CN101154386A - 用于晶格介质的时钟提取方法及其电路 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了用于晶格介质的时钟提取方法及其电路。本发明致力于将时钟信号的定时与晶格介质的磁粒相匹配。检测再现波形的振幅变为零的点或者磁信号的振幅从正变化到负或振幅从负变化到正的点，零电平检测信号或过零检测信号被输出到时钟生成电路，该时钟生成电路接着使时钟信号与零电平检测信号或过零检测信号同步。这能够使时钟信号与磁粒相匹配。

Description

用于晶格介质的时钟提取方法及其电路
发明领域
本发明涉及用于晶格介质(patterned medium)的时钟提取方法，并且涉及从晶格介质中提取时钟的电路和盘装置。
背景技术
具有对应于数据位的磁粒(magnetic dot)图案的晶格介质拥有记录密度比由磁性连续膜构成的硬盘高的特性。
晶格介质需要按特定间隔形成磁粒，还要求磁粒的表面为平坦，从而使磁粒与介质基板的表面齐平。常规地，这需要在介质制造工序的最后进行称为化学机械研磨的研磨工序，从而使介质的表面平坦。
专利文献1提到在晶格介质制造工序中省略化学机械研磨工序的方法，将该方法概述如下：
(a)使起到围绕磁位元(magnetic bit)的矩阵的作用的矩阵薄膜介于玻璃基板与抗蚀膜之间。将矩阵薄膜的厚度调整到磁位元的要求厚度；
(b)应用电子射线曝光与位图案(bit pattern)，然后应用显影工序来形成构图掩模；
(c)通过应用反应离子蚀刻将位阵列图案转印到矩阵薄膜。应用蚀刻直到露出基板的表面；
(d)通过真空淀积等形成磁薄膜。期望将厚度精确地调整为刻在矩阵薄膜中的沟列的深度；
(e)通过使用有机溶剂进行溶解来去除构图掩模，使得形成表面平坦的磁位元阵列；并且
(f)用表面润滑层覆盖表面以进行保护。
在磁盘装置处，与时钟信号同步地进行数据读和数据写。在晶格介质中，用于记录数据的磁粒的位置固定，因此时钟信号需要与磁粒的位置相匹配。
然而，常规上，针对使用晶格介质的磁盘装置的用于将时钟信号与磁粒的位置匹配的方法还未实现。
[专利文献1]日本特开2001-110050号公报。
发明内容
本发明的主旨在于将时钟信号的定时与晶格介质的磁粒的位置相匹配。
本发明提供了一种用于提取时钟信号的时钟提取方法，所述时钟信号用以确定将数据写到晶格介质或从晶格介质读数据的定时，所述时钟提取方法包括以下步骤：利用磁检测单元来检测记录在晶格介质中的磁信号，所述晶格介质按特定间隔排列有用以记录磁信号的磁粒；检测由所述磁检测单元检测出的所述磁信号的振幅的绝对值等于或小于特定值的定时；并且使所述时钟信号与所述定时同步。
本发明使时钟信号与磁信号的振幅等于或小于特定值的定时同步，从而可以使时钟信号与检测出磁粒之间的非磁性部分的定时同步。因为检测出非磁性部分的零电平的位置由磁粒之间的中心距离来确定的，所以使时钟信号与非磁性部分同步可以使时钟信号与磁粒的位置同步。因此，在与时钟信号同步的定时写数据或读数据使得能够在晶格介质的磁粒的位置处进行数据写或数据读。
根据本发明的用于晶格介质的时钟提取方法检测磁信号的振幅表示在以零为中心的特定范围内的值的定时作为振幅的绝对值表示特定值或更小值的定时。
该配置使得可以检测磁信号的振幅等于或小于正基准值的定时或者磁信号的振幅等于或大于负基准值的定时作为振幅的零电平。
根据本发明的另一时钟提取方法是用于提取确定将数据写到晶格介质或从晶格介质读数据的定时的时钟信号的方法，所述时钟提取方法包括以下步骤：利用磁检测单元来检测记录在晶格介质中的磁信号，所述晶格介质按特定间隔排列有用以记录磁信号的磁粒；检测由所述磁检测单元检测到的所述磁信号的振幅从正变化到负或振幅从负变化到正的过零点；以及使所述时钟信号与所述过零点同步。
