CN101436370B - 图像显示装置及图像显示方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种可以防止因构成1个像素的子像素显示位置偏离所引起的画面质量下降的图像显示装置及图像显示方法。一种图像显示装置，与根据构成1个像素的子像素相对应的输入图像信号来显示图像，其包含：偏离量存储部，存储以显示图像内所给予的基准位置为基准的所述子像素显示位置偏离量；图像信号校正部，按照所述偏离量来校正所述输入图像信号；图像显示部，根据由所述图像信号校正部校正后的图像信号，进行图像显示。

Description

图像显示装置及图像显示方法
技术领域
本发明涉及一种图像显示装置及图像显示方法。
背景技术
近年来，大画面电视机、投影机等的高性能图像显示装置正在广泛普及，在这些图像显示装置中，显示图像的高画质化变得更加重要。特别是，投影机作为设置自由度较高并且可以利用所谓的变焦功能简单调整显示图像大小的图像显示装置，倍受重视，因为内容本身的高画质化，所以强烈要求更进一步的高画质化。
有关这种投影机，在专利文献1中，公示出一种作为光阀使用透射型矩阵形液晶显示装置的投影机。该投影机具备多个分色镜，将来自光源的光由多个分色镜分离为R、G、B的3原色，在使各个光透射液晶显示装置之后，通过投影透镜投影于屏幕上。此时，通过反射镜等的光学单元来合成液晶显示装置的透射光，以使2维的像素配置一致。
就这种投影机而言，例如通过使矩阵形液晶显示装置的像素数增加，实施基于与内容相对应的图像信号的光调制，进行图像显示，就可以谋求显示图像的高画质化。
专利文献1特开昭61-150487号公报
但是，若使由投影机得到的显示图像的像素数增加，则存在利用光学系统所进行的各像素的位置调整变得更加困难的趋势。例如，投影机所具备的投影透镜具有色像差，根据波长的不同其折射率不同。因此，对于投影机所具有的光学系统的像差精度，要求超过以往的精度。但是，难以全部正确地调整构成1个像素的子像素显示位置。
这种子像素的显示位置偏离，虽然在显示像素数少时是可忽视的，但是随着显示像素数的增多，子像素的显示位置偏离将变得引人注目，并且子像素的显示位置偏离将导致画面质量的下降。
发明内容
本发明是鉴于如上的技术问题而做出的，其目的在于提供一种可以防止因构成1个像素的子像素显示位置的偏离所引起的画面质量下降的图像显示装置及图像显示方法。
为了解决所述课题，本发明涉及一种图像显示装置，其根据与构成1个像素的子像素相对应的输入图像信号显示图像，其中，包含：偏离量存储部，存储以显示图像内给予的基准位置为基准的所述子像素的显示位置偏离量；图像信号校正部，按照所述偏离量校正所述输入图像信号；和图像显示部，根据由所述图像信号校正部校正后的图像信号进行图像显示。
根据本发明，可以提供一种图像显示装置，该图像显示装置由于事先存储构成1个像素的子像素显示位置偏离量，计算出图像内全部子像素的偏离量，按照该偏离量来校正子像素的输入图像信号，因而可以防止因构成1个像素的子像素显示位置偏离所引起的画面质量下降。
另外，在本发明所涉及的图像显示装置中，在1个像素由多个色分量的子像素构成时，所述基准位置也可以是所述多个色分量的子像素之中的任意1个色分量的子像素显示位置。
根据本发明，可以提供一种图像显示装置，该图像显示装置由于以构成1个像素的多个色分量的子像素之中的任意1个色分量的子像素显示位置为基准位置，计算出其他色分量的子像素显示位置偏离量，因而不需进行作为基准位置的色分量全部子像素偏离量的计算和作为基准位置的色分量输入图像信号的校正处理，就能够防止因构成1个像素的子像素显示位置偏离所引起的画面质量下降，谋求处理的简单化。
另外，在本发明所涉及的图像显示装置中，所述偏离量存储部，存储所述显示图像内的1个或多个取样子像素的显示位置偏离量，所述图像信号校正部，按构成所述显示图像各像素的每个子像素，利用所述取样子像素的显示位置偏离量计算出该子像素的显示位置偏离量，按照该偏离量校正该子像素的输入图像信号。
根据本发明，可以以低成本提供一种图像显示装置，该图像显示装置因为通过插补处理求取各子像素的偏离量即可，所以能够减少偏离量的存储容量，防止因构成1个像素的子像素显示位置偏离所引起的画面质量下降。
另外，在本发明所涉及的图像显示装置中，包含图像信号校正控制部，该图像信号校正控制部根据给予的校正控制信号，控制由所述图像信号校正部进行的所述输入图像信号的校正处理；所述图像信号校正控制部，按照所述校正控制信号，使由所述图像信号校正部进行的所述输入图像信号的校正处理不同。
根据本发明，可以更为正确地进行与子像素的显示位置偏离量相对应的输入图像信号校正处理。
另外，在本发明所涉及的图像显示装置中，包含变焦状态检测部，该变焦状态检测部检测出由所述图像显示部所显示的图像的变焦状态；所述图像信号校正控制部，按照与所述变焦状态检测部的检测结果相对应的所述校正控制信号，使所述图像信号校正部进行所述输入图像信号的校正处理，或者省略该校正处理。
根据本发明，能够避免子像素的显示位置对应变焦状态产生偏离的情况，能够抑制具有变焦功能的图像显示装置的画面质量下降。
另外，在本发明所涉及的图像显示装置中，所述偏离量存储部，存储多组所述子像素的显示位置偏离量组，所述图像信号校正部，利用所述偏离量存储部所存储的多组所述子像素的显示位置偏离量组之中的、与所述校正控制信号相对应的组的所述子像素的显示位置偏离量组，校正所述输入图像信号。
在本发明中，偏离量存储部存储多组子像素的显示位置偏离量组，图像信号校正部，能够利用偏离量存储部所存储的多组所述子像素的显示位置偏离量组之中的、与校正控制信号相对应的组的子像素的显示位置偏离量组，对所述输入图像信号进行校正。因此，可以对输入图像信号实施更为正确的校正处理。
另外，在本发明所涉及的图像显示装置中，包含子像素位置测量部，该子像素位置测量部测量出由所述图像显示部所显示的图像内的子像素的显示位置；所述偏离量存储部，利用所述子像素位置测量部的测量结果，存储与以所述基准位置为基准的所述子像素显示位置相对应的偏离量。
根据本发明，因为具备子像素位置测量部，利用子像素位置测量部的测量结果来计算出子像素的显示位置偏离量，所以即便在子像素的显示位置偏离方面存在图像显示装置的个体差别(制造不一致)，也可以防止画面质量的下降。
另外，本发明涉及一种图像显示方法，根据与构成1个像素的子像素相对应的输入图像信号显示图像，其中，包含：存储以显示图像内给予的基准位置为基准的所述子像素的显示位置偏离量的偏离量存储步骤；按照所述偏离量校正所述输入图像信号的图像信号校正步骤；和使用根据由所述图像信号校正步骤校正后的图像信号调制后的光进行图像显示的图像显示步骤。
根据本发明，可以提供一种图像显示方法，该图像显示方法由于事先存储构成1个像素的子像素显示位置偏离量，计算出图像内全部子像素的偏离量，按照该偏离量来校正子像素的输入图像信号，因而可以防止因构成1个像素的子像素显示位置偏离量所引起的画面质量下降。
附图说明
图1是作为本发明所涉及的第1实施方式中的图像显示装置的投影机结构例的框图。
图2是图1的投影部的结构例的结构图。
图3是第1实施方式中子像素偏离量的取得处理例的流程图。
图4是表示第1实施方式中的模式图像一例的图。
图5是第1实施方式中模式图像的摄像处理的说明图。
图6(A)、图6(B)是G分量子像素的位置确定处理及偏离量计算处理的说明图。
图7是第1实施方式中的偏离量的说明图。
图8是第1实施方式中的子像素的显示位置偏离量的单位的说明图。
图9是第1实施方式中的图像处理部的硬件结构例的框图。
图10是与第1实施方式中的偏离量相对应的校正处理例的流程图。
图11是第1实施方式中的输入图像信号的校正处理的说明图。
图12是第1实施方式中的R分量子像素的输入图像信号校正处理例的说明图。
图13是第1实施方式中的G分量子像素的输入图像信号校正处理例的说明图。
