CN1331132C - 寻轨控制装置及具备此装置的光碟装置 - Google Patents

Abstract

本发明是有关于一种寻轨控制装置及具备此装置的光碟装置，在对多层光碟的记录/还原中，可消除因漫射光所造成的偏离，并生成寻轨误差信号。该寻轨控制装置利用差动推挽(DPP)法和相位差法生成寻轨误差信号。其包括分别接受主光束，第1子光束，第2子光束这3个光束的反射光的主检测器、第1子检测器、第2子检测器。在第1子检测器的两侧将漫射光检测器邻接配置，且在第2子检测器的两侧将漫射光检测器邻接配置。将第1子检测器的检测器所包括的漫射光偏离成分，利用漫射光检测器的信号进行消除，且将第2子检测器的检测器所包括的漫射光偏离成分，利用漫射光检测器的信号进行消除。

Description

寻轨控制装置及具备此装置的光碟装置

技术领域

本发明涉及一种寻轨控制装置(tracking control apparatus)及具备此装置的光碟装置，特别是涉及一种关于因来自多层光碟的漫射光所造成的寻轨误差信号(tracking error signal)中所包括的偏离成分(offset)。

背景技术

习知以来，在对CD和DVD等光碟进行记录或还原的光碟装置中，是利用差动推挽法(Differential Push Pull，DPP，以下称DPP法)生成寻轨误差信号，并进行寻轨控制。DPP法是藉由将激光光利用衍射光栅(diffraction grating)分离为主光束(main beam)(0次光)及2个子光束(sub beam)(±1次光)的共3个光束，并使2个子光束对主光束沿磁道宽度方向只偏离半个磁道间距(pitch)的距离，且检测各个光束的推挽(push-pull)信号并取其差动而消除偏离成分的。虽然DPP法是众所周知的，但还是在下面简单地进行说明。

图10所示为DPP法中的主光束和2个子光束的关系。对中央的主光束100而言，2个子光束102、104以夹持主光束100的形态进行照射。主光束100和子光束102，或主光束100和子光束104分别沿磁道宽度方向只偏离半个磁道间距而进行照射。图中所示为磁道接通(on track)的状态，主光束100位于磁道n上，子光束104位于磁道n和磁道n+1的中间，子光束102位于磁道n和磁道n-1的中间。如以主光束100的相位为基准，则子光束102、104的相位分别偏离-180度及+180度。另外，在图示中，各光束的光点(spot)在磁道宽度方向上被分割为2部分，但这是与后述那样的，接受各光束的反射光的检测器在磁道宽度方向上被2分割的情况相对应的。

图11所示为利用DPP法生成寻轨误差信号的寻轨控制装置的电路构成。来自接受主射束100的反射光的2分割检测器(detector)(主检测器)10的2个信号(P信号及N信号)，被供给到差分器16。差分器16运算2个信号的差分，并作为主推挽信号输出到差分器24。

来自接受子射束102的反射光的2分割检测器(第1子检测器)12的2个信号，被供给到差分器18。差分器18运算2个信号的差分，并作为第1子推挽信号输出到加法器22。而且，来自接受子射束104的反射光的2分割检测器(第2子检测器)14的2个信号，被供给到差分器20。差分器20运算2个信号的差分，并作为第2子推挽信号输出到加法器22。

加法器22将2个子推挽信号进行加法运算，并运算其加权平均(例如单纯平均)且输出到差分器24。

差分器24运算主推挽信号和加权平均子推挽信号的差分，并输出到放大器28。即使因光碟的倾斜和物镜的位移等而产生偏离，由于所包括的这些偏离与各推挽信号相等，所以也可藉由运算这些差分而消除偏离。如使主推挽信号为MPP，第1、第2子推挽信号为第1SPP、第2SPP，则寻轨误差信号TE为

TE＝MPP-k(第1SPP+第2SPP)    …(1)

这里，如在加法器22中对单纯平均进行运算时，则k＝1/2。消除了偏离成分的寻轨误差信号，由放大器28被放大，并被供给到未图示的寻轨随动电路(tracking servo circuits)。

另一方面，近年来为了谋求光碟的进一步的高密度化，多采用使记录还原层进行层叠的多层构造。即使对多层光碟，利用上述那样的DPP法进行寻轨控制也是有效的。

但是，在多层光碟中，与单层光碟不同，来自除了应进行记录还原的层以外的层的反射光，会作为漫射光而混入检测器，且其形成新的偏离的问题。例如，在光碟具有第1层及第2层的2层构造中，且为了对第1层进行数据的记录或还原，而使激光光束在第1层上进行聚焦的情况下，激光光束在第1层进行反射且在第2层也进行反射，因此，即使利用DPP法进行寻轨控制，来自第2层的主光束的反射光(漫射光)也会混入第1子检测器及第2子检测器，而产生偏离。

