CN101271700A - 光拾取装置和光分割体 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种光拾取装置和光分割体，能抑制由来自与聚光记录层不同的非聚光记录层的反射光而引起的恶劣影响。在各TES受光部(72a、72b)，把中介受光元件(84a、84b)与第一副光束受光元件(81a、81b)邻接配置。中介受光元件(84a、84b)从把来自聚光记录层(41a)的主光束的反射光聚光的位置、和把来自聚光记录层41a的各副光束的反射光聚光的位置这两者离开，配置为与第一副光束受光元件(81a、81b)，接受来自非聚光记录层(41b)的主光束的反射光。校正部(56)根据中介受光元件(84a、84b)的受光结果(S84a、S84b)校正第一副光束受光元件(81a、81b)的受光结果(S81a、S81b)。

Description

光拾取装置和光分割体
技术领域
本发明涉及用于向光盘记录信息或从光盘再生信息的光拾取装置和光分割体。
背景技术
光拾取装置用于向光盘记录信息或从光盘再生信息。作为光盘能举出：小型盘(Compact Disc、简称CD)、数字多功能盘(Digital Versatile Disc、简称DVD)和蓝光盘(Blu-ray Disc、登录商标)等。CD的记录再生使用780nm附近的红外波长区域的激光。用于DVD的记录再生的激光，比用于记录再生CD的激光的波长短，具体说就是使用650nm附近的红色波长区域的激光。用于蓝光盘的记录再生的激光，具有比DVD记录再生所使用的激光更短的波长，具体说就是使用405nm附近的蓝紫色波长区域的激光。
光盘上形成有记录层。相对于这种光盘进行信息的记录/再生时，把激光向光盘的记录层进行聚光而照射，并由受光部接受来自光盘的反射光。这样来进行信息的记录/再生，同时检测包含有对焦误差信号和跟踪误差信号的随动信号以进行随动控制。
图14是把现有光拾取装置1的结构简略化表示的图。现有的光拾取装置1中，来自光源2的射出光被衍射光栅3分离成主光束和一对副光束，透射光分割体4并被准直透镜5变换成平行光，由物镜6向光盘7的记录层8聚光。来自光盘7记录层8的反射光透射物镜6和准直透镜5，并被光分割体4分割，以被聚光的状态由受光部9受光。这种现有的光拾取装置1被日本特开2004-288227号和日本特开2004-303296号所公开。
图15是表示光分割体4一例的图。该例在光分割体4的符号末尾付与“a”。图15表示光分割体4a与受光部9的关系。受光部9具有：用于生成对焦误差信号的对焦用受光部11，和用于生成跟踪误差信号的一对跟踪用受光部12a、12b。
光分割体4a由全息元件实现。光分割体4a具有：把来自光盘7记录层8的反射光向对焦用受光部11反射的对焦用分割区域13，和把来自光盘7记录层8的反射光向各跟踪用受光部12a、12b分别反射的一对跟踪用分割区域14a、14b。
对焦用分割区域13与一对跟踪用分割区域14a、14b的边界线15大致沿与光学系统的基准光轴L正交且向跟踪方向T1延伸的假想线16形成。所述边界线15中，相对于光学系统基准光轴L的半径方向靠近外侧的部分17沿所述假想线16形成。所述边界线15中，相对于所述基准光轴L的半径方向靠近内侧的部分18从所述假想线16偏离，与该部分18沿所述假想线16的情况相比，以增加对焦用分割区域13。
图16是表示光分割体4其他例的图。该例在光分割体4的符号末尾付与“b”。图16表示光分割体4b与受光部9的关系。由于该例的光分割体4b与所述图15所示例的光分割体4a类似，所以仅说明不同点。该例的光分割体4b在所述边界线15中相对于所述基准光轴L的半径方向靠近外侧的部分17，从所述假想线16偏离，与该部分17沿所述假想线16的情况相比，以增加所述一对跟踪用分割区域14a、14b。
光盘7中，为了增大记录容量而在其厚度方向上层积有多层记录层8。相对于这种光盘7的信息记录/再生，从光源2的射出光被聚光就不仅有来自聚光记录层8a的反射光由受光部9受光，而且有来自与聚光记录层8a不同的非聚光记录层8b的反射光由受光部9受光。
图17是用于说明形成有双层记录层8的光盘7中光的透射和反射的概要情况的图。图17设定为从光源2侧看光盘7时，非聚光记录层8b位于聚光记录层8a内侧的情况。来自光源2的射出光21向聚光记录层8a聚光并被聚光记录层8a反射。这时，来自光源2的射出光的一部分透射聚光记录层8a。透射聚光记录层8a的透射光22以欲于相对于非聚光记录层8b与光源2侧相反的内侧、聚焦于假想焦点23的方式被非聚光记录层8b反射。
图18是用于说明在使用图15所示的光分割体4a时，来自非聚光记录层8b的反射光受光状态的图。图19是用于说明在使用图16所示的光分割体4b时，来自非聚光记录层8b的反射光受光状态的图。图18和图19设定为从光源2侧看光盘7时，非聚光记录层8b位于聚光记录层8a内侧的情况。这时，来自非聚光记录层8b的反射光25以比来自聚光记录层8a的反射光被扩展的状态到达对焦用受光部11和各跟踪用受光部12a、12b，并被这些受光部11、12a、12b受光。由此存在对随动信号产生恶劣影响的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种光拾取装置和光分割体，能抑制由来自与聚光记录层不同的非聚光记录层的反射光而引起的恶劣影响。
本发明的光拾取装置向形成有多层记录层的光盘照射光，用于向光盘的记录层记录信息或从光盘的记录层再生信息，包括：
光源，其射出光；
光学系统，其把来自光源的射出光向光盘的记录层聚光，且把来自光盘记录层的反射光进行聚光；
受光部，把来自光盘记录层的反射光经由光学系统受光，其具有第一受光部和第二受光部，该第一受光部配置在把来自汇聚光源射出光的聚光记录层的反射光进行聚光的位置，接受来自聚光记录层的反射光，该第二受光部配置成从聚光记录层的反射光聚光位置离开而与第一受光部邻接，接受来自与聚光记录层不同的非聚光记录层的反射光；
校正部，其根据第二受光部的受光结果来校正第一受光部的受光结果。
根据本发明，在向光盘的记录层记录信息或从光盘的记录层再生信息时，相对于光盘从光盘的一侧照射光。来自光源的射出光利用光学系统向光盘的记录层聚光。来自光盘记录层的反射光利用光学系统被聚光并由受光部受光。
受光部具有第一受光部和第二受光部。第一受光部配置在把来自汇聚光源射出光的聚光记录层的反射光进行聚光的位置，接受来自聚光记录层的反射光。第二受光部配置成从聚光记录层的反射光聚光的位置离开而与第一受光部邻接，接受来自与聚光记录层不同的非聚光记录层的反射光。
来自非聚光记录层的反射光以比来自聚光记录层的反射光扩展的状态到达受光部。因此，来自非聚光记录层的反射光被第一受光部受光。考虑到这点，校正部根据第二受光部的受光结果校正第一受光部的受光结果。这样能抑制由非聚光记录层的反射光而引起的恶劣影响。
本发明的所述光学系统优选为把光源的射出光分离成主光束和一对副光束，并向光盘的记录层聚光，
所述第一受光部包括：主光束受光元件，其配置在把来自聚光记录层的主光束反射光进行聚光的位置，接受来自聚光记录层的主光束的反射光；一对副光束受光元件，其分别配置在把来自聚光记录层的各副光束反射光进行聚光的位置，分别接受来自聚光记录层的各副光束的反射光，
所述第二受光部具有用于将各副光束受光元件中、来自非聚光记录层的主光束反射光所到达的副光束受光元件的受光结果进行补正的副光束校正用受光部分，该副光束校正用受光部分配置为从把来自聚光记录层的主光束反射光进行聚光的位置、和把来自聚光记录层的各副光束反射光进行聚光的位置这两者离开，与所述副光束受光元件邻接，接受来自非聚光记录层的主光束反射光，
所述校正部根据副光束校正用受光部分的受光结果来校正所述副光束受光元件的受光结果。
根据本发明，光源的射出光被光学系统分离成主光束和一对副光束并向光盘的记录层聚光。来自聚光记录层的主光束反射光被光学系统聚光并由主光束受光元件受光。来自聚光记录层的各副光束反射光被光学系统聚光并分别由各副光束受光元件受光。
来自非聚光记录层的主光束反射光以比来自聚光记录层的各光束反射光扩展的状态到达受光部。考虑到这点，以与各副光束受光元件中、来自非聚光记录层的主光束反射光到达的副光束受光元件邻接的方式配置副光束校正用受光部分。校正部根据副光束校正用受光部分的受光结果校正所述副光束受光元件的受光结果。这样能抑制由非聚光记录层的主光束反射光而引起的恶劣影响。
本发明的所述副光束校正用受光部分优选具有：介于所述副光束受光元件与主光束受光元件之间的中介受光元件，和相对所述副光束受光元件而配置在与中介受光元件相反侧的相反侧受光元件。
根据本发明，副光束校正用受光部分具有中介受光元件和相反侧受光元件。中介受光元件介于各副光束受光元件中、来自非聚光记录层的主光束反射光到达的副光束受光元件与主光束受光元件之间。相反侧受光元件相对所述副光束受光元件配置在中介受光元件的相反侧。在校正所述副光束受光元件的受光结果时，使用如前所述的副光束校正用受光部分的受光结果。因此，能高精度地校正所述副光束受光元件的受光结果。这样能尽量抑制由非聚光记录层的主光束反射光引起的恶劣影响。
