KR20100041699A - 광 픽업 장치 및 그것을 구비하는 광 디스크 장치 - Google Patents

광 픽업 장치 및 그것을 구비하는 광 디스크 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20100041699A
KR20100041699A KR1020097019271A KR20097019271A KR20100041699A KR 20100041699 A KR20100041699 A KR 20100041699A KR 1020097019271 A KR1020097019271 A KR 1020097019271A KR 20097019271 A KR20097019271 A KR 20097019271A KR 20100041699 A KR20100041699 A KR 20100041699A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
light
sub
light receiving
main
diffraction grating
Prior art date
Application number
KR1020097019271A
Other languages
English (en)
Inventor
미노루 사토
Original Assignee
산요덴키가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 산요덴키가부시키가이샤 filed Critical 산요덴키가부시키가이샤
Publication of KR20100041699A publication Critical patent/KR20100041699A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/0901—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following only
    • G11B7/0903—Multi-beam tracking systems
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/13—Optical detectors therefor
    • G11B7/131—Arrangement of detectors in a multiple array
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
    • G11B7/1353—Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B2007/0003—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier
    • G11B2007/0006—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier adapted for scanning different types of carrier, e.g. CD & DVD

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Optical Head (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Abstract

[과제] 불필요한 광의 발생을 억제한 광 픽업 장치 및 그것을 구비하는 광 디스크 장치를 구성시킨다.
[해결수단] 광 디스크 장치의 광 픽업 장치에 있어서 제 1 파장 광을 적어도 제 1 메인 빔과 제 1 서브 빔으로 나누고, 제 2 파장 광을 적어도 제 2 메인 빔과 제 2 서브 빔으로 나누는 제 2 파장 광에 대응한 회절면부를 갖는 회절격자를 구비하고, 규격화된 광 검출기의 제 1 메인 빔이 조사되는 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 빔이 조사되는 제 1 서브 수광부 사이의 거리에 대해서 광 검출기(73)의 제 1 메인 빔이 조사되는 제 1 메인 수광부(74a)와 제 1 서브 빔이 조사되는 제 1 서브 수광부(74b,74c) 사이의 거리[Ys(cd)]가 변경되었다.
광 픽업 장치, 광 디스크 장치