图14是第1实施方式中的B分量子像素的输入图像信号校正处理例的说明图。
图15是表示第1实施方式第1变形例中的偏离量存储部的结构概要的图。
图16是与本发明所涉及的第1实施方式的第1变形例中的偏离量相对应的校正处理例的流程图。
图17是与本发明所涉及的第1实施方式的第2变形例中的偏离量相对应的校正处理例的流程图。
图18是本发明所涉及的第2实施方式中的偏离量的说明图。
图19是与第2实施方式中的偏离量相对应的校正处理例的流程图。
图20是第2实施方式中的R分量子像素的输入图像信号校正处理例的说明图。
图21是第2实施方式中的G分量子像素的输入图像信号校正处理例的说明图。
图22是第2实施方式中的B分量子像素的输入图像信号的说明图。
图23是与本发明所涉及的第2实施方式的第1变形例中的偏离量相对应的校正处理例的流程图。
图24是与本发明所涉及的第2实施方式的第2变形例中的偏离量相对应的校正处理例的流程图。
图25是本发明所涉及的第3实施方式中的投影机的结构例的框图。
符号说明
10、300…投影机，20…图像处理部，22、220…偏离量存储部，24…图像信号校正部，26…偏离量计算部，28…输入图像信号存储部，30…图像信号校正控制部，40…模式图像存储部，50…子像素位置测量部，60…变焦状态检测部，80…CPU，82…ROM，84…RAM，86…I/F电路，90…总线，100…投影部，110…光源，112、114…积分透镜，116…偏振变换元件，118…重叠透镜，120R…R用分色镜，120G…G用分色镜，122、148、150…反射镜，124R…R用场透镜，124G…G用场透镜，130R…R用液晶面板，130G…G用液晶面板，130B…B用液晶面板，140…中继光学系统，142、144、146…中继透镜，160…十字分色棱镜，170…投影透镜，2221～222N…第1～第N偏离量组，310…工作环境检测部，SCR…屏幕
具体实施方式
下面，对于本发明的实施方式，使用附图进行详细说明。还有，下面将说明的实施方式并不用来不合理地限定权利要求所述的本发明内容。另外，下面说明的结构并非全部都是本发明的必要构成要件。
在下面，作为本发明所涉及的图像显示装置以投影机为例进行说明，但是本发明所涉及的图像显示装置并不限定为投影机。也就是说，因为考虑到因子像素的显示位置偏离所引起的画面质量下降是一种不仅仅在投影机中还能在各种图像显示装置中发生的现象，所以本发明所涉及的图像显示装置并不限定为投影机。
第1实施方式
图1表示作为本发明所涉及的第1实施方式中的图像显示装置的投影机的结构例的框图。
第1实施方式中的投影机10，通过将根据构成1个像素的多个子像素的图像信号调制后的光投影于屏幕SCR上，来进行图像显示。这种投影机10，包含图像处理部20、模式图像存储部40、子像素位置测量部50、变焦状态检测部60和作为图像显示部的投影部100。
图像处理部20，对于来自未图示图像信号生成装置的每个子像素的输入图像信号，进行与下述子像素的偏离量相对应的校正处理，该子像素构成屏幕SCR上所投影的图像的各像素。子像素的偏离量，根据子像素位置测量部50的测量结果来计算。模式图像存储部40存储模式图像，该模式图像用来测量向屏幕SCR投影的投影图像(显示图像)的子像素位置。子像素位置测量部50，包括数字静止摄像机等的摄像装置，使用模式图像存储部40中所存储的模式图像来拍摄投影部100向屏幕SCR所投影的图像，将该摄像数据作为图像信息来测量构成各像素的子像素的位置。由子像素位置测量部50测量出的子像素位置，被用于由图像处理部20所进行的以投向屏幕SCR的投影图像内所给予的基准位置为基准的偏离量计算。
图像处理部20，能够包含偏离量存储部22、图像信号校正部24、输入图像信号存储部28和图像信号校正控制部30。在偏离量存储部22中，存储以投向屏幕SCR的投影图像(显示图像)内所给予的基准位置为基准由子像素位置测量部50测量出的子像素位置偏离量(广义而言是校正参数)。
在第1实施方式中，偏离量存储部22只存储投向屏幕SCR的投影图像内的1个或多个取样子像素的显示位置偏离量，图像信号校正部24通过使用该偏离量的插补处理，来求取该图像内全部子像素的偏离量。因此，图像信号校正部24可以包含偏离量计算部26，偏离量计算部26按每个子像素，通过使用偏离量存储部22中所存储的偏离量的插补处理，来求取该图像内的全部子像素的偏离量。
这里，取样子像素，意味着构成图像内各像素的多个子像素之中被取样后的1个或多个子像素。作为这种取样子像素，优选的是，像素位置相互不连续的子像素。因此，通过在插补处理中求取各子像素的偏离量，就可以减少偏离量的存储容量。
输入图像信号存储部28，存储来自未图示图像信号生成装置的输入图像信号。图像信号校正部24，按照该子像素的偏离量，校正输入图像信号存储部28中所存储该子像素的输入图像信号。
还有，在偏离量存储部22中，也可以预先存储对于投向屏幕SCR的投影图像内的全部子像素所求出的偏离量。在这种情况下，图像信号校正部24不用通过插补处理按每个子像素求取偏离量，仅仅使用从偏离量存储部22所读出的偏离量来校正输入图像信号即可。
来自所述图像信号校正部24的图像信号被输入投影部100。投影部100例如采用3片式的液晶投影机来构成，使用基于构成1个像素的子像素的图像信号调制后的光向屏幕SCR投影图像。投影部100具有所谓的变焦功能，可以将大小与变焦倍率相对应的图像投影于屏幕SCR上。变焦状态检测部60可以检测出投影部100的变焦倍率作为变焦状态。
也就是说，图1的投影机10是一种图像显示装置，其根据构成1个像素的子像素所对应的输入图像信号来显示图像，可以包含：偏离量存储部22，其存储以显示图像内所给予的基准位置为基准的子像素显示位置偏离量；图像信号校正部24，按照偏离量来校正输入图像信号；作为图像显示部的投影部100，使用根据由图像信号校正部24校正后的图像信号调制后的光进行图像显示。或者，作为根据构成1个像素的子像素所对应的输入图像信号来显示图像的图像显示方法，可以包含：偏离量存储步骤，存储以显示图像内所给予的基准位置为基准的子像素显示位置偏离量；图像信号校正步骤，按照偏离量来校正输入图像信号；图像显示步骤，使用根据由图像信号校正步骤校正后的图像信号调制后的光进行图像显示。
再者，偏离量存储部22存储显示图像内的1个或多个取样子像素的显示位置偏离量，图像信号校正部24，可以按构成显示图像各像素的每个子像素，使用取样子像素的显示位置偏离量来计算该子像素的显示位置偏离量，按照该偏离量来校正该子像素的输入图像信号。
另外，图像信号校正控制部30可以根据所给予的校正控制信号，来控制由图像信号校正部24所进行的输入图像信号校正处理，并按照校正控制信号，使由图像信号校正部24做出的输入图像信号校正处理不同。在第1实施方式中，因为与变焦状态检测部60的检测结果相对应的校正控制信号被输入图像信号校正控制部30，图像信号校正部24按照该校正控制信号，进行输入图像信号的校正处理，或者省略该校正处理，所以能够使输入图像信号的校正处理(方法)不同。例如，在变焦状态为最大望远状态时(最远端)省略输入图像信号的校正处理，在此外的变焦状态下进行输入图像信号的校正处理。或者，例如在变焦状态为最小望远状态时(广角)省略输入图像信号的校正处理，在此外的变焦状态下进行输入图像信号的校正处理。由于按所述方法来构成，因而有时可以按照子像素的显示位置偏离量，更为正确地校正输入图像信号。
也就是说，投影机的变焦功能虽然在可变更投影图像大小的方面是非常有用的功能，但是若变更了变焦状态，则投影透镜的色像差状态也被变更，存在构成1个像素的子像素显示位置按每个子像素产生偏离这样的问题。因此，在变更了变焦状态时，通过按照构成1个像素的子像素显示位置偏离量，校正输入图像信号，就可以防止因按照变焦状态而发生的构成1个像素的子像素显示位置偏离所引起的画面质量下降。