本发明中优选把所述中介受光元件和所述相反侧受光元件形成为一体。
根据本发明，由于把中介受光元件和相反侧受光元件形成为一体，所以不需要用于把中介受光元件的受光结果与相反侧受光元件的受光结果相加的加法电路。这样，能把校正部的电路结构简单化。
本发明的所述光学系统把光源的射出光分离成主光束和一对副光束并向光盘的记录层聚光，
所述第一受光部包括：主光束受光元件，其被配置在把来自聚光记录层的主光束反射光进行聚光的位置，接受来自聚光记录层的主光束的反射光；一对副光束受光元件，其被分别配置在把来自聚光记录层的各副光束反射光进行聚光的位置，分别接受来自聚光记录层的各副光束的反射光，
所述第二受光部具有用于校正主光束受光元件的受光结果的主光束校正用受光部分，该主光束校正用受光部分配置为从把来自聚光记录层的主光束反射光进行聚光的位置、和把来自聚光记录层的各副光束反射光进行聚光的位置这两者离开，与主光束受光元件邻接，接受来自非聚光记录层的主光束反射光，
所述校正部根据主光束校正用受光部分的受光结果校正主光束受光元件的受光结果。
根据本发明，光源的射出光被光学系统分离成主光束和一对副光束并向光盘的记录层聚光。来自聚光记录层的主光束反射光被光学系统聚光并由主光束受光元件受光。来自聚光记录层的各副光束反射光被光学系统聚光并分别由各副光束受光元件受光。
来自非聚光记录层的主光束反射光以比来自聚光记录层的各光束反射光扩展的状态到达受光部。考虑到这点，与主光束受光元件邻接地来配置主光束校正用受光部分。校正部根据主光束校正用受光部分的受光结果来校正主光束受光元件的受光结果。这样能抑制由非聚光记录层的主光束反射光而引起的恶劣影响。
本发明的所述主光束校正用受光部分优选具有：介于一侧副光束受光元件与主光束受光元件之间的一侧受光元件，和介于另一侧副光束受光元件与主光束受光元件之间的另一侧受光元件。
根据本发明，主光束校正用受光部分具有一侧受光元件和另一侧受光元件。一侧受光元件介于一侧副光束受光元件与主光束受光元件之间。另一侧受光元件介于另一侧副光束受光元件与主光束受光元件之间。在校正主光束受光元件的受光结果时，使用如前所述的主光束校正用受光部分的受光结果。因此，能高精度地校正主光束受光元件的受光结果。这样能尽量抑制由非聚光记录层的主光束反射光引起的恶劣影响。
本发明中优选把所述一侧受光元件和所述另一侧受光元件形成为一体。
根据本发明，由于把一侧受光元件和另一侧受光元件形成为一体，所以不需要用于把一侧受光元件的受光结果与另一侧受光元件的受光结果相加的加法电路。这样，能把校正部的电路结构简单化。
本发明的所述校正部根据来自非聚光记录层反射光向第一受光部的入射光量与向第二受光部的入射光量的比，预先设定第二受光部受光结果相对于第一受光部受光结果的放大度，
在校正第一受光部的受光结果时，把第二受光部的受光结果按所述放大度放大，并把该放大结果从第一受光部的受光结果中减去。
根据本发明，基于来自非聚光记录层反射光向第一受光部的入射光量与向第二受光部的入射光量的比，把第二受光部受光结果相对于第一受光部受光结果的放大度预先设定。在校正第一受光部的受光结果时，把第二受光部的受光结果按所述放大度放大，并把该放大结果从第一受光部的受光结果中减去。因此，能高精度地校正第一受光部的受光结果。这样能尽量地抑制由非聚光记录层的主光束反射光引起的恶劣影响。
本发明优选为所述受光部具有用于生成跟踪误差信号的、包括所述第一受光部和所述第二受光部的一对跟踪用受光部，
为了生成跟踪误差信号，所述光学系统把来自聚光记录层的反射光分割，并分别向各跟踪用受光部反射。
根据本发明，受光部具有用于生成跟踪误差信号的一对跟踪用受光部。来自聚光记录层的反射光被光学系统分割并分别向各跟踪用受光部反射。各跟踪用受光部包括第一受光部和第二受光部。根据第二受光部的受光结果校正第一受光部的受光结果。因此，能降低跟踪误差信号中由来自非聚光记录层反射光引起的干扰成分和偏离成分。这样能防止跟踪随动特性的恶化。
本发明的光分割体是在所述光拾取装置中，被所述光学系统所包含，将来自光盘记录层的反射光分割的光分割体，所述光拾取装置的所述受光部具有：用于生成对焦误差信号的对焦用受光部，和用于生成跟踪误差信号、且包括所述第一受光部和所述第二受光部的一对跟踪用受光部，
该光分割体的特征在于，具有：
把来自聚光记录层的反射光向对焦用受光部反射的对焦用分割区域，
和把来自聚光记录层的反射光分别向各跟踪用受光部反射的一对跟踪用分割区域。
根据本发明，来自聚光记录层的反射光被对焦用分割区域和各跟踪用受光部衍射并反射。来自对焦用分割区域的反射光以被聚光的状态到达对焦用受光部并被对焦用受光部受光。来自各跟踪用分割区域的反射光以被聚光的状态分别到达各跟踪用受光部并分别被各跟踪用受光部受光。根据对焦用受光部和各跟踪用受光部的各受光结果能生成对焦误差信号和跟踪误差信号。
各跟踪用受光部包括第一受光部和第二受光部。根据第二受光部的受光结果校正第一受光部的受光结果。因此，能降低跟踪误差信号中由来自非聚光记录层反射光引起的干扰成分和偏离成分。这样能防止跟踪随动特性的恶化。
本发明优选所述对焦用分割区域与所述一对跟踪用分割区域的边界线中，相对于所述光学系统基准光轴的半径方向靠近外侧的部分，沿着与所述基准光轴正交且向跟踪方向延伸的假想线。
根据本发明，对焦用分割区域与一对跟踪用分割区域的边界线中、相对于光学系统基准光轴的半径方向靠近外侧的部分，沿着与所述基准光轴正交且向跟踪方向延伸的假想线。因此，在利用刀刃法(ナイフエツジ法)生成对焦误差信号时，相对于对焦误差信号能增大振幅，且能良好地平衡正成分和负成分。
本发明优选所述对焦用分割区域与所述一对跟踪用分割区域的边界线中，相对于所述光学系统基准光轴的半径方向靠近外侧的部分，从所述假想线偏离，与该部分沿着与所述基准光轴正交且向跟踪方向延伸的假想线的情况相比、以增加所述一对跟踪用分割区域。
根据本发明，对焦用分割区域与一对跟踪用分割区域的边界线中、相对于光学系统基准光轴的半径方向靠近外侧的部分从所述假想线偏离，与该部分沿与所述基准光轴正交且向跟踪方向延伸的假想线的情况相比，能增加一对跟踪用分割区域。这样，相对于来自聚光记录层的反射光能增加到达各跟踪用受光部的光量。因此，相对于跟踪误差信号能提高S/N比。
本发明优选所述对焦用分割区域与所述一对跟踪用分割区域的边界线中，相对于所述光学系统基准光轴的半径方向靠近内侧的部分，从所述假想线偏离，以使来自非聚光记录层的反射光中0级衍射光向所述对焦用分割区域入射。
根据本发明，对焦用分割区域与一对跟踪用分割区域的边界线中、相对于光学系统基准光轴的半径方向靠近内侧的部分从所述假想线偏离，以使来自非聚光记录层的反射光中0级衍射光向对焦用分割区域入射。这样，来自非聚光记录层的反射光中0级衍射光不向跟踪用分割区域入射。因此，来自非聚光记录层的反射光中0级衍射光不到达各跟踪用受光部。其结果能抑制来自非聚光记录层的反射光中0级衍射光引起的对于跟踪误差信号的恶劣影响。
本发明的目的、特色和优点从下面的详细说明和附图能更加明确。
附图说明
图1是把本发明第一实施例光拾取装置的结构简略化表示的图；
图2是表示受光部结构的正面图；
图3是表示光分割体结构的正面图；
图4是表示光分割体与受光部关系的图；
图5是用于说明来自非聚光记录层的反射光受光状态的图；
图6是表示具备本发明第二实施例光拾取装置的受光部结构的正面图；
图7是表示光分割体结构的正面图；
图8是表示光分割体与受光部关系的图；
图9是用于说明来自非聚光记录层的反射光受光状态的图；
图10是表示具备本发明第三实施例光拾取装置的受光部结构的正面图；
图11是用于说明来自非聚光记录层的反射光受光状态的图；
图12是表示具备本发明第四实施例光拾取装置的受光部结构的正面图；
图13是用于说明来自非聚光记录层的反射光受光状态的图；
图14是把现有光拾取装置的结构简略化表示的图；
图15是表示光分割体一例的图；
图16是表示光分割体其他例的图；
图17是用于说明形成有双层记录层的光盘中光的透射和反射概要情况的图；
图18是用于说明在使用了图15所示的光分割体时，来自非聚光记录层的反射光受光状态的图；
图19是用于说明在使用了图16所示的光分割体时，来自非聚光记录层的反射光受光状态的图。
具体实施方式
以下参照附图详细说明本发明的实施例。
图1是把本发明第一实施例的光拾取装置40的结构简略化表示的图。本实施例的光拾取装置40相对于形成有多层记录层41的光盘42，从光盘42的一侧照射光，为了向光盘42的记录层41记录信息或从光盘42的记录层41再生信息而使用。
光盘42的各记录层41在光盘42的厚度方向上层积。再生专用光盘42的记录层41中，把坑列(ピツト列)形成螺旋状，利用坑列形成磁道。这种再生专用的光盘42利用坑列表现信息。记录用光盘42的记录层41把凸区(ランド)和凹槽(グル一ブ)形成螺旋状，利用凸区和凹槽来形成磁道。这种记录用的光盘42利用在凸区或凹槽形成的记录标记来表现信息。
