WO2023182805A1 - 이형 조성물 - Google Patents

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WO2023182805A1
WO2023182805A1 PCT/KR2023/003797 KR2023003797W WO2023182805A1 WO 2023182805 A1 WO2023182805 A1 WO 2023182805A1 KR 2023003797 W KR2023003797 W KR 2023003797W WO 2023182805 A1 WO2023182805 A1 WO 2023182805A1
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WO
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release
formula
mol
peeling
polyorganosiloxane
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Application number
PCT/KR2023/003797
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English (en)
French (fr)
Inventor
박준형
김현철
Original Assignee
주식회사 엘지화학
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 엘지화학 filed Critical 주식회사 엘지화학
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    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G77/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule
    • C08G77/04—Polysiloxanes
    • C08G77/12—Polysiloxanes containing silicon bound to hydrogen
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G77/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule
    • C08G77/04—Polysiloxanes
    • C08G77/20—Polysiloxanes containing silicon bound to unsaturated aliphatic groups
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08K—Use of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K5/00—Use of organic ingredients
    • C08K5/56—Organo-metallic compounds, i.e. organic compounds containing a metal-to-carbon bond
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08L—COMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
    • C08L83/00—Compositions of macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon only; Compositions of derivatives of such polymers
    • C08L83/04—Polysiloxanes
    • C08L83/06—Polysiloxanes containing silicon bound to oxygen-containing groups
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09D—COATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
    • C09D183/00—Coating compositions based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon, with or without sulfur, nitrogen, oxygen, or carbon only; Coating compositions based on derivatives of such polymers
    • C09D183/04—Polysiloxanes
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J7/00—Adhesives in the form of films or foils
    • C09J7/40—Adhesives in the form of films or foils characterised by release liners
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
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    • C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J7/00—Adhesives in the form of films or foils
    • C09J7/40—Adhesives in the form of films or foils characterised by release liners
    • C09J7/401—Adhesives in the form of films or foils characterised by release liners characterised by the release coating composition

Definitions

  • This application relates to release compositions, release layers, release films and adhesive films.
  • Release films are used for purposes such as protecting the adhesive surface or adhesive surface, as a carrier, and as a coating substrate.
  • so-called light or medium-thin release films can be applied to protect optically clear adhesive (OCA).
  • OCA optically clear adhesive
  • the release film can be used as a carrier for tapes, etc., or as a coating material for a multi-layer ceramic capacitor (MLCC).
  • MLCC multi-layer ceramic capacitor
  • Patent Document 1 discloses a release sheet having a release layer (release layer) formed of a release agent composition (release composition) containing polyolefin, an isocyanate compound, and polyolefin polyol.
  • the release layer of the release film can also be formed using a silicone-based compound.
  • the release layer formed using a silicone-based compound has a problem that it does not harden well or has a low residual adhesion rate compared to the release layer formed using a non-silicone-based compound.
  • this release layer usually does not have a high bonding force with the base film, and when attached to the base film for a long time, the adhesive strength tends to increase.
  • the release film is required to have relatively low peeling force (hereinafter referred to as high-speed peeling force) when peeling off the protective film at high speed for use of the product or assembly of other products.
  • the peeling force when peeling at a slow speed (hereinafter referred to as low-speed peeling force) is required to be relatively high.
  • the release film does not have an appropriate low-speed peeling force, quality problems may occur, and if the high-speed peeling force is not appropriate, the adhesive may be damaged during peeling. Therefore, it is an important task for the release film to have a balance between high-speed and low-speed peeling force.
  • Patent Document 0001 Japanese Patent Publication No. 2011-52207
  • This application provides a release composition, release layer, release film, and adhesive film.
  • the purpose of this application is to provide a release composition that has excellent curability and can be stably cured to form a release layer.
  • the purpose of this application is to provide a release composition that exhibits a stable residual adhesion rate even when the release layer is repeatedly applied to an adhesive layer, etc. when the release layer is formed.
  • the purpose of this application is to provide a release layer that can maintain the desired release characteristics even when maintained for a long time at room temperature and high temperature.
  • the purpose of this application is to provide a release layer that can stably maintain the balance between high-speed and low-speed peeling forces.
  • the relevant physical properties are those measured at room temperature.
  • room temperature is a natural temperature that is not artificially heated or cooled, for example, any temperature in the range of 10°C to 30°C, or about 15°C or higher, about 18°C or higher, about 20°C or higher, or about It may mean a temperature of 23°C or higher and about 27°C or lower or a temperature of about 25°C.
  • the physical properties mentioned in this application when the measurement pressure affects the corresponding physical properties, unless otherwise specified, the physical properties are those measured at normal pressure.
  • atmospheric pressure refers to natural pressure that is not artificially pressurized or depressurized, and is usually at the atmospheric pressure level, for example, any pressure in the range of 0.9 atm to 1.2 atm or the range of about 740 mmHg to 780 mmHg. It can mean any pressure within.
  • Relative humidity a term used in this application, is expressed as a percentage (%) of the ratio of the amount of water vapor currently contained in a unit volume of air to the saturated water vapor pressure that a unit volume of air can contain at its maximum. It can be expressed as RH%.
  • RH% the ratio of the amount of water vapor currently contained in a unit volume of air to the saturated water vapor pressure that a unit volume of air can contain at its maximum. It can be expressed as RH%.
  • the relevant physical properties are those measured in a humid environment (about 30 RH% to 70 RH%).
  • a to b used in this application include a and b and mean within the range between a and b.
  • including a to b parts by weight is the same as including within the range of a to b parts by weight.
  • weight average molecular weight (Mw) and number average molecular weight (Mn) refer to GPC (Gel
  • polydisersity index is the weight average molecular weight (Mw) as the number average molecular weight (Mn).
  • the unit of molecular weight (Mn) is g/mol. Specific methods for measuring weight average molecular weight (Mw), number average molecular weight (Mn), and polydispersity index are summarized in the Examples section.
  • alkyl group or alkoxy group refers to a group having 1 to 20 carbon atoms, or 1 to 16 carbon atoms, or 1 to 12 carbon atoms, or 1 to 8 carbon atoms, or 1 to 6 carbon atoms, or 1 to 4 carbon atoms, unless otherwise specified. It may be a straight-chain or branched alkyl group or alkoxy group, or a cyclic alkyl group or alkoxy group having 3 to 20 carbon atoms, or 3 to 16 carbon atoms, or 3 to 12 carbon atoms, or 3 to 8 carbon atoms, or 3 to 6 carbon atoms.
  • the category of cyclic alkyl group or alkoxy group also includes an alkyl group or alkoxy group having only a ring structure and an alkyl group or alkoxy group containing a ring structure.
  • both cyclohexyl group and methyl cyclohexyl group correspond to cyclic alkyl groups.
  • alkenyl group refers to a straight or branched chain having 2 to 20 carbon atoms, or 2 to 16 carbon atoms, or 2 to 12 carbon atoms, or 2 to 8 carbon atoms, or 2 to 6 carbon atoms, or 2 to 4 carbon atoms. It may be an acyclic alkenyl group, or a cyclic alkenyl group having 3 to 20 carbon atoms, or 3 to 16 carbon atoms, or 3 to 12 carbon atoms, or 3 to 8 carbon atoms, or 3 to 6 carbon atoms.
  • the category of cyclic alkenyl group includes alkenyl groups that have only a ring structure and alkenyl groups that include a ring structure.
  • alkynyl group refers to a straight or branched chain having 2 to 20 carbon atoms, or 2 to 16 carbon atoms, or 2 to 12 carbon atoms, or 2 to 8 carbon atoms, or 2 to 6 carbon atoms, or 2 to 4 carbon atoms. It may be an alkynyl group, or a cyclic alkynyl group having 3 to 20 carbon atoms, or 3 to 16 carbon atoms, or 3 to 12 carbon atoms, or 3 to 8 carbon atoms, or 3 to 6 carbon atoms.
  • it contains an alkynyl group with a ring structure, it corresponds to a cyclic alkynyl group.
  • the alkyl group, alkoxy group, alkenyl group, and alkynyl group may be substituted with one or more substituents.
  • the substituents are halogen (chlorine (Cl), iodine (I), bromine (Br), fluorine (F)), aryl group, heteroaryl group, epoxy group, alkoxy group, cyano group, carboxyl group, acrylic group. It may be one or more selected from the group consisting of a diary group, a methacryloyl group, an acryloyloxy group, a methacryloyloxy group, a carbonyl group, and a hydroxy group, but is not limited thereto.
  • aryl group refers to a substituent formed by removing one hydrogen from an aromatic hydrocarbon ring compound
  • aromatic hydrocarbon ring compound may be a monocyclic or polycyclic ring compound.
  • the number of carbon atoms of the aryl group is not particularly limited, but unless otherwise specified, the aryl group may be an aryl group having 6 to 20 carbon atoms, 6 to 18 carbon atoms, or 2 to 15 carbon atoms.
  • aryl group examples include, but are not limited to, a phenyl group, phenylethyl group, phenylpropyl group, benzyl group, tolyl group, xylyl group, or naphthyl group.
  • the aryl group may be optionally substituted with one or more substituents.
  • the substituents are halogen (chlorine (Cl), iodine (I), bromine (Br), fluorine (F)), aryl group, heteroaryl group, epoxy group, alkoxy group, cyano group, carboxyl group, acrylic group. It may be one or more selected from the group consisting of a diary group, a methacryloyl group, an acryloyloxy group, a methacryloyloxy group, a carbonyl group, and a hydroxy group, but is not limited thereto.
  • the term monovalent hydrocarbon group refers to a monovalent substituent derived from hydrocarbon (an organic compound consisting of carbon and hydrogen).
  • the carbon number of this monovalent hydrocarbon group may be in the range of 1 to 20, 1 to 16, 1 to 12, 1 to 8, or 1 to 4.
  • Examples of the monovalent hydrocarbon group include an alkyl group, alkenyl group, alkynyl group, or aryl group.
  • the alkyl group, alkenyl group, alkynyl group, or aryl group may each be an alkyl group, alkenyl group, alkynyl group, or aryl group specifically described at the beginning of this specification.
  • release composition refers to a composition capable of forming a release layer, and in this case, the meaning of release layer is as known in the industry.
  • the release composition may be a curable composition, in which case the composition may form the release layer before or after curing.
  • the release composition of the present application may include a polyorganosiloxane component.
  • polyorganosiloxane refers to a polymer comprising chains formed by siloxane bonds (Si-O-Si).
  • the polyorganosiloxane referred to in this specification may be one molecule of polyorganosiloxane, or may be a mixture of two or more molecules of polyorganosiloxane.
  • Polyorganosiloxane is a polymer compound, and in some cases, only one molecule of polymer is produced during the polymerization process to form a polymer compound, but in some cases, two or more molecules of polymer are produced. Therefore, the meaning of the term polyorganosiloxane includes the above. A mixture of two or more molecules of polyorganosiloxane is also included.
  • Polyorganosiloxanes are usually formed comprising one or more siloxane units selected from the group consisting of so-called M units, D units, T units and Q units.
  • the M unit is a so-called monofunctional siloxane unit (i.e., a siloxane unit with a structure in which a silicon atom is connected to one oxygen atom), which is usually expressed as (R 3 SiO 1/2 ), and the D unit is It is a so-called bifunctional siloxane unit (i.e., a siloxane unit with a structure in which a silicon atom is connected to two oxygen atoms), which may be usually expressed as (R 2 SiO 2/2 ), and the T unit is usually (RSiO 3/2 ).
  • siloxane unit i.e., a siloxane unit with a structure in which a silicon atom is connected to three oxygen atoms
  • a functional siloxane unit i.e., a siloxane unit with a structure in which a silicon atom is connected to four oxygen atoms
  • the polyorganosiloxane of the present application contains specific siloxane units and can thereby form the release layer targeted in the present application.
  • the polyorganosiloxane may be one molecule of polyorganosiloxane, or may be a mixture of two or more molecules of polyorganosiloxane.
  • one molecule of polyorganosiloxane or a mixture of two or more molecules of polyorganosiloxane may have an average unit described later.
  • the polyorganosiloxane component of the present application may be a polyorganosiloxane having a siloxane unit of Formula 1 below, a siloxane unit of Formula 2 below, and a siloxane unit of Formula 3 below.
  • R 1 may be an alkyl group
  • R 2 may be an alkenyl group
  • R 3 may be an aryl group. Specific types of the alkyl group, alkenyl group, and aryl group included in Formulas 1 to 3 are as described at the beginning of this specification.
  • the ratio of the total number of moles of the siloxane units of Formulas 1 to 3 may be adjusted based on the total number of moles of all siloxane units included in the polyorganosiloxane of the present application.
  • the lower limit of the ratio of the total number of moles of the siloxane units of the formulas 1 to 3 (based on the total number of moles of all siloxane units) is 85 mol%, 86 mol%, 87 mol%, 88 mol%, 89 mol%, It may be about 90 mol%, 91 mol%, 92 mol%, 93 mol%, 94 mol%, 95 mol%, 96 mol%, 97 mol%, 98 mol% or 99 mol%, and the upper limit is 100 mol% or It may be about 99.9 mol%.
  • the ratio is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, and It may be within a range below or below any one of the upper limits described. Under this ratio, appropriate curability can be secured and a release layer with desired release characteristics can be formed.
  • the ratio between siloxane units of Formulas 1 to 3 may also be adjusted.
  • the lower limit of the ratio of the number of moles of siloxane units of Formula 1 to the number of moles of siloxane units of Formula 2 contained in the polyorganosiloxane is 0.5, 1, 5, 10, 15, 20, 25, 30, It could be around 35, 40, 45, 50, 55, 60, 65, 70, 75, 80, 85 or 90, with the upper limit being 2,000, 1,500, 1,000, 500, 400, 300, 200, 100, 90, 80. , it may be around 70, 60, 50, 40, 30 or 20.
  • the ratio is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, and It may be within a range below or below any one of the upper limits described. Under this ratio, appropriate curability can be secured and a release layer with desired release characteristics can be formed.
  • the lower limit of the ratio of the number of moles of siloxane units of Formula 1 to the number of moles of siloxane units of Formula 3 included in the polyorganosiloxane of the present application is 0.5, 1, 5, 10, 12, 14, 16, 18, 20, 25. , 30, 40, 50, 60, 70, 80, 90, 100, 110, 120 or 130, with the upper limit being 2,000, 1000, 500, 300, 200, 150, 140, 130, 120, 110, 100. , 90, 80, 70, 60, 50, 40, 30 or 20.
  • the ratio is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, and It may be within a range below or below any one of the upper limits described. Under this ratio, appropriate curability can be secured and a release layer having desired release characteristics can be formed.
  • the polyorganosiloxane may have additional other siloxane units as long as it contains the siloxane units of formulas 1 to 3. .
  • the polyorganosiloxane of the present application may further include one or more siloxane units selected from the group consisting of siloxane units of Formula 4 below and siloxane units of Formula 5 below.
  • R 1 may be an alkyl group
  • R 2 may be an alkenyl group
  • alkyl group and alkenyl group of Formulas 4 and 5 are as described at the beginning of this specification.
  • the siloxane units of Formulas 4 and 5 are each so-called M units, and these units may exist bonded to the ends and/or side chains of the polymer chain of polyorganosiloxane.
  • the polyorganosiloxane may include only one of the siloxane units of Formulas 4 and 5, or may include both of the above.
  • the polyorganosiloxane of the present application may have an average unit of the following formula (6).
  • R 1 is an alkyl group
  • R 2 is an alkenyl group
  • R 3 is an aryl group
  • R 4 may be an alkoxy group, a hydroxy group, or a monovalent hydrocarbon group, but is not limited thereto.
  • alkyl group alkenyl group
  • aryl group alkoxy group
  • monovalent hydrocarbon group of Formula 6 Specific types of the alkyl group, alkenyl group, aryl group, alkoxy group, and monovalent hydrocarbon group of Formula 6 are as described at the beginning of this specification.
  • the average unit of the term polyorganosiloxane in this specification assumes that the number of moles of silicon atoms included in the polyorganosiloxane is 1 mole, and based on this, the functional group and linker (silicon atom) directly bonded to the silicon atom included in the polyorganosiloxane It refers to a formula expressed by converting the average number of moles of oxygen atoms (linker connecting silicon atoms).
  • This average unit may be for one molecule of polyorganosiloxane, or may be for a mixture of two or more molecules of polyorganosiloxane.
  • the ratio of the functional group to the linker is calculated by assuming that the number of all silicon atoms included in the polyorganosiloxane is 1 mol.
  • R 1 shown to the left of the silicon atom (Si) in Formula 6 R 2 , R 3 and R 4 are A functional group directly connected to the silicon atom is indicated, and the oxygen atom (O) on the right side indicates a linker connecting the silicon atom and the silicon atom.
  • a is the number of moles of the functional group R 1 converted by assuming that the number of moles of silicon atoms contained in the compound is 1 mole
  • b is the number of moles of silicon atoms contained in the compound is 1 mole.
  • the above functional groups were converted to R 2 is the number of moles
  • c is the functional group converted by assuming that the number of moles of silicon atoms contained in the compound is 1 mole
  • R 3 is the number of moles
  • d is the functional group converted by assuming that the number of moles of silicon atoms contained in the compound is 1 mole.
  • R is the number of moles of 4 .
  • (4-a-b-c-d) in Formula 6 is the number of moles of oxygen atoms (O), which are the linkers, calculated by assuming that the number of moles of silicon atoms contained in the compound is 1 mole. In the case of the linker oxygen atom (O), since two silicon atoms are bonded, the number of moles is divided by 2 and expressed.
  • the lower limit of a may be about 0.6, 0.7, 0.8, 0.9, 1, 1.1, 1.2, 1.3, 1.4, 1.5, 1.6, 1.7, 1.8, or 1.9
  • the upper limit is about 6, 5.5, 5, It may be around 4.5, 4, 3.5, 3, 2.5 or 2.
  • the a is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, and It may be within a range below or below any one of the upper limits described.
  • the lower limit of b may be about 0.001, 0.005, 0.01, 0.02, 0.04, or 0.05
  • the upper limit may be about 0.7, 0.6, 0.5, 0.4, 0.2, 0.1, 0.05, 0.03, or 0.02.
  • the lower limit of c may be around 0.001, 0.01, 0.03, 0.05, 0.07 or 0.09, and the upper limit may be around 2, 1.8, 1.6, 1.4, 1.2, 1, 0.8, 0.5, 0.2, 0.1 or 0.05.
  • Said c is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, and It may be within a range below or below any one of the upper limits described.
  • the upper limit of d may be about 1, 0.9, 0.8, 0.7, 0.6, 0.5, 0.4, 0.3, 0.2, 0.1, 0.05, 0.01, or 0.001, and the lower limit may be 0.
  • the d may be within a range that is below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits and below or below any one of the above-described upper limits. there is.
  • the polyorganosiloxane may have a substantially linear structure.
  • the polyorganosiloxane may consist substantially of only M units and D units, or may include M units and D units together with T and/or Q units, but the ratio of the T and/or Q units is at a certain level. It may have the following structure.
  • the ratio of the total number of moles of trifunctional siloxane units (T units) and tetrafunctional siloxane units (Q units) to the total number of siloxane units included in the polyorganosiloxane (100 ⁇ (number of moles of T units + number of moles of Q units) /
  • the upper limit of the total number of siloxane units (moles) is 10 mol%, 9 mol%, and 8 mol%. It may be about 7 mol%, 6 mol%, 4 mol%, 3 mol%, 2 mol%, 1 mol%, 0.5 mol%, or 0.1 mol%, and the lower limit may be 0 mol%.
  • the ratio is within a range that is below or below any of the above-described upper limits, or is above or above any of the above-described lower limits and is below or below any of the above-described upper limits. You can. Under this ratio, appropriate curability can be secured and a release layer with desired release characteristics can be formed.
  • the polyorganosiloxane may have a certain level of weight average molecular weight.
  • the lower limit of the weight average molecular weight is 20,000 g/mol, 50,000 g/mol, 100,000 g/mol, 150,000 g/mol, 200,000 g/mol, 250,000 g/mol, 300,000 g/mol, 350,000 g/mol, 400,000 g/mol, 450,000 g/mol, 500,000 g/mol or 550,000 g/mol
  • the upper limit is 2,000,000 g/mol, 1,500,000 g/mol, 1,000,000 g/mol, 900,000 g/mol, 800,000 g/mol, 700,000 g/mol or 650,000 g/mol.
  • the weight average molecular weight is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits. However, it may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the polyorganosiloxane of the present application may have a certain level of polydispersity index.
  • the polydispersity index is the weight average molecular weight (Mw) of the compound divided by the number average molecular weight (Mn) (Mw/Mn).
  • the lower limit of the polydispersity index may be about 1, 1.25, 1.5, 1.75, or 1.8, and the upper limit may be about 5, 3.5, 3, 2.5, 2.2, or 2.
  • the polydispersity index is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits. However, it may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the lower limit of the content of the polyorganosiloxane component in the release composition is 0.5% by weight, 1% by weight, 3% by weight, 5% by weight, 7% by weight, 8% by weight, 10% by weight, 20% by weight, 30% by weight. %, 40% by weight, 50% by weight, 60% by weight, 70% by weight, or 75% by weight, and the upper limit is 95% by weight, 90% by weight, 85% by weight, 80% by weight, 75% by weight, 70% by weight. %, 65% by weight, 60% by weight, 55% by weight, 50% by weight, 45% by weight, 40% by weight, 35% by weight, 30% by weight, 25% by weight, 20% by weight, 15% by weight or 10% by weight. You can.
