CN104662412B - 利用模块化传送链来操作射线照相检查系统的方法 - Google Patents
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Abstract
操作射线照相检查系统的方法具体设计成用于其中具有相同模块化链节的传送链传送被检查物品的一种系统。所述方法包括射线照相检查系统的两种操作模式,即,其中产生表示具有空传送链的射线照相检查系统的特征的校准数据的校准模式,和其中获取具有传送链的背景的被检查物品的原始图像数据并且借助于校准数据用算术方法将其处理成没有传送链的干涉背景的清晰输出图像的检查模式。
Description
发明背景和有关现有技术
本发明涉及其中被检查的物品在穿过X光机或者其他射线照相扫描系统的无端环形传送机上行进的射线照相检查系统领域。特别是,本发明涉及一种操作其中无端环形传送机是模块化传送链的射线照相检查系统的方法,并且本发明的具体主题是一种消除传送链的透过率变化在由扫描系统所产生的射线照相图像上的影响的方法。另外,本发明还涉及一种具有执行上述方法的必要特征的射线照相检查系统。
本文中的术语“传送链”是指类似于传送带的无端环形传送机装置,但是具有传送链是由相互按闭合环路连接的许多刚性区段或者链节组成的差异,在该闭合环路中每个链节被活节地铰接到后一链节和前一链节上。所述区段可能是相互完全一致的,或者可围绕传送链相同地自我重复的一组不相似的区段。单独的区段或者相同地自我重复的区段组在本文中被称为模块或者模块化区段,并且因此,所述传送链被称为模块化传送链。
无端环形传送机的辐射透过率在检查系统中开始起作用,其几何设置是如此的,即至少部分扫描辐射线不但穿过被检查的产品及围绕其的空间而且横穿无端环形传送机。该类检查系统用于例如检测瓶装或罐装食品和饮料产品中的异物。特别关注的是液态产品中的金属和玻璃碎片。因其相对于液体的高密度,所述异物将聚集在容器底部。此外,如果容器具有穹形底部,则异物趋向于沉淀在其中底部与容器侧壁相交的周边处。因此,对于射线照相扫描系统来说非常重要的是相对于无端环形传送机按如此方式配置和布置,即,使每个容器的整个内侧底面都被扫描覆盖。因此,必须使用一种其中至少部分辐射线通过容器的底部并因此也通过其上定位被检查的容器或任何其他物品的无端环形传送机的区域的扫描仪配置。
在典型配置中,用来检查的辐射线可能例如来源于位于传送路径上方的辐射源、以偏斜角度穿过侧壁进入容器、通过容器底部射出并穿过传送机以被连接至图像处理系统的检测系统接收。备选是,例如当检查既非瓶装亦非罐装的物品时,可以将辐射源竖直地设置在传送机的上方并且将辐射探测器竖直地设置在所述传送机的下面。
如果射线照相检查系统是X射线系统,则射线可以例如由X射线图像增强器和照相机接收或者由X射线线性阵列传感器接收或者由X射线区域阵列传感器接收,其中两者则都将信号传递给图像处理系统。一般地,成像辐射线成扇形平面射线束地来源于局部辐射源,即斑点形辐射源并且由光电二极管的线性阵列接收,所述光电二极管共同被称作辐射探测器,其中扇形辐射线束和光电二极管的线性阵列处于一公共平面中,也被称为扫描平面,其基本上正交于支承被检查的物品的传送机的移动方向地延伸。当待检查的物品穿过扫描平面时,光电二极管的线性阵列被不连续脉冲的连续序列触发,并且脉冲频率与传送机的速度协调以使由辐射探测器阵列所接收的信号序列可以被转换为具有不同亮度值的光栅点的图案,该亮度值例如根据亮度标度以零至255来表示,代表材料体在辐射源与辐射探测器之间的透明影像。如果被扫描的物品包含例如金属碎片的异物,则射线照相图像在所扫描物品的透明影像内将所述异物显示为较暗区域,所述异物与被扫描物品相比对扫描射线具有更低的透过率。
在现阶段的技术状态下,被用作射线照相检查系统中的传送装置的无端环形传送机在大多数情况下为聚合物织物带。该类传送机具有以下优点,由于带的恒定厚度与均一性,X射线图像的质量很少受其影响。然而,对于聚合物织物带和模块化传送链的优点存在许多强烈争论,具体地说:
-特别是在瓶装和罐装工业中对于使用织物带存在较强阻力,因为其易于受损并且迅速磨损掉。比较起来,由以无端环联接到一起的刚性塑料(典型地为缩醛树脂或者聚丙烯)元件构成的传送链更坚固并且更不易于被坚硬的金属或者玻璃容器损坏。
-因为可能利用直接啮合链条轮廓的链轮来驱动传送链,所以传送链更适用于例如乳酪块的重量大的物品。
-传送链的区段可以按如此方式铰接到一起,即,使链条对于围绕驱动链轮的环具有单向挠性而对相反方向的弯曲是刚性的。该后种特性消除了对导向装置的需求,该导向装置在连续运行应用中可能是不可靠的。
