AT159350B - Einstandentfernungsmesser mit veränderlicher Basis und Verfahren zur Unschädlichmachung seiner Justierfehler. - Google Patents

Einstandentfernungsmesser mit veränderlicher Basis und Verfahren zur Unschädlichmachung seiner Justierfehler.

Info

Publication number
AT159350B
AT159350B AT159350DA AT159350B AT 159350 B AT159350 B AT 159350B AT 159350D A AT159350D A AT 159350DA AT 159350 B AT159350 B AT 159350B
Authority
AT
Austria
Prior art keywords
base
telescope
distance
plane
target
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Original Assignee
Zeiss Carl Fa
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zeiss Carl Fa filed Critical Zeiss Carl Fa
Application granted granted Critical
Publication of AT159350B publication Critical patent/AT159350B/de

Links

Landscapes

  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Description


   <Desc/Clms Page number 1> 
 



  Einstandentfernungsmesser mit veränderlicher Basis und Verfahren zur   Unschädlichmachung   seiner   Justierfehler.   



   Der Entfernungsmessung mit Einstandentfernungsmessern mit   veränderlicher   Basis liegt die aus dem Messdreieck folgende Gleichung 
 EMI1.1 
 zugrunde, in welcher e die zu messende Entfernung, b die Basis und   0   den   parallaktischen Winkel   am Ziel bedeuten. Die Vorrichturg zur Veränderung der Basis b, mit der die genannten Entfernungsmesser versehen sind, ist in der Regel mit einer Anzeigevorrichtung versehen, an welcher die zu den verschiedenen Basen b gehörenden Entfernungen e unmittelbar angezeigt werden.

   Die wirkliche Entfernung eines Objekts stimmt jedoch nur dann mit der angezeigten Entfernung überein, wenn im Entfernungmesser selbst keine, den parallaktischen Winkel 8 fälschenden Ablenkungen   g'vorkommen   oder wenn diese Ablenkungsfehler   B',   die im folgenden als Justierfehler bezeichnet werden sollen, auf irgendeine Weise unschädlich gemacht worden sind. Bei Entfernungsmessern mit veränderlichem   parallaktisehem   Winkel am Ziel ist es bekannt, diese Justierfehler mit Hilfe einer Doppelmessung auszuschalten, die mit zwei verschiedenen festen Basen vorgenommen wird. 



   Der Gegenstand der Erfindung ist ein Verfahren zur Unschädlichmachung der Justierfehler von   Einstandentfernungsmessern   mit veränderlicher Basis und besteht darin, dass die Messung der Entfernung mit einem bestimmten   parallaktisehen   Winkel am Ziel vorgenommen und mit einem andern parallaktischen Winkel wiederholt wird, wobei die fehlerfrei zu messende Entfernung der Differenz der Basislängen bei beiden Messungen proportional ist. Es werden also nacheinander zwei Messungen durchgeführt, u. zw. die erste mit dem festen parallaktischen Winkel   a,   der von dem Aufbau des Gerätes abhängt, und die zweite mit einem festen parallaktischen Winkel k.   8,   bei welchem k grundsätzlich jeden von +1 verschiedenen Wert annehmen kann. 



   Die Erfindung beruht auf folgender Überlegung. Ist v die Fernrohrvergrösserung eines Entfernungsmessers mit veränderlicher Basis b, dann ist die im Gesichtsfeld des Entfernungsmessers beobachtete Parallaxe A für ein in der Entfernung e gelegenes Ziel 
 EMI1.2 
 
Bei der Entfernungsmessung wird bekanntlich die Basis b so lange verändert, bis die Parallaxe A = 0 wird. Es muss dann 
 EMI1.3 
 sein. Die Gleichung 3 wird, abgesehen von dem praktisch unbrauchbaren Fall, bei dem sowohl die Basis b als auch der parallaktische Winkel   ô   und der Justierfehler µ'zugleich Null sind, erfüllt, wenn 
 EMI1.4 
 ist. Diese Gleichung entspricht der Gleichung 1, wenn ein Justierfehler   berücksichtigt   ist.

