JPWO2019044819A1 - 対象物に対して移動体を直線移動させる装置および方法 - Google Patents

対象物に対して移動体を直線移動させる装置および方法 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2019044819A1
JPWO2019044819A1 JP2019539523A JP2019539523A JPWO2019044819A1 JP WO2019044819 A1 JPWO2019044819 A1 JP WO2019044819A1 JP 2019539523 A JP2019539523 A JP 2019539523A JP 2019539523 A JP2019539523 A JP 2019539523A JP WO2019044819 A1 JPWO2019044819 A1 JP WO2019044819A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scale
distance
moving body
moving
scale number
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2019539523A
Other languages
English (en)
Other versions
JP7072264B2 (ja
Inventor
耕平 瀬山
耕平 瀬山
哲弥 歌野
哲弥 歌野
勇一郎 野口
勇一郎 野口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinkawa Ltd
Original Assignee
Shinkawa Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shinkawa Ltd filed Critical Shinkawa Ltd
Publication of JPWO2019044819A1 publication Critical patent/JPWO2019044819A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7072264B2 publication Critical patent/JP7072264B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
    • H01L21/681Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment using optical controlling means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67144Apparatus for mounting on conductive members, e.g. leadframes or conductors on insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/52Mounting semiconductor bodies in containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/0404Pick-and-place heads or apparatus, e.g. with jaws
    • H05K13/0406Drive mechanisms for pick-and-place heads, e.g. details relating to power transmission, motors or vibration damping
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16135Disposition the bump connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/16145Disposition the bump connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being stacked
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/16227Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the bump connector connecting to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32135Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/32145Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being stacked
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48145Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being stacked
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/757Means for aligning
    • H01L2224/75702Means for aligning in the upper part of the bonding apparatus, e.g. in the bonding head
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/757Means for aligning
    • H01L2224/75753Means for optical alignment, e.g. sensors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/759Means for monitoring the connection process
    • H01L2224/75901Means for monitoring the connection process using a computer, e.g. fully- or semi-automatic bonding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/787Means for aligning
    • H01L2224/78702Means for aligning in the upper part of the bonding apparatus, e.g. in the capillary or wedge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/787Means for aligning
    • H01L2224/78753Means for optical alignment, e.g. sensors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/789Means for monitoring the connection process
    • H01L2224/78901Means for monitoring the connection process using a computer, e.g. fully- or semi-automatic bonding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/8512Aligning
    • H01L2224/85121Active alignment, i.e. by apparatus steering, e.g. optical alignment using marks or sensors
    • H01L2224/85132Active alignment, i.e. by apparatus steering, e.g. optical alignment using marks or sensors using marks formed outside the semiconductor or solid-state body, i.e. "off-chip"
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/10Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L24/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L24/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

基板(16)に対して直線移動し、移動方向に所定間隔aを空けた第1位置と第2位置とを有するベース(10)と、移動方向に沿って所定ピッチで複数の目盛が設けられたリニアスケール(33)と、ベース(10)の第1、第2位置に配置され、第1、第2位置に対するリニアスケール(33)の第1、第2目盛番号B1(n)、B2(n)を検出する各エンコーダヘッド(31,32)と、を備え、ベース(10)をリニアスケール(33)に沿って移動させながら、逐次、各エンコーダヘッド(31,32)で第1、第2目盛番号B1(n)、B2(n)を検出し、所定間隔aと第1目盛番号B1(n)と第2目盛番号B2(n)との間のスケール上の距離A(n)との比率に基づいて、ベース(10)の移動量を制御する。

