WO2019044819A1 - 対象物に対して移動体を直線移動させる装置および方法 - Google Patents

対象物に対して移動体を直線移動させる装置および方法 Download PDF

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哲弥 歌野
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Definitions

  • the present invention relates to an apparatus and method for linearly moving a movable body with respect to an object.
  • the bonding apparatus includes a bonding head mounted on an XY table, a bonding arm attached to the bonding head for moving the bonding tool in the vertical direction, and a position detection camera mounted on the bonding head for detecting the bonding position of the substrate. And have.
  • the center line of the bonding tool and the optical axis of the position detection camera are spaced apart by a predetermined offset distance. Then, after aligning the optical axis of the position detection camera to the bonding position, the bonding head is often moved by an offset distance to move the center line of the bonding tool to the bonding position to perform bonding.
  • an object of the present invention is to improve the movement accuracy of a mobile.
  • An apparatus is an apparatus for linearly moving a movable body with respect to an object, wherein the movement is linear movement with respect to the object and has a first position and a second position separated by a predetermined distance in the movement direction.
  • a first detection unit that detects a scale number, a second detection unit that is disposed at a second position of the moving body, and detects a second scale number of the scale with respect to the second position, and moving the moving body along the scale , Sequentially, the first detection unit and the second detection unit detect the first scale number and the second scale number, and the ratio of the predetermined interval and the distance on the scale between the first scale number and the second scale number
  • a control unit that controls the moving amount of the moving body based on And wherein the door
  • the moving body is a transfer mechanism for transferring the semiconductor die to an object
  • the object is a substrate or other semiconductor die on which the transferred semiconductor die is mounted
  • the device is a semiconductor
  • the die may be mounted on an object.
  • control unit is configured to position each predetermined number of divisions from one end of the scale based on a ratio of the predetermined interval and the distance on the scale between the first scale number and the second scale number.
  • the correction coefficient may be calculated.
  • a distance detector for detecting the distance of the movable body from the reference position
  • the control unit moves the movable body by the reference distance while detecting the distance of the movable body from the reference position by the distance detector.
  • the first detection unit or the second detection unit detects the scale number difference of the scale before and after moving the moving body by the reference distance, and corrects the movement amount based on the reference distance and the scale number difference.
  • the apparatus comprises a reference member having position marks spaced apart by a reference distance, and an image acquisition unit provided on the movable body for acquiring an image of the position mark, and the controller is an image acquisition unit
  • the first detection unit or the second detection unit detects the scale number difference of the scale when moving the moving body by the reference distance based on the acquired image of the position mark and detecting the difference between the reference distance and the scale number difference.
  • the movement amount may be corrected based on that. apparatus.
  • the method according to the present invention is a method of linearly moving a moving body with respect to an object, wherein the moving body having a first position and a second position separated by a predetermined distance in the moving direction is linearly moved with respect to the object And a step of arranging a scale provided with a plurality of graduations at a predetermined pitch along the movement direction along the movement direction of the movable body, and a first detection for detecting a first graduation number of the scale with respect to the first position.
  • the first detection unit and the second detection unit sequentially detect the first scale number and the second scale number while moving the plate, and on the scale between the first scale number and the second scale number, the predetermined interval and the first scale number and the second scale number Control the amount of movement of the mobile based on the ratio to the distance And having a that step.
  • the distance detector detects the distance of the mobile object from the reference position, and the distance detector moves the mobile object by the reference distance while detecting the distance of the mobile object from the reference position.
  • the first detection unit or the second detection unit detects a difference in scale number of the scale before and after moving the body by the reference distance, and the amount of movement is corrected based on the reference distance and the difference in scale number And a process may be included.
  • a method comprising the steps of: disposing a position mark spaced apart by a reference distance on a reference member; disposing the image acquisition means on a moving body; and acquiring an image of the position mark by the image acquisition means Moving the moving body by the reference distance based on the image of the mark, detecting the scale number difference of the scale when moving the moving body by the reference distance, and detecting by the first detection unit or the second detection unit; Correcting the movement amount based on the distance and the scale number difference.
  • the present invention can improve the movement accuracy of the moving body.
  • FIG. 7 is an explanatory view showing a basic operation when the base is thermally expanded in the mounting apparatus shown in FIG. 1, in which (a) shows the state at the reference position and (b) shows bonding at the scale position of the linear scale detected by the camera encoder head The state which moved the base so that the centerline of the head side encoder head may correspond is shown.
  • FIG. 5 is a graph showing the change of the position of the base relative to the linear scale and the change of the position correction coefficient relative to the linear scale during the operation shown in FIG.
  • FIG. 5 is a graph showing the change of the position of the base relative to the linear scale and the change of the position correction coefficient relative to the linear scale during the operation shown in FIG.
  • FIG. 5 is a graph showing the change of the position of the base relative to the linear scale and the change of the position correction coefficient relative to the linear scale during the operation shown in FIG.
  • the mounting apparatus 100 for mounting the semiconductor die 15 on the substrate 16 or the like will be described as an example of an apparatus for linearly moving the movable body with respect to the object.
  • the mounting apparatus 100 of this embodiment mounts the semiconductor die 15 which is a first electronic component on the substrate 16 which is an object or another semiconductor die which is a second electronic component not shown. is there.
  • the mounting apparatus 100 includes a base 10 which is a movable body, a bonding head 20, a camera 25, a bonding head encoder head 31 which is a first detection unit, a camera encoder head 32 which is a second detection unit, A scale 33, a control unit 50, a laser distance detector 45, and a bonding stage 13 for attracting and fixing a substrate 16 as an object are provided.
  • the mounting apparatus 100 is, for example, a flip chip bonding apparatus which mounts the semiconductor die 15 on the substrate 16 after inverting the semiconductor die 15, but may be a die bonding apparatus which mounts the semiconductor die 15 on the substrate 16 without inverting.
  • the base 10 is guided by a guide rail 11 extending in the X direction, which is a linear direction, and linearly moves in the X direction. Further, a linear motor 12 for driving the base 10 in the X direction is attached to the base 10.
  • a bonding head 20 and a camera 25 which is an image acquisition unit are attached to the base 10.
  • the bonding head 20 moves the bonding tool 21, which is a mounting tool for vacuum-sucking the semiconductor die 15 and bonding it to the substrate 16, in the Z direction which is the vertical direction.
  • Reference numeral 22 z in FIG. 1 denotes a center line of the bonding head 20 in the Z direction. Further, since the bonding tool 21 is disposed coaxially with the Z-direction center line 22 z of the bonding head 20, the center line 22 z is also a line passing through the center of the bonding tool 21.
  • the camera 25 picks up the substrate 16 from above and acquires an image thereof.
  • Reference numeral 26 z in FIG. 1 denotes the optical axis of the camera 25.
  • the bonding head 20 and the camera 25 are attached to the base 10 with the center line 22z in the Z direction of the bonding head 20 and the optical axis 26z of the camera 25 spaced by a predetermined distance a in the X direction which is the moving direction of the base 10.
  • the predetermined interval a is an offset distance.
  • the base 10 is a transfer mechanism for transferring the semiconductor die 15 absorbed by the bonding tool 21 to the substrate 16.
  • the bonding head encoder head 31 and the camera encoder head 32 are attached to the base 10. As shown in FIG. 1, the bonding head-side encoder head 31 is attached to the first position of the base 10 so that the center line 31 a is at the same position as the Z-direction center line 22 z of the bonding head 20. Further, the camera encoder head 32 is attached to the second position of the base 10 so that the center line 32 a is at the same position as the position C of the optical axis 26 z of the camera 25. Therefore, the first position to which the bonding head encoder head 31 is attached and the second position to which the camera encoder head 32 is attached are separated by a predetermined interval a in the X direction which is the moving direction of the base 10.
  • a common linear scale 33 extending in the X direction, which is the moving direction of the base 10, is disposed.
  • the linear scale 33 has a plurality of graduations 34 engraved at a predetermined pitch p.
  • the bonding head encoder head 31 and the camera encoder head 32 optically read the scale 34 to detect the scale number on the linear scale 33.
  • the bonding stage 13 vacuum-sucks the substrate 16.
  • the laser distance detector 45 is disposed at a position away from the bonding stage 13 and detects the distance from the reference position of the base 10 by a laser.
  • the laser distance detector 45 can detect the distance from the reference position in the X direction of the base regardless of the change in the length of the linear scale 33 due to the temperature change of the mounting apparatus 100.