   Die Auswertung der Messung auf Grund der Gleichung 4 liefert eine falsche   Entfernung, wenn   die Entfernungs- 

 <Desc/Clms Page number 2> 

 teilung der Anzeigevorrichtung in üblicher Weise unter Zugrundelegung der Gleichung 1 vorgesehen ist. 



   Wird der parallaktische Winkel 0 durch einen Winkel k.   S   ersetzt, dann verschwindet die Parallaxe A bei Veränderung der Basis b auf eine Basis   b , die folgender Gleichung gehorcht   : 
 EMI2.1 
 
 EMI2.2 
 eine Gleichung 6, in welcher der Justierfehler   3'nichet   auftritt. 
 EMI2.3 
 



     Macht man   also zwei   Messungen   eines Zieles in der Entfernung e nacheinander mit den par-   allaktischen Winkeln 3 und k. 3, dann ist die wirkliche Entfernung e der Differenz der beiden ermittelten  
Basen bund bO proportional und frei von dem Einflusse des Justierfehlers   3',   da man diesen Justier- fehler für beide   Messungen   als gleich annehmen kann. 
 EMI2.4 
   liehen breehenden   Prismas mit der Ablenkung   in   einen der Strahlengänge oder Austausch eines Prismas mit der Ablenkung   a   gegen ein solches mit der Ablenkung k.   0   geschehen. Besonders einfache Verfahren ergeben sich, wenn man den Faktor k = 0l oder k = 0 wählt.

   Im erstgenannten Falle, der durch Drehung eines in einem der Strahlengänge befindlichen Prismas mit der Ablenkung   3   um die optische Achse um 1800 verwirklicht werden kann, sind die absoluten Werte der parallaktisehen Winkel am Ziel bei beiden Messungen gleich. Im zweiten Falle ist der parallaktische Winkel bei der zweiten Messung gleich Null ; er kann durch Entfernen eines in einem der Strahlengänge vorhandenen Prismas mit der Ablenkung   0   oder in der Weise verwirklicht werden, dass bei der zweiten Messung durch dieses Prisma beide Strahlengänge beeinflusst werden. 



   Ein   Einstandentferaungsmesser   mit veränderlicher Basis und festem parallaktisehem Winkel am Ziel wird zur   Ausübung   des erstgenannten Verfahrens zweckmässig mit einem   ablenkenden   opti-   schen   System ausgestattet, welches in zwei Lagen so in einen der Abbildungsstrahlengänge geschaltet werden kann, dass es entgegengesetzt gleiche Ablenkungen der   Abbildungsstrahlenbündel   in der   Mess-   ebene bewirkt. Zur Ausübung des zweiten genannten Verfahrens empfiehlt es sich, das ablenkende 
 EMI2.5 
 Ablenkung des Abbildungsstrahlenbündels in der Messebene bewirkt, so zu bemessen, dass es gleichzeitig beide Abbildungsstrahlenbündel beeinflusst, wenn die Basis des Entfernungsmessers ungefähr Null beträgt.

   Dies lässt sich in einfacher Weise mit einem Entfernungsmesser verwirklichen, der mit einem monokularen Fernrohr ausgestattet ist und dessen Strahleneintrittsöffnungen der oberen und der unteren Hälfte des Fernrohrobjektivs entsprechen, indem die beiden um 900 ablenkenden Systeme (z. B.   Fünfeekprismen),   die sich im allgemeinen immer an den Enden der Basis befinden, nur je die halbe Höhe des Fernrohrobjektivs haben und zur zweiten Messung gemeinsam übereinander hinter das in einem der   Strahlengänge   befindliche ablenkende optische System mit der   Ablenkung     Ï   gebracht werden, welches seinerseits so bemessen ist, dass es der ganzen Höhe des Fernrohrobjektivs entspricht. 