图12所示为在没有漫射光的情况下，3个检测器10、12、14和3个光束100、102、104的各自的反射光200、202、204的关系。主光束100的反射光200由主检测器10进行受光，第1子光束102的反射光202由第1子检测器12进行受光，第2子光束104的反射光204由第2子检测器14进行受光。而且，图13所示为在存在漫射光的情况下，3个检测器10、12、14和3个光束100、102、104的各自的反射光200、202、204的关系。除了3个反射光200、202、204以外，还显示有漫射光，即来自除了应记录或还原的层以外的层的光束的反射光300(在图示中为主光束100的反射光)。漫射光300向3个检测器10、12、14的全部进行入射，形成偏离成分。当然，当漫射光300的光强度在3个检测器10、12、14中相等时，可利用DPP法将其消除，但也存在很多因多层光碟的倾斜和物镜的位移等的影响，而使漫射光的光强度并不均匀的情况，在这种情况下偏离不能取消而形成残留，使寻轨误差信号的精度下降。

因此，在下述的日本专利文献1中，揭示了一种在利用3光点对多层光碟进行寻轨控制时，为了消除因漫射光所造成的偏离成分，而利用子检测器信号的上方包络线信号的构成。即，藉由新设置检波器对子检测器信号的上方包络线信号进行检测，并从子检测器的信号中减去上方包络线信号，从而消除因漫射光所造成的偏离成分。

[日本专利文献1]特开平9-161295号公报

但是，上述习知技术为利用3光点法进行寻轨控制的情况，推挽法特别是在利用DPP法进行寻轨控制的情况下，需要在2分割检测器上分别设置检波器。

而且，在上述的习知技术中，是将漫射光假定为不具有信号成分的DC光，而对上方包络线信号进行检测，并从子检测器的信号中减去上方包络线信号，但考虑到漫射光中也重叠有一定程度的信号成分，利用上方包络线信号的方法有可能无法高精度地消除偏离成分。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种新型结构的寻轨控制装置及具备此装置的光碟装置，所要解决的技术问题是提供一种能够消除因多层光碟的漫射光所造成的偏离成分，并高精度地生成寻轨误差信号的装置，且提供一种可藉此进行高精度地寻轨控制的装置，从而更加适于实用。

本发明提供一种藉由将激光光分为主光束及2个子光束共3个光束，并将主光束的来自多层光碟的反射光以主检测器进行受光，且将2个子光束的来自光碟的反射光分别以第1子检测器及第2子检测器进行受光，并对来自前述主检测器、第1及第2子检测器的信号进行运算，而生成寻轨误差信号的寻轨控制装置；其包括：一漫射光检测器，分别设置于前述第1子检测器及前述第2子检测器附近；以及一运算装置，藉由运算前述第1子检测器的信号和前述漫射光检测器的信号的差分而消除前述第1子检测器中所包括的漫射光偏离成分，且藉由运算前述第2子检测器的信号和前述漫射光检测器的信号的差分而消除前述第2子检测器中所包括的漫射光偏离成分，进而生成前述寻轨误差信号。而且，本发明也可适用于1光束方式的寻轨控制装置。即，本发明提供一种将来自多层光碟的反射光以检测器进行受光，并根据来自前述检测器的信号生成寻轨误差信号的寻轨控制装置；其包括：一漫射光检测器，设置在前述检测器的附近；以及一运算装置，藉由其运算前述检测器的信号和前述漫射光检测器的信号的差分，而消除前述检测器中所包括的漫射光偏离成分。

而且，本发明提供一种光碟装置，包括：上述那样的寻轨控制装置；以及一寻轨随动装置，其根据来自前述寻轨控制装置的寻轨误差信号，向前述多层光碟照射激光光的光拾取头(pick-up)进行随动控制。

在本发明中，藉由对漫射光，即在多层光碟中因来自除了应进行记录或还原的层以外的层的反射光所造成的偏离，利用漫射光检测器进行检测，并将该漫射光检测器所检测的信号从第1及第2子检测器中分别减去，而消除第1及第2子检测器中所包括的漫射光偏离成分，进而生成不受漫射光偏离成分的影响的高精度的寻轨误差信号。由于漫射光检测器与第1及第2子检测器的附近邻接配置，所以由第1及第2子检测器所受光的漫射光的强度和由漫射光检测器所受光的漫射光的强度大致相同(局部相同)，因此藉由从第1及第2子检测器的信号中分别减去漫射光检测器的信号，即使漫射光的强度整体不均匀，或信号成分重叠，也可确实地消除漫射光偏离成分。即使在1光束的情况下，也可藉由利用检测器附近所配置的漫射光检测器检测漫射光偏离成分，并从检测器的信号中减去而消除检测器中所包括的漫射光偏离成分。在以4分割检测器构成的检测器中，并采用相位差法，即利用其2个对角和信号的相位差是依据激光光的磁道所偏离的方向和量进行变化的原理的方法，在生成寻轨误差信号的情况下，藉由在4分割检测器的各检测器附近分别配置漫射光检测器，可确实地消除各个检测器的漫射光偏离成分。

对第1子检测器的漫射光检测器的配置形态，及对第2子检测器的漫射光检测器的配置形态是任意的，关键是其与子检测器的附近邻接配置即可，而不论其彼此分离还是接触。主检测器、第1，第2子检测器配置在对磁道宽度方向垂直的方向上，但漫射光检测器对例如第1子检测器，可以将其进行夹持的形态而在其两侧邻接配置。对1光束情况下的检测器及漫射光检测器也是同样的。假如使4分割检测器为第1检测器、第2检测器、第3检测器、第4检测器，则可在第1～第4检测器的附近分别邻接配置1个或复数个漫射光检测器。