  • the linear motor 12 and the bonding head 20 are connected to the control unit 50, and operate according to an instruction from the control unit 50.
  • the bonding head encoder head 31 and the camera encoder head 32 are connected to the control unit 50, and data of the detected graduation position of the linear scale 33 is input to the control unit 50.
  • the camera 25 and the laser distance detector 45 are also connected to the control unit 50, and an image captured by the camera 25 and data of the movement distance of the base 10 in the X direction detected by the laser distance detector 45 are input to the control unit 50. Be done.
  • the control unit 50 is a computer including a CPU that performs information processing inside, an operation program, and a memory that stores data, and adjusts the position or movement amount of the base 10 in the X direction.
  • the guide rail 11 and the linear scale 33 of the mounting apparatus 100 shown in FIG. 1 are integrally movable in the Y direction by a Y direction drive mechanism (not shown).
  • the Y-direction drive mechanism is connected to the control unit 50 and operates in accordance with a command from the control unit 50.
  • the Y direction is a horizontal direction orthogonal to the X direction.
  • the bonding head encoder head 31 is attached to the base 10 so that the center line 31a is at the same position as the Z center line 22z of the bonding head 20.
  • the head 32 is described as being attached to the base 10 so that the center line 32 a is at the same position as the optical axis 26 z of the camera 25, the invention is not limited thereto. If the bonding head encoder head 31 and the camera encoder head 32 are spaced apart by a predetermined distance a in the X direction, the bonding head encoder head 31 is disposed in the vicinity of the bonding head 20, and the camera encoder head 32. May be disposed near the camera 25.
  • FIG. 2A shows the case where the base 10 is at the imaging position. 2 and 3, the imaging position is a position where the position C of the optical axis 26z of the camera 25 coincides with the center position S of the bonding area, and the center position BH of the bonding tool 21 and the center position D of the semiconductor die 15 And the center position D of the semiconductor die 15 absorbed by the bonding tool 21 is described as being on the center line 22z of the bonding head 20 in the Z direction.
  • the position C (x, y) of the optical axis 26z of the camera 25 coincides with the center position S (x, y) of the bonding area.
  • the center line 32 a of the camera encoder head 32 is at the Nth scale of the linear scale 33.
  • Data in which the center line 32 a of the camera encoder head 32 is at the position of the Nth scale of the linear scale 33 is input to the control unit 50 from the camera encoder head 32.
  • the control unit 50 moves the base 10 in the X direction by the linear motor 12 shown in FIG.
  • the control unit 50 detects data of the scale of the linear scale 33 by the bonding head encoder head 31.
  • the control unit 50 moves the base 10 in the X direction until the scale of the linear scale 33 detected by the bonding head encoder head 31 reaches the Nth scale position.
  • the center line 22z of the bonding head 20 and the center position D of the semiconductor die 15 are The scale of the linear scale 33 is the Nth scale position, that is, the center position S of the bonding area.
  • the mounting apparatus 100 of the present embodiment can make the center position D of the semiconductor die 15 coincide with the center position S of the bonding area.
  • a linear scale 33 'and a scale 34' indicated by broken lines show a state in which the linear scale 33 is thermally expanded.
  • the scale position detected by the camera encoder head 32 at the imaging position is N ′.
  • the control unit 50 moves the base 10 in the X direction until the scale of the linear scale 33 detected by the bonding head encoder head 31 reaches the N'th scale position.
  • the center position D of the semiconductor die 15 can be aligned with the N'th scale position of the scale of the linear scale 33, that is, the center position S of the bonding area.
  • the mounting apparatus 100 does not perform calibration of the predetermined distance a which is the offset distance, and the center position D of the semiconductor die 15 corresponds to the center of the bonding area. It can be adjusted to position S.
  • FIGS. 3A and 3B show the case where the base 10 thermally expands in the X direction.
  • the position C (x, y) of the optical axis 26 z of the camera 25 coincides with the center position S (x, y) of the bonding area.
  • the center line 32 a of the camera encoder head 32 is at the Nth scale of the linear scale 33.
  • the center line 22 z of the bonding head 20 is at a position separated from the optical axis 26 z of the camera 25 by a ′ in the X direction.
  • the control unit 50 moves the base 10 in the X direction until the scale of the linear scale 33 detected by the bonding head encoder head 31 reaches the Nth scale position, as described with reference to FIG. 2B. . Then, the center position D of the semiconductor die 15 is such that the scale of the linear scale 33 is the Nth scale position, that is, the center position S of the bonding area.
  • the mounting apparatus 100 does not perform calibration of the predetermined distance a which is the offset distance, and the central position D of the semiconductor die 15 is set to the central position S of the bonding area. Can be adjusted to In addition, the movement accuracy of the base 10 can be improved without adjusting the predetermined interval a.
  • control unit 50 initializes n to one.
  • the control unit 50 then aligns the center line 31a of the bonding head-side encoder head 31 with the first scale number B1 (1) of the linear scale 33, as shown in step S102 in FIG. 4 and in FIG. Then, the control unit 50 detects the position of the base 10 in the X direction at this time as an initial position by the laser distance detector 45 in step S103 of FIG. 4.
  • step S104 in FIG. 4 the control unit 50 reads the second scale number B2 (1) of the linear scale 33 at which the center line 32a of the camera encoder head 32 is located by the camera encoder head 32. . Then, the control unit 50 proceeds to step S105 in FIG. 4, and the distance A1 between the second scale number B2 (1) on the linear scale 33 and the first scale number B1 (1) according to the following (Expression 1) Calculate (1).
  • the distance A (1) is also a distance between the center line 31 a of the bonding head-side encoder head 31 detected by the linear scale 33 and the center line 32 a of the camera-side encoder head 32.
  • a (1) [B2 (1) -B1 (1)] ⁇ p (Equation 1)
  • Equation 1 In equation (1), p is the pitch of the scale 34 of the linear scale 33.
  • step S106 in FIG. 4 calculates the position correction coefficient k (1) of the linear scale 33 by the following (formula 2).
  • the position correction coefficient k (1) is a second scale number B2 on the linear scale 33 and a predetermined distance a between the center line 31a of the bonding head side encoder head 31 and the center line 32a of the camera side encoder head 32 It is a ratio of 1) and distance A (1) of 1st graduation number B1 (1).
  • k (1) a / A (1) ... (Equation 2)
  • Steps S105 and S106 in FIG. 4 constitute a correction coefficient calculation step.
  • control unit 50 proceeds to step S107 in FIG. 4 and moves the base 10 by the predetermined number of graduations ⁇ B in the X direction by the linear motor 12 so that the center line 31a of the bonding head encoder head 31 becomes the second graduation number B2.
  • (1) B1 (1) + ⁇ B.
  • the control unit 50 proceeds to step S108 in FIG. 4 and stores B1 (1) + ⁇ B in B1 (2).
  • nend is the number of movements required for the base 10 to move to the end position
  • first scale number B1 is the number of movements of the bonding head-side encoder head 31 when the base 10 has moved to the end position.
  • the scale number of the linear scale 33 where the center line 31a is located is shown. Steps S104 and S107 to S110 in FIG. 4 constitute a scale number detection step.
  • the control unit 50 linearly moves the base 10 in the X direction by the predetermined scale number ⁇ B of the linear scale 33, and the bonding head side encoder head 31 and the camera side encoder head 32 sequentially make the bonding head side encoder
  • the first scale number B1 (n) of the linear scale 33 at which the center line 31a of the head 31 is located and the second scale number B2 (n) of the linear scale 33 at which the center line 32a of the camera encoder head 32 is located Do.
  • the control unit 50 sets a predetermined interval a between the center line 31 a of the bonding head side encoder head 31 and the center line 32 a of the camera side encoder head 32 and a second scale number B 2 (n) on the linear scale 33.
  • the operation of calculating the position correction coefficient k (n) of the linear scale 33 which is the ratio of the distance A (n) to the first scale number B1 (n), is repeated.
  • the control unit 50 calculates the position correction coefficient k (n) for each predetermined number of graduations ⁇ B from one end of the linear scale 33, and as shown in the graph of FIG.
  • the position correction coefficient k (n) of the linear scale 33 in (n) can be calculated.
  • the position correction coefficient k (n) becomes a number larger than 1.0.
  • the position correction coefficient k (n) is a number smaller than 1.0.