本发明使时钟信号与磁信号的振幅的过零点同步，从而能够使所述时钟信号与所述非磁性部分的过零点同步。因为非磁性部分的过零点的位置是由磁粒的中心距离来确定的，由此可以通过使时钟信号与非磁性部分中的过零点同步来使所述时钟信号与磁粒同步。因此，在与时钟信号同步的定时写数据或读数据使得能够在所述晶格介质的磁粒的位置处进行数据写或数据读。
根据本发明的用于晶格介质的时钟提取方法向生成时钟信号的锁相环(PLL)电路提供表示过零点的过零检测信号作为参考信号，并使时钟信号与过零检测信号同步。
该配置能够使所述PLL电路生成的时钟信号与过零检测信号同步。这继而使得可以将时钟信号的定时与磁粒的位置相匹配。
根据本发明的用于晶格介质的时钟提取方法将时钟信号的波长设置为等于磁粒的中心距离。
该配置可以在使时钟信号与检测出非磁性部分的定时同步时使时钟信号与磁粒的中心位置同步。
一种根据本发明的用于晶格介质的时钟提取电路包括：时钟信号生成电路，用于生成确定将数据写到所述晶格介质或从所述晶格介质读数据的定时的时钟信号；磁检测单元，用于检测记录在晶格介质中的磁信号，所述晶格介质按特定间隔排列有用以记录磁信号的磁粒；以及零电平检测电路，用于检测由所述磁检测单元检测到的所述磁信号的振幅的绝对值表示特定值或更小值的零电平，其中，所述时钟信号与检测出所述零电平的定时同步。
本发明能够使时钟信号与检测出磁粒之间的非磁性部分的零电平的定时同步。非磁性部分的表示零电平的点由磁粒的中心距离确定，因此可以通过使时钟信号与检测出非磁性部分的零电平的定时同步来使时钟信号与磁粒同步。因此，在与时钟信号同步的定时写数据或读数据使得能够在晶格介质的磁粒的位置处进行数据写或数据读。
在根据本发明的所述时钟提取电路中，所述零电平检测电路包括第一比较器，用于判断所述磁信号的振幅是否等于或小于正基准值；第二比较器，用于判断所述磁信号的振幅是否等于或大于负基准值；以及输出电路，如果所述第一比较器和所述第二比较器分别判断出所述振幅等于或小于所述正基准值并且等于或大于所述负基准值，则该输出电路输出零电平检测信号到所述时钟信号生成电路。
该配置使得可以检测磁信号的振幅表示以零为中心的特定范围内的值的零电平，从而使时钟信号与检测出非磁性部分的零电平的定时同步。
根据本发明的另一用于晶格介质的时钟提取电路包括：时钟信号生成电路，用于生成确定将数据写到晶格介质或从晶格介质读数据的定时的时钟信号；磁检测单元，用于检测记录在晶格介质中的磁信号，所述晶格介质按特定间隔排列有用以记录磁信号的磁粒；以及过零检测电路，用于检测由所述磁检测单元检测到的所述磁信号的振幅从正变化到负或从负变化到正的过零点，其中，所述时钟信号与所述过零点同步。
本发明使时钟信号与磁信号的振幅的过零点同步，从而能够使所述时钟信号与检测出非磁性部分的定时同步。非磁性部分的过零点由磁粒的中心距离确定，因而所述时钟信号的定时可与检测出磁粒的定时同步。
在根据本发明的所述时钟提取电路中，所述过零检测电路包括：第一比较器，用于检测所述磁信号的振幅是否从正变化到负；第一信号生成电路，用于生成由所述第一比较器的输出信号触发的信号；第二比较器，用于检测所述磁信号的振幅是否从负变化到正；第二信号生成电路，用于生成由所述第二比较器的输出信号触发的信号；以及输出电路，用于将所述第一信号生成电路的输出信号和所述第二信号生成电路的输出信号作为表示所述过零点的过零检测信号输出到所述时钟信号生成电路。
该配置使得可以通过利用第一比较器和第二比较器来检测非磁性部分的过零点。
在根据本发明的所述时钟提取电路中，所述时钟信号生成电路是至少包括电压控制振荡器、分频电路和相位比较器的锁相环(PLL)电路，其中所述相位比较器向所述电压控制振荡器提供和所述零电平检测信号或过零检测信号与所述时钟信号之间的相位差相对应的控制电压，并使所述时钟信号与所述零电平检测信号或过零检测信号同步。
