WO2021024873A1 - ガスバリアフィルムおよびガスバリアフィルムの製造方法 - Google Patents

ガスバリアフィルムおよびガスバリアフィルムの製造方法 Download PDF

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健太 大沢
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Definitions

  • the present invention relates to a gas barrier film and a method for producing a gas barrier film.
  • the gas barrier film of the present invention is suitable for packaging foods, pharmaceuticals, precision electronic parts and the like.
  • the present application claims priority based on Japanese Patent Application No. 2019-143284 filed in Japan on August 2, 2019, the contents of which are incorporated herein by reference.
  • a gas barrier property that blocks water vapor may be required.
  • a packaging material having a gas barrier property a gas barrier film using a metal foil such as aluminum, which is less affected by temperature, humidity, etc., as a gas barrier layer is known.
  • the gas barrier film As another configuration of the gas barrier film, a film in which a vapor-deposited film of an inorganic oxide such as silicon oxide or aluminum oxide is formed on a base film made of a polymer material by vacuum deposition, sputtering, or the like is known (for example, see Patent Document 1.). These gas barrier films have transparency and gas blocking properties such as oxygen and water vapor.
  • a film made of polyethylene terephthalate (PET) is often used as the base film.
  • Patent Document 1 also describes that a base film made of PP or PE can be used.
  • a gas barrier film in which a barrier layer is simply formed on a base film made of PP or PE may not actually have sufficient resistance to hot water treatment such as boiling or retort. became.
  • an object of the present invention is to provide a gas barrier film having high resistance to hot water treatment and suppressing an environmental load, and a method for producing the same.
  • the gas barrier film according to the first aspect of the present invention includes a base material containing polyethylene or polypropylene as a main component, a gas barrier layer formed on the base material, and a coating layer formed on the gas barrier layer.
  • the elemental composition ratio O / C of oxygen and carbon on the surface on the side where the gas barrier layer is formed is 0.03 or more.
  • the surface of a base material containing polyethylene or polypropylene as a main component is treated to set the elemental composition ratio O / C of oxygen and carbon on the surface to 0.
  • the value is 03 or more, a gas barrier layer is formed on the surface, and a coating layer is formed on the gas barrier layer.
  • FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of the gas barrier film 1 according to the present embodiment.
  • the gas barrier film 1 includes a base material 10, a gas barrier layer 30, a coating layer 40, an adhesive layer 50, and a sealant layer 60.
  • the base material 10 contains any one of PP, PE, and polystyrene (PS) as a main component in order to suppress the environmental load. These three types of resins may be used alone or in combination of two or more.
  • the synthetic resin forming the base material 10 is preferably a homopolymer polymerized alone from the viewpoint of imparting heat resistance, mechanical strength, dimensional stability and the like. Further, from the viewpoint of imparting heat sealability and flexibility to the base material 10, a copolymer or terpolymer in which ethylene, 1-butene or the like is copolymerized may be used.
  • the base material 10 may be either an unstretched film or a stretched film. When a stretched film is used, the stretch ratio is not particularly limited.
  • the thickness of the base material 10 is not particularly limited.
  • the base material 10 may be a single-layer film, a multilayer film in which films having different properties are laminated, or the like in consideration of the use of the packaging material or the like. Considering the processability when forming the gas barrier layer 30, the coating layer 40, and the like, the thickness of the base material 10 is practically preferably in the range of 3 to 200 ⁇ m, and particularly preferably in the range of 6 to 30 ⁇ m.
  • Each layer such as the gas barrier layer 30 and the coating layer 40, which will be described later, formed on the base material 10 may be formed on one surface of the base material 10 or on both sides of the base material 10.
  • Each layer may be formed on one side of the base material 10, and various well-known additives and stabilizers such as an antistatic agent, an ultraviolet protection agent, a plasticizer, and a lubricant may be applied to the opposite surface.
  • the surface 10a on the side where the gas barrier layer 30 is formed (hereinafter, also referred to as the first surface 10a) has an elemental composition ratio O / C of oxygen and carbon of 0.03 or more by surface treatment. It is said that.
  • the O / C is at least less than 0.03 and almost zero when the surface treatment is not performed, but the O / C is 0 by performing the surface treatment. It will be 0.03 or higher.
  • the inventor has determined that when the gas barrier layer 30 is formed after setting the O / C on the surface of the base material 10 to 0.03 or more, the adhesion between the base material 10 and the gas barrier layer 30 exhibits high resistance to hot water treatment. I found it. The details will be described later.
  • the O / C on the surface of the base material 10 can be measured by measurement by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS measurement (X-ray Photoelectron Spectroscopy)).
  • XPS measurement can analyze the type and concentration of atoms in the depth region of several nm from the surface of the substance to be measured, the type and bonding state of atoms bonded to the atom of the substance to be measured, and the element ratio and functional group. The ratio etc. can be calculated.
  • XPS measurement on the surface of the base material 10 cannot be performed in the presence of the gas barrier layer 30 having a thickness of 5 to 100 nm. It is conceivable to perform the measurement after removing the gas barrier layer by argon ion etching, but since the surface of the base material 10 is also scraped, there is a high possibility that the measurement result is meaningless.
  • the XPS measurement is performed after the gas barrier layer 30 is removed by another method. That is, when the gas barrier film 1 is immersed in treated water containing weak alkaline amines, the gas barrier layer 30 can be removed without scraping the surface of the base material 10.
  • the water contained in the treated water may be tap water, ion-exchanged water, distilled water, or the like, and is not particularly limited.
  • Examples of weakly alkaline amines include ammonia, triethanolamine, triethanolamine, diethanolamine, triethylamine, trimethylamine and the like, and two or more of these may be contained.
  • the concentration of weakly alkaline amines is preferably in the range of 0.01% to 10%.
  • the immersion conditions can be, for example, 50 ° C. or higher for 5 minutes.
  • the gas barrier layer 30 is a layer containing at least one of an inorganic substance, an inorganic oxide, an inorganic nitride, and an inorganic oxynitride, and is a layer that exhibits a barrier property against a predetermined gas such as oxygen and water vapor.
  • the inorganic substance used as the material of the gas barrier layer 30 include aluminum, silicon, magnesium, zirconium, titanium, niobium and the like.