  • the base 10 moves in the X direction by ⁇ B ⁇ p.
  • the moving distance of the base 10 compensates for the thermal expansion or contraction and becomes ⁇ B ⁇ p ⁇ k (n).
  • k (n) is larger than 1.0, so the moving distance of the base 10 is larger than ⁇ B ⁇ p, and the linear scale 33 is contracted.
  • the moving distance of the base 10 is smaller than ⁇ B ⁇ p.
  • La calculated by the above (Formula 3) is the total movement distance of the base 10 when the predetermined interval a of the base 10 is invariable and the thermal expansion of the linear scale 33 is taken into consideration.
  • the predetermined distance a of the base 10 also thermally expands due to temperature. Therefore, as described below, the position correction coefficient k (n) is corrected in consideration of the thermal expansion amount of the base 10 at the predetermined interval a.
  • the control unit 50 proceeds to step S112 in FIG. 4 and detects the end position of the base 10 by the laser distance detector 45 and proceeds to step S113 in FIG. 4 from the initial position of the base 10 detected by the laser distance detector 45.
  • the movement distance Lc to the end position is calculated.
  • the control unit 50 proceeds to step S114 in FIG. 4 and corrects the position correction coefficient k (n) to ka (n) according to (Expression 4) below.
  • ka (n) k (n) ⁇ [La / Lc] (Equation 4)
  • the control unit 50 stores the corrected position correction coefficient ka (n) in the memory.
  • the corrected position correction coefficient ka (n) is, as shown in FIG. 5, the position correction coefficient of the linear scale 33 with respect to the scale number B (n) of the linear scale 33 in consideration of the change of the predetermined interval a of the base 10 due to thermal expansion.
  • a distribution of ka (n) or a map of position correction coefficients ka (n) is shown. Steps S111 to S114 in FIG. 4 constitute a correction coefficient correction step.
  • the control unit 50 corrects the position of the center line 31 a of the bonding head-side encoder head 31 detected using the linear scale 33 as follows using the corrected position correction coefficient ka (n).
  • the control unit 50 determines the distance L100 from the scale number 0 to the center line 31 a of the bonding head encoder head 31.
  • the movement amount or movement distance of the base 10 is controlled as
  • the mounting apparatus 100 linearly moves the base 10 by the predetermined number of graduations ⁇ B, and sequentially detects the scale number by the bonding head encoder head 31 and the camera encoder head 32.
  • the map of the position correction coefficient ka (n) of the linear scale 33 is created, and the positions of the encoder heads 31 and 32 are corrected based on the created map of the position correction coefficient ka (n).
  • the position detection accuracy of 25 can be improved to improve the movement accuracy of the base 10.
  • the base 10 is moved by a predetermined number of graduations ⁇ B, the encoder heads 31 and 32 detect the movement scale number of the linear scale 33, and the position correction coefficients k (n) are calculated. While the position of the base 10 is detected by the laser distance detector 45, the number of graduations when the base 10 is moved by the reference distance Lr is detected, and the position correction coefficient k (n) is corrected based on the result. .
  • the calculation of each position correction coefficient k (n) is similar to that described above with reference to FIG. 4 and FIG.
  • control unit 50 After repeatedly executing steps S101 to S110 of FIG. 6 to calculate k (n), the control unit 50 proceeds to step S201 of FIG.
  • step S201 of FIG. 6 the control unit 50 aligns the base 10 with a predetermined reference position as shown in FIG. Then, the control unit 50 detects the scale number B (s) of the linear scale 33 on which the bonding head encoder head 31 is positioned when the base 10 is at the reference position by the bonding head encoder head 31. Further, the control unit 50 detects the first distance from the laser distance detector 45 to the base 10 by the laser distance detector 45. Next, the control unit 50 moves the base 10 by the reference distance Lr in the X direction while detecting the distance to the base 10 by the laser distance detector 45.
  • control unit 50 detects the scale number B (e) of the linear scale 33 at the stop position by the bonding head encoder head 31.
  • step S202 the control unit 50 proceeds to step S202 in FIG. 6 and corrects the position correction coefficient k (n) according to (Expression 5) below.
  • ka (n) k (n) ⁇ [NB ⁇ p] / Lr (Equation 5)
  • the control unit 50 detects the position of the center line 31 a of the bonding head-side encoder head 31 detected by the linear scale 33 using the corrected position correction coefficient ka (n) as in the embodiment described above, or the camera-side encoder The position of the center line 32 a of the head 32 is corrected. Further, the moving distance or moving distance of the base 10 is controlled by correcting the moving distance of each encoder head 31 32 detected by the linear scale 33 using the position correction coefficient ka (n).
  • this operation can improve the position detection accuracy of the bonding head 20 and the camera 25 and can suppress a decrease in the mounting accuracy of the electronic component.
  • the bonding head encoder head 31 detects the scale number of the linear scale 33 when the base 10 is at the reference position and the stop position
  • the camera encoder head 32 detects the base 10
  • the scale number of the linear scale 33 at the reference position and the stop position may be detected.
  • the mounting apparatus 100 of the present embodiment has a first reference member 61 in which the position mark Ms is disposed at the reference position, and a second reference member 62 in which the position mark Me is disposed at the stop position. Is equipped.
  • the controller 50 aligns the optical axis 26z of the camera 25 with the position mark Ms of the first reference member 61 in step S201 of FIG. s) to detect.
  • the control unit 50 moves the base 10 until the optical axis 26z of the camera 25 comes to the position of the position mark Me.
  • the camera encoder head 32 detects the scale number B (e) of the linear scale 33.
  • the camera encoder head 32 detects the scale number of the linear scale 33 when the base 10 is at the reference position and the stop position, but the bonding head encoder head 31 detects the base 10 The scale number of the linear scale 33 at the reference position and the stop position may be detected.
  • the present embodiment exhibits the same effects as the embodiments described above.
  • the base 10 is moved by the reference distance Lr by aligning the optical axis 25z of the camera 25 with the position marks Ms and Me.
  • the position correction coefficient k (n ) May be corrected.
  • the base 10 is moved to a position where the position mark Ms falls within the field of view of the camera 25, the image of the position mark Ms is captured, and the distance d1 between the optical axis 25z of the camera 25 and the position mark Ms is detected. Further, the scale number B (s) of the linear scale 33 is detected by the bonding head side encoder head 31. Next, the base 10 is moved to a position where the position mark Me enters the field of view of the camera 25, the image of the position mark Me is detected by the camera 25, and the distance d2 between the optical axis 25z of the camera 25 and the position mark Me is detected. . Then, the distance in which the distances d1 and d2 are considered to the reference distance Lr is acquired as the approximate reference distance Lr1. Further, the scale number B (e) of the linear scale 33 is detected by the bonding head encoder head 31.
  • the scale numbers B (s) and B (e) of the linear scale 33 may be detected by the camera encoder head 32 instead of the bonding head encoder head 31.
  • the mounting apparatus 100 can improve the position detection accuracy of the bonding head 20 and the camera 25 and improve the movement accuracy of the base 10, as in the embodiment described above. .
  • the embodiment of the present invention has been described by taking the mounting apparatus 100 as an example, but the present invention is not limited to the flip chip bonding apparatus or the die bonding apparatus, and can be applied to various apparatuses.
  • the present invention can be applied to a wire bonding apparatus, an industrial robot, and a transfer apparatus.
  • the present invention can be applied to any device, not limited to the object to be transported or mounted, the size of the object, and the technical field of the object.