而且，本发明的第2项提供一种对来自多层光碟的反射光以检测器进行受光，并根据来自前述检测器的信号生成寻轨误差信号的寻轨控制装置；藉由在前述检测器附近设置一漫射光检测器、并将前述检测器和前述漫射光检测器进行串联连接，且将串联连接的前述检测器及前述漫射光检测器的一端连接在电源上，且将另一端接地，并从前述检测器和前述漫射光检测器的连接点取出输出，从而消除前述检测器所包括的漫射光偏离成分。

如利用本发明，藉由付加一种构成简易的漫射光检测器，可消除因漫射光，即来自多层光碟的除了应进行记录或还原的层以外的层的反射光所造成的偏离，而得到高精度的寻轨误差信号。

本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。经由上述可知，本发明是有关于一种寻轨控制装置及具备此装置的光碟装置，在对多层光碟的记录/还原中，可消除因漫射光所造成的偏离，并生成寻轨误差信号。该寻轨控制装置利用差动推挽(DPP)法和相位差法生成寻轨误差信号。其包括分别接受主光束，第1子光束，第2子光束这3个光束的反射光的主检测器10、第1子检测器12、第2子检测器14。在第1子检测器12的两侧将漫射光检测器13a、13b邻接配置，且在第2子检测器14的两侧将漫射光检测器15a、15b邻接配置。将第1子检测器12的检测器12a所包括的漫射光偏离成分，利用漫射光检测器13a的信号进行消除，且将第1子检测器12的检测器12b所包括的漫射光偏离成分，利用漫射光检测器13b的信号进行消除。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。

附图说明

图1为实施形态的检测器的配置说明图。

图2为实施形态的漫射光检测器和漫射光的配置说明图。

图3为实施形态的检测器的配线说明图。

图4为习知装置的检测器的配线说明图。

图5为实施形态的检测器的另一配线说明图。

图6为实施形态的漫射光检测器配置说明图。

图7为实施形态的漫射光检测器的另一配置说明图。

图8为实施形态的漫射光检测器的又一另外的配置说明图。

图9为实施形态的漫射光检测器的又一另外的配置说明图。

图10为DPP法的3光束说明图。

图11为DPP法的寻轨误差信号生成电路图。

图12为不存在漫射光的情况下的反射光说明图。

图13为存在漫射光的情况下的反射光说明图。

图14为实施形态的漫射光检测器的另一配置说明图。

图15为相位差法的说明图(其1)。

图16为相位差法的说明图(其2)。

图17为相位差法的说明图(其3)。

图18为实施形态的漫射光检测器的又一另外的配置说明图。

图19为关于第2发明的实施形态的检测器配置说明图。

图20为图19的主检测器和漫射光检测器的电路图。

图21为图19的子检测器和漫射光检测器的电路图。

5：信息凹洞         10：2分割检测器(主检测器)

11：漫射光检测器    12：2分割检测器(第1子检测器)

12a、12 b：检测器   13、13a、13a1、13a2：漫射光检测器

13b、13b1、13b2：漫射光检测器

14：2分割检测器(第2子检测器)

14a、14b：检测器    15、15a、15b：漫射光检测器

16：差分器          17：漫射光检测器

18：差分器          19：漫射光检测器

20：差分器          21：漫射光检测器

22：加法器          24：差分器

28：放大器          100：主光束

102、104：子光束    200、202、204、300：反射光

a、b、c、d、e、f、g、h、e1、e2：检测器

f1、f2、g1、g2、h1、h2：检测器

a1、a 2、b1、b2、c1、c2、d1、d2：漫射光检测器

ia、ia1、ie、ie1、ie2：电流

MPP：主推挽信号

第1SPP：第1子推挽信号

第2SPP：第2子推挽信号

TE：寻轨误差信号

S1、S2、S3、S4：漫射光检测器13a、13b、15a、15b的信号

S5、S6：检测器的信号

Sa1、Sa2、Sa3、Sa4：检测器13a1、13a2、13b1、13b2的信号

Vcc：电源电压

ε1、ε2、ε3、ε4：偏离成分

具体实施方式

为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的寻轨控制装置及具备此装置的光碟装置其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。

下面，根据图示对本发明的实施形态进行说明。另外，光碟装置的整体构成是众所周知的，在例如上述习知技术中也有所说明。即，在与多层光碟对向的位置上设置光拾取头，并使来自激光二极管(laser diode)的激光光束以准直仪透镜(collimate lens)形成平行光束后，利用衍射光栅(diffraction grating)分离为主光束及2个子光束。3个光束通过射束分裂器(beam splitter)及物镜，在多层光碟的复数层中的应进行记录或还原的层上进行聚焦。来自应进行记录或还原的层的反射光经过物镜及射束分裂器而入射聚光镜，并利用聚光镜进行聚光且照射到检测器上。检测器如图11所示，具有主检测器10及第1子检测器12、第2检测器14，并利用主检测器10接受主射束100的反射光而转换为P信号及N信号的2个信号，利用第1检测器12接受第1子光束102的反射光而转换为P信号及N信号2个信号，利用第2检测器14接受第2子光束104的反射光而转换为P信号及N信号的2个信号。来自3个检测器10、12、14的信号分别利用差分器16、18、20以运算差分，并作为推挽信号而被供给到加法器22及差分器24。加法器22及差分器24依据上述式(1)，进行利用DPP法的运算，生成寻轨误差信号。生成的寻轨误差信号被供给到寻轨随动电路，利用消除寻轨误差而对光拾取头进行随动控制。