  • the gas barrier layer 30 may contain any one of aluminum, aluminum oxide, silicon oxide, or silicon oxide containing carbon.
  • the gas barrier layer 30 may be transparent or opaque.
  • the thickness of the gas barrier layer 30 varies depending on the type, composition, and film forming method of the inorganic compound used, but is generally set appropriately within the range of 3 to 300 nm. If the thickness of the gas barrier layer 30 is less than 3 nm, a uniform film may not be obtained or the film thickness may not be sufficient, and the function as the gas barrier layer may not be sufficiently exhibited. If the thickness of the gas barrier layer 30 exceeds 300 nm, the gas barrier layer 30 becomes hard, and there is a possibility that the gas barrier layer 30 may crack and lose its barrier property due to external factors such as bending and pulling after film formation. Therefore, the thickness of the gas barrier layer 30 is preferably in the range of 6 to 150 nm.
  • the method for forming the gas barrier layer 30 is not limited, and for example, a vacuum deposition method, a sputtering method, an ion plating method, an ion beam method, a plasma vapor deposition method (CVD), or the like can be used.
  • a vacuum deposition method a sputtering method, an ion plating method, an ion beam method, a plasma vapor deposition method (CVD), or the like
  • CVD plasma vapor deposition method
  • the coating layer 40 can further enhance the barrier property of the gas barrier layer 30.
  • the coating layer 40 is formed by using an aqueous solution or a water / alcohol mixed solution containing (1) one or more kinds of metal alkoxides or hydrolysates thereof and (2) a water-soluble polymer as a main component.
  • a coating agent is prepared by mixing a solution prepared by dissolving a water-soluble polymer in an aqueous (water or water / alcohol mixed) solvent with a metal alkoxide directly or by mixing the alkoxide which has been subjected to a treatment such as hydrolysis in advance.
  • the coating layer 40 can be formed by applying this coating agent on the gas barrier layer 30 and then drying it.
  • the water-soluble polymer used in the coating agent examples include polyvinyl alcohol (PVA), polyvinylpyrrolidone, starch, methyl cellulose, carboxymethyl cellulose, sodium alginate and the like.
  • PVA is preferable because excellent gas barrier properties can be obtained.
  • PVA is generally obtained by saponifying polyvinyl acetate. As the PVA, either a so-called partially saponified PVA in which several tens of percent of acetic acid groups remain, or a complete PVA in which only a few percent of acetic acid groups remain can be used. PVA in between the two may be used.
  • the metal alkoxide used in the coating agent is a compound represented by the general formula, M (OR) n (metal of M: Si, Al, alkyl group of R: CH 3, C 2 H 5, etc.). Specific examples thereof include tetraethoxysilane [Si (OC 2 H 5 ) 4 ] and triisopropoxyaluminum Al [OCH (CH 3 ) 2 ] 3 .
  • the silane coupling agent include compounds having an epoxy group such as 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, compounds having an amino group such as 3-aminopropyltrimethoxysilane, and mercapto groups such as 3-mercaptopropyltrimethoxysilane.
  • Examples thereof include a compound having an isocyanate group, a compound having an isocyanate group such as 3-isocyanatepropyltriethoxysilane, and tris- (3-trimethoxysilylpropyl) isocyanurate.
  • a coating method there is no limitation on the coating method, and conventionally known methods such as a commonly used dipping method, roll coating method, screen printing method, spray method, and gravure printing method can be appropriately selected.
  • the sealant layer 60 is a layer that is joined by heat fusion when forming a bag-shaped package or the like using the gas barrier film 1.
  • Materials for the sealant layer 60 include polyethylene, polypropylene, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene-methacrylate copolymer, ethylene-methacrylate copolymer, ethylene-acrylic acid copolymer, and ethylene-acrylic acid ester. Examples of resin materials such as polymers and their metal crosslinked products can be exemplified.
  • the thickness of the sealant layer 60 is determined according to the purpose, and is, for example, in the range of 15 to 200 ⁇ m.
  • the adhesive layer 50 joins the sealant layer 60 and the coating layer 40.
  • the resin film to be the sealant layer 60 and the base material 10 on which the gas barrier layer 30 and the coating layer 40 are formed can be bonded by dry lamination.
  • a two-component curable polyurethane-based adhesive can be exemplified.
  • a printing layer, an intervening film, a sealant layer, or the like may be laminated on the coating layer 40 as a packaging material.
  • first surface 10a one surface of the base material 10 is surface-treated so that the O / C of the treated surface is 0.03 or more (first step).
  • first step a large number of oxygen-containing bonds such as CO bonds and COO bonds are formed on the treated surface of the base material 10.
  • the gas barrier layer 30 is formed on the treated surface by an appropriate method (second step).
  • the inorganic compound used as the material of the gas barrier layer 30 is firmly bound to the oxygen-containing bond existing on the treated surface of the base material 10.
  • the gas barrier layer 30 and the base material 10 exhibit high adhesion.
  • the above-mentioned coating agent is applied onto the gas barrier layer 30 and dried to form a coating layer 40 on the gas barrier layer (third step). Further, when an adhesive is applied on the coating layer 40 and the resin film to be the sealant layer 60 is attached (fourth step), the gas barrier film 1 is completed.
  • the presence of hydroxyl groups, carboxyl groups, and the like on the surface (first surface 10a) of the base material 10 causes hydrogen bonds between the base material 10 and the gas barrier layer 30. Since chemical bonds such as covalent bonds are formed, the adhesion is unlikely to decrease even after hot water treatment. As a result, the close contact state between the base material 10 and the gas barrier layer 30 is maintained well.
  • the gas barrier film of this embodiment will be further described with reference to Examples and Comparative Examples.
  • the present invention is not limited to the specific contents of Examples and Comparative Examples.