Description

광 픽업 장치 및 그것을 구비하는 광 디스크 장치{OPTICAL PICKUP DEVICE AND OPTICAL DISC DEVICE PROVIDED WITH THE SAME}
본 발명은 광 픽업 장치 및 그것을 구비하는 광 디스크 장치에 관한 것이다.
광 픽업 장치를 구비하는 광 디스크 장치(도시하지 않음) 내에 광 디스크가 삽입된다. 도시하지 않은 광 디스크 장치 내에 넣어지는 광 디스크는 대략 원판 형상으로 형성되어 있다.
디스크로서, 예컨대, 「CD-ROM」,「DVD-ROM」,「HD DVD-ROM」,「BD-ROM」 등의 데이터 판독 전용의 광 디스크나, 「CD-R」,「DVD-R」,「DVD+R」,「HD DVD-R」,「BD-R」 등의 데이터 추기형의 광 디스크나, 「CD-RW」,「DVD-RW」,「DVD+RW」(등록상표), 「DVD-RAM」,「HD DVD-RW」,「HD DVD-RAM」,「BD-RE」 등의 데이터 기록/소거나 데이터 재기록 가능한 타입의 광 디스크 등을 들 수 있다.
광 디스크에 대해서 설명하면 「CD」는 「Compact Disc」(상표)의 약칭으로 되어 있다. 또한, 「DVD」(등록상표)는 「Digital Versatile Disc」의 약칭으로 되어 있다. 또한, 「HD DVD」(등록상표)는 「High Definition DVD」의 약칭으로 되어 있다. 또한, 「Blu-ray Disc」(등록상표)의 「Blu-ray」는 종래의 신호의 판독/기록에 이용되고 있었던 적색의 레이저에 대해서 고밀도 기록이 실현되기 위해서 채 용된 청자색의 레이저를 의미한다. 「HD DVD」는 종래의 DVD계열의 것과 호환성을 가지고, 또한, 종래의 DVD계열의 디스크보다 기억 용량이 큰 것으로 되어 있다. 종래의 CD에는 적외 레이저가 이용되고 있었다. 또한, 종래의 DVD에는 적색 레이저가 이용되고 있었다. 그러나, 「Blu-ray Disc」 또는 「HD DVD」의 광 디스크에 기록된 데이터/정보/신호가 판독될 때나, 「Blu-ray Disc」 또는 「HD DVD」의 광 디스크에 데이터/정보/신호가 기록될 때에는 청자색 레이저가 이용된다.
또한, 「CD-ROM」,「DVD-ROM」 및 「HD DVD-ROM」의 「ROM」은 「Read Only Memory」의 약칭으로 되어 있다. 또한, 「BD-ROM」은 「B1u-ray Disc-ROM」의 약칭으로 되어 있다. 「CD-ROM」,「DVD-ROM」,「HD DVD-ROM」 및 「BD-ROM」은 데이터/정보 판독 전용의 것으로 되어 있다. 또한, 「CD-R」,「DVD-R」,「DVD+R」 및 「HD DVD-R」의 「R」은 「Recordable」의 약칭으로 되어 있다. 또한, 「BD-R」은 「Blu-ray Disc-R」의 약칭으로 되어 있다. 「CD-R」,「DVD-R」,「DVD+R」,「HD DVD-R」 및 「BD-R」는 데이터/정보의 기록이 가능한 것으로 되어 있다. 또한, 「CD-RW」,「DVD-RW」,「DVD+RW」 및 「HD DVD-RW」의 「RW」는 「Re-Writable」의 약칭으로 되어 있다. 또한 「BD-RE」는 「Blu-ray Disc-RE」의 약칭으로 되어 있다. 「CD-RW」,「DVD-RW」,「DVD+RW」,「HD DVD-RW」 및 「BD-RE」는 데이터/정보의 재기록이 가능한 것으로 되어 있다. 또한, 「DVD-RAM」 및 「HD DVD-RAM」의 「RAM」은 「Random Access Memory」의 약칭으로 되어 있다. 「DVD-RAM」 및 「HD DVD-RAM」은 데이터/정보의 판독/소거가 가능한 것으로 되어 있다.
광 디스크 장치 내에서 데이터/정보/신호의 기록이 가능한 광 디스크에 있어 서는 광 디스크의 신호 기록면이 되는 신호층에 데이터/정보/신호가 보존되기 위한 그루브(도시하지 않음)가 설치되어 있다. 그루브(groove)란 예컨대 가늘고 긴 오목 형상의 것을 의미한다. 원판 형상 광 디스크가 평면으로 보여졌을 때에 그루브는 대략 나선 형상으로 형성되어 있다. 광 디스크에 레이저 광이 조사될 때에 레이저 광이 조사되는 신호층측으로부터 광 디스크를 바라보았을 경우, 그루브는 소용돌이 형상의 것으로 되어 있다. 그루브는 매우 작은 것으로 되어 있으므로, 그루브는 눈으로 볼 수 없게 된다.
광 픽업 장치는 대물 렌즈의 위치를 제어해서 광 디스크 내에 있는 소정의 기록 트랙 상에 집광 스폿을 적절하게 조사시키기 위해서 포커스 에러 신호나 트래킹 에러 신호 등의 에러 신호를 검출하기 위한 광학계를 구비하고 있다.
포커스란 예컨대 초점이나 핀트를 의미한다. 또한, 포커싱이란 예컨대 초점을 맞추는 것이나 초점이 맞춰지는 것을 의미한다. 또한, 트래킹이란 예컨대, 광을 이용해서 광 디스크의 신호층이나 광 디스크의 신호층 등에 설치된 미소한 피트(구멍, 오목부)나, 그루브(홈), 워블(사행) 등을 추적 관측하고, 대략 나선 형상으로 그려진 궤도의 위치를 정하는 것을 의미한다. 또한, 피트란 예컨대 구멍이나 오목 형상의 것을 의미한다. 또한, 워블이란 예컨대 정보 등의 데이터 신호가 기록되는 트랙의 사행을 의미한다.
광 픽업 장치에 있어서의 광 디스크의 집광 스폿의 포커싱 검출법으로서, 예컨대 차동 비점수차법에 기초한 검출법 등을 들 수 있다. 차동 비점수차법이란 예컨대, 비점수차를 가진 광학계에서 결상한 점상 비뚤어짐을 검출함으로써 집광 스 폿의 변위를 검출하는 방법이 된다. 또한, 광 픽업 장치에 있어서의 광 디스크의 집광 스폿의 트래킹 검출법으로서, 예컨대 차동 푸시풀법에 기초한 검출법 등을 들 수 있다. 차동 푸시풀법이란 예컨대, 데이터 판독/기록용 메인 빔과, 위치 어긋남 보정 신호를 검출하는 2개의 서브 빔에 의해 집광 스폿의 변위를 검출하는 방법이 된다.
트래킹 에러 신호의 검출 방식에 대해서 설명하면, 예컨대 트랙 피치가 1.6㎛(미크론/마이크로미터)의 CD 규격(CD-ROM, CD-R, CD-RW 등)의 광 디스크에 대해서 광 픽업 장치에 의한 트래킹 에러 신호의 검출이 행해질 경우에는 트래킹 에러 신호의 검출 방식으로서, 3개의 광속이 이용되는 예컨대 「3빔 방식(또는 3스폿 방식으로도 칭해진다.)」이 주로 채용된다. 또한, 예컨대 트랙 피치가 0.74㎛의 DVD 규격(DVD-ROM, DVD-R, DVD-RW 등)의 광 디스크에 대해서 광 픽업 장치에 의한 트래킹 에러 신호의 검출이 행해질 경우에는 트래킹 에러 신호의 검출 방식으로서, 적어도 3개의 광속이 이용되는 예컨대 「인라인 방식」이 주로 채용된다. 여기서의 트래킹 에러 신호의 각 검출 방식의 통칭은 편의상의 통칭으로 되어 있다.
또한, Version 1의 DVD-RAM, DVD-ROM, DVD-R, DVD-RW 등의 트랙 피치가 대략 0.74㎛로 되어 있는 것에 대해서 Version 2.0 및 2.1의 DVD-RAM의 트랙 피치는 대략 0.615㎛로 되어 있다. 이와 같이, Version 1의 DVD-RAM, DVD-ROM, DVD-R, DVD-RW 등과 Version 2.0 및 2.1의 DVD-RAM에서는 트랙 피치가 다르다.
우선, CD 규격의 에러 신호 검출에 있어서 주로 채용되는 「3빔 방식」에 대해서 설명한다. 광 픽업 장치에는, 도 17에 나타내는 바와 같이, 반도체 레이저 소 자(210)와 편광 빔 스플리터(230) 사이의 광로 상에 CD용 회절격자(320)를 배치하고 있다. CD용 회절격자(320)는 일정한 주기로 등간격으로 새겨진 직선상의 격자 홈을 갖고 있고, 반도체 레이저 소자(210)로부터 발사한 레이저 광을 메인 빔(0차 광) 및 2개의 서브 빔(±1차 회절 광속)의 합계 3빔으로 회절 분기시키는 기능을 갖추고 있다.
이들 3빔이 편광 빔 스플리터(230), 콜리메이트 렌즈(240), 대물 렌즈(250)를 경유한 결과, 도 18의 좌측에 나타내는 바와 같이, 광 디스크(D)의 신호층(Da) 상에 있어서 메인 빔에 대응한 메인 스폿(100)과, 2개의 서브 빔에 각각 대응한 서브 스폿(101,102)이 형성된다. 또한, 광 디스크(D)의 신호층(Da) 상에는 신호를 기록하기 위한 트랙(D100)이 주기적으로 형성되어 있고, 메인 스폿(100) 및 서브 스폿(101,102)의 디스크 반경 방향의 간격(δ)은 CD용 회절격자(320)를 광축 둘레로 회전 조정하는 수단 등에 의해 트랙(D100)의 주기(Dtp)의 약 2분의 1에 일치하도록 조정된다. 그리고, 메인 스폿(100) 및 서브 스폿(101,102)의 반사광이 다시 대물 렌즈(250), 콜리메이트 렌즈(240), 편광 빔 스플리터(230)에 도달해서 그 일부의 광량이 편광 빔 스플리터 (230)를 투과한 후에 검출 렌즈(260)를 경유해서 광 검출기(270)에 입사된다.
광 검출기(270)에는, 도 18의 우측에 나타내는 바와 같이, 메인 스폿(100) 및 서브 스폿(101,102)의 반사광에 각각 대응한 수광면(200a,200b,200c)이 배치된다. 메인 스폿(100) 및 서브 스폿(101,102)의 반사광이 각각 수광면(200a,200b,200c)에 입사되면, 메인 스폿(100)에 대응하는 메인 검출 광 스 폿(200)과 서브 스폿(101,102)에 대응하는 서브 검출 광 스폿(201,202)이 각각 형성된다.
여기서, 메인 스폿(100)이 트랙(D100) 상을 정확하게 주사하고 있을 경우, 서브 검출 광 스폿(201,202)의 광량은 동일하다. 그러나, 메인 스폿(100)의 주사가 트랙(D100) 상에서 어긋날 경우, 서브 검출 광 스폿(201,202) 사이의 광량에 차가 생긴다. 그래서, 예컨대 서브 검출 광 스폿(201,202)의 광량을 감산기(400)에 의해 감산 처리함으로써 트래킹의 주사 어긋남을 나타내는 트래킹 에러 신호가 생성된다.
다음으로, DVD 규격의 에러 신호 검출에 있어서 주로 채용되는 「인라인 방식」에 대해서 설명한다. 인라인 방식의 광학계로서는 기본적으로는 3빔 방식과 대략 동일한 광학계에 기초해 트래킹 에러 신호를 검출할 수 있다. 단, 3빔 방식의 광학계와 대비해서, 도 20의 좌측에 나타내는 바와 같이, 한쪽의 반평면(341)에 형성된 격자 홈의 주기 구조의 위상이 다른쪽의 반평면(342)에 형성된 격자 홈의 주기 구조의 위상에 대해서 약 180도 어긋난 DVD용 회절격자(340)를 이용하는 점이 서로 다르다.
여기서, DVD용 회절격자(340)를 도 17에 나타내는 CD용 회절격자(320)와 대략 동일한 위치에 CD용 회절격자(320)로 치환해서 설치할 경우로 가정한다. 또한, 인라인 방식에 대응하기 위해서, 도 19의 좌측에 나타내는 바와 같이, 광 디스크(D)의 신호층(Da)에 조사된 메인 스폿(100) 및 서브 스폿(101,102)이 동일한 트랙(D100) 상을 조사하도록 DVD용 회절격자(340)나 집광 광학계 등의 배치 위치가 조정되었을 경우로 가정한다.
메인 검출 광 스폿(200)을 형성하는 DVD용 메인 빔이 광 검출기(270)의 수광면(200a)에 조사되었을 때에 수광면(200a)에 접속된 감산기(500a)는 수광면(200a)으로부터의 출력 신호의 차분을 연산해서 예컨대 메인 푸시풀 신호(Sa)로서 생성한다.
또한, 서브 검출 광 스폿(201)을 형성하는 DVD용 제 1 서브 빔이 광 검출기(270)의 수광면(200b)에 조사되었을 때에 수광면(200b)에 접속된 감산기(500b)는 수광면(200b)으로부터의 출력 신호의 차분을 연산해서 예컨대 선행 서브 푸시풀 신호(Sb)로서 생성한다.
또한, 서브 검출 광 스폿(202)을 형성하는 DVD용 제 2 서브 빔이 광 검출기(270)의 수광면(200c)에 조사되었을 때에 수광면(200c)에 접속된 감산기(500c)는 수광면(200c)으로부터의 출력 신호의 차분을 연산해서 예컨대 지행(遲行) 서브 푸시풀 신호(Sc)로서 생성한다.
도 19의 우측에 나타내는 바와 같이, 메인 검출 광 스폿(200)으로부터 검출되는 푸시 불 신호(Sa)와, 서브 스폿(101,102) 각각에 대응하는 서브 검출 광 스폿(201,202)으로부터 검출되는 푸시풀 신호(Sb,Sc)는 3빔 방식과 마찬가지로 서로 역위상으로 출력된다. 그 후에, 가산기(510)에 의해 푸시풀 신호(Sb,Sc)가 가산되고, 이 가산된 신호가 감산기(530)에 의해 푸시풀 신호(Sa)에 대해서 감산 처리됨으로써 푸시풀 신호(Sa,Sb,Sc)의 각 오프셋 성분이 상쇄된 트래킹 에러 신호를 생성하는 것이 가능하게 된다.
그런데, 최근, CD 규격의 광 디스크와 DVD 규격의 광 디스크 양쪽의 기록 재생을 행하는 것이 가능한 광 픽업 장치가 제안되어 있다. 또한, 상기 광 픽업 장치에서는 광학계의 간략화에 의한 비용 절감을 도모하기 위해서, CD 규격에 적합한 적외파장대 765㎚~805㎚(나노미터)의 제 1 파장의 제 1 레이저 광을 발광하는 CD용 반도체 레이저 소자 및 DVD 규격에 적합한 적색파장대 645㎚~675㎚의 제 2 파장의 제 2 레이저 광을 발광하는 DVD용 반도체 레이저 소자를 구비한 멀티 레이저 유닛이 이용된다.
또한, 상기 광 픽업 장치에서는 광학계가 더나은 간략화를 도모하기 위해서, CD 규격의 3빔 방식 및 DVD 규격의 인라인 방식 양쪽에 대응한 2파장 대응 회절격자가 이용된다(예컨대, 이하에 나타내는 특허문헌1을 참조). 예컨대 2파장 대응 회절격자(300A)의 구조로서는, 도 20에 나타내는 바와 같이, 광학 유리판(360)의 두께 방향으로 대향하는 한편의 평면 및 다른쪽의 평면에 관해서 상기 한편의 평면에는 CD용 회절격자(320)를 고착하고, 상기 다른쪽의 평면에는 DVD용 회절격자(340)를 고착해서 구성된다.
도 20에 나타낸 2파장 대응 회절격자(300A)의 구조 이외에도, 예컨대, 도 21에 나타내는 바와 같은 구조의 2파장 대응 회절격자(300B)가 제안되어 있다(예컨대, 이하에 나타내는 특허문헌2를 참조). 예컨대 2파장 대응 회절격자(300B)의 구조로서는 액정 재료 등을 포함해서 구성된 CD용 회절격자(320) 및 DVD용 회절격자(340)를 서로 겹쳐서 고착한 후에 2장의 광학 유리판(361,362) 사이에 끼워서 고착해서 구성된다.
[특허문헌1] 일본 특허 공개 2007-164962호 공보(제 1 쪽, 제 1-8 도)
[특허문헌2] 일본 특허 공개 2007-149249호 공보(제 1 쪽, 제 1-7 도)
그러나, 상기와 같은 CD용 회절격자(320) 및 DVD용 회절격자(340)를 조합시킨 2파장 대응 회절격자(300A 또는 300B)가 사용되었을 경우, 예컨대, CD 규격의 제 1 레이저 광을 CD용 회절격자(320)에 입사시켰을 때에 CD용 회절격자(320)에 의해 상기 제 1 레이저 광이 회절되어 메인 빔(0차 광) 및 2개의 서브 빔(±1차 회절 광속)의 3빔으로 분기된다. 그리고, 상기 3빔이 DVD용 회절격자(340)에 의해 더욱 회절되어 분기된다.
이와 같이, 멀티 레이저 유닛으로부터 발광되는 제 1 레이저 광 또는 제 2 레이저 광이 2파장 대응 회절격자(300A 또는 300B)의 CD용 회절격자(320) 및 DVD용 회절격자(340) 양쪽을 통과하는 결과, CD용 및 DVD용 각각의 회절격자(320,340)에 있어서 회절 분기가 행해지므로 불필요한 회절광이 발생되어 버린다. 이 결과, 트래킹 에러 신호 등의 에러 신호 검출 정밀도가 악화된다는 문제가 생기고 있었다.
또한, 예컨대 불필요한 회절광의 발생에 의해 회절격자(320,340)에 있어서의 0차 광 및 ±1차 회절광의 투과율이 저하되고, 그 결과, 멀티 레이저 유닛으로부터 발사하는 출사광의 이용 효율이 저하된다는 문제도 생기고 있었다.
또한, 최근, DVD-ROM, DVD-R, DVD-RW, DVD-RAM(Version 1, 2.0, 2.1) 등의 트랙 피치(Dtp)가 다른 복수 종류의 광 디스크(D)에 대해서 문제 없이 대응할 수 있게 되기 위해서, 트래킹 제어 등의 제어가 행해지기 쉬운 고도의 광 픽업 장치나, 트래킹 제어 등의 제어가 행해지기 쉬운 고도의 광 픽업 장치를 구비한 광 디스크 장치가 시장으로부터 요구되고 있다.
예컨대, 트랙 피치(Dtp)가 다른 복수 종류의 광 디스크(D)의 데이터 기록/재생시에 대물 렌즈(250)의 변위에 따른 트래킹 에러 신호 등의 에러 신호의 진폭을 열화시키지 않는 광 픽업 장치나, 트래킹 에러 신호 등의 에러 신호에 오프셋을 잔류시키지 않는 광 픽업 장치가 시장으로부터 요구되고 있다.
또한, 상기 문제가 해결됨과 아울러 저렴한 광 픽업 장치나 저렴한 광 디스크 장치도 요청되고 있다.
상술한 과제를 해결하기 위해서, 본 발명의 청구항1에 따른 광 픽업 장치는 제 1 파장 광을 적어도 제 1 메인 빔과 제 1 서브 빔으로 나누고, 제 2 파장 광을 적어도 제 2 메인 빔과 제 2 서브 빔으로 나누고, 제 2 파장 광에 대응한 회절면부를 갖는 회절격자와, 상기 제 1 메인 빔이 조사되는 제 1 메인 수광부와, 상기 제 1 서브 빔이 조사되는 제 1 서브 수광부와, 상기 제 2 메인 빔이 조사되는 제 2 메인 수광부와, 상기 제 2 서브 빔이 조사되는 제 2 서브 수광부를 갖는 광 검출기를 적어도 구비하고, 규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리에 대해서 상기 제 1 메인 수광부와 상기 제 1 서브 수광부 사이의 거리가 변경된 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 불필요한 광의 발생을 억제한 광 픽업 장치가 구성된다. 제 2 파장 광에 대응한 회절면부를 갖는 회절격자가 광 픽업 장치에 구비되고, 제 2 파장 광에 대응한 회절격자의 회절면부를 제 1 파장 광이 투과했을 때에 제 1 파장 광이 적어도 제 1 메인 빔과 제 1 서브 빔으로 나누어지는 것으로 되어 있으면, 제 1 파장 광이 회절격자를 투과할 때에 불필요한 광이 생긴다는 것은 대략 방지된다. 또한, 제 2 파장 광에 대응한 회절격자의 회절면부를 제 2 파장 광이 투과했을 때에 불필요한 광이 대략 생기지 않고 제 2 파장 광은 적어도 제 2 메인 빔과 제 2 서브 빔으로 나누어진다. 또한, 규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리에 대해서 이 광 검출기에 있어서는 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리가 변경되어 있으므로, 제 2 파장 광에 대응한 회절격자의 회절면부를 제 1 파장 광이 투과할 때에 제 2 파장 광에 대응한 회절격자의 회절면부에 의해 나누어진 제 1 파장 광의 제 1 서브 빔이 광 검출기의 제 1 서브 수광부에 조사되지 않는다는 문제의 발생은 회피된다. 본 발명에 있어서의 규격화는 예컨대 널리 보급되어 온 종래의 것 등을 설명할 때를 위해서 편의상 이용된다. 제 2 파장 광에 대응한 회절격자의 회절면부를 제 1 파장 광이 투과함으로써 불필요한 광이 대략 생기지 않고 나누어진 제 1 파장 광의 제 1 서브 빔은 광 검출기의 제 1 메인 수광부에 대해서 거리가 변경된 제 1 서브 수광부에 조사된다. 또한, 제 2 파장 광에 대응한 회절격자의 회절면부를 제 1 파장 광이 투과함으로써 불필요한 광이 대략 생기지 않고 나누어진 제 1 파장 광의 제 1 메인 빔은 광 검출기의 제 1 메인 수광부에 조사된다. 또한, 제 2 파장 광에 대응한 회절격자의 회절면부를 제 2 파장 광이 투과함으로써 불필요한 광이 대략 생기지 않고 나누어진 제 2 파장 광의 제 2 서브 빔은 광 검출기의 제 2 서브 수광부에 조사된다. 또한, 제 2 파장 광에 대응한 회절격자의 회절면부를 제 2 파장 광이 투과함으로써 불필요한 광이 대략 생기지 않고 나누어진 제 2 파장 광의 제 2 메인 빔은 광 검출기의 제 2 메인 수광부에 조사된다.
청구항2에 따른 광 픽업 장치는 청구항1에 기재된 광 픽업 장치에 있어서, 변경된 상기 제 1 메인 수광부와 상기 제 1 서브 수광부 사이의 상기 거리는 상기 규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리보다 길게 설정된 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 신호의 검출 정밀도를 향상시킨 광 픽업 장치가 구성된다. 회절격자의 회절면부에 의해 제 1 파장 광이 나누어져 생긴 제 1 메인 빔이 광 검출기의 제 1 서브 수광부에 악영향을 미친다는 것은 회피되기 쉬워진다. 또한, 회절격자의 회절면부에 의해 제 1 파장 광이 나누어져 생긴 제 1 서브 빔이 광 검출기의 제 1 메인 수광부에 악영향을 미친다는 것은 회피되기 쉬워진다. 예컨대, 변경된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리가 규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리보다 짧게 설정되어 있으면, 제 1 메인 빔이 광 검출기의 제 1 서브 수광부에 간섭하는 것이 우려된다. 또한, 예컨대, 변경된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리가 규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리보다 짧게 설정되어 있으면, 제 1 서브 빔이 광 검출기의 제 1 메인 수광부에 간섭하는 것이 우려된다. 그러나, 규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리보다 변경된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리쪽이 길게 설정되어 있으므로, 광 검출기의 제 1 메인 수광부에 제 1 메인 빔이 조사될 때에 제 1 메인 빔이 제 1 서브 수광부에 간섭한다는 것은 회피되기 쉬워진다. 또한, 규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리보다 변경된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리쪽이 길게 설정되어 있으므로, 광 검출기의 제 1 서브 수광부에 제 1 서브 빔이 조사될 때에 제 1 서브 빔이 제 1 메인 수광부에 간섭한다는 것은 회피되기 쉬워진다.
청구항3에 따른 광 픽업 장치는 청구항1에 기재된 광 픽업 장치에 있어서, 상기 규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 변경된 상기 제 1 메인 수광부와 상기 제 1 서브 수광부 사이의 상기 거리의 값은 상기 규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리의 값에 대해서 대략 111%의 값으로 설정된 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 신호의 검출 정밀도를 향상시킨 광 픽업 장치가 구성된다. 회절격자의 회절면부에 의해 제 1 파장 광이 나누어져 생긴 제 1 메인 빔이 광 검출기의 제 1 서브 수광부에 악영향을 미친다는 것은 회피된다. 또한, 회절격자의 회절면부에 의해 제 1 파장 광이 나누어져 생긴 제 1 서브 빔이 광 검출기의 제 1 메인 수광부에 악영향을 미친다는 것은 회피된다. 예컨대, 변경된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리가 규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리보다 짧게 설정되어 있으면, 제 1 메인 빔이 광 검출기의 제 1 서브 수광부에 간섭하는 것이 우려된다. 또한, 예컨대, 변경된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리가 규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리보다 짧게 설정되어 있으면, 제 1 서브 빔이 광 검출기의 제 1 메인 수광부에 간섭하는 것이 우려된다. 그러나, 규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 변경된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리의 값이, 규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리의 값에 대해서 대략 111%의 값으로 설정되어 있으므로, 광 검출기의 제 1 메인 수광부에 제 1 메인 빔이 조사될 때에 제 1 메인 빔이 제 1 서브 수광부에 간섭한다는 것은 회피된다. 또한, 규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 변경된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리의 값이, 규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리의 값에 대해서 대략 111%의 값으로 설정되어 있으므로, 광 검출기의 제 1 서브 수광부에 제 1 서브 빔이 조사될 때에 제 1 서브 빔이 제 1 메인 수광부에 간섭한다는 것은 회피된다.
청구항4에 따른 광 픽업 장치는 청구항1에 기재된 광 픽업 장치에 있어서, 상기 규격화된 제 2 메인 수광부와 제 2 서브 수광부 사이의 거리의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 상기 제 2 메인 수광부와 상기 제 2 서브 수광부 사이의 상기 거리의 값은 상기 규격화된 제 2 메인 수광부와 제 2 서브 수광부 사이의 거리의 값에 대해서 대략 100%의 값으로 설정된 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 신호의 검출 정밀도를 향상시킨 광 픽업 장치가 구성된다. 회절격자의 회절면부에 의해 제 2 파장 광이 나누어져 생긴 제 2 메인 빔이 광 검출기의 제 2 서브 수광부에 악영향을 미친다는 것은 회피된다. 또한, 회절격자의 회절면부에 의해 제 2 파장 광이 나누어져 생긴 제 2 서브 빔이 광 검출기의 제 2 메인 수광부에 악영향을 미친다는 것은 회피된다. 예컨대, 제 2 메인 수광부와 제 2 서브 수광부 사이의 거리가 규격화된 제 2 메인 수광부와 제 2 서브 수광부 사이의 거리보다 짧게 설정되어 있으면, 제 2 메인 빔이 광 검출기의 제 2 서브 수광부에 간섭하는 것이 우려된다. 또한, 예컨대, 제 2 메인 수광부와 제 2 서브 수광부 사이의 거리가 규격화된 제 2 메인 수광부와 제 2 서브 수광부 사이의 거리보다 짧게 설정되어 있으면, 제 2 서브 빔이 광 검출기의 제 2 메인 수광부에 간섭하는 것이 우려된다. 그러나, 규격화된 제 2 메인 수광부와 제 2 서브 수광부 사이의 거리의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 제 2 메인 수광부와 제 2 서브 수광부 사이의 거리의 값이, 규격화된 제 2 메인 수광부와 제 2 서브 수광부 사이의 거리의 값에 대해서 대략 100%의 값으로 설정되어 있으므로, 광 검출기의 제 2 메인 수광부에 제 2 메인 빔이 조사될 때에 제 2 메인 빔이 제 2 서브 수광부에 간섭한다는 것은 회피된다. 또한, 규격화된 제 2 메인 수광부와 제 2 서브 수광부 사이의 거리의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 제 2 메인 수광부와 제 2 서브 수광부 사이의 거리의 값이, 규격화된 제 2 메인 수광부와 제 2 서브 수광부 사이의 거리의 값에 대해서 대략 100%의 값으로 설정되어 있으므로, 광 검출기의 제 2 서브 수광부에 제 2 서브 빔이 조사될 때에 제 2 서브 빔이 제 2 메인 수광부에 간섭한다는 것은 회피된다.
청구항5에 따른 광 픽업 장치는 제 1 파장 광을 적어도 제 1 메인 빔과 제 1 서브 빔으로 나누고, 제 2 파장 광을 적어도 제 2 메인 빔과 제 2 서브 빔으로 나누고, 제 2 파장 광에 대응한 회절면부를 갖는 회절격자와, 상기 제 1 메인 빔이 조사되는 제 1 메인 수광부와, 상기 제 1 서브 빔이 조사되는 제 1 서브 수광부와, 상기 제 2 메인 빔이 조사되는 제 2 메인 수광부와, 상기 제 2 서브 빔이 조사되는 제 2 서브 수광부를 갖는 광 검출기를 적어도 구비하고, 상기 제 1 메인 수광부를 중심으로 1쌍의 위치 변경된 상기 제 1 서브 수광부가 배치되어서 전방측의 상기 제 1 서브 수광부와 중앙의 상기 제 1 메인 수광부와 후방측의 상기 제 1 서브 수광부가 병설되었을 때에 전방측의 상기 제 1 서브 수광부와 중앙의 상기 제 1 메인 수광부와 후방측의 상기 제 1 서브 수광부의 분광비는 규격화된 전방측의 제 1 서브 수광부와 중앙의 제 1 메인 수광부와 후방측의 제 1 서브 수광부의 분광비에 대해서 변경된 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 불필요한 광의 발생을 억제한 광 픽업 장치가 구성된다. 제 2 파장 광에 대응한 회절면부를 갖는 회절격자가 광 픽업 장치에 구비되고, 제 2 파장 광에 대응한 회절격자의 회절면부를 제 1 파장 광이 투과했을 때에 제 1 파장 광이 적어도 제 1 메인 빔과 제 1 서브 빔으로 나누어지는 것으로 되어 있으면, 제 1 파장 광이 회절격자를 투과할 때에 불필요한 광이 생긴다는 것은 대략 방지된다. 또한, 제 2 파장 광에 대응한 회절격자의 회절면부를 제 2 파장 광이 투과했을 때에 불필요한 광이 대략 생기지 않고 제 2 파장 광은 적어도 제 2 메인 빔과 제 2 서브 빔으로 나누어진다. 또한, 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출은 설정 변경된 광 검출기에 의해 정밀도 좋게 행해지기 쉬워진다. 제 2 파장 광에 대응한 회절면부를 갖는 회절격자를 제 1 파장 광이 투과해서 제 1 파장 광이 전방측의 제 1 서브 빔과 중앙의 제 1 메인 빔과 후방측의 제 1 서브 빔으로 적어도 나누어졌을 때에 전방측의 제 1 서브 빔이 조사되는 전방측의 제 1 서브 수광부와 중앙의 제 1 메인 빔이 조사되는 중앙의 제 1 메인 수광부와 후방측의 제 1 서브 빔이 조사되는 후방측의 제 1 서브 수광부의 분광비가 규격화된 전방측의 제 1 서브 수광부와 중앙의 제 1 메인 수광부와 후방측의 제 1 서브 수광부의 분광비에 대해서 변경되어 있으면, 설정 변경된 광 검출기에 의해 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해지기 쉬워진다.
청구항6에 따른 광 픽업 장치는 청구항5에 기재된 광 픽업 장치에 있어서, 상기 제 1 메인 수광부를 중심으로 1쌍의 위치 변경된 상기 제 1 서브 수광부가 배치되어서 전방측의 상기 제 1 서브 수광부와 중앙의 상기 제 1 메인 수광부와 후방측의 상기 제 1 서브 수광부가 병설되었을 때에 전방측의 상기 제 1 서브 수광부와 중앙의 상기 제 1 메인 수광부와 후방측의 상기 제 1 서브 수광부의 분광비는 대략 1:(20~26):1로 된 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출은 설정 변경된 광 검출기에 의해 정밀도 좋게 행해진다. 예컨대, 제 1 파장 광에 대응한 제 1 회절면부와, 제 2 파장 광에 대응한 제 2 회절면부를 갖는 종래의 회절격자를 제 1 파장 광이 투과해서 제 1 파장 광이 전방측의 제 1 서브 빔과 중앙의 제 1 메인 빔과 후방측의 제 1 서브 빔으로 적어도 나누어졌을 때에 전방측의 제 1 서브 빔이 조사되는 전방측의 제 1 서브 수광부와 중앙의 제 1 메인 빔이 조사되는 중앙의 제 1 메인 수광부와 후방측의 제 1 서브 빔이 조사되는 후방측의 제 1 서브 수광부의 분광비가 예컨대 대략 1:16:1로 설정됨으로써 종래의 규격화된 광 검출기에 의해 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해지고 있었다. 그러나, 제 1 파장 광에 대응한 회절면부가 생략되고, 제 2 파장 광에 대응한 회절면부를 갖는 회절격자를 제 1 파장 광이 투과해서 제 1 파장 광이 전방측의 제 1 서브 빔과 중앙의 제 1 메인 빔과 후방측의 제 1 서브 빔으로 적어도 나누어졌을 경우에는 전방측의 제 1 서브 빔이 조사되는 전방측의 제 1 서브 수광부와 중앙의 제 1 메인 빔이 조사되는 중앙의 제 1 메인 수광부와 후방측의 제 1 서브 빔이 조사되는 후방측의 제 1 서브 수광부의 분광비가 예컨대 대략 1:16:1로 설정되어 있으면, 종래의 규격화된 광 검출기에 있어서는 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해지지 않는 것이 우려되고 있었다. 이에 대해서 제 2 파장 광에 대응한 회절면부를 갖는 회절격자를 제 1 파장 광이 투과해서 제 1 파장 광이 전방측의 제 1 서브 빔과 중앙의 제 1 메인 빔과 후방측의 제 1 서브 빔으로 적어도 나누어졌을 때에 전방측의 제 1 서브 빔이 조사되는 전방측의 제 1 서브 수광부와 중앙의 제 1 메인 빔이 조사되는 중앙의 제 1 메인 수광부와 후방측의 제 1 서브 빔이 조사되는 후방측의 제 1 서브 수광부의 분광비가 대략 1:(20~26):1로 설정되어 있으면, 설정 변경된 광 검출기에 의해 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해진다. 전방측의 제 1 서브 빔이 조사되는 전방측의 제 1 서브 수광부와 중앙의 제 1 메인 빔이 조사되는 중앙의 제 1 메인 수광부와 후방측의 제 1 서브 빔이 조사되는 후방측의 제 1 서브 수광부의 분광비가 예컨대 대략 1:20 미만:1로 되었을 경우나, 이 분광비가 예컨대 대략 1:26초과:1로 되었을 경우에는 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해지지 않는 것이 우려되지만, 이 분광비가 대략 1:(20~26):1 바람직하게는 대략 1:(21~25):1로 설정됨으로써 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해진다.
청구항7에 따른 광 픽업 장치는 청구항5에 기재된 광 픽업 장치에 있어서, 상기 제 2 메인 수광부를 중심으로 1쌍의 상기 제 2 서브 수광부가 배치되어서 전방측의 상기 제 2 서브 수광부와 중앙의 상기 제 2 메인 수광부와 후방측의 상기 제 2 서브 수광부가 병설되었을 때에 전방측의 상기 제 2 서브 수광부와 중앙의 상기 제 2 메인 수광부와 후방측의 상기 제 2 서브 수광부의 분광비는 대략 1:(12~18):1로 된 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 제 2 메인 빔의 검출과 제 2 서브 빔의 검출은 광 검출기에 의해 정밀도 좋게 행해진다. 제 2 파장 광에 대응한 회절면부를 갖는 회절격자를 제 2 파장 광이 투과해서 제 2 파장 광이 전방측의 제 2 서브 빔과 중앙의 제 2 메인 빔과 후방측의 제 2 서브 빔으로 적어도 나누어졌을 때에 전방측의 제 2 서브 빔이 조사되는 전방측의 제 2 서브 수광부와 중앙의 제 2 메인 빔이 조사되는 중앙의 제 2 메인 수광부와 후방측의 제 2 서브 빔이 조사되는 후방측의 제 2 서브 수광부의 분광비가 대략 1:(12~18):1로 설정되어 있으면, 광 검출기에 의해 제 2 메인 빔의 검출과 제 2 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해진다. 전방측의 제 2 서브 빔이 조사되는 전방측의 제 2 서브 수광부와 중앙의 제 2 메인 빔이 조사되는 중앙의 제 2 메인 수광부와 후방측의 제 2 서브 빔이 조사되는 후방측의 제 2 서브 수광부의 분광비가 예컨대 대략 1:12 미만:1로 되었을 경우나, 이 분광비가 예컨대 대략 1:18초과:1로 되었을 경우에는 제 2 메인 빔의 검출과 제 2 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해지지 않는 것이 우려되지만, 이 분광비가 대략 1:(12~18):1 바람직하게는 대략 1:(14~18):1로 설정됨으로써 제 2 메인 빔의 검출과 제 2 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해진다.
청구항8에 따른 광 픽업 장치는 제 1 파장 광을 적어도 제 1 메인 빔과 제 1 서브 빔으로 나누고, 제 2 파장 광을 적어도 제 2 메인 빔과 제 2 서브 빔으로 나누고, 제 2 파장 광에 대응한 회절면부를 갖는 회절격자와, 상기 제 1 메인 빔이 조사되는 제 1 메인 수광부와, 상기 제 1 서브 빔이 조사되는 제 1 서브 수광부와, 상기 제 2 메인 빔이 조사되는 제 2 메인 수광부와, 상기 제 2 서브 빔이 조사되는 제 2 서브 수광부를 갖는 광 검출기를 적어도 구비하고, 규격화된 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값에 대해서 상기 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값이 변경되거나 또는 동일하게 되고, 규격화된 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값에 대해서 상기 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값이 변경된 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 불필요한 광의 발생을 억제한 광 픽업 장치가 구성된다. 제 2 파장 광에 대응한 회절면부를 갖는 회절격자가 광 픽업 장치에 구비되고, 제 2 파장 광에 대응한 회절격자의 회절면부를 제 1 파장 광이 투과했을 때에 제 1 파장 광이 적어도 제 1 메인 빔과 제 1 서브 빔으로 나누어지는 것으로 되어 있으면, 제 1 파장 광이 회절격자를 투과할 때에 불필요한 광이 생긴다는 것은 대략 방지된다. 또한, 제 2 파장 광에 대응한 회절격자의 회절면부를 제 2 파장 광이 투과했을 때에 불필요한 광이 대략 생기지 않고 제 2 파장 광은 적어도 제 2 메인 빔과 제 2 서브 빔으로 나누어진다. 또한, 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출은 설정 변경된 광 검출기에 의해 정밀도 좋게 행해지기 쉬워진다. 규격화된 제 1 메인 수광부의 수광 감도에 대해서 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값이 변경되거나 또는 동일하게 되고, 규격화된 제 1 서브 수광부의 수광 감도에 대해서 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값이 변경됨으로써 설정 변경된 광 검출기에 의해 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해지기 쉬워진다.
청구항9에 따른 광 픽업 장치는 청구항8에 기재된 광 픽업 장치에 있어서, 상기 규격화된 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 상기 규격화된 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값에 대해서 변경되거나 또는 동일하게 된 상기 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값은 대략 100% 이하의 낮은 값으로 설정되고, 상기 규격화된 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 상기 규격화된 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값에 대해서 변경된 상기 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값은 대략 100% 이상의 높은 값으로 설정된 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출은 설정 변경된 광 검출기에 의해 정밀도 좋게 행해지기 쉬워진다. 규격화된 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값이 100%로 되어 있는 것에 대해서 변경되거나 또는 동일하게 된 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값이 대략 100% 이하의 낮은 값으로 설정되고, 규격화된 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값이 100%로 되어 있는 것에 대해서 변경된 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값이 대략 100% 이상의 높은 값으로 설정됨으로써 설정 변경된 광 검출기에 의해 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해지기 쉬워진다.
청구항10에 따른 광 픽업 장치는 청구항8에 기재된 광 픽업 장치에 있어서, 상기 규격화된 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 상기 규격화된 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값에 대해서 변경되거나 또는 동일하게 된 상기 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값은 대략 95~100%의 값으로 설정되고, 상기 규격화된 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 상기 규격화된 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값에 대해서 변경된 상기 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값은 대략 120~160%의 값으로 설정된 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출은 설정 변경된 광 검출기에 의해 정밀도 좋게 행해진다. 규격화된 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값이 100%로 되어 있는 것에 대해서 변경되거나 또는 동일하게 된 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값이 대략 95~100%의 값으로 설정되고, 규격화된 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값이 100%로 되어 있는 것에 대해서 변경된 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값이 대략 120~160%의 값으로 설정됨으로써 설정 변경된 광 검출기에 의해 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해진다.
청구항11에 따른 광 픽업 장치는 청구항8에 기재된 광 픽업 장치에 있어서, 규격화된 제 2 메인 수광부의 수광 감도의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 상기 규격화된 제 2 메인 수광부의 수광 감도의 값에 대해서 상기 제 2 메인 수광부의 수광 감도의 값은 대략 100%의 값으로 설정되고, 규격화된 제 2 서브 수광부의 수광 감도의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 상기 규격화된 제 2 서브 수광부의 수광 감도의 값에 대해서 상기 제 2 서브 수광부의 수광 감도의 값은 대략 100%의 값으로 설정된 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 제 2 메인 빔의 검출과 제 2 서브 빔의 검출은 광 검출기에 의해 정밀도 좋게 행해진다. 규격화된 제 2 메인 수광부의 수광 감도의 값이 100%로 되어 있는 것에 대해서 제 2 메인 수광부의 수광 감도의 값이 대략 100%의 값으로 설정되고, 규격화된 제 2 서브 수광부의 수광 감도의 값이 100%로 되어 있는 것에 대해서 제 2 서브 수광부의 수광 감도의 값이 대략 100%의 값으로 설정됨으로써 광 검출기에 의해 제 2 메인 빔의 검출과 제 2 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해진다.
청구항12에 따른 광 픽업 장치는 청구항1에 기재된 광 픽업 장치와 청구항5에 기재된 광 픽업 장치가 합쳐진 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 불필요한 광의 발생을 억제한 광 픽업 장치가 구성된다. 또한, 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출은 설정 변경된 광 검출기에 의해 정밀도 좋게 행해지기 쉬워진다.
청구항13에 따른 광 픽업 장치는 청구항1에 기재된 광 픽업 장치와 청구항8에 기재된 광 픽업 장치가 합쳐진 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 불필요한 광의 발생을 억제한 광 픽업 장치가 구성된다. 또한, 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출은 설정 변경된 광 검출기에 의해 정밀도 좋게 행해지기 쉬워진다.
청구항14에 따른 광 픽업 장치는 청구항5에 기재된 광 픽업 장치와 청구항8에 기재된 광 픽업 장치가 합쳐진 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 불필요한 광의 발생을 억제한 광 픽업 장치가 구성된다. 또한, 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출은 설정 변경된 광 검출기에 의해 정밀도 좋게 행해지기 쉬워진다.
청구항15에 따른 광 픽업 장치는 청구항1에 기재된 광 픽업 장치와 청구항5에 기재된 광 픽업 장치와 청구항8에 기재된 광 픽업 장치가 합쳐진 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 불필요한 광의 발생을 억제한 광 픽업 장치가 구성된다. 또한, 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출은 설정 변경된 광 검출기에 의해 정밀도 좋게 행해지기 쉬워진다.
청구항16에 따른 광 픽업 장치는 청구항1, 5, 또는 8 중 어느 한 항에 기재된 광 픽업 장치에 있어서, 상기 회절면부는 상기 제 1 파장 광을 적어도 상기 제 1 메인 빔과 상기 제 1 서브 빔으로 나누는 회절면부와, 상기 제 2 파장 광을 적어도 상기 제 2 메인 빔과 상기 제 2 서브 빔으로 나누는 회절면부를 겸한 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 회절격자에 있어서의 불필요한 회절광의 발생이 억제됨과 아울러 광의 효율의 저하가 방지되고, 가격을 더욱 낮게 억제할 수 있는 광 픽업 장치가 구성된다. 회절격자의 회절면부가 제 1 파장 광을 적어도 제 1 메인 빔과 제 1 서브 빔으로 나누는 회절면부와, 제 2 파장 광을 적어도 제 2 메인 빔과 제 2 서브 빔으로 나누는 회절면부를 겸해서 형성되어 있으면, 제 1 파장 광이 불필요하게 회절되어 제 1 파장 광의 효율이 저하되거나, 제 2 파장 광이 불필요하게 회절되어 제 2 파장 광의 효율이 저하되거나 한다는 것은 회피된다. 또한, 제 1 파장 광을 적어도 제 1 메인 빔과 제 1 서브 빔으로 나누는 회절면부와, 제 2 파장 광을 적어도 제 2 메인 빔과 제 2 서브 빔으로 나누는 회절면부를 겸해서 회절격자의 회절면부가 형성되어 있으므로, 가공 부분, 가공 공수가 감소된 회절격자가 구성된다. 회절격자의 가공 부분, 가공 공수가 감소되므로, 회절격자의 가격이 낮게 억제된다. 이것에 따라, 가격을 낮게 억제하는 것이 가능하게 된 광 픽업 장치를 구성시키는 것이 가능하게 된다.
청구항17에 따른 광 픽업 장치는 청구항1, 5, 또는 8 중 어느 한 항에 기재된 광 픽업 장치에 있어서, 상기 회절격자는 복수개의 영역부로 나누어진 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 미디어에 대한 광 픽업 장치의 에러 신호의 검출은 양호하게 행해지기 쉬워진다. 예컨대, 미디어에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 양호하게 행해지기 쉬워진다. 미디어란 정보를 기록해서 매개하는 것이나 정보를 기록해서 전달하는 것을 의미한다. 또한, 광 픽업 장치에 있어서의 트래킹이란 미디어의 반경 방향의 진동에 추종해서 목표의 트랙 상에 항상 스폿을 존재시키는 동작을 의미한다. 회절격자로 복수개의 영역부로 나누어져 구성됨으로써 미디어에 각각 독립된 적어도 3개의 스폿이 조사된다. 미디어에 적어도 3개의 스폿이 각각 독립해서 조사되므로, 2종류 이상의 미디어의 기록/재생시에 트래킹 에러 신호 등의 에러 신호의 검출 정밀도가 저하된다는 것은 회피되기 쉬워진다.
청구항18에 따른 광 픽업 장치는 청구항1, 5, 또는 8 중 어느 한 항에 기재된 광 픽업 장치에 있어서, 상기 회절격자는 짝수의 영역부로 나누어진 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 미디어에 형성되는 스폿은 정밀도가 좋은 스폿으로서 형성된다. 예컨대 한쪽의 영역부와 다른쪽의 영역부에 회절격자가 짝수 분할되므로, 광 픽업 장치에 회절격자가 장착될 때에 회절격자에 닿는 광은 회절격자의 한쪽의 영역부와 회절격자의 다른쪽의 영역부에 대략 이등분된 상태로 닿기 쉬워진다. 회절격자의 한쪽의 영역부와 회절격자의 다른쪽의 영역부에 광이 대략 이등분이 된 상태로 닿기 쉬워짐으로써 회절격자는 광 픽업 장치에 정밀도 좋게 구비되기 쉬워진다. 따라서, 미디어에 정밀도 좋게 스폿이 형성되기 쉬워진다. 이것에 따라, 2종류 이상의 미디어의 기록/재생시에 있어서의 에러 신호의 검출 정밀도가 향상된다.
청구항19에 따른 광 픽업 장치는 청구항1, 5, 또는 8 중 어느 한 항에 기재된 광 픽업 장치에 있어서, 상기 회절격자는 제 1 영역부와 제 2 영역부와 제 3 영역부와 제 4 영역부의 적어도 4개로 나누어진 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 미디어에 대한 광 픽업 장치의 에러 신호의 검출은 양호하게 행해진다. 예컨대, 미디어에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 양호하게 행해진다. 회절격자가 4개의 영역부로 나누어져 구성됨으로써 미디어에 각각 독립된 적어도 3개의 스폿이 조사된다. 미디어에 적어도 3개의 스폿이 각각 독립해서 조사되므로, 2종류 이상의 미디어의 기록/재생시에 트래킹 에러 신호 등의 에러 신호의 검출 정밀도가 저하된다는 것은 회피된다.
청구항20에 따른 광 픽업 장치는 청구항1, 5, 또는 8 중 어느 한 항에 기재된 광 픽업 장치에 있어서, 복수 종류의 파장 광을 출사할 수 있는 발광 소자를 더 구비하는 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 광 픽업 장치의 부품점수의 삭감화에 따른 가격 저감화가 도모된다. 발광 소자는 제 1 파장 광과, 제 1 파장 광과 다른 파장으로 된 제 2 파장 광의 2종류 이상의 파장 광을 출사할 수 있는 복수 종류의 파장 광을 출사하는 발광 소자로서 구성되므로, 광 픽업 장치는 다종의 미디어에 대응할 수 있게 이루어진다. 또한, 이와 함께, 제 1 파장 광을 출사할 수 있는 발광 소자와, 제 2 파장 광을 출사할 수 있는 발광 소자가 하나의 발광 소자로서 통합되므로, 광 픽업 장치의 부품 삭감화가 도모된다. 광 픽업 장치의 부품 삭감화에 따라 광 픽업 장치의 가격이 낮게 억제된다. 따라서, 부품 삭감화, 가격 저감화가 도모된 광 픽업 장치의 제공이 가능하게 된다.
청구항21에 따른 광 픽업 장치는 청구항1, 5, 또는 8 중 어느 한 항에 기재된 광 픽업 장치에 있어서, 상기 제 1 파장 광의 파장은 대략 765~830㎚로 되고, 상기 제 2 파장 광의 파장은 대략 630~685㎚로 된 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 대략 765~830㎚의 파장 광으로 된 제 1 파장 광이 회절격자를 투과할 때에 불필요한 광이 생긴다는 것은 대략 방지된다. 또한, 대략 630~685㎚의 파장 광으로 된 제 2 파장 광이 회절격자를 투과할 때에 불필요한 광이 생긴다는 것은 대략 방지된다. 제 2 파장 광에 대응한 회절격자의 회절면부를 소정 파장 광의 제 1 파장 광이 투과함으로써 불필요한 광이 대략 생기지 않고 나누어진 소정 파장 광의 제 1 파장 광의 제 1 서브 빔은 광 검출기의 제 1 메인 수광부에 대해서 거리가 변경된 제 1 서브 수광부에 조사된다. 또한, 제 2 파장 광에 대응한 회절격자의 회절면부를 소정 파장 광의 제 1 파장 광이 투과함으로써 불필요한 광이 대략 생기지 않고 나누어진 소정 파장 광의 제 1 파장 광의 제 1 메인 빔은 광 검출기의 제 1 메인 수광부에 조사된다. 또한, 제 2 파장 광에 대응한 회절격자의 회절면부를 소정 파장 광의 제 2 파장 광이 투과했을 때에 불필요한 광이 대략 생기지 않고 소정 파장 광의 제 2 파장 광은 적어도 제 2 메인 빔과 제 2 서브 빔으로 나누어진다. 소정 파장 광의 제 2 파장 광의 제 2 서브 빔은 광 검출기의 제 2 서브 수광부에 조사되고, 소정 파장 광의 제 2 파장 광의 제 2 메인 빔은 광 검출기의 제 2 메인 수광부에 조사된다.