Landscapes

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Abstract

基板（１６）に対して直線移動し、移動方向に所定間隔ａを空けた第１位置と第２位置とを有するベース（１０）と、移動方向に沿って所定ピッチで複数の目盛が設けられたリニアスケール（３３）と、ベース（１０）の第１、第２位置に配置され、第１、第２位置に対するリニアスケール（３３）の第１、第２目盛番号Ｂ１（ｎ）、Ｂ２（ｎ）を検出する各エンコーダヘッド（３１，３２）と、を備え、ベース（１０）をリニアスケール（３３）に沿って移動させながら、逐次、各エンコーダヘッド（３１，３２）で第１、第２目盛番号Ｂ１（ｎ）、Ｂ２（ｎ）を検出し、所定間隔ａと第１目盛番号Ｂ１（ｎ）と第２目盛番号Ｂ２（ｎ）との間のスケール上の距離Ａ（ｎ）との比率に基づいて、ベース（１０）の移動量を制御する。

Description

対象物に対して移動体を直線移動させる装置および方法
　本発明は、対象物に対して移動体を直線移動させる装置および方法に関する。
　例えば、半導体装置の製造において、半導体ダイ等の電子部品を基板あるいは他の半導体ダイに実装する実装装置や、半導体ダイの電極と基板の電極にワイヤをボンディングするワイヤボンディング装置等の多くのボンディング装置が用いられている。ボンディング装置は、ＸＹテーブル上に搭載されたボンディングヘッドと、ボンディングヘッドに取り付けられてボンディングツールを上下方向に移動させるボンディングアームと、ボンディングヘッドに取り付けられて基板のボンディング位置を検出する位置検出用カメラと、を備えている。ボンディングツールの中心線と位置検出用カメラの光軸とは所定のオフセット距離だけ離して配置されている。そして、位置検出用カメラの光軸をボンディング位置に合わせた後、オフセット距離だけボンディングヘッドを移動させてボンディングツールの中心線をボンディング位置に移動させてボンディングを行うものが多い。
　一方、ボンディング動作を継続すると、温度上昇によりオフセット距離が変化する。このため、位置検出用カメラの光軸をボンディング位置に合わせた後、オフセット距離だけボンディングヘッドを移動させても、ボンディングツールの中心線がボンディング位置とならない場合がある。そこで、ボンディング動作の中間でオフセット距離を較正するボンディング装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
特開２００１－２０３２３４号公報
　ところで、ボンディング装置では、ボンディングヘッドを有するベースの移動量の検出にリニアスケールを用いているものが多い。この場合、ボンディング装置の温度が上昇すると、リニアスケールが膨張し、リニアスケールの目盛に基づいて移動するベースの移動量に誤差が発生するという問題があった。また、リニアスケールの温度上昇は一様ではないため、リニアスケールの熱膨張量も部位によって異なっている場合が多い。このため、ボンディングヘッドの位置検出精度の低下により電子部品の実装精度が低下してしまうという問題があった。
　そこで、本発明は、移動体の移動精度を向上させることを目的とする。
　本発明の装置は、対象物に対して移動体を直線移動させる装置であって、対象物に対して直線移動し、移動方向に所定間隔を空けた第１位置と第２位置とを有する移動体と、移動体の移動方向に沿って配置され、移動方向に沿って所定ピッチで複数の目盛が設けられたスケールと、移動体の第１位置に配置され、第１位置に対するスケールの第１目盛番号を検出する第１検出部と、移動体の第２位置に配置され、第２位置に対するスケールの第２目盛番号を検出する第２検出部と、移動体をスケールに沿って移動させながら、逐次、第１検出部及び第２検出部で第１目盛番号及び第２目盛番号を検出し、所定間隔と、第１目盛番号と第２目盛番号との間のスケール上の距離との比率に基づいて、移動体の移動量を制御する制御部とを備えることを特徴とする。
　本発明の装置において、移動体は、半導体ダイを対象物に搬送する搬送機構であり、対象物は、搬送された半導体ダイが実装される基板又は他の半導体ダイであって、装置は、半導体ダイを対象物に実装する装置としてもよい。
　本発明の装置において、制御部は、所定間隔と、第１目盛番号と第２目盛番号との間のスケール上の距離との比率に基づいて、スケールの一端からの所定の目盛数毎の位置補正係数を算出してもよい。
　本発明の装置において、基準位置からの移動体の距離を検出する距離検出器を備え、制御部は、距離検出器によって基準位置からの移動体の距離を検出しながら移動体をリファレンス距離だけ移動させ、移動体をリファレンス距離だけ移動させる前と移動させた後のスケールの目盛番号差を第１検出部または第２検出部で検出し、リファレンス距離と目盛番号差とに基づいて移動量を修正してもよい。
　本発明の装置において、リファレンス距離だけ離間して位置マークが配置されたリファレンス部材と、移動体に設けられ、位置マークの画像を取得する画像取得手段とを備え、制御部は、画像取得手段で取得した位置マークの画像に基づいて移動体をリファレンス距離だけ移動させ、移動させた際のスケールの目盛番号差を第１検出部又は第２検出部により検出し、リファレンス距離と目盛番号差とに基づいて移動量を修正してもよい。
　装置。
　本発明の方法は、対象物に対して移動体を直線移動させる方法であって、移動方向に所定間隔を空けた第１位置と第２位置とを有する移動体を対象物に対して直線移動させる工程と、移動方向に沿って所定ピッチで複数の目盛が設けられたスケールを移動体の移動方向に沿って配置する工程と、第１位置に対するスケールの第１目盛番号を検出する第１検出部を移動体の第１位置に配置する工程と、第２位置に対するスケールの第２目盛番号を検出する第２検出部を移動体の第１位置に配置する工程と、移動体をスケールに沿って移動させながら、逐次、第１検出部及び第２検出部で第１目盛番号及び第２目盛番号を検出し、所定間隔と、第１目盛番号と第２目盛番号との間のスケール上の距離との比率に基づいて、移動体の移動量を制御する工程とを有することを特徴とする。
　本発明の方法において、距離検出器によって基準位置からの移動体の距離を検出する工程と、距離検出器によって基準位置からの移動体の距離を検出しながら移動体をリファレンス距離だけ移動させ、移動体をリファレンス距離だけ移動させる前と移動させた後のスケールの目盛番号差を第１検出部または第２検出部により検出する工程と、リファレンス距離と目盛番号差とに基づいて移動量を修正する工程と、を含んでもよい。
　本発明の方法であって、リファレンス距離だけ離間した位置マークをリファレンス部材に配置する工程と移動体に画像取得手段を配置する工程と、画像取得手段によって位置マークの画像を取得し、取得した位置マークの画像に基づいて移動体をリファレンス距離だけ移動させる工程と、移動体をリファレンス距離だけ移動させた際のスケールの目盛番号差を第１検出部または第２検出部により検出する工程と、リファレンス距離と目盛番号差とに基づいて移動量を修正する工程と、を含んでもよい。
　本発明は、移動体の移動精度を向上させることができる。
実施形態における実装装置のシステムの構成を示す系統図である。 図１に示す実装装置においてリニアスケールが熱膨張した場合の基本動作を示す説明図で（ａ）は基準位置での状態、（ｂ）はカメラ側エンコーダヘッドで検出したリニアスケールの目盛位置にボンディングヘッド側エンコーダヘッドの中心線が合うようにベースを移動した状態を示す。 図１に示す実装装置においてベースが熱膨張した場合の基本動作を示す説明図で、（ａ）は基準位置での状態、（ｂ）はカメラ側エンコーダヘッドで検出したリニアスケールの目盛位置にボンディングヘッド側エンコーダヘッドの中心線が合うようにベースを移動した状態を示す。 図１に示す実装装置におけるリニアスケールの位置補正係数の算出動作を示すフローチャートである。 図４に示す動作の際のリニアスケールに対するベースの位置の変化と、リニアスケールに対する位置補正係数の変化とを示すグラフである。 図１に示す実装装置におけるリニアスケールの位置補正係数の他の算出動作を示すフローチャートである。 ベースをリファレンス距離だけ移動させた際のリニアスケールとベースとリファレンス部材との関係を示す説明図である。
　＜実装装置の構成＞