-传送链与带相比更易于替换或者修理,因为可以通过移除一个铰链销而打开链条,链条的模块化元件通过铰链销联接到一起。
-传送链可以设计成是自跟踪的并且与传送机的支承结构的侧部齐平地延伸。该最后特征是重要的,因为其允许产品在横向相邻的传送机之间被轻易地侧向传送。
然而,在射线照相检查系统中使用具有塑料链节的惯用的链式传送机是有问题的,因为链节可能妨碍X射线图像。直到现在,如果人们希望用X射线检查在传送链上移动的产品,则合成的图像因叠覆在产品上的传送链的透过率(例如由于链节之间的铰链或其他连接件或者设计来加强链段的轮廓特征)的变化而降质。如果可以解决该图像干扰问题,则如上所列举的模块化传送链的优点可应用于射线照相检查系统。
在本发明的相同受让人拥有的US 2012/0128133A1中,通过其中链节被实质上配置成在传送链宽度上延伸的均匀厚度和密度的刚性板的传送链来解决透过率变化的问题,其中区段相互重叠以作为均匀透过率的基本上无间隙的带来呈现给扫描辐射线,并且其中将区段联接到一起的连接件或者铰链(且其具有比区段的平面区域更低的透过率)位于被扫描辐射线穿过的带的外侧。因此,区段之间的连接件优选位于传送链的两个外侧边缘区域中。
在根据前述方案的传送链中,中央均匀带区域中铰链或者任何其他加强特征的存在就横向弯曲而论减小了链节的刚度并且因此限制了在实际设计中可实现的传送机的宽度。对现有技术的检查系统的射线照相图像中背景影响的处理已知到以下程度,所述背景影响是由组成线性阵列的辐射探测器的单独的光电二极管之间的暗信号和增益的变化所引起的。该变化的一部分是由于二极管自身的性能上的随机差异,而其他部分是由于从固定的辐射源向单独的光电二极管扇状地发射的射线路径的不同长度。根据平方反比定律,从辐射源至给定的传感器二极管的射线路径越短,则由二极管接收到的辐射线越强。为了横跨扫描区域产生均匀的图像,通过所谓的辐射探测器校准或者辐射探测器归一化来消除所述变化的影响。
在辐射探测器校准的两步的第一步中,通过当关掉辐射源时测量其相应二极管的电流来确定辐射探测器阵列的单独的光电二极管的暗信号。将各二极管的暗信号的相应亮度值存储到存储器中。随后,在检查系统的工作模式中,从各二极管的信号中减去所存储的暗水平值,以使各二极管的暗水平相当于零值的净信号。
在辐射探测器校准的第二步中,利用打开辐射源并且在辐射源与辐射探测器之间的射线路径中仅设置空的传送带来确定辐射探测器阵列的单独的二极管的信号。所述信号表示各单独的二极管的相应最高亮度水平。将每个信号数字化、减去相应的暗水平值,并且使用结果得到的净信号值来计算并存储单独二极管的归一化因子。由于校准的结果,所有二极管的归一化的暗水平信号值为零,并且所有光电二极管的最大亮度水平都相当于相同的标准值,如果按照8位的二进制数来表示,例如255。
在射线照相检查系统的操作模式中,通过减去所存储的暗信号值将来自各二极管的原始测定值转换成净值,并且然后通过将净值乘以所存储的相应二极管的归一化因子来将其转换成归一化值。
当对于传送机在合适位置执行校准时,亮度由于传送机的减小自动地包含在归一化结果中,以便在传送带的情况中,已经在归一化的亮度值中消除了因带吸收射线所引起的射线照相图像中持续的灰色水平背景。
发明目的
考虑到具有根据US 2012/0128133 A1的传送链的射线照相检查系统的限制,并且还考虑到现有技术已经提供了利用通过校准过程的传统带式传送机来消除检查系统中的背景图像的方法的事实,因此本发明具有提出一种具有能够以模块化传送链来消除检查系统中的背景图像的进一步发展的校准模式的方法和射线照相检查系统的目的。
发明内容
根据本发明的方法设计成用于一种射线照相检查系统中,该射线照相检查系统具有辐射源发射的扫描射线,进一步具有接收扫描射线并将它们转换为探测器信号的辐射探测器,具有基于辐射探测器信号产生射线照相图像的处理器,并且具有模块化传送链,该模块化传送链带有连接成闭合环路的相同模块化区段,其中各个模块化区段包括定位结构,其中被检查的物品在模块化传送链上被传送通过扫描射线横穿的空间。根据本发明,该方法完成了从所述射线照相图像上消除背景图像的任务,该背景图像实质上是由传送链区段和辐射探测器中的内在因素所引起的。结果,在没有传送链的干涉背景图像情况下获得了显示被检查物品的输出图像。
实质上,该方法包括射线照相检查系统的两种操作模式,即校准模式和检查模式。
在校准模式中,通过射线照相检查系统来获得反映辐射源和辐射探测器的影响的数据以及模块化区段中的一个的图像数据并且将其数字化处理成然后被储存在射线照相检查系统的存储器中的校准数据。
