WO2018155723A1 - 変形試験器 - Google Patents

変形試験器 Download PDF

Info

Publication number
WO2018155723A1
WO2018155723A1 PCT/JP2018/007374 JP2018007374W WO2018155723A1 WO 2018155723 A1 WO2018155723 A1 WO 2018155723A1 JP 2018007374 W JP2018007374 W JP 2018007374W WO 2018155723 A1 WO2018155723 A1 WO 2018155723A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
main body
detachable
attached
test
state
Prior art date
Application number
PCT/JP2018/007374
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
恭久 岡崎
直継 安藤
寿朗 佐々木
Original Assignee
ユアサシステム機器株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ユアサシステム機器株式会社 filed Critical ユアサシステム機器株式会社
Priority to CN201880014159.5A priority Critical patent/CN110325837B/zh
Priority to JP2019501882A priority patent/JP6671622B2/ja
Priority to US16/488,853 priority patent/US11169063B2/en
Priority to KR1020197027763A priority patent/KR102298196B1/ko
Publication of WO2018155723A1 publication Critical patent/WO2018155723A1/ja

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/32Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying repeated or pulsating forces
    • G01N3/38Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying repeated or pulsating forces generated by electromagnetic means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/32Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying repeated or pulsating forces
    • G01N3/34Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying repeated or pulsating forces generated by mechanical means, e.g. hammer blows
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/20Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying steady bending forces
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/02Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/08Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying steady tensile or compressive forces
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2203/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N2203/0001Type of application of the stress
    • G01N2203/0005Repeated or cyclic
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2203/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N2203/0014Type of force applied
    • G01N2203/0026Combination of several types of applied forces
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2203/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N2203/003Generation of the force
    • G01N2203/005Electromagnetic means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2203/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N2203/0058Kind of property studied
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2203/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N2203/02Details not specific for a particular testing method
    • G01N2203/026Specifications of the specimen
    • G01N2203/0262Shape of the specimen
    • G01N2203/0278Thin specimens
    • G01N2203/0282Two dimensional, e.g. tapes, webs, sheets, strips, disks or membranes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2203/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N2203/02Details not specific for a particular testing method
    • G01N2203/04Chucks, fixtures, jaws, holders or anvils
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/02Details
    • G01N3/04Chucks

Abstract

変形試験を開始した後に試験体を取り外す必要がなく、変形試験において試験体が取り得る形状状態を保持しつつ試験体を観察や分析等を行うことができる変形試験器を提供する。 試験体の異なる少なくとも2の部分それぞれが第1部の第1取付部及び第2部の第2取付部に取り付けられ、第1形状状態から第2形状状態を経て再び第1形状状態に戻る所定の変形サイクルを試験体に生じさせる第1部に対する第2部の相対的な変位である変位サイクルを繰り返す脱着部分と、脱着部分が着脱自在に取り付けられる本体部分と、を備えてなる変形試験器であって、試験体が取り得る形状状態のうち少なくとも1の形状状態における第1部に対する第2部の相対的な位置を固定する状態保持手段が、本体部分に取り付けられた脱着部分に着脱自在であると共に、状態保持手段が装着された脱着部分が本体部分に脱着自在なものである、変形試験器である。