  • the ratio is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, It may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the ratio is a ratio based on solid content, and therefore, when the release composition includes a solvent, it is a ratio to the total weight of the release composition excluding the weight of the solvent.
  • Polyorganosiloxane as described above can be produced by a known method.
  • polyorganosiloxane can be produced by polymerizing an alkoxysilane compound or a partial condensate thereof, or ring-opening polymerizing a cyclic siloxane compound, and these known methods can be equally applied in the present application.
  • release composition of the present application includes the polyorganosiloxane, it may additionally contain other components.
  • the release composition may include a curable silicone resin component in addition to the polyorganosiloxane.
  • curable silicone resin component may be a silicone resin component that can be cured.
  • curing refers to a phenomenon in which the viscosity of the release composition increases or the release composition hardens through a chemical or physical reaction or interaction, as is known.
  • This curable silicone resin component may include a compound having the functional group capable of curing.
  • the scope of curable silicone resin components or curable compounds mentioned in this specification does not include polyorganosiloxanes having siloxane units of formulas 1 to 3 above.
  • the curable silicone resin component may be an addition-curable silicone resin component described later, and this addition-curable silicone resin component may include polyorganosiloxane having an alkenyl group such as a vinyl group.
  • this addition-curable silicone resin component may include polyorganosiloxane having an alkenyl group such as a vinyl group.
  • the polyorganosiloxane having the siloxane units of formulas 1 to 3 also has an alkenyl group
  • the polyorganosiloxane can also be strictly classified as a curable silicone resin component, but for convenience of explanation, in this specification, it is referred to as a curable silicone resin component.
  • the components and compounds mentioned do not include polyorganosiloxanes having siloxane units of the above formulas 1 to 3.
  • this method of explanation does not mean that polyorganosiloxanes having siloxane units of formulas 1 to 3 are not curable.
  • polyorganosiloxane having siloxane units of formulas 1 to 3 may be referred to as added polyorganosiloxane to distinguish it from polyorganosiloxane included in the curable silicone resin component.
  • the curable silicone resin component may be made of one type of polyorganosiloxane, or may be made of a mixture of two or more types of polyorganosiloxane.
  • the silicone resin component of the release composition may be a so-called addition curing type component.
  • This resin component may include, for example, a polyorganosiloxane comprising siloxane units having an alkenyl group bonded to a silicon atom (hereinafter may be referred to as the first polyorganosiloxane or the first polyorganosiloxane component). You can.
  • the first polyorganosiloxane or the first polyorganosiloxane component may have, for example, an average unit of the following formula (7).
  • the meaning of the average unit above is the same as described above.
  • P 2 is an alkenyl group
  • Q 2 may be an alkoxy group, a hydroxy group, or a monovalent hydrocarbon group.
  • the lower limit of c may be about 0.0001, 0.0005, 0.001, 0.002, 0.005, or 0.01 and the upper limit of c may be about 0.1, 0.09, 0.08, 0.07, 0.06, 0.05, 0.04, 0.03, 0.02, 0.01, 0.009 , it may be around 0.008, 0.007, 0.006, 0.005, 0.004 or 0.003.
  • Said c is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, It may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the lower limit of d may be about 0.5, 1, 1.5, 1.7, or 1.9, and the upper limit may be about 5, 4, 3.5, 3, 2.5, or 2.
  • the d is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, It may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the first polyorganosiloxane may include an alkenyl group bonded to a silicon atom, and the ratio of the alkenyl group may be adjusted based on the number of moles of organic groups bonded to all silicon atoms included in the polyorganosiloxane. .
  • the lower limit of the ratio of the number of moles of the silicon-bonded alkenyl group based on the number of moles of all silicon atom-bonded organic groups contained in the first polyorganosiloxane is 0.01 mol%, 0.05 mol%, 0.1 mol%, 0.15 mol%, 0.2 mol%, 0.25 mol%, 0.3 mol%, 0.35 mol%, 0.4 mol%, 0.45 mol% or 0.5 mol%, 0.6 mol%, 0.7 mol%, 0.8 mol%, 0.9 mol% or 1 mole.
  • the upper limit is 1.5 mol%, 1.4 mol%, 1.3 mol%, 1.2 mol%, 1.1 mol%, 0.9 mol%, 0.8 mol%, 0.7 mol% or 0.6 mol%, 0.5 mol%, 0.4 mol%. It may be about mol%, 0.3 mol%, 0.2 mol% or 0.1 mol%.
  • the ratio is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, It may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above. Under this ratio, appropriate curability can be secured and a release layer with desired release characteristics can be formed.
  • alkenyl groups may be included in a siloxane unit of a specific structure in the polyorganosiloxane.
  • the first polyorganosiloxane may include one or more siloxane units selected from the group consisting of siloxane units of Formula 9 below and siloxane units of Formula 10 below.
  • Vi is an alkenyl group
  • R 3 may be a hydroxy group, an alkoxy group, or a monovalent hydrocarbon group.
  • the specific types of alkenyl group, alkoxy group, and monovalent hydrocarbon group above are as described in Chemical Formula 7.
  • the lower limit of the ratio of the siloxane units of Formula 9 based on the total siloxane units in the first polyorganosiloxane component is 0.001 mol%, 0.005 mol%, 0.01 mol%, 0.02 mol%, 0.03 mol%, 0.04 mol%. , 0.05 mol%, 0.06 mol%, 0.07 mol%, 0.08 mol%, 0.09 mol% or 0.095 mol%, and the upper limit is 0.5 mol%, 0.4 mol%, 0.3 mol%, 0.2 mol%, 0.1 mol%. It may be about mol%, 0.09 mol%, 0.08 mol% or 0.07 mol%.
  • the ratio is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, It may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the lower limit of the ratio of the siloxane units of Formula 10 based on the total siloxane units in the first polyorganosiloxane component is 0.01 mol%, 0.05 mol%, 0.1 mol%, 0.15 mol%, 0.2 mol%, 0.3 mol%. , 0.4 mol%, 0.5 mol%, 0.6 mol%, 0.7 mol%, 0.8 mol%, or 0.9 mol%, and the upper limit is 10 mol%, 9 mol%, 8 mol%, 7 mol%, 6 mole. %, 5 mol%, 4 mol%, 3 mol%, 2 mol%, or 1 mol%.
  • the ratio is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, It may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the first polyorganosiloxane component may include both siloxane units of Formulas 9 and 10 above.
  • the lower limit of the molar ratio of the siloxane unit of Formula 10 to the siloxane unit of Formula 9 is about 0.1, 0.5, 1, 1.5, 2, 2.5, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 9.5.
  • the upper limit may be around 20, 18, 16, 14, 12, 11, 10, 9, 8, 7, 6, 5, 4, or 3. is above or above any of the above-described lower limits, is below or below any of the above-described upper limits, or is above or above any of the above-described lower limits and is the above-described upper limit. It may be within a range that is below or below any one of the upper limits.
  • the lower limit of the number of silicon atoms contained in the first polyorganosiloxane component may be about 500, 1,500, 2,000, 2,500, or 3,000, and the upper limit may be about 10,000, 5,000, 4,000, 3,500, 3,000, 2,500, or 2,100. .
  • the number of silicon atoms is above or above any of the above-described lower limits, below or below any of the above-described upper limits, or above any of the above-described lower limits. It may be within a range that is greater than or below any one of the above-described upper limits.
  • the first polyorganosiloxane component may have a substantially linear structure.
  • the polyorganosiloxane consists substantially of only M units (monofunctional siloxane units) and D units (bifunctional siloxane units), or of M units (monofunctional siloxane units) and D units (bifunctional siloxane units). together comprising T units (trifunctional siloxane units) and/or Q units (tetrafunctional siloxane units), wherein the ratio of the T units (trifunctional siloxane units) and/or Q units (tetrafunctional siloxane units) is below a certain level. It can have a structure.
  • the ratio of the total number of moles of the T and Q units to the number of moles of the total siloxane units included in the polyorganosiloxane (100 ⁇ (number of moles of T units + number of moles of Q units) / total siloxane
  • the upper limit of the unit number of moles is 10 mol%, 9 mol%, 8 mol%, 7 mol%, 6 mol%, 5 mol%, 4 mol%, 3 mol%, 2 mol%, 1 mol%, or 0.5 mol%. may be, and the lower limit may be 0 mol%.
  • the ratio is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, It may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the lower limit of the weight average molecular weight of the first polyorganosiloxane component may be about 100,000 g/mol, 150,000 g/mol, 200,000 g/mol, 250,000 g/mol, or 300,000 g/mol, and the upper limit is 1,000,000 g/mol. mol, 950,000 g/mol, 900,000 g/mol, 850,000 g/mol, 800,000 g/mol, 750,000 g/mol, 700,000 g/mol, 650,000 g/mol, 600,000 g/mol, 550,000 g/mol, 500,000 g/ mol, 450,000 g/mol, or 400,000 g/mol.
  • the weight average molecular weight is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits. However, it may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the first polyorganosiloxane has a weight average molecular weight within the above-mentioned range, an appropriate viscosity can be secured and excellent coating properties can be achieved.
  • the lower limit of the polydispersity index (PDI) of the first polyorganosiloxane component may be about 1, 1.25, or 1.5, and the upper limit may be about 5, 3.5, or 2.5.
  • the polydispersity index is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits. However, it may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the curable silicone resin component includes a polyorganosiloxane (hereinafter referred to as a second polyorganosiloxane or a second polyorganosiloxane component) having an average unit of the following formula (8) together with the above-described first polyorganosiloxane. can do.
  • the meaning of the average unit is as described above.
  • the average unit may be for one molecule of polyorganosiloxane, or may be for a mixture of two or more molecules of polyorganosiloxane.
  • Q 3 is It may be an alkoxy group, a hydroxy group, or a monovalent hydrocarbon group.
  • alkoxy group or monovalent hydrocarbon group of Formula 8 are the same as those of Formula 7.
  • the lower limit of e may be about 0.01, 0.05, 0.1, 0.15, 0.2, 0.25, 0.3, 0.35, 0.4, 0.45, 0.5, 0.55, or 0.6
  • the upper limit is about 2, 1.5, 1, 0.9. , 0.8, 0.7, 0.65, 0.6, 0.5, 0.4, 0.39, 0.38, 0.37, 0.36, or 0.35.
  • the e is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, It may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the lower limit of f may be about 0.5, 1, 1.1, 1.2, 1.3, 1.4, 1.5, or 1.6
  • the upper limit is about 4, 3.5, 3, 2.5, 2, 1.9, 1.8, 1.7, 1.6. Or it could be around 1.5.
  • the f is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, It may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the second polyorganosiloxane may include a hydrogen atom bonded to a silicon atom, and the ratio of the hydrogen atoms can be adjusted based on the number of moles of organic groups bonded to all silicon atoms included in the polyorganosiloxane.
  • the lower limit of the ratio of the number of moles of the silicon atom-bonded hydrogen atoms based on the molar number of all silicon atom-bonded organic groups contained in the second polyorganosiloxane is 1 mol%, 5 mol%, and 10 mol%.
  • the ratio is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, It may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above. Under this ratio, appropriate curability can be secured and a release layer with desired release characteristics can be formed.
  • These hydrogen atoms may be included in siloxane units of a specific structure in the polyorganosiloxane.
  • the hydrogen atom bonded to the silicon atom may be present at least in the siloxane unit of the following formula (11):
  • R 4 may be a hydroxy group, an alkoxy group, or a monovalent hydrocarbon group.
  • the specific types of the alkoxy group and monovalent hydrocarbon group of Formula 11 are the same as those of Formula 8.
  • the lower limit of the ratio of the number of moles of the siloxane units of Formula 11 based on the total number of moles of siloxane units containing silicon atom bonded hydrogen atoms among all siloxane units contained in the second polyorganosiloxane component is 85 mol%, 90 mol. %, 95 mol%, 96 mol%, 97 mol%, 98 mol%, 99 mol%, or 99.5 mol%, and the upper limit may be about 100 mol%.
  • the ratio is within a range that is above or above any one of the above-described lower limits, or is above or above any one of the above-described lower limits and is below or below any one of the above-described upper limits. You can.
  • the lower limit of the ratio of the siloxane units of Formula 11 based on the total siloxane units in the second polyorganosiloxane component is 10 mol%, 15 mol%, 20 mol%, 25 mol%, 30 mol%, 35 mol%, It may be about 40 mol%, 45 mol%, 50 mol%, 55 mol% or 60 mol%, and the upper limit is 85 mol%, 80 mol%, 75 mol%, 70 mol%, 65 mol%, 60 mol%. , it may be about 55 mol% or 50 mol%.
  • the ratio is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, It may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the lower limit of the number of silicon atoms contained in the second polyorganosiloxane component may be about 20, 25, 30, 35, 40, 45, 50, 55, 60, 65, 70, 75, 80, 85, or 90.
  • the upper limits are 1,000, 950, 900, 850, 800, 750, 700, 650, 600, 550, 500, 450, 400, 350, 300, 250, 200, 150, 100, 95, 90, 85, 80, It may be around 75, 70, 65, 60, 55 or 50.
  • the number of silicon atoms is above or above any of the above-described lower limits, below or below any of the above-described upper limits, or above any of the above-described lower limits. It may be within a range that is greater than or below any one of the above-described upper limits.
  • the second polyorganosiloxane component may have a substantially linear structure.
  • the polyorganosiloxane is substantially composed of only M units and D units, or includes M units and D units together with T and/or Q units, but the ratio of the T and/or Q units is below a certain level. It can have a structure.
  • the ratio of the total number of moles of the T and Q units to the number of moles of the total siloxane units included in the polyorganosiloxane (100 ⁇ (number of moles of T units + number of moles of Q units) / total siloxane
  • the upper limit of the unit number of moles is 10 mol%, 9 mol%, 8 mol%, 7 mol%, 6 mol%, 5 mol%, 4 mol%, 3 mol%, 2 mol%, 1 mol%, or 0.5 mol%. may be, and the lower limit may be 0 mol%.
  • the ratio is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, It may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the lower limit of the weight average molecular weight of the second polyorganosiloxane is 1,000 g/mol, 2,000 g/mol, 3,000 g/mol, 4,000 g/mol, 5,000 g/mol, 6,000 g/mol, 7,000 g/mol, 8,000 g/mol or 9,000 g/mol, with upper limits being 100,000 g/mol, 90,000 g/mol, 80,000 g/mol, 70,000 g/mol, 60,000 g/mol, 50,000 g/mol, 45,000 g/mol , 40,000 g/mol, 30,000 g/mol, 20,000 g/mol, 15,000 g/mol or 12,000 g/mol.
  • the weight average molecular weight is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits. However, it may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above. Excellent curing properties can be ensured by the second polyorganosiloxane having a weight average molecular weight within the above-mentioned range.
  • the lower limit of the polydispersity index of the second polyorganosiloxane may be about 1, 1.25, or 1.5, and the upper limit may be about 5, 3.5, or 2.5.
  • the polydispersity index is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits. However, it may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the lower limit of the curable silicone resin component or the first polyorgano siloxane component in the release composition is 20% by weight, 25% by weight, 30% by weight, 35% by weight, 40% by weight, 45% by weight, 50% by weight, 55% by weight. It may be about % by weight, 60% by weight, 65% by weight, 70% by weight, 75% by weight, 80% by weight, 85% by weight, or 90% by weight, and the upper limit is 98% by weight, % by weight, 96% by weight, 94% by weight.
  • the ratio is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, It may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the ratio is a ratio based on solid content, and therefore, when the release composition includes a solvent, it is a ratio to the total weight of the release composition excluding the weight of the solvent.
  • the lower limit of the weight parts of the second polyorganosiloxane in the curable silicone resin component or the release composition relative to 100 parts by weight of the first polyorganosiloxane is 0.1 part by weight, 0.25 part by weight, 0.5 part by weight, 0.75 part by weight, and 1 part by weight. , It may be about 1.25 parts by weight, 1.5 parts by weight, 1.75 parts by weight, or 2 parts by weight, and the upper limit is 10 parts by weight, 8 parts by weight, 6 parts by weight, 4 parts by weight, or 3.5 parts by weight, 3 parts by weight, or 2.5 parts by weight. It could be wealth.
  • the ratio is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, It may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the second polyorganosiloxane is included within the above range, the crosslinking density can be improved to ensure a cured product with excellent durability.
  • the lower limit of parts by weight of the added polyorganosiloxane relative to 100 parts by weight of the curable silicone resin component is 1 part by weight, 5 parts by weight, 10 parts by weight, 50 parts by weight, 100 parts by weight, 200 parts by weight, It may be about 300 parts by weight or 350 parts by weight, and the upper limit is 1000 parts by weight, 900 parts by weight, 800 parts by weight, 700 parts by weight, 600 parts by weight, 500 parts by weight, 400 parts by weight, 300 parts by weight, and 200 parts by weight. , it may be about 100 parts by weight, 50 parts by weight, 40 parts by weight, 30 parts by weight, 20 parts by weight, or 10 parts by weight.
  • the ratio is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, It may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the release composition of the present application may additionally include a catalyst if necessary in consideration of curability.
  • a catalyst a suitable known catalyst can be used in consideration of the curing type of the curable silicone resin component.
  • a metal catalyst may be used as the catalyst.
  • the metal catalyst may include one or more selected from the group consisting of aluminum, bismuth, lead, mercury, tin, zinc, platinum, silver, and zirconium as a central metal element.
  • the metal catalyst include Bis[1,3-bis(2-ethenyl)-1,1,3,3-tetramethyldisiloxane]platinum (CAS No.
  • dibutyltin dilaurate dibutyltin dilaurate
  • Dimethyltin diacetate etc.
  • the catalyst a catalyst known in the art as a so-called addition curing type catalyst can be used.
  • the content of the catalyst is not particularly limited as long as it is included in a catalytic amount.
  • the lower limit of parts by weight relative to 100 parts by weight of the curable silicone resin component of the catalyst may be about 0.1 parts by weight, 0.5 parts by weight, 1 part by weight, 1.5 parts by weight, 2 parts by weight, 2.5 parts by weight, or 3 parts by weight.
  • the upper limit may be about 10 parts by weight, 9 parts by weight, 8 parts by weight, 7 parts by weight, 6 parts by weight, 5 parts by weight, 4 parts by weight, or 3 parts by weight.
  • the release composition according to an example of the present application may further include an organic solvent.
  • the solvent may be an organic solvent.
  • the organic solvent is not particularly limited as long as it is commonly used in the art, and solvents such as tetrahydrofuran, methyl ethyl ketone, toluene, and heptane, or a mixture thereof can be used. Additionally, their mixing ratio is not particularly limited and can be appropriately mixed as needed.
  • the amount of the solvent can be adjusted as needed and is not particularly limited.
  • the present application also relates to release layers.
  • the release layer may include the above-described release composition or a cured product thereof.
  • the release layer may include the added polyorganosiloxane, may further include the curable silicone resin component, and in some cases may include a reactant of the components.
  • the release layer may be formed, for example, by curing the release composition according to an example of the present application described above. The method of performing such curing is not particularly limited, and an appropriate curing method can be adopted depending on the type of curable resin component.
  • the release layer can effectively satisfy the physical properties targeted in the present application by including the release composition or a cured product thereof.
  • the release layer can stably maintain the desired release characteristics even after being maintained for a long period of time, regardless of temperature.
  • the release layer can stably maintain the balance between so-called high-speed and low-speed peeling forces.
  • the release layer can stably maintain release characteristics even when attachment and peeling of an adhesive or the like are performed multiple times.
  • the release composition may have excellent curing properties, and therefore can be stably cured to form the above-described release layer.
  • the release layer may satisfy physical properties according to one or more of the following equations 1 to 5. That is, the release layer may satisfy the physical properties according to any one of the following equations 1 to 5, two or more of the physical properties simultaneously, or all of the physical properties according to the above equations 1 to 5.
  • the release layer may have a rate of change in peel force over time (A R1 ) according to Equation 1 below, within a predetermined range.
  • the upper limit of the rate of change in peel force over time (A R1 ) is 18%, 17%, 16%, 15%, 14%, 13%, 12%, 11%, 10%, 9%, 8%, 7. %, 6%, 5%, 4%, 3%, 2%, 1%, 0.9%, 0.8%, 0.7%, or 0.6%, and the lower limit may be about 0%.
  • the rate of change in peel force over time (A R1 ) is below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits, and any of the above-described upper limits. It may be within a range below or below an upper limit.
  • the present application can provide a release layer having an appropriate level of release peel force and residual adhesion rate by satisfying the above range in the rate of change in peel force over time.
  • a R1 100 ⁇ (
  • a 1 refers to maintaining the adhesive layer attached to the release layer at 25°C for 24 hours and then attaching the adhesive layer to the release layer at 25°C at a peeling angle of 180 degrees and a peeling speed of 0.3 m/min. This is the release peel force measured while peeling from the release layer
  • a 7 is the adhesive layer attached to the release layer maintained at 25°C for 168 hours, then peeled off at a peeling angle of 180 degrees and a peeling speed of 0.3 m/min at 25°C. It may be a release peeling force measured while peeling the adhesive layer from the release layer.