　以下、対象物に対して移動体を直線移動させる装置として半導体ダイ１５を基板１６等に実装する実装装置１００を例に説明する。図１に示すように、本実施形態の実装装置１００は、第１電子部品である半導体ダイ１５を対象物である基板１６または図示しない第２電子部品である他の半導体ダイに実装するものである。実装装置１００は、移動体であるベース１０と、ボンディングヘッド２０と、カメラ２５と、第１検出部であるボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１と、第２検出部であるカメラ側エンコーダヘッド３２と、リニアスケール３３と、制御部５０と、レーザ距離検出器４５と、対象物である基板１６を吸着固定するボンディングステージ１３とを備えている。実装装置１００は、例えば半導体ダイ１５を反転させた後に基板１６に実装するフリップチップボンディング装置であるが、半導体ダイ１５を反転させずに基板１６に実装するダイボンディング装置であってもよい。
　ベース１０は、直線方向であるＸ方向に延びるガイドレール１１にガイドされてＸ方向に直線移動する。また、ベース１０にはベース１０をＸ方向に駆動するリニアモータ１２が取り付けられている。
　ベース１０にはボンディングヘッド２０と画像取得手段であるカメラ２５とが取り付けられている。ボンディングヘッド２０は、半導体ダイ１５を真空吸着して基板１６にボンディングする実装ツールであるボンディングツール２１を上下方向であるＺ方向に移動させるものである。図１の符号２２ｚは、ボンディングヘッド２０のＺ方向の中心線を示す。また、ボンディングツール２１は、ボンディングヘッド２０のＺ方向の中心線２２ｚと同軸に配置されているので、中心線２２ｚはボンディングツール２１の中心を通る線でもある。カメラ２５は、基板１６を上方から撮像してその画像を取得するものである。図１の符号２６ｚはカメラ２５の光軸を示す。ボンディングヘッド２０とカメラ２５とは、ボンディングヘッド２０のＺ方向の中心線２２ｚとカメラ２５の光軸２６ｚとがベース１０の移動方向であるＸ方向に所定間隔ａだけ空けてベース１０に取り付けられている。ここで所定間隔ａは、オフセット距離である。ベース１０は、ボンディングツール２１で吸着した半導体ダイ１５を基板１６に搬送する搬送機構である。
　また、ベース１０には、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１とカメラ側エンコーダヘッド３２とが取り付けられている。図１に示すようにボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１は、中心線３１ａがボンディングヘッド２０のＺ方向の中心線２２ｚと同一の位置となるようにベース１０の第１位置に取り付けられている。また、カメラ側エンコーダヘッド３２は中心線３２ａがカメラ２５の光軸２６ｚの位置Ｃと同一の位置となるようにベース１０の第２位置に取り付けられている。したがって、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１が取り付けられる第１位置とカメラ側エンコーダヘッド３２が取り付けられる第２位置とはベース１０の移動方向であるＸ方向に所定間隔ａだけ離れている。
　ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１とカメラ側エンコーダヘッド３２とに対向する位置には、ベース１０の移動方向であるＸ方向に延びる共通のリニアスケール３３が配置されている。リニアスケール３３は所定のピッチｐで複数の目盛３４が刻まれている。ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１とカメラ側エンコーダヘッド３２とはこの目盛３４を光学的に読み取って、リニアスケール３３の上の目盛番号を検出するものである。
　ボンディングステージ１３は、基板１６を真空吸着するものである。
　レーザ距離検出器４５は、ボンディングステージ１３から離れた位置に配置され、レーザによってベース１０の基準位置からの距離を検出するものである。レーザ距離検出器４５は、実装装置１００の温度変化によるリニアスケール３３の長さに変化と関係なく、ベースのＸ方向の基準位置からの距離を検出することができる。
　図１に示すように、リニアモータ１２と、ボンディングヘッド２０とは制御部５０に接続され、制御部５０の指令によって動作する。また、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１、カメラ側エンコーダヘッド３２は制御部５０に接続され、検出したリニアスケール３３の目盛位置のデータは、制御部５０に入力される。また、カメラ２５、レーザ距離検出器４５も制御部５０に接続され、カメラ２５が撮像した画像、レーザ距離検出器４５が検出したベース１０のＸ方向の移動距離のデータは、制御部５０に入力される。
　制御部５０は、内部に情報処理を行うＣＰＵと動作プログラム、データを格納したメモリとを含むコンピュータであり、ベース１０のＸ方向位置あるいは移動量を調整するものである。
　図１に示す実装装置１００のガイドレール１１、リニアスケール３３は、図示しないＹ方向駆動機構によって一体となってＹ方向に移動可能である。Ｙ方向駆動機構は制御部５０に接続され、制御部５０の指令によって動作する。なお、Ｙ方向は、Ｘ方向と直交する水平方向である。
　なお、本実施形態の実装装置１００では、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１は、中心線３１ａがボンディングヘッド２０のＺ方向の中心線２２ｚと同一の位置となるようにベース１０に取り付けられ、カメラ側エンコーダヘッド３２は中心線３２ａがカメラ２５の光軸２６ｚと同一の位置となるようにベース１０に取り付けられていることとして説明したがこれに限らない。ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１とカメラ側エンコーダヘッド３２とはＸ方向に所定間隔ａだけ離れて配置されていれば、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１をボンディングヘッド２０の近傍に配置し、カメラ側エンコーダヘッド３２をカメラ２５の近傍に配置してもよい。
　＜実装装置の基本動作＞
　次に、図２、図３を参照しながら本実施形態の実装装置１００の基本動作について説明する。図２（ａ）は、ベース１０が撮像位置にある場合を示す。図２、図３の説明では、撮像位置はカメラ２５の光軸２６ｚの位置Ｃがボンディング領域の中心位置Ｓと一致する位置であり、ボンディングツール２１の中心位置ＢＨと半導体ダイ１５の中心位置Ｄとは一致しており、ボンディングツール２１に吸着された半導体ダイ１５の中心位置Ｄはボンディングヘッド２０のＺ方向の中心線２２ｚの上にあるとして説明する。
　図２（ａ）に示すように、撮像位置では、カメラ２５の光軸２６ｚの位置Ｃ（ｘ，ｙ）がボンディング領域の中心位置Ｓ（ｘ，ｙ）と一致している。撮像位置でカメラ側エンコーダヘッド３２の中心線３２ａはリニアスケール３３のＮ番目の目盛の位置にある。制御部５０には、カメラ側エンコーダヘッド３２からカメラ側エンコーダヘッド３２の中心線３２ａがリニアスケール３３のＮ番目の目盛の位置にあるデータが入力される。次に、制御部５０は、図１に示すリニアモータ１２によってベース１０をＸ方向に移動する。この際、制御部５０は、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１によりリニアスケール３３の目盛のデータを検出する。そして、制御部５０は、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１により検出したリニアスケール３３の目盛がＮ番目の目盛位置になるまでベース１０をＸ方向に移動する。図２（ｂ）に示す様に、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１により検出したリニアスケール３３の目盛がＮ番目の目盛位置になると、ボンディングヘッド２０の中心線２２ｚ、半導体ダイ１５の中心位置Ｄは、リニアスケール３３の目盛がＮ番目の目盛位置、つまり、ボンディング領域の中心位置Ｓとなる。本実施形態の実装装置１００は、このようにして、半導体ダイ１５の中心位置Ｄをボンディング領域の中心位置Ｓに一致させることができる。
　図２（ａ）、図２（ｂ）において、破線で示すリニアスケール３３´、目盛３４´は、リニアスケール３３が熱膨張した状態を示す。リニアスケール３３が熱膨張している場合、撮像位置においてカメラ側エンコーダヘッド３２が検出する目盛位置は、Ｎ´となる。そして、制御部５０は、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１により検出したリニアスケール３３の目盛がＮ´番目の目盛位置となるまでベース１０をＸ方向に移動させる。これにより、半導体ダイ１５の中心位置Ｄをリニアスケール３３の目盛がＮ´番目の目盛位置、つまり、ボンディング領域の中心位置Ｓに合わせることができる。