Description

変形試験器
 本発明は、変形試験器に関し、より詳細には、携帯電話等の基板や有機EL等のフレキシブルディスプレーに用いられる薄いガラス板や樹脂板等の試験体を変形させてその耐久度を試験する変形試験器に関する。
 以前から、携帯電話等の基板や有機EL等のフレキシブルディスプレーに用いられる薄いガラス板や樹脂板等の試験体を変形させてその耐久度を試験する変形試験器が知られている(例えば、特許文献1参照)。
 特許文献1は、試験体の『彎曲試験を機械でできるようにしたもので、これにおいて、彎曲の曲率半径や弧長が違っていても、わずかな調整で機械が作動できるようにした』(特許文献1の段落番号0005)変形試験器を提供するためになされたものであり、具体的には、『略四角形のフレームの中に固定壁と移動壁とを対向して設け、両壁の頂上にワークを取り付ける取付部を固定壁と移動壁に対してそれぞれ鉛直面内で回動可能に設けるとともに、両取付部にワークとワークの他に板ばねのそれぞれ両端を取り付けて固定壁と移動壁との間に彎曲状態に渡し、移動壁を固定壁に対して遠近させてワークを繰り返し彎曲することを特徴とする彎曲試験機』(特許文献1の請求項1)を開示している。かかる変形試験器(特許文献1では彎曲試験機)によれば『固定壁と移動壁に薄いガラス板や樹脂板といったワークを彎曲状態で渡し、移動壁を固定壁に対して遠近させてワークを繰り返して彎曲するものである。このとき、ワークの彎曲の曲率半径等の形状要件を変えることがあるが、移動壁を移動させるアクチュエータによるストロークと両壁の初期位置を変えること等でそれを可能にする。また、ワークを取り付ける取付部が移動壁又は固定壁に対して鉛直面内で回動可能(相手方に向かって傾動可能なこと)にすることで内部応力を残さずにストローク変化にも対応できるようにしている。さらに、彎曲の速度も調整できなければならないが、アクチュエータの速さを変えることでそれができる』(特許文献1の段落番号0008)というものである。
特開2016-080694号公報(例えば、要約、発明の詳細な説明中の段落番号0001~0008、0011~0013、第1図~第3図等)
 特許文献1に開示の変形試験器においては、『ワーク4は移動壁3と固定壁2との間にそれぞれ架け渡すが、このときの移動壁3と固定壁2への取り付けは各々の頂上に設けられる点板22、23にそれぞれ蝶番9、10で鉛直面内で回転可能に取り付けられる取付部5、6と、これに固定される押え板7、8とで挟み付けて取り付け』(特許文献1の段落番号0013)るものである。ここに試験体たるワーク4は、取付部5、6と押え板7、8とに挟んで取り付けられて変形試験を開始した後、大きな変形試験器に取り付けられたままの試験体を観察や分析等を行うことは難しいことから、試験体の観察や分析等を行う際には、変形試験器から試験体を取り外す必要があった。観察や分析等の後、その試験体の変形試験を続行するには、観察や分析等を行ったその試験体を再び取付部5、6と押え板7、8との間に挟み付けて取り付ける必要があるが、観察や分析等の前後の取り付け状態(観察や分析等を行うために試験体を取り外す前の状態と、観察や分析等の後に試験体を再度の取り付けた状態)を同じにするには非常に注意深く難儀な取り付け作業を要するし、十分注意深く取り付けたと考えていても両状態が異なることにより、観察や分析等を挟んで同一条件での連続した変形試験を行うことができない問題があった。さらに、第1形状状態から第2形状状態を経て再び第1形状状態に戻る所定の変形サイクルを試験体に生じさせる変形試験において、試験体が取り得る形状状態を保持しつつ試験体の観察や分析等を行いたい場合には、変形試験器から試験体を取り外すことで形状状態を保持できない問題もあった。
 そこで、本発明では、変形試験を開始した後に試験体を取り外す必要がなく、変形試験において試験体が取り得るいずれかの形状状態を保持しつつ試験体を観察や分析等を行うことができる変形試験器を提供することを目的とする。
 本発明の変形試験器(以下、「本試験器」という)は、試験体の異なる少なくとも2の部分それぞれが第1部の第1取付部及び第2部の第2取付部に取り付けられ、第1形状状態から第2形状状態を経て再び第1形状状態に戻る所定の変形サイクルを試験体に生じさせる第1部に対する第2部の相対的な変位である変位サイクルを繰り返す脱着部分と、脱着部分が着脱自在に取り付けられる本体部分と、を備えてなる変形試験器であって、試験体が取り得る形状状態のうち少なくとも1の形状状態における第1部に対する第2部の相対的な位置を固定する状態保持手段が、本体部分に取り付けられた脱着部分に着脱自在であると共に、状態保持手段が装着された脱着部分が本体部分に脱着自在なものである、変形試験器である。
 本試験器は、脱着部分と本体部分とを備えてなる。
 脱着部分は第1部と第2部とを含んでなる。第1部が有する第1取付部と、第2部が有する第2取付部と、に、試験体の異なる少なくとも2の部分それぞれが取り付けられる(該少なくとも2の部分の1の部分が第1取付部に取り付けられ、該少なくとも2の部分の他の部分が第2取付部に取り付けられる。また、「少なくとも2の部分」であるので、試験体の3以上の部分が脱着部分に取り付けられてもよい。)。そして、第1部に対する第2部の相対的な変位(第1部のみが変位をし第2部は静止している場合、第2部のみが変位をし第1部は静止している場合、そして第1部及び第2部いずれもが変位をする場合の3の場合を含む。)である変位サイクルを繰り返すことで、第1形状状態から第2形状状態を経て再び第1形状状態に戻る所定の変形サイクル(例えば、折り曲げ、彎曲、捻り、引っ張り、圧縮等の変形を含む。)を試験体に生じさせる。本体部分は、脱着部分が着脱自在に取り付けられる。
 そして、本試験器においては、状態保持手段が、本体部分に取り付けられた脱着部分に着脱自在であると共に、状態保持手段が装着された脱着部分が本体部分に脱着自在である。ここに状態保持手段は、第1形状状態から第2形状状態を経て再び第1形状状態に戻る所定の変形サイクルにおいて試験体が取り得る形状状態のうち少なくとも1の形状状態における第1部に対する第2部の相対的な位置を固定する。
 こうすることで本試験器においては、第1部と第2部とに試験体を取り付け、第1部に対する第2部の変位サイクルを繰り返すことで、所定の変形サイクルを試験体に生じさせて試験体の変形試験を行うことができる。そして、変形試験を開始した後、試験体の観察や分析等を行う際には、本体部分に取り付けられた脱着部分に状態保持手段を取り付ける。その後、状態保持手段が装着された脱着部分を本体部分から取り外し(状態保持手段が装着されることで、脱着部分を本体部分から取り外しても、取り外される前の第1部に対する第2部の相対的な位置が固定されており、試験体の形状状態が保持される。)、脱着部分に取り付けられたままの試験体の観察や分析等を行うことができる(試験器全体に比して脱着部分は小形かつ軽量であるので、脱着部分に取り付けたままで試験体を容易に観察や分析等ができる。)。試験体の観察や分析等の後、状態保持手段を装着したままの脱着部分を本体部分に取り付け、そして本体部分に取り付けられた脱着部分から状態保持手段を取り外す。そして、再び、第1部に対する第2部の変位サイクルを繰り返すことで、再び、所定の変形サイクルを試験体に生じさせる試験体の変形試験を続行することができる。このように本試験器は、変形試験を開始した後に試験体を取り外す必要がなく(試験体は脱着部分に取り付けたまま)、変形試験において試験体が取り得るいずれかの形状状態を保持(状態保持手段を脱着部分に装着することで試験体の形状状態が保持される。)しつつ試験体を観察や分析等することができる。
 本試験器においては、脱着部分が、状態保持手段を取り付けるための状態保持手段取付部を有してなるものであってもよい。
 状態保持手段は、試験体が取り得る形状状態のうち少なくとも1の形状状態における第1部に対する第2部の相対的な位置を固定するものであれば何ら限定されるものではなく、例えば、脱着部分の第1部及び第2部をそれぞれ挟んで取り付けられるものや、脱着部分の第1部及び第2部に吸引される磁石により取り付けられるものや、脱着部分の第1部及び第2部に外嵌して取り付けられるもの等であってもよい。しかしながら、状態保持手段を取り付けるための状態保持手段取付部を脱着部分が有するようにすれば、脱着部分に状態保持手段を確実に装着することができる。状態保持手段取付部と、状態保持手段取付部に取り付けられる状態保持手段が有するものと、の一方と他方との組み合わせの例としては、一方が雄ねじであり他方が該雄ねじが螺合可能な雌ねじである場合、一方が嵌入凸部であり他方が該嵌入凸部が嵌入される嵌入凹部である場合、一方が面ファスナーであり他方が該面ファスナーに係合可能な面ファスナーである場合等を例示的に挙げることができる。
 本試験器においては、第1形状状態から第2形状状態に遷移する際に、第1部と第2部との間の距離が減少するものであり、脱着部分が、第2形状状態から第1形状状態へ該距離を増加させるよう第1部及び/又は第2部を付勢する付勢手段を有してなり、状態保持手段が、該距離が増加することを禁止する距離増加禁止手段であってもよい(以下、「距離増加禁止本試験器」という。)。
 所定の変形サイクルにより試験体に生じる第1形状状態から第2形状状態への遷移過程において、第1部と第2部との間の距離が減少する場合、脱着部分が付勢手段を有し、該付勢手段が、第2形状状態から第1形状状態へ該距離を増加させるよう第1部及び/又は第2部を付勢するものとし、状態保持手段が、該距離が増加することを禁止する距離増加禁止手段とすれば、状態保持手段たる距離増加禁止手段が該距離の増加を禁止する方向に第1部及び/又は第2部の変位を制限すればよいので、状態保持手段を簡単に構成することができる。
 本試験器においては、第1形状状態から第2形状状態に遷移する際に、第1部と第2部との間の距離が増加するものであり、脱着部分が、第2形状状態から第1形状状態へ該距離を減少させるよう第1部及び/又は第2部を付勢する付勢手段を有してなり、状態保持手段が、該距離が減少することを禁止する距離減少禁止手段であってもよい(以下、「距離減少禁止本試験器」という。)。
 所定の変形サイクルにより試験体に生じる第1形状状態から第2形状状態への遷移過程において、第1部と第2部との間の距離が増加する場合、脱着部分が付勢手段を有し、該付勢手段が、第2形状状態から第1形状状態へ該距離を減少させるよう第1部及び/又は第2部を付勢するものとし、状態保持手段が、該距離が減少することを禁止する距離減少禁止手段とすれば、状態保持手段たる距離減少禁止手段が該距離の減少を禁止する方向に第1部及び/又は第2部の変位を制限すればよいので、状態保持手段を簡単に構成することができる。
 距離増加禁止本試験器又は距離減少禁止本試験器においては、状態保持手段が、一端側が第1部に取り付けられると共に他端側が第2部に取り付けられる状態保持部材と、状態保持部材の該一端側を第1部に着脱自在に取り付ける一端側着脱部と、状態保持部材の該他端側を第2部に着脱自在に取り付ける他端側着脱部と、を含んでなるものであってもよい。
 こうすることで、一端側着脱部により状態保持部材の一端側を第1部に着脱自在に取り付けると共に、他端側着脱部により状態保持部材の他端側を第2部に着脱自在に取り付けることで、状態保持部材がその一端側が第1部に着脱自在に取り付けられると共にその他端側が第2部に着脱自在に取り付けられるので、状態保持手段たる距離増加禁止手段(距離増加禁止本試験器の場合)又は距離減少禁止手段(距離減少禁止本試験器の場合)を簡単に構成することができる。