图2表示图1投影部100的结构例。在图2中，对将第1实施方式中的投影部100作为由所谓的3片式液晶投影机构成的情况，进行说明，但是本发明所涉及的图像显示装置投影部并不限定于由所谓的3片式液晶投影机构成的方式。
投影部100，包括光源110、积分透镜112、114、偏振变换元件116、重叠透镜118、R用分色镜120R、G用分色镜120G、反射镜122、R用场透镜124R、G用场透镜124G、R用液晶面板130R(第1光调制部)、G用液晶面板130G(第2光调制部)、B用液晶面板130B(第3光调制部)、中继光学系统140、十字分色棱镜160及投影透镜170。作为R用液晶面板130R、G用液晶面板130G及B用液晶面板130B而使用的液晶面板是一种透射型的液晶显示装置。中继光学系统140，包含中继透镜142、144、146及反射镜148、150。
光源110例如采用超高压水银灯来构成，射出至少包含R分量光、G分量光及B分量光的光。积分透镜112具有用于将来自光源110的光分割为多个部分光的多个小透镜。积分透镜114具有与积分透镜112的多个小透镜对应的多个小透镜。重叠透镜118将从积分透镜112的多个小透镜射出的部分光重叠。
另外，偏振变换元件116具有偏振分离膜和λ/2板，使p偏振光透射，并且使s偏振光反射，将p偏振光变换为s偏振光。来自该偏振变换元件116的s偏振光照射于重叠透镜118。
通过重叠透镜118重叠后的光入射于R用分色镜120R上。R用分色镜120R具有反射R分量的光并使G分量及B分量的光透射的功能。透射R用分色镜120R后的光照射于G用分色镜120G上，由R用分色镜120R所反射的光由反射镜122进行反射，被导向R用场透镜124R。
G用分色镜120G具有反射G分量的光并使B分量的光透射的功能。透射G用分色镜120G后的光入射于中继光学系统140上，由G用分色镜120G所反射的光被导向G用场透镜124G。
在中继光学系统140中，为了尽量减小透射G用分色镜120G后的B分量光的光路长度和其他R分量及G分量光的光路长度之间的差别，要使用中继透镜142、144、146来校正光路长度的差别。透射中继透镜142后的光由反射镜148导向中继透镜144。透射中继透镜144后的光由反射镜150导向中继中继透镜146。透射中继透镜146后的光照射于B用液晶面板130B上。
照射到R用场透镜124R上的光被变换为平行光，入射于R用液晶面板130R上。R用液晶面板130R作为光调制元件(光调制部)来发挥作用，根据R用图像信号其透射率(通过率、调制率)发生变化。从而，入射到R用液晶面板130R上的光(第1色分量的光)根据R用图像信号被调制，调制后的光入射于十字分色棱镜160上。
照射到G用场透镜124G上的光被变换为平行光，入射于G用液晶面板130G上。G用液晶面板130G作为光调制元件(光调制部)来发挥作用，根据G用图像信号其透射率(通过率、调制率)发生变化。从而，入射到G用液晶面板130G上的光(第2色分量的光)根据G用图像信号被调制，调制后的光入射于十字分色棱镜160上。
照射由中继透镜142、144、146变换成平行光后的光的B用液晶面板130B作为光调制元件(光调制部)来发挥作用，根据B用图像信号(第1色分量的子像素的图像信号)其透射率(通过率、调制率)发生变化。从而，入射到B用液晶面板130B上的光(第3色分量的光)根据B用图像信号被调制，调制后的光入射于十字分色棱镜160上。
R用液晶面板130R、G用液晶面板130G及B液晶面板130B分别具有相同的结构。各液晶面板将作为电光物质的液晶密封封入到一对透明的玻璃基板内，例如将多晶硅薄膜晶体管作为开关元件，与各子像素的图像信号相对应地调制各色光的通过率。
十字分色棱镜160，具有输出下述合成光来作为出射光的功能，该合成光合成了来自R用液晶面板130R、G用液晶面板130G及B液晶面板130B的入射光。投影透镜170用来将输出图像在屏幕SCR上放大并成像，具有按照变焦倍率使图像放大或缩小的功能。
在具有如上结构的第1实施方式中的投影机10内，首先进行子像素偏离量的取得处理。该取得处理例如在投影机10制造时的检查过程中进行。
这样，因为具备子像素位置测量部50，拍摄由投影机10所投影的子像素来计算子像素的显示位置偏离量，所以即便在子像素的显示位置偏离上存在投影机的个体差别，也可以防止画面质量的下降。
图3表示第1实施方式中的子像素偏离量的取得处理例的流程图。
首先，在投影机10中，读出与模式图像存储部40中所存储的模式图像对应的图像信息，投影部100将该模式图像投影于屏幕SCR上(步骤S10)。然后，在投影模式图像之后，在投影机10中由子像素位置测量部50拍摄投向屏幕SCR的投影图像(步骤S12)。子像素位置测量部50能够以比投向屏幕SCR的投影图像的像素数更多的摄像像素数，拍摄投影图像。也就是说，子像素位置测量部50，以比1个像素更多的摄像像素数拍摄并获取投向屏幕SCR的投影图像的1个像素量的显示像素。
接着，子像素位置测量部50确定子像素的显示位置(步骤S14)。然后，子像素位置测量部50或图像处理部20，以投影图像内所给予的基准位置为基准，求取在步骤S14中所确定的取样子像素偏离量，将其保存于偏离量存储部22中(步骤S18)，完成一系列的处理(结束)。
图4表示第1实施方式中的模式图像的一例。在图3的步骤S10中，例如图4所示的模式图像被投影于屏幕SCR上。
还有，在图4中表示出，在将第1实施方式中的模式图像投影到屏幕SCR上时，按每个子像素产生显示位置偏离的例子。原来一直调整投影机10的光学系统以使构成1个像素的子像素显示位置一致，但是因为光学系统的像差等，所以难以使构成1个像素的子像素显示位置完全一致。
该模式图像，在投向屏幕SCR的投影区域PA边界部分上具有9个像素的取样子像素。取样子像素，包括：矩形状投影区域PA四角附近的4个像素、位于该四角附近的取样像素之间的中间的4个像素和位于投影区域PA中心附近的1个像素。各取样像素，具有R分量的取样子像素、G分量的取样子像素及B分量的取样子像素。还有，各子像素的显示像素设为是矩形进行了模式表示，但是实际上因为透镜的歪曲像差等，所以显示像素的形状不会成为矩形。
图5是表示第1实施方式中的模式图像的摄像处理的说明图。在图5中，对与图4相同的部分标注相同的符号，适当省略对其的说明。
在图3的步骤S12中，投影一次构成1个像素的全部子像素，子像素位置测量部50通过R分量的滤色器FR，拍摄屏幕SCR的投影图像。借此，可以只获取R分量的子像素显示图像。同样，子像素位置测量部50在通过G分量的滤色器FG拍摄屏幕SCR的投影图像之后，通过B分量的滤色器FB拍摄屏幕SCR的投影图像，从而可以按顺序获取G分量的子像素显示像素和B分量的子像素显示像素。
还有，获取子像素显示像素的方法，并不限定为图5中所说明的方法，例如也可以按每一色分量反复显示子像素并且不通过滤色器而拍摄该子像素的显示像素。
图6(A)、图6(B)是表示G分量的子像素位置确定处理及偏离量的计算处理的说明图。在图6(A)、图6(B)中，对和图4相同的部分标注相同的符号，适当省略对其的说明。
图7是表示第1实施方式中的偏离量的说明图。在图7中，对和图4或图6(B)相同的部分标注相同的符号，适当省略对其的说明。
在图3的步骤S12中，子像素位置测量部50或者图像处理部20，通过由子像素位置测量部50所进行的摄像，取得图6(A)所示的那种G分量子像素的显示像素DG1～DG9的摄像数据。此后，在图3的步骤S14中，从G分量子像素的显示像素DG1～DG9的各显示像素区域之中确定G分量的子像素位置。更为具体而言，各显示像素的区域具有多个摄像像素数，从该区域之中确定1个摄像像素来作为G分量的子像素位置。
作为该确定处理，可以确定像素值为最大的像素来作为子像素位置，例如可以计算各显示像素区域的辉度直方图，确定最高辉度的像素来作为像素值最大的像素。或者，可以计算出各显示像素区域的辉度直方图，确定大于等于指定阈值的像素重心位置来作为子像素位置。其结果为，如图6(B)所示，确定图6(A)的子像素的显示像素DG1～DG9所对应的子像素位置PG1～PG9。