作为光盘42的一例能举出数字多用盘(Digital Versatile Disc、简称DVD)。本实施例中作为光盘42设定被称为单面双层盘的DVD来进行说明。以下把光盘42的各记录层41中，后述的光源43的射出光聚光的记录层41被称为聚光记录层41a，光盘42的各记录层41中与聚光记录层41a不同的记录层41被称为非聚光记录层41b。
光拾取装置40包括：射出光的光源43、把光源43的射出光向光盘42的记录层41聚光并把来自光盘42记录层41的反射光进行聚光的光学系统44、经由光学系统44接受来自光盘42记录层41反射光的受光部45、根据受光部45的受光结果来调整光学系统44的光聚光位置的调整部46。这种光拾取装置40配置为使光学系统44的基准光轴L与利用主轴电动机而旋转的光盘42正交。
所述光源43由激光二极管实现。从光源43射出适合于光盘42记录再生的波长区域的光。本实施例中由于光盘42是DVD，所以作为光源43使用射出适合于DVD记录再生的650nm附近波长区域的光的激光二极管。650nm附近的波长区域是红色的波长区域。
所述光学系统44包括：使光源43的射出光衍射并分离成主光束47和一对副光束48、49的衍射光栅50、把来自衍射光栅50的各光束47～49分别变换成平行光的准直透镜51、把来自准直透镜51的各光束47～49向光盘42的记录层41聚光的物镜52、把来自光盘42记录层41的各光束47～49的反射光进行分割的光分割体53。
所述衍射光栅50周期性地形成有凹凸。主光束47是衍射光栅50的0级衍射光。各副光束48、49是衍射光栅50的±1级衍射光。各副光束48、49在光盘42的记录层41上相对主光束47向跟踪方向T1的两侧偏离，且向切线方向T2的两侧偏离。跟踪方向T1和切线方向T2与所述基准光轴L正交且相互正交。跟踪方向T1相当于光盘42的半径方向。切线方向T2相当于光盘42的切线方向。
所述物镜52在包含中立位置的可动范围内被驱动向对焦方向F和跟踪方向T1位移。在中立位置物镜52的光轴与所述基准光轴L是同轴。对焦方向F是沿所述基准光轴L的方向，是相对光盘42接近和离开的方向。
所述光分割体53夹在衍射光栅50与准直透镜51之间。光分割体53不衍射而是透射光源43的射出光，且相对于来自光盘42记录层41的反射光是透射且衍射。
所述调整部46具有：驱动物镜52向对焦方向F和跟踪方向T1位移的驱动部54和根据受光部45的受光结果来控制驱动部54的控制部55。控制部55根据受光部45的受光结果来生成跟踪误差信号和对焦误差信号，并根据这些信号来进行跟踪随动控制和对焦随动控制。这样，就能以使物镜52的聚光位置追随聚光记录层41a的磁道的方式，利用驱动部54来驱动物镜52向对焦方向F和跟踪方向T1位移。本实施例中控制部55具有校正受光部45受光结果的校正部56。
图2是表示受光部45结构的正面图。受光部45具有：为了生成对焦误差信号而使用的对焦用受光部71和为了生成跟踪误差信号而使用的一对跟踪用受光部72a、72b。对焦用受光部71和各跟踪用受光部72a、72b与切线方向T2并列。对焦用受光部(以下称为“FES受光部”)71相对于切线方向T2而被配置在与所述基准光轴L为同一位置处。一个跟踪用受光部(以下称为“第一TES受光部”)72a相对于FES受光部71被配置在切线方向T2的一侧并与FES受光部71空开间隔。另一个跟踪用受光部(以下称为“第二TES受光部”)72b相对于FES受光部71被配置在切线方向T2的另一侧并与FES受光部71空开间隔。
FES受光部71被配置在把来自聚光记录层41a的主光束反射光进行聚光的位置，具有接受来自聚光记录层41a的主光束反射光的一对主光束受光元件73、74。各主光束受光元件73、74在切线方向T2无间隙地邻接。各主光束受光元件73、74的边界线75包含在第一假想平面P1中。第一假想平面P1包含所述基准光轴L并与切线方向T2正交。以下把相对第一假想平面P1在一侧的主光束受光元件称为第一主光束受光元件73。把相对第一假想平面P1在另一侧的主光束受光元件称为第二主光束受光元件74。
第一TES受光部72a具有：配置在把来自聚光记录层41a的反射光进行聚光的位置而接受来自聚光记录层41a反射光的第一受光部76a，和从把来自聚光记录层41a的反射光进行聚光的位置离开而配置为与第一受光部76a邻接并接受来自非聚光记录层41b反射光的第二受光部77a。
第一受光部76a具有：配置在把来自聚光记录层41a的主光束反射光进行聚光的位置而接受来自聚光记录层41a主光束反射光的主光束受光元件80a，和被分别配置在把来自聚光记录层41a的各副光束反射光进行聚光的位置而分别接受来自聚光记录层41a各副光束反射光的一对副光束受光元件81a、82a。主光束受光元件80a和各副光束受光元件81a、82a在切线方向T2并列。一个副光束受光元件(以下称为“第一副光束受光元件”)81a相对于主光束受光元件80a配置在切线方向T2的一侧并与主光束受光元件80a空开间隔。另一个副光束受光元件(以下称为“第二副光束受光元件”)82a相对于主光束受光元件80a配置在切线方向T2的另一侧并与主光束受光元件80a空开间隔。
第二受光部77a具有副光束校正用受光部分83a，用于校正一对副光束受光元件81a、82a中、来自非聚光记录层41b的主光束反射光到达的副光束受光元件即第一副光束受光元件81a的受光结果。副光束校正用受光部分83a从把来自聚光记录层41a的主光束反射光进行聚光的位置和把来自聚光记录层41a的各副光束反射光进行聚光的位置这两者离开，而配置为与第一副光束受光元件81a邻接，接受来自非聚光记录层41b的主光束反射光。本实施例中副光束校正用受光部分83a具有夹在第一副光束受光元件81a与主光束受光元件80a之间的中介受光元件84a。
由于第二TES受光部72b与第一TES受光部72a相同，所以为了避免重复而省略说明。在对应部分的符号上使用同一数字，而符号的末尾替代“a”而使用“b”。
受光部45的各受光元件73、74、80a～82a、84a、80b～82b、84b形成有大致长方形的受光面。各受光元件73、74、80a～82a、84a、80b～82b、84b的受光面在跟踪方向T1延伸。这种各受光元件73、74、80a～82a、84a、80b～82b、84b由光电二极管实现。
图3是表示光分割体53结构的正面图。光分割体53由全息元件实现。光分割体53沿与所述基准光轴L垂直的第二假想平面设置。在沿所述基准光轴L的方向看时，光分割体53形成为包含有来自聚光记录层41a反射光通过的通过区域。本实施例的光分割体53从沿所述基准光轴L的方向所看到的外形是以所述基准光轴L为中心的圆形。
光分割体53具有：把来自聚光记录层41a的反射光向FES受光部71反射的对焦用分割区域91，和把来自聚光记录层41a的反射光分别向一对TES受光部72a、72b反射的一对跟踪用分割区域92a、92b。对焦用分割区域91和各跟踪用分割区域92a、92b沿与所述基准光轴L垂直的第二假想平面设置。对焦用分割区域91和各跟踪用分割区域92a、92b形成有多个槽。根据衍射效率和受光部45的配置等来设定这些槽的深度和间隔。利用这种槽来形成全息图形。
在此为了说明方便而设定有第一假想线86和第二假想线87。第一假想线86在所述第二假想平面内与所述基准光轴L正交且向跟踪方向T1延伸。第二假想线87在所述第二假想平面内与所述基准光轴L正交且向切线方向T2延伸。
大致叙述就是，对焦用分割区域(以下称为“FES分割区域”)91其大部分相对第一假想线86被配置在一侧。一个跟踪用分割区域(以下称为“第一TES分割区域”)92a配置为相对第一假想线86在另一侧且相对第二假想线87在一侧，另一个跟踪用分割区域(以下称为“第二TES分割区域”)92b配置为相对第一假想线86在另一侧且相对第二假想线87在另一侧。
光分割体53形成有：FES分割区域91与各TES分割区域92a、92b的边界线即第一边界线93，和第一TES分割区域92a与第二TES分割区域92b的边界线即第二边界线94。第一边界线93大致沿第一假想线86形成，两端部与光分割体53的边缘95连接。第一边界线93中相对于所述基准光轴L的半径方向靠近外侧的部分96沿第一假想线86形成。第一边界线93中相对于所述基准光轴L的半径方向靠近内侧的部分97从第一假想线86偏离而相对于第一假想线86向另一侧形成，在本实施例中被形成为以所述基准光轴L为中心的半圆弧状。第二边界线94沿第二假想线87形成，一端部与第一边界线93两端部之间的中间部连接，另一端部与光分割体53的边缘95连接。
