KR20190121808A

KR20190121808A - 변형 시험기

Info

Publication number: KR20190121808A
Application number: KR1020197027763A
Authority: KR
Inventors: 야스히사 오카자키; 나오츠구 안도; 히사오 사사키
Original assignee: 유아사 시스템 키키 가부시키가이샤
Priority date: 2017-02-27
Filing date: 2018-02-27
Publication date: 2019-10-28
Also published as: KR102298196B1; TW201839377A; WO2018155723A1; JP6671622B2; TWI762591B; CN110325837B; US11169063B2; CN110325837A; US20210140863A1; JPWO2018155723A1

Abstract

변형 시험을 개시한 후에 시험체를 떼어낼 필요가 없고, 변형 시험에 있어서 시험체가 취할 수가 있는 형상 상태를 보유하면서 시험체를 관찰이나 분석 등을 행할 수가 있는 변형 시험기를 제공한다.
시험체의 다른 적어도 2개의 부분 각각이 제1부의 제1 부착부 및 제2부의 제2 부착부에 부착되고, 제1 형상 상태로부터 제2 형상 상태를 거쳐 다시 제1 형상 상태로 되돌아오는 소정의 변형 사이클을 시험체에 생기게 하는 제1부에 대한 제2부의 상대적인 변위인 변위 사이클을 반복하는 탈착 부분과, 탈착 부분이 착탈 자유롭게 부착되는 본체 부분을 구비하여 이루어지는 변형 시험기로서, 시험체가 취할 수가 있는 형상 상태 중에서 적어도 하나의 형상 상태에 있어서의 제1부에 대한 제2부의 상대적인 위치를 고정하는 상태 보유 수단이, 본체 부분에 부착된 탈착 부분에 착탈 자유로움과 아울러, 상태 보유 수단이 장착된 탈착 부분이 본체 부분에 탈착 자유로운 것인 변형 시험기이다.

Description

변형 시험기

본 발명은, 변형 시험기에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 휴대전화 등의 기판이나 유기 EL(Electro Luminance) 등의 플렉서블(flexible) 디스플레이에 이용되는 얇은 유리판이나 수지판 등의 시험체를 변형시켜 그 내구성을 시험하는 변형 시험기에 관한 것이다.

이전부터 휴대전화 등의 기판이나 유기 EL 등의 플렉서블(flexible) 디스플레이에 이용되는 얇은 유리판이나 수지판 등의 시험체를 변형시켜 그 내구성을 시험하는 변형 시험기가 알려져 있다(예를 들면, 특허 문헌 1 참조).

특허 문헌 1은, 시험체의 「만곡 시험을 기계로 할 수가 있도록 한 것으로, 이것에 있어서, 만곡의 곡률 반경이나 호의 길이가 달라도, 약간의 조정으로 기계를 작동할 수가 있도록 하였다.」(특허 문헌 1의 단락 번호 0005) 변형 시험기를 제공하기 위해서 이루어진 것으로, 구체적으로는, 「대략 사각형의 프레임 중에 고정벽과 이동벽을 대향하여 설치하고, 양벽의 정상에 피작업물(work)을 부착하는 부착부를 고정벽과 이동벽에 대해서 각각 연직면 내에서 회동 가능하게 설치함과 아울러, 양쪽 부착부에 피작업물과 피작업물 외에 판 스프링의 각각 양단을 부착하여 고정벽과 이동벽과의 사이에 만곡 상태로 건네주고, 이동벽을 고정벽에 대해서 원근시켜 피작업물을 반복하여 만곡하는 것을 특징으로 하는 만곡 시험기」(특허 문헌 1의 청구항 1)를 개시하고 있다. 이러한 변형 시험기(특허 문헌 1에서는 만곡 시험기)에 의하면, 「고정벽과 이동벽에 얇은 유리판이나 수지판이라고 하는 피작업물을 만곡 상태로 건네주고, 이동벽을 고정벽에 대해서 원근시켜 피작업물을 반복하여 만곡하는 것이다. 이 때에 피작업물의 만곡의 곡률 반경 등의 형상 요건을 변경하는 일이 있지만, 이동벽을 이동시키는 액츄에이터에 의한 스트로크(stroke)와 양벽의 초기 위치를 변경하는 것 등으로 그것을 가능하게 한다. 또, 피작업물을 부착하는 부착부가 이동벽 또는 고정벽에 대해서 연직면 내에서 회동 가능(상대방을 향해 경동(傾動) 가능한 것)하게 함으로써 내부 응력을 남기지 않고 스트로크(stroke) 변화에도 대응할 수가 있도록 하고 있다. 또한 만곡의 속도도 조정할 수 없으면 안 되지만, 액츄에이터의 속도를 변경함으로써 그것을 할 수 있다.」(특허 문헌 1의 단락 번호 0008)라고 하는 것이다.

