CN101821804A - 光拾取装置及包括该装置的光盘装置 - Google Patents

光拾取装置及包括该装置的光盘装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供光拾取装置及包括该装置的光盘装置。该光拾取装置抑制了产生无用的光。在光盘装置的光拾取装置中包括衍射光栅，该衍射光栅将第1波长光至少分为第1主光束和第1副光束，将第2波长光至少分为第2主光束和第2副光束且具有应对第2波长光的衍射面部，相对于规格化后的光检测器的照射有第1主光束的第1主受光部与照射有第1副光束的第1副受光部之间的距离，光检测器(73)的照射有第1主光束的第1主受光部(74a)与照射有第1副光束的第1副受光部(74b、74c)之间的距离Ys(cd)发生变化。

Description

光拾取装置及包括该装置的光盘装置
技术领域
本发明涉及光拾取装置及包括该装置的光盘装置。
背景技术
在包括光拾取装置的光盘装置(未图示)内插入有光盘。进入到未图示的光盘装置内的光盘形成为大致圆盘状。
作为磁盘，例如可列举“CD-ROM”、“DVD-ROM”、“HD DVD-ROM”、“BD-ROM”等读取数据专用的光盘、“CD-R”、“DVD-R”、“DVD+R”、“HD DVD-R”、“BD-R”等数据可记录式光盘、“CD-RW”、“DVD-RW”、“DVD+RW”(注册商标)、“DVD-RAM”、“HD DVD-RW”、“HDDVD-RAM”、“BD-RE”等能够写入、消除数据、更新数据的类型的光盘等。
在说明光盘时，“CD”是“Compact Disc”(商标)的简称。另外，“DVD”(注册商标)是“Digital Versatile Disc”的简称。另外，“HD DVD”(注册商标)是“High DefinitionDVD”的简称。另外，“Blu-ray Disc”(注册商标)的“Blu-ray”是指相对于以往的用于读写信号的红色激光而为了实现高密度存储所采用的蓝紫色激光。“HD DVD”与以往的DVD系列的设备具有互换性，而且，其存储容量大于以往的DVD系列的磁盘的存储容量。在以往的CD中采用红外激光。另外，在以往的DVD中采用红色激光。但是，在读取存储于“Blu-rayDisc”或“HD DVD”的光盘中的数据、信息、信号时、向“Blu-ray Disc”或“HD DVD”的光盘中写入数据、信息、信号时，采用蓝紫色激光。
另外，“CD-ROM”、“DVD-ROM”及“HD DVD-ROM”的“ROM”是“Read Only Memory”的简称。另外，“BD-ROM”是“Blu-ray Disc-ROM”的简称。“CD-ROM”、“DVD-ROM”、“HD DVD-ROM”及“BD-ROM”是读取数据、信息专用的光盘。另外，“CD-R”、“DVD-R”、“DVD+R”及“HD DVD-R”的“R”是“Recordable”的简称。另外，“BD-R”是“Blu-ray Disc-R”的简称。“CD-R”、“DVD-R”、“DVD+R”、“HD DVD-R”及“BD-R”能够写入数据、信息。另外，“CD-RW”、“DVD-RW”、“DVD+RW”及“HD DVD-RW”的“RW”是“Re-Writable”的简称。另外，“BD-RE”是“Blu-ray Disc-RE”的简称。“CD-RW”、“DVD-RW”、“DVD+RW”、“HD DVD-RW”及“BD-RE”能够更新数据、信息。另外，“DVD-RAM”及“HD DVD-RAM”的“RAM”是“Random Access Memory”的简称。“DVD-RAM”及“HD DVD-RAM”能够读写、消除数据、信息。
在光盘装置内的能够记录数据、信息、信号的光盘中，在作为光盘的信号记录面的信号层中设有用于保存数据、信息、信号的槽(未图示)。槽是指例如细长的凹状的结构。在俯视圆盘状光盘时，槽形成为大致螺旋状。在向光盘照射激光时，从照射有激光的信号层侧看光盘的情况下，槽为漩涡状。由于槽非常小，因此，无法通过视觉观察到槽。
光拾取装置包括光学系统，该光学系统用于为了控制物镜的位置而对处于光盘内的规定的记录光道上适当地照射聚光点而检测调焦错误信号、跟踪错误信号等错误信号。
焦点例如是指英文的focus或者荷兰语的punt。另外，聚焦是例如使焦点对准或焦点被对准。另外，跟踪是例如使用光来跟踪观测光盘的信号层、设置于光盘的信号层等上的微小的凹坑(孔、凹陷)、槽(沟)、摇摆(蜿蜒)等，决定描画为大致螺旋状的轨道的位置。另外，凹坑是例如孔、凹状。另外，摇摆(wobble)是例如记录有信息等数据信号的光道的蜿蜒。
作为光拾取装置中的光盘的聚光点聚焦检测法，例如可列举基于差动像散法的检测法等。差动像散法是指例如通过对由带有像散的光学系统成像的点像应变进行检测来检测聚光点的移位的方法。另外，作为光拾取装置中的光盘的聚光点跟踪检测法，例如可列举基于差动推挽法的检测法等。差动推挽法是指例如利用数据读写用的主光束和用于检测错位的校正信号的2个副光束来检测聚光点的移位的方法。
对跟踪错误信号的检测方式进行说明，在利用光拾取装置对例如光道间距为1.6μm(微米、测微器)的CD标准(CD-ROM、CD-R、CD-RW等)的光盘检测跟踪错误信号的情况下，作为跟踪错误信号的检测方式，主要采用使用3道光束的例如“3光束方式(或者也称作3光点方式)”。另外，在利用光拾取装置对例如光道间距为0.74μm的DVD标准(DVD-ROM、DVD-R、DVD-RW等)的光盘检测跟踪错误信号的情况下，作为跟踪错误信号的检测方式，主要采用至少使用3道光束的例如“直线(inline)方式”(0级光的主光点和±1级衍射光的副光点在同一信号轨道上排成一列)。这里的跟踪错误信号的各检测方式的称呼是简称。
另外，相对于Version1的DVD-RAM、DVD-ROM、DVD-R、DVD-RW等的光道间距为大致0.74μm，Version2.0及2.1的DVD-RAM的光道间距为大致0.615μm。这样，在Version1的DVD-RAM、DVD-ROM、DVD-R、DVD-RW等、和Version2.0及2.1的DVD-RAM中，光道间距不同。
首先，对检测CD标准的错误信号时主要采用的“3光束方式”进行说明。如图17所示，在光拾取装置中，在半导体激光元件210与偏振光分束器230之间的光路上配置有CD用衍射光栅320。CD用衍射光栅320具有以恒定的周期等间隔地刻出的直线状的光栅槽，具有使从半导体激光元件210发出的激光衍射分支为主光束(0级光)及2个副光束(±1级衍射光束)的合计3个光束的功能。
这3个光束经过偏振光分束器230、准直透镜240、物镜250，结果，如图18的左侧所示，在光盘D的信号层Da上形成与主光束相对应的主光点100、和分别与2个副光束相对应的副光点101、102。另外，在光盘D的信号层Da上周期性地设有用于记录信号的光道D100，主光点100及副光点101、102在光盘半径方向上的间隔δ可通过使CD用衍射光栅320绕光轴旋转调整的方法等调整为与光道D100的周期Dtp的大致1/2一致。然后，主光点100及副光点101、102的反射光再次到达物镜250、准直透镜240、偏振光分束器230，其一部分光量在透过偏振光分束器230之后经过检测透镜260而入射到光检测器270。
如图18的右侧所示，在光检测器270中配置有分别与主光点100及副光点101、102的反射光相对应的受光面200a、200b、200c。在主光点100及副光点101、102的反射光分别入射到受光面200a、200b、200c中时，分别形成与主光点100相对应的主检测光点200、和与副光点101、102相对应的副检测光点201、202。
在此，在主光点100在光道D100上正确地扫描的情况下，副检测光点201、202的光量相同。但是，在主光点100的扫描从光道D100上偏移的情况下，副检测光点201、202之间的光量产生差异。因此，例如通过由减法器400对副检测光点201、202的光量进行减去处理，生成表示跟踪的扫描偏移的跟踪错误信号。
接着，对检测DVD标准的错误信号时主要采用的“直线方式”进行说明。作为直线方式的光学系统，基本上能够基于与3光束方式大致相同的光学系统来检测跟踪错误信号。但是，与3光束方式的光学系统相比不同点在于，如图20的左侧所示，使用形成于一个半平面341上的光栅槽的周期构造的相位相对于形成于另一个半平面342上的光栅槽的周期构造的相位错位约180度的DVD用衍射光栅340。
在此，假定将DVD用衍射光栅340与CD用衍射光栅320调换而设置在与图17所示的CD用衍射光栅320大致相同的位置的情况。另外，为了应对直线方式，如图19的左侧所示，假定将DVD用衍射光栅340、聚光光学系统等的配置位置调整为照射于光盘D的信号层Da上的主光点100及副光点101、102照射在相同的光道D100上的情况。
在形成主检测光点200的DVD用主光束照射于光检测器270的受光面200a上时，连接于受光面200a的减法器500a计算来自受光面200a的输出信号的差，生成为例如主推挽信号Sa。
另外，在形成副检测光点201的DVD用第1副光束照射于光检测器270的受光面200b上时，连接于受光面200b的减法器500b计算来自受光面200b的输出信号的差，生成为例如先行副推挽信号Sb。
另外，在形成副检测光点202的DVD用第2副光束照射于光检测器270的受光面200c上时，连接于受光面200c的减法器500c计算来自受光面200c的输出信号的差，生成为例如滞后副推挽信号Sc。
如图19的右侧所示，由主检测光点200检测出的推挽信号Sa、和由分别与副光点101、102相对应的副检测光点201、202检测出的推挽信号Sb、Sc与3光束方式同样地相互以反相位输出。之后，由加法器510将推挽信号Sb、Sc相加，利用减法器530对该相加后的信号相对于推挽信号Sa进行减法处理，从而能够生成推挽信号Sa、Sb、Sc的各偏离成分相抵而成的跟踪错误信号。
但是，近年来，提出了能够对CD标准的光盘和DVD标准的光盘这两者进行记录和再现的光拾取装置。另外，在该光拾取装置中，为了谋求由光学系统的简化带来的成本降低，采用这样的多头激光单元，该多头激光单元包括发出适合CD标准的红外波长频带765nm～805nm(纳米)的第1波长的第1激光的CD用半导体激光元件、及发出适合DVD标准的红色波长频带645nm～675nm的第2波长的第2激光的DVD用半导体激光元件。
另外，在该光拾取装置中，为了谋求进一步简化光学系统，采用应对CD标准的3光束方式及DVD标准的直线方式这两者的2波长应对衍射光栅(例如参照以下所示的专利文献1)。作为2波长应对衍射光栅300A的构造，例如图20所示，对于在光学玻璃板360的厚度方向相面对的一个平面及另一个平面，在该一个平面上粘着CD用衍射光栅320，在该另一个平面上粘着DVD用衍射光栅340而构成。
除图20所示的2波长应对衍射光栅300A的构造之外，提出了例如图21所示的构造的2波长应对衍射光栅300B(例如参照以下所示的专利文献2)。例如作为2波长应对衍射光栅300B的构造，在使含有液晶材料等而构成的CD用衍射光栅320及DVD用衍射光栅340重合地粘着之后，将其夹持在2枚光学玻璃板361、362之间粘着而构成。
专利文献1：日本特开2007-164962号公报(第1页，第1-8图)
专利文献2：日本特开2007-149249号公报(第1页，第1-7图)
但是，在使用将上述那样的CD用衍射光栅320及DVD用衍射光栅340组合而成的2波长应对衍射光栅300A或300B的情况下，例如在使CD标准的第1激光入射到CD用衍射光栅320时，该第1激光被CD用衍射光栅320衍射而分支为主光束(0级光)及2个副光束(±1级衍射光束)这3个光束。然后，该3个光束利用DVD用衍射光栅340进一步衍射而分支。
这样，自多头激光单元发出的第1激光或第2激光通过2波长应对衍射光栅300A或300B的CD用衍射光栅320及DVD用衍射光栅340这两者，结果，由于在CD用及DVD用的各自的衍射光栅320、340中进行衍射分支，因此，会导致产生无用的衍射光。结果，产生跟踪错误信号等的错误信号检测精度变差这样的问题。
另外，由于例如产生无用的衍射光，衍射光栅320、340中的0级光及±1级衍射光的透射率降低，结果，也会产生自多头激光单元发出的射出光的利用效率降低这样的问题。
另外，近年来，为了能够良好地应对DVD-ROM、DVD-R、DVD-RW、DVD-RAM(Version1、2.0、2.1)等光道间距Dtp不同的多种光盘D，市场上要求易于进行跟踪控制等控制的高度的光拾取装置、和包括易于进行跟踪控制等控制的高度的光拾取装置的光盘装置。
例如，市场上要求在光道间距Dtp不同的多种光盘D记录、再现数据时，不会使随着物镜250的移位而产生的跟踪错误信号等错误信号的振幅恶化的光拾取装置、和不会在跟踪错误信号等错误信号中残留偏离的光拾取装置。
另外，在解决上述问题的同时，也寻求廉价的光拾取装置和廉价的光盘装置。
发明内容
为了解决上述课题，本发明的技术方案1的光拾取装置的特征在于，至少包括：衍射光栅，其将第1波长光至少分为第1主光束和第1副光束，将第2波长光至少分为第2主光束和第2副光束，具有应对第2波长光的衍射面部；光检测器，包括供上述第1主光束照射的第1主受光部、供上述第1副光束照射的第1副受光部、供上述第2主光束照射的第2主受光部、和供上述第2副光束照射的第2副受光部；相对于规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离，上述第1主受光部与上述第1副受光部之间的距离发生变化。
采用上述构造，能构成抑制了产生无用的光的光拾取装置。具有应对第2波长光的衍射面部的衍射光栅装备于光拾取装置，只要在第1波长光透过应对第2波长光的衍射光栅的衍射面部时，第1波长光被至少分为第1主光束和第1副光束，就能大体上防止第1波长光透过衍射光栅时产生无用的光。另外，在第2波长光透过应对第2波长光的衍射光栅的衍射面部时，第2波长光大体上不会产生无用的光，且第2波长光至少被分为第2主光束和第2副光束。另外，由于相对于规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离，在该光检测器中第1主受光部与第1副受光部之间的距离发生变化，因此，在第1波长光透过应对第2波长光的衍射光栅的衍射面部时，能避免发生被应对第2波长光的衍射光栅的衍射面部分出的第1波长光的第1副光束不照射于光检测器的第1副受光部这样的不良。为了方便起见，本发明中的规格化例如在说明已广泛普及的以往的形态等时采用。通过第1波长光透过应对第2波长光的衍射光栅的衍射面部而大体上不会产生无用的光地被分出的第1波长光的第1副光束照射于距光检测器的第1主受光部的距离变化后的第1副受光部。另外，通过第1波长光透过应对第2波长光的衍射光栅的衍射面部而大体上不会产生无用的光地被分出的第1波长光的第1主光束照射于光检测器的第1主受光部。另外，通过第2波长光透过应对第2波长光的衍射光栅的衍射面部而大体上不会产生无用的光地被分出的第2波长光的第2副光束照射于光检测器的第2副受光部。另外，通过第2波长光透过应对第2波长光的衍射光栅的衍射面部而大体上不会产生无用的光地被分出的第2波长光的第2主光束照射于光检测器的第2主受光部。
在技术方案1所述的光拾取装置中，技术方案2的光拾取装置的特征在于，变化后的上述第1主受光部与上述第1副受光部之间的上述距离被设定得大于上述规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离。
采用上述构造，能构成提高了信号检测精度的光拾取装置。易于避免第1波长光被衍射光栅的衍射面部分开而产生的第1主光束对光检测器的第1副受光部产生不良影响。另外，易于避免第1波长光被衍射光栅的衍射面部分开而产生的第1副光束对光检测器的第1主受光部产生不良影响。例如，在变化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离被设定得小于规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离时，担心第1主光束有可能干涉到光检测器的第1副受光部。另外，例如，在变化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离被设定得小于规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离时，担心第1副光束有可能干涉到光检测器的第1主受光部。但是，由于变化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离被设定得大于规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离，因此，在第1主光束照射于光检测器的第1主受光部时，易于避免第1主光束干涉到第1副受光部。另外，由于变化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离被设定得大于规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离，因此，在第1副光束照射于光检测器的第1副受光部时，易于避免第1副光束干涉到第1主受光部。
在技术方案1所述的光拾取装置中，技术方案3的光拾取装置的特征在于，在将上述规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离的值定为100％的值时，相对于上述规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离的值，变化后的上述第1主受光部与上述第1副受光部之间的上述距离的值被设定为大致111％的值。
采用上述构造，能构成提高了信号检测精度的光拾取装置。能避免第1波长光被衍射光栅的衍射面部分开而产生的第1主光束对光检测器的第1副受光部产生不良影响。还能避免第1波长光被衍射光栅的衍射面部分开而产生的第1副光束对光检测器的第1主受光部产生不良影响。例如，在变化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离被设定得小于规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离时，担心第1主光束有可能干涉到光检测器的第1副受光部。另外，例如，在变化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离被设定得小于规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离时，担心第1副光束有可能干涉到光检测器的第1主受光部。但是，由于在将规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离的值定为100％的值时，相对于规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离的值，变化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离的值被设定为大致111％的值，因此，在第1主光束照射于光检测器的第1主受光部时，能避免第1主光束干涉于第1副受光部。另外，由于在将规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离的值定为100％的值时，相对于规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离的值，变化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离的值被设定为大致111％的值，因此，在第1副光束照射于光检测器的第1副受光部时，能避免第1副光束干涉于第1主受光部。
在技术方案1所述的光拾取装置中，技术方案4的光拾取装置的特征在于，在将上述规格化后的第2主受光部与第2副受光部之间的距离的值定为100％的值时，相对于上述规格化后的第2主受光部与第2副受光部之间的距离的值，上述第2主受光部与上述第2副受光部之间的上述距离的值被设定为大致100％的值。
采用上述构造，能构成提高了信号检测精度的光拾取装置。能避免第2波长光被衍射光栅的衍射面部分开而产生的第2主光束对光检测器的第2副受光部产生不良影响。还能避免第2波长光被衍射光栅的衍射面部分开而产生的第2副光束对光检测器的第2主受光部产生不良影响。例如，在第2主受光部与第2副受光部之间的距离被设定得小于规格化后的第2主受光部与第2副受光部之间的距离时，担心第2主光束有可能干涉到光检测器的第2副受光部。另外，例如，在第2主受光部与第2副受光部之间的距离被设定得小于规格化后的第2主受光部与第2副受光部之间的距离时，担心第2副光束有可能干涉到光检测器的第2主受光部。但是，由于在将规格化后的第2主受光部与第2副受光部之间的距离的值定为100％的值时，相对于规格化后的第2主受光部与第2副受光部之间的距离的值，第2主受光部与第2副受光部之间的距离的值被设定为大致100％的值，因此，在第2主光束照射于光检测器的第2主受光部时，能避免第2主光束干涉于第2副受光部。另外，由于在将规格化后的第2主受光部与第2副受光部之间的距离的值定为100％的值时，相对于规格化后的第2主受光部与第2副受光部之间的距离的值，第2主受光部与第2副受光部之间的距离的值被设定为大致100％的值，因此，在第2副光束照射于光检测器的第2副受光部时，能避免第2副光束干涉于第2主受光部。
技术方案5的光拾取装置的特征在于，至少包括：衍射光栅，其将第1波长光至少分为第1主光束和第1副光束，将第2波长光至少分为第2主光束和第2副光束，具有应对第2波长光的衍射面部；光检测器，其包括供上述第1主光束照射的第1主受光部、供上述第1副光束照射的第1副受光部、供上述第2主光束照射的第2主受光部、和供上述第2副光束照射的第2副受光部；在以上述第1主受光部为中心地配置有一对位置变化后的上述第1副受光部，在前侧的上述第1副受光部、中央的上述第1主受光部、后侧的上述第1副受光部并列设置时，前侧的上述第1副受光部、中央的上述第1主受光部、后侧的上述第1副受光部的分光比相对于规格化后的前侧的第1副受光部、中央的第1主受光部、后侧的第1副受光部的分光比发生变化。
采用上述构造，能构成抑制了产生无用的光的光拾取装置。具有应对第2波长光的衍射面部的衍射光栅装备于光拾取装置，只要在第1波长光透过应对第2波长光的衍射光栅的衍射面部时，第1波长光被至少分为第1主光束和第1副光束，就能大体上防止第1波长光透过衍射光栅时产生无用的光。另外，在第2波长光透过应对第2波长光的衍射光栅的衍射面部时，第2波长光大体上不会产生无用的光，第2波长光至少被分为第2主光束和第2副光束。另外，易于利用设定变化后的光检测器高精度地检测第1主光束和第1副光束。只要在第1波长光透过具有应对第2波长光的衍射面部的衍射光栅时，第1波长光被至少分为前侧的第1副光束、中央的第1主光束和后侧的第1副光束时，供前侧的第1副光束照射的前侧的第1副受光部、供中央的第1主光束照射的中央的第1主受光部、供后侧的第1副光束照射的后侧的第1副受光部的分光比相对于规格化后的前侧的第1副受光部、中央的第1主受光部、后侧的第1副受光部的分光比发生变化，就易于利用设定变化后的光检测器高精度地检测第1主光束和第1副光束。
在技术方案5所述的光拾取装置中，技术方案6的光拾取装置的特征在于，在以上述第1主受光部为中心地配置有一对位置变化后的上述第1副受光部，前侧的上述第1副受光部、中央的上述第1主受光部、后侧的上述第1副受光部并列设置时，前侧的上述第1副受光部、中央的上述第1主受光部、后侧的上述第1副受光部的分光比为大致1∶(20～26)∶1。
