AT131780B - Lichtelektrische Zelle und Verfahren zur Herstellung derselben. - Google Patents
Lichtelektrische Zelle und Verfahren zur Herstellung derselben.Info
- Publication number
- AT131780B AT131780B AT131780DA AT131780B AT 131780 B AT131780 B AT 131780B AT 131780D A AT131780D A AT 131780DA AT 131780 B AT131780 B AT 131780B
- Authority
- AT
- Austria
- Prior art keywords
- layer
- aniline
- resistance
- semiconductor
- cell
- Prior art date
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 49
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 claims description 44
- 239000011669 selenium Substances 0.000 claims description 44
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 43
- PAYRUJLWNCNPSJ-UHFFFAOYSA-N Aniline Chemical compound NC1=CC=CC=C1 PAYRUJLWNCNPSJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 34
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 26
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 23
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 18
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 18
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 10
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 9
- 239000000654 additive Substances 0.000 claims description 8
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000010439 graphite Substances 0.000 claims description 8
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 claims description 7
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims description 7
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 claims description 7
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 6
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 6
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 6
- 239000000975 dye Substances 0.000 claims description 5
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 5
- 239000007921 spray Substances 0.000 claims description 5
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 4
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 claims description 3
- ZSLUVFAKFWKJRC-IGMARMGPSA-N 232Th Chemical compound [232Th] ZSLUVFAKFWKJRC-IGMARMGPSA-N 0.000 claims description 2
- 239000005995 Aluminium silicate Substances 0.000 claims description 2
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052776 Thorium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 235000012211 aluminium silicate Nutrition 0.000 claims description 2
- GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce] GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- NLYAJNPCOHFWQQ-UHFFFAOYSA-N kaolin Chemical compound O.O.O=[Al]O[Si](=O)O[Si](=O)O[Al]=O NLYAJNPCOHFWQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- -1 plates Substances 0.000 claims description 2
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011591 potassium Substances 0.000 claims description 2
- 239000000941 radioactive substance Substances 0.000 claims description 2
- 238000007788 roughening Methods 0.000 claims description 2
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims 1
- LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-L sulfite Chemical class [O-]S([O-])=O LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims 1
- 229910000634 wood's metal Inorganic materials 0.000 claims 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 10
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 4
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 150000003346 selenoethers Chemical class 0.000 description 3
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 2
- 239000002585 base Substances 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 2
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 2
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 2
- 125000003748 selenium group Chemical group *[Se]* 0.000 description 2
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 2
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 241000416162 Astragalus gummifer Species 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001615 Tragacanth Polymers 0.000 description 1
- ZQRRBZZVXPVWRB-UHFFFAOYSA-N [S].[Se] Chemical compound [S].[Se] ZQRRBZZVXPVWRB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 239000010425 asbestos Substances 0.000 description 1
- 239000012876 carrier material Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000012459 cleaning agent Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000002482 conductive additive Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000010410 dusting Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000007731 hot pressing Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010297 mechanical methods and process Methods 0.000 description 1
- 230000005226 mechanical processes and functions Effects 0.000 description 1
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052752 metalloid Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002738 metalloids Chemical class 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 1
- VKJKEPKFPUWCAS-UHFFFAOYSA-M potassium chlorate Chemical compound [K+].[O-]Cl(=O)=O VKJKEPKFPUWCAS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000003578 releasing effect Effects 0.000 description 1