일본국 특허공개 2016-080694호 공보(예를 들면, 요약, 발명의 상세한 설명 중의 단락 번호 0001~0008, 0011~0013, 제1도~제3도 등)

특허 문헌 1에 명시된 변형 시험기에 있어서는, 「피작업물(4)은 이동벽(3)과 고정벽(2)의 사이에 각각 걸쳐 놓지만, 이 때의 이동벽(3)과 고정벽(2)에의 부착은 각각의 정상에 설치되는 점판(22, 23)에 각각 경첩(9, 10)으로 연직면 내에서 회전 가능하게 부착되는 부착부(5, 6)와, 이것에 고정되는 누름판(7, 8)으로 끼워 붙여 부착하는(특허 문헌 1의 단락 번호 0013) 것이다. 여기에 시험체인 피작업물(4)은, 부착부(5, 6)와 누름판(7, 8)에 끼워 붙여 부착되고, 변형 시험을 개시한 후, 큰 변형 시험기에 부착된 채로의 시험체를 관찰이나 분석 등을 행하는 것은 어렵기 때문에, 시험체의 관찰이나 분석 등을 행할 때에, 변형 시험기로부터 시험체를 떼어낼 필요가 있었다. 관찰이나 분석 등의 후에 그 시험체의 변형 시험을 속행할 때에는, 관찰이나 분석 등을 행한 그 시험체를 다시 부착부(5, 6)와 누름판(7, 8)의 사이에 끼워 붙여 부착할 필요가 있지만, 관찰이나 분석 등의 전후의 부착 상태(관찰이나 분석 등을 행하기 위해서 시험체를 떼어내기 전의 상태와 관찰이나 분석 등의 후의 시험체를 재차 부착한 상태)를 동일하게 하려면 매우 주의 깊고 어려운 부착 작업을 필요로 하고, 충분히 주의 깊게 부착하였다고 생각하고 있어도 양쪽 상태가 다름으로써, 관찰이나 분석 등을 끼워서 동일 조건에서의 연속한 변형 시험을 행할 수가 없는 문제가 있었다. 또한 제1 형상 상태로부터 제2 형상 상태를 거쳐 다시 제1 형상 상태로 되돌아오는 소정의 변형 사이클을 시험체에 생기게 하는 변형 시험에 있어서, 시험체가 취할 수가 있는 형상 상태를 보유하면서 시험체의 관찰이나 분석 등을 행하고 싶은 경우에는, 변형 시험기로부터 시험체를 떼어냄으로써 형상 상태를 보유할 수 없는 문제도 있었다.

그래서, 본 발명에서는, 변형 시험을 개시한 후에 시험체를 떼어낼 필요가 없고, 변형 시험에 있어서 시험체가 취할 수가 있는 어느 것인가의 형상 상태를 보유하면서 시험체를 관찰이나 분석 등을 행할 수가 있는 변형 시험기를 제공하는 것을 목적으로 한다.