采用上述构造，能利用设定变化后的光检测器高精度地检测第1主光束和第1副光束。例如，在第1波长光透过具有应对第1波长光的第1衍射面部、和应对第2波长光的第2衍射面部的以往的衍射光栅，第1波长光至少被分为前侧的第1副受光部、中央的第1主受光部、后侧的第1副受光部时，供前侧的第1副光束照射的前侧的第1副受光部、供中央的第1主光束照射的中央的第1主受光部、供后侧的第1副光束照射的后侧的第1副受光部的分光比被设定为例如大致1∶16∶1，从而，能利用以往的规格化后的光检测器高精度地检测第1主光束和第1副光束。但是，在第1波长光透过省略了应对第1波长光的衍射面部而具有应对第2波长光的衍射面部的衍射光栅，第1波长光至少被分为前侧的第1副受光部、中央的第1主受光部、后侧的第1副受光部的情况下，供前侧的第1副光束照射的前侧的第1副受光部、供中央的第1主光束照射的中央的第1主受光部、供后侧的第1副光束照射的后侧的第1副受光部的分光比被设定为例如大致1∶16∶1时，在以往规格化后的光检测器中，有可能无法高精度地检测第1主光束和第1副光束。相对于此，只要在第1波长光透过具有应对第2波长光的衍射面部的衍射光栅，第1波长光至少被分为前侧的第1副受光部、中央的第1主受光部、后侧的第1副受光部时，供前侧的第1副光束照射的前侧的第1副受光部、供中央的第1主光束照射的中央的第1主受光部、供后侧的第1副光束照射的后侧的第1副受光部的分光比被设定为大致1∶(20～26)∶1，就能利用设定变化后的光检测器高精度地检测第1主光束和第1副光束。在供前侧的第1副光束照射的前侧的第1副受光部、供中央的第1主光束照射的中央的第1主受光部、供后侧的第1副光束照射的后侧的第1副受光部的分光比为例如大致1∶小于20∶1的情况、或者该分光比为例如大致1∶大于26∶1的情况下，有可能无法高精度地检测第1主光束和第1副光束，但通过将该分光比设定为大致1∶(20～26)∶1、优选为大致1∶(21～25)∶1，能高精度地检测第1主光束和第1副光束。
在技术方案5所述的光拾取装置中，技术方案7的光拾取装置的特征在于，在以上述第2主受光部为中心地配置有一对上述第2副受光部，前侧的上述第2副受光部、中央的上述第2主受光部、后侧的上述第2副受光部并列设置时，前侧的上述第2副受光部、中央的上述第2主受光部、后侧的上述第2副受光部的分光比为大致1∶(12～18)∶1。
采用上述构造，能利用光检测器高精度地检测第2主光束和第2副光束。只要在第2波长光透过具有应对第2波长光的衍射面部的衍射光栅，第2波长光至少被分为前侧的第2副受光部、中央的第2主受光部、后侧的第2副受光部时，供前侧的第2副光束照射的前侧的第2副受光部、供中央的第2主光束照射的中央的第2主受光部、供后侧的第2副光束照射的后侧的第2副受光部的分光比被设定为大致1∶(12～18)∶1，就能利用光检测器高精度地检测第2主光束和第2副光束。在供前侧的第2副光束照射的前侧的第2副受光部、供中央的第2主光束照射的中央的第2主受光部、供后侧的第2副光束照射的后侧的第2副受光部的分光比为例如大致1∶小于12∶1的情况、或者该分光比为例如大致1∶大于18∶1的情况下，有可能无法高精度地检测第2主光束和第2副光束，但通过该分光比被设定为大致1∶(12～18)∶1、优选为大致1∶(14～18)∶1，能高精度地检测第2主光束和第2副光束。
技术方案8的光拾取装置的特征在于，至少包括：衍射光栅，其将第1波长光至少分为第1主光束和第1副光束，将第2波长光至少分为第2主光束和第2副光束，具有应对第2波长光的衍射面部；光检测器，其包括供上述第1主光束照射的第1主受光部、供上述第1副光束照射的第1副受光部、供上述第2主光束照射的第2主受光部、和供上述第2副光束照射的第2副受光部；上述第1主受光部的受光灵敏度的值相对于规格化后的第1主受光部中的受光灵敏度的值发生变化或与规格化后的第1主受光部中的受光灵敏度的值相同，上述第1副受光部的受光灵敏度的值相对于规格化后的第1副受光部的受光灵敏度的值发生变化。
采用上述构造，能构成抑制了产生无用的光的光拾取装置。具有应对第2波长光的衍射面部的衍射光栅装备于光拾取装置，只要在第1波长光透过应对第2波长光的衍射光栅的衍射面部时，第1波长光被至少分为第1主光束和第1副光束，就能大体上防止第1波长光透过衍射光栅时产生无用的光。另外，在第2波长光透过应对第2波长光的衍射光栅的衍射面部时，第2波长光大体上不会产生无用的光，第2波长光至少被分为第2主光束和第2副光束。另外，易于利用设定变化后的光检测器高精度地检测第1主光束和第1副光束。通过第1主受光部的受光灵敏度的值相对于规格化后的第1主受光部中的受光灵敏度发生变化或与规格化后的第1主受光部中的受光灵敏度相同，第1副受光部的受光灵敏度的值相对于规格化后的第1副受光部的受光灵敏度发生变化，易于利用设定变化后的光检测器高精度地检测第1主光束和第1副光束。
在技术方案8所述的光拾取装置中，技术方案9的光拾取装置的特征在于，在将上述规格化后的第1主受光部的受光灵敏度的值定为100％的值时，相对于上述规格化后的第1主受光部的受光灵敏度的值，发生了变化的或与上述规格化后的第1主受光部的受光灵敏度的值相同的上述第1主受光部的受光灵敏度的值被设定为大致100％以下的较低的值，在将上述规格化后的第1副受光部的受光灵敏度的值定为100％的值时，相对于上述规格化后的第1副受光部的受光灵敏度的值，变化后的上述第1副受光部的受光灵敏度的值被设定为大致100％以上的较高的值。
采用上述构造，易于利用设定变化后的光检测器高精度地检测第1主光束和第1副光束。通过在将规格化后的第1主受光部的受光灵敏度的值定为100％时，相对于规格化后的第1主受光部的受光灵敏度的值，发生了变化的或与规格化后的第1主受光部的受光灵敏度的值相同的第1主受光部的受光灵敏度的值被设定为大致100％以下的较低的值，相对于规格化后的第1副受光部的受光灵敏度的值为100％，变化后的第1副受光部的受光灵敏度的值被设定为大致100％以上的较高的值，易于利用设定变化后的光检测器高精度地检测第1主光束和第1副光束。
在技术方案8所述的光拾取装置中，技术方案10的光拾取装置的特征在于，在将上述规格化后的第1主受光部的受光灵敏度的值定为100％的值时，相对于上述规格化后的第1主受光部的受光灵敏度的值，发生了变化的或与上述规格化后的第1主受光部的受光灵敏度的值相同的上述第1主受光部的受光灵敏度的值被设定为大致95～100％的值，在将上述规格化后的第1副受光部的受光灵敏度的值定为100％的值时，相对于上述规格化后的第1副受光部的受光灵敏度的值，变化后的上述第1副受光部的受光灵敏度的值被设定为大致120～160％的值。
采用上述构造，能利用设定变化后的光检测器高精度地检测第1主光束和第1副光束。通过相对于将规格化后的第1主受光部的受光灵敏度的值定为100％，发生了变化的或与规格化后的第1主受光部的受光灵敏度的值相同的第1主受光部的受光灵敏度的值被设定为大致95～100％的值，相对于规格化后的第1副受光部的受光灵敏度的值为100％，变化后的第1副受光部的受光灵敏度的值被设定为大致120～160％的值，能利用设定变化后的光检测器高精度地检测第1主光束和第1副光束。
在技术方案8所述的光拾取装置中，技术方案11的光拾取装置的特征在于，在将规格化后的第2主受光部的受光灵敏度的值定为100％的值时，相对于上述规格化后的第2主受光部的受光灵敏度的值，上述第2主受光部的受光灵敏度的值被设定为大致100％的值，在将规格化后的第2副受光部的受光灵敏度的值定为100％的值时，相对于上述规格化后的第2副受光部的受光灵敏度的值，上述第2副受光部的受光灵敏度的值被设定为大致100％的值。
采用上述构造，易于利用光检测器高精度地检测第2主光束和第2副光束。通过相对于将规格化后的第2主受光部的受光灵敏度的值定为100％，第2主受光部的受光灵敏度的值被设定为大致100％的值，相对于将规格化后的第2副受光部的受光灵敏度的值定为100％，第2副受光部的受光灵敏度的值被设定为大致100％的值，能利用光检测器高精度地检测第2主光束和第2副光束。
技术方案12的光拾取装置的特征在于，由技术方案1所述的光拾取装置和技术方案5所述的光拾取装置组合而成。
采用上述构造，能构成抑制了产生无用的光的光拾取装置。另外，易于利用设定变化后的光检测器高精度地检测第1主光束和第1副光束。
技术方案13的光拾取装置的特征在于，由技术方案1所述的光拾取装置和技术方案8所述的光拾取装置组合而成。
采用上述构造，能构成抑制了产生无用的光的光拾取装置。另外，易于利用设定变化后的光检测器高精度地检测第1主光束和第1副光束。
技术方案14的光拾取装置的特征在于，由技术方案5所述的光拾取装置和技术方案8所述的光拾取装置组合而成。
采用上述构造，能构成抑制了产生无用的光的光拾取装置。另外，易于利用设定变化后的光检测器高精度地检测第1主光束和第1副光束。
技术方案15的光拾取装置的特征在于，由技术方案1所述的光拾取装置、技术方案5所述的光拾取装置和技术方案8所述的光拾取装置组合而成。
采用上述构造，能构成抑制了产生无用的光的光拾取装置。另外，易于利用设定变化后的光检测器高精度地检测第1主光束和第1副光束。
在技术方案1、5或8中任一项所述的光拾取装置中，技术方案16的光拾取装置的特征在于，上述衍射面部兼作将上述第1波长光至少分为上述第1主光束和上述第1副光束的衍射面部、和将上述第2波长光至少分为上述第2主光束和上述第2副光束的衍射面部。
采用上述构造，能构成抑制在衍射光栅中产生无用的光、且防止光的效率降低、并且将价格抑制得较低的光拾取装置。只要衍射光栅的衍射面部兼作将第1波长光至少分为第1主光束和第1副光束的衍射面部、和将第2波长光至少分为第2主光束和第2副光束的衍射面部地形成，就能避免第1波长光无用地衍射而使第1波长光的效率降低，或者第2波长光无用地衍射而使第2波长光的效率降低。另外，由于衍射面部兼作将第1波长光至少分为第1主光束和第1副光束的衍射面部、和将第2波长光至少分为第2主光束和第2副光束的衍射面部地形成，因此，能构成减少了加工部分、加工工时的衍射光栅。由于减少了衍射光栅的加工部分、加工工时，因此，能将衍射光栅的价格抑制得较低。随之，能够构成能将价格抑制得较低的光拾取装置。
在技术方案1、5或8中任一项所述的光拾取装置中，技术方案17的光拾取装置的特征在于，上述衍射光栅被分为多个区域部。
采用上述构造，易于良好地进行光拾取装置对介质的错误信号检测。例如，易于良好地进行光拾取装置对介质的跟踪。介质是指记录信息而将其传播的构件、或记录信息而将其传递的构件。另外，光拾取装置的跟踪是指追随介质在半径方向上的振动而使光点始终存在于目标光道上的动作。通过衍射光栅被分为多个区域部，向介质照射各自独立的至少三个光点。由于向介质各自独立地照射至少三个光点，因此，在两种以上介质上记录、再现时，易于避免跟踪错误信号等错误信号的检测精度降低。
在技术方案1、5或8中任一项所述的光拾取装置中，技术方案18的光拾取装置的特征在于，上述衍射光栅被分为偶数的区域部。
采用上述构造，形成于介质的光点形成为高精度的光点。由于衍射光栅被分割为例如一个区域部和另一个区域部偶数的区域部，因此，在衍射光栅装备于光拾取装置时，照在衍射光栅上的光易于以大致二等分的状态照在衍射光栅的一个区域部和衍射光栅的另一个区域部。通过光易于以大致二等分的状态照在衍射光栅的一个区域部和衍射光栅的另一个区域部，衍射光栅易于高精度地装备于光拾取装置。因而，易于在介质中高精度地形成光点。随之，提高了两种以上的介质在记录、再现时的错误信号检测精度。
在技术方案1、5或8中任一项所述的光拾取装置中，技术方案19的光拾取装置的特征在于，上述衍射光栅被分为第1区域部、第2区域部、第3区域部和第4区域部这至少四个区域部。
采用上述构造，易于良好地进行光拾取装置对介质的错误信号检测。例如，易于良好地进行光拾取装置对介质的跟踪。通过衍射光栅被分为四个区域部，向介质照射各自独立的至少三个光点。由于向介质各自独立地照射至少三个光点，因此，在两种以上介质的记录、再现时，易于避免跟踪错误信号等错误信号的检测精度降低。
在技术方案1、5或8中任一项所述的光拾取装置中，技术方案20的光拾取装置的特征在于，还包括能够射出多种波长光的发光元件。
采用上述构造，能够随着削减光拾取装置的零件件数来谋求降低价格。由于发光元件构成为能够射出第1波长光和作为与第1波长光的波长不同的第2波长光这两种以上波长光的、射出多种波长光的发光元件，因此，光拾取装置能够应对多种介质。另外，与此同时，由于能够射出第1波长光的发光元件与能够射出第2波长光的发光元件合为一个发光元件，因此，能谋求削减光拾取装置的零件。随着光拾取装置的零件削减化而将光拾取装置的价格抑制得较低。因而，能够提供实现了零件削减化、价格降低化的光拾取装置。
在技术方案1、5或8中任一项所述的光拾取装置中，技术方案21的光拾取装置的特征在于，上述第1波长光的波长为大致765nm～830nm，上述第2波长光的波长为大致630nm～685nm。
采用上述构造，能大体上防止作为大致765nm～830nm的波长光的第1波长光透过衍射光栅时产生无用的光。另外，能大体上防止作为大致630nm～685nm的波长光的第2波长光透过衍射光栅时产生无用的光。通过规定波长光的第1波长光透过应对第2波长光的衍射光栅的衍射面部而大体上不会产生无用的光地被分出的、规定波长光的第1波长光的第1副光束照射在变化了距光检测器的第1主受光部的距离后的第1副受光部上。另外，通过规定波长光的第1波长光透过应对第2波长光的衍射光栅的衍射面部而大体上不会产生无用的光地被分出的、规定波长光的第1波长光的第1主光束照射在光检测器的第1主受光部上。另外，在规定波长光的第2波长光透过应对第2波长光的衍射光栅的衍射面部时，规定波长光的第2波长光不会产生无用的光地至少被分为第2主光束和第2副光束。规定波长光的第2波长光的第2副光束照射在光检测器的第2副受光部上，规定波长光的第2波长光的第2主光束照射在光检测器的第2主受光部上。
在技术方案1、5或8中任一项所述的光拾取装置中，技术方案22的光拾取装置的特征在于，上述第1波长光的波长为大致630nm～685nm，上述第2波长光的波长为大致340nm～450nm。
采用上述构造，能大体上防止作为大致630nm～685nm的波长光的第1波长光透过衍射光栅时产生无用的光。另外，能大体上防止作为大致340nm～450nm的波长光的第2波长光透过衍射光栅时产生无用的光。通过规定波长光的第1波长光透过应对第2波长光的衍射光栅的衍射面部而大体上不会产生无用的光地被分出的、规定波长光的第1波长光的第1副光束照射在变化了距光检测器的第1主受光部的距离后的第1副受光部。另外，通过规定波长光的第1波长光透过应对第2波长光的衍射光栅的衍射面部而大体上不会产生无用的光地被分出的、规定波长光的第1波长光的第1主光束照射在光检测器的第1主受光部。另外，在规定波长光的第2波长光透过应对第2波长光的衍射光栅的衍射面部时，规定波长光的第2波长光不会产生无用的光地至少被分为第2主光束和第2副光束。规定波长光的第2波长光的第2副光束照射在光检测器的第2副受光部，规定波长光的第2波长光的第2主光束照射在光检测器的第2主受光部。
在技术方案1、5或8中任一项所述的光拾取装置中，技术方案23的光拾取装置的特征在于，能够应对具有多个信号面部的介质。
采用上述构造，能良好地进行光拾取装置对具有多个信号面部的介质的信号、信息的读取及/或光拾取装置对具有多个信号面部的介质的信号、信息写入。由于能构成抑制了产生无用的光的光拾取装置，因此，在利用光拾取装置读取具有多个信号面的介质的信号、信息等时、或向具有多个信号面部的介质中写入信号、信息等时，例如能避免产生不良。
技术方案24的光拾取装置的特征在于，包括：激光单元，其在同一个面上配置有发出第1激光的第1光源、和发出波长比该第1激光的波长更短的第2激光的第2光源；衍射光栅，其具有与上述第2激光的波长相对应的光栅间隔，使上述第1激光或上述第2激光衍射而产生主光束和2个副光束；聚光光学系统，其会聚上述主光束和上述2个副光束，在光盘的光道上大致一列地照射与上述主光束相对应的主光点、和与上述2个副光束相对应的2个副光点；光检测器，配设有第1主受光部及两个第1副受光部、第2主受光部及第2副受光部，在基于上述第1激光的上述主光点和上述2个副光点照射于上述光盘之后，该第1主受光部接受自上述光盘反射的、与上述主光点相对应的反射光点，这两个第1副受光部接受自上述光盘反射的、分别与上述2个副光点相对应的反射光点，在基于上述第2激光的上述主光点和上述2个副光点照射于上述光盘之后，该第2主受光部接受自上述光盘反射的、与上述主光点相对应的反射光点，该第2副受光部接受自上述光盘反射的、分别与上述2个副光点相对应的两个反射光点；上述第1主受光部与上述第1副受光部之间的间隔以及上述第2主受光部与上述第2副受光部之间的间隔根据上述主光点的第1照射点与上述副光点的第2照射点之间的距离来设定，该上述主光点的第1照射点与表示上述第1或上述第2光源在与上述衍射光栅的面相对的上述激光单元的面上的位置的第1发光点相对应，该上述副光点的第2照射点根据从上述第1发光点到上述衍射光栅的面之间的法线距离、和上述衍射光栅的衍射角来决定且与表示上述第1或上述第2光源在上述激光单元的面上的外观上的位置的第2发光点相对应。
采用上述构造，能提供与波长不同的2种激光相对应地抑制无用的衍射光而提高错误信号检测进度的光拾取装置。
技术方案25的光盘装置至少包括技术方案1、5、8或24中任一项所述的光拾取装置。
采用上述构造，能构成至少包括抑制了产生无用的光的光拾取装置的光盘装置。
采用本发明，能够构成抑制了产生无用的光的光拾取装置。
另外，采用本发明，能够易于利用设定变化后的光检测器高精度地检测第1主光束和第1副光束。
另外，采用本发明，能够提供与波长不同的2种激光相对应地抑制无用的衍射光而提高错误信号检测精度的光拾取装置。
另外，采用本发明，能够构成至少包括抑制了产生无用的光的光拾取装置的光盘装置。
附图说明
图1是本发明的一个实施方式的光拾取装置的光学配置图。
图2是本发明的一个实施方式的光拾取装置的说明图。
图3是用于说明本发明的一个实施方式的衍射光栅的图。
图4是用于说明本发明的一个实施方式的直线方式中的光盘上的聚光点配置和跟踪错误信号检测系统的概要的图。
图5是用于说明本发明的一个实施方式的光检测器的受光区域的图。
图6是用于说明本发明的一个实施方式的光检测器的受光区域中的各受光部间隔的导出方法的图。
图7是表示装备于光拾取装置的衍射光栅的第一实施方式的概略俯视图。
图8是表示图7中的衍射光栅的光盘半径方向与相位差的关系的图。
图9是表示装备于光拾取装置的衍射光栅的第二实施方式的概略图。
图10是表示装备于光拾取装置的衍射光栅的第三实施方式的概略俯视图。
图11是表示图10中的衍射光栅的光盘半径方向与相位差的关系的图。
图12是表示装备于光拾取装置的衍射光栅的第四实施方式的概略俯视图。
图13是表示图12中的衍射光栅的光盘半径方向与相位差的关系的图。
图14是表示光拾取装置的视场特性的说明图。
图15是表示光拾取装置的副推挽信号振幅级别特性的说明图。
图16是表示光拾取装置的跟踪错误相位差特性的说明图。
图17是表示以往的光拾取装置的光学系统的图。
图18是用于说明3光束方式的图。
图19是用于说明直线方式的图。
图20是用于说明以往的2波长应对衍射光栅的图。
图21是用于说明以往的另一2波长应对衍射光栅的图。
附图标记说明
20、340、DVD用衍射光栅(衍射光栅)；20a、30a、40a、衍射面部(面部)；21、22、341、342、半平面(区域部)；21w、22w、31w、32w、33w、40w、41w、44w、宽度；26、35、37、45、46、47、分界线部(分界部)；30m、40m、中央部；31、41、第一区域部(区域部)；32、42、第二区域部(区域部)；33、43、第三区域部(区域部)；42w、43w、分割部宽度(宽度)；44、第四区域部(区域部)；48、一个区域部；49、另一区域部；50、360、361、362、光学玻璃板(玻璃基板)；50a、平面部；61、激光单元(发光元件)；61a、发光面；62、第1光源(光源)；63、第2光源(光源)；64A、64B、64C、64D、衍射光栅；65i、耦合透镜；65ii、受光元件；66、230、偏振光分束器；67、240、准直透镜；68、1/4波长板；69、反射镜；70、250、物镜；70a、光瞳面部；70b、光的直径(直径)；71、第1平行平板(平行平板)；72、第2平行平板(平行平板)；73、270、光检测器；74、75、280、290、受光区域；74a、75a、主受光部(受光部)；74b、74c、75b、75c、副受光部(受光部)；76、运算部；77、510、加法器；78、400、500a、500b、500c、530、减法器；79、物镜驱动部(驱动部)；80、100、主光点(光点)；81、82、101、102、副光点(光点)；90i、90ii、200、主检测光点；91i、91ii、92i、92ii、201、202、副检测光点；200a、200b、200c、受光面(受光部)；210、半导体激光元件；260、检测透镜；300A、300B、2波长应对衍射光栅(衍射光栅)；302、第1衍射面部(衍射面部)；304、第2衍射面部(衍射面部)；320、CD用衍射光栅(衍射光栅)；D、光盘(介质)；D80、D100、光道；Da、信号层(信号面部)；DL0、第1层(层)；DL1、第2层(层)；Dtp、光道间距(周期)；d、光栅间距；L、法线距离；N、法线；O、X、发光点；O(cd)、X(cd)、O(dvd)、X(dvd)、照射点；S、面；S11、凹部；S12、凸部；S21、凹面；S22、凸面；Si、底面；Sii、外表面；Siii、Siv、侧面；Sa1、Sb1、Sc1、Sa2、Sb2、Sc2、推挽信号；Yr、距离；Ys、Ys(cd)、Ys(dvd)、Yt(cd)、Yt(dvd)、间隔(距离)；θ、衍射角；δ、间隔。
具体实施方式
下面，根据附图详细说明本发明的光拾取装置及包括该装置的光盘装置的实施方式。
实施例1
光拾取装置的光学系统
图1是本发明的一个实施方式的光拾取装置的光学配置图，图2是本发明的一个实施方式的光拾取装置的说明图。
另外，该光拾取装置应对CD标准(CD-ROM、CD-R、CD-RW等)或者DVD标准(DVD-ROM、DVD-RAM(Version1、2.0、2.1)、DVD-R、DVD+R、DVD-RW、DVD+RW等)的光盘D等介质D。介质是指记录并传播信息、或记录并传递信息的设备。例如，这里的介质是指保存有数据、信息、信号等的磁盘等。
作为磁盘，可列举上述各种光盘。作为磁盘，例如还可列举在磁盘两面设有信号面且能够写入、消除数据、更新数据的光盘D等。另外，作为磁盘，例如还可列举设有两层信号面、能够写入、消除数据、更新数据的光盘D等。另外，作为磁盘，例如还可列举设有三层信号面、能够写入、消除数据、更新数据的“HD DVD”用光盘(未图示)等。另外，作为磁盘，例如还可列举设有四层信号面、能够写入、消除数据、更新数据的“Blu-ray Disc”用光盘(未图示)等。另外，例如还可列举能够对磁盘的标签面侧也照射激光而对标签等进行各种写入的光盘D等。光盘D的信号层Da例如由金属薄膜等的金属层等形成。在由金属薄膜等形成的信号层Da中记录有信息、数据等。
包括光拾取装置的光盘装置例如能够应对上述各种磁盘。使用包括光拾取装置的光盘装置对记录于各种光盘的信息等数据进行再现。另外，使用包括光拾取装置的光盘装置在各种光盘中记录信息等数据。
该光拾取装置中的光盘D的聚光点聚焦检测法例如为基于差动像散法的检测法。如上所述，差动像散法是例如通过对由带有像散的光学系统成像的点像应变进行检测来检测聚光点的移位的方法。该光拾取装置是包括基于差动像散法的光学系统的光拾取装置。
另外，该光拾取装置中的光盘D的聚光点跟踪检测法例如为基于差动推挽法、相位差法的检测法。如上所述，差动推挽法是例如利用数据读写用的主光束、和用于检测错位的校正信号的2个副光束来检测聚光点的移位的方法。相位差法是基于例如由四分割型光检测器73检测的相位差信号的检测法。
激光单元61是在同一个发光面61a上具有发出适合CD标准的红外波长频带大致765nm～830nm的第1波长(例如782nm)的第1激光的第1光源62、及发出适合DVD标准的红色波长频带大致630nm～685nm的第2波长(例如655nm)的第2激光的第2光源63的多头激光单元。激光单元61构成为能够射出第1激光和作为与第1激光波长不同、且波长比第1激光更短的激光的第2激光这2种波长的激光的、例如两波长发光元件61。这样，激光单元61是能够射出多种波长的激光的发光元件61。另外，第1光源62、第2光源63构成半导体激光元件。
自构成激光单元61的第1光源62及/或第2光源63射出例如0.2～500mW(毫瓦)、具体地讲为2～400mW的输出值的激光。在例如小于0.2mW的输出值的激光的情况下，照射于光盘D之后反射而到达光检测器73的激光的光量不足。在使光盘D的各数据等再现时，例如2～20mW左右的几～几十mW的输出值的激光就足够。在向光盘D中写入各数据等时，需要几十～几百mW的输出值的激光。例如向光盘D中高速地写入各数据等时，有时需要400mW、500mW等的较高输出值的脉冲激光。
激光单元61构成为例如散热性优良的大致圆筒状或大致圆柱状的CAN封装型的激光二极管。根据光拾取装置的设计、规格等，也可以替代CAN封装型的激光单元61，例如使用能够应对薄型化、小型化等的大致板状的引线框封装型的激光二极管(未图示)。