- 229910052895 riebeckite Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003342 selenium Chemical class 0.000 description 1
- 238000007873 sieving Methods 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- 229940116362 tragacanth Drugs 0.000 description 1
- 235000010487 tragacanth Nutrition 0.000 description 1
- 239000000196 tragacanth Substances 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
- XOSXWYQMOYSSKB-LDKJGXKFSA-L water blue Chemical compound CC1=CC(/C(\C(C=C2)=CC=C2NC(C=C2)=CC=C2S([O-])(=O)=O)=C(\C=C2)/C=C/C\2=N\C(C=C2)=CC=C2S([O-])(=O)=O)=CC(S(O)(=O)=O)=C1N.[Na+].[Na+] XOSXWYQMOYSSKB-LDKJGXKFSA-L 0.000 description 1
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Description
<Desc/Clms Page number 1> Liehtelektrische Zelle und Verfahren zur Herstellung derselben. Die Erfindung bezieht sich auf eine hchtelektrische Zelle, deren lichtempfindliche Substanz aus Selen oder den andern bekannten lichtempfindlichen Stoffen der 6. Gruppe des Systems der Elemente besteht. Die Erfindung bezweckt, den technischen Wirkungsgrad dieser Zellen zu erhöhen, und gibt hiefür eine Regel an, nach welcher es zugleich möglich ist, die Fähigkeit einer solchen Zelle, selbst ohne Hilfsstromquelle einen merklichen Strom zu erzeugen, derart zu steigern, dass dieser Strom für technische Zwecke brauchbar und dabei in proportionaler Abhängigkeit von der Stärke der Belichtung der Zelle ist, so dass man also in der Zelle gleichzeitig ein gutes Photoelement erhält. Insbesondere bezieht sich die erfindungsgemässe Verbesserung auf solche Zellen, denen ein schichtenmässiger Aufbau zugrunde liegt. Auf einer Trägelplatte aus Metall oder einem andern elektrisch leitenden Stoff ist in bekannter Weise eine Selenschicht aufgebracht, die nach dem heutigen Stand der Kenntnis eine kristallinische Struktur besitzen muss, um lichtempfindlich zu sein. (Unter Selen soll hier und im folgenden im allgemeinen die oben bezeichnete Klasse lichtempfindlicher Stoffe verstanden sein, die insofern als Selenklasse bezeichnet werden kann.) Auf der Selenschicht ist wiederum eine Schicht aus elektrisch leitendem Stoff aufgebracht. welche so dünn ist, dass das Licht auf die lichtempfindliche Substanz wirken kann. Es ist. bereits bekannt, diese Deckschicht auf das Selen durch Aufpressen in kaltem oder heissem Zustand aufzubringen. Beide Methoden sind jedoch nachteilig, da beim kalten Aufpressen die Deckschicht nur die Spitzen der einzelnen Selenkristalle berührt, so dass die Verbindung sehr unvollkommen ist, während beim heissen Aufpressen die ganze Selenschicht so stark erhitzt EMI1.1 des kristallinischen Selens nicht aufweisen. Gemäss der Erfindung wird nun der Wirkungsgrad der lichtelektrischen Zelle mit schichtenmässigem Aufbau dadurch erheblich verbessert, dass die Selenschicht von dem Aufbringen der Deckschicht sensibilisiert und die Deckschicht dann ohne Anwendung wesentlicher Erwärmung durch Aufreiben, Aufspritzen oder auf galvanischem Wege aufgebracht wird. Es hat sich nämlich gezeigt, dass die kristallinische Oberflächenstruktur der lichtempfindlichen Substanz, auf der die EMI1.2 dem Grade zu Hilfe genommen wird, dass die genannte Schädigung der lichtempfindlichen Substanz vermieden wird. Man kann diese letzteren Verfahren in diesem Sinne ebenfalls als EMI1.3 durchlässiger Platinspiegel heiss auf das Selen aufgepresst wird. das dabei durch Schmelzen seine Lichtempfindlichkeit ganz oder grösstenteils verliert. (Soweit bei diesem Verfahren die Kristallisation erst nach dem Einschmelzen des Selens zwischen zwei Platinspiegeln versucht wurde, <Desc/Clms Page number 2> EMI2.1 ganzen Fläche umfassende Verbindung der aneinandergrenzenden Stoffe hergestellt werden. Wenn für diese innige und breite Verbindung an der Grenzfläche gesorgt wird. ist der Schichtmässige Aufbau der Zelle, der bisher nur durch Aufeinanderliegen von Schichten verursacht wurde und infolge der hiebei unvermeidlichen, mit Luft erfüllten Zwischenräume auch bei An- EMI2.2 brauchbar, weil die Zelle jetzt zugleich eine für die teelinische Anwendung jeder Art geeignete Form erhält. Die innige breite Verbindung der Schichten wird z. B. dadurch erzielt, dass man clip Deckschicht aus Blattmetall herstellt. das durch Aufpressen innig mit der Selenschicht ver- EMI2.3 Schoop'schen Spritzverfahren aufbringen. Die Deckschicht kann auch durch elektrolytische Bäder oder durch das sogenannte Kontakt-oder Anreibeverfahren hergestellt werden, IwÍ welchem Lösungen von Metallsalzen in Aufschwemmung von mechanisch und chemisch reinigenden Mitteln verwendet werden. Es kann auch eine Kombination des mechanischell. chemischen und elektrolytischen Verfahrens zur Herstellung der Deckschicht benutzt werden. Beispielsweise hat sieh geeignet erwiesen, zunächst durch ein mechanisches Verfahren Blei auf die Selenschicht aufzubringen und hienach auf elektrolytischem Wege einen Kupferüberzug auf dem Blei zu erzeugen. Für die Wirksamkeit der Zelle ist es förderlich. wenn die Verbindung zwischen der Selenschicht und der Deckschicht einerseits und der Selenschicht und der Trägerplatte anderseits möglichst abweichend voneinander sind. Wird also gemäss der Erfindung die Selenid- bildung an der Deckschicht möglichst