CH657979A5

CH657979A5 - Elektronenblitzleuchte fuer ophthalmologische untersuchungsgeraete.

Info

Publication number: CH657979A5
Application number: CH6988/82A
Authority: CH
Inventors: Ortwin Mueller; Albrecht Vogel
Original assignee: Zeiss Carl Fa
Priority date: 1981-12-05
Filing date: 1982-12-01
Publication date: 1986-10-15
Also published as: US4428035A; JPS58142009U; JPH0423217Y2

Description

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Claims

PATENTANSPRÜCHE

1. Elektronenblitzleuchte für ophthalmologische Unter-suchungsgeräte, dadurch gekennzeichnet, dass die Leuchte in einem Gehäuse (1) untergebracht ist, das unterhalb des Hauptobjektivs (4) des Untersuchungsgerätes befestigbar ist, wobei im Gehäuse (1) Durchtrittsöffnungen (8,9) für den Beleuchtungs- (10) und/oder Beobachtungsstrahlengang (11) des Gerätes vorgesehen sind und wobei auf einer Seite des Hauptobjektivs (4) eine Elektronenbützröhre (2) im Brennpunkt eines asphärischen Spiegels (3) angeordnet ist und auf der anderen Seite des Hauptobjektivs (4) ein Umlenkspiegel (5) vorgesehen ist, der die vom asphärischen Spiegel (3) abgestrahlte Blitzemission (12) möglichst koaxial zur optischen Achse (6) des Beobachtungsstrahlenganges auf das Untersuchungsobjekt lenkt, und dass zwischen dem asphärischen Spiegel (3) und Umlenkspiegel (5) eine Sammellinse (7) vorgesehen ist, die das Feld der Blitzemission der Gerätever-grösserung anpasst.

2. Elektronenblitzleuchte nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zur Anpassung an verschiedene Geräte-vergrösserungen verschiedene Sammellinsen auf einer Wech-selhalterung montiert sind.

3. Elektronenblitzleuchte nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass in ihrem Strahlenverlauf Kreisblenden und Farbfilter zur Minimierung des Hornhautreflexes vorgesehen sind. •

Die Erfindung betrifft eine Elektronenblitzleuchte für ophthalmologische Untersuchungsgeräte.

Ophthalmologische Untersuchungsgeräte, beispielsweise Operationsmikroskope und Spaltleuchten, haben in der Regel eine geräteinterne Beleuchtung für den Untersuchungsvorgang am Objekt. Für photographische Aufnahmen ist bei derartigen Untersuchungsgeräten meist eine Halterung für eine Elektronenblitzleuchte vorgesehen, deren Licht dann in einem derartigen Winkel zur optischen Achse des Beobachtungsstrahlenganges auf das Untersuchungsobjekt fällt, dass das durch den Elektronenblitz erhellte Objektfeld bedeutend grösser ist als das durch die geräteinterne Beleuchtung erhellte Objektfeld.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, das Licht der Elektronenblitzleuchte möglichst koaxial zur optischen Achse des Beobachtungsstrahlenganges auf das Untersuchungsobjekt auftreffen zu lassen und die Beleuchtungsstärke am Objekt zu vergrössern.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäss dadurch gelöst, dass die Leuchte in einem Gehäuse untergebracht ist, das unterhalb des Hauptobjektivs des Untersuchungsgerätes befestigbar ist, wobei im Gehäuse Durchtrittsöffnungen für den Beleuchtungs- und/oder Beobachtungsstrahlengang des Gerätes vorgesehen sind und wobei auf einer Seite des Hauptobjektivs eine Elektronenblitzröhre im Brennpunkt eines asphärischen Spiegels angeordnet ist und auf der anderen Seite des Hauptobjektivs ein Umlenkspiegel vorgesehen ist, der die vom asphärischen Spiegel abgestrahlte Blitzemission möglichst koaxial zur optischen Achse des Beobachtungsstrahlenganges auf das Untersuchungsobjekt lenkt, und dass zwischen dem asphärischen Spiegel und dem Umlenkspiegel eine Sammellinse vorgesehen ist, die das Feld der s Blitzemission der Gerätevergrösserung anpasst.