  • Equation 1
  • a 7 - A 1 means the absolute value of the difference between A 7 and A 1 .
  • Equation 1 The specific measurement method of the rate of change in peel force over time (A R1 ) in Equation 1 (including the measurement method of release peel force A 7 and A 1 ) is described in the Example section.
  • the release layer of the present application can exhibit an appropriate level of release peeling force even after a long period of time because A R1 of the formula 1 satisfies the above range.
  • the upper limit of the release peeling force A 7 in Equation 1 is 500 gf/inch, 400 gf/inch, 300 gf/inch, 200 gf/inch, 100 gf/inch, 50 gf/inch, 30 gf/inch, 20 gf /inch, 15 gf/inch, or 10 gf/inch, and the lower limit may be about 1 gf/inch or 5 gf/inch.
  • the release peel force A 7 is below or below any one of the above-described upper limits, or is above or above any one of the above-described lower limits and is below any one of the above-described upper limits. Or it may be within a range that is less than that.
  • the release layer of the present application has a release peeling force A 7 that satisfies the above range and can exhibit the desired release property in various applications.
  • the release layer of the present application may have a rate of change in peel force over time (A R2 ) according to Equation 2 below, within a predetermined range.
  • the lower limit of the rate of change in peel force over time ( AR2 ) may be about 0% or 1%
  • the upper limit may be 20%, 19%, 18%, 17%, 16%, 15%, 14%. , 13%, 12%, 11%, 10%, 9%, 8%, 7%, 6%, 5%, 4%, 3%, 2%, 1% or 0.5%.
  • the rate of change in peel force over time is below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits and below any one of the above-described upper limits, or It may be within the range below.
  • the rate of change over time in peel force satisfies the above range, so that the desired release property can be stably maintained even when the release layer is maintained at a high temperature for a long period of time.
  • a R2 100 ⁇
  • a 60°C,1 is obtained by maintaining the adhesive layer attached to the release layer at 60°C for 24 hours and then peeling off the adhesive layer at 25°C at a peeling angle of 180 degrees and a peeling speed of 0.3 m/min. This is the release peel force measured while peeling from the release layer, and A 60°C,7 is the peeling angle of 180 degrees and 0.3 m/min after maintaining the adhesive layer attached to the release layer at 60°C for 168 hours. It may be a release peel force measured while peeling the adhesive layer from the release layer at a speed of 25°C.
  • Equation 2 A specific measurement method of the rate of change in peel force over time ( AR2 ) according to Equation 2 (including a method of measuring release peel force A 60°C, 7 and A 60°C, 1 ) is described in the Examples section of this specification.
  • the upper limit of the release peel force A at 60°C and 1 in Equation 2 is 500 gf/inch, 400 gf/inch, 300 gf/inch, 200 gf/inch, 100 gf/inch, 50 gf/inch, and 30 gf/inch. , may be about 20 gf/inch or 10 gf/inch, and the lower limit may be about 1 gf/inch or 5 gf/inch.
  • the release peel force is below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits and below or below any of the above-described upper limits. It can be within range. Since the present application has a release peeling force (A 60°C, 1 ) that satisfies the above range, it is possible to provide a release layer having an appropriate level of release peeling force and residual adhesion rate even at high temperatures.
  • the upper limit of the release peeling force A at 60°C and 7 in Equation 2 is 500 gf/inch, 400 gf/inch, 300 gf/inch, 200 gf/inch, 100 gf/inch, 50 gf/inch, and 30 gf/inch. , it may be about 20 gf/inch or 10 gf/inch, and the lower limit may be about 1 gf/inch or 5 gf/inch.
  • the release peel force is below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits and below or below any of the above-described upper limits. It can be within range. By satisfying the above range, the present application can provide a release layer that has an appropriate level of release peeling force and residual adhesion rate even over time at high temperatures.
  • the upper limit of the rate of change in peel force over time ( AR3 ) at room temperature (about 25°C) - 60°C according to Equation 3 below of the release layer of the present application is 30%, 29%, 28%, 27%, 26%, 25%, It may be around 20%, 15%, 10%, 9%, 8%, 7%, 6%, 5%, 4%, 3%, 2% or 1%, and the lower limit may be around 0% or 0.1%. there is.
  • the rate of change in peel strength over time at room temperature (about 25°C) - 60°C is below or below any one of the upper limits described above, or above or above any one of the lower limits described above, and It may be within a range that is below or below any one of the upper limits. By satisfying the above range, the present application can stably maintain the desired release characteristics even when the release layer is maintained for a long period of time in an environment with temperature changes.
  • a R3 100 ⁇
  • a 1 is obtained by maintaining the adhesive layer attached to the release layer at 25°C for 24 hours and then attaching the adhesive layer to the release layer at 25°C at a peeling angle of 180 degrees and a peeling speed of 0.3 m/min. This is the release peel force measured while peeling from
  • a 60°C,7 is the adhesive layer attached to the release layer maintained at 60°C for 168 hours and then peeled off at a peeling angle of 180 degrees and a peeling speed of 0.3 m/min for 25 hours. It may be a release peel force measured while peeling the adhesive layer from the release layer at °C.
  • Equation 3
  • a 60°C,7 - A 1 means the absolute value of the difference between A 60°C,7 and A 1 .
  • the release layer of the present application may have a peel force ratio (A R4 ) according to the peel speed according to Equation 4 below within a predetermined range.
  • the lower limit of the peel force ratio ( AR4 ) depending on the peel speed could be 50%, 100%, 150%, 155%, 160%, 165%, 170%, 175%, 180%, or 185%.
  • the upper limits are 600%, 590%, 580%, 570%, 560%, 550%, 540%, 530% or 520%, 500%, 450%, 400%, 350%, 300%, 250% , it may be around 200% or 190%.
  • the peel force ratio according to the peel speed is below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any of the above-described lower limits, and is within any of the above-described upper limits. It may be within a range below or below the upper limit.
  • the present application can provide a release layer that exhibits a relatively high peeling force when peeling at a relatively low speed and a relatively low peeling force when peeling at a relatively high speed.
  • the release layer can stably exhibit the balance of peeling force according to the peeling speed even under high temperature conditions.
  • a R4 100 ⁇ A H /A L
  • Equation 4 A H is maintained at 60°C for 24 hours with the adhesive layer attached to the release layer, and then the adhesive layer is separated from the release layer at 25°C at a peeling angle of 180 degrees and a peeling speed of 30 m/min.
  • a L is the release peel force measured while peeling from the release layer, and A L is the adhesive layer attached to the release layer maintained at 60°C for 24 hours and then peeled off at a peeling angle of 180 degrees and a peeling speed of 0.3 m/min at 25°C. It may be a release peeling force measured while peeling the adhesive layer from the release layer.
  • the release layer of the present application may have a residual adhesion rate (A d ) within a predetermined range according to Equation 5 below.
  • the lower limit of the residual adhesion rate (A d ) may be about 80%, 82.5%, 85%, 87.5%, or 90%, and the upper limit may be about 100% or 99%.
  • the residual adhesion rate is above or above any one of the above-described lower limits, or above or above any one of the above-described lower limits and below or below any one of the above-described upper limits. It can be within range.
  • the release layer according to an example of the present application has a residual adhesion rate (A d ) that satisfies the above range, the release property can be stably maintained even after the adhesive layer is attached to the release layer several times and then peeled off.
  • Residual adhesion rate (A d ) 100 ⁇ A f /A i
  • a i is the state in which the adhesive layer is attached to the release layer at 25°C for 24 hours, and then the adhesive layer is separated from the release layer at 25°C at a peeling angle of 180 degrees and a peeling speed of 0.3 m/min. is the release peeling force measured while peeling from, and A f is the peeling angle of 180 degrees and 0.3 m/min after measuring A i and maintaining the adhesive layer attached to the release layer again at 25°C for 24 hours. It may be a release peel force measured while peeling the adhesive layer from the release layer at 25°C at a peeling rate of .
  • Equation 5 The specific measurement method of the residual adhesion rate (A d ) in Equation 5 (method of measuring release peel force A f and A i ) is described in the Example section.
  • the upper limit of the release peeling force A i of Equation 5 is 500 gf/inch, 400 gf/inch, 300 gf/inch, 200 gf/inch, 100 gf/inch, 50 gf/inch, or It may be about 25 gf/inch, and the lower limit may be about 1 gf/inch or 5 gf/inch.
  • the release peel force is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits. However, it may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the release layer according to an example of the present application has a release peeling force that satisfies the above range, it can be said to have an appropriate level of release peeling force and residual adhesion rate.
  • the lower limit of the release peeling force A f of Equation 5 may be about 1 gf/inch or 5 gf/inch, and the upper limit is 500 gf/inch, 400 gf/inch, and 300 gf/inch. , 200 gf/inch, 100 gf/inch, 50 gf/inch or 25 gf/inch.
  • the release peel force is above or above any one of the above-described lower limits, below or below any one of the above-described upper limits, or above or above any one of the above-described lower limits. However, it may be within a range that is below or below any one of the upper limits described above.
  • the present application provides a release layer having an appropriate level of release peel force and residual adhesion rate by satisfying the residual adhesion rate (A d ) according to Equation 5 while having a release peel force (A f ) that satisfies the above range. can do.
  • the present application also relates to release films.
  • the release film may include a base film and a release layer formed on one or both sides of the base film.
  • the type of base film of the release film according to an example of the present application is not particularly limited.
  • a base film that can generally be applied to form a release film can be used.
  • the base film includes poly(ethylene terephthalate) (PET) film, poly(tetrafluoroethylene) (PTFE) film, polypropylene (PP) film, polyethylene (PE) film, polyimide film, polyamide film, and COP.
  • PET poly(ethylene terephthalate)
  • PTFE poly(tetrafluoroethylene)
  • PP polypropylene
  • PE polyethylene
  • PE polyimide film
  • polyamide film polyamide film
  • COP poly(cyclic olefin polymer) film, polybutene film, polybutadiene film, vinyl chloride copolymer film, polyurethane film, ethylene-vinyl acetate film, ethylene-propylene copolymer film, ethylene-ethyl acrylate copolymer film, ethylene-methyl acrylate Copolymer films and/or polyimide films may be used, but are not limited thereto.
  • the base film may be composed of a single layer or two or more layers may be laminated, and in some cases, it may additionally include a functional layer such as an antifouling layer or an antistatic layer.
  • a functional layer such as an antifouling layer or an antistatic layer.
  • surface treatment such as primer treatment may be additionally performed on one or both sides of the substrate.
  • the thickness of the base film is appropriately selected depending on the purpose and is not particularly limited, and can typically be formed to a thickness of 5 ⁇ m to 500 ⁇ m, 5 ⁇ m to 250 ⁇ m, or 5 ⁇ m to 100 ⁇ m.
  • the release film of the present application can be manufactured in a known manner.
  • the release film of the present application may be manufactured by forming a release layer by applying the release composition according to an example of the present application to one or both sides of a substrate and then curing it.
  • the application method of the release composition is not particularly limited as long as it is commonly used in the art, and examples include knife coating, roll coating, or reverse coating.
  • forming the release layer can be performed after sufficiently removing bubble-causing components such as volatile components or reaction residues of the release composition.
  • the method of curing the release composition is not particularly limited, and may be cured through an appropriate aging process or in an appropriate high temperature environment or light irradiation environment as described above.
  • the thickness of the release layer included in the release film is not particularly limited and may be, for example, 10 nm to 10 ⁇ m, 10 nm to 1 ⁇ m, or 10 nm to 100 nm.
  • this application relates to adhesive films.
  • the adhesive film according to an example of the present application may include the above-described release layer and an adhesive layer to which the release layer is attached. By including the release layer, the adhesive layer can be protected until it is used.
  • the release layer of the adhesive film according to an example of the present application is as described above.
  • the adhesive forming the adhesive layer of the adhesive film according to an example of the present application is not particularly limited.
  • the adhesive forming the adhesive layer can be appropriately selected and used as a base polymer such as acrylic polymer, silicone polymer, polyester, polyurethane, polyamide, polyether, or fluorine-based or rubber-based polymer.
  • a base polymer such as acrylic polymer, silicone polymer, polyester, polyurethane, polyamide, polyether, or fluorine-based or rubber-based polymer.
  • This application provides a release composition, release layer, release film, and adhesive film.
  • the release composition of the present application has excellent curability, it can be stably cured to form a release layer.
  • the present application can provide a release composition that exhibits a stable residual adhesion rate even when the release layer is repeatedly applied to an adhesive layer, etc. when the release layer is formed.
  • the release layer of the present application can maintain the desired release characteristics even when maintained for a long time at room temperature and high temperature. Additionally, the release layer can stably maintain the balance between high-speed and low-speed peeling forces.
  • a specimen was prepared by laminating the adhesive layer of a standard tape (TESA, TESA7475) having an adhesive layer on the surface of the release layer of the release film prepared with the release composition of Examples or Comparative Examples.
  • the attachment was performed by placing the adhesive layer of the standard tape on the release layer and then moving a roller with a load of 2.5 kg back and forth three times.
  • the specimen was kept at room temperature (about 25°C) for 24 hours and the release peel force was measured, or the release peel force was measured after being maintained at 60°C for 24 hours.
  • This release peel force is measured by peeling the standard tape using a physical property measuring device (Cheminstruments, AR-1000) at a peel angle of 180 degrees and a peel speed of 0.3 m/min (low-speed peel force), or by peeling at 180 degrees. Measurements were made while peeling the standard tape at an angle and a peel speed of 30 m/min (high-speed peel force). The peel force was measured at room temperature (about 25°C).
  • the room temperature peel strength change rate over time ( AR1 ) was measured according to Equation 1 below.
  • a R1 100 ⁇
  • a 1 is a specimen prepared by laminating a standard tape (TESA, TESA7475) to the release layer of the release film in the same manner as described in the release peel force measurement method at room temperature (about 25°C) for about 24 hours. This is the release peel force measured after maintenance. This release peeling force was measured by peeling the standard tape at room temperature (about 25°C) at a peeling angle of 180 degrees and a peeling speed of 0.3 m/min using a physical property measuring device (Cheminstruments, AR-1000).
  • A7 in Equation 1 is the release peeling force measured after maintaining the specimen at room temperature (about 25°C) for 168 hours, and the release peeling force was also measured at a peeling angle of 180 degrees using a physical property measuring device (Cheminstruments, AR-1000). and was measured while peeling the standard tape at room temperature (about 25°C) at a peeling speed of 0.3 m/min.
  • the rate of change in peel force over time ( AR2 ) at 60°C was measured according to Equation 2 below.
  • a R2 100 ⁇
  • a 60°C,1 is a specimen prepared by laminating a standard tape (TESA, TESA7475) to the release layer of the release film in the same manner as described in the release peel force measurement method and maintaining it at 60°C for 24 hours. It is the release peel force measured after the release, and A 60°C, 7 in Equation 2 is manufactured by laminating a standard tape (TESA, TESA7475) to the release layer of the release film in the same manner as described in the release peel force measurement method. This is the release peel force measured after the specimen was kept at 60°C for 168 hours. The release peel force was measured by peeling the standard tape at room temperature (about 25°C) at a peel angle of 180 degrees and a peel speed of 0.3 m/min using a physical property measuring device (Cheminstruments, AR-1000).
  • the rate of change in peel strength over time ( AR3 ) at room temperature - 60°C was measured according to Equation 3 below.
  • a R3 100 ⁇
  • a 1 is a specimen prepared by laminating a standard tape (TESA, TESA7475) to the release layer of the release film in the same manner as described in the release peel force measurement method at room temperature (about 25°C) for 24 hours. This is the release peeling force measured after holding the specimen, and A 60°C, 7 is the release peeling force measured after maintaining the specimen at 60°C for 168 hours.
  • the release peel force was measured by peeling the standard tape at room temperature (about 25°C) at a peel angle of 180 degrees and a peel speed of 0.3 m/min using a physical property measuring device (Cheminstruments, AR-1000).
  • the peel force ratio ( AR4 ) according to peel speed was measured according to Equation 4 below.
  • a R4 100 ⁇ A H /A L
  • Equation 4 A H is measured after maintaining a specimen prepared by laminating a standard tape (TESA, TESA7475) to the release layer of the release film in the same manner as described in the release peel force measurement method at 60°C for 24 hours. This is the one-shaped peeling force.
  • This release peeling force was measured by peeling the standard tape at room temperature (about 25°C) at a peeling angle of 180 degrees and a peeling speed of 30 m/min using a physical property measuring device (Cheminstruments, AR-1000).
  • a L in Equation 4 is the release peeling force measured after maintaining the specimen at 60°C for 24 hours, using a physical property measuring device (Cheminstruments, AR-1000) at a peeling angle of 180 degrees and a peeling speed of 0.3 m/min. This is the release peel force measured while peeling the tape at room temperature (about 25°C) at a speed.
  • the residual adhesion rate (A d ) was measured according to Equation 5 below.
  • a d 100 ⁇ A f /A i
  • a i is a specimen manufactured by laminating a standard tape (TESA, TESA7475) to the release layer of the release film in the same manner as described in the release peel force measurement method at room temperature (about 25°C) for about 24 hours. This is the release peeling force measured after maintaining the time, while peeling the standard tape at room temperature (about 25°C) at a peeling angle of 180 degrees and a peeling speed of 0.3 m/min using a physical property measuring device (Cheminstruments, AR-1000). This is the measured release peeling force.
  • a f in Equation 5 is obtained by measuring A i and then laminating a standard tape (TESA, TESA7475) to the release layer of the same release film in the same manner as described in the release peel force measurement method at room temperature.
  • This is the release peeling force measured after holding at (about 25°C) for 24 hours, using a physical property measuring device (Cheminstruments, AR-1000) at room temperature (about 25°C) at a peeling angle of 180 degrees and a peeling speed of 0.3 m/min. This is the release peeling force measured while peeling off the standard tape.
  • the curing property of the release composition was evaluated using the Rub-off evaluation method for the release layer of the release film manufactured with the release composition of the above Examples or Comparative Examples.
  • the rub-off evaluation method is an evaluation method that observes changes that occur after rubbing the surface of the release layer three times with a constant load while wearing latex gloves.
  • Curability was evaluated based on the following criteria.
  • Weight average molecular weight (Mw) and polydispersity index (PDI) were measured using gel permeation chromatography (GPC).
  • the unit of weight average molecular weight (Mw) and number average molecular weight (Mn) mentioned in this specification is g/mol.
  • sample to be analyzed in a 20 mL vial, dilute with THF (tetrahydrofuran) to a concentration of about 20 mg/mL, and pass the standard sample for calibration and the sample to be analyzed through a syringe filter (pore size: 0.2 ⁇ m). ) and then measured molecular weight characteristics.
  • THF tetrahydrofuran
  • Mw weight average molecular weight
  • a polyorganosiloxane of the following formula A was prepared.
  • x is a number around 1,000
  • y is a number around 60
  • z is a number around 60.
  • P4-t-butyl-phosphazene (C) and chlorodimethylvinyl silane (S) were further added to the mixture (second mixture). The addition was carried out at a weight ratio of approximately 6250:2.5:1 (primary mixture:C:S).
  • the secondary mixture was polymerized at a temperature of about 60° C. for 12 hours to prepare the polyorganosiloxane component of Chemical Formula A.
  • the weight average molecular weight of the polyorganosiloxane component was about 600,000 g/mol, and the polydispersity index was about 1.85.
  • a polyorganosiloxane of the following formula B was prepared.
  • x is a number around 1,000
  • y is a number around 60
  • z is a number around 7 to 8.
  • the preparation of the polyorganosiloxane component of Chemical Formula B was carried out in the same manner as the polyorganosiloxane component of Chemical Formula A. However, when preparing the polyorganosiloxane component of Chemical Formula B, octamethylcyclotetrasiloxane was used during the preparation of the first mixture.
  • a polyorganosiloxane of the following formula C was prepared.
  • x is a number around 1,000
  • y is a number around 11
  • z is a number around 70.
  • the polyorganosiloxane component of Chemical Formula C was prepared in the same manner as Preparation Example 1. However, when preparing the polyorganosiloxane component of Chemical Formula C, octamethylcyclotetrasiloxane (M) and 1,3,5,7-tetramethyl-1,3,5,7-tetravinyl are used in the primary mixture.
  • the weight ratio of cyclotetrasiloxane (1,3,5,7-tetramethyl-1,3,5,7-tetravinylcyclotetrasiloxane, V) and octaphenylcyclotetrasiloxane (P) is 145:1: It was adjusted to about 10 (M:V:P).
  • the weight average molecular weight of the polyorganosiloxane component of Formula C was about 600,000 g/mol, and the polydispersity index was about 1.85.
  • Polyorganosiloxane of the following formula E (KS-847H, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 350,000 g/mol), polyorganosiloxane of the formula F below (X-92-122, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 10,000 g) /mol), platinum catalyst (PL-50L, Shinetsu Silicone) (C) and the polyorganosiloxane component (A) of Preparation Example 1 at a weight ratio of 5:0.1:0.15:0.5 (E:F:C:A) and dispersed in a solvent to prepare a release composition.
  • the solvent (S) includes THF (Tetrahydrofuran), MEK (Methylethyl Ketone), toluene (T), and n-heptane (n-Heptane, H) in a ratio of 50:30:10:10 (THF:MEK:T: H) was used mixed in a weight ratio.