换言之，FES分割区域91具有：在光分割体53整体中、相对第一假想线86由一侧部分构成的本体部分98，和与本体部分98相连且从本体部分98相对第一假想线86向另一侧突出的突出部分99。本实施例中，突出部分99被形成为以所述基准光轴L为中心的半圆形状。第一TES分割区域92a由这样的部分构成：从在光分割体53整体中相对第一假想线86在另一侧、且相对第二假想线87在一侧的部分中，把与所述突出部分99重叠的部分除去的残余部分。第二TES分割区域92b由这样的部分构成：从在光分割体53整体中相对第一假想线86在另一侧、且相对第二假想线87在另一侧的部分中，把与所述突出部分99重叠的部分除去的残余部分。
图4是表示光分割体53与受光部45关系的图。为了容易理解，图4中省略了来自非聚光记录层41b的反射光而仅表示来自聚光记录层41a的反射光。来自聚光记录层41a的主光束反射光和来自聚光记录层41a的各副光束反射光向光分割体53入射。
来自聚光记录层41a的主光束反射光被FES分割区域91和各TES分割区域92a、92b衍射并反射。来自FES分割区域91的反射光以被聚光的状态到达FES受光部71的各主光束受光元件73、74的边界线75附近，并在这些各主光束受光元件73、74上形成光斑101。来自第一TES分割区域92a的反射光以被聚光的状态到达第一TES受光部72a的主光束受光元件80a并在该主光束受光元件80a上形成光斑102。来自第二TES分割区域92b的反射光以被聚光的状态到达第二TES受光部72b的主光束受光元件80b，并在该主光束受光元件80b上形成光斑103。
来自聚光记录层41a的各副光束反射光被FES分割区域91和各TES分割区域92a、92b衍射并反射。来自FES分割区域91的各反射光以被聚光的状态分别到达第一TES受光部72a与FES受光部71之间的部分、以及第二TES受光部72b与FES受光部71之间的部分，并分别在第一TES受光部72a与FES受光部71之间的部分、以及第二TES受光部72b与FES受光部71之间的部分形成光斑104、105。来自第一TES分割区域92a的各反射光以被聚光的状态分别到达第一TES受光部72a的各副光束受光元件81a、82a，并分别在这些各副光束受光元件81a、82a上形成光斑106、107。来自第二TES分割区域92b的各反射光以被聚光的状态分别到达第二TES受光部72b的各副光束受光元件81b、82b，并分别在这些各副光束受光元件81b、82b上形成光斑108、109。
来自聚光记录层41a的反射光不到达第一TES受光部72a的中介受光元件84a和第二TES受光部72b的中介受光元件84b。详细说就是，来自聚光记录层41a的主光束反射光和来自聚光记录层41a的各副光束反射光不到达各中介受光元件84a、84b。
图5是用于说明来自非聚光记录层41b的反射光受光状态的图。为了容易理解，图5中省略了来自聚光记录层41a的反射光而仅表示来自非聚光记录层41b的反射光。为了更加容易理解，图5中省略了来自非聚光记录层41b的各副光束的反射光而仅表示来自非聚光记录层41b的主光束的反射光。图5设定为在从光源43侧看光盘42时，非聚光记录层41b位于聚光记录层41a内侧的情况。来自非聚光记录层41b的主光束0级衍射光和来自非聚光记录层41b的主光束±1级衍射光向光分割体53入射。
来自非聚光记录层41b的主光束0级衍射光在光分割体53上的所述基准光轴L附近形成光斑111。该光斑111在光分割体53的各分割区域91、92a、92b中仅形成在FES分割区域91。反过来说就是，为了使该光斑111在光分割体53的各分割区域91、92a、92b中仅形成在FES分割区域91，设定光分割体53，特别是FES分割区域91的突出部分99的形状和尺寸。优选设定FES分割区域91的突出部分99形状和尺寸，以即使在所述光斑111最大时也把所述光斑111整体包含。所述光斑111最大是指聚光记录层41a与非聚光记录层41b之间层的折射率最大，且聚光记录层41a与非聚光记录层41b之间的层间隔最小时的情况。
来自非聚光记录层41b的主光束0级衍射光被FES分割区域91衍射并反射。来自非聚光记录层41b的主光束0级衍射光的、来自FES分割区域91的反射光到达FES受光部71，并在该FES受光部71上形成光斑113。该光斑113比来自聚光记录层41a主光束反射光的光斑101扩展。本实施例中，来自非聚光记录层41b的主光束0级衍射光的、来自FES分割区域91的反射光由FES受光部71的各主光束受光元件73、74受光。
来自非聚光记录层41b的主光束±1级衍射光在光分割体53上相对于所述基准光轴L分别在跟踪方向T1的两侧形成光斑112a、112b。+1级衍射光的光斑112a跨越第一TES分割区域92a和FES分割区域91形成。-1级衍射光的光斑112b跨越第二TES分割区域92b和FES分割区域91形成。
来自非聚光记录层41b的主光束±1级衍射光被FES分割区域91衍射并反射。来自非聚光记录层41b的主光束±1级衍射光的、来自FES分割区域91的反射光到达FES受光部71，并在该FES受光部71上形成大致共通的光斑114。该光斑114比来自聚光记录层41a主光束反射光的光斑101扩展。本实施例中来自非聚光记录层41b的主光束±1级衍射光的、来自FES分割区域91的反射光由FES受光部71的第二主光束受光元件74受光。
来自非聚光记录层41b的主光束+1级衍射光被第一TES分割区域92a衍射并反射。来自非聚光记录层41b的主光束+1级衍射光的、来自第一TES分割区域92a的反射光到达第一TES受光部72a，并在该第一TES受光部72a上形成光斑115a。该光斑115a比来自聚光记录层41a各光束反射光的各光斑102、106、107扩展。本实施例中，来自非聚光记录层41b的主光束+1级衍射光的、来自第一TES分割区域92a的反射光由第一TES受光部72a的主光束受光元件80a、第一副光束受光元件81a和中介受光元件84a受光。
来自非聚光记录层41b的主光束-1级衍射光被第二TES分割区域92b衍射并反射。来自非聚光记录层41b的主光束-1级衍射光的、来自第一TES分割区域92a的反射光到达第二TES受光部72b，并在该第二TES受光部72b形成光斑115b。该光斑115b比来自聚光记录层41a各光束反射光的各光斑103、108、109扩展。本实施例中，来自非聚光记录层41b的主光束-1级衍射光的、来自第二TES分割区域92b反射光由第二TES受光部72b的主光束受光元件80b、第一副光束受光元件81b和中介受光元件84b受光。
对焦误差信号通过刀刃法生成。本实施例中把光分割体53的第一边界线93作为刀刃。刀刃法通过取FES受光部71中各主光束受光元件73、74的受光结果S73、S74的差来得到对焦误差信号。具体说就是对焦误差信号FES能由以下的式(1)的运算来得到。
FES＝S73-S74    (1)
光源43的射出光相对聚光记录层41a在光源43侧(近侧)聚结焦点时，来自聚光记录层41a的反射光相对FES受光部71在跟前侧聚结焦点。这时，第二主光束受光元件74的受光结果S74比第一主光束受光元件73的受光结果S73大，对焦误差信号FES是负的。
相反，光源43的射出光相对聚光记录层41a在光源43侧相反的内侧(远侧)聚结假想焦点时，来自聚光记录层41a的反射光相对FES受光部71在内侧聚结假想焦点。这时，第一主光束受光元件73的受光结果S73比第二主光束受光元件74的受光结果S74大，对焦误差信号FES是正的。
跟踪误差信号通过差动推挽法(Differential Push Pull，简称DPP)生成。DPP法根据第一TES受光部72a的受光结果和第二TES受光部72b的受光结果生成跟踪误差信号。
在生成跟踪误差信号时，各TES受光部72a、72b根据第二受光部77a、77b的受光结果来校正第一受光部76a、76b的受光结果。本实施例中第一TES受光部72a中，根据副光束校正用受光部分83a即中介受光元件84a的受光结果S84a来校正第一副光束受光元件81a的受光结果S81a。第二TES受光部72b中，根据副光束校正用受光部分83b即中介受光元件84b的受光结果S84b来校正第一副光束受光元件81b的受光结果S81b。具体说就是通过以下的式(2)和式(3)的运算来进行校正。
S81a R＝S81a-k11×S84a    (2)
S81b R＝S81b-k12×S84b    (3)
上述式(2)和式(3)中，S81a R和S81b R是校正第一副光束受光元件81a、81b受光结果S81a、S81b的校正结果。k11和k12是系数，是相对第一副光束受光元件81a、81b受光结果S81a、S81b的中介受光元件84a、84b受光结果S84a、S84b的放大度。放大度根据来自非聚光记录层41b的主光束±1级衍射光中、向第一副光束受光元件81a、81b的入射光量与向中介受光元件84a、84b的入射光量的比而预先设定。
跟踪误差信号TES能通过以下的式(4)的运算得到。
TES＝(S80a-S80b)-k13×{(S81a R-S81b R)+(S82a-S82b)}(4)