在图6(B)中，已经在投向屏幕SCR的投影区域PA四角预先确定了基准位置REF1～REF4。再者，将基准位置REF5、基准位置REF6、基准位置REF7、基准位置REF8和基准位置REF9分别确定为基准位置REF1、REF2的中间位置、基准位置REF1、REF3的中间位置、基准位置REF2、REF4的中间位置、基准位置REF3、REF4的中间位置和投影区域PA的中心位置。
另外，同样，对于R分量及B分量，也确定与子像素的显示像素DR1～DR9、DB1～DB9相对应的子像素位置。其结果为，如图7所示，确定R分量、G分量及B分量的各取样像素的子像素位置。
然后，在图3的步骤S16中，例如图7所示，求取：以基准位置REF1为基准的R分量的子像素位置PR1的偏离量(投影图像的水平方向的偏离量和投影图像的垂直方向的偏离量)、G分量的子像素位置PG1的偏离量及B分量的子像素位置PB1的偏离量、以基准位置REF2为基准的R分量的子像素位置PR2的偏离量、G分量的子像素位置PG2的偏离量及B分量的子像素位置PB2的偏离量和以基准位置REF3为基准的R分量的子像素位置PR3的偏离量、G分量的子像素位置PG3的偏离量及B分量的子像素位置PB3的偏离量、…、，将这些偏离量保存于偏离量存储部22中。
这里，子像素的显示位置偏离量，优选的是，以如下的像素为单位来求取。
图8是表示第1实施方式中的子像素的显示位置偏离量的单位的说明图。在图8中，对和图4相同的部分标注相同的符号，适当省略对其的说明。
在投影机10的投影部100中，唯一确定与变焦倍率相对应的投影图像的投影区域大小。因此，将投影区域PA的水平方向长度设为D、水平方向的像素数设为Y，则通过求取以D/Y为1个单位的偏离量，就可以确定偏离量的数值相当于多少像素量。
还有，在图8中，说明了子像素的显示位置的水平方向偏离量，但是对于子像素的显示位置的垂直方向偏离量也相同。
使用如上所取得的偏离量，投影机10的图像处理部20可以校正输入图像，通过投影部100显示图像。
图9是表示第1实施方式中的图像处理部20的硬件结构例的框图。
图像处理部20包含中央运算处理装置(Central Processing Unit：CPU)80、读出专用存储器(Read Only Memory：ROM)82、随机访问存储器(Random Access Memory：RAM)84及接口(Interface：I/F)电路86。CPU80、ROM82、RAM84及I/F电路86通过总线90进行连接。
在ROM82中存储有程序，通过总线90读入程序后的CPU80可以执行该程序所对应的处理。RAM84成为CPU80用来执行处理的作业用存储器，或者暂时存储CPU80读入的程序。I/F电路86执行来自外部的输入图像信号的接口处理。
图1的图像信号校正部24及图像信号校正部30的功能，是通过CPU80实现的，该CPU80通过总线90读入ROM82或RAM84中所存储的程序并加以执行。图1的偏离量存储部22的功能，是由ROM82或RAM84实现的。图1的输入图像信号存储部28的功能，是由I/F电路86或RAM84实现的。
图10是表示与第1实施方式中的偏离量相对应的校正处理例的流程图。
例如，在ROM82中预先存储有用来实现图10所示的处理的程序，通过由CPU80读出ROM82中所存储的程序，执行该程序所对应的处理，就可以利用软件处理来实现图10所示的处理。
在图像信号校正部24校正输入图像信号之前，图像信号校正部24进行处理，该处理求取投影区域PA内的全部子像素的显示位置偏离量。因此，首先图像信号校正部24(偏离量计算部26)计算出R分量的全部子像素偏离量(步骤S30)。更为具体而言，图像信号校正部24(偏离量计算部26)使用偏离量存储部22中所存储的取样子像素偏离量，通过插补处理求取投影图像内的全部子像素偏离量。作为该插补处理，有双线性法(Bilinear)、最近邻近法(Nearest Neighbo)及双立方法(Bicubic)等。
同样，图像信号校正部24(偏离量计算部26)计算出G分量及B分量的全部子像素偏离量(步骤S32、步骤S34)。在步骤S32、步骤S34中，图像信号校正部24(偏离量计算部26)也使用偏离量存储部22中所存储的取样子像素偏离量，通过插补处理求取投影图像内的全部子像素偏离量。作为该插补处理，有双线性法、最近邻近法及双立方法等。
接着，图像信号校正部24判别输入图像信号的有无(步骤S36)。更为具体而言，图像信号校正部24，通过判别是否在输入图像信号存储部28中存储了输入图像信号，来判别校正对象的输入图像信号有无。在步骤S36中，判别为没有输入图像信号时(步骤S36：N)，图像信号校正部24等待输入图像信号的输入。
在步骤S36中，判别为有输入图像信号时(步骤S36：Y)，图像信号校正部24根据来自变焦状态检测部60的校正控制信号，判断是否要对该输入图像信号进行校正处理(步骤S38)。例如，在根据变焦状态检测部60的检测结果，投影部100的变焦状态不是最大望远状态时(步骤S38：Y)，判断为图像信号校正部24要进行输入图像信号的校正处理，在变焦状态为最大望远状态时(步骤S38：N)，图像信号校正部24省略输入图像信号的校正处理。
在步骤S38中判断为要对输入图像信号进行校正处理时(步骤S38：Y)，图像信号校正部24对于输入图像信号之中的R分量的输入图像信号，使用在步骤S30中计算出的偏离量进行校正处理(步骤S40)。接下来，图像信号校正部24对于输入图像信号之中的G分量的输入图像信号，使用在步骤S32中计算出的偏离量进行校正处理(步骤S42)。再接下来，图像信号校正部24对于输入图像信号之中的B分量的输入图像信号，使用在步骤S34中计算出的偏离量进行校正处理(步骤S44)。
图11是表示第1实施方式中的输入图像信号校正处理的说明图。在图11中，表示了R分量的子像素输入图像信号的校正处理，但是G分量及B分量的子像素的输入图像信号的校正处理也相同。
例如，与下述子像素的显示像素PR相对应的输入图像信号Rx如下所述，通过使用该显示像素PR周围4个子像素的显示像素Rin00、Rin10、Rin01、Rin11的输入图像信号进行插补处理来求取，所述子像素的显示像素PR对于原来R分量的子像素的显示像素Rin00，水平方向上的偏离量为α像素的量并且垂直方向上的偏离量为β像素的量那样地偏离。在下面，将α、β设为大于等于1的正数。
Rx＝((1-α)×r0+α×r1)×(1-β)+((1-α)×r2+α×r3)×β
还有，在图11中对设为采用双线性法来求取的情况进行了说明，但是也可以用最近邻近法、双立方法来校正输入图像信号。
返回图10继续说明。在对于投影图像内的全部子像素完成校正处理之前(步骤S46：N)，返回步骤S40进行图像内的各子像素的校正处理。另一方面，在对于投影图像内的全部子像素完成了校正处理时(步骤S46：Y)，或者在步骤S38中判断为不对输入图像信号进行校正处理时(步骤S38：N)以及在未完成与偏离量相对应的校正处理时(步骤S48：N)，返回步骤S36继续处理，在完成与偏离量相对应的校正处理时(步骤S48：Y)，完成一系列的处理(结束)。
图12是表示第1实施方式中的R分量的子像素的输入图像信号校正处理例的说明图。图12模式表示出图7的投影图像的左上角区域。
在图12中模式表示出，构成各像素的子像素的输入图像信号和根据该输入图像信号投影的显示像素。将R分量的子像素的输入图像信号(像素值)设为Rin00、Rin10、Rin20、Rin30、Rin01、Rin11、Rin21、Rin31、Rin02、Rin12、Rin22、Rin32，将校正处理后的R分量的子像素设为Rout00、Rout10、Rout20、Rout01、Rout11、Rout21。