Description

本発明は、対象物に対して移動体を直線移動させる装置および方法に関する。
例えば、半導体装置の製造において、半導体ダイ等の電子部品を基板あるいは他の半導体ダイに実装する実装装置や、半導体ダイの電極と基板の電極にワイヤをボンディングするワイヤボンディング装置等の多くのボンディング装置が用いられている。ボンディング装置は、XYテーブル上に搭載されたボンディングヘッドと、ボンディングヘッドに取り付けられてボンディングツールを上下方向に移動させるボンディングアームと、ボンディングヘッドに取り付けられて基板のボンディング位置を検出する位置検出用カメラと、を備えている。ボンディングツールの中心線と位置検出用カメラの光軸とは所定のオフセット距離だけ離して配置されている。そして、位置検出用カメラの光軸をボンディング位置に合わせた後、オフセット距離だけボンディングヘッドを移動させてボンディングツールの中心線をボンディング位置に移動させてボンディングを行うものが多い。
一方、ボンディング動作を継続すると、温度上昇によりオフセット距離が変化する。このため、位置検出用カメラの光軸をボンディング位置に合わせた後、オフセット距離だけボンディングヘッドを移動させても、ボンディングツールの中心線がボンディング位置とならない場合がある。そこで、ボンディング動作の中間でオフセット距離を較正するボンディング装置が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特開2001−203234号公報
ところで、ボンディング装置では、ボンディングヘッドを有するベースの移動量の検出にリニアスケールを用いているものが多い。この場合、ボンディング装置の温度が上昇すると、リニアスケールが膨張し、リニアスケールの目盛に基づいて移動するベースの移動量に誤差が発生するという問題があった。また、リニアスケールの温度上昇は一様ではないため、リニアスケールの熱膨張量も部位によって異なっている場合が多い。このため、ボンディングヘッドの位置検出精度の低下により電子部品の実装精度が低下してしまうという問題があった。
そこで、本発明は、移動体の移動精度を向上させることを目的とする。
本発明の装置は、対象物に対して移動体を直線移動させる装置であって、対象物に対して直線移動し、移動方向に所定間隔を空けた第1位置と第2位置とを有する移動体と、移動体の移動方向に沿って配置され、移動方向に沿って所定ピッチで複数の目盛が設けられたスケールと、移動体の第1位置に配置され、第1位置に対するスケールの第1目盛番号を検出する第1検出部と、移動体の第2位置に配置され、第2位置に対するスケールの第2目盛番号を検出する第2検出部と、移動体をスケールに沿って移動させながら、逐次、第1検出部及び第2検出部で第1目盛番号及び第2目盛番号を検出し、所定間隔と、第1目盛番号と第2目盛番号との間のスケール上の距離との比率に基づいて、移動体の移動量を制御する制御部とを備えることを特徴とする。
本発明の装置において、移動体は、半導体ダイを対象物に搬送する搬送機構であり、対象物は、搬送された半導体ダイが実装される基板又は他の半導体ダイであって、装置は、半導体ダイを対象物に実装する装置としてもよい。
本発明の装置において、制御部は、所定間隔と、第1目盛番号と第2目盛番号との間のスケール上の距離との比率に基づいて、スケールの一端からの所定の目盛数毎の位置補正係数を算出してもよい。
本発明の装置において、基準位置からの移動体の距離を検出する距離検出器を備え、制御部は、距離検出器によって基準位置からの移動体の距離を検出しながら移動体をリファレンス距離だけ移動させ、移動体をリファレンス距離だけ移動させる前と移動させた後のスケールの目盛番号差を第1検出部または第2検出部で検出し、リファレンス距離と目盛番号差とに基づいて移動量を修正してもよい。
本発明の装置において、リファレンス距離だけ離間して位置マークが配置されたリファレンス部材と、移動体に設けられ、位置マークの画像を取得する画像取得手段とを備え、制御部は、画像取得手段で取得した位置マークの画像に基づいて移動体をリファレンス距離だけ移動させ、移動させた際のスケールの目盛番号差を第1検出部又は第2検出部により検出し、リファレンス距離と目盛番号差とに基づいて移動量を修正してもよい。
装置。
本発明の方法は、対象物に対して移動体を直線移動させる方法であって、移動方向に所定間隔を空けた第1位置と第2位置とを有する移動体を対象物に対して直線移動させる工程と、移動方向に沿って所定ピッチで複数の目盛が設けられたスケールを移動体の移動方向に沿って配置する工程と、第1位置に対するスケールの第1目盛番号を検出する第1検出部を移動体の第1位置に配置する工程と、第2位置に対するスケールの第2目盛番号を検出する第2検出部を移動体の第1位置に配置する工程と、移動体をスケールに沿って移動させながら、逐次、第1検出部及び第2検出部で第1目盛番号及び第2目盛番号を検出し、所定間隔と、第1目盛番号と第2目盛番号との間のスケール上の距離との比率に基づいて、移動体の移動量を制御する工程とを有することを特徴とする。
本発明の方法において、距離検出器によって基準位置からの移動体の距離を検出する工程と、距離検出器によって基準位置からの移動体の距離を検出しながら移動体をリファレンス距離だけ移動させ、移動体をリファレンス距離だけ移動させる前と移動させた後のスケールの目盛番号差を第1検出部または第2検出部により検出する工程と、リファレンス距離と目盛番号差とに基づいて移動量を修正する工程と、を含んでもよい。
本発明の方法であって、リファレンス距離だけ離間した位置マークをリファレンス部材に配置する工程と移動体に画像取得手段を配置する工程と、画像取得手段によって位置マークの画像を取得し、取得した位置マークの画像に基づいて移動体をリファレンス距離だけ移動させる工程と、移動体をリファレンス距離だけ移動させた際のスケールの目盛番号差を第1検出部または第2検出部により検出する工程と、リファレンス距離と目盛番号差とに基づいて移動量を修正する工程と、を含んでもよい。
本発明は、移動体の移動精度を向上させることができる。
実施形態における実装装置のシステムの構成を示す系統図である。 図1に示す実装装置においてリニアスケールが熱膨張した場合の基本動作を示す説明図で(a)は基準位置での状態、(b)はカメラ側エンコーダヘッドで検出したリニアスケールの目盛位置にボンディングヘッド側エンコーダヘッドの中心線が合うようにベースを移動した状態を示す。 図1に示す実装装置においてベースが熱膨張した場合の基本動作を示す説明図で、(a)は基準位置での状態、(b)はカメラ側エンコーダヘッドで検出したリニアスケールの目盛位置にボンディングヘッド側エンコーダヘッドの中心線が合うようにベースを移動した状態を示す。 図1に示す実装装置におけるリニアスケールの位置補正係数の算出動作を示すフローチャートである。 図4に示す動作の際のリニアスケールに対するベースの位置の変化と、リニアスケールに対する位置補正係数の変化とを示すグラフである。 図1に示す実装装置におけるリニアスケールの位置補正係数の他の算出動作を示すフローチャートである。 ベースをリファレンス距離だけ移動させた際のリニアスケールとベースとリファレンス部材との関係を示す説明図である。
<実装装置の構成>
以下、対象物に対して移動体を直線移動させる装置として半導体ダイ15を基板16等に実装する実装装置100を例に説明する。図1に示すように、本実施形態の実装装置100は、第1電子部品である半導体ダイ15を対象物である基板16または図示しない第2電子部品である他の半導体ダイに実装するものである。実装装置100は、移動体であるベース10と、ボンディングヘッド20と、カメラ25と、第1検出部であるボンディングヘッド側エンコーダヘッド31と、第2検出部であるカメラ側エンコーダヘッド32と、リニアスケール33と、制御部50と、レーザ距離検出器45と、対象物である基板16を吸着固定するボンディングステージ13とを備えている。実装装置100は、例えば半導体ダイ15を反転させた後に基板16に実装するフリップチップボンディング装置であるが、半導体ダイ15を反転させずに基板16に実装するダイボンディング装置であってもよい。
ベース10は、直線方向であるX方向に延びるガイドレール11にガイドされてX方向に直線移動する。また、ベース10にはベース10をX方向に駆動するリニアモータ12が取り付けられている。
ベース10にはボンディングヘッド20と画像取得手段であるカメラ25とが取り付けられている。ボンディングヘッド20は、半導体ダイ15を真空吸着して基板16にボンディングする実装ツールであるボンディングツール21を上下方向であるZ方向に移動させるものである。図1の符号22zは、ボンディングヘッド20のZ方向の中心線を示す。また、ボンディングツール21は、ボンディングヘッド20のZ方向の中心線22zと同軸に配置されているので、中心線22zはボンディングツール21の中心を通る線でもある。カメラ25は、基板16を上方から撮像してその画像を取得するものである。図1の符号26zはカメラ25の光軸を示す。ボンディングヘッド20とカメラ25とは、ボンディングヘッド20のZ方向の中心線22zとカメラ25の光軸26zとがベース10の移動方向であるX方向に所定間隔aだけ空けてベース10に取り付けられている。ここで所定間隔aは、オフセット距離である。ベース10は、ボンディングツール21で吸着した半導体ダイ15を基板16に搬送する搬送機構である。