分别自第1光源62及第2光源63射出的第1激光及第2激光在为了利用衍射光栅64A产生由主光束(0级光)和2个副光束(±1级衍射光束)构成的至少合计3个光束而衍射之后，例如利用耦合透镜65i调整其扩张角而被平板型的偏振光束分束器66的偏振光滤光面反射。
被偏振光束分束器66反射的激光在利用作为光学透镜的准直透镜67形成为平行光之后，通过1/4波长板68变换为圆偏振光，进而利用反射镜69弯折其光轴而入射到作为光学透镜的物镜70，利用物镜70集束而照射到光盘D。
另外，为了应对具有第1层DL0(图2)和第2层DL1这些多个层DL0、DL1的光盘D，物镜70以能够大致沿着物镜70的光轴方向(P轴方向)移动的状态装备于光拾取装置。通过物镜70以能够大致沿着物镜70的光轴方向(P轴方向)移动的状态装备于光拾取装置，构成能够应对具有多个信号层Da的光盘D的光拾取装置。另外，物镜70为了正确地追随光盘D的信号层Da的光道等，以能够大致沿着磁盘半径方向(R轴方向)移动的状态装备于光拾取装置。
为了能够根据光拾取装置的设计、规格等来应对具有第1层DL0(图2)和第2层DL1这多个层DL0、DL1的光盘D，准直透镜67以能够大致沿着准直透镜67的光轴方向移动的状态装备于光拾取装置。通过准直透镜67以能够大致沿着准直透镜67的光轴方向移动的状态装备于光拾取装置，构成能够更可靠地应对具有多个信号层Da的光盘D的光拾取装置。
如上所述，耦合透镜65i、偏振光束分束器66、准直透镜67、1/4波长板68、反射镜69、物镜70成为聚光光学系统的一个例子。衍射光栅64A将被衍射光栅64A分支的主光束和2个副光束会聚，在光盘D的光道上，与细长的光道大致平行或倾斜地大致一列地照射与主光束相对应的主光点和与2个副光束相对应的2个副光点。
另外，根据光拾取装置的设计、规格等，例如也可以不装备耦合透镜65i而将其省略。另外，在图1中，表示了1/4波长板68位于准直透镜67与反射镜69之间的光拾取装置的光学配置例子，但根据光拾取装置的设计、规格等，例如也可以使用在准直透镜67与反射镜69之间不装备1/4波长板68、而使1/4波长板68位于偏振光束分束器66与准直透镜67之间的光拾取装置。
另外，在能够向光盘D中记录信号的光拾取装置中，为了监控自激光单元61射出的激光且控制激光单元61而实施反馈的受光元件65ii例如装备在偏振光束分束器66的周围附近。
物镜70设计成，例如使适合各种光盘D的波长的各激光符合各自的光学特性地衍射的衍射光栅(未图示)以光轴为中心地呈环状地形成在入射面，被该衍射光栅衍射分支后的3个光束对各光盘D校正球面像差而带有聚光作用。于是，通过沿调焦方向(图1中所示的P轴方向)及跟踪方向(图1中所示的作为与表示光道的形成方向的Q轴正交的方向、且与P轴正交的方向的R方向)驱动物镜70，从而使激光从物镜70照射到光盘D上，以使激光对焦于光盘D的信号层Da，并且，激光追随光盘D的规定光道。
被光盘D的信号层Da调制而反射后的激光返回到物镜70，经由去路和作为直到中间都大致相同的光路的回路而到达偏振光束分束器66。在向光盘D的信号层Da照射例如右回转的激光时，反射的激光成为例如翻转为左回转的激光的状态的圆偏振光。在向光盘D的去路中为S偏振光的激光在回路中成为P偏振光的激光而从1/4波长板68射出，P偏振光的激光入射到偏振光束分束器66。
回路的P偏振光的激光大致透过偏振光束分束器66。返回到偏振光束分束器66的激光透过例如为了校正透过偏振光束分束器66时的像散而倾斜地配置的第1平行平板71。另外，通过透过第1平行平板71的激光透过倾斜地配置的第2平行平板72，从而付与作为例如照射于光盘D的激光的调焦错误成分的像散、且校正了由偏振光束分束器66及第1平行平板71产生的帧像差，在此基础之上，向光检测器73引导激光。结果，光检测器73基于由第2平行平板72引导的激光，生成跟踪错误信号、调焦错误信号等。
光检测器73用于接受自光盘D反射的激光，将该信号变为跟踪错误信号、调焦错误信号等电信号，使带有构成光拾取装置的物镜70的透镜保持架(未图示)等伺服机构(未图示)动作。伺服是指例如测定控制对象的状态后与预先决定的基准值相比较而自动地将其修正控制的机构等。另外，光检测器73用于接受自光盘D反射的激光，将该信号变为电信号，检测记录于光盘D的信息。
衍射光栅64A和光检测器73
下面，利用图3、图4说明衍射光栅64A及光检测器73。
图3是用于说明本发明的一个实施方式的衍射光栅的图，图4是用于说明本发明的一个实施方式的直线方式中的光盘上的聚光点配置和跟踪错误信号检测系统的概要的图。
本实施方式的光拾取装置对应CD标准及DVD标准中的任一种光盘D。衍射光栅64A(图3)是与DVD用衍射光栅20大致相同结构的、廉价的应对直线方式的衍射光栅64A。衍射光栅64A不使用应对3光束方式的CD用衍射光栅，而仅由应对直线方式的DVD用衍射光栅20构成。本申请中的衍射光栅是指例如形成有使光衍射的衍射面部的构件，例如称作直线光栅(inlinegrating)等。另外，本申请中图示的衍射光栅等为了易于理解各详细部分而简便地描绘。
在以往的包括CD用衍射光栅320(图20、图21)及DVD用衍射光栅340这两者的2波长应对衍射光栅300A、300B中，依据CD标准的第1激光或依据DVD标准的第2激光通过CD用衍射光栅320及DVD用衍射光栅340这两者，结果，出现产生无用的衍射光的问题。为了解除产生这样的无用的衍射光，衍射光栅64A(图3)做成仅是DVD用衍射光栅20的构造。
具体地讲，如图3的左侧所示，衍射光栅64A是形成于一个半平面21的光栅槽的周期构造的相位相对于形成于另一个半平面22的光栅槽的周期构造的相位错位约180度的DVD用衍射光栅构件20。另外，衍射光栅64A的光学配置依据直线方式，如图4所示地调整为，使基于照射在光盘D上的第1或第2激光的主光束的主光点80、以及基于第1或第2激光的副光束的副光点81、82以大致平行或倾斜的状态大致一列地照射在同一个光道D80上。
通过采用仅是以上那样的DVD用衍射光栅20的衍射光栅64A的构造及其光学配置，如上所述，抑制了无用的衍射光，并且，能够基于直线方式适当地检测跟踪错误信号。具体地说明，如图4所示，在依据DVD标准的第2激光的情况下，如下地检测跟踪错误信号。
在形成应对DVD标准的主检测光点80的DVD用主光束自光盘D的信号层Da反射而作为主检测光点90ii照射于光检测器73的DVD受光区域75中的主受光部75a时，连接于主受光部75a的未图示的减法器计算来自主受光部75a的输出信号的差分，例如生成为主推挽信号Sa2。
另外，在形成应对DVD标准的第1副检测光点81的DVD用第1副光束自光盘D的信号层Da反射而作为第1副检测光点91ii照射于光检测器73的DVD受光区域75中的第1副受光部75b时，连接于第1副受光部75b的未图示的减法器计算来自第1副受光部75b的输出信号的差分，例如生成为先行副推挽信号Sb2。
另外，在形成应对DVD标准的第2副检测光点82的DVD用第2副光束自光盘D的信号层Da反射而作为第2副检测光点92ii照射于光检测器73的DVD受光区域75中的第2副受光部75c时，连接于第2副受光部75c的未图示的减法器计算来自第2副受光部75c的输出信号的差分，例如生成为滞后副推挽信号Sc2。
由与主检测光点80相对应的主检测光点90ii检测出的推挽信号Sa2、和由分别与副光点81、82相对应的副检测光点91ii、92ii检测出的推挽信号Sb2、Sc2互相以反相位输出。之后，由加法器77将推挽信号Sb2、Sc2相加，利用减法器78将该相加后的信号相对于推挽信号Sa2进行减法处理，从而能够生成推挽信号Sa2、Sb2、Sc2的各偏离成分相抵而成的高精度的跟踪错误信号。
另一方面，在依据CD标准的第1激光的情况下，也能如下地检测跟踪错误信号。
在形成应对CD标准的主检测光点80的CD用主光束自光盘D的信号层Da反射而作为主检测光点90i照射于光检测器73的CD受光区域74中的主受光部74a时，连接于主受光部74a的未图示的减法器计算来自主受光部74a的输出信号的差分，例如生成为主推挽信号Sa1。
另外，在形成应对CD标准的第1副检测光点81的CD用第1副光束自光盘D的信号层Da反射而作为第1副检测光点91i照射于光检测器73的CD受光区域74中的第1副受光部74b时，连接于第1副受光部74b的未图示的减法器计算来自第1副受光部74b的输出信号的差分，例如生成为先行副推挽信号Sb1。
另外，在形成应对CD标准的第2副检测光点82的CD用第2副光束自光盘D的信号层Da反射而作为第2副检测光点92i照射于光检测器73的CD受光区域74中的第2副受光部74c时，连接于第2副受光部74c的未图示的减法器计算来自第2副受光部74c的输出信号的差分，例如生成为滞后副推挽信号Sc1。
由与主检测光点80相对应的主检测光点90i检测出的推挽信号Sa1、和由分别与副光点81、82相对应的副检测光点91i、92i检测出的推挽信号Sb1、Sc1互相以反相位输出。之后，利用减法器78，能够生成推挽信号Sa1、Sb1、Sc1的各偏离成分相抵而成的跟踪错误信号。
由光检测器73生成的信号被输送到运算部76而进行计算，由运算部76生成的信号被输送到物镜驱动部79。通过电信号流入到物镜驱动部79，使物镜70运动。由运算部76生成的跟踪误差信号被输送到物镜驱动部79，能自动地调整物镜70相对于光盘D的光道D80的跟踪。
但是，衍射光栅64A例如仅是应对依据DVD标准的第2激光的第2波长的DVD用衍射光栅构件20的构造，不应对依据CD标准的第1激光的第1波长。因此，依据CD标准的第1激光被衍射光栅64A衍射分支而成的主检测光点90i与副检测光点91i、92i的间隔(以下称作主-副间距)成为与衍射光栅64A所对应的波长成反比的长度，因此，与利用原本应该使用的CD用衍射光栅衍射分支的情况下的主-副间距相比有所扩大。另外，作为主-副间距扩大的结果，导致主检测光点90i与副检测光点91i、92i的分光比也发生变化。
因此，在光检测器73中，需要与基于各自激光的主-副间距相符合地适当地设定接受主检测光点90ii的第2主受光部75a与接受一副检测光点91ii的一第2副受光部75b及接受另一副检测光点92ii的另一第2副受光部75c之间的受光间隔Ys(dvd)、和接受主检测光点90i的第1主受光部74a与接受一副检测光点91i的一第1副受光部74b及接受另一副检测光点92i的另一第1副受光部74c之间的受光间隔Ys(cd)。
光检测器73的受光区域74、75
下面，利用图5、图6说明光检测器73的受光区域74、75。
图5是用于说明本发明的一个实施方式的光检测器的受光区域的图，图6是用于说明本发明的一个实施方式的光检测器的受光区域中的各受光部间隔的导出方法的图。
在光检测器73的同一个受光面中，用于DVD标准的光盘D的记录再现的DVD受光区域75、与用于CD标准的光盘D的记录再现的CD受光区域74并列地形成。
在DVD受光区域75中，与利用衍射光栅64A使依据DVD标准的第2激光衍射分支而成的3个光束、具体地讲是与主光束(0级光)和配置在该主光束的前后的2个副光束(±1级衍射光束)分别相对应地形成有第2主受光部75a和第2副受光部75b、75c。本申请中的“前”、“后”的定义是为了方便起见的定义。第2主受光部75a、第2副受光部75b、75c分别被四分割而由4个分块构成。通过对由构成第2主受光部75a、第2副受光部75b及第2副受光部75c的各分块获得的各受光输出实施规定的运算，从而在再现DVD标准的光盘D的记录时，能获得主信息信号、调焦错误信号及跟踪错误信号。另外，第2主受光部75a、第2副受光部75b、75c并不限定为四分割，例如也可以是二分割。
在CD受光区域74中，与利用衍射光栅64A使依据CD标准的第1激光衍射分支而成的3个光束、具体地讲是与主光束(0级光)和配置在该主光束的前后的2个副光束(±1级衍射光束)分别相对应地形成有第1主受光部74a和2个第1副受光部74b、74c。第1主受光部74a、第1副受光部74b、74c分别被四分割而由4个分块构成。通过对由构成第1主受光部74a、第1副受光部74b、74c的各分块获得的各受光输出实施规定的计算，在再现CD标准的光盘D的记录时，能获得主信息信号、调焦错误信号及跟踪错误信号。另外，第1主受光部74a、第1副受光部74b、74c并不限定为四分割，例如也可以是二分割。
DVD受光区域75中的第2主受光部75a与第2副受光部75b、75c之间的受光间隔Ys(dvd)、和CD受光区域74中的第1主受光部74a与第1副受光部74b、74c之间的受光间隔Ys(cd)如下地导出。
首先，根据自激光单元61的第1或第2光源62、63射出的第1或第2激光的波长λ、和以在衍射光栅64A中连续的从凹部S11到凸部S12或者从凸部S12到凹部S11为一个周期的光栅间隔d，利用基于下式(1)的布拉格角条件的近似计算式求得衍射角θ(参照图6)。另外，衍射间隔d例如为几μm～几百μm左右。
θ＝Sin-1(λ/d)...(1)
另外，凹部S11包括底面Si和与底面Si大致正交的两侧面Siii、Siv而构成。另外，构成凹部S11的凹面S21也包括底面Si和与底面Si大致正交的两侧面Siii、Siv而构成。另外，凸部S12包括与底面Si大致平行的外表面Sii、和与底面Si及外表面Sii大致正交的两侧面Siii、Siv而构成。另外，构成凸部S12的凸面S22也包括与底面Si大致平行的外表面Sii、和与底面Si及外表面Sii大致正交的两侧面Siii、Siv而构成。另外，衍射角θ是指衍射光与构成衍射光栅64A的大致平滑面S的里侧的衍射面部20a的凹面S21的底面Si、凸面S22的外表面Sii的法线N所成的角度。另外，图6所示的说明图是为了容易地说明而简便地描绘的图，实际上，假想的发光点X以法线N为中心轴而大致对称地设定为一对的程度。
接着，根据从表示激光单元61的发光面61a所包含的第1或第2光源62、63的现实位置的第1发光点O到衍射光栅64A的大致平滑面S的里侧的构成凹面S21的底面Si、构成凸面S22的外表面Sii之间的法线距离L、和由上式(1)求得的衍射角θ，能够决定表示第1或第2光源62、63在激光单元61的发光面61a上的与副光束相关的外观上的位置的第2发光点X。另外，激光单元61的发光面61a与衍射光栅64A的大致平滑面S的法线N垂直，成为位于距面S里侧的构成凹面S21的底面Si、构成凸面S22的外表面Sii分离大致法线距离L的位置。于是，利用下式(2)，求得激光单元61的发光面61a上的从第1发光点O到第2发光点X之间的距离Yr(参照图6)。
Yr＝L×tan(θ)    ...(2)
在此，对光盘D的信号层Da上的主光点的第1照射点O’(未图示)、和与假想地自第2发光点X发出的第1或第2激光相对应的、光盘D的信号层Da上的副光点的第2照射点X’(未图示)简单地进行说明。
例如，根据准直透镜67的焦点距离f2(未图示)和物镜70的焦点距离f1(未图示)，求得与假想地自第1发光点O发出的第1或第2激光相对应的、光盘D的信号层Da上的主光点的第1照射点O’(未图示)、和与假想地自第2发光点X发出的第1或第2激光相对应的、光盘D的信号层Da上的副光点的第2照射点X’(未图示)。于是，根据从发光点O到发光点X的距离Yr、准直透镜67的焦点距离f2和物镜70的焦点距离f1，例如利用下式(3)求得光盘D的信号层Da上的第1照射点O’与第2照射点X’之间的距离Ys’(未图示)。
Ys’＝Yr×f1/f2    ...(3)
整理以上内容，在将第1或第2激光的波长设为例如λ、衍射光栅64A的衍射间隔设为d、从激光单元61的发光面61a到衍射光栅64A的面S的里侧的构成凹面S21的底面Si、构成凸面S22的外表面Sii之间的法线距离设为L、物镜70的焦点距离设为f1、准直透镜67的焦点距离设为f2时，根据下式(4)求得光盘D的信号层Da上的第1照射点O’与第2照射点X’之间的距离Ys’。另外，距离Ys’表示第1或第2激光利用衍射光栅64A衍射分支的情况下在光盘D的信号层Da上的各主-副间距。
Ys’＝L×tan{sin-1(λ/d)}×f1/f2    ...(4)
照射于光盘D的信号层Da的第1或第2激光的主光束及2个副光束被光盘D的信号层Da反射而最终照射于光检测器73。
接着，继续说明光检测器73中的第1主受光部74a与第1副受光部74b、74c之间的受光间隔Ys(cd)、以及第2主受光部75a与第2副受光部75b、75c之间的受光间隔Ys(dvd)的设定方法。
根据上式(1)及式(2)求得下式(5)。
Yr＝L×tan{sin-1(λ/d)}    ...(5)
在此，为了将激光单元61的发光面61a中的DVD用发光点O、X和与DVD用反射光相对应的光检测器73的受光面中的DVD用照射点O(dvd)、X(dvd)配置在例如在光学上等效的位置，假定与DVD用出射光相对应的假想的光源间隔Yr(dvd)和与DVD用反射光相对应的实际的受光间隔Ys(dvd)大致相等。
例如假定下式(6)。
Figure GPA00001026399800391
接着，根据式(5)及式(6)例如设定下式(7)。
Ys(dvd)＝L×tan{sin-1(λ(dvd)/d)}    ...(7)
在DVD标准的波长(第2波长)λ(dvd)例如为大致660nm的情况下，将660代入式(7)的λ(dvd)中时，求得下式(8)。
Ys(dvd)＝L×tan{sin-1(660/d)}    ...(8)
通过将预先决定的法线距离L的数值和预先决定的光栅间隔d的数值代入式(8)中，求得光检测器73的DVD受光区域75中的受光间隔Ys(dvd)。
为了将激光单元61的发光面61a中的CD用发光点O、X和与CD用反射光相对应的光检测器73的受光面中的CD用照射点O(cd)、X(cd)配置在例如在光学上等效的位置，假定与CD用出射光相对应的假想的光源间隔Yr(cd)和与CD用反射光相对应的实际的受光间隔Ys(cd)大致相等。
例如假定下式(9)。
Figure GPA00001026399800401
接着，根据式(5)及式(9)例如设定下式(10)。
Ys(cd)＝L×tan{sin-1(λ(cd)/d)}    ...(10)
在CD标准的波长(第1波长)λ(cd)例如为大致785nm的情况下，将785代入式(10)的λ(cd)中时，求得下式(11)。
Ys(cd)＝L×tan{sin-1(785/d)}    ...(11)
通过将预先决定的法线距离L的数值和预先决定的光栅间隔d的数值代入式(11)中，求得光检测器73的CD受光区域74中的受光间隔Ys(cd)。
这样地决定光检测器73的DVD受光区域75中的受光间隔Ys(dvd)、和光检测器73的CD受光区域74中的受光间隔Ys(cd)。
由于预先决定的法线距离L的数值与预先决定的光栅间隔d的数值均为恒定值，因此，将根据式(8)导出的与DVD用反射光相对应的实际的受光间隔Ys(dvd)、和根据式(11)导出的与CD用反射光相对应的实际的受光间隔Ys(cd)相比较，受光间隔Ys(cd)明显长于受光间隔Ys(dvd)。
这样，根据由式(11)求得的距离Ys(cd)来设定光检测器73中的第1主受光部74a和第1副受光部74b、74c之间的受光间隔Ys(cd)。另外，根据由式(8)求得的距离Ys(dvd)来设定光检测器73中的第2主受光部75a和第2副受光部75b、75c之间的受光间隔Ys(dvd)。
具体地讲，将第1主受光部74a的4个分块的中心、与第1副受光部74b、74c的4个分块的中心之间的距离Ys(cd)设定为由式(11)求得的距离Ys(cd)。另外，将第2主受光部75a的4个分块的中心、与第2副受光部75b、75c的4个分块的中心之间的距离Ys(dvd)设定为由式(8)求得的距离Ys(dvd)。由此，光检测器73能够适当地应对利用衍射光栅64A使第1或第2激光衍射分支的情况下的各主-副间距。
照射于光检测器73的各光点90i、91i、92i/90ii、91ii、92ii 的分光比、光检测器73的受光灵敏度
下面，利用图4说明例如作为各光点90i、91i、92i/90ii、91ii、92ii的光的强度比的分光比等。
首先，对照射于光检测器73的DVD受光区域75的光的强度、分光比等进行说明。
例如，与基于DVD标准的光盘D的光道D80上的先行副光点81相对应的副检测光点91ii、与基于DVD标准的光盘D的光道D80上的主光点80相对应的主检测光点90ii、和与基于DVD标准的光盘D的光道D80上的滞后副光点82相对应的副检测光点92ii的分光比大致为1∶15∶1。
这种情况下的副检测光点91ii或92ii中的光的强度为照射于光检测器73的DVD受光区域75的光的整体强度的大致1/17。另外，这种情况下的主检测光点90ii中的光的强度为照射于光检测器73的DVD受光区域75的光的整体强度的大致15/17。
照射于图4所示的直线方式的光检测器73的DVD受光区域75的激光的分光比与照射于图19所示的直线方式的DVD用光检测器270的激光的分光比大致相同。
例如，与基于DVD标准的光盘D的光道D100上的先行副光点101相对应的副检测光点201、与基于DVD标准的光盘D的光道D 100上的主光点100相对应的主检测光点200、和与基于DVD标准的光盘D的光道D100上的滞后副光点102相对应的副检测光点202的分光比大致为1∶15∶1。
这种情况下的副检测光点201或202中的光的强度为照射于光检测器270的光的整体强度的大致1/17。另外，这种情况下的主检测光点200中的光的强度为照射于光检测器270的光的整体强度的大致15/17。
接着，对照射于图4所示的光检测器73的CD受光区域74的光的强度、分光比等进行说明。
例如，与基于CD标准的光盘D的光道D80上的先行副光点81相对应的副检测光点91i、与基于CD标准的光盘D的光道D80上的主光点80相对应的主检测光点90i、和与基于CD标准的光盘D的光道D80上的滞后副光点82相对应的副检测光点92i的分光比大致为1∶23∶1。
这种情况下的副检测光点91i或92i中的光的强度为照射于光检测器73的CD受光区域74的光的整体强度的大致1/25。另外，这种情况下的主检测光点90i中的光的强度为照射于光检测器73的CD受光区域74的光的整体强度的大致23/25。
照射于图4所示的直线方式的光检测器73的CD受光区域74的激光的分光比与照射于图18所示的3光束方式的CD用光检测器270的激光的分光比不同。
例如，与基于CD标准的光盘D的光道D100上的先行副光点101相对应的副检测光点201、与基于CD标准的光盘D的光道D100上的主光点100相对应的主检测光点200、和与基于CD标准的光盘D的光道D100上的滞后副光点102相对应的副检测光点202的分光比大致为1∶16∶1。
这种情况下的副检测光点201或202中的光的强度为照射于光检测器270的光的整体强度的大致1/18。另外，这种情况下的主检测光点200中的光的强度为照射于光检测器270的光的整体强度的大致16/18。
在构成包括后述的衍射光栅64A的光拾取装置的情况下，透过衍射光栅64A后的CD用激光照射于光检测器73的CD受光区域74时，照射于CD受光区域74的各激光的分光比相对于以往的方式发生变化；前述的衍射光栅64A不具有应对CD用激光的衍射光栅部。
相对于以往方式，随着照射于CD受光区域74的各激光的分光比发生变化，光检测器73的CD受光区域74中的主受光部74a及各副受光部74b、74c的受光灵敏度发生变化。
例如，利用下式(12)求得照射有副检测光点91i、92i的副受光部74b、74c的受光灵敏度的变化倍率。
{(1/18)/(1/25)}×100＝138.88889    ...(12)
这样，在例如将以往的方式设为100％的情况下，光检测器73的CD受光区域74中的副受光部74b或74c的受光灵敏度(mV/μW)(毫伏每微瓦)设定为以往方式的大致139％的值。
例如，利用下式(13)求得照射有主检测光点90i的主受光部74a的受光灵敏度的变化倍率。
{(16/18)/(23/25)}×100＝96.61836    ...(13)
这样，在例如将以往的方式设为100％的情况下，光检测器73的CD受光区域74中的主受光部74a的受光灵敏度(mV/μW)设定为以往方式的大致97％的值。
根据光拾取装置的设计、规格等，例如，与基于DVD标准的光盘D的光道D100上的先行副光点101相对应的副检测光点201、与基于DVD标准的光盘D的光道D100上的主光点100相对应的主检测光点200、和与基于DVD标准的光盘D的光道D100上的滞后副光点102相对应的副检测光点202的分光比也可以大致为1∶16∶1。