有时各子像素的偏离量也因每个子像素而不同，但是在图12中将R分量的子像素设为Rout00、Rout10、Rout20、Rout01、Rout11、Rout21的偏离量相同，并且各自在水平方向上只偏离0.5个像素，在垂直方向上只偏离0.5个像素。
此时，R分量的子像素的图像信号(像素值)Rout00、Rout10例如采用双线性法，如同下式那样来求取。
Rout00＝Rin00×0.5×0.5+Rin01×0.5×0.5+Rin10×0.5×0.5+Rin11×0.5×0.5
Rout10＝Rin10×0.5×0.5+Rin11×0.5×0.5+Rin20×0.5×0.5+Rin21×0.5×0.5
图12所示的其他R分量子像素的图像信号(例如Rout20、Rout01等)也同样求取。
如上的处理在图10的步骤S40中进行。
图13是表示第1实施方式中的G分量的子像素的输入图像信号校正处理例的说明图。图13模式表示出图7的投影图像的左上角区域。在图13中，对与图12相同的部分标注相同的符号，适当省略对其的说明。
在图13中，模式地表示出构成各像素的子像素的输入图像信号和根据该输入图像信号投影的显示像素。将G分量的子像素的输入图像信号(像素值)设为Gin00、Gin10、Gin20、Gin30、Gin01、Gin11、Gin21、Gin31、Gin02、Gin12、Gin22、Gin32，将校正处理后的G分量的子像素设为Gout00、Gout10、Gout20、Gout01、Gout11、Gout21。
有时各子像素的偏离量也因每个子像素而不同，但是在图13中将G分量的子像素设为Gout00、Gout10、Gout20、Gout01、Gout11、Gout21的偏离量相同，并且各自在水平方向上只偏离0.8个像素，在垂直方向上只偏离0.8个像素。
此时，G分量的子像素的图像信号(像素值)Gout00、Gout10，例如采用双线性法，如同下式那样来求取。
Gout00＝Gin00×0.2×0.2+Gin01×0.8×0.2+Gin10×0.2×0.8+Gin11×0.8×0.8
Gout10＝Gin10×0.2×0.2+Gin11×0.8×0.2+Gin20×0.2×0.8+Gin21×0.8×0.8
图13所示的其他G分量的子像素的图像信号(例如Gout20、Gout01等)也同样求取。
如上的处理在图10的步骤S42中进行。
图14是表示第1实施方式中的B分量的子像素的输入图像信号校正处理例的说明图。图14模式地表示出图7的投影图像的左上角区域。在图14中，对与图12相同的部分标注相同的符号，适当省略对其的说明。
在图14中，模式地表示出构成各像素的子像素的输入图像信号和根据该输入图像信号投影的显示像素。将B分量的子像素的输入图像信号(像素值)设为Bin00、Bin10、Bin20、Bin30、Bin01、Bin11、Bin21、Bin31、Bin02、Bin12、Bin22、Bin32，将校正处理后的B分量的子像素设为Bout00、Bout10、Bout20、Bout01、Bout11、Bout21。
各子像素的偏离量也有时而每个子像素而不同，但是在图14中将B分量的子像素设为Bout00、Bout10、Bout20、Bout01、Bout11、Bout21的偏离量相同，并且各自在水平方向上只偏离0.2个像素，在垂直方向上只偏离0.4个像素。
此时，B分量的子像素的图像信号(像素值)Bout00、Bout10，例如采用双线性法，如同下式那样来求取。
Bout00＝Bin00×0.8×0.6+Bin01×0.2×0.6+Bin10×0.8×0.4+Bin11×0.2×0.4
Bout10＝Bin10×0.8×0.6+Bin11×0.2×0.6+Bin20×0.8×0.4+Bin21×0.2×0.4
图14所示的其他B分量的子像素的图像信号(例如Bout20、Bout01等)也同样求取。
如上的处理在图10的步骤S44中进行。
如同上面所说明的那样，在第1实施方式中，由于事先存储构成1个像素的子像素显示位置偏离量，计算图像内全部子像素的偏离量，并按照该偏离量来校正子像素的输入图像信号，因而可以防止因构成1个像素的子像素显示位置偏离所引起的画面质量下降。
还有，在第1实施方式中，设为取样子像素是9个部位，进行了说明，但是本发明并不限定为取样子像素是9个部位的情形。
第1实施方式的第1变形例
在第1实施方式中，设为偏离量存储部22只存储1组9个部位量的取样子像素偏离量，进行了说明，但是本发明并不限定于此。也可以偏离量存储部事先存储多组偏离量组，使用从它们之中选择出的偏离量来对输入图像信号进行校正处理。
图15表示第1实施方式的第1变形例中的偏离量存储部的结构概要。
本发明所涉及的第1实施方式的第1变形例中的偏离量存储部220，取代图1的偏离量存储部22，被包含于投影机10内。偏离量存储部220包含第1～第N(N是大于等于2的整数)偏离量组2221～222N，各偏离量组包括投影图像内的9个部位量的R分量、G分量及B分量的取样子像素的偏离量。
因为第1实施方式的第1变形例中的投影机的结构和图1所示的第1实施方式中投影机10的结构相同，所以省略其详细说明。
对偏离量存储部220，输入所提供的选择信号，其输出由该选择信号选择出的1个偏离量组。该偏离量组，被供应给图1的图像信号校正部24(偏离量计算部26)。这里，选择信号也可以例如根据来自变焦状态检测部60的校正控制信号来生成。也就是说，可以根据与由变焦状态状态检测部60检测到的投影部100变焦倍率相对应的选择信号，偏离量存储部220从第1～第N偏离量组2221～222N之中输出与投影部100的变焦倍率相对应的偏离量组。
这种第1～第N偏离量组2221～222N的各偏离量组，是变更投影机的工作环境，如图3所示拍摄模式图像的投影图像得到的。还有，当取得各偏离量组时，也可以使模式图像分别不同。也就是说，也可以投影与偏离量组相对应的模式图像，各偏离量组是拍摄其投影图像并计算偏离量而来的。
图16是表示与本发明所涉及的第1实施方式的第1变形例中的偏离量相对应的校正处理例的流程图。
例如，在ROM82中预先存储有用来实现图16所示的处理的程序，通过由CPU80读出ROM82中所存储的程序，执行该程序所对应的处理，就可以利用软件处理来实现图16所示的处理。
首先，偏离量存储部220输出与所给予的选择信号相对应的1个偏离量组(步骤S20)，图像信号校正部24(偏离量计算部26)使用在步骤S20中选择出的偏离量组，来求取R分量、G分量及B分量的全部子像素偏离量。
也就是说，图像信号校正部24(偏离量计算部26)计算出R分量的全部子像素偏离量(步骤S30)。更为具体而言，图像信号校正部24(偏离量计算部26)使用偏离量存储部22中所存储的取样子像素偏离量，通过插补处理求取投影图像内的全部子像素偏离量。作为该插补处理，有双线性法、最近邻近法及双立方法等。
同样，图像信号校正部24(偏离量计算部26)计算出G分量及B分量的全部子像素偏离量(步骤S32、步骤S34)。在步骤S32、步骤S34中，图像信号校正部24(偏离量计算部26)也使用偏离量存储部22中所存储的取样子像素偏离量，通过插补处理求取投影图像内的全部子像素偏离量。作为该插补处理，有双线性法、最近邻近法及双立方法等。
接着，图像信号校正部24判别输入图像信号的有无(步骤S36)。更为具体而言，图像信号校正部24通过判别是否在输入图像信号存储部28中存储有输入图像信号，来判别校正对象的输入图像信号的有无。在步骤S36中判别为没有输入图像信号时(步骤S36：N)，图像信号校正部24等待输入图像信号的输入。
在步骤S36中判别为有输入图像信号时(步骤S36：Y)，图像信号校正部24根据来自变焦状态检测部60的校正控制信号来判断是否要对该输入图像信号进行校正处理(步骤S38)。例如，在根据变焦状态检测部60的检测结果，投影部100的变焦状态不是最大望远状态时(步骤S38：Y)，图像信号校正部24判断为要进行输入图像信号的校正处理，在变焦状态为最大望远状态时(步骤S38：N)，图像信号校正部24省略输入图像信号的校正处理。