式(4)中，(S80a-S80b)是主光束的推挽信号。(S81a R-S81b R)和(S82a-S82b)是各副光束的推挽信号。在使用DPP法时，使各副光束推挽信号的相位相对主光束推挽信号的相位错开180度，以此设定衍射光栅50的凹凸间距。这样，能消除跟踪误差信号中表现出的由物镜52的漂移而引起的偏离。k13是系数，用于校正主光束与各副光束光强度的不同。强度比若为主光束∶一个副光束∶另一个副光束＝a∶b∶b时，则k13＝a/(2b)。k13能根据衍射光栅50的槽的深度来决定。
信息再生信号能通过取FES受光部71中各主光束受光元件73、74的受光结果S73、S74、第一TES受光部72a中主光束受光元件80a的受光结果S80a和第二TES受光部72b中主光束受光元件80b的受光结果S80b的和来得到。具体说就是信息再生信号RF能通过以下的式(5)的运算得到。
RF＝S73+S74+S80a+S80b    (5)
根据以上的本实施例，来自非聚光记录层41b的主光束±1级衍射光的、来自各TES分割区域92a、92b的反射光由各TES受光部72a、72b的第一副光束受光元件81a、81b受光。考虑到这点，如前所述，校正部56根据中介受光元件84a、84b的受光结果S84a、S84b来校正第一副光束受光元件81a、81b的受光结果S81a、S81b。因此，相对于跟踪误差信号能抑制由来自非聚光记录层41b的主光束±1级衍射光所引起的恶劣影响。
由于各副光束的光强度相对主光束的光强度低到1/10左右，所以在生成跟踪误差信号时，把各副光束受光元件81a、81b、82a、82b的受光结果S81a、S81b、S82a、S82b的放大度设定为大于各主光束受光元件80a、80b的受光结果S80a、S80b的放大度。因此来自非聚光记录层41b的主光束±1级衍射光被各副光束受光元件81a、81b、82a、82b受光时就产生大的恶劣影响。于是如前所述校正第一副光束受光元件81a、81b的受光结果S81a、S81b。这样，能有效地抑制由来自非聚光记录层41b的主光束±1级衍射光所引起的恶劣影响。
在校正第一副光束受光元件81a、81b的受光结果S81a、S81b时，把中介受光元件84a、84b的受光结果S84a、S84b放大，并把该放大结果从第一副光束受光元件81a、81b的受光结果S81a、S81b中减去(参照上述式(2)和式(3))。根据来自非聚光记录层41b的主光束±1级衍射光中向第一副光束受光元件81a、81b的入射光量与向中介受光元件84a、84b的入射光量的比，预先设定相对第一副光束受光元件81a、81b受光结果S81a、S81b的中介受光元件84a、84b受光结果S84a、S84b的放大度。因此能高精度地校正第一副光束受光元件81a、81b的受光结果S81a、S81b。这样，能尽量地抑制由来自非聚光记录层41b的主光束±1级衍射光所引起的恶劣影响。
以使来自非聚光记录层41b的主光束0级衍射光在光分割体53的各分割区域91、92a、92b中仅向FES分割区域91入射的方式，设定光分割体53，特别是FES分割区域91的突出部分99的形状和尺寸。这样，来自非聚光记录层41b的主光束0级衍射光不向TES分割区域92a、92b入射。因此，来自非聚光记录层41b的主光束0级衍射光不到达各TES受光部72a、72b。其结果是相对于跟踪误差信号能抑制由来自非聚光记录层41b的主光束0级衍射光的恶劣影响。
这样，相对于跟踪误差信号能抑制由来自非聚光记录层41b的主光束0级衍射光的恶劣影响，而且能抑制由来自非聚光记录层41b的主光束±1级衍射光的恶劣影响。这样，相对于跟踪误差信号能减少由来自非聚光记录层41b的主光束反射光所引起的干扰成分和偏离成分。这样能防止跟踪随动特性的恶化。
来自非聚光记录层41b的主光束0级衍射光中来自FES分割区域91的反射光由FES受光部71的各主光束受光元件73、74受光。但来自FES分割区域91的反射光与来自聚光记录层41a的主光束反射光相比，被形成非常模糊的光斑113。因此，在FES受光部71的各主光束受光元件73、74中来自非聚光记录层41b的主光束0级衍射光的入射光量与来自聚光记录层41a的主光束反射光的入射光量相比，足够小。而且在生成对焦误差信号时，取FES受光部71的各主光束受光元件73、74的受光结果S73、S74的差(参照上述式(1))。因此，包含在各主光束受光元件73、74受光结果S73、S74中的干扰相互抵消。其结果是相对于对焦误差信号能把来自非聚光记录层41b的主光束0级衍射光所引起的干扰成分和偏离成分变得非常小。
来自非聚光记录层41b的主光束±1级衍射光中，来自FES分割区域91的反射光由FES受光部71的第二主光束受光元件74受光。但来自FES分割区域91的反射光与来自聚光记录层41a的主光束反射光相比形成非常模糊的光斑114。且来自非聚光记录层41b的主光束±1级衍射光的光强度与来自聚光记录层41a的主光束反射光的光强度相比，非常小。因此，相对于对焦误差信号能把来自非聚光记录层41b的主光束±1级衍射光所引起的干扰成分和偏离成分变得非常小。
光分割体53的第一边界线93中相对于所述基准光轴L的半径方向而靠近外侧的部分96，沿第一假想线86形成。因此在利用刀刃法生成对焦误差信号时相对于对焦误差信号能增大振幅，且能良好平衡正成分和负成分。
图6是表示具备本发明第二实施例光拾取装置的受光部120结构的正面图。由于本实施例的光拾取装置与上述第一实施例的光拾取装置40类似，所以在同一部分上付与同一符号而省略说明，仅对不同点进行说明。
第一TES受光部72a的第二受光部77a具有：用于校正第一副光束受光元件81a的受光结果的第一副光束校正用受光部分121a，和用于校正第二副光束受光元件82a的受光结果的第二副光束校正用受光部分122a。
第一副光束校正用受光部分121a从把来自聚光记录层41a的主光束反射光进行聚光的位置和把来自聚光记录层41a的各副光束反射光进行聚光的位置这两者离开，而配置为与第一副光束受光元件81a邻接。第一副光束校正用受光部分121a具有夹在第一副光束受光元件81a与主光束受光元件80a之间的中介受光元件123a。
第二副光束校正用受光部分122a从把来自聚光记录层41a的主光束反射光进行聚光的位置和把来自聚光记录层41a的各副光束反射光进行聚光的位置这两者离开，而配置为与第二副光束受光元件82a邻接。第二副光束校正用受光部分122a具有夹在第二副光束受光元件82a与主光束受光元件80a之间的中介受光元件124a。
第一TES受光部72a中第二受光部77a的各中介受光元件123a、124a形成有大致长方形的受光面。各中介受光元件123a、124a的受光面向跟踪方向T1延伸。这种各中介受光元件123a、124a由光电二极管实现。
由于第二TES受光部72b的第二受光部77b与第一TES受光部72a的第二受光部77a相同，所以为了避免重复而省略说明。在对应部分的符号上使用同一数字，而符号的末尾替代“a”而使用“b”。
图7是表示光分割体130结构的正面图。FES分割区域131其大部分相对第一假想线86被配置在一侧。第一TES分割区域132a配置为其大部分相对第一假想线86在另一侧且相对第二假想线87在一侧。第二TES分割区域132b配置为其大部分相对第一假想线86在另一侧且相对第二假想线87在另一侧。
第一边界线93中相对于所述基准光轴L的半径方向靠近外侧的部分96从第一假想线86偏离，以与该部分96沿第一假想线86形成的情况相比增加一对TES分割区域132a、132b。本实施例第一边界线93中相对于所述基准光轴L的半径方向靠近外侧的部分96相对第一假想线86倾斜，以随着相对于所述基准光轴L向外侧而从第一假想线86离开。
图8是表示光分割体130与受光部120关系的图。为了容易理解图8中省略了来自非聚光记录层41b的反射光而仅表示来自聚光记录层41a的反射光。
来自聚光记录层41a的反射光不到达第一TES受光部72a的各中介受光元件123a、124a。详细说就是，来自聚光记录层41a的主光束反射光和来自聚光记录层41a的各副光束反射光不到达各中介受光元件123a、124a。
来自聚光记录层41a的反射光不到达第二TES受光部72b的各中介受光元件123b、124b。详细说就是，来自聚光记录层41a的主光束反射光和来自聚光记录层41a的各副光束反射光不到达各中介受光元件123b、124b。
图9是用于说明来自非聚光记录层41b的反射光受光状态的图。为了容易理解图9中省略了来自聚光记录层41a的反射光而仅表示来自非聚光记录层41b的反射光。为了更加容易理解图9中省略了来自非聚光记录层41b的各副光束的反射光而仅表示来自非聚光记录层41b的主光束的反射光。图9设定为在从光源43侧看光盘42时，非聚光记录层41b位于聚光记录层41a内侧的情况。