这种情况下的副检测光点201或202中的光的强度为照射于光检测器270的光的整体强度的大致1/18。另外，这种情况下的主检测光点200中的光的强度为照射于光检测器270的光的整体强度的大致16/18。
另外，根据光拾取装置的设计、规格等，例如，与基于CD标准的光盘D的光道D80上的先行副光点81相对应的副检测光点91i、与基于CD标准的光盘D的光道D80上的主光点80相对应的主检测光点90i、和与基于CD标准的光盘D的光道D80上的滞后副光点82相对应的副检测光点92i的分光比也可以大致为1∶23.5∶1。
这种情况下的副检测光点91i或92i中的光的强度为照射于光检测器73的CD受光区域74的光的整体强度的大致1/25.5。另外，这种情况下的主检测光点90i中的光的强度为照射于光检测器73的CD受光区域74的光的整体强度的大致23.5/25.5。
在这种情况下，例如利用下式(14)求得照射有副检测光点91i、92i的副受光部74b、74c的受光灵敏度的变化倍率。
{(1/18)/(1/25.5)}×100＝141.66667    ...(14)
这样，在例如将以往的方式设为100％的情况下，光检测器73的CD受光区域74中的副受光部74b或74c的受光灵敏度(mV/μW)设定为以往方式的大致142％的值。
在这种情况下，例如利用下式(15)求得照射有主检测光点90i的主受光部74a的受光灵敏度的变化倍率。
{(16/18)/(23.5/25.5)}×100＝96.45390    ...(15)
这样，在例如将以往的方式设为100％的情况下，光检测器73的CD受光区域74中的主受光部74a的受光灵敏度(mV/μW)设定为以往方式的大致96％的值。
另外，根据光拾取装置的设计、规格等，例如，与基于CD标准的光盘D的光道D80上的先行副光点81相对应的副检测光点91i、与基于CD标准的光盘D的光道D80上的主光点80相对应的主检测光点90i、和与基于CD标准的光盘D的光道D80上的滞后副光点82相对应的副检测光点92i的分光比也可以大致为1∶20∶1。
这种情况下的副检测光点91i或92i中的光的强度为照射于光检测器73的CD受光区域74的光的整体强度的大致1/22。另外，这种情况下的主检测光点90i中的光的强度为照射于光检测器73的CD受光区域74的光的整体强度的大致20/22。
在这种情况下，例如利用下式(16)求得照射有副检测光点91i、92i的副受光部74b、74c的受光灵敏度的变化倍率。
{(1/18)/(1/22)}×100＝122.22222    ...(16)
这样，在例如将以往的方式设为100％的情况下，光检测器73的CD受光区域74中的副受光部74b或74c的受光灵敏度(mV/μW)设定为以往方式的大致122％的值。
在这种情况下，例如利用下式(17)求得照射有主检测光点90i的主受光部74a的受光灵敏度的变化倍率。
{(16/18)/(20/22)}×100＝97.77778    ...(17)
这样，在例如将以往的方式设为100％的情况下，光检测器73的CD受光区域74中的主受光部74a的受光灵敏度(mV/μW)设定为以往方式的大致98％的值。
另外，根据光拾取装置的设计、规格等，例如，与基于CD标准的光盘D的光道D80上的先行副光点81相对应的副检测光点91i、与基于CD标准的光盘D的光道D80上的主光点80相对应的主检测光点90i、和与基于CD标准的光盘D的光道D80上的滞后副光点82相对应的副检测光点92i的分光比也可以大致为1∶26∶1。
这种情况下的副检测光点91i或92i中的光的强度为照射于光检测器73的CD受光区域74的光的整体强度的大致1/28。另外，这种情况下的主检测光点90i中的光的强度为照射于光检测器73的CD受光区域74的光的整体强度的大致26/28。
在这种情况下，例如利用下式(18)求得照射有副检测光点91i、92i的副受光部74b、74c的受光灵敏度的变化倍率。
{(1/18)/(1/28)}×100＝155.55556    ...(18)
这样，在例如将以往的方式设为100％的情况下，光检测器73的CD受光区域74中的副受光部74b或74c的受光灵敏度(mV/μW)设定为以往方式的大致156％的值。
在这种情况下，例如利用下式(19)求得照射有主检测光点90i的主受光部74a的受光灵敏度的变化倍率。
{(16/18)/(26/28)}×100＝95.72650    ...(19)
这样，在例如将以往的方式设为100％的情况下，光检测器73的CD受光区域74中的主受光部74a的受光灵敏度(mV/μW)设定为以往方式的大致96％的值。
通过构成包括上述衍射光栅64A和上述光检测器73的上述光拾取装置，光检测器73固然能够应对与利用衍射光栅64A使依据DVD标准的第2激光衍射分支而成的3个光束相关的主-副间距，也能够应对与利用衍射光栅64A使依据CD标准的第1激光衍射分支而成的3个光束相关的主-副间距以及分光比，从而能够提高跟踪错误信号等的错误信号检测精度等。
另外，由于光检测器73的DVD受光区域75中的受光间隔Ys(dvd)以DVD用衍射光栅构件20或DVD用衍射光栅64A的光栅间隔d为基准，因此，例如在DVD标准的光盘D的信号层Da为第1层DL0和第2层DL1的2层构造的情况下，能够抑制在第1层DL0再现时不仅在第2主受光部75a中、在另一个第2副受光部75b及另一个第2副受光部75c中也接受来自第2层DL1的反射光的状况于未然。
光拾取装置的总论
下面，利用图1～图8说明光拾取装置。
图7是表示装备于光拾取装置的衍射光栅的第一实施方式的概略俯视图，图8是表示图7中的衍射光栅的光盘半径方向与相位差的关系的图。
如图1及图2所示，该光拾取装置包括具有上述第1光源62及第2光源63的上述发光元件61、上述衍射光栅64A、上述偏振光束分束器66、上述准直透镜67、上述1/4波长板68、上述反射镜69、上述物镜70、上述第1平行平板71、上述第2平行平板72、上述光检测器73、上述运算部76(图2)和上述物镜驱动部79。另外，根据需要，该光拾取装置(图1、图2)还包括上述耦合透镜65i和上述受光元件65ii。
详细地说明，该光拾取装置包括衍射光栅64A和光检测器73而构成；上述衍射光栅64A至少应对第1激光波长光、和作为与第1激光波长光的波长不同的激光且作为波长比第1激光波长光短的激光的第2激光波长光，将第1激光波长光至少分为一道第1主光束和两道第1副光束，将第2激光波长光至少分为一道第2主光束和两道第2副光束，具有应对第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的衍射面部20a(图3、图6、图7)；上述光检测器73具有第1受光区域74和第2受光区域75，该第1受光区域74包括照射有一道第1主光束的一个第1主受光部74a(图4、图5)、和照射有两道第1副光束的两个第1副受光部74b、74c，该第2受光区域75包括照射有一道第2主光束的一个第2主受光部75a、和照射有两道第2副光束的两个第2副受光部75b、75c。
只要构成图1、图2等所示的光拾取装置，就能构成抑制在衍射光栅64A中产生无用的衍射光的光拾取装置。
以往的光拾取装置通常包括衍射光栅300A、300B，该衍射光栅300A、300B具有应对第1激光波长光的第1衍射面部302(图20、图21)、和应对第2激光波长光的第2衍射面部304这两个衍射面部302、304。因此，在以往的光拾取装置中，在第1激光波长光透过应对第1激光波长光的衍射光栅300A、300B的第1衍射面部302时，第1激光波长光至少被分为一道第1主光束和两道第1副光束，但在第1激光波长光透过应对第2激光波长光的衍射光栅300A、300B的第2衍射面部304时，产生无用的衍射光。
另外，在以往的光拾取装置中，在第2激光波长光透过应对第1激光波长光的衍射光栅300A、300B(图20、图21)的第1衍射面部302时，产生无用的衍射光。在第2激光波长光透过应对第2激光波长光的衍射光栅300A、300B的第2衍射面部304时，第2激光波长光至少被分为一道第2主光束和两道第2副光束。
相对于此，具有应对第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的衍射面部20a(图3、图6、图7)的衍射光栅64A装备于光拾取装置，只要在第1激光波长光透过应对第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的衍射光栅64A的衍射面部20a时，第1激光波长光至少被分为一道第1主光束和两道第1副光束，就能大体上防止在第1激光波长光透过衍射光栅64A时产生无用的衍射光。
另外，在第2激光波长光透过应对第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的衍射光栅64A(图3、图6、图7)的衍射面部20a时，大体上不会产生无用的衍射光，第2激光波长光至少被分为一道第2主光束和两道第2副光束。
另外，以往的光检测器270(图18)的CD受光区域280中的第1主受光部200a与第1副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(cd)为与第1激光波长光相对应地规格化的通常的距离Yt(cd)。为了方便起见，本发明中的“规格化”例如在说明已广泛普及的以往的形态等时采用。例如，规格化的尺寸相当于通过进行大量生产等而实质上规格化的尺寸等。例如，规格化的光检测器270是迄今为止大量生产而在市场等中广泛普及的通用的光检测器270等。第1激光波长光的一道第1主光束照射于以往规格的一个第1主受光部200a，第1激光波长光的两道第1副光束照射于以往规格的第1副受光部200b、200c。
但是，例如相对于应对第1激光波长光而规格化的光检测器270(图18)的通常的第1主受光部200a与第1副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(cd)，光检测器73(图5)中的第1主受光部74a与第1副受光部74b、74c的中心点之间距离Ys(cd)发生变化。
例如，相对于应对第1激光波长光而规格化的光检测器270(图18)的通常的第1主受光部200a与第1副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(cd)，在该光检测器73(图5)中，第1主受光部74a与第1副受光部74b、74c的中心点之间距离Ys(cd)发生变化，因此，能避免产生在第1激光波长光通过应对第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的衍射光栅64A(图3、图6、图7)的衍射面部20a时，由应对第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的衍射光栅64A的衍射面部20a分出的第1激光波长光的两道第1副光束无法良好地照射在装备于光检测器73(图4、图5)的第1受光区域74的两个第1副受光部74b、74c这样的不良。
通过第1激光波长光透过应对第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的衍射光栅64A(图3、图6、图7)的衍射面部20a而大体上不会产生无用的衍射光地被分出的第1激光波长光的两道第1副光束可靠地照射于两个第1副受光部74b、74c，该第1副受光部74b、74c与装备于光检测器73(图5)的第1受光区域74的一个第1主受光部74a的距离Ys(cd)发生了变化。
另外，通过第1激光波长光透过应对第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的衍射光栅64A(图3、图6、图7)的衍射面部20a而大体上不会产生无用的衍射光地被分出的第1激光波长光的一道第1主光束可靠地照射于装备于光检测器73(图4、图5)的第1受光区域74的一个第1主受光部74a。
另外，光检测器73(图5)的第2受光区域75中的第2主受光部75a与第2副受光部75b、75c的中心点之间距离Ys(dvd)和与第2激光波长光相对应地规格化的光检测器270(图19)的通常距离Yt(dvd)相同。
通过第2激光波长光透过应对第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的衍射光栅64A(图3、图6、图7)的衍射面部20a而大体上不会产生无用的衍射光地被分出的第2激光波长光的两道第2副光束可靠地照射于装备于光检测器73(图4、图5)的、与以往规格相同的第2受光区域75的两个第2副受光部75b、75c。
另外，通过第2激光波长光透过应对第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的衍射光栅64A(图3、图6、图7)的衍射面部20a而大体上不会产生无用的衍射光地被分出的第2激光波长光的一道第2主光束可靠地照射于装备于光检测器73的、与以往规格相同的第2受光区域75的一个第2主受光部75a。
在光检测器73(图5)中变化的第1主受光部74a与第1副受光部74b、74c的中心点之间距离Ys(cd)被设定为长于例如规格化后的光检测器270(图18)的通常的第1主受光部200a与第1副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(cd)。
详细地说明，在规格化后的光检测器270(图18)的通常的第1主受光部200a与第1副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(cd)的值定为100％的值时，在光检测器73(图5)中变化的第1主受光部74a与第1副受光部74b、74c的中心点之间距离Ys(cd)的值被设定为例如规格化后的光检测器270(图18)的通常的第1主受光部200a与第1副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(cd)的值的大致111％的值。
只要构成图4及图5所示的光检测器73，就能构成提高了错误信号等信号的检测精度的光拾取装置。能避免由衍射光栅64A(图3、图6、图7)的衍射面部20a分开第1激光波长光而产生的一道第1主光束对光检测器73(图4、图5)的两个第1副受光部74b、74c产生不良影响。
另外，只要构成图4及图5所示的光检测器73，就能构成提高了错误信号等信号的检测精度的光拾取装置。能避免由衍射光栅64A(图3、图6、图7)的衍射面部20a分开第1激光波长光而产生的两道第1副光束中的任一个或两个对光检测器73(图4、图5)的一个第1主受光部74a产生不良影响。
例如，在光检测器73(图5)中变化的第1主受光部74a与第1副受光部74b、74c的中心点之间距离Ys(cd)被设定为短于规格化后的光检测器270(图18)的通常的第1主受光部200a与第1副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(cd)时，一道第1主光束有可能干涉到光检测器73(图4、图5)的两个第1副受光部74b、74c。
另外，例如，在光检测器73(图5)中变化的第1主受光部74a与第1副受光部74b、74c的中心点之间距离Ys(cd)被设定为短于规格化后的光检测器270(图18)的通常的第1主受光部200a与第1副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(cd)时，两道第1副光束中的任一个或两个有可能干涉到光检测器73(图4、图5)的一个第1主受光部74a。
但是，由于在新的光检测器73(图5)中变化的第1主受光部74a与第1副受光部74b、74c的中心点之间距离Ys(cd)被设定得长于规格化后的光检测器270(图18)的通常的第1主受光部200a与第1副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(cd)，因此，在一道第1主光束照射于光检测器73的一个第1主受光部74a时，易于避免一道第1主光束干涉于两个第1副受光部74b、74c中的任一个或两个。
由于在将规格化后的光检测器270(图18)的通常的第1主受光部200a与第1副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(cd)的值定为100％的值时，在新的光检测器73(图5)中变化的第1主受光部74a与第1副受光部74b、74c的中心点之间距离Ys(cd)的值被设定为规格化后的光检测器270(图18)的通常的第1主受光部200a与第1副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(cd)的值的大致111％的值，因此，在一道第1主光束照射于光检测器73(图5)的一个第1主受光部74a时，易于避免一道第1主光束干涉到两个第1副受光部74b、74c中的任一个或两个。
另外，由于在新的光检测器73(图5)中变化的第1主受光部74a与第1副受光部74b、74c的中心点之间距离Ys(cd)被设定得长于规格化的光检测器270(图18)的通常的第1主受光部200a与第1副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(cd)，因此，在前后两道第1副光束照射于光检测器73的前后两个第1副受光部74b、74c时，易于避免两道第1副光束中的任一个或两个干涉到一个第1主受光部74a。
由于在将规格化后的光检测器270(图18)的通常的第1主受光部200a与第1副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(cd)的值定为100％的值时，在新的光检测器73(图5)中变化的第1主受光部74a与第1副受光部74b、74c的中心点之间距离Ys(cd)的值被设定为规格化的光检测器270(图18)的通常的第1主受光部200a与第1副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(cd)的值的大致111％的值，因此，在前后两道第1副光束照射于光检测器73(图5)的前后两个第1副受光部74b、74c时，易于避免两道第1副光束中的任一个或两个干涉于一个第1主受光部74a。
光检测器73的第2主受光部75a与第2副受光部75b、75c的中心点之间距离Ys(dvd)与规格化后的光检测器270(图19)的通常的第2主受光部200a与第2副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(dvd)相同。
在规格化后的光检测器270(图19)的通常的第2主受光部200a与第2副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(dvd)的值定为100％的值时，在光检测器73(图5)中第2主受光部75a与第2副受光部75b、75c的中心点之间距离Ys(dvd)的值例如被设定为规格化后的光检测器270(图19)的通常的第2主受光部200a与第1副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(dvd)的值的大致100％的值。
只要构成图4及图5所示的光检测器73，就能构成提高了错误信号等信号的检测精度的光拾取装置。能避免由衍射光栅64A(图3、图6、图7)的衍射面部20a分开第2激光波长光而产生的一道第2主光束对光检测器73(图4、图5)的两个第2副受光部75b、75c产生不良影响。还能避免由衍射光栅64A(图3、图6、图7)的衍射面部20a分开第2激光波长光而产生的两道第2副光束中的任一个或两个对光检测器73(图4、图5)的一个第2主受光部75a产生不良影响。
例如在光检测器73(图5)中，第1主受光部74a与第1副受光部74b、74c的中心点之间距离Ys(cd)不变而将第1主受光部74a与第1副受光部74b、74c的中心点之间距离Ys(cd)被设定得与规格化后的光检测器270(图18)的通常的第1主受光部200a与第1副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(cd)相等的情况下，有必要缩窄光检测器73(图5)中的第2主受光部75a与第2副受光部75b、75c的中心点之间距离Ys(dvd)。
例如，在光检测器73中第2主受光部75a与第2副受光部75b、75c的中心点之间距离Ys(dvd)被设定得短于规格化后的光检测器270(图19)的通常的第2主受光部200a与第2副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(dvd)时，由衍射光栅64A(图3、图6、图7)的衍射面部20a分开第2激光波长光而产生的一道第2主光束有可能干涉到光检测器73(图4、图5)的两个第2副受光部75b、75c。
例如图5所示，在具有第1层DL0与第2层DL1这多个层DL0、DL1的DVD标准的光盘D的第1层DL0中进行信号再现或信号记录时，DVD标准的光盘D的第2层DL1中的无用的反射光有可能作为赝像进入到光检测器73中的DVD受光区域75的一个第2副受光部75b或另一个第2副受光部75c中的任一个或两个。
这样，在使用具有多个层DL0、DL 1的DVD标准的光盘D而在第1层DL0或第2层DL1中的任一个层DL0或层DL1中进行信号再现或者信号记录时，有可能发生泄漏信号进入到光检测器73中的DVD受光区域75的一个第2副受光部75b或另一个第2副受光部75c中的任一个或两个中这样的所谓的层间串扰。
另外，例如在光检测器73中第2主受光部75a与第2副受光部75b、75c的中心点之间距离Ys(dvd)被设定得短于规格化后的光检测器270(图19)的通常的第2主受光部200a与第2副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(dvd)时，由衍射光栅64A(图3、图6、图7)的衍射面部20a分开第2激光波长光而产生的两道第2副光束中的任一个或两个有可能干涉到光检测器73(图4、图5)的一个第2主受光部75a。
只要光检测器73中第2主受光部75a与第2副受光部75b、75c的中心点之间距离Ys(dvd)被设定得与规格化后的光检测器270(图19)的通常的第2主受光部200a与第2副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(dvd)相同，就能避免例如一道第2主光束干涉于光检测器73(图5)的两个第2副受光部75b、75c中的任一个或两个、或者两道第2副光束中的任一个或两个干涉于光检测器73的一个第2主受光部75a。
由于在将规格化后的光检测器270(图19)的通常的第2主受光部200a与第2副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(dvd)的值定为100％的值时，在新的光检测器73(图5)中第2主受光部75a与第2副受光部75b、75c的中心点之间距离Ys(dvd)的值被设定为规格化后的光检测器270(图19)的通常的第2主受光部200a与第2副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(dvd)的值的大致100％的值，因此，在一道第2主光束照射于光检测器73(图5)的一个第2主受光部75a时，能避免一道第2主光束干涉到两个第2副受光部75b、75c中的任一个或两个。
另外，由于在将规格化后的光检测器270(图19)的通常的第2主受光部200a与第2副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(dvd)的值定为100％的值时，在新的光检测器73(图5)中第2主受光部75a与第2副受光部75b、75c的中心点之间距离Ys(dvd)的值被设定为规格化后的光检测器270(图19)的通常的第2主受光部200a与第2副受光部200b、200c的中心点之间距离Yt(dvd)的值的大致100％的值，因此，在前后两道第2副光束照射于光检测器73(图5)的前后两个第2主受光部75b、75c时，能避免两道第2副光束中的任一个或两个干涉于一个第2主受光部75a。