また、ベース10には、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31とカメラ側エンコーダヘッド32とが取り付けられている。図1に示すようにボンディングヘッド側エンコーダヘッド31は、中心線31aがボンディングヘッド20のZ方向の中心線22zと同一の位置となるようにベース10の第1位置に取り付けられている。また、カメラ側エンコーダヘッド32は中心線32aがカメラ25の光軸26zの位置Cと同一の位置となるようにベース10の第2位置に取り付けられている。したがって、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31が取り付けられる第1位置とカメラ側エンコーダヘッド32が取り付けられる第2位置とはベース10の移動方向であるX方向に所定間隔aだけ離れている。
ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31とカメラ側エンコーダヘッド32とに対向する位置には、ベース10の移動方向であるX方向に延びる共通のリニアスケール33が配置されている。リニアスケール33は所定のピッチpで複数の目盛34が刻まれている。ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31とカメラ側エンコーダヘッド32とはこの目盛34を光学的に読み取って、リニアスケール33の上の目盛番号を検出するものである。
ボンディングステージ13は、基板16を真空吸着するものである。
レーザ距離検出器45は、ボンディングステージ13から離れた位置に配置され、レーザによってベース10の基準位置からの距離を検出するものである。レーザ距離検出器45は、実装装置100の温度変化によるリニアスケール33の長さに変化と関係なく、ベースのX方向の基準位置からの距離を検出することができる。
図1に示すように、リニアモータ12と、ボンディングヘッド20とは制御部50に接続され、制御部50の指令によって動作する。また、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31、カメラ側エンコーダヘッド32は制御部50に接続され、検出したリニアスケール33の目盛位置のデータは、制御部50に入力される。また、カメラ25、レーザ距離検出器45も制御部50に接続され、カメラ25が撮像した画像、レーザ距離検出器45が検出したベース10のX方向の移動距離のデータは、制御部50に入力される。
制御部50は、内部に情報処理を行うCPUと動作プログラム、データを格納したメモリとを含むコンピュータであり、ベース10のX方向位置あるいは移動量を調整するものである。
図1に示す実装装置100のガイドレール11、リニアスケール33は、図示しないY方向駆動機構によって一体となってY方向に移動可能である。Y方向駆動機構は制御部50に接続され、制御部50の指令によって動作する。なお、Y方向は、X方向と直交する水平方向である。
なお、本実施形態の実装装置100では、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31は、中心線31aがボンディングヘッド20のZ方向の中心線22zと同一の位置となるようにベース10に取り付けられ、カメラ側エンコーダヘッド32は中心線32aがカメラ25の光軸26zと同一の位置となるようにベース10に取り付けられていることとして説明したがこれに限らない。ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31とカメラ側エンコーダヘッド32とはX方向に所定間隔aだけ離れて配置されていれば、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31をボンディングヘッド20の近傍に配置し、カメラ側エンコーダヘッド32をカメラ25の近傍に配置してもよい。
<実装装置の基本動作>
次に、図2、図3を参照しながら本実施形態の実装装置100の基本動作について説明する。図2(a)は、ベース10が撮像位置にある場合を示す。図2、図3の説明では、撮像位置はカメラ25の光軸26zの位置Cがボンディング領域の中心位置Sと一致する位置であり、ボンディングツール21の中心位置BHと半導体ダイ15の中心位置Dとは一致しており、ボンディングツール21に吸着された半導体ダイ15の中心位置Dはボンディングヘッド20のZ方向の中心線22zの上にあるとして説明する。
図2(a)に示すように、撮像位置では、カメラ25の光軸26zの位置C(x,y)がボンディング領域の中心位置S(x,y)と一致している。撮像位置でカメラ側エンコーダヘッド32の中心線32aはリニアスケール33のN番目の目盛の位置にある。制御部50には、カメラ側エンコーダヘッド32からカメラ側エンコーダヘッド32の中心線32aがリニアスケール33のN番目の目盛の位置にあるデータが入力される。次に、制御部50は、図1に示すリニアモータ12によってベース10をX方向に移動する。この際、制御部50は、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31によりリニアスケール33の目盛のデータを検出する。そして、制御部50は、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31により検出したリニアスケール33の目盛がN番目の目盛位置になるまでベース10をX方向に移動する。図2(b)に示す様に、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31により検出したリニアスケール33の目盛がN番目の目盛位置になると、ボンディングヘッド20の中心線22z、半導体ダイ15の中心位置Dは、リニアスケール33の目盛がN番目の目盛位置、つまり、ボンディング領域の中心位置Sとなる。本実施形態の実装装置100は、このようにして、半導体ダイ15の中心位置Dをボンディング領域の中心位置Sに一致させることができる。
図2(a)、図2(b)において、破線で示すリニアスケール33´、目盛34´は、リニアスケール33が熱膨張した状態を示す。リニアスケール33が熱膨張している場合、撮像位置においてカメラ側エンコーダヘッド32が検出する目盛位置は、N´となる。そして、制御部50は、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31により検出したリニアスケール33の目盛がN´番目の目盛位置となるまでベース10をX方向に移動させる。これにより、半導体ダイ15の中心位置Dをリニアスケール33の目盛がN´番目の目盛位置、つまり、ボンディング領域の中心位置Sに合わせることができる。
以上説明したように、本実施形態の実装装置100は、リニアスケール33が熱膨張しても、オフセット距離である所定間隔aの較正を行わずに半導体ダイ15の中心位置Dをボンディング領域の中心位置Sに合わせることができる。
図3(a)、図3(b)は、ベース10がX方向に熱膨張した場合を示す。図3(a)に示すように、撮像位置では、カメラ25の光軸26zの位置C(x,y)がボンディング領域の中心位置S(x,y)と一致している。撮像位置でカメラ側エンコーダヘッド32の中心線32aはリニアスケール33のN番目の目盛の位置にある。この際、ボンディングヘッド20の中心線22zは、カメラ25の光軸26zからX方向にa´だけ離れた位置にある。
制御部50は、図2(b)を参照して説明したと同様、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31により検出したリニアスケール33の目盛がN番目の目盛位置になるまでベース10をX方向に移動する。すると、半導体ダイ15の中心位置Dは、リニアスケール33の目盛がN番目の目盛位置、つまり、ボンディング領域の中心位置Sとなる。本実施形態の実装装置100は、このようにして、ベース10が熱膨張しても、オフセット距離である所定間隔aの較正を行わずに半導体ダイ15の中心位置Dをボンディング領域の中心位置Sに合わせることができる。また、所定間隔aの調整を行わずにベース10の移動精度を向上させることができる。
<実装装置におけるリニアスケールの位置補正係数k(n)の算出動作(算出方法)>
次に、図4から図5を参照しながらリニアスケール33の位置補正係数k(n)の算出動作について説明する。先に図2から図3を参照して説明したように、本実施形態の実装装置100は、リニアスケール33、或いはベース10が熱膨張しても、オフセット距離である所定間隔aの較正を行わずに半導体ダイ15の中心位置Dをボンディング領域の中心位置Sに合わせることができる。しかし、リニアスケール33或いはベース10が熱膨張すると、実装装置100の基準位置から所定の位置までベースを移動させる際に誤差が発生する場合がある。そこで、以下、リニアスケール33の位置補正係数の算出動作(算出方法)について説明する。