在步骤S38中判断为要对输入图像信号进行校正处理时(步骤S38：Y)，图像信号校正部24对输入图像信号之中的R分量的输入图像信号，使用在步骤S30中计算出的偏离量进行校正处理(步骤S40)。接下来，图像信号校正部24对输入图像信号之中的G分量的输入图像信号，使用在步骤S32中计算出的偏离量进行校正处理(步骤S42)。再接下来，图像信号校正部24对输入图像信号之中的B分量的输入图像信号，使用在步骤S34中计算出的偏离量进行校正处理(步骤S44)。
此后，在对于投影图像内的全部子像素完成校正处理之前(步骤S46：N)，返回步骤S40进行图像内各子像素的校正处理。另一方面，在对于投影图像内的全部子像素完成了校正处理时(步骤S46：Y)，或者在步骤S38中判断为不对输入图像信号进行校正处理时(步骤S38：N)以及在未完成与偏离量相对应的校正处理时(步骤S48：N)，返回步骤S36继续处理，在完成与偏离量相对应的校正处理时(步骤S48：Y)，完成一系列的处理(结束)。
如同上面所说明的那样，在第1实施方式的第1变形例中，偏离量存储部220存储多组子像素的显示位置偏离量组，图像信号校正部24可以使用偏离量存储部220中所存储的多组所述子像素的显示位置偏离量组之中的、与校正控制信号相对应的组的子像素显示位置偏离量组，来校正输入图像信号。
第1实施方式的第2变形例
在第1实施方式的第1变形例中，没有若从偏离量存储部220选择出1个偏离量组，则在该图像内子像素的图像信号校正处理中变更偏离量的情况，但是本发明并不限定于此。
因为第1实施方式的第2变形例中的投影机的结构和第1实施方式的第1变形例中投影机的结构相同，所以省略对其的详细说明。
图17是表示本发明所涉及的第1实施方式的第2变形例中与偏离量相对应的校正处理例的流程图。
例如，在ROM82中预先存储有用来实现图17所示的处理的程序，通过由CPU80读出ROM82中所存储的程序，执行该程序所对应的处理，就可以利用软件处理来实现图17所示的处理。
首先，偏离量存储部220输出与所给予的选择信号相对应的1个偏离量组(步骤S20)，图像信号校正部24(偏离量计算部26)使用在步骤S20中选择出的偏离量组，来求取R分量、G分量及B分量的全部子像素偏离量。
即，图像信号校正部24(偏离量计算部26)计算出R分量的全部子像素偏离量(步骤S30)。更为具体而言，图像信号校正部24(偏离量计算部26)使用偏离量存储部22中所存储的取样子像素偏离量，通过插补处理求取投影图像内的全部子像素偏离量。作为该插补处理，有双线性法、最近邻近法及双立方法等。
同样，图像信号校正部24(偏离量计算部26)计算出G分量及B分量的全部子像素偏离量(步骤S32、步骤S34)。在步骤S32、步骤S34中，图像信号校正部24(偏离量计算部26)也使用偏离量存储部22中所存储的取样子像素偏离量，通过插补处理求取投影图像内的全部子像素偏离量。作为该插补处理，有双线性法、最近邻近法及双立方法等。
接着，图像信号校正部24判别输入图像信号的有无(步骤S36)。更为具体而言，图像信号校正部24通过判别是否在输入图像信号存储部28中存储有输入图像信号，来判别校正对象的输入图像信号有无。在步骤S36中判别为没有输入图像信号时(步骤S36：N)，图像信号校正部24等待输入图像信号的输入。
在步骤S36中判别为有输入图像信号时(步骤S36：Y)，图像信号校正部24根据来自变焦状态检测部60的校正控制信号来判断是否要对该输入图像信号进行校正处理(步骤S38)。例如，在根据变焦状态检测部60的检测结果，投影部100的变焦状态不是最大望远状态时(步骤S38：Y)，图像信号校正部24判断为要进行输入图像信号的校正处理，在变焦状态为最大望远状态时(步骤S38：N)，图像信号校正部24省略输入图像信号的校正处理。
在步骤S38中判断为要对输入图像信号进行校正处理时(步骤S38：Y)，图像信号校正部24对输入图像信号之中的R分量的输入图像信号，使用在步骤S30中计算出的偏离量进行校正处理(步骤S40)。接下来，图像信号校正部24对输入图像信号之中的G分量的输入图像信号，使用在步骤S32中计算出的偏离量进行校正处理(步骤S42)。再接下来，图像信号校正部24对输入图像信号之中的B分量的输入图像信号，使用在步骤S34中计算出的偏离量进行校正处理(步骤S44)。
此后，在判断为因为变更投影部100的变焦状态等投影机10工作环境的变更而需要变更子像素的偏离量时(步骤S45：Y)，图像处理部20返回步骤S20，从偏离量存储部220中所存储的第1～第N偏离量组之中根据选择信号选择别的偏离量组，再进行全部子像素的偏离量计算。
在步骤S45中判断为不需要变更子像素的偏离量时(步骤S45：N)，在对于投影图像内的全部子像素完成校正处理之前(步骤S46：N)，返回步骤S40进行图像内各子像素的校正处理。另一方面，在对于投影图像内的全部子像素完成了校正处理时(步骤S46：Y)，或者在步骤S38中判断为不对输入图像信号进行校正处理时(步骤S38：N)以及在未完成与偏离量相对应的校正处理时(步骤S48：N)，返回步骤S36继续处理，在完成与偏离量相对应的校正处理时(步骤S48：Y)，完成一系列的处理(结束)。
还有，因为第1实施方式的第2变形例中投影机的结构和第1实施方式的第1变形例中的投影机的结构相同，所以省略对其的详细说明。
第2实施方式
在本发明所涉及的第1实施方式或者其变形例中，按构成1个像素的每个子像素，使用了以图像内的基准位置为基准的偏离量，但是本发明并不限定于此。在本发明所涉及的第2实施方式中，将以构成1个像素的多个子像素之中的一个子像素的显示位置作为基准位置，来计算其他子像素的偏离量。
图18是表示本发明所涉及的第2实施方式中的偏离量说明图。在图18中，对与图7相同的部分标注相同的符号，适当省略对其的说明。
在第2实施方式中，子像素位置测量部50或图像处理部20通过由子像素位置测量部50所进行的摄像，取得图6(A)所示的那种G分量的子像素的显示像素DG1～DG9的摄像数据。此后，从G分量的子像素的显示像素DG1～DG9的各显示像素区域之中确定G分量的子像素位置。更为具体而言，各显示像素的区域具有多个摄像像素数，从该区域之中确定1个摄像像素来作为G分量的子像素位置。
作为该确定处理，可以确定像素值最大的像素来作为子像素位置，例如可以计算各显示像素区域的辉度直方图，确定最高辉度的像素来作为像素值最大的像素。或者，可以计算各显示像素区域的辉度直方图，确定大于等于指定阈值的像素重心位置来作为子像素位置。其结果为，如图18所示，与图6(A)子像素的显示像素DG1～DG9相对应地，确定子像素位置PG1～PG9。
同样，对于R分量及B分量也确定与子像素的显示像素DR1～DR9、DB1～DB9相对应的子像素位置。其结果为，如图18所示确定R分量、G分量及B分量的各取样像素的子像素位置。
这里，规定构成1个像素的R分量子像素、G分量子像素及B分量子像素之中的G分量子像素的显示位置(子像素位置)PG1，作为基准位置。然后，求取：以该基准位置为基准的R分量子像素位置PR1的偏离量(投影图像的水平方向的偏离量和投影图像的垂直方向的偏离量)及B分量子像素位置PB1的偏离量、以G分量子像素的显示位置(子像素位置)PG2为基准的R分量子像素位置PR2的偏离量(投影图像的水平方向的偏离量和投影图像的垂直方向的偏离量)及B分量子像素位置PB2的偏离量和以G分量子像素的显示位置(子像素位置)PG2为基准的R分量子像素位置PR3的偏离量(投影图像水平方向的偏离量和投影图像垂直方向的偏离量)及B分量子像素位置PB3的偏离量、…、，将这些偏离量保存于偏离量存储部22中。
即，在第2实施方式中，在1个像素由多个色分量的子像素构成时，将基准位置设为多个色分量的子像素之中的任意1个色分量子像素的显示位置。