  • n is a number around 12 to 13.
  • a is a number around 34 to 36
  • b is a number around 34 to 36.
  • Polyorganosiloxane of the formula E (KS-847H, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 350,000 g/mol), polyorganosiloxane of the formula F (X-92-122, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 10,000 g) /mol), the weight of the platinum catalyst (PL-50L, Shinetsu Silicone) (C) and the polyorganosiloxane component (A) of Preparation Example 1 is 5:0.1:0.15:2.5 (E:F:C:A)
  • a release composition was prepared by mixing in proportions and dispersing in a solvent.
  • the solvent (S) the same solvent as in Example 1 was used.
  • Polyorganosiloxane of the formula E (KS-847H, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 350,000 g/mol), polyorganosiloxane of the formula F (X-92-122, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 10,000 g) /mol), the weight of the platinum catalyst (PL-50L, Shinetsu Silicone) (C) and the polyorganosiloxane component (A) of Preparation Example 1 is 5:0.1:0.15:12.5 (E:F:C:A)
  • a release composition was prepared by mixing in proportions and dispersing in a solvent.
  • the solvent (S) the same solvent as in Example 1 was used.
  • the polyorganosiloxane component (B) of Preparation Example 2 was used.
  • the weight of the platinum catalyst (PL-50L, Shinetsu Silicone) (C) and the polyorganosiloxane component (B) of Preparation Example 2 is 5:0.1:0.15:0.5 (E:F:C:B)
  • a release composition was prepared by mixing in proportions and dispersing in a solvent.
  • the solvent (S) the same solvent as in Example 1 was used.
  • Polyorganosiloxane of the formula E (KS-847H, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 350,000 g/mol), polyorganosiloxane of the formula F (X-92-122, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 10,000 g) /mol), the weight of the platinum catalyst (PL-50L, Shinetsu Silicone) (C) and the polyorganosiloxane component (B) of Preparation Example 2 is 5:0.1:0.15:2.5 (E:F:C:B)
  • a release composition was prepared by mixing in proportions and dispersing in a solvent.
  • the solvent (S) the same solvent as in Example 1 was used.
  • Polyorganosiloxane of the formula E (KS-847H, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 350,000 g/mol), polyorganosiloxane of the formula F (X-92-122, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 10,000 g) /mol), the weight of the platinum catalyst (PL-50L, Shinetsu Silicone) (C) and the polyorganosiloxane component (B) of Preparation Example 2 is 5:0.1:0.15:10 (E:F:C:B)
  • a release composition was prepared by mixing in proportions and dispersing in a solvent.
  • the solvent (S) the same solvent as in Example 1 was used.
  • Polyorganosiloxane of the formula E (KS-847H, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 350,000 g/mol), polyorganosiloxane of the formula F (X-92-122, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 10,000 g) /mol), the weight of the platinum catalyst (PL-50L, Shinetsu Silicone) (C) and the polyorganosiloxane component (B) of Preparation Example 2 is 5:0.1:0.15:12.5 (E:F:C:B)
  • a release composition was prepared by mixing in proportions and dispersing in a solvent.
  • the solvent (S) the same solvent as in Example 1 was used.
  • Polyorganosiloxane of the formula E (KS-847H, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 350,000 g/mol), polyorganosiloxane of the formula F (X-92-122, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 10,000 g) /mol), the weight of the platinum catalyst (PL-50L, Shinetsu Silicone) (C) and the polyorganosiloxane component (B) of Preparation Example 2 is 5:0.1:0.15:20 (E:F:C:B)
  • a release composition was prepared by mixing in proportions and dispersing in a solvent.
  • the solvent (S) the same solvent as in Example 1 was used.
  • the polyorganosiloxane component (D) of Preparation Example 3 was used.
  • the weight of the platinum catalyst (PL-50L, Shinetsu Silicone) (C) and the polyorganosiloxane component (D) of Preparation Example 3 is 5:0.1:0.15:2.5 (E:F:C:D)
  • a release composition was prepared by mixing in proportions and dispersing in a solvent.
  • the solvent (S) the same solvent as in Example 1 was used.
  • Polyorganosiloxane of the formula E (KS-847H, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 350,000 g/mol), polyorganosiloxane of the formula F (X-92-122, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 10,000 g) /mol), the weight of the platinum catalyst (PL-50L, Shinetsu Silicone) (C) and the polyorganosiloxane component (D) of Preparation Example 3 is 5:0.1:0.15:12.5 (E:F:C:D)
  • a release composition was prepared by mixing in proportions and dispersing in a solvent.
  • the solvent (S) the same solvent as in Example 1 was used.
  • Polyorganosiloxane of the formula E (KS-847H, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 350,000 g/mol)
  • polyorganosiloxane of the formula F (X-92-122, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 10,000 g) /mol)
  • platinum catalyst (PL-50L, Shinetsu Silicone) (C)
  • E KS-847H, Shinetsu Silicone
  • polyorganosiloxane of the formula F (X-92-122, Shinetsu Silicone) (weight average molecular weight about 10,000 g) /mol)
  • platinum catalyst P-50L, Shinetsu Silicone
  • a release film was manufactured using the release composition of the above Examples or Comparative Examples.
  • the release film was manufactured by applying the release composition of Examples or Comparative Examples to one side of the base film using a Meyer bar and then curing the applied release composition by holding it at 150°C for 3 minutes to form a release layer.
  • the thickness of the release layer was about 200 nm to 300 nm, and a PET (polyethylene terephthalate) film with a thickness of about 50 ⁇ m was used as the base film.
  • Example 1 A 1 A 7 A R1 (%) A 60°C,1 A 60°C,7 A R2 (%) Example 1 24.4 27 10.7 25.1 26.3 4.78 7.79 Example 2 18.1 18.2 0.55 17.8 18.4 3.37 1.66 Example 3 14.9 16.2 8.72 15.7 16.9 7.64 13.4 Example 4 17.4 18.2 4.60 16.8 19.9 18.5 14.4 Example 5 13 13.3 2.31 13.8 14.2 2.90 9.23 Example 6 9.7 10.3 6.19 10.8 12.1 12.0 24.7 Example 7 8 8.5 6.25 8.2 9.2 12.2 15 Example 8 28.7 28.8 0.35 28.8 27.3 5.21 13.3 Example 9 24.6 25.9 5.28 24.5 24.4 0.41 0.81 Example 10 13.4 13.8 2.99 13.8 13.6 1.45 1.49 Comparative Example 1 26.6 32 20.3 27.6 27.2 1.45 2.26
  • a 1 , A 7 and A R1 are as defined in Equation 1
  • a 60°C,1 , A 60°C,7 and A R2 are as defined in Equation 2
  • a R3 is as defined in Equation 3.
  • a H , A L and A R4 are as defined in Equation 4, and the residual adhesion rate is as defined in Equation 5.

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Abstract

본 출원은, 이형 조성물, 이형층, 이형 필름 및 점착 필름을 제공한다. 본 출원의 이형 조성물은 우수한 경화성을 지니므로 안정적으로 경화되어 이형층을 형성할 수 있다. 본 출원은, 상기 이형층을 형성하였을 때에 이형층이 반복적으로 점착제층 등에 적용되는 경우에도 안정적인 잔류 접착률을 나타내도록 하는 이형 조성물을 제공할 수 있다. 본 출원의 이형층은 상온 및 고온에서 장시간 유지되는 경우에도 목적하는 이형 특성을 유지할 수 있다. 또한, 상기 이형층은 고속 및 저속 박리력의 밸런스를 안정적으로 유지할 수 있다.

Description

이형 조성물
관련 출원들과의 상호 인용
본 출원은 2022년 3월 22일자로 제출된 대한민국 특허출원 제 10-2022-0035335호에 기초하여 우선권을 주장하며, 해당 대한민국 특허출원 문헌에 개시된 내용은 본 명세서의 일부로서 포함된다.
기술분야
본 출원은 이형 조성물, 이형층, 이형 필름 및 점착 필름에 관한 것이다.
이형 필름은 점착면 또는 접착면을 보호하는 용도, 캐리어(Carrier)의 용도 및 코팅 기재 등의 용도로 활용되고 있다. 예를 들면, 소위 경박 또는 중박 이형 필름은 광학용 접착 소재(OCA, optically clear adhesive)의 보호를 위해 적용될 수 있다. 또한, 이형 필름은, 테이프 등의 캐리어 역할이나, 적층 세라믹 콘덴서(MLCC, Multi-Layer Ceramic Capacitor)의 코팅 기재 등으로도 활용될 수 있다.
예를 들면, 특허문헌 1은, 폴리올레핀, 이소시아네이트 화합물 및 폴리올레핀 폴리올을 함유하는 박리제 조성물(이형 조성물)로 형성된 박리층(이형층)을 가지는 박리 시트를 개시한다.
특허문헌 1에 개시된 방법 외에도 이형 필름의 이형층은 실리콘계 화합물을 사용하여 형성할 수도 있다.
그렇지만, 실리콘계 화합물을 사용하여 형성한 이형층은, 경화가 잘 되지 않거나 비실리콘계 화합물을 사용하여 형성한 이형층에 비해 잔류접착율이 낮은 문제가 있다. 또한, 이러한 이형층은 통상적으로 기재 필름과 높은 결합력을 가지지 않고, 기재 필름에 장시간 부착되어 있으면 점착력이 상승하는 경향이 있다.
따라서, 적절한 경화성, 높은 잔류 접착률을 확보하면서도 상온 및 고온에서 장시간 유지되는 경우에도 이형층의 이형 박리 특성이 유지되는 것은 중요한 과제이다.
또한, 이형 필름은 제품의 사용이나 다른 제품의 조립을 위하여 보호 필름을 빠른 속도로 박리할 때에는 박리력(이하, 고속 박리력이라 칭한다.)이 상대적으로 낮을 것이 요구된다. 반면, 느린 속도로 박리할 때의 박리력(이하, 저속 박리력이라 칭한다.)은 상대적으로 높을 것이 요구된다.
이형 필름은 저속 박리력이 적절하지 못하면 품질 문제가 발생할 수 있고, 고속 박리력이 적절하지 못하면 박리시 피착제가 파손되는 문제가 발생할 수 있다. 따라서, 이형 필름이 고속 및 저속 박리력의 밸런스를 갖추는 것은 중요한 과제이다.
(특허문헌 0001) 일본 공개특허공보 제 2011-52207호
본 출원은, 이형 조성물, 이형층, 이형 필름 및 점착 필름을 제공한다.
본 출원은 우수한 경화성을 지니므로 안정적으로 경화되어 이형층을 형성할 수 있는 이형 조성물을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 출원은 상기 이형층을 형성하였을 때에, 이형층이 반복적으로 점착제층 등에 적용되는 경우에도 안정적인 잔류 접착률을 나타내도록 하는 이형 조성물을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 출원은 상온 및 고온에서 장시간 유지되는 경우에도 목적하는 이형 특성을 유지할 수 있는 이형층을 제공하는 것을 목적으로 한다.
또한, 본 출원은 고속 및 저속 박리력의 밸런스를 안정적으로 유지할 수 있는 이형층을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 명세서에서 언급하는 물성 중에서 측정 온도가 해당 물성에 영향을 미치는 경우, 특별히 달리 규정하지 않는 한, 해당 물성은 상온에서 측정한 물성이다.
용어 상온은, 인위적으로 가열 및 냉각되지 않은 자연 그대로의 온도이고, 예를 들면, 10℃ 내지 30℃의 범위 내의 어느 한 온도, 또는 약 15℃ 이상, 약 18℃ 이상, 약 20℃ 이상 또는 약 23℃ 이상이면서, 약 27℃ 이하인 온도 또는 약 25℃ 정도의 온도를 의미할 수 있다.
특별히 달리 규정하지 않는 한, 본 명세서에서 온도의 단위는 ℃이다.
본 출원에서 언급하는 물성 중에서 측정 압력이 해당 물성에 영향을 미치는 경우, 특별히 달리 규정하지 않는 한, 해당 물성은 상압에서 측정한 물성이다.
본 명세서에서 용어 상압은, 인위적으로 가압 및 감압되지 않은 자연 그대로의 압력이고, 보통 대기압 수준의 압력, 예를 들면, 0.9 atm 내지 1.2 atm의 범위 내의 어느 한 압력 또는 약 740 mmHg 내지 780 mmHg의 범위 내의 어느 한 압력을 의미할 수 있다.
본 출원에서 사용되는 용어인 상대습도(relative humidity)는 단위 부피의 공기가 최대로 함유할 수 있는 포화수증기압 대비 단위 부피의 현재 공기가 함유하는 수증기양의 비율을 백분율(%)로 표시한 것으로서, RH%로 표기할 수 있다. 본 출원에서 언급하는 물성 중에서 상대습도가 그 물성에 영향을 미치는 경우에는 특별히 달리 규정하지 않는 한, 해당 물성은 상습 환경(약 30 RH% 내지 70 RH%)에서 측정한 물성이다.
본 출원에서 사용되는 용어인 a 내지 b는, a 및 b를 포함하면서 a와 b 사이의 범위 내를 의미한다. 예를 들면, a 내지 b 중량부로 포함한다는 a 내지 b 중량부의 범위 내로 포함한다는 의미와 동일하다.
본 명세서에서 용어 중량평균분자량(Mw) 및 수평균분자량(Mn)은 GPC(Gel
permeation chromatography)를 사용하여 측정한 물성이고, 용어 다분산지수(PDI,
polydisersity index)는, 상기 중량평균분자량(Mw)을 상기 수평균분자량(Mn)으로
나눈 값(Mw/Mn)이다. 본 명세서에서 언급하는 중량평균분자량(Mw) 및 수평균
분자량(Mn)의 단위는 g/mol이다. 중량평균분자량(Mw), 수평균분자량(Mn) 및 다분산 지수를 측정하는 구체적인 방법은 실시예 항목에 정리되어 있다.
본 명세서에서 용어 알킬기 또는 알콕시기는, 다른 기재가 없는 한, 탄소수 1 내지 20, 또는 탄소수 1 내지 16, 또는 탄소수 1 내지 12, 또는 탄소수 1 내지 8, 또는 탄소수 1 내지 6, 또는 탄소수 1 내지 4의 직쇄 또는 분지쇄의 알킬기 또는 알콕시기이거나, 탄소수 3 내지 20, 또는 탄소수 3 내지 16, 또는 탄소수 3 내지 12, 또는 탄소수 3 내지 8, 또는 탄소수 3 내지 6의 고리형 알킬기 또는 알콕시기일 수 있다. 상기에서 고리형 알킬기 또는 알콕시기의 범주에는 고리 구조로만 있는 알킬기 또는 알콕시기와 고리 구조를 포함하는 알킬기 또는 알콕시기도 포함한다. 예를 들면, 사이클로헥실기와 메틸 사이클로헥실기는 모두 고리형 알킬기에 해당한다.
본 명세서에서 용어 알케닐기는 다른 기재가 없는 한 탄소수 2 내지 20, 또는 탄소수 2 내지 16, 또는 탄소수 2 내지 12, 또는 탄소수 2 내지 8, 또는 탄소수 2 내지 6 또는 탄소수 2 내지 4의 직쇄 또는 분지쇄의 비고리형 알케닐기이거나, 또는 탄소수 3 내지 20, 또는 탄소수 3 내지 16, 또는 탄소수 3 내지 12, 또는 탄소수 3 내지 8, 또는 탄소수 3 내지 6의 고리형 알케닐기일 수 있다. 상기에서 고리형 알케닐기의 범주에는 고리 구조로만 있는 알케닐기 및 고리 구조를 포함하는 알케닐기도 포함한다.
본 명세서에서 용어 알키닐기는 다른 기재가 없는 한 탄소수 2 내지 20, 또는 탄소수 2 내지 16, 또는 탄소수 2 내지 12, 또는 탄소수 2 내지 8, 또는 탄소수 2 내지 6 또는 탄소수 2 내지 4의 직쇄 또는 분지쇄의 알키닐기이거나, 탄소수 3 내지 20, 또는 탄소수 3 내지 16, 또는 탄소수 3 내지 12, 또는 탄소수 3 내지 8, 또는 탄소수 3 내지 6의 고리형의 알키닐기일 수 있다. 여기서, 고리 구조의 알키닐기를 포함하면 고리형 알키닐기에 해당한다.
상기 알킬기, 알콕시기, 알케닐기 및 알키닐기는 임의의 하나 이상의 치환기에 의해 치환되어 있을 수도 있다. 이 경우 치환기는, 할로겐(클로린(Cl), 아이오딘(I), 브로민(Br), 플루오린(F)), 아릴기, 헤테로아릴기, 에폭시기, 알콕시기, 시아노기, 카르복실기, 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 아크릴로일옥시기, 메타크릴로일옥시기, 카르보닐기 및 히드록시기로 이루어진 군에서 선택되는 하나 이상일 수 있지만, 이에 제한되는 것은 아니다.
본 명세서에서 용어 아릴기는 방향족 탄화수소 고리 화합물로부터 하나의 수소가 제거되어 형성된 치환기를 의미하고, 상기 방향족 탄화수소 고리 화합물은 단환식 또는 다환식 고리형 화합물일 수 있다. 상기 아릴기는 탄소수를 특별히 한정하지 않으나 다른 기재가 없는 한, 상기 아릴기는, 탄소수 6 내지 20, 또는 탄소수 6 내지 18, 또는 탄소수 2 내지 15의 아릴기일 수 있다.
상기 아릴기로는, 페닐기, 페닐에틸기, 페닐프로필기, 벤질기, 톨릴기, 크실릴기(xylyl group) 또는 나프틸기 등이 예시될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
상기 아릴기는 임의로 하나 이상의 치환기에 의해 치환되어 있을 수도 있다. 이 경우 치환기는, 할로겐(클로린(Cl), 아이오딘(I), 브로민(Br), 플루오린(F)), 아릴기, 헤테로아릴기, 에폭시기, 알콕시기, 시아노기, 카르복실기, 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 아크릴로일옥시기, 메타크릴로일옥시기, 카르보닐기 및 히드록시기로 이루어진 군에서 선택되는 하나 이상일 수 있지만, 이에 제한되는 것은 아니다.
본 명세서에서 용어 1가 탄화수소기는, 탄화수소(탄소와 수소로 이루어진 유기 화합물)에서 유래되는 1가의 치환기를 의미한다. 이러한 1가 탄화수소기의 탄소수는 1 내지 20, 1 내지 16, 1 내지 12, 1 내지 8 또는 1 내지 4의 범위 내일 수 있다. 상기 1가 탄화수소기의 예에는, 알킬기, 알케닐기, 알키닐기 또는 아릴기가 있다. 상기 알킬기, 알케닐기, 알키닐기 또는 아릴기는 각각 구체적으로 상기 본 명세서의 서두에서 기술한 알킬기, 알케닐기, 알키닐기 또는 아릴기일 수 있다.
본 출원은 이형 조성물에 대한 것이다. 용어 이형 조성물은, 이형층을 형성할 수 있는 조성물을 의미하고, 이 때 이형층의 의미는 업계에서 공지된 바와 같다.
상기 이형 조성물은 경화성 조성물일 수 있으며, 이러한 경우 상기 조성물은 경화 전 또는 후에 상기 이형층을 형성할 수 있다.
본 출원의 이형 조성물은, 폴리오가노실록산 성분을 포함할 수 있다.
용어 폴리오가노실록산은, 공지된 바와 같이 실록산 결합(Si-O-Si)으로 형성되는 사슬을 포함하는 고분자를 의미한다. 본 명세서에서 언급하는 폴리오가노실록산은, 1분자의 폴리오가노실록산이거나, 혹은 2분자 이상의 폴리오가노실록산의 혼합일 수 있다. 폴리오가노실록산은 고분자 화합물이고, 고분자 화합물을 형성하기 위한 중합 과정에서 1분자의 고분자만이 생성되는 경우도 있으나, 2분자 이상의 고분자가 생성되는 경우도 있기 때문에, 상기 용어 폴리오가노실록산의 의미에는 상기 2분자 이상의 폴리오가노실록산의 혼합도 포함된다.
폴리오가노실록산은, 통상 소위 M 단위, D 단위, T 단위 및 Q 단위로 이루어진 군에서 선택된 하나 이상의 실록산 단위를 포함하여 형성된다.
본 명세서에서 M 단위는, 통상 (R3SiO1/2)로 표시되는 경우가 있는 소위 일관능성 실록산 단위(즉, 규소 원자가 하나의 산소 원자에 연결되어 있는 구조의 실록산 단위)이고, D 단위는 통상 (R2SiO2/2)로 표시되는 경우가 있는 소위 이관능성 실록산 단위(즉, 규소 원자가 2개의 산소 원자에 연결되어 있는 구조의 실록산 단위)이며, T 단위는 통상 (RSiO3/2)로 표시되는 경우가 있는 소위 삼관능성 실록산 단위(즉, 규소 원자가 3개의 산소 원자에 연결되어 있는 구조의 실록산 단위)이고, Q 단위는, 통상 (SiO4/2)로 표시되는 경우가 있는 소위 사관능성 실록산 단위 (즉, 규소 원자가 4개의 산소 원자에 연결되어 있는 구조의 실록산 단위)이다.
본 출원의 폴리오가노실록산은, 특정한 실록산 단위를 포함하며, 그에 따라서 본 출원에서 목적으로 하는 이형층을 형성할 수 있다.