 本試験器においては、状態保持手段が、試験体が取り得る形状状態の全ての形状状態における第1部に対する第2部の相対的な位置を固定することができるものであってもよい。
 こうすることで、試験体が取り得る形状状態の全ての形状状態における第1部に対する第2部の相対的な位置を固定することができるので、変形試験を開始した後、試験体が取り得るいずれの形状状態においても形状状態を保持しつつ試験体の観察や分析等を行うことができる。
 本試験器においては、脱着部分が本体部分に取り付けられたとき、脱着部分を本体部分に対して所定方向に移動させ脱着部分を本体部分から取り外すことができるが、脱着部分と本体部分とが当接することで該所定方向とは反対方向に脱着部分を本体部分に対して移動させることは禁止されると共に該所定方向に垂直な平面に沿ったいずれの方向にも脱着部分を本体部分に対して移動させることは禁止されるもの(以下、「脱着方向規定本試験器」という。)であってもよい。
 こうすることで、脱着部分が本体部分に取り付けられた状態(以下、「取り付け状態」という。)においては、脱着部分を本体部分に対して所定方向(以下、「取り外し方向」という。)に移動させることで、脱着部分を本体部分から取り外すことができる。しかしながら取り付け状態において、脱着部分と本体部分との当接により、該所定方向(取り外し方向)とは反対方向に脱着部分を本体部分に対して移動させることは禁止される。そして、取り付け状態において、脱着部分と本体部分との当接により、該所定方向(取り外し方向)に垂直な平面に沿ったいずれの方向にも脱着部分を本体部分に対して移動することは禁止される。このため取り付け状態においては、脱着部分を本体部分に対して該所定方向(取り外し方向)に移動させ取り外すことはできるが、該所定方向(取り外し方向)以外の方向への移動は禁止され、脱着部分を本体部分に取り付けた状態を容易に保持することができる。そして、本体部分から取り外された脱着部分を、該所定方向(取り外し方向)とは反対方向に本体部分に対して(前記当接が形成されるまで)移動させることで、該垂直な平面に沿った脱着部分の本体部分に対する位置決め(該垂直な平面への脱着部分の正投影が、該垂直な平面への本体部分の正投影に対する相対位置が所定の位置に定まる)と該所定方向(取り外し方向)に沿った脱着部分の本体部分に対する位置決めとの両方を容易かつ確実に行うことができる。
 脱着方向規定本試験器においては、前記所定方向への本体部分に対する脱着部分の移動を制限する移動制限手段を備えるもの(以下、「脱着方向移動制限本試験器」という。)であってもよい。
 こうすることで、移動制限手段は、脱着部分が本体部分に取り付けられた取り付け状態において脱着部分が本体部分に対して前記所定方向(取り外し方向)に移動することを制限するので、不意に脱着部分が本体部分から脱落等することを防止又は減少させることができる。なお、ここにいう前記所定方向への本体部分に対する脱着部分の移動の制限とは、前記所定方向への本体部分に対する脱着部分の移動を完全に禁止するもののみならず、脱着部分が本体部分から脱落しない程度の前記所定方向への本体部分に対する脱着部分の移動を許容するものも含む。
 脱着方向移動制限本試験器においては、移動制限手段が、前記所定方向とは反対方向が鉛直下方向への成分を有する際の脱着部分の重力と、脱着部分及び本体部分のいずれか一方に設けられ他方を吸引する磁力発生手段と、の少なくとも一方を含むものであってもよい。
 移動制限手段は、取り付け状態において脱着部分が本体部分に対して前記所定方向(取り外し方向)に移動することを制限するものであればよく、例えば、脱着部分と本体部分とを係止するピンとそれを嵌入する嵌入孔、脱着部分と本体部分とに設けられる互いに係合する一対の面ファスナー、脱着部分と本体部分とを係止する雄ネジとそれに螺合する雌ネジ、脱着部分と本体部分とを連結する連結ベルト等を挙げることができるが、前記所定方向(取り外し方向)とは反対方向が鉛直下方向への成分を有する際(即ち、前記所定方向(取り外し方向)とは反対方向への脱着部分の移動により脱着部分の重心位置が降下する)の脱着部分の重力とすれば格別の構成を要さないので本試験器を容易かつ簡潔に構成することができ、さらに脱着部分及び本体部分のいずれか一方に設けられ他方を吸引する磁力発生手段(例えば、永久磁石や電磁石)とすれば脱着部分及び本体部分が互いに近接した際に格別の操作を要することなく両者が引き合うので本試験器の操作を容易ならしめる。また、移動制限手段がこれら脱着部分の該重力と該磁力発生手段との両方を含むものであってもよい。
 脱着方向規定本試験器においては、脱着部分及び本体部分のいずれか一方が、前記所定方向又はその逆方向に突出する突出部材を有し、該いずれか他方が、該突出部材を前記所定方向又はその逆方向に嵌入する嵌入孔を有するものであってもよい。
 このように脱着部分及び本体部分のいずれか一方が、前記所定方向(該一方が本体部分)又はその逆方向(該一方が脱着部分)に突出する突出部材を有し、該いずれか他方が、該突出部材を前記所定方向(該他方が脱着部分)又はその逆方向(該他方が本体部分)に嵌入する嵌入孔を有することによって、突出部材とそれを嵌入する嵌入孔という簡単な構成により、取り付け状態から脱着部分を本体部分に対して前記所定方向に移動させ脱着部分を本体部分から取り外すことができると共に、取り付け状態において前記所定方向に垂直な平面に沿ったいずれの方向にも脱着部分を本体部分に対して移動することを禁止(例えば、該いずれの方向に脱着部分が本体部分に対して移動しても、突出部材の外面と嵌入孔の内面とが当接するようにしてもよい。)することができる。
 本試験器においては、本体部分が、第1部を取り付ける第1部取付部分と、第2部を取り付ける第2部取付部分と、第1部取付部分に取り付けられた第1部と第2部取付部分に取り付けられた第2部とが変位サイクルを繰り返すように第1部取付部分と第2部取付部分とを相対的に繰り返して変位させる駆動手段と、を含んでなるものであってもよい。
 こうすることで、本体部分が第1部取付部分と第2部取付部分と駆動手段とを含み、駆動手段が、第1部が取り付けられた第1部取付部分と、第2部が取り付けられた第2部取付部分と、を、第1部と第2部とが変位サイクルを繰り返すように相対的に繰り返して変位させる。第1部と第2部とを相対的に変位させる駆動手段は、本試験器において重量及び/又は体積に関して比較的大きな割合を占めることが多く、かかる駆動手段を本体部分に含めて脱着部分に含めないようにすることで脱着部分を小形軽量に構成できるので、脱着部分を本体部分から取り外して試験体の観察や分析等を容易に行うことができる。
 本試験器における本体部分、脱着部分及び状態保持手段については、本試験器における試験の目的や仕様等に応じて種々変更されるので、それぞれ異なる種類の本体部分、脱着部分及び状態保持手段を準備(製造、販売)しておき、試験の目的や仕様等にうまく適合させるように、本体部分、脱着部分及び状態保持手段を組み合わせて用いることもできる。
本発明の一実施形態に係る変形試験器(本試験器)を示す分解斜視図である。 本試験器の正面図である。 試験カートリッジの拡大斜視図である。 第1本体、嵌入ピン及び永久磁石の関係を示す一部拡大分解斜視図である。 第1本体、嵌入ピン及び永久磁石の関係を示す一部拡大分解斜視図である。 第2本体、嵌入ピン及び永久磁石の関係を示す一部拡大分解斜視図である。 第2本体、嵌入ピン及び永久磁石の関係を示す一部拡大分解斜視図である。 試験体支持部の回動を係止する回動ストッパーを示す一部拡大斜視図である。 変形試験の状態を示す正面図である。 試験カートリッジを試験器本体から取り外した状態を示す斜視図である。 試験カートリッジを試験器本体から取り外した状態を示す斜視図である。
 以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。しかしながら、これらによって本発明は何ら制限されるものではない。
 図1は、本発明の一実施形態に係る変形試験器(本試験器)11を示す分解斜視図であり、図2は本試験器11の正面図(図1中の矢印V方向から見たところを示している。但し状態保持部30は取り外しており、駆動部97は図示を省略している。)であり、図3は、後述の試験カートリッジ20の拡大斜視図であり、図4A及び図4Bは、後述の第1本体24、嵌入ピン94a、94b及び永久磁石94mの関係を示す一部拡大分解斜視図であり、図4C及び図4Dは、後述の第2本体26、嵌入ピン96a、96b及び永久磁石96mの関係を示す一部拡大分解斜視図であり、そして図5は、後述の試験体支持部21aの回動を係止する回動ストッパー29bを示す一部拡大斜視図である。図1乃至図5を参照して、本試験器11について説明する。
 本試験器11は、大まかには、試験器本体91と、試験カートリッジ20と、状態保持部30と、を備えてなる。
 試験器本体91は、本試験器11を設置する載置面201に据え置かれるフレーム92と、フレーム92の上部に配設され、試験カートリッジ20の第1部分23を着脱自在に支持する固定支持部93と、試験カートリッジ20の第2部分25を着脱自在に支持する移動支持部95と、移動支持部95を変位方向(図1及び図2中、矢印S方向)に往復動させる駆動部97と、を有してなる。
 フレーム92は、中空かつ開放された直方体形状に鋼材によって形成され、水平面である載置面201に下部が当接している。
 また、別の側面からは、板状の試験体101の湾曲試験を行う変形試験機は、試験器本体91及び試験カートリッジ20を含む。ほぼ直方体における辺の部分を構成し試験機本体の概形を構成するフレーム92と、試験器本体91をほぼ水平な載置面に配置したとき上面視でほぼ長方形空間の輪郭を形成するフレーム92が囲んで規定する長方形の仮想面の1つの辺に沿った側に備えられる固定支持部93と、この1つの辺の両端からそれぞれ垂直に延びる別の2つの辺(フレーム92で形成されていてもよい)に沿って延びる一対のスライドレール85a、85bと、長方形の仮想面を挟んで対向する互いにほぼ平行なスライドレール85a、85bの間を跨がるように備えられる基礎部95bを含む移動支持部95と、移動支持部95を前記スライドレール85a、85bに沿った方向(上述する別の2つの辺に沿う方向)に往復動させる駆動部97と、を含む。
 固定支持部93は、フレーム92上部に架け渡された基礎部93bと、基礎部93bの上面に取り付けられた一対の「L」形のアングル部材93a1、93a2と、アングル部材93a1、93a2それぞれの上面から上方に向けて突出するように設けられた一対の嵌入ピン94a、94bと、アングル部材93a1、93a2それぞれの近傍の基礎部93b上面に埋設された永久磁石94m(アングル部材93a1近傍の永久磁石94mは図4B参照)と、を含んでなる。なお、アングル部材93a1、93a2は、主表面が鉛直になるように固定板状部材81を支持する。
 また、別の側面からは、固定支持部93は、長方形の仮想面の1つの辺を形成するフレーム92に沿って備えられる長板状の基礎部93b(1つの板面(上面)を上に向けてほぼ水平に配置)と、基礎部93bの長手方向(上述する1つの辺に沿う方向)の中ほどに所定の距離を隔てて基礎部93bの上面に取り付けられた一対のアングル部材93a1、93a2(垂直な線分の下端及び水平な線分の左端で結合されて構成される「L」字形状を持つが、この「L」字をひっくり返して、試験器本体91のほぼ長方形の仮想面の内部側から基礎部93bに近接させ水平な線分に相当する部材の下面を基礎部93bの上面に当接させて取り付け、垂直な線分に相当する部材を基礎部93bの内部側に垂直方向下向きに垂らしたもの)と、アングル部材93a1、93a2の水平な線分に相当する部材の上面であって上述する長方形の仮想面の内部側に寄る位置に上方に突出するように備えられる嵌入ピン94a、94bと、基礎部93bの上面であってアングル部材93a1、93a2の水平な線分に相当する部材の外側(基礎部93bの長手方向のそれぞれの端部側)にそれぞれその部材に沿って備えられる2つの永久磁石94mと、を含む。