在以光检测器73(图4、图5)的第1主受光部74a为中心地配置有一对位置变化后的第1副受光部74b、74c，前侧的位置变化后的第1副受光部74b、中央的第1主受光部74a、后侧的位置变化后的第1副受光部74c并列设置在大致一条直线上时，前侧的位置变化后的第1副受光部74b、中央的第1主受光部74a、后侧的位置变化后的第1副受光部74c的分光比相对于以往规格化后的光检测器270(图18)的前侧的第1副受光部200b、中央的第1主受光部200a、后侧的第1副受光部200c的分光比发生变化。
详细地说明，在以光检测器73(图4、图5)的第1主受光部74a为中心地配置有一对位置变化后的第1副受光部74b、74c，前侧的位置变化后的第1副受光部74b、中央的第1主受光部74a、后侧的位置变化后的第1副受光部74c并列设置在大致一条直线上时，前侧的位置变化后的第1副受光部74b、中央的第1主受光部74a、后侧的位置变化后的第1副受光部74c的分光比为大致1∶(20～26)∶1。即，前侧的位置变化后的第1副受光部74b、中央的第1主受光部74a、后侧的位置变化后的第1副受光部74c的分光比为大致1∶(23±3)∶1。
只要设定变化后的光检测器73(图4、图5)的第1激光波长光的分光比相对于以往规格化后的光检测器270(图18)的第1激光波长光的分光比发生变化，就易于利用新的设定变化后的光检测器73高精度且良好地检测一道第1主光束和两道第1副光束。只要相对于以往规格化后的光检测器270(图18)的第1激光波长光的分光比被设定为大致1∶16∶1，设定变化后的光检测器73(图4、图5)的第1激光波长光的分光比被设定为大致1∶(20～26)∶1、即大致1∶(23±3)∶1，就易于利用新的设定变化后的光检测器73高精度且良好地检测一道第1主光束和两道第1副光束。
例如，在第1激光波长光透过具有与第1激光波长光相对应的第1衍射面部302(图20、图21)、和与第2激光波长光相对应的第2衍射面部304这两个衍射面部302、304的以往的衍射光栅300A、300B，第1激光波长光至少被分为前侧的一道第1副光束、中央的一道第1主光束、后侧的一道第1副光束时，照射有前侧的一道第1副光束的前侧的第1副受光部200b(图18)、照射有中央的一道第1主光束的中央的第1主受光部200a、照射有后侧的一道第1副光束的后侧的第1副受光部200c的分光比例如被设定为通常的大致1∶16∶1，从而能利用以往规格化后的光检测器270高精度地检测一道第1主光束和两道第1副光束。
但是，例如在不设置具有与第1激光波长光相对应的衍射面部302(图20、图21)的衍射光栅320而将其省略，第1激光波长光透过应对第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的、具有衍射面部304的衍射光栅300A、300B，第1激光波长光至少被分为前侧的一道第1副光束、中央的一道第1主光束、后侧的一道第1副光束的情况下，照射有前侧的一道第1副光束的前侧的位置变化后的第1副受光部200b(图18)、照射有中央的一道第1主光束的中央的第1主受光部200a、照射有后侧的一道第1副光束的后侧的位置变化后的第1副受光部200c的分光比例如被设定为通常的大致1∶16∶1时，在以往规格化后的光检测器270中，有可能无法高精度地检测一道第1主光束和两道第1副光束。
相对于此，在第1激光波长光透过应对第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的、具有衍射面部20a(图3、图6、图7)的衍射光栅64A，第1激光波长光至少被分为前侧的一道第1副光束、中央的一道第1主光束、后侧的一道第1副光束时，只要照射有前侧的一道第1副光束的前侧的位置变化后的第1副受光部74b(图4、图5)、照射有中央的一道第1主光束的中央的第1主受光部74a、照射有后侧的一道第1副光束的后侧的位置变化后的第1副受光部74c的分光比相对于以往规格化后的光检测器270(图18)的前侧的第1副受光部200b、中央的第1主受光部200a、后侧的第1副受光部200c的分光比发生变化而被设定为大致1∶(20～26)∶1、即1∶(23±3)∶1，就能利用设定变化后的光检测器73(图4、图5)高精度地且良好地检测一道第1主光束和两道第1副光束。
另外，在照射有前侧的一道第1副光束的前侧的位置变化后的第1副受光部74b、照射有中央的一道第1主光束的中央的第1主受光部74a、照射有后侧的一道第1副光束的后侧的位置变化后的第1副受光部74c的分光比例如为1∶小于20∶1的情况下、或该分光比例如为大致1∶大于26∶1的情况下，有可能无法高精度地检测一道第1主光束和两道第1副光束，但通过该分光比被设定为大致1∶(20～26)∶1、优选为大致1∶(21～25)∶1，能高精度且良好地检测一道第1主光束和两道第1副光束。
在以光检测器73的第2主受光部75a为中心地配置有一对第2副受光部75b、75c，前侧的第2副受光部75b、中央的第2主受光部75a、后侧的第2副受光部75c并列设置在大致一条直线上时，前侧的第2副受光部75b、中央的第2主受光部75a、后侧的第2副受光部75c的分光比为大致1∶(12～18)∶1。即，前侧的第2副受光部75b、中央的第2主受光部75a、后侧的第2副受光部75c的分光比为大致1∶(15±3)∶1。
只要这样地决定分光比，就能利用光检测器73高精度且良好地检测一道第2主光束和两道第2副光束。只要在第2激光波长光透过应对第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的、具有衍射面部20a(图3、图6、图7)的衍射光栅64A，第2激光波长光至少被分为前侧的一道第2副光束、中央的一道第2主光束、后侧的一道第2副光束时，照射有前侧的一道第2副光束的前侧的第2副受光部75b(图4、图5)、照射有中央的一道第2主光束的中央的第2主受光部75a、照射有后侧的一道第2副光束的后侧的第2副受光部75c的分光比被设定为大致1∶(12～18)∶1、即大致1∶(15±3)∶1，就能利用光检测器73高精度且良好地检测一道第2主光束和两道第2副光束。
另外，在照射有前侧的一道第2副光束的前侧的第2副受光部75b、照射有中央的一道第2主光束的中央的第2主受光部75a、照射有后侧的一道第2副光束的后侧的第2副受光部75c的分光比例如为1∶小于12∶1的情况下、或该分光比例如为大致1∶大于18∶1的情况下，有可能无法高精度地检测一道第2主光束和两道第2副光束，但通过该分光比被设定为大致1∶(12～18)∶1、优选为大致1∶(14～18)∶1，能高精度且良好地检测一道第2主光束和两道第2副光束。
相对于规格化后的一个第1主受光部200a(图18)中的通常受光灵敏度的值，一个第1主受光部74a(图4、图5)中的受光灵敏度的值变化或与其相同。详细地说明，在将规格化后的一个第1主受光部200a(图18)中的通常受光灵敏度的值定为100％的值时，相对于规格化后的一个第1主受光部200a中的通常受光灵敏度的值，发生了变化的或与其相同的一个第1主受光部74a(图4、图5)中的受光灵敏度的值被设定为大致小于100％或大致100％以下的较低的值。
另外，相对于规格化后的两个第1副受光部200b、200c(图18)中的通常受光灵敏度的值，两个第1副受光部74b、74c(图4、图5)中的受光灵敏度的值发生变化。详细地说明，在将规格化后的两个第1副受光部200b、200c(图18)中的通常受光灵敏度的值均定为100％的值时，相对于规格化后的两个第1副受光部200b、200c中的通常受光灵敏度的值，变化后的两个第1副受光部74b、74c(图4、图5)中的受光灵敏度的值均被设定为大致100％以上或大致大于100％的较高的值。
只要受光灵敏度的值这样地相对于以往的值变化或与其相同地设定，就易于利用新的设定变化后的光检测器73比较高精度地检测一道第1主光束和两道第1副光束。通过相对于规格化后的一个第1主受光部200a(图18)中的通常受光灵敏度，一个第1主受光部74a(图4、图5)中的受光灵敏度的值变化或与其相同，相对于规格化后的两个第1副受光部200b、200c(图18)中的通常受光灵敏度，两个第1副受光部74b、74c(图4、图5)中的受光灵敏度的值发生变化，就易于利用新的设定变化后的光检测器73比较高精度地检测一道第1主光束和两道第1副光束。
详细地说明，通过相对于将规格化后的一个第1主受光部200a(图18)中的通常受光灵敏度的值设为100％，变化或与其相同的一个第1主受光部74a(图4、图5)中的受光灵敏度的值被设定为大致小于100％或大致100％以下的较低的值，相对于将规格化后的两个第1副受光部200b、200c(图18)中的通常受光灵敏度的值均设为100％，变化后的两个第1副受光部74b、74c(图4、图5)中的受光灵敏度的值均被设定为大致100％以上或大致大于100％的较高的值，易于利用新的设定变化后的光检测器73比较高精度地检测一道第1主光束和两道第1副光束。
在将规格化后的一个第1主受光部200a(图18)中的通常受光灵敏度的值定为100％的值时，相对于规格化后的一个第1主受光部200a(图18)中的通常受光灵敏度的值，变化或与其相同的一个第1主受光部74a(图4、图5)中的受光灵敏度的值被设定为大致95～100％、优选为大致96～100％的值。另外，在将规格化后的两个第1副受光部200b、200c(图18)中的通常受光灵敏度的值均定为100％的值时，相对于规格化后的两个第1副受光部200b、200c中的通常受光灵敏度的值，变化后的两个第1副受光部74b、74c(图4、图5)中的受光灵敏度的值均被设定为大致120～160％、均优选为大致138～142％的值。
只要这样地设定受光灵敏度的值，就能利用新的设定变化后的光检测器73高精度且良好地检测一道第1主光束和两道第1副光束。相对于将规格化后的一个第1主受光部200a(图18)中的通常受光灵敏度的值设为100％，变化或与其相同的一个第1主受光部74a(图4、图5)中的受光灵敏度的值被设定为大致95～100％、优选为大致96～100％的值，相对于将规格化后的两个第1副受光部200b、200c(图18)中的通常受光灵敏度的值均设为100％，变化后的两个第1副受光部74b、74c(图4、图5)中的受光灵敏度的值均被设定为大致120～160％、均优选为大致138～142％的值，从而能利用新的设定变化后的光检测器73高精度且良好地检测一道第1主光束和两道第1副光束。
一个第2主受光部75a中的受光灵敏度的值为规格化后的一个第2主受光部200a(图19)中的通常受光灵敏度的值。在将规格化后的一个第2主受光部200a中的通常受光灵敏度的值定为100％的值时，相对于规格化后的一个第2主受光部200a中的通常受光灵敏度的值，一个第2主受光部75a(图4、图5)中的受光灵敏度的值被设定为大致100％的值。
另外，两个第2副受光部75b、75c中的受光灵敏度的值为规格化后的两个第2副受光部200b、200c(图19)中的通常受光灵敏度的值。在将规格化后的两个第2副受光部200b、200c中的通常受光灵敏度的值均定为100％的值时，相对于规格化后的两个第2副受光部200b、200c中的通常受光灵敏度的值，两个第2副受光部75b、75c(图4、图5)中的受光灵敏度的值均被设定为大致100％的值。
只要这样地设定受光灵敏度的值，就能利用光检测器73高精度地检测一道第2主光束和两道第2副光束。通过一个第2主受光部75a中的受光灵敏度的值为规格化后的一个第2主受光部200a(图19)中的通常受光灵敏度的值，两个第2主受光部75b、75c(图4、图5)中的受光灵敏度的值为规格化后的两个第2主受光部200b、200c(图19)中的通常受光灵敏度的值，能利用光检测器73高精度地检测一道第2主光束和两道第2副光束。
通过相对于将规格化后的一个第2主受光部200a(图19)中的通常受光灵敏度的值设为100％，一个第2主受光部75a(图4、图5)中的受光灵敏度的值被设定为大致100％的值，相对于将规格化后的两个第2副受光部200b、200c(图19)中的通常受光灵敏度的值均设为100％，两个第2副受光部75b、75c(图4、图5)中的受光灵敏度的值均被设定为大致100％的值，能利用光检测器73高精度地检测一道第2主光束和两道第2副光束。
衍射光栅64A(图3、图6、图7)的衍射面部20a兼作将第1激光波长光至少分为一道第1主光束和两道第1副光束的衍射面部20a、和将第2激光波长光至少分为一道第2主光束和两道第2副光束的衍射面部20a，形成为与多种激光波长光的衍射相对应的一个面部20a。
只要这样地形成衍射光栅64A的衍射面部20a，就能构成能够抑制在衍射光栅64A中产生无用的衍射光、且防止激光的效率降低、并且将价格抑制得较低的光拾取装置。
例如在第1激光波长光透过具有与第1激光波长光相对应的第1衍射面部302(图20、图21)、和与第2激光波长光相对应的第2衍射面部304这两个衍射面部302、304的以往的衍射光栅300A、300B的第1衍射面部302，第1激光波长光至少被分为一道第1主光束和两道第1副光束时，因衍射光栅300A、300B的第2衍射面部304而第1激光波长光的第1主光束进一步无用地衍射、且第1副光束进一步无用地衍射，随之，有可能导致第1激光波长光的第1主光束及第1副光束的光的效率降低。
另外，例如在第2激光波长光透过具有与第1激光波长光相对应的第1衍射面部302、和与第2激光波长光相对应的第2衍射面部304这两个衍射面部302、304的以往的衍射光栅300A、300B的第2衍射面部304，第2激光波长光至少被分为一道第2主光束和两道第2副光束时，因衍射光栅300A、300B的第1衍射面部302而第2激光波长光无用地衍射，随之，有可能导致第2激光波长光的光的效率降低。
但是，只要衍射光栅64A(图3、图6、图7)的衍射面部20a兼作将第1激光波长光至少分为一道第1主光束和两道第1副光束的衍射面部20a、和将第2激光波长光至少分为一道第2主光束和两道第2副光束的衍射面部20a，形成为与多种激光波长光的衍射相对应的一个面部20a，就能避免第1激光波长光的第1主光束及第1副光束无用地衍射而第1激光波长光的第1主光束及第1副光束的光的效率降低、或者第2激光波长光无用地衍射而第2激光波长光的光的效率降低。
另外，由于衍射光栅64A的衍射面部20a兼作将第1激光波长光至少分为一道第1主光束和两道第1副光束的衍射面部20a、和将第2激光波长光至少分为一道第2主光束和两道第2副光束的衍射面部20a，形成为与多种激光波长光的衍射相对应的一个面部20a，因此，能构成减少了加工部分、加工工时等的衍射光栅64A。由于衍射光栅64A的加工部分、加工工时等减少，因此，能将衍射光栅64A的价格抑制得较低。随之，能够构成能将价格抑制得较低的光拾取装置。
如图3及图7所示，在衍射光栅64A中设有在从激光单元61(图1、图2)射出的激光的一部分产生π弧度的相位移位的相位移位区域部21、22(图3、图7)。衍射光栅64A被分为大致长方形状的第一区域部21、和与第一区域部21相邻的大致长方形状的第二区域部22这至少2个区域部21、22。衍射光栅64A被分为多个区域部21、22。在各区域部21、22内构成规定的周期构造。
在图3及图7所示的衍射光栅64A中，构成衍射光栅64A的各区域部21、22的周期构造为重复微细的凹凸状的周期构造。另外，衍射光栅64A为例如做成大致3～10mm方形的纵横尺寸的、厚度为大致0.3～3mm的玻璃板。
只要构成被分为多个区域部21、22的衍射光栅64A，就易于良好地进行光拾取装置相对于介质D(图4、图5)的信号面部Da的错误信号检测。例如，易于良好地进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。通过衍射光栅64A(图3、图7)被分为多个区域部21、22地构成，对介质D(图4)的信号面部Da照射有各自独立的至少三个聚光点80、81、82。由于在介质D的信号面部Da各自独立地照射有至少三个聚光点80、81、82，因此，在光道间距Dtp不同的两种以上介质D记录、再现时，易于避免跟踪错误信号等错误信号的检测精度降低。因而，能够提供易于进行跟踪控制的光拾取装置。
如图3及图7所示，衍射光栅64A被分为偶数的区域部21、22。
只要构成被分为偶数的区域部21、22的衍射光栅64A，形成于介质D(图4)的信号面部Da的聚光点80、81、82就形成为高精度的聚光点80、81、82。衍射光栅64A例如被衍射光栅64A(图3、图7)的分界线部26二等分而偶数分割为一个区域部21和另一个区域部22，因此，在光拾取装置中装备有衍射光栅64A时，照在衍射光栅64A上的光易于以大致二等分的状态照在衍射光栅64A的一个区域部21、和衍射光栅64A的另一个区域部22。由于光易于以大致二等分的状态照在衍射光栅64A的一个区域部21、和衍射光栅64A的另一个区域部22，因此，衍射光栅64A易于高精度地装备于光拾取装置。因而，易于在介质D(图4)的信号面部Da高精度地形成聚光点80、81、82。随之，提高了光道间距Dtp不同的两种以上介质D在记录、再现时的跟踪错误信号等错误信号的检测精度。另外，易于高精度地进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。
如图3及图7所示，衍射光栅64A被分为第一区域部21、和与第一区域部21相邻的具有与第一区域部21的周期构造不同的周期构造的第二区域部22这2个区域部21、22。衍射光栅64A构成为所谓的二分割型的直线光栅。
只要图3及图7所示的被分为多个区域部21、22的衍射光栅64A装备于光拾取装置，就能良好地进行光拾取装置对介质D(图2、图4、图5)的信号面部Da的错误信号检测。例如，能良好地进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。通过衍射光栅64A(图3、图7)被分为2个区域部21、22地构成，对介质D(图4)的信号面部Da照射有各自独立的至少3个聚光点80、81、82。由于在介质D的信号面部Da各自独立地照射有至少3个聚光点80、81、82，因此，在进行光道间距Dtp不同的两种以上介质D的数据记录、或进行光道间距Dtp不同的两种以上介质D的数据再现时，能避免例如随着物镜70(图1、图2)的移位而使跟踪错误信号等错误信号的检测精度降低。因而，能够提供易于进行跟踪控制的光拾取装置。
如图7所示，衍射光栅64A具有作为第一区域部21的大致长方形状的一个区域部21、和与一个区域部21相邻的作为第二区域部22的大致长方形状的另一个区域部22。衍射光栅64A的第一区域部21的宽度21w与第二区域部22的宽度22w为大致相等的宽度。利用衍射光栅64A的第一区域部21和与该第一区域部21相邻的衍射光栅64A的第二区域部22的边界线部26，衍射光栅64A被二等分为构成衍射光栅64A的一个区域部21、和构成衍射光栅64A的另一个区域部22。衍射光栅64A被分割为偶数部分。
由此，形成于介质D(图4)的信号面部Da的聚光点80、81、82形成为高精度的聚光点80、81、82。由于衍射光栅64A被偶数分割而成的衍射光栅64A(图3、图7)的第一区域部21、和与第一区域部21相邻的第二区域部22之间的分界线部26二等分为作为第一区域部21的一个区域部21、和与一个区域部21相邻的作为第二区域部22的另一个区域部22，因此，在光拾取装置的机壳(未图示)中装备有衍射光栅64A时，从激光单元61(图1、图2)射出而照在衍射光栅64A的激光利用例如未图示的光轴调整用照相机等容易地调整光轴。从激光单元61射出而照在衍射光栅64A之后透过物镜70的激光能够使用例如光轴调整用照相机等来观察。
在二分割型衍射光栅64A(图3、图7)中，在衍射光栅64A中设有将衍射光栅64A的大致中央二等分而构成大致长方形状的一个区域部21、和大致长方形状的另一个区域部22的分界线部26，因此，在使用光轴调整用照相机等调整激光的光轴时，激光易于以被大致二等分的状态照在构成衍射光栅64A的大致长方形状的一个区域部21、和构成衍射光栅64A的大致长方形状的另一个区域部22中。
通过激光易于以被大致二等分的状态照在构成衍射光栅64A的大致长方形状的一个区域部21、和构成衍射光栅64A的大致长方形状的另一个区域部22中，衍射光栅64A易于在高精度地定位调整的同时、装备于光拾取装置的机壳。因而，易于在介质D(图4)的信号面部Da高精度地形成聚光点80、81、82。随之，易于高精度地进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。
构成衍射光栅64A的大致线状的分界线部26位于构成衍射光栅64A(图3、图7)的大致长方形状的第一区域部21及大致长方形状的第二区域部22之间。相对于第一区域部21的周期构造，第二区域部22的周期构造为具有不同的相位的周期构造。相对于第一区域部21的周期构造，第二区域部22的周期构造为具有大致相差180度左右相位的周期构造。
由此，衍射光栅64A中的第一区域部21与第二区域部22被区别化，并且，衍射光栅64A中的第一区域部21与第二区域部22的相位差明确化。相对于衍射光栅64A的第一区域部21的周期构造，衍射光栅64A的第二区域部22的周期构造为具有大致相差180度左右相位的周期构造，因此，在介质D(图4)的信号面部Da中良好地形成有至少3个各聚光点80、81、82。利用良好地形成于介质D的信号面部Da的至少3个各聚光点80、81、82，在光道间距Dtp不同的多种介质D的数据记录、再现时，易于避免例如随着物镜70(图1、图2)的移位而导致跟踪错误信号恶化。
利用划分第一区域部21(图3、图7)和第二区域部22的边界线部26，将第一区域部21和第二区域部22分开。
通过衍射光栅64A被分为2个区域部而区别化，在介质D的信号面部Da照射有各自独立的至少3个聚光点80、81、82。由于在介质D的信号面部Da各自独立地照射有至少3个聚光点80、81、82，因此，易于进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。
衍射光栅64A(图3、图7)形成为大致矩形板状。在俯视衍射光栅64A时，衍射光栅64A目测为大致矩形板状。
在纵长的大致长方形状的第一区域部21和纵长的大致长方形状的第二区域部22横向并列地排列的状态下，俯视衍射光栅64A时，在与一区域部右侧相邻的另一区域部的相位相对于衍射光栅64A的一区域部的相位以大致右上升台阶状错开的情况下，另一区域部的相位定为向正(+)侧错开。
另外，在纵长的大致长方形状的第一区域部21和纵长的大致长方形状的第二区域部22横向并列地排列的状态下，俯视衍射光栅64A时，在与一区域部右侧相邻的另一区域部的相位相对于衍射光栅64A的一区域部的相位以大致右下降台阶状错开的情况下，另一区域部的相位定为向负(-)侧错开。
另外，本申请的正(+)相位及负(-)相位的定义是用于说明衍射光栅的相位差状态的简便的定义。另外，本申请的“纵”、“横”的定义也是用于说明衍射光栅的简便的定义。
在俯视衍射光栅64A时，相对于第一区域部21的周期构造，与第一区域部21右侧相邻的第二区域部22的周期构造为具有向正侧错开的相位的周期构造(图8)。相对于第一区域部21(图7)的周期构造，第二区域部22的周期构造为具有大致相差+180度相位的周期构造。
该光拾取装置能够装备于台式个人计算机(PC：PersonalComputer)用的光拾取装置来使用，并且，能够装备于笔记本式或便携式PC用的光拾取装置来使用。
该光拾取装置(图1、图2)例如包括俯视大致矩形的衍射光栅64A(图7)、会聚至少3道光束而对介质D(图1、图2、图4)的信号面部Da(图4)照射各自独立的至少3个聚光点80、81、82的物镜70(图1、图2)、和接受介质D中的3个各聚光点80、81、82(图4)的反射光的光检测器73(图1、图2、图4、图5)而构成。
只要这样地构成光拾取装置，就能高精度地进行光拾取装置对介质D(图4)的信号面部Da的跟踪。在光道间距Dtp不同的多种介质D的数据记录、再现时，易于避免随着物镜70(图1、图2)的移位而使跟踪错误信号的振幅恶化、或在跟踪错误信号中残留偏离。
通过构成包括相位移位型二分割衍射光栅64A(图3、图7)的光拾取装置，能可靠地进行光拾取装置对DVD-RAM的数据再现动作或者数据记录动作。另外，也能可靠地进行光拾取装置对DVD±R、DVD±RW的数据再现动作或者数据记录动作。
图1、图2所示的光检测器73构成为例如能够接受两种激光波长光、三种激光波长光等这样的多种激光波长光的一个光检测器73。