상기 폴리오가노실록산은, 전술한 바와 같이, 1분자의 폴리오가노실록산이거나, 혹은 2분자 이상의 폴리오가노실록산의 혼합물일 수 있다. 예를 들면, 상기 1분자의 폴리오가노실록산 또는 2분자 이상의 폴리오가노실록산의 혼합물은 후술하는 평균 단위를 가질 수 있다.
본 출원의 폴리오가노실록산 성분은 하기 화학식 1의 실록산 단위, 하기 화학식 2의 실록산 단위 및 하기 화학식 3의 실록산 단위를 가지는 폴리오가노실록산일 수 있다.
[화학식 1]
(R1 2SiO2/2)
[화학식 2]
(R1R2SiO2/2)
[화학식 3]
(R3 2SiO2/2)
화학식 1 내지 3에서 R1은 알킬기이고, R2는 알케닐기이며, R3는 아릴기일 수 있다. 화학식 1 내지 3에 포함되는 상기 알킬기, 알케닐기 및 아릴기의 구체적인 종류는 본 명세서의 서두에서 기술한 바와 같다.
본 출원의 폴리오가노실록산에 포함되는 전체 실록산 단위의 합계 몰수를 기준으로 상기 화학식 1 내지 3의 실록산 단위의 합계 몰수의 비율이 조정될 수 있다. 예를 들어서, 상기 화학식 1 내지 3의 실록산 단위의 합계 몰수의 비율(전체 실록산 단위의 합계 몰수 기준)의 하한은, 85 몰%, 86 몰%, 87 몰%, 88 몰%, 89 몰%, 90 몰%, 91 몰%, 92 몰%, 93 몰%, 94 몰%, 95 몰%, 96 몰%, 97 몰%, 98 몰% 또는 99 몰% 정도일 수 있고, 그 상한은 100 몰% 또는 99.9 몰% 정도일 수 있다. 상기 비율은 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 이러한 비율 하에서 적절한 경화성을 확보하고, 목적하는 이형 특성을 가지는 이형층을 형성할 수 있다.
본 출원의 폴리오가노실록산에서는 상기 화학식 1 내지 3의 실록산 단위 간의 비율도 조정될 수 있다.
예를 들어서, 상기 폴리오가노실록산에 포함되는 화학식 2의 실록산 단위의 몰수에 대한 화학식 1의 실록산 단위의 몰 수의 비율의 하한은, 0.5, 1, 5, 10, 15, 20, 25, 30, 35, 40, 45, 50, 55, 60, 65, 70, 75, 80, 85 또는 90 정도일 수 있고, 그 상한은, 2,000, 1,500, 1,000, 500, 400, 300, 200, 100, 90, 80, 70, 60, 50, 40, 30 또는 20 정도일 수 있다. 상기 비율은 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 이러한 비율 하에서 적절한 경화성을 확보하고, 목적하는 이형 특성을 가지는 이형층을 형성할 수 있다.
본 출원의 폴리오가노실록산에 포함되는 화학식 3의 실록산 단위의 몰수에 대한 화학식 1의 실록산 단위의 몰수의 비율의 하한은, 0.5, 1, 5, 10, 12, 14, 16, 18, 20, 25, 30, 40, 50, 60, 70, 80, 90, 100, 110, 120 또는 130 정도일 수 있고, 그 상한은 2,000, 1000, 500, 300, 200, 150, 140, 130, 120, 110, 100, 90, 80, 70, 60, 50, 40, 30 또는 20 정도일 수 있다. 상기 비율은 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 이러한 비율 하에서 적절한 경화성을 확보하고, 목적하는 이형 특성을 가지는 이형층을 형성할 수 있다.상기 폴리오가노실록산은, 상기 화학식 1 내지 3의 실록산 단위를 포함하는 한, 추가적인 다른 실록산 단위를 가질 수도 있다.
예를 들면, 본 출원의 폴리오가노실록산은 하기 화학식 4의 실록산 단위 및 하기 화학식 5의 실록산 단위로 이루어진 군에서 선택된 하나 이상의 실록산 단위를 추가로 포함할 수 있다.
[화학식 4]
(R1 3SiO1/2)
[화학식 5]
(R2R1 2SiO1/2)
화학식 4 및 5에서 R1은, 알킬기이고, R2는 알케닐기일 수 있다.
화학식 4 및 5의 상기 알킬기 및 상기 알케닐기의 구체적인 종류는 본 명세서의 서두에서 기술한 바와 같다.
상기 화학식 4 및 5의 실록산 단위는 각각 소위 M 단위이고, 이러한 단위는 폴리오가노실록산의 고분자 사슬의 말단 및/또는 측쇄에 결합되어서 존재할 수 있다. 하나의 예시에서 상기 폴리오가노실록산은 상기 화학식 4 및 5의 실록산 단위 중 어느 하나만을 포함하거나, 상기 양자를 모두 포함할 수 있다.
이러한 본 출원의 폴리오가노실록산은, 예를 들면, 하기 화학식 6의 평균 단위를 가질 수 있다.
[화학식 6]
R1 aR2 bR3 cR4 dSiO(4-a-b-c-d)/2
화학식 6에서 R1은 알킬기이고, R2는 알케닐기이며, R3는 아릴기이고, R4는 알콕시기, 히드록시기 또는 1가 탄화수소기일 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
화학식 6의 상기 알킬기, 상기 알케닐기, 아릴기, 알콕시기 및 1가 탄화수소기의 구체적인 종류는 본 명세서의 서두에서 기술한 바와 같다.
본 명세서에서 용어 폴리오가노실록산의 평균 단위는, 폴리오가노실록산이 포함하는 규소 원자의 몰수를 1몰로 가정하고, 이를 기준으로 상기 폴리오가노실록산이 포함하는 규소 원자에 직접 결합된 관능기와 링커(규소 원자와 규소 원자를 연결하는 링커)인 산소 원자의 평균적 몰수를 환산하여 표시한 식을 의미한다. 이러한 평균 단위는 1분자의 폴리오가노실록산에 대한 것이거나, 2분자 이상의 폴리오가노실록산의 혼합물에 대한 것일 수도 있다. 평균 단위가 2분자 이상의 폴리오가노실록산의 혼합물에 대한 것인 경우에는 상기 폴리오가노실록산에 포함되는 모든 규소 원자의 수를 1몰로 가정하여 상기 관능기 내지 링커의 비율을 계산한다.
화학식 6에서 규소 원자(Si)의 좌측에 표시된 R1, R2, R3 및 R4는 상기 규소 원자에 직접 연결되어 있는 관능기를 표시하고, 우측의 산소 원자(O)는, 상기 규소 원자와 규소 원자를 연결하는 링커를 표시한다.
화학식 6에서, a는, 상기 화합물이 포함하는 규소 원자의 몰수를 1몰로 가정하여 환산한 상기 관능기 R1의 몰수이고, 화학식 6에서, b는, 상기 화합물이 포함하는 규소 원자의 몰수를 1몰로 가정하여 환산한 상기 관능기 R2의 몰수이며, 화학식 6에서, c는, 상기 화합물이 포함하는 규소 원자의 몰수를 1몰로 가정하여 환산한 상기 관능기 R3의 몰수이고, 화학식 6에서, d는, 상기 화합물이 포함하는 규소 원자의 몰수를 1몰로 가정하여 환산한 상기 관능기 R4의 몰수이다.
또한, 화학식 6에서 (4-a-b-c-d)는, 상기 화합물이 포함하는 규소 원자의 몰수를 1몰로 가정하여 환산한 상기 링커인 산소 원자(O)의 몰수이다. 링커인 산소 원자(O)의 경우, 2개의 규소 원자가 결합되어 있기 때문에, 상기 몰수를 2로 나누어 표시한다.
화학식 6에서, a의 하한은, 0.6, 0.7, 0.8, 0.9, 1, 1.1, 1.2, 1.3, 1.4, 1.5, 1.6, 1.7, 1.8 또는 1.9 정도일 수 있고, 그 상한은, 6, 5.5, 5, 4.5, 4, 3.5, 3, 2.5 또는 2 정도일 수 있다. 상기 a는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
화학식 6에서 b의 하한은, 0.001, 0.005, 0.01, 0.02, 0.04 또는 0.05 정도일 수 있고, 그 상한은, 0.7, 0.6, 0.5, 0.4, 0.2, 0.1, 0.05, 0.03 또는 0.02 정도일 수 있다. 상기 b는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
화학식 6에서 c의 하한은, 0.001, 0.01, 0.03, 0.05, 0.07 또는 0.09 정도일 수 있고, 그 상한은, 2, 1.8, 1.6, 1.4, 1.2, 1, 0.8, 0.5, 0.2, 0.1 또는 0.05 정도일 수 있다. 상기 c는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
화학식 6에서 d의 상한은 1, 0.9, 0.8, 0.7, 0.6, 0.5, 0.4, 0.3, 0.2, 0.1, 0.05, 0.01 또는 0.001 정도일 수 있고, 그 하한은 0일 수 있다. 상기 d는 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
상기와 같은 평균 단위를 가지는 폴리오가노실록산의 적용을 통해서 적절한 경화성을 가지면서, 경화된 후에 목적하는 특성의 이형층을 형성하는 이형 조성물을 제공할 수 있다.
상기 폴리오가노실록산은, 실질적으로 선형의 구조를 가질 수 있다. 예를 들면, 상기 폴리오가노실록산은, 실질적으로 M 단위 및 D 단위만으로 구성되거나, M 단위와 D 단위와 함께 T 및/또는 Q 단위를 포함하되, 상기 T 및/또는 Q 단위의 비율이 일정 수준 이하인 구조를 가질 수 있다.
예를 들면, 상기 폴리오가노실록산에 포함되는 전체 실록산 단위의 대비 삼관능성 실록산 단위(T 단위) 및 사관능성 실록산 단위(Q 단위)의 합계 몰수의 비율(100Х(T 단위 몰수+Q 단위 몰수)/전체 실록산 단위 몰수)의 상한은 10 몰%, 9 몰%, 8 몰%. 7 몰%, 6 몰%, 4 몰%, 3 몰%, 2 몰%, 1 몰%, 0.5몰% 또는 0.1몰% 정도일 수 있고, 그 하한은 0 몰%일 수 있다. 상기 비율은, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 이러한 비율 하에서 적절한 경화성을 확보하고, 목적하는 이형 특성을 가지는 이형층을 형성할 수 있다.
상기 폴리오가노실록산은 일정 수준의 중량평균분자량을 가질 수 있다. 예를 들면, 상기 중량평균분자량의 하한은, 20,000 g/mol, 50,000 g/mol, 100,000 g/mol, 150,000 g/mol, 200,000 g/mol, 250,000 g/mol, 300,000 g/mol, 350,000 g/mol, 400,000 g/mol, 450,000 g/mol, 500,000 g/mol 또는 550,000 g/mol 정도일 수 있고, 그 상한은, 2,000,000 g/mol, 1,500,000 g/mol, 1,000,000 g/mol, 900,000 g/mol, 800,000 g/mol, 700,000 g/mol 또는 650,000 g/mol 정도일 수 있다. 상기 중량평균분자량은, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
본 출원의 상기 폴리오가노실록산은 일정 수준의 다분산 지수를 가질 수 있다. 다분산 지수는 상기 화합물의 중량평균분자량(Mw)을 수평균분자량(Mn)으로 나눈 값(Mw/Mn)이다.
상기 다분산지수(PDI)의 하한은, 1, 1.25, 1.5, 1.75 또는 1.8 정도일 수 있고, 그 상한은 5, 3.5, 3, 2.5, 2.2 또는 2 정도일 수 있다. 상기 다분산 지수는, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 상기 폴리오가노실록산 성분이 상기 범위 내의 다분산지수를 가지는 경우에는 우수한 이형 특성과 원활한 도막 형성성을 확보할 수 있다.
상기 이형 조성물 내에서 상기 폴리오가노실록산 성분의 함량의 하한은, 0.5 중량%, 1 중량%, 3 중량%, 5 중량%, 7 중량%, 8 중량%, 10 중량%, 20 중량%, 30 중량%, 40 중량%, 50 중량%, 60 중량%, 70 중량% 또는 75 중량% 정도일 수 있고, 그 상한은 95 중량%, 90 중량%, 85 중량%, 80 중량%, 75 중량%, 70 중량%, 65 중량%, 60 중량%, 55 중량%, 50 중량%, 45 중량%, 40 중량%, 35 중량%, 30 중량%, 25 중량%, 20 중량%, 15 중량% 또는 10 중량% 정도일 수 있다. 상기 비율은, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 상기 비율은 고형분에 기초한 비율이고, 따라서 상기 이형 조성물이 용매를 포함하는 경우에 해당 용매의 중량을 제외한 이형 조성물의 전체 중량에 대한 비율이다. 상술한 범위 내로 상기 폴리오가노실록산을 포함함으로써 우수한 경화성을 가지며, 목적하는 물성의 이형층을 형성하는 이형 조성물을 제공할 수 있다.
상기와 같은 폴리오가노실록산은, 공지의 방식으로 제조할 수 있다. 통상 폴리오가노실록산은, 알콕시실란 화합물 또는 그의 부분 축합물을 중합시키거나, 고리형 실록산 화합물을 개환 중합시키는 방식으로 제조할 수 있으며, 이러한 공지의 방식이 본 출원에서 동일하게 적용될 수 있다.
본 출원의 이형 조성물은, 상기 폴리오가노실록산을 포함한다면, 추가로 다른 성분을 포함할 수도 있다.
예를 들면, 상기 이형 조성물은 상기 폴리오가노실록산에 추가로 경화성 실리콘 수지 성분을 포함할 수 있다.
용어 경화성 실리콘 수지 성분은, 경화될 수 있는 실리콘 수지 성분일 수 있다. 용어 경화는, 공지된 바와 같이 화학적 또는 물리적 반응 내지 상호 작용을 통해서 이형 조성물의 점도가 상승하거나, 상기 이형 조성물이 굳어지는 현상을 의미한다.
이러한 경화성 실리콘 수지 성분은, 상기 경화가 가능한 관능기를 가지는 화합물을 포함할 수 있다. 다만, 본 명세서에서 언급하는 경화성 실리콘 수지 성분 또는 경화성 화합물의 범주에는 상기 화학식 1 내지 3의 실록산 단위를 가지는 폴리오가노실록산은 포함되지 않는다.
예를 들어, 상기 경화성 실리콘 수지 성분은, 후술하는 부가 경화형 실리콘 수지 성분일 수 있는데, 이러한 부가 경화형 실리콘 수지 성분은, 비닐기와 같은 알케닐기를 가지는 폴리오가노실록산을 포함할 수 있다. 그런데, 상기 화학식 1 내지 3의 실록산 단위를 가지는 폴리오가노실록산도 알케닐기를 가지기 때문에, 상기 폴리오가노실록산도 엄밀히는 경화성 실리콘 수지 성분으로 분류될 수 있지만, 설명의 편의상 본 명세서에서 경화성 실리콘 수지 성분으로 언급되는 성분 내지 화합물에는 상기 화학식 1 내지 3의 실록산 단위를 가지는 폴리오가노실록산은 포함되지 않는다. 다만, 이러한 설명의 방식이 상기 화학식 1 내지 3의 실록산 단위를 가지는 폴리오가노실록산이 경화성이 아니라는 것을 의미하는 것은 아니다.
본 명세서에서는 상기 경화성 실리콘 수지 성분에 포함되는 폴리오가노실록산과의 구별을 위해서 상기 화학식 1 내지 3의 실록산 단위를 가지는 폴리오가노실록산은, 첨가 폴리오가노실록산으로 불릴 수 있다.
한편, 상기 경화성 실리콘 수지 성분은, 1종의 폴리오가노실록산으로 이루어지거나, 혹은 2종 이상의 폴리오가노실록산의 혼합물로 이루어질 수 있다.
하나의 예시에서 상기 이형 조성물의 실리콘 수지 성분은 소위 부가 경화형 성분일 수 있다. 이러한 수지 성분은, 예를 들면, 규소 원자에 결합된 알케닐기를 가지는 실록산 단위를 포함하는 폴리오가노실록산 (이하, 제 1 폴리오가노실록산 또는 제 1 폴리오가노실록산 성분으로 불릴 수 있다.)을 포함할 수 있다.
상기 제 1 폴리오가노실록산 또는 제 1 폴리오가노실록산 성분은, 예를 들면, 하기 화학식 7의 평균 단위를 가질 수 있다. 상기에서 평균 단위의 의미는 전술한 바와 같다.
[화학식 7]
P2 cQ2 dSiO(4-c-d)/2
화학식 7에서 P2은 알케닐기이고, Q2는 알콕시기, 히드록시기 또는 1가 탄화수소기일 수 있다.
화학식 7에서 c 및 d는 임의의 수이다.
화학식 7에서 알케닐기 및 알콕시기 및 1가 탄화수소기의 구체적인 종류는 본 명세서의 서두에서 기술한 바와 같다.
하나의 예시에서 상기 c의 하한은, 0.0001, 0.0005, 0.001, 0.002, 0.005 또는 0.01 정도일 수 있고, 그 상한은, 0.1, 0.09, 0.08, 0.07, 0.06, 0.05, 0.04, 0.03, 0.02, 0.01, 0.009, 0.008, 0.007, 0.006, 0.005, 0.004 또는 0.003 정도일 수 있다. 상기 c는, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
하나의 예시에서 상기 d의 하한은, 0.5, 1, 1.5, 1.7 또는 1.9 정도일 수 있고, 그 상한은, 5, 4, 3.5, 3, 2.5 또는 2 정도일 수 있다. 상기 d는, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
상기 제 1 폴리오가노실록산은 규소 원자에 결합된 알케닐기를 포함할 수 있고, 상기 폴리오가노실록산이 포함하는 전체 규소 원자에 결합된 유기기의 몰수를 기준으로 한 상기 알케닐기의 비율이 조정될 수 있다. 예를 들면, 상기 제 1 폴리오가노실록산이 포함하는 전체 규소 원자 결합 유기기의 몰수를 기준으로 한 상기 규소 결합 알케닐기의 몰수의 비율의 하한은, 0.01 몰%, 0.05 몰%, 0.1 몰%, 0.15 몰%, 0.2 몰%, 0.25 몰%, 0.3 몰%, 0.35 몰%, 0.4 몰%, 0.45 몰% 또는 0.5 몰%, 0.6 몰%, 0.7 몰%, 0.8 몰%, 0.9 몰% 또는 1 몰% 정도일 수 있고, 그 상한은, 1.5 몰%, 1.4 몰%, 1.3 몰%, 1.2 몰%, 1.1 몰%, 0.9 몰%, 0.8 몰%, 0.7 몰% 또는 0.6 몰%, 0.5 몰%, 0.4 몰%, 0.3 몰%, 0.2 몰% 또는 0.1 몰% 정도일 수 있다. 상기 비율은, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 이러한 비율 하에서 적절한 경화성을 확보하고, 목적하는 이형 특성을 가지는 이형층을 형성할 수 있다.
이러한 알케닐기는 상기 폴리오가노실록산에서 특정한 구조의 실록산 단위에 포함되어 있을 수 있다. 예를 들어서, 상기 제 1 폴리오가노실록산은, 하기 화학식 9의 실록산 단위 및 하기 화학식 10의 실록산 단위로 이루어진 군에서 선택된 하나 이상의 실록산 단위를 포함할 수 있다.
[화학식 9]
ViR3 2SiO1/2
[화학식 10]
ViR3SiO2/2
화학식 9 및 10에서 Vi는 알케닐기이고, R3는 히드록시기, 알콕시기 또는 1가 탄화수소기일 수 있다. 상기에서 알케닐기, 알콕시기 및 1가 탄화수소기의 구체적인 종류는 화학식 7에서 기술한 바와 같다.
상기 제 1 폴리오가노실록산 성분 내의 전체 실록산 단위를 기준으로 한 상기 화학식 9의 실록산 단위의 비율의 하한은, 0.001몰%, 0.005몰%, 0.01몰%, 0.02몰%, 0.03 몰%, 0.04몰%, 0.05몰%, 0.06몰%, 0.07몰%, 0.08몰%, 0.09몰% 또는 0.095몰% 정 도일 수 있고, 그 상한은, 0.5몰%, 0.4몰%, 0.3몰%, 0.2몰%, 0.1몰%, 0.09몰%, 0.08 몰% 또는 0.07몰% 정도일 수 있다. 상기 비율은, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
상기 제 1 폴리오가노실록산 성분 내의 전체 실록산 단위를 기준으로 한 상기 화학식 10의 실록산 단위의 비율의 하한은, 0.01몰%, 0.05몰%, 0.1몰%, 0.15몰%, 0.2몰%, 0.3몰%, 0.4몰%, 0.5몰%, 0.6몰%, 0.7몰%, 0.8몰% 또는 0.9몰% 정도일 수 있고, 그 상한은, 10몰%, 9몰%, 8몰%, 7몰%, 6몰%, 5몰%, 4몰%, 3몰%, 2몰% 또는 1몰% 정도일 수 있다. 상기 비율은, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
제 1 폴리오가노실록산 성분은 상기 화학식 9 및 10의 실록산 단위를 모두 포함할 수 있다. 이러한 경우에 상기 화학식 9의 실록산 단위 대비 상기 화학식 10의 실록산 단위의 몰비의 하한은, 0.1, 0.5, 1, 1.5, 2, 2.5, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9 또는 9.5 정도일 수 있고, 그 상한은, 20, 18, 16, 14, 12, 11, 10, 9, 8, 7, 6, 5, 4 또는 3 정도일 수 있다. 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
상기 제 1 폴리오가노실록산 성분에 포함되는 규소 원자의 수의 하한은, 500, 1,500, 2,000, 2,500 또는 3,000 정도일 수 있고, 그 상한은 10,000, 5,000, 4,000, 3,500, 3,000, 2,500 또는 2,100 정도일 수 있다. 상기 규소 원자의 수는, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
상기 제 1 폴리오가노실록산 성분은, 실질적으로 선형의 구조를 가질 수 있다. 이러한 경우에 상기 폴리오가노실록산은, 실질적으로 M 단위(일관능성 실록산 단위) 및 D 단위(이관능성 실록산 단위)만으로 구성되거나, M 단위(일관능성 실록산 단위)와 D 단위(이관능성 실록산 단위)와 함께 T 단위(삼관능성 실록산 단위) 및/또는 Q 단위(사관능성 실록산 단위)를 포함하되, 상기 T 단위(삼관능성 실록산 단위) 및/또는 Q 단위(사관능성 실록산 단위)의 비율이 일정 수준 이하인 구조를 가질 수 있다.