图1所示为本实施形态的检测器的构成。与图11或图12所示的利用习知的DPP法的检测器的构成不同，在第1子检测器12附近设置漫射光检测器13a、13b，且在第2子检测器14附近也设置有漫射光检测器15a、15b。漫射光检测器13a及13b配置在与第1子检测器12的磁道宽度方向(碟片半径方向)对应的位置上，并以夹持第1子检测器12的形态配置在其两侧附近。漫射光检测器15a及15b，也配置在与第2子检测器14的磁道宽度方向对应的位置上，并以夹持第2子检测器14的形态配置在其两侧附近。漫射光检测器13a、13b的受光面积彼此相等，并与构成第1子检测器12的2分割检测器的受光面积相等。在图示中，漫射光检测器13a、13b是与第1子检测器12分离设置，但未必一定要分离设置，也可与第1子检测器12接触设置。漫射光检测器13a、13b与第1子检测器12的距离越小越恰当。也可使第1子检测器12为沿磁道宽度方向进行4分割的4分割检测器，并使中央的2个检测器作为习知的第1子检测器12发挥作用，且使两边的检测器作为漫射光检测器13a、13b发挥作用。漫射光检测器15a、15b也是同样的，漫射光检测器15a、15b的受光面积彼此相等，并与构成第2子检测器14的2分割检测器的受光面积相等。也可不使漫射光检测器15a、15b与第2子检测器14分离设置，而与第2子检测器14接触设置。也可使第2子检测器14为沿磁道宽度方向进行4分割的4分割检测器，并使中央的2个检测器作为习知的第2子检测器14发挥作用，且使两边的检测器作为漫射光检测器15a、15b发挥作用。

图2所示为存在主光束100的漫射光300的情况下的各检测器和漫射光300的关系。漫射光检测器13a、13b配置在第1子检测器12附近，且与第1子检测器12具有相同的受光面积，所以其接受与第1子检测器12的2分割检测器所分别接受的漫射光300的强度大致同量的光。这里，即使漫射光300的强度在磁道宽度方向上进行变化，漫射光检测器13a和第1子检测器12的a检测器(将其称为检测器12a)的受光量也大致相同，漫射光检测器13b和第1子检测器12的b检测器(将其称为检测器12b)的受光量也变得大致相同。因此，藉由从检测器12a的信号中减去漫射光检测器13a的信号，可消除因检测器12a中包括的漫射光300所造成的偏离成分。而且，藉由从检测器12b的信号中减去漫射光检测器13b的信号，可消除因检测器12b中包括的漫射光300所造成的偏离成分。

同样，漫射光检测器15a、15b配置在第2子检测器14附近，且与第2子检测器14具有相同的受光面积，所以其接受与第2子检测器14的2分割检测器所分别接受的漫射光300的强度大致同量的光。即使漫射光300的强度在磁道宽度方向上进行变化，漫射光检测器15a和第2子检测器14的a检测器(将其称为检测器14a)的受光量也大致相同，漫射光检测器15b和第2子检测器14的b检测器(将其称为检测器14b)的受光量也变得大致相同。因此，藉由从检测器14a的信号中减去漫射光检测器15a的信号，可消除因检测器14a中包括的漫射光300所造成的偏离成分。而且，藉由从检测器14b的信号中减去漫射光检测器15b的信号，可消除因检测器14b中包括的漫射光300所造成的偏离成分。

即，如设来自检测器12a、12b的信号分别为第1SPP(P)、第1SPP(N)，来自检测器14a、14b的信号分别为第2SPP(P)、第2SPP(N)，来自检测器10a、10b的信号分别为MPP(P)、MPP(N)，则因为

MPP＝MPP(P)-MPP(N)

第1SPP＝第1SPP(P)-第1SPP(N)

第2SPP＝第2SPP(P)-第2SPP(N)，

所以(1)式为

TE＝{MPP(P)-MPP(N)}-k{(第1SPP(P)-第1SPP(N))+(第2SPP(P)-第2SPP(N))}

＝{MPP(P)-MPP(N)}-k{(第1SPP(P)+第2SPP(P))-(第1SPP(N)+第2SPP(N))}    ...(2)。

右边第2项为

右边第2项＝-k{(第1SPP(P)+第2SPP(P))-(第1SPP(N)+第2SPP(N))}

＝-k(A-B)    ...(3)。

在这里，

A＝第1SPP(P)+第2SPP(P)