这意味着通过当关掉辐射源时测量它们相应的二极管电流而确定辐射探测器阵列的单独的光电二极管的暗信号来获得数字式校准数据、数字化所述二极管电流并且将所述数字式校准数据保持到一维数据组中、获得空传送机的一个模块化区段的原始图像数据并且将所述原始图像数据作为模块化区段的原始数字图像保持到第一个二维数据组中并且数字化地处理在前述步骤中保持的数据。
在检查模式中,通过射线照相检查系统以原始数字图像数据的形式获得具有传送链背景的被检查物品的射线照相图像,并且将所述原始数字图像数据作为具有传送链的所述区段的背景的物品的原始数字图像保持到第二个二维数据组中。借助于预先存储的校准数据用算术方法将原始图像数据处理成没有传送链干涉背景的清晰输出图像。
为了能够使以检查模式收集的原始图像数据几何地与以校准模式收集并保存的校准数据相关,各模块化区段具有定位结构,由此任何射线照相图像内的位置以传送链的传送方向上的纵向定位坐标y标记下层的模块化区段。
该方法利用了以下事实的优点,传送链是由相同的模块化区段的无端环构成的。因此,在校准模式中,获取、处理并存储任何单个模块化区段的数据是足够的,而非获取典型地具有几百个区段的整个链条的数据,对于校准模式后者将花相当大量的时间并且需要过大的存储器容量以用于存储校准数据。
在优选实施例中,可以根据该发明方法来操作的射线照相检查系统配有空间地集中的辐射源和由光电二极管的线性阵列构成的辐射探测器,该光电二极管相互间隔开均匀的距离。辐射源和辐射探测器横跨模块化传送链相互面对。辐射源产生了扫描射线,该扫描射线成扇形平面波束地从辐射源向辐射探测器发射。辐射源和辐射探测器的空间布置是如此的,即所述扇形辐射波束和光电二极管的线性阵列位于公共的扫描平面中,该公共的扫描平面优选基本上与传送链的移动方向正交地延伸。在布置的另一实施例中,辐射源可以竖直地定位在传送链上方,并且辐射探测器可以竖直地定位在传送链下面。
有利地,由于辐射探测器作为光电二极管的线性阵列的本性,任何射线照相图像内的位置以相应于与射线照相图像内的位置有关的光电二极管的阵列位置的横向定位坐标x标记在传送链的横向方向上。
当被检查的物品在传送链上移动通过扫描平面时,光电二极管阵列被内部时钟或者编码器装置所产生的连续序列的脉冲触发,其中脉冲的正时能与传送链的移动同步以便光电二极管阵列按均匀地分隔的间隔产生检测信号。在当被检查的物品移动通过扫描平面的备选实施例中,能按连续序列的离散脉冲产生扫描仪的辐射线并且使脉冲频率与传送链的速度协调以便可以将由辐射探测器阵列接收的信号序列转换为具有不同亮度值的光栅点图案。
例如,为了使光电二极管阵列的检测信号与传送链的移动同步,可以在定位坐标y的预定均匀间隔处触发脉冲,以便实际上可以通过上述定位结构来控制检测信号的正时。
每当光电二极管的线性阵列接收触发脉冲时,其产生射线照相图像的一行图像点,并且触发脉冲的整个顺序流结果形成了在传送链上移动的物品的以及传送链自身的连续的光栅状图像,其中每个图像点由如上所述的x和y定位坐标在空间上标记。图像自身由光栅中不同相应亮度水平的图像点产生。图像点的亮度优选按数字形式的亮度值表示。因此,具有图像点特征的数据集包括定位坐标和图像点的亮度水平。
在其中射线照相图像按照前述说明形成的系统中,确定单独图像点的亮度水平的因素是:
-各自不同的暗信号和辐射探测器阵列中各光电二极管的不同辐射灵敏度;
-各光电二极管离辐射源的各自不同的距离;
-由于该传送链中的吸收而沿从所述辐射源至各光电二极管的射线路径损失的各自不同的辐射强度量;以及
-由于被检查的物品中的吸收而沿从所述辐射源至各光电二极管的射线路径损失的各自不同的辐射强度量。
因此,在根据本发明的方法的校准模式的第一步中,关掉辐射源并且测量辐射探测器阵列中的每个二极管的二极管电流。数字化二极管的电流信号并且将其与横向定位坐标x一起作为相应二极管的暗信号D(x)存储到存储器中。
在校准模式的第二步中,辐射源发射辐射线,辐射探测器接收触发脉冲以产生检测信号,并且传送链运行。获得空传送链的一个区段的图像数据作为原始亮度校准值RBC(x,y)的x/y数组。通过从原始亮度校准值RBC(x,y)中减去暗信号D(x)来计算出阵列的每个x/y位置的净亮度校准值NBC(x,y)。将倒数值1/NBC(x,y)(或者倍数k/NBC(x,y),其中k是任选的归一化因子)存储为相应x/y位置的亮度校准因子C(x,y)。
在检查模式中,可以获得具有被检查物品的传送链的原始图像数据以作为连续流的原始亮度值,可以首先通过减去相应光电二极管的暗信号D(x)并且然后将得到的净亮度值乘以相应位置的校准因子C(x,y)来迅即将每个原始亮度值转换为归一化输出值。显示和/或进一步处理获得的归一化输出值,并且结果,当被检查的物品通过由扫描射线形成的平面行进时,可以在没有传送链的背景图像的情况下看到在被检查物品中形成的连续光栅图像。