예를 들면, 상기 제 1 폴리오가노실록산 성분에서, 상기 폴리오가노실록산에 포함되는 전체 실록산 단위의 몰수 대비 상기 T 및 Q 단위의 합계 몰수의 비율(100Х(T 단위 몰수+Q 단위 몰수)/전체 실록산 단위 몰수)의 상한은 10몰%, 9몰%, 8몰%, 7몰%, 6몰%, 5몰%, 4몰%, 3몰%, 2몰%, 1몰% 또는 0.5몰% 정도일 수 있고, 그 하한은 0몰%일 수 있다. 상기 비율은, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
상기 제 1 폴리오가노실록산 성분의 중량평균분자량의 하한은, 100,000 g/mol, 150,000 g/mol, 200,000 g/mol, 250,000 g/mol 또는 300,000 g/mol 정도일 수 있고, 그 상한은, 1,000,000 g/mol, 950,000 g/mol, 900,000 g/mol, 850,000 g/mol, 800,000 g/mol, 750,000 g/mol, 700,000 g/mol, 650,000 g/mol, 600,000 g/mol, 550,000 g/mol, 500,000 g/mol, 450,000 g/mol 또는 400,000 g/mol 정도일 수 있다. 상기 중량평균분자량은, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 상기 제 1 폴리오가노실록산이 상술한 범위 내의 중량평균분자량을 가짐으로써 적절한 점도를 확보하여 우수한 코팅성을 발휘할 수 있다.
상기 제 1 폴리오가노실록산 성분의 다분산지수(PDI)의 하한은, 1, 1.25 또는 1.5 정도일 수 있고, 그 상한은, 5, 3.5 또는 2.5 정도일 수 있다. 상기 다분산지수는, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
상기 경화성 실리콘 수지 성분은, 전술한 제 1 폴리오가노실록산과 함께 하기 화학식 8의 평균 단위를 가지는 폴리오가노실록산(이하, 제 2 폴리오가노실록산 또는 제 2 폴리오가노실록산 성분으로 부를 수 있다.)을 포함할 수 있다. 상기 평균 단위의 의미는 전술한 바와 같다. 상기 평균 단위는, 1분자의 폴리오가노실록산에 대한 것이거나, 2분자 이상의 폴리오가노실록산의 혼합물에 대한 것일 수도 있다.
[화학식 8]
HeQ3 fSiO(4-e-f)/2
화학식 8에서 Q3는 알콕시기, 히드록시기 또는 1가 탄화수소기일 수 있다.
화학식 8에서 e 및 f는 임의의 수이다.
상기 화학식 8의 알콕시기 또는 1가 탄화수소기의 구체적인 예는 화학식 7의 경우와 같다.
상기 화학식 8에서 상기 e의 하한은, 0.01, 0.05, 0.1, 0.15, 0.2, 0.25, 0.3, 0.35, 0.4, 0.45, 0.5, 0.55 또는 0.6 정도일 수 있고, 그 상한은, 2, 1.5, 1, 0.9, 0.8, 0.7, 0.65, 0.6, 0.5, 0.4, 0.39, 0.38, 0.37, 0.36 또는 0.35 정도일 수 있다. 상기 e는, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
상기 화학식 8에서 상기 f의 하한은, 0.5, 1, 1.1, 1.2, 1.3, 1.4, 1.5 또는 1.6 정도일 수 있고, 그 상한은, 4, 3.5, 3, 2.5, 2, 1.9, 1.8, 1.7, 1.6 또는 1.5 정도일 수 있다. 상기 f는, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
상기 제 2 폴리오가노실록산은 규소 원자에 결합된 수소 원자를 포함할 수 있고, 상기 폴리오가노실록산이 포함하는 전체 규소 원자에 결합된 유기기의 몰수를 기준으로 한 상기 수소 원자의 비율이 조정될 수 있다. 예를 들면, 상기 제 2 폴리오가노실록산이 포함하는 전체 규소 원자 결합 유기기의 몰수를 기준으로 한 상기 규소 원자 결합 수소 원자의 몰수의 비율의 하한은, 1몰%, 5몰%, 10몰%, 15몰%, 20몰%, 25몰% 또는 30몰% 정도일 수 있고, 그 상한은, 85몰%, 80몰%, 75몰%, 70몰%, 65몰%, 60몰%, 55몰%, 50몰%, 45몰%, 40몰%, 35몰%, 30몰%, 25몰% 또는 20몰% 정도일 수 있다. 상기 비율은, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 이러한 비율 하에서 적절한 경화성을 확보하고, 목적하는 이형 특성을 가지는 이형층을 형성할 수 있다.
이러한 수소 원자는 상기 폴리오가노실록산에서 특정한 구조의 실록산 단위에 포함되어 있을 수 있다.
예를 들어, 상기 규소 원자 결합 수소 원자는, 하기 화학식 11의 실록산 단위에 적어도 존재할 수 있다
[화학식 11]
HR4SiO2/2
화학식 11에서 R4는 히드록시기, 알콕시기 또는 1가 탄화수소기일 수 있다. 상기 화학식 11의 알콕시기 및 1가 탄화수소기의 구체적인 종류는 화학식 8의 경우와 같다.
제 2 폴리오가노실록산 성분에 포함되는 전체 실록산 단위 중에서 규소 원자 결합 수소 원자를 포함하는 실록산 단위의 전체 몰수를 기준으로 한 상기 화학식 11의 실록산 단위의 몰수의 비율의 하한은, 85몰%, 90몰%, 95몰%, 96몰%, 97몰%, 98몰%, 99몰% 또는 99.5몰% 정도일 수 있고, 그 상한은 100몰% 정도일 수 있다. 상기 비율은, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
제 2 폴리오가노실록산 성분 내의 전체 실록산 단위를 기준으로 한 상기 화학식 11의 실록산 단위의 비율의 하한은, 10몰%, 15몰%, 20몰%, 25몰%, 30몰%, 35몰%, 40몰%, 45몰%, 50몰%, 55몰% 또는 60몰% 정도일 수 있고, 그 상한은, 85몰%, 80몰%, 75몰%, 70몰%, 65몰%, 60몰%, 55몰% 또는 50몰% 정도일 수 있다. 상기 비율은, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
상기 제 2 폴리오가노실록산 성분에 포함되는 규소 원자의 수의 하한은, 20, 25, 30, 35, 40, 45, 50, 55, 60, 65, 70, 75, 80, 85 또는 90 정도일 수 있고, 그 상한은 1,000, 950, 900, 850, 800, 750, 700, 650, 600, 550, 500, 450, 400, 350, 300, 250, 200, 150, 100, 95, 90, 85, 80, 75, 70, 65, 60, 55 또는 50 정도일 수 있다. 상기 규소 원자의 수는, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
상기 제 2 폴리오가노실록산 성분은, 실질적으로 선형의 구조를 가질 수 있다. 이러한 경우에 상기 폴리오가노실록산은, 실질적으로 M 단위 및 D 단위만으로 구성되거나, M 단위와 D 단위와 함께 T 및/또는 Q 단위를 포함하되, 상기 T 및/또는 Q 단위의 비율이 일정 수준 이하인 구조를 가질 수 있다.
예를 들면, 상기 제 2 폴리오가노실록산 성분에서, 상기 폴리오가노실록산에 포함되는 전체 실록산 단위의 몰수 대비 상기 T 및 Q 단위의 합계 몰수의 비율(100Х(T 단위 몰수+Q 단위 몰수)/전체 실록산 단위 몰수)의 상한은 10몰%, 9몰%, 8몰%, 7몰%, 6몰%, 5몰%, 4몰%, 3몰%, 2몰%, 1몰% 또는 0.5몰% 정도일 수 있고, 그 하한은 0몰%일 수 있다. 상기 비율은, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
상기 제 2 폴리오가노실록산의 중량평균분자량의 하한은, 1,000 g/mol, 2,000 g/mol, 3,000 g/mol, 4,000 g/mol, 5,000 g/mol, 6,000 g/mol, 7,000 g/mol, 8,000 g/mol 또는 9,000 g/mol 정도일 수 있고, 그 상한은, 100,000 g/mol, 90,000 g/mol, 80,000 g/mol, 70,000 g/mol, 60,000 g/mol, 50,000 g/mol, 45,000 g/mol, 40,000 g/mol, 30,000 g/mol, 20,000 g/mol, 15,000 g/mol 또는 12,000 g/mol 정도일 수 있다. 상기 중량평균분자량은, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 상기 제 2 폴리오가노실록산이 상술한 범위 내의 중량평균분자량을 가짐으로써 우수한 경화성을 확보할 수 있다.
상기 제 2 폴리오가노실록산의 다분산 지수의 하한은, 1, 1.25 또는 1.5 정도일 수 있고, 그 상한은 5, 3.5 또는 2.5 정도일 수 있다. 상기 다분산 지수는, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
상기 경화성 실리콘 수지 성분 또는 상기 이형 조성물 내에서 제 1 폴리오가노 실록산 성분의 하한은, 20 중량%, 25 중량%, 30 중량%, 35 중량%, 40 중량%, 45 중량%, 50 중량%, 55 중량%, 60 중량%, 65 중량%, 70 중량%, 75 중량%, 80 중량%, 85 중량% 또는 90 중량% 정도일 수 있고, 그 상한은, 98 중량%, 중량%, 96 중량%, 94 중량%, 92 중량%, 90 중량%, 85 중량%, 80 중량%, 75 중량%, 70 중량%, 65 중량%, 60 중량%, 55 중량%, 50 중량%, 45 중량%, 40 중량%, 35 중량% 또는 30 중량%정도일 수 있다. 상기 비율은, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 상기 비율은 고형분에 기초한 비율이고, 따라서 상기 이형 조성물이 용매를 포함하는 경우에 해당 용매의 중량을 제외한 이형 조성물의 전체 중량에 대한 비율이다. 상술한 범위 내로 제 1 폴리오가노실록산을 포함함으로써 후술할 이형층의 적절한 수준의 이형 박리력 및 우수한 잔류 접착률을 확보할 수 있다.
경화성 실리콘 수지 성분 또는 상기 이형 조성물 내에 상기 제 2 폴리오가노실록산의 상기 제 1 폴리오가노실록산 100 중량부 대비 중량부의 하한은, 0.1 중량부, 0.25 중량부, 0.5 중량부, 0.75 중량부, 1 중량부, 1.25 중량부, 1.5 중량부, 1.75 중량부 또는 2 중량부 정도일 수 있고, 그 상한은, 10 중량부, 8 중량부, 6 중량부, 4 중량부 또는 3.5 중량부, 3 중량부 또는 2.5 중량부 정도일 수 있다. 상기 비율은, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 상기 제 2 폴리오가노실록산을 상기 범위 내로 포함하는 경우에는 가교 밀도를 향상시켜 우수한 내구성을 가지는 경화물을 확보할 수 있다.
본 출원의 이형 조성물에서 상기 첨가 폴리오가노실록산의 상기 경화성 실리콘 수지 성분 100 중량부 대비 중량부의 하한은, 1 중량부, 5 중량부, 10 중량부, 50 중량부, 100 중량부, 200 중량부, 300 중량부 또는 350 중량부 정도일 수 있고, 그 상한은, 1000 중량부, 900 중량부, 800 중량부, 700 중량부, 600 중량부, 500 중량부, 400 중량부, 300 중량부, 200 중량부, 100 중량부, 50 중량부, 40 중량부, 30 중량부, 20 중량부 또는 10 중량부 정도일 수 있다. 상기 비율은, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 상기 첨가 폴리오가노실록산의 비율을 조절하는 것에 의해서 목적하는 이형층을 보다 효과적으로 형성할 수 있다.
본 출원의 이형 조성물은 경화성을 고려하여 필요한 경우에 촉매를 추가로 포함할 수 있다. 촉매로는, 경화성 실리콘 수지 성분의 경화 유형을 고려하여 적정한 공지의 촉매가 사용될 수 있다. 예를 들어서, 상기 경화성 실리콘 수지 성분이 부가 경화형인 경우에 상기 촉매로는 금속 촉매가 사용될 수 있다. 상기 금속 촉매는 알루미늄, 비스무트, 납, 수은, 주석, 아연, 백금, 은 및 지르코늄으로 이루어진 군에서 선택된 하나 이상을 중심 금속 원소로 포함할 수 있다. 상기 금속 촉매로는 예를 들면 Bis[1,3-bis(2-ethenyl)-1,1,3,3-tetramethyldisiloxane]platinum(CAS No. 81032-58-8), 디부틸틴 디라우레이트 또는 디메틸틴 디아세테이트 등을 사용할 수 있으나, 이에 특별히 제한되는 것은 아니다. 예를 들면, 상기 촉매로는, 당업계에서 소위 부가 경화형 촉매로서 알려진 촉매를 사용할 수 있다.
상기 촉매의 함량은 촉매량으로 포함되는 한 특별히 제한되는 것은 아니다. 예를 들면, 상기 촉매의 상기 경화성 실리콘 수지 성분 100 중량부 대비 중량부의 하한은, 0.1 중량부, 0.5 중량부, 1 중량부, 1.5 중량부, 2 중량부, 2.5 중량부 또는 3 중량부 정도일 수 있고, 그 상한은, 10 중량부, 9 중량부, 8 중량부, 7 중량부, 6 중량부, 5 중량부, 4 중량부 또는 3 중량부 정도일 수 있다. 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 상술한 범위 내로 촉매를 포함함으로써 부반응을 감소시키면서 경화물 형성 반응을 진척을 효과적으로 진행시킬 수 있다.
본 출원의 일 예에 따른 이형 조성물은 유기 용매를 추가로 포함할 수 있다. 상기 용제는 이형 조성물의 구성을 고려하면 유기 용제가 적절할 수 있다. 상기 유기 용제는 당업계에서 일반적으로 사용하는 것이라면 특별히 제한되는 것은 아니고, 테트라하이드로퓨란, 메틸에틸케톤, 톨루엔 및 헵탄 등이나 이들을 혼합한 용제를 사용할 수 있다. 또한, 이들의 혼합 비율은 특별히 제한되는 것이 아니고 필요에 따라서 적절히 배합할 수 있다.
상기 용제의 양은 필요에 따라 조절될 수 있는 것으로서 특별히 제한되는 것은 아니다.
본 출원은 또한 이형층에 관한 것이다. 상기 이형층은 전술한 이형 조성물 또는 그의 경화물을 포함할 수 있다.
따라서, 상기 이형층은, 상기 첨가 폴리오가노실록산을 포함하고, 추가로 상기 경화성 실리콘 수지 성분을 포함할 수 있으며, 경우에 따라서는 상기 성분들의 반응물을 포함할 수 있다. 상기 이형층은, 예를 들면, 전술한 본 출원의 일 예에 따른 이형 조성물을 경화시켜 형성될 수 있다. 이러한 경화를 수행하는 방법은 특별히 제한되지 않으며, 경화성 수지 성분의 유형에 따라서 적정한 경화 방식을 채용할 수 있다.
상기 이형층은, 상기 이형 조성물 또는 그의 경화물을 포함함으로써 본 출원에서 목적으로 하는 물성을 효과적으로 만족할 수 있다.
즉, 상기 이형층은, 온도와 관계 없이 장기간 유지된 후에도 목적하는 이형 특성을 안정적으로 유지할 수 있다. 또한, 상기 이형층은, 소위 고속 및 저속 박리력의 밸런스를 안정적으로 유지할 수 있다. 또한, 상기 이형층은, 점착제 등의 부착 및 박리를 복수회 수행한 경우에도 안정적으로 이형 특성을 유지할 수 있다. 상기 이형 조성물은 우수한 경화성을 가질 수 있으며, 따라서 안정적으로 경화되어 전술한 이형층을 형성할 수 있다.
예를 들면, 상기 이형층은, 하기 식 1 내지 5 중 하나 이상에 따른 물성을 만족할 수 있다. 즉, 상기 이형층은 하기 식 1 내지 5 중 어느 하나에 따른 물성을 만족하거나, 그 중 2개 이상의 물성을 동시에 만족하거나, 혹은 상기 식 1 내지 5에 따른 물성을 모두 만족할 수 있다.
예를 들면, 상기 이형층은 하기 식 1에 따른 박리력 경시 변화율(AR1)이 소정 범위 내일 수 있다. 예를 들면, 박리력 경시 변화율(AR1)의 상한은, 18%, 17%, 16%, 15%, 14%, 13%, 12%, 11%, 10%, 9%, 8%, 7%, 6%, 5%, 4%, 3%, 2%, 1%, 0.9%, 0.8%, 0.7% 또는 0.6% 정도일 수 있고, 그 하한은, 0% 정도일 수 있다. 상기 박리력 경시 변화율(AR1)은, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 본 출원은 박리력 경시 변화율이 상기 범위를 만족함으로써, 적절한 수준의 이형 박리력 및 잔류 접착률을 가지는 이형층을 제공할 수 있다.
[식 1]
AR1=100Х(|A7- A1|)/A1
식 1에서, A1은 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 25℃에서 24 시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력이고, A7은 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 25℃에서 168 시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력일 수 있다.
식 1에서, |A7- A1|은, A7 와 A1의 차이의 절대값을 의미한다.
식 1의 박리력 경시 변화율(AR1)의 구체적인 측정 방법(이형 박리력 A7 및 A1의 측정 방법 포함)은 실시예 항목에서 기재한다.
본 출원의 이형층은, 상기 식 1의 AR1이 상기 범위를 만족하는 것에 의해서 장시간이 경과한 후에도 적절한 수준의 이형 박리력을 나타낼 수 있다.
상기 식 1의 이형 박리력 A7의 상한은, 500 gf/inch, 400 gf/inch, 300 gf/inch, 200 gf/inch, 100 gf/inch, 50 gf/inch, 30 gf/inch, 20 gf/inch, 15 gf/inch 또는 10 gf/inch 정도일 수 있고, 그 하한은, 1 gf/inch 또는 5 gf/inch 정도일 수 있다. 상기 이형 박리력 A7은, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 본 출원의 이형층은, 상기 범위를 만족하는 이형 박리력 A7을 다양한 용도에서 목적하는 이형성을 나타낼 수 있다.
본 출원의 이형층은 하기 식 2에 따른 박리력 경시 변화율(AR2)이 소정 범위 내일 수 있다. 예를 들면, 상기 박리력 경시 변화율(AR2)의 하한은, 0 % 또는 1 % 정도일 수 있고, 그 상한은, 20 %, 19 %, 18 %, 17 %, 16 %, 15 %, 14 %, 13 %, 12%, 11%, 10%, 9%, 8%, 7%, 6%, 5%, 4%, 3%, 2%, 1% 또는 0.5% 정도일 수 있다. 상기 박리력 경시 변화율은, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 본 출원은 박리력 경시 변화율이 상기 범위를 만족함으로써, 이형층이 고온에서 장기간 유지되는 경우에도 안정적으로 목적하는 이형성을 유지할 수 있다.
[식 2]
AR2=100Х|A60℃,7- A60℃,1|/A60℃,1
식 2에서, A60℃,1은 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 60℃에서 24 시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력이고, A60℃,7은 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 60℃에서 168시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력일 수 있다.
식 2에서, |A60℃,7- A60℃,1|은, A60℃,7와 A60℃,1의 차이의 절대값을 의미한다.
상기 식 2에 따른 박리력 경시 변화율(AR2)의 구체적인 측정 방법(이형 박리력 A60℃,7 및 A60℃,1 의 측정 방법 포함)은 본 명세서의 실시예 항목에서 기재한다.
상기 식 2의 이형 박리력 A60℃,1의 상한은, 500 gf/inch, 400 gf/inch, 300 gf/inch, 200 gf/inch, 100 gf/inch, 50 gf/inch,30 gf/inch, 20 gf/inch 또는 10 gf/inch 정도일 수 있고, 그 하한은, 1 gf/inch 또는 5 gf/inch 정도일 수 있다. 상기 이형 박리력은, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 본 출원은 상기 범위를 만족하는 이형 박리력(A60℃,1)을 가지므로 고온에서도 적절한 수준의 이형 박리력 및 잔류 접착률을 가지는 이형층을 제공할 수 있다.