vermieden. so muss an der Trägerplatte die Selenid- EMI2.4 Selenidbildung an dieser Stelle begünstigt werden. Dies kann man auch dadurch erzielen, dass man als Trägermaterial ein Metall, beispielsweise Zinn. wählt, das sich bei niedriger Temperatur von zirka 1500 mit dem Selen legiert. Bei Zellen, die ohne Hilfsstromquelle einen technischen Strom liefern sollen, ist e- EMI2.5 Deckschicht keinen zu hohen Widerstand hat. Es ist daher in diesem Fall für die Deckschicht möglichst ein Material zu wählen, das im Verhältnis zum Selen einen höheren Leitwert besitz). EMI2.6 Handel üblichen Selens bei Temperaturen zwischen 180 und 220 erzeugt. wobei es einig, geeignete Kristallisationsstufe annimmt. Die notwendige Höhe der Temperatur und die Dauer der Erhitzung richtet sich nach der Herkunft und etwaigen Beimengung des Selens und ist leicht durch Versuche zu ermitteln. Die Schichtdicke des Selens kann vom Bruchteil eines Millimeters bis zu mehreren Millimetern betragen. Das Selen kann durch Beigabe von Metallen. deren Salzen, Graphit und anderem vermischt werden, um einen höheren Leitwert und damit eine Zelle geringeren Widerstandes. die für manche Zwecke erwünscht ist, zu erzeugen. Die in der beschriebenen Weise ausgebildete Zelle kann bei der auf die Deckschicht auffallenden Strahlung. die beispielsweise von einer durch Wechselstrom gespeisten Glühlampe geliefert wird. unter direkter Anschaltung eines hochohmigen Kopftelephons direkt zur Frequenzkontrolle des Netzstromes verwendet werden. Für viele Fälle empfiehlt es sieh erfindungsgemäfi. den von der Zelle erzeugten Strom dem Gitter einer Verstärkerröhre zuzuführen und den durch diese oder durch mehrere weitere Röhren verstärkten Strom zwecks Betätigung grösserer Energie bedürfender Instrumente und Einrichtungen zu verwenden. EMI2.7 über einen der letzteren und dem Stromverbraucher angepassten Transformator, z. B. mit d''r Rölire, verbunden. Dies empfiehlt sich besonders, wenn zur Vermeidung gegenseitiger Beein- flussnng die Zelle in grösserer Entfernung von der Verstärkereinrichtung oder einem andern EMI2.8 <Desc/Clms Page number 3> erfindungsgemäss durch die andern bekannten \. nkopplungsarten, 7.. B. durch die kapazitive, durch die Widerstandskopplung oder eine Vereinigung beider Kopplungsarten, erfolgen. Welche von diesen Kopplungsarten anzuwenden ist, ist von Fall zu Fall nach den jeweiligen Umständen zu beurteilen. Man kann an die Röhre eine Gittervorspannung anlegen, um durch deren Einstellung sowohl die Röhre als auch die Zelle auf einen günstigen Arbeitspunkt einzuregulieren. Die hiefür erforderlichen Spannungen richten sich im wesentlichen nach den verwendeten Röhren, die Gittervorspannung wird also etwa zwischen l und 20 Volt liegen. Um die Arbeit des Einregulierens der eben erwähnten Gittervorspannung zu erleichtern, wird erfindungsgemäss endlich eine getrennte Spannung an die Zelle und eine besondere Gittervorspannung an der Röhre verwendet. Hiebei wird erfindungsgemäss der Negativpol der Spannungsquelle an den Träger der Selenschicht und der Positivpol an die vom Licht getroffene Schicht unter Zwischenschaltung etwa erforderlicher Widerstände gelegt. Die Zellen sind zweckmässig, zwecks weiterer Steigerung des Wirkungsgrades, so ausgebildet, dass ihr ohmscher Widerstand in Richtung senkrecht zu ihrer Fläche weniger als 1000 Ohm pro Flächeneinheit beträgt. Dabei ist es wesentlich, dass die lichtempfindliche Schicht. die z. B. aus einem Metalloid, wie Selen, besteht und auch mit Metallen (z. B. Alkalimetallen) in geringerer Menge vermischt sein kann, in sehr dünner Stärke aufgebracht wird. u. zw. höchstens etwa 0'1 111m dick. Die untere Grenze ist durch die Durchschlagsfestigkeit des gewählten Stosses bedingt. Für Selen ist z. B eine kleinste Schichtdicke von 0#02 ! mw anwendbar. Die Leistung einer solchen Zelle ist ausserordentlich hoch, obgleich sie nur eine Hilfsspannung von etwa 0-4 Volt benotigt. Die Deckschicht wird aus lichtdurchlässigen oder porösen leitenden Stoffen hergestellt, um, wie erwähnt, eine gute Lichtdurehlässigkeit der Deckschicht herbeizuführen. Auf Grund der Erkenntnis. dass bei der Aufbringung der lichtempfindlichen Schicht, insbesondere bei der meist erforderlichen Formierung. d. h. z. B. beim Selen der Umwandlung EMI3.1 wird erfindungsgemäss der lichtempfindliche Stoff, z. B. das Selen, bei der Erzeugung der Schicht gepresst, um ein völlig dichtes Gefüge der Schicht und einen geringen elektrischen Widerstand zu erzielen. Das Pressen erfolgt bei Verwendung pulverförmigen Materials bereits im kalten Zustand. auf jeden Fall aber bei der späteren Erwärmung und Formierung. Dieses Pressen braucht nicht ununterbrochen zu erfolgen, sondern es genügt bzw. ist zweckmässig, das Pressen absatzweise vorzunehmen, damit in den Zwischenzeiten den Gasen Gelegenheit znm Entweichen gegeben wird. Zwischen Pressstempel und Schicht wird zweckmässig eine gasdurchlässige Zwischenlage. etwa von an sich festem dünnem Asbest. angeordnet. An Stelle der bekannten Aufbringungsart des lichtempfindlichen Stosses, beim Selen z. B. durch Aufstreichen des sogenannten Stengelselens auf die auf 200-250 erhitzte Trägerplatte, wird erfindungsgemäss so verfahren, dass das