该配置能够使时钟信号的定时与磁粒相匹配。
附图说明
图1是示出根据优选实施例的晶格介质的结构的图；
图2是根据第一实施例的时钟提取电路的电路图；
图3是零电平检测电路的电路图；
图4是PLL电路的电路图；
图5是描述根据第一实施例的时钟提取方法的图；
图6是根据第二实施例的时钟提取电路的电路图；以及
图7是过零检测电路的电路图。
具体实施方式
下面是参照附图对本发明的优选实施例的描述。图1是示出根据第一实施例的晶格介质11的结构的图。
图1示出了晶格介质11及其局部放大图11a和数据区14的局部放大图11b。晶格介质(即，盘)11的特征是具有同心圆状的多条轨道12，每条轨道12上按照特定间隔排列有记录用于控制写数据与读数据的位置的数据的伺服区13以及用于记录数据的数据区14。
用于记录磁信号的磁粒15以特定间隔排列在数据区14中。需要注意的是对于晶格介质11的制造方法可以使用常规制造方法。
图2是根据第一实施例的时钟提取电路21的电路图。时钟提取电路21包括零电平检测电路22和锁相环(PLL)电路(对应于时钟信号生成电路)23。时钟提取电路21内置于磁盘装置中，磁盘装置中的其他电路结构与普通硬盘装置中的电路结构相同。
磁盘装置包括磁头(对应于磁检测单元)，该磁头包含用于写数据或读数据的磁传感器。磁头检测记录在晶格介质11中的磁信号并且将其转换成电信号。
零电平检测电路22是用于检测磁头的输出信号(称其为再现波形(reproduction waveform))的振幅是否在以“0”为中心的由正特定值和负特定值确定的特定范围内的电路。当再现波形的振幅等于或小于正特定值且等于或大于负特定值时，零电平检测电路22输出高电平信号作为零电平检测信号，在其他情况下输出低电平信号作为零电平检测信号。
PLL电路24(其为用于生成确定写数据和读数据的定时的时钟信号的电路)由电压控制振荡器、分频电路、相位比较器等构成，PLL电路24执行相位控制来使由电压控制振荡器生成的振荡信号与参考信号同步。
图3示出了包括基准电压生成电路31、比较器32和33以及与门34的零电平检测电路22的电路图的示例。
基准电压生成电路31生成略高于地电平的正基准电压+V0和略低于地电平的负基准电压-V0。由正基准电压+V0和负基准电压-V0确定的电压范围为再现波形的振幅的零电平检测范围。
再现波形被输入到比较器32的反相输入端，而正基准电压+V0被输入到比较器32的非反相输入端。比较器32将再现波形与正基准电压+V0进行比较，如果再现波形的振幅大于正基准电压+V0则比较器32输出低电平信号，而如果再现波形的振幅等于或小于正基准电压+V0则输出高电平信号。比较器32对应于用于判断振幅是否等于或小于正基准值的第一比较器。
再现波形被输入到比较器33的非反相输入端，而负基准电压-V0被输入到其反相输入端。比较器33将再现波形与负基准电压-V0进行比较，如果再现波形的振幅等于或大于负基准电压-V0则比较器33输出高电平信号，而如果再现波形的振幅小于负基准电压-V0则输出低电平信号。比较器33对应于用于判断振幅是否等于或大于负基准电压的第二比较器。
与门(对应于输出电路)34将作为获得比较器32和33的各自输出的逻辑积的结果的信号输出为零电平检测信号。因此，如果再现波形的振幅等于或小于正基准电压+V0且等于或大于负基准电压-V0，则与门34输出为高电平信号的信号作为零电平检测信号，而如果再现波形的振幅大于正基准电压+V0或小于负基准电压-V0，则与门34输出为低电平信号的信号作为零电平检测信号。
图4是普通PLL电路23的电路图。PLL电路23包括电压控制振荡器41、分频电路42以及相位比较器43。