 移動支持部95は、変位方向(図1及び図2中、矢印S方向)に平行にフレーム92の上部に取り付けられた一対のスライドレール85a、85bの間に跨がるように取り付けられた基礎部95b(スライドレール85a、85bに対して変位方向(図中、矢印S方向)にスライド自在である。)と、基礎部95bの上面に取り付けられた一対の「L」形のアングル部材95a1、95a2と、アングル部材95a1、95a2それぞれの上面から上方に向けて突出するように設けられた一対の嵌入ピン96a、96bと、アングル部材95a1、95a2それぞれの近傍の基礎部95b上面に埋設された永久磁石96m(アングル部材95a1近傍の永久磁石96mは図に表れない)と、を含んでなる。なお、アングル部材95a1、95a2は、主表面が鉛直になるように移動板状部材83を支持する。
 また、別の側面からは、移動支持部95は、一対のスライドレール85a、85bの間に跨がるように備えられスライドレール85a、85bに沿ってスライド可能にマウントされるマウント部をそれぞれのスライドレール85a、85bに対するように両端近傍に備える長板状の基礎部95b(1つの板面(上面)を上に向けてほぼ水平に配置)と、基礎部95bの長手方向(一対のスライドレール85a、85bを跨ぐ方向)の中ほどに所定の距離を隔てて基礎部95bの上面に取り付けられた一対のアングル部材95a1、95a2(垂直な線分の下端及び水平な線分の左端で結合されて構成される「L」字形状を持つが、この「L」字をひっくり返して、試験器本体91のほぼ長方形の仮想面の内部側から基礎部95bに近接させ水平な線分に相当する部材の下面を基礎部95bの上面に当接させて取り付け、垂直な線分に相当する部材を基礎部95bの内部側に垂直方向下向きに垂らしたもの)と、アングル部材95a1、95a2の水平な線分に相当する部材の上面であって上述する長方形の仮想面の内部側に寄る位置に上に突出するように備えられる嵌入ピン96a、96bと、基礎部95bの上面であってアングル部材95a1、95a2の水平な線分に相当する部材の外側(基礎部95bの長手方向のそれぞれの端部側)にそれぞれその部材に沿って備えられる2つの永久磁石96mと、を含む。
 駆動部97は、一端が移動支持部95に連結される連結棒97a(長手方向が変位方向(図1及び図2中、矢印S方向)に平行である)と、連結棒97aの基端を定められた振幅及び周波数にて変位方向(図1及び図2中、矢印S方向)に往復動させる駆動ユニット97bと、を含んでなり、移動支持部95を定められた振幅及び周波数にて変位方向(図1及び図2中、矢印S方向)に往復動させる。
 また、別の側面からは、駆動部97は、フレーム92による直方体形状の外側において載置面201に配置されるが、一端が移動支持部95に連結されスライドレール85a、85bに平行な方向である変位方向に延びる連結棒97aと、連結棒97aの他端である基端側に変位方向に沿った方向(連結棒97aの軸方向)に連結棒97aを移動させる駆動ユニット97bを含む。フレーム92から構成される部分と駆動ユニット97bとは、連結棒97aの移動(例えば、往復動)や連結棒97aの一端が連結される移動支持部95の移動が生じても移動しないように、それぞれ載置面201において固定されている。
 試験カートリッジ20は、大まかには、試験器本体91の固定支持部93に着脱自在に取り付けられる第1部分23と、試験器本体91の移動支持部95に着脱自在に取り付けられる第2部分25と、第1部分23と第2部分25とを互いに連結する一対の板バネ22a、22bと、を含んでなる。基本形態においては、試験カートリッジ20は輪郭により上面視でほぼ長方形を呈しており、その長方形の輪郭の対向する2つの辺に相当する部分にそれぞれ固定支持部93及び移動支持部95に対応する第1部分23及び第2部分25を備え、上述する長方形の他の対向する2つの辺に相当する部分にそれぞれ板バネ22a、22bを備え、第1部分23及び第2部分25を連結するように構成される。
 第1部分23は、一対の嵌入ピン94a、94bに上方から嵌め込まれることで取り付けられる第1本体24と、第1本体24に対して第1回動軸C1(図3参照)を中心に回動自在に取り付けられる試験体支持部21aと、を有してなる。また、第1部分23は、上面視で「C」字形状する概ね板状のものであって「C」字形状の背部が上述する長方形の対向する2つの辺のうちの1つに沿うものであり「C」字形状の背部の反対側の開口部が上述する輪郭による長方形の内側を向いている第1本体24と、「C」字形状内に少なくとも一部が入りその開口部から他の部分が突出し更に突出部から両側の板バネ22a、22bに向かって少し外側に延びる部分(小延長部)を備える上面視でほぼ長方形を呈する試験体支持部21aと、第1本体24及び試験体支持部21aを回動自在に結合する上述する長方形の対向する2つの辺に平行な方向に延びる第1回動軸C1(例えば、蝶番)と、を含む。ここで、第1回動軸C1の端部23cが板バネ22bの向こうに見えている(図2)。なお、第1本体24の下面には、嵌入ピン94a、94bが嵌入される一対の嵌入孔24ha、24hb(図4A参照)が穿設されているが、嵌入ピン94a、94bは、アングル部材93a1、93a2の上面に備えられるので、第1本体24の下面に設けられる部材との干渉が避けられる。
 そして、第1本体24が固定支持部93に取り付けられた際(嵌入ピン94a、94bが嵌入孔24ha、24hbに嵌入される)、永久磁石94mが第1本体24(磁石に吸引される鋼材により形成されている)を吸引することで、第1本体24の固定支持部93への取り付けを確実ならしめる。
 また、試験体支持部21aが、第1本体24に対して第1回動軸C1を中心に回動することを規制する回動ストッパー29a、29bが第1本体24の下面に板バネ22a、22bが延びる方向(又は変位方向)に沿って延びるように配設されているが、アングル部材93a1、93a2との干渉を避けるように、第1本体24の「C」字形状の背部に沿う方向において、所定の距離隔てて設けられた1対のアングル部材93a1、93a2の外側壁の位置よりも幅広に隔てられている(図4A及び図5参照)。回動ストッパー29a、29bは、試験体支持部21aが第1回動軸C1を中心に回動すると、先端29aa、29baが、試験体支持部21aの小延長部の下面又は小延長部に連結・固定される外側に向かって延びる小片からなる板バネ固定片の下面に当接することでさらなる回動を禁止する。
 そして、試験体支持部21aには、回動ストッパー29a、29bの外側壁の位置よりもクリアランスを加えて更に幅広に隔てられて、板バネ22a、22bが延びる方向(又は変位方向)に沿って延びるように、一対の引っ張りばね21asの1つの端が掛けられる取付突起がその下面に配設され、他方の端は、第1本体24の下面に配設される取付突起に掛けられる。この一対の引っ張りばね21asは、第1回動軸C1より下方に設置されているので、試験体支持部21aが下方に向けて回動するように引っぱられており、試験体支持部21aが第1回動軸C1を中心に上方に回動することを防止し、試験体101が常に下方向に彎曲するようになっている(この引っ張りばね21asは、特許文献1において取付部5、6を下方に引っぱるばね11に相当する。)。
 第2部分25は、一対の嵌入ピン96a、96bに上方から嵌め込まれることで取り付けられる第2本体26と、第2本体26に対して第2回動軸C2(図3参照。C1とC2とは平行である。)を中心に回動自在に取り付けられた試験体支持部21bと、を有してなる。また、第2部分25は、上面視で「C」字形状する概ね板状のものであって「C」字形状の背部が上述する長方形の対向する2つの辺のうちの1つに沿うものであり「C」字形状の背部の反対側の開口部が上述する輪郭による長方形の内側を向いている第2本体26と、「C」字形状内に少なくとも一部が入りその開口部から他の部分が突出し更に突出部から両側の板バネ22a、22bに向かって少し外側に延びる部分(小延長部)を備える上面視でほぼ長方形を呈する試験体支持部21bと、第2本体26及び試験体支持部21bを回動自在に結合する上述する長方形の対向する2つの辺に平行な方向に延びる第2回動軸C2と、を含む。ここで、第2回動軸C2端部25cが板バネ22bの向こうに見えている(図2)。なお、第2本体26の下面には、第1本体24の下面と同様、嵌入ピン96a、96bが嵌入される一対の嵌入孔26ha、26hbが穿設されているが、嵌入ピン96a、96bは、アングル部材95a1、95a2の上面に備えられるので、第2本体26の下面に設けられる部材との干渉が避けられる。
 そして、第2本体26が移動支持部95に取り付けられた際(嵌入ピン96a、96bが、第2本体26の下面の一対の嵌入孔に嵌入される)、永久磁石96mが第2本体26(磁石に吸引される鋼材により形成されている)を吸引することで、第2本体26の移動支持部95への取り付けを確実ならしめる。
 また、試験体支持部21bが、第2本体26に対して第2回動軸C2を中心に回動することを規制する回動ストッパー29a、29bが第2本体26の下面に板バネ22a、22bが延びる方向(又は変位方向)に沿って延びるように配設されているが、アングル部材95a1、95a2との干渉を避けるように、第2本体26の「C」字形状の背部に沿う方向において、所定の距離隔てて設けられた1対のアングル部材95a1、95a2の外側壁の位置よりも幅広に隔てられている。該回動ストッパーは、前述の回動ストッパー29a、29bと同様のものであり、試験体支持部21bが第2回動軸C2を中心に回動すると、その先端が試験体支持部21bの小延長部の下面又は小延長部に連結・固定される外側に向かって延びる小片からなる板バネ固定片の下面に当接することでさらなる回動を禁止する。
 そして、試験体支持部21bには、回動ストッパー29a、29bの外側壁の位置よりもクリアランスを加えて更に幅広に隔てられて、板バネ22a、22bが延びる方向(又は変位方向)に沿って延びるように、一対の引っ張りばね21bsの1つの端が掛けられる取付突起がその下面に配設され、他方の端は、第2本体26の下面に配設される取付突起に掛けられる。この一対の引っ張りばね21bsは、第2回動軸C2より下方に設置されているので、試験体支持部21bが下方に向けて回動するように引っぱられており、試験体支持部21bが第2回動軸C2を中心に上方に回動することを防止し、試験体101が常に下方向に彎曲するようになっている(この引っ張りばね21bsは、特許文献1において取付部5、6を下方に引っぱるばね11に相当する。)。