Selen in fein verteiltem Zustand in dünner Schicht durch Aufstäuben oder Sieben in mogliehst gleichmässiger Dicke und Dichte auf die Grundplatte aufgebracht wird. Dies ist besonders für die Herstellung grosser Flächen wichtig. Diese Schicht wird im kalten oder schwach erwärmten Zustand gepresst und hierauf die so vorbereitete Platte den für die Formierung erforderlichen Temperaturen (bei Selen etwa 00 ) ausgesetzt, wobei die Pressung mehrmals wiederholt wird. Die Anwendung einer sehr dünnen Schicht hat für die Herstellung der Zelle den besonderen Vorteil, dass die Formierung anstatt vieler Stunden meist nur wenige Minuten erfordert. Das Aufstäubungsverfahren hat vor der bisher gebräuchlichen Aufbringung der Schicht in flüssigem Zustand des betreffenden Stoffes den Vorteil, dass die Luft bereits im ersten Augenblick der Erhitzung durch die Zwischenräume des pulverförmigen Materials entweichen EMI3.2 Oxydation, welche bei diesem Verfahren eintritt, günstig auf die Leistung der Zelle einzuwirken. Der elektrische Widerstand der Zelle kann weiter dadurch vermindert werden, dass man dem Selen oder einem anderen als Hauptbestandteil gewählten Stoff gut leitende Stoffe in EMI3.3 hiebei beobachtete Steigerung der Lichtempfindlichkeit auf die Elektronen auslösende Wirkung des Kaliums bzw. Natriums zurückzuführen. An Stelle von oder neben den Metallen usw. können auch oxydierende Stoffe, wie z. B. chlorsaures Kali, in geringen Mengen zugesetzt oder eine Behandlung der Schicht mit Sauerstoff angewendet werden. Auch Zusätze von radioaktiven Stoffen wirken ähnlich. Auf der leichten Elektronenabgabe scheint auch die Eigenart solcher Zellen zu beruhen, dass sie auch ohne Erregerspannung bei Belichtung Strom abgeben. Mit dem beschriebenen Verfahren ist es möglich, den Widerstand der Zelle auf etwa 1000 Ohm EMI3.4 <Desc/Clms Page number 4> Bei Aufbringung der Deckschicht unter Druck oder bei der Formierung der lichtempfindlichen Schicht ist das Anlegen einer Hilfsspannung vorteilhaft. Die bei höheren Stromstärken hiebei entstehende Erwärmung kann zur Unterstützung der Formierung der lichtempfindlichen Schicht benutzt werden, unter Umständen kann auf eine besondere Wärmequelle verzichtet werden. Zum Zweck der Sicherung einer guten Lichteinwirkung wird die Dicke der Deckschicht EMI4.1 sie wesentlich geschlossen ist, wie z. B. ein chemisch erzeugter Silberniederschlag. Verwendet man eine Deckschicht. die zum Zwecke der Lichtdurehlässigkeit porös ist. wie sie z. B. durch Aufstäuben fein pulverisierten Woodmetalls mit nachfolgender Pressung bei zirka 1000 entsteht, so kann die Dicke der Deckschicht 0'1 mm oder auch mehr betragen. Bei der Wahl der Stoffe für die Deckschicht einerseits und die lichtempfindliche Schicht anderseits scheint die Beachtung der Spannungsreihe vorteilhaft zu sein. Es hat sich z. D. auf einem Träger aus Eisen als lichtempfindliche Schicht Selen mit geringen metallischen Beimengungen, z. B. von Alkalimetall, und darüber eine dünne Deckschicht aus Graphit bewährt. Bei der Prüfung der fertigen Zelle kommt es infolge der geringen Dicke der Selenschicht gelegentlich vor. dass sich metallische leitende Verbindungen (Strombrücken) zwischen Deckschicht EMI4.2 Durch den dabei fliessenden starken Strom wird die Brücke zerstört und die Zelle betriebsfähig. Nach dem vorstehend beschriebenen Verfahren lassen sich Zellen von beliebiger Aus- EMI4.3 zusamrnenzuschalten. Der vom Licht getroffenen Schicht, insbesondere der über dem eigentlichen licltempfind- lichen Material befindlichen dünnen, aus elektrisch leitendem Stoff bestehenden Deckschicht wird vorteilhaft Anilin oder ein anilinhaltiger Stoff zugesetzt. Beispielsweise kann man einen der käuflichen Anilinfarbstoffe benutzen und in die Oberfläche der Deckschicht einreiben oder einpressen, auch z. B. aufspritzen. Durch diesen Anilinzusatz erhält die Zelle die Fähigkeit, schon auf sehr geringe Lichtreize anzusprechen, ferner wird die relative Grösse der Wirkung für jeden Reizgrad erhöht. EinZelle, die unter dem Einfluss der Belichtung ohne Zuhilfenahme einer Stromquelle Strom liefert, wird durch den Anilinzusatz zu einer relativ grossen Stromerzeugung veranlasst. Das Anilin kann vor dem Zusetzen zweckmässig mit einem Metall-oder Graphitpulver oder einem ähnlichen leitenden Stoff gemischt werden. In diesem Sinne sind z. B. die Schreibminen der handelsüblichen Kopierbleistifte benutzbar. die mit dem Anilinblau gefärbt sind. EMI4.4 fertigen Zelle als vorteilhaft erwiesen, sofern dabei der Schmelzpunkt der lichtempfindlichen Schicht nicht überschritten wird. Die Wirkung des Anilinzusatzes selbst kann dadurch verstärkt werden, dass auf (kr anilinhaltigen Deckschicht eine weitere dicht anliegende, z. B. aufgepresste, dünne Metallschicht EMI4.5 Eine weitere Verbesserung des Erfindungsgegenstandes besteht darin, dass die elektrisch'- Ungleichmässigkeit der den Träger der Strahlungsempfindlichkeit bildenden Grenzfläche oder Grenzschicht durch ein die inneren Widerstände der Flächenteile ausgleichendes Verfahren beseitigt wird. Die Zellen bestehen nämlich aus einer dünnen Halbleiterschicht, einer dieselbe EMI4.6 schicht, die ebenfalls besser leitet als die Halhleiterse. hicht. jedoch