상기 식 2의 이형 박리력 A60℃,7의 상한은, 500 gf/inch, 400 gf/inch, 300 gf/inch, 200 gf/inch, 100 gf/inch, 50 gf/inch,30 gf/inch, 20 gf/inch 또는 10 gf/inch 정도일 수 있고, 그 하한은 1 gf/inch 또는 5 gf/inch 정도 일 수 있다. 상기 이형 박리력은, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 본 출원은 상기 범위를 만족함으로써 고온에서 시간이 지나더라도 적절한 수준의 이형 박리력 및 잔류 접착률을 가지는 이형층을 제공할 수 있다.
본 출원의 이형층의 하기 식 3에 따른 상온(약 25℃)-60℃ 박리력 경시 변화율(AR3)의 상한은, 30 %, 29 %, 28 %, 27 %, 26 %, 25 %, 20%, 15%, 10%, 9%, 8%, 7%, 6%, 5%, 4%, 3%, 2% 또는 1% 정도일 수 있고, 그 하한은, 0% 또는 0.1% 정도일 수 있다. 상기 상온(약 25℃)-60℃ 박리력 경시 변화율은, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 본 출원은 상기 범위를 만족함으로써 온도의 변화가 있는 환경에서 상기 이형층이 장기간 유지되는 경우에도 안정적으로 목적하는 이형 특성을 유지할 수 있다.
[식 3]
AR3=100Х|A60℃,7- A1|/A1
식 3에서, A1은 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 25℃에서 24시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력이고, A60℃,7은 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 60℃에서 168시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력일 수 있다.
식 3에서, |A60℃,7- A1|은, A60℃,7와 A1의 차이의 절대값을 의미한다.
상기 식 3에 따른 상온(약 25℃)-60℃ 박리력 경시 변화율(AR3)의 구체적인 측정 방법(이형 박리력 A60℃,7 및 A1 의 측정 방법)은 본 명세서의 실시예 항목에서 기재한다.
본 출원의 이형층은 하기 식 4에 따른 박리 속도에 따른 박리력 비율(AR4)이 소정 범위 내일 수 있다. 예를 들면, 박리 속도에 따른 박리력 비율(AR4)의 하한은, 50%, 100%, 150 %, 155 %, 160 %, 165 %, 170 %, 175 %, 180 % 또는 185 % 정도일 수 있고, 그 상한은, 600 %, 590 %, 580 %, 570 %, 560 %, 550 %, 540 %, 530 % 또는 520 %, 500%, 450%, 400%, 350%, 300%, 250%, 200% 또는 190% 정도일 수 있다. 상기 박리 속도에 따른 박리력 비율은, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 본 출원은 상기 범위를 만족함으로써 상대적으로 저속 박리 시에는 상대적으로 높은 박리력을 나타내고, 상대적으로 고속 박리 시에는 상대적으로 낮은 박리력을 나타내는 이형층을 제공할 수 있다. 상기 이형층은, 이러한 박리 속도에 따른 박리력의 밸런스를 고온 조건에서도 안정적으로 나타낼 수 있다.
[식 4]
AR4=100ХAH/AL
식 4에서, AH는 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 60℃에서 24시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 30 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력이고, AL은 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 60℃에서 24시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력일 수 있다.
상기 식 4에 따른 박리 속도에 따른 박리력 비율(AR4)의 구체적인 측정 방법(이형 박리력 AH 및 AL의 측정 방법)은 본 명세서의 실시예 항목에서 기재한다.
본 출원의 이형층은 하기 식 5에 따른 잔류 접착률(Ad)이 소정 범위 내일 수 있다. 예를 들면, 잔류 접착률(Ad)의 하한은, 80 %, 82.5 %, 85 %, 87.5 % 또는 90 % 정도일 수 있고, 그 상한은 100 % 또는 99 % 정도일 수 있다. 상기 잔류 접착률은, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
본 출원의 일 예에 따른 이형층이 상기 범위를 만족하는 잔류 접착률(Ad)을 가질 때, 상기 이형층에 점착제층이 여러 번 부착 후 박리된 후에도 안정적으로 이형성을 유지할 수 있다.
[식 5]
잔류 접착률(Ad) = 100 Х Af/Ai
식 5에서, Ai는 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 25℃에서 24시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력이고, Af는 상기 Ai를 측정한 후 다시 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 25℃에서 24시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력일 수 있다.
식 5의 잔류 접착률(Ad)의 구체적인 측정 방법(이형 박리력 Af 및 Ai 의 측정 방법)은 실시예 항목에서 기재한다.
본 출원의 이형층에서, 상기 식 5의 이형 박리력 Ai의 상한은, 500 gf/inch, 400 gf/inch, 300 gf/inch, 200 gf/inch, 100 gf/inch, 50 gf/inch 또는 25 gf/inch 정도일 수 있고, 그 하한이, 1 gf/inch 또는 5gf/inch 정도일 수 있다. 상기 이형 박리력은, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다. 본 출원의 일 예에 따른 이형층이 상기 범위를 만족하는 이형 박리력을 가질 때, 적절한 수준의 이형 박리력 및 잔류 접착률을 가진다고 할 수 있다.
본 출원의 이형층에서 상기 식 5의 이형 박리력 Af의 하한은, 1 gf/inch 또는 5 gf/inch 정도일 수 있고, 그 상한은, 500 gf/inch, 400 gf/inch, 300 gf/inch, 200 gf/inch, 100 gf/inch, 50 gf/inch 또는 25 gf/inch의 정도일 수 있다. 상기 이형 박리력은, 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이거나, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만이거나, 또는 상기 기술한 하한 중 임의의 어느 한 하한 이상 또는 초과이면서, 상기 기술한 상한 중 임의의 어느 한 상한 이하 또는 미만인 범위 내일 수 있다.
본 출원은 상기 범위를 만족하는 이형 박리력(Af)을 가지면서 상기 식 5에 따른 잔류 접착률(Ad)을 만족함으로써, 적절한 수준의 이형 박리력 및 잔류 접착률을 가지는 이형층을 제공할 수 있다.
본 출원은 또한, 이형 필름에 관한 것이다.
상기 이형 필름은, 기재 필름 및 상기 기재 필름의 일면 또는 양면에 형성된 이형층을 포함할 수 있다.
상기에서 이형층에 대한 구체적인 내용은 전술한 바와 같다.
본 출원의 일 예에 따른 이형 필름의 기재 필름의 종류는 특별히 제한되지 않는다. 상기 기재 필름으로는 통상적으로 이형 필름의 형성에 적용될 수 있는 기재 필름이 적용될 수 있다.
예를 들면, 상기 기재 필름으로는, PET(poly(ethylene terephthalate)) 필름, PTFE(poly(tetrafluoroethylene)) 필름, PP(polypropylene) 필름, PE(polyethylene) 필름, 폴리이미드 필름, 폴리아미드 필름, COP(cyclic olefin polymer) 필름, 폴리부텐 필름, 폴리부타디엔 필름, 염화비닐 공중합체 필름, 폴리우레탄 필름, 에틸렌-비닐 아세테이트 필름, 에틸렌-프로필렌 공중합체 필름, 에틸렌-아크릴산 에틸 공중합체 필름, 에틸렌-아크릴산 메틸 공중합체 필름 및/또는 폴리이미드 필름 등이 사용될 수 있지만, 이에 제한되는 것은 아니다.
또한, 상기 기재 필름은 단층으로 구성되거나, 2층 이상이 적층되어 있을 수도 있으며, 경우에 따라서는 방오층 또는 대전방지층 등의 기능성층을 추가로 포함할 수도 있다. 또한, 기재 밀착성 향상의 관점에서 상기 기재의 일면 또는 양면에 프라이머 처리와 같은 표면 처리를 추가로 수행할 수도 있다.
상기 기재 필름의 두께는 용도에 따라 적절히 선택되는 것으로서 특별히 제한되지 않으며, 통상적으로 5 μm 내지 500 μm, 5 μm 내지 250 μm 또는 5 μm 내지 100 μm의 두께로 형성할 수 있다.
본 출원의 이형 필름은 공지된 방식으로 제조될 수 있다. 하나의 예시에서, 본 출원의 이형 필름은 기재의 일면 또는 양면에 본 출원의 일 예에 따른 이형 조성물을 도포한 후 경화시킴으로써 이형층을 형성하여 제조될 수 있다. 여기서, 상기 이형 조성물의 도포 방식은 당업계에서 일반적으로 사용하는 것이라면 특별히 제한하는 것은 아니고, 예를 들면, 나이프 코팅, 롤 코팅 또는 리버스 코팅 등이 있다. 또한, 이형층을 형성할 때는 이형 조성물의 휘발 성분이나 반응 잔류물과 같은 기포 유발 성분을 충분히 제거한 후 수행될 수 있다. 추가로, 상기 이형 조성물을 경화시키는 방법은 특별히 제한되지 않고, 적절한 숙성 공정을 거치거나 전술한 바와 같이 적절한 고온 환경이나 광 조사 환경에서 경화될 수 있다.
이형 필름에 포함되는 이형층의 두께는 특별히 제한되지 않으며, 예를 들면, 10 nm 내지 10 μm, 10 nm 내지 1 μm 또는 10 nm 내지 100 nm일 수 있다.
또한, 본 출원은 점착 필름에 관한 것이다.
본 출원의 일 예에 따른 점착 필름은 전술한 이형층 및 상기 이형층이 부착된 점착제층을 포함할 수 있다. 상기 이형층을 포함함으로써 상기 점착제층을 사용하기 전까지 보호할 수 있다.
본 출원의 일 예에 따른 점착 필름의 이형층은 전술한 바와 같다.
본 출원의 일 예에 따른 점착 필름의 점착제층을 형성하는 점착제는 특별히 제한되지 않는다.
예를 들면, 점착제층을 형성하는 점착제로는, 아크릴계 중합체, 실리콘계 폴리머, 폴리에스테르, 폴리우레탄, 폴리아미드, 폴리에테르 또는 불소계나 고무계 등의 폴리머를 베이스 폴리머로 하는 것을 적절히 선택하여 사용할 수 있다.
본 출원은, 이형 조성물, 이형층, 이형 필름 및 점착 필름을 제공한다.
본 출원의 이형 조성물은 우수한 경화성을 지니므로 안정적으로 경화되어 이형층을 형성할 수 있다.
본 출원은, 상기 이형층을 형성하였을 때에, 이형층이 반복적으로 점착제층 등에 적용되는 경우에도 안정적인 잔류 접착률을 나타내도록 하는 이형 조성물을 제공할 수 있다.
본 출원의 이형층은 상온 및 고온에서 장시간 유지되는 경우에도 목적하는 이형 특성을 유지할 수 있다. 또한, 상기 이형층은 고속 및 저속 박리력의 밸런스를 안정적으로 유지할 수 있다.
이하, 실시예 및 비교예를 통해 본 출원을 보다 구체적으로 설명하나, 본 출원의 범위가 하기 제시된 내용으로 인해 한정되는 것은 아니다.
1. 이형 박리력 측정 방법
실시예 또는 비교예의 이형 조성물로 제조한 이형 필름의 이형층의 표면에 점착제층을 가지는 표준 테이프(TESA, TESA7475)의 점착제층을 합지하여 시편을 제조하였다. 상기 부착은, 상기 표준 테이프의 점착제층을 상기 이형층상에 위치시킨 후에 2.5 kg 하중의 롤러를 3회 왕복하여 수행하였다. 이어서, 상기 시편을 상온(약 25℃)에서 24 시간 동안 유지하고, 이형 박리력을 측정하거나, 또는 60℃에서 24 시간 동안 유지한 이형 박리력을 측정하였다. 이 이형 박리력은, 물성 측정 장치(Cheminstruments, AR-1000)를 이용하여 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 상기 표준 테이프를 박리하면서 측정하거나(저속 박리력), 또는 180도의 박리 각도 및 30 m/min의 박리 속도로 상기 표준 테이프를 박리하면서 측정하였다(고속 박리력). 상기 박리력은 상온(약 25℃)에서 측정하였다.
2. 상온 박리력 경시 변화율(AR1)의 측정 방법
실시예 또는 비교예의 이형 조성물로 제조된 이형 필름의 이형층에 대해서, 하기 식 1에 따라 상온 박리력 경시 변화율(AR1)을 측정하였다.
[식 1]
AR1=100Х|A7- A1|/A1
식 1에서, A1은 이형 필름의 이형층에 상기 이형 박리력 측정 방법에서 기재한 것과 동일한 방식으로 표준 테이프(TESA, TESA7475)를 합지하여 제조한 시편을 상온(약 25℃)에서 약 24 시간 유지한 후 측정한 이형 박리력이다. 이 이형 박리력은, 물성 측정 장치(Cheminstruments, AR-1000)를 이용하여 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 상온(약 25℃)에서 상기 표준 테이프를 박리하면서 측정하였다. 식 1의 A7은 상기 시편을 상온(약 25℃)에서 168 시간 동안 유지한 후 측정한 이형 박리력이고, 이형 박리력도 물성 측정 장치(Cheminstruments, AR-1000)를 이용하여 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 상온(약 25℃)에서 상기 표준 테이프를 박리하면서 측정하였다.
3. 60℃ 박리력 경시 변화율(AR2)의 측정 방법
실시예 또는 비교예의 이형 조성물로 제조된 이형 필름의 이형층에 대해서, 하기 식 2에 따라 60℃ 박리력 경시 변화율(AR2)을 측정하였다.
[식 2]
AR2=100Х|A60℃,7- A60℃,1|/A60℃,1
식 2에서, A60℃,1은 상기 이형 필름의 이형층에 상기 이형 박리력 측정 방법에서 기재한 것과 동일한 방식으로 표준 테이프(TESA, TESA7475)를 합지하여 제조한 시편을 60℃에서 24시간 유지한 후 측정한 이형 박리력이고, 식 2의 A60℃,7은 상기 이형 필름의 이형층에 상기 이형 박리력 측정 방법에서 기재한 것과 동일한 방식으로 표준 테이프(TESA, TESA7475)를 합지하여 제조한 시편을 60℃에서 168 시간 유지한 후 측정한 이형 박리력이다. 상기 이형 박리력은, 물성 측정 장치(Cheminstruments, AR-1000)를 이용하여 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 상온(약 25℃)에서 상기 표준 테이프를 박리하면서 측정하였다.
4. 상온-60℃ 박리력 경시 변화율(AR3)의 측정 방법
실시예 또는 비교예의 이형 조성물로 제조된 이형 필름의 이형층에 대해서, 하기 식 3에 따라 상온-60℃ 박리력 경시 변화율(AR3)을 측정하였다.
[식 3]
AR3=100Х|A60℃,7- A1|/A1
식 3에서, A1은 상기 이형 필름의 이형층에 상기 이형 박리력 측정 방법에서 기재한 것과 동일한 방식으로 표준 테이프(TESA, TESA7475)를 합지하여 제조한 시편을 상온(약 25℃)에서 24 시간 유지한 후 측정한 이형 박리력이고, A60℃,7은 상기 시편을 60℃에서 168시간 유지한 후 측정한 이형 박리력이다. 상기 이형 박리력은, 물성 측정 장치(Cheminstruments, AR-1000)를 이용하여 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 상온(약 25℃)에서 상기 표준 테이프를 박리하면서 측정하였다.
5. 박리 속도에 따른 박리력 비율(AR4)의 측정 방법
실시예 또는 비교예의 이형 조성물로 제조된 이형 필름의 이형층에 대해서, 하기 식 4에 따라 박리 속도에 따른 박리력 비율(AR4)을 측정하였다.
[식 4]
AR4=100ХAH/AL
식 4에서, AH는 상기 이형 필름의 이형층에 상기 이형 박리력 측정 방법에서 기재한 것과 동일한 방식으로 표준 테이프(TESA, TESA7475)를 합지하여 제조한 시편을 60℃에서 24시간 유지한 후에 측정한 이형 박리력이다. 이 이형 박리력은, 물성 측정 장치(Cheminstruments, AR-1000)를 이용하여 180도의 박리 각도 및 30 m/min의 박리 속도로 상온(약 25℃)에서 상기 표준 테이프를 박리하면서 측정하였다. 또한, 식 4의 AL은 상기 시편을 60℃에서 24시간 유지한 후 측정한 이형 박리력으로서, 물성 측정 장치(Cheminstruments, AR-1000)를 이용하여 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 상온(약 25℃)에서 상기 테이프를 박리하면서 측정한 이형 박리력이다.
6. 잔류 접착률(Ad) 측정 방법
실시예 또는 비교예에서 제조한 이형 조성물로 제조된 이형 필름의 이형층에 대해서, 하기 식 5에 따라 잔류 접착률(Ad)를 측정하였다.
[식 5]
Ad=100 Х Af/Ai
식 5에서, Ai는 상기 이형 필름의 이형층에 상기 이형 박리력 측정 방법에서 기재한 것과 동일한 방식으로 표준 테이프(TESA, TESA7475)를 합지하여 제조한 시편을 상온(약 25℃)에서 약 24 시간 유지한 후 측정한 이형 박리력으로서, 물성 측정 장치(Cheminstruments, AR-1000)를 이용하여 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 상온(약 25℃)에서 상기 표준 테이프를 박리하면서 측정한 이형 박리력이다. 또한, 식 5의 Af는 상기 Ai를 측정한 후 동일한 이형 필름의 이형층에 상기 이형 박리력 측정 방법에서 기재한 것과 동일한 방식으로 표준 테이프(TESA, TESA7475)를 합지하여 제조한 시편을 상온(약 25℃)에서 24시간 유지한 후 측정한 이형 박리력으로서, 물성 측정 장치(Cheminstruments, AR-1000)를 이용하여 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 상온(약 25℃)에서 상기 표준 테이프를 박리하면서 측정한 이형 박리력이다.
7. 이형 조성물의 경화성 평가 방법
이형 조성물의 경화성은, 상기 실시예 또는 비교예의 이형 조성물로 제조된 이형 필름의 이형층에 대해서, Rub-off 평가법으로 평가하였다. 상기 Rub-off 평가법은 상기 이형층의 표면을 라텍스 장갑을 착용한 상태로 일정한 하중으로 3회 문지른 후 발생하는 변화를 관찰하는 평가법이다.
경화성은 하기 기준으로 평가하였다.
<경화성 평가 기준>
PASS: Rub-off 평가 후 이형층에 변화가 없는 경우
NG: Rub-off 평가 후 이형층이 탈락하거나 기재 필름이 뿌옇게 흐려지는 경우
8. 중량평균분자량의 평가
중량평균분자량(Mw) 및 다분산 지수(PDI)는, GPC(Gel permeation chromatography)를 사용하여 측정하였다. 본 명세서에서 언급하는 중량평균분자량(Mw) 및 수평균분자량(Mn)의 단위는 g/mol이다.
20 mL 바이알(vial)에 시료(분석 대상 시료)를 넣고, 약 20 mg/mL의 농도가 되도록 THF(tetrahydrofuran)로 희석하고, Calibration용 표준 시료와 분석 대상 시료를 syringe filter(pore size: 0.2 μm)로 여과시킨 후 분자량 특성을 측정하였다. 분석 프로그램으로는, Agilent technologies사의 ChemStation을 사용하였고, 시료의 elution time을 calibration curve와 비교하여 수평균분자량(Mn) 및 중량평균분자량(Mw)을 구한 후에 상기 중량평균분자량(Mw)을 수평균분자량(Mn)으로 나눈 값(Mw/Mn)을 다분산 지수로 하였다.
<GPC 측정 조건>
기기: Agilent technologies사의 1200 series
컬럼: Agilent technologies사의 TL Mix. A & B 사용
용매: THF
컬럼온도: 40℃
샘플 농도: 20 mg/mL, 10 ㎕ 주입
표준 시료로 MP: 364000, 91450, 17970, 4910, 1300 사용
제조예 1.
하기 화학식 A의 폴리오가노실록산을 제조하였다.
[화학식 A]
Figure PCTKR2023003797-appb-img-000001
화학식 A에서 x는 약 1,000 전후의 수이고, y는 약 60 전후의 수이며, z는 약 60 전후의 수이다.
상기 폴리오가노실록산을 형성하기 위한 단량체로서, 옥타메틸사이클로테트라실록산(octamethylcyclotetrasiloxane, M), 1,3,5,7-테트라메틸-1,3,5,7-테트라비닐사이클로테트라실록산(1,3,5,7-테트라메틸-1,3,5,7-테트라비닐사이클로테트라실록산, V) 및 옥타페닐사이클로테트라실록산(octaphenylcyclotetrasiloxane, P)을 170:10:10(M:V:P)의 중량 비율로 혼합하였다(1차 혼합물). 상기 혼합물에 P4-t-부틸-포스파젠(P4-t-butyl-phosphazene)(C) 및 클로로디메틸비닐 실란(chlorodimethylvinyl silane)(S)을 추가로 첨가하였다(2차 혼합물). 상기 첨가는 약 6250:2.5:1의 중량 비율(1차 혼합물:C:S)로 수행하였다.
2차 혼합물을 약 60℃ 온도에서 12 시간 동안 중합시켜서 상기 화학식 A의 폴리오가노실록산 성분을 제조하였다. 상기 폴리오가노실록산 성분의 중량평균분자량은 약 600,000 g/mol 수준이고, 다분산 지수는 약 1.85 정도였다.