 板バネ22a、22bは、いずれも一端が試験体支持部21aに取り付けられると共に他端が試験体支持部21bに取り付けられたまっすぐの短冊状(細長い板状)のバネであり、その短冊の長手方向は互いに平行になるように配置されている(試験カートリッジ20が試験器本体91に取り付けられると、短冊の該長手方向は変位方向(図1及び図2中、矢印S方向)に平行となる。)。この板バネ22a、22bは、重力以外の力が加わっていない場合には(無負荷の状態とも言える)、試験体101の両主表面が平面にほぼ沿う(ここでは試験体101が接着される試験体支持部21aの表面(ここでは上面)と、試験体支持部21bの表面(ここでは上面)と、は厳密には引っ張りばね21as、21bsの引っ張りにより僅かに下方に回動しているが、ほぼ水平な一平面に存するように位置している。この引っ張りばね21as、21bsの引っ張りにより試験体101の両主表面は下方に僅かに彎曲しているが、ほぼ平面に沿った状態である。)ように試験体支持部21a、21bが互いに離れるように付勢する。即ち、第1部分23及び第2部分25を連結するように、上面視でほぼ長方形の試験カートリッジ20の概形を構成し、以下に述べるように、中央に試験体101を保持する空間を確保する。
 試験体101は、ここでは両主表面が長方形を略なすものであり、有機ELのフレキシブルディスプレーとして用いられる薄く柔軟な樹脂板である。
 試験体101は、第1部の試験体支持部21aの表面(ここでは上面)と、第2部の試験体支持部21bの表面(ここでは上面)と、に試験体101の両縁近傍(両縁から所定の幅の部分)が接着することにより取り付けられている。
 そして、第1部分23と第2部分25とに、重力以外の力が加わっていない場合には、試験体101の両主表面が平面に略沿っている(前述の如く、厳密には引っ張りばね21as、21bsの引っ張りにより試験体101の両主表面は下方に僅かに彎曲している。)。
 状態保持部30は、まっすぐの短冊状(細長い板状)の保持板31、32と、保持板31を試験カートリッジ20に取り付けるための取付ねじ35a、35bと、保持板32を試験カートリッジ20に取り付けるための取付ねじ36a、36bと、を含んでなる。保持板31、32は、いずれもその長手方向に沿った長穴31h、32hが形成されている。取付ねじ35a、35bの軸部はいずれも長穴31hを貫通可能であるが、取付ねじ35a、35bの頭部はいずれも長穴31hを通過できない。同様に、取付ねじ36a、36bの軸部はいずれも長穴32hを貫通可能であるが、取付ねじ36a、36bの頭部はいずれも長穴32hを通過できない。取付ねじ35a、36aの軸部には雄ねじが螺刻されており、該雄ねじが螺合可能な雌ねじ27a、27bが第1部分23(第1本体24)上面に穿設されると共に取付ねじ35b、36bの軸部には雄ねじが螺刻されており、該雄ねじが螺合可能な雌ねじ28a、28bが第2部分25(第2本体26)上面に穿設されている。
 本試験器11を用いて試験体101の彎曲試験を行うには、まず第1に、上述の如く、試験カートリッジ20を試験器本体91に取り付ける。このとき嵌入ピン94a、94bを嵌入孔24ha、24hbに嵌入すると共に(図4A参照)、嵌入ピン96a、96bを第2本体26下面に形成した嵌入孔に嵌入する。この状態では、永久磁石94mが第1本体24を吸引すると共に永久磁石96mが第2本体26を吸引することで、試験カートリッジ20の試験器本体91への取り付けを確実ならしめる。
 第2に、試験体101の両縁近傍を試験体支持部21a、21bの表面(ここでは上面)に接着することにより取り付ける。通常は、試験体支持部21aの表面(上面)と、試験体支持部21bの表面(上面)と、が一平面(互いに平行な第1回動軸C1及び第2回動軸C2を含む平面)にほぼ属する状態において、試験体101の両主表面が該一平面にほぼ沿うように取り付ける(前述の通り、厳密には、引っ張りばね21as、21bsの引っ張りに試験体支持部21aの表面(上面)と試験体支持部21bの表面(上面)とは僅かに下方に回動すると共に、試験体101の両主表面は下方に僅かに彎曲している。)。
 第3に、駆動部97により、移動支持部95を所定の振幅及び周波数で矢印Sと平行方向に往復動させる(このときは状態保持部30を装着していない)。移動支持部95の往復動は、移動支持部95に取り付けられた第2部分25を該所定の振幅及び周波数で矢印Sと平行方向に往復動させる。なお、第1部分23は固定されているので、第2部分25の該往復動により、第1部分23と第2部分25との間の距離が増減し(板バネ22a、22bの付勢力に抗して該距離が減少する)、第1部分23と第2部分25との間に取り付けられた試験体101は屈伸される(このとき引っ張りばね21as、21bsによって試験体101は常に下方向に彎曲する。)。
 試験体101が所定回数屈伸した後、試験体101の観察や分析等行う場合、試験体101が所望の彎曲状態において状態保持部30を試験カートリッジ20に装着する。具体的には、試験体101が所望の彎曲状態となるよう駆動部97を停止し、その状態において、取付ねじ35a、35bの軸部を長穴31hに貫通すると共に取付ねじ36a、36bの軸部を長穴32hに貫通させた保持板31、32を試験カートリッジ20に取り付ける(具体的には、取付ねじ35a、36aを雌ねじ27a、27bに螺合させると共に取付ねじ35b、36bを雌ねじ28a、28bに螺合させて締め付ける。これにより、取付ねじ35a、35bの長穴31hに対する位置が固定されると共に取付ねじ36a、36bの長穴32hに対する位置が固定される。)。こうすることで第1部分23と第2部分25との間の距離が変化することを状態保持部30により禁止することで、後述のように試験カートリッジ20を試験器本体91から取り外しても試験体101の所望の彎曲状態が保持される。
 以上のように状態保持部30を装着した試験カートリッジ20を試験器本体91から上方に移動させることにより取り外す。具体的には、試験カートリッジ20を試験器本体91に対して上方に移動させるように力を加えることで、永久磁石94m、96mの吸引力及び試験カートリッジ20の重力に抗して試験カートリッジ20を試験器本体91から取り外すことができる(このとき嵌入ピン94a、94bは嵌入孔24ha、24hbから抜けると共に、嵌入ピン96a、96bは第2本体26下面に形成した嵌入孔から抜ける。)。
 試験器本体91から取り外した試験カートリッジ20は、それに装着した状態保持部30により、第1部分23と第2部分25との間の距離の変化が禁止され、試験体101の所望の彎曲状態が保持されるので、該所望の彎曲状態のまま試験体101の観察や分析等を行うことができる。
 試験体101の観察や分析等の後、状態保持部30を装着した試験カートリッジ20を再び試験器本体91に取り付ける(嵌入ピン94a、94bを嵌入孔24ha、24hbに嵌入し、嵌入ピン96a、96bを第2本体26下面に形成した嵌入孔に嵌入する。そして永久磁石94m、96mの吸引力により試験カートリッジ20の試験器本体91への取り付けを確実ならしめる。)。
 そして、状態保持部30を試験カートリッジ20から取り外す(取付ねじ35a、36aを雌ねじ27a、27bから抜き取ると共に取付ねじ35b、36bを雌ねじ28a、28bから抜き取る。)。こうすることで第1部分23と第2部分25との間の距離の変化が許容されるので、駆動部97により、移動支持部95を所定の振幅及び周波数で矢印Sと平行方向に往復動させることで、試験体101の彎曲試験を続行することができる。また、この彎曲試験の後、上述と同様に何度でも、試験カートリッジ20を試験器本体91から取り外して、試験体101の観察や分析等を適宜行うことができる。
 例えば、図6(図2と同様の方向から見た際、第1部分23及び第2部分25を含む部分を示した図)のように、試験体101の彎曲試験においては、試験体支持部21bが第1部分23から最も遠くなった状態(このときは試験体101の両主表面は、前述の如く、厳密には引っ張りばね21as、21bsの引っ張りにより下方に僅かに彎曲しているが、ほぼ平面に沿った状態である。このときの試験体支持部21bの位置をP1にて示す。)から試験体支持部21bが第1部分23に近づいた状態(このときは試験体101の両主表面は下方に彎曲している。このときの試験体支持部21bの位置をP2にて示す。)を経て試験体支持部21bが第1部分23に最も近づいた状態(このときは試験体101の両主表面は大きく下方に彎曲している。このときの試験体支持部21bの位置をP3にて示す。)に至ることで試験体101がほぼ平らな状態から大きく下方に彎曲する。その後、試験体支持部21bが位置P3から位置P2を経て位置P1に戻ることで、試験体101が大きく下に彎曲した状態からほぼ平らな状態に戻る。このように試験体支持部21bが、位置P1、位置P2、位置P3、位置P2そして位置P1と変位することで試験体101が1回屈伸することになるので、この試験体支持部21bの移動速度、変位距離(位置P1と位置P3との間の距離)及び回数を適宜設定して試験体101の屈伸試験を行うことができる。
 この試験体支持部21bが位置P1から位置P3までのいずれの位置においても、状態保持部30を試験カートリッジ20に装着することで試験体101の所望の彎曲状態を保持したまま、試験カートリッジ20を試験器本体91から取り外して該所望の彎曲状態のまま試験体101の観察や分析等を行うことができる。例えば、図7Aは、図6において試験体支持部21bが位置P1に存する状態で状態保持部30を試験カートリッジ20に装着して試験カートリッジ20を試験器本体91から取り外したところを示す斜視図であり、図7Bは、図6において試験体支持部21bが位置P3に存する状態で状態保持部30を試験カートリッジ20に装着して試験カートリッジ20を試験器本体91から取り外したところを示す斜視図であり、図7A及び図7Bのいずれにおいても試験体101の所望の彎曲状態を保持している。
 そして、前述の通り、試験体101の観察や分析等の後、状態保持部30を装着した試験カートリッジ20を再び試験器本体91に取り付け、状態保持部30を試験カートリッジ20から取り外して、再度、試験体101の彎曲試験を行うことができる。このように試験体101の彎曲試験と試験体101の観察分析等(試験カートリッジ20は試験器本体91から取り外し状態)とを自由に何度でも行うことができる。
 また、このように試験カートリッジ20が着脱自在になっていることから、予め試験体101を取り付けた複数の試験カートリッジ20を準備しておくことで、次々に試験カートリッジ20を試験器本体91に装着し彎曲試験を行うことができるので(試験体101を試験カートリッジ20に装着する時間に比し、試験カートリッジ20を試験器本体91に装着する時間は非常に短い)、複数の彎曲試験を迅速に行うことができる(各彎曲試験に対応する試験カートリッジ20を次々交換しつつ、複数の彎曲試験を迅速に行うことができ、試験器本体91の稼働率を向上させることができる。)。
 以上説明の通り、本試験器11は、試験体101の異なる少なくとも2の部分(ここでは略平行な両縁近傍)それぞれが第1部(ここでは第1部分23)の第1取付部(ここでは試験体支持部21a)及び第2部(ここでは第2部分25)の第2取付部(ここでは試験体支持部21b)に取り付けられ(ここでは接着)、第1形状状態(試験体支持部21bが位置P1に存する状態)から第2形状状態(試験体支持部21bが位置P3に存する状態)を経て再び第1形状状態(試験体支持部21bが位置P1に存する状態)に戻る所定の変形サイクルを試験体101に生じさせる第1部(第1部分23)に対する第2部(第2部分25)の相対的な変位である変位サイクル(試験体支持部21bが、位置P1、位置P2、位置P3、位置P2そして位置P1と変位するサイクル)を繰り返す脱着部分(ここでは試験カートリッジ20)と、脱着部分(試験カートリッジ20)が着脱自在に取り付けられる本体部分(ここでは試験器本体91)と、を備えてなる変形試験器(ここでは彎曲試験機)であって、試験体101が取り得る形状状態のうち少なくとも1(ここでは全て)の形状状態における第1部(第1部分23)に対する第2部(第2部分25)の相対的な位置を固定する状態保持手段(ここでは状態保持部30)が、本体部分(試験器本体91)に取り付けられた脱着部分(試験カートリッジ20)に着脱自在であると共に、状態保持手段(状態保持部30)が装着された脱着部分(試験カートリッジ20)が本体部分(試験器本体91)に脱着自在なものである、変形試験器である。