zwecks Durchlassung der Strahlung in der Regel dünner ist als die Trägerschicht oder Öffnungen aufweist. Der Sitz der durch die Belichtung ausgelösten elektrischen Wirkung ist, wie erwähnt. nach allem Anschein die molekulardünne Grenzschicht. die zwischen dem Halbleiter und der Deckschicht liegt. Wegen der sehr geringen Dicke dieser Grenzschicht soll dieselbe im folgenden als.. Grenzfläche'- bezeichnet werden. Fasst man nun beliebig viele und beliebig ; leine Teilt dieser Grenzfläche als molekulare Spannungsquellen auf, so folgt aus dem geschilderten Aufbau der Zelle, dass diese molekularen Spannungsquellen sämtlich parallel zueinander zwischen Deck- und Trägerschicht geschaltet sind, wobei die Halbleiterschicht als vorgeschalteter ohmscher Widerstand wirkt. Die Nachteile, welche sich bei Parallelschaltung ungl. eieher Primärelementz mit verschiedenen inneren Widerständen und etwa auch verschiedenen E. M. K. ergeben und durch inneren Schlussa jede Stromlieferung in Frage stellen können, sind bekannt. Da dj.. E. M. K.-Werte der : i\1olekularelemente der Elektrozellen sehr klein sind. so werden naturgemäss besonders hohe Forderungen an die Gleichmässigkeit der elektrischen Eigenschaften dieser l\101ekularelemente gestellt. <Desc/Clms Page number 5> Die elektrische Ungleichförmigkeit kann somit als eine Verschiedenheit der E. M. K. der einzelnen Molekularelemente oder ihrer inneren Widerstände aufgefasst werden. Diese Ungleichheit der Molekularelemente, die bei der Herstellung der Zelle entsteht, wird erfindungsgemäss durch ein die inneren Widerstände dieser Molekularelemente ausgleichendes Verfahren beseitigt. Bei diesem Verfahren, dessen Wirksamkeit auf der Vorsehaltung von Widerstand vor die Gesamtheit der Molekularelemente beruht, wird lediglich der innere Widerstand der Zelle erhöht, während die Empfindlichkeit, d. h. die in Abhängigkeit von der Belichtung erzeugt EMI5.1 es auf besonders geringen Widerstand betriebsmässig nicht ankommt. Den Widerstandsausgleich kann man beispielsweise dadurch herstellen, dass man dem Halbleiter Zusätze aus schlecht leitendem Stoff gibt. Benutzt man z. B. Selen als Halbleiter. so wird in kleinen Mengen (bis etwa 5 %) Schwefel oder Tonerde oder die seltenen Erden. wie Cer. Thorium, zugefügt. Ganz allgemein kann man alle solche schlecht leitenden und mit Selen mischungsfähigen Stoffe wählen, die jedenfalls zufolge ihrer Art oder zufolge ihrer geringen EMI5.2 Ein anderes Verfahren zur Widerstandsausgleichung besteht darin, dass man, im Falle des Selens, die Formierung, also die Umwandlung der nichtleitenden Selenform in die kristalline gut leitende Form, durch Anwendung verringerter Temperatur nicht vollständig sich ausbilden lässt oder vorzeitig abbricht. Dabei erhält das Selen nicht die bekannte blanke metallisch glänzende. sondern eine sammetartig mattgraue Oberfläche. Dies wird insbesondere dann leicht erzielt, wenn dem Selen Schwefel beigegeben wurde. Ein drittes Verfahren besteht darin, dass man den Widerstand der Deckschicht erhöht. indem man dem für die Stromableitung erforderlichen Metall schlecht leitende Zusätze (z. B. Kaolin oder Graphit) gibt oder Metallegierungen von geringer Leitfähigkeit benutzt. Soweit die pulverförmig gemischten Stoffe nicht binden, setzt man denselben ein Öl oder einen Klebstoff. z. B. Tragant, zu. Schliesslich kann man auch eine besondere Widerstandsschicht, zwischenfügen. am einfachsten unter der Deckschicht. Beispielsweise ist eine Graphitschicht brauchbar. die man am einfachsten aus der Mine von Bleistiften, am besten Kopierstiften, gewinnt. EMI5.3 fein zerstäubtem Zustand auf die Halbleiterschicht niedergeschlagen. Ein dampfförmiger Zustand wird beispielsweise in der Weise angewendet. dass man den Halbleiter (z. B. Selen) im Ofen verdampft und auf der in den Ofen gebraehten Trägerplatte niederschlagen lässt. Hiedurch erzielt man eine mit der Trägerplatte verbundene Halbleiterschicht (Selenschicht) von grosser Gleichmässigkeit. Die Oberfläche der Trägerplatte kann zweckmässig durch Aufrauhen. Anätzen u. dgl. gut haftfähig gestaltet werden. Die Gleichmässigkeit der EMI5.4 in den Ofen erhitzt, jedoch nicht bis auf die Temperatur des Halbleiterdampfes. Diese Träger- platte kann auch bereits mit einer Grundschicht des Halbleiters bedeckt sein. Gleichzeitig mit dem Halbleiter oder in Mischung mit ihm kÖnnen Zusätze. die für die Strahlungsempfindlichkeit und andere Eigenschaften der Zellen günstig sind. wie Schwefel (einige Prozent). Kalinni. Natrium, Anilin oder Anilinfarbe verdampft und in Mischung mit dem Halbleiter nieder- EMI5.5 Dampfform niederzuschlagen und danach im gesonderten Verfahren den oder die Zusätze als Niederschlag aufzubringen. Auf der durch Dampfniederschlag entstandenen Halbleiterschicht wird die Deckschicht aufgebracht, wozu man vorteilhaft ein gleiches Verfahren benutzt. In diesem Fall muss der Schmelzpunkt des Stoffes, aus dem die molekulardünne Deckschicht bestehen soll. niedriger als der Schmelzpunkt des Halbleiters liegen. damit letzterer nicht schmilzt. Hiefür kommen die leicht verdampfbaren Metalle in Betracht. Ein anderes Verfahren besteht darin, dass man den Halbleiterstoff in Kebelform bring) und auf die Trägerplatte