只要将能够接受多种激光波长光的一个光检测器73装备于光拾取装置，就能构成能够应对多种介质D(图1、图2、图4、图5)的光拾取装置，并随着削减光拾取装置的零件件数来谋求降低价格。由于光检测器73(图1、图2)构成为能够接受第1波长光和作为与第1波长光的波长不同、且波长比第1波长光更短的激光的第2波长光这两种以上波长光的、应对多种波长光的光检测器73，因此，光拾取装置能够应对多种介质D。另外，与此同时，由于能够接受第1波长光的光检测器与能够接受第2波长光的光检测器合为一个光检测器73，因此，能谋求光拾取装置的零件削减化、小型化、轻薄化等。随着光拾取装置的零件削减化而将光拾取装置的价格抑制得较低。因而，能够提供能够应对多种介质D、并谋求零件削减化、价格降低化、小型化、轻薄化等的光拾取装置。
另外，该光拾取装置包括能够射出两种激光波长光、三种激光波长光等这样的多种激光波长光的一个发光元件61(图1、图2)。
只要将能够射出多种激光波长光的一个发光元件61装备于光拾取装置，就能构成能够应对多种介质D(图1、图2、图4、图5)的光拾取装置，并随着削减光拾取装置的零件件数来谋求降低价格。由于发光元件61(图1、图2)构成为能够射出第1波长光和作为与第1波长光的波长不同、且波长比第1波长光更短的激光的第2波长光这两种以上波长光的、射出多种波长光的发光元件61，因此，光拾取装置能够应对多种介质D。另外，与此同时，由于能够射出第1波长光的发光元件与能够射出第2波长光的发光元件合为一个发光元件61，因此，能谋求光拾取装置的零件削减化、小型化、轻薄化等。随着光拾取装置的零件削减化而将光拾取装置的价格抑制得较低。因而，能够提供能够应对多种介质D、并谋求零件削减化、价格降低化、小型化、轻薄化等的光拾取装置。
另外，通过削减光拾取装置的零件件数，也能谋求光拾取装置的性能、质量稳定化。例如，在能够射出第1波长光的第1发光元件和能够射出第2波长光的第2发光元件各自装备于机壳等的情况下，例如根据第1发光元件及/或第2发光元件的安装误差等，有可能在第1波长光的光轴及第2波长光的光轴等中产生“偏差”。但是，只要能够射出第1波长光的发光元件和能够射出第2波长光的发光元件合为一个发光元件61，就能减少由安装误差等导致光轴等产生“偏差”。因而，光拾取装置的性能、质量稳定化。
第1激光波长光为依据CD标准的波长光。第1激光波长光为依据CD标准的红外激光。详细地说明，第1激光波长光的波长与CD标准的光盘D相对应地为大致765～830nm，作为基准的波长为大致780～782nm。例如作为基准的波长收入在大致765～830nm范围内的波长光为第1激光波长光。自二波长发光元件61的第1光源62射出的第1激光波长光有时会根据例如发光元件61的蓄热温度等而变动。
另外，第2激光波长光为依据DVD标准的波长光。第2激光波长光为依据DVD标准的红色激光。详细地说明，第2激光波长光的波长与DVD标准的光盘D相对应地为大致630～685nm，作为基准的波长为大致635～660nm。例如作为基准的波长收入在大致630～685nm范围内的波长光为第2激光波长光。自二波长发光元件61的第2光源63射出的第2激光波长光有时会根据例如发光元件61的蓄热温度等而变动。
只要采用仅在单面具有衍射面部20a(图3、图6、图7)的衍射光栅64A，就能大体上防止在波长光为与CD标准的光盘D(图1、图2)相对应的大致765～830nm、基准波长为大致780～782nm的、依据CD标准的第1激光波长光透过衍射光栅64A时产生无用的衍射光。
另外，只要采用仅在单面具有衍射面部20a(图3、图6、图7)的衍射光栅64A，就能大体上防止在波长光为与DVD标准的光盘D(图1、图2)相对应的大致630～685nm、基准波长为大致635～660nm的、依据DVD标准的第2激光波长光透过衍射光栅64A时产生无用的衍射光。
通过依据CD标准的、规定波长光的第1激光波长光透过应对依据DVD标准的第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的衍射光栅64A(图3、图6、图7)的衍射面部20a而大体上不会产生无用的衍射光地被分出的、依据CD标准的第1激光波长光的两道第1副光束可靠地照射于两个第1副受光部74b、74c，该第1副受光部74b、74c的中心点之间相对于装备于光检测器73(图5)的第1受光区域74的一个第1主受光部74a的距离Ys(cd)发生了变化。另外，通过依据CD标准的、规定波长光的第1激光波长光透过应对依据DVD标准的第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的衍射光栅64A(图3、图6、图7)的衍射面部20a而大体上不会产生无用的衍射光地被分出的、依据CD标准的第1激光波长光的一道第1主光束可靠地照射于装备于光检测器73(图5)的第1受光区域74的一个第1主受光部74a。
另外，在依据DVD标准的、规定波长光的第2激光波长光透过应对依据DVD标准的第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的衍射光栅64A(图3、图6、图7)的衍射面部20a时，大体上不会产生无用的衍射光，依据DVD标准的、规定波长光的第2激光波长光至少被分为一道第2主光束和两道第2副光束。依据DVD标准的第2激光波长光的两道第2副光束可靠地照射于装备于光检测器73(图5)的、与以往规格相同的第2受光区域75的两个第2副受光部75b、75c，依据DVD标准的第2激光波长光的一道第2主光束可靠地照射于装备于光检测器73的、与以往规格相同的第2受光区域75的一个第2主受光部75a。
根据光拾取装置等的设计、规格等，例如第1激光波长光也可以为依据“DVD”标准的波长光。例如第1激光波长光也可以为依据“DVD”标准的红色激光。详细地说明，第1激光波长光的波长与“DVD”标准的光盘(D)相对应地为大致630～685nm，作为基准的波长为大致635～660nm。例如作为基准的波长收入在大致630～685nm范围内的波长光为第1激光波长光。自二波长发光元件(61)的第1光源(62)射出的第1激光波长光有时会根据例如发光元件(61)的蓄热温度等而变动。
另外，根据光拾取装置等的设计等，例如第2激光波长光也可以为依据“Blu-ray Disc”标准或“HD DVD”标准的波长光。例如第2激光波长光也可以为依据“Blu-ray Disc”标准或“HD DVD”标准的绿紫色激光。详细地说明，第2激光波长光的波长与“Blu-ray Disc”标准或“HD DVD”标准的光盘(D)相对应地为大致340～450nm，作为基准的波长为大致405nm。例如作为基准的波长收入在大致340～450nm范围内的波长光为第2激光波长光。自二波长发光元件(61)的第2光源(63)射出的第2激光波长光有时会根据例如发光元件(61)的蓄热温度等而变动。
只要采用仅在单面具有衍射面部(20a)(图3、图6、图7)的衍射光栅(64A)，就能大体上防止在波长光为与“DVD”标准的光盘(D)(图1、图2)相对应的大致630～685nm、基准波长为大致635～660nm的、依据“DVD”标准的第1激光波长光透过衍射光栅(64A)时产生无用的衍射光。
另外，只要采用仅在单面具有衍射面部(20a)(图3、图6、图7)的衍射光栅(64A)，就能大体上防止在波长光为与“Blu-ray Disc”标准或“HD DVD”标准的光盘(D)(图1、图2)相对应的大致340～450nm、基准波长为大致405nm的、依据“Blu-ray Disc”标准或“HD DVD”标准的第2激光波长光透过衍射光栅(64A)时产生无用的衍射光。
通过依据“DVD”标准的、规定波长光的第1激光波长光透过应对依据“Blu-ray Disc”标准或“HD DVD”标准的第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的衍射光栅(64A)(图3、图6、图7)的衍射面部(20a)而大体上不会产生无用的衍射光地被分出的、依据“DVD”标准的第1激光波长光的两道第1副光束可靠地照射于两个第1副受光部(74b、74c)，该第1副受光部(74b、74c)的中心点之间相对于装备于光检测器(73)(图5)的第1受光区域(74)的一个第1主受光部(74a)的距离(Ys(cd))发生了变化。另外，通过依据“DVD”标准的、规定波长光的第1激光波长光透过应对依据“Blu-ray Disc”标准或“HD DVD”标准的第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的衍射光栅(64A)(图3、图6、图7)的衍射面部(20a)而大体上不会产生无用的衍射光地被分出的、依据“DVD”标准的第1激光波长光的一道第1主光束可靠地照射于装备于光检测器(73)(图5)的第1受光区域(74)的一个第1主受光部(74a)。
另外，在依据“Blu-ray Disc”标准或“HD DVD”标准的、规定波长光的第2激光波长光透过应对依据“Blu-rayDisc”标准或“HD DVD”标准的第2激光波长光而以第2激光波长光为基准的衍射光栅(64A)(图3、图6、图7)的衍射面部(20a)时，大体上不会产生无用的衍射光，依据“Blu-rayDisc”标准或“HD DVD”标准的、规定波长光的第2激光波长光至少被分为一道第2主光束和两道第2副光束。依据“Blu-ray Disc”标准或“HD DVD”标准的第2激光波长光的两道第2副光束可靠地照射于装备于光检测器(73)(图5)的、与以往规格相同的第2受光区域(75)的两个第2副受光部(75b、75c)，依据“Blu-ray Disc”规格或“HD DVD”标准的第2激光波长光的一道第2主光束可靠地照射于装备于光检测器(73)的、与以往规格相同的第2受光区域(75)的一个第2主受光部(75a)。
另外，图1、图2等所示的光拾取装置能够应对具有第1层DL0(图5)和第2层DL1等多个信号面部Da的介质D。
通过构成上述光拾取装置，能良好地进行光拾取装置对具有第1层DL0(图5)和第2层DL1等多个信号面部Da的介质D的信号、信息读取及/或光拾取装置对具有第1层DL0和第2层DL1等多个信号面部Da的介质D的信号、信息写入。由于构成抑制了由衍射光栅64A(图1～图3、图6、图7)产生无用的光的光拾取装置(图1、图2)，因此，在利用光拾取装置对具有多个信号面部Da的介质D进行信号、信息等的读取时、或对具有多个信号面部Da的介质D进行信号、信息等的写入时，能避免例如因产生无用的光而导致产生不良。
例如能避免这样的状况，即，在具有第1层DL0(图5)和第2层DL1这多层DL0、DL1的DVD标准的介质D的第1层DL0中进行信号再现或信号记录时，由衍射光栅64A(图1～图3、图6、图7)产生的无用的光照射于DVD标准的介质D的第2层DL1，结果，DVD标准的介质D的第2层DL1中的无用的反射光作为赝像进入到光检测器73中的DVD受光区域75的一个第2副受光部75b或另一个第2副受光部75c中的任一个或两个，在光检测器73中产生所谓的层间串扰。
例如还能避免这样的状况，即，在具有第1层(DL0)(图5)和第2层(DL1)这多层(DL0)、(DL1)的“Blu-ray Disc”标准或“HD DVD”标准的介质(D)的第1层(DL0)中进行信号再现或信号记录时，由衍射光栅(64A)(图1～图3、图6、图7)产生的无用的光照射于“Blu-ray Disc”标准或“HDDVD”标准的介质(D)的第2层(DL1)，结果，“Blu-ray Disc”标准或“HD DVD”标准的介质(D)的第2层(DL1)中的无用的反射光作为赝像进入到光检测器(73)中的DVD受光区域(75)的一个第2副受光部(75b)或另一个第2副受光部(75c)中的任一个或两个，在光检测器(73)中产生所谓的层间串扰。
实施例2
图9是表示装备于光拾取装置的衍射光栅的第二实施方式的概略图。
图3的右侧及图9所示的衍射光栅64B替代图1、图2及图6所示的衍射光栅64A而装备于光拾取装置(图1、图2)。除将图1、图2及图6所示的衍射光栅64A调换为图3的右侧及图9所示的衍射光栅64B之外，在光拾取装置及光盘装置中没有变化。在图1、图2及图6所示的衍射光栅64A调换为图3的右侧及图9所示的衍射光栅64B这一点上，实施例1与实施例2不同，但在除衍射光栅64A、64B之外的其他部分中，实施例1与实施例2通用。为了方便起见，同时使用图1～图8说明实施例2。另外，在实施例2中，对与实施例1中说明的构件相同的部分标注相同的附图标记，省略其详细说明。
如图3所示，衍射光栅64B通过将形成于一个半平面21的光栅槽的周期构造的相位相对于形成于另一个半平面22的光栅槽的周期构造的相位错位约180度的DVD用衍射光栅构件20粘着于光学玻璃板50的一个平面部50a而构成。通过装备光学玻璃板50，衍射光栅64B的机械强度优于衍射光栅64A(图3中的左侧、图6)的机械强度。
首先，根据自激光单元61的第1或第2光源62、63射出的第1或第2激光的波长λ、和以在衍射光栅64B中连续的从凹部S11到凸部S12或者从凸部S12到凹部S11为一个周期的光栅间隔d，利用基于下式(1)的布拉格角条件的近似计算式求得衍射角θ(参照图9)。另外，图9所示的说明图是为了容易地说明而简便地描绘的图，实际上，假想的发光点X以法线N为中心轴而大致对称地设定为一对的程度。
其次，根据从表示激光单元61的发光面61a所包含的第1或第2光源62、63的现实位置的第1发光点O到衍射光栅64B的大致平滑面S里侧的构成凹面S21的底面Si、构成凸面S22的外表面Sii之间的法线距离L、和由上式(1)求得的衍射角θ，能够决定表示第1或第2光源62、63在激光单元61的发光面61a上的与副光束相关的外观上的位置的第2发光点X。另外，激光单元61的发光面61a与衍射光栅64B的大致平滑面S的法线N垂直，成为位于距面S里侧的构成凹面S21的底面Si、构成凸面S22的外表面Sii分离大致法线距离L的位置的平面。于是，利用下式(2)，求得激光单元61的发光面61a上的从第1发光点O到第2发光点X之间的距离Yr(参照图9)。
根据上式(1)及式(2)求得下式(5)。另外，根据上式(6)、(7)、(8)求得光检测器73的DVD受光区域75中的受光间隔Ys(dvd)。另外，根据上式(9)、(10)、(11)求得光检测器73的CD受光区域74中的受光间隔Ys(cd)。
实施例3
图10是表示装备于光拾取装置的衍射光栅的第三实施方式的概略俯视图，图11是表示图10的衍射光栅中的光盘半径方向与相位差的关系的图。
图10所示的衍射光栅64C替代图1、图2及图6所示的衍射光栅64A而装备于光拾取装置(图1、图2)。除将图1、图2及图6所示的衍射光栅64A调换为图10所示的衍射光栅64C之外，在光拾取装置及光盘装置中没有变化。在图1、图2及图6所示的衍射光栅64A调换为图10所示的衍射光栅64C这一点上，实施例1与实施例3不同，但在除衍射光栅64A、64C之外的其他部分中，实施例1与实施例3通用。为了方便起见，同时使用图1～图6及图14～图16说明实施例3。另外，在实施例3中，对与实施例1中说明的构件相同的部分标注相同的附图标记，省略其详细说明。
另外，图14是表示光拾取装置的视场特性的说明图，图15是表示光拾取装置的副推挽信号振幅级别特性的说明图，图16是表示光拾取装置的跟踪错误相位差特性的说明图。
衍射光栅64C(图10)的衍射面部30a兼作将第1激光波长光至少分为一道第1主光束和两道第1副光束的衍射面部30a、和将第2激光波长光至少分为一道第2主光束和两道第2副光束的衍射面部30a，形成为与多种激光波长光的衍射相对应的一个面部30a。
只要这样地形成衍射光栅64C的衍射面部30a，就能构成能够抑制在衍射光栅64C中产生无用的衍射光、且防止激光的效率降低、并且将价格抑制得较低的光拾取装置。
例如在第1激光波长光透过具有与第1激光波长光相对应的第1衍射面部302(图20、图21)、和与第2激光波长光相对应的第2衍射面部304这两个衍射面部302、304的以往的衍射光栅300A、300B的第1衍射面部302，第1激光波长光至少被分为一道第1主光束和两道第1副光束时，因衍射光栅300A、300B的第2衍射面部304而第1激光波长光的第1主光束进一步无用地衍射、且第1副光束进一步无用地衍射，随之，有可能导致第1激光波长光的第1主光束及第1副光束的光的效率降低。
另外，例如在第2激光波长光透过具有与第1激光波长光相对应的第1衍射面部302、和与第2激光波长光相对应的第2衍射面部304这两个衍射面部302、304的以往的衍射光栅300A、300B的第2衍射面部304，第2激光波长光至少被分为一道第2主光束和两道第2副光束时，因衍射光栅300A、300B的第1衍射面部302而第2激光波长光无用地衍射，随之，有可能导致第2激光波长光的光的效率降低。
但是，只要衍射光栅64C(图10)的衍射面部30a兼作将第1激光波长光至少分为一道第1主光束和两道第1副光束的衍射面部30a、和将第2激光波长光至少分为一道第2主光束和两道第2副光束的衍射面部30a，形成为与多种激光波长光的衍射相对应的一个面部30a，就能避免第1激光波长光的第1主光束及第1副光束无用地衍射而使第1激光波长光的第1主光束及第1副光束的光的效率降低、或者第2激光波长光无用地衍射而使第2激光波长光的光的效率降低。
另外，由于衍射光栅64C的衍射面部30a兼作将第1激光波长光至少分为一道第1主光束和两道第1副光束的衍射面部30a、和将第2激光波长光至少分为一道第2主光束和两道第2副光束的衍射面部30a，形成为与多种激光波长光的衍射相对应的一个面部30a，因此，能构成减少了加工部分、加工工时等的衍射光栅64C。由于衍射光栅64C的加工部分、加工工时等减少，因此，将衍射光栅64C的价格抑制得较低。随之，能够构成能将价格抑制得较低的光拾取装置。
如图10所示，在衍射光栅64C中设有在从激光单元61(图1、图2)射出的激光的一部分产生π弧度的相位移位的相位移位区域部31、33(图10)。衍射光栅64C被分为大致长方形状的第一区域部31、与第一区域部31相邻的大致线状的第二区域部32、和与第二区域部32相邻的大致长方形状的第三区域部33这至少3个区域部31、32、33。衍射光栅64C被分为多个区域部31、32、33。在各区域部31、32、33内构成规定的周期构造。
在图10所示的衍射光栅64C中，为了易于了解第二区域部32的相位状态，方便起见，第二区域部32被带有一定程度宽度地描绘。实际上，衍射光栅64C的第二区域部32为例如宽度32w为20～200μm左右的细线形状。另外，构成衍射光栅64C的各区域部31、32、33的周期构造为重复微细的凹凸状的周期构造。另外，衍射光栅64C为例如做成大致3～10mm方形的纵横尺寸的、厚度为大致0.3～3mm的玻璃板。在立体看图10所示的衍射光栅64C时，衍射光栅64C被观察为例如图1所示的衍射光栅64A的形态。
只要构成被分为多个区域部31、32、33(图10)的衍射光栅64C，就易于良好地进行光拾取装置相对于介质D(图4、图5)的信号面部Da的错误信号检测。例如，易于良好地进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。通过衍射光栅64C(图10)被分为多个区域部31、32、33地构成，对介质D(图4)的信号面部Da照射有各自独立的至少三个聚光点80、81、82。由于在介质D的信号面部Da各自独立地照射有至少三个聚光点80、81、82，因此，在光道间距Dtp不同的两种以上介质D记录、再现时，易于避免跟踪错误信号等错误信号的检测精度降低。因而，能够提供易于进行跟踪控制的光拾取装置。
如图10所示，衍射光栅64C被分为第一区域部31、与第一区域部31相邻的具有与第一区域部31的周期构造不同的周期构造的第二区域部32、和与第二区域部32相邻的具有与第二区域部32的周期构造不同的周期构造的第三区域部33这三个区域部31、32、33。衍射光栅64C构成为所谓的三分割型的直线光栅。
只要图10所示的被分为多个区域部31、32、33的衍射光栅64C装备于光拾取装置，就能良好地进行光拾取装置对介质D(图2、图4、图5)的信号面部Da的错误信号检测。例如，能良好地进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。通过衍射光栅64C(图10)被分为3个区域部31、32、33地构成，对介质D(图4)的信号面部Da照射有各自独立的至少3个聚光点80、81、82。由于在介质D的信号面部Da各自独立地照射有至少3个聚光点80、81、82，因此，在进行光道间距Dtp不同的两种以上介质D的数据记录、或进行光道间距Dtp不同的两种以上介质D的数据再现时，能避免例如随着物镜70(图1、图2)的移位而跟踪错误信号等错误信号的检测精度降低。因而，能够提供易于进行跟踪控制的光拾取装置。
如图10所示，衍射光栅64C具有作为第一区域部31的大致长方形状的一个区域部31、和作为第三区域部33的大致长方形状的另一个区域部33。衍射光栅64C的第一区域部31的宽度31w与第三区域部33的宽度33w为大致相等的宽度。利用衍射光栅64C的第二区域部32，衍射光栅64C被分为构成衍射光栅64C的一个区域部31、和构成衍射光栅64C的另一个区域部33。衍射光栅64C被分割为奇数。
构成衍射光栅64C的大致线状的第二区域部32配置在构成衍射光栅64C的大致长方形状的第一区域部31及大致长方形状的第三区域部33之间。相对于第一区域部31的周期构造，第二区域部32的周期构造为具有不同的相位的周期构造。另外，相对于第二区域部32的周期构造，第三区域部33的周期构造为具有不同的相位的周期构造。相对于第一区域部31的周期构造，第三区域部33的周期构造为具有大致相差180度左右相位的周期构造。
由此，衍射光栅64C中的第一区域部31、第二区域部32和第三区域部33被区别化，并且，衍射光栅64C中的第一区域部31与第三区域部33的相位差明确化。相对于衍射光栅64C的第一区域部31的周期构造，衍射光栅64C的第三区域部33的周期构造为具有大致相差180度左右相位的周期构造，因此，在介质D(图4)的信号面部Da中良好地形成有至少3个各聚光点80、81、82。利用良好地形成于介质D的信号面部Da的至少3个各聚光点80、81、82，在光道间距Dtp不同的多种介质D的数据记录、再现时，易于避免例如随着物镜70(图1、图2)的移位而导致跟踪错误信号恶化。
利用划分第一区域部31(图10)和第二区域部32的边界线部35，将第一区域部31和第二区域部32分开。另外，利用划分第二区域部32和第三区域部33的边界线部37，将第二区域部32和第三区域部33分开。
通过衍射光栅64C被分为3个区域部而区别化，在介质D(图4)的信号面部Da照射有各自独立的至少3个聚光点80、81、82。由于在介质D的信号面部Da各自独立地照射有至少3个聚光点80、81、82，因此，易于进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。
衍射光栅64C(图10)形成为大致矩形板状。在俯视衍射光栅64C时，衍射光栅64C目测为大致矩形板状。
在纵长的大致长方形状的第一区域部31、纵长的大致线状的第二区域部32和纵长的大致长方形状的第三区域部33横向并列地排列的状态下，俯视衍射光栅64C时，在与一区域部右侧相邻的另一区域部的相位相对于衍射光栅64C的一区域部的相位以大致右上升台阶状错开的情况下，另一区域部的相位定为向正(+)侧错开。
另外，在纵长的大致长方形状的第一区域部31、纵长的大致线状的第二区域部32和纵长的大致长方形状的第三区域部33横向并列地排列的状态下，俯视衍射光栅64C时，在与一区域部右侧相邻的另一区域部的相位相对于衍射光栅64C的一区域部的相位以大致右下降台阶状错开的情况下，另一区域部的相位定为向负(-)侧错开。
在俯视衍射光栅64C时，相对于第一区域部31的周期构造，与第一区域部31右侧相邻的第二区域部32的周期构造为具有向正侧错开的相位的周期构造。另外，在俯视衍射光栅64C时，相对于第二区域部32的周期构造，与第二区域部32右侧相邻的第三区域部33的周期构造为具有向正侧错开的相位的周期构造。
衍射光栅64C通过各区域部31、32、33的周期构造的各相位按顺序阶梯状地错开而构成(图11)。衍射光栅64C(图10)为具有所谓的顺相位周期构造的衍射光栅64C。
根据光拾取装置的设计、规格等，也可以使用在例如图10所示的衍射光栅64C中附图标记、引出线、尺寸线等大致保持原样、仅是轮廓线左右翻转而成的衍射光栅(64C)。具体说明这样的方式，例如在俯视衍射光栅(64C)时，相对于第一区域部(31)的周期构造，与第一区域部(31)右侧相邻的第二区域部(32)的周期构造也可以为具有向负侧错开的相位的周期构造。另外，例如在俯视衍射光栅(64C)时，相对于第二区域部(32)的周期构造，与第二区域部(32)右侧相邻的第三区域部(33)的周期构造也可以为具有向负侧错开的相位的周期构造。