 本試験器11においては、脱着部分(試験カートリッジ20)が、状態保持手段(状態保持部30)を取り付けるための状態保持手段取付部(ここでは取付ねじ35a、36aの軸部に螺刻された雄ねじが螺合可能な雌ねじ27a、27bと、取付ねじ35b、36bの軸部に螺刻された雄ねじが螺合可能な雌ねじ28a、28bと、により構成される。)を有してなるものである。
 本試験器11においては、第1形状状態(試験体支持部21bが位置P1)から第2形状状態(試験体支持部21bが位置P3)に遷移する際に、第1部(第1部分23)と第2部(第2部分25)との間の距離が減少するものであり、脱着部分(試験カートリッジ20)が、第2形状状態(試験体支持部21bが位置P3)から第1形状状態(試験体支持部21bが位置P1)へ該距離を増加させるよう第1部(第1部分23)及び第2部(第2部分25)を付勢する付勢手段(ここでは板バネ22a、22b)を有してなり、状態保持手段(状態保持部30)が、該距離が増加することを禁止する距離増加禁止手段である。
 本試験器11においては、状態保持手段(状態保持部30)が、一端側が第1部(第1部分23)に取り付けられると共に他端側が第2部(第2部分25)に取り付けられる状態保持部材(ここでは保持板31、32)と、状態保持部材(保持板31、32)の該一端側を第1部(第1部分23)に着脱自在に取り付ける一端側着脱部(ここでは取付ねじ35a、36a)と、状態保持部材(保持板31、32)の該他端側を第2部(第2部分25)に着脱自在に取り付ける他端側着脱部(ここでは取付ねじ35b、36b)と、を含んでなる。
 本試験器11においては、状態保持手段(状態保持部30)が、試験体101が取り得る形状状態の全ての形状状態における第1部(第1部分23)に対する第2部(第2部分25)の相対的な位置を固定することができるものである(ここでは長穴31h、32hの長手方向のどこにおいても、取付ねじ35a、36a、35b、36bを締めることで保持板31、32に第1部分23及び第2部分25を係止できる。)。
 本試験器11においては、脱着部分(試験カートリッジ20)が本体部分(試験器本体91)に取り付けられたとき、脱着部分(試験カートリッジ20)を本体部分(試験器本体91)に対して所定方向(図中、矢印Kにて示す鉛直上方向)に移動させ脱着部分(試験カートリッジ20)を本体部分(試験器本体91)から取り外すことができるが、脱着部分(試験カートリッジ20)と本体部分(試験器本体91)とが当接することで該所定方向(矢印Kにて示す鉛直上方向)とは反対方向に脱着部分(試験カートリッジ20)を本体部分(試験器本体91)に対して移動させることは禁止されると共に該所定方向(矢印Kにて示す鉛直上方向)に垂直な平面(ここでは水平面)に沿ったいずれの方向にも脱着部分(試験カートリッジ20)を本体部分(試験器本体91)に対して移動させることは禁止されるものである。
 本試験器11においては、前記所定方向(矢印Kにて示す鉛直上方向)への本体部分(試験器本体91)に対する脱着部分(試験カートリッジ20)の移動を制限する移動制限手段を備えるものである。
 本試験器11においては、移動制限手段が、前記所定方向(矢印Kにて示す鉛直上方向)とは反対方向が鉛直下方向への成分を有する際(ここでは該反対方向が鉛直下方向である。)の脱着部分(試験カートリッジ20)の重力と、脱着部分(試験カートリッジ20)及び本体部分(試験器本体91)のいずれか一方(ここでは試験器本体91)に設けられ他方(ここでは試験カートリッジ20)を吸引する磁力発生手段(ここでは永久磁石94m、96m)と、の少なくとも一方(ここでは両方)を含む。
 本試験器11においては、脱着部分(試験カートリッジ20)及び本体部分(試験器本体91)のいずれか一方(ここでは試験器本体91)が、前記所定方向又はその逆方向(ここでは前記所定方向(矢印Kにて示す鉛直上方向))に突出する突出部材(ここでは嵌入ピン94a、94bと嵌入ピン96a、96b)を有し、該いずれか他方(ここでは試験カートリッジ20)が、該突出部材(嵌入ピン94a、94b、嵌入ピン96a、96b)を前記所定方向又はその逆方向(ここでは前記所定方向(矢印Kにて示す鉛直上方向))に嵌入する嵌入孔(ここでは第1本体24下面に形成された嵌入ピン94a、94bが嵌入される嵌入孔24ha、24hbと、第2本体26下面に形成された嵌入ピン96a、96bが嵌入される一対の嵌入孔)を有するものである。
 本試験器11においては、本体部分(試験器本体91)が、第1部(第1部分23)を取り付ける第1部取付部分(ここでは固定支持部93)と、第2部(第2部分25)を取り付ける第2部取付部分(ここでは移動支持部95)と、第1部取付部分(固定支持部93)に取り付けられた第1部(第1部分23)と第2部取付部分(移動支持部95)に取り付けられた第2部(第2部分25)とが変位サイクルを繰り返すように第1部取付部分(固定支持部93)と第2部取付部分(移動支持部95)とを相対的に繰り返して変位させる駆動手段(ここでは駆動部97)と、を含んでなる。
 また、別の実施例においては、第1部(第1部分23)を取り付ける第1部取付部分を移動可能にすることもでき、その際には、第1部取付部分との距離が相対的に繰り返して変化することができるのであれば、第2部取付部分を固定してもよく、或いは、移動可能にしてもよい。
 以上述べてきたように、本発明の1つの実施例において、板状又はフィルム状の試験体を彎曲させて評価する変形試験器(11)は、
 少なくとも1つの方向(例えば、S)において、互いの距離が繰り返して相対的に変化し得る第1部取付部分(93)及び第2部取付部分(95)と、
 前記第1部取付部分(93)及び前記第2部取付部分(95)の間の相対的な距離を繰り返して変化させることができる駆動部(97)と、
 前記第1部取付部分(93)及び前記第2部取付部分(95)に係合して前記試験体を彎曲させるように保持する試験カートリッジ(20)と、を含み、
 前記試験カートリッジ(20)は、
  前記第1部取付部分(93)に係合する第1部分(23)と、
  前記第2部取付部分(95)に係合する第2部分(25)と、
  前記第1部分(23)及び前記第2部分(25)の間に前記少なくとも1つの方向(例えば、S)に沿って無負荷で所定の距離を維持可能に架け渡される弾性体(例えば、板バネ22a、22b)と、
  前記少なくとも1つの方向(例えば、S)に沿って、負荷又は無負荷で前記第1部分(23)及び前記第2部分(25)の間の相対的な距離を固定して保持可能な状態保持部(30)と、を含み、
   前記第1部分(23)は、
    前記第1部取付部分(93)と係合し前記少なくとも1つの方向(例えば、S)に沿って係合固定したまま前記第1部取付部分(93)と一緒に移動し得るように構成される第1本体(24)と、
    前記第1本体(24)に、前記少なくとも1つの方向に実質的に垂直な回動軸(C1)を介して、回動自在に接続されるように構成される第1試験体支持部(21a)と、を含み、
    前記第1本体(24)は、前記少なくとも1つの方向(例えば、S)に実質的に垂直な方向の移動により、前記第1部取付部分(93)に装着可能な及び装脱可能な係合部材(例えば、嵌入孔24ha、24hb)を、及び、前記第1部取付部分(93)は、その係合部材に対応可能な対応部材(例えば、嵌入ピン94a、94b)を、備え、
   前記第2部分(25)は、
    前記第2部取付部分(95)と係合し前記少なくとも1つの方向に沿って係合固定したまま前記第2部取付部分(95)と一緒に移動し得るように構成される第2本体(26)と、
    前記第2本体(26)に、前記少なくとも1つの方向(例えば、S)に実質的に垂直な回動軸C2を介して、回動自在に接続されるように構成される第2試験体支持部(21b)と、を含み、
    前記第2本体(26)は、前記少なくとも1つの方向(例えば、S)にほぼ垂直な方向の移動により、前記第2部取付部分(95)に装着可能な及び装脱可能な係合部材(例えば、嵌入孔26ha、26hb)を、及び、前記第2部取付部分(95)は、その係合部材に対応可能な対応部材(例えば、嵌入ピン96a、96b)を、備え、
  前記第1試験体支持部(21a)及び前記第2試験体支持部(21b)は、前記試験体(101)の異なる部分を保持可能に構成され、そして、前記第1試験体支持部(21a)及び前記第2試験体支持部(21b)の間は、かかる保持により、前記試験体(101)を配置することができるように構成され、そして、
  前記状態保持部(30)は、前記弾性体(例えば、板バネ22a、22b)の復元力に抗して、相対的な距離を固定することができるように構成される。
 ここで、上記状態保持部(30)は、上記弾性体(例えば、板バネ22a、22b)及び上記試験体(101)の復元力に抗して十分耐えうる構造及び/又は材料並びにそれら弾性体及び試験体をその状態で前記状態保持部に固定可能な固定装置(例えば、ファスナー、ネジ、ボルト、凸部、及び対応するファスナー、ネジ穴、ナット、凹部等)を含みことができる。また、前記状態保持部(30)は、上記試験カートリッジ(20)を取り出す際に、上記係合部材(例えば、嵌入孔24ha、24hb)及び上記対応部材(例えば、嵌入ピン94a、94b)並びに上記係合部材(例えば、嵌入孔26ha、26hb)及び上記対応部材(例えば、嵌入ピン96a、96b)の係合を解除する際に、適度なクリアランスを供給することができる。
 更に、前記試験カートリッジ(20)は、上記少なくとも1つの方向(例えば、S)における任意の位置で、上記第1部取付部分(93)及び上記第2部取付部分(95)が停止可能に構成されており、その状態で、上記状態保持部(30)は、上記弾性体(例えば、板バネ22a、22b)及び上記試験体(101)を固定することができる。
 11 本試験器     20 試験カートリッジ
 21a 試験体支持部     21as 引っ張りばね
 21b 試験体支持部     21bs 引っ張りばね
 22a、22b 板バネ     23 第1部分
 24 第1本体     24ha、24hb 嵌入孔
 25 第2部分     26 第2本体
 27a、27b 雌ねじ     28a、28b 雌ねじ
 29a、29b 回動ストッパー     29aa、29ba 先端
 30 状態保持部     31、32 保持板
 31h、32h 長穴     35a、35b 取付ねじ
 36a、36b 取付ねじ     81 固定板状部材
 83 移動板状部材     85a、85b スライドレール
 91 試験器本体     92 フレーム     93 固定支持部
 93a1、93a2 アングル部材     93b 基礎部
 94a、94b 嵌入ピン     94m 永久磁石
 95 移動支持部     95a1、95a2 アングル部材
 95b 基礎部     96a、96b 嵌入ピン
 96m 永久磁石     97 駆動部     97a 連結棒
 97b 駆動ユニット     101 試験体
 201 載置面