  Bei einem derartigen Ausbau des Gerätes hat man dann bei der zweiten Messung einen   Entfernungs-   messer mit veränderlicher Basis vor sieh, dessen fester parallaktiseher Winkel am Ziel dem Justierfehler 3'entspricht. Da dieser Fehler stets verhältnismässig klein ist, genügt zur Vornahme der zweiten Messung eine so geringe Veränderung der Basis b gegenüber der Einstellung mit der Basis b = 0, dass die Strahlen, welche in die an den Enden der Basis befindlichen ablenkenden optischen Systeme eintreten, im wesentlichen das in unveränderter Lage befindliche System mit   der Ablenkung 3 durch-   setzen. 



   Bei einem Fernrohr, bei dem die Abbildungsstrahlen lediglich durch die eine Hälfte des Objektivs eintreten können, bedeckt das erzeugte Bild bekanntlich trotzdem die gesamte Fläche des Bildfeldes. Mit einem Entfernungsmesser, der nach der zuletzt beschriebenen Weise ausgebaut ist, würden deshalb Misehbilder von den beiden   Abbildungsstrahlenbündeln   erzeugt werden, die an sich die Messung von Entfernungen ermöglichen, indem die Basis b so lange verändert wird, bis   die Mischbilder sich voll-   kommen decken. Genaue Einstellungen sind jedoch recht schwierig und man zieht es deshalb vor, 
 EMI2.6 
 Austrittspupillen, die Anlass   zu Messfehlern   geben können.

   Man ergänzt das   Fer'1rohrsystem deö Ent-   fernungsmessers   zweckmässig   durch ein Biprisma, dessen Dachkante auf einer Parallelen zur Messebene 
 EMI2.7 
 Winkel so gewählt sind, dass sieh die Austrittspupillen, die zu der oberen und der   unteren Objektivhälfte   gehören, teilweise überdecken, und ordnet in der Ebene dieser Austrittspupillen   ei.   e   B ! e de an, deren   
 EMI2.8 
 

 <Desc/Clms Page number 3> 

 
Gesichtsfelde des Ferarohrs zwei   durch   eine scharfe Liuie, die Dachkante des Biprismas, getrennte
Teilbilder des Zieles zu sehen sind, deren Koinzidenz bei der Messung herbeigeführt wird. 



   In der Zeichnung sind zwei Ausführungsbeispiele der Erfindung dargestellt. Fig. 1 zeigt das erste Beispiel im Grundriss, Fig. 2 in einem Schnitt nach der Linie   z   der Fig. 1. Das zweite Beispiel ist in einer von der Seite des Objekts aus gesehenen Ansicht wiedergegeben. Beide Beispiele sind monokulare Entfernungsmesser mit veränderlicher Basis. 



   Der Entfernungsmesser des ersten Beispiels (Fig. 1 und 2) hat ein monokulares Fernrohr 1, dessen optische Teile ein Objektiv 2, eine Feldlinse. 3 und eine   Augenlinse   4 sind und in dessen Okular eine Blende 5 so angebracht ist, dass die   Blendenöffnung   6 ungefähr mit der Ebene der Austrittspupille zusammenfällt. Mit dem Fernrohr 1 sind ein Prismengehäuse 7 und eine   Führungsschiene   8 fest ver- bunden. Das Prismengehäuse 7   enthält   ein Dreieckprisma 9 und ein   Fünfeekprisma 10, von   denen das 
 EMI3.1 
 genannte nur die halbe Höhe hat und der oberen Objektivhälfte zugeordnet ist.

