CN101435874B - 放射线成像装置和放射线成像装置的驱动方法 - Google Patents
放射线成像装置和放射线成像装置的驱动方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101435874B CN101435874B CN2008101754208A CN200810175420A CN101435874B CN 101435874 B CN101435874 B CN 101435874B CN 2008101754208 A CN2008101754208 A CN 2008101754208A CN 200810175420 A CN200810175420 A CN 200810175420A CN 101435874 B CN101435874 B CN 101435874B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- radiation imaging
- imaging apparatus
- signal
- voltage
- circuit unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 86
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 61
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 23
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 53
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 29
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 18
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 claims description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 10
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 9
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 9
- 230000005055 memory storage Effects 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 8
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 7
- 239000010408 film Substances 0.000 description 6
- 238000002601 radiography Methods 0.000 description 6
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 description 3
- 230000003760 hair shine Effects 0.000 description 3
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 3
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 2
- MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 5-phenyl-2h-tetrazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NNN=N1 MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000333 X-ray scattering Methods 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 208000012839 conversion disease Diseases 0.000 description 1
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical compound I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005984 hydrogenation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000008676 import Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- -1 mercuric iodixde Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 238000004171 remote diagnosis Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/30—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from X-rays
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/18—Complementary metal-oxide-semiconductor [CMOS] image sensors; Photodiode array image sensors
- H10F39/189—X-ray, gamma-ray or corpuscular radiation imagers
- H10F39/1898—Indirect radiation image sensors, e.g. using luminescent members
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007293522A JP5038101B2 (ja) | 2007-11-12 | 2007-11-12 | 放射線撮像装置、その駆動方法及びプログラム |
| JP2007293522 | 2007-11-12 | ||
| JP2007-293522 | 2007-11-12 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN101435874A CN101435874A (zh) | 2009-05-20 |
| CN101435874B true CN101435874B (zh) | 2011-08-24 |
Family
ID=40622847
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN2008101754208A Expired - Fee Related CN101435874B (zh) | 2007-11-12 | 2008-11-12 | 放射线成像装置和放射线成像装置的驱动方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7732776B2 (enExample) |
| JP (1) | JP5038101B2 (enExample) |
| CN (1) | CN101435874B (enExample) |
Families Citing this family (37)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8641532B2 (en) * | 2005-09-08 | 2014-02-04 | Bally Gaming, Inc. | Gaming device having two card readers |
| JP2008212644A (ja) * | 2007-02-06 | 2008-09-18 | Canon Inc | 放射線撮像装置及びその駆動方法、並びに放射線撮像システム |
| JP4991459B2 (ja) * | 2007-09-07 | 2012-08-01 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び放射線撮像システム |
| JP2009141439A (ja) * | 2007-12-03 | 2009-06-25 | Canon Inc | 放射線撮像装置、その駆動方法及びプログラム |
| JP5792923B2 (ja) | 2009-04-20 | 2015-10-14 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム |
| PE20140057A1 (es) * | 2010-09-20 | 2014-03-01 | Fraunhofer Ges Forschung | Metodo para diferenciar entre el fondo y el frente del escenario y tambien metodo para reemplazar un fondo en las imagenes de un decorado |
| JP5885431B2 (ja) * | 2011-08-29 | 2016-03-15 | キヤノン株式会社 | 撮像素子及び撮像装置 |
| WO2013125325A1 (ja) * | 2012-02-23 | 2013-08-29 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御方法、及び放射線画像撮影装置の制御プログラム |
| JP6164798B2 (ja) | 2012-04-04 | 2017-07-19 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及び、放射線撮像装置の制御方法 |
| JP5934128B2 (ja) | 2013-02-28 | 2016-06-15 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
| JP6016673B2 (ja) | 2013-02-28 | 2016-10-26 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
| JP5986524B2 (ja) | 2013-02-28 | 2016-09-06 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
| JP6238577B2 (ja) * | 2013-06-05 | 2017-11-29 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
| US9737271B2 (en) | 2014-04-09 | 2017-08-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging apparatus and control method of the same |
| JP6339853B2 (ja) | 2014-05-01 | 2018-06-06 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
| JP6585910B2 (ja) | 2014-05-01 | 2019-10-02 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
| JP6362421B2 (ja) | 2014-05-26 | 2018-07-25 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法およびプログラム |
| JP6570315B2 (ja) | 2015-05-22 | 2019-09-04 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
| JP6573377B2 (ja) | 2015-07-08 | 2019-09-11 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法及びプログラム |