其中可以实施根据前述说明的方法的射线照相检查系统包括发射扫描射线的辐射源、接收扫描射线并将它们转换成探测器信号的光电二极管阵列形式的辐射探测器、基于探测器信号产生射线照相图像的处理器和具有相同模块化区段的模块化传送链,所述模块化传送链设置在辐射源与辐射探测器之间并且用来传送被检查的物品,其中每个相同的模块化区段包括定位结构,由此射线照相图像内的位置能以传送链的输送方向上的纵向定位坐标y来标记所述位置的下层模块化区段。
在射线照相检查系统的优选实施例中,定位结构实现为形成在模块化区段上的坡形侧边缘部分,其中辐射线穿过该坡形定位结构。这是有益的,因为能使辐射线的使用已经在合适位置。
备选是,定位结构还可以实施为光学传感器、激光传感器、磁感应传感器、磁测剖面传感器、形成在模块化区段上的带齿的尺段或者连接到传送链的驱动链轮上的编码的圆形正时图案。
在根据本发明的射线照相检查系统的优选实施例中,由辐射源发射的辐射线处于X射线的光谱范围,而辐射探测器的光电二极管具有最大为波长比X射线长的光的光谱灵敏度。因此,优选是利用荧光物质层来覆盖住光电二极管,该荧光物质用来将X射线转换成波长与光电二极管的光谱灵敏度匹配的光。
附图说明
本发明的具体实施例和细节的以下说明由附图来支持,其中
图1图解了具有实施上述方法必需特征的射线照相检查系统;
图1A描绘了图1的放大详图;
图2A、2B、2C描绘了根据本发明的射线照相检查系统中的传送链的一部分的不同视图;以及
图3A、3B、3C描绘了空传送链的射线照相图像(A)、具有传送链背景的被检查物品(B)和其中已经根据本发明的方法除去了背景的被检查物品(C)。
具体实施方式
图1和图1A图解了一种执行根据本发明的方法的合适配置的射线照相检查系统1。射线照相检查系统1的基本元件为模块化传送链2(以其传送方向朝向观察者定向的剖面图示出)、被在传送链2上传送的物品3、辐射源4、具有线性光电二极管阵列7的辐射探测器5和坡形定位结构6,如图2A、2B和2C中详细地示出的。辐射源4产生了作为扇形平面波束从辐射源4向辐射探测器5的光电二极管阵列7发射的扫描射线。成像射线的扇形区段8穿过物品3,并且成像射线的区段9穿过坡形定位结构6。由阵列7中的光电二极管响应一个触发脉冲所产生的信号被射线照相检查系统1的计算机或者处理器(图中未示出)转换为代表模块化传送链2和被在其上传送的物品3的光栅形射线照相图像的一行图像点。因为带有物品3的传送链2连续地移动,所以由辐射探测器5接收的每个触发脉冲产生了新的一行光栅形射线照相图像。
图2A以针对传送链2的传送表面的透视图显示了模块化传送链2的两个区段21,而图2B描绘了针对下侧的透视图且图2C描绘了传送链区段21的侧视图。区段21通过铰链22相互连接到一起,该铰链22延伸过传送链2的整个宽度。铰链销23优选是由与区段相同的材料制成的。每个区段21具有坡形侧边缘部分6形式的定位结构6。因为坡形侧边缘6的高度h是离链区段的端部的距离y的线性函数,所以可以经由边沿部分6的相关联高度h来建立模块化链区段2和射线照相图像(参见图3A-C)上的任何位置P的定位坐标y。
图3A描绘了图2A-2C的空传送链2当例如呈现在图1的检查系统1中时的射线照相图像31,假设使用了辐射探测器归一化的传统方法来代替根据本发明的背景消除方法。传送链2的区段21的重铰链部分22呈现为暗平行条纹,并且边沿部分6呈现为暗三角形。示出了具有其定位坐标x、y的位置P和三角形边沿图像的相关联高度h来图解h与y之间的线性关系,由此可以通过确定h来建立P的y坐标。如从附图中显然的,具有相同x和y定位坐标的类似位置P从模块化传送链2的一个区段至下一区段自我持续地重复。
图3B描绘了具有物品3的传送链2又当其呈现在图1的检查系统1中时的射线照相图像32,假设使用了辐射探测器归一化的传统方法来代替根据本发明的背景消除方法。物品3的暗图像呈现为叠加在传送链2的区段21的背景图像上。
图3C描绘了射线照相检查系统1产生的相同物品3和传送链2的输出图像33,假设使用根据本发明的信号处理方法。因为已经消除了传送链区段21的带条纹的背景图像,所以物品3的输出图像33没有干涉背景。