B＝第1SPP(N)+第2SPP(N)。

如使漫射光检测器13a、13b、15a、15b的信号分别为S1、S2、S3、S4，则第1SPP(P)包括的漫射光300所造成的偏离成分ε1藉由第1SPP(P)-S1而消除，第1SPP(N)包括的漫射光300所造成的偏离成分ε2藉由第1SPP(N)-S2而消除，第2SPP(P)包括的漫射光300所造成的偏离成分ε3藉由第2SPP(P)-S3而消除，第2SPP(N)包括的漫射光300所造成的偏离成分ε4藉由第2SPP(P)-S4而消除，所以寻轨误差信号TE为

TE＝{MPP(P)-MPP(N)}-k{(第1SPP(P)-S1-第1SPP(N)+S2)+(第2SPP(P)-S3-第2SPP(N)+S4)}    ...(4)。

右边第2项为

右边第2项＝-k{(第1SPP(P)+第2SPP(P)+S2+S4)-(第1SPP(N)+第2SPP(N)+S1+S3)}

＝-k(X-Y)    ...(5)。

但是，

X＝第1SPP(P)+第2SPP(P)+S2+S4＝A+S2+S4

Y＝第1SPP(N)+第2SPP(N)+S1+S3＝B+S1+S3  ...(6)。

这样即使在本实施形态中，漫射光300的光强度不均匀，且其偏离ε1、ε2、ε3、ε4彼此不同，也可消除这些偏离。而且，即使信号成分在漫射光300中进行重叠，由于在S1、S2、S3、S4中也同样地重叠信号成分，所以可确实地消除偏离。

另外，由于漫射光300也入射主检测器10，所以在主检测器10的信号MPP中也含有偏离，但该偏离藉由调整系数k可消除。当然，也可采用在主检测器10的附近设置漫射光检测器，而消除偏离的构成。即，在主检测器10的两侧附近设置漫射光检测器11a、11b，并将这些检测器的信号分别作为S5、S6，利用MPP(P)-S5、MPP(N)-S6消除偏离。

而且，由式(5)可知，本实施形态的DPP法的右边第2项，对习知的DPP法的右边第2项，藉由满足式(6)那样的关系而在形式上形成相同的形状，因此电路构成也可引用与习知相同的电路构成。

图3所示为本实施形态的检测器的配线图，图4所示为用于比较的习知装置的检测器的配线图。首先，对习知装置进行说明，因为右边第2项可由A-B进行计算，且A＝第1SPP(P)+第2SPP(P)，B＝第1SPP(N)+第2SPP(N)，所以只要将检测器12a和检测器14a进行连接并合成两信号而作为A信号输出到差分器，将检测器12b和检测器14b进行连接并合成两信号而作为B信号输出到差分器即可。

另一方面，在本实施形态中，由于右边第2项可由X-Y进行计算，且X＝第1SPP(P)+第2SPP(P)+S2+S4＝A+S2+S4，Y＝第1SPP(N)+第2SPP(N)+S1+S3＝B+S1+S3，所以只要对习知装置的A信号线路连接漫射光检测器13b、15b并合成，对习知装置的B信号线路连接漫射光检测器13a、15a并合成即可。在上述的日本专利文献中，需要在各检测器中设置检波器，但在本实施形态中，藉由付加构成比较简单的检测器，且还是直接引用习知装置的配线，即可消除偏离。

图5所示为本实施形态的检测器的另一配线图。由式(6)可知，右边第2项可以

X＝第1SPP(P)+第2SPP(P)+S2+S4

＝{第1SPP(P)+S2}+{第2SPP(P)+S4}

＝P+Q

Y＝第1SPP(N)+第2SPP(N)+S1+S3

＝{第1SPP(N)+S1}+{第2SPP(N)+S3}

＝R+S

进行表示，所以将检测器12a和漫射光检测器13b连接并作为P信号输出，将检测器14a和漫射光检测器15b连接并作为Q信号输出，将检测器12b和漫射光检测器13a连接并作为R信号输出，将检测器14b和漫射光检测器15a连接并作为S信号输出即可。P信号及Q信号被供给到加法器进行加法运算，R信号及S信号也被供给到加法器进行加法运算。然后，两信号被供给到差分器，进行差分运算。

以上关于本发明的实施形态进行了说明，但本发明并不限定于此，也可进行各种各样的变形。

例如，在本实施形态中，如图6所示，在第1子检测器12的磁道宽度方向(在图示中为左右方向)两侧设置漫射光检测器13a、13b，但也可如图7所示，对第1子检测器12，在与磁道宽度方向垂直的方向(在图示中为上下方向)所对应的位置的两侧，设置漫射光检测器13a、13b。具体地说，如图7所示，使漫射光检测器13a由漫射光检测器13a1及13a2这两个检测器构成，并在检测器12a的上下进行配置。检测器13a1、13a2的受光面积分别为检测器12a的受光面积的一半。同样，使漫射光检测器13b由漫射光检测器13b1及13b2这两个检测器构成，并在检测器12b的上下进行配置。检测器13b1、13b2的受光面积分别为检测器12b的受光面积的一半。如使检测器13a1、13a2、13b1、13b2的信号分别为Sa1、Sa2、Sa3、Sa4，则因检测器12a中包括的漫射光300所造成的偏离，利用第1SPP(P)-(Sa1+Sa2)而被消除，因检测器12b中包括的漫射光300所造成的偏离，利用第1SPP(N)-(Sa3+Sa4)而被消除。关于配线方面，由图3或图5类推，只要将检测器12a和漫射光检测器13b1、13b2进行连接，并将检测器12b1和漫射光检测器13a1、13a2进行连接即可。