 

Claims (14)

  1.  試験体の異なる少なくとも2の部分それぞれが第1部の第1取付部及び第2部の第2取付部に取り付けられ、第1形状状態から第2形状状態を経て再び第1形状状態に戻る所定の変形サイクルを試験体に生じさせる第1部に対する第2部の相対的な変位である変位サイクルを繰り返す脱着部分と、
     脱着部分が着脱自在に取り付けられる本体部分と、
    を備えてなる変形試験器であって、
     試験体が取り得る形状状態のうち少なくとも1の形状状態における第1部に対する第2部の相対的な位置を固定する状態保持手段が、本体部分に取り付けられた脱着部分に着脱自在であると共に、状態保持手段が装着された脱着部分が本体部分に脱着自在なものである、変形試験器。
  2.  脱着部分が、状態保持手段を取り付けるための状態保持手段取付部を有してなるものである、請求項1に記載の変形試験器。
  3.  第1形状状態から第2形状状態に遷移する際に、第1部と第2部との間の距離が減少するものであり、
     脱着部分が、第2形状状態から第1形状状態へ該距離を増加させるよう第1部及び/又は第2部を付勢する付勢手段を有してなり、
     状態保持手段が、該距離が増加することを禁止する距離増加禁止手段である、請求項1又は2に記載の変形試験器。
  4.  第1形状状態から第2形状状態に遷移する際に、第1部と第2部との間の距離が増加するものであり、
     脱着部分が、第2形状状態から第1形状状態へ該距離を減少させるよう第1部及び/又は第2部を付勢する付勢手段を有してなり、
     状態保持手段が、該距離が減少することを禁止する距離減少禁止手段である、請求項1又は2に記載の変形試験器。
  5.  状態保持手段が、一端側が第1部に取り付けられると共に他端側が第2部に取り付けられる状態保持部材と、状態保持部材の該一端側を第1部に着脱自在に取り付ける一端側着脱部と、状態保持部材の該他端側を第2部に着脱自在に取り付ける他端側着脱部と、を含んでなる、請求項3又は4に記載の変形試験器。
  6.  状態保持手段が、試験体が取り得る形状状態の全ての形状状態における第1部に対する第2部の相対的な位置を固定することができるものである、請求項1乃至5のいずれか1に記載の変形試験器。
  7.  脱着部分が本体部分に取り付けられたとき、脱着部分を本体部分に対して所定方向に移動させ脱着部分を本体部分から取り外すことができるが、脱着部分と本体部分とが当接することで該所定方向とは反対方向に脱着部分を本体部分に対して移動させることは禁止されると共に該所定方向に垂直な平面に沿ったいずれの方向にも脱着部分を本体部分に対して移動させることは禁止されるものである、請求項1乃至6のいずれか1に記載の変形試験器。
  8.  前記所定方向への本体部分に対する脱着部分の移動を制限する移動制限手段を備えるものである、請求項7に記載の変形試験器。
  9.  移動制限手段が、前記所定方向とは反対方向が鉛直下方向への成分を有する際の脱着部分の重力と、脱着部分及び本体部分のいずれか一方に設けられ他方を吸引する磁力発生手段と、の少なくとも一方を含む、請求項8に記載の変形試験器。
  10.  脱着部分及び本体部分のいずれか一方が、前記所定方向又はその逆方向に突出する突出部材を有し、該いずれか他方が、該突出部材を前記所定方向又はその逆方向に嵌入する嵌入孔を有するものである、請求項7乃至9のいずれか1に記載の変形試験器。
  11.  本体部分が、第1部を取り付ける第1部取付部分と、第2部を取り付ける第2部取付部分と、第1部取付部分に取り付けられた第1部と第2部取付部分に取り付けられた第2部とが変位サイクルを繰り返すように第1部取付部分と第2部取付部分とを相対的に繰り返して変位させる駆動手段と、を含んでなる、請求項1乃至10のいずれか1に記載の変形試験器。
  12.  請求項1乃至11のいずれか1に記載の変形試験器を構成する脱着部分。
  13.  請求項1乃至11のいずれか1に記載の変形試験器を構成する本体部分。
  14.  請求項1乃至11のいずれか1に記載の変形試験器に装着される状態保持手段。