aufspritzt, ähnlich wie dies beim Schoop'sehen Metallzerstäubung." verfahren stattfindet. Die unmittelbare Berührung mit einer Flamme, die im allgemeinen zu heiss ist. muss jedoch vermieden werden, weil der Halbleiter sonst verbrennt, anstatt zu schmelzen. Der Halbleiterstoff wird daher in einer Spritzpistole durch indirekte Heizung verflüssigt (für Selen sind 200-3000 erforderlich :) und dann im Luftstrom oder einem Gasstrom. z. B. Sauerstoff. <Desc/Clms Page number 6> zerstäubt. Auf ähnliche Weise kann man durch Anwendung von schwefelhaltigem Gas eine Schwefel-Selen-Mischung herstellen usw. Wünscht man derartige Mischungen nur auf der Ober- fläche (Grenzschicht), so benutzt man gegebenenfalls indifferentes Gas zur Zerstäubung und behandelt die fertige Halbleiterschicht bei entsprechender Temperatur nachträglich mit Sauerstoffgas usw. Für diese Zwecke ist es auch möglich, die Zerstäubung in einem Raum aus- zufuhren, der mit dem Sauerstoff usw. bzw. mit dem indifferenten Gas angefüllt ist. Die Zerstäubung wird erleichtert, wenn man dem flüssigen Halbleiter Schwefel beimischt. Die Zerstäubungsluft wird zweckmässig vorgewärmt. Die Gleichmässigkeit des Niederschlages EMI6.1 der Nebel niedergeschlagen werden soll. regelmässig bewegt. Dies eignet sich insbesondere für grössere Flächen. Durch das erfindungsgemässe Verfahren wird nicht nur eine grosse Gleichmässigkeit der Halbleiterschicht bzw. Grenzschicht erzeugt, sondern auch eine innige Verbindung zwischen dieser und den beiden anschliessenden Schichten erzielt, was im Gegensatz zu der bisher üblichen blossen Berührung der Schichten für den Wirkungsgrad der Zelle vorteilhaft ist. Um diese innige Verbindung möglichst zu begünstigen, wird bei der Zerstäubung vorteilhaft ein höherer Druck, etwa 4-6 Atm.. angewendet. Hiedurch wird zugleich eine gewisse Feinkörnigkeit der Schicht und eine besonders dichte Lagerung des Materials ähnlich wie bei der Dampfniederschlagung erzielt. Auch das Zerstäubungsverfahren lässt sich für die Aufbringung der Deckschicht benutzen. indem man z. B. eine kolloidale Graphitlösung zerstäubt und aufspritzt. Das erfindungsgemässe Verfahren erlaubt in beiden Ausführungsarten die Behandlung einer beliebig grossen Fläche, ohne dass die erforderlichen Einrichtungen schwierig werden. PATENT-ANSPRÜCHE : 1. Verfahren zur Herstellung von lichtelektrischen Zellen, bei welchen eine Schicht aus einem Element der 6. Gruppe des periodischen Systems bzw. deren Verbindung, insbesondere Selen, zwischen einer elektrisch leitenden Grundplatte und einer elektrisch leitenden lichtdurchlässigen Deckschicht vorgesehen ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Selenschicht vor dem Aufbringen der Deckschicht sensibilisiert und die Deckschicht dann ohne Anwendung wesentlicher Erwärmung durch Aufbringen der Deckschicht in feiner Verteilung. z. B. durch Aufreiben. Aufspritzen bzw. durch Niederschlagen aus Lösung oder auf galvanischem Wege. aufgebracht wird.
Claims (1)
- 2. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine derartige Bemessung der EMI6.2 Deckschicht zur Tragplatte.3. Verfahren nach Anspruch l, dadurch gekennzeichnet, dass eine Selenschicht von sehr EMI6.3 Zelle in Richtung senkrecht zu ihrer Fläche weniger als 1000 Ohm für die Flächenein- heit (cm besitzt.4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass für die Deckschicht eine EMI6.4 5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der lichtempfindlichen Schicht oder der Deckschicht oder beiden geringe Mengen radioaktiver Stoffe zugesetzt werden.6. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Deckschicht Anilinfarbstoffe oder ein anilinfarbstoffhaltiger Stoff zugesetzt wird.7. Verfahren nach Anspruch 1. dadurch gekennzeichnet, dass ausser der anilinfarbstofF haltigen Deckschicht eine weitere dicht anliegende Schicht aus dünnem Metall (z. B. Platten. gold) vorgesehen wird.8. Verfahren nach Anspruch l, dadurch gekennzeichnet, dass die Oberfläche der Grundplatte in an sieh bekannter Weise durch Ausglühen, Aufrauhen usw. gering vergrössert wird.9. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die lichtempfindliche Schicht EMI6.5 10. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass bei Verwendung von pulverförmigem zerstäubbarem Material für die lichtempfindliche Schicht dieses bereits im kalten Zustand gepresst wird.11. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass während der Formierung und Pressung die sich bildenden Gase durch Absaugen oder Benutzung einer gasdurchlässigen Zwischenlage entfernt werden. EMI6.6 <Desc/Clms Page number 7> EMI7.1 der Deckschicht oder der Formierung der lichtempfindlichen Schicht eine Hifsspannung an die Deckschicht und die Trägerplatte angelegt wird.14. Verfahren nach Anspruch 1. dadurch gekennzeichnet, dass an die fertiggepresst Zelle zwecks Beseitigung eines etwaigen Schichtenkurzschlusses eine über der Betriebsspannung liegende Hilfsspannung kurzzeitig angelegt wird.15. Verfahren nach Anspruch 1. dadurch gekennzeichnet, dass bei dem Zusatz von Anilin oder anilinhaitigen Stoffen zur Deckschicht diese Stoffe vor dem Zusetzen mit Metalloder Graphitpulver vermischt werden.16. Verfahren nach Anspruch 1. dadurch gekennzeichnet, dass als Anilinzusatz di- Schreibminen der handelsüblichen Kopierstifte benutzt werden.17. Verfahren nach Anspruc 1, dadurch gekennzeichnet, dass die mit der anilinhal1ifwn Deckschicht versehene Zelle zwecks weiterer Steigerung der Empfindlichkeit und der Leistung EMI7.2 gangswiderstand verschiedener Zellteile von der Deckschicht zur Trägerplatte durch Anbringung zusätzlicher Widerstände an Stellen geringeren Durchgangswiderstandes ausgeglichen werden.19. Verfahren nach Anspruch 1. dadurch gekennzeichnet, dass der Widerstaudsausgleich durch Erhöhung des Gesamtwiderstandes des Schichtensystems der Zelle bewirkt wird.20. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Widerstandsausgleich durch schlechtleitende Zusätze (z. B. Schwefel. Tonerde. seltene Erden. wie Cer. Thorium) zur Halbleiterschicht bewirkt wird.21. Verfahren nach Anspruch J, dadurch gekennzeichnet. dass der Widerstandsausgleich durch unvollständige Formierung des Halbleiters bewirkt wird.22. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet. dass zwecks Widerstandsausgleich der strahlungsdurchlässigen Deckschicht durch Wahl der Metalle oder schleehtleitenden Zusätze (z. B. Graphit. Kaolin, Sulfite, Selenite) ein höherer Widerstand gegeben wird.23. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zwecks Widerstandsausgleich eine besondere Widerstandsschicht, beispielsweise aus Grapliit. angeordnet wird.24. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine zusammenhängende lichtdurchlässige (obere) Deckschicht durch Niederschlagung aus dampfförmigem oder dampf- ähnlichem (nebelförmigem) Zustand hergestellt wird.25. Verfahren nach Anspruch 1. dadurch gekennzeichnet, dass das Material der Deckschicht (z. B. Blei) im Ofen verdampft und auf die mit dem Halbleiter bedeckte Trägerplatte niedergeschlagen wird. EMI7.3 mechanisches Zerstäuben und Aufspritzen, z. B. in der Art des Schoolp'schen Metallspritzverfahrens, aufgebracht wird, u. zw. in der Weise, dass die Spritzvorriehtung indirekt bis zur Schmelztemperatur des Halbleiters beheizt wird. EMI7.4Anilin, Kalium u. dgl. zum Halbleiter gleichzeitig mit diesem oder im gesonderten Arbeitsgang aufgebracht werden.28. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die aus Woodmetall oder kolloidalem Graphit rein oder mit Metallpulver gemischt bestehende Deckschicht durch Auf- spritzen hergestellt wird.29. Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 26, dadurch gekennzeichnet, dass die Spritzpistole mit einem Überdruck des Pressgases von mehr als 4 Atm. betrieben wird.30. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Spritzvorrichtung ein vorgewärmter Zerstäubungsstrom zugeführt wird.31. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichent, dass dem Halbleiter in der Zerstäubungsdüse Sauerstoff oder ein sauerstoff- oder Schwefelhaltiges Gas beigemischt wird oder das Aufspritzen in einer solchen Atmosphäre geschieht. EMI7.5
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE157167X | 1930-08-07 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
AT131780B true AT131780B (de) | 1933-02-10 |
Family
ID=5678405
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
AT131780D AT131780B (de) | 1930-08-07 | 1931-08-05 | Lichtelektrische Zelle und Verfahren zur Herstellung derselben. |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
AT (1) | AT131780B (de) |
CH (1) | CH157167A (de) |
DK (1) | DK47522C (de) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE930040C (de) * | 1936-06-13 | 1955-07-07 | Aeg | Selentrockenplattengleichrichter mit einer zwischen dem Halbleiter und der Gegenelektrode auf dem Selen aufgebrachten Isolierschicht |
DE955623C (de) * | 1952-12-25 | 1957-01-03 | Standard Elektrik Ag | Verfahren zur Herstellung eines sperrschichtfreien Kontaktes zwischen Grundplatte undHalbleiter bei Trockengleichrichtern |
DE961733C (de) * | 1939-01-17 | 1957-04-11 | Aeg | Verfahren zum Herstellen elektrisch unsymmetrisch leitender Elemente mit einem Halbleiter wie Selen |
DE970900C (de) * | 1944-05-24 | 1958-11-13 | Standard Elek K Lorenz Ag | Verfahren zur Herstellung unipolarer Leiter mit Selen oder Selenverbindungen als Halbleiter |
DE971742C (de) * | 1943-07-08 | 1959-03-19 | Aeg | Verfahren zur Herstellung von unsymmetrisch leitenden Systemen zur Verwendung als spannungsabhaengige Kondensatoren |
DE973445C (de) * | 1941-07-12 | 1960-02-18 | Int Standard Electric Corp | Verfahren zur Herstellung von mit Selen bedeckten Platten aus Metall fuer Gleichrichter, Fotoelemente u. dgl. |
DE974580C (de) * | 1952-06-19 | 1961-02-16 | Siemens Ag | Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichterplatten |
DE1188833B (de) * | 1952-04-12 | 1965-03-11 | Immanuel Broser Dr Ing | Verfahren zur Messung geringer Strahlenintensitaeten, insbesondere von Roentgen- und Gammastrahlen |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE941631C (de) * | 1935-03-12 | 1956-04-12 | Aeg | Selen-Sperrschicht-Photozelle |
DE754795C (de) * | 1936-10-19 | 1952-10-13 | Siemens Schuckertwerke A G | Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern |
DE966967C (de) * | 1939-03-02 | 1957-09-19 | Aeg | Elektrisch unsymmetrisch leitendes System, insbesondere Trockengleichrichter |