본 발명의 변형 시험기(이하, 「본 시험기」라고 한다.)는, 시험체의 다른 적어도 2개의 부분 각각이 제1부의 제1 부착부 및 제2부의 제2 부착부에 부착되고, 제1 형상 상태로부터 제2 형상 상태를 거쳐 다시 제1 형상 상태로 되돌아오는 소정의 변형 사이클을 시험체에 생기게 하는 제1부에 대한 제2부의 상대적인 변위인 변위 사이클을 반복하는 탈착 부분과, 탈착 부분이 착탈 자유롭게 부착되는 본체 부분을 구비하여 이루어지는 변형 시험기로서, 시험체가 취할 수가 있는 형상 상태 중에서 적어도 하나의 형상 상태에 있어서의 제1부에 대한 제2부의 상대적인 위치를 고정하는 상태 보유 수단이, 본체 부분에 부착된 탈착 부분에 착탈 자유로움과 아울러, 상태 보유 수단이 장착된 탈착 부분이 본체 부분에 탈착 자유로운 것인 변형 시험기이다.

본 시험기는, 탈착 부분과 본체 부분을 구비하여 이루어진다.

탈착 부분은 제1부와 제2부를 포함하여 이루어진다. 제1부가 가지는 제1 부착부와 제2부가 가지는 제2 부착부에, 시험체의 다른 적어도 2개의 부분 각각이 부착된다(이 적어도 2개의 부분의 하나의 부분이 제1 부착부에 부착되고, 당해 적어도 2개의 부분의 다른 부분이 제2 부착부에 부착된다. 또, 「적어도 2개의 부분」이므로, 시험체의 세게 이상의 부분이 탈착 부분에 부착되어도 좋다.). 그리고, 제1부에 대한 제2부의 상대적인 변위(제1부만이 변위를 하고 제2부는 정지하고 있는 경우, 제2부만이 변위를 하고 제1부는 정지하고 있는 경우, 그리고 제1부 및 제2부 모두가 변위를 하는 경우의 3개의 경우를 포함한다.)인 변위 사이클을 반복함으로써, 제1 형상 상태로부터 제2 형상 상태를 거쳐 다시 제1 형상 상태로 되돌아오는 소정의 변형 사이클(예를 들면, 절곡, 만곡, 비틈, 인장, 압축 등의 변형을 포함한다.)을 시험체에 생기게 한다. 본체 부분은, 탈착 부분이 착탈 자유롭게 부착된다.

그리고, 본 시험기에 있어서는, 상태 보유 수단이, 본체 부분에 부착된 탈착 부분에 착탈 자유로움과 아울러, 상태 보유 수단이 장착된 탈착 부분이 본체 부분에 탈착 자유롭다. 여기에 상태 보유 수단은, 제1 형상 상태로부터 제2 형상 상태를 거쳐 다시 제1 형상 상태로 되돌아오는 소정의 변형 사이클에 있어서 시험체가 취할 수가 있는 형상 상태 중에서 적어도 하나의 형상 상태에 있어서의 제1부에 대한 제2부의 상대적인 위치를 고정한다.

이렇게 함으로써 본 시험기에 있어서는, 제1부와 제2부에 시험체를 부착하고, 제1부에 대한 제2부의 변위 사이클을 반복함으로써, 소정의 변형 사이클을 시험체에 생기게 하여 시험체의 변형 시험을 행할 수가 있다. 그리고, 변형 시험을 개시한 후, 시험체의 관찰이나 분석 등을 행할 때에, 본체 부분에 부착된 탈착 부분에 상태 보유 수단을 부착한다. 그 후에 상태 보유 수단이 장착된 탈착 부분을 본체 부분으로부터 떼어내고(상태 보유 수단이 장착됨으로써, 탈착 부분을 본체 부분으로부터 떼어내도, 떼어내어지기 전의 제1부에 대한 제2부의 상대적인 위치가 고정되어 있고, 시험체의 형상 상태가 보유된다.), 탈착 부분에 부착된 채로의 시험체의 관찰이나 분석 등을 행할 수가 있다(시험기 전체에 비해 탈착 부분은 소형 또한 경량이므로, 탈착 부분에 부착한 채로 시험체를 용이하게 관찰이나 분석 등을 할 수 있다.). 시험체의 관찰이나 분석 등의 후, 상태 보유 수단을 장착한 채로의 탈착 부분을 본체 부분에 부착하고, 그리고 본체 부분에 부착된 탈착 부분으로부터 상태 보유 수단을 떼어낸다. 그리고, 다시, 제1부에 대한 제2부의 변위 사이클을 반복함으로써, 다시, 소정의 변형 사이클을 시험체에 생기게 하는 시험체의 변형 시험을 속행할 수가 있다. 이와 같이 본 시험기는, 변형 시험을 개시한 후에 시험체를 떼어낼 필요가 없고(시험체는 탈착 부분에 부착한 채로), 변형 시험에 있어서 시험체가 취할 수가 있는 어느 것인가의 형상 상태를 보유(상태 보유 수단을 탈착 부분에 장착함으로써 시험체의 형상 상태가 보유된다.)하면서 시험체를 관찰이나 분석 등을 할 수가 있다.