청구항22에 따른 광 픽업 장치는 청구항1, 5, 또는 8 중 어느 한 항에 기재된 광 픽업 장치에 있어서, 상기 제 1 파장 광의 파장은 대략 630~685㎚로 되고, 상기 제 2 파장 광의 파장은 대략 340~450㎚로 된 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 대략 630~685㎚의 파장 광으로 된 제 1 파장 광이 회절격자를 투과할 때에 불필요한 광이 생긴다는 것은 대략 방지된다. 또한, 대략 340~450㎚의 파장 광으로 된 제 2 파장 광이 회절격자를 투과할 때에 불필요한 광이 생긴다는 것은 대략 방지된다. 제 2 파장 광에 대응한 회절격자의 회절면부를 소정 파장 광의 제 1 파장 광이 투과함으로써 불필요한 광이 대략 생기지 않고 나누어진 소정 파장 광의 제 1 파장 광의 제 1 서브 빔은 광 검출기의 제 1 메인 수광부에 대해서 거리가 변경된 제 1 서브 수광부에 조사된다. 또한, 제 2 파장 광에 대응한 회절격자의 회절면부를 소정 파장 광의 제 1 파장 광이 투과함으로써 불필요한 광이 대략 생기지 않고 나누어진 소정 파장 광의 제 1 파장 광의 제 1 메인 빔은 광 검출기의 제 1 메인 수광부에 조사된다. 또한, 제 2 파장 광에 대응한 회절격자의 회절면부를 소정 파장 광의 제 2 파장 광이 투과했을 때에 불필요한 광이 대략 생기지 않고 소정 파장 광의 제 2 파장 광은 적어도 제 2 메인 빔과 제 2 서브 빔으로 나누어진다. 소정 파장 광의 제 2 파장 광의 제 2 서브 빔은 광 검출기의 제 2 서브 수광부에 조사되고, 소정 파장 광의 제 2 파장 광의 제 2 메인 빔은 광 검출기의 제 2 메인 수광부에 조사된다.
청구항23에 따른 광 픽업 장치는 청구항1, 5, 또는 8 중 어느 한 항에 기재된 광 픽업 장치에 있어서, 복수개의 신호면부를 갖는 미디어에 대응할 수 있게 이루어진 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 복수개의 신호면부를 갖는 미디어에 대한 광 픽업 장치의 신호, 정보의 판독, 및/또는 복수개의 신호면부를 갖는 미디어에 대한 광 픽업 장치의 신호, 정보의 기록은 양호하게 행해진다. 불필요한 광의 발생이 억제된 광 픽업 장치가 구성되므로, 광 픽업 장치에 의해, 복수개의 신호면부를 갖는 미디어의 신호, 정보 등의 판독이 행해지고 있을 때나, 복수개의 신호면부를 갖는 미디어에 신호, 정보 등의 기록이 행해지고 있을 때에 예컨대 문제가 생긴다는 것은 회피된다.
청구항24에 따른 광 픽업 장치는 제 1 레이저 광을 발광하는 제 1 광원과 상기 제 1 레이저 광의 파장보다 짧은 파장의 제 2 레이저 광을 발광하는 제 2 광원을 동일한 면상에 배치한 레이저 유닛과,
상기 제 2 레이저 광의 파장에 대응한 격자 간격을 갖고, 상기 제 1 레이저 광 또는 상기 제 2 레이저 광을 회절해서 메인 빔과 2개의 서브 빔을 발생시키는 회절격자와, 상기 메인 빔과 상기 2개의 서브 빔을 집광해서 광 디스크의 트랙 상에서 대략 일렬로 상기 메인 빔에 대응한 메인 스폿과 상기 2개의 서브 빔에 대응한 2개의 서브 스폿을 조사시키는 집광 광학계와, 상기 제 1 레이저 광에 따른 상기 메인 스폿과 상기 2개의 서브 스폿이 상기 광 디스크에 조사된 후에 상기 광 디스크로부터 반사되는 상기 메인 스폿에 대응하는 반사 스폿을 수광하는 제 1 메인 수광부, 및 상기 광 디스크로부터 반사되는 상기 2개의 서브 스폿 각각에 대응하는 반사 스폿을 수광하는 2개의 제 1 서브 수광부와, 상기 제 2 레이저 광에 따른 상기 메인 스폿과 상기 2개의 서브 스폿이 상기 광 디스크에 조사된 후에 상기 광 디스크로부터 반사되는 상기 메인 스폿에 대응하는 반사 스폿을 수광하는 제 2 메인 수광부, 및 상기 광 디스크로부터 반사되는 상기 2개의 서브 스폿 각각에 대응하는 2개의 반사 스폿을 수광하는 제 2 서브 수광부를 배치한 광 검출기를 구비하고, 상기 제 1 메인 수광부와 상기 제 1 서브 수광부 사이의 간격 및 상기 제 2 메인 수광부와 상기 제 2 서브 수광부 사이의 간격은 상기 회절격자의 면과 대향한 상기 레이저 유닛의 면상에서의 상기 제 1 또는 상기 제 2 광원의 위치를 나타내는 제 1 발광점에 대응한 상기 메인 스폿의 제 1 조사 점과, 상기 제 1 발광점으로부터 상기 회절격자의 면까지의 사이의 법선 거리와 상기 회절격자의 회절각에 기초해서 정해지는 상기 레이저 유닛의 면상에서의 외견상의 상기 제 1 또는 상기 제 2 광원의 위치를 나타내는 제 2 발광점에 대응한 상기 서브 스폿의 제 2 조사 점 사이의 거리에 기초해서 설정되는 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 파장이 다른 2개의 레이저 광에 대응해서 불필요한 회절광을 억제하여 에러 신호의 검출 정밀도를 향상시킨 광 픽업 장치가 제공된다.
본 발명의 청구항25에 따른 광 디스크 장치는 청구항1, 5, 8, 또는 24 중 어느 한 항에 기재된 광 픽업 장치를 적어도 구비하는 것을 특징으로 한다.
상기 구성에 의해, 불필요한 광의 발생을 억제한 광 픽업 장치를 적어도 구비하는 광 디스크 장치가 구성된다.
<발명의 효과>
본 발명에 의하면, 불필요한 광의 발생을 억제한 광 픽업 장치를 구성시킬 수 있다.
또한, 본 발명에 의하면, 설정 변경된 광 검출기에 의해 제 1 메인 빔의 검출과 제 1 서브 빔의 검출을 정밀도 좋게 행하기 쉽게 할 수 있다.
또한, 본 발명에 의하면, 파장이 다른 2개의 레이저 광에 대응해서 불필요한 회절광을 억제하여 에러 신호의 검출 정밀도를 향상시킨 광 픽업 장치를 제공할 수 있다.
또한, 본 발명에 의하면, 불필요한 광의 발생을 억제한 광 픽업 장치를 적어도 구비하는 광 디스크 장치를 구성시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시형태에 따른 광 픽업 장치의 광학 배치도이다.
도 2는 본 발명의 일실시형태에 따른 광 픽업 장치의 설명도이다.
도 3은 본 발명의 일실시형태에 따른 회절격자를 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일실시형태에 따른 인라인 방식에 있어서의 광 디스크 상의 집광 스폿 배치와 트래킹 에러 신호 검출계의 개요를 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일실시형태에 따른 광 검출기의 수광 영역을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 본 발명의 일실시형태에 따른 광 검출기의 수광 영역에 있어서의 각 수광부 간격의 도출 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 광 픽업 장치에 장착되는 회절격자의 제 1 실시형태를 나타내는 개략 평면도이다.
도 8은 도 7의 회절격자에 있어서의 광 디스크 반경 방향과 위상차의 관계를 나타내는 도면이다.
도 9는 광 픽업 장치에 장착되는 회절격자의 제 2 실시형태를 나타내는 개략도이다.
도 10은 광 픽업 장치에 장착되는 회절격자의 제 3 실시형태를 나타내는 개략 평면도이다.
도 11은 도 10의 회절격자에 있어서의 광 디스크 반경 방향과 위상차의 관계를 나타내는 도면이다.
도 12는 광 픽업 장치에 장착되는 회절격자의 제 4 실시형태를 나타내는 개략 평면도이다.
도 13은 도 12의 회절격자에 있어서의 광 디스크 반경 방향과 위상차의 관계를 나타내는 도면이다.
도 14는 광 픽업 장치의 시야 특성을 나타내는 설명도이다.
도 15는 광 픽업 장치의 서브 푸시풀 신호 진폭 레벨 특성을 나타내는 설명도이다.
도 16은 광 픽업 장치의 트래킹 에러 위상차 특성을 나타내는 설명도이다.
도 17은 종래의 광 픽업 장치의 광학계를 나타낸 도면이다.
도 18은 3빔 방식을 설명하기 위한 도면이다.
도 19는 인라인 방식을 설명하기 위한 도면이다.
도 20은 종래의 2파장 대응 회절격자를 설명하기 위한 도면이다.
도 21은 종래의 그 밖의 2파장 대응 회절격자를 설명하기 위한 도면이다.
(도면의 주요부분에 대한 부호의 설명)
20,340 : DVD용 회절격자(회절격자)
20a,30a,40a : 회절면부(면부)
21,22,341,342 : 반평면(영역부)
21w,22w,31w,32w,33w,40w,41w,44w : 폭
26,35,37,45,46,47 : 경계선부(경계부)
30m,40m : 중앙부
31,41 : 제 1 영역부(영역부)
32,42 : 제 2 영역부(영역부)
33,43 : 제 3 영역부(영역부)
42w,43w : 분할부 폭(폭)
44 : 제 4 영역부(영역부)
48 : 한쪽의 영역부
49 : 다른쪽의 영역부
50,360,361,362 : 광학 유리판(유리 기판)
50a : 평면부
61 : 레이저 유닛(발광 소자)
61a : 발광면
62 : 제 1 광원(광원)
63 : 제 2 광원(광원)
64A,64B,64C,64D : 회절격자
65i : 커플링 렌즈
65ii : 수광 소자
66,230 : 편광 빔 스플리터
67,240 : 콜리메이터 렌즈
68 : 1/4 파장판
69 : 반사 미러
70,250 : 대물 렌즈
70a : 동공면부
70b : 광의 직경(직경)
71 : 제 1 평행 평판(평행 평판)
72 : 제 2 평행 평판(평행 평판)
73,270 : 광 검출기
74,75,280,290 : 수광 영역
74a,75a : 메인 수광부(수광부)
74b,74c,75b,75c : 서브 수광부(수광부)
76 : 연산부
77,510 : 가산기
78,400,500a,500b,500c,530 : 감산기
79 : 대물 렌즈 구동부(구동부)
80,100 : 메인 스폿(스폿)
81,82,101,102 : 서브 스폿(스폿)
90i,90ii,200 : 메인 검출 광 스폿
91i,91ii,92i,92ii,201,202 : 서브 검출 광 스폿
200a,200b,200c : 수광면(수광부)
210 : 반도체 레이저 소자
260 : 검출 렌즈
300A,300B : 2파장 대응 회절격자(회절격자)
302 : 제 1 회절면부(회절면부)
304 : 제 2 회절면부(회절면부)
320 : CD용 회절격자(회절격자)
D : 광 디스크(미디어)
D80,D100 : 트랙
Da : 신호층(신호면부)
DL0 : 제 1 층(층)
DL1 : 제 2 층(층)
Dtp : 트랙 피치(주기)
d : 격자 간격
L : 법선 거리
N : 법선
O,X : 발광점
O(cd),X(cd),O(dvd),X(dvd) : 조사 점
S : 면
S11 : 오목부
S12 : 볼록부
S21 : 오목면
S22 : 볼록면
Si : 저면
Sii : 외면
Siii,Siv : 측면
Sa1,Sb1,Sc1,Sa2,Sb2,Sc2 : 푸시풀 신호
Yr : 거리
Ys,Ys(cd),Ys(dvd),Yt(cd),Yt(dvd) : 간격(거리)
θ : 회절각
δ : 간격
이하에 본 발명에 따른 광 픽업 장치 및 그것을 구비하는 광 디스크 장치의 실시형태를 도면에 기초해서 상세하게 설명한다.
[실시예1]
<<광 픽업 장치의 광학계>>
도 1은 본 발명의 일실시형태에 따른 광 픽업 장치의 광학 배치도, 도 2는 본 발명의 일실시형태에 따른 광 픽업 장치의 설명도이다.
또한, 상기 광 픽업 장치는 CD 규격(CD-ROM, CD-R, CD-RW 등) 또는 DVD 규격(DVD-ROM, DVD-RAM(Version 1, 2.0, 2.1), DVD-R, DVD+R, DVD-RW, DVD+RW 등)의 광 디스크(D) 등의 미디어(D)에 대응한 것이다. 미디어란 정보를 기록해서 매개하는 것이나 정보를 기록해서 전달하는 것을 의미한다. 예컨대, 여기서의 미디어란 데이터, 정보, 신호 등이 보존되는 디스크 등을 의미한다.
디스크로서 상기 각종 광 디스크를 들 수 있다. 또한, 디스크로서, 예컨대 디스크 양면에 신호면이 설치되고, 데이터 기록/소거나 데이터 재기록이 가능하게 이루어진 광 디스크(D) 등도 들 수 있다. 또한, 디스크로서, 예컨대 2층의 신호면이 설치되고, 데이터 기록/소거나 데이터 재기록이 가능하게 된 광 디스크(D) 등도 들 수 있다. 또한, 예컨대 3층의 신호면이 설치되고, 데이터 기록/소거나 데이터 재기록이 가능하게 된 「HD DVD」용 광 디스크(도시하지 않음) 등도 들 수 있다. 또한, 예컨대 4층의 신호면이 설치되고, 데이터 기록/소거나 데이터 재기록이 가능하게 이루어진 「Blu-ray Disc」용 광 디스크(도시하지 않음) 등도 들 수 있다. 또한, 예컨대 디스크의 라벨면측에도 레이저 광을 조사시켜서 라벨 등의 각종 기록을 행하는 것이 가능하게 이루어진 광 디스크(D) 등도 들 수 있다. 광 디스크(D)의 신호층(Da)은 예컨대 금속박막 등의 금속층 등에 의해 형성되어 있다. 금속박막 등으로 형성되는 신호층(Da)에 정보나 데이터 등이 기록된다.
광 픽업 장치를 구비하는 광 디스크 장치는 예컨대 상기 각종 디스크에 대응 가능하게 된다. 광 픽업 장치를 구비하는 광 디스크 장치가 이용되어 각종 광 디스크에 기록된 정보 등의 데이터 재생이 행해진다. 또한, 광 픽업 장치를 구비하는 광 디스크 장치가 이용되어 각종 광 디스크에 정보 등의 데이터 기록이 행해진다.
이 광 픽업 장치에 있어서의 광 디스크(D)의 집광 스폿의 포커싱 검출법은 예컨대, 차동 비점수차법에 기초한 검출법으로 되어 있다. 상술한 바와 같이, 차동 비점수차법이란 예컨대, 비점수차를 가진 광학계에서 결상된 점상 비뚤어짐을 검출함으로써 집광 스폿의 변위를 검출하는 방법으로 된다. 이 광 픽업 장치는 차동 비점수차법에 의한 광학계를 구비한 광 픽업 장치로 되어 있다.
또한, 이 광 픽업 장치에 있어서의 광 디스크(D)의 집광 스폿의 트래킹 검출 법은 예컨대, 차동 푸시풀법이나, 위상차법에 기초한 검출법으로 된다. 상술한 바와 같이, 차동 푸시풀법이란 예컨대, 데이터 판독/기록용 메인 빔과, 위치 어긋남 보정 신호를 검출하는 2개의 서브 빔에 의해 집광 스폿의 변위를 검출하는 방법으로 된다. 위상차법이란 예컨대, 4분할형 광 검출기(73)에 의해 검출되는 위상차 신호에 기초한 검출법으로 된다.
레이저 유닛(61)은 CD 규격에 적합한 적외파장대 대략 765㎚~830㎚의 제 1 파장(예컨대 782㎚)의 제 1 레이저 광을 발광하는 제 1 광원(62)과, DVD 규격에 적합한 적색파장대 대략 630㎚~685㎚의 제 2 파장(예컨대 655㎚)의 제 2 레이저 광을 발광하는 제 2 광원(63)을 동일한 발광면(61a) 상에 갖는 멀티 레이저 유닛이다. 레이저 유닛(61)은 제 1 레이저 광과, 제 1 레이저 광과 다른 파장으로 되고 또한 제 1 레이저 광보다 짧은 파장의 레이저 광으로 된 제 2 레이저 광의 2종류의 파장의 레이저 광을 출사할 수 있는 예컨대 2파장 발광 소자(61)로서 구성되어 있다. 이와 같이, 레이저 유닛(61)은 복수 종류의 파장의 레이저 광을 출사할 수 있는 발광 소자(61)로 되어 있다. 또한, 제 1 광원(62), 제 2 광원(63)은 반도체 레이저 소자를 구성하는 것이다.
레이저 유닛(61)을 구성하는 제 1 광원(62) 및/또는 제 2 광원(63)으로부터 예컨대 0.2~500㎽(밀리와트), 구체적으로는 2~400㎽의 출력값의 레이저 광이 출사된다. 예컨대 0.2㎽ 미만의 출력값의 레이저 광으로 됐을 경우, 광 디스크(D)에 조사된 후에 반사되어 광 검출기(73)에 도달하는 레이저 광의 광량이 부족하게 된다. 광 디스크(D)의 각 데이터 등을 재생시킬 때에는 예컨대 2~20㎽ 정도라는 수㎽~수 십㎽의 출력값의 레이저 광으로 충분하게 된다. 광 디스크(D)에 각 데이터 등을 기록할 때에는 수십~수백㎽의 출력값의 레이저 광이 필요하게 된다. 예컨대 광 디스크(D)에 고속으로 각 데이터 등을 기록할 때에는 400㎽나 500㎽ 등이라는 높은 출력값의 펄스 레이저 광이 필요하게 되는 경우가 있다.
레이저 유닛(61)은 예컨대 방열성이 우수한 대략 원통 형상 또는 대략 원기둥 형상의 CAN 패키지 타입의 레이저 다이오드로서 구성되어 있다. 광 픽업 장치의 설계/사양 등에 따라 CAN 패키지 타입의 레이저 유닛(61) 대신에, 예컨대, 박형화, 소형화 등에 대응 가능한 대략 판형상의 리드 프레임 패키지 타입의 레이저 다이오드(도시하지 않음)가 이용되어도 좋다.
제 1 광원(62) 및 제 2 광원(63)으로부터 각각 출사되는 제 1 레이저 광 및 제 2 레이저 광은 회절격자(64A)에 의해 메인 빔(0차 광)과 2개의 서브 빔(±1차 회절 광속)에 의한 적어도 합계 3빔을 발생시키기 위해 회절된 후에, 예컨대 커플링 렌즈(65i)에 의해 퍼짐각이 조정되어서 플레이트형의 편광 빔 스플리터(66)의 편광 필터면에 의해 반사된다.
편광 빔 스플리터(66)에 의해 반사된 레이저 광은 광학 렌즈가 되는 콜리메이터 렌즈(67)에 의해 평행 광으로 형성된 후에 1/4 파장판(68)을 통과해서 원편광으로 변환되고, 또한, 반사 미러(69)에 의해 광축이 절곡되어서 광학 렌즈가 되는 대물 렌즈(70)에 입사되고, 대물 렌즈(70)에 의해 수속되어 광 디스크(D)에 조사된다.
또한, 제 1 층(DL0)(도 2)과 제 2 층(DL1)의 복수개의 층(D10,DL1)을 갖는 광 디스크(D)에 대응 가능하게 하기 위해서, 대물 렌즈(70)는 대물 렌즈(70)의 광축 방향(P축 방향)을 대략 따라서 이동할 수 있는 상태로 광 픽업 장치에 구비되어 있다. 대물 렌즈(70)의 광축 방향(P축 방향)을 대략 따라서 대물 렌즈(70)가 이동가능한 상태로 광 픽업 장치에 구비됨으로써 복수개의 신호층(Da)을 갖는 광 디스크(D)에 대응 가능한 광 픽업 장치가 구성된다. 또한, 대물 렌즈(70)는 광 디스크(D)의 신호층(Da)의 트랙 등에 정확하게 추종하기 위해서, 디스크 반경 방향(R축 방향)을 대략 따라서 이동할 수 있는 상태로 광 픽업 장치에 구비되어 있다.
광 픽업 장치의 설계/사양 등에 따라 제 1 층(DL0)(도 2)과 제 2 층(DL1)의 복수개의 층(D10,DL1)을 갖는 광 디스크(D)에 대응 가능하게 하기 위해서, 콜리메이터 렌즈(67)가 콜리메이터 렌즈(67)의 광축 방향을 대략 따라서 이동할 수 있는 상태로 광 픽업 장치에 구비된다. 콜리메이터 렌즈(67)의 광축 방향을 대략 따라서 콜리메이터 렌즈(67)가 이동할 수 있는 상태로 광 픽업 장치에 구비됨으로써 복수개의 신호층(Da)을 갖는 광 디스크(D)에 보다 확실하게 대응할 수 있는 광 픽업 장치가 구성된다.
이상과 같이, 커플링 렌즈(65i), 편광 빔 스플리터(66), 콜리메이터 렌즈(67), 1/4 파장판(68), 반사 미러(69), 대물 렌즈(70)는 집광 광학계의 일례가 된다. 회절격자(64A)는 회절격자(64A)에 의해 분기된 메인 빔과 2개의 서브 빔을 집광해서 광 디스크(D)의 트랙 상에 있어서 가늘고 긴 트랙에 대해서 대략 평행하게 또는 비스듬히 경사져서 대략 일렬로 메인 빔에 대응한 메인 스폿과 2개의 서브 빔에 대응한 2개의 서브 스폿을 조사시키는 것이다.
또한, 광 픽업 장치의 설계/사양 등에 따라, 예컨대 커플링 렌즈(65i)가 장착되지 않고 생략되어도 좋다. 또한, 도 1에 있어서는 콜리메이터 렌즈(67)와 반사 미러(69) 사이에 1/4 파장판(68)이 위치하는 광 픽업 장치의 광학 배치예를 나타내었지만, 광 픽업 장치의 설계/사양 등에 따라, 예컨대, 콜리메이터 렌즈(67)와 반사 미러(69) 사이에 1/4 파장판(68)이 장착되지 않고 편광 빔 스플리터(66)와 콜리메이터 렌즈(67) 사이에 1/4 파장판(68)이 위치하는 광 픽업 장치도 사용할 수 있게 되어 있다.
또한, 광 디스크(D)에 신호를 기록할 수 있는 광 픽업 장치에 있어서는 레이저 유닛(61)으로부터 출사되는 레이저 광을 모니터하고, 레이저 유닛(61)의 제어를 위해 피드백을 거는 수광 소자(65ii)가, 예컨대 편광 빔 스플리터(66)의 주변 근방에 장착된다.
대물 렌즈(70)는 예컨대 각종의 광 디스크(D)에 적합한 파장의 각 레이저 광을 각각의 광학 특성에 맞춰서 회절하는 회절격자(도시하지 않음)가 입사면에 광축을 중심으로 해서 윤대(輪帶) 형상으로 형성되고, 상기 회절격자에 의해 회절 분기된 3빔이 각 광 디스크(D)에 대해서 구면수차를 보정해서 집광 작용을 갖도록 설계된다. 그리고, 대물 렌즈(70)를 포커스 방향(도 1 중에 나타내는 P축 방향) 및 트래킹 방향(도 1 중에 나타내는 트랙의 형성 방향을 나타내는 Q축과 직교하는 방향이며 또한 P축과 직교하는 방향이 되는 R축 방향)으로 구동함으로써 광 디스크(D)의 신호층(Da)에 레이저 광을 포커싱시킴과 아울러, 광 디스크(D)의 소정의 트랙에 레이저 광을 추종시키도록 대물 렌즈(70)로부터 광 디스크(D)를 향해서 레이저 광 이 조사된다.
광 디스크(D)의 신호층(Da)에 의해 변조되어 반사된 레이저 광은 대물 렌즈(70)로 리턴되고, 왕로와 도중까지 대략 동일한 광로인 복로를 경유해서 편광 빔 스플리터(66)에 이른다. 광 디스크(D)의 신호층(Da)에 예컨대 우선회의 레이저 광이 조사되었을 때에 반사된 레이저 광은 예컨대 좌선회의 레이저 광으로 반전된 상태의 원편광이 된다. 광 디스크(D)로의 왕로에서 S 편광이었던 레이저 광은 복로에서는 P 편광의 레이저 광이 되어 1/4 파장판(68)으로부터 출사되고, P 편광의 레이저 광은 편광 빔 스플리터(66)에 입사된다.
복로의 P 편광의 레이저 광은 편광 빔 스플리터(66)를 대략 투과한다. 편광 빔 스플리터(66)에 리턴된 레이저 광은 예컨대 편광 빔 스플리터(66)를 투과할 때의 비점수차를 보정하기 위해 비스듬히 배치된 제 1 평행 평판(71)을 투과한다. 또한, 제 1 평행 평판(71)을 투과한 레이저 광이 비스듬히 배치된 제 2 평행 평판(72)을 투과함으로써 예컨대 광 디스크(D)에 조사되는 레이저 광의 포커스 에러 성분이 되는 비점수차가 부여됨과 아울러, 편광 빔 스플리터(66) 및 제 1 평행 평판(71)에 의해 발생되는 코마수차가 보정된 후에 광 검출기(73)에 레이저 광이 도입된다. 이 결과, 광 검출기(73)는 제 2 평행 평판(72)으로부터 도입된 레이저 광에 기초해 트래킹 에러 신호나 포커스 에러 신호 등을 생성한다.
광 검출기(73)는 광 디스크(D)로부터 반사된 레이저 광을 받아 그 신호를 트래킹 에러 신호나 포커스 에러 신호 등의 전기 신호로 바꾸어 광 픽업 장치를 구성하는 대물 렌즈(70)가 부착된 렌즈 홀더(도시하지 않음) 등의 서보 기구(도시하지 않음)를 동작시키기 위한 것으로 되어 있다. 서보란, 예컨대 제어의 대상의 상태를 측정하고 미리 정해진 기준값과 비교해서 자동적으로 수정 제어하는 기구의 것 등을 의미한다. 또한, 광 검출기(73)는 광 디스크(D)로부터 반사된 레이저 광을 받아 그 신호를 전기 신호로 바꾸어 광 디스크(D)에 기록된 정보를 검출하기 위한 것으로 되어 있다.
<<회절격자(64A)와 광 검출기(73)>>
이하, 도 3, 도 4를 이용하여 회절격자(64A) 및 광 검출기(73)에 대해서 설명한다.
도 3은 본 발명의 일실시형태에 따른 회절격자를 설명하기 위한 도면, 도 4는 본 발명의 일실시형태에 따른 인라인 방식에 있어서의 광 디스크 상의 집광 스폿 배치와 트래킹 에러 신호 검출계의 개요를 설명하기 위한 도면이다.
본 실시형태의 광 픽업 장치는 CD 규격 및 DVD 규격 중 어느 광 디스크(D)에도 대응한 것이다. 회절격자(64A)(도 3)는 DVD용 회절격자(20)와 대략 동일한 구성을 한 저렴한 인라인 방식 대응의 회절격자(64A)로 되어 있다. 회절격자(64A)는 3빔 방식 대응의 CD용 회절격자를 이용하지 않고 인라인 방식 대응의 DVD용 회절격자(20)만으로 구성된 것이다. 본원에 있어서의 회절격자란, 예컨대 광을 회절시키는 회절면부가 형성된 부재를 의미하고, 예컨대 인라인 그레이팅(inline grating) 등으로 칭해진다. 또한, 본원에 있어서의 도시된 회절격자 등은 각 상세부가 용이하게 이해되기 위해서 편의상 그려져 있다.
종래의 CD용 회절격자(320)(도 20, 도 21) 및 DVD용 회절격자(340) 양쪽을 구비하는 2파장 대응 회절격자(300A,300B)에 있어서는 CD 규격에 준거한 제 1 레이저 광 또는 DVD 규격에 준거한 제 2 레이저 광이 CD용 회절격자(320) 및 DVD용 회절격자(340) 양쪽을 통과한 결과, 불필요한 회절광이 발생되는 것이 문제로 되고 있었다. 이러한 불필요한 회절광의 발생을 해소시키기 위해서 회절격자(64A)(도 3)는 DVD용 회절격자(20)만의 구성으로 되어 있다.
구체적으로는, 회절격자(64A)는 도 3의 좌측에 나타내는 바와 같이, 한쪽의 반평면(21)에 형성된 격자 홈의 주기 구조의 위상이 다른쪽의 반평면(22)에 형성된 격자 홈의 주기 구조의 위상에 대해서 약 180도 어긋난 DVD용 회절격자 부재(20)로 되어 있다. 또한, 회절격자(64A)의 광학 배치는 인라인 방식에 준거해서, 도 4에 나타내는 바와 같이, 광 디스크(D) 상에 조사된 제 1 또는 제 2 레이저 광의 메인 빔에 기초한 메인 스폿(80) 및 제 1 또는 제 2 레이저 광의 서브 빔에 기초한 서브 스폿(81,82)을 동일한 트랙(D80) 상에 대략 평행하게 또는 비스듬히 경사진 상태에서 대략 일렬로 조사시키도록 조정된다.
이상과 같은 DVD용 회절격자 부재(20)만으로 된 회절격자(64A)의 구성 및 그 광학 배치를 채용한 것에 의해, 전술한 바와 같이, 불필요한 회절광이 억제됨과 아울러, 인라인 방식에 기초한 트래킹 에러 신호의 검출을 적절하게 행할 수 있다. 구체적으로 설명하면 도 4에 나타내는 바와 같이, DVD 규격에 준거한 제 2 레이저 광의 경우에는 다음과 같이 트래킹 에러 신호의 검출이 행해진다.
DVD 규격에 대응한 메인 검출 광 스폿(80)을 형성하는 DVD용 메인 빔이 광 디스크(D)의 신호층(Da)으로부터 반사되어 광 검출기(73)의 DVD 수광 영역(75)에 있어서의 메인 수광부(75a)에 메인 검출 광 스폿(90ii)으로서 조사되었을 때에 메인 수광부(75a)에 접속된 도시하지 않은 감산기는 메인 수광부(75a)로부터의 출력 신호의 차분을 연산해서 예컨대 메인 푸시풀 신호(Sa2)로서 생성한다.
또한, DVD 규격에 대응한 제 1 서브 검출 광 스폿(81)을 형성하는 DVD용 제 1 서브 빔이 광 디스크(D)의 신호층(Da)으로부터 반사되어 광 검출기(73)의 DVD 수광 영역(75)에 있어서의 제 1 서브 수광부(75b)에 제 1 서브 검출 광 스폿(91ii)으로서 조사되었을 때에 제 1 서브 수광부(75b)에 접속된 도시하지 않은 감산기는 제 1 서브 수광부(75b)로부터의 출력 신호의 차분을 연산해서 예컨대 선행 푸시풀 신호(Sb2)로서 생성한다.
또한, DVD 규격에 대응한 제 2 서브 검출 광 스폿(82)을 형성하는 DVD용 제 2 서브 빔이 광 디스크(D)의 신호층(Da)으로부터 반사되어 광 검출기(73)의 DVD 수광 영역(75)에 있어서의 제 2 서브 수광부(75c)에 제 2 서브 검출 광 스폿(92ii)으로서 조사되었을 때에 제 2 서브 수광부(75c)에 접속된 도시하지 않은 감산기는 제 2 서브 수광부(75c)로부터의 출력 신호의 차분을 연산해서 예컨대 지행 푸시풀 신호(Sc2)로서 생성한다.
메인 스폿(80)에 대응한 메인 검출 광 스폿(90ii)으로부터 검출되는 푸시풀 신호(Sa2)와, 서브 스폿(81,82) 각각에 대응하는 서브 검출 광 스폿(91ii,92ii)으로부터 검출되는 푸시풀 신호(Sb2,Sc2)는 서로 역위상으로 출력된다. 그 후에, 가산기(77)에 의해 푸시풀 신호(Sb2,Sc2)가 가산되고, 이 가산된 신호가 감산기(78)에 의해 푸시풀 신호(Sa2)에 대해서 감산 처리됨으로써 푸시풀 신호(Sa2,Sb2,Sc2) 의 각 오프셋 성분이 상쇄된 정밀도가 높은 트래킹 에러 신호를 생성하는 것이 가능하게 된다.
한편, CD 규격에 준거한 제 1 레이저 광의 경우이여도 다음과 같이 트래킹 에러 신호의 검출이 행해진다.
CD 규격에 대응한 메인 검출 광 스폿(80)을 형성하는 CD용 메인 빔이 광 디스크(D)의 신호층(Da)으로부터 반사되어 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 있어서의 메인 수광부(74a)에 메인 검출 광 스폿(90i)으로서 조사되었을 때에 메인 수광부(74a)에 접속된 도시하지 않은 감산기는 메인 수광부(74a)로부터의 출력 신호의 차분을 연산해서 예컨대 메인 푸시풀 신호(Sa1)로서 생성한다.
또한, CD 규격에 대응한 제 1 서브 검출 광 스폿(81)을 형성하는 CD용 제 1 서브 빔이 광 디스크(D)의 신호층(Da)으로부터 반사되어 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 있어서의 제 1 서브 수광부(74b)에 제 1 서브 검출 광 스폿(91i)으로서 조사되었을 때에 제 1 서브 수광부(74b)에 접속된 도시하지 않은 감산기는 제 1 서브 수광부(74b)로부터의 출력 신호의 차분을 연산해서 예컨대 선행 서브 푸시풀 신호(Sb1)로서 생성한다.
또한, CD 규격에 대응한 제 2 서브 검출 광 스폿(82)을 형성하는 CD용 제 2 서브 빔이 광 디스크(D)의 신호층(Da)으로부터 반사되어 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 있어서의 제 2 서브 수광부(74c)에 제 2 서브 검출 광 스폿(92i)으로서 조사되었을 때에 제 2 서브 수광부(74c)에 접속된 도시하지 않은 감산기는 제 2 서브 수광부(74c)로부터의 출력 신호의 차분을 연산해서 예컨대 지행 서브 푸시풀 신 호(Sc1)로서 생성한다.
메인 스폿(80)에 대응한 메인 검출 광 스폿(90i)으로부터 검출되는 푸시풀 신호(Sa1)와, 서브 스폿(81,82) 각각에 대응하는 서브 검출 광 스폿(91i,92i)으로부터 검출되는 푸시풀 신호(Sb1,Sc1)는 서로 역위상으로 출력된다. 그 후에, 감산기(78)에 의해 푸시풀 신호(Sa1,Sb1,Sc1)의 각 오프셋 성분이 상쇄된 트래킹 에러 신호를 생성하는 것이 가능하게 된다.
광 검출기(73)에서 생성된 신호는 연산부(76)에 보내져 계산이 행해지고, 연산부(76)에서 생성된 신호가 대물 렌즈 구동부(79)에 보내진다. 대물 렌즈 구동부(79)에 전기 신호가 흐름으로써 대물 렌즈(70)가 움직여진다. 연산부(76)에서 생성된 트래킹 오차 신호가 대물 렌즈 구동부(79)에 보내져 광 디스크(D)의 트랙(D80)에 대한 대물 렌즈(70)의 트래킹 조정이 자동적으로 행해진다.
그러나, 회절격자(64A)는 예컨대 DVD 규격에 준거한 제 2 레이저 광이 되는 제 2 파장에 대응하는 DVD용 회절격자 부재(20)만의 구성으로 되어 있고, CD 규격에 준거한 제 1 레이저 광이 되는 제 1 파장에는 대응하고 있지 않다. 이 때문에, CD 규격에 준거한 제 1 레이저 광이 회절격자(64A)에 의해 회절 분기된 메인 검출 광 스폿(90i)과 서브 검출 광 스폿(91i,92i)의 간격(이하, 메인-서브 피치로 칭한다.)은 회절격자(64A)가 대응하는 파장에 반비례한 길이가 되므로, 본래 사용해야 할 CD용 회절격자에 의해 회절 분기된 경우의 메인-서브 피치와 대비해서 확대된다. 또한, 메인-서브 피치가 확대된 결과, 메인 검출 광 스폿(90i)과 서브 검출 광 스폿(91i,92i)의 분광비도 변화되어 버린다.
그래서, 광 검출기(73)에 있어서 메인 검출 광 스폿(90ii)을 수광하는 제 2 메인 수광부(75a)와 한쪽의 서브 검출 광 스폿(91ii)을 수광하는 한쪽의 제 2 서브 수광부(75b) 및 다른쪽의 서브 검출 광 스폿(92ii)을 수광하는 다른쪽의 제 2 서브 수광부(75c) 사이의 수광 간격[Ys(dvd)]과, 메인 검출 광 스폿(90i)을 수광하는 제 1 메인 수광부(74a)와 한쪽의 서브 검출 광 스폿(91i)을 수광하는 한쪽의 제 2 서브 수광부(74b) 및 다른쪽의 서브 검출 광 스폿(92i)을 수광하는 다른쪽의 제 1 서브 수광부(74c) 사이의 수광 간격[Ys(cd)]을 각각의 레이저 광에 따른 메인-서브 피치와 맞춰지도록 적절하게 설정할 필요가 있다.
<<광 검출기(73)의 수광 영역(74,75)>>
이하, 도 5, 도 6을 이용하여 광 검출기(73)의 수광 영역(74,75)에 대해서 설명한다.
도 5는 본 발명의 일실시형태에 따른 광 검출기의 수광 영역을 설명하기 위한 도면, 도 6은 본 발명의 일실시형태에 따른 광 검출기의 수광 영역에 있어서의 각 수광부 간격의 도출 방법을 설명하기 위한 도면이다.
광 검출기(73)의 동일 수광면에 있어서 DVD 규격의 광 디스크(D)의 기록 재생에 이용되는 DVD 수광 영역(75)과, CD 규격의 광 디스크(D)의 기록 재생에 이용되는 CD 수광 영역(74)이 정렬해서 형성되어 있다.
DVD 수광 영역(75)에는 DVD 규격에 준거한 제 2 레이저 광을 회절격자(64A)에 의해 회절 분기한 3빔, 구체적으로는 메인 빔(0차 광)과, 그 메인 빔의 전후에 배치되는 2개의 서브 빔(±1차 회절 광속) 각각에 대응해서 제 2 메인 수광 부(75a), 제 2 서브 수광부(75b,75c)가 형성된다. 본원에 있어서의 「전」,「후」의 정의는 편의상의 정의로 되어 있다. 제 2 메인 수광부(75a), 제 2 서브 수광부(75b,75c)는 4분할되어 각각 4개의 세그먼트에 의해 구성된다. 제 2 메인 수광부(75a), 제 2 서브 수광부(75b) 및 제 2 서브 수광부(75c)를 구성하는 각 세그먼트로부터 얻어지는 각 수광 출력에 소정의 연산을 행함으로써 DVD 규격의 광 디스크(D)의 기록 재생시에 메인 정보 신호, 포커스 에러 신호 및 트래킹 에러 신호가 얻어진다. 또한, 제 2 메인 수광부(75a), 제 2 서브 수광부(75b,75c)는 4분할에 한정되지 않고, 예컨대 2분할이어도 좋다.
CD 수광 영역(74)에는 CD 규격에 준거한 제 1 레이저 광을 회절격자(64A)에 의해 회절 분기한 3빔, 구체적으로는 메인 빔(0차 광)과, 그 메인 빔의 전후에 배치되는 2개의 서브 빔(±1차 회절 광속) 각각에 대응해서 제 1 메인 수광부(74a)와 2개의 제 1 서브 수광부(74b,74c)가 형성된다. 제 1 메인 수광부(74a), 제 1 서브 수광부(74b,74c)는 각각 4분할되어 4개의 세그먼트에 의해 구성된다. 제 1 메인 수광부(74a), 제 1 서브 수광부(74b,74c)를 구성하는 각 세그먼트로부터 얻어지는 각 수광 출력에 소정의 연산을 실시함으로써 CD 규격의 광 디스크(D)의 기록 재생시에 메인 정보 신호, 포커스 에러 신호 및 트래킹 에러 신호가 얻어진다. 또한, 제 1 메인 수광부(74a), 제 1 서브 수광부(74b,74c)는 4분할에 한정되지 않고, 예컨대 2분할이어도 좋다.
DVD 수광 영역(75)에 있어서의 제 2 메인 수광부(75a)와 제 2 서브 수광부(75b,75c) 사이의 수광 간격[Ys(dvd)]과, CD 수광 영역(74)에 있어서의 제 1 메 인 수광부(74a)와 제 1 서브 수광부(74b,74c) 사이의 수광 간격[Ys(cd)]은 다음과 같이 도출된다.
우선, 레이저 유닛(61)의 제 1 또는 제 2 광원(62,63)으로부터 출사되는 제 1 또는 제 2 레이저 광의 파장(λ)과, 회절격자(64A)에 있어서 연속된 오목부(S11)로부터 볼록부(S12) 또는 볼록부(S12)로부터 오목부(S11)까지를 1주기로 한 격자 간격(d)에 기초해서 다음의 식 (1)에 의한 브래그(bragg)의 조건에 기초하는 근사식에 의해 회절각(θ)이 구해진다(도 6 참조). 또한, 격자 간격(d)은 예컨대 수㎛~수백㎛ 정도로 된다.
θ=Sin-1(λ/d) … (1)
또한, 오목부(S11)는 저면(Si)과, 저면(Si)에 대해서 대략 직교하는 양측면(Siii,Siv)을 구비해서 구성되어 있다. 또한, 오목부(S11)를 구성하는 오목면(S21)도 저면(Si)과, 저면(Si)에 대해서 대략 직교하는 양측면(Siii,Siv)을 구비해서 구성된다. 또한, 볼록부(S12)는 저면(Si)에 대략 평행한 외면(Sii)과, 저면(Si) 및 외면(Sii)에 대해서 대략 직교하는 양측면(Siii,Siv)을 구비해서 구성되어 있다. 또한, 볼록부(S12)를 구성하는 볼록면(S21)도 저면(Si)에 대략 평행한 외면(Sii)과, 저면(Si) 및 외면(Sii)에 대해서 대략 직교하는 양측면(Siii,Siv)을 구비해서 구성된다. 또한, 회절각(θ)이란 회절광이 회절격자(64A)의 대략 평활면(S)의 이면측의 회절면부(20a)를 구성하는 오목면(S21)의 저면(Si)이나 볼록면(S22)의 외면(Sii)의 법선(N)과 이루는 각도를 의미한다. 또한, 도 6에 나타내는 설명도는 설명을 용이하게 하기 위해서 편의상 그려진 도면이고, 실제로는 가상의 발광점(X)은 법선(N)을 중심축으로 해서 대략 대칭으로 1쌍 정도 설정된다.
다음에, 레이저 유닛(61)의 발광면(61a)에 포함되는 제 1 또는 제 2 광원(62,63)의 현실의 위치를 나타내는 제 1 발광점(O)으로부터 회절격자(64A)의 대략 평활면(S)의 이면측의 오목면(S21)을 구성하는 저면(Si)이나 볼록면(S22)을 구성하는 외면(Sii)까지의 사이의 법선 거리(L)와, 상기 식 (1)에 의해 구한 회절각(θ)에 기초해서 레이저 유닛(61)의 발광면(61a) 상에서의 서브 빔에 관한 외견상의 제 1 또는 제 2 광원(62,63)의 위치를 나타내는 제 2 발광점(X)을 정할 수 있다. 또한, 레이저 유닛(61)의 발광면(61a)은 회절격자(64A)의 대략 평활면(S)의 법선(N)에 대해서 수직이고, 면(S)의 이면측의 오목면(S21)을 구성하는 저면(Si)이나 볼록면(S22)을 구성하는 외면(Sii)으로부터 대략 법선 거리(L)만큼 떨어진 위치에 있는 평면으로 되어 있다. 그리고, 다음의 식 (2)에 의해, 레이저 유닛(61)의 발광면(61a) 상에 있어서의 제 1 발광점(O)으로부터 제 2 발광점(X)까지의 사이의 거리(Yr)가 구해진다(도 6 참조).
Yr=L×tan(θ) … (2)
여기서, 광 디스크(D)의 신호층(Da) 상에 있어서의 메인 스폿의 제 1 조사 점(O')(도시하지 않음)과, 제 2 발광점(X)으로부터 가상적으로 발광되는 제 1 또는 제 2 레이저 광에 대응한 광 디스크(D)의 신호층(Da) 상에 있어서의 서브 스폿의 제 2 조사 점(X')(도시하지 않음)에 대해서 간단하게 설명한다.
예컨대, 콜리메이터 렌즈(67)의 초점 거리(f2)(도시하지 않음)와, 대물 렌 즈(70)의 초점 거리(f1)(도시하지 않음)에 기초해서 제 1 발광점(O)으로부터 가상적으로 발광되는 제 1 또는 제 2 레이저 광에 대응한 광 디스크(D)의 신호층(Da) 상에 있어서의 메인 스폿의 제 1 조사 점(O')(도시하지 않음)과, 제 2 발광점(X)으로부터 가상적으로 발광되는 제 1 또는 제 2 레이저 광에 대응한 광 디스크(D)의 신호층(Da) 상에 있어서의 서브 스폿의 제 2 조사 점(X')(도시하지 않음)이 구해진다. 그러면, 광 디스크(D)의 신호층(Da) 상에 있어서의 제 1 조사 점(O')과 제 2 조사 점(X') 사이의 거리(Ys')(도시하지 않음)는 발광점(O)으로부터 발광점(X)까지의 거리(Yr)와, 콜리메이터 렌즈(67)의 초점 거리(f2)와, 대물 렌즈(70)의 초점 거리(f1)에 기초해서 예컨대, 다음의 식 (3)에 의해 구해진다.
Ys'=Yr×f1/f2 … (3)
이상을 정리하면, 제 1 또는 제 2 레이저 광의 파장을 예컨대 λ로 하고, 회절격자(64A)의 격자 간격을 d로 하며, 레이저 유닛(61)의 발광면(61a)으로부터 회절격자(64A)의 면(S)에 대한 이면측의 오목면(S21)을 구성하는 저면(Si)이나 볼록면(S22)을 구성하는 외면(Sii)과의 사이의 법선 거리를 L로 하고, 대물 렌즈(70)의 초점 거리를 f1로 하며, 콜리메이터 렌즈(67)의 초점 거리를 f2로 했을 때에 광 디스크(D)의 신호층(Da) 상에 있어서의 제 1 조사 점(O')과 제 2 조사 점(X') 사이의 거리(Ys')는 다음의 식 (4)에 기초해서 구해진다. 또한, 거리(Ys')는 제 1 또는 제 2 레이저 광이 회절격자(64A)에 의해 회절 분기된 경우의 광 디스크(D)의 신호층(Da) 상에서의 각 메인-서브 피치를 나타내고 있다.
Ys'=L×tan{sin-1(λ/d)}×f1/f2 … (4)
광 디스크(D)의 신호층(Da)에 조사되는 제 1 또는 제 2 레이저 광의 메인 빔 및 2개의 서브 빔은 광 디스크(D)의 신호층(Da)에 의해 반사되어 최종적으로 광 검출기(73)에 조사된다.
다음에, 광 검출기(73)에 있어서의 제 1 메인 수광부(74a)와 제 1 서브 수광부(74b,74c) 사이의 수광 간격[Ys(cd)] 및 제 2 메인 수광부(75a)와 제 2 서브 수광부(75b,75c) 사이의 수광 간격[Ys(dvd)]의 설정 방법에 대해서 계속해서 설명한다.
상기 식 (1) 및 식 (2)에 기초하여 다음의 식 (5)가 구해진다.
Yr=L×tan{sin-1(λ/d)} … (5)
여기서, 레이저 유닛(61)의 발광면(61a)에 있어서의 DVD용 발광점(O,X)과, DVD용 반사광에 대응한 광 검출기(73)의 수광면에 있어서의 DVD용 조사 점[O(dvd),X(dvd)]을, 예컨대 광학적으로 등가인 위치에 배치시키기 위해서, DVD용 출사광에 대응한 가상의 광원 간격[Yr(dvd)]과, DVD용 반사광에 대응한 실제의 수광 간격[Ys(dvd)]이 대략 같은 것으로 가정한다.
예컨대 다음의 식 (6)을 가정한다.
Ys(dvd) ≒ Yr(dvd) … (6)
다음에, 식 (5) 및 식 (6)에 기초해서 예컨대 다음의 식 (7)이 설정된다.
Ys(dvd)=L×tan{sin-1(λ(dvd)/d)} … (7)
DVD 규격의 파장(제 2 파장)[λ(dvd)]이 예컨대 대략 660㎚로 되어 있을 경우, 식 (7)의 λ(dvd)에 660을 대입하면 다음의 식 (8)이 구해진다.
Ys(dvd)=L×tan{sin-1(660/d)} … (8)
미리 정해진 법선 거리(L)의 수치와 미리 정해진 격자 간격(d)의 수치를 식 (8)에 대입함으로써 광 검출기(73)의 DVD 수광 영역(75)에 있어서의 수광 간격[Ys(dvd)]이 구해진다.
다음에, 레이저 유닛(61)의 발광면(61a)에 있어서의 CD용의 발광점(O,X)과, CD용 반사광에 대응한 광 검출기(73)의 수광면에 있어서의 CD용의 조사 점O(cd), X(cd)를, 예컨대 광학적으로 등가인 위치에 배치시키기 위해서, CD용 출사광에 대응한 가상의 광원 간격[Yr(cd)]과, CD용 반사광에 대응한 실제의 수광 간격[Ys(cd)]이 대략 같은 것으로 가정한다.
예컨대 다음의 식 (9)를 가정한다.
Ys(cd) ≒ Yr(cd) … (9)
다음에, 식 (5) 및 식 (9)에 기초해서 예컨대 다음의 식 (10)이 설정된다.
Ys(cd)=L×tan{sin-1(λ(cd)/d)} … (10)
CD 규격의 파장(제 1 파장)[λ(cd)]이 예컨대 대략 785㎚로 되어 있을 경우, 식 (10)의 λ(cd)에 785를 대입하면 다음의 식 (11)이 구해진다.
Ys(cd)=L×tan{sin-1(785/d)} … (11)
미리 정해진 법선 거리(L)의 수치와 미리 정해진 격자 간격(d)의 수치를 식 (11)에 대입함으로써 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 있어서의 수광 간격[Ys(cd)]이 구해진다.
이와 같이 하여, 광 검출기(73)의 DVD 수광 영역(75)에 있어서의 수광 간격[Ys(dvd)]과, 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 있어서의 수광 간격[Ys(cd)]이 정해진다.
미리 정해진 법선 거리(L)의 수치와 미리 정해진 격자 간격(d)의 수치는 함께 일정값으로 되는 점에서, 식 (8)에 기초해서 도출된 DVD용 반사광에 대응하는 실제의 수광 간격[Ys(dvd)]과, 식 (11)에 기초해서 도출된 CD용 반사광에 대응하는 실제의 수광 간격[Ys(cd)]을 비교하면, 수광 간격[Ys(dvd)]보다 수광 간격[Ys(cd)]쪽이 명확하게 길어진다.
이와 같이, 광 검출기(73)에 있어서의 제 1 메인 수광부(74a)와 제 1 서브 수광부(74b,74c) 사이의 수광 간격[Ys(cd)]은 식 (11)에 의해 구해지는 거리[Ys(cd)]에 기초해서 설정된다. 또한, 광 검출기(73)에 있어서의 제 2 메인 수광부(75a)와 제 2 서브 수광부(75b,75c) 사이의 수광 간격[Ys(dvd)]은 식 (8)에 의해 구해지는 거리[Ys(dvd)]에 기초해서 설정된다.
구체적으로는 제 1 메인 수광부(74a)에 있어서의 4세그먼트의 중심과 제 1 서브 수광부(74b,74c)의 4세그먼트의 중심 사이의 거리[Ys(cd)]를 식 (11)에 의해 구해지는 거리[Ys(cd)]로 설정한다. 또한, 제 2 메인 수광부(75a)에 있어서의 4세그먼트의 중심과 제 2 서브 수광부(75b,75c)의 4세그먼트의 중심 사이의 거리[Ys(dvd)]를 식 (8)에 의해 구해지는 거리[Ys(dvd)]로 설정한다. 이것에 의해, 광 검출기(73)는 제 1 또는 제 2 레이저 광을 회절격자(64A)에 의해 회절 분기시켰을 경우의 각 메인-서브 피치에 적절하게 대응할 수 있게 된다.
<<광 검출기(73)에 조사되는 각 스폿(90i,91i,92i/90ii,91ii,92ii)의 분광비, 광 검출기(73)의 수광 감도>>
이하, 도 4를 이용해서 예컨대 각 스폿(90i,91i,92i/90ii,91ii,92ii)의 광의 강도비가 되는 분광비 등에 대해서 설명한다.
우선, 광 검출기(73)의 DVD 수광 영역(75)에 조사되는 광의 세기나 분광비 등에 대해서 설명한다.
예컨대, DVD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D80) 상의 선행 서브 스폿(81)에 대응하는 서브 검출 광 스폿(91ii)과, DVD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D80) 상의 메인 스폿(80)에 대응하는 메인 검출 광 스폿(90ii)과, DVD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D80) 상의 후행 서브 스폿(82)에 대응하는 서브 검출 광 스폿(92ii)의 분광비는 대략 1:15:1로 되어 있다.
이 경우의 서브 검출 광 스폿(91ii 또는 92ii)에 있어서의 광의 세기는 광 검출기(73)의 DVD 수광 영역(75)에 조사되는 광의 세기 전체의 약 1/17이 된다. 또한, 이 경우의 메인 검출 광 스폿(90ii)에 있어서의 광의 세기는 광 검출기(73)의 DVD 수광 영역(75)에 조사되는 광의 세기 전체의 약 15/17이 된다.
도 4에 나타내는 인라인 방식의 광 검출기(73)의 DVD 수광 영역(75)에 조사되는 레이저 광의 분광비는 도 19에 나타내는 인라인 방식의 DVD용 광 검출기(270)에 조사되는 레이저 광의 분광비와 대략 동일하게 되어 있다.
예컨대, DVD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D100) 상의 선행 서브 스폿(101)에 대응하는 서브 검출 광 스폿(201)과, DVD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D100) 상의 메인 스폿(100)에 대응하는 메인 검출 광 스폿(200)과, DVD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D100) 상의 후행 서브 스폿(102)에 대응하는 서브 검출 광 스폿(202)의 분광비는 대략 1:15:1로 되어 있다.
이 경우의 서브 검출 광 스폿(201 또는 202)에 있어서의 광의 세기는 광 검출기(270)에 조사되는 광의 세기 전체의 약 1/17이 된다. 또한, 이 경우의 메인 검출 광 스폿(200)에 있어서의 광의 세기는 광 검출기(270)에 조사되는 광의 세기 전체의 약 15/17이 된다.
다음에, 도 4에 나타내는 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 조사되는 광의 세기나 분광비 등에 대해서 설명한다.
예컨대, CD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D80) 상의 선행 서브 스폿(81)에 대응하는 서브 검출 광 스폿(91i)과, CD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D80) 상의 메인 스폿(80)에 대응하는 메인 검출 광 스폿(90i)과, CD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D80) 상의 후행 서브 스폿(82)에 대응하는 서브 검출 광 스폿(92i)의 분광비는 대략 1:23:1로 되어 있다.
이 경우의 서브 검출 광 스폿(91i 또는 92i)에 있어서의 광의 세기는 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 조사되는 광의 세기 전체의 약 1/25이 된다. 또한, 이 경우의 메인 검출 광 스폿(90i)에 있어서의 광의 세기는 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 조사되는 광의 세기 전체의 약 23/25이 된다.
도 4에 나타내는 인라인 방식의 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 조사되는 레이저 광의 분광비는 도 18에 나타내는 3빔 방식의 CD용 광 검출기(270)에 조사되는 레이저 광의 분광비와 다르다.
예컨대, CD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D100) 상의 선행 서브 스폿(101)에 대응하는 서브 검출 광 스폿(201)과, CD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D100) 상의 메인 스폿(100)에 대응하는 메인 검출 광 스폿(200)과, CD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D100) 상의 후행 서브 스폿(102)에 대응하는 서브 검출 광 스폿(202)의 분광비는 대략 1:16:1로 되어 있다.
이 경우의 서브 검출 광 스폿(201 또는 202)에 있어서의 광의 세기는 광 검출기(270)에 조사되는 광의 세기 전체의 약 1/18이 된다. 또한, 이 경우의 메인 검출 광 스폿(200)에 있어서의 광의 세기는 광 검출기(270)에 조사되는 광의 세기 전체의 약 16/18이 된다.
CD용 레이저 광에 대응하는 회절격자부를 갖고 있지 않은 회절격자(64A)를 구비하는 광 픽업 장치가 구성된 경우, 회절격자(64A)를 투과한 각 CD용 레이저 광이 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 조사되면, 종래의 것에 대해서 CD 수광 영역(74)에 조사되는 각 레이저 광의 분광비가 변경된다.
종래의 것에 대해서 CD 수광 영역(74)에 조사되는 각 레이저 광의 분광비가 변경됨에 따라 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 있어서의 메인 수광부(74a) 및 각 서브 수광부(74b,74c)의 수광 감도가 변경된다.
예컨대, 서브 검출 광 스폿(91i,92i)이 조사되는 서브 수광부(74b,74c)의 수 광 감도의 변경 배율은 다음의 식 (12)에 의해 구해진다.
{(1/18)/(1/25)}×100=138.88889 … (12)
이와 같이, 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 있어서의 서브 수광부(74b 또는 74c)의 수광 감도(㎷/㎼)(밀리볼트ㆍ퍼ㆍ마이크로와트)는 예컨대 종래의 것을 100%로 했을 경우, 종래의 것에 대해서 대략 139%의 값으로 설정되게 된다.
또한, 예컨대, 메인 검출 광 스폿(90i)이 조사되는 메인 수광부(74a)의 수광 감도의 변경 배율은 다음의 식 (13)에 의해 구해진다.
{(16/18)/(23/25)}×100=96.61836 … (13)
이와 같이, 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 있어서의 메인 수광부(74a)의 수광 감도(㎷/㎼)는 예컨대 종래의 것을 100%로 했을 경우, 종래의 것에 대해서 대략 97%의 값으로 설정되게 된다.
광 픽업 장치의 설계/사양 등에 따라, 예컨대, DVD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D100) 상의 선행 서브 스폿(101)에 대응하는 서브 검출 광 스폿(201)과, DVD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D100) 상의 메인 스폿(100)에 대응하는 메인 검출 광 스폿(200)과, DVD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D100) 상의 후행 서브 스폿(102)에 대응하는 서브 검출 광 스폿(202)의 분광비가 대략 1:16:1로 되어도 좋다.
이 경우의 서브 검출 광 스폿(201 또는 202)에 있어서의 광의 세기는 광 검출기(270)에 조사되는 광의 세기 전체의 약 1/18이 된다. 또한, 이 경우의 메인 검출 광 스폿(200)에 있어서의 광의 세기는 광 검출기(270)에 조사되는 광의 세기 전 체의 약 16/18이 된다.
또한, 광 픽업 장치의 설계/사양 등에 따라, 예컨대, CD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D80) 상의 선행 서브 스폿(81)에 대응하는 서브 검출 광 스폿(91i)과, CD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D80) 상의 메인 스폿(80)에 대응하는 메인 검출 광 스폿(90i)과, CD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D80) 상의 후행 서브 스폿(82)에 대응하는 서브 검출 광 스폿(92i)의 분광비가 대략 1:23.5:1로 되어도 좋다.
이 경우의 서브 검출 광 스폿(91i 또는 92i)에 있어서의 광의 세기는 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 조사되는 광의 세기 전체의 약 1/25.5가 된다. 또한, 이 경우의 메인 검출 광 스폿(90i)에 있어서의 광의 세기는 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 조사되는 광의 세기 전체의 약 23.5/25.5가 된다.