虽然已经通过实施例的具体实例的介绍来描述了本发明,但是对于读者很明显的是,可以例如通过将单独实例的特征相互进行组合和/或通过互换本文所述实施例之间单独的功能单元来从本发明的教导中开发出许多进一步的变型实施例。例如,本发明构思适用于至少可部分地由被检查物品和或传送链传输的任何波长的辐射线。可以应用除线性光电二极管阵列以外的辐射探测器,诸如2D格式的辐射探测器、例如区域光电二极管阵列、图像增强器、平板成像板闪烁屏和照相机等,其中稍微更改定位结构及其操作方式。不言而喻,任何所述变型实施例被认为是本发明的一部分。
附图标记列表
1 射线照相检查系统
2 模块化传送链
3 被检查的物品
4 辐射源
5 辐射探测器
6 定位结构
7 光电二极管的线性阵列
8 穿过3的射线的扇形区段
9 穿过6的射线的扇形区段
21 模块化传送链2的区段
22 连接区段21的铰链
23 铰链销
x 横向的定位坐标
y 纵向的定位坐标
P 射线照相图像内的位置、图像点
Claims (15)
1.一种操作射线照相检查系统(1)的方法,该射线照相检查系统具有发射扫描辐射线的辐射源(4),还具有接收所述扫描辐射线并将它们转换为探测器信号的辐射探测器(5),具有基于所述探测器信号产生射线照相图像(31、32、33)的处理器,并且具有包括相同模块化区段(21)的模块化传送链(2),所述模块化区段被连接成闭合环路、用来传送被检查的物品通过被所述扫描辐射线横穿的空间,其中每个模块化区段(21)包括定位结构(6);所述方法用来从所述射线照相图像(32)中移除实质上由所述传送链的模块化区段(21)和所述辐射探测器(5)中的内在因素产生的背景图像(31),其中所述方法包括具有以下步骤的校准模式:
C1)当关掉辐射源(4)时通过经由测量所述辐射探测器(5)的单个光电二极管的相应二极管电流确定所述单个光电二极管的暗信号来获取数字化的校准数据、数字化所述二极管的电流并且将所述数字化的校准数据保存在一维数组中,
C2)获取空传送链的模块化区段(21)中的一个的原始图像数据并且将所述原始图像数据作为所述模块化区段(21)的原始数字图像保存到第一个二维数据组中,
C3)数字化地处理在步骤C1)和C2)中保存的数据以将所述辐射源(4)与所述辐射探测器(5)的影响和所述模块化区段(21)中的一个的图像数据反映到校准数据中并且将所述校准数据存储到所述射线照相检查系统(1)的存储器中,
其中所述方法还包括具有以下步骤的检查模式:
I1以在所述传送链(2)上行进的所述物品(3)的原始数字图像数据的形式获取射线照相图像并且将所述原始数字图像数据作为具有传送链(2)的所述区段的背景的所述物品(3)的原始数字图像保存到第二个二维数据组中,以及
I2借助于所述校准数据用算术方法将所述原始数字图像数据处理成没有所述背景图像(31)的清晰输出图像(33),
并且其中所述方法还包括以所述传送链(2)的输送方向上的纵向定位坐标(y)来将任何射线照相图像内的位置(P)标记至包括在下层所述模块化区段(21)中的所述定位结构。
2.如权利要求1所述的方法,其中所述辐射源(4)具有空间集中结构,并且所述辐射探测器(5)包括每隔一定间隔设置的光电二极管的线性阵列(7),所述辐射源(4)和所述辐射探测器(5)横跨所述模块化传送链(2)相互面对,其中所述扫描辐射线成扇形平面波束地从所述辐射源(4)向所述辐射探测器(5)发射,辐射线的所述扇形平面波束和所述光电二极管的线性阵列(7)位于公共扫描平面中,该公共扫描平面基本上正交于所述传送链(2)的行进方向延伸。
3.如权利要求2所述的方法,其中还可以将所述射线照相图像内的位置(P)以相应于与所述位置有关的所述光电二极管的阵列位置(x)的横向定位坐标(x)标记到所述传送链的横向方向上。
4.如权利要求2或3所述的方法,其中,当被检查的所述物品(3)在所述传送链(2)上移动通过所述扫描平面时,由所述辐射源以连续的辐射线流产生扫描辐射线,而所述辐射探测器被脉冲触发以产生探测器信号,其中所述脉冲的正时与所述传送链(2)的移动同步以便辐射线的扇形平面波束被转换为所述辐射探测器的输出信号的时间相应于所述传送链(2)和其上传送的所述物品(3)的均匀行进间隔。
5.如权利要求4所述的方法,其中所述触发脉冲与所述传送链(2)的移动之间的同步受在所述纵向定位坐标(y)的预定均匀间隔处产生所述触发脉冲的影响,从而所述触发脉冲的正时由所述定位结构(6)控制。
6.如权利要求5所述的方法,其中在每个单独的触发脉冲处,由所述辐射探测器(5)的光电二极管接收的所述辐射线被转换成一行基本上等间距的图像点,并且所述触发脉冲的序列引起了待产生的图像点的一系列基本上等距的平行行,从而所述图像点的行形成了光栅行和图像点的列形式的射线照相图像,其中每行图像点与在将来给定点处出现的触发脉冲有关,并且每列图像点与所述光电二极管的线性阵列中的特定光电二极管有关,其中每个图像点由对照所述传送链(2)的下层所述模块化区段(21)的定位坐标(x,y)来在空间上标记,并且其中每个图像点还单独地以可用数字形式表示成亮度值的亮度水平为特征。