   Am   Prismengehäuse   7 ist ferner vor dem   Fiinfeekprisma   10 in einem Stutzen 11 ein Glaskeil 12 so gefasst, dass seine   breehende   Kante die Hauptschnittebene des Prismas 70 rechtwinkelig kreuzt. Der   GJaskeiI 12 eJltsprieht   der Höhe nach wiederum dem ganzen Durchmesser des Objektivs 2. Die   Führungsschiene   8 ist am unteren Teil des Prismengehäuses   7, u.   zw. vom Beobachter am Fernrohr 1 aus gesehen, nach rechts herausragend angebracht und der Messebene parallel, die durch die   Hauptsehnittebenen   der Prismen 9 und 10 bestimmt ist. Auf der Führungsschiene 8, die mit einer   Entfernungsteilung     7. 3 ausgestattet   ist, ist ein Schlitten 14 verschiebbar.

   Der Schlitten   14   trägt ein dem Prisma 10   gleichendes Fünfeekprisma 75   und ist mit einem Fenster 16 versehen, an dem sich ein Zeiger 17 befindet. Im Fernrohr 1 ist ein Biprisma 18 so angebracht, dass seine Dachkante 19 in der   Fernrohrbiidebene   liegt und seine Grundfläche dieser Ebene parallel ist. Die Dachkante 19 ist der   Messebene   parallel. 



   Der Nullstrieh   dp, r Entfernungsteilung 13   fällt mit dem Zeiger   77   zusammen, wenn sich der 
 EMI3.2 
 prismen 10 und 15 decken. Die Grösse der Teilintervalle ist nach der Gleichung 6 unter Annahme des Wertes k = 0 bestimmt. Da jedes der Prismen 10 und 9 die eintretenden   Abbildungsstrahlenbüsehel   um 900 ablenkt, entspricht der Ablenkung der Strahlen durch den   Glaskeil 7. 8   der feste parallaktische Winkel am Ziel, für den das Gerät eingerichtet ist.

   Der oberen und der unteren Objektivhälfte, denen die Abbildungsstrahlen von je einem der Prismen 10 oder 15 zugeführt werden, sind zwei Austritts-   pupillen   zugeordnet, die durch Ablenkung der   Abbildungsstrahlen   mit Hilfe des Biprismas 18 so gegeneinander verlagert sind, dass sie sich teilweise   überdecken.   Die Blende 5 unterdrückt diese Austritts-   pupillen   für den Beobachter am Okular. soweit sie nicht zusammenfallen, wobei im Gesiehtsfelde eine scharfe waagreehte Linie, die Dachkante 19 des Prismas   18,     sichtbar   ist, welche die von beiden Objektivhälften entworfenen Bilder trennt.

   
 EMI3.3 
 messen werden soll, dass der Beobachter beim Einblick in die   Augenliuse 4   zwei   übereinanderliegende   Bilder dieses Gegenstandes sieht. Die Koinzidenz dieser Bilder wird durch Verschieben des Schlittens 74 nach rechts auf der Schiene 8 eingestellt und am Zeiger 17 der zur Koinzidenzstellung gehörende Entfernungswert auf der Teilung   l)   abgelesen. Alsdann wird der Schlitten 14 nach links verschoben, bis das Prisma 15 unter dem Prisma 10 und hinter dem Glaskeil 12 liegt.

   Die Ablenkung des   Glaskeiles 72   wirkt dann auf die Abbildungsstrahlenbündel, die in beide Prismen 10 und 15 eintreten, und die Koinzidenzstellung der im Fernrohr 1 erzeugten Bilder würde beim Zusammenfallen des Zeigers 17 mit dem Nullstrich der Teilung 13 vorhanden sein, wenn das Gerät von   Justierfellern   frei wäre. Sind solche Fehler vorhanden, ist eine weitere, meist verhältnismässig kleine Verschiebung des Schlittens 14 erforderlich, um die Koinzidenz herzustellen. Der dazugehörige   Entfernungswert   wird wiederum abgelesen. Die wahre Entfernung des gemessenen Gegenstandes ist gleich der Differenz der beiden abgelesenen Entfernungswerte. Würde beispielsweise die erste Ablesung 169 In und die zweite Ablesung -3m ergeben, dann wäre die unter Ausschaltung von Justierfehlern bestimmte wahre Eutfernung 172m. 