分频电路42对电压控制振荡器41的振荡信号进行分频，并将经分频的信号输出到相位比较器43。被提供有作为参考信号的从零电平检测电路22输出的零电平检测信号的相位比较器43检测零电平检测信号与由分频电路42分频的信号之间的相位差，并且将对应于相位超前或相位延迟的控制电压输出到电压控制振荡器41。电压控制振荡器41振荡并发射频率响应于控制电压的信号。
在PLL电路23处重复上述操作，从电压控制振荡器41中输出与过零检测信号同步的时钟信号。零电平检测信号的上升定时与磁粒15之间的非磁性部分的中心位置近似匹配，因此可以通过使时钟信号的上升定时与零电平检测信号的上升定时同步来使磁粒15的位置与时钟信号的上升定时(或下降定时)相匹配。注意，例如需要将时钟信号的波长设置为相邻磁粒15之间的中心距离的1/n或n(“n”为自然数)倍，作为时钟信号的定时与磁粒的中心位置匹配的前提。本优选实施例被配置为将时钟信号的波长设置为等于磁粒15之间的中心距离。
这里，通过参照图5来描述根据第一实施例的时钟提取方法。图5是示出表示晶格介质11的磁粒15的阵列的磁粒图案、记录在磁粒15中的磁信号的再现波形以及时钟信号的图。图5中示出的磁粒图案的水平箭头指示晶格介质11的轨道方向。
本实施例被配置为使磁粒15磁化为具有对应于数据“1”或“0”的正极性或负极性，并通过作为游程长度限制码的(1，7)RLL(游程长度限制)对其进一步编码来记录数据。使用游程长度限制码防止了磁粒15被磁化为具有相同极性连续超过特定数量，因此可以准确地检测出被磁化为具有正极性的磁粒15与被磁化为具有负极性的磁粒15之间的磁信号的振幅为零时的零电平。顺便提及，可以使用除游程长度限制码之外的其他编码。
图5中示出的再现波形表示如下情况下的信号波形：最左边(从图5的正面看；下同)的磁粒15被磁化为正极性、相邻的左起第二个磁粒15被磁化为负极性、第三和第四两个磁粒15均被磁化为正极性、相邻右边的磁粒15被磁化为负极性并且再相邻右边的磁粒15被磁化为正极性。
通过旋转具有已经如上所述被磁化的磁粒15的晶格介质11而由磁头检测到的磁信号的再现波形表示，振幅在磁粒15的中心位置处达到正峰值或负峰值，而在非磁性部分16的中心位置处近似为零，如图5所示。
使用零电平检测电路22来检测再现波形的零电平，在磁粒15之间的非磁性部分16的中心附近，再现波形的振幅等于或小于正基准电压+V0或者等于或大于负基准电压-V0，其间输出高电平的零电平检测信号。
将上文所描述的零电平检测信号作为参考信号提供给PLL电路23可以使PLL电路23的时钟信号与零电平检测信号的上升定时(即，检测出非磁性部分16的中心位置的定时)同步。
在将时钟信号的一个周期例如设置为等于从检测出一个磁粒15的磁信号的峰值到检测出下一个磁粒15的峰值时的时段(即，由转速和相邻磁粒15之间的中心距离所确定的时间)的情况下，可以通过使时钟信号的上升(或下降)与零电平检测信号的上升(或下降)同步来使时钟信号的上升(或下降)与检测出磁粒15的定时同步。注意，当以特定rpm(每分钟的转数)旋转晶格介质11时，外周和内周之间的转速是不同的，因此晶格介质11在径向上被分成多个区，并且针对每个区改变时钟信号的频率。
上文所描述的第一实施例被配置为如下：在通过旋转晶格介质11来写数据或读数据的情况下，通过检测磁信号来检测其中不存在磁粒15的非磁性部分16的位置，并且使时钟信号与检测出的信号(即，零电平检测信号)同步，从而可以使时钟信号与检测出非磁性部分16的中心位置的定时同步。
因此，在与时钟信号同步的定时写数据和读数据使得能够准确地在存在晶格介质11的磁粒15的位置处进行数据写和数据读。
接下来，图6是根据第二实施例的时钟提取电路51的框图。