7.如权利要求6所述的方法,其中由以下来确定图像点的亮度水平:
-所述辐射探测器(5)中的每个光电二极管的各自不同的暗信号和光敏度;
-每个光电二极管离所述辐射源(4)的各自不同的距离;
-由于所述传送链(2)中的吸收,沿着从所述辐射源至每个光电二极管的射线路径损失的各自不同的辐射强度量;以及
-由于被检查的物品(3)中的吸收,沿着从所述辐射源至每个光电二极管的射线路径损失的各自不同的辐射强度量。
8.如权利要求1所述的方法,其中在所述校准模式中,获得所述模块化区段(21)之一的图像数据的步骤包括:打开所述辐射源(4)并且将所述传送链(2)设置成运动,获得所述空传送链(2)的一个区段(21)的图像数据作为一系列(x,y)原始亮度校准值RBC(x,y),从所述原始亮度校准值RBC(x,y)中减去所述暗信号D(x)来计算出每个位置(x,y)的净亮度校准值NBC(x,y),计算出亮度校准因子C(x,y)=k/NBC(x,y)并且将所述亮度校准因子存储到存储器阵列中,k是任选的归一化因子。
9.如权利要求8所述的方法,其中在检查模式中,获得在所述传送链(2)上行进的所述物品(3)的原始数字图像数据形式的射线照相图像的步骤包括:获得图像点(P)形式的所述物品与所述模块化传送链(2)的下层背景的射线照相图像,经由定位坐标(x,y)将每个图像点(P)标记至所述下层背景并且将每个图像点(P)的亮度水平数字化成原始亮度值RBV(x,y)。
10.如权利要求9所述的方法,其中在所述检查模式中,借助于所述校准数据用算术方法将所述原始数字图像数据处理成没有所述背景图像的清晰输出图像的步骤包括:从所述原始亮度值RBV(x,y)中减去所述暗信号D(x)以产生净亮度值NBV(x,y),计算出归一化的亮度值CBV(x,y)=C(x,y)×NBV(x,y)并且将具有归一化亮度值CBV(x,y)的新光栅点添加到所述射线照相检查系统(1)的连续输出图像。
11.一种可操作来执行权利要求1到10中任一项所述方法的射线照相检查系统(1),包括发射扫描辐射线的辐射源(4)、接收所述扫描辐射线并将它们转换成探测器信号的光电二极管阵列(7)形式的辐射探测器(5)、基于所述探测器信号产生射线照相图像的处理器和具有相同模块化区段(21)的模块化传送链(2),所述模块化传送链设置在所述辐射源(4)与所述辐射探测器(5)之间并且用来传送被检查的物品(3),其中相同的模块化区段(21)中的每个包括定位结构(6),由此所述射线照相图像内的位置(P)可以所述传送链(2)的输送方向上的纵向定位坐标(y)标记至下层所述模块化区段(21)。
12.如权利要求11所述的射线照相检查系统,其中所述定位结构包括形成在所述模块化区段(21)上的坡形侧边缘部分(6)。
13.如权利要求11所述的射线照相检查系统,其中所述定位结构包括形成在所述模块化区段(21)上的带齿的尺段。
14.如权利要求11所述的射线照相检查系统,其中所述定位结构包括连接至所述传送链(2)的链轮驱动部的编码的圆形正时图案。
15.如权利要求11到14中任一项所述的射线照相检查系统,其中所述辐射线包括X射线,并且所述光电二极管包括设计成将所述X射线转换为与所述光电二极管的光谱灵敏度相匹配的波长的光的荧光涂层,所述光电二极管对于与X射线相比波长更长的光具有最大的光谱灵敏度。
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---|---|---|---|---|
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DE102014117196A1 (de) * | 2014-11-24 | 2016-05-25 | Wipotec Wiege- Und Positioniersysteme Gmbh | Vorrichtung zur Röntgenuntersuchung von bewegten Produkten, insbesondere bewegten Stückgütern |
WO2018101397A1 (ja) * | 2016-11-30 | 2018-06-07 | キリンテクノシステム株式会社 | 容器の異物検査装置及び異物検査方法 |