또한, 이 경우, 예컨대, 서브 검출 광 스폿(91i,92i)이 조사되는 서브 수광부(74b,74c)의 수광 감도의 변경 배율은 다음의 식 (14)에 의해 구해진다.
{(1/18)/(1/25.5)}×100=141.66667 … (14)
이와 같이, 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 있어서의 서브 수광부(74b 또는 74c)의 수광 감도(㎷/㎼)는 예컨대 종래의 것을 100%로 했을 경우, 종래의 것에 대해서 대략 142%의 값으로 설정되게 된다.
또한, 이 경우, 예컨대, 메인 검출 광 스폿(90i)이 조사되는 메인 수광부(74a)의 수광 감도의 변경 배율은 다음의 식 (15)에 의해 구해진다.
{(16/18)/(23.5/25.5)}×100=96.45390 … (15)
이와 같이, 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 있어서의 메인 수광부(74a)의 수광 감도(㎷/㎼)는 예컨대 종래의 것을 100%로 했을 경우, 종래의 것에 대해서 대략 96%의 값으로 설정되게 된다.
또한, 광 픽업 장치의 설계/사양 등에 따라, 예컨대, CD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D80) 상의 선행 서브 스폿(81)에 대응하는 서브 검출 광 스폿(91i)과, CD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D80) 상의 메인 스폿(80)에 대응하는 메인 검출 광 스폿(90i)과, CD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D80) 상의 후행 서브 스폿(82)에 대응하는 서브 검출 광 스폿(92i)의 분광비가 대략 1:20:1로 되어도 좋다.
이 경우의 서브 검출 광 스폿(91i 또는 92i)에 있어서의 광의 세기는 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 조사되는 광의 세기 전체의 약 1/22이 된다. 또한, 이 경우의 메인 검출 광 스폿(90i)에 있어서의 광의 세기는 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 조사되는 광의 세기 전체의 약 20/22이 된다.
또한, 이 경우, 예컨대, 서브 검출 광 스폿(91i,92i)이 조사되는 서브 수광부(74b,74c)의 수광 감도의 변경 배율은 다음의 식 (16)에 의해 구해진다.
{(1/18)/(1/22)}×100=122.22222 … (16)
이와 같이, 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 있어서의 서브 수광부(74b 또는 74c)의 수광 감도(㎷/㎼)는 예컨대 종래의 것을 100%로 했을 경우, 종래의 것에 대해서 대략 122%의 값으로 설정되게 된다.
또한, 이 경우, 예컨대, 메인 검출 광 스폿(90i)이 조사되는 메인 수광 부(74a)의 수광 감도의 변경 배율은 다음의 식 (17)에 의해 구해진다.
{(16/18)/(20/22)}×100=97.77778 … (17)
이와 같이, 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 있어서의 메인 수광부(74a)의 수광 감도(㎷/㎼)는 예컨대 종래의 것을 100%로 했을 경우, 종래의 것에 대해서 대략 98%의 값으로 설정되게 된다.
또한, 광 픽업 장치의 설계/사양 등에 따라, 예컨대, CD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D80) 상의 선행 서브 스폿(81)에 대응하는 서브 검출 광 스폿(91i)과, CD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D80) 상의 메인 스폿(80)에 대응하는 메인 검출 광 스폿(90i)과, CD 규격에 기초한 광 디스크(D)의 트랙(D80) 상의 후행 서브 스폿(82)에 대응하는 서브 검출 광 스폿(92i)의 분광비가 대략 1:26:1로 되어도 좋다.
이 경우의 서브 검출 광 스폿(91i 또는 92i)에 있어서의 광의 세기는 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 조사되는 광의 세기 전체의 약 1/28이 된다. 또한, 이 경우의 메인 검출 광 스폿(90i)에 있어서의 광의 세기는 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 조사되는 광의 세기 전체의 약 26/28이 된다.
또한, 이 경우, 예컨대, 서브 검출 광 스폿(91i,92i)이 조사되는 서브 수광부(74b,74c)의 수광 감도의 변경 배율은 다음의 식 (18)에 의해 구해진다.
{(1/18)/(1/28)}×100=155.55556 … (18)
이와 같이, 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 있어서의 서브 수광부(74b 또는 74c)의 수광 감도(㎷/㎼)는 예컨대 종래의 것을 100%로 했을 경우, 종래의 것 에 대해서 대략 156%의 값으로 설정되게 된다.
또한, 이 경우, 예컨대, 메인 검출 광 스폿(90i)이 조사되는 메인 수광부(74a)의 수광 감도의 변경 배율은 다음의 식 (19)에 의해 구해진다.
{(16/18)/(26/28)}×100=95.72650 … (19)
이와 같이, 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 있어서의 메인 수광부(74a)의 수광 감도(㎷/㎼)는 예컨대 종래의 것을 100%로 했을 경우, 종래의 것에 대해서 대략 96%의 값으로 설정되게 된다.
상기 회절격자(64A)와 상기 광 검출기(73)를 구비하는 상기 광 픽업 장치가 구성됨으로써 광 검출기(73)는 DVD 규격에 준거한 제 2 레이저 광을 회절격자(64A)에 의해 회절 분기한 3빔에 관한 메인-서브 피치는 물론, CD 규격에 준거한 제 1 레이저 광을 회절격자(64A)에 의해 회절 분기한 3빔에 관한 메인-서브 피치 및 분광비에 대해서도 대응할 수 있고, 트래킹 에러 신호 등의 에러 신호 검출 정밀도 등을 향상시킬 수 있다.
또한, 광 검출기(73)의 DVD 수광 영역(75)에 있어서의 수광 간격[Ys(dvd)]은 DVD용 회절격자 부재(20) 또는 DVD용 회절격자(64A)의 격자 간격(d)을 기준으로 한 것이므로, 예컨대, DVD 규격의 광 디스크(D)의 신호층(Da)이 제 1 층(DL0)과 제 2 층(DL1)의 2층 구조의 경우에 있어서, 제 1 층(DL0)의 재생시에 있어서 제 2 층(DL1)으로부터의 반사광이 제 2 메인 수광부(75a)뿐만 아니라 한쪽의 제 2 서브 수광부(75b) 및 다른쪽의 제 2 서브 수광부(75c)에 있어서도 수광되어 버리는 것을 미연에 억제할 수 있다.
<<광 픽업 장치의 총설>>
이하, 도 1~도 8을 이용하여 광 픽업 장치에 대해서 설명한다.
도 7은 광 픽업 장치에 장착되는 회절격자의 제 1 실시형태를 나타내는 개략 평면도, 도 8은 도 7의 회절격자에 있어서의 광 디스크 반경 방향과 위상차의 관계를 나타내는 도면이다.
도 1 및 도 2와 같이, 이 광 픽업 장치는 상기 제 1 광원(62) 및 제 2 광원(63)을 갖는 상기 발광 소자(61)와, 상기 회절격자(64A)와, 상기 편광 빔 스플리터(66)와, 상기 콜리메이터 렌즈(67)와, 상기 1/4 파장판(68)과, 상기 반사 미러(69)와, 상기 대물 렌즈(70)와, 상기 제 1 평행 평판(71)과, 상기 제 2 평행 평판(72)과, 상기 광 검출기(73)와, 상기 연산부(76)(도 2)와, 상기 대물 렌즈 구동부(79)를 구비해서 구성되어 있다. 또한, 필요에 따라, 이 광 픽업 장치(도 1, 도 2)는 상기 커플링 렌즈(65i)와 상기 수광 소자(65ii)를 더 구비한다.
상세하게 설명하면, 이 광 픽업 장치는 제 1 레이저 파장 광과, 제 1 레이저 파장 광에 대해서 다른 파장의 레이저 광이 되고 또한 제 1 레이저 파장 광보다 짧은 파장의 레이저 광이 되는 제 2 레이저 파장 광에 적어도 대응하고, 제 1 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 1 메인 빔과 2개의 제 1 서브 빔으로 나누고, 제 2 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 2 메인 빔과 2개의 제 2 서브 빔으로 나누고, 제 2 레이저 파장 광에 대응해서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절면부(20a)(도 3, 도 6, 도 7)를 갖는 회절격자(64A)와, 1개의 제 1 메인 빔이 조사되는 1개의 제 1 메인 수광부(74a)(도 4, 도 5)와, 2개의 제 1 서브 빔이 조사되는 2개 의 제 1 서브 수광부(74b,74c)를 구비한 제 1 수광 영역(74)과, 1개의 제 2 메인 빔이 조사되는 1개의 제 2 메인 수광부(75a)와, 2개의 제 2 서브 빔이 조사되는 2개의 제 2 서브 수광부(75b,75c)를 구비한 제 2 수광 영역(75)을 갖는 광 검출기(73)를 구비해서 구성되어 있다.
도 1, 도 2 등에 나타내는 광 픽업 장치가 구성되어 있으면, 회절격자(64A)에 있어서의 불필요한 회절광의 발생을 억제한 광 픽업 장치가 구성된다.
종래의 광 픽업 장치는 일반적으로, 제 1 레이저 파장 광에 대응한 제 1 회절면부(302)(도 20,도 21)와, 제 2 레이저 파장 광에 대응한 제 2 회절면부(304)의 2개의 회절면부(302,304)를 갖는 회절격자(300A,300B)를 구비하는 것으로 되어 있었다. 그 때문에, 종래의 광 픽업 장치에 있어서는 제 1 레이저 파장 광이 제 1 레이저 파장 광에 대응한 회절격자(300A,300B)의 제 1 회절면부(302)를 투과할 때에 제 1 레이저 파장 광은 적어도 1개의 제 1 메인 빔과 2개의 제 1 서브 빔으로 나누어져 있었지만, 제 1 레이저 파장 광이 제 2 레이저 파장 광에 대응한 회절격자(300A,300B)의 제 2 회절면부(304)를 투과할 때에 불필요한 회절광이 발생되어 있었다.
또한, 종래의 광 픽업 장치에 있어서는 제 2 레이저 파장 광이 제 1 레이저 파장 광에 대응한 회절격자(300A,300B)(도 20, 도 21)의 제 1 회절면부(302)를 투과할 때에 불필요한 회절광이 발생되어 있었다. 제 2 레이저 파장 광이 제 2 레이저 파장 광에 대응한 회절격자(300A,300B)의 제 2 회절면부(304)를 투과할 때에 제 2 레이저 파장 광은 적어도 1개의 제 2 메인 빔과 2개의 제 2 서브 빔으로 나누어 져 있었다.
이것에 대해서, 제 2 레이저 파장 광에 대응해서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절면부(20a)(도 3, 도 6, 도 7)를 갖는 회절격자(64A)가 광 픽업 장치에 구비되고, 제 2 레이저 파장 광에 대응해서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절격자(64A)의 회절면부(20a)를 제 1 레이저 파장 광이 투과했을 때에 제 1 레이저 파장 광이 적어도 1개의 제 1 메인 빔과 2개의 제 1 서브 빔으로 나누어지는 것으로 되어 있으면, 제 1 레이저 파장 광이 회절격자(64A)를 투과할 때에 불필요한 회절광이 생긴다는 것은 대략 방지된다.
또한, 제 2 레이저 파장 광에 대응해서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)를 제 2 레이저 파장 광이 투과했을 때에 불필요한 회절광이 대략 생기지 않고 제 2 레이저 파장 광은 적어도 1개의 제 2 메인 빔과 2개의 제 2 서브 빔으로 나누어진다.
또한, 종래의 광 검출기(270)(도 18)의 CD 수광 영역(280)에 있어서의 제 1 메인 수광부(200a)와 제 1 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(cd)]는 제 1 레이저 파장 광에 대응해서 규격화된 통상의 거리[Yt(cd)]로 되어 있었다. 본 발명에 있어서의 「규격화」는 예컨대 널리 보급되어 온 종래의 것 등을 설명할 때를 위해서 편의상 이용되고 있다. 예컨대 규격화된 것이란 대량 생산 등이 행해져 온 것에 의해 실질적으로 규격화된 것과 다름없는 것 등으로 된다. 예컨대, 규격화된 광 검출기(270)란 지금까지 대량 생산되어 시장 등에서 널리 보급되어 온 범용의 광 검출기(270) 등으로 된다. 제 1 레이저 파장 광의 1개의 제 1 메인 빔은 종래 규격의 1개의 제 1 메인 수광부(200a)에 조사되고, 제 1 레이저 파장 광의 2개의 제 1 서브 빔은 종래 규격의 2개의 제 1 서브 수광부(200b,200c)에 조사되어 있었다.
그러나, 예컨대, 제 1 레이저 파장 광에 대응해서 규격화된 광 검출기(270)(도 18)의 통상의 제 1 메인 수광부(200a)와 제 1 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(cd)]에 대해서 광 검출기(73)(도 5)에 있어서의 제 1 메인 수광부(74a)와 제 1 서브 수광부(74b,74c)의 중심점간 거리[Ys(cd)]는 변경되어 있다.
예컨대, 제 1 레이저 파장 광에 대응해서 규격화된 광 검출기(270)(도 18)의 통상의 제 1 메인 수광부(200a)와 제 1 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(cd)]에 대해서 이 광 검출기(73)(도 5)에 있어서는 제 1 메인 수광부(74a)와 제 1 서브 수광부(74b,74c)의 중심점간 거리[Ys(cd)]가 변경되어 있으므로, 제 2 레이저 파장 광에 대응해서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)를 제 1 레이저 파장 광이 투과할 때에 제 2 레이저 파장 광에 대응해서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절격자(64A)의 회절면부(20a)에 의해 나누어진 제 1 레이저 파장 광의 2개의 제 1 서브 빔이 광 검출기(73)(도 4, 도 5)에 구비된 제 1 수광 영역(74)의 2개의 제 1 서브 수광부(74b,74c)에 잘 조사되지 않는다는 문제의 발생은 회피된다.
제 2 레이저 파장 광에 대응해서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)를 제 1 레이저 파장 광이 투과함으로써 불필요한 회절광이 대략 생기지 않고 나누어진 제 1 레이저 파장 광의 2개의 제 1 서브 빔은 광 검출기(73)(도 5)에 구비된 제 1 수광 영역(74)의 1개의 제 1 메인 수광부(74a)에 대해서 거리[Ys(cd)]가 변경된 2개의 제 1 서브 수광부(74b,74c)에 확실하게 조사된다.
또한, 제 2 레이저 파장 광에 대응해서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)를 제 1 레이저 파장 광이 투과함으로써 불필요한 회절광이 대략 생기지 않고 나누어진 제 1 레이저 파장 광의 1개의 제 1 메인 빔은 광 검출기(73)(도 4, 도 5)에 구비된 제 1 수광 영역(74)의 1개의 제 1 메인 수광부(74a)에 확실하게 조사된다.
또한, 광 검출기(73)(도 5)의 제 2 수광 영역(75)에 있어서의 제 2 메인 수광부(75a)와 제 2 서브 수광부(75b,75c)의 중심점간 거리[Ys(dvd)]는 제 2 레이저 파장 광에 대응해서 규격화된 광 검출기(270)(도 19)의 통상의 거리[Yt(dvd)]와 동일하게 되어 있다.
제 2 레이저 파장 광에 대응해서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)를 제 2 레이저 파장 광이 투과함으로써 불필요한 회절광이 대략 생기지 않고 나누어진 제 2 레이저 파장 광의 2개의 제 2 서브 빔은 광 검출기(73)(도 4, 도 5)에 구비된 종래 규격과 동일한 제 2 수광 영역(75)의 2개의 제 2 서브 수광부(75b,75c)에 확실하게 조사된다.
또한, 제 2 레이저 파장 광에 대응해서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)를 제 2 레이저 파장 광이 투과함으로써 불필요한 회절광이 대략 생기지 않고 나누어진 제 2 레이저 파장 광의 1 개의 제 2 메인 빔은 광 검출기(73)에 구비된 종래 규격과 동일한 제 2 수광 영역(75)의 1개의 제 2 메인 수광부(75a)에 확실하게 조사된다.
광 검출기(73)(도 5)에 있어서 변경된 제 1 메인 수광부(74a)와 제 1 서브 수광부(74b,74c)의 중심점간 거리[Ys(cd)]는 예컨대 규격화된 광 검출기(270)(도 18)의 통상의 제 1 메인 수광부(200a)와 제 1 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(cd)]보다 길게 설정되어 있다.
상세하게 설명하면, 규격화된 광 검출기(270)(도 18)의 통상의 제 1 메인 수광부(200a)와 제 1 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(cd)]의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 광 검출기(73)(도 5)에 있어서 변경된 제 1 메인 수광부(74a)와 제 1 서브 수광부(74b,74c)의 중심점간 거리[Ys(cd)]의 값은 예컨대 규격화된 광 검출기(270)(도 18)의 통상의 제 1 메인 수광부(200a)와 제 1 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(cd)]의 값에 대해서 대략 111%의 값으로 설정되어 있다.
도 4 및 도 5에 나타내는 광 검출기(73)가 구성되어 있으면, 에러 신호 등의 신호의 검출 정밀도를 향상시킨 광 픽업 장치가 구성된다. 회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)에 의해 제 1 레이저 파장 광이 나누어져 생긴 1개의 제 1 메인 빔이 광 검출기(73)(도 4, 도 5)의 2개의 제 1 서브 수광부(74b,74c)에 악영향을 미친다는 것은 회피된다.
또한, 도 4 및 도 5에 나타내는 광 검출기(73)가 구성되어 있으면, 에러 신호 등의 신호의 검출 정밀도를 향상시킨 광 픽업 장치가 구성된다. 회절격자 (64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)에 의해 제 1 레이저 파장 광이 나누어져 생긴 2개의 제 1 서브 빔 중 어느 한쪽 또는 양쪽이 광 검출기(73)(도 4, 도 5)의 1개의 제 1 메인 수광부(74a)에 악영향을 미친다는 것은 회피된다.
예컨대, 광 검출기(73)(도 5)에 있어서 변경된 제 1 메인 수광부(74a)와 제 1 서브 수광부(74b,74c)의 중심점간 거리[Ys(cd)]가, 규격화된 광 검출기(270)(도 18)의 통상의 제 1 메인 수광부(200a)와 제 1 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(cd)]보다 짧게 설정되어 있으면, 1개의 제 1 메인 빔이 광 검출기(73)(도 4, 도 5)의 2개의 제 1 서브 수광부(74b,74c)에 간섭하는 것이 우려된다.
또한, 예컨대, 광 검출기(73)(도 5)에 있어서 변경된 제 1 메인 수광부(74a)와 제 1 서브 수광부(74b,74c)의 중심점간 거리[Ys(cd)]가 규격화된 광 검출기(270)(도 18)의 통상의 제 1 메인 수광부(200a)와 제 1 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(cd)]보다 짧게 설정되어 있으면, 2개의 제 1 서브 빔 중 어느 한쪽 또는 양쪽이 광 검출기(73)(도 4, 도 5)의 1개의 제 1 메인 수광부(74a)에 간섭하는 것이 우려된다.
그러나, 규격화된 광 검출기(270)(도 18)의 통상의 제 1 메인 수광부(200a)와 제 1 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(cd)]보다 새로운 광 검출기(73)(도 5)에 있어서 변경된 제 1 메인 수광부(74a)와 제 1 서브 수광부(74b,74c)의 중심점간 거리[Ys(cd)]쪽이 길게 설정되어 있으므로, 광 검출기(73)의 1개의 제 1 메인 수광부(74a)에 1개의 제 1 메인 빔이 조사될 때에 1개의 제 1 메인 빔이 2개의 제 1 서브 수광부(74b,74c) 중 어느 한쪽 또는 양쪽에 간섭한다는 것은 회피되기 쉬워진다.
규격화된 광 검출기(270)(도 18)의 통상의 제 1 메인 수광부(200a)와 제 1 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(cd)]의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 새로운 광 검출기(73)(도 5)에 있어서 변경된 제 1 메인 수광부(74a)와 제 1 서브 수광부(74b,74c)의 중심점간 거리[Ys(cd)]의 값은 규격화된 광 검출기(270)(도 18)의 통상의 제 1 메인 수광부(200a)와 제 1 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(cd)]의 값에 대해서 대략 111%의 값으로 설정되어 있으므로, 광 검출기(73)(도 5)의 1개의 제 1 메인 수광부(74a)에 1개의 제 1 메인 빔이 조사될 때에 1개의 제 1 메인 빔이 2개의 제 1 서브 수광부(74b,74c) 중 어느 한쪽 또는 양쪽에 간섭한다는 것은 회피된다.
또한, 규격화된 광 검출기(270)(도 18)의 통상의 제 1 메인 수광부(200a)와 제 1 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(cd)]보다 새로운 광 검출기(73)(도 5)에 있어서 변경된 제 1 메인 수광부(74a)와 제 1 서브 수광부(74b,74c)의 중심점간 거리[Ys(cd)]쪽이 길게 설정되어 있으므로, 광 검출기(73)의 전후 2개의 제 1 서브 수광부(74b,74c)에 전후 2개의 제 1 서브 빔이 조사될 때에 2개의 제 1 서브 빔 중 어느 한쪽 또는 양쪽이 1개의 제 1 메인 수광부(74a)에 간섭한다는 것은 회피되기 쉬워진다.
규격화된 광 검출기(270)(도 18)의 통상의 제 1 메인 수광부(200a)와 제 1 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(cd)]의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 새로운 광 검출기(73)(도 5)에 있어서 변경된 제 1 메인 수광부(74a)와 제 1 서브 수광부(74b,74c)의 중심점간 거리[Ys(cd)]의 값은 규격화된 광 검출기(270)(도 18)의 통상의 제 1 메인 수광부(200a)와 제 1 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(cd)]의 값에 대해서 대략 111%의 값으로 설정되어 있으므로, 광 검출기(73)(도 5)의 전후 2개의 제 1 서브 수광부(74b,74c)에 전후 2개의 제 1 서브 빔이 조사될 때에 2개의 제 1 서브 빔 중 어느 한쪽 또는 양쪽이 1개의 제 1 메인 수광부(74a)에 간섭한다는 것은 회피된다.
광 검출기(73)의 제 2 메인 수광부(75a)와 제 2 서브 수광부(75b,75c)의 중심점간 거리[Ys(dvd)]는 규격화된 광 검출기(270)(도 19)의 통상의 제 2 메인 수광부(200a)와 제 2 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(dvd)]와 동일하게 되어 있다.
규격화된 광 검출기(270)(도 19)의 통상의 제 2 메인 수광부(200a)와 제 2 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(dvd)]의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 광 검출기(73)(도 5)에 있어서 제 2 메인 수광부(75a)와 제 2 서브 수광부(75b,75c)의 중심점간 거리[Ys(dvd)]의 값은 예컨대 규격화된 광 검출기(270)(도 19)의 통상의 제 2 메인 수광부(200a)와 제 2 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(dvd)]의 값에 대해서 대략 100%의 값으로 설정되어 있다.
도 4 및 도 5에 나타내는 광 검출기(73)가 구성되어 있으면, 에러 신호 등의 신호의 검출 정밀도를 향상시킨 광 픽업 장치가 구성된다. 회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)에 의해 제 2 레이저 파장 광이 나누어져 생긴 1개의 제 2 메인 빔이 광 검출기(73)(도 4, 도 5)의 2개의 제 2 서브 수광부(75b,75c)에 악 영향을 미친다는 것은 회피된다. 또한, 회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)에 의해 제 2 레이저 파장 광이 나누어져 생긴 2개의 제 2 서브 빔 중 어느 한쪽 또는 양쪽이 광 검출기(73)(도 4, 도 5)의 1개의 제 2 메인 수광부(75a)에 악영향을 미친다는 것은 회피된다.
예컨대, 광 검출기(73)(도 5)에 있어서 제 1 메인 수광부(74a)와 제 1 서브 수광부(74b,74c)의 중심점간 거리[Ys(cd)]가 변경되지 않고 제 1 메인 수광부(74a)와 제 1 서브 수광부(74b,74c)의 중심점간 거리[Ys(cd)]가 규격화된 광 검출기(270)(도 18)의 통상의 제 1 메인 수광부(200a)와 제 1 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(cd)]와 같게 설정되었을 경우, 광 검출기(73)(도 5)에 있어서의 제 2 메인 수광부(75a)와 제 2 서브 수광부(75b,75c)의 중심점간 거리[Ys(dvd)]를 좁힐 필요성이 생긴다.
예컨대, 광 검출기(73)에 있어서 제 2 메인 수광부(75a)와 제 2 서브 수광부(75b,75c)의 중심점간 거리[Ys(dvd)]가 규격화된 광 검출기(270)(도 19)의 통상의 제 2 메인 수광부(200a)와 제 2 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(dvd)]보다 짧게 설정되어 있으면, 회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)에 의해 제 2 레이저 파장 광이 나누어져 생긴 1개의 제 2 메인 빔이 광 검출기(73)(도 4, 도 5)의 2개의 제 2 서브 수광부(75b,75c)에 간섭하는 것이 우려된다.
예컨대 도 5와 같이, 제 1 층(DL0)과 제 2 층(DL1)의 복수개의 층(D10,DL1)을 갖는 DVD 규격의 광 디스크(D)의 제 1 층(DL0)에 있어서의 신호의 재생 또는 신 호의 기록이 행해지고 있을 때에 DVD 규격의 광 디스크(D)의 제 2 층(DL1)에 있어서의 불필요한 반사광이 광 검출기(73)에 있어서의 DVD 수광 영역(75)의 한쪽의 제 2 서브 수광부(75b) 또는 다른쪽의 제 2 서브 수광부(75c) 중 어느 한쪽 또는 양쪽에 노이즈로서 들어가는 것이 우려된다.
이와 같이, 복수개의 층(D10,DL1)을 갖는 DVD 규격의 광 디스크(D)가 이용되어 제 1 층(DL0) 또는 제 2 층(DL1) 중 어느 한쪽의 층(D10 또는 DL1)에 있어서의 신호의 재생 또는 신호의 기록이 행해지고 있을 때에 광 검출기(73)에 있어서의 DVD 수광 영역(75)의 한쪽의 제 2 서브 수광부(75b) 또는 다른쪽의 제 2 서브 수광부(75c) 중 어느 한쪽 또는 양쪽에 누출 신호가 들어간다는 소위 층간 크로스 토크의 발생이 우려된다.
또한, 예컨대, 광 검출기(73)에 있어서 제 2 메인 수광부(75a)와 제 2 서브 수광부(75b,75c)의 중심점간 거리[Ys(dvd)]가 규격화된 광 검출기(270)(도 19)의 통상의 제 2 메인 수광부(200a)와 제 2 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(dvd)]보다 짧게 설정되어 있으면, 회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)에 의해 제 2 레이저 파장 광이 나누어져 생긴 2개의 제 2 서브 빔 중 어느 한쪽 또는 양쪽이 광 검출기(73)(도 4, 도 5)의 1개의 제 2 메인 수광부(75a)에 간섭하는 것이 우려된다.
광 검출기(73)의 제 2 메인 수광부(75a)와 제 2 서브 수광부(75b,75c)의 중심점간 거리[Ys(dvd)]가 규격화된 광 검출기(270)(도 19)의 통상의 제 2 메인 수광부(200a)와 제 2 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(dvd)]와 동일하게 설 정되어 있으면, 예컨대, 1개의 제 2 메인 빔이 광 검출기(73)(도 5)의 2개의 제 2 서브 수광부(75b,75c) 중 어느 한쪽 또는 양쪽에 간섭하거나, 2개의 제 2 서브 빔 중 어느 한쪽 또는 양쪽이 광 검출기(73)의 1개의 제 2 메인 수광부(75a)에 간섭하거나 한다는 것은 회피된다.
규격화된 광 검출기(270)(도 19)의 통상의 제 2 메인 수광부(200a)와 제 2 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(dvd)]의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 새로운 광 검출기(73)(도 5)에 있어서 제 2 메인 수광부(75a)와 제 2 서브 수광부(75b,75c)의 중심점간 거리[Ys(dvd)]의 값이, 규격화된 광 검출기(270)(도 19)의 통상의 제 2 메인 수광부(200a)와 제 2 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(dvd)]의 값에 대해서 대략 100%의 값으로 설정되어 있으므로, 광 검출기(73)의 (도 5) 1개의 제 2 메인 수광부(75a)에 1개의 제 2 메인 빔이 조사될 때에 1개의 제 2 메인 빔이 2개의 제 2 서브 수광부(75b,75c) 중 어느 한쪽 또는 양쪽에 간섭한다는 것은 회피된다.
또한, 규격화된 광 검출기(270)(도 19)의 통상의 제 2 메인 수광부(200a)와 제 2 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(dvd)]의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 새로운 광 검출기(73)(도 5)에 있어서 제 2 메인 수광부(75a)와 제 2 서브 수광부(75b,75c)의 중심점간 거리[Ys(dvd)]의 값이, 규격화된 광 검출기(270)(도 19)의 통상의 제 2 메인 수광부(200a)와 제 2 서브 수광부(200b,200c)의 중심점간 거리[Yt(dvd)]의 값에 대해서 대략 100%의 값으로 설정되어 있으므로, 광 검출기(73)(도 5)의 전후 2개의 제 2 서브 수광부(75b,75c)에 전후 2개의 제 2 서브 빔이 조사될 때에 2개의 제 2 서브 빔 중 어느 한쪽 또는 양쪽이 1개의 제 2 메인 수광부(75a)에 간섭한다는 것은 회피된다.
광 검출기(73)(도 4, 도 5)의 제 1 메인 수광부(74a)를 중심으로 1쌍의 위치 변경된 제 1 서브 수광부(74b,74c)가 배치되어서 전방측의 위치 변경된 제 1 서브 수광부(74b)와 중앙의 제 1 메인 수광부(74a)와 후방측의 위치 변경된 제 1 서브 수광부(74c)가 대략 일직선 상에 병설되었을 때에 전방측의 위치 변경된 제 1 서브 수광부(74b)와 중앙의 제 1 메인 수광부(74a)와 후방측의 위치 변경된 제 1 서브 수광부(74c)의 분광비는 종래의 규격화된 광 검출기(270)(도 18)의 전방측의 제 1 서브 수광부(200b)와 중앙의 제 1 메인 수광부(200a)와 후방측의 제 1 서브 수광부(200c)의 분광비에 대해서 변경되어 있다.
상세하게 설명하면, 광 검출기(73)(도 4, 도 5)의 제 1 메인 수광부(74a)를 중심으로 1쌍의 위치 변경된 제 1 서브 수광부(74b,74c)가 배치되어서 전방측의 위치 변경된 제 1 서브 수광부(74b)와 중앙의 제 1 메인 수광부(74a)와 후방측의 위치 변경된 제 1 서브 수광부(74c)가 대략 일직선 상에 병설되었을 때에 전방측의 위치 변경된 제 1 서브 수광부(74b)와 중앙의 제 1 메인 수광부(74a)와 후방측의 위치 변경된 제 1 서브 수광부(74c)의 분광비는 대략 1:(20~26):1로 되어 있다. 즉, 전방측의 위치 변경된 제 1 서브 수광부(74b)와 중앙의 제 1 메인 수광부(74a)와 후방측의 위치 변경된 제 1 서브 수광부(74c)의 분광비는 대략 1:(23±3):1로 되어 있다.
종래의 규격화된 광 검출기(270)(도 18)의 제 1 레이저 파장 광의 분광비에 대해서 설정 변경된 광 검출기(73)(도 4, 도 5)의 제 1 레이저 파장 광의 분광비가 변경되어 있으면, 1개의 제 1 메인 빔의 검출과 2개의 제 1 서브 빔의 검출은 새로운 설정 변경된 광 검출기(73)에 의해 정밀도 좋게 양호하게 행해지기 쉬워진다. 종래의 규격화된 광 검출기(270)(도 18)의 제 1 레이저 파장 광의 분광비가 대략 1:16:1로 설정되어 있는 것에 대해서 설정 변경된 광 검출기(73)(도 4, 도 5)의 제 1 레이저 파장 광의 분광비가 대략 1:(20~26):1 즉 대략 1:(23±3):1로 설정되어 있으면, 1개의 제 1 메인 빔의 검출과 2개의 제 1 서브 빔의 검출은 새로운 설정 변경된 광 검출기(73)에 의해 정밀도 좋게 양호하게 행해진다.
예컨대, 제 1 레이저 파장 광에 대응한 제 1 회절면부(302)(도 20,도 21)와, 제 2 레이저 파장 광에 대응한 제 2 회절면부(304)의 2개의 회절면부(302,304)를 갖는 종래의 회절격자(300A,300B)를 제 1 레이저 파장 광이 투과해서 제 1 레이저 파장 광이 전방측의 1개의 제 1 서브 빔과 중앙의 1개의 제 1 메인 빔과 후방측의 1개의 제 1 서브 빔으로 적어도 나누어졌을 때에 전방측의 1개의 제 1 서브 빔이 조사되는 전방측의 제 1 서브 수광부(200b)(도 18)와 중앙의 1개의 제 1 메인 빔이 조사되는 중앙의 제 1 메인 수광부(200a)와 후방측의 1개의 제 1 서브 빔이 조사되는 후방측의 제 1 서브 수광부(200c)의 분광비가 예컨대 통상의 약 1:16:1로 설정됨으로써 종래의 규격화된 광 검출기(270)에 의해 1개의 제 1 메인 빔의 검출과 2개의 제 1 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해지고 있었다.
그러나, 예컨대 제 1 레이저 파장 광에 대응한 회절면부(302)(도 20,도 21)를 갖는 회절격자(320)가 설치되지 않고 생략되고, 제 2 레이저 파장 광에 대응해 서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절면부(304)를 갖는 회절격자(300A,300B)를 제 1 레이저 파장 광이 투과해서 제 1 레이저 파장 광이 전방측의 1개의 제 1 서브 빔과 중앙의 1개의 제 1 메인 빔과 후방측의 1개의 제 1 서브 빔으로 적어도 나누어진 경우에는 전방측의 1개의 제 1 서브 빔이 조사되는 전방측의 위치 변경된 제 1 서브 수광부(200b)(도 18)와 중앙의 1개의 제 1 메인 빔이 조사되는 중앙의 제 1 메인 수광부(200a)와 후방측의 1개의 제 1 서브 빔이 조사되는 후방측의 위치 변경된 제 1 서브 수광부(200c)의 분광비가 예컨대 통상의 약 1:16:1로 설정되어 있으면, 종래의 규격화된 광 검출기(270)에 있어서는 1개의 제 1 메인 빔의 검출과 2개의 제 1 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해지지 않는 것이 우려되고 있었다.
이것에 대해서, 제 2 레이저 파장 광에 대응해서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절면부(20a)(도 3, 도 6, 도 7)를 갖는 회절격자(64A)를 제 1 레이저 파장 광이 투과해서 제 1 레이저 파장 광이 전방측의 1개의 제 1 서브 빔과 중앙의 1개의 제 1 메인 빔과 후방측의 1개의 제 1 서브 빔으로 적어도 나누어졌을 때에 전방측의 1개의 제 1 서브 빔이 조사되는 전방측의 위치 변경된 제 1 서브 수광부(74b)(도 4, 도 5)와 중앙의 1개의 제 1 메인 빔이 조사되는 중앙의 제 1 메인 수광부(74a)와 후방측의 1개의 제 1 서브 빔이 조사되는 후방측의 위치 변경된 제 1 서브 수광부(74c)의 분광비가 종래의 규격화된 광 검출기(270)(도 18) 앞측의 제 1 서브 수광부(200b)와 중앙의 제 1 메인 수광부(200a)와 후방측의 제 1 서브 수광부(200c)의 분광비에 대해서 변경되어서 대략 1:(20~26):1 즉 대략 1:(23±3):1로 설정되어 있으면, 새로운 설정 변경된 광 검출기(73)(도 4, 도 5)에 의해 1개의 제 1 메인 빔의 검출과 2개의 제 1 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 양호하게 행해진다.
또한, 전방측의 1개의 제 1 서브 빔이 조사되는 전방측의 위치 변경된 제 1 서브 수광부(74b)와 중앙의 1개의 제 1 메인 빔이 조사되는 중앙의 제 1 메인 수광부(74a)와 후방측의 1개의 제 1 서브 빔이 조사되는 후방측의 위치 변경된 제 1 서브 수광부(74c)의 분광비가 예컨대 대략 1:20 미만:1로 되었을 경우나, 이 분광비가 예컨대 대략 1:26 초과:1로 되었을 경우에는 1개의 제 1 메인 빔의 검출과 2개의 제 1 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해지지 않는 것이 우려되지만, 이 분광비가 대략 1:(20~26):1 바람직하게는 대략 1:(21~25):1로 설정됨으로써 1개의 제 1 메인 빔의 검출과 2개의 제 1 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 양호하게 행해진다.
광 검출기(73)의 제 2 메인 수광부(75a)를 중심으로 1쌍의 제 2 서브 수광부(75b,75c)가 배치되어 전방측의 제 2 서브 수광부(75b)와 중앙의 제 2 메인 수광부(75a)와 후방측의 제 2 서브 수광부(75c)가 대략 일직선 상에 병설되었을 때에 전방측의 제 2 서브 수광부(75b)와 중앙의 제 2 메인 수광부(75a)와 후방측의 제 2 서브 수광부(75c)의 분광비는 대략 1:(12~18):1로 되어 있다. 즉, 전방측의 제 2 서브 수광부(75b)와 중앙의 제 2 메인 수광부(75a)와 후방측의 제 2 서브 수광부(75c)의 분광비는 대략 1:(15±3):1로 되어 있다.
이렇게 분광비가 정해져 있으면, 1개의 제 2 메인 빔의 검출과 2개의 제 2 서브 빔의 검출은 광 검출기(73)에 의해 정밀도 좋게 양호하게 행해진다. 제 2 레이저 파장 광에 대응해서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절면부(20a)(도 3, 도 6, 도 7)를 갖는 회절격자(64A)를 제 2 레이저 파장 광이 투과해서 제 2 레이저 파장 광이 전방측의 1개의 제 2 서브 빔과 중앙의 1개의 제 2 메인 빔과 후방측의 1개의 제 2 서브 빔으로 적어도 나누어졌을 때에 전방측의 1개의 제 2 서브 빔이 조사되는 전방측의 제 2 서브 수광부(75b)(도 4, 도 5)와 중앙의 1개의 제 2 메인 빔이 조사되는 중앙의 제 2 메인 수광부(75a)와 후방측의 1개의 제 2 서브 빔이 조사되는 후방측의 제 2 서브 수광부(75c)의 분광비가 대략 1:(12~18):1 즉 대략 1:(15±3):1로 설정되어 있으면, 광 검출기(73)에 의해 1개의 제 2 메인 빔의 검출과 2개의 제 2 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 양호하게 행해진다.
또한, 전방측의 1개의 제 2 서브 빔이 조사되는 전방측의 제 2 서브 수광부(75b)와 중앙의 1개의 제 2 메인 빔이 조사되는 중앙의 제 2 메인 수광부(75a)와, 후방측의 1개의 제 2 서브 빔이 조사되는 후방측의 제 2 서브 수광부(75c)의 분광비가 예컨대 대략 1:12 미만:1로 되었을 경우나, 이 분광비가 예컨대 대략 1:18 초과:1로 되었을 경우에는 1개의 제 2 메인 빔의 검출과 2개의 제 2 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해지지 않는 것이 우려되지만, 이 분광비가 대략 1:(12~18):1 바람직하게는 대략 1:(14~18):1로 설정됨으로써 1개의 제 2 메인 빔의 검출과 2개의 제 2 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 양호하게 행해진다.
규격화된 1개의 제 1 메인 수광부(200a)(도 18)에 있어서의 통상 수광 감도의 값에 대해서 1개의 제 1 메인 수광부(74a)(도 4, 도 5)에 있어서의 수광 감도의 값이 변경 또는 동일하게 되어 있다. 상세하게 설명하면, 규격화된 1개의 제 1 메인 수광부(200a)(도 18)에 있어서의 통상 수광 감도의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 규격화된 1개의 제 1 메인 수광부(200a)에 있어서의 통상 수광 감도의 값 에 대해서 변경되거나 또는 동일하게 된 1개의 제 1 메인 수광부(74a)(도 4, 도 5)에 있어서의 수광 감도의 값은 대략 100% 미만 또는 대략 100% 이하의 낮은 값으로 설정되어 있다.
또한, 규격화된 2개의 제 1 서브 수광부(200b,200c)(도 18)에 있어서의 통상 수광 감도의 값에 대해서 2개의 제 1 서브 수광부(74b,74c)(도 4, 도 5)에 있어서의 수광 감도의 값이 변경되어 있다. 상세하게 설명하면, 규격화된 2개의 제 1 서브 수광부(200b,200c)(도 18)에 있어서의 통상 수광 감도의 값이 함께 100%의 값으로 정해졌을 때에 규격화된 2개의 제 1 서브 수광부(200b,200c)에 있어서의 통상 수광 감도의 값에 대해서 변경된 2개의 제 1 서브 수광부(74b,74c)(도 4, 도 5)에 있어서의 수광 감도의 값은 함께 대략 100% 이상 또는 대략 100%를 초과하는 높은 값으로 설정되어 있다.
이와 같이 수광 감도의 값이 종래의 값에 대해서 변경되거나 또는 동일하게 되어 설정되어 있으면, 1개의 제 1 메인 빔의 검출과 2개의 제 1 서브 빔의 검출은 새로운 설정 변경된 광 검출기(73)에 의해 비교적 정밀도 좋게 행해지기 쉬워진다. 규격화된 1개의 제 1 메인 수광부(200a)(도 18)에 있어서의 통상 수광 감도에 대해서 1개의 제 1 메인 수광부(74a)(도 4, 도 5)에 있어서의 수광 감도의 값이 변경되거나 또는 동일하게 되고, 규격화된 2개의 제 1 서브 수광부(200b,200c)(도 18)에 있어서의 통상 수광 감도에 대해서 2개의 제 1 서브 수광부(74b,74c)(도 4, 도 5)에 있어서의 수광 감도의 값이 변경됨으로써 새로운 설정 변경된 광 검출기(73)에 의해 1개의 제 1 메인 빔의 검출과 2개의 제 1 서브 빔의 검출이 비교적 정밀도 좋 게 행해지기 쉬워진다.
상세하게 설명하면, 규격화된 1개의 제 1 메인 수광부(200a)(도 18)에 있어서의 통상 수광 감도의 값이 100%로 되어 있는 것에 대해서 변경되거나 또는 동일하게 된 1개의 제 1 메인 수광부(74a)(도 4, 도 5)에 있어서의 수광 감도의 값이 대략 100% 미만 또는 대략 100% 이하의 낮은 값으로 설정되고, 규격화된 2개의 제 1 서브 수광부(200b,200c)(도 18)에 있어서의 통상 수광 감도의 값이 함께 100%로 되어 있는 것에 대해서 변경된 2개의 제 1 서브 수광부(74b,74c)(도 4, 도 5)에 있어서의 수광 감도의 값이 함께 대략 100% 이상 또는 대략 100%를 초과하는 높은 값으로 설정됨으로써 새로운 설정 변경된 광 검출기(73)에 의해 1개의 제 1 메인 빔의 검출과 2개의 제 1 서브 빔의 검출이 비교적 정밀도 좋게 행해지기 쉬워진다.
규격화된 1개의 제 1 메인 수광부(200a)(도 18)에 있어서의 통상 수광 감도의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 규격화된 1개의 제 1 메인 수광부(200a)에 있어서의 통상 수광 감도의 값에 대해서 변경되거나 또는 동일하게 된 1개의 제 1 메인 수광부(74a)(도 4, 도 5)에 있어서의 수광 감도의 값은 대략 95~100% 바람직하게는 대략 96~100%의 값으로 설정되어 있다. 또한, 규격화된 2개의 제 1 서브 수광부(200b,200c)(도 18)에 있어서의 통상 수광 감도의 값이 함께 100%의 값으로 정해졌을 때에 규격화된 2개의 제 1 서브 수광부(200b,200c)에 있어서의 통상 수광 감도의 값에 대해서 변경된 2개의 제 1 서브 수광부(74b,74c)(도 4, 도 5)에 있어서의 수광 감도의 값은 함께 대략 120~160% 바람직하게는 함께 대략 138~142%의 값으로 설정되어 있다.
이와 같이 수광 감도의 값이 설정되어 있으면, 1개의 제 1 메인 빔의 검출과 2개의 제 1 서브 빔의 검출은 새로운 설정 변경된 광 검출기(73)에 의해 정밀도 좋게 양호하게 행해진다. 규격화된 1개의 제 1 메인 수광부(200a)(도 18)에 있어서의 통상 수광 감도의 값이 100%로 되어 있는 것에 대해서 변경되거나 또는 동일하게 된 1개의 제 1 메인 수광부(74a)(도 4, 도 5)에 있어서의 수광 감도의 값이 대략 95~100% 바람직하게는 대략 96~100%의 값으로 설정되고, 규격화된 2개의 제 1 서브 수광부(200b,200c)(도 18)에 있어서의 통상 수광 감도의 값이 함께 100%로 되어 있는 것에 대해서 변경된 2개의 제 1 서브 수광부(74b,74c)(도 4, 도 5)에 있어서의 수광 감도의 값이 함께 대략 120~160% 바람직하게는 함께 대략 138~142%의 값으로 설정됨으로써 새로운 설정 변경된 광 검출기(73)에 의해 1개의 제 1 메인 빔의 검출과 2개의 제 1 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 양호하게 행해진다.
1개의 제 2 메인 수광부(75a)에 있어서의 수광 감도의 값은 규격화된 1개의 제 2 메인 수광부(200a)(도 19)에 있어서의 통상 수광 감도의 값으로 되어 있다. 규격화된 1개의 제 2 메인 수광부(200a)에 있어서의 통상 수광 감도의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 규격화된 1개의 제 2 메인 수광부(200a)에 있어서의 통상 수광 감도의 값에 대해서 1개의 제 2 메인 수광부(75a)(도 4, 도 5)에 있어서의 수광 감도의 값은 대략 100%의 값으로 설정되어 있다.
또한, 2개의 제 2 서브 수광부(75b,75c)에 있어서의 수광 감도의 값은 규격화된 2개의 제 2 서브 수광부(200b,200c)(도 19)에 있어서의 통상 수광 감도의 값으로 되어 있다. 규격화된 2개의 제 2 서브 수광부(200b,200c)에 있어서의 통상 수 광 감도의 값이 함께 100%의 값으로 정해졌을 때에 규격화된 2개의 제 2 서브 수광부(200b,200c)에 있어서의 통상 수광 감도의 값에 대해서 2개의 제 2 서브 수광부(75b,75c)(도 4, 도 5)에 있어서의 수광 감도의 값은 함께 대략 100%의 값으로 설정되어 있다.
이와 같이 수광 감도의 값이 설정되어 있으면, 1개의 제 2 메인 빔의 검출과 2개의 제 2 서브 빔의 검출은 광 검출기(73)에 의해 정밀도 좋게 행해진다. 1개의 제 2 메인 수광부(75a)에 있어서의 수광 감도의 값이, 규격화된 1개의 제 2 메인 수광부(200a)(도 19)에 있어서의 통상 수광 감도의 값이 되고, 2개의 제 2 서브 수광부(75b,75c)(도 4, 도 5)에 있어서의 수광 감도의 값이, 규격화된 2개의 제 2 서브 수광부(200b,200c)(도 19)에 있어서의 통상 수광 감도의 값이 됨으로써 광 검출기(73)에 의해 1개의 제 2 메인 빔의 검출과 2개의 제 2 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해진다.
규격화된 1개의 제 2 메인 수광부(200a)(도 19)에 있어서의 통상 수광 감도의 값이 100%로 되어 있는 것에 대해서 1개의 제 2 메인 수광부(75a)(도 4, 도 5)에 있어서의 수광 감도의 값이 대략 100%의 값으로 설정되고, 규격화된 2개의 제 2 서브 수광부(200b,200c)(도 19)에 있어서의 통상 수광 감도의 값이 함께 100%로 되어 있는 것에 대해서 2개의 제 2 서브 수광부(75b,75c)(도 4, 도 5)에 있어서의 수광 감도의 값이 함께 대략 100%의 값으로 설정됨으로써 광 검출기(73)에 의해 1개의 제 2 메인 빔의 검출과 2개의 제 2 서브 빔의 검출이 정밀도 좋게 행해진다.
회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)는 제 1 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 1 메인 빔과 2개의 제 1 서브 빔으로 나누는 회절면부(20a)와, 제 2 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 2 메인 빔과 2개의 제 2 서브 빔으로 나누는 회절면부(20a)를 겸해서 복수 종류의 레이저 파장 광의 회절에 대응하는 1개의 면부(20a)로서 형성되어 있다.
이와 같이 회절격자(64A)의 회절면부(20a)가 형성되어 있으면, 회절격자(64A)에 있어서의 불필요한 회절광의 발생이 억제됨과 아울러 레이저 광의 효율의 저하가 방지되고, 가격을 더욱 낮게 억제할 수 있는 광 픽업 장치가 구성된다.
예컨대, 제 1 레이저 파장 광에 대응한 제 1 회절면부(302)(도 20,도 21)와, 제 2 레이저 파장 광에 대응한 제 2 회절면부(304)의 2개의 회절면부(302,304)를 갖는 종래의 회절격자(300A,300B)의 제 1 회절면부(302)를 제 1 레이저 파장 광이 투과해서 제 1 레이저 파장 광이 1개의 제 1 메인 빔과 2개의 제 1 서브 빔으로 적어도 나누어졌을 때에 회절격자(300A,300B)의 제 2 회절면부(304)에 의해 제 1 레이저 파장 광의 제 1 메인 빔이 더욱 쓸데없이 회절됨과 아울러 제 1 서브 빔이 더욱 쓸데없이 회절되고, 이것에 따라, 제 1 레이저 파장 광의 제 1 메인 빔 및 제 1 서브 빔의 광의 효율이 저하되는 것이 우려되고 있었다.
또한, 예컨대, 제 1 레이저 파장 광에 대응한 제 1 회절면부(302)와 제 2 레이저 파장 광에 대응한 제 2 회절면부(304)의 2개의 회절면부(302,304)를 갖는 종래의 회절격자(300A,300B)의 제 2 회절면부(304)를 제 2 레이저 파장 광이 투과해서 제 2 레이저 파장 광이 1개의 제 2 메인 빔과 2개의 제 2 서브 빔으로 적어도 나누어졌을 때에 회절격자(300A,300B)의 제 1 회절면부(302)에 의해 제 2 레이저 파장 광이 쓸데없이 회절되고, 이것에 따라, 제 2 레이저 파장 광의 광의 효율이 저하되는 것이 우려되고 있었다.
그러나, 회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)가 제 1 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 1 메인 빔과 2개의 제 1 서브 빔으로 나누는 회절면부(20a)와, 제 2 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 2 메인 빔과 2개의 제 2 서브 빔으로 나누는 회절면부(20a)를 겸해서 복수 종류의 레이저 파장 광의 회절에 대응하는 1개의 면부(20a)로서 형성되어 있으면, 제 1 레이저 파장 광의 제 1 메인 빔 및 제 1 서브 빔이 불필요하게 회절되어 제 1 레이저 파장 광의 제 1 메인 빔 및 제 1 서브 빔의 광의 효율이 저하되거나, 제 2 레이저 파장 광이 불필요하게 회절되어 제 2 레이저 파장 광의 광의 효율이 저하되거나 한다는 것은 회피된다.
또한, 제 1 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 1 메인 빔과 2개의 제 1 서브 빔으로 나누는 회절면부(20a)와, 제 2 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 2 메인 빔과 2개의 제 2 서브 빔으로 나누는 회절면부(20a)를 겸해서 복수 종류의 레이저 파장 광의 회절에 대응하는 1개의 면부(20a)로서 회절격자(64A)의 회절면부(20a)가 형성되어 있으므로, 가공 부분, 가공 공수 등이 감소된 회절격자(64A)가 구성된다. 회절격자(64A)의 가공 부분, 가공 공수 등이 감소되므로, 회절격자(64A)의 가격이 낮게 억제된다. 이것에 따라, 가격을 낮게 억제하는 것이 가능하게 된 광 픽업 장치를 구성시키는 것이 가능하게 된다.
도 3 및 도 7과 같이, 회절격자(64A)에 레이저 유닛(61)(도 1, 도 2)으로부터 출사되는 레이저 광의 일부에 π라디안의 위상 시프트를 발생시키는 위상 시프 트 영역부(21,22)(도 3, 도 7)가 설치되어 있다. 회절격자(64A)는 대략 직사각형상의 제 1 영역부(21)와 제 1 영역부(21)에 인접하는 대략 직사각형상의 제 2 영역부(22)의 적어도 2개의 영역부(21,22)로 나누어져 있다. 회절격자(64A)는 복수개의 영역부(21,22)로 나누어져 있다. 각 영역부(21,22) 내에서 소정의 주기 구조가 구성되어 있다.