  • Example 1 As the base material 10, a polypropylene film (thickness 20 ⁇ m) made of a homopolymer was used. In the vacuum apparatus, one surface (first surface 10a) of the base material 10 was subjected to plasma treatment by glow discharge (output 230W). The atmosphere was oxygen gas (10 Pa). Subsequently, aluminum was evaporated while introducing oxygen in the same vacuum apparatus, and a gas barrier layer 30 (thickness 10 nm) made of aluminum oxide was formed by an electron beam vapor deposition method. A plurality of sample films up to this point were prepared, one of which was immersed in distilled water containing 1.0 wt% triethanolamine at 80 ° C. for 5 minutes to remove the gas barrier layer, and then the treated surface of the base material (the first). XPS measurement (described later) of 1 surface 10a) was performed.
  • Solution (1) Hydrolyzed solution (2) with a solid content of 3 wt% (SiO 2 equivalent) obtained by adding 89.6 g of hydrochloric acid (0.1N) to 10.4 g of tetraethoxysilane and stirring for 30 minutes to hydrolyze.
  • 3 wt% polyvinyl alcohol solution solvent was water / isopropyl alcohol (water: isopropyl alcohol weight ratio 90:10)
  • an unstretched polypropylene film (thickness 70 ⁇ m) to be a sealant layer 60 is bonded onto the coating layer 40 by dry laminating using a two-component curable polyurethane adhesive to obtain the gas barrier film of Example 1. It was.
  • Example 2 The gas barrier film of Example 2 was produced in the same manner as in Example 1 except that the vapor deposition material was SiO and a gas barrier layer 30 having a thickness of 30 nm containing silicon oxide was formed. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Example 3 The gas barrier film of Example 3 was prepared in the same manner as in Example 1 except that the vapor deposition material was hexamethyldisiloxane (HMDSO) and the gas barrier layer 30 having a thickness of 30 nm containing carbon-containing silicon oxide was formed by plasma. did. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • HMDSO hexamethyldisiloxane
  • Example 4 The gas barrier film of Example 4 was produced in the same manner as in Example 1 except that the output of the plasma treatment in the surface treatment was 350 W. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Example 5 The gas barrier film of Example 5 was produced in the same manner as in Example 2 except that the output of the plasma treatment in the surface treatment was 350 W. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Example 6 The gas barrier film of Example 6 was produced in the same manner as in Example 3 except that the output of the plasma treatment in the surface treatment was 350 W. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Example 7 A gas barrier film of Example 7 was produced in the same manner as in Example 1 except that the output of the plasma treatment in the surface treatment was 470 W. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Example 8 The gas barrier film of Example 8 was produced in the same manner as in Example 2 except that the output of the plasma treatment in the surface treatment was 470 W. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Example 9 The gas barrier film of Example 9 was produced in the same manner as in Example 3 except that the output of the plasma treatment in the surface treatment was 470 W. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Example 10 A gas barrier film of Example 10 was produced in the same manner as in Example 1 except that the output of the plasma treatment in the surface treatment was 930 W. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Example 11 The gas barrier film of Example 11 was produced in the same manner as in Example 2 except that the output of the plasma treatment in the surface treatment was 930 W. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Example 12 A gas barrier film of Example 12 was produced in the same manner as in Example 3 except that the output of the plasma treatment in the surface treatment was 930 W. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Example 13 A gas barrier film of Example 13 was prepared in the same manner as in Example 1 except that a polypropylene film (copolymer) containing ethylene was used as a base material. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Example 14 A gas barrier film of Example 14 was prepared in the same manner as in Example 2 except that a polypropylene film (copolymer) containing ethylene was used as a base material. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Example 15 A gas barrier film of Example 15 was prepared in the same manner as in Example 3 except that a polypropylene film (copolymer) containing ethylene was used as a base material. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Example 16 A gas barrier film of Example 16 was prepared in the same manner as in Example 1 except that a polypropylene film (terpolymer) containing ethylene and 1-butene was used as a base material. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Example 17 A gas barrier film of Example 17 was prepared in the same manner as in Example 2 except that a polypropylene film (terpolymer) containing ethylene and 1-butene was used as a base material. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Example 18 A gas barrier film of Example 18 was prepared in the same manner as in Example 3 except that a polypropylene film (terpolymer) containing ethylene and 1-butene was used as a base material. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Example 19 A gas barrier film of Example 19 was prepared in the same manner as in Example 2 except that a low-density polyethylene film (thickness 25 ⁇ m) was used as a base material. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Example 20 A gas barrier film of Example 20 was prepared in the same manner as in Example 19 except that a high-density polyethylene film was used as a base material. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Example 21 A gas barrier film of Example 20 was prepared in the same manner as in Example 19 except that a high-density polyethylene film (copolymer) containing 1-butene was used as a base material. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Comparative Example 1 A gas barrier film of Comparative Example 1 was prepared in the same manner as in Example 1 except that the base material was not surface-treated. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Comparative Example 2 A gas barrier film of Comparative Example 2 was prepared in the same manner as in Example 2 except that the base material was not surface-treated. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Comparative Example 3 A gas barrier film of Comparative Example 3 was prepared in the same manner as in Example 3 except that the base material was not surface-treated. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Comparative Example 4 A gas barrier film of Comparative Example 4 was prepared in the same manner as in Example 13 except that the base material was not surface-treated. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Comparative Example 5 A gas barrier film of Comparative Example 5 was prepared in the same manner as in Example 14 except that the base material was not surface-treated. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Comparative Example 6 A gas barrier film of Comparative Example 6 was prepared in the same manner as in Example 15 except that the base material was not surface-treated. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Comparative Example 7 A gas barrier film of Comparative Example 7 was prepared in the same manner as in Example 16 except that the base material was not surface-treated. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Comparative Example 8 A gas barrier film of Comparative Example 8 was prepared in the same manner as in Example 17 except that the base material was not surface-treated. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Comparative Example 9 A gas barrier film of Comparative Example 9 was prepared in the same manner as in Example 18 except that the base material was not surface-treated. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Comparative Example 10 A gas barrier film of Comparative Example 10 was prepared in the same manner as in Example 19 except that the base material was not surface-treated. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Comparative Example 11 A gas barrier film of Comparative Example 11 was prepared in the same manner as in Example 20 except that the base material was not surface-treated. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Comparative Example 12 A gas barrier film of Comparative Example 12 was prepared in the same manner as in Example 21 except that the base material was not surface-treated. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Comparative Example 13 A gas barrier film of Comparative Example 13 was prepared in the same manner as in Example 10 except that the base material was surface-treated in an oxygen-free argon atmosphere. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Comparative Example 14 A gas barrier film of Comparative Example 14 was prepared in the same manner as in Example 11 except that the base material was surface-treated in an oxygen-free argon atmosphere. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • Comparative Example 15 A gas barrier film of Comparative Example 15 was prepared in the same manner as in Example 12 except that the base material was surface-treated in an oxygen-free argon atmosphere. The XPS measurement was performed in the same procedure.