这里，优选，子像素的显示位置偏离量，和第1实施方式相同以像素为单位来求取。
使用按所述方法所取得的偏离量，投影机10的图像处理部20就可以校正输入图像，通过投影部100显示图像。
因为这种第2实施方式中投影机的结构和第1实施方式中投影机的结构相同，所以省略其详细的说明。
图19是表示与第2实施方式中的偏离量相对应的校正处理例的流程图。在图19中，对与图10相同的部分标注相同的符号，适当省略对其的说明。
例如，在ROM82中预先存储有用来实现图19所示的处理的程序，通过由CPU80读出ROM82中所存储的程序，执行该程序所对应的处理，就可以利用软件处理来实现图19所示的处理。
在图像信号校正部24校正输入图像信号之前，图像信号校正部24进行处理，该处理求取投影区域PA内的全部子像素的显示位置偏离量。因此，首先图像信号校正部24(偏离量计算部26)计算出R分量全部子像素的偏离量(步骤S30)。更为具体而言，图像信号校正部24(偏离量计算部26)使用偏离量存储部22中所存储的取样子像素偏离量，通过插补处理求取投影图像内的全部子像素偏离量。作为该插补处理，有双线性法、最近邻近法及双立方法等。
同样，图像信号校正部24(偏离量计算部26)计算出B分量的全部子像素偏离量(步骤S34)。在步骤S34中，图像信号校正部24(偏离量计算部26)也使用偏离量存储部22中所存储的取样子像素偏离量，通过插补处理求取投影图像内的全部子像素偏离量。作为该插补处理，有双线性法、最近邻近法及双立方法等。
接着，图像信号校正部24判别输入图像信号的有无(步骤S36)。更为具体而言，图像信号校正部24通过判别是否在输入图像信号存储部28中存储有输入图像信号，来判别校正对象的输入图像信号有无。在步骤S36中判别为没有输入图像信号时(步骤S36：N)，图像信号校正部24等待输入图像信号的输入。
在步骤S36中判别为有输入图像信号时(步骤S36：Y)，图像信号校正部24根据来自变焦状态检测部60的校正控制信号来判断是否要对该输入图像信号进行校正处理(步骤S38)。例如，在根据变焦状态检测部60的检测结果，投影部100的变焦状态不是最大望远状态时(步骤S38：Y)，图像信号校正部24判断为要进行输入图像信号的校正处理，在变焦状态为最大望远状态时(步骤S38：N)，图像信号校正部24省略输入图像信号的校正处理。
在步骤S38中判断为要对输入图像信号进行校正处理时(步骤S38：Y)，图像信号校正部24对输入图像信号之中的R分量的输入图像信号，使用在步骤S30中计算出的偏离量进行校正处理(步骤S40)。接下来，图像信号校正部24对输入图像信号之中的B分量的输入图像信号，使用在步骤S32中计算出的偏离量进行校正处理(步骤S44)。
在对于如上投影图像内的全部子像素完成校正处理之前(步骤S46：N)，返回步骤S40进行图像内的各子像素的校正处理。另一方面，在对于投影图像内的全部子像素完成了校正处理时(步骤S46：Y)，或者在步骤S38中判断为不对输入图像信号进行校正处理时(步骤S38：N)以及在未完成与偏离量相对应的校正处理时(步骤S48：N)，返回步骤S36继续处理，在完成与偏离量相对应的校正处理时(步骤S48：Y)，完成一系列的处理(结束)。
图20是表示第2实施方式中的R分量子像素输入图像信号校正处理例的说明图。图20模式表示出图18的投影图像的左上角区域。
在图20中模式表示出，构成各像素的子像素的输入图像信号和根据该输入图像信号投影的显示像素。将R分量子像素的输入图像信号(像素值)设为Rin00、Rin10、Rin20、Rin30、Rin01、Rin11、Rin21、Rin31、Rin02、Rin12、Rin22、Rin32，将校正处理后的R分量子像素设为Rout00、Rout10、Rout20、Rout01、Rout11、Rout21。
有时各子像素的偏离量有时因每个子像素而不同，但是在图20中将R分量的子像素设为Rout00、Rout10、Rout20、Rout01、Rout11、Rout21的偏离量相同，并且各自在水平方向上只偏离0个像素，在垂直方向上只偏离0.8个像素。
此时，R分量子像素的图像信号(像素值)Rout00、Rout10例如采用双线性法，如同下式那样来求取。
Rout00＝Rin00×0.2+Rin01×0.8
Rout10＝Rin10×0.2+Rin11×0.8
图20所示的其他R分量子像素的图像信号(例如Rout20、Rout01等)也同样求取。
如上的处理在图19的步骤S40中进行。
图21表示第2实施方式中的B分量子像素的输入图像信号校正处理例的说明图。在图21中，对与图18相同的部分标注相同的符号，适当省略对其的说明。
在图21中模式表示出，构成各像素的子像素的输入图像信号和根据该输入图像信号投影的显示像素。将B分量子像素的输入图像信号(像素值)设为Bin00、Bin10、Bin20、Bin30、Bin01、Bin11、Bin21、Bin31、Bin02、Bin12、Bin22、Bin32，将校正处理后的B分量子像素设为Bout00、Bout10、Bout20、Bout01、Bout11、Bout21。
有时各子像素的偏离量也因每个子像素而不同，但是在图21中将B分量的子像素设为Bout00、Bout10、Bout20、Bout01、Bout11、Bout21的偏离量相同，并且各自在水平方向上只偏离0.8个像素，在垂直方向上只偏离0.8个像素。
此时，B分量子像素的图像信号(像素值)Bout00、Bout10例如采用双线性法，如同下式那样来求取。
Bout00＝Bin00×0.2×0.2+Bin01×0.8×0.2+Bin10×0.2×0.8+Bin11×0.8×0.8
Bout10＝Bin10×0.2×0.2+Bin11×0.8×0.2+Bin20×0.2×0.8+Bin21×0.8×0.8
图21所示的其他B分量子像素的图像信号(例如Bout20、Bout01等)也同样求取。
如上的处理在图19的步骤S44中进行。
对此，因为将G分量子像素的显示位置作为基准位置，计算出R分量及B分量的子像素显示位置偏离量，所以不需要对G分量的输入图像信号进行校正处理。
图22表示第2实施方式中的G分量子像素的输入图像信号的说明图。在图22中，对与图18相同的部分标注相同的符号，适当省略对其的说明。
在图22中模式表示出，构成各像素的子像素的输入图像信号和根据该输入图像信号投影的显示像素。将G分量子像素的输入图像信号(像素值)设为Gin00、Gin10、Gin20、Gin30、Gin01、Gin11、Gin21、Gin31、Gin02、Gin12、Gin22、Gin32，将G分量子像素的输出图像信号设为Gout00、Gout10、Gout20、Gout30、Gout01、Gout11、Gout21、Gout31、Gout02、Gout12、Gout22、Gout32。
此时，G分量子像素的图像信号(像素值)Gout00、Gout10例如下式所示。
Gout00＝Gin00
Gout10＝Gin10
图22所示的其他G分量子像素的图像信号(例如Gout20、Gout01等)也同样。
如同上面所说明的那样，根据第2实施方式，由于将G分量子像素的显示位置作为基准位置，计算出R分量及B分量的子像素显示位置偏离量，因而不需进行G分量全部子像素的偏离量的计算和G分量输入图像信号的校正处理即可，能够防止因构成1个像素的子像素显示位置偏离所引起的画面质量下降，并且可以谋求处理的简单化。
第2实施方式的第1变形例
还有，在第2实施方式中和第1实施方式的第1变形例相同，也可以如图15所示，偏离量存储部事先存储多组偏离量组，使用从它们之中选择出的偏离量来对输入信号进行校正处理。
因为第2实施方式的第1变形例中的投影机的结构和第1实施方式的第1变形例中投影机的结构相同，所以省略其详细说明。