本申请中附图标记所带有的括号()是为了说明与附图所示的构件有些许不同的部分而出于方便所使用的。
衍射光栅(64C)通过各区域部(31、32、33)的周期构造的各相位按顺序阶梯状地错开而构成。衍射光栅(64C)为具有所谓的顺相位周期构造的衍射光栅(64C)。
只要将具有顺相位周期构造的衍射光栅装备于光拾取装置，就能增加副推挽信号振幅级别(Sub-PP振幅级别)，易于提高副推挽信号振幅级别特性(Sub-PP振幅级别特性)(图15)。能避免Sub-PP振幅级别(％)减小，Sub-PP振幅级别特性降低。
照射于介质D(图1、图2、图4)的信号面部Da(图4)的至少3个聚光点80、81、82包括主光点80、和夹着主光点80的一对副光点81、82。作为与主光点80和副光点81、82相关的信号振幅级别的Sub-PP振幅级别基于下式(20)来决定。
数1
另外，能减小跟踪错误相位差量(TE相位差量)，易于提高跟踪错误相位差特性(TE相位差特性)(图16)。能避免TE相位差量增加，TE相位差特性降低。
由于提高了Sub-PP振幅级别特性、并提高了TE相位差特性，因此，该光拾取装置能够装备于台式PC用的光拾取装置来使用，并且，也能够装备于笔记本式或便携式PC用的光拾取装置来使用。由于例如台式PC用的光拾取装置所采用的光拾取装置能够使用很大尺寸的物镜，因此，在考虑到视场特性的同时、Sub-PP振幅级别特性、TE相位差特性在设计上相比于视场特性有时更为重要。
另外，由于抑制了跟踪错误视场特性(TE视场特性)的降低，因此，该光拾取装置能够装备于台式PC用的光拾取装置来使用，并且，也能够装备于笔记本式或便携式PC用的光拾取装置来使用。
如图10、图11所示，相对于第一区域部31的周期构造，第二区域部32的周期构造为具有大致相差+60度相位的周期构造。另外，相对于第一区域部31的周期构造，第二区域部32的周期构造为具有大致相差+60度相位的周期构造。另外，相对于第二区域部32的周期构造，第三区域部33的周期构造为具有大致相差+60度相位的周期构造。相对于第一区域部31的周期构造，第三区域部33的周期构造为具有大致相差+180度相位的周期构造。
只要这样地构成的衍射光栅64C装备于光拾取装置，Sub-PP振幅级别(％)就增加，提高了Sub-PP振幅级别特性(图1)。能避免Sub-PP振幅级别(％)减小，Sub-PP振幅级别特性降低。另外，TE相位差量减小，提高了TE相位差特性(图16)。能避免TE相位差量增加，TE相位差特性降低。
采用相位移位型三分割衍射光栅64C(图10)而执行依据直线DPP法的跟踪误差检测法的光拾取装置(图1、图2)能够将TE相位差量抑制得较小(图16)。因而，在装备有包括相位移位型三分割衍射光栅64C(图10)的光拾取装置(图1、图2)的光拾取装置中，即使对于例如光道间距Dtp(图4)不同的任何介质D，也能够以稳定的动作对介质D进行数据、信息的读取、写入。
由于提高了照射于介质D的信号面部Da的Sub-PP振幅级别特性、并提高了TE相位差特性，因此，该光拾取装置能够装备于台式PC用的光拾取装置来使用，并且，也能够装备于笔记本式或便携式PC用的光拾取装置来使用。
另外，只要这样地构成的衍射光栅64C装备于光拾取装置，就能避免跟踪错误振幅级别(TE振幅级别)(％)大幅度减小，TE视场特性显著降低(图14)。由于抑制了TE视场特性大幅度降低，因此，该光拾取装置能够装备于笔记本式或便携式PC用的光拾取装置来使用，并且，也能够装备于台式PC用的光拾取装置来使用。另外，由于抑制了TE视场特性大幅度降低，因此，该光拾取装置也能够用作例如包括多个较小的物镜70的光拾取装置。
相对于通过物镜70(图1、图2)的光瞳面部70a(图2)的光的直径70b，衍射光栅64C的中央部30m(图10)的宽度32w为16～28％，优选为18～26％。即，衍射光栅64C的中央部比率Wr为16～28％，优选为18～26％(图14、图15、图16)。
只要这样地构成的衍射光栅64C装备于光拾取装置，在光道间距Dtp不同的多种介质D数据记录、再现时，易于避免随着物镜70的移位而导致跟踪错误信号恶化。
在相对于通过物镜70的光瞳面部70a的光的直径70b，衍射光栅64C的中央部30m的宽度32w被设定为小于16％的情况下，TE振幅级别(％)减小，TE视场特性容易降低(图14)。即，在衍射光栅64C的中央部比率Wr被设定为小于16％的情况下，OBL中心比(％)减小，TE视场特性易于降低。另外，通过相对于通过物镜70的光瞳面部70a的光的直径70b，衍射光栅64C的中央部30m的宽度32w为18％以上，能抑制TE振幅级别(％)减小，能抑制TE视场特性降低。即，通过衍射光栅64C的中央部比率Wr为18％以上，能抑制OBL中心比(％)减小，能抑制TE视场特性降低。OBL(objective lens)是指物镜的意思。
另外，在相对于通过物镜70的光瞳面部70a的光的直径70b，衍射光栅64C的中央部30m的宽度32w被设定为大于28％的情况下，副推挽信号振幅级别(Sub-PP振幅级别)(％)减小，Sub-PP振幅级别特性容易降低(图15)。通过相对于通过物镜70的光瞳面部70a的光的直径70b，衍射光栅64C的中央部30m的宽度32w为26％以内，能抑制Sub-PP振幅级别(％)减小，能抑制Sub-PP振幅级别特性降低。
另外，在相对于通过物镜70(图2)的光瞳面部70a的光的直径70b，衍射光栅64C(图10)的中央部30m的宽度32w被设定为大于28％的情况下，跟踪错误相位差量(TE相位差量)增加，跟踪错误相位差特性(TE相位差特性)容易降低(图16)。通过使相对于通过物镜70的光瞳面部70a的光的直径70b，衍射光栅64C的中央部30m的宽度32w为26％以内，能抑制TE相位差量增加，能抑制TE相位差特性降低。
通过相对于通过物镜70的光瞳面部70a的光的直径70b，衍射光栅64C的中央部30m的宽度32w被设定为16～28％、优选为18～26％，易于将TE振幅级别(图14)、Sub-PP振幅级别(图15)和TE相位差量(图16)设定为适当的值。
例如，通过相对于通过物镜70的光瞳面部70a的光的直径70b，衍射光栅64C的中央部30m的宽度32w被设定为大致20％，易于将TE振幅级别(图14)、Sub-PP振幅级别(图15)和TE相位差量(图16)设定为最佳的值。由于TE振幅级别、Sub-PP振幅级别和TE相位差量被平衡地设定为适当的值，因此，易于进行光拾取装置的跟踪控制。
衍射光栅64C(图10)的第二区域部32的宽度32w被设定为20～200μm，优选为60～160μm，更优选为96～144μm。即，衍射光栅64C的分割部宽度32w被设定为20～200μm，优选为60～160μm，更优选为96～144μm。
由此，易于良好地进行光拾取装置对介质D的信号面部D a的跟踪。在光道间距Dtp不同的多种介质D的数据记录、再现时，易于避免例如随着物镜70的移位而导致跟踪错误信号恶化。
在衍射光栅64C的第二区域部32的宽度32w为小于20μm的较窄宽度的情况、或者衍射光栅64C的第二区域部32的宽度32w为大于200μm的较宽宽度的情况下，TE视场特性、Sub-PP振幅级别特性和TE相位差特性的平衡被破坏。在各特性的平衡破坏时，跟踪错误信号恶化，难以正确地进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。
例如，通过衍射光栅64C的第二区域部32的宽度32w被设定为60～160μm左右，易于大体上保持TE视场特性、Sub-PP振幅级别特性和TE相位差特性的平衡。随之，易于正确地进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。
优选为，通过衍射光栅64C的第二区域部32的宽度32w被设定为96～144μm的范围内，保持TE视场特性、Sub-PP振幅级别特性和TE相位差特性的平衡。由此，能避免跟踪错误信号的恶化。因而，能正确地进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。
该光拾取装置(图1、图2)例如包括俯视大致矩形的衍射光栅64C(图10)、会聚至少3道光束而对介质D(图1、图2、图4)的信号面部Da(图4)照射各自独立的至少3个聚光点80、81、82的物镜70(图1、图2)、和接受介质D中的3个各聚光点80、81、82(图4)的反射光的光检测器73(图1、图2、图4、图5)而构成。
只要这样地构成光拾取装置，就能高精度地进行光拾取装置对介质D(图4)的信号面部Da的跟踪。在光道间距Dtp不同的多种介质D的数据记录、再现时，易于避免随着物镜70(图1、图2)的移位而跟踪错误信号的振幅恶化、在跟踪错误信号中残留偏离。
通过构成包括相位移位型三分割衍射光栅64C(图10)的光拾取装置，能可靠地进行光拾取装置对DVD-RAM的数据再现动作或者数据记录动作。另外，也能可靠地进行光拾取装置对DVD±R、DVD±RW的数据再现动作或者数据记录动作。
实施例4
图12是表示装备于光拾取装置的衍射光栅的第四实施方式的概略俯视图，图13是表示图12的衍射光栅中的光盘半径方向与相位差的关系的图。
图12所示的衍射光栅64D替代图1、图2及图6所示的衍射光栅64A而装备于光拾取装置(图1、图2)。除将图1、图2及图6所示的衍射光栅64A调换为图12所示的衍射光栅64D之外，在光拾取装置及光盘装置中没有变化。在图1、图2及图6所示的衍射光栅64A调换为图12所示的衍射光栅64D这一点上，实施例1与实施例4不同，但在除衍射光栅64A、64D之外的其他部分中，实施例1与实施例4通用。为了方便起见，同时使用图1～图6及图14～图16说明实施例4。另外，在实施例4中，对与实施例4中说明的构件相同的部分标注相同的附图标记，省略其详细说明。
衍射光栅64D(图12)的衍射面部40a兼作将第1激光波长光至少分为一道第1主光束和两道第1副光束的衍射面部40a、和将第2激光波长光至少分为一道第2主光束和两道第2副光束的衍射面部40a，形成为与多种激光波长光的衍射相对应的一个面部40a。
只要这样地形成衍射光栅64D的衍射面部40a，就能构成能够抑制在衍射光栅64D中产生无用的衍射光、且防止激光的效率降低、并且将价格抑制得较低的光拾取装置。
例如在第1激光波长光透过具有与第1激光波长光相对应的第1衍射面部302(图20、图21)、和与第2激光波长光相对应的第2衍射面部304这两个衍射面部302、304的以往的衍射光栅300A、300B的第1衍射面部302，第1激光波长光至少被分为一道第1主光束和两道第1副光束时，因衍射光栅300A、300B的第2衍射面部304而使第1激光波长光的第1主光束进一步无用地衍射、且第1副光束进一步无用地衍射，随之，有可能导致第1激光波长光的第1主光束及第1副光束的光的效率降低。
另外，例如在第2激光波长光透过具有与第1激光波长光相对应的第1衍射面部302、和与第2激光波长光相对应的第2衍射面部304这两个衍射面部302、304的以往的衍射光栅300A、300B的第2衍射面部304，第2激光波长光至少被分为一道第2主光束和两道第2副光束时，因衍射光栅300A、300B的第1衍射面部302而第2激光波长光无用地衍射，随之，有可能导致第2激光波长光的光的效率降低。
但是，只要衍射光栅64D(图12)的衍射面部40a兼作将第1激光波长光至少分为一道第1主光束和两道第1副光束的衍射面部40a、和将第2激光波长光至少分为一道第2主光束和两道第2副光束的衍射面部40a，形成为与多种激光波长光的衍射相对应的一个面部40a，就能避免第1激光波长光的第1主光束及第1副光束无用地衍射而第1激光波长光的第1主光束及第1副光束的光的效率降低、或者第2激光波长光无用地衍射而第2激光波长光的光的效率降低。
另外，由于衍射光栅64D的衍射面部40a兼作将第1激光波长光至少分为一道第1主光束和两道第1副光束的衍射面部40a、和将第2激光波长光至少分为一道第2主光束和两道第2副光束的衍射面部40a，形成为与多种激光波长光的衍射相对应的一个面部40a，因此，能构成减少了加工部分、加工工时等的衍射光栅64D。由于衍射光栅64D的加工部分、加工工时等减少，因此，将衍射光栅64D的价格抑制得较低。随之，能够构成能将价格抑制得较低的光拾取装置。
如图12所示，在衍射光栅64D中设有在从激光单元61(图1、图2)射出的激光的一部分产生π弧度的相位移位的相位移位区域部41、44(图12)。衍射光栅64D被分为大致长方形状的第一区域部41、与第一区域部41相邻的大致线状的第二区域部42、与第二区域部42相邻的大致线状的第三区域部43、和与第三区域部43相邻的大致长方形状的第四区域部44这至少4个区域部41、42、43、44。衍射光栅64D被分为多个区域部41、42、43、44。在各区域部41、42、43、44内构成规定的周期构造。
在图12所示的衍射光栅64D中，为了易于了解第二区域部42的相位状态和第三区域部43的相位状态，方便起见，第二区域部42及第三区域部43被带有一定程度的宽度地描绘。实际上，衍射光栅64D的第二区域部42及衍射光栅64D的第三区域部43为例如宽度40w为20～200μm左右的细线形状。另外，构成衍射光栅64D的各区域部41、42、43、44的周期构造为重复微细的凹凸状的周期构造。另外，衍射光栅64D为例如做成大致3～10mm方形的纵横尺寸的、厚度为大致0.3～3mm的玻璃板。在立体看图12所示的衍射光栅64D时，衍射光栅64D被观察为例如图1所示的衍射光栅64A的形态。
只要构成被分为多个区域部41、42、43、44(图12)的衍射光栅64D，就易于良好地进行光拾取装置相对于介质D(图4、图5)的信号面部Da的错误信号检测。例如，易于良好地进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。通过衍射光栅64D(图12)被分为多个区域部41、42、43、44地构成，对介质D(图4)的信号面部Da照射有各自独立的至少三个聚光点80、81、82。由于在介质D的信号面部Da各自独立地照射有至少三个聚光点80、81、82，因此，在光道间距Dtp不同的两种以上介质D记录、再现时，易于避免跟踪错误信号等错误信号的检测精度降低。因而，能够提供易于进行跟踪控制的光拾取装置。
如图12所示，衍射光栅64D被分为偶数的区域部41、42、43、44。
只要构成被分为偶数的区域部41、42、43、44的衍射光栅64D，形成于介质D(图4)的信号面部Da的聚光点80、81、82就形成为高精度的聚光点80、81、82。衍射光栅64D例如被衍射光栅64D(图12)的第二区域部42和与第二区域部42相邻的第三区域部43的分界线部46至少二等分而分割为偶数的包括第一区域部41及与第一区域部41相邻的第二区域部42的一个区域部48、和包括第三区域部43及与第三区域部43相邻的第四区域部44的另一个区域部49，因此，在光拾取装置中装备有衍射光栅64D时，照在衍射光栅64D上的光易于以大致二等分的状态照在衍射光栅64D的一个区域部48、和衍射光栅64D的另一个区域部49。由于光易于以大致二等分的状态照在衍射光栅64D的一个区域部48、和衍射光栅64D的另一个区域部49，因此，衍射光栅64D易于高精度地装备于光拾取装置。因而，易于在介质D(图4)的信号面部Da高精度地形成聚光点80、81、82。随之，提高了光道间距Dtp不同的两种以上介质D在记录、再现时的跟踪错误信号等错误信号的检测精度。另外，易于高精度地进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。
如图12所示，衍射光栅64D被分为第一区域部41、与第一区域部41相邻的具有与第一区域部41的周期构造不同的周期构造的第二区域部42、与第二区域部42相邻的具有与第二区域部42的周期构造不同的周期构造的第三区域部43、和与第三区域部43相邻的具有与第三区域部43的周期构造不同的周期构造的第四区域部44这至少四个区域部41、42、43、44。衍射光栅64D构成为所谓的四分割型的直线光栅。
只要图12所示的被分为多个区域部41、42、43、44的衍射光栅64D装备于光拾取装置，就能良好地进行光拾取装置对介质D(图2、图4、图5)的信号面部Da的错误信号检测。例如，能良好地进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。通过衍射光栅64D(图12)被分为4个区域部41、42、43、44地构成，对介质D(图4)的信号面部Da照射有各自独立的至少3个聚光点80、81、82。由于在介质D的信号面部Da各自独立地照射有至少3个聚光点80、81、82，因此，在进行光道间距Dtp不同的两种以上介质D的数据记录、或进行光道间距Dtp不同的两种以上介质D的数据再现时，能避免例如随着物镜70(图1、图2)的移位而跟踪错误信号等错误信号的检测精度降低。因而，能够提供易于进行跟踪控制的光拾取装置。
如图12所示，衍射光栅64D具有包括第一区域部41及与第一区域部41相邻的第二区域部42的大致长方形状的一个区域部48、和包括第三区域部43及与第三区域部43相邻的第四区域部44的大致长方形状的另一个区域部49。衍射光栅64D的第一区域部41的宽度41w与第四区域部44的宽度44w为大致相等的宽度。利用衍射光栅64D的第二区域部42和与该第二区域部42相邻的衍射光栅64D的第三区域部43的分界线部46，衍射光栅64D被二等分为构成衍射光栅64D的一个区域部48、和构成衍射光栅64D的另一个区域部49。衍射光栅64D被分割为偶数。
由此，形成于介质D(图4)的信号面部Da的聚光点80、81、82形成为高精度的聚光点80、81、82。由于衍射光栅64D被偶数分割而成的衍射光栅64D(图12)的第二区域部42、和与第二区域部42相邻的第三区域部43的分界线部46二等分为包括第一区域部41及与第一区域部41相邻的第二区域部42的一个区域部48、和包括第三区域部43及与第三区域部43相邻的第四区域部44的另一个区域部49，因此，在光拾取装置的机壳(未图示)中装备有衍射光栅64D时，从激光单元61(图1、图2)射出而照在衍射光栅64D的激光利用例如未图示的光轴调整用照相机等容易地调整光轴。从激光单元61射出而照在衍射光栅64D之后透过物镜70的激光能够使用例如光轴调整用照相机等来观察。
在图12所示的四分割型衍射光栅64D中，在衍射光栅64D中设有将衍射光栅64D的大致中央二等分而构成大致长方形状的一个区域部48、和大致长方形状的另一个区域部49的分界线部46，因此，在使用光轴调整用照相机等调整激光的光轴时，激光易于以被大致二等分的状态照在构成衍射光栅64D的大致长方形状的一个区域部48、和构成衍射光栅64D的大致长方形状的另一个区域部49中。
通过激光易于以被大致二等分的状态照在构成衍射光栅64D的大致长方形状的一个区域部48、和构成衍射光栅64D的大致长方形状的另一个区域部49中，衍射光栅64D易于在高精度地定位调整的同时、装备于光拾取装置的机壳。因而，易于在介质D(图4)的信号面部Da高精度地形成聚光点80、81、82。随之，易于高精度地进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。
相对于衍射光栅64D的第二区域部42的周期构造，衍射光栅64D的第三区域部43的周期构造为具有相差3～180度范围内的相位的周期构造。
由此，形成于介质D的信号面部Da的聚光点80、81、82易于形成为更高精度的聚光点80、81、82。相对于衍射光栅64D的第二区域部42的周期构造，构成衍射光栅64D的第三区域部43的周期构造为具有相差3～180度范围内的相位的周期构造，因此，衍射光栅64D的第二区域部42和与第二区域部42相邻的衍射光栅64D的第三区域部43的分界线部46大致明确化。
在相对于第二区域部42的周期构造，第三区域部43的周期构造为具有相差小于3度的相位的周期构造的情况下，第二区域部42与第三区域部43的分界线部46未明确化。在相对于第二区域部42的周期构造，第三区域部43的周期构造为具有相差例如3～90度范围内的相位的周期构造的情况下，能形成在第二区域部42与第三区域部43的分界线部46明确化的同时、具有适当特性的衍射光栅64D。
由于衍射光栅64D的第二区域部42与衍射光栅64D的第三区域部43的分界线部46大致明确化，因此，包括第一区域部41及与第一区域部41相邻的第二区域部42的衍射光栅64D的一个区域部48、和包括第三区域部43及与第三区域部43相邻的第四区域部44的衍射光栅64D的另一个区域部49的分界线部46明确化。因而，激光以大致二等分的状态照在衍射光栅64D的一个区域部48和衍射光栅64D的另一个区域部49。在激光以大致二等分的状态照在衍射光栅64D的一个区域部48和衍射光栅64D的另一个区域部49时，衍射光栅64D能高精度地装备于光拾取装置的机壳。
构成衍射光栅64D的大致线状的第二区域部42及大致线状的第三区域部43配置在构成衍射光栅64D的大致长方形状的第一区域部41及大致长方形状的第四区域部44之间。相对于第一区域部41的周期构造，第二区域部42的周期构造为具有不同的相位的周期构造。另外，相对于第二区域部42的周期构造，第三区域部43的周期构造为具有不同的相位的周期构造。另外，相对于第三区域部43的周期构造，第四区域部44的周期构造为具有不同的相位的周期构造。相对于第一区域部41的周期构造，第四区域部44的周期构造为具有大致相差180度左右相位的周期构造。
由此，衍射光栅64D中的第一区域部41、第二区域部42、第三区域部43和第四区域部44被区别化，并且，衍射光栅64D中的第一区域部41与第四区域部44的相位差明确化。相对于衍射光栅64D的第一区域部41的周期构造，衍射光栅64D的第四区域部44的周期构造为具有大致相差180度左右相位的周期构造，因此，在介质D(图4)的信号面部Da中良好地形成有至少3个各聚光点80、81、82。利用良好地形成于介质D的信号面部Da的至少3个各聚光点80、81、82，在光道间距Dtp不同的多种介质D的数据记录、再现时，易于避免例如随着物镜70(图1、图2)的移位而导致跟踪错误信号恶化。
利用划分第一区域部41(图12)和第二区域部42的边界线部45，将第一区域部41和第二区域部42分开。另外，利用划分第二区域部42和第三区域部43的边界线部46，将第二区域部42和第三区域部43分开。另外，利用划分第三区域部43和第四区域部44的边界线部47，将第三区域部43和第四区域部44分开。
相对于第一区域部41的周期构造，第二区域部42的周期构造为具有相差30～180度范围内的相位的周期构造。另外，相对于第二区域部42的周期构造，第三区域部43的周期构造为具有相差3～180度范围内的相位的周期构造。另外，相对于第三区域部43的周期构造，第四区域部44的周期构造为具有相差30～180度范围内的相位的周期构造。
由此，衍射光栅64D中的第一区域部41、第二区域部42、第三区域部43和第四区域部44被大致明确地区别化。由于相对于构成衍射光栅64D的第一区域部41的周期构造，构成衍射光栅64D的第二区域部42的周期构造为具有相差30～180度范围内的相位的周期构造，因此，衍射光栅64D的第一区域部41与衍射光栅64D的第二区域部42被明确地区别化。另外，由于相对于构成衍射光栅64D的第二区域部42的周期构造，构成衍射光栅64D的第三区域部43的周期构造为具有相差3～180度范围内的相位的周期构造，因此，衍射光栅64D的第二区域部42与衍射光栅64D的第三区域部43被大致区别化。另外，由于相对于构成衍射光栅64D的第三区域部43的周期构造，构成衍射光栅64D的第四区域部44的周期构造为具有相差30～180度范围内的相位的周期构造，因此，衍射光栅64D的第三区域部43与衍射光栅64D的第四区域部44被明确地区别化。
通过衍射光栅64D被分为4个区域部而区别化，在介质D(图4)的信号面部Da照射有各自独立的至少3个聚光点80、81、82。由于在介质D的信号面部Da各自独立地照射有至少3个聚光点80、81、82，因此，易于进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。另外，通过各区域部的周期构造的相位被适当地设定为已决定的数值范围内，提高了衍射光栅64D(图12)的设计自由度，并且，也提高了光拾取装置的设计自由度。因而，能构成易于与使用的部位相对应地发挥最佳特性的光拾取装置。
衍射光栅64D形成为大致矩形板状。在俯视衍射光栅64D时，衍射光栅64D目测为大致矩形板状。