  • each evaluation item including XPS measurement The contents of each evaluation item including XPS measurement are described below.
  • XPS measurement on the surface of the base material The first surface 10a of the base material 10 of each sample was measured by an X-ray photoelectron spectrometer. As the X-ray photoelectron spectrometer, JPS-9010MX manufactured by JEOL Ltd. was used. A non-monochromatic MgK ⁇ (1253.6 eV) was used as the X-ray source, and the output was 100 W (10 kV-10 mA). In the quantitative analysis, the calculation was performed using the relative sensitivity factors of 2.28 for O1s and 1.00 for C1s.
  • the gas barrier film of the comparative example had an O / C of less than 0.03 on the surface of the base material.
  • the gas barrier film of the comparative example has a peel strength of less than 1N / 15 mm between the base material and the gas barrier layer under any measurement condition, and the adhesion between the gas barrier layer and the base material after hot water treatment is remarkably low, and easily. Delamination occurred.
  • the gas barrier performance after hot water treatment was also generally low.
  • a printing layer may be provided at an appropriate position.
  • an intervening film may be attached on the coating layer to impart desired physical properties such as pinhole resistance, cold resistance, heat resistance, bag drop resistance, and tear resistance to the gas barrier film.

Landscapes

  • Laminated Bodies (AREA)

Abstract

ガスバリアフィルムは、ポリエチレンまたはポリプロピレンを主成分とする基材と、基材上に形成されたガスバリア層と、ガスバリア層上に形成された被覆層とを備える。基材においてガスバリア層が形成されている側の面の、酸素と炭素との元素構成比Ｏ／Ｃは、０．０３以上である。

Description

ガスバリアフィルムおよびガスバリアフィルムの製造方法
　本発明は、ガスバリアフィルムおよびガスバリアフィルムの製造方法に関する。本発明のガスバリアフィルムは、食品、医薬品、精密電子部品等の包装に適している。
　本願は、２０１９年８月２日に日本に出願された特願２０１９－１４３２８４号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
　食品、非食品、医薬品等の包装に用いられる包装材料において、内容物の変質を抑制しそれらの機能や性質を保持する観点から、包装材料を透過する酸素、水蒸気、その他内容物を変質させる気体を遮断するガスバリア性が求められることがある。
　ガスバリア性を有する包装材料として、温度、湿度などの影響が少ないアルミ等の金属箔をガスバリア層として用いたガスバリアフィルムが知られている。
　ガスバリアフィルムの他の構成として、高分子材料で形成された基材フィルム上に、真空蒸着やスパッタ等により酸化珪素、酸化アルミニウム等の無機酸化物の蒸着膜を形成したフィルムが知られている（例えば特許文献１参照。）。これらのガスバリアフィルムは、透明性及び酸素、水蒸気等のガス遮断性を有する。
　基材フィルムとしては、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）製のフィルムがよく用いられている。
日本国特開昭６０－４９９３４号公報
　近年、環境への負荷を抑制する観点から、ポリプロピレン（ＰＰ）やポリエチレン（ＰＥ）製の基材フィルムを使用したガスバリアフィルムの要請が高まっている。特許文献１にもＰＰやＰＥ製の基材フィルムを使用できることが記載されている。
　しかし、発明者の検討により、ＰＰやＰＥ製の基材フィルムにバリア層を形成しただけのガスバリアフィルムは、実際にはボイルやレトルトなど熱水処理に対する耐性が十分でない場合があることが明らかになった。
　上記事情を踏まえ、本発明は、熱水処理に対する耐性が高く、環境負荷も抑制されたガスバリアフィルムおよびその製造方法を提供することを目的とする。
　本発明の第一の態様に係るガスバリアフィルムは、ポリエチレンまたはポリプロピレンを主成分とする基材と、基材上に形成されたガスバリア層と、前記ガスバリア層上に形成された被覆層とを備え、前記基材において、前記ガスバリア層が形成されている側の面の酸素と炭素との元素構成比Ｏ／Ｃは０．０３以上である。
　本発明の第二の態様に係るガスバリアフィルムの製造方法では、ポリエチレンまたはポリプロピレンを主成分とする基材の表面を処理して、前記表面における酸素と炭素との元素構成比Ｏ／Ｃを０．０３以上とし、前記表面上にガスバリア層を形成し、前記ガスバリア層上に被覆層を形成する。
　本発明によれば、熱水処理に対する耐性が高く、環境負荷も抑制されたガスバリアフィルムを提供できる。
本発明の一実施形態に係るガスバリアフィルムの模式断面図である。 本発明の実施例および比較例のＣ１ｓスペクトルである。 本発明の実施例および比較例のＯ１ｓスペクトルである。
　以下、本発明の一実施形態について、図１を参照して説明する。