而且，如图8所示，也可在第1子检测器12的左右及上下都配置漫射光检测器。即，将漫射光检测器13a1、13a2、13b1、13b2如图7所示上下进行配置，将漫射光检测器13a3、13b3如图6所示左右进行配置。在这种情况下，采用对利用上下配置的漫射光检测器消除偏离的寻轨误差信号，和利用左右配置的漫射光检测器消除偏离的寻轨误差信号进行比较，并选取偏离更小的一方的构成较为恰当。

另外，也可如图9所示，使第1子检测器12为只倾斜45度的正方形或菱形，并以与其4边分别对向的形态配置三角形的漫射光检测器13a1、13a2、13b1、13b2。在这种情况下，漫射光检测器也可与第1子检测器12附近邻接配置。如以磁道宽度方向(图中的左右方向)为基准，则也可以说漫射光检测器是配置在对磁道宽度方向成45度的方向上。漫射光检测器13a1、13a2的受光面积相等，且分别为检测器12a的受光面积的大约一半。漫射光检测器13b1、13b2的受光面积也相等，且分别为检测器12b的受光面积的大约一半。漫射光检测器13a1、13a2为用于消除检测器12a的偏离的检测器，漫射光检测器13b1、13b2为用于消除检测器12b的偏离成分的检测器。图9的配置也可以说是一种同时具备图6的左右配置及图7的上下配置的漫射光检测器的性质的配置，也有助于提高检测器区域的空间效率。图9的配线是将检测器12a和漫射光检测器13b1、13b2进行连接，并将检测器12b和漫射光检测器13a1、13a2进行连接。

在图6～图9中，是关于第1子检测器12进行了说明，但对第2子检测器14，当然也可采用同样的配置。

在以上的本实施形态中，是关于利用主光束及2个子光束共3个光束生成寻轨误差信号的情况进行了说明，但同样也可适用于只利用1个光束生成寻轨误差信号的情况。

例如，假设一种将来自1光束的反射光以主检测器10进行受光，并利用来自该主检测器10的信号的推挽信号，生成寻轨误差信号的情况。图14所示为4分割主检测器10及其附近所配置的漫射光检测器。4分割主检测器被分割为a～d共4个检测器，如设来自各个检测器的信号为a～d，则由(a+d)-(b+c)可得到推挽信号。在主检测器10的上下配置漫射光检测器a1、d1、b1、c1，并在主检测器10的左右配置a2、d2、b2、c2。与图8所示的构成相对应，对主检测器10的检测器a的漫射光偏离利用漫射光检测器a1、a2进行检测，对主检测器10的检测器b的漫射光偏离利用漫射光检测器b1、b2进行检测，对主检测器10的检测器c的漫射光偏离利用漫射光检测器c1、c2进行检测，对主检测器10的检测器d的漫射光偏离利用漫射光检测器d1、d2进行检测。即，来自检测器a的信号a中所包括的漫射光偏离，可利用

a-(a1+a2)

而被消除，来自检测器b的信号b中所包括的漫射光偏离，可利用

b-(b1+b2)

而被消除，来自检测器c的信号c中所包括的漫射光偏离，可利用

c-(c1+c2)

而被消除，来自检测器d的信号d中所包括的漫射光偏离，可利用

d-(d1+d2)

而被消除。当然，也可依据检测器a的受光面积和检测器(a1+a2)的受光面积的比率，利用

a-k(a1+a2)

(但是k为利用面积比率所确定的系数)而消除漫射光偏离。

因为推挽信号由(a+d)-(c+d)可得到，所以可如图14所示，连接检测器a、d、(b1+b2)、(c1+c2)并进行加法运算而形成A信号，连接检测器b、c、(a1+a2)、(d1+d2)并进行加法运算而形成B信号，且利用A-B得到推挽信号。

而且，同样也可适用于象DVD-ROM等那样，藉由利用1光束的相位差法生成寻轨误差信号的情况。相位差法也是众所周知的，4分割检测器的各受光光量依据从磁道中心偏离的量和方向进行变化，所以是比较4分割检测器的对角和信号的相位而生成寻轨误差信号的。

图15～图17所示为利用例如日本专利早期公开的特开2003-30879号公报中所揭示的相位差法的受光图案及受光信号。图15为1光束的反射光束200跟踪信息凹洞(pit)5的中心的情况，在该情况下，因为受光图案左右对称地进行变化，所以2个对角和信号(a+c)和(b+d)的相位一致。图16为1光束的反射光束200对信息凹洞5向右偏离的情况，在该情况下，受光图案以沿顺时针方向旋转的形态进行变化，2个对角和信号(a+c)和(b+d)的相位不同，(a+c)信号的相位只延迟偏移量。而且，图17为1光束的反射光束200对信息凹洞5向左偏离的情况，在该情况下，受光图案以逆时针方向旋转的形态进行变化，2个对角和信号(a+c)和(b+d)的相位不同，(a+c)信号的相位只提前偏移量。因此，藉由将2个对角和信号二值化，并分别检测相位差，可生成寻轨误差信号。