     
PCT/JP2018/007374 2017-02-27 2018-02-27 変形試験器 WO2018155723A1 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201880014159.5A CN110325837B (zh) 2017-02-27 2018-02-27 变形测试仪
JP2019501882A JP6671622B2 (ja) 2017-02-27 2018-02-27 変形試験器
US16/488,853 US11169063B2 (en) 2017-02-27 2018-02-27 Deformation testing apparatus including a detachable/attachable test cartridge arranged on an upper part of a frame
KR1020197027763A KR102298196B1 (ko) 2017-02-27 2018-02-27 변형 시험기

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017034444 2017-02-27
JP2017-034444 2017-02-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2018155723A1 true WO2018155723A1 (ja) 2018-08-30

Family

ID=63253871

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2018/007374 WO2018155723A1 (ja) 2017-02-27 2018-02-27 変形試験器

Country Status (6)

Country Link
US (1) US11169063B2 (ja)
JP (1) JP6671622B2 (ja)
KR (1) KR102298196B1 (ja)
CN (1) CN110325837B (ja)
TW (1) TWI762591B (ja)
WO (1) WO2018155723A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10557781B2 (en) * 2017-08-28 2020-02-11 Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technoloy Co., Ltd. Bending test device and system for flexible display device
KR20210116037A (ko) * 2020-03-17 2021-09-27 (주)플렉시고 플렉시블 소재의 내구성 평가용 슬라이딩장치 및 평가시스템
WO2022092403A1 (ko) * 2020-10-29 2022-05-05 한상님 시편시험기

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117517418B (zh) * 2024-01-04 2024-04-09 成都斯马特科技股份有限公司 一种提高检测精度的血气分析仪及方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005315691A (ja) * 2004-04-28 2005-11-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 曲げ試験装置および曲げ試験方法
JP2014025862A (ja) * 2012-07-30 2014-02-06 Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd 構造物の強度試験装置および強度試験方法
JP2014074598A (ja) * 2012-10-02 2014-04-24 Okayama Univ 材料特性評価装置

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3345602B2 (ja) 2000-05-18 2002-11-18 株式会社日立製作所 引張試験装置
US7707896B2 (en) * 2008-01-15 2010-05-04 Kuzdrall James A Mechanical amplification of small dimensional changes using bowing
US20090186344A1 (en) * 2008-01-23 2009-07-23 Caliper Life Sciences, Inc. Devices and methods for detecting and quantitating nucleic acids using size separation of amplicons
JP2009198451A (ja) * 2008-02-25 2009-09-03 Osaka Prefecture Univ ヤング率またはポアソン比の測定方法
US8286499B2 (en) * 2008-07-19 2012-10-16 The Boeing Company Method and apparatus for testing attachment joints
CN102235951A (zh) * 2010-04-30 2011-11-09 胜华科技股份有限公司 测试装置以及测试机台
JP2011242339A (ja) * 2010-05-20 2011-12-01 Advantest Corp テストヘッド、試験ボードおよび試験装置
KR101205132B1 (ko) 2010-06-29 2012-11-27 현대제철 주식회사 차량용 센터필러 보강재의 좌굴강도 평가용 고정 지그 장치
JP5419232B2 (ja) * 2011-09-07 2014-02-19 ユアサシステム機器株式会社 面状体の曲回試験装置。
JP5455076B2 (ja) * 2011-09-19 2014-03-26 ユアサシステム機器株式会社 面状体の捩回試験装置
CN202661326U (zh) * 2012-05-21 2013-01-09 中国科学院武汉岩土力学研究所 一种多功能循环施加吸力的非饱和土三轴试验装置
CN203011787U (zh) * 2012-11-14 2013-06-19 中国建筑第八工程局有限公司 料片测试机
CN103217348B (zh) * 2013-04-12 2016-01-20 同济大学 模拟往复交通移动荷载下碎石土路基力学行为的试验装置
KR101489667B1 (ko) 2013-11-26 2015-02-04 주식회사 이노테크 플렉시블 디스플레이의 벤딩 시험장치
CN104729833B (zh) * 2013-12-18 2018-02-13 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 柔性屏体弯曲测试方法和系统
TW201614210A (en) 2014-10-11 2016-04-16 Yuasa System Kiki Co Ltd Folding Test Machine
US10094752B2 (en) * 2014-10-11 2018-10-09 Yuasa System Co., Ltd. Folding test machine
CN104749055B (zh) * 2015-01-22 2017-10-27 同济大学 实现竖向循环压缩‑侧向摇摆剪切动力加载的试验装置
GB201501599D0 (en) * 2015-01-30 2015-03-18 Univ Nottingham An adaptor, a modified stress testing device and a method of performing a multi-axial stress test

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005315691A (ja) * 2004-04-28 2005-11-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 曲げ試験装置および曲げ試験方法
JP2014025862A (ja) * 2012-07-30 2014-02-06 Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd 構造物の強度試験装置および強度試験方法
JP2014074598A (ja) * 2012-10-02 2014-04-24 Okayama Univ 材料特性評価装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10557781B2 (en) * 2017-08-28 2020-02-11 Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technoloy Co., Ltd. Bending test device and system for flexible display device
KR20210116037A (ko) * 2020-03-17 2021-09-27 (주)플렉시고 플렉시블 소재의 내구성 평가용 슬라이딩장치 및 평가시스템
KR102348743B1 (ko) 2020-03-17 2022-01-07 (주)플렉시고 플렉시블 소재의 내구성 평가용 슬라이딩장치 및 평가시스템
WO2022092403A1 (ko) * 2020-10-29 2022-05-05 한상님 시편시험기

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2018155723A1 (ja) 2020-01-09
KR102298196B1 (ko) 2021-09-03
TW201839377A (zh) 2018-11-01
TWI762591B (zh) 2022-05-01
CN110325837A (zh) 2019-10-11
US11169063B2 (en) 2021-11-09
JP6671622B2 (ja) 2020-03-25
KR20190121808A (ko) 2019-10-28
US20210140863A1 (en) 2021-05-13
CN110325837B (zh) 2022-04-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2018155723A1 (ja) 変形試験器
US10094752B2 (en) Folding test machine
US20140033475A1 (en) Assist device for movable body
CN101660555A (zh) 卡扣装置及使用该卡扣装置的电子设备
US8495923B2 (en) Testing device for testing rivets
KR102419089B1 (ko) 만곡 시험기
EP2667078A2 (en) Suspending apparatus
TW201607638A (zh) 金屬板的彎曲加工裝置
JP2019113440A (ja) 振動試験機
EP2095982A1 (en) Window regulator and jig
JP2012225044A (ja) 可動体の可動装置
JP6460401B2 (ja) 連動引戸用開閉装置及びこれを備える連動引戸
CN111678818B (zh) 一种柔性屏模组弯折治具
US20130022297A1 (en) Anti-loose mechanism of relative sliding device
US8621991B1 (en) Pistol grip spring compressor system and method for maintaining compression on a valve spring
JP6292567B2 (ja) 型取付装置
WO2022024480A1 (ja) コイルスプリングの取付構造
JP3759045B2 (ja) 天井部における機器附設体の開閉装置
JP6441397B2 (ja) 突っ張り棒、および突っ張り構造
JP2004219197A (ja) 振動試験機の振動台固定構造
KR101986597B1 (ko) 상용차용 스티어링컬럼 어셈블리 복합성능 시험장치
JP5514647B2 (ja) チューブスタビライザ及びチューブポンプ
JP6308405B1 (ja) 自動ドア用倒れ止め金具
JP2011258650A (ja) 耐久性評価試験機
JP2005127780A (ja) 振動試験機

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 18756817

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2019501882

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20197027763

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 18756817

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1