Wenn der asphärische Spiegel als Paraboloid oder Ellip-soid ausgebildet ist, wird zweckmässigerweise eine stabför-mige Elektronenblitzröhre verwendet. Der Umlenkspiegel ist zweckmässiger ein schräg zur Achse gestellter ebener Spie-lo gel, er kann aber auch als Umlenkprisma ausgebildet sein.

Für Anpassung an verschiedene Gerätevergrösserungen sind vorteilhafterweise Sammellinsen vorgesehen, die beispielsweise auf Wechselschiebern vor dem Umlenkspiegel in den Strahlengang der Elektronenblitzleuchte eingeschoben i5 werden können. Der Wechselschieber kann so ausgebildet sein, dass gleichzeitig oder auch anstatt einer Sammellinse Blenden und Farbfilter in den Strahlengang eingebracht werden können.

Die mit der Erfindung erzielten Vorteile bestehen insbe-20 sondere in einer Erhöhung der Beleuchtungsstärke am Ort des Objektes, die gegenüber vergleichbaren elektrischen Anregungsenergien des Elektronenblitzes ohne erfindungsge-mässe Vorrichtung ca. 3,5 photographische Blendenstufen ausmacht. Bei Ankoppelung der erfindungsgemässen Elek-25 tronenblitzleuchte an eine Spaltlampe ist es durch die zur optischen Geräteachse koaxiale Einkoppelung möglich, das unvermeidliche Spiegelbild der Elektronenblitzröhre an der Hornhautvorderfläche in die Pupillenmitte des Patientenauges zulegen, wodurch methodische Anforderungen der Oph-30 thalmologen erfüllt werden.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und wird im folgenden näher beschrieben. Es zeigen

Fig. 1 eine erfmdungsgemässe Elektronenblitzlampe in 35 Verbindung mit einem Operationsmikroskop;

Fig. 2 eine erfmdungsgemässe Elektronenblitzlampe in Verbindung mit einer Spaltlampe.

In der Figur 1 ist das Gehäuse der Elektronenblitzlampe mit 1 bezeichnet. Im Brennpunkt eines asphärischen Spiegels 40 3 ist eine stabförmige Elektronenblitzröhre angeordnet. Das vom asphärischen Spiegel reflektierte Blitzlicht wird von der Linse 7 parallel gerichtet und trifft auf einen geneigt angeordneten ebenen Umlenkspiegel 5. Die Neigung des Umlenkspiegels 5 ist so gewählt, dass das Blitzlicht nahezu ko-45 axial zur optischen Achse 6 auf das Untersuchungsobjekt bei 13 auftrifft. In der Praxis beträgt der Einfallswinkel zwischen der Blitzemission 12 und der optischen Achse 6 ca. 4°. Unter diesem Winkel fallt normalerweise auch der mit 10 bezeichnete geräteinterne Beleuchtungskegel auf das Untersu-5o chungsobjekt. Der Beobachtungsstrahlengang des Gerätes ist mit 11 bezeichnet. Das Gehäuse der Elektronenblitzleuchte ist mit einem Ansatzstück 14 mit dem Körper des Untersuchungsgerätes verbindbar. An den Stellen 8 und 9 trägt das Gehäuse Durchtrittsöffnungen für den Beobach-55 tungsstrahlengang 11 des Untersuchungsgerätes.

In der Darstellung der Figur 2 sind für die Elektronenblitzleuchte dieselben Bezeichnungen wie in der Darstellung der Figur 1 eingezeichnet. Der Beleuchtungsstrahlengang der Spaltlampe trägt die Bezeichnung 15.

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1 Blatt Zeichnungen