　以上説明したように、本実施形態の実装装置１００は、リニアスケール３３が熱膨張しても、オフセット距離である所定間隔ａの較正を行わずに半導体ダイ１５の中心位置Ｄをボンディング領域の中心位置Ｓに合わせることができる。
　図３（ａ）、図３（ｂ）は、ベース１０がＸ方向に熱膨張した場合を示す。図３（ａ）に示すように、撮像位置では、カメラ２５の光軸２６ｚの位置Ｃ（ｘ，ｙ）がボンディング領域の中心位置Ｓ（ｘ，ｙ）と一致している。撮像位置でカメラ側エンコーダヘッド３２の中心線３２ａはリニアスケール３３のＮ番目の目盛の位置にある。この際、ボンディングヘッド２０の中心線２２ｚは、カメラ２５の光軸２６ｚからＸ方向にａ´だけ離れた位置にある。
　制御部５０は、図２（ｂ）を参照して説明したと同様、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１により検出したリニアスケール３３の目盛がＮ番目の目盛位置になるまでベース１０をＸ方向に移動する。すると、半導体ダイ１５の中心位置Ｄは、リニアスケール３３の目盛がＮ番目の目盛位置、つまり、ボンディング領域の中心位置Ｓとなる。本実施形態の実装装置１００は、このようにして、ベース１０が熱膨張しても、オフセット距離である所定間隔ａの較正を行わずに半導体ダイ１５の中心位置Ｄをボンディング領域の中心位置Ｓに合わせることができる。また、所定間隔ａの調整を行わずにベース１０の移動精度を向上させることができる。
　＜実装装置におけるリニアスケールの位置補正係数ｋ（ｎ）の算出動作（算出方法）＞
　次に、図４から図５を参照しながらリニアスケール３３の位置補正係数ｋ（ｎ）の算出動作について説明する。先に図２から図３を参照して説明したように、本実施形態の実装装置１００は、リニアスケール３３、或いはベース１０が熱膨張しても、オフセット距離である所定間隔ａの較正を行わずに半導体ダイ１５の中心位置Ｄをボンディング領域の中心位置Ｓに合わせることができる。しかし、リニアスケール３３或いはベース１０が熱膨張すると、実装装置１００の基準位置から所定の位置までベースを移動させる際に誤差が発生する場合がある。そこで、以下、リニアスケール３３の位置補正係数の算出動作（算出方法）について説明する。
　図４のステップＳ１０１に示すように、制御部５０は、ｎを１に初期設定する。そして制御部５０は、図４のステップＳ１０２、図５に示すように、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１の中心線３１ａをリニアスケール３３の第１目盛番号Ｂ１（１）に合わせる。そして、制御部５０は、図４のステップＳ１０３においてレーザ距離検出器４５によってこの時のベース１０のＸ方向の位置を初期位置として検出する。
　次に、制御部５０は、図４のステップＳ１０４に示すように、カメラ側エンコーダヘッド３２によってカメラ側エンコーダヘッド３２の中心線３２ａの位置するリニアスケール３３の第２目盛番号Ｂ２（１）を読みとる。そして、制御部５０は、図４のステップＳ１０５に進み、次の（式１)により、リニアスケール３３の上の第２目盛番号Ｂ２（１）と第１目盛番号Ｂ１（１）との距離Ａ１（１）を算出する。距離Ａ（１）は、リニアスケール３３で検出したボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１の中心線３１ａとカメラ側エンコーダヘッド３２の中心線３２ａとの距離でもある。
　　　Ａ（１）＝［Ｂ２（１）－Ｂ１（１）］×ｐ　　・・・・（式１）
　（式１）において、ｐはリニアスケール３３の目盛３４のピッチである。
　次に、制御部５０は、図４のステップＳ１０６に進み、次の（式２）によってリニアスケール３３の位置補正係数ｋ（１）を算出する。位置補正係数ｋ（１）は、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１の中心線３１ａとカメラ側エンコーダヘッド３２の中心線３２ａとの間の所定間隔ａと、リニアスケール３３の上の第２目盛番号Ｂ２（１）と第１目盛番号Ｂ１（１）との距離Ａ（１）との比率である。
　　　ｋ（１）＝ａ／Ａ（１）　　　　　　　　　　・・・・・（式２）
　図４のステップＳ１０５、Ｓ１０６は、補正係数算出ステップを構成する。
　次に制御部５０は、図４のステップＳ１０７に進み、リニアモータ１２によってベース１０をＸ方向に所定の目盛数ΔＢだけ移動させ、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１の中心線３１ａを第２目盛番号Ｂ２（１）＝Ｂ１（１）＋ΔＢに合わせる。そして、制御部５０は、図４のステップＳ１０８に進んでＢ１（２）にＢ１（１）＋ΔＢを格納する。制御部５０は、図４のステップＳ１０９でｎがｎｅｎｄに到達したかどうかを判断し、ｎがｎｅｎｄに到達していない場合には、図４のステップＳ１１０に進んでｎを１だけインクリメントしてｎ＝ｎ＋１＝２として図４のステップＳ１０４に戻る。ここで、ｎｅｎｄは、ベース１０が終了位置まで移動するまでに必要な移動回数であり、第１目盛番号Ｂ１（ｎｅｎｄ）は、ベース１０が終了位置まで移動した際にボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１の中心線３１ａが位置するリニアスケール３３の目盛番号を示す。図４のステップＳ１０４、Ｓ１０７－Ｓ１１０は、目盛番号検出ステップを構成する。
　このように、制御部５０は、リニアスケール３３の所定の目盛数ΔＢだけベース１０をＸ方向に直線移動させ、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１とカメラ側エンコーダヘッド３２とによって、逐次、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１の中心線３１ａが位置するリニアスケール３３の第１目盛番号Ｂ１（ｎ）と、カメラ側エンコーダヘッド３２の中心線３２ａが位置するリニアスケール３３の第２目盛番号Ｂ２（ｎ）とを検出する。そして、制御部５０は、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１の中心線３１ａとカメラ側エンコーダヘッド３２の中心線３２ａとの間の所定間隔ａと、リニアスケール３３の上の第２目盛番号Ｂ２（ｎ）と第１目盛番号Ｂ１（ｎ）との距離Ａ（ｎ）との比率であるリニアスケール３３の位置補正係数ｋ（ｎ）を算出する動作を繰り返す。このように、制御部５０は、リニアスケール３３の一端から所定の目盛数ΔＢ毎に位置補正係数ｋ（ｎ）を算出し、図５のグラフに示すように、リニアスケール３３の各目盛番号Ｂ（ｎ）におけるリニアスケール３３の位置補正係数ｋ（ｎ）を算出することができる。
　今、リニアスケール３３もベース１０も常温で熱膨張がない場合、図５に示すように、ｎ＝１における第１目盛番号Ｂ１（１）＝０、第２目盛番号Ｂ２（１）＝１０とすると、
　　Ａ（１）＝［Ｂ２（１）－Ｂ１（１）］×ｐ＝［１０－０］×ｐ
　　　　　　＝１０目盛×ｐ＝ａ
　であり、ｋ（１）＝ａ／Ａ（１）＝１．０
　となる。
　ｎ＝２の位置ではリニアスケール３３が熱膨張しており、ベース１０の所定間隔ａは不変であるとする。この場合、リニアスケール３３の目盛３４のピッチｐは、熱膨張により、ｐ´（＞ｐ）となっている。ｎ＝２においてボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１の中心線３１ａを第１目盛番号Ｂ１（２）＝２０番に合わせると、第２目盛番号Ｂ２（２）と第１目盛番号Ｂ１（２）との間の目盛数は、熱膨張のない場合の１０目盛よりも少ない目盛数、例えば、９目盛となる。このため、リニアスケール３３の上の第２目盛番号Ｂ２（２）と第１目盛番号Ｂ１（２）との距離Ａ（２）、或いは、リニアスケール３３で検出したボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１の中心線３１ａとカメラ側エンコーダヘッド３２の中心線３２ａとの間の距離Ａ（２）は、
　　Ａ（２）＝［Ｂ２（２）－Ｂ１（２）］×ｐ
　　　　　　＝９目盛×ｐ
　となる。一方、ベース１０の所定間隔ａは不変であり、１０目盛×ｐであるから、
　ｋ（２）＝ａ／Ａ（２）＝（１０目盛×ｐ）／（９目盛×ｐ）＞１．０
　となる。このように、リニアスケール３３が熱膨張によって伸びていると、位置補正係数ｋ（ｎ）は、１．０より大きい数字となる。また、逆にリニアスケール３３が常温よりも低い温度で、収縮している場合には、位置補正係数ｋ（ｎ）は、１．０よりも小さい数字となる。