US10444400B2 (en) * | 2017-02-20 | 2019-10-15 | Morpho Detection, Llc | Tray conveyor baggage handling and imaging system |
EP3646066A1 (en) * | 2017-06-30 | 2020-05-06 | Lantern Unmanned Autonomous Systems LLC | Unmanned autonomous container inspection |
CN107843741B (zh) * | 2017-12-13 | 2023-05-26 | 中国地质大学(武汉) | 一种基于线阵ccd的布匹运动速度测量装置及方法 |
JP2023082280A (ja) * | 2021-12-02 | 2023-06-14 | 株式会社イシダ | X線検査装置、x線検査システム、及びx線検査方法 |
WO2023237242A1 (de) * | 2022-06-08 | 2023-12-14 | Krones Ag | Vorrichtung und verfahren zum inspizieren von behältnissen mit röntgenstrahlung |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4366382A (en) * | 1980-09-09 | 1982-12-28 | Scanray Corporation | X-Ray line scan system for use in baggage inspection |
US5627910A (en) * | 1993-06-30 | 1997-05-06 | Compagnie Europeenne Du Zirconium Cezus | Process for inspecting metallic chips fragments in order to eliminate more X-ray absorbent inclusions from them |
CN1276870A (zh) * | 1997-10-10 | 2000-12-13 | 模拟技术公司 | 利用表面法线探测ct目标 |
CN1380544A (zh) * | 2001-04-12 | 2002-11-20 | 清华大学 | 一种辐射成像中的数据不一致性矫正方法 |
GB2390005A (en) * | 2002-06-17 | 2003-12-24 | Royal Holloway University Of L | Screening Apparatus |
CN101495854A (zh) * | 2006-07-24 | 2009-07-29 | 株式会社石田 | X射线检查装置和x射线检查程序 |
CN102448855A (zh) * | 2009-05-29 | 2012-05-09 | 梅特勒-托利多X-射线安全线有限公司 | 用于射线照相检查系统的传送链以及射线照相检查系统 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4138011A (en) * | 1976-04-28 | 1979-02-06 | The Laitram Corporation | Non-pivotal modular conveyor belt and modular links therefor |
JPH03116299A (ja) * | 1989-09-29 | 1991-05-17 | Hitachi Medical Corp | X線荷物検査装置 |
JPH1062362A (ja) * | 1996-08-21 | 1998-03-06 | Kishimoto Akira | 青果物等の内部欠陥の検査方法 |
US5974111A (en) * | 1996-09-24 | 1999-10-26 | Vivid Technologies, Inc. | Identifying explosives or other contraband by employing transmitted or scattered X-rays |
US5828724A (en) * | 1997-03-25 | 1998-10-27 | Advanced Technology Materials, Inc. | Photo-sensor fiber-optic stress analysis system |