図4のステップS101に示すように、制御部50は、nを1に初期設定する。そして制御部50は、図4のステップS102、図5に示すように、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31の中心線31aをリニアスケール33の第1目盛番号B1(1)に合わせる。そして、制御部50は、図4のステップS103においてレーザ距離検出器45によってこの時のベース10のX方向の位置を初期位置として検出する。
次に、制御部50は、図4のステップS104に示すように、カメラ側エンコーダヘッド32によってカメラ側エンコーダヘッド32の中心線32aの位置するリニアスケール33の第2目盛番号B2(1)を読みとる。そして、制御部50は、図4のステップS105に進み、次の(式1)により、リニアスケール33の上の第2目盛番号B2(1)と第1目盛番号B1(1)との距離A1(1)を算出する。距離A(1)は、リニアスケール33で検出したボンディングヘッド側エンコーダヘッド31の中心線31aとカメラ側エンコーダヘッド32の中心線32aとの距離でもある。
A(1)=[B2(1)−B1(1)]×p ・・・・(式1)
(式1)において、pはリニアスケール33の目盛34のピッチである。
次に、制御部50は、図4のステップS106に進み、次の(式2)によってリニアスケール33の位置補正係数k(1)を算出する。位置補正係数k(1)は、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31の中心線31aとカメラ側エンコーダヘッド32の中心線32aとの間の所定間隔aと、リニアスケール33の上の第2目盛番号B2(1)と第1目盛番号B1(1)との距離A(1)との比率である。
k(1)=a/A(1) ・・・・・(式2)
図4のステップS105、S106は、補正係数算出ステップを構成する。
次に制御部50は、図4のステップS107に進み、リニアモータ12によってベース10をX方向に所定の目盛数ΔBだけ移動させ、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31の中心線31aを第2目盛番号B2(1)=B1(1)+ΔBに合わせる。そして、制御部50は、図4のステップS108に進んでB1(2)にB1(1)+ΔBを格納する。制御部50は、図4のステップS109でnがnendに到達したかどうかを判断し、nがnendに到達していない場合には、図4のステップS110に進んでnを1だけインクリメントしてn=n+1=2として図4のステップS104に戻る。ここで、nendは、ベース10が終了位置まで移動するまでに必要な移動回数であり、第1目盛番号B1(nend)は、ベース10が終了位置まで移動した際にボンディングヘッド側エンコーダヘッド31の中心線31aが位置するリニアスケール33の目盛番号を示す。図4のステップS104、S107−S110は、目盛番号検出ステップを構成する。
このように、制御部50は、リニアスケール33の所定の目盛数ΔBだけベース10をX方向に直線移動させ、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31とカメラ側エンコーダヘッド32とによって、逐次、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31の中心線31aが位置するリニアスケール33の第1目盛番号B1(n)と、カメラ側エンコーダヘッド32の中心線32aが位置するリニアスケール33の第2目盛番号B2(n)とを検出する。そして、制御部50は、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31の中心線31aとカメラ側エンコーダヘッド32の中心線32aとの間の所定間隔aと、リニアスケール33の上の第2目盛番号B2(n)と第1目盛番号B1(n)との距離A(n)との比率であるリニアスケール33の位置補正係数k(n)を算出する動作を繰り返す。このように、制御部50は、リニアスケール33の一端から所定の目盛数ΔB毎に位置補正係数k(n)を算出し、図5のグラフに示すように、リニアスケール33の各目盛番号B(n)におけるリニアスケール33の位置補正係数k(n)を算出することができる。
今、リニアスケール33もベース10も常温で熱膨張がない場合、図5に示すように、n=1における第1目盛番号B1(1)=0、第2目盛番号B2(1)=10とすると、
A(1)=[B2(1)−B1(1)]×p=[10−0]×p
=10目盛×p=a
であり、k(1)=a/A(1)=1.0
となる。
n=2の位置ではリニアスケール33が熱膨張しており、ベース10の所定間隔aは不変であるとする。この場合、リニアスケール33の目盛34のピッチpは、熱膨張により、p´(>p)となっている。n=2においてボンディングヘッド側エンコーダヘッド31の中心線31aを第1目盛番号B1(2)=20番に合わせると、第2目盛番号B2(2)と第1目盛番号B1(2)との間の目盛数は、熱膨張のない場合の10目盛よりも少ない目盛数、例えば、9目盛となる。このため、リニアスケール33の上の第2目盛番号B2(2)と第1目盛番号B1(2)との距離A(2)、或いは、リニアスケール33で検出したボンディングヘッド側エンコーダヘッド31の中心線31aとカメラ側エンコーダヘッド32の中心線32aとの間の距離A(2)は、
A(2)=[B2(2)−B1(2)]×p
=9目盛×p
となる。一方、ベース10の所定間隔aは不変であり、10目盛×pであるから、
k(2)=a/A(2)=(10目盛×p)/(9目盛×p)>1.0
となる。このように、リニアスケール33が熱膨張によって伸びていると、位置補正係数k(n)は、1.0より大きい数字となる。また、逆にリニアスケール33が常温よりも低い温度で、収縮している場合には、位置補正係数k(n)は、1.0よりも小さい数字となる。
リニアスケール33が熱膨張していない場合にベース10をX方向に所定の目盛数ΔBだけ移動させると、ベース10はΔB×pだけX方向に移動する。リニアスケール33が熱膨張または収縮しているとベース10の移動距離は、熱膨張或いは収縮を補正し、ΔB×p×k(n)となる。リニアスケール33が熱膨張している場合には、k(n)は、1.0よりも大きいので、ベース10の移動距離は、ΔB×pよりも大きくなり、リニアスケール33が収縮している場合には、k(n)が1.0よりも小さくなるので、ベース10の移動距離はΔB×pよりも小さくなる。また、ベース10の初期位置から終了位置までの移動距離は、ΔB×p×k(n)をn=1からnendまで積算したものとなる。
nがnendに到達したら、制御部50は、図4のステップS111に進み、次の(式3)でベース10の全移動距離Laを算出する。
La=Σ[ΔB×p×k(n)] ・・・・(式3)
上記の(式3)で計算したLaは、ベース10の所定間隔aが不変でリニアスケール33の熱膨張を考慮した場合のベース10の全移動距離である。しかし、ベース10の所定間隔aも温度よって熱膨張する。そこで、以下の様に、ベース10の所定間隔aの熱膨張量を考慮して位置補正係数k(n)を修正する。
制御部50は、図4のステップS112に進み、レーザ距離検出器45によってベース10の終了位置を検出して図4のステップS113に進み、レーザ距離検出器45によって検出したベース10の初期位置から終了位置までの移動距離Lcを算出する。
制御部50は、図4のステップS114に進んで、下記の(式4)によって位置補正係数k(n)を修正してka(n)とする。
ka(n)=k(n)×[La/Lc] ・・・・・(式4)
制御部50は、修正した位置補正係数ka(n)をメモリに格納する。修正した位置補正係数ka(n)は、図5に示すように、熱膨張によるベース10の所定間隔aの変化を考慮したリニアスケール33の目盛番号B(n)に対するリニアスケール33の位置補正係数ka(n)の分布、あるいは、位置補正係数ka(n)のマップを示す。図4のステップS111からS114は、補正係数修正ステップを構成する。
制御部50は、修正した位置補正係数ka(n)を用いて以下のように、リニアスケール33を用いて検出したボンディングヘッド側エンコーダヘッド31の中心線31aの位置を補正する。ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31で検出したリニアスケール33の目盛番号がB100で、B100=ΔB×m+jの場合、制御部50は、目盛番号0からボンディングヘッド側エンコーダヘッド31の中心線31aまでの距離L100を、
L100=[ΣΔB×ka(n)×p](n=1〜m)+ka(m+1)×j×p
として算出し、ベース10の移動量或いは移動距離を制御する。