도 3 및 도 7에 나타내는 회절격자(64A)에 있어서 회절격자(64A)를 구성하는 각 영역부(21,22)의 주기 구조는 미세한 요철 형상의 반복 주기 구조로 되어 있다. 또한, 회절격자(64A)는 예컨대 대략 3~10 평방 ㎜의 종횡 치수를 한 두께 대략 0.3~3㎜의 유리판으로 되어 있다.
복수개의 영역부(21,22)로 나누어진 회절격자(64A)가 구성되어 있으면, 미디어(D)(도 4, 도 5)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 에러 신호의 검출은 양호하게 행해지기 쉬워진다. 예컨대, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 양호하게 행해지기 쉬워진다. 회절격자(64A)(도 3, 도 7)가 복수개의 영역부(21,22)로 나누어져 구성됨으로써 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 각각 독립된 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)이 조사된다. 미디어(D)의 신호면부(Da)에 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)이 각각 독립해서 조사되므로, 트랙 피치(Dtp)가 다른 2종류 이상의 미디어(D)의 기록/재생시에 트래킹 에러 신호 등의 에러 신호의 검출 정밀도가 저하된다는 것은 회피되기 쉬워진다. 따라서, 트래킹 제어가 행해지기 쉬운 광 픽업 장치의 제공이 가능하게 된다.
도 3 및 도 7과 같이, 회절격자(64A)는 짝수의 영역부(21,22)로 나누어져 있 다.
짝수의 영역부(21,22)로 나누어진 회절격자(64A)가 구성되어 있으면, 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 형성되는 집광 스폿(80,81,82)은 정밀도가 좋은 집광 스폿(80,81,82)으로서 형성된다. 예컨대 회절격자(64A)(도 3, 도 7)의 경계선부(26)에 의해 한쪽의 영역부(21)와 다른쪽의 영역부(22)로 회절격자(64A)가 이등분되어 짝수 분할되어 있으므로, 광 픽업 장치에 회절격자(64A)가 장착될 때에 회절격자(64A)에 닿는 광은 회절격자(64A)의 한쪽의 영역부(21)와 회절격자(64A)의 다른쪽의 영역부(22)로 대략 이등분된 상태로 닿기 쉬워진다. 회절격자(64A)의 한쪽의 영역부(21)와 회절격자(64A)의 다른쪽의 영역부(22)로 광이 대략 이등분이 된 상태로 닿기 쉬워짐으로써 회절격자(64A)는 광 픽업 장치에 정밀도 좋게 구비되기 쉬워진다. 따라서, 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 정밀도 좋게 집광 스폿(80,81,82)이 형성되기 쉬워진다. 이것에 따라, 트랙 피치(Dtp)가 다른 2종류 이상의 미디어(D)의 기록/재생시에 있어서의 트래킹 에러 신호 등의 에러 신호의 검출 정밀도가 향상된다. 또한, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 정밀도 좋게 행해지기 쉬워진다.
도 3 및 도 7과 같이, 회절격자(64A)는 제 1 영역부(21)와, 제 1 영역부(21)에 인접해서 제 1 영역부(21)의 주기 구조에 대해서 다른 주기 구조를 갖는 제 2 영역부(22)의 2개의 영역부(21,22)로 나누어져 있다. 회절격자(64A)는 소위 2분할형 인라인 그레이팅으로서 구성되어 있다.
도 3 및 도 7에 나타내는 복수개의 영역부(21,22)로 분할된 회절격자(64A)가 광 픽업 장치에 장착되어 있으면, 미디어(D)(도 2, 도 4, 도 5)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 에러 신호의 검출은 양호하게 행해진다. 예컨대, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 양호하게 행해진다. 회절격자(64A)(도 3, 도 7)가 2개의 영역부(21,22)로 나누어져 구성됨으로써 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 각각 독립된 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)이 조사된다. 미디어(D)의 신호면부(Da)에 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)이 각각 독립해서 조사되므로, 트랙 피치(Dtp)가 다른 2종류 이상의 미디어(D)에 데이터 기록이 행해질 때나, 트랙 피치(Dtp)가 다른 2종류 이상의 미디어(D)의 데이터 재생이 행해질 때에 예컨대 대물 렌즈(70)(도 1, 도 2)의 변위에 따라 트래킹 에러 신호 등의 에러 신호의 검출 정밀도가 저하된다는 것은 회피된다. 따라서, 트래킹 제어가 행해지기 쉬운 광 픽업 장치의 제공이 가능하게 된다.
도 7과 같이, 회절격자(64A)는 제 1 영역부(21)가 되는 대략 직사각형상의 한쪽의 영역부(21)와, 한쪽의 영역부(21)에 인접해서 제 2 영역부(22)가 되는 대략 직사각형상의 다른쪽의 영역부(22)를 갖는 것으로 된다. 회절격자(64A)의 제 1 영역부(21)의 폭(21w)과 제 2 영역부(22)의 폭(22w)은 대략 같은 폭으로 되어 있다. 회절격자(64A)의 제 1 영역부(21)와 이 제 1 영역부(21)에 인접하는 회절격자(64A)의 제 2 영역부(22)의 경계선부(26)에 의해 회절격자(64A)는 회절격자(64A)를 구성하는 한쪽의 영역부(21)와 회절격자(64A)를 구성하는 다른쪽의 영역부(22)로 이등분된다. 회절격자(64A)는 짝수 분할되어 있다.
이것에 의해, 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 형성되는 집광 스 폿(80,81,82)은 정밀도가 좋은 집광 스폿(80,81,82)으로서 형성된다. 짝수 분할된 회절격자(64A)(도 3, 도 7)의 제 1 영역부(21)와 제 1 영역부(21)에 인접하는 제 2 영역부(22)의 경계선부(26)에 의해 제 1 영역부(21)가 되는 한쪽의 영역부(21)와 한쪽의 영역부(21)에 인접해서 제 2 영역부(22)가 되는 다른쪽의 영역부(22)로 회절격자(64A)가 이등분되므로, 광 픽업 장치의 하우징(도시하지 않음)에 회절격자(64A)가 장착될 때에 레이저 유닛(61)(도 1, 도 2)으로부터 출사되어 회절격자(64A)에 닿은 레이저 광은 예컨대 도시하지 않은 광축 조정용 카메라 등에 의해 용이하게 광축 조정된다. 레이저 유닛(61)으로부터 출사되어 회절격자(64A)에 닿은 후에 대물 렌즈(70)를 투과한 레이저 광은 예컨대 광축 조정용 카메라 등이 이용되어 관찰 가능하게 된다.
2분할형 회절격자(64A)(도 3, 도 7)에 있어서는 회절격자(64A)의 대략 중앙을 이등분시켜서 대략 직사각형상의 한쪽의 영역부(21)와, 대략 직사각형상의 다른쪽의 영역부(22)를 구성시키는 경계선부(26)가 회절격자(64A)에 설치되어 있기 때문에, 광축 조정용 카메라 등이 이용되어 레이저 광의 광축 조정이 행해질 때에 레이저 광은 회절격자(64A)를 구성하는 대략 직사각형상의 한쪽의 영역부(21)와 회절격자(64A)를 구성하는 대략 직사각형상의 다른쪽의 영역부(22)에 대략 이등분된 상태로 닿기 쉬워진다.
회절격자(64A)를 구성하는 대략 직사각형상의 한쪽의 영역부(21)와 회절격자(64A)를 구성하는 대략 직사각형상의 다른쪽의 영역부(22)에 레이저 광이 대략 이등분이 된 상태로 닿기 쉬워짐으로써 회절격자(64A)는 광 픽업 장치의 하우징에 정밀도 좋게 위치 결정 조정되면서 구비되기 쉬워진다. 따라서, 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 정밀도 좋게 집광 스폿(80,81,82)이 형성되기 쉬워진다. 이것에 따라, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 정밀도 좋게 행해지기 쉬워진다.
회절격자(64A)(도 3, 도 7)를 구성하는 대략 직사각형상의 제 1 영역부(21) 및 대략 직사각형상의 제 2 영역부(22)의 사이에 회절격자(64A)를 구성하는 대략 선상의 경계선부(26)가 위치한다. 제 1 영역부(21)의 주기 구조에 대해서 제 2 영역부(22)의 주기 구조는 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다. 제 1 영역부(21)의 주기 구조에 대해서 제 2 영역부(22)의 주기 구조는 대략 180도 정도 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다.
이것에 의해, 회절격자(64A)에 있어서의 제 1 영역부(21)와 제 2 영역부(22)가 구별화됨과 아울러, 회절격자(64A) 있어서의 제 1 영역부(21)와 제 2 영역부(22)의 위상차가 명확화된다. 회절격자(64A)의 제 1 영역부(21)의 주기 구조에 대해서 회절격자(64A)의 제 2 영역부(22)의 주기 구조가 대략 180도 정도 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있으므로, 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 적어도 3개의 각 집광 스폿(80,81,82)이 양호하게 형성된다. 미디어(D)의 신호면부(Da)에 양호하게 형성된 적어도 3개의 각 집광 스폿(80,81,82)에 의해 트랙 피치(Dtp)가 다른 복수 종류의 미디어(D)의 데이터 기록/재생시에 예컨대 대물 렌즈(70)(도 1, 도 2)의 변위에 따라 트래킹 에러 신호가 열화된다는 것은 회피되기 쉬워진다.
제 1 영역부(21)(도 3, 도 7)와 제 2 영역부(22)를 구획하는 경계선부(26)에 의해 제 1 영역부(21)와 제 2 영역부(22)가 나누어져 있다.
회절격자(64A)가 2개의 영역부로 나누어져 구별화됨으로써 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 각각 독립된 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)이 조사된다. 미디어(D)의 신호면부(Da)에 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)이 각각 독립해서 조사되므로, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 행해지기 쉬워진다.
회절격자(64A)(도 3, 도 7)는 대략 직사각형 판형상으로 형성되어 있다. 회절격자(64A)가 평면으로 보여졌을 때에 회절격자(64A)는 대략 직사각형 판형상의 것으로서 보여진다.
세로로 긴 대략 직사각형상 제 1 영역부(21)와, 세로로 긴 대략 직사각형상 제 2 영역부(22)가 가로로 배열된 상태에서 회절격자(64A)가 평면으로 보여졌을 때에 회절격자(64A)의 1영역부의 위상에 대해서 1영역부의 우측에 인접하는 다른 영역부의 위상이 대략 우측 상향 계단 형상으로 어긋난 경우에 다른 영역부의 위상은 플러스(+)측으로 어긋난 것으로 정해진다.
또한, 세로로 긴 대략 직사각형상 제 1 영역부(21)와 세로로 긴 대략 직사각형상 제 2 영역부(22)가 가로로 배열된 상태에서 회절격자(64A)가 평면으로 보여졌을 때에 회절격자(64A)의 1영역부의 위상에 대해서 1영역부의 우측에 인접하는 다른 영역부의 위상이 대략 우측 하향 계단 형상으로 어긋난 경우에 다른 영역부의 위상은 마이너스(-)측으로 어긋난 것으로 정해진다.
또한, 본원에 있어서의 플러스(+)의 위상 및 마이너스(-)의 위상의 정의는 회절격자의 위상차 상태를 설명하기 위한 편의상의 정의가 된다. 또한, 본원에 있어서의 「가로」,「세로」의 정의에 대해서도 회절격자를 설명하기 위한 편의상의 정의가 된다.
회절격자(64A)가 평면으로 보여졌을 때에 제 1 영역부(21)의 주기 구조에 대해서 제 1 영역부(21)의 우측에 인접하는 제 2 영역부(22)의 주기 구조는 플러스측으로 어긋난 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다(도 8). 제 1 영역부(21)(도 7)의 주기 구조에 대해서 제 2 영역부(22)의 주기 구조는 대략 +180도 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다.
이 광 픽업 장치는 데스크톱형 퍼스널 컴퓨터(PC: Personal Computer)용 광 디스크 장치에 장착되어 사용되는 것이 가능하게 됨과 아울러, 노트형 또는 랩형 PC용 광 디스크 장치에 장착되어 사용되는 것도 가능하게 된다.
이 광 픽업 장치(도 1, 도 2)는 예컨대, 평면으로 바라봐서 대략 직사각형의 회절격자(64A)(도 7)와, 적어도 3개의 광속을 집광해서 미디어(D)(도 1, 도 2, 도 4)의 신호면부(Da)(도 4)에 각각 독립된 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)을 조사시키는 대물 렌즈(70)(도 1, 도 2)와, 미디어(D)에 있어서의 3개의 각 집광 스폿(80,81,82)(도 4)의 반사광을 수광하는 광 검출기(73)(도 1, 도 2, 도 4, 도 5)를 구비해서 구성된다.
이와 같이 광 픽업 장치가 구성되어 있으면, 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 정밀도 좋게 행해진다. 트랙 피치(Dtp)가 다른 복수 종류의 미디어(D)의 데이터 기록/재생시에 대물 렌즈(70)(도 1, 도 2)의 변위에 따라 트래킹 에러 신호의 진폭이 열화되는 것이나, 트래킹 에러 신호에 오프셋이 잔류한다는 것은 회피되기 쉬워진다.
위상 시프트형 2분할 회절격자(64A)(도 3, 도 7)를 구비하는 광 픽업 장치가 구성됨으로써 DVD-RAM에 대한 광 픽업 장치의 데이터 재생 동작 또는 데이터 기록 동작은 확실하게 행해진다. 또한, DVD±R, DVD±RW에 대한 광 픽업 장치의 데이터 재생 동작 또는 데이터 기록 동작도 확실하게 행해진다.
도 1, 도 2에 나타내는 광 검출기(73)는 예컨대, 2종류의 레이저 파장 광, 3종류의 레이저 파장 광 등이라는 복수 종류의 레이저 파장 광을 수광할 수 있는 1개의 광 검출기(73)로서 구성된다.
복수 종류의 레이저 파장 광을 수광할 수 있는 1개의 광 검출기(73)가 광 픽업 장치에 장착되어 있으면, 다종의 미디어(D)(도 1, 도 2, 도 4, 도 5)에 대응 가능한 광 픽업 장치가 구성됨과 아울러, 광 픽업 장치의 부품점수의 삭감화에 따른 가격 저감화가 도모된다. 광 검출기(73)(도 1, 도 2)는 제 1 파장 광과, 제 1 파장 광과 다른 파장으로 되고 또한 제 1 레이저 파장 광보다 짧은 파장의 레이저 광이 되는 제 2 파장 광의 2종류 이상의 파장 광을 수광할 수 있는 복수 종류의 파장 광에 대응하는 광 검출기(73)로서 구성되므로, 광 픽업 장치는 다종의 미디어(D)에 대응 가능하게 된다. 또한, 이와 함께, 제 1 파장 광을 수광할 수 있는 광 검출기와, 제 2 파장 광을 수광할 수 있는 광 검출기가 1개의 광 검출기(73)로서 통합되므로, 광 픽업 장치의 부품 삭감화, 소형화, 경박화 등이 도모된다. 광 픽업 장치의 부품 삭감화에 따라 광 픽업 장치의 가격이 낮게 억제된다. 따라서, 다종의 미 디어(D)에 대응 가능하게 됨과 아울러, 부품 삭감화, 가격 저감화, 소형화, 경박화 등이 도모된 광 픽업 장치의 제공이 가능하게 된다.
또한, 이 광 픽업 장치는 2종류의 레이저 파장 광, 3종류의 레이저 파장 광 등이라는 복수 종류의 레이저 파장 광을 출사할 수 있는 1개의 발광 소자(61)(도 1, 도 2)를 구비해서 구성된다.
복수 종류의 레이저 파장 광을 출사할 수 있는 1개의 발광 소자(61)가 광 픽업 장치에 장착되어 있으면, 다종의 미디어(D)(도 1, 도 2, 도 4, 도 5)에 대응 가능한 광 픽업 장치가 구성됨과 아울러, 광 픽업 장치의 부품점수의 삭감화에 따른 가격 저감화가 도모된다. 발광 소자(61)(도 1, 도 2)는 제 1 파장 광과, 제 1 파장 광과 다른 파장으로 되고 또한 제 1 레이저 파장 광보다 짧은 파장의 레이저 광이 되는 제 2 파장 광의 2종류 이상의 파장 광을 출사할 수 있는 복수 종류의 파장 광을 출사하는 발광 소자(61)로서 구성되므로, 광 픽업 장치는 다종의 미디어(D)에 대응 가능하게 된다. 또한, 이와 함께, 제 1 파장 광을 출사할 수 있는 발광 소자와 제 2 파장 광을 출사할 수 있는 발광 소자가 1개의 발광 소자(61)로서 통합되므로, 광 픽업 장치의 부품 삭감화, 소형화, 경박화 등이 도모된다. 광 픽업 장치의 부품 삭감화에 따라 광 픽업 장치의 가격이 낮게 억제된다. 따라서, 다종의 미디어(D)에 대응 가능하게 됨과 아울러, 부품 삭감화, 가격 저감화, 소형화, 경박화 등이 도모된 광 픽업 장치의 제공이 가능하게 된다.
또한, 광 픽업 장치의 부품점수의 삭감화에 의해 광 픽업 장치의 성능/품질의 안정화도 도모된다. 예컨대, 제 1 파장 광을 출사 가능한 제 1 발광 소자와 제 2 파장 광을 출사 가능한 제 2 발광 소자가 개별적으로 하우징 등에 구비되는 경우, 예컨대 제 1 발광 소자 및/또는 제 2 발광 소자의 설치 오차 등에 의해 제 1 파장 광의 광축 및 제 2 파장 광의 광축 등에 「편차」가 생기는 것이 우려된다. 그러나, 제 1 파장 광을 출사할 수 있는 발광 소자와 제 2 파장 광을 출사할 수 있는 발광 소자가 1개의 발광 소자(61)로서 통합되어 있으면, 설치 오차 등에 의한 광축 등의 「편차」발생이 감소된다. 따라서, 광 픽업 장치의 성능/품질이 안정화된다.
제 1 레이저 파장 광은 CD 규격에 준거한 파장 광으로 되어 있다. 제 1 레이저 파장 광은 CD 규격에 준거한 적외 레이저 광으로 되어 있다. 상세하게 설명하면, 제 1 레이저 파장 광의 파장은 CD 규격의 광 디스크(D)에 대응해서 대략 765~830㎚, 기준이 되는 파장이 대략 780~782㎚로 되어 있다. 예컨대 기준이 되는 파장이 대략 765~830㎚의 범위 내에 수용되는 파장 광이 제 1 레이저 파장 광이 된다. 2파장 발광 소자(61)의 제 1 광원(62)으로부터 출사되는 제 1 레이저 파장 광은 예컨대 발광 소자(61)의 축열 온도 등에 의해 변동되는 일이 있다.
또한, 제 2 레이저 파장 광은 DVD 규격에 준거한 파장 광으로 되어 있다. 제 2 레이저 파장 광은 DVD 규격에 준거한 적색 레이저 광으로 되어 있다. 상세하게 설명하면, 제 2 레이저 파장 광의 파장은 DVD 규격의 광 디스크(D)에 대응해서 대략 630~685㎚, 기준이 되는 파장이 대략 635~660㎚로 되어 있다. 예컨대 기준이 되는 파장이 대략 630~685㎚의 범위 내에 수용되는 파장 광이 제 2 레이저 파장 광이 된다. 2파장 발광 소자(61)의 제 2 광원(63)으로부터 출사되는 제 2 레이저 파장 광은 예컨대 발광 소자(61)의 축열 온도 등에 의해 변동되는 일이 있다.
회절면부(20a)(도 3, 도 6, 도 7)를 편측면에만 갖는 회절격자(64A)가 이용되어 있으면, CD 규격의 광 디스크(D)(도 1, 도 2)에 대응한 대략 765~830㎚, 기준이 되는 파장이 대략 780~782㎚의 파장 광이 되는 CD 규격에 준거한 제 1 레이저 파장 광이 회절격자(64A)를 투과할 때에 불필요한 회절광이 생긴다는 것은 대략 방지된다.
또한, 회절면부(20a)(도 3, 도 6, 도 7)를 편측면에만 갖는 회절격자(64A)가 이용되고 있으면, DVD 규격의 광 디스크(D)(도 1, 도 2)에 대응한 대략 630~685㎚, 기준이 되는 파장이 대략 635~660㎚의 파장 광이 되는 DVD 규격에 준거한 제 2 레이저 파장 광이 회절격자(64A)를 투과할 때에 불필요한 회절광이 생긴다는 것은 대략 방지된다.
DVD 규격에 준거하는 제 2 레이저 파장 광에 대응해서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)를 CD 규격에 준거한 소정 파장 광의 제 1 레이저 파장 광이 투과함으로써 불필요한 회절광이 대략 생기지 않고 나누어진 CD 규격에 준거하는 제 1 레이저 파장 광의 2개의 제 1 서브 빔은 광 검출기(73)(도 5)에 구비된 제 1 수광 영역(74)의 1개의 제 1 메인 수광부(74a)에 대해서 중심점간 거리[Ys(cd)]가 변경된 2개의 제 1 서브 수광부(74b,74c)에 확실하게 조사된다. 또한, DVD 규격에 준거하는 제 2 레이저 파장 광에 대응해서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)를 CD 규격에 준거한 소정 파장 광의 제 1 레이저 파장 광이 투 과함으로써 불필요한 회절광이 대략 생기지 않고 나누어진 CD 규격에 준거하는 제 1 레이저 파장 광의 1개의 제 1 메인 빔은 광 검출기(73)(도 5)에 구비된 제 1 수광 영역(74)의 1개의 제 1 메인 수광부(74a)에 확실하게 조사된다.
또한, DVD 규격에 준거하는 제 2 레이저 파장 광에 대응해서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)를 DVD 규격에 준거한 소정 파장 광의 제 2 레이저 파장 광이 투과했을 때에 불필요한 회절광이 대략 생기지 않고 DVD 규격에 준거한 소정 파장 광의 제 2 레이저 파장 광은 적어도 1개의 제 2 메인 빔과 2개의 제 2 서브 빔으로 나누어진다. DVD 규격에 준거하는 제 2 레이저 파장 광의 2개의 제 2 서브 빔은 광 검출기(73)(도 5)에 구비된 종래 규격과 동일한 제 2 수광 영역(75)의 2개의 제 2 서브 수광부(75b,75c)에 확실하게 조사되고, DVD 규격에 준거하는 제 2 레이저 파장 광의 1개의 제 2 메인 빔은 광 검출기(73)에 구비된 종래 규격과 같은 제 2 수광 영역(75)의 1개의 제 2 메인 수광부(75a)에 확실하게 조사된다.
광 픽업 장치 등의 설계/사양 등에 따라, 예컨대 제 1 레이저 파장 광이 「DVD」 규격에 준거한 파장 광이 되어도 좋다. 예컨대 제 1 레이저 파장 광이 「DVD」 규격에 준거한 적색 레이저 광이 되어도 좋다. 상세하게 설명하면, 제 1 레이저 파장 광의 파장은 「DVD」 규격의 광 디스크(D)에 대응해서 대략 630~685㎚, 기준이 되는 파장이 대략 635~660㎚로 된다. 예컨대 기준이 되는 파장이 대략 630~685㎚의 범위 내에 수용되는 파장 광이 제 1 레이저 파장 광이 된다. 2파장 발광 소자(61)의 제 1 광원(62)으로부터 출사되는 제 1 레이저 파장 광은 예컨대 발광 소 자(61)의 축열 온도 등에 의해 변동되는 일이 있다.
또한, 광 픽업 장치 등의 설계/ 등에 의해, 예컨대 제 2 레이저 파장 광이 「Blu-ray Disc」 규격 또는 「HD DVD」 규격에 준거한 파장 광이 되어도 좋다. 예컨대 제 2 레이저 파장 광이 「Blu-ray Disc」 규격 또는 「HD DVD」 규격에 준거한 청자색 레이저 광이 되어도 좋다. 상세하게 설명하면, 제 2 레이저 파장 광의 파장은 「Blu-ray Disc」 규격 또는 「HD DVD」 규격의 광 디스크(D)에 대응해서 대략 340~450㎚, 기준이 되는 파장이 대략 405㎚로 된다. 예컨대 기준이 되는 파장이 대략 340~450㎚의 범위 내에 수용되는 파장 광이 제 2 레이저 파장 광이 된다. 2파장 발광 소자(61)의 제 2 광원(63)으로부터 출사되는 제 2 레이저 파장 광은 예컨대 발광 소자(61)의 축열 온도 등에 의해 변동되는 일이 있다.
회절면부(20a)(도 3, 도 6, 도 7)를 편측면에만 갖는 회절격자(64A)가 이용되고 있으면, 「DVD」 규격의 광 디스크(D)(도 1, 도 2)에 대응한 대략 630~685㎚, 기준이 되는 파장이 대략 635~660㎚의 파장 광이 되는 「DVD」 규격에 준거한 제 1 레이저 파장 광이 회절격자(64A)를 투과할 때에 불필요한 회절광이 생긴다는 것은 대략 방지된다.
또한, 회절면부(20a)(도 3, 도 6, 도 7)를 편측면에만 갖는 회절격자(64A)가 이용되고 있으면, 「Blu-ray Disc」 규격 또는 「HDpVD」 규격의 광 디스크(D)(도 1, 도 2)에 대응한 대략 340~450㎚, 기준이 되는 파장이 대략 405㎚의 파장 광이 되는 「Blu-ray Disc」 규격 또는 「HD DVD」 규격에 준거한 제 2 레이저 파장 광이 회절격자(64A)를 투과할 때에 불필요한 회절광이 생긴다는 것은 대략 방지된다.
「Blu-ray Disc」 규격 또는 「HD DVD」 규격에 준거하는 제 2 레이저 파장 광에 대응해서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)를 「DVD」 규격에 준거한 소정 파장 광의 제 1 레이저 파장 광이 투과함으로써 불필요한 회절광이 대략 생기지 않고 나누어진 「DVD」 규격에 준거하는 제 1 레이저 파장 광의 2개의 제 1 서브 빔은 광 검출기(73)(도 5)에 구비된 제 1 수광 영역(74)의 1개의 제 1 메인 수광부(74a)에 대해서 중심점간 거리[Ys(cd)]가 변경된 2개의 제 1 서브 수광부(74b, 74c)에 확실하게 조사된다. 또한, 「Blu-ray Disc」 규격 또는 「HD DVD」 규격에 준거하는 제 2 레이저 파장 광에 대응해서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)를 「DVD」 규격에 준거한 소정 파장 광의 제 1 레이저 파장 광이 투과함으로써 불필요한 회절광이 대략 생기지 않고 나누어진 「DVD」 규격에 준거하는 제 1 레이저 파장 광의 1개의 제 1 메인 빔은 광 검출기(73)(도 5)에 구비된 제 1 수광 영역(74)의 1개의 제 1 메인 수광부(74a)에 확실하게 조사된다.
또한, 「Blu-ray Disc」 규격 또는 「HD DVD」 규격에 준거하는 제 2 레이저 파장 광에 대응해서 제 2 레이저 파장 광을 기준으로 한 회절격자(64A)(도 3, 도 6, 도 7)의 회절면부(20a)를 「Blu-ray Disc」 규격 또는 「HD DVD」 규격에 준거한 소정 파장 광의 제 2 레이저 파장 광이 투과했을 때에 불필요한 회절광이 대략 생기지 않고 「Blu-ray Disc」 규격 또는 「HD DVD」 규격에 준거한 소정 파장 광의 제 2 레이저 파장 광은 적어도 1개의 제 2 메인 빔과 2개의 제 2 서브 빔으로 나누어진다. 「Blu-ray Disc」 규격 또는 「HD DVD」 규격에 준거하는 제 2 레이저 파장 광의 2개의 제 2 서브 빔은 광 검출기(73)(도 5)에 구비된 종래 규격과 동일한 제 2 수광 영역(75)의 2개의 제 2 서브 수광부(75b, 75c)에 확실하게 조사되고, 「Blu-ray Disc」 규격 또는 「HD DVD」 규격에 준거하는 제 2 레이저 파장 광의 1개의 제 2 메인 빔은 광 검출기(73)에 구비된 종래 규격과 동일한 제 2 수광 영역(75)의 1개의 제 2 메인 수광부(75a)에 확실하게 조사된다.
또한, 도 1, 도 2 등에 나타내는 광 픽업 장치는 제 1 층(DL0)(도 5), 제 2 층(DL1) 등의 복수개의 신호면부(Da)를 갖는 미디어(D)에 대응 가능하게 되어 있다.
상기 광 픽업 장치가 구성됨으로써 제 1 층(DL0)(도 5), 제 2 층(DL1) 등의 복수개의 신호면부(Da)를 갖는 미디어(D)에 대한 광 픽업 장치의 신호, 정보의 판독, 및/또는 제 1 층(DL0), 제 2 층(DL1) 등의 복수개의 신호면부(Da)를 갖는 미디어(D)에 대한 광 픽업 장치의 신호, 정보의 기록은 양호하게 행해진다. 회절격자(64A)(도 1~도 3, 도 6, 도 7)에 의한 불필요한 광의 발생이 억제된 광 픽업 장치(도 1, 도 2)가 구성되므로, 광 픽업 장치에 의해 복수개의 신호면부(Da)를 갖는 미디어(D)의 데이터, 신호, 정보 등의 판독이 행해지고 있을 때나, 복수개의 신호면부(Da)를 갖는 미디어(D)에 데이터, 신호, 정보 등의 기록이 행해지고 있을 때에 예컨대 불필요한 광의 발생에 기인한 문제가 생긴다는 것은 회피된다.
예컨대, 제 1 층(DL0)(도 5)과 제 2 층(DL1)의 복수개의 층(D10,DL1)을 갖는 DVD 규격의 미디어(D)의 제 1 층(DL0)에 있어서의 신호의 재생 또는 신호의 기록이 행해지고 있을 때에 회절격자(64A)(도 1~도 3, 도 6, 도 7)에 의한 불필요한 광이 DVD 규격의 미디어(D)의 제 2 층(DL1)에 조사되고, 그 결과, DVD 규격의 미디어(D)의 제 2 층(DL1)에 있어서의 불필요한 반사광이, 광 검출기(73)에 있어서의 DVD 수광 영역(75)의 한쪽의 제 2 서브 수광부(75b) 또는 다른쪽의 제 2 서브 수광부(75c) 중 어느 한쪽 또는 양쪽에 노이즈로서 들어가고, 광 검출기(73)에 소위 층간 크로스 토크가 생긴다는 것은 회피된다.
또한, 예컨대, 제 1 층(DL0)(도 5)과 제 2 층(DL1)의 복수개의 층(D10), (DL1)을 갖는 「Blu-ray Disc」 규격 또는 「HD DVD」 규격의 미디어(D)의 제 1 층(DL0)에 있어서의 신호의 재생 또는 신호의 기록이 행해지고 있을 때에 회절격자(64A)(도 1~도 3, 도 6, 도 7)에 의한 불필요한 광이 「Blu-ray Disc」 규격 또는 「HD DVD」 규격의 미디어(D)의 제 2 층(DL1)에 조사되고, 그 결과, 「Blu-ray Disc」 규격 또는 「HD DVD」 규격의 미디어(D)의 제 2 층(DL1)에 있어서의 불필요한 반사광이, 광 검출기(73)에 있어서의 DVD 수광 영역(75)의 한쪽의 제 2 서브 수광부(75b) 또는 다른쪽의 제 2 서브 수광부(75c) 중 어느 한쪽 또는 양쪽에 노이즈로서 들어가고, 광 검출기(73)에 소위 층간 크로스 토크가 생긴다는 것은 회피된다.
[실시예2]
도 9는 광 픽업 장치에 장착되는 회절격자의 제 2 실시형태를 나타내는 개략도이다.
도 1, 도 2 및 도 6에 나타내는 회절격자(64A) 대신에 도 3의 우측 및 도 9에 나타내는 회절격자(64B)가 광 픽업 장치(도 1, 도 2)에 장착된다. 도 1, 도 2 및 도 6에 나타내는 회절격자(64A)가 도 3의 우측 및 도 9에 나타내는 회절격자(64B)로 치환된 것 이외에 광 픽업 장치 및 광 디스크 장치에 변경은 없다. 도 1, 도 2 및 도 6에 나타내는 회절격자(64A)가 도 3의 우측 및 도 9에 나타내는 회절격자(64B)로 치환된 점에서 실시예1과 실시예2가 다르지만, 회절격자(64A,64B) 이외의 다른 부분에 있어서는 실시예1과 실시예2는 공통의 것으로 되어 있다. 편의상, 도 1~도 8을 병용해서 실시예2를 설명한다. 또한, 실시예2에 있어서 실시예1에서 설명한 것과 동일한 것에 대해서는 동일한 부호를 붙이고, 그 상세한 설명을 생략했다.
회절격자(64B)는, 도 3에 나타내는 바와 같이, 한쪽의 반평면(21)에 형성된 격자 홈의 주기 구조의 위상이 다른쪽의 반평면(22)에 형성된 격자 홈의 주기 구조의 위상에 대해서 약 180도 어긋난 DVD용 회절격자 부재(20)가 광학 유리판(50)의 한쪽의 평면부(50a)에 고착되어 구성된다. 광학 유리판(50)이 장착됨으로써 회절격자(64B)는 회절격자(64A)(도 3의 좌측, 도 6)보다 기계적 강도가 우수하다.
우선, 레이저 유닛(61)의 제 1 또는 제 2 광원(62,63)으로부터 출사되는 제 1 또는 제 2 레이저 광의 파장(λ)과, 회절격자(64B)에 있어서 연속된 오목부(S11)로부터 볼록부(S12) 또는 볼록부(S12)로부터 오목부(S11)까지를 1주기로 한 격자 간격(d)에 기초해서 상기 식 (1)에 의한 브래그의 조건에 기초하는 근사식에 의해 회절각(θ)이 구해진다(도 9 참조). 또한, 도 9에 나타내는 설명도는 설명을 용이하게 하기 위해서 편의상 그려진 도면이고, 실제로는 가상의 발광점(X)은 법선(N)을 중심축으로 해서 대략 대칭으로 1쌍 정도 설정된다.
다음에, 레이저 유닛(61)의 발광면(61a)에 포함되는 제 1 또는 제 2 광원(62,63)의 현실의 위치를 나타내는 제 1 발광점(O)으로부터 회절격자(64B)의 대략 평활면(S)의 이면측의 오목면(S21)을 구성하는 저면(Si)이나 볼록면(S22)을 구성하는 외면(Sii)까지의 사이의 법선 거리(L)와, 상기 식 (1)에서 의해 구한 회절각(θ)에 기초해서 레이저 유닛(61)의 발광면(61a) 상에서의 서브 빔에 관한 외견상의 제 1 또는 제 2 광원(62,63)의 위치를 나타내는 제 2 발광점(X)을 정할 수 있다. 또한, 레이저 유닛(61)의 발광면(61a)은 회절격자(64B)의 대략 평활면(S)의 법선(N)에 대해서 수직이고, 면(S)의 이면측의 오목면(S21)을 구성하는 저면(Si)이나 볼록면(S22)을 구성하는 외면(Sii)으로부터 대략 법선 거리(L)만큼 떨어진 위치에 있는 평면으로 되어 있다. 그리고, 상기 식 (2)에 의해, 레이저 유닛(61)의 발광면(61a) 상에 있어서의 제 1 발광점(O)으로부터 제 2 발광점(X)까지의 사이의 거리(Yr)가 구해진다(도 9 참조).
또한, 상기 식 (1) 및 식 (2)에 기초해서 상기 식 (5)가 구해진다. 또한, 상기 식 (6), (7), (8)에 의해 광 검출기(73)의 DVD 수광 영역(75)에 있어서의 수광 간격[Ys(dvd)]이 구해진다. 또한, 상기 식 (9), (10), (11)에 의해 광 검출기(73)의 CD 수광 영역(74)에 있어서의 수광 간격[Ys(cd)]이 구해진다.
[실시예3]
도 10은 광 픽업 장치에 장착되는 회절격자의 제 3 실시형태를 나타내는 개략 평면도, 도 11은 도 10의 회절격자에 있어서의 광 디스크 반경 방향과 위상차의 관계를 나타내는 도면이다.
도 1, 도 2 및 도 6에 나타내는 회절격자(64A) 대신에 도 10에 나타내는 회절격자(64C)가 광 픽업 장치(도 1, 도 2)에 장착된다. 도 1, 도 2 및 도 6에 나타내는 회절격자(64A)가 도 10에 나타내는 회절격자(64C)로 치환된 것 이외에 광 픽업 장치 및 광 디스크 장치에 변경은 없다. 도 1, 도 2 및 도 6에 나타내는 회절격자(64A)가 도 10에 나타내는 회절격자(64C)로 치환된 점에서 실시예1과 실시예3이 다르지만, 회절격자(64A,64C) 이외의 다른 부분에 있어서는 실시예1과 실시예3은 공통인 것으로 되어 있다. 편의상, 도 1~도 6 및 도 14~도 16을 병용해서 실시예3을 설명한다. 또한, 실시예3에 있어서 실시예1에서 설명한 것과 동일한 것에 대해서는 동일한 부호를 붙이고, 그 상세한 설명을 생략했다.
또한, 도 14는 광 픽업 장치의 시야 특성을 나타내는 설명도, 도 15는 광 픽업 장치의 서브 푸시풀 신호 진폭 레벨 특성을 나타내는 설명도, 도 16은 광 픽업 장치의 트래킹 에러 위상차 특성을 나타내는 설명도이다.
회절격자(64C)(도 10)의 회절면부(30a)는 제 1 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 1 메인 빔과 2개의 제 1 서브 빔으로 나누는 회절면부(30a)와, 제 2 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 2 메인 빔과 2개의 제 2 서브 빔으로 나누는 회절면부(30a)를 겸해서 복수 종류의 레이저 파장 광의 회절에 대응하는 1개의 면부(30a)로서 형성되어 있다.
이와 같이 회절격자(64C)의 회절면부(30a)가 형성되어 있으면, 회절격자(64C)에 있어서의 불필요한 회절광의 발생이 억제됨과 아울러 레이저 광의 효율의 저하가 방지되고, 가격을 더욱 낮게 억제할 수 있는 광 픽업 장치가 구성된다.
예컨대, 제 1 레이저 파장 광에 대응한 제 1 회절면부(302)(도 20,도 21)와, 제 2 레이저 파장 광에 대응한 제 2 회절면부(304)의 2개의 회절면부(302,304)를 갖는 종래의 회절격자(300A,300B)의 제 1 회절면부(302)를 제 1 레이저 파장 광이 투과해서 제 1 레이저 파장 광이 1개의 제 1 메인 빔과 2개의 제 1 서브 빔으로 적어도 나누어졌을 때에 회절격자(300A,300B)의 제 2 회절면부(304)에 의해 제 1 레이저 파장 광의 제 1 메인 빔이 더욱 쓸데없이 회절됨과 아울러 제 1 서브 빔이 더욱 쓸데없이 회절되고, 이것에 따라, 제 1 레이저 파장 광의 제 1 메인 빔 및 제 1 서브 빔의 광의 효율이 저하되는 것이 우려되고 있었다.
또한, 예컨대, 제 1 레이저 파장 광에 대응한 제 1 회절면부(302)와, 제 2 레이저 파장 광에 대응한 제 2 회절면부(304)의 2개의 회절면부(302,304)를 갖는 종래의 회절격자(300A,300B)의 제 2 회절면부(304)를 제 2 레이저 파장 광이 투과해서 제 2 레이저 파장 광이 1개의 제 2 메인 빔과 2개의 제 2 서브 빔으로 적어도 나누어졌을 때에 회절격자(300A,300B)의 제 1 회절면부(302)에 의해 제 2 레이저 파장 광이 쓸데없이 회절되고, 이것에 따라, 제 2 레이저 파장 광의 광의 효율이 저하되는 것이 우려되고 있었다.
그러나, 회절격자(64C)(도 10)의 회절면부(30a)가 제 1 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 1 메인 빔과 2개의 제 1 서브 빔으로 나누는 회절면부(30a)와, 제 2 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 2 메인 빔과 2개의 제 2 서브 빔으로 나누는 회절면부(30a)를 겸해서 복수 종류의 레이저 파장 광의 회절에 대응하는 1개의 면부(30a)로서 형성되어 있으면, 제 1 레이저 파장 광의 제 1 메인 빔 및 제 1 서브 빔이 불필요하게 회절되어 제 1 레이저 파장 광의 제 1 메인 빔 및 제 1 서브 빔의 광의 효율이 저하되거나, 제 2 레이저 파장 광이 불필요하게 회절되어 제 2 레이저 파장 광의 광의 효율이 저하되거나 한다는 것은 회피된다.
또한, 제 1 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 1 메인 빔과 2개의 제 1 서브 빔으로 나누는 회절면부(30a)와, 제 2 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 2 메인 빔과 2개의 제 2 서브 빔으로 나누는 회절면부(30a)를 겸해서 복수 종류의 레이저 파장 광의 회절에 대응하는 1개의 면부(30a)로서 회절격자(64C)의 회절면부(30a)가 형성되어 있으므로, 가공 부분, 가공 공수 등이 감소된 회절격자(64C)가 구성된다. 회절격자(64C)의 가공 부분, 가공 공수 등이 감소되므로, 회절격자(64C)의 가격이 낮게 억제된다. 이것에 따라, 가격을 낮게 억제하는 것이 가능하게 된 광 픽업 장치를 구성시키는 것이 가능하게 된다.
도 10과 같이, 회절격자(64C)에 레이저 유닛(61)(도 1, 도 2)으로부터 출사되는 레이저 광의 일부에 π라디안의 위상 시프트를 발생시키는 위상 시프트 영역부(31,33)(도 10)가 설치되어 있다. 회절격자(64C)는 대략 직사각형상의 제 1 영역부(31)와, 제 1 영역부(31)에 인접하는 대략 선상의 제 2 영역부(32)와, 제 2 영역부(32)에 인접하는 대략 직사각형상의 제 3 영역부(33)의 적어도 3개의 영역부(31,32,33)로 나누어져 있다. 회절격자(64C)는 복수개의 영역부(31,32,33)로 나누어져 있다. 각 영역부(31,32,33) 내에서 소정의 주기 구조가 구성되어 있다.
도 10에 나타내는 회절격자(64C)에 있어서 제 2 영역부(32)의 위상 상태가 용이하게 이해되기 위해서 편의상 제 2 영역부(32)는 어느 정도의 폭을 가지게 해 서 그려져 있다. 실제로는 회절격자(64C)의 제 2 영역부(32)는 예컨대 폭(32w)이 20~200㎛ 정도의 가느다란 선형상으로 이루어진다. 또한, 회절격자(64C)를 구성하는 각 영역부(31,32,33)의 주기 구조는 미세한 요철 형상의 반복 주기 구조로 되어 있다. 또한, 회절격자(64C)는 예컨대 대략 3~10 평방 ㎜의 종횡 치수를 한 두께 대략 0.3~3㎜의 유리판으로 되어 있다. 도 10에 나타내는 회절격자(64C)가 비스듬히 보여졌을 때에 회절격자(64C)는 예컨대 도 1에 나타내는 회절격자(64A)와 같이 보여진다.
복수개의 영역부(31,32,33)(도 10)로 나누어진 회절격자(64C)가 구성되어 있으면, 미디어(D)(도 4, 도 5)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 에러 신호의 검출은 양호하게 행해지기 쉬워진다. 예컨대, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 양호하게 행해지기 쉬워진다. 회절격자(64C)(도 10)가 복수개의 영역부(31,32,33)로 나누어져 구성됨으로써 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 각각 독립된 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)이 조사된다. 미디어(D)의 신호면부(Da)에 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)이 각각 독립해서 조사되므로, 트랙 피치(Dtp)가 다른 2종류 이상의 미디어(D)의 기록/재생시에 트래킹 에러 신호 등의 에러 신호의 검출 정밀도가 저하된다는 것은 회피되기 쉬워진다. 따라서, 트래킹 제어가 행해지기 쉬운 광 픽업 장치의 제공이 가능하게 된다.
도 10과 같이, 회절격자(64C)는 제 1 영역부(31)와, 제 1 영역부(31)에 인접해서 제 1 영역부(31)의 주기 구조에 대해서 다른 주기 구조를 갖는 제 2 영역부(32)와, 제 2 영역부(32)에 인접해서 제 2 영역부(32)의 주기 구조에 대해서 다 른 주기 구조를 갖는 제 3 영역부(33)의 3개의 영역부(31,32,33)로 나누어져 있다. 회절격자(64C)는 소위 3분할형 인라인 그레이팅으로서 구성되어 있다.
도 10에 나타내는 복수개의 영역부(31,32,33)로 분할된 회절격자(64C)가 광 픽업 장치에 장착되어 있으면, 미디어(D)(도 2, 도 4, 도 5)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 에러 신호의 검출은 양호하게 행해진다. 예컨대, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 양호하게 행해진다. 회절격자(64C)(도 10)가 3개의 영역부(31,32,33)에 나누어져 구성됨으로써 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 각각 독립된 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)이 조사된다. 미디어(D)의 신호면부(Da)에 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)이 각각 독립해서 조사되므로, 트랙 피치(Dtp)가 다른 2종류 이상의 미디어(D)에 데이터 기록이 행해질 때나, 트랙 피치(Dtp)가 다른 2종류 이상의 미디어(D)의 데이터 재생이 행해질 때에 예컨대 대물 렌즈(70)(도 1, 도 2)의 변위에 따라 트래킹 에러 신호 등의 에러 신호의 검출 정밀도가 저하된다는 것은 회피된다. 따라서, 트래킹 제어가 행해지기 쉬운 광 픽업 장치의 제공이 가능하게 된다.
도 10과 같이, 회절격자(64C)는 제 1 영역부(31)가 되는 대략 직사각형상의 한쪽의 영역부(31)와, 제 3 영역부(32)가 되는 대략 직사각형상의 다른쪽의 영역부(32)를 갖는 것으로 된다. 회절격자(64C)의 제 1 영역부(31)의 폭(31w)과 제 3 영역부(33)의 폭(33w)은 대략 같은 폭으로 되어 있다. 회절격자(64C)의 제 2 영역부(32)에 의해 회절격자(64C)는 회절격자(64C)를 구성하는 한쪽의 영역부(31)와 회절격자(64C)를 구성하는 다른쪽의 영역부(32)로 나누어진다. 회절격자(64C)는 홀수 분할되어 있다.
회절격자(64C)를 구성하는 대략 직사각형상의 제 1 영역부(31) 및 대략 직사각형상의 제 3 영역부(33)의 사이에 회절격자(64C)를 구성하는 대략 선상의 제 2 영역부(32)가 배치되어 있다. 제 1 영역부(31)의 주기 구조에 대해서 제 2 영역부(32)의 주기 구조는 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다. 또한, 제 2 영역부(32)의 주기 구조에 대해서 제 3 영역부(33)의 주기 구조는 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다. 제 1 영역부(31)의 주기 구조에 대해서 제 3 영역부(33)의 주기 구조는 대략 180도 정도 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다.
이것에 의해, 회절격자(64C)에 있어서의 제 1 영역부(31)와 제 2 영역부(32)와 제 3 영역부(33)가 구별화됨과 아울러, 회절격자(64C) 있어서의 제 1 영역부(31)와 제 3 영역부(33)의 위상차가 명확화된다. 회절격자(64C)의 제 1 영역부(31)의 주기 구조에 대해서 회절격자(64C)의 제 3 영역부(33)의 주기 구조가 대략 180도 정도 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있으므로, 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 적어도 3개의 각 집광 스폿(80,81,82)이 양호하게 형성된다. 미디어(D)의 신호면부(Da)에 양호하게 형성된 적어도 3개의 각 집광 스폿(80,81,82)에 의해 트랙 피치(Dtp)가 다른 복수 종류의 미디어(D)의 데이터 기록/재생시에 예컨대 대물 렌즈(70)(도 1, 도 2)의 변위에 따라 트래킹 에러 신호가 열화된다는 것은 회피되기 쉬워진다.
제 1 영역부(31)(도 10)와 제 2 영역부(32)를 구획하는 경계선부(35)에 의해 제 1 영역부(31)와 제 2 영역부(32)가 나누어져 있다. 또한, 제 2 영역부(32)와 제 3 영역부(33)를 구획하는 경계선부(37)에 의해 제 2 영역부(32)와 제 3 영역부(33)가 나누어져 있다.
회절격자(64C)가 3개의 영역부로 나누어져 구별화됨으로써 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 각각 독립된 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)이 조사된다. 미디어(D)의 신호면부(Da)에 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)이 각각 독립해서 조사되므로, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 행해지기 쉬워진다.
회절격자(64C)(도 10)는 대략 직사각형 판형상으로 형성되어 있다. 회절격자(64C)가 평면으로 보여졌을 때에 회절격자(64C)는 대략 직사각형 판형상의 것으로서 보여진다.
세로로 긴 대략 직사각형상 제 1 영역부(31)와 세로로 긴 대략 선상 제 2 영역부(32)와 세로로 긴 대략 직사각형상 제 3 영역부(33)가 가로로 배열된 상태에서 회절격자(64C)가 평면으로 보여졌을 때에 회절격자(64C)의 1영역부의 위상에 대해서 1영역부의 우측에 인접하는 다른 영역부의 위상이 대략 우측 상향 계단 형상으로 어긋난 경우에 다른 영역부의 위상은 플러스(+)측으로 어긋난 것으로 정해진다.
또한, 세로로 긴 대략 직사각형상 제 1 영역부(31)와 세로로 긴 대략 선상 제 2 영역부(32)와 세로로 긴 대략 직사각형상 제 3 영역부(33)가 가로로 배열된 상태에서 회절격자(64C)가 평면으로 보여졌을 때에 회절격자(64C)의 1영역부의 위상에 대해서 1영역부의 우측에 인접하는 다른 영역부의 위상이 대략 우측 하향 계단 형상으로 어긋난 경우에 다른 영역부의 위상은 마이너스(-)측으로 어긋난 것으 로 정해진다.
회절격자(64C)가 평면으로 보여졌을 때에 제 1 영역부(31)의 주기 구조에 대해서 제 1 영역부(31)의 우측에 인접하는 제 2 영역부(32)의 주기 구조는 플러스측으로 어긋난 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다. 또한, 회절격자(64C)가 평면으로 보여졌을 때에 제 2 영역부(32)의 주기 구조에 대해서 제 2 영역부(32)의 우측에 인접하는 제 3 영역부(33)의 주기 구조는 플러스측으로 어긋난 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다.
회절격자(64C)는 각 영역부(31,32,33)의 주기 구조의 각 위상이 순서에 따라 단계적으로 어긋나서 구성되어 있다(도 11). 회절격자(64C)(도 10)는 소위 순(順) 위상의 주기 구조를 구비하는 회절격자(64C)로 되어 있다.
광 픽업 장치의 설계/사양 등에 따라, 예컨대 도 10에 나타내는 회절격자(64C)에 있어서 부호나 인출선이나 치수선 등에 대해서는 대략 그대로 하면서, 윤곽선만이 좌우 반전된 회절격자(64C)가 이용되어도 좋다. 그러한 것에 대해서 구체적으로 설명하면, 예컨대, 회절격자(64C)가 평면으로 보여졌을 때에 제 1 영역부(31)의 주기 구조에 대해서 제 1 영역부(31)의 우측에 인접하는 제 2 영역부(32)의 주기 구조가 마이너스측으로 어긋난 위상을 갖는 주기 구조로 되어도 좋다. 또한, 예컨대, 회절격자(64C)가 평면으로 보여졌을 때에 제 2 영역부(32)의 주기 구조에 대해서 제 2 영역부(32)의 우측에 인접하는 제 3 영역부(33)의 주기 구조가 마이너스측으로 어긋난 위상을 갖는 주기 구조로 되어도 좋다.
본원에 있어서의 부호에 붙여진 괄호 ()는 도면에 나타내어진 것과 약간 다 른 것을 설명하기 위해서 편의상 이용되고 있다.
회절격자(64C)는 각 영역부(31,32,33)의 주기 구조의 각 위상이 순서에 따라 단계적으로 어긋나서 구성된다. 회절격자(64C)는 소위 순 위상의 주기 구조를 구비하는 회절격자(64C)로 된다.
순 위상의 주기 구조를 구비하는 회절격자가 광 픽업 장치에 장착되어 있으면, 서브 푸시풀 신호 진폭 레벨(Sub-PP 진폭 레벨)이 증가되고, 서브 푸시풀 신호 진폭 레벨 특성(Sub-PP 진폭 레벨 특성)이 향상되기 쉬워진다(도 15). Sub-PP 진폭 레벨(%)이 감소되고, Sub-PP 진폭 레벨 특성이 저하된다는 것은 회피된다.
미디어(D)(도 1, 도 2, 도 4)의 신호면부(Da)(도 4)에 조사되는 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)은 메인 스폿(80)과, 메인 스폿(80)을 사이에 두는 1쌍의 서브 스폿(81,82)을 포함하는 것으로 되어 있다. 메인 스폿(80)과 서브 스폿(81,82)에 관련된 신호 진폭 레벨이 되는 Sub-PP 진폭 레벨은 다음의 식 (20)에 기초해서 정해진다.
[수1]
또한, 트래킹 에러 위상차량(TE 위상차량)이 감소되고, 트래킹 에러 위상차 특성(TE 위상차 특성)이 향상되기 쉬워진다(도 16). TE 위상차량이 증가되고, TE 위상차 특성이 저하된다는 것은 회피된다.
Sub-PP 진폭 레벨 특성이 향상됨과 아울러, TE 위상차 특성이 향상되므로, 이 광 픽업 장치는 데스크톱형 PC용 광 디스크 장치에 장착되어 사용되는 것이 가능하게 됨과 아울러, 노트형 또는 랩탑형 PC용 광 디스크 장치에 장착되어 사용되 는 것도 가능하게 된다. 예컨대 데스크톱형 PC용 광 디스크 장치에 이용되는 광 픽업 장치는 큰 사이즈의 대물 렌즈를 사용할 수 있게 이루어진 것이므로, 시야 특성이 고려되면서, 시야 특성보다 Sub-PP 진폭 레벨 특성이나 TE 위상차 특성쪽이 설계상 중요하게 되는 경우가 있다.
또한, 트래킹 에러 시야 특성(TE 시야 특성)의 저하가 억제되므로, 이 광 픽업 장치는 데스크톱형 PC용 광 디스크 장치에 장착되어 사용되는 것이 가능하게 됨과 아울러, 노트형 또는 랩탑형 PC용 광 디스크 장치에 장착되어 사용되는 것도 가능하게 된다.
도 10, 도 11과 같이, 제 1 영역부(31)의 주기 구조에 대해서 제 2 영역부(32)의 주기 구조는 대략 +60도 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다. 또한, 제 1 영역부(31)의 주기 구조에 대해서 제 2 영역부(32)의 주기 구조는 대략 +60도 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다. 또한, 제 2 영역부(32)의 주기 구조에 대해서 제 3 영역부(33)의 주기 구조는 대략 +60도 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다. 제 1 영역부(31)의 주기 구조에 대해서 제 3 영역부(33)의 주기 구조는 대략 +180도 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다.
이와 같이 구성된 회절격자(64C)가 광 픽업 장치에 장착되어 있으면, Sub-PP 진폭 레벨(%)이 증가되고, Sub-PP 진폭 레벨 특성이 향상된다(도 15). Sub-PP 진폭 레벨(%)이 감소되고, Sub-PP 진폭 레벨 특성이 저하된다는 것은 회피된다. 또한, TE 위상차량이 감소되고, TE 위상차 특성이 향상된다(도 16). TE 위상차량이 증가되고, TE 위상차 특성이 저하된다는 것은 회피된다.