　図１は、本実施形態に係るガスバリアフィルム１の模式断面図である。ガスバリアフィルム１は、基材１０と、ガスバリア層３０と、被覆層４０と、接着剤層５０と、シーラント層６０とを備えている。
　基材１０は、環境負荷を抑制するために、ＰＰ、ＰＥ、およびポリスチレン（ＰＳ）のいずれかを主成分としている。これら３種の樹脂は、単独で用いてもよいし、２種以上を用いてもよい。
　基材１０を形成する合成樹脂は、耐熱性、機械的強度、寸法安定性などを付与する観点からは、単独で重合したホモポリマーが好ましい。また、ヒートシール性や柔軟性を基材１０に付与する観点からは、エチレンや１－ブテンなどを共重合したコポリマーやターポリマーを用いてもよい。
　基材１０は、未延伸フィルム、延伸フィルムのいずれでもよい。延伸フィルムを用いる場合、延伸倍率に特に制限はない。
　基材１０の厚さに特に制限はない。基材１０は、包装材料の用途等を考慮して単層フィルムや、異なる性質のフィルムを積層した多層フィルム等であってもよい。ガスバリア層３０、被覆層４０などを形成する場合の加工性を考慮すると、基材１０の厚さは、実用的には３～２００μｍの範囲が好ましく、特に６～３０μｍの範囲が好ましい。
　基材１０上に形成される後述のガスバリア層３０や被覆層４０等の各層は、基材１０の一方の面に形成されてもよいし、基材１０の両面に形成されてもよい。各層を基材１０の片面に形成し、反対側の面に、周知の種々の添加剤や安定剤、例えば帯電防止剤、紫外線防止剤、可塑剤、滑剤などが塗布されてもよい。
　基材１０において、少なくともガスバリア層３０が形成される側の面１０ａ（以降、第１表面１０ａとも呼ぶ。）は、表面処理により、酸素と炭素との元素構成比Ｏ／Ｃが０．０３以上とされている。上述した材料を主成分とする基材１０では、表面処理を行わない場合、Ｏ／Ｃは少なくとも０．０３未満であり、ほぼゼロであるが、表面処理を行うことにより、Ｏ／Ｃが０．０３以上となる。
　発明者は、基材１０表面のＯ／Ｃを０．０３以上とした上でガスバリア層３０を形成すると、基材１０とガスバリア層３０との密着性が熱水処理に高い耐性を示すことを見出した。この詳細については後述する。
　基材１０表面のＯ／Ｃは、Ｘ線光電子分光法による測定（ＸＰＳ測定（X-ray Photoelectron Spectroscopy））で測定できる。ＸＰＳ測定は、被測定物質の表面から数ｎｍの深さ領域での原子の種類および濃度や、被測定物質の原子と結合している原子の種類や結合状態を分析でき、元素比率、官能基比率などを求めることができる。
　本実施形態に係るガスバリアフィルムにおいては、厚さ５～１００ｎｍのガスバリア層３０が存在する状態では基材１０表面のＸＰＳ測定はできない。アルゴンイオンエッチングでガスバリア層を除去してから測定することも考えられるが、基材１０の表面も削られるため、測定結果が意味をなさない可能性が高い。
　そこで、本発明におけるＯ／Ｃ測定では、他の方法でガスバリア層３０を除去した後にＸＰＳ測定を実行する。すなわち、弱アルカリ性アミン類を含有する処理水にガスバリアフィルム１を浸漬すると、基材１０の表面を削ることなくガスバリア層３０を除去できる。
　処理水に含まれる水は、水道水、イオン交換水、蒸留水などいずれでもよく、特に制限はない。弱アルカリ性アミン類としては、アンモニア、トリエタノールアミン、トリメタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエチルアミン、トリメチルアミン等を例示でき、これらを２種類以上含有してもよい。弱アルカリ性アミン類の濃度は、０．０１％～１０％の範囲が好ましい。０．０１％未満であると、ガスバリア層３０の除去に長時間を要する。１０％を超えると基材１０の表面を汚染し、プロピレン構造が破壊される可能性がある。
　浸漬条件は、例えば５０℃以上、５分間とできる。
　ガスバリア層３０は、無機物、無機酸化物、無機窒化物、無機酸窒化物の少なくとも一つを含む層であり、酸素、水蒸気等の、所定の気体に対してバリア性を発揮する層である。ガスバリア層３０の材料となる無機物として、アルミニウム、珪素、マグネシウム、ジルコニウム、チタン、ニオブ等を例示できる。また、ガスバリア層３０は、アルミニウム、酸化アルミニウム、酸化珪素、または炭素を含む酸化珪素、のいずれかを含んでいてもよい。
　ガスバリア層３０は、透明でも、不透明でもいずれでもよい。
　ガスバリア層３０の厚さは、用いられる無機化合物の種類・構成・成膜方法により異なるが、一般的には３～３００ｎｍの範囲内で適宜設定できる。ガスバリア層３０の厚さが３ｎｍ未満であると、均一な膜が得られないことや膜厚が十分ではないことがあり、ガスバリア層としての機能を十分に発揮しない場合がある。ガスバリア層３０の厚さが３００ｎｍを越えると、ガスバリア層３０が硬くなり、成膜後に折り曲げ、引っ張りなどの外的要因により、ガスバリア層３０に亀裂を生じてバリア性を失う可能性がある。このため、ガスバリア層３０の厚さは、６～１５０ｎｍの範囲内が好ましい。
　ガスバリア層３０の形成方法に制限はなく、例えば真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、イオンビーム法、プラズマ気相成長法（ＣＶＤ）などを使用できる。プラズマアシスト法やイオンビームアシスト法などを組み合わせると、ガスバリア層を緻密に形成してバリア性や密着性を向上できる。
　被覆層４０により、ガスバリア層３０のバリア性をさらに高めることができる。被覆層４０は、（１）１種以上の金属アルコキシドまたはその加水分解物と、（２）水溶性高分子と、を含む水溶液或いは水／アルコール混合溶液を主剤とするコーティング剤を用いて形成される。例えば、水溶性高分子を水系（水或いは水／アルコール混合）溶媒で溶解させた溶液に金属アルコキシドを直接、或いは予め加水分解させるなど処理を行ったアルコキシドを混合してコーティング剤を調製する。このコーティング剤をガスバリア層３０上に塗布した後、乾燥することで、被覆層４０を形成できる。
　被覆層４０を形成するためのコーティング剤に含まれる各成分について更に詳細に説明する。
　コーティング剤に用いられる水溶性高分子として、ポリビニルアルコール（ＰＶＡ）、ポリビニルピロリドン、デンプン、メチルセルロース、カルボキシメチルセルロース、アルギン酸ナトリウム等を例示できる。特に、ＰＶＡを用いると、優れたガスバリア性が得られるため好ましい。ＰＶＡは、一般にポリ酢酸ビニルをけん化することで得られる。ＰＶＡとして、酢酸基が数十％残存している、いわゆる部分けん化ＰＶＡ、酢酸基が数％しか残存していない完全ＰＶＡのいずれも用いることができる。両者の中間のＰＶＡを用いてもよい。