　リニアスケール３３が熱膨張していない場合にベース１０をＸ方向に所定の目盛数ΔＢだけ移動させると、ベース１０はΔＢ×ｐだけＸ方向に移動する。リニアスケール３３が熱膨張または収縮しているとベース１０の移動距離は、熱膨張或いは収縮を補正し、ΔＢ×ｐ×ｋ（ｎ）となる。リニアスケール３３が熱膨張している場合には、ｋ（ｎ）は、１．０よりも大きいので、ベース１０の移動距離は、ΔＢ×ｐよりも大きくなり、リニアスケール３３が収縮している場合には、ｋ（ｎ）が１．０よりも小さくなるので、ベース１０の移動距離はΔＢ×ｐよりも小さくなる。また、ベース１０の初期位置から終了位置までの移動距離は、ΔＢ×ｐ×ｋ（ｎ）をｎ＝１からｎｅｎｄまで積算したものとなる。
　ｎがｎｅｎｄに到達したら、制御部５０は、図４のステップＳ１１１に進み、次の（式３）でベース１０の全移動距離Ｌａを算出する。
　　　Ｌａ＝Σ［ΔＢ×ｐ×ｋ（ｎ）］　　　　　・・・・（式３）
　上記の（式３）で計算したＬａは、ベース１０の所定間隔ａが不変でリニアスケール３３の熱膨張を考慮した場合のベース１０の全移動距離である。しかし、ベース１０の所定間隔ａも温度よって熱膨張する。そこで、以下の様に、ベース１０の所定間隔ａの熱膨張量を考慮して位置補正係数ｋ（ｎ）を修正する。
　制御部５０は、図４のステップＳ１１２に進み、レーザ距離検出器４５によってベース１０の終了位置を検出して図４のステップＳ１１３に進み、レーザ距離検出器４５によって検出したベース１０の初期位置から終了位置までの移動距離Ｌｃを算出する。
　制御部５０は、図４のステップＳ１１４に進んで、下記の（式４）によって位置補正係数ｋ（ｎ）を修正してｋａ（ｎ）とする。
　　　ｋａ（ｎ）＝ｋ（ｎ）×［Ｌａ／Ｌｃ］　　・・・・・（式４）
　制御部５０は、修正した位置補正係数ｋａ（ｎ）をメモリに格納する。修正した位置補正係数ｋａ（ｎ）は、図５に示すように、熱膨張によるベース１０の所定間隔ａの変化を考慮したリニアスケール３３の目盛番号Ｂ（ｎ）に対するリニアスケール３３の位置補正係数ｋａ（ｎ）の分布、あるいは、位置補正係数ｋａ（ｎ）のマップを示す。図４のステップＳ１１１からＳ１１４は、補正係数修正ステップを構成する。
　制御部５０は、修正した位置補正係数ｋａ（ｎ）を用いて以下のように、リニアスケール３３を用いて検出したボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１の中心線３１ａの位置を補正する。ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１で検出したリニアスケール３３の目盛番号がＢ１００で、Ｂ１００＝ΔＢ×ｍ＋ｊの場合、制御部５０は、目盛番号０からボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１の中心線３１ａまでの距離Ｌ１００を、
　　Ｌ１００＝［ΣΔＢ×ｋａ（ｎ）×ｐ］（ｎ＝１～ｍ）＋ｋａ（ｍ＋１）×ｊ×ｐ
　として算出し、ベース１０の移動量或いは移動距離を制御する。
　つまり、制御部５０は、補正なしの場合に、リニアスケール３３で検出した目盛番号０から目盛番号Ｂ１００までのボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１の移動距離Ｌ１００ｂ＝（ΔＢ×ｍ＋ｊ）×ｐを、修正した位置補正係数ｋａ（ｎ）を用いて、距離Ｌ１００＝［ΣΔＢ×ｋａ（ｎ）×ｐ］（ｎ＝１～ｍ）＋ｋａ（ｍ＋１）×ｊ×ｐに修正し、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１が取り付けられているベース１０の移動量或いは移動距離を制御する。
　以上、説明したように、本実施形態の実装装置１００は、所定の目盛数ΔＢだけベース１０を直線移動させ、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１とカメラ側エンコーダヘッド３２により、逐次、目盛番号を検出してリニアスケール３３の位置補正係数ｋａ（ｎ）のマップを作成し、作成した位置補正係数ｋａ（ｎ）のマップに基づいて各エンコーダヘッド３１、３２の位置を修正するので、ボンディングヘッド２０、カメラ２５の位置検出精度を向上させてベース１０の移動精度を向上させることができる。
　次に、図６、図７を参照しながら、本実施形態の実装装置１００のリニアスケールの位置補正係数ｋ（ｎ）の他の算出動作について説明する。図４、図５を参照して説明した動作と同様の動作については、同様のステップ符号を付して説明は省略する。
　図５に示す動作は、ベース１０を所定の目盛数ΔＢだけ移動させて各エンコーダヘッド３１、３２でリニアスケール３３の移動目盛番号を検出して各位置補正係数ｋ（ｎ）を算出した後、レーザ距離検出器４５によってベース１０の位置を検出しながらベース１０をリファレンス距離Ｌｒだけ移動させた際の目盛数を検出し、この結果に基づいて位置補正係数ｋ（ｎ）を修正するものである。各位置補正係数ｋ（ｎ）を算出は、先に図４、図５を参照して説明したのと同様なので、説明は省略する。
　制御部５０は、図６のステップＳ１０１からＳ１１０を繰り返して実行してｋ（ｎ）を算出したら、図６のステップＳ２０１に進む。
　制御部５０は、図６のステップＳ２０１において、図７に示すように、ベース１０を所定の基準位置に合わせる。そして、制御部５０は、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１によってベース１０が基準位置にある時のボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１が位置するリニアスケール３３の目盛番号Ｂ（ｓ）を検出する。また、制御部５０は、レーザ距離検出器４５によってレーザ距離検出器４５からベース１０までの第１距離を検出する。次に、制御部５０は、レーザ距離検出器４５によってベース１０までの距離を検出しながらベース１０をＸ方向にリファレンス距離Ｌｒだけ移動させる。ベース１０がリファレンス距離Ｌｒだけ移動し、停止位置になったら、制御部５０は、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１によって停止位置におけるリニアスケール３３の目盛番号Ｂ（ｅ）を検出する。制御部５０は、基準位置の目盛番号と停止位置の目盛番号の差＝（Ｂ（ｅ）－Ｂ（ｓ））からリファレンス距離Ｌｒだけベース１０が移動した際のリニアスケール３３の目盛番号差ＮＢ＝（Ｂ（ｅ）－Ｂ（ｓ））を算出する。
　制御部５０は、目盛番号差ＮＢを検出したら、図６のステップＳ２０２に進み、下記の（式５）によって位置補正係数ｋ（ｎ）を修正する。
　　ｋａ（ｎ）＝ｋ（ｎ）×［ＮＢ×ｐ］／Ｌｒ　・・・・・（式５）
　制御部５０は、先に説明した実施形態と同様、修正した位置補正係数ｋａ（ｎ）を用いてリニアスケール３３によって検出したボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１の中心線３１ａの位置、または、カメラ側エンコーダヘッド３２の中心線３２ａの位置を補正する。また、リニアスケール３３で検出した各エンコーダヘッド３１、３２の移動距離を修正した位置補正係数ｋａ（ｎ）を用いて修正し、ベース１０の移動量或いは移動距離を制御する。
　本動作は、先に図４、図５を参照して説明した動作と同様、ボンディングヘッド２０、カメラ２５の位置検出精度を向上させて電子部品の実装精度が低下することを抑制することができる。なお、上記の説明では、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１によってベース１０が基準位置、停止位置にある際のリニアスケール３３の目盛番号を検出することとして説明したが、カメラ側エンコーダヘッド３２によってベース１０が基準位置、停止位置にある際のリニアスケール３３の目盛番号を検出してもよい。
　次に、図６のステップＳ２０１、Ｓ２０２の他の動作について説明する。
　本実施形態の実装装置１００は、図７に示すように、位置マークＭｓが基準位置に配置されている第１リファレンス部材６１と、位置マークＭｅが停止位置に配置されている第２リファレンス部材６２を備えている。
　制御部５０は、図６のステップＳ２０１において、カメラ２５の光軸２６ｚを第１リファレンス部材６１の位置マークＭｓの位置に合わせ、カメラ側エンコーダヘッド３２によって基準位置におけるリニアスケール３３の目盛番号Ｂ（ｓ）を検出する。次に、制御部５０は、カメラ２５で画像を取得しながら、カメラ２５の光軸２６ｚが位置マークＭｅの位置に来るまでベース１０を移動させる。そして、カメラ２５の光軸２６ｚが位置マークＭｅの停止位置に来たら、カメラ側エンコーダヘッド３２でリニアスケール３３の目盛番号Ｂ（ｅ）を検出する。そして、制御部５０は、基準位置の目盛番号と停止位置の目盛番号の差＝（Ｂ（ｅ）－Ｂ（ｓ））からリファレンス距離Ｌｒだけベース１０が移動した際のリニアスケール３３の目盛番号差ＮＢ＝（Ｂ（ｅ）－Ｂ（ｓ））を算出する。