来自非聚光记录层41b的主光束±1级衍射光在光分割体130上相对于所述基准光轴L分别在跟踪方向T1的两侧形成光斑112a、112b。+1级衍射光的光斑112a形成在第一TES分割区域132a。-1级衍射光的光斑112b形成在第二TES分割区域132b。
来自非聚光记录层41b的主光束+1级衍射光被第一TES分割区域132a衍射并反射。对于来自非聚光记录层41b的主光束+1级衍射光，来自第一TES分割区域132a的反射光到达第一TES受光部72a，并在该第一TES受光部72a上形成光斑135a。该光斑135a比来自聚光记录层41a各光束反射光的各光斑102、106、107扩展。本实施例中，来自非聚光记录层41b的主光束+1级衍射光的来自第一TES分割区域132a的反射光由第一TES受光部72a的主光束受光元件80a、各副光束受光元件81a、82a和各中介受光元件123a、124a受光。
来自非聚光记录层41b的主光束-1级衍射光被第二TES分割区域132b衍射并反射。来自非聚光记录层41b的主光束-1级衍射光的来自第二TES分割区域132b的反射光到达第二TES受光部72b，并在该第二TES受光部72b上形成光斑135b。该光斑135b比来自聚光记录层41a各光束反射光的各光斑103、108、109扩展。本实施例中，来自第二TES分割区域132b的反射光由第二TES受光部72b的主光束受光元件80b、各副光束受光元件81b、82b和各中介受光元件123b、124b受光。
在生成跟踪误差信号时，各TES受光部72a、72b根据第二受光部77a、77b的受光结果校正第一受光部76a、76b的受光结果。本实施例中，第一TES受光部72a根据各中介受光元件123a、124a的受光结果S123a、S124a校正各副光束受光元件81a、82a的受光结果S81a、S82a。第二TES受光部72b根据各中介受光元件123b、124b的受光结果S123b、S124b校正各副光束受光元件81b、82b的受光结果S81b、S82b。具体说就是，通过以下的式(6)～式(9)的运算来进行校正。
S81a R＝S81a-k21×S123a    (6)
S82a R＝S82a-k22×S124a    (7)
S81b R＝S81b-k23×S123b    (8)
S82b R＝S82b-k24×S124b    (9)
上述式(6)和式(7)中，S81a R和S82a R是校正第一TES受光部72a中各副光束受光元件81a、82a受光结果S81a、S82a的校正结果。k21和k22是系数，是相对第一TES受光部72a中各副光束受光元件81a、82a受光结果S81a、S82a的、各中介受光元件123a、124a受光结果S123a、S124a的放大度。放大度根据来自非聚光记录层41b的主光束+1级衍射光中向各副光束受光元件81a、82a的入射光量与向各中介受光元件123a、124a的入射光量的比而预先设定。
上述式(8)和式(9)中，S81b R和S82b R是校正第二TES受光部72b中各副光束受光元件81b、82b受光结果S81b、S82b的校正结果。k23和k24是系数，是相对第二TES受光部72b中各副光束受光元件81b、82b受光结果S81b、S82b的、各中介受光元件123b、124b受光结果S123b、S124b的放大度。放大度根据来自非聚光记录层41b的主光束-1级衍射光中向各副光束受光元件81b、82b的入射光量与向各中介受光元件123b、124b的入射光量的比而预先设定。
跟踪误差信号TES能通过以下的式(10)的运算得到。
TES＝(S80a-S80b)-k25×{(S81a R-S81b R)+(S82a R-S82b R)}(10)
式(10)中，(S80a-S80b)是主光束的推挽信号。(S81a R-S81b R)和(S82a R-S82b R)是各副光束的推挽信号。k25是系数，用于校正主光束与各副光束光强度的不同。
以上的本实施例也能达到与上述第一实施例同样的效果。根据本实施例，光分割体130的第一边界线93中、相对于所述基准光轴L的半径方向靠近外侧的部分96从第一假想线86偏离，以与该部分96沿第一假想线86形成的情况相比增加一对TES分割区域132a、132b。这样，能使来自聚光记录层41a的反射光增加到达各TES受光部72a、72b的光量。因此相对于跟踪误差信号能提高S/N比。
图10是表示具备本发明第三实施例光拾取装置的受光部140结构的正面图。由于本实施例的光拾取装置与上述第二实施例的光拾取装置类似，所以在同一部分上付与同一符号而省略说明，仅对不同点进行说明。
第一TES受光部72a的第二受光部77a具有：用于校正第一副光束受光元件81a的受光结果的第一副光束校正用受光部分141a、用于校正第二副光束受光元件82a的受光结果的第二副光束校正用受光部分142a、用于校正主光束受光元件80a的受光结果的主光束校正用受光部分143a。
第一副光束校正用受光部分141a从把来自聚光记录层41a的主光束反射光进行聚光的位置和把来自聚光记录层41a的各副光束反射光进行聚光的位置这两者离开，配置为与第一副光束受光元件81a邻接。第一副光束校正用受光部分141a具有：夹在第一副光束受光元件81a与主光束受光元件80a之间的中介受光元件144a，相对第一副光束受光元件81a而被配置在中介受光元件144a相反侧的相反侧受光元件145a。
第二副光束校正用受光部分142a从把来自聚光记录层41a的主光束反射光进行聚光的位置和把来自聚光记录层41a的各副光束反射光进行聚光的位置这两者离开，配置为与第二副光束受光元件82a邻接。第二副光束校正用受光部分142a具有：夹在第二副光束受光元件82a与主光束受光元件80a之间的中介受光元件146a，相对第二副光束受光元件82a而被配置在中介受光元件146a相反侧的相反侧受光元件147a。
主光束校正用受光部分143a从把来自聚光记录层41a的主光束反射光进行聚光的位置和把来自聚光记录层41a的各副光束反射光进行聚光的位置这两者离开，配置为与主光束受光元件80a邻接。主光束校正用受光部分143a具有：夹在第一副光束受光元件81a与主光束受光元件80a之间的一侧受光元件148a，夹在第二副光束受光元件82a与主光束受光元件80a之间的另一侧受光元件149a。
第一TES受光部72a中第二受光部77a的各受光元件144a～149a形成有大致长方形的受光面。各受光元件144a～149a的受光面在踪方向T1延伸。这种各受光元件144a～149a由光电二极管实现。来自聚光记录层41a的反射光不到达各受光元件144a～149a。详细说就是，来自聚光记录层41a的主光束反射光和来自聚光记录层41a的各副光束反射光不到达各受光元件144a～149a。
由于第二TES受光部72b的第二受光部77b与第一TES受光部72a的第二受光部77a相同，所以为了避免重复而省略说明。在对应部分的符号上使用同一数字，而符号的末尾替代“a”而使用“b”。
图11是用于说明来自非聚光记录层41b的反射光受光状态的图。为了容易理解图11中省略了来自聚光记录层41a的反射光而仅表示来自非聚光记录层41b的反射光。图11设定为在从光源43侧看光盘42时，非聚光记录层41b位于聚光记录层41a内侧的情况。来自非聚光记录层41b的各光束0级衍射光和来自非聚光记录层41b的各光束±1级衍射光向光分割体130入射。
来自非聚光记录层41b的各光束0级衍射光在光分割体130上的所述基准光轴L附近分别形成光斑151、152、153。这些各光斑151～153在光分割体130的各分割区域131、132a、132b中仅形成在FES分割区域131。反过来说就是，为了使这些各光斑151～153在光分割体130的各分割区域131、132a、132b中仅形成在FES分割区域131，设定光分割体130，特别是FES分割区域131的突出部分99的形状和尺寸。优选将FES分割区域131的突出部分99形状和尺寸设定为即使在所述各光斑151～153最大时也把所述各光斑151～153整体包含。所述各光斑151～153最大是指聚光记录层41a与非聚光记录层41b之间层的折射率最大，且聚光记录层41a与非聚光记录层41b之间的层间隔最小时的情况。
来自非聚光记录层41b的各光束0级衍射光被FES分割区域131衍射并反射。来自非聚光记录层41b的各光束0级衍射光的、来自FES分割区域131的各反射光到达FES受光部71，并在该FES受光部71上分别形成光斑161、162、163。这些各光斑161～163比来自聚光记录层41a主光束反射光的光斑101扩展。本实施例中来自非聚光记录层41b的各光束0级衍射光的、来自FES分割区域131的各反射光由FES受光部71的各主光束受光元件73、74受光。