　コーティング剤に用いられる金属アルコキシドは、一般式、Ｍ（ＯＲ）ｎ（Ｍ：Ｓｉ、Ａｌの金属、Ｒ：ＣＨ３、Ｃ２Ｈ５等のアルキル基）で表せる化合物である。具体的にはテトラエトキシシラン〔Ｓｉ（ＯＣ２Ｈ５）４〕、トリイソプロポキシアルミニウムＡｌ［ＯＣＨ（ＣＨ３）２］３などを例示できる。シランカップリング剤としては、３－グリシドキシプロピルトリメトキシシランなどのエポキシ基を有する化合物、３－アミノプロピルトリメトキシシランなどのアミノ基を有する化合物、３－メルカプトプロピルトリメトキシシランなどのメルカプト基を有する化合物、３－イソシアネートプロピルトリエトキシシランなどのイソシアネート基を有する化合物、トリス‐（３‐トリメトキシシリルプロピル）イソシアヌレートなどを例示できる。
　コーティング剤の塗布方法に制限はなく、通常用いられるディッピング法、ロールコーティング法、スクリーン印刷法、スプレー法、グラビア印刷法などの従来公知の方法を適宜選択できる。
　被覆層４０の厚さは、コーティング剤の組成や塗工条件等によって異なり、特に制限はない。ただし、被覆層４０の乾燥後膜厚が０．０１μｍ以下の場合は、均一な塗膜にならず十分なガスバリア性を得られない場合がある。乾燥後膜厚が５０μｍを超える場合は被覆層４０にクラックが生じ易くなる。したがって、被覆層４０の好適な厚さは、例えば０．０１～５０μｍの範囲である。被覆層４０の最適な厚さは、例えば０．１～１０μｍの範囲である。
　シーラント層６０は、ガスバリアフィルム１を用いて袋状包装体などを形成する際に熱融着により接合される層である。シーラント層６０の材料として、ポリエチレン、ポリプロピレン、エチレン－酢酸ビニル共重合体、エチレン－メタクリル酸共重合体、エチレン－メタクリル酸エステル共重合体、エチレン－アクリル酸共重合体、エチレン－アクリル酸エステル共重合体及びそれらの金属架橋物等の樹脂材料を例示できる。シーラント層６０厚さは目的に応じて決められるが、例えば１５～２００μｍの範囲である。
　接着剤層５０は、シーラント層６０と被覆層４０とを接合する。接着剤層５０を用いることで、シーラント層６０となる樹脂フィルムと、ガスバリア層３０および被覆層４０を形成した基材１０とを、ドライラミネーションにより貼り合わせることができる。接着剤層５０の材料としては、二液硬化型ポリウレタン系接着剤を例示できる。
　被覆層４０の上に印刷層、介在フィルム、シーラント層等を積層させて、包装材料としてもよい。
　上記の構成を有する本実施形態のガスバリアフィルム１の製造方法について説明する。
　まず、基材１０の一方の面（第１表面１０ａ）に表面処理を施して、処理面のＯ／Ｃを０．０３以上にする（第一工程）。第一工程により、基材１０の処理面には、ＣＯ結合、ＣＯＯ結合等の酸素含有結合が多数形成される。
　次に、適宜の方法で処理面上にガスバリア層３０を形成する（第二工程）。第二工程において、ガスバリア層３０の材料となる無機化合物は、基材１０の処理面上に存在する酸素含有結合と強固に結びつく。その結果、ガスバリア層３０と基材１０とが高い密着性を呈する。
　次に、上述したコーティング剤をガスバリア層３０上に塗布、乾燥して、ガスバリア層上に被覆層４０を形成する（第三工程）。
　さらに、被覆層４０上に接着剤を塗布し、シーラント層６０となる樹脂フィルムを貼り合わせる（第四工程）と、ガスバリアフィルム１が完成する。
　上記の様に構成されたガスバリアフィルム１においては、基材１０の表面（第１表面１０ａ）に水酸基やカルボキシル基などが存在することで、基材１０とガスバリア層３０との間に水素結合や共有結合などの化学結合が形成されるため、熱水処理後も密着性が低下しにくい。その結果、基材１０とガスバリア層３０との密着状態が良好に維持される。
　本実施形態のガスバリアフィルムについて、実施例および比較例を用いてさらに説明する。本発明は実施例および比較例の具体的内容により、何ら限定されない。
（実施例１）
　基材１０として、ホモポリマーからなるポリプロピレンフィルム（厚さ２０μｍ）を使用した。真空装置内において、基材１０の一方の面（第１表面１０ａ）に、グロー放電（出力２３０Ｗ）によるプラズマ処理を施した。雰囲気は、酸素ガス（１０Ｐａ）とした。
　続いて、同一真空装置内で酸素を導入しながらアルミニウムを蒸発させ、電子ビーム蒸着法により酸化アルミニウムからなるガスバリア層３０（厚さ１０ｎｍ）を形成した。
　ここまでのサンプルフィルムを複数作製し、うち一つを１．０ｗｔ％のトリエタノールアミンを添加した蒸留水中に８０℃で５分間浸漬し、ガスバリア層を取り除いた後、基材の処理面（第１表面１０ａ）のＸＰＳ測定（後述）を行った。
　残りのサンプルフィルムのガスバリア層３０上に、下記（１）液と（２）液とを重量比６：４で混合したコーティング剤をグラビアコート法により塗布、乾燥し、厚さ０．４μｍの被覆層４０を形成した。
（１）液：テトラエトキシシラン１０．４ｇに塩酸（０．１Ｎ）８９．６ｇを加え、３０分間撹拌し加水分解させた固形分３ｗｔ％（ＳｉＯ２換算）の加水分解溶液
（２）液：３ｗｔ％ポリビニルアルコール溶液（溶媒は、水／イソプロピルアルコール（水：イソプロピルアルコール重量比　９０：１０）とした。）
　最後に、二液硬化型ポリウレタン系接着剤を用いて、ドライラミネートにより、被覆層４０上にシーラント層６０となる未延伸ポリプロピレンフィルム（厚さ７０μｍ）を貼り合わせ、実施例１のガスバリアフィルムを得た。
（実施例２）
　蒸着材料をＳｉＯとし、酸化珪素を含む厚さ３０ｎｍのガスバリア層３０を形成した点を除き、実施例１と同様にして実施例２のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例３）
　蒸着材料をヘキサメチルジシロキサン（ＨＭＤＳＯ）とし、炭素を含む酸化珪素を含む厚さ３０ｎｍのガスバリア層３０をプラズマにより形成した点を除き、実施例１と同様にして実施例３のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例４）
　表面処理におけるプラズマ処理の出力を３５０Ｗとした点を除き、実施例１と同様にして実施例４のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例５）
　表面処理におけるプラズマ処理の出力を３５０Ｗとした点を除き、実施例２と同様にして実施例５のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例６）
　表面処理におけるプラズマ処理の出力を３５０Ｗとした点を除き、実施例３と同様にして実施例６のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例７）
　表面処理におけるプラズマ処理の出力を４７０Ｗとした点を除き、実施例１と同様にして実施例７のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例８）
　表面処理におけるプラズマ処理の出力を４７０Ｗとした点を除き、実施例２と同様にして実施例８のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例９）