图18所示为相位差法的主检测器10和漫射光检测器的配置及连接。漫射光检测器的配置与图14所示的配置是相同的。来自检测器a的信号a中所包括的漫射光偏离，可利用

a-(a1+a2)

而被消除，来自检测器b的信号b中所包括的漫射光偏离，可利用

b-(b1+b2)

而被消除，来自检测器c的信号c中所包括的漫射光偏离，可利用

c-(c1+c2)

而被消除，来自检测器d的信号d中所包括的漫射光偏离，可利用

d-(d1+d2)

而被消除。

在相位差法中，因为将对角和的信号(a+c)、(b+d)的相位进行比较，所以将检测器a、c进行连接并作为A信号输出，将检测器b、d进行连接并作为B信号输出，且将漫射光检测器a1、a2、c1、c2连接并将它们进行加法运算而形成C信号，且从A信号中减去，将漫射光检测器b1、b2、d1、d2连接并将它们进行加法运算而形成D信号，且从B信号中减去。藉由对A-C信号和B-D信号的相位差进行比较，可生成消除了漫射光偏离的影响的寻轨误差信号。在图14或图18中，当然也可不在检测器a的附近设置a1、a2这两个漫射光检测器，而只配置a1或只配置a2。对其它的检测器b～d也是同样的。

图19～图21所示为第2发明的实施形态。在主检测器10、第1子检测器12、第2子检测器14附近分别配置漫射光检测器。即，在主检测器10的附近配置漫射光检测器11、13，在第1子检测器12的附近配置漫射光检测器15、17，在第2子检测器14的附近配置漫射光检测器19、21。主检测器10由4分割光检测器构成，如设它们为a、b、c、d，则漫射光检测器11配置在主检测器10的检测器a、b附近。将它们分别称作漫射光检测器a1、b1。而且，漫射光检测器13配置在主检测器10的检测器c、d附近。将它们分别称作漫射光检测器c1、d1。利用漫射光检测器a1检测检测器a中所包括的漫射光成分，利用漫射光检测器b1检测主检测器b中所包括的漫射光成分，利用漫射光检测器c1检测检测器c中所包括的漫射光成分，利用漫射光检测器d1检测主检测器d中所包括的漫射光成分。

同样，第1子检测器12由检测器e、f构成，且对检测器e，漫射光检测器15、17的检测器e1、e2检测检测器e的漫射光成分，对检测器f，漫射光检测器15、17的检测器f1、f2检测检测器f的漫射光成分。而且，第2子检测器14由检测器g、h构成，且对检测器g，漫射光检测器19、21的检测器g1、g2检测检测器g的漫射光成分，对检测器h，漫射光检测器19、21的检测器h1、h2检测检测器h的漫射光成分。

图20所示为主检测器10的检测器a和漫射光检测器11的检测器a1的配线状态的电路图。检测器a的阴极连接在电源电压Vcc上，检测器a的阳极连接在检测器a1的阴极上。检测器a1的阳极被接地。即，检测器a和检测器a1被串联连接。而且，从检测器a和检测器a1的连接点取出检测器a的输出线。在检测器a中除了本来的主光束以外还包括有漫射光，且在检测器a中流过与这些光量对应的电流ia。另一方面，在检测器a1中流过与漫射光的光量对应的电流ia1。因此，在从检测器a和检测器a1的连接点取出的输出线中，流过形成

ia＝i主+i漫射光

ia1＝i漫射光

i＝ia-ia1＝i主

的电流i，使消除了漫射光成分的检测电流被输出。这里，i电流为根据主光束的检测电流，i漫射光为根据漫射光成分的检测电流。检测器b和检测器b1、检测器c和检测器c1、检测器d和检测器d1的配线关系，也与图20所示的检测器a和检测器a1的关系是相同的，因此，从各个连接点所输出的电流形成全部消除漫射光成分的只根据主光束的检测电流。因此，可将这些检测电流直接利用图11所示的习知的电路构成进行处理。即，只要将来自检测器a的输出(利用检测器a1使漫射光成分被消除的输出)和来自检测器d的输出(利用检测器d1使漫射光成分被消除的输出)之和的信号，及将来自检测器b的输出(利用检测器b1使漫射光成分被消除的输出)和来自检测器c的输出(利用检测器c1使漫射光成分被消除的输出)之和的信号，分别输出到差分器16即可。