위상 시프트형 3분할 회절격자(64C)(도 10)가 채용되어 인라인 DPP법에 의한 트래킹 오차 검출법이 실행되는 광 픽업 장치(도 1, 도 2)는 TE 위상차량을 작게 억제하는 것이 가능하게 된다(도 16). 따라서, 위상 시프트형 3분할 회절격자(64C)(도 10)를 구비하는 광 픽업 장치(도 1, 도 2)가 장착된 광 디스크 장치에 있어서는 예컨대 트랙 피치(Dtp)(도 4)의 다른 어떠한 미디어(D)에 대해서도 안정된 동작으로 미디어(D)에 대해서 데이터/정보의 판독/기록이 행해진다.
미디어(D)의 신호면부(Da)에 조사된 Sub-PP 진폭 레벨 특성이 향상됨과 아울러 TE 위상차 특성이 향상되므로, 이 광 픽업 장치는 데스크톱형 PC용 광 디스크 장치에 장착되어 사용되는 것이 가능하게 됨과 아울러, 노트형 또는 랩탑형 PC용 광 디스크 장치에 장착되어 사용되는 것도 가능하게 된다.
또한, 이와 같이 구성된 회절격자(64C)가 광 픽업 장치에 장착되어 있으면, 트래킹 에러 진폭 레벨(TE 진폭 레벨)(%)이 대폭적으로 감소되고, TE 시야 특성이 현저하게 저하된다는 것은 회피된다(도 14). TE 시야 특성의 대폭적인 저하가 억제되므로, 이 광 픽업 장치는 노트형 또는 랩탑형 PC용 광 디스크 장치에 장착되어 사용되는 것이 가능하게 됨과 아울러, 데스크톱형 PC용 광 디스크 장치에 장착되어 사용되는 것도 가능하게 된다. 또한, TE 시야 특성의 대폭적인 저하가 억제되므로, 이 광 픽업 장치는 예컨대 복수개의 작은 대물 렌즈(70)를 구비하는 광 픽업 장치로서 사용되는 것도 가능하게 된다.
대물 렌즈(70)(도 1, 도 2)의 동공면부(70a)(도 2)를 통과하는 광의 직경(70b)에 대해서 회절격자(64C)의 중앙부(30m)(도 10)의 폭(32w)은 16~28%, 바람 직하게는 18~26%로 된다. 즉, 회절격자(64C)의 중앙부 비율(Wr)은 16~28%, 바람직하게는 18~26%로 된다(도 14, 도 15, 도 16).
이와 같이 구성된 회절격자(64C)가 광 픽업 장치에 장착되어 있으면, 트랙 피치(Dtp)가 다른 복수 종류의 미디어(D)의 데이터 기록/재생시에 대물 렌즈(70)의 변위에 따라 트래킹 에러 신호가 열화된다는 것은 회피되기 쉬워진다.
대물 렌즈(70)의 동공면부(70a)를 통과하는 광의 직경(70b)에 대해서 회절격자(64C)의 중앙부(30m)의 폭(32w)이 16% 미만으로 설정되었을 경우, TE 진폭 레벨(%)이 감소되고, TE 시야 특성이 저하되기 쉬워진다(도 14). 즉, 회절격자(64C)의 중앙부 비율(Wr)이 16% 미만으로 설정되었을 경우, OBL 센터비(%)가 감소되고, TE 시야 특성이 저하되기 쉬워진다. 또한, 대물 렌즈(70)의 동공면부(70a)를 통과하는 광의 직경(70b)에 대해서 회절격자(64C)의 중앙부(30m)의 폭(32w)이 18% 이상으로 됨으로써 TE 진폭 레벨(%)의 감소가 억제되고, TE 시야 특성의 저하가 억제된다. 즉, 회절격자(64C)의 중앙부 비율(Wr)이 18% 이상으로 됨으로써 OBL 센터비(%)의 감소가 억제되고, TE 시야 특성의 저하가 억제된다. OBL(objective lens)은 대물 렌즈를 의미한다.
또한, 대물 렌즈(70)의 동공면부(70a)를 통과하는 광의 직경(70b)에 대해서 회절격자(64C)의 중앙부(30m)의 폭(32w)이 28%를 초과해서 설정되었을 경우, 서브 푸시풀 신호 진폭 레벨(Sub-PP 진폭 레벨)(%)이 감소되고, Sub-PP 진폭 레벨 특성이 저하되기 쉬워진다(도 15). 대물 렌즈(70)의 동공면부(70a)를 통과하는 광의 직경(70b)에 대해서 회절격자(64C)의 중앙부(30m)의 폭(32w)이 26% 이내로 됨으로써 Sub-PP 진폭 레벨(%)의 감소가 억제되고, Sub-PP 진폭 레벨 특성의 저하가 억제된다.
또한, 대물 렌즈(70)(도 2)의 동공면부(70a)를 통과하는 광의 직경(70b)에 대해서 회절격자(64C)(도 10)의 중앙부(30m)의 폭(32w)이 28%를 초과해서 설정되었을 경우, 트래킹 에러 위상차량(TE 위상차량)이 증가되고, 트래킹 에러 위상차 특성(TE 위상차 특성)이 저하되기 쉬워진다(도 16). 대물 렌즈(70)의 동공면부(70a)를 통과하는 광의 직경(70b)에 대해서 회절격자(64C)의 중앙부(30m)의 폭(32w)이 26% 이내로 됨으로써 TE 위상차량의 증가가 억제되고, TE 위상차 특성의 저하가 억제된다.
대물 렌즈(70)의 동공면부(70a)를 통과하는 광의 직경(70b)에 대해서 회절격자(64C)의 중앙부(30m)의 폭(32w)이 16~28% 바람직하게는 18~26%로 설정됨으로써 TE 진폭 레벨(도 14)과 Sub-PP 진폭 레벨(도 15)과 TE 위상차량(도 16)이 적절한 값으로 설정되기 쉬워진다.
예컨대, 대물 렌즈(70)의 동공면부(70a)를 통과하는 광의 직경(70b)에 대해서 회절격자(64C)의 중앙부(30m)의 폭(32w)이 대략 20%로 설정됨으로써 TE 진폭 레벨(도 14)과 Sub-PP 진폭 레벨(도 15)과 TE 위상차량(도 16)이 최적의 값으로 설정되기 쉬워진다. TE 진폭 레벨과 Sub-PP 진폭 레벨과 TE 위상차량이 밸런스 좋게 적절한 값으로 설정되므로, 광 픽업 장치의 트래킹 제어가 행해지기 쉬워진다.
회절격자(64C)(도 10)의 회절격자(64C)의 제 2 영역부(32)의 폭(32w)은 20~200㎛, 바람직하게는 60~160㎛, 보다 바람직하게는 96~144㎛로 설정된다. 즉, 회절격자(64C)의 분할부 폭(32w)은 20~200㎛, 바람직하게는 60~160㎛, 보다 바람직하게는 96~144㎛로 설정된다.
이것에 의해, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 양호하게 행해지기 쉬워진다. 트랙 피치(Dtp)가 다른 복수 종류의 미디어(D)의 기록/재생시에 예컨대 대물 렌즈(70)의 변위에 따라 트래킹 에러 신호가 열화된다는 것은 회피되기 쉬워진다.
회절격자(64C)의 제 2 영역부(32)의 폭(32w)이 20㎛ 미만의 좁은 폭으로 되었을 경우나, 회절격자(64C)의 제 2 영역부(32)의 폭(32w)이 200㎛를 초과하는 넓은 폭으로 되었을 경우에는 TE 시야 특성과 Sub-PP 진폭 레벨 특성과 TE 위상차 특성의 밸런스가 무너진다. 각 특성의 밸런스가 무너지면, 트래킹 에러 신호가 열화되어 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹이 정확하게 행해지기 어려워진다.
예컨대, 회절격자(64C)의 제 2 영역부(32)의 폭(32w)이 60~160㎛ 정도로 설정됨으로써 TE 시야 특성과 Sub-PP 진폭 레벨 특성과 TE 위상차 특성의 밸런스가 대략 유지되기 쉬워진다. 이것에 따라, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 정확하게 행해지기 쉬워진다.
바람직하게는, 회절격자(64C)의 제 2 영역부(32)의 폭(32w)이 96~144㎛의 범위 내로 설정됨으로써 TE 시야 특성과 Sub-PP 진폭 레벨 특성과 TE 위상차 특성의 밸런스가 유지된다. 이것에 의해, 트래킹 에러 신호의 열화는 회피된다. 따라서, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 정확하게 행해진다.
이 광 픽업 장치(도 1, 도 2)는, 예컨대, 평면으로 바라봐서 대략 직사각형의 회절격자(64C)(도 10)와, 적어도 3개의 광속을 집광해서 미디어(D)(도 1, 도 2, 도 4)의 신호면부(Da)(도 4)에 각각 독립된 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)을 조사시키는 대물 렌즈(70)(도 1, 도 2)와, 미디어(D)에 있어서의 3개의 각 집광 스폿(80,81,82)(도 4)의 반사광을 수광하는 광 검출기(73)(도 1, 도 2, 도 4, 도 5)를 구비해서 구성된다.
이렇게 광 픽업 장치가 구성되어 있으면, 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 정밀도 좋게 행해진다. 트랙 피치(Dtp)가 다른 복수 종류의 미디어(D)의 데이터 기록/재생시에 대물 렌즈(70)(도 1, 도 2)의 변위에 따라 트래킹 에러 신호의 진폭이 열화되는 것이나, 트래킹 에러 신호에 오프셋이 잔류한다는 것은 회피되기 쉬워진다.
위상 시프트형 3분할 회절격자(64C)(도 10)를 구비하는 광 픽업 장치가 구성됨으로써 DVD-RAM에 대한 광 픽업 장치의 데이터 재생 동작 또는 데이터 기록 동작은 확실하게 행해진다. 또한, DVD±R, DVD±RW에 대한 광 픽업 장치의 데이터 재생 동작 또는 데이터 기록 동작도 확실하게 행해진다.
[실시예4]
도 12는 광 픽업 장치에 장착되는 회절격자의 제 4 실시형태를 나타내는 개략 평면도, 도 13은 도 12의 회절격자에 있어서의 광 디스크 반경 방향과 위상차의 관계를 나타내는 도면이다.
도 1, 도 2 및 도 6에 나타내는 회절격자(64A) 대신에 도 12에 나타내는 회 절격자(64D)가 광 픽업 장치(도 1, 도 2)에 장착된다. 도 1, 도 2 및 도 6에 나타내는 회절격자(64A)가 도 12에 나타내는 회절격자(64D)로 치환된 것 이외에 광 픽업 장치 및 광 디스크 장치에 변경은 없다. 도 1, 도 2 및 도 6에 나타내는 회절격자(64A)가 도 12에 나타내는 회절격자(64D)로 치환된 점에서 실시예1과 실시예4가 다르지만, 회절격자(64A,64D) 이외의 다른 부분에 있어서는 실시예1과 실시예4는 공통의 것으로 되어 있다. 편의상 도 1~도 6 및 도 14~도 16을 병용해서 실시예4를 설명한다. 또한, 실시예4에 있어서 실시예1에서 설명한 것과 동일한 것에 대해서는 동일한 부호를 붙이고, 그 상세한 설명을 생략했다.
회절격자(64D)(도 12)의 회절면부(40a)는 제 1 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 1 메인 빔과 2개의 제 1 서브 빔으로 나누는 회절면부(40a)와, 제 2 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 2 메인 빔과 2개의 제 2 서브 빔으로 나누는 회절면부(40a)를 겸해서 복수 종류의 레이저 파장 광의 회절에 대응하는 1개의 면부(40a)로서 형성되어 있다.
이와 같이 회절격자(64D)의 회절면부(40a)가 형성되어 있으면, 회절격자(64D)에 있어서의 불필요한 회절광의 발생이 억제됨과 아울러 레이저 광의 효율의 저하가 방지되고, 가격을 더욱 낮게 억제할 수 있는 광 픽업 장치가 구성된다.
예컨대, 제 1 레이저 파장 광에 대응한 제 1 회절면부(302)(도 20,도 21)와, 제 2 레이저 파장 광에 대응한 제 2 회절면부(304)의 2개의 회절면부(302,304)를 갖는 종래의 회절격자(300A,300B)의 제 1 회절면부(302)를 제 1 레이저 파장 광이 투과해서 제 1 레이저 파장 광이 1개의 제 1 메인 빔과 2개의 제 1 서브 빔으로 적 어도 나누어졌을 때에 회절격자(300A,300B)의 제 2 회절면부(304)에 의해 제 1 레이저 파장 광의 제 1 메인 빔이 더욱 쓸데없이 회절됨과 아울러 제 1 서브 빔이 더욱 쓸데없이 회절되고, 이것에 따라, 제 1 레이저 파장 광의 제 1 메인 빔 및 제 1 서브 빔의 광의 효율이 저하되는 것이 우려되고 있었다.
또한, 예컨대, 제 1 레이저 파장 광에 대응한 제 1 회절면부(302)와, 제 2 레이저 파장 광에 대응한 제 2 회절면부(304)의 2개의 회절면부(302,304)를 갖는 종래의 회절격자(300A,300B)의 제 2 회절면부(304)를 제 2 레이저 파장 광이 투과해서 제 2 레이저 파장 광이 1개의 제 2 메인 빔과 2개의 제 2 서브 빔으로 적어도 나누어졌을 때에 회절격자(300A,300B)의 제 1 회절면부(302)에 의해 제 2 레이저 파장 광이 쓸데없이 회절되고, 이것에 따라, 제 2 레이저 파장 광의 광의 효율이 저하되는 것이 우려되고 있었다.
그러나, 회절격자(64D)(도 12)의 회절면부(40a)가 제 1 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 1 메인 빔과 2개의 제 1 서브 빔으로 나누는 회절면부(40a)와, 제 2 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 2 메인 빔과 2개의 제 2 서브 빔으로 나누는 회절면부(40a)를 겸해서 복수 종류의 레이저 파장 광의 회절에 대응하는 1개의 면부(40a)로서 형성되어 있으면, 제 1 레이저 파장 광의 제 1 메인 빔 및 제 1 서브 빔이 불필요하게 회절되어 제 1 레이저 파장 광의 제 1 메인 빔 및 제 1 서브 빔의 광의 효율이 저하되거나 제 2 레이저 파장 광이 불필요하게 회절되어 제 2 레이저 파장 광의 광의 효율이 저하되거나 하는 것은 회피된다.
또한, 제 1 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 1 메인 빔과 2개의 제 1 서브 빔으로 나누는 회절면부(40a)와, 제 2 레이저 파장 광을 적어도 1개의 제 2 메인 빔과 2개의 제 2 서브 빔으로 나누는 회절면부(40a)를 겸해서 복수 종류의 레이저 파장 광의 회절에 대응하는 1개의 면부(40a)로서 회절격자(64D)의 회절면부(40a)가 형성되어 있으므로, 가공 부분, 가공 공수 등이 감소된 회절격자(64D)가 구성된다. 회절격자(64D)의 가공 부분, 가공 공수 등이 감소되므로, 회절격자(64D)의 가격이 낮게 억제된다. 이것에 따라, 가격을 낮게 억제하는 것이 가능하게 된 광 픽업 장치를 구성시키는 것이 가능하게 된다.
도 12와 같이, 회절격자(64D)에 레이저 유닛(61)(도 1, 도 2)으로부터 출사되는 레이저 광의 일부에 π라디안의 위상 시프트를 발생시키는 위상 시프트 영역부(41,44)(도 12)가 설치되어 있다. 회절격자(64D)는 대략 직사각형상의 제 1 영역부(41)와, 제 1 영역부(41)에 인접하는 대략 선상의 제 2 영역부(42)와, 제 2 영역부(42)에 인접하는 대략 선상의 제 3 영역부(43)와, 제 3 영역부(43)에 인접하는 대략 직사각형상의 제 4 영역부(44)의 적어도 4개의 영역부(41,42,43,44)로 나누어져 있다. 회절격자(64D)는 복수개의 영역부(41,42,43,44)로 나누어져 있다. 각 영역부(41,42,43,44) 내에서 소정의 주기 구조가 구성되어 있다.
도 12에 나타내는 회절격자(64D)에 있어서 제 2 영역부(42)의 위상 상태와 제 3 영역부(43)의 위상 상태가 용이하게 이해되므로 편의상 제 2 영역부(42) 및 제 3 영역부(43)는 어느 정도의 폭을 가지고 그려져 있다. 실제로는 회절격자(64D)의 제 2 영역부(42) 및 회절격자(64D)의 제 3 영역부(43)는 예컨대 폭(40w)이 20~200㎛ 정도의 가느다란 선형상으로 된다. 또한, 회절격자(64D)를 구성하는 각 영역부(41,42,43,44)의 주기 구조는 미세한 요철 형상의 반복 주기 구조로 되어 있다. 또한, 회절격자(64D)는 예컨대 대략 3~10 평방 ㎜의 종횡 치수를 한 두께 대략 0.3~3㎜의 유리판으로 되어 있다. 도 12에 나타내는 회절격자(64D)가 비스듬히 보여졌을 때에 회절격자(64D)는 예컨대 도 1에 나타내는 회절격자(64A)와 같이 보여진다.
복수개의 영역부(41,42,43,44)(도 12)로 나누어진 회절격자(64D)가 구성되어 있으면, 미디어(D)(도 4, 도 5)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 에러 신호의 검출은 양호하게 행해지기 쉬워진다. 예컨대, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 양호하게 행해지기 쉬워진다. 회절격자(64D)(도 12)가 복수개의 영역부(41,42,43,44)로 나누어져 구성됨으로써 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 각각 독립된 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)이 조사된다. 미디어(D)의 신호면부(Da)에 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)이 각각 독립해서 조사되므로, 트랙 피치(Dtp)가 다른 2종류 이상의 미디어(D)의 기록/재생시에 트래킹 에러 신호 등의 에러 신호의 검출 정밀도가 저하된다는 것은 회피되기 쉬워진다. 따라서, 트래킹 제어가 행해지기 쉬운 광 픽업 장치의 제공이 가능하게 된다.
도 12와 같이, 회절격자(64D)는 짝수의 영역부(41,42,43,44)로 나누어져 있다.
짝수의 영역부(41,42,43,44)로 나누어진 회절격자(64D)가 구성되어 있으면, 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 형성되는 집광 스폿(80,81,82)은 정밀도가 좋은 집광 스폿(80,81,82)으로서 형성된다. 예컨대, 회절격자(64D)(도 12)의 제 2 영역 부(42)와 제 2 영역부(42)에 인접하는 제 3 영역부(43)의 경계선부(46)에 의해 제 1 영역부(41) 및 제 1 영역부(41)에 인접하는 제 2 영역부(42)를 구비하는 한쪽의 영역부(48)와, 제 3 영역부(43) 및 제 3 영역부(43)에 인접하는 제 4 영역부(44)를 구비하는 다른쪽의 영역부(49)로 회절격자(64D)가 적어도 이등분되어 짝수 분할되어 있으므로, 광 픽업 장치에 회절격자(64D)가 장착될 때에 회절격자(64D)에 닿는 광은 회절격자(64D)의 한쪽의 영역부(48)와, 회절격자(64D)의 다른쪽의 영역부(49)에 대략 이등분된 상태로 닿기 쉬워진다. 회절격자(64D)의 한쪽의 영역부(48)와, 회절격자(64D)의 다른쪽의 영역부(49)에 광이 대략 이등분이 된 상태로 닿기 쉬워짐으로써 회절격자(64D)는 광 픽업 장치에 정밀도 좋게 구비되기 쉬워진다. 따라서, 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 정밀도 좋게 집광 스폿(80,81,82)이 형성되기 쉬워진다. 이것에 따라, 트랙 피치(Dtp)가 다른 2종류 이상의 미디어(D)의 기록/재생시에 있어서의 트래킹 에러 신호 등의 에러 신호의 검출 정밀도가 향상된다. 또한, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 정밀도 좋게 행해지기 쉬워진다.
도 12와 같이, 회절격자(64D)는 제 1 영역부(41)와, 제 1 영역부(41)에 인접해서 제 1 영역부(41)의 주기 구조에 대해서 다른 주기 구조를 갖는 제 2 영역부(42)와, 제 2 영역부(42)에 인접해서 제 2 영역부(42)의 주기 구조에 대해서 다른 주기 구조를 갖는 제 3 영역부(43)와, 제 3 영역부(43)에 인접해서 제 3 영역부(43)의 주기 구조에 대해서 다른 주기 구조를 갖는 제 4 영역부(44)의 적어도 4개의 영역부(41,42,43,44)로 나누어져 있다. 회절격자(64D)는 소위 4분할형 인라인 그레이팅으로서 구성되어 있다.
도 12에 나타내는 복수개의 영역부(41,42,43,44)로 분할된 회절격자(64D)가 광 픽업 장치에 장착되어 있으면, 미디어(D)(도 2, 도 4, 도 5)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 에러 신호의 검출은 양호하게 행해진다. 예컨대, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 양호하게 행해진다. 회절격자(64D)(도 12)가 4개의 영역부(41,42,43,44)로 나누어져 구성됨으로써 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 각각 독립된 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)이 조사된다. 미디어(D)의 신호면부(Da)에 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)이 각각 독립해서 조사되므로, 트랙 피치(Dtp)가 다른 2종류 이상의 미디어(D)에 데이터 기록이 행해질 때나, 트랙 피치(Dtp)가 다른 2종류 이상의 미디어(D)의 데이터 재생이 행해질 때에 예컨대 대물 렌즈(70)(도 1, 도 2)의 변위에 따라 트래킹 에러 신호 등의 에러 신호의 검출 정밀도가 저하된다는 것은 회피된다. 따라서, 트래킹 제어가 행해지기 쉬운 광 픽업 장치의 제공이 가능하게 된다.
도 12와 같이, 회절격자(64D)는 제 1 영역부(41) 및 제 1 영역부(41)에 인접하는 제 2 영역부(42)를 구비하는 대략 직사각형상의 한쪽의 영역부(48)와, 제 3 영역부(43) 및 제 3 영역부(43)에 인접하는 제 4 영역부(44)를 구비하는 대략 직사각형상의 다른쪽의 영역부(49)를 갖는 것으로 된다. 회절격자(64D)의 제 1 영역부(41)의 폭(41w)과 제 4 영역부(44)의 폭(44w)은 대략 같은 폭으로 되어 있다. 또한, 회절격자(64D)의 제 2 영역부(42)의 폭(42w)과 제 3 영역부(43)의 폭(43w)은 대략 같은 폭으로 되어 있다. 회절격자(64D)의 제 2 영역부(42)와 이 제 2 영역 부(42)에 인접하는 회절격자(64D)의 제 3 영역부(43)의 경계선부(46)에 의해 회절격자(64D)는 회절격자(64D)를 구성하는 한쪽의 영역부(48)와 회절격자(64D)를 구성하는 다른쪽의 영역부(49)로 이등분된다. 회절격자(64D)는 짝수 분할되어 있다.
이것에 의해, 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 형성되는 집광 스폿(80,81,82)은 정밀도가 좋은 집광 스폿(80,81,82)으로서 형성된다. 짝수 분할된 회절격자(64D)(도 12)의 제 2 영역부(42)와 제 2 영역부(42)에 인접하는 제 3 영역부(43)의 경계선부(46)에 의해 제 1 영역부(41) 및 제 1 영역부(41)에 인접하는 제 2 영역부(42)를 구비하는 한쪽의 영역부(48)와, 제 3 영역부(43) 및 제 3 영역부(43)에 인접하는 제 4 영역부(44)를 구비하는 다른쪽의 영역부(49)로 회절격자(64D)가 이등분되므로, 광 픽업 장치의 하우징(도시하지 않음)에 회절격자(64D)가 장착될 때에 레이저 유닛(61)(도 1, 도 2)으로부터 출사되어 회절격자(64D)에 닿은 레이저 광은 예컨대 도시하지 않은 광축 조정용 카메라 등에 의해 용이하게 광축 조정된다. 레이저 유닛(61)으로부터 출사되어 회절격자(64D)에 닿은 후에 대물 렌즈(70)를 투과한 레이저 광은 예컨대 광축 조정용 카메라 등이 이용되어 관찰 가능하게 된다.
도 12에 나타내는 4분할형 회절격자(64D)에 있어서는 회절격자(64D)의 대략 중앙을 이등분시켜서 대략 직사각형상의 한쪽의 영역부(48)와 대략 직사각형상의 다른쪽의 영역부(49)를 구성시키는 경계선부(46)가 회절격자(64D)에 설치되어 있기 때문에, 광축 조정용 카메라 등이 이용되어 레이저 광의 광축 조정이 행해질 때에 레이저 광은 회절격자(64D)를 구성하는 대략 직사각형상의 한쪽의 영역부(48)와, 회절격자(64D)를 구성하는 대략 직사각형상의 다른쪽의 영역부(49)로 대략 이등분된 상태로 닿기 쉬워진다.
회절격자(64D)를 구성하는 대략 직사각형상의 한쪽의 영역부(48)와 회절격자(64D)를 구성하는 대략 직사각형상의 다른쪽의 영역부(49)에 레이저 광이 대략 이등분이 된 상태로 닿기 쉬워짐으로써 회절격자(64D)는 광 픽업 장치의 하우징에 정밀도 좋게 위치 결정 조정되면서 구비되기 쉬워진다. 따라서, 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 정밀도 좋게 집광 스폿(80,81,82)이 형성되기 쉬워진다. 이것에 따라, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 정밀도 좋게 행해지기 쉬워진다.
회절격자(64D)의 제 2 영역부(42)의 주기 구조에 대해서 회절격자(64D)의 제 3 영역부(43)의 주기 구조는 3~180도의 범위 내의 다른 위상을 갖는 주기 구조로 된다.
이것에 의해, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 형성되는 집광 스폿(80,81,82)은 보다 정밀도가 높은 집광 스폿(80,81,82)으로서 형성되기 쉬워진다. 회절격자(64D)를 구성하는 제 2 영역부(42)의 주기 구조에 대해서 회절격자(64D)를 구성하는 제 3 영역부(43)의 주기 구조는 3~180도의 범위 내의 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있으므로, 회절격자(64D)의 제 2 영역부(42)와 제 2 영역부(42)에 인접하는 회절격자(64D)의 제 3 영역부(43)의 경계선부(46)가 대략 명확화된다.
제 2 영역부(42)의 주기 구조에 대해서 제 3 영역부(43)의 주기 구조가 3도 미만의 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되었을 경우, 제 2 영역부(42)와 제 3 영역 부(43)의 경계선부(46)가 명확화되지 않는다. 제 2 영역부(42)의 주기 구조에 대해서 제 3 영역부(43)의 주기 구조가 180도의 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되었을 때에 제 2 영역부(42)와 제 3 영역부(43)의 경계선부(46)는 가장 명확화된다. 제 2 영역부(42)의 주기 구조에 대해서 제 3 영역부(43)의 주기 구조가, 예컨대 3~90도의 범위 내의 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되었을 경우에 제 2 영역부(42)와 제 3 영역부(43)의 경계선부(46)가 명확화되면서, 적절한 특성을 구비한 회절격자(64D)가 형성된다.
회절격자(64D)의 제 2 영역부(42)와 회절격자(64D)의 제 3 영역부(43)의 경계선부(46)가 대략 명확화되므로, 제 1 영역부(41) 및 제 1 영역부(41)에 인접하는 제 2 영역부(42)를 구비하는 회절격자(64D)의 한쪽의 영역부(48)와, 제 3 영역부(43) 및 제 3 영역부(43)에 인접하는 제 4 영역부(44)를 구비하는 회절격자(64D)의 다른쪽의 영역부(49)의 경계선부(46)가 명확화된다. 따라서, 회절격자(64D)의 한쪽의 영역부(48)와 회절격자(64D)의 다른쪽의 영역부(49)에 레이저 광이 대략 이등분된 상태로 닿는다. 회절격자(64D)의 한쪽의 영역부(48)와 회절격자(64D)의 다른쪽의 영역부(49)에 레이저 광이 대략 이등분된 상태로 닿았을 때에 광 픽업 장치의 하우징에 회절격자(64D)가 정밀도 좋게 장착된다.
회절격자(64D)를 구성하는 대략 직사각형상의 제 1 영역부(41) 및 대략 직사각형상의 제 4 영역부(44)의 사이에 회절격자(64D)를 구성하는 대략 선상의 제 2 영역부(42) 및 대략 선상의 제 3 영역부(43)가 배치되어 있다. 제 1 영역부(41)의 주기 구조에 대해서 제 2 영역부(42)의 주기 구조는 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다. 또한, 제 2 영역부(42)의 주기 구조에 대해서 제 3 영역부(43)의 주기 구조는 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다. 또한, 제 3 영역부(43)의 주기 구조에 대해서 제 4 영역부(44)의 주기 구조는 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다. 제 1 영역부(41)의 주기 구조에 대해서 제 4 영역부(44)의 주기 구조는 대략 180도 정도 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다.
이것에 의해, 회절격자(64D)에 있어서의 제 1 영역부(41)와, 제 2 영역부(42)와, 제 3 영역부(43)와, 제 4 영역부(44)가 구별화됨과 아울러, 회절격자(64D) 있어서의 제 1 영역부(41)와 제 4 영역부(44)의 위상차가 명확화된다. 회절격자(64D)의 제 1 영역부(41)의 주기 구조에 대해서 회절격자(64D)의 제 4 영역부(44)의 주기 구조가 대략 180도 정도 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있으므로, 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 적어도 3개의 각 집광 스폿(80,81,82)이 양호하게 형성된다. 미디어(D)의 신호면부(Da)에 양호하게 형성된 적어도 3개의 각 집광 스폿(80,81,82)에 의해 트랙 피치(Dtp)가 다른 복수 종류의 미디어(D)의 데이터 기록/재생시에 예컨대 대물 렌즈(70)(도 1, 도 2)의 변위에 따라 트래킹 에러 신호가 열화된다는 것은 회피되기 쉬워진다.
제 1 영역부(41)(도 12)와 제 2 영역부(42)를 구획하는 경계선부(45)에 의해 제 1 영역부(41)와 제 2 영역부(42)가 나누어져 있다. 또한, 제 2 영역부(42)와 제 3 영역부(43)를 구획하는 경계선부(46)에 의해 제 2 영역부(42)와 제 3 영역부(43)가 나누어져 있다. 또한, 제 3 영역부(43)와 제 4 영역부(44)를 구획하는 경계선부(47)에 의해 제 3 영역부(43)와 제 4 영역부(44)가 나누어져 있다.
제 1 영역부(41)의 주기 구조에 대해서 제 2 영역부(42)의 주기 구조는 30~180도의 범위 내의 다른 위상을 갖는 주기 구조로 된다. 또한, 제 2 영역부(42)의 주기 구조에 대해서 제 3 영역부(43)의 주기 구조는 3~180도의 범위 내의 다른 위상을 갖는 주기 구조로 된다. 또한, 제 3 영역부(43)의 주기 구조에 대해서 제 4 영역부(44)의 주기 구조는 30~180도의 범위 내의 다른 위상을 갖는 주기 구조로 된다.
이것에 의해, 회절격자(64D)에 있어서의 제 1 영역부(41)와 제 2 영역부(42)와 제 3 영역부(43)와 제 4 영역부(44)가 대략 명확하게 구별화된다. 회절격자(64D)를 구성하는 제 1 영역부(41)의 주기 구조에 대해서 회절격자(64D)를 구성하는 제 2 영역부(42)의 주기 구조는 30~180도의 범위 내의 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있으므로, 회절격자(64D)의 제 1 영역부(41)와 회절격자(64D)의 제 2 영역부(42)가 명확하게 구별화된다. 또한, 회절격자(64D)를 구성하는 제 2 영역부(42)의 주기 구조에 대해서 회절격자(64D)를 구성하는 제 3 영역부(43)의 주기 구조는 3~180도의 범위 내의 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있으므로, 회절격자(64D)의 제 2 영역부(42)와 회절격자(64D)의 제 3 영역부(43)가 대략 구별화된다. 또한, 회절격자(64D)를 구성하는 제 3 영역부(43)의 주기 구조에 대해서 회절격자(64D)를 구성하는 제 4 영역부(44)의 주기 구조는 30~180도의 범위 내의 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있으므로, 회절격자(64D)의 제 3 영역부(43)와 회절격자(64D)의 제 4 영역부(44)가 명확하게 구별화된다.
회절격자(64D)가 4개의 영역부로 나누어져 구별화됨으로써 미디어(D)(도 4) 의 신호면부(Da)에 각각 독립된 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)이 조사된다. 미디어(D)의 신호면부(Da)에 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)이 각각 독립해서 조사되므로, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 행해지기 쉬워진다. 또한, 각 영역부의 주기 구조의 위상이 정해진 수치의 범위 내에 적절하게 설정됨으로써 회절격자(64D)(도 12)의 설계 자유도가 향상함과 아울러, 광 픽업 장치의 설계 자유도도 향상된다. 따라서, 사용되는 부위에 대응해서 최적의 특성이 발휘되기 쉬운 광 픽업 장치가 구성된다.
회절격자(64D)는 대략 직사각형 판형상으로 형성되어 있다. 회절격자(64D)가 평면으로 보여졌을 때에 회절격자(64D)는 대략 직사각형 판형상의 것으로서 보여진다.
세로로 긴 대략 직사각형상 제 1 영역부(41)와, 세로로 긴 대략 선상 제 2 영역부(42)와, 세로로 긴 대략 선상 제 3 영역부(43)와, 세로로 긴 대략 직사각형상 제 4 영역부(44)가 가로로 배열된 상태에서 회절격자(64D)가 평면으로 보여졌을 때에 회절격자(64D)의 1영역부의 위상에 대해서 1영역부의 우측에 인접하는 다른 영역부의 위상이 대략 우측 상향 계단 형상으로 어긋난 경우에 다른 영역부의 위상은 플러스측으로 어긋난 것으로 정해진다.
또한, 세로로 긴 대략 직사각형상 제 1 영역부(41)와, 세로로 긴 대략 선상 제 2 영역부(42)와, 세로로 긴 대략 선상 제 3 영역부(43)와, 세로로 긴 대략 직사각형상 제 4 영역부(44)가 가로로 배열된 상태에서 회절격자(64D)가 평면으로 보여졌을 때에 회절격자(64D)의 1영역부의 위상에 대해서 1영역부의 우측에 인접하는 다른 영역부의 위상이 대략 우측 하향 계단 형상으로 어긋난 경우에 다른 영역부의 위상은 마이너스(-)측으로 어긋난 것으로 정해진다.
회절격자(64D)가 평면으로 보여졌을 때에 제 1 영역부(41)의 주기 구조에 대해서 제 1 영역부(41)의 우측에 인접하는 제 2 영역부(42)의 주기 구조는 플러스측으로 어긋난 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다. 또한, 회절격자(64D)가 평면으로 보여졌을 때에 제 2 영역부(42)의 주기 구조에 대해서 제 2 영역부(42)의 우측에 인접하는 제 3 영역부(43)의 주기 구조는 마이너스측으로 어긋난 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다. 또한, 회절격자(64D)가 평면으로 보여졌을 때에 제 3 영역부(43)의 주기 구조에 대해서 제 3 영역부(43)의 우측에 인접하는 제 4 영역부(44)의 주기 구조는 플러스측으로 어긋난 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다.
회절격자(64D)는 제 1 영역부(41), 제 2 영역부(42), 제 4 영역부(44)의 주기 구조의 위상에 대해서 제 3 영역부(43)의 주기 구조의 위상만 위상 방향이 반대로 어긋나서 구성되어 있다(도 13). 회절격자(64D)(도 12)는 소위 역위상의 주기 구조를 구비하는 회절격자(64D)로 되어 있다.
광 픽업 장치의 설계/사양 등에 따라, 예컨대 도 12에 나타내는 회절격자(64D)에 있어서, 부호나 인출선이나 치수선 등에 대해서는 대략 그대로 하면서, 윤곽선만이 경계선부(46)를 중심으로 좌우 반전된 회절격자(64D)가 이용되어도 좋다. 그러한 것에 대해서 구체적으로 설명하면 예컨대, 회절격자(64D)가 평면으로 보여졌을 때에 제 1 영역부(41)의 주기 구조에 대해서 제 1 영역부(41)의 우측에 인접하는 제 2 영역부(42)의 주기 구조가 마이너스측으로 어긋난 위상을 갖는 주기 구조로 되어도 좋다. 또한, 예컨대, 회절격자(64D)가 평면으로 보여졌을 때에 제 2 영역부(42)의 주기 구조에 대해서 제 2 영역부(42)의 우측에 인접하는 제 3 영역부(43)의 주기 구조가 플러스측으로 어긋난 위상을 갖는 주기 구조로 되어도 좋다. 또한, 예컨대, 회절격자(64D)가 평면으로 보여졌을 때에 제 3 영역부(43)의 주기 구조에 대해서 제 3 영역부(43)의 우측에 인접하는 제 4 영역부(44)의 주기 구조가 마이너스측으로 어긋난 위상을 갖는 주기 구조로 되어도 좋다.
회절격자(64D)는 제 1 영역부(41), 제 2 영역부(42), 제 4 영역부(44)의 주기 구조의 위상에 대해서 제 3 영역부(43)의 주기 구조의 위상만 위상 방향이 반대로 어긋나서 구성된다. 회절격자(64D)는 소위 역위상의 주기 구조를 구비하는 회절격자(64D)로 된다.
역위상의 주기 구조를 구비하는 회절격자가 광 픽업 장치에 장착되어 있으면, TE 진폭 레벨(%)이 증가되고, TE 시야 특성이 향상되기 쉬워진다(도 14). TE 진폭 레벨(%)이 감소되고, TE 시야 특성이 저하된다는 것은 회피된다. TE 시야 특성이 향상되므로, 이 광 픽업 장치는 노트형 또는 랩탑형 PC용 광 디스크 장치에 장착되는 것이 바람직하다. 또한, TE 시야 특성이 향상되므로, 이 광 픽업 장치는 예컨대 복수개의 작은 대물 렌즈(70)를 구비하는 광 픽업 장치로서 이용되는 것이 바람직하다. 노트형 또는 랩탑형 PC용 광 디스크 장치에 이용되는 광 픽업 장치나, 복수개의 대물 렌즈(70)를 구비하는 광 픽업 장치는 작은 사이즈의 대물 렌즈가 사용되는 점에서 주로 시야 특성이 중요하게 된다.
또한, 광 픽업 장치의 설계/사양 등에 의해, 이 광 픽업 장치에 순 위상의 주기 구조를 구비하는 4분할형 회절격자(도시하지 않음)가 장착되어도 좋다. 또한, 광 픽업 장치의 설계/사양 등에 따라 이 광 픽업 장치는 데스크톱형 PC용 광 디스크 장치에 장착되어서 사용되어도 좋다.
도 12, 도 13과 같이, 제 1 영역부(41)의 주기 구조에 대해서 제 2 영역부(42)의 주기 구조는 대략 +120도 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다. 또한, 제 2 영역부(42)의 주기 구조에 대해서 제 3 영역부(43)의 주기 구조는 대략 -60도 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다. 제 1 영역부(41)의 주기 구조에 대해서 제 3 영역부(43)의 주기 구조는 대략 +60도 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다. 또한, 제 3 영역부(43)의 주기 구조에 대해서 제 4 영역부(44)의 주기 구조는 대략 +120도 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다. 제 1 영역부(41)의 주기 구조에 대해서 제 4 영역부(44)의 주기 구조는 대략 +180도 다른 위상을 갖는 주기 구조로 되어 있다.
이와 같이 구성된 회절격자(64D)가 광 픽업 장치에 장착되어 있으면, TE 진폭 레벨(%)이 증가되고, TE 시야 특성이 대폭적으로 향상된다(도 14). TE 진폭 레벨(%)이 감소되고, TE 시야 특성이 저하된다는 것은 회피된다. 이 광 픽업 장치의 TE 시야 특성은 3개의 위상 영역부(31,32,33)(도 10)로 나누어진 회절격자(64C)를 구비하는 광 픽업 장치의 TE 시야 특성보다 대폭적으로 향상된다(도 14). TE 시야 특성이 대폭적으로 향상되므로, 이 광 픽업 장치는 노트형 또는 랩탑형 PC용 광 디스크 장치에 장착되는 것이 바람직하다. 또한, TE 시야 특성이 대폭적으로 향상되므로, 이 광 픽업 장치는 예컨대 복수개의 작은 대물 렌즈(70)를 구비하는 광 픽업 장치로서 이용되는 것이 바람직하다.
회절격자(64D)(도 12)의 제 2 영역부(42)와 제 3 영역부(43)가 합쳐진 영역부(42,43)가 회절격자(64D)의 세로로 긴 중앙부(40m)가 된다. 대물 렌즈(70)(도 1, 도 2)의 동공면부(70a)(도 2)를 통과하는 광의 직경(70b)에 대해서 회절격자(64D)의 중앙부(40m)(도 12)의 폭(40w)은 16~28%, 바람직하게는 18~26%로 된다. 즉, 회절격자(64D)의 중앙부 비율(Wr)은 16~28%, 바람직하게는 18~26%로 된다(도 14, 도 15, 도 16).
이와 같이 구성된 회절격자(64D)가 광 픽업 장치에 장착되어 있으면, 트랙 피치(Dtp)가 다른 복수 종류의 미디어(D)의 데이터 기록/재생시에 대물 렌즈(70)의 변위에 따라 트래킹 에러 신호가 열화된다는 것은 회피되기 쉬워진다.
대물 렌즈(70)의 동공면부(70a)를 통과하는 광의 직경(70b)에 대해서 회절격자(64D)의 중앙부(40m)의 폭(40w)이 16% 미만으로 설정되었을 경우, TE 진폭 레벨(%)이 감소되고, TE 시야 특성이 저하되기 쉬워진다(도 14). 즉, 회절격자(64D)의 중앙부 비율(Wr)이 16% 미만으로 설정되었을 경우, OBL 센터비(%)가 감소되고, TE 시야 특성이 저하되기 쉬워진다. 또한, 대물 렌즈(70)의 동공면부(70a)를 통과하는 광의 직경(70b)에 대해서 회절격자(64D)의 중앙부(40m)의 폭(40w)이 18% 이상으로 됨으로써 TE 진폭 레벨(%)의 감소가 억제되고, TE 시야 특성의 저하가 억제된다. 즉, 회절격자(64D)의 중앙부 비율(Wr)이 18% 이상으로 됨으로써 OBL 센터비(%)의 감소가 억제되고, TE 시야 특성의 저하가 억제된다.
또한, 대물 렌즈(70)의 동공면부(70a)를 통과하는 광의 직경(70b)에 대해서 회절격자(64D)의 중앙부(40m)의 폭(40w)이 28%를 초과해서 설정되었을 경우, 서브 푸시풀 신호 진폭 레벨(Sub-PP 진폭 레벨)(%)이 감소되고, Sub-PP 진폭 레벨 특성이 저하되기 쉬워진다(도 15). 대물 렌즈(70)의 동공면부(70a)를 통과하는 광의 직경(70b)에 대해서 회절격자(64D)의 중앙부(40m)의 폭(40w)이 26% 이내로 됨으로써 Sub-PP 진폭 레벨(%)의 감소가 억제되고, Sub-PP 진폭 레벨 특성의 저하가 억제된다.
또한, 대물 렌즈(70)(도 2)의 동공면부(70a)를 통과하는 광의 직경(70b)에 대해서 회절격자(64D)(도 12)의 중앙부(40m)의 폭(40w)이 28%를 초과해서 설정되었을 경우, 트래킹 에러 위상차량(TE 위상차량)이 증가되고, 트래킹 에러 위상차 특성(TE 위상차 특성)이 저하되기 쉬워진다(도 16). 대물 렌즈(70)의 동공면부(70a)를 통과하는 광의 직경(70b)에 대해서 회절격자(64D)의 중앙부(40m)의 폭(40w)이 26% 이내로 됨으로써 TE 위상차량의 증가가 억제되고, TE 위상차 특성의 저하가 억제된다.
대물 렌즈(70)의 동공면부(70a)를 통과하는 광의 직경(70b)에 대해서 회절격자(64D)의 중앙부(40m)의 폭(40w)이 16~28% 바람직하게는 18~26%로 설정됨으로써 TE 진폭 레벨(도 14)과, Sub-PP 진폭 레벨(도 15)과, TE 위상차량(도 16)이 적절한 값으로 설정되기 쉬워진다.
예컨대, 대물 렌즈(70)의 동공면부(70a)를 통과하는 광의 직경(70b)에 대해서 회절격자(64D)의 중앙부(40m)의 폭(40w)이 대략 20%로 설정됨으로써 TE 진폭 레벨(도 14)과, Sub-PP 진폭 레벨(도 15)과, TE 위상차량(도 16)이 최적의 값으로 설 정되기 쉬워진다. TE 진폭 레벨과, Sub-PP 진폭 레벨과, TE 위상차량이 밸런스 좋게 적절한 값으로 설정되므로, 광 픽업 장치의 트래킹 제어가 행해지기 쉬워진다.
회절격자(64D)(도 12)의 제 2 영역부(42)의 폭(42w)과 회절격자(64D)의 제 3 영역부(43)의 폭(43w)은 양쪽 모두 10~100㎛, 바람직하게는 30~80㎛, 보다 바람직하게는 48~72㎛로 설정된다. 즉, 회절격자(64D)의 분할부 폭(42w,43w)은 10~100㎛, 바람직하게는 30~80㎛, 보다 바람직하게는 48~72㎛로 설정된다.
이것에 의해, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹(이동)은 양호하게 행해지기 쉬워진다. 트랙 피치(Dtp)가 다른 복수 종류의 미디어(D)의 기록/재생시에 예컨대 대물 렌즈(70)의 변위에 따라 트래킹 에러 신호가 열화된다는 것은 회피되기 쉬워진다.
회절격자(64D)의 제 2 영역부(42)의 폭(42w)과 회절격자(64D)의 제 3 영역부(43)의 폭(43w)이 양쪽 모두 10㎛ 미만의 좁은 폭으로 되었을 경우나, 회절격자(64D)의 제 2 영역부(42)의 폭(42w)과, 회절격자(64D)의 제 3 영역부(43)의 폭(43w)이 양쪽 모두 100㎛를 초과하는 넓은 폭으로 되었을 경우에는 TE 시야 특성과 Sub-PP 진폭 레벨 특성과 TE 위상차 특성의 밸런스가 무너진다. 각 특성의 밸런스가 무너지면, 트래킹 에러 신호가 열화되어 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹이 정확하게 행해지기 어려워진다.
예컨대, 회절격자(64D)의 제 2 영역부(42)의 폭(42w)과 회절격자(64D)의 제 3 영역부(43)의 폭(43w)이 양쪽 모두 30~80㎛ 정도로 설정됨으로써 TE 시야 특성과 Sub-PP 진폭 레벨 특성과 TE 위상차 특성의 밸런스가 대략 유지되기 쉬워진다. 이 것에 따라, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 정확하게 행해지기 쉬워진다.
바람직하게는 회절격자(64D)의 제 2 영역부(42)의 폭(42w)과 회절격자(64D)의 제 3 영역부(43)의 폭(43w)이 양쪽 모두 48~72㎛의 범위 내로 설정됨으로써 TE 시야 특성과 Sub-PP 진폭 레벨 특성과 TE 위상차 특성의 밸런스가 유지된다. 이것에 의해 트래킹 에러 신호의 열화는 회피된다. 따라서, 미디어(D)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 정확하게 행해진다.
예컨대 3분할형 회절격자(64C)(도 10)를 구비한 광 픽업 장치에 있어서 TE 시야 특성 또는 TE 위상차 특성을 변경시키기 위해서는 3분할형 회절격자(64C)의 중앙부(30m)의 폭(32w)을 변경시킴으로써밖에 할 수 없었다.
이에 대해서 4분할형 회절격자(64D)(도 12)를 구비한 광 픽업 장치(도 1, 도 2)에 있어서 TE 시야 특성이나 TE 위상차 특성 등을 변경시킬 경우에는 4분할형 회절격자(64D)(도 12)의 중앙부(40m)의 폭(40w)을 변경시키는 것에 추가로, 4분할형 회절격자(64D)의 중앙부(40m)의 각 영역부(42,43)를 구성하는 격자상 피치의 위상차를 변경시킴으로써 각종 특성을 조정 변경시키는 것이 가능하게 된다.
4분할형 회절격자(64D)의 중앙부(40m)의 폭(40w)과 4분할형 회절격자(64D)의 중앙부(40m)의 각 영역부(42,43)를 구성하는 격자상 피치의 위상차가 조정되어 설정됨으로써 원하는 성능이 발휘됨과 아울러 각종 특성의 밸런스가 갖춰진 광 픽업 장치를 설계하는 것이 가능하게 된다. 따라서, 광 픽업 장치가 설계될 때의 설계의 자유도가 향상된다.
이 광 픽업 장치(도 1, 도 2)는 예컨대, 평면으로 바라봐서 대략 직사각형의 회절격자(64D)(도 12)와, 적어도 3개의 광속을 집광해서 미디어(D)(도 1, 도 2, 도 4)의 신호면부(Da)(도 4)에 각각 독립된 적어도 3개의 집광 스폿(80,81,82)을 조사시키는 대물 렌즈(70)(도 1, 도 2)와, 미디어(D)에 있어서의 3개의 각 집광 스폿(80,81,82)(도 4)의 반사광을 수광하는 광 검출기(73)(도 1, 도 2, 도 4, 도 5)를 구비해서 구성된다.
이렇게 광 픽업 장치가 구성되어 있으면, 미디어(D)(도 4)의 신호면부(Da)에 대한 광 픽업 장치의 트래킹은 정밀도 좋게 행해진다. 트랙 피치(Dtp)가 다른 복수 종류의 미디어(D)의 데이터 기록/재생시에 대물 렌즈(70)(도 1, 도 2)의 변위에 따라 트래킹 에러 신호의 진폭이 열화되는 것이나, 트래킹 에러 신호에 오프셋이 잔류된다는 것은 회피되기 쉬워진다.
위상 시프트형 4분할 회절격자(64D)(도 12)를 구비하는 광 픽업 장치가 구성됨으로써 DVD-RAM에 대한 광 픽업 장치의 데이터 재생 동작 또는 데이터 기록 동작은 확실하게 행해진다. 또한, DVD±R, DVD±RW에 대한 광 픽업 장치의 데이터 재생 동작 또는 데이터 기록 동작도 확실하게 행해진다.
<<광 디스크 장치의 설명>>
광 디스크 장치(도시하지 않음)는 상기 실시예1,2,3,4에 나타내는 광 픽업 장치(도 1, 도 2) 중 적어도 하나의 광 픽업 장치를 구비해서 구성된다. 구체적으로 설명하면, 광 디스크 장치는 상기 실시예1,2,3,4에 나타내는 광 픽업 장치 중 어느 하나의 단일의 광 픽업 장치를 구비해서 구성된다. 상기 광 픽업 장치는 도시 하지 않은 광 디스크 장치에 장착된다.
상기 실시예1,2,3,4에 나타내는 광 픽업 장치가 광 디스크 장치에 장착됨으로써 회절격자(64A,64B,64C,64D)에 있어서의 불필요한 회절광의 발생을 억제함과 아울러 레이저 광의 효율의 저하를 방지한 광 픽업 장치를 적어도 구비하는 광 디스크 장치가 구성된다.
또한, 정밀도가 높은 트래킹 제어 등의 제어가 행해지기 쉬운 단일의 광 픽업 장치를 구비한 광 디스크 장치의 제공이 가능하게 된다. 각 미디어(D)로부터의 데이터의 판독이나 각 미디어(D)에 대한 데이터의 기록은 광 픽업 장치를 구비하는 광 디스크 장치에 의해 정상으로 행해진다. 광 디스크 장치에 각 미디어(D)가 삽입되어서 트랙 피치(Dtp)가 다른 복수 종류의 미디어(D)의 데이터가 판독되거나, 또는 트랙 피치(Dtp)가 다른 복수 종류의 미디어(D)에 데이터가 기록되거나 할 때에 예컨대 대물 렌즈(70)의 변위에 따라 트래킹 에러 신호가 열화된다는 것은 회피되기 쉬워진다. 따라서, 정밀도가 높은 트래킹 제어가 행해지기 쉬운 단일의 광 픽업 장치를 구비한 광 디스크 장치의 제공이 가능하게 된다.
또한, 광 디스크 장치에 트랙 피치(Dtp)가 다른 복수 종류의 미디어(D)에 대응할 수 있는 하나의 광 픽업 장치가 내장되어 있으면 광 디스크 장치의 가격이 낮게 억제된다. 트랙 피치(Dtp)가 다른 복수 종류의 미디어(D)에 대응해서 복수개의 광 픽업 장치가 광 디스크 장치에 내장되고, 이것에 따라, 광 디스크 장치의 가격이 대폭적으로 상승된다는 것은 회피된다.
상기 광 픽업 장치, 및 상기 광 픽업 장치를 구비하는 광 디스크 장치는 상 기 각종 광 디스크에 데이터/정보/신호 등을 기록시키거나, 상기 각종 광 디스크의 데이터/정보/신호 등을 재생시키거나 하는 기록ㆍ재생 장치에 사용 가능하게 된다. 또한, 상기 광 픽업 장치, 및 상기 광 픽업 장치를 구비하는 광 디스크 장치는 상기 각종 광 디스크의 데이터/정보/신호 등을 재생시키는 재생 전용 장치에도 사용 가능하게 된다.
또한, 상기 광 픽업 장치, 및 상기 광 픽업 장치를 구비하는 광 디스크 장치는 예컨대, 컴퓨터, 음향/영상기기, 게임기, 차량 탑재기(모두 도면에 나타내지 않음) 등에 맞붙여지는 광 디스크 장치에 장착된다. 또한, 상기 광 픽업 장치, 및 상기 광 픽업 장치를 구비하는 광 디스크 장치는 예컨대, 노트형 PC나, 랩탑형 PC나, 데스크톱형 PC나, 차량 탑재용 컴퓨터 등의 컴퓨터나, 컴퓨터 게임기 등의 게임기나, CD 플레이어/CD 레코더, DVD 플레이어/DVD 레코더 등의 음향 및/또는 영상기기 등에 장착 가능하게 된다(모두 도면에 나타내지 않음). 또한, 상기 광 픽업 장치는 CD계 광 디스크, DVD계 광 디스크, 「HD DVD」계 광 디스크, 「Blu-ray Disc」계 광 디스크 등의 복수계의 디스크에 대응 가능한 것으로 된다. 또한, 상기 광 픽업 장치는 복수층의 신호면부를 갖는 1장의 광 디스크에 대응 가능한 것으로 되어 있다. 상기 광 픽업 장치는 예컨대, 「CD」,「DVD」,「HD DVD」,「Blu-ray Disc」 등의 각종 광 디스크에 대응한 컴퓨터, 음향 및/또는 영상기기, 게임기, 차량 탑재기 등에 장착 가능하게 되어 있다(모두 도면에 나타내지 않음).
이상, 본 발명의 실시형태에 대해서 설명했지만, 상술한 실시형태는 본 발명의 이해를 용이하게 하기 위한 것이고, 본 발명을 한정해서 해석하기 위한 것은 아 니다. 본 발명은 그 취지를 일탈함이 없이 변경/개량될 수 있음과 아울러, 본 발명에는 그 등가물도 포함된다.
예컨대, 도 3, 도 7에 나타내는 2개의 영역부(21,22)를 구비한 2분할 타입의 회절격자(64A,64B) 대신에 다른 형태를 한 2개의 영역부를 구비하는 2분할 타입의 회절격자(도시하지 않음)가 이용되어도 좋다. 또한, 예컨대, 도 10에 나타내는 3개의 영역부(31,32,33)를 구비한 3분할 타입의 회절격자(64C) 대신에 다른 형태를 한 3개의 영역부를 구비하는 3분할 타입의 회절격자(도시하지 않음)가 이용되어도 좋다. 또한, 예컨대, 도 12에 나타내는 4개의 영역부(41,42,43,43)를 구비한 4분할 타입의 회절격자(64D) 대신에 다른 형태를 한 4개의 영역부를 구비하는 4분할 타입의 회절격자(도시하지 않음)가 이용되어도 좋다. 이와 같이 각종 복수개의 영역부를 구비하는 복수 분할 타입의 회절격자가 사용 가능하게 되어 있다.
또한, 예컨대, 도 10에 나타내는 3개의 영역부(31,32,33)를 구비한 3분할 타입의 회절격자(64C)에 광학 유리판(50)(도 3, 도 9)이 장착되어도 좋다. 또한, 예컨대, 도 12에 나타내는 4개의 영역부(41,42,43,43)를 구비한 4분할 타입의 회절격자(64D)에 광학 유리판(50)(도 3, 도 9)이 장착되어도 좋다.
또한, 예컨대, 제 1 레이저 광은 DVD 규격의 파장 대략 660㎚(제 1 파장)의 적색 레이저 광이고, 제 2 레이저 광은 파장 대략 405㎚(제 2 파장)의 「HD DVD」 규격 또는 「Blu-ray Disc」 규격의 청자색 레이저 광이어도 좋다. 또한, 이 경우, 회절격자(64A,64B,64C,64D)는 「HD DVD」 또는 「Blu-ray Disc」의 파장에 따른 격자 간격을 구비한 회절격자 부재만으로 구성된다.
상기 광 픽업 장치가 구성됨으로써 광학계의 간략화를 도모하면서, 파장이 다른 2개의 제 1 및 제 2 레이저 광에 대응하고, 불필요한 회절광을 억제하여 에러 신호의 검출 정밀도를 향상시킴과 아울러 저렴하고 고효율의 광 픽업 장치를 제공할 수 있다.