　表面処理におけるプラズマ処理の出力を４７０Ｗとした点を除き、実施例３と同様にして実施例９のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例１０）
　表面処理におけるプラズマ処理の出力を９３０Ｗとした点を除き、実施例１と同様にして実施例１０のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例１１）
　表面処理におけるプラズマ処理の出力を９３０Ｗとした点を除き、実施例２と同様にして実施例１１のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例１２）
　表面処理におけるプラズマ処理の出力を９３０Ｗとした点を除き、実施例３と同様にして実施例１２のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例１３）
　基材として、エチレンを含むポリプロピレンフィルム（コポリマー）を使用した点を除き、実施例１と同様にして実施例１３のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例１４）
　基材として、エチレンを含むポリプロピレンフィルム（コポリマー）を使用した点を除き、実施例２と同様にして実施例１４のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例１５）
　基材として、エチレンを含むポリプロピレンフィルム（コポリマー）を使用した点を除き、実施例３と同様にして実施例１５のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例１６）
　基材として、エチレンと１－ブテンを含むポリプロピレンフィルム（ターポリマー）を使用した点を除き、実施例１と同様にして実施例１６のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例１７）
　基材として、エチレンと１－ブテンを含むポリプロピレンフィルム（ターポリマー）を使用した点を除き、実施例２と同様にして実施例１７のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例１８）
　基材として、エチレンと１－ブテンを含むポリプロピレンフィルム（ターポリマー）を使用した点を除き、実施例３と同様にして実施例１８のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例１９）
　基材として、低密度ポリエチレンフィルム（厚さ２５μｍ）を使用した点を除き、実施例２と同様にして実施例１９のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例２０）
　基材として、高密度ポリエチレンフィルムを使用した点を除き、実施例１９と同様にして実施例２０のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（実施例２１）
　基材として、１－ブテンを含む高密度ポリエチレンフィルム（コポリマー）を使用した点を除き、実施例１９と同様にして実施例２０のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（比較例１）
　基材に対する表面処理を行わない点を除き、実施例１と同様にして比較例１のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（比較例２）
　基材に対する表面処理を行わない点を除き、実施例２と同様にして比較例２のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（比較例３）
　基材に対する表面処理を行わない点を除き、実施例３と同様にして比較例３のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（比較例４）
　基材に対する表面処理を行わない点を除き、実施例１３と同様にして比較例４のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（比較例５）
　基材に対する表面処理を行わない点を除き、実施例１４と同様にして比較例５のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（比較例６）
　基材に対する表面処理を行わない点を除き、実施例１５と同様にして比較例６のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（比較例７）
　基材に対する表面処理を行わない点を除き、実施例１６と同様にして比較例７のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（比較例８）
　基材に対する表面処理を行わない点を除き、実施例１７と同様にして比較例８のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（比較例９）
　基材に対する表面処理を行わない点を除き、実施例１８と同様にして比較例９のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（比較例１０）
　基材に対する表面処理を行わない点を除き、実施例１９と同様にして比較例１０のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（比較例１１）
　基材に対する表面処理を行わない点を除き、実施例２０と同様にして比較例１１のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（比較例１２）
　基材に対する表面処理を行わない点を除き、実施例２１と同様にして比較例１２のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（比較例１３）
　酸素を含まないアルゴン雰囲気下で基材に対する表面処理を行った点を除き、実施例１０と同様にして比較例１３のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（比較例１４）
　酸素を含まないアルゴン雰囲気下で基材に対する表面処理を行った点を除き、実施例１１と同様にして比較例１４のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
（比較例１５）
　酸素を含まないアルゴン雰囲気下で基材に対する表面処理を行った点を除き、実施例１２と同様にして比較例１５のガスバリアフィルムを作製した。ＸＰＳ測定も同様の手順で行った。
　ＸＰＳ測定を含む各評価項目の内容について以下に記す。
（基材表面のＸＰＳ測定）