   Das zweite Ausfahrungsbeispiel   (Fig.   3) unterscheidet sich vom ersten Beispiel dadurch, dass die Prismen 9 und 10 in voneinander   getrennten   Gehäusen 20 und 27 untergebracht sind. Das Prismengehäuse 21 ist als Schlitten ausgebildet und auf einer zweiten am Prismengehäuse 20 angebrachten Schiene 22 verschiebbar. Der Glaskeil 12 ist in einer drehbaren Fassung   23   befestigt, die mit einem 
 EMI3.4 
 Drehung auf   1800 begrenzt.   In den beiden Grenzstellungen der Fassung   23   steht die brechende Kante des Glaskeils 12 senkrecht auf der Messebene. Die Schiene 8 trägt eine Entfernungsteilung 26, zu der 
 EMI3.5 
 gleicht und deren Nullstriche miteinander übereinstimmen. Zur Teilung 28 gehört ein am Prismengehäuse 21 vorgesehener Zeiger 29.

   Im übrigen sind die beiden   Ausführungsbeispiele gleich.   



   Die Bestimmung der Entfernung eines Gegenstandes unter Ausschaltung der Justierfehler erfolgt auch mit dem als zweites Ausführungsbeispiel gezeichneten Entfernungsmesser mit Hilfe einer 
 EMI3.6 
 

 <Desc/Clms Page number 4> 

 Okular sichtbaren Bilder des Objekts in   Koinzide ! lzstellurg sÍ1 : d. Nachdem man   den zur   Koinzide'z-   stellung gehörenden Entfernungswert auf der Teilung 26 abgelesen hat, verschiebt man den Schlitten 14 nach links, bis der Zeiger 27 sieh mit dem Nullstrich der Teilung 26 deckt. Man verschiebt ferner das 
 EMI4.1 
 auf der Schiene 22 die Koinzidenzstellung der beiden im Gesichtsfeld des Fernrohrs 1 sichtbaren Objektbilder wiederum herbeigeführt und der dazugehörige Entfernungswert am Zeiger 29 auf der Teilung 28 abgelesen. Die fehlerfreie Entfernung des gemessenen Objekts ergibt sich aus Gleichung 6. 



  Diese Gleichung nimmt im vorliegenden Falle folgende Form an : 
 EMI4.2 
 wobei   b1   und bs die beiden ermittelten Basislängen sind. Da infolge der Vertauschung der Lage der Prismen 10 und 15 bei den beiden Messungen der   Riehtungssinn   der ermittelten Basislängen einander entgegengesetzt ist, ist für   k =- !   die zweite Basislänge negativ einzusetzen, so dass sich bei der Differenzbildung die Summe der absoluten Längen ergibt. Es ist selbstverständlich, dass man im allgemeinen die Intervalle der Teilungen 26 und 28 so bemessen wird, dass für die Entfernungsbestimmung lediglich eine Addition der beiden abgelesenen Werte nötig ist. 



   PATENT-ANSPRÜCHE :
1. Verfahren zur   Unschädlichmachung   der Justierfehler von Einstandentfernungsmessern mit veränderlicher Basis, dadurch gekennzeichnet, dass die Messung der Entfernung mit einem bestimmten parallaktischen Winkel am Ziel vorgenommen und mit einem andern   parallaktisehen   Winkel wiederholt wird, wobei die fehlerfrei zu messende Entfernung der Differenz der Basislängen bei beiden Messungen proportional ist.