Claims (25)

  1. 제 1 파장 광을 적어도 제 1 메인 빔과 제 1 서브 빔으로 나누고;
    제 2 파장 광을 적어도 제 2 메인 빔과 제 2 서브 빔으로 나누고;
    상기 제 2 파장 광에 대응한 회절면부를 갖는 회절격자와,
    상기 제 1 메인 빔이 조사되는 제 1 메인 수광부와,
    상기 제 1 서브 빔이 조사되는 제 1 서브 수광부와,
    상기 제 2 메인 빔이 조사되는 제 2 메인 수광부와,
    상기 제 2 서브 빔이 조사되는 제 2 서브 수광부를 갖는 광 검출기를 적어도 구비하고;
    규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리에 대해서 상기 제 1 메인 수광부와 상기 제 1 서브 수광부 사이의 거리가 변경된 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 변경된 상기 제 1 메인 수광부와 상기 제 1 서브 수광부 사이의 거리는 상기 규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리보다 길게 설정된 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 변경된 상기 제 1 메인 수광부와 상기 제 1 서브 수광부 사이의 거리의 값은 상기 규격화된 제 1 메인 수광부와 제 1 서브 수광부 사이의 거리의 값에 대해서 대략 111%의 값으로 설정된 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 규격화된 제 2 메인 수광부와 제 2 서브 수광부 사이의 거리의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 상기 제 2 메인 수광부와 상기 제 2 서브 수광부 사이의 거리의 값은 상기 규격화된 제 2 메인 수광부와 제 2 서브 수광부 사이의 거리의 값에 대해서 대략 100%의 값으로 설정된 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  5. 제 1 파장 광을 적어도 제 1 메인 빔과 제 1 서브 빔으로 나누고;
    제 2 파장 광을 적어도 제 2 메인 빔과 제 2 서브 빔으로 나누고;
    상기 제 2 파장 광에 대응한 회절면부를 갖는 회절격자와,
    상기 제 1 메인 빔이 조사되는 제 1 메인 수광부와,
    상기 제 1 서브 빔이 조사되는 제 1 서브 수광부와,
    상기 제 2 메인 빔이 조사되는 제 2 메인 수광부와,
    상기 제 2 서브 빔이 조사되는 제 2 서브 수광부를 갖는 광 검출기를 적어도 구비하고;
    상기 제 1 메인 수광부를 중심으로 1쌍의 위치 변경된 상기 제 1 서브 수광부가 배치되어서 전방측의 상기 제 1 서브 수광부와 중앙의 상기 제 1 메인 수광부 와 후방측의 상기 제 1 서브 수광부가 병설되었을 때에,
    전방측의 상기 제 1 서브 수광부와 중앙의 상기 제 1 메인 수광부와 후방측의 상기 제 1 서브 수광부의 분광비는 규격화된 전방측의 제 1 서브 수광부와 중앙의 제 1 메인 수광부와 후방측의 제 1 서브 수광부의 분광비에 대해서 변경된 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  6. 제 5 항에 있어서, 상기 제 1 메인 수광부를 중심으로 1쌍의 위치 변경된 상기 제 1 서브 수광부가 배치되어서 전방측의 상기 제 1 서브 수광부와 중앙의 상기 제 1 메인 수광부와 후방측의 상기 제 1 서브 수광부가 병설되었을 때에,
    전방측의 상기 제 1 서브 수광부와 중앙의 상기 제 1 메인 수광부와 후방측의 상기 제 1 서브 수광부의 분광비는 대략 1:(20~26):1로 된 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  7. 제 5 항에 있어서, 상기 제 2 메인 수광부를 중심으로 1쌍의 상기 제 2 서브 수광부가 배치되어서 전방측의 상기 제 2 서브 수광부와 중앙의 상기 제 2 메인 수광부와 후방측의 상기 제 2 서브 수광부가 병설되었을 때에,
    전방측의 상기 제 2 서브 수광부와 중앙의 상기 제 2 메인 수광부와 후방측의 상기 제 2 서브 수광부의 분광비는 대략 1:(12~18):1로 된 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  8. 제 1 파장 광을 적어도 제 1 메인 빔과 제 1 서브 빔으로 나누고;
    제 2 파장 광을 적어도 제 2 메인 빔과 제 2 서브 빔으로 나누고;
    상기 제 2 파장 광에 대응한 회절면부를 갖는 회절격자와,
    상기 제 1 메인 빔이 조사되는 제 1 메인 수광부와,
    상기 제 1 서브 빔이 조사되는 제 1 서브 수광부와,
    상기 제 2 메인 빔이 조사되는 제 2 메인 수광부와,
    상기 제 2 서브 빔이 조사되는 제 2 서브 수광부를 갖는 광 검출기를 적어도 구비하고;
    규격화된 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값에 대해서 상기 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값이 변경되거나 또는 동일하게 되고;
    규격화된 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값에 대해서 상기 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값이 변경된 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  9. 제 8 항에 있어서, 상기 규격화된 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 상기 규격화된 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값에 대해서 변경되거나 또는 동일하게 된 상기 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값은 대략 100% 이하의 낮은 값으로 설정되고;
    상기 규격화된 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 상기 규격화된 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값에 대해서 변경된 상기 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값은 대략 100% 이상의 높은 값으로 설정된 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  10. 제 8 항에 있어서, 상기 규격화된 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 상기 규격화된 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값에 대해서 변경되거나 또는 동일하게 된 상기 제 1 메인 수광부의 수광 감도의 값은 대략 95~100%의 값으로 설정되고;
    상기 규격화된 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 상기 규격화된 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값에 대해서 변경된 상기 제 1 서브 수광부의 수광 감도의 값은 대략 120~160%의 값으로 설정된 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  11. 제 8 항에 있어서, 규격화된 제 2 메인 수광부의 수광 감도의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 상기 규격화된 제 2 메인 수광부의 수광 감도의 값에 대해서 상기 제 2 메인 수광부의 수광 감도의 값은 대략 100%의 값으로 설정되고;
    규격화된 제 2 서브 수광부의 수광 감도의 값이 100%의 값으로 정해졌을 때에 상기 규격화된 제 2 서브 수광부의 수광 감도의 값에 대해서 상기 제 2 서브 수광부의 수광 감도의 값은 대략 100%의 값으로 설정된 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  12. 제 1 항에 기재된 광 픽업 장치와 제 5 항에 기재된 광 픽업 장치가 합쳐진 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  13. 제 1 항에 기재된 광 픽업 장치와 제 8 항에 기재된 광 픽업 장치가 합쳐진 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  14. 제 5 항에 기재된 광 픽업 장치와 제 8 항에 기재된 광 픽업 장치가 합쳐진 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  15. 제 1 항에 기재된 광 픽업 장치와 제 5 항에 기재된 광 픽업 장치와 제 8 항에 기재된 광 픽업 장치가 합쳐진 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  16. 제 1 항, 제 5 항 또는 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 회절면부는,
    상기 제 1 파장 광을 적어도 상기 제 1 메인 빔과 상기 제 1 서브 빔으로 나누는 회절면부; 및
    상기 제 2 파장 광을 적어도 상기 제 2 메인 빔과 상기 제 2 서브 빔으로 나누는 회절면부를 겸한 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  17. 제 1 항, 제 5 항 또는 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 회절격자는 복수개의 영역부로 나누어진 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  18. 제 1 항, 제 5 항 또는 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 회절격자는 짝수의 영역부로 나누어진 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  19. 제 1 항, 제 5 항 또는 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 회절격자는 제 1 영역부와 제 2 영역부와 제 3 영역부와 제 4 영역부의 적어도 4개로 나누어진 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  20. 제 1 항, 제 5 항 또는 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서, 복수 종류의 파장 광을 출사할 수 있는 발광 소자를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  21. 제 1 항, 제 5 항 또는 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제 1 파장 광의 파장은 대략 765~830㎚로 되고;
    상기 제 2 파장 광의 파장은 대략 630~685㎚로 된 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  22. 제 1 항, 제 5 항 또는 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제 1 파장 광의 파장은 대략 630~685㎚로 되고;
    상기 제 2 파장 광의 파장은 대략 340~450㎚로 된 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  23. 제 1 항, 제 5 항 또는 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서, 복수개의 신호면부를 갖는 미디어에 대응할 수 있게 이루어진 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  24. 제 1 레이저 광을 발광하는 제 1 광원과 상기 제 1 레이저 광의 파장보다 짧은 파장의 제 2 레이저 광을 발광하는 제 2 광원을 동일한 면상에 배치한 레이저 유닛;
    상기 제 2 레이저 광의 파장에 대응한 격자 간격을 갖고, 상기 제 1 레이저 광 또는 상기 제 2 레이저 광을 회절해서 메인 빔과 2개의 서브 빔을 발생시키는 회절격자;
    상기 메인 빔과 상기 2개의 서브 빔을 집광해서 광 디스크의 트랙 상에서 대략 일렬로 상기 메인 빔에 대응한 메인 스폿과 상기 2개의 서브 빔에 대응한 2개의 서브 스폿을 조사시키는 집광 광학계; 및
    상기 제 1 레이저 광에 따른 상기 메인 스폿과 상기 2개의 서브 스폿이 상기 광 디스크에 조사된 후에 상기 광 디스크로부터 반사되는 상기 메인 스폿에 대응하는 반사 스폿을 수광하는 제 1 메인 수광부, 및 상기 광 디스크로부터 반사되는 상기 2개의 서브 스폿 각각에 대응하는 반사 스폿을 수광하는 2개의 제 1 서브 수광부와, 상기 제 2 레이저 광에 따른 상기 메인 스폿과 상기 2개의 서브 스폿이 상기 광 디스크에 조사된 후에 상기 광 디스크로부터 반사되는 상기 메인 스폿에 대응하는 반사 스폿을 수광하는 제 2 메인 수광부, 및 상기 광 디스크로부터 반사되는 상기 2개의 서브 스폿 각각에 대응하는 2개의 반사 스폿을 수광하는 제 2 서브 수광 부를 배치한 광 검출기를 구비하고:
    상기 제 1 메인 수광부와 상기 제 1 서브 수광부 사이의 간격 및 상기 제 2 메인 수광부와 상기 제 2 서브 수광부 사이의 간격은,
    상기 회절격자의 면과 대향한 상기 레이저 유닛의 면상에서의 상기 제 1 또는 상기 제 2 광원의 위치를 나타내는 제 1 발광점에 대응한 상기 메인 스폿의 제 1 조사 점과,
    상기 제 1 발광점으로부터 상기 회절격자의 면까지의 사이의 법선 거리와 상기 회절격자의 회절각에 기초해서 정해지는 상기 레이저 유닛의 면상에서의 외견상의 상기 제 1 또는 상기 제 2 광원의 위치를 나타내는 제 2 발광점에 대응한 상기 서브 스폿의 제 2 조사 점 사이의 거리에 기초해서 설정되는 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  25. 제 1 항, 제 5 항, 제 8 항 또는 제 24 항 중 어느 한 항에 기재된 광 픽업 장치를 적어도 구비하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
KR1020097019271A 2007-08-10 2008-08-11 광 픽업 장치 및 그것을 구비하는 광 디스크 장치 KR20100041699A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2007-210227 2007-08-10
JP2007210227A JP2009043383A (ja) 2007-08-10 2007-08-10 光ピックアップ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20100041699A true KR20100041699A (ko) 2010-04-22