　制御部５０は、先の動作と同様、目盛番号差ＮＢを検出したら、図６のステップＳ２０２に進み、下記の（式５）によって位置補正係数ｋ（ｎ）を修正する。
　　ｋａ（ｎ）＝ｋ（ｎ）×［ＮＢ×ｐ］／Ｌｒ　　・・・・・　（式５）
　以上説明したように、先に説明した動作と同様、ボンディングヘッド２０、カメラ２５の位置検出精度を向上させてベース１０の移動精度を向上させることができる。なお、上記の説明では、カメラ側エンコーダヘッド３２によってベース１０が基準位置、停止位置にある際のリニアスケール３３の目盛番号を検出することとして説明したが、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１によってベース１０が基準位置、停止位置にある際のリニアスケール３３の目盛番号を検出してもよい。
　本実施形態は、先に説明した実施形態と同様の効果を奏する。
　以上説明した実施形態では、カメラ２５の光軸２５ｚを位置マークＭｓ、Ｍｅに合わせることでベース１０をリファレンス距離Ｌｒだけ移動させることとして説明したが、以下のような方法で位置補正係数ｋ（ｎ）の修正を行ってもよい。
　カメラ２５の視野に位置マークＭｓが入る位置にベース１０を移動させ、位置マークＭｓの画像を撮像し、カメラ２５の光軸２５ｚと位置マークＭｓとの距離ｄ１を検出する。また、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１によってリニアスケール３３の目盛番号Ｂ（ｓ）を検出する。次に、カメラ２５の視野に位置マークＭｅが入る位置までベース１０を移動させ、カメラ２５で位置マークＭｅの画像を検出し、カメラ２５の光軸２５ｚと位置マークＭｅとの距離ｄ２を検出する。そして、リファレンス距離Ｌｒに距離ｄ１、ｄ２を考慮した距離を近似リファレンス距離Ｌｒ１として取得する。また、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１によってリニアスケール３３の目盛番号Ｂ（ｅ）を検出する。
　そして、目盛番号差ＮＢ＝（Ｂ（ｅ）－Ｂ（ｓ））と近似リファレンス距離Ｌｒ１とから、下記の（式６）によって位置補正係数ｋ（ｎ）を修正する。
　　ｋａ（ｎ）＝ｋ（ｎ）×［ＮＢ×ｐ］／Ｌｒ１　・・・・・（式６）
　なお、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド３１に代えてカメラ側エンコーダヘッド３２によってリニアスケール３３の目盛番号Ｂ（ｓ）、Ｂ（ｅ）を検出するようにしてもよい。
　以上、説明したように、本実施形態の実装装置１００は、先に説明した実施形態と同様、ボンディングヘッド２０、カメラ２５の位置検出精度を向上させてベース１０の移動精度を向上させることができる。
　以上の説明では、実装装置１００を例として本発明の実施形態を説明したが、本発明は、フリップチップボンディング装置あるいはダイボンディング装置に限らず、さまざまな装置に適用することが可能である。例えば、ワイヤボンディング装置、工業用ロボット、搬送装置に適用することができる。搬送又は実装する対象物、対象物の大きさ、対象物の技術分野に限らず、あらゆる装置に適用することができる。
　１０　ベース、１１　ガイドレール、１２　リニアモータ、１３　ボンディングステージ、１５　半導体ダイ、１６　基板、２０　ボンディングヘッド、２１　ボンディングツール、２２ｚ、３１ａ、３２ａ　中心線、２５　カメラ、２６ｚ　光軸、３１　ボンディングヘッド側エンコーダヘッド、３２　カメラ側エンコーダヘッド、３３　リニアスケール、３４　目盛、４５　レーザ距離検出器、５０　制御部、６１、６２　リファレンス部材、１００　実装装置。

Claims (8)

  1. 　対象物に対して移動体を直線移動させる装置であって、
    　前記対象物に対して直線移動し、移動方向に所定間隔を空けた第１位置と第２位置とを有する前記移動体と、
    　前記移動体の前記移動方向に沿って配置され、前記移動方向に沿って所定ピッチで複数の目盛が設けられたスケールと、
    　前記移動体の前記第１位置に配置され、前記第１位置に対する前記スケールの第１目盛番号を検出する第１検出部と、
    　前記移動体の前記第２位置に配置され、前記第２位置に対する前記スケールの第２目盛番号を検出する第２検出部と、
    　前記移動体を前記スケールに沿って移動させながら、逐次、前記第１検出部及び前記第２検出部で前記第１目盛番号及び前記第２目盛番号を検出し、前記所定間隔と、前記第１目盛番号と前記第２目盛番号との間のスケール上の距離との比率に基づいて、前記移動体の移動量を制御する制御部とを備える、
    　装置。
  2. 　請求項１に記載の装置であって、
    　前記移動体は、半導体ダイを前記対象物に搬送する搬送機構であり、
    　前記対象物は、搬送された前記半導体ダイが実装される基板又は他の半導体ダイであって、
    　前記装置は、前記半導体ダイを前記対象物に実装する装置であることを特徴とする、
    　装置。
  3. 　請求項１または２に記載の装置であって、
    　前記制御部は、前記所定間隔と、前記第１目盛番号と前記第２目盛番号との間のスケール上の距離との比率に基づいて、前記スケールの一端からの所定の目盛数毎の位置補正係数を算出する、
    　装置。
  4. 　請求項１または２に記載の装置であって、
    　基準位置からの前記移動体の距離を検出する距離検出器を備え、
    　前記制御部は、
    　前記距離検出器によって前記基準位置からの前記移動体の距離を検出しながら前記移動体をリファレンス距離だけ移動させ、前記移動体を前記リファレンス距離だけ移動させる前と移動させた後の前記スケールの目盛番号差を前記第１検出部または前記第２検出部で検出し、
    　前記リファレンス距離と前記目盛番号差とに基づいて前記移動量を修正する、
    　装置。
  5. 　請求項１に記載の装置であって、
    　リファレンス距離だけ離間して位置マークが配置されたリファレンス部材と、
    　前記移動体に設けられ、前記位置マークの画像を取得する画像取得手段と、を備え、
    　前記制御部は、前記画像取得手段で取得した前記位置マークの画像に基づいて前記移動体を前記リファレンス距離だけ移動させ、移動させた際の前記スケールの目盛番号差を前記第１検出部又は前記第２検出部により検出し、
    　前記リファレンス距離と前記目盛番号差とに基づいて前記移動量を修正する、
    　装置。
  6. 　対象物に対して移動体を直線移動させる方法であって、
    　移動方向に所定間隔を空けた第１位置と第２位置とを有する前記移動体を前記対象物に対して直線移動させる工程と、
    　前記移動方向に沿って所定ピッチで複数の目盛が設けられたスケールを前記移動体の前記移動方向に沿って配置する工程と、
    　前記第１位置に対する前記スケールの第１目盛番号を検出する第１検出部を前記移動体の前記第１位置に配置する工程と、
    　前記第２位置に対する前記スケールの第２目盛番号を検出する第２検出部を前記移動体の前記第１位置に配置する工程と、
    　前記移動体を前記スケールに沿って移動させながら、逐次、前記第１検出部及び前記第２検出部で前記第１目盛番号及び前記第２目盛番号を検出し、前記所定間隔と、前記第１目盛番号と前記第２目盛番号との間のスケール上の距離との比率に基づいて、前記移動体の移動量を制御する工程とを有する、
    　方法。
  7. 　請求項６に記載の方法であって、
    　距離検出器によって基準位置からの前記移動体の距離を検出する工程と、
    　前記距離検出器によって前記基準位置からの前記移動体の距離を検出しながら前記移動体をリファレンス距離だけ移動させ、前記移動体を前記リファレンス距離だけ移動させる前と移動させた後の前記スケールの目盛番号差を前記第１検出部または前記第２検出部により検出する工程と、
    　前記リファレンス距離と前記目盛番号差とに基づいて前記移動量を修正する工程と、
    　を含む方法。
  8. 　請求項６に記載の方法であって、
    　リファレンス距離だけ離間した位置マークをリファレンス部材に配置する工程と
    　前記移動体に画像取得手段を配置する工程と、
    　前記画像取得手段によって前記位置マークの画像を取得し、取得した前記位置マークの画像に基づいて前記移動体を前記リファレンス距離だけ移動させる工程と、
    　前記移動体を前記リファレンス距離だけ移動させた際の前記スケールの目盛番号差を前記第１検出部または前記第２検出部により検出する工程と、
    　前記リファレンス距離と前記目盛番号差とに基づいて前記移動量を修正する工程と、
    　を含む方法。
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