つまり、制御部50は、補正なしの場合に、リニアスケール33で検出した目盛番号0から目盛番号B100までのボンディングヘッド側エンコーダヘッド31の移動距離L100b=(ΔB×m+j)×pを、修正した位置補正係数ka(n)を用いて、距離L100=[ΣΔB×ka(n)×p](n=1〜m)+ka(m+1)×j×pに修正し、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31が取り付けられているベース10の移動量或いは移動距離を制御する。
以上、説明したように、本実施形態の実装装置100は、所定の目盛数ΔBだけベース10を直線移動させ、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31とカメラ側エンコーダヘッド32により、逐次、目盛番号を検出してリニアスケール33の位置補正係数ka(n)のマップを作成し、作成した位置補正係数ka(n)のマップに基づいて各エンコーダヘッド31、32の位置を修正するので、ボンディングヘッド20、カメラ25の位置検出精度を向上させてベース10の移動精度を向上させることができる。
次に、図6、図7を参照しながら、本実施形態の実装装置100のリニアスケールの位置補正係数k(n)の他の算出動作について説明する。図4、図5を参照して説明した動作と同様の動作については、同様のステップ符号を付して説明は省略する。
図5に示す動作は、ベース10を所定の目盛数ΔBだけ移動させて各エンコーダヘッド31、32でリニアスケール33の移動目盛番号を検出して各位置補正係数k(n)を算出した後、レーザ距離検出器45によってベース10の位置を検出しながらベース10をリファレンス距離Lrだけ移動させた際の目盛数を検出し、この結果に基づいて位置補正係数k(n)を修正するものである。各位置補正係数k(n)を算出は、先に図4、図5を参照して説明したのと同様なので、説明は省略する。
制御部50は、図6のステップS101からS110を繰り返して実行してk(n)を算出したら、図6のステップS201に進む。
制御部50は、図6のステップS201において、図7に示すように、ベース10を所定の基準位置に合わせる。そして、制御部50は、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31によってベース10が基準位置にある時のボンディングヘッド側エンコーダヘッド31が位置するリニアスケール33の目盛番号B(s)を検出する。また、制御部50は、レーザ距離検出器45によってレーザ距離検出器45からベース10までの第1距離を検出する。次に、制御部50は、レーザ距離検出器45によってベース10までの距離を検出しながらベース10をX方向にリファレンス距離Lrだけ移動させる。ベース10がリファレンス距離Lrだけ移動し、停止位置になったら、制御部50は、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31によって停止位置におけるリニアスケール33の目盛番号B(e)を検出する。制御部50は、基準位置の目盛番号と停止位置の目盛番号の差=(B(e)−B(s))からリファレンス距離Lrだけベース10が移動した際のリニアスケール33の目盛番号差NB=(B(e)−B(s))を算出する。
制御部50は、目盛番号差NBを検出したら、図6のステップS202に進み、下記の(式5)によって位置補正係数k(n)を修正する。
ka(n)=k(n)×[NB×p]/Lr ・・・・・(式5)
制御部50は、先に説明した実施形態と同様、修正した位置補正係数ka(n)を用いてリニアスケール33によって検出したボンディングヘッド側エンコーダヘッド31の中心線31aの位置、または、カメラ側エンコーダヘッド32の中心線32aの位置を補正する。また、リニアスケール33で検出した各エンコーダヘッド31、32の移動距離を修正した位置補正係数ka(n)を用いて修正し、ベース10の移動量或いは移動距離を制御する。
本動作は、先に図4、図5を参照して説明した動作と同様、ボンディングヘッド20、カメラ25の位置検出精度を向上させて電子部品の実装精度が低下することを抑制することができる。なお、上記の説明では、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31によってベース10が基準位置、停止位置にある際のリニアスケール33の目盛番号を検出することとして説明したが、カメラ側エンコーダヘッド32によってベース10が基準位置、停止位置にある際のリニアスケール33の目盛番号を検出してもよい。
次に、図6のステップS201、S202の他の動作について説明する。
本実施形態の実装装置100は、図7に示すように、位置マークMsが基準位置に配置されている第1リファレンス部材61と、位置マークMeが停止位置に配置されている第2リファレンス部材62を備えている。
制御部50は、図6のステップS201において、カメラ25の光軸26zを第1リファレンス部材61の位置マークMsの位置に合わせ、カメラ側エンコーダヘッド32によって基準位置におけるリニアスケール33の目盛番号B(s)を検出する。次に、制御部50は、カメラ25で画像を取得しながら、カメラ25の光軸26zが位置マークMeの位置に来るまでベース10を移動させる。そして、カメラ25の光軸26zが位置マークMeの停止位置に来たら、カメラ側エンコーダヘッド32でリニアスケール33の目盛番号B(e)を検出する。そして、制御部50は、基準位置の目盛番号と停止位置の目盛番号の差=(B(e)−B(s))からリファレンス距離Lrだけベース10が移動した際のリニアスケール33の目盛番号差NB=(B(e)−B(s))を算出する。
制御部50は、先の動作と同様、目盛番号差NBを検出したら、図6のステップS202に進み、下記の(式5)によって位置補正係数k(n)を修正する。
ka(n)=k(n)×[NB×p]/Lr ・・・・・ (式5)
以上説明したように、先に説明した動作と同様、ボンディングヘッド20、カメラ25の位置検出精度を向上させてベース10の移動精度を向上させることができる。なお、上記の説明では、カメラ側エンコーダヘッド32によってベース10が基準位置、停止位置にある際のリニアスケール33の目盛番号を検出することとして説明したが、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31によってベース10が基準位置、停止位置にある際のリニアスケール33の目盛番号を検出してもよい。
本実施形態は、先に説明した実施形態と同様の効果を奏する。
以上説明した実施形態では、カメラ25の光軸25zを位置マークMs、Meに合わせることでベース10をリファレンス距離Lrだけ移動させることとして説明したが、以下のような方法で位置補正係数k(n)の修正を行ってもよい。
カメラ25の視野に位置マークMsが入る位置にベース10を移動させ、位置マークMsの画像を撮像し、カメラ25の光軸25zと位置マークMsとの距離d1を検出する。また、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31によってリニアスケール33の目盛番号B(s)を検出する。次に、カメラ25の視野に位置マークMeが入る位置までベース10を移動させ、カメラ25で位置マークMeの画像を検出し、カメラ25の光軸25zと位置マークMeとの距離d2を検出する。そして、リファレンス距離Lrに距離d1、d2を考慮した距離を近似リファレンス距離Lr1として取得する。また、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31によってリニアスケール33の目盛番号B(e)を検出する。
そして、目盛番号差NB=(B(e)−B(s))と近似リファレンス距離Lr1とから、下記の(式6)によって位置補正係数k(n)を修正する。
ka(n)=k(n)×[NB×p]/Lr1 ・・・・・(式6)
なお、ボンディングヘッド側エンコーダヘッド31に代えてカメラ側エンコーダヘッド32によってリニアスケール33の目盛番号B(s)、B(e)を検出するようにしてもよい。
以上、説明したように、本実施形態の実装装置100は、先に説明した実施形態と同様、ボンディングヘッド20、カメラ25の位置検出精度を向上させてベース10の移動精度を向上させることができる。
以上の説明では、実装装置100を例として本発明の実施形態を説明したが、本発明は、フリップチップボンディング装置あるいはダイボンディング装置に限らず、さまざまな装置に適用することが可能である。例えば、ワイヤボンディング装置、工業用ロボット、搬送装置に適用することができる。搬送又は実装する対象物、対象物の大きさ、対象物の技術分野に限らず、あらゆる装置に適用することができる。
10 ベース、11 ガイドレール、12 リニアモータ、13 ボンディングステージ、15 半導体ダイ、16 基板、20 ボンディングヘッド、21 ボンディングツール、22z、31a、32a 中心線、25 カメラ、26z 光軸、31 ボンディングヘッド側エンコーダヘッド、32 カメラ側エンコーダヘッド、33 リニアスケール、34 目盛、45 レーザ距離検出器、50 制御部、61、62 リファレンス部材、100 実装装置。