图23是表示与本发明所涉及的第2实施方式的第1变形例中的偏离量相对应的校正处理例的流程图。在图23中，对与图16相同的部分标注相同的符号，适当省略对其的说明。
例如，在ROM82中预先存储有用来实现图23所示的处理的程序，通过由CPU80读出ROM82中所存储的程序，执行该程序所对应的处理，就可以利用软件处理来实现图23所示的处理。
如图23所示，根据第2实施方式的第1变形例，和图16的处理进行比较，可以省略计算G分量的全部子像素偏离量的处理和校正G分量输入图像信号的处理，能够使处理大为简单化。
第2实施方式的第2变形例
还有，在第2实施方式中和第1实施方式的第2变形例相同，也可以在该图像内子像素的图像信号校正处理中，变更偏离量。
因为第2实施方式的第2变形例中的投影机的结构和第1实施方式第2变形例中投影机结构的相同，所以省略对其的详细说明。
图24是表示与本发明所涉及的第2实施方式的第2变形例中的偏离量相对应的校正处理例的流程图。在图24中，对与图17相同的部分标注相同的符号，适当省略对其的说明。
例如，在ROM82中预先存储有用来实现图24所示的处理的程序，通过由CPU80读出ROM82中所存储的程序，执行该程序所对应的处理，就可以利用软件处理来实现图24所示的处理。
如图24所示，根据第2实施方式的第2变形例，和图16的处理进行比较，可以省略计算G分量的全部子像素偏离量的处理和校正G分量的输入图像信号的处理，能够使处理大为简单化。
第3实施方式
在所述第1实施方式或其变形例或者第2实施方式或其变形例中，由变焦状态检测部60检测出投影部100的变焦倍率，根据其检测结果来进行输入图像信号的校正处理，或者省略该校正处理，但是本发明并不限定于此。
图25表示本发明所涉及的第3实施方式中投影机结构例的框图。在图25中，对与图1相同的部分标注相同的符号，适当省略对其的说明。
第3实施方式的投影机300与第1实施方式中的投影机10的不同之处为，取代变焦状态检测部60，而设置工作环境检测部310。而且，工作环境检测部310生成校正控制信号，将该校正控制信号对图像处理部20的图像信号校正控制部30进行输出。
工作环境检测部310检测投影机300的工作环境，生成与其检测结果相对应的校正控制信号。作为这种工作环境检测部310，例如采用温度传感器、湿度传感器及光传感器等的传感器。由于按所述方法来构成，因而不限于投影部100的变焦倍率，还可以根据投影机300的工作环境，按照子像素的显示位置偏离量来校正输入图像信号。也就是说，因为考虑到因子像素的显示位置偏离所引起的画面质量下降，有时也起因于投影机的工作环境(温度等)的变化，所以在第3实施方式中，根据工作环境检测部检测的工作环境，来校正输入图像信号。
上面，根据所述各实施方式或其变形例说明了本发明所涉及的图像显示装置及图像显示方法，但是本发明并不限定于所述各实施方式，而可以在不脱离其宗旨的范围内在各种方式下加以实施，例如还能够进行如下的变形。
(1)在所述各实施方式或者其变形例中，对由3个色分量的子像素构成1个像素的情况进行了说明，但是本发明并不限定于此。构成1个像素的色分量数也可以是2个或者4个以上。
(2)在所述各实施方式或者其变形例中，对作为光调制部使用光阀的情况进行了说明，但是本发明并不限定于此。作为光调制部，例如也可以采用DLP(Digital Light Processing，数字光处理)(注册商标)及LCOS(Liquid Cristal On Silicon)等。
(3)在所述各实施方式或者其变形例中，作为光调制部，以使用所谓3片式透射型液晶面板的光阀为例进行了说明，但是也可以采用下述光阀，该光阀使用4片式以上的透射型液晶面板。
(4)在所述各实施方式或者其变形例中，作为全部子像素偏离量的插补处理方法和图像信号的校正处理方法，举出了双线性法、最近邻近法及双立方法为例，但是本发明并不限定为这些处理方法。
(5)在所述各实施方式或者其变形例中，设为按照校正控制信号使由图像信号校正部24所进行的输入图像信号的校正处理方法不同，并且设为执行校正处理本身或者省略该校正处理本身，进行了说明，但是本发明并不限定于此。也可以使在图像信号校正部24中采用双线性法等的第1校正处理方法校正输入图像信号或者采用最近邻近法等的第2校正处理方法校正输入图像信号的处理，根据所述校正控制信号进行转换。
(6)在所述各实施方式中，将本发明作为图像显示装置及图像显示方法进行了说明，但是本发明并不限定于此。例如，也可以是描述用来实现本发明的图像显示方法处理过程的程序或记录该程序的存储媒体。

Claims (7)

1.一种图像显示装置，其根据与构成1个像素的子像素相对应的输入图像信号显示图像，其特征为，
包含：
偏离量存储部，存储以显示图像内给予的基准位置为基准的所述子像素的显示位置偏离量；
图像信号校正部，按照所述偏离量校正所述输入图像信号；和
图像显示部，根据由所述图像信号校正部校正后的图像信号进行图像显示；
在1个像素由多个色分量的子像素构成时，
所述基准位置是所述多个色分量的子像素之中的任意1个色分量的子像素的显示位置，
所述偏离量存储部，
存储所述显示图像内的1个或多个取样子像素的显示位置偏离量，
所述图像信号校正部，
按构成所述显示图像各像素的每个子像素，利用所述取样子像素的显示位置偏离量计算出该子像素的显示位置偏离量，按照该偏离量校正该子像素的输入图像信号。
2.根据权利要求1所述的图像显示装置，其特征为，
包含图像信号校正控制部，该图像信号校正控制部根据给予的校正控制信号，控制由所述图像信号校正部进行的所述输入图像信号的校正处理；
所述图像信号校正控制部，按照所述校正控制信号，使由所述图像信号校正部进行的所述输入图像信号的校正处理不同。
3.根据权利要求2所述的图像显示装置，其特征为，
包含变焦状态检测部，该变焦状态检测部检测出由所述图像显示部所显示的图像的变焦状态；
所述图像信号校正控制部，按照与所述变焦状态检测部的检测结果相对应的所述校正控制信号，使所述图像信号校正部进行所述输入图像信号的校正处理，或者省略该校正处理。
4.根据权利要求2或3所述的图像显示装置，其特征为，
所述偏离量存储部，
存储多组所述子像素的显示位置偏离量组，
所述图像信号校正部，
利用所述偏离量存储部所存储的多组所述子像素的显示位置偏离量组之中的、与所述校正控制信号相对应的组的所述子像素的显示位置偏离量组，校正所述输入图像信号。
5.根据权利要求1至3中的任一项所述的图像显示装置，其特征为，
包含子像素位置测量部，该子像素位置测量部测量出由所述图像显示部所显示的图像内的子像素的显示位置；
所述偏离量存储部，
利用所述子像素位置测量部的测量结果，存储与以所述基准位置为基准的所述子像素显示位置相对应的偏离量。
6.根据权利要求4所述的图像显示装置，其特征为，
包含子像素位置测量部，该子像素位置测量部测量出由所述图像显示部所显示的图像内的子像素的显示位置；
所述偏离量存储部，
利用所述子像素位置测量部的测量结果，存储与以所述基准位置为基准的所述子像素显示位置相对应的偏离量。
7.一种图像显示方法，根据与构成1个像素的子像素相对应的输入图像信号显示图像，其中，
包含：
存储以显示图像内给予的基准位置为基准的所述子像素的显示位置偏离量的偏离量存储步骤；
按照所述偏离量校正所述输入图像信号的图像信号校正步骤；和
使用根据由所述图像信号校正步骤校正后的图像信号调制后的光进行图像显示的图像显示步骤；
在1个像素由多个色分量的子像素构成时，
所述基准位置是所述多个色分量的子像素之中的任意1个色分量的子像素的显示位置，
所述偏离量存储步骤，
存储所述显示图像内的1个或多个取样子像素的显示位置偏离量，
所述图像信号校正步骤，
按构成所述显示图像各像素的每个子像素，利用所述取样子像素的显示位置偏离量计算出该子像素的显示位置偏离量，按照该偏离量校正该子像素的输入图像信号。
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