在纵长的大致长方形状的第一区域部41、纵长的大致线状的第二区域部42、纵长的大致线状的第三区域部43、和纵长的大致长方形状的第四区域部44横向并列地排列的状态下，俯视衍射光栅64D时，在与一区域部的右侧相邻的另一区域部的相位相对于衍射光栅64D的一区域部的相位以大致右上升台阶状错开的情况下，另一区域部的相位定为向正(+)侧错开。
另外，在纵长的大致长方形状的第一区域部41、纵长的大致线状的第二区域部42、纵长的大致线状的第三区域部43、和纵长的大致长方形状的第四区域部44横向并列地排列的状态下，俯视衍射光栅64D时，在与一区域部的右侧相邻的另一区域部的相位相对于衍射光栅64D的一区域部的相位以大致右下降台阶状错开的情况下，另一区域部的相位定为向负(-)侧错开。
在俯视衍射光栅64D时，相对于第一区域部41的周期构造，与第一区域部41的右侧相邻的第二区域部42的周期构造为具有向正侧错开的相位的周期构造。另外，在俯视衍射光栅64D时，相对于第二区域部42的周期构造，与第二区域部42的右侧相邻的第三区域部43的周期构造为具有向负侧错开的相位的周期构造。另外，在俯视衍射光栅64D时，相对于第三区域部43的周期构造，与第三区域部43右侧相邻的第四区域部44的周期构造为具有向正侧错开的相位的周期构造。
衍射光栅64D通过仅使第三区域部43的周期构造的相位方向相对于第一区域部41、第二区域部42、第三区域部43、第四区域部44的周期构造的相位逆向错开而构成(图13)。衍射光栅64D(图12)为具有所谓的反相位周期构造的衍射光栅64D。
根据光拾取装置的设计、规格等，也可以使用在例如图12所示的衍射光栅64D中符号、引出线、尺寸线等大致保持原样、仅是轮廓线以分界线部(46)为中心左右翻转而成的衍射光栅(64D)。具体说明这样的方式，例如在俯视衍射光栅(64D)时，相对于第一区域部(41)的周期构造，与第一区域部(41)的右侧相邻的第二区域部(42)的周期构造也可以为具有向负侧错开的相位的周期构造。另外，例如在俯视衍射光栅(64D)时，相对于第二区域部(42)的周期构造，与第二区域部(42)的右侧相邻的第三区域部(43)的周期构造也可以为具有向正侧错开的相位的周期构造。另外，例如在俯视衍射光栅(64D)时，相对于第三区域部(43)的周期构造，与第三区域部(43)的右侧相邻的第四区域部(44)的周期构造也可以为具有向负侧错开的相位的周期构造。
衍射光栅(64D)通过仅使第三区域部(43)的周期构造的相位方向相对于第一区域部(41)、第二区域部(42)、第四区域部(44)的周期构造的相位逆向错开而构成。衍射光栅(64D)为具有所谓的反相位周期构造的衍射光栅(64D)。
只要具有反相位周期构造的衍射光栅装备于光拾取装置，TE振幅级别(％)就增加，易于提高TE视场特性(图14)。能避免TE振幅级别(％)减小，TE视场特性降低。由于提高了TE视场特性，因此，该光拾取装置优选装备于笔记本式或台式PC用的光盘装置。另外，由于提高了TE视场特性，因此，该光拾取装置优选用作例如包括较小的物镜70的光拾取装置。由于笔记本式或台式PC用的光盘装置所采用的光拾取装置、包括多个物镜70的光拾取装置使用较小尺寸的物镜，因此，主要是视场特性较为重要。
另外，根据光拾取装置的设计、规格等，也可以在该光拾取装置中装备具有顺相位周期构造的四分割型衍射光栅(未图示)。另外，根据光拾取装置的设计、规格等，该光拾取装置也可以装备于台式PC用的光盘装置。
如图12、图13所示，相对于第一区域部41的周期构造，第二区域部42的周期构造为具有大致相差+120度相位的周期构造。另外，相对于第二区域部42的周期构造，第三区域部43的周期构造为具有大致相差-60度相位的周期构造。相对于第一区域部41的周期构造，第三区域部43的周期构造为具有大致相差+60度相位的周期构造。另外，相对于第三区域部43的周期构造，第四区域部44的周期构造为具有大致相差+120度相位的周期构造。相对于第一区域部41的周期构造，第四区域部44的周期构造为具有大致相差+180度相位的周期构造。
只要这样地构成的衍射光栅64D装备于光拾取装置，TE振幅级别(％)就增加，TE视场特性大幅度提高(图14)。能避免TE振幅级别(％)减小，TE视场特性降低。与包括被分为3个相位区域部31、32、33(图10)的衍射光栅64C的光拾取装置的TE视场特性相比，该光拾取装置的TE视场特性大幅度提高(图14)。由于TE视场特性大幅度提高，因此，该光拾取装置优选装备于笔记本式或台式PC用的光盘装置。另外，由于TE视场特性大幅度提高，因此，该光拾取装置优选用作例如包括多个较小的物镜70的光拾取装置。
将衍射光栅64D的第二区域部42与第三区域部43合成的区域部42、43作为衍射光栅64D的纵长的中央部40m。相对于通过物镜70(图1、图2)的光瞳面部70a(图2)的光的直径70b，衍射光栅64D的中央部40m(图12)的宽度40w为16～28％，优选为18～26％。即，衍射光栅64D的中央部比率Wr为16～28％，优选为18～26％(图14、图15、图16)。
只要这样地构成的衍射光栅64D装备于光拾取装置，在光道间距Dtp不同的多种介质D数据记录、再现时，易于避免随着物镜70的移位而导致跟踪错误信号恶化。
在相对于通过物镜70的光瞳面部70a的光的直径70b，衍射光栅64D的中央部40m的宽度40w被设定为小于16％的情况下，TE振幅级别(％)减小，TE视场特性容易降低(图14)。即，在衍射光栅64D的中央部比率Wr被设定为小于16％的情况下，OBL中心比(％)减小，TE视场特性易于降低。另外，通过相对于通过物镜70的光瞳面部70a的光的直径70b，衍射光栅64D的中央部40m的宽度40w为18％以上，能抑制TE振幅级别(％)减小，能抑制TE视场特性降低。即，通过衍射光栅64D的中央部比率Wr为18％以上，能抑制OBL中心比(％)减小，能抑制TE视场特性降低。
另外，在相对于通过物镜70的光瞳面部70a的光的直径70b，衍射光栅64D的中央部40m的宽度40w被设定为大于28％的情况下，副推挽信号振幅级别(Sub-PP振幅级别)(％)减小，Sub-PP振幅级别特性易于降低(图15)。通过相对于通过物镜70的光瞳面部70a的光的直径70b，衍射光栅64D的中央部40m的宽度40w为26％以内，能抑制Sub-PP振幅级别(％)减小，能抑制Sub-PP振幅级别特性降低。
另外，在相对于通过物镜70(图2)的光瞳面部70a的光的直径70b，衍射光栅64D(图12)的中央部40m的宽度40w被设定为大于28％的情况下，跟踪错误相位差量(TE相位差量)增加，跟踪错误相位差特性(TE相位差特性)容易降低(图16)。通过相对于通过物镜70的光瞳面部70a的光的直径70b，衍射光栅64D的中央部40m的宽度40w为26％以内，能抑制TE相位差量增加，能抑制TE相位差特性降低。
通过相对于通过物镜70的光瞳面部70a的光的直径70b，衍射光栅64D的中央部40m的宽度40w被设定为16～28％、优选为18～26％，易于将TE振幅级别(图14)、Sub-PP振幅级别(图15)和TE相位差量(图16)设定为适当的值。
例如，通过相对于通过物镜70的光瞳面部70a的光的直径70b，衍射光栅64D的中央部40m的宽度40w被设定为大致20％，易于将TE振幅级别(图14)、Sub-PP振幅级别(图15)和TE相位差量(图16)设定为最佳的值。由于TE振幅级别、Sub-PP振幅级别和TE相位差量被平衡地设定为适当的值，因此，易于进行光拾取装置的跟踪控制。
衍射光栅64D(图12)的第二区域部42的宽度42w、和衍射光栅64D的第三区域部43的宽度43w两者均被设定为10～100μm，优选为30～80μm，更优选为48～72μm。即，衍射光栅64D的分割部宽度42w、43w被设定为10～100μm，优选为30～80μm，更优选为48～72μm。
由此，易于良好地进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。在光道间距Dtp不同的多种介质D的数据记录、再现时，易于避免例如随着物镜70的移位而导致跟踪错误信号恶化。
在衍射光栅64D的第二区域部42的宽度42w、和衍射光栅64D的第三区域部43的宽度43w两者均为小于10μm的较窄宽度的情况、或者衍射光栅64D的第二区域部42的宽度42w、和衍射光栅64D的第三区域部43的宽度43w两者均为大于100μm的较宽宽度的情况下，TE视场特性、Sub-PP振幅级别特性和TE相位差特性的平衡被破坏。在各特性的平衡破坏时，跟踪错误信号恶化，难以正确地进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。
例如，通过衍射光栅64D的第二区域部42的宽度42w、和衍射光栅64D的第三区域部43的宽度43w两者均被设定为30～80μm左右，容易大体上保持TE视场特性、Sub-PP振幅级别特性和TE相位差特性的平衡。随之，易于正确地进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。
优选为，通过衍射光栅64D的第二区域部42的宽度42w、和衍射光栅64D的第三区域部43的宽度43w两者均被设定为48～72μm的范围内，保持TE视场特性、Sub-PP振幅级别特性和TE相位差特性的平衡。由此，能避免跟踪错误信号的恶化。因而，能正确地进行光拾取装置对介质D的信号面部Da的跟踪。
例如在包括三分割型衍射光栅64C(图10)的光拾取装置中，改变TE视场特性或TE相位差特性只能通过改变三分割型衍射光栅64C的中央部30m的宽度32w来完成。
相对于此，在包括四分割型衍射光栅64D(图12)的光拾取装置(图1、图2)中，在改变TE视场特性、TE相位差特性等的情况下，除改变四分割型衍射光栅64D(图12)的中央部40m的宽度40w之外，通过改变构成四分割型衍射光栅64D的中央部40m的各区域部42、43的格子状间距的相位差，也能够调整改变各种特性。
通过调整设定四分割型衍射光栅64D的中央部40m的宽度40w、和构成四分割型衍射光栅64D的中央部40m的各区域部42、43的格子状间距的相位差，能够设计能发挥期望性能、并取得各种特性的平衡的光拾取装置。因而，提高了设计光拾取装置时的设计自由度。
该光拾取装置(图1、图2)例如包括俯视大致矩形的衍射光栅64D(图12)、会聚至少3道光束而对介质D(图1、图2、图4)的信号面部D a(图4)照射各自独立的至少3个聚光点80、81、82的物镜70(图1、图2)、和接受介质D中的3个各聚光点80、81、82(图4)的反射光的光检测器73(图1、图2、图4、图5)而构成。
只要这样地构成光拾取装置，就能高精度地进行光拾取装置对介质D(图4)的信号面部D a的跟踪。在光道间距Dtp不同的多种介质D的数据记录、再现时，容易避免随着物镜70(图1、图2)的移位而导致跟踪错误信号的振幅恶化、或在跟踪错误信号中残留偏离。
通过构成包括相位移位型四分割衍射光栅64D(图12)的光拾取装置，能可靠地进行光拾取装置对DVD-RAM的数据再现动作或者数据记录动作。另外，也能可靠地进行光拾取装置对DVD±R、DVD±RW的数据再现动作或者数据记录动作。
光盘装置的说明
光盘装置(未图示)包括上述实施例1、2、3、4所示的光拾取装置(图1、图2)中的至少一个光拾取装置而构成。具体地说明，光盘装置包括上述实施例1、2、3、4所示的光拾取装置中的任意单一的光拾取装置而构成。上述光拾取装置装备于未图示的光盘装置。
通过上述实施例1、2、3、4所示的光拾取装置装备于光盘装置，能够构成这样的光盘装置，即，至少包括能抑制在衍射光栅64A、64B、64C、64D中产生无用的衍射光且防止激光的效率降低的光拾取装置。
另外，能够提供包括易于进行高精度的跟踪控制等控制的单一的光拾取装置。能利用包括光拾取装置的光盘装置正常地自各介质D读取数据、或向各介质D写入数据。在向光盘装置中插入各介质D而读取光道间距Dtp不同的多种介质D的数据、或者向光道间距Dtp不同的多种介质D中写入数据时，易于避免随着物镜70的移位而导致跟踪错误信号恶化。因而，能提供这样的光盘装置，即，包括易于进行高精度的跟踪控制等控制的、单一的光拾取装置。
另外，只要在光盘装置中内置有能够应对光道间距Dtp不同的多种介质D的一个光拾取装置，就能将光盘装置的价格抑制得较低。应对光道间距Dtp不同的多种介质D而在光盘装置中内置多个光拾取装置，随之，能避免光盘装置的价格大幅度上升。
上述光拾取装置以及包括上述光拾取装置的光盘装置能够用于向上述各种光盘中记录数据、信息、信号等、或者将上述各种光盘的数据、信息、信号等再现的记录再现装置。另外，上述光拾取装置以及包括上述光拾取装置的光盘装置也能够用于将上述各种光盘的数据、信息、信号等再现的再现专用装置。
另外，上述光拾取装置以及包括上述光拾取装置的光盘装置装备于组装在例如计算机、音响、视频装置、游戏机、车载机(均未图示)等的光盘装置中。另外，上述光拾取装置以及包括上述光拾取装置的光盘装置能够装备于例如笔记本式PC、便携式PC、台式PC、车载用计算机等计算机、计算机游戏机等游戏机、CD播放器、CD记录器、DVD播放器、DVD记录器等的音响及/或视频装置等(均未图示)。另外，上述光拾取装置能够应对CD类光盘、DVD类光盘、“HD DVD”类光盘、“Blu-ray Disc”类光盘等多个磁盘。另外，上述光拾取装置能够应对具有多层信号面部的一张光盘。上述光拾取装置能够装备于例如应对“CD”、“DVD”、“HD DVD”、“Blu-ray Disc”等各种光盘的计算机、音响及/或视频装置、游戏机、车载机等(均未图示)。
以上，说明了本发明的实施方式，但上述实施方式用于容易地理解本发明，并不是用于限定地解释本发明。本发明能够不脱离其主旨地进行变化、改良，并且本发明中也包含其等价物。
也可以替代包括例如图3、图7所示的两个区域部21、22的二分割型衍射光栅64A、64B，而使用做成其他实施方式的包括两个区域部的二分割型衍射光栅(未图示)。另外，也可以替代包括例如图10所示的三个区域部31、32、33的三分割型衍射光栅64C，而使用做成其他实施方式的包括三个区域部的三分割型衍射光栅(未图示)。另外，也可以替代包括例如图12所示的四个区域部41、42、43、44的四分割型衍射光栅64D，而使用做成其他实施方式的包括四个区域部的四分割型衍射光栅(未图示)。这样，能够使用包括各种多个区域部的多分割型衍射光栅。
另外，也可以在包括例如图10所示的三个区域部(31、32、33)的三分割型衍射光栅(64C)中安装光学玻璃板(50)(图3、图9)。另外，也可以在包括例如图12所示的四个区域部(41、42、43、44)的四分割型衍射光栅(64D)中安装光学玻璃板(50)(图3、图9)。
另外，例如第1激光也可以是DVD标准的波长大致660nm(第1波长)的红色激光，第2激光也可以是波长大致405nm(第2波长)的“HD DVD”标准或“Blu-ray Disc”标准的蓝紫色激光。另外，在这种情况下，衍射光栅64A、64B、64C、64D仅由具有基于“HD DVD”或“Blu-ray Disc”的波长的光栅间隔的衍射光栅构件。
通过构成上述光拾取装置，能够提供在谋求简化光学系统的同时、应对波长不同的两个第1及第2激光、抑制无用的衍射光而提高错误信号的检测精度、并且廉价高效的光拾取装置。

Claims (25)

1.一种光拾取装置，其特征在于，
至少包括：
衍射光栅，其将第1波长光至少分为第1主光束和第1副光束，将第2波长光至少分为第2主光束和第2副光束，具有应对第2波长光的衍射面部；
光检测器，包括供上述第1主光束照射的第1主受光部、供上述第1副光束照射的第1副受光部、供上述第2主光束照射的第2主受光部、和供上述第2副光束照射的第2副受光部；
相对于规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离，上述第1主受光部与上述第1副受光部之间的距离发生变化。
2.根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，
变化后的上述第1主受光部与上述第1副受光部之间的上述距离被设定得大于上述规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离。
3.根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，
在将上述规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离的值定为100％的值时，相对于上述规格化后的第1主受光部与第1副受光部之间的距离的值，变化后的上述第1主受光部与上述第1副受光部之间的上述距离的值被设定为大致111％的值。
4.根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，
在将上述规格化后的第2主受光部与第2副受光部之间的距离的值定为100％的值时，相对于上述规格化后的第2主受光部与第2副受光部之间的距离的值，上述第2主受光部与上述第2副受光部之间的上述距离的值被设定为大致100％的值。
5.一种光拾取装置，其特征在于，
至少包括：
衍射光栅，其将第1波长光至少分为第1主光束和第1副光束，将第2波长光至少分为第2主光束和第2副光束，具有应对第2波长光的衍射面部；
光检测器，其包括供上述第1主光束照射的第1主受光部、供上述第1副光束照射的第1副受光部、供上述第2主光束照射的第2主受光部、和供上述第2副光束照射的第2副受光部；
在以上述第1主受光部为中心地配置有一对位置变化后的上述第1副受光部，在前侧的上述第1副受光部、中央的上述第1主受光部、后侧的上述第1副受光部并列设置时，前侧的上述第1副受光部、中央的上述第1主受光部、后侧的上述第1副受光部的分光比相对于规格化后的前侧的第1副受光部、中央的第1主受光部、后侧的第1副受光部的分光比发生变化。
6.根据权利要求5所述的光拾取装置，其特征在于，
在以上述第1主受光部为中心地配置有一对位置变化后的上述第1副受光部，前侧的上述第1副受光部、中央的上述第1主受光部、后侧的上述第1副受光部并列设置时，前侧的上述第1副受光部、中央的上述第1主受光部、后侧的上述第1副受光部的分光比为大致1∶(20～26)∶1。
7.根据权利要求5所述的光拾取装置，其特征在于，
在以上述第2主受光部为中心地配置有一对上述第2副受光部，前侧的上述第2副受光部、中央的上述第2主受光部、后侧的上述第2副受光部并列设置时，前侧的上述第2副受光部、中央的上述第2主受光部、后侧的上述第2副受光部的分光比为大致1∶(12～18)∶1。
8.一种光拾取装置，其特征在于，
至少包括：
衍射光栅，其将第1波长光至少分为第1主光束和第1副光束，将第2波长光至少分为第2主光束和第2副光束，具有应对第2波长光的衍射面部；
光检测器，其包括供上述第1主光束照射的第1主受光部、供上述第1副光束照射的第1副受光部、供上述第2主光束照射的第2主受光部、和供上述第2副光束照射的第2副受光部；
上述第1主受光部的受光灵敏度的值相对于规格化后的第1主受光部中的受光灵敏度的值发生变化或与规格化后的第1主受光部中的受光灵敏度的值相同，
上述第1副受光部的受光灵敏度的值相对于规格化后的第1副受光部的受光灵敏度的值发生变化。
9.根据权利要求8所述的光拾取装置，其特征在于，
在将上述规格化后的第1主受光部的受光灵敏度的值定为100％的值时，相对于上述规格化后的第1主受光部的受光灵敏度的值，发生了变化的或与上述规格化后的第1主受光部的受光灵敏度的值相同的上述第1主受光部的受光灵敏度的值被设定为大致100％以下的较低的值，
在将上述规格化后的第1副受光部的受光灵敏度的值定为100％的值时，相对于上述规格化后的第1副受光部的受光灵敏度的值，变化后的上述第1副受光部的受光灵敏度的值被设定为大致100％以上的较高的值。
10.根据权利要求8所述的光拾取装置，其特征在于，
在将上述规格化后的第1主受光部的受光灵敏度的值定为100％的值时，相对于上述规格化后的第1主受光部的受光灵敏度的值，发生了变化的或与上述规格化后的第1主受光部的受光灵敏度的值相同的上述第1主受光部的受光灵敏度的值被设定为大致95～100％的值；
在将上述规格化后的第1副受光部的受光灵敏度的值定为100％的值时，相对于上述规格化后的第1副受光部的受光灵敏度的值，变化后的上述第1副受光部的受光灵敏度的值被设定为大致120～160％的值。
11.根据权利要求8所述的光拾取装置，其特征在于，
在将规格化后的第2主受光部的受光灵敏度的值定为100％的值时，相对于上述规格化后的第2主受光部的受光灵敏度的值，上述第2主受光部的受光灵敏度的值被设定为大致100％的值；
在将规格化后的第2副受光部的受光灵敏度的值定为100％的值时，相对于上述规格化后的第2副受光部的受光灵敏度的值，上述第2副受光部的受光灵敏度的值被设定为大致100％的值。
12.一种光拾取装置，其特征在于，
由权利要求1所述的光拾取装置和权利要求5所述的光拾取装置组合而成。
13.一种光拾取装置，其特征在于，
由权利要求1所述的光拾取装置和权利要求8所述的光拾取装置组合而成。
14.一种光拾取装置，其特征在于，
由权利要求5所述的光拾取装置和权利要求8所述的光拾取装置组合而成。
15.一种光拾取装置，其特征在于，
由权利要求1所述的光拾取装置、权利要求5所述的光拾取装置和权利要求8所述的光拾取装置组合而成。
16.根据权利要求1、5或8中任一项所述的光拾取装置，其特征在于，
上述衍射面部兼作将上述第1波长光至少分为上述第1主光束和上述第1副光束的衍射面部、和将上述第2波长光至少分为上述第2主光束和上述第2副光束的衍射面部。
17.根据权利要求1、5或8中任一项所述的光拾取装置，其特征在于，
上述衍射光栅被分为多个区域部。
18.根据权利要求1、5或8中任一项所述的光拾取装置，其特征在于，
上述衍射光栅被分为偶数个区域部。
19.根据权利要求1、5或8中任一项所述的光拾取装置，其特征在于，
上述衍射光栅被分为第1区域部、第2区域部、第3区域部和第4区域部这至少四个区域。
20.根据权利要求1、5或8中任一项所述的光拾取装置，其特征在于，
还包括能够射出多种波长光的发光元件。
21.根据权利要求1、5或8中任一项所述的光拾取装置，其特征在于，
上述第1波长光的波长为大致765nm～830nm；
上述第2波长光的波长为大致630nm～685nm。
22.根据权利要求1、5或8中任一项所述的光拾取装置，其特征在于，
上述第1波长光的波长为大致630nm～685nm；
上述第2波长光的波长为大致340nm～450nm。
23.根据权利要求1、5或8中任一项所述的光拾取装置，其特征在于，
其能够应对具有多个信号面部的介质。
24.一种光拾取装置，其特征在于，
包括：
激光单元，其在同一个面上配置有发出第1激光的第1光源、和发出波长比该第1激光的波长更短的第2激光的第2光源；
衍射光栅，其具有与上述第2激光的波长相对应的光栅间隔，使上述第1激光或上述第2激光衍射而产生主光束和2个副光束；
聚光光学系统，其会聚上述主光束和上述2个副光束，在光盘的光道上大致一列地照射与上述主光束相对应的主光点、和与上述2个副光束相对应的2个副光点；
光检测器，配设有第1主受光部及两个第1副受光部、第2主受光部及第2副受光部，在基于上述第1激光的上述主光点和上述2个副光点照射于上述光盘之后，该第1主受光部接受自上述光盘反射的、与上述主光点相对应的反射光点，这两个第1副受光部接受自上述光盘反射的、分别与上述2个副光点相对应的反射光点，在基于上述第2激光的上述主光点和上述2个副光点照射于上述光盘之后，该第2主受光部接受自上述光盘反射的、与上述主光点相对应的反射光点，该第2副受光部接受自上述光盘反射的、分别与上述2个副光点相对应的两个反射光点；
上述第1主受光部与上述第1副受光部之间的间隔以及上述第2主受光部与上述第2副受光部之间的间隔根据上述主光点的第1照射点与上述副光点的第2照射点之间的距离来设定，该上述主光点的第1照射点与表示上述第1或上述第2光源在与上述衍射光栅的面相对的上述激光单元的面上的位置的第1发光点相对应，该上述副光点的第2照射点根据从上述第1发光点到上述衍射光栅的面之间的法线距离、和上述衍射光栅的衍射角来决定且与表示上述第1或上述第2光源在上述激光单元的面上的外观上的位置的第2发光点相对应。
25.一种光盘装置，其特征在于，
至少包括权利要求1、5、8或24中任一项所述的光拾取装置。
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