　各サンプルの基材１０の第１表面１０ａをＸ線光電子分光装置により測定した。Ｘ線光電子分光装置として、日本電子株式会社製ＪＰＳ－９０１０ＭＸを用いた。Ｘ線源は非単色化ＭｇＫα（１２５３．６ｅＶ）を使用し、出力は１００Ｗ（１０ｋＶ－１０ｍＡ）とした。
　定量分析において、Ｏ１ｓで２．２８、Ｃ１ｓで１．００の相対感度因子を用いて計算をした。Ｃ１ｓ波形の波形分離解析にはガウシアン関数とローレンツ関数の混合関数を使用し、帯電補正はベンゼン環に由来するＣ－Ｃ結合ピークを２８５．０ｅＶとして行った。
　得られたＯ１ｓスペクトルにおいて、５２９ｅｖと５３６ｅＶにおけるプロットを結ぶベースラインを引き、スペクトルおよびベースラインに囲まれた部分の面積を算出した。Ｃ１ｓスペクトルにおいては、２８２ｅｖと２８８ｅＶにおけるプロットを結ぶベースラインを引き、スペクトルおよびベースラインに囲まれた部分の面積を算出した。それぞれの面積値にもとづいて各例のＯ／Ｃ比を算出した。
　ＸＰＳ測定は、いずれも、ガスバリア層を除去した後に露出した面に対して行った。
　図２に、実施例１および比較例１のＣ１ｓスペクトルを、図３に実施例１および比較例１のＯ１ｓスペクトルをそれぞれ示す。
（熱水処理後のガスバリア層密着性評価）
　各例のガスバリアフィルム２枚を、シーラント層６０を対向させて重ね、三辺を熱融着により接合して、各例のパウチ（包装容器）を作製した。各例のパウチに内容物として水を充填した後、開放している一辺を熱融着により封止した。その後、熱水処理として、レトルト殺菌処理（１２１℃３０分)またはボイル処理（９８℃３０分）を行った。
　熱水処理後、ＪＩＳ　Ｚ１７０７に準拠して各例のパウチの内容物と接していた部位から試験片を切り出し、オリエンテック社テンシロン万能試験機ＲＴＣ－１２５０を用いて測定した、基材１０とガスバリア層３０との剥離強度を、密着性の指標として測定した。測定は、Ｔ形剥離と１８０°剥離の２種類を、それぞれ常態（Ｄｒｙ）および測定部位湿潤（Ｗｅｔ）で行った。
（熱水処理後のガスバリア性能評価）
　上記手順で作製した各例のパウチを作製および熱水処理した後、パウチを開封してガスバリアフィルムの酸素透過度（単位：ｃｃ／ｍ２・ｄａｙ・ａｔｍ、測定条件：３０℃－７０％ＲＨ）、および水蒸気透過度（単位：ｇ／ｍ２・ｄａｙ、測定条件：４０℃－９０％ＲＨ）を評価した。
　結果を表１に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
　実施例のガスバリアフィルムは、いずれも処理面のＯ／Ｃが０．０３以上であり、熱水処理後も基材とガスバリア層との高い密着性が保持されていた。より詳しくは、９８℃以上の温度で３０分以上の熱水処理を行った後であっても、常態（Ｄｒｙ）および測定部位湿潤（Ｗｅｔ）において、基材とガスバリア層との剥離強度（Ｔ形剥離の剥離強度および１８０°剥離の剥離強度）が、１Ｎ／１５ｍｍ以上であり、当該２層の間に高い密着性能があることが示されている。また、熱水処理後も良好なガスバリア性能を示した。
　一方、比較例のガスバリアフィルムは、いずれも基材表面のＯ／Ｃが０．０３未満であった。比較例のガスバリアフィルムは、いずれの測定条件においても基材とガスバリア層との剥離強度が１Ｎ／１５ｍｍ未満であり、熱水処理後のガスバリア層と基材との密着性が著しく低く、容易にデラミネーションを生じた。熱水処理後のガスバリア性能も、概して低かった。
　一般に、基材の表面粗さが増すと、その上に形成されるガスバリア層との密着性はアンカー効果により高まると考えられている。しかし、比較例１３から１５では、プラズマ処理により基材の表面粗さが増しているにもかかわらず、熱水処理後におけるガスバリア層の密着性低下を抑制できなかった。
　このことから、本実施形態における基材の様に環境負荷の低い基材を用いてガスバリアフィルムを形成する場合は、基材表面の酸素含有結合が、基材とガスバリア層との密着性およびガスバリア性能における熱水処理耐性に重要な役割を果たすことが示された。これは、本発明においてはじめて明らかとなった知見である。
　以上、本発明の一実施形態、および実施例について説明したが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の構成の変更、組み合わせなども含まれる。
　例えば、本発明のガスバリアフィルムにおいては、ガスバリア層および被覆層が基材の両側に設けられてもよい。この場合、基材の両側の表面において、酸素と炭素との元素構成比Ｏ／Ｃが０．０３以上であってもよい。
　また、本発明のガスバリアフィルムにおいては、適宜の位置に印刷層が設けられてもよい。また、被覆層上に介在フィルムを取り付けて、耐ピンホール性、耐寒性、耐熱性、耐落袋性、引き裂き耐性等の所望の物性をガスバリアフィルムに付与してもよい。
　さらに、本発明のガスバリアフィルムにおいて、接着層やシーラント層は必須ではない。すなわち、接着層やシーラント層は、ガスバリアフィルムの具体的用途等を考慮して、必要に応じて設ければよい。
１　ガスバリアフィルム
１０　基材
１０ａ　表面（第１表面）
３０　ガスバリア層
４０　被覆層
５０　接着剤層
６０　シーラント層

Claims (7)

  1. 　ポリエチレンまたはポリプロピレンを主成分とする基材と、
    　前記基材上に形成されたガスバリア層と、
    　前記ガスバリア層上に形成された被覆層と、
    　を備え、
    　前記基材において前記ガスバリア層が形成されている側の面の、酸素と炭素との元素構成比Ｏ／Ｃが０．０３以上である、
    　ガスバリアフィルム。
  2. 　前記ガスバリア層は、アルミニウム、酸化アルミニウム、酸化珪素、または炭素を含む酸化珪素、のいずれかを含む、
    　請求項１に記載のガスバリアフィルム。
  3. 　前記被覆層は、１種以上のアルコキシドまたはその加水分解物と、水溶性高分子とを含有する、
    　請求項１または２に記載のガスバリアフィルム。
  4. 　熱融着可能なシーラント層をさらに備える、
    　請求項１から３のいずれか一項に記載のガスバリアフィルム。
  5. 　前記シーラント層が接着剤層により前記被覆層に接合されている、
    　請求項４に記載のガスバリアフィルム。
  6. 　９８℃以上の温度で３０分以上の熱水処理を行った後における、前記基材と前記ガスバリア層との剥離強度が１Ｎ／１５ｍｍ以上である、
    　請求項１から５のいずれか一項に記載のガスバリアフィルム。
  7. 　ポリエチレンまたはポリプロピレンを主成分とする基材の表面を処理して、前記表面における酸素と炭素との元素構成比Ｏ／Ｃを０．０３以上とし、
    　前記表面上にガスバリア層を形成し、
    　前記ガスバリア層上に被覆層を形成する、
    　ガスバリアフィルムの製造方法。
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