另一方面，图21所示为第1子检测器12的检测器e和漫射光检测器15、17的检测器e1、e2的配线状态的电路图。检测器e的阴极与电源电压Vcc连接，检测器e的阳极与检测器e1、e2的阴极共同连接。检测器e1、e2的阳极被接地。即，检测器e1、e2彼此并联连接，且彼此并列连接的检测器e1、e2和检测器e被串联连接。而且，从检测器e和检测器e1、e2的连接点取出检测器e的输出线。在检测器e中除了本来的主光束以外还包括有漫射光，且在检测器e中流过与这些光量对应的电流ie。另一方面，在检测器e1、e2中流过与漫射光的光量对应的电流ie1、ie2。因此，在从检测器e和检测器e1、e2的连接点取出的输出线中，流过形成

ie＝i主+i漫射光

ie1＝i漫射光(其中的1部分)

ie2＝i漫射光(其中剩余的部分)

i＝ie-(ie1+ie2)＝i主

的电流i，使消除了漫射光成分的检测电流被输出。检测器f和检测器f1，f2的配线关系、检测器g和检测器g1，g2的配线关系、检测器h和检测器h1、h2的配线关系，也与图21所示的关系是相同的，因此，从各个连接点所输出的电流形成全部消除漫射光成分的只根据主光束的检测电流。因此，可将这些检测电流直接利用图11所示的习知的电路构成进行处理。即，将来自检测器e的输出(利用检测器e1、e2使漫射光成分被消除的输出)及来自检测器f的输出(利用检测器f1、f2使漫射光成分被消除的输出)输出到差分器18，将来自检测器g的输出(利用检测器g1、g2使漫射光成分被消除的输出)及来自检测器h的输出(利用检测器h1、h2使漫射光成分被消除的输出)输出到差分器20。这样一来，可消除漫射光成分并生成寻轨误差信号。

在图19～图21所示的实施形态中，因为邻接层的影响在检测器的输出阶段被消除，所以可消除对随动系统整体的影响。即使对例如利用检测器的和信号进行动作的随动系统的AGC(Auto Gain Control，自动增益控制)电路，由于在和信号中不包括漫射光成分，所以也可使其动作有效地进行。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的结构及技术内容作出些许的更动或修饰为等同变化的等效实施例，但是凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (10)

1、一种寻轨控制装置，为一种藉由将激光光分为主光束及2个子光束共3个光束，并将主光束的来自多层光碟的反射光以主检测器进行受光，且将2个子光束的来自多层光碟的反射光分别以第1子检测器及第2子检测器进行受光，并对来自前述主检测器、第1及第2子检测器的信号进行运算，而生成寻轨误差信号的寻轨控制装置；特征在于其包括：

一漫射光检测器，分别设置于前述第1子检测器及前述第2子检测器附近，并接受来自前述光碟的漫射光；以及

一运算装置，藉由运算前述第1子检测器的信号和前述漫射光检测器的信号的差分而消除前述第1子检测器中所包括的漫射光偏离成分，且藉由运算前述第2子检测器的信号和前述漫射光检测器的信号的差分而消除前述第2子检测器中所包括的漫射光偏离成分，进而生成前述寻轨误差信号。

2、根据权利要求1所述的寻轨控制装置，其特征在于：

前述运算装置利用差动推挽法生成前述寻轨误差信号。

3、根据权利要求1所述的寻轨控制装置，其特征在于：

前述漫射光检测器与前述第1子检测器的两侧邻接配置，且与前述第2子检测器的两侧邻接配置。

4、根据权利要求3所述的寻轨控制装置，其特征在于：

前述漫射光检测器在前述第1子检测器的磁道宽度方向上邻接配置，且在前述第2子检测器的磁道宽度方向上邻接配置。

5、根据权利要求3所述的寻轨控制装置，其特征在于：

前述漫射光检测器在与前述第1子检测器的磁道宽度方向垂直的方向上邻接配置，且在与前述第2子检测器的磁道宽度方向垂直的方向上邻接配置。

6、根据权利要求3所述的寻轨控制装置，其特征在于：

前述漫射光检测器在对前述第1子检测器的磁道宽度方向成45度的方向上邻接配置，且在对前述第2子检测器的磁道宽度方向成45度的方向上邻接配置。

7、一种寻轨控制装置，为一种对来自多层光碟的反射光以检测器进行受光，并根据来自前述检测器的信号生成寻轨误差信号的寻轨控制装置；特征在于其包括：

一漫射光检测器，设置于前述检测器的附近，并接受来自前述多层光碟的漫射光；以及

一运算装置藉由运算前述检测器的信号和前述漫射光检测器的信号的差分，而消除前述检测器所包括的漫射光偏离成分。

8、根据权利要求7所述的寻轨控制装置，其特征在于：

前述检测器为4分割检测器，分别依据各个检测器的对角和信号的相位差，生成前述寻轨误差信号，

前述漫射光检测器分别设置于前述4分割检测器的各个检测器附近。

9、一种光碟装置，其特征在于其包括：

如权利要求1或7中任一权利要求所述的寻轨控制装置；以及

一寻轨随动装置，其根据来自前述寻轨控制装置的寻轨误差信号，对向前述多层光碟照射激光光的光拾取头进行随动控制。

10、一种寻轨控制装置，为一种对来自多层光碟的反射光以检测器进行受光，并根据来自前述检测器的信号生成寻轨误差信号的寻轨控制装置；特征在于：

藉由前述检测器附近所设置的一漫射光检测器，接受来自前述光碟的漫射光；

将前述检测器和前述漫射光检测器进行串联连接；以及

将串联连接的前述检测器及前述漫射光检测器的一端连接在电源上，且将另一端接地，并从前述检测器和前述漫射光检测器的连接点取出输出，从而消除前述检测器中所包括的漫射光偏离成分。

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