Claims (8)

  1. 対象物に対して移動体を直線移動させる装置であって、
    前記対象物に対して直線移動し、移動方向に所定間隔を空けた第1位置と第2位置とを有する前記移動体と、
    前記移動体の前記移動方向に沿って配置され、前記移動方向に沿って所定ピッチで複数の目盛が設けられたスケールと、
    前記移動体の前記第1位置に配置され、前記第1位置に対する前記スケールの第1目盛番号を検出する第1検出部と、
    前記移動体の前記第2位置に配置され、前記第2位置に対する前記スケールの第2目盛番号を検出する第2検出部と、
    前記移動体を前記スケールに沿って移動させながら、逐次、前記第1検出部及び前記第2検出部で前記第1目盛番号及び前記第2目盛番号を検出し、前記所定間隔と、前記第1目盛番号と前記第2目盛番号との間のスケール上の距離との比率に基づいて、前記移動体の移動量を制御する制御部とを備える、
    装置。
  2. 請求項1に記載の装置であって、
    前記移動体は、半導体ダイを前記対象物に搬送する搬送機構であり、
    前記対象物は、搬送された前記半導体ダイが実装される基板又は他の半導体ダイであって、
    前記装置は、前記半導体ダイを前記対象物に実装する装置であることを特徴とする、
    装置。
  3. 請求項1または2に記載の装置であって、
    前記制御部は、前記所定間隔と、前記第1目盛番号と前記第2目盛番号との間のスケール上の距離との比率に基づいて、前記スケールの一端からの所定の目盛数毎の位置補正係数を算出する、
    装置。
  4. 請求項1または2に記載の装置であって、
    基準位置からの前記移動体の距離を検出する距離検出器を備え、
    前記制御部は、
    前記距離検出器によって前記基準位置からの前記移動体の距離を検出しながら前記移動体をリファレンス距離だけ移動させ、前記移動体を前記リファレンス距離だけ移動させる前と移動させた後の前記スケールの目盛番号差を前記第1検出部または前記第2検出部で検出し、
    前記リファレンス距離と前記目盛番号差とに基づいて前記移動量を修正する、
    装置。
  5. 請求項1に記載の装置であって、
    リファレンス距離だけ離間して位置マークが配置されたリファレンス部材と、
    前記移動体に設けられ、前記位置マークの画像を取得する画像取得手段と、を備え、
    前記制御部は、前記画像取得手段で取得した前記位置マークの画像に基づいて前記移動体を前記リファレンス距離だけ移動させ、移動させた際の前記スケールの目盛番号差を前記第1検出部又は前記第2検出部により検出し、
    前記リファレンス距離と前記目盛番号差とに基づいて前記移動量を修正する、
    装置。
  6. 対象物に対して移動体を直線移動させる方法であって、
    移動方向に所定間隔を空けた第1位置と第2位置とを有する前記移動体を前記対象物に対して直線移動させる工程と、
    前記移動方向に沿って所定ピッチで複数の目盛が設けられたスケールを前記移動体の前記移動方向に沿って配置する工程と、
    前記第1位置に対する前記スケールの第1目盛番号を検出する第1検出部を前記移動体の前記第1位置に配置する工程と、
    前記第2位置に対する前記スケールの第2目盛番号を検出する第2検出部を前記移動体の前記第1位置に配置する工程と、
    前記移動体を前記スケールに沿って移動させながら、逐次、前記第1検出部及び前記第2検出部で前記第1目盛番号及び前記第2目盛番号を検出し、前記所定間隔と、前記第1目盛番号と前記第2目盛番号との間のスケール上の距離との比率に基づいて、前記移動体の移動量を制御する工程とを有する、
    方法。
  7. 請求項6に記載の方法であって、
    距離検出器によって基準位置からの前記移動体の距離を検出する工程と、
    前記距離検出器によって前記基準位置からの前記移動体の距離を検出しながら前記移動体をリファレンス距離だけ移動させ、前記移動体を前記リファレンス距離だけ移動させる前と移動させた後の前記スケールの目盛番号差を前記第1検出部または前記第2検出部により検出する工程と、
    前記リファレンス距離と前記目盛番号差とに基づいて前記移動量を修正する工程と、
    を含む方法。
  8. 請求項6に記載の方法であって、
    リファレンス距離だけ離間した位置マークをリファレンス部材に配置する工程と
    前記移動体に画像取得手段を配置する工程と、
    前記画像取得手段によって前記位置マークの画像を取得し、取得した前記位置マークの画像に基づいて前記移動体を前記リファレンス距離だけ移動させる工程と、
    前記移動体を前記リファレンス距離だけ移動させた際の前記スケールの目盛番号差を前記第1検出部または前記第2検出部により検出する工程と、
    前記リファレンス距離と前記目盛番号差とに基づいて前記移動量を修正する工程と、
    を含む方法。
JP2019539523A 2017-08-28 2018-08-28 対象物に対して移動体を直線移動させる装置および方法 Active JP7072264B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017162928 2017-08-28
JP2017162928 2017-08-28
PCT/JP2018/031744 WO2019044819A1 (ja) 2017-08-28 2018-08-28 対象物に対して移動体を直線移動させる装置および方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2019044819A1 true JPWO2019044819A1 (ja) 2020-07-09
JP7072264B2 JP7072264B2 (ja) 2022-05-20

