，之后，在步骤S29中，使传送装置12旋转至判定为适于实施校准(状态良好)的位置，之后，在步骤S30中，在该位置重新对X射线进行检测并实施校准。

在此情况下，因为能够避开传送装置的劣化、损伤的部分而进行校准，所以与上述实施方式同样地能够实施高精度的校准。

(C)

在上述实施方式中，为了确定不适于进行校准的不适当的位置，使传送装置12旋转一圈，并在多个位置通过X射线线阵传感器14取得检测数据，以上述情况为例进行了说明。但是，本发明并不限于此。

例如，为了确定上述不适当的位置，使传送装置动作，在根据在多个位置取得的数据已确定适当的位置的情况下，也可以结束传送装置的动作和检测数据的取得。

在此情况下，由于在避开不适当的位置而确定适当的位置的时刻即可不进行下游侧的上述检测数据的取得，所以能够缩短为了确定适于进行校准的适当的位置所需要的时间，能够更高效率地进行高精度的校准。

(D)

在上述实施方式中，传送控制部20d控制传送装置12，使得在判定为不适于进行校准的传送装置12的位置上不载置商品G，以上述情况为例进行了说明。但是，本发明并不限于此。

例如，作为根据判定部20a的判定结果使得在判定为不适于进行校准的传送装置12的位置不载置商品G的方法，也可以不控制传送装置12，而控制向传送装置12传送商品G的上游侧的装置。在此情况下，通过将控制计算机20的判定部20a的判定结果发送至上游侧的装置，能够改变将商品G送入传送装置12的时刻，使商品G不被装载于传送装置12的不适当的位置。

(E)

在上述实施方式中，以包括1052个像素的X射线线阵传感器14为例进行了说明。

但是，在本发明中，作为线阵传感器所包括的像素的数目，并不限于此，也可以使用包括比1052个像素少的像素的线阵传感器，也可以使用包括比1052个像素多的像素的线阵传感器。

本发明的X射线检查装置，因为能够不依赖于传送装置的状态地总进行高精度的校准，所以能够广泛应用于装载有传送装置的各种X射线检查装置。

Claims (9)

1.一种X射线检查装置，其对被检查物照射X射线并通过检测透过该被检查物的透过光以对所述被检查物进行检查，该X射线检查装置的特征在于，包括：

传送装置，其向规定的方向传送所述被检查物；

X射线照射部，其对由所述传送装置传送来的所述被检查物照射X射线；

线阵传感器，其包括多个像素，隔着所述传送装置对从所述X射线照射部照射的X射线进行检测；

判定部，其在所述传送装置上未载置所述被检查物的状态下，从所述X射线照射部向所述传送装置照射X射线时，根据在所述传送装置的各位置取得的所述线阵传感器的检测结果，来判定所述传送装置的各位置是否为适于进行所述线阵传感器的校准的位置；和

校准执行部，在由所述判定部判定为适于进行所述校准的位置的位置，根据所述线阵传感器的检测结果进行所述校准。

2.根据权利要求1所述的X射线检查装置，其特征在于：

在取得用于对所述传送装置的各位置是否为适于进行所述线阵传感器的所述校准的位置进行判定的数据时，使所述传送装置转一圈。

3.根据权利要求1或2所述的X射线检查装置，其特征在于：

还设置有直方图制作部，该直方图制作部根据在所述传送装置的各位置上，由所述线阵传感器所包括的各像素取得的检测数据制作直方图，

所述判定部以所述直方图的中心为基准进行所述判定。

4.根据权利要求1～3中任一项所述的X射线检查装置，其特征在于：

所述校准执行部使用为了所述判定部的判定而取得的所述线阵传感器的检测结果执行所述校准。

5.根据权利要求1～3中任一项所述的X射线检查装置，其特征在于：

所述校准执行部在所述判断部进行判定之后，通过所述线阵传感器重新取得所述校准用的数据。

6.根据权利要求1～5中任一项所述的X射线检查装置，其特征在于：

还设置有控制所述传送装置的控制部，

所述控制部控制所述传送装置，使得不将所述被检查物搬入由所述判定部判定为不适当的位置。

7.根据权利要求1～6中任一项所述的X射线检查装置，其特征在于，还包括：

图像制作部，其根据所述线阵传感器对向所述被检查物照射的X射线进行检测的结果制作X射线图像；和

在对所述被检查物进行检查的情况下，根据为了进行所述判定而通过所述线阵传感器取得的检测数据，对由所述图像制作部制作而成的所述X射线图像进行减法处理的图像制作部。

8.一种X射线检查装置，其是对被检查物照射X射线并通过检测透过被检查物的透过光，进行所述被检查物的检查的X射线检查装置，该X射线检查装置的特征在于，包括：

将所述被检查物向规定的方向传送的传送装置；

对通过所述传送装置被传送的所述被检查物照射X射线的X射线照射部；

对从所述X射线照射部照射的X射线进行检测的线阵传感器；和

校准执行部，其对在从所述X射线照射部照射X射线且未载置所述被检查物地使所述传送装置动作的状态下，由所述线阵传感器所包括的多个像素检测出的X射线的量的平均值进行计算，根据所述平均值进行所述线阵传感器的校准。

9.一种X射线检查程序，其是对相对于被检查物照射的X射线的透过光进行检测，并进行所述被检查物的检查的X射线检查程序，该X射线检查程序的特征在于：

使计算机执行具有以下第一步骤和第二步骤的X射线检查方法：

所述第一步骤是根据在传送装置上未载置所述被检查物的状态下，在所述传送装置的各位置取得的线阵传感器对X射线进行检测的结果，判定所述传送装置的各位置是否为适于进行所述线阵传感器的校准的位置的步骤，

所述第二步骤是根据在所述第一步骤中被判定为适于进行所述校准的位置的位置的所述线阵传感器的检测结果进行校准的步骤。

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