Claims (1)

  1. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die absoluten Werte der parallaktischen Winkel bei beiden Messungen gleich sind.
    3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der parallaktische Winkel bei der zweiten Messung Null ist.
    4. Einstandentfernungsmesser mit veränderlicher Basis und festem parallaktisehem Winkel am Ziel zur Ausübung des Verfahrens nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch ein ablenkendes optisches EMI4.3 5. Einstandentfernungsmesser mit veränderlicher Basis und festem parallaktischem Winkel am Ziel zur Ausübung des Verfahrens nach Anspruch 3, gekennzeichnet durch ein ablenkendes optisches System, welches so in einen der beiden Abbildungsstrahlengänge geschaltet ist, dass es eine Ablenkung des Abbildungsstrahlenbündels in der Messebene bewirkt, und welches so bemessen ist, dass es gleichzeitig beide Abbildungsstrahlenbündel beeinflusst, wenn die Basis des Entfernungsmessers ungefähr Null beträgt.
    6. Mit einem monokularen Fernrohr ausgestatteter Entfernungsmesser nach Anspruch 5, dessen Strahleneintrittsöffnungen der oberen und der unteren Hälfte des Fernrohrobjektivs entsprechen, gekennzeichnet durch ein Biprisma, dessen Daehkante auf einer Parallelen zur Messebene in der Bildebene des Fernrohrs liegt, dessen Grundfläche der Bildebene parallel ist und dessen brechende Winkel so gewählt sind, dass sich die Austrittspupillen, die zu der oberen und der unteren Objektivhälfte gehören, teilweise überdecken, und ferner gekennzeichnet durch eine ungefähr in der Ebene der Austrittspupillen angeordnete Blende, deren Blendenöffnung den gemeinsamen Teilen der Austrittspupillen entspricht.
AT159350D 1937-03-23 1938-03-18 Einstandentfernungsmesser mit veränderlicher Basis und Verfahren zur Unschädlichmachung seiner Justierfehler. AT159350B (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE159350X 1937-03-23

Publications (1)

Publication Number Publication Date
AT159350B true AT159350B (de) 1940-08-10

Family

ID=5680317

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
AT159350D AT159350B (de) 1937-03-23 1938-03-18 Einstandentfernungsmesser mit veränderlicher Basis und Verfahren zur Unschädlichmachung seiner Justierfehler.

Country Status (1)

Country Link
AT (1) AT159350B (de)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DD136070B1 (de) Vorrichtung zur gleichzeitigen fluchtungs-und richtungsmessung
DE3017820C2 (de)
AT159350B (de) Einstandentfernungsmesser mit veränderlicher Basis und Verfahren zur Unschädlichmachung seiner Justierfehler.
DE650908C (de) Optisches Suchersystem
DE441773C (de) Standlinienentfernungsmesser
DE2543563C3 (de) Vorrichtung zur visuellen Prüfung der Anpassung von Objektiven an die Kamera, insbesondere für die Einstellung des Abstandes der Objektivanlageebene zur Filmebene unter Verwendung der Autokollimation
CH207219A (de) Entfernungsmesser der auf dem Prinzip der Einstandentfernungsmesser mit veränderlicher Basis und festem parallaktischem Winkel am Ziel beruht.
DE400844C (de) Entfernungsmesser mit Messlatte am Ziel
DE603075C (de) Entfernungsmesser fuer photographische Zwecke
DE538689C (de) Verfahren und Geraet zur Ermittlung des Entfernungsunterschiedes zweier Zielpunkte
DE730432C (de) Augenabstandsmesser
AT97845B (de) Doppelbildentfernungsmesser mit Latte am Ziel.
AT61875B (de) Unokularer Entfernungsmesser.
AT89693B (de) Entfernungsmesser mit Standlinie im Instrument.
DE612775C (de) Verfahren zur Bestimmung von Formveraenderungen
DE243893C (de)
DE704489C (de) Zusatzvorrichtung fuer stereoskopische Entfernungsmesser
DE111004C (de)
DE589045C (de) Messgeraet
DE212481C (de)
AT60140B (de) Enfernungsmesser mit einem Spiegelsystem, das die eintretenden Achsenstrahlen einander nähert.
DE1423555A1 (de) Optisches Geraet zum Messen kleiner Abstaende
DE747497C (de) Durchsichtssucher fuer photographische und kinematographische Apparate
DE612401C (de) Optische Vorrichtung zum Pruefen von Achsenrichtungen
DE205127C (de)