Family

ID=65525589

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019539523A Active JP7072264B2 (ja) 2017-08-28 2018-08-28 対象物に対して移動体を直線移動させる装置および方法

Country Status (7)

Country Link
US (1) US11410866B2 (ja)
JP (1) JP7072264B2 (ja)
KR (1) KR102374227B1 (ja)
CN (1) CN111213226B (ja)
SG (1) SG11202003761XA (ja)
TW (1) TWI686881B (ja)
WO (1) WO2019044819A1 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI688016B (zh) * 2017-08-28 2020-03-11 日商新川股份有限公司 相對於對象物使第一移動體和第二移動體直線移動的裝置以及方法
KR102489221B1 (ko) * 2020-12-21 2023-01-17 세메스 주식회사 위치 측정기 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
WO2023062371A1 (en) * 2021-10-14 2023-04-20 Oivi As System and method for automatic calibration and alignment of fundus camera device

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62173151A (ja) * 1986-01-22 1987-07-30 Hitachi Ltd リニヤスケ−ルの測定値補正装置
JPH0964085A (ja) * 1995-08-18 1997-03-07 Shibuya Kogyo Co Ltd ボンディング方法
JP2004167641A (ja) * 2002-11-20 2004-06-17 Ngk Spark Plug Co Ltd 搬送方法と搬送装置と、この搬送装置を用いた工作機械
JP2005347555A (ja) * 2004-06-03 2005-12-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 部品実装方法及び装置
JP2013195778A (ja) * 2012-03-21 2013-09-30 Hitachi High-Technologies Corp 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法
WO2015170645A1 (ja) * 2014-05-07 2015-11-12 株式会社新川 ボンディング装置およびボンディング方法
JP2016139750A (ja) * 2015-01-29 2016-08-04 Juki株式会社 部品実装装置、及び部品実装方法
JP2017037068A (ja) * 2015-08-10 2017-02-16 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター 温度補正方法、温度補正プログラム、温度補正装置、及び座標測定機
WO2017119216A1 (ja) * 2016-01-06 2017-07-13 株式会社新川 電子部品ハンドリングユニット
WO2017119217A1 (ja) * 2016-01-06 2017-07-13 株式会社新川 電子部品実装装置