时钟提取电路51包括过零检测电路52和PLL电路23。PLL电路23被配置为与图4中示出的电路相同。
过零检测电路52是如下的电路，该电路用于检测再现波形的振幅从正值变化到负值或从负值变化到正值的过零点。
图7是过零检测电路52的电路图。过零检测电路52由比较器53和54、单稳多谐振荡器55和56以及或门57构成。
再现波形被输入到比较器53的非反相输入端，并将比较器53的反相输入端接地。比较器53比较再现波形的振幅和地电平，如果再现波形的振幅小于地电平则比较器53输出低电平信号，如果再现波形的振幅等于或大于地电平则比较器53输出高电平信号。因此，当再现波形的振幅从负值变化到正值(即，变化为地电平以上)时，比较器53的输出信号从低电平变化到高电平。
单稳多谐振荡器55在比较器53的输出信号的上升处输出特定宽度的脉冲作为触发。
比较器53和单稳多谐振荡器55构成用于生成与再现波形的振幅从负值变化到正值的过零点同步的脉冲信号的电路。
再现波形被输入到比较器54的反相输入端，并将比较器54的非反相输入端接地。比较器54比较再现波形的振幅和地电压，如果再现波形的振幅等于或大于地电压则比较器54输出低电平信号，如果再现波形的振幅为负则比较器54输出高电平信号。因此，当再现波形的振幅从正值变化到比地电压更低的负值时，比较器54的输出信号从低电平变化到高电平。
单稳多谐振荡器56在比较器54的输出信号的上升处输出特定宽度的脉冲作为触发。
比较器54和单稳多谐振荡器56构成用于生成与再现波形的振幅从正值变化到负值的过零点同步的脉冲信号的电路。
或门(对应于输出电路)57输出单稳多谐振荡器55的输出与单稳多谐振荡器56的输出的逻辑和。从或门57中输出的信号在后文中被称为过零检测信号。
因此，单稳多谐振荡器55和56各自在分别与再现波形的振幅从负值过零的过零点和再现波形的振幅从正值过零的过零点同步的定时处输出特定宽度的脉冲信号。脉冲信号被作为参考信号提供给PLL电路23。
这里，参照已经用来描述第一实施例的图5，来描述根据第二实施例的时钟提取方法。
假设如图5所示最左的磁粒15的再现波形的振幅表示正峰值并且假设第二个磁粒15的再现波形的振幅表示负峰值，则再现波形的振幅在第一个磁粒15和第二个磁粒15之间的非磁性部分16的中心位置处从正值变化到负值。当再现波形的振幅从正值变化到负值时，图7中示出的比较器检测出再现波形的振幅从正变化到负的过零点，比较器的输出信号相应地从低电平变化到高电平。单稳多谐振荡器56输出由比较器54的输出信号的上升触发的特定宽度的脉冲信号。将该脉冲信号作为过零检测信号从或门57输出到PLL电路23。PLL电路23使时钟信号与过零检测信号的上升同步，由此可以生成在图5中示出的再现波形的过零点处上升的时钟信号。
接着，假设左起第二个磁粒15的再现波形表示负峰值并且假设第三个磁粒15的再现波形表示正峰值，则再现波形的振幅在第二个磁粒15和第三个磁粒15之间的非磁性部分16的中心位置处从负变化到正。当再现波形的振幅从负值变化到正值时，图7中示出的比较器53检测出再现波形的振幅从负变化到正的过零点，并且比较器53的输出信号从低电平变化到高电平。然后，单稳多谐振荡器55输出由比较器53的输出信号的上升触发的特定宽度的脉冲信号。将该脉冲信号作为过零检测信号输出到PLL电路23。PLL电路23使由电压控制振荡器41生成的时钟信号与过零检测信号的上升同步，由此可以使时钟信号与再现波形的振幅的过零点同步。
上文描述的第二实施例被配置为检测非磁性部分16的再现波形的振幅的过零点并使时钟信号与该过零点同步，由此可以使时钟信号与非磁性部分16的中心位置同步。将时钟信号的波长例如设置为等于磁粒15之间的中心距离能够使时钟信号的定时与磁粒15的位置同步。