JP2001004560A (ja) * | 1999-06-16 | 2001-01-12 | Shimadzu Corp | X線検査装置 |
US7195115B2 (en) * | 2005-07-15 | 2007-03-27 | Laitram, L.L.C. | Modular-belt conveyors with variable-speed drive motors |
JP4899809B2 (ja) * | 2006-11-10 | 2012-03-21 | 株式会社島津製作所 | X線検査装置 |
GB0717520D0 (en) * | 2007-09-08 | 2007-10-17 | Mettler Toledo Safeline X Ray | Inspection system |
WO2009114928A1 (en) * | 2008-03-17 | 2009-09-24 | Optosecurity, Inc. | Method and apparatus for assessing characteristics of liquids |
JP5521412B2 (ja) * | 2008-07-31 | 2014-06-11 | 日立金属株式会社 | 蛍光材料およびそれを用いたシンチレータ並びに放射線検出器 |
-
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- 2012-09-21 EP EP12185507.6A patent/EP2711694A1/en not_active Withdrawn
-
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-
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Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4366382A (en) * | 1980-09-09 | 1982-12-28 | Scanray Corporation | X-Ray line scan system for use in baggage inspection |
US4366382B1 (en) * | 1980-09-09 | 1996-01-23 | Scanray Corp | X-ray line scan system for use in baggage inspection |
US4366382B2 (en) * | 1980-09-09 | 1997-10-14 | Scanray Corp | X-ray line scan system for use in baggage inspection |
US5627910A (en) * | 1993-06-30 | 1997-05-06 | Compagnie Europeenne Du Zirconium Cezus | Process for inspecting metallic chips fragments in order to eliminate more X-ray absorbent inclusions from them |
CN1276870A (zh) * | 1997-10-10 | 2000-12-13 | 模拟技术公司 | 利用表面法线探测ct目标 |
CN1380544A (zh) * | 2001-04-12 | 2002-11-20 | 清华大学 | 一种辐射成像中的数据不一致性矫正方法 |
GB2390005A (en) * | 2002-06-17 | 2003-12-24 | Royal Holloway University Of L | Screening Apparatus |
CN101495854A (zh) * | 2006-07-24 | 2009-07-29 | 株式会社石田 | X射线检查装置和x射线检查程序 |
CN102448855A (zh) * | 2009-05-29 | 2012-05-09 | 梅特勒-托利多X-射线安全线有限公司 | 用于射线照相检查系统的传送链以及射线照相检查系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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