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61232874A (ja) * 1985-04-04 1986-10-17 株式会社 遠藤製作所 ゴルフクラブヘツドのサンドプラスト刻印方法
JPS62173147A (ja) * 1986-01-24 1987-07-30 Disco Abrasive Sys Ltd 温度変化に起因する誤差が低減された精密装置
JP3416091B2 (ja) 2000-01-21 2003-06-16 株式会社新川 ボンディング装置およびボンディング方法
KR100326757B1 (en) * 2001-08-09 2002-03-13 Justek Corp Method for correcting error of scaler according to variation of temperature in linear motor
WO2004051731A1 (ja) * 2002-12-02 2004-06-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 部品供給ヘッド装置、部品供給装置、部品実装装置、及び実装ヘッド部の移動方法
JP4408682B2 (ja) * 2003-10-31 2010-02-03 株式会社日立ハイテクインスツルメンツ 電子部品装着装置
JP4270019B2 (ja) * 2004-04-23 2009-05-27 パナソニック株式会社 電子部品実装用装置の直動機構
KR20070016098A (ko) * 2004-06-03 2007-02-07 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 부품 실장 방법 및 장치
JP2006041260A (ja) * 2004-07-28 2006-02-09 Juki Corp 電子部品搭載装置のノズル位置補正方法
JP2006268032A (ja) * 2005-02-24 2006-10-05 Fuji Photo Film Co Ltd 描画装置および描画装置の校正方法
TW200641564A (en) * 2005-02-24 2006-12-01 Fuji Photo Film Co Ltd The correction method of plotting device
JP2007108037A (ja) * 2005-10-14 2007-04-26 Omron Corp 位置測定方法、距離測定方法及び位置測定装置
WO2009096454A1 (ja) * 2008-01-30 2009-08-06 Toray Engineering Co., Ltd. チップ搭載方法およびチップ搭載装置
JP5877645B2 (ja) * 2011-02-15 2016-03-08 東レエンジニアリング株式会社 実装方法および実装装置
JP6055301B2 (ja) * 2012-12-19 2016-12-27 ヤマハ発動機株式会社 表面実装機
KR101614425B1 (ko) * 2014-03-04 2016-04-22 에이피시스템 주식회사 기판 처리 장치 및 헤드블럭의 좌표 보정 방법
DE102014205523A1 (de) * 2014-03-25 2015-10-01 Etel S.A. Positioniereinrichtung in Portalbauweise
JP6040382B2 (ja) * 2014-12-16 2016-12-07 株式会社新川 実装装置
CN113267964B (zh) * 2015-09-30 2023-05-23 株式会社尼康 曝光装置及曝光方法、以及平面显示器制造方法
JP6585529B2 (ja) * 2016-03-16 2019-10-02 ヤマハ発動機株式会社 部品搭載方法および部品実装装置
TWI688016B (zh) * 2017-08-28 2020-03-11 日商新川股份有限公司 相對於對象物使第一移動體和第二移動體直線移動的裝置以及方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62173151A (ja) * 1986-01-22 1987-07-30 Hitachi Ltd リニヤスケ−ルの測定値補正装置
JPH0964085A (ja) * 1995-08-18 1997-03-07 Shibuya Kogyo Co Ltd ボンディング方法
JP2004167641A (ja) * 2002-11-20 2004-06-17 Ngk Spark Plug Co Ltd 搬送方法と搬送装置と、この搬送装置を用いた工作機械
JP2005347555A (ja) * 2004-06-03 2005-12-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 部品実装方法及び装置
JP2013195778A (ja) * 2012-03-21 2013-09-30 Hitachi High-Technologies Corp 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法
WO2015170645A1 (ja) * 2014-05-07 2015-11-12 株式会社新川 ボンディング装置およびボンディング方法
JP2016139750A (ja) * 2015-01-29 2016-08-04 Juki株式会社 部品実装装置、及び部品実装方法
JP2017037068A (ja) * 2015-08-10 2017-02-16 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター 温度補正方法、温度補正プログラム、温度補正装置、及び座標測定機
WO2017119216A1 (ja) * 2016-01-06 2017-07-13 株式会社新川 電子部品ハンドリングユニット
WO2017119217A1 (ja) * 2016-01-06 2017-07-13 株式会社新川 電子部品実装装置

Also Published As

Publication number Publication date
SG11202003761XA (en) 2020-05-28
US11410866B2 (en) 2022-08-09
TWI686881B (zh) 2020-03-01
CN111213226B (zh) 2023-07-07
WO2019044819A1 (ja) 2019-03-07
CN111213226A (zh) 2020-05-29
TW201923919A (zh) 2019-06-16
JP7072264B2 (ja) 2022-05-20
US20200411352A1 (en) 2020-12-31
KR102374227B1 (ko) 2022-03-15
KR20200040878A (ko) 2020-04-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6952368B2 (ja) 対象物に対して第1移動体及び第2移動体を直線移動させる装置及び方法
JPWO2019044819A1 (ja) 対象物に対して移動体を直線移動させる装置および方法
KR20130035263A (ko) 다이 본더 및 반도체 제조 방법
JP5264915B2 (ja) 光学装置の位置測定装置の較正
JP4865414B2 (ja) アライメント方法
JP6794536B2 (ja) 光学式測定装置及び方法
US20150280529A1 (en) Positioning Device in Gantry Type of Construction
US11139193B2 (en) Device and method for positioning first object in relation to second object
KR20190099122A (ko) 로봇의 위치 정보 복원 방법
KR20130095208A (ko) 부품에 대한 가공 기구 위치 정렬 장치 및 방법
JP2012133122A (ja) 近接露光装置及びそのギャップ測定方法
CN112585539A (zh) 用于校准物体装载过程的平台设备和方法
JP2009302154A (ja) 露光装置及びデバイス製造方法
JP6706164B2 (ja) アライメント装置、露光装置、およびアライメント方法
CN108986167B (zh) 置晶设备的校正方法及使用该方法的置晶设备
TW201313381A (zh) 標度裝置
JP4471860B2 (ja) ボンディング装置におけるキャリブレーション方法
US20130182235A1 (en) Measurement system that includes an encoder and an interferometer

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200122

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20200122

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210316

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210512

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210928

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20211109

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220405

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220427

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7072264

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150