제조예 2.
하기 화학식 B의 폴리오가노실록산을 제조하였다.
[화학식 B]
Figure PCTKR2023003797-appb-img-000002
화학식 B에서 x는 약 1,000 전후의 수이고, y는 약 60 전후의 수이며, z는 약 7 내지 8 전후의 수이다.
상기 화학식 B의 폴리오가노실록산 성분의 제조는 화학식 A의 폴리오가노실록산 성분과 동일하게 수행하였고, 다만, 화학식 B의 폴리오가노실록산 성분의 제조 시에는, 1차 혼합물의 제조 시에 옥타메틸사이클로테트라실록산(octamethylcyclotetrasiloxane, M), 1,3,5,7-테트라메틸-1,3,5,7-테트라비닐사이클로테트라실록산(1,3,5,7-테트라메틸-1,3,5,7-테트라비닐사이클로테트라실록산, V) 및 옥타페닐사이클로테트라실록산(octaphenylcyclotetrasiloxane, P)의 중량 비율을 130:9:1(M:V:P)로 하였다. 상기 폴리오가노실록산 성분의 중량평균분자량은 약 600,000 g/mol 수준이고, 다분산 지수는 약 1.85 정도였다.
제조예 3.
하기 화학식 C의 폴리오가노실록산을 제조하였다.
[화학식 C]
Figure PCTKR2023003797-appb-img-000003
화학식 C에서 x는 약 1,000 전후의 수이고, y는 약 11 전후의 수이며, z는 약 70 전후의 수이다.
상기 화학식 C의 폴리오가노실록산 성분은, 제조예 1과 동일하게 제조하였다. 다만, 화학식 C의 폴리오가노실록산 성분의 제조 시에는, 1차 혼합물에서 옥타메틸사이클로테트라실록산(octamethylcyclotetrasiloxane, M), 1,3,5,7-테트라메틸-1,3,5,7-테트라비닐사이클로테트라실록산(1,3,5,7-테트라메틸-1,3,5,7-테트라비닐사이클로테트라실록산, V) 및 옥타페닐사이클로테트라실록산(octaphenylcyclotetrasiloxane, P)의 중량 비율을 145:1:10(M:V:P) 정도로 조정하였다. 상기 화학식 C의 폴리오가노실록산 성분의 중량평균분자량은 약 600,000 g/mol 수준이고, 다분산 지수는 약 1.85 정도였다.
실시예 1.
하기 화학식 E의 폴리오가노실록산(KS-847H, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 350,000 g/mol), 하기 화학식 F의 폴리오가노실록산(X-92-122, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 10,000 g/mol), 백금 촉매(PL-50L, Shinetsu Silicone)(C) 및 상기 제조예 1의 폴리오가노실록산 성분(A)을 5:0.1:0.15:0.5(E:F:C:A)의 중량 비율로 혼합하고, 용매에 분산시켜서 이형 조성물을 제조하였다. 상기 용매(S)로는, THF(Tetrahydrofuran), MEK(Methylethyl Ketone), 톨루엔(Toluene, T) 및 n-헵탄(n-Heptane, H)을 50:30:10:10(THF:MEK:T:H)의 중량 비율로 혼합한 것을 사용하였다.
[화학식 E]
Figure PCTKR2023003797-appb-img-000004
화학식 E에서 m은 약 1,500 전후의 수이고, n은 12 내지 13 전후의 수이다.
[화학식 F]
Figure PCTKR2023003797-appb-img-000005
화학식 F에서 a는 34 내지 36 전후의 수이고, b는 34 내지 36 전후의 수이다.
실시예 2.
상기 화학식 E의 폴리오가노실록산(KS-847H, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 350,000 g/mol), 상기 화학식 F의 폴리오가노실록산(X-92-122, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 10,000 g/mol), 상기 백금 촉매(PL-50L, Shinetsu Silicone)(C) 및 상기 제조예 1의 폴리오가노실록산 성분(A)을 5:0.1:0.15:2.5(E:F:C:A)의 중량 비율로 혼합하고, 용매에 분산시켜서 이형 조성물을 제조하였다. 상기 용매(S)로는, 실시예 1과 동일한 용매를 사용하였다.
실시예 3.
상기 화학식 E의 폴리오가노실록산(KS-847H, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 350,000 g/mol), 상기 화학식 F의 폴리오가노실록산(X-92-122, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 10,000 g/mol), 상기 백금 촉매(PL-50L, Shinetsu Silicone)(C) 및 상기 제조예 1의 폴리오가노실록산 성분(A)을 5:0.1:0.15:12.5(E:F:C:A)의 중량 비율로 혼합하고, 용매에 분산시켜서 이형 조성물을 제조하였다. 상기 용매(S)로는, 실시예 1과 동일한 용매를 사용하였다.
실시예 4.
제조예 1의 폴리오가노실록산 성분 대신 제조예 2의 폴리오가노실록산 성분(B)을 사용하였다. 상기 화학식 E의 폴리오가노실록산(KS-847H, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 350,000 g/mol), 상기 화학식 F의 폴리오가노실록산(X-92-122, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 10,000 g/mol), 상기 백금 촉매(PL-50L, Shinetsu Silicone)(C) 및 상기 제조예 2의 폴리오가노실록산 성분(B)을 5:0.1:0.15:0.5(E:F:C:B)의 중량 비율로 혼합하고, 용매에 분산시켜서 이형 조성물을 제조하였다. 상기 용매(S)로는, 실시예 1과 동일한 용매를 사용하였다.
실시예 5.
상기 화학식 E의 폴리오가노실록산(KS-847H, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 350,000 g/mol), 상기 화학식 F의 폴리오가노실록산(X-92-122, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 10,000 g/mol), 상기 백금 촉매(PL-50L, Shinetsu Silicone)(C) 및 상기 제조예 2의 폴리오가노실록산 성분(B)을 5:0.1:0.15:2.5(E:F:C:B)의 중량 비율로 혼합하고, 용매에 분산시켜서 이형 조성물을 제조하였다. 상기 용매(S)로는, 실시예 1과 동일한 용매를 사용하였다.
실시예 6.
상기 화학식 E의 폴리오가노실록산(KS-847H, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 350,000 g/mol), 상기 화학식 F의 폴리오가노실록산(X-92-122, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 10,000 g/mol), 상기 백금 촉매(PL-50L, Shinetsu Silicone)(C) 및 상기 제조예 2의 폴리오가노실록산 성분(B)을 5:0.1:0.15:10(E:F:C:B)의 중량 비율로 혼합하고, 용매에 분산시켜서 이형 조성물을 제조하였다. 상기 용매(S)로는, 실시예 1과 동일한 용매를 사용하였다.
실시예 7.
상기 화학식 E의 폴리오가노실록산(KS-847H, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 350,000 g/mol), 상기 화학식 F의 폴리오가노실록산(X-92-122, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 10,000 g/mol), 상기 백금 촉매(PL-50L, Shinetsu Silicone)(C) 및 상기 제조예 2의 폴리오가노실록산 성분(B)을 5:0.1:0.15:12.5(E:F:C:B)의 중량 비율로 혼합하고, 용매에 분산시켜서 이형 조성물을 제조하였다. 상기 용매(S)로는, 실시예 1과 동일한 용매를 사용하였다.
실시예 8.
상기 화학식 E의 폴리오가노실록산(KS-847H, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 350,000 g/mol), 상기 화학식 F의 폴리오가노실록산(X-92-122, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 10,000 g/mol), 상기 백금 촉매(PL-50L, Shinetsu Silicone)(C) 및 상기 제조예 2의 폴리오가노실록산 성분(B)을 5:0.1:0.15:20(E:F:C:B)의 중량 비율로 혼합하고, 용매에 분산시켜서 이형 조성물을 제조하였다. 상기 용매(S)로는, 실시예 1과 동일한 용매를 사용하였다.
실시예 9.
제조예 1의 폴리오가노실록산 성분 대신 제조예 3의 폴리오가노실록산 성분(D)을 사용하였다. 상기 화학식 E의 폴리오가노실록산(KS-847H, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 350,000 g/mol), 상기 화학식 F의 폴리오가노실록산(X-92-122, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 10,000 g/mol), 상기 백금 촉매(PL-50L, Shinetsu Silicone)(C) 및 상기 제조예 3의 폴리오가노실록산 성분(D)을 5:0.1:0.15:2.5(E:F:C:D)의 중량 비율로 혼합하고, 용매에 분산시켜서 이형 조성물을 제조하였다. 상기 용매(S)로는, 실시예 1과 동일한 용매를 사용하였다.
실시예 10.
상기 화학식 E의 폴리오가노실록산(KS-847H, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 350,000 g/mol), 상기 화학식 F의 폴리오가노실록산(X-92-122, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 10,000 g/mol), 상기 백금 촉매(PL-50L, Shinetsu Silicone)(C) 및 상기 제조예 3의 폴리오가노실록산 성분(D)을 5:0.1:0.15:12.5(E:F:C:D)의 중량 비율로 혼합하고, 용매에 분산시켜서 이형 조성물을 제조하였다. 상기 용매(S)로는, 실시예 1과 동일한 용매를 사용하였다.
비교예 1.
상기 화학식 E의 폴리오가노실록산(KS-847H, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 350,000 g/mol), 상기 화학식 F의 폴리오가노실록산(X-92-122, Shinetsu Silicone)(중량평균분자량 약 10,000 g/mol) 및 상기 백금 촉매(PL-50L, Shinetsu Silicone)(C)를 5:0.1:0.15(E:F:C)의 중량 비율로 혼합하고, 용매에 분산시켜서 이형 조성물을 제조하였다. 상기 용매(S)로는, 실시예 1과 동일한 용매를 사용하였다.
상기 실시예 또는 비교예의 이형 조성물을 이용하여 이형 필름을 제조하였다. 이형 필름은, 기재 필름의 일면에 실시예 또는 비교예의 이형 조성물을 메이어바를 이용하여 도포한 후에 도포된 이형 조성물을 150℃에서 3분 동안 유지하여 경화시킴으로써 이형층을 형성하여 제조하였다.
상기 이형층의 두께는 약 200 nm 내지 300 nm 정도로 하였고, 기재 필름으로는 약 50 μm 정도의 두께를 가지는 PET(polyethylene terephthalate) 필름을 사용하였다.
실시예 및 비교예에서 측정한 시험 데이터의 결과는 하기 표 1 및 표 2에 정리하였다. 하기 표 1 및 표 2에서 이형 박리력들의 단위는 모두 gf/inch이다.
구분 상온 이형 박리력 관련 60℃이형 박리력 관련 AR3(%)
A1 A7 AR1 (%) A60℃,1 A60℃,7 AR2 (%)
실시예 1 24.4 27 10.7 25.1 26.3 4.78 7.79
실시예 2 18.1 18.2 0.55 17.8 18.4 3.37 1.66
실시예 3 14.9 16.2 8.72 15.7 16.9 7.64 13.4
실시예 4 17.4 18.2 4.60 16.8 19.9 18.5 14.4
실시예 5 13 13.3 2.31 13.8 14.2 2.90 9.23
실시예 6 9.7 10.3 6.19 10.8 12.1 12.0 24.7
실시예 7 8 8.5 6.25 8.2 9.2 12.2 15
실시예 8 28.7 28.8 0.35 28.8 27.3 5.21 13.3
실시예 9 24.6 25.9 5.28 24.5 24.4 0.41 0.81
실시예 10 13.4 13.8 2.99 13.8 13.6 1.45 1.49
비교예 1 26.6 32 20.3 27.6 27.2 1.45 2.26
구분 박리 속도에 따른 박리력 관련 잔류 접착률
(Ad, %)		 경화성 평가
AH AL AR4 (%)
실시예 1 47 25.1 187.3 97.8 PASS
실시예 2 54.5 17.8 306.2 99.1 PASS
실시예 3 67.8 15.7 431.8 98.4 PASS
실시예 4 42.5 16.8 253.0 95.6 PASS
실시예 5 30.9 13.8 223.9 97 PASS
실시예 6 25.3 9.7 260.8 97.5 PASS
실시예 7 21.2 8.2 258.5 98.8 PASS
실시예 8 35.8 28.8 124.3 99.3 PASS
실시예 9 55.5 24.5 226.5 96.8 PASS
실시예 10 71.8 13.8 520.3 97.5 PASS
비교예 1 35.8 27.6 129.7 97.5 PASS
표 1에서, A1, A7 및 AR1는 식 1에서 정의된 바와 같고, A60℃,1, A60℃,7 및 AR2는 식 2에서 정의된 바와 같으며 AR3는 식 3에서 정의된 바와 같다. 표 2에서, AH, AL 및 AR4는 식 4에서 정의된 바와 같고, 잔류 접착률은 식 5에서 정의된 바와 같다.

Claims (19)

  1. 하기 화학식 1의 실록산 단위, 하기 화학식 2의 실록산 단위 및 하기 화학식 3의 실록산 단위를 가지는 폴리오가노실록산을 포함하는 이형 조성물:
    [화학식 1]
    (R1 2SiO2/2)
    [화학식 2]
    (R1R2SiO2/2)
    [화학식 3]
    (R3 2SiO2/2)
    화학식 1 내지 3에서 R1은 알킬기이고, R2는 알케닐기이며, R3는 아릴기이다.
  2. 제 1 항에 있어서, 폴리오가노실록산의 전체 실록산 단위의 합계 몰수 대비 화학식 1 내지 3의 실록산 단위의 합계 몰수의 비율이 85몰% 이상인 이형 조성물.
  3. 제 1 항에 있어서, 화학식 2의 실록산 단위의 몰수에 대한 화학식 1의 실록산 단위의 몰수의 비율이 0.5 내지 2,000의 범위 내에 있는 이형 조성물.
  4. 제 1 항에 있어서, 화학식 3의 실록산 단위의 몰수에 대한 화학식 1의 실록산 단위의 몰수의 비율이 0.5 내지 2,000의 범위 내에 있는 이형 조성물.
  5. 제 1 항에 있어서, 폴리오가노실록산은, 하기 화학식 4의 실록산 단위 및 하기 화학식 5의 실록산 단위로 이루어진 군에서 선택된 하나 이상의 실록산 단위를 추가로 포함하는 이형 조성물:
    [화학식 4]
    (R1 3SiO1/2)
    [화학식 5]
    (R2R1 2SiO1/2)
    화학식 4 및 5에서 R1은 알킬기이고, R2는 알케닐기이다.
  6. 제 1 항에 있어서, 폴리오가노실록산은, 하기 화학식 6의 평균 단위를 가지는 이형 조성물:
    [화학식 6]
    R1 aR2 bR3 cR4 dSiO(4-a-b-c-d)/2
    화학식 6에서 R1은 알킬기이고, R2는 알케닐기이며, R3는 아릴기이고, R4는 알콕시기, 히드록시기 또는 1가 탄화수소기이며, a는 0.6 내지 2의 범위 내의 수이고, b는 0.001 내지 0.7의 범위 내의 수이며, c는 0.001 내지 1.4의 범위 내의 수이고, d는 0 내지 0.5 의 범위 내의 수이다.
  7. 제 1 항에 있어서, 폴리오가노실록산에 포함되는 전체 실록산 단위의 몰수를 기준으로 삼관능성 실록산 단위 및 사관능성 실록산 단위의 합계 몰수의 비율이 10몰% 이하인 이형 조성물.
  8. 제 1 항에 있어서, 폴리오가노실록산은 중량평균분자량이 20,000 g/mol 내지 2,000,000 g/mol 의 범위 내인 이형 조성물.
  9. 제 8 항에 있어서, 폴리오가노실록산은, 다분산 지수가 1 내지 5의 범위 내인 이형 조성물.
  10. 제 1 항에 있어서, 경화성 실리콘 수지 성분을 추가로 포함하는 이형 조성물.
  11. 제 10 항에 있어서, 폴리오가노실록산은, 경화성 실리콘 수지 성분 100 중량부 대비 1 내지 500 중량부의 비율로 포함되는 이형 조성물.
  12. 제 10 항에 있어서, 경화성 실리콘 수지 성분은 하기 화학식 7의 평균 단위를 가지는 폴리오가노실록산 및 하기 화학식 8의 평균 단위를 가지는 폴리오가노실록산을 포함하는 이형 조성물:
    [화학식 7]
    P2 cQ2 dSiO(4-c-d)/2
    화학식 7에서 P2은 알케닐기이고, Q2는 알콕시기, 히드록시기 또는 1가 탄화수소기이며, c는 0.0001 내지 0.1의 범위 내의 수이고, d는 1 내지 4의 범위 내의 수이다:
    [화학식 8]
    HeQ3 fSiO(4-e-f)/2
    화학식 8에서 Q3는 알콕시기, 히드록시기 또는 1가 탄화수소기이며, e는 0.01 내지 0.9의 범위 내의 수이고, f는 1 내지 4의 범위 내의 수이다.
  13. 제 12 항에 있어서, 화학식 7의 폴리오가노실록산은, 하기 화학식 9의 실록산 단위 및 하기 화학식 10의 실록산 단위로 이루어진 군에서 선택된 하나 이상의 실록산 단위를 포함하는 이형 조성물:
    [화학식 9]
    ViR3 2SiO1/2
    [화학식 10]
    ViR3SiO2/2
    화학식 9 및 10에서 Vi는 알케닐기이고, R3는 히드록시기, 알콕시기 또는 1가 탄화수소기이다.
  14. 제 12 항에 있어서, 화학식 8의 폴리오가노실록산은, 하기 화학식 11의 실록산 단위를 포함하는 이형 조성물:
    [화학식 11]
    HR4SiO2/2
    화학식 11에서 R4는 히드록시기, 알콕시기 또는 1가 탄화수소기이다.
  15. 제 12 항에 있어서, 화학식 7의 평균 단위를 가지는 폴리오가노실록산은 중량평균분자량이 100,000 g/mol 내지 1,000,000 g/mol 의 범위 내이고, 화학식 8의 평균 단위를 가지는 폴리오가노실록산은 중량평균분자량이 1,000 g/mol 내지 50,000 g/mol 의 범위 내인 이형 조성물.
  16. 제 1 항 내지 제 15 항 중 어느 한 항의 이형 조성물 또는 그의 경화물인 이형층.
  17. 제 16 항에 있어서, 하기 식 1 내지 5 중 적어도 하나 이상을 만족하는 이형층:
    [식 1]
    18 ≥ AR1=100Х(|A7- A1|)/A1
    식 1에서, A1은 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 25℃에서 24 시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력이고, A7은 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 25℃에서 168 시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력이다.
    [식 2]
    20 ≥ AR2=100Х|A60℃,7- A60℃,1|/A60℃,1
    식 2에서, A60℃,1은 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 60℃에서 24 시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력이고, A60℃,7은 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 60℃에서 168시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력이다.
    [식 3]
    30 ≥ AR3=100Х|A60℃,7- A1|/A1
    식 3에서, A1은 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 25℃에서 24시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력이고, A60℃,7은 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 60℃에서 168시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력이다.
    [식 4]
    150 ≤ AR4=100ХAH/AL
    식 4에서, AH는 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 60℃에서 24시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 30 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력이고, AL은 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 60℃에서 24시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력이다.
    [식 5]
    80 ≤ Ad=100 Х Af/Ai
    식 5에서, Ai는 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 25℃에서 24시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력이고, Af는 상기 Ai를 측정한 후 다시 상기 이형층에 점착제층이 부착된 상태를 25℃에서 24시간 동안 유지한 후 180도의 박리 각도 및 0.3 m/min의 박리 속도로 25℃에서 상기 점착제층을 상기 이형층으로부터 박리하면서 측정한 이형 박리력이다.
  18. 기재 필름 및 상기 기재 필름의 일면 또는 양면에 형성된 제 16 항의 이형층을 포함하는 이형 필름.
  19. 제 16 항의 이형층; 및 상기 이형층에 부착된 점착제층을 포함하는 점착 필름.
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2112191A1 (en) * 2008-04-24 2009-10-28 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Silicone emulsion releasing composition and releasing substrate using the same
KR20180120978A (ko) * 2017-04-28 2018-11-07 도레이첨단소재 주식회사 이형필름
KR20190066024A (ko) * 2016-10-06 2019-06-12 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 박리지용 또는 박리 필름용 실리콘 조성물
KR20210082456A (ko) * 2018-10-29 2021-07-05 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 실리콘 에멀전 조성물
KR20220013380A (ko) * 2019-05-21 2022-02-04 다우 실리콘즈 코포레이션 폴리오르가노실록산 이형 코팅 및 이의 제조 및 용도

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5463228B2 (ja) 2009-08-07 2014-04-09 日東電工株式会社 剥離剤、離型材および粘着テープ

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2112191A1 (en) * 2008-04-24 2009-10-28 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Silicone emulsion releasing composition and releasing substrate using the same
KR20190066024A (ko) * 2016-10-06 2019-06-12 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 박리지용 또는 박리 필름용 실리콘 조성물
KR20180120978A (ko) * 2017-04-28 2018-11-07 도레이첨단소재 주식회사 이형필름
KR20210082456A (ko) * 2018-10-29 2021-07-05 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 실리콘 에멀전 조성물
KR20220013380A (ko) * 2019-05-21 2022-02-04 다우 실리콘즈 코포레이션 폴리오르가노실록산 이형 코팅 및 이의 제조 및 용도

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