因此，在与时钟信号同步的定时写数据或读数据使得能够准确地在晶格介质11的磁粒15的位置处进行数据写或数据读。
此外，第二实施例被配置为检测再现波形的过零点，因此可以提高在检测再现波形的振幅近似表示零的点的情况下的检测精度。例如，如果检测到的磁信号的信号电平非常低，则表示零电平的振幅的位置可能不同于非磁性部分16的中心位置；然而，根据第二实施例的时钟提取方法由于检测非磁性部分16的再现波形从正变化到负或从负变化到正的过零点，所以能够更准确地检测振幅的过零点，即，非磁性部分16的中心位置。
第二实施例被配置为检测再现波形的振幅从正变化到负或从负变化到正的过零点，因此用于防止相同极性连续达特定数量的游程长度限制编码是优选的；然而，不使用游程长度限制编码也可实现上述内容。
上文描述的优选实施例能够将时钟信号的定时与晶格介质的磁粒相匹配，从而使数据写或数据读能够与磁粒的位置相匹配。
本发明并不限于上述优选实施例，而是作为示例可将本发明构想如下：
并非限于使用针对实施例描述的零电平检测电路22和过零检测电路53的模拟电路等，用于检测非磁性部分16的电路还可以使用其他模拟电路或者通过将再现波形从模拟转换为数字(A/D)而使用数字电路来检测零电平或过零点。

Claims (17)

1.一种用于提取时钟信号的时钟提取方法，所述时钟信号用以确定将数据写到晶格介质或从晶格介质读数据的定时，所述时钟提取方法包括以下步骤：
利用磁检测单元来检测记录在晶格介质中的磁信号，所述晶格介质按特定间隔排列有用以记录磁信号的磁粒；
检测由所述磁检测单元检测到的所述磁信号的振幅的绝对值等于或小于特定值的定时；以及
使所述时钟信号与所述定时同步。
2.如权利要求1所述的用于晶格介质的时钟提取方法，
检测所述磁信号的振幅表示在以零为中心的特定范围内的值的定时，作为所述振幅的绝对值表示特定值或更小值的所述定时。
3.一种用于提取时钟信号的时钟提取方法，所述时钟信号用以确定将数据写到晶格介质或从晶格介质读数据的定时，所述时钟提取方法包括以下步骤：
利用磁检测单元来检测记录在晶格介质中的磁信号，所述晶格介质按特定间隔排列有用以记录磁信号的磁粒；
检测由所述磁检测单元检测到的所述磁信号的振幅从正变化到负或从负变化到正的过零点；以及
使所述时钟信号与所述过零点同步。
4.如权利要求3所述的用于晶格介质的时钟提取方法，
向生成所述时钟信号的锁相环电路提供表示所述过零点的过零检测信号作为参考信号，并使所述时钟信号与所述过零检测信号同步。
5.如权利要求1所述的用于晶格介质的时钟提取方法，
将所述时钟信号的波长设置为等于所述磁粒的中心距离。
6.如权利要求3所述的用于晶格介质的时钟提取方法，
将所述时钟信号的波长设置为等于所述磁粒的中心距离。
7.一种用于晶格介质的时钟提取电路，该时钟提取电路包括：
时钟信号生成电路，用于生成用以确定将数据写到晶格介质或从晶格介质读数据的定时的时钟信号；
磁检测单元，用于检测记录在晶格介质中的磁信号，所述晶格介质按特定间隔排列有用以记录磁信号的磁粒；以及
零电平检测电路，用于检测由所述磁检测单元检测到的所述磁信号的振幅的绝对值表示特定值或更小值的零电平，其中
所述时钟信号与检测出所述零电平的定时同步。
8.如权利要求7所述的用于晶格介质的时钟提取电路，其中
所述零电平检测电路包括：第一比较器，用于判断所述磁信号的振幅是否等于或小于正基准值；第二比较器，用于判断所述磁信号的振幅是否等于或大于负基准值；以及输出电路，如果所述第一比较器和所述第二比较器分别判断出所述振幅等于或小于所述正基准值并且等于或大于所述负基准值，则该输出电路输出零电平检测信号到所述时钟信号生成电路。
9.一种用于晶格介质的时钟提取电路，该时钟提取电路包括：
时钟信号生成电路，用于生成用以确定将数据写到晶格介质或从晶格介质读数据的定时的时钟信号；