DE742762C (de) * | 1939-03-15 | 1943-12-10 | Philips Patentverwaltung | Verfahren zur Herstellung eines Sperrschichtelektrodensystems mit einer Selenelektrode |
DE760089C (de) * | 1940-04-24 | 1954-08-16 | Siemens Schuckertwerke A G | Verfahren zur Verbesserung der Sperrwirkung von Selengleichrichtern |
NL153851B (nl) * | 1949-05-30 | Lonza Ag | Werkwijze voor de bereiding van methacrylzuur uit alfa-hydroxyisoboterzuur. | |
DE973098C (de) * | 1950-04-06 | 1959-12-03 | Siemens Ag | Verfahren zur Herstellung hochsperrender Kristallgleichrichter nach dem Prinzip des Vielfachspitzenkontaktes |
NL169311B (nl) * | 1951-05-05 | Ici Ltd | Werkwijze voor het bereiden van een hydroxylgroep bevattend, op de 4'-plaats gesubstitueerd fenylsulfonyl-4-halogeenbenzeen en werkwijze voor het bereiden van etherbindingen houdende polymeren die 4'-fenylsulfonyl-4-fenyleenheden bevatten. | |
DE955076C (de) * | 1952-06-28 | 1956-12-27 | Standard Elektrik Ag | Verfahren zur Herstellung von Trockengleichrichtern, insbesondere Selengleichtern,mit kuenstlichen Sperrschichten aus Isolierstoff |
DE976249C (de) * | 1952-08-18 | 1963-06-12 | Licentia Gmbh | Verfahren zum Aufkleben einer Abnahmeelektrode |
-
1931
- 1931-08-05 AT AT131780D patent/AT131780B/de active
- 1931-08-06 DK DK47522D patent/DK47522C/da active
- 1931-08-06 CH CH157167D patent/CH157167A/de unknown
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE930040C (de) * | 1936-06-13 | 1955-07-07 | Aeg | Selentrockenplattengleichrichter mit einer zwischen dem Halbleiter und der Gegenelektrode auf dem Selen aufgebrachten Isolierschicht |
DE961733C (de) * | 1939-01-17 | 1957-04-11 | Aeg | Verfahren zum Herstellen elektrisch unsymmetrisch leitender Elemente mit einem Halbleiter wie Selen |
DE973445C (de) * | 1941-07-12 | 1960-02-18 | Int Standard Electric Corp | Verfahren zur Herstellung von mit Selen bedeckten Platten aus Metall fuer Gleichrichter, Fotoelemente u. dgl. |
DE971742C (de) * | 1943-07-08 | 1959-03-19 | Aeg | Verfahren zur Herstellung von unsymmetrisch leitenden Systemen zur Verwendung als spannungsabhaengige Kondensatoren |
DE970900C (de) * | 1944-05-24 | 1958-11-13 | Standard Elek K Lorenz Ag | Verfahren zur Herstellung unipolarer Leiter mit Selen oder Selenverbindungen als Halbleiter |
DE1188833B (de) * | 1952-04-12 | 1965-03-11 | Immanuel Broser Dr Ing | Verfahren zur Messung geringer Strahlenintensitaeten, insbesondere von Roentgen- und Gammastrahlen |
DE974580C (de) * | 1952-06-19 | 1961-02-16 | Siemens Ag | Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichterplatten |
DE955623C (de) * | 1952-12-25 | 1957-01-03 | Standard Elektrik Ag | Verfahren zur Herstellung eines sperrschichtfreien Kontaktes zwischen Grundplatte undHalbleiter bei Trockengleichrichtern |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CH157167A (de) | 1932-09-15 |
DK47522C (da) | 1933-07-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
AT131780B (de) | Lichtelektrische Zelle und Verfahren zur Herstellung derselben. | |
DE2908146C2 (de) | ||
DE1521601A1 (de) | Vorrichtung zum epitaktischen Abscheiden von Silizium | |
AT117267B (de) | Stromeinführungsdraht. | |
DE941560C (de) | Verfahren zur Herstellung von Photowiderstaenden | |
DE603910C (de) | Verfahren zur galvanischen Herstellung von Metallniederschlaegen | |
DE1017292B (de) | Aluminiumoxydueberzug fuer den Heizdraht mittelbar geheizter Kathoden elektrischer Entladungsroehren und Verfahren zur Herstellung eines Isolierueberzuges auf einem Heizdraht | |
DE1011594B (de) | Verfahren zur Herstellung von Quarzglas | |
DE868767C (de) | Speichernde Oszillographenroehre mit einem Schirm aus Alkalihalogeniden | |
CH439910A (de) | Verfahren zur Herstellung einer Siegelvorrichtung für das Siegeln von thermoplastischem Material | |
DE659813C (de) | Verfahren zur Herstellung von Oxydulschichten | |
AT212953B (de) | Verfahren zur Einleitung und Durchführung technischer Prozesse, wie metallurgischer und chemischer Art, mittels elektrischer Glimmentladungen | |
DE1908101C3 (de) | Elektrophotographisches Aufzeichnungsmaterial und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE971612C (de) | Verfahren zur Erzeugung hochschmelzender, elektrisch leitender Formkoerper, z. B. Staebe | |
DE3610277C2 (de) | ||
DE2123828B2 (de) | Anzeigevorrichtung mit einer fluessigkristallschicht | |
AT132268B (de) | Lichtelektrische Zelle und Verfahren zu ihrer Herstellung. | |
DE2201139A1 (de) | Anordnung mit veraenderlicher Lichtdurchlaessigkeit | |
DE566841C (de) | Verfahren zur Herstellung von Gluehkathoden | |
DE2359454C3 (de) | Verfahren zum Überziehen eines Chrom-Nickel-Teiles einer Entladungsröhre mit einer chromoxidhaltigen Schicht und Anwendungen dieses Verfahrens | |
AT403383B (de) | Verfahren zur herstellung einer spektralselektiven schicht und solarthermischer absorber mit einer derartigen schicht | |
DE609155C (de) | Leuchtkoerper fuer elektrische Erhitzung | |
DE261914C (de) | ||
DE603894C (de) | Verfahren zur Aufrechterhaltung der guenstigsten Elektronenemission bei Elektroden aus Mischungen verschiedener Stoffe | |
AT204655B (de) | Heizdraht mit einem Aluminiumoxydüberzug für mittelbar geheizte Kathoden elektrischer Entladungsröhren |