来自非聚光记录层41b的各光束+1级衍射光在光分割体130上相对所述基准光轴L在跟踪方向T1的一侧分别形成光斑154a、155a、156a。这些各光斑154a～156a在光分割体130中仅形成在第一TES分割区域132a。反过来说就是，为了使这些各光斑154a～156a在光分割体130的各分割区域131、132a、132b中仅形成在第一TES分割区域132a，以此设定光分割体130，特别是第一TES分割区域132a的形状和尺寸。
来自非聚光记录层41b的各光束+1级衍射光被第一TES分割区域132a衍射并反射。来自非聚光记录层41b的各光束+1级衍射光的、来自第一TES分割区域132a的反射光到达第一TES受光部72a，并在该第一TES受光部72a上分别形成光斑164a、165a、166a。这些各光斑164a～166a比来自聚光记录层41a各光束反射光的各光斑102、106、107扩展。本实施例中来自非聚光记录层41b的各光束+1级衍射光的、来自第一TES分割区域132a的各反射光由第一TES受光部72a的各受光元件80a～82a、144a～149a受光。
来自非聚光记录层41b的各光束-1级衍射光在光分割体130上相对所述基准光轴L在跟踪方向T1的另一侧分别形成光斑154b、155b、156b。这些各光斑154b～156b在光分割体130中仅形成在第二TES分割区域132b。反过来说就是，为了使这些各光斑154b～156b在光分割体130的各分割区域131、132a、132b中仅形成在第二TES分割区域132b地这样来设定光分割体130，特别是第二TES分割区域132b的形状和尺寸。
来自非聚光记录层41b的各光束-1级衍射光被第二TES分割区域132b衍射并反射。来自非聚光记录层41b的各光束-1级衍射光的、来自第二TES分割区域132b的各反射光到达第二TES受光部72b，并在该第二TES受光部72b上分别形成光斑164b、165b、166b。这些各光斑164b～166b比来自聚光记录层41a各光束反射光的各光斑103、108、109扩展。本实施例中来自非聚光记录层41b各光束-1级衍射光的、来自第二TES分割区域132b的各反射光由第二TES受光部72b的各受光元件80b～82b、144b～149b受光。
在生成跟踪误差信号时，各TES受光部72a、72b根据第二受光部77a、77b的受光结果来校正第一受光部76a、76b的受光结果。
第一TES受光部72a根据第一副光束校正用受光部分141a的中介受光元件144a和相反侧受光元件145a的受光结果S144a、S145a，校正第一副光束受光元件81a的受光结果S81a。且根据第二副光束校正用受光部分142a的中介受光元件146a和相反侧受光元件146a的受光结果S146a、S147a，校正第二副光束受光元件82a的受光结果S82a。根据主光束校正用受光部分143a的一侧受光元件148a和另一侧受光元件149a的受光结果S148a、S149a，校正主光束受光元件80a的受光结果S80a。第二TES受光部72b也是同样。具体说就是通过以下的式(11)～式(16)的运算来进行校正。
S81a R＝S81a-k31×(S144a+S145a)    (11)
S82a R＝S82a-k32×(S146a+S147a)    (12)
S80a R＝S80a-k33×(S148a+S149a)    (13)
S81b R＝S81b-k34×(S144b+S145b)    (14)
S82b R＝S82b-k35×(S146b+S147b)    (15)
S80b R＝S80b-k36×(S148b+S149b)    (16)
上述式(11)～式(13)中，S81a R、S82a R和S80a R是校正第一TES受光部72a中各副光束受光元件81a、82a和主光束受光元件80a受光结果S81a、S82a、S80a的校正结果。上述式(14)～式(16)中，S81b R、S82bR和S80b R是校正第二TES受光部72b中各副光束受光元件81b、82b和主光束受光元件80b受光结果S81b、S82b、S80b的校正结果。K31～k36是表示放大度的系数。放大度根据入射光量的比而预先设定。
跟踪误差信号TES通过以下的式(17)的运算得到。
TES＝(S80a R-S80b R)-k37×{(S81a R-S81b R)+(S82a R-S82b R)}(17)
式(17)中，(S80a-S80b)是主光束的推挽信号。(S81a R-S81b R)和(S82a R-S82b R)是各副光束的推挽信号。K37是系数，用于校正主光束与各副光束光强度的不同。
以上的本实施例也能达到与上述第二实施例同样的效果。根据本实施例，来自非聚光记录层41b的各光束±1级衍射光的、来自各TES分割区域132a、132b的反射光由各TES受光部72a、72b的主光束受光元件80a、80b受光。考虑到这点，如前所述，校正部56校正各光束受光元件80a、80b的受光结果。因此，相对于跟踪误差信号能更加抑制由来自非聚光记录层41b的主光束±1级衍射光所引起的恶劣影响。
在校正各TES受光部72a、72b的主光束受光元件80a、80b的受光结果时，使用了一侧受光元件148a、148b和另一侧受光元件149a、149b的各受光结果。这样，能高精度校正各TES受光部72a、72b的主光束受光元件80a、80b的受光结果。在校正第一TES受光部72a的第一副光束受光元件81a的受光结果时，使用了中介受光元件144a和相反侧受光元件145a的各受光结果。这样，能高精度校正第一TES受光部72a的第一副光束受光元件81a的受光结果。相对于其他的副光束受光元件82a、81b、82b也是同样。因此能尽量地抑制由来自非聚光记录层41b的各光束±1级衍射光所引起的恶劣影响。
图12是表示的本发明第四实施例光拾取装置所具有的受光部170结构的正面图。由于本实施例的光拾取装置与上述第三实施例的光拾取装置类似，所以在同一部分上付与同一符号而省略说明，仅对不同点进行说明。
第一TES受光部72a的第二受光部77a中，第一副光束校正用受光部分171a构成为中介受光元件144a和相反侧受光元件145a形成为一体。本实施例把第一副光束校正用受光部分171a形成为包围在第一副光束受光元件81a周围。第二副光束校正用受光部分172a构成为中介受光元件146a和相反侧受光元件147a形成为一体。本实施例把第二副光束校正用受光部分172a形成为包围在第二副光束受光元件82a周围。主光束校正用受光部分173a构成为一侧受光元件148a和另一侧受光元件149a形成为一体。本实施例把主光束校正用受光部分173a形成为包围在主光束受光元件80a周围。
由于第二TES受光部72b的第二受光部77b与第一TES受光部72a的第二受光部77a相同，所以为了避免重复而省略说明。在对应部分的符号上使用同一数字，而符号的末尾替代“a”而使用“b”。
图13是用于说明来自非聚光记录层41b的反射光受光状态的图。为了容易理解图13中省略了来自聚光记录层41a的反射光而仅表示来自非聚光记录层41b的反射光。图13设定为在从光源43侧看光盘42时，非聚光记录层41b位于聚光记录层41a内侧的情况。
来自非聚光记录层41b的各光束+1级衍射光被第一TES分割区域132a衍射并反射。来自非聚光记录层41b的各光束+1级衍射光的、来自第一TES分割区域132a的各反射光到达第一TES受光部72a，并在该第一TES受光部72a上分别形成光斑164a～166a。这些各光斑164a～166a比来自聚光记录层41a各光束反射光的各光斑102、106、107扩展。本实施例中来自非聚光记录层41b的各光束+1级衍射光的、来自第一TES分割区域132a的各反射光由第一TES受光部72a的各受光元件80a～82a和各校正用受光部分171a～173a受光。
来自非聚光记录层41b的各光束-1级衍射光被第二TES分割区域132b衍射并反射。来自非聚光记录层41b的各光束-1级衍射光的、来自第二TES分割区域132b的各反射光到达第二TES受光部72b，并在该第二TES受光部72b上分别形成光斑164b～166b。这些各光斑164b～166b比来自聚光记录层41a各光束反射光的各光斑103、108、109扩展。本实施例中来自非聚光记录层41b的各光束-1级衍射光的、来自第二TES分割区域132b的各反射光由第二TES受光部72b的各受光元件80b～82b和各校正用受光部分171b～173b受光。
在生成跟踪误差信号时，各TES受光部72a、72b根据第二受光部77a、77b的受光结果来校正第一受光部76a、76b的受光结果。
第一TES受光部72a根据第一副光束校正用受光部分171a的受光结果S171a来校正第一副光束受光元件81a的受光结果S81a。且根据第二副光束校正用受光部分172a的受光结果S172a来校正第二副光束受光元件82a的受光结果S82a。根据主光束校正用受光部分173a的受光结果S173a来校正主光束受光元件80a的受光结果S80a。第二TES受光部72b也是同样。具体说就是通过以下的式(18)～式(23)的运算来进行校正。