磁检测单元，用于检测记录在晶格介质中的磁信号，所述晶格介质按特定间隔排列有用以记录磁信号的磁粒；以及
过零检测电路，用于检测由所述磁检测单元检测到的所述磁信号的振幅从正变化到负或者从负变化到正的过零点，其中
所述时钟信号与所述过零点同步。
10.如权利要求9所述的用于晶格介质的时钟提取电路，其中
所述过零检测电路包括：第一比较器，用于检测所述磁信号的振幅是否从正变化到负；第一信号生成电路，用于生成由所述第一比较器的输出信号触发的信号；第二比较器，用于检测所述磁信号的振幅是否从负变化到正；第二信号生成电路，用于生成由所述第二比较器的输出信号触发的信号；以及输出电路，用于将所述第一信号生成电路的输出信号和所述第二信号生成电路的输出信号作为表示所述过零点的过零检测信号输出到所述时钟信号生成电路。
11.如权利要求8所述的用于晶格介质的时钟提取电路，其中
所述时钟信号生成电路是至少包括电压控制振荡器、分频电路和相位比较器的锁相环电路，其中
所述相位比较器向所述电压控制振荡器提供和所述零电平检测信号与所述时钟信号之间的相位差相对应的控制电压，并使所述时钟信号与所述零电平检测信号同步。
12.如权利要求10所述的用于晶格介质的时钟提取电路，其中
所述时钟信号生成电路是至少包括电压控制振荡器、分频电路和相位比较器的锁相环电路，其中
所述相位比较器向所述电压控制振荡器提供和所述过零检测信号与所述时钟信号之间的相位差相对应的控制电压，并使所述时钟信号与所述过零检测信号同步。
13.一种磁盘装置，该磁盘装置包括：
时钟信号生成电路，用于生成用以确定将数据写到晶格介质或从晶格介质读数据的定时的时钟信号；
磁检测单元，用于检测记录在晶格介质中的磁信号，所述晶格介质按特定间隔排列有用以记录磁信号的磁粒；以及
零电平检测电路，用于检测由所述磁检测单元检测到的所述磁信号的振幅的绝对值表示特定值或更小值的零电平，其中
所述时钟信号与检测出所述零电平的定时同步。
14.如权利要求13所述的磁盘装置，其中
所述零电平检测电路包括：第一比较器，用于判断所述磁信号的振幅是否等于或小于正基准值；第二比较器，用于判断所述磁信号的振幅是否等于或大于负基准值；以及输出电路，如果所述第一比较器和所述第二比较器分别判断出所述振幅等于或小于所述正基准值并且等于或大于所述负基准值，则该输出电路输出零电平检测信号到所述时钟信号生成电路。
15.一种磁盘装置，该磁盘装置包括：
时钟信号生成电路，用于生成用以确定将数据写到晶格介质或从晶格介质读数据的定时的时钟信号；
磁检测单元，用于检测记录在晶格介质中的磁信号，所述晶格介质按特定间隔排列有用以记录磁信号的磁粒；以及
过零检测电路，用于检测由所述磁检测单元检测到的所述磁信号的振幅从正变化到负或者从负变化到正的过零点，其中
所述时钟信号与所述过零点同步。
16.如权利要求15所述的磁盘装置，其中
所述过零检测电路包括：第一比较器，用于检测所述磁信号的振幅是否从正变化到负；第一信号生成电路，用于生成由所述第一比较器的输出信号触发的信号；第二比较器，用于检测所述磁信号的振幅是否从负变化到正；第二信号生成电路，用于生成由所述第二比较器的输出信号触发的信号；以及输出电路，用于将所述第一信号生成电路的输出信号和所述第二信号生成电路的输出信号作为表示所述过零点的过零检测信号输出到所述时钟信号生成电路。
17.如权利要求16所述的磁盘装置，其中
所述时钟信号生成电路是至少包括电压控制振荡器、分频电路和相位比较器的锁相环电路，其中，所述相位比较器向所述电压控制振荡器提供和所述过零检测信号与所述时钟信号之间的相位差相对应的控制电压，并使所述时钟信号与所述过零检测信号同步。
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