| JP6573378B2 (ja) | 2015-07-10 | 2019-09-11 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法及びプログラム |
| JP6587517B2 (ja) | 2015-11-13 | 2019-10-09 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像システム |
| JP6663210B2 (ja) | 2015-12-01 | 2020-03-11 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及びその制御方法 |
| CN108701490B (zh) * | 2016-02-26 | 2022-07-12 | 深圳帧观德芯科技有限公司 | 从半导体图像检测器输出数据的方法 |
| JP6706963B2 (ja) | 2016-04-18 | 2020-06-10 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及び、放射線撮像装置の制御方法 |
| JP6415488B2 (ja) | 2016-07-08 | 2018-10-31 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像システム |
| JP6871717B2 (ja) | 2016-11-10 | 2021-05-12 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システムおよび放射線撮像方法 |
| JP6853729B2 (ja) | 2017-05-08 | 2021-03-31 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法及びプログラム |
| WO2019012846A1 (ja) | 2017-07-10 | 2019-01-17 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
| WO2019019047A1 (en) | 2017-07-26 | 2019-01-31 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | RADIATION DETECTOR AND METHODS OF PRODUCING DATA THEREFROM |
| JP7067912B2 (ja) | 2017-12-13 | 2022-05-16 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
| JP7063199B2 (ja) * | 2018-08-31 | 2022-05-09 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像撮影システム |
| JP6818724B2 (ja) | 2018-10-01 | 2021-01-20 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
| JP7170497B2 (ja) | 2018-10-22 | 2022-11-14 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
| JP7361516B2 (ja) | 2019-07-12 | 2023-10-16 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影装置の制御方法、および、プログラム |
| JP7619821B2 (ja) | 2021-02-09 | 2025-01-22 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、放射線撮影システム、情報処理方法およびプログラム |
| JP7449260B2 (ja) | 2021-04-15 | 2024-03-13 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
| JP2023117956A (ja) | 2022-02-14 | 2023-08-24 | キヤノン株式会社 | センサ基板、放射線撮像装置、放射線撮像システム、および、センサ基板の製造方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1573533A (zh) * | 2003-06-18 | 2005-02-02 | 佳能株式会社 | 放射线摄影装置及放射线摄影方法 |
| CN101057784A (zh) * | 2006-04-21 | 2007-10-24 | 佳能株式会社 | 射线成像设备、设备控制方法和计算机可读存储介质 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1114755A (ja) * | 1997-06-26 | 1999-01-22 | Hitachi Medical Corp | 2次元検出器を用いた撮影装置 |
| US6163029A (en) * | 1997-09-22 | 2000-12-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detector, radiation detecting method and X-ray diagnosing apparatus with same radiation detector |
| JP2004088451A (ja) * | 2002-08-27 | 2004-03-18 | Canon Inc | 光電変換装置、及び放射線撮影装置 |
| JP2005166824A (ja) * | 2003-12-01 | 2005-06-23 | Toshiba Corp | 固体撮像装置 |
| JP2005167843A (ja) * | 2003-12-04 | 2005-06-23 | Canon Inc | 放射線検出装置 |
| US7557355B2 (en) * | 2004-09-30 | 2009-07-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Image pickup apparatus and radiation image pickup apparatus |
| JP4750512B2 (ja) * | 2005-09-01 | 2011-08-17 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
| JP2007151761A (ja) * | 2005-12-02 | 2007-06-21 | Canon Inc | 放射線撮像装置、システム及び方法、並びにプログラム |
-
2007
- 2007-11-12 JP JP2007293522A patent/JP5038101B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-10-08 US US12/247,491 patent/US7732776B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2008-11-12 CN CN2008101754208A patent/CN101435874B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1573533A (zh) * | 2003-06-18 | 2005-02-02 | 佳能株式会社 | 放射线摄影装置及放射线摄影方法 |
| CN101057784A (zh) * | 2006-04-21 | 2007-10-24 | 佳能株式会社 | 射线成像设备、设备控制方法和计算机可读存储介质 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| JP特开2000-346950A 2000.12.15 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP5038101B2 (ja) | 2012-10-03 |
| US20090121143A1 (en) | 2009-05-14 |
| JP2009121848A (ja) | 2009-06-04 |
| US7732776B2 (en) | 2010-06-08 |
| CN101435874A (zh) | 2009-05-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101435874B (zh) | 放射线成像装置和放射线成像装置的驱动方法 | |
| JP4533010B2 (ja) | 放射線撮像装置、放射線撮像方法及び放射線撮像システム | |
| US7512214B2 (en) | Radiography apparatus, radiography system, and control method thereof | |
| US8072514B2 (en) | Imaging system and method for error reduction processing | |
| CN101653362B (zh) | 放射线成像系统 | |
| US7718973B2 (en) | Radiation imaging apparatus and radiation imaging system | |
| US6952464B2 (en) | Radiation imaging apparatus, radiation imaging system, and radiation imaging method | |
| US6904126B2 (en) | Radiological imaging apparatus and method | |
| US20080013686A1 (en) | Radiation imaging apparatus, driving method thereof and radiation imaging system | |
| US6393098B1 (en) | Amplifier offset and gain correction system for X-ray imaging panel | |
| JP6887812B2 (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム | |
| US20170219725A1 (en) | Temperature compensation for thin film transistors in digital x-ray detectors | |
| JP4497615B2 (ja) | 画像処理装置、補正方法及び記録媒体 | |
| US6879660B2 (en) | Method and apparatus for reducing spectrally-sensitive artifacts | |
| US10838079B2 (en) | Radiographic image detection device | |
| JP4739060B2 (ja) | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及びその制御方法 | |
| US20100019176A1 (en) | Imaging apparatus | |
| US12339408B2 (en) | Radiation imaging apparatus and radiation imaging system | |
| CN101744624A (zh) | 图像拾取设备、图像拾取系统和图像拾取方法 | |
| JP2007050052A (ja) | 放射線撮像装置及びその制御方法 | |
| JP2005152034A (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20110824 Termination date: 20171112 |