S81a R＝S81a-k41×(S171a)    (18)
S82a R＝S82a-k42×(S172a)    (19)
S80a R＝S80a-k43×(S173a)    (20)
S81b R＝S81b-k44×(S171b)    (21)
S82b R＝S82b-k45×(S172b)    (22)
S80b R＝S80b-k46×(S173b)    (23)
上述式(18)～式(20)中，S81a R、S82a R和S80a R是校正第一TES受光部72a中各副光束受光元件81a、82a和主光束受光元件80a受光结果S81a、S82a、S80a的校正结果。上述式(21)～式(23)中，S81b R、S82bR和S80b R是校正第二TES受光部72b中各副光束受光元件81b、82b和主光束受光元件80b受光结果S81b、S82b、S80b的校正结果。k41～k46是表示放大度的系数。放大度根据入射光量的比而预先设定。
跟踪误差信号TES能通过以下的式(24)的运算得到。
TES＝(S80a R-S80b R)-k47×{(S81a R-S81b R)+(S82a R-S82b R)}(24)
式(24)中，(S80a-S80b)是主光束的推挽信号。(S81a R-S81b R)和(S82a R-S82b R)是各副光束的推挽信号。k47是系数，用于校正主光束与各副光束光强度的不同。
根据以上的本实施例能达到与上述第三实施例同样的效果。根据本实施例，第一TES受光部72a的第一副光束校正用受光部分171a构成为中介受光元件144a和相反侧受光元件145a形成为一体，所以不需要用于把中介受光元件144a的受光结果和相反侧受光元件145a的受光结果相加的加法电路。这样能把校正部56的电路结构简单化。其他的副光束校正用受光部分172a、171b、172b也同样。且第一TES受光部72a的主光束校正用受光部分173a构成为一侧受光元件148a和另一侧受光元件149a形成为一体，所以不需要用于把一侧受光元件148a的受光结果和另一侧受光元件149a的受光结果相加的加法电路。这样能把校正部56的电路结构简单化。其他的主光束校正用部分173b也同样。
上述各实施例不过是本发明的例示，在本发明的范围内可以变更结构。上述各实施例虽然例示了把用于生成对焦误差信号的结构和用于生成跟踪误差信号的结构一体化的结构，但并不限定于此。例如也可以把用于生成对焦误差信号的光分割体和受光部与用于生成跟踪误差信号的光分割体和受光部分离。在这种情况下也能达到与上述各实施例同样的效果。
上述各实施例说明了作为光盘而设定单面双层盘的情况，但并不限定于此。例如光盘也可以形成三层以上的记录层。
本发明能不脱离其精神或主要特点地以其他各种形态实施。因此，上述实施例从各方面看不过是单单进行例示，本发明的范围由权利要求的范围表示而不受说明书本文的任何约束。且属于权利要求范围的变形和变更都在本发明的范围内。

Claims (14)

1、一种光拾取装置，用于向形成有多层记录层的光盘照射光而向光盘的记录层记录信息或从光盘的记录层再生信息，其特征在于，包括：
光源，其射出光；
光学系统，其把来自光源的射出光向光盘的记录层聚光，且把来自光盘记录层的反射光进行聚光；
受光部，其把来自光盘记录层的反射光经由光学系统受光，具有第一受光部和第二受光部，该第一受光部配置在把来自汇聚光源射出光的聚光记录层的反射光进行聚光的位置，接受来自聚光记录层的反射光；该第二受光部配置成从聚光记录层的反射光聚光的位置离开，与第一受光部邻接，接受来自与聚光记录层不同的非聚光记录层的反射光；
校正部，其根据第二受光部的受光结果来校正第一受光部的受光结果。
2、如权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，
所述光学系统把光源的射出光分离成主光束和一对副光束并向光盘的记录层聚光，
所述第一受光部包括：主光束受光元件，其被配置在把来自聚光记录层的主光束反射光进行聚光的位置，接受来自聚光记录层的主光束的反射光；一对副光束受光元件，其被分别配置在把来自聚光记录层的各副光束反射光进行聚光的位置，分别接受来自聚光记录层的各副光束的反射光，
所述第二受光部，具有用于将各副光束受光元件中、来自非聚光记录层的主光束反射光所到达的副光束受光元件的受光结果进行补正的副光束校正用受光部分，该副光束校正用受光部分配置为从把来自聚光记录层的主光束反射光进行聚光的位置、和把来自聚光记录层的各副光束反射光进行聚光的位置这两者离开，与所述副光束受光元件邻接，接受来自非聚光记录层的主光束反射光，
所述校正部根据副光束校正用受光部分的受光结果来校正所述副光束受光元件的受光结果。
3、如权利要求2所述的光拾取装置，其特征在于，
所述副光束校正用受光部分具有：介于所述副光束受光元件与主光束受光元件之间的中介受光元件，和相对所述副光束受光元件而配置在与中介受光元件相反侧的相反侧受光元件。
4、如权利要求3所述的光拾取装置，其特征在于，
所述中介受光元件和所述相反侧受光元件形成为一体。
5、如权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，
所述光学系统把光源的射出光分离成主光束和一对副光束并向光盘的记录层聚光，
所述第一受光部包括：主光束受光元件，其被配置在把来自聚光记录层的主光束反射光进行聚光的位置，接受来自聚光记录层的主光束的反射光；一对副光束受光元件，其被分别配置在把来自聚光记录层的各副光束反射光进行聚光的位置，分别接受来自聚光记录层的各副光束的反射光，
所述第二受光部，具有用于校正主光束受光元件的受光结果的主光束校正用受光部分，该主光束校正用受光部分配置为从把来自聚光记录层的主光束反射光进行聚光的位置、和把来自聚光记录层的各副光束反射光进行聚光的位置这两者离开，与主光束受光元件邻接，接受来自非聚光记录层的主光束反射光，
所述校正部根据主光束校正用受光部分的受光结果来校正主光束受光元件的受光结果。
6、如权利要求5所述的光拾取装置，其特征在于，
所述主光束校正用受光部分具有：介于一侧副光束受光元件与主光束受光元件之间的一侧受光元件，和介于另一侧副光束受光元件与主光束受光元件之间的另一侧受光元件。
7、如权利要求6所述的光拾取装置，其特征在于，
所述一侧受光元件和所述另一侧受光元件形成为一体。
8、如权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，
所述校正部根据来自非聚光记录层反射光向第一受光部的入射光量与向第二受光部的入射光量的比，预先设定第二受光部受光结果相对于第一受光部受光结果的放大度，
在校正第一受光部的受光结果时，把第二受光部的受光结果按所述放大度放大，并把该放大结果从第一受光部的受光结果中减去。
9、如权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，
所述受光部具有用于生成跟踪误差信号的、包括所述第一受光部和所述第二受光部的一对跟踪用受光部，
为了生成跟踪误差信号，所述光学系统把来自聚光记录层的反射光分割，并分别向各跟踪用受光部反射。
10、一种光分割体，是在权利要求1所述的光拾取装置中，被所述光学系统所包含，将来自光盘记录层的反射光分割的光分割体，所述光拾取装置的所述受光部具有：用于生成对焦误差信号的对焦用受光部，和用于生成跟踪误差信号、且包括所述第一受光部和所述第二受光部的一对跟踪用受光部，
该光分割体的特征在于，具有：
把来自聚光记录层的反射光向对焦用受光部反射的对焦用分割区域，
和把来自聚光记录层的反射光分别向各跟踪用受光部反射的一对跟踪用分割区域。
11、如权利要求10所述的光分割体，其特征在于，
所述对焦用分割区域与所述一对跟踪用分割区域的边界线中，相对于所述光学系统基准光轴的半径方向靠近外侧的部分，沿着与所述基准光轴正交且向跟踪方向延伸的假想线。
12、如权利要求10所述的光分割体，其特征在于，
所述对焦用分割区域与所述一对跟踪用分割区域的边界线中，相对于所述光学系统基准光轴的半径方向靠近外侧的部分，从所述假想线偏离，与该部分沿着与所述基准光轴正交且向跟踪方向延伸的假想线的情况相比、以增加所述一对跟踪用分割区域。
13、如权利要求11所述的光分割体，其特征在于，
所述对焦用分割区域与所述一对跟踪用分割区域的边界线中，相对于所述光学系统基准光轴的半径方向靠近内侧的部分，从所述假想线偏离，以使来自非聚光记录层的反射光中0级衍射光向所述对焦用分割区域入射。
14、如权利要求12所述的光分割体，其特征在于，
所述对焦用分割区域与所述一对跟踪用分割区域的边界线中，相对于所述光学系统基准光轴的半径方向靠近内侧的部分，从所述假想线偏离，以使来自非聚光记录层的反射光中0级衍射光向所述对焦用分割区域入射。
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