Family

ID=40350797

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020097019271A KR20100041699A (ko) 2007-08-10 2008-08-11 광 픽업 장치 및 그것을 구비하는 광 디스크 장치

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8000188B2 (ko)
JP (1) JP2009043383A (ko)
KR (1) KR20100041699A (ko)
CN (2) CN103714833A (ko)
WO (1) WO2009022747A1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101286641B1 (ko) * 2010-10-28 2013-07-22 도시바삼성스토리지테크놀러지코리아 주식회사 호환형 광픽업 및 이를 적용한 광정보저장매체 시스템

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5142879B2 (ja) * 2008-08-06 2013-02-13 株式会社日立メディアエレクトロニクス 光ピックアップおよび光ディスク装置
TW201021039A (en) * 2008-10-30 2010-06-01 Sanyo Electric Co Optical pickup device and optical disc device equipped with same
JP6520669B2 (ja) * 2015-12-03 2019-05-29 オムロン株式会社 光学計測装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1139918C (zh) * 1997-02-24 2004-02-25 三洋电机株式会社 光读出装置及使用该装置的光学记录媒体驱动装置
JP3828740B2 (ja) * 1999-12-03 2006-10-04 株式会社日立製作所 光検出器、光ピックアップ及びそれを用いた光学的情報再生装置
US6928035B2 (en) * 2000-07-07 2005-08-09 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical pick-up, optical disk apparatus and information processing apparatus
JP2006004499A (ja) * 2004-06-16 2006-01-05 Hitachi Ltd 光ピックアップ装置および光ディスク装置
JP2006216106A (ja) * 2005-02-02 2006-08-17 Tdk Corp 回折格子、受光素子及びそれらを用いた光ヘッド並びに光記録再生装置
US7835250B2 (en) * 2005-07-01 2010-11-16 Pioneer Corporation Optical pickup device and information recording/reproduction device
JP4654085B2 (ja) * 2005-07-25 2011-03-16 株式会社日立メディアエレクトロニクス 光検出器、光ピックアップ及び光ディスク装置
JP4859529B2 (ja) * 2005-10-17 2012-01-25 三洋電機株式会社 光ピックアップ装置および光ディスク装置
JP4841401B2 (ja) * 2005-11-21 2011-12-21 三洋電機株式会社 光ピックアップ装置
JP4518009B2 (ja) * 2005-11-29 2010-08-04 旭硝子株式会社 ３波長用回折素子、位相板付３波長用回折素子および光ヘッド装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101286641B1 (ko) * 2010-10-28 2013-07-22 도시바삼성스토리지테크놀러지코리아 주식회사 호환형 광픽업 및 이를 적용한 광정보저장매체 시스템
US8576684B2 (en) 2010-10-28 2013-11-05 Toshiba Samsung Storage Technology Korea Corporation Compatible optical pickup and optical information storage medium apparatus using the same

Also Published As

Publication number Publication date
US8000188B2 (en) 2011-08-16
JP2009043383A (ja) 2009-02-26
CN101821804A (zh) 2010-09-01
WO2009022747A9 (ja) 2009-08-13
WO2009022747A1 (ja) 2009-02-19
CN103714833A (zh) 2014-04-09
CN101821804B (zh) 2012-09-05
US20100135145A1 (en) 2010-06-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7227819B2 (en) Optical pick-up head, optical information apparatus, and optical information reproducing method
JP3897632B2 (ja) 光ピックアップ装置及び光スポットの最適集束方法
US8750083B2 (en) Optical pickup apparatus and disc apparatus including the same
JP4483140B2 (ja) 光学ピックアップ装置、光ディスク装置及びトラック判別信号検出方法
EP1755116A2 (en) Optical pickup apparatus capable of detecting and compensating for spherical aberration caused by thickness variation of recording layer
KR20100041699A (ko) 광 픽업 장치 및 그것을 구비하는 광 디스크 장치
US7706235B2 (en) Optical pickup device
JP2005032423A (ja) フォーカスオフセットを低減できる光ピックアップ及びそれを採用した光記録及び／または再生機器
JP5319978B2 (ja) 光ピックアップ装置、光ディスク装置および回折格子
JP2005302253A (ja) トラッキングエラーオフセット補償用光検出領域が形成された光ピックアップ装置
JP5378120B2 (ja) 光ピックアップ装置及びそれを用いた光ディスク装置
JP2007035109A (ja) 光検出器、回折格子、光ピックアップ、光ディスク装置
JP2009080916A (ja) 光ピックアップヘッドおよび光学記録再生装置
JP2005093008A (ja) 光ピックアップ装置および光ディスクドライブ装置
JP5542459B2 (ja) 光ピックアップ装置及びそれを用いた光ディスク装置
JP2006120211A (ja) 光ピックアップ、光ディスク装置、光検出装置および光ピックアップの信号生成方法
KR20080017690A (ko) 광 픽업
JP2005310298A (ja) 光ピックアップおよび光情報処理装置
JP2005085388A (ja) 光ピックアップ
JP2012164418A (ja) 光ピックアップ装置
JP2009158042A (ja) 光ピックアップ装置及び光検出器

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid