CN101149945A - 经构图的介质、其时钟提取方法及时钟提取电路 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种经构图的介质、其时钟提取方法及时钟提取电路。本发明旨在将时钟信号的定时与经构图的介质的磁点匹配。该经构图的介质的特征在于：该经构图的介质具有以特定的间隔排列有多个磁点的用于记录磁信号的磁性部分以及不记录磁信号的非磁性部分。通过磁头检测所述不记录磁信号的非磁性部分的位置，并且使时钟信号与所述非磁性部分的检测信号同步。
Description
技术领域
本发明涉及一种利用经构图的介质的时钟提取方法、用于经构图的介质的时钟提取电路、磁盘装置和经构图的介质。
背景技术
具有与数据位元(data bit)对应的磁点图案的经构图的介质具有使记录密度大于由磁连续膜构成的硬盘的记录密度的特征。
经构图的介质需要以预定的间隔形成磁点，还需要磁点的表面为平坦的，从而磁点与介质基底的表面齐平。这样在该介质的生产工艺的最后按照惯例必须具有称作化学机械研磨的研磨工艺，从而使得磁点的表面平坦。
专利文件1指出了一种在经构图的介质的生产工艺中省略化学机械研磨工艺的方法，该生产工艺总结如下：
(a)将具有围绕磁比特(magnetic bits)的基质的作用的基质薄膜置于玻璃基底与抗蚀剂膜之间。将该基质薄膜的厚度调整为达到磁比特的要求；
(b)对比特图案进行电子射线曝光，然后应用显影工艺来形成经构图的掩模；
(c)通过反应离子蚀刻将比特阵列图案转移到基质薄膜上。进行蚀刻直到基底的表面露出为止；
(d)通过真空淀积等形成磁薄膜。理想的是，将厚度精确地调整为在基质薄膜中刻出的槽阵列的深度；
(e)通过利用有机溶剂将经构图的掩模熔化以去除经构图的掩模，从而形成具有平坦的表面的磁比特阵列；
(f)用表面润滑剂层覆盖磁比特阵列的表面，来保护该表面。
在磁盘装置中，利用时钟信号同步执行数据读取和写入。在经构图的介质中，用于记录数据的磁点的位置是固定的，因此，时钟信号需要与磁点的位置相匹配。
然而一般来说，对于利用经构图的介质的磁盘装置而言，还并没有实现将时钟信号与磁点的位置相匹配的方法。
专利文件1为日本专利申请特开2001-110050号公报。
发明内容
本发明的目的是将时钟信号的定时与经构图的介质的磁点的位置精确地匹配。
本发明是一种用于提取时钟信号的时钟提取方法，所述时钟信号确定将数据写入到经构图的介质或从经构图的介质读取数据的定时，所述方法包括：通过使用磁检测单元来检测记录在经构图的介质中的磁信号，该经构图的介质包括以特定间距排列有多个磁点以记录磁信号的磁性部分和不记录磁信号的非磁性部分；将在其中由磁检测单元检测的磁信号的振幅的绝对值持续地指示小于特定值的部分识别为非磁性部分，使时钟信号与所识别的非磁性部分的开始或结束的定时或者非磁性部分之后的磁性部分的磁点的磁信号的检测定时同步。
本发明能够检测到经构图的介质的非磁性部分并使时钟信号与所识别的非磁性部分的开始或结束的定时或者非磁性部分之后的磁性部分的磁信号的检测定时同步。这使得能够将时钟信号的定时与磁性部分的磁点匹配。
该时钟提取方法对从所述非磁性部分之后的所述磁性部分的所述磁点检测到的所述磁信号的振幅变为峰值的定时进行检测，并且使所述时钟信号与所述振幅变为峰值的定时同步。
这种构造使得时钟信号与正被检测的非磁性部分之后的磁性部分的磁点的磁信号的振幅峰值的定时同步，从而使时钟信号与磁性部分的磁点同步。
该时钟提取方法对从所述非磁性部分之后的所述磁性部分的所述磁点检测到的所述磁信号的斜率变为零的定时进行检测，并且使所述时钟信号与所述磁信号的斜率变为零的定时同步。
这种构造使得时钟信号与磁信号的位于峰值处的定时同步，从而使得时钟信号的定时与磁点匹配。
该时钟提取方法通过使用微分电路对从所述非磁性部分之后的所述磁性部分的所述磁点检测到的所述磁信号求微分，通过使用过零电路检测所述微分电路的输出的微分信号的值变为零的定时，并使所述时钟信号与所述微分信号的值变为零的定时同步。
这种构造使得微分电路可以对磁信号求微分并通过检测微分信号表示零的定时来检测磁信号的斜率变为零的定时。使时钟信号与斜率变为零的定时同步能够使时钟信号的上升定时或下降定时与磁点的位置同步。
根据本发明的另一时钟提取方法是一种用于提取时钟信号的时钟信号提取方法，所述时钟信号确定将数据写入到经构图的介质或从经构图的介质读取数据的定时，所述方法包括：通过使用磁检测单元检测以特定的间隔排列有多个磁点用于记录磁信号的磁性部分、不记录磁信号的区域以及记录在经构图的介质中的磁信号，所述经构图的介质的特征在于具有至少一个记录磁信号的基准点的非磁性部分；通过使用磁检测单元检测非磁性部分中的基准点的磁信号，并使时钟信号与正被检测的基准点的磁信号的定时同步。
这种构造使得时钟信号与正被检测的非磁性部分的基准点的磁信号的定时同步。在此情况下，将从该基准点到磁性部分的磁点的距离例如设置成相邻点之间的中心距离的整数倍，从而使时钟信号的定时与磁性部分的磁点匹配。
根据本发明的经构图的介质的特征在于：具有以特定的间隔排列有多个磁点用于记录磁信号的磁性部分和不记录磁信号的非磁性部分，二者均在磁道中。
这样的构造使得检测经构图的介质的非磁性部分并使时钟信号与正被检测的非磁性部分的定时同步，从而将时钟信号的定时与磁性部分的磁点精确地匹配。
将构图的介质构造成，使非磁性部分的特征在于具有至少一个用于记录磁信号的基准点，以与时钟信号同步。
这种构造能够检测非磁性部分的基准点，并使时钟信号与正被检测的基准点的定时同步。在此情况下，将从该基准点到磁性部分的磁点的距离例如设置成相邻点之间的中心距离的整数倍，从而使时钟信号的定时与磁性部分的磁点匹配。
附图说明
图1是示出根据第一实施例的经构图的介质的结构的示图；
图2是根据第一实施例的时钟提取电路的框图；
图3是零电平检测电路的电路图；
图4是滤波器的电路图；
图5是PLL电路的电路图；
图6是描述根据第一实施例的时钟提取方法的示图；
图7是根据第二实施例的时钟提取电路的框图；
图8是微分电路的电路图；
图9是过零检测电路的电路图；
图10是描述根据第二实施例的时钟提取方法的示图；
图11是示出根据第三实施例的经构图的介质的结构的示图；
图12是描述根据第三实施例的时钟提取方法的示图。
具体实施方式
下面通过参照附图来描述本发明的优选实施例。图1是示出根据第一实施例的经构图的介质11的结构的示图。
图1示出了经构图的介质11和其局部放大图11a和11b。经构图的介质11的特征在于，其具有：采用多个同心圆图案形式的多个磁道12，每个磁道12以恒定的间隔排列；伺服区13，其记录有控制对经构图的介质11进行写入和读取的位置所用的数据；和数据区14。
数据区14的特征在于磁性部分16和非磁性部分17，该磁性部分16以一定的间隔排列有用于记录磁信号的多个磁点15，而在该非磁性部分17中不存在磁点15(即，在该非磁性部分17中不记录磁信号)。经构图的介质11的制造方法可利用传统的制造方法。
经构图的介质11的特征在于使以一定间隔排列有磁点15的磁性部分16与在其中不存在磁点15的非磁性部分17沿磁道方向交替。具有非磁性部分17这个特征的原因是为了通过磁传感器检测记录在经构图的介质11中的磁信号，从而检测在其中不记录检测磁信号的非磁性部分17的位置，并使时钟信号与正被检测的非磁性部分17的定时同步，从而使时钟信号的定时与磁性部分16中的磁点的位置匹配。
图2是根据第一实施例的时钟提取电路21的框图。时钟提取电路21包括零电平检测电路22、滤波器23和锁相环(PLL)电路24。时钟提取电路21内置在磁盘装置中，该磁盘装置的其它电路构造与常用的硬盘装置的电路构造相同。
该磁盘装置包括用于写入或者读取数据的磁头(对应于磁检测单元)。磁头检测记录在经构图的介质11中的磁信号并将其转换成电信号。
零电平检测电路22检测磁头的输出信号的振幅(称作再现波形)是否在以“0”为中心的正负方向的特定范围内，并在再现波形的振幅等于或小于特定正值且该振幅等于或大于特定负值的时间段内输出高电平信号，在其它时间段内输出低电平信号，所述低电平信号和高电平信号作为零电平检测信号。
滤波器(对应于信号提取电路)23是一种用于从零电平检测信号中提取其脉冲宽度等于或大于特定值的信号并且去除其脉冲宽度小于特定值的信号的电路。例如，可由测量脉冲宽度并如果脉冲宽度小于特定值则切除信号的积分电路、数字电路等电路来构造滤波器23。
PLL电路24是由电压控制的振荡器、分频电路、相位比较器等来构造的，用于生成确定写入和读取数据的定时的时钟信号，并执行用于使电压控制的振荡器所生成的震荡信号与基准信号同步的相位控制。
零电平检测电路22检测从磁头输出的再现波长的零电平，并输出在非磁性部分17(其中不存在磁点15)中和在磁点15之间的磁性部分16的非磁化部分中变为高电平的零电平检测信号。因此，零电平检测电路22将宽宽度脉冲和窄宽度脉冲输出到滤波器23，如图2所示。
滤波器23具有如下功能：输出脉冲宽度不窄于特定值的脉冲并切除脉冲宽度窄于所述特定值的脉冲。这种构造能够仅提取对应于非磁性部分17的位置的零电平检测信号。PLL电路24使时钟信号与从滤波器23输出的非磁性部分检测信号同步。
图3示出了零电平检测电路22的电路图的示例，该零电平检测电路22包括：基准电压生成电路31，用于生成正基准电压+V0和负基准电压-V0；比较器32，用于将再现波形与正基准电压+V0进行比较；比较器33，用于将再现波形与负基准电压-V0进行比较；AND门34，用于获得比较器32和比较器33的输出的逻辑积。基准电压(即，+V0和-V0)是用于确定零电平的检测范围的电压。
将正基准电压+V0输入到比较器32的非反相输入端子，并将再现波形输入到比较器32的反相输入端子。因此，如果再现波形的振幅等于或大于正基准电压+V0，则比较器32输出低电平信号；如果再现波形的振幅小于正基准电压+V0，则比较器32输出高电平信号。
将再现波形输入到比较器33的非反相输入端子，并将负基准电压-V0输入到比较器33的反相输入端子。因此，如果再现波形等于或大于负基准电压-V0，则比较器33输出高电平信号；如果再现波形小于负基准电压-V0，则比较器33输出低电平信号。
如果比较器32的输出是高电平并且比较器33的输出也是高电平，则AND门34输出高电平信号；如果比较器32和33的输出之一是低电平或者二者的输出均为低电平，则AND门34输出低电平信号。如果再现波形在负基准电压-V0与正基准电压+V0的范围内，则AND门34输出高电平信号。换言之，如果再现波形的绝对值小于特定值，则AND门34输出高电平信号。
接下来，图4是滤波器23的电路图，该滤波器23包括：积分电路41，其包括电阻器R1和电容器C1；基准电压生成电路42，用于生成基准电压+V1；和比较器43。
积分电路41通过将作为零电平检测电路22的输出信号的零电平检测信号求积分来输出信号。积分电路41的输出信号被输入到比较器43的非反相输入端子，基准电压+V1被输入到比较器43的反相输入端子。因此，如果通过将零电平检测信号求积分得到的电压等于或高于基准电压+V1，则比较器43输出高电平信号；如果积分的电压低于基准电压+V1，则比较器43输出低电平信号。
积分电路41的输出电压，即，电容器C1的电压按由电阻器R1和电容器C1的时间常数确定的斜率增大，因此，在零电平检测信号为低电平的状态下，比较器43的输出为低电平，在零电平检测信号变为高电平之后电容器C1的电压变得不低于基准电压+V1时，比较器43的输出变为高电平。
因此，以这样的方式设置积分电路41的时间常数，即，在用在磁性部分16中检测到的窄宽度的零电平检测信号充电的情况下，电容器C1的充电电压低于基准电压+V1，而在用在非磁性部分17中检测到的宽宽度的零电平检测信号充电的情况下，电容器C1的充电电压不低于基准电压+V1，从而能够去除在磁性部分16中检测到的零电平检测信号并仅提取在非磁性部分17中检测到的零电平检测信号。以下，将在非磁性部分17中检测到的零电平检测信号称作非磁性部分检测信号。
图5是常用PLL电路的电路图。PLL电路24包括电压控制振荡器51、分频电路52和相位比较器53，该相位比较器53用于检测分频电路52的输出信号与滤波器23的输出信号的相位差。
分频电路52对电压控制振荡器51的振荡信号进行分频。相位比较器53检测分频电路52分频的信号与从滤波器24输出的作为基准信号的非磁性部分检测信号之间的相位差，并将与相位的提前或延迟相对应的正控制电压或负控制电压输出到电压控制振荡器51。电压控制振荡器51进行振荡并发射具有响应于该控制电压的频率的信号。重复上述的操作，从电压控制振荡器51输出与非磁性部分检测信号同步的时钟信号。时钟信号的上升定时与磁性部分16的磁点15的位置匹配。
这里，参照图6来描述根据第一实施例的时钟提取方法，图6是示出表示经构图的介质11的磁点15的阵列的磁点图案、再现波形、非磁性部分检测信号和时钟信号。
图6中示出的磁点图案的水平箭头表示图案介质11的磁道方向，垂直箭头表示横穿磁道方向。
图6中示出的再现波形示出了在初始状态下将经构图的介质11的每个磁点15交替地磁化而使其具有正极和负极的情况下的信号波形。在磁性部分16的再现波形中，再现波形的振幅位于特定磁点15的中心位置处的正峰值处，并且该幅值位于与上述特定磁点15相邻的磁点15的中心位置处的负峰值处。在非磁性部分17中，没有磁点15，因此，再现波形的振幅近似为零。
因此，在通过沿经构图的介质11的磁道的方向扫描磁头来检测磁信号的情况下，再现信号波形变为交替波形，在磁性部分16中交替地改变为正振幅和负振幅，然而，在非磁性部分17中该振幅变为零。
在零电平检测电路22处检测如上所述的再现波形的零电平，在磁性部分16中的再现信号的振幅为0±V0(即，基准电压)的范围内检测零电平，并在非磁性部分17的开始位置与结束位置之间的时间段内检测零电平。然后，在滤波器23切除磁性部分16的具有窄脉冲宽度的零电平检测信号，因此仅提取非磁性部分17的零电平检测信号。非磁性部分17的零电平检测信号是非磁性部分检测信号。非磁性部分检测信号是在非磁性部分17的开始位置变为高电平并且在非磁性部分17的结束位置变为低电平的信号，如图6所示。PLL电路24使时钟信号与非磁性部分检测信号的下降同步。
例如，将时钟信号的一个周期设置成等于从再现波形的一峰值到下一峰值的时间段(即，与相邻磁点15之间的中心距离对应的时间段)，时钟信号的下降与非磁性部分检测信号的上升(或下降)同步，从而能够使时钟信号的上升(或下降)的定时与再现波形的峰值的定时相匹配。再现波形的峰值与磁点15的中心位置相同，因此，可以将时钟信号的上升定时与磁点15的中心位置相匹配。需要指出的是，当使经构图的介质11以一定的rpm(每分钟的转数)旋转时，该旋转速度在外周与内周之间是不同的，因此，将经构图的介质11沿径向方向划分成多个区，并且对每个区改变时钟信号的频率。
上述的第一实施例被构造成，其特征在于，以特定的间隔排列有多个磁点15的磁性部分16和其中不存在磁点15(即，没有记录磁信号)的非磁性部分17，并且通过其使时钟信号的下降(或上升)与非磁性部分17的开始位置(或结束位置)同步。这种构造使时钟信号的上升(或下降)的定时能够与磁点15的中心位置相匹配。
还构造为检测非磁性部分17的零电平信号，从而确保不小于来自再现波形的信号的电平差的特定值(即，振幅的一半)，该电平差构成下一磁性部分16的正峰值或负峰值。这样使得能够精确地检测非磁性部分17的开始位置和结束位置，并将时钟信号的定时与磁点15的位置精确地匹配。
接下来，图7是根据第二实施例的时钟提取电路61的框图。将相同的组部指定为与图2中示出的相同的块，并且在下面的描述中省略对这些相同组部的描述。
时钟提取电路61包括：零电平检测电路22，用于检测再现波形的零电平；滤波器23；微分电路62，用于对再现波形求微分；过零(zero-cross)检测电路63，用于检测微分信号的过零；和PLL电路24。微分电路62和过零检测电路63相当于用于检测再现波形的斜率的斜率检测电路。
图8是微分电路62的电路图。微分电路62由电容器C2、电阻器R2和放大电路64构成，其中，再现波形被输入到电容器C2，电阻器R2的一端连接到电容器C2的另一端并且电阻器R2的另一端接地，放大电路62的输入连接到电容器C2和电阻器R2的连接点。
当输入到微分电路62的再现波形从低电平变为高电平时，在电容器C2和电阻器R2的连接点处的电压变为特定的正电压电平，随后按照由电容器C2和电阻器R2的时间常数确定的斜率减小。同样地，当再现波形从高电平变为低电平时，在电容器C2和电阻器R2的连接点处的电压变为特定的负电压电平，随后按照由电容器C2和电阻器R2的时间常数确定的斜率增大到接地电压。
图9是过零检测电路63的电路图。过零检测电路63是用于检测表示再现波形的斜率的微分信号的振幅位于零处的点(即，再现波形的斜率位于零)的电路。
过零检测电路63由比较器71和72、单稳态多谐振荡器73和74、OR门75、RS双稳态多谐振荡器76和单稳态多谐振荡器77构成，其中，从微分电路62输出的微分信号输入到比较器71和72。
将微分信号输入到比较器71的非反相输入端子，而将比较器71的反相输入端子接地。因此，如果该微分信号等于或高于接地电平，则比较器71输出高电平信号，如果该微分信号低于接地电压，则输出低电平信号。
单稳态多谐振荡器73利用比较器71的输出信号的上升(即，正微分信号的上升)作为触发器输出具有特定宽度的脉冲。
将微分信号输入到比较器72的反相输入端子，而将比较器72的非反相输入端子接地。因此，如果该微分信号等于或高于接地电平，则比较器72输出低电平信号，如果该微分信号低于接地电平，则输出高电平信号。
单稳态多谐振荡器74利用比较器72的输出信号的上升(即，再现波形的负微分信号的上升)作为触发器输出具有特定宽度的脉冲。
将单稳态多谐振荡器73的输出和单稳态多谐振荡器74的输出输入到OR门75，然后，OR门75将这些信号的逻辑和输出到RS双稳态多谐振荡器76的设置端子S。
将非磁性部分检测信号输入到RS双稳态多谐振荡器76的复位端子R，该复位端子R在非磁性部分检测信号处于高电平的时间段期间处于复位状态。RS双稳态多谐振荡器76的Q输出被供给单稳态多谐振荡器77作为触发器。
因此，在与再现波形的微分信号从正变为负或从负变为正的过零点同步的定时处，单稳态多谐振荡器73和74将具有特定脉冲宽度的信号输出到RS双稳态多谐振荡器76的设置端子。在非磁性部分检测信号处于高电平的时间段期间，RS双稳态多谐振荡器76处于复位状态，因此，在非磁性部分检测信号已经从高电平变为低电平之后微分信号的振幅随即变为零的定时处，RS双稳态多谐振荡器76转变为设置状态。即，在检测到非磁性部分17之后再现波形的斜率随即变为零的定时处，RS双稳态多谐振荡器76的输出变为高电平。单稳态多谐振荡器77输出由高电平信号触发的具有特定宽度的脉冲。从单稳态多谐振荡器77输出的具有特定宽度的脉冲是与再现波形的正峰值或负峰值同步的信号，以下将该信号称作磁点检测信号。
在此参照图10来描述根据第二实施例的时钟提取方法，图10示出了表示经构图的介质11的磁点15的阵列的磁点图案、再现波形、非磁性部分检测信号、磁点检测信号和时钟信号。
图10中示出的磁点图案的水平箭头表示经构图的介质11的磁道方向，垂直箭头表示横穿磁道方向。在初始状态下，单独的磁点15被交替地磁化为沿磁道方向具有正极和负极。
图10中示出的再现波形示出了在磁性部分16中的单独的磁点15被交替地磁化为具有正极和负极的情况下的信号波形，并且再现波形是正峰值和负峰值交替重复的交替三角形波。由于在非磁性部分17中不存在磁点15，所以再现波形的振幅近似为零。
如第一实施例所述，由零电平检测电路22检测再现波形的零电平，由滤波器23去除在磁性部分16中检测到的窄宽度脉冲，仅提取在非磁性部分17中检测到的宽宽度脉冲。该宽宽度脉冲是在非磁性部分17的开始位置处变为高电平并且在非磁性部分17的结束位置处为低电平的非磁性部分检测信号。
图9中示出的过零检测电路63输出磁点检测信号，在非磁性部分检测信号从高电平变为低电平之后随即与磁性部分16的第一磁点15的再现波形的峰值同步的定时处，该磁点检测信号变为高电平。由于在过零检测电路63的最后一级配备有单稳态多谐振荡器77，所以磁点检测信号是具有特定宽度的脉冲信号。
如图10所示，磁点检测信号是如下的信号：在非磁性部分检测信号从高电平变为低电平后磁性部分16的再现波形随即变为峰值的定时处，该信号变为高电平。
将磁点检测信号输出到PLL电路24作为基准信号能够使PLL电路24生成的时钟信号的上升与磁点检测信号的上升同步。磁点检测信号的上升的定时与磁点15的再现波形的振幅的峰值(即，振幅的绝对值的最大值)匹配。因此，时钟信号的上升可以与磁点15的中心位置匹配。
上述第二实施例构造成，其特征在于，经构图的介质11的每个磁道具有以特定间隔排列有多个磁点15的磁介质16以及其中不存在磁点15的非磁性部分17，并且检测非磁性部分17和在检测到的非磁性部分17之后的磁性部分16的第一磁点15的再现波形的峰值，从而能够使得时钟信号与位于峰值的再现波形的定时同步。这种结构能够提取与经构图的介质11的磁点15的近似中心部分同步的时钟信号。另外，检测非磁性部分17之后的磁性部分16的第一磁点15的再现波形使得如下信号将作为检测目标，该信号的振幅从磁性部分17处的零电平变为磁性部分16处的正峰值或负峰值，从而能够更精确地检测再现波形位于峰值的定时。这样可以提高在时钟信号提取中的准确性。
接下来，图11是示出根据第三实施例的经构图的介质(即，盘)81的结构的示意图。
根据第三实施例的经构图的介质81的特征在于非磁性部分17的中心处的基准点82，如图11所示。
经构图的介质81的数据区14的特征在于，(像图1中的经构图的介质11的情况一样)以特定的间隔排列有多个磁点15的磁性部分16以及在中心具有基准点82并且在其它部分不排列有磁点15的非磁性部分17。图11中示出的经构图的介质81和图1中示出的经构图的介质11之间的差别是在非磁性部分17的中心是否有基准点82。
与图7中一样，根据第三实施例的磁盘装置的时钟提取电路包括：零电平检测电路22，用于检测再现波形的零电平；滤波器23；微分电路62，用于对再现波形求微分；过零检测电路63；和PLL电路24。
这里，通过参照图12来描述根据第三实施例的时钟提取方法，图12示出了表示经构图的介质81的磁点15和基准点82的阵列的磁点图案、再现波形、非磁性部分检测信号、基准点检测信号和时钟信号。
在图12中，磁点图案的水平箭头表示经构图的介质81的磁道方向，垂直箭头表示横穿磁道方向。在初始状态下，将单独的磁点15交替地磁化成沿磁道方向具有正极和负极。
磁性部分16的再现波形是在磁点15的中心处具有正峰值或负峰值的交替三角波，如图12所示。
非磁性部分17的再现波形是表示在不具有磁点15的部分振幅几乎为零并且在非磁性部分17的中心处的基准点82的中心处振幅为峰值的波形。
零电平检测电路22检测在磁性部分16的相邻的磁点15之间磁信号变为零的部分以及非磁性部分17的除了基准点82之外的没有磁点的部分，并将与磁性部分16的零电平的部分对应的窄宽度脉冲和与非磁性部分17的零电平部分对应的宽宽度脉冲作为零电平检测信号输出到滤波器23。
滤波器23去除窄宽度脉冲，并将在非磁性部分17中检测到的其脉冲宽度等于或大于特定值的脉冲作为非磁性部分检测信号输出。
将第三实施例构造成，其特征在于：在非磁性部分17的中心处的基准点82的一个点并且将基准点82磁化作为正极，因此，从滤波器23输出的非磁性部分检测信号在非磁性部分17的不存在磁点15的部分中为高电平，并且该非磁性部分检测信号在存在基准点82的位置处变为低电平，该非磁性部分检测信号在前述部分之后的不存在磁点15的部分中变为高电平，如图12所示。然后，在非磁性部分17的结束位置，该非磁性部分检测信号变为低电平。
在这种情况下，从过零检测电路63(参照图9)输出的基准点检测信号是在非磁性部分17的基准点的再现波形的斜率在非磁性部分检测信号从高电平变为低电平之后变为零的定时处从低电平变为高电平的、具有特定宽度的脉冲信号。在非磁性部分检测信号的两个脉冲之间的定时处输出基准点检测信号。
对PLL电路24提供基准点检测信号作为基准信号使得PLL电路24生成的时钟信号的上升定时与基准点检测信号的上升同步。
通过将从非磁性部分17的基准点82的中心到磁性部分16的磁点15的中心的距离设置成相邻磁点15的中心之间的距离的整数倍，例如，使时钟信号的上升与基准点检测信号的上升同步，能够将时钟信号的定时与磁性部分16的磁点15的中心位置匹配。
如上所述，将第三实施例构造成，其特征在于：在经构图的介质81的每个磁道上具有以特定的间距排列有多个磁点15的磁性部分16以及没有记录磁信号的非磁性部分17，其特征还在于：具有至少一个记录磁信号的基准点82的非磁性部分17，并且使得时钟信号与正被检测的非磁性部分17的基准点82的再现波形的峰值的定时同步。这种结构使得时钟信号的上升与经构图的介质81的磁性部分16的每个磁点15的中心位置同步。因此，在与时钟信号同步的定时写入和读取数据能够在经构图的介质81的磁点15的中心处写入数据和读取数据。
上述实施例能够使时钟信号的定时与经构图的介质的磁点精确地匹配。
本发明不限于上述的实施例，而是可以被构造为例如如下：
(1)实施例被构造为以相同的间距交替地排列磁性部分16和非磁性部分17，然而这种排列是任选的。
(2)第三实施例被构造为在非磁性部分17中布置一个基准点83；然而也可以在其中布置两个或多个基准点。
(3)用于检测非磁性部分17的电路可使用通过将再现波形从模拟转换成数字(A/D)来处理再现波形的数字电路，来代替限于使用模拟电路，如零电平检测电路22、滤波器23和过零检测电路63，如优选的实施例所述。
(4)非磁性部分17可被构造为以整个磁道中的具有特定间隔的多个磁点15并留出非磁性部分17的不记录磁信号的部分区域为特征，来代替仅不以磁点为特征的构造。
Claims (18)
1.一种用于提取时钟信号的时钟提取方法，所述时钟信号确定了将数据写入经构图的介质或从经构图的介质读取数据的定时，所述时钟信号提取方法包括：
通过使用磁检测单元来检测以特定间距排列有多个磁点以记录磁信号的磁性部分，和记录在所述经构图的介质中的磁信号，所述经构图的介质包括不记录磁信号的非磁性部分；
识别出由所述磁检测单元检测的磁信号的振幅的绝对值持续地指示小于特定值的部分作为非磁性部分，并使时钟信号与所识别的非磁性部分的开始或结束的定时或者非磁性部分之后的磁性部分的磁点的磁信号的检测定时同步。
2.根据权利要求1所述的用于经构图的介质的时钟提取方法，
检测从所述非磁性部分之后的所述磁性部分的所述磁点检测到的所述磁信号的振幅变为峰值的定时，并且使所述时钟信号与所述振幅变为峰值的定时同步。
3.根据权利要求1所述的用于经构图的介质的时钟提取方法，
检测从所述非磁性部分之后的所述磁性部分的所述磁点检测到的所述磁信号的斜率变为零的定时，并且使所述时钟信号与所述磁信号的斜率变为零的定时同步。
4.根据权利要求1所述的用于经构图的介质的时钟提取方法，
通过使用微分电路对从所述非磁性部分之后的所述磁性部分的所述磁点检测到的所述磁信号求微分，通过使用过零电路检测所述微分电路的输出的微分信号的值变为零的定时，并使所述时钟信号与所述微分信号的值变为零的定时同步。
5.一种用于提取时钟信号的时钟提取方法，所述时钟信号确定将数据写入经构图的介质或从经构图的介质读取数据的定时，所述时钟提取方法包括：
通过使用磁检测单元检测记录在经构图的介质中的磁信号，所述经构图的介质包括：以特定的间隔排列有多个磁点以记录磁信号的磁性部分；不记录磁信号的区域；和具有至少一个记录磁信号的基准点的非磁性部分；
通过使用磁检测单元检测非磁性部分中的基准点的磁信号，并使时钟信号与正被检测的基准点的磁信号的定时同步。
6.根据权利要求5所述的用于经构图的介质的时钟提取方法，
通过使用微分电路对从所述非磁性部分的所述基准点检测到的所述磁信号求微分，通过使用过零电路检测所述微分电路的输出的微分信号的值变为零的定时，并使所述时钟信号与所述微分信号的值变为零的定时同步。
7.一种经构图的介质，其特征在于，该经构图的介质具有以特定的间隔排列有多个磁点的用于记录磁信号的磁性部分和不记录磁信号的非磁性部分，所述磁性部分和非磁性部分均在磁道中。
8.根据权利要求7所述的经构图的介质，其中，
所述非磁性部分的特征在于，所述非磁性部分具有用于记录所述磁信号的基准点，以使所述时钟信号与所述基准点同步。
9.根据权利要求7所述的经构图的介质，
所述磁性部分和所述非磁性部分被交替地形成在单个磁道中。
10.一种磁盘装置，所述磁盘装置包括：
时钟信号生成电路，用于生成时钟信号，所述时钟信号确定将数据写入经构图的介质或从经构图的介质读取数据的定时；
磁检测单元，用于检测记录在经构图的介质中的磁信号，所述经构图的介质包括以特定的间隔排列有多个磁点的用于记录磁信号的磁性部分和不记录磁信号的非磁性部分；
零电平检测电路，用于检测一零电平，在该零电平处由所述磁检测单元检测到的磁信号的振幅的绝对值变得小于特定的值；
信号提取单元，用于从所述零电平检测电路检测到的多个零电平检测信号之中提取其脉冲宽度等于或大于特定值的信号，作为指示所述非磁性部分的位置的非磁性部分检测信号，其中
所述时钟信号生成电路使所述时钟信号与所述非磁性部分检测信号同步。
11.根据权利要求10所述的磁盘装置，其特征在于，
所述非磁性部分具有至少一个用于记录所述磁信号的基准点，并且
所述磁盘装置还包括斜率检测电路，所述斜率检测电路用于检测所述基准点的磁信号的斜率变为零的定时，其中
所述时钟信号生成电路使所述时钟信号与所述基准点的磁信号的斜率变为零的定时同步。
12.根据权利要求10所述的磁盘装置，该磁盘装置包括：
斜率检测电路，用于检测在所述非磁性部分检测信号被检测到后在所述磁性部分中检测到的磁信号的斜率变为零的定时，其中
所述时钟信号生成电路使所述时钟信号与所述斜率检测电路检测到的所述磁信号的斜率变为零的定时同步。
13.根据权利要求12所述的磁盘装置，其中
所述斜率检测电路包括：微分电路，用于对所述磁信号求微分；和过零检测电路，用于检测作为所述微分电路的输出的微分信号的值变为零的定时，其中
所述时钟信号生成电路使所述时钟信号与所述微分信号的值变为零的定时同步。
14.一种磁盘装置，该磁盘装置包括：
时钟信号生成电路，用于生成时钟信号，所述时钟信号确定将数据写入经构图的介质或从经构图的介质读取数据的定时；
磁检测单元，用于检测记录在经构图的介质中的磁信号，所述经构图的介质包括以特定的间隔排列有多个磁点的用于记录磁信号的磁性部分和不记录磁信号的非磁性部分；
零电平检测电路，用于检测一零电平，在该零电平处由所述磁检测单元检测的磁信号的振幅的绝对值变得小于特定的值；
信号提取单元，用于从由所述零电平检测电路检测到的多个零电平检测信号之中提取其脉冲宽度等于或大于特定值的信号，作为指示所述非磁性部分的位置的非磁性部分检测信号；
斜率检测电路，用于检测在所述非磁性部分检测信号被检测到后在所述磁性部分中检测到的所述磁信号的斜率变为零的定时，其中
所述时钟信号生成电路使所述时钟信号与所述磁性部分的所述磁信号的斜率变为零的定时同步。
15.根据权利要求14所述的磁盘装置，其中：
所述斜率检测电路包括：微分电路，用于对所述磁信号求微分；和过零检测电路，用于检测作为所述微分电路的输出的微分信号的值变为零的定时，其中
所述时钟信号生成电路使所述时钟信号与所述微分信号的值变为零的定时同步。
16.一种用于经构图的介质的时钟提取电路，该时钟提取电路包括：
磁检测单元，用于检测记录在经构图的介质中的磁信号，所述经构图的介质包括以特定的间隔排列有多个磁点的用于记录磁信号的磁性部分和不记录磁信号的非磁性部分；
零电平检测电路，用于检测一零电平，在该零电平处由磁检测单元检测的磁信号的振幅的绝对值变得小于特定的值；
信号提取单元，用于从由所述零电平检测电路检测到的多个零电平检测信号之中提取其脉冲宽度等于或大于特定值的信号，作为指示所述非磁性部分的位置的非磁性部分检测信号；和
时钟信号生成电路，用于使所述时钟信号与所述非磁性部分检测信号的定时同步或者与正被检测的所述非磁性部分之后的所述磁性部分中的所述磁点的磁信号同步。
17.根据权利要求16所述的用于经构图的介质的时钟提取电路，其特征在于，
所述非磁性部分具有至少一个用于记录所述磁信号的基准点，
所述时钟提供电路包括斜率检测电路，用于检测所述基准点的磁信号的斜率变为零的定时，其中
所述时钟信号生成电路使所述时钟信号与所述基准点的磁信号的斜率变为零的定时同步。
18.根据权利要求16所述的用于经构图的介质的时钟提取电路，该时钟提取电路包括：
斜率检测电路，用于检测在所述非磁性部分检测信号被检测到后在所述磁性部分中检测到的所述磁信号的斜率变为零的定时，其中
所述时钟信号生成电路使所述时钟信号与由所述斜率检测电路检测到的磁信号的斜率变为零的定时同步。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Open date: 20080326 |