본 시험기에 있어서는, 탈착 부분이, 상태 보유 수단을 부착하기 위한 상태 보유 수단 부착부를 가지고 이루어지는 것이라도 좋다.

상태 보유 수단은, 시험체가 취할 수가 있는 형상 상태 중에서 적어도 하나의 형상 상태에 있어서의 제1부에 대한 제2부의 상대적인 위치를 고정하는 것이면 아무런 한정되는 것은 아니고, 예를 들면, 탈착 부분의 제1부 및 제2부를 각각 끼워서 부착되는 것이나, 탈착 부분의 제1부 및 제2부에 흡인되는 자석에 의해 부착되는 것이나, 탈착 부분의 제1부 및 제2부에 외감(外嵌)하여 부착되는 것 등이라도 좋다. 그렇지만, 상태 보유 수단을 부착하기 위한 상태 보유 수단 부착부를 탈착 부분이 가지도록 하면, 탈착 부분에 상태 보유 수단을 확실하게 장착할 수가 있다. 상태 보유 수단 부착부와, 상태 보유 수단 부착부에 부착되는 상태 보유 수단이 가지는 것의 일방과 타방의 조합의 예로서는, 일방이 수나사이고 타방이 당해 수나사가 나합(螺合) 가능한 암나사인 경우, 일방이 감입 볼록부이고 타방이 당해 감입 볼록부가 감입되는 감입 오목부인 경우, 일방이 면패스너(surface fastener)이고 타방이 당해 면패스너에 계합 가능한 면패스너인 경우 등을 예시적으로 들 수가 있다.

본 시험기에 있어서는, 제1 형상 상태로부터 제2 형상 상태로 천이할 때에, 제1부와 제2부의 사이의 거리가 감소하는 것이고, 탈착 부분이, 제2 형상 상태로부터 제1 형상 상태로 당해 거리를 증가시키도록 제1부 및/또는 제2부를 부세(付勢)하는 부세 수단을 가지고 이루어지고, 상태 보유 수단이, 당해 거리가 증가하는 것을 금지하는 거리 증가 금지 수단이라도 좋다(이하, 「거리 증가 금지 본 시험기」라고 한다.).

소정의 변형 사이클에 의해 시험체에 생기는 제1 형상 상태로부터 제2 형상 상태로의 천이 과정에 있어서, 제1부와 제2부의 사이의 거리가 감소하는 경우, 탈착 부분이 부세 수단을 가지고, 당해 부세 수단이, 제2 형상 상태로부터 제1 형상 상태로 당해 거리를 증가시키도록 제1부 및/또는 제2부를 부세하는 것으로 하고, 상태 보유 수단이, 당해 거리가 증가하는 것을 금지하는 거리 증가 금지 수단으로 하면, 상태 보유 수단인 거리 증가 금지 수단이 당해 거리의 증가를 금지하는 방향으로 제1부 및/또는 제2부의 변위를 제한하면 되기 때문에, 상태 보유 수단을 간단하게 구성할 수가 있다.

본 시험기에 있어서는, 제1 형상 상태로부터 제2 형상 상태로 천이할 때에, 제1부와 제2부의 사이의 거리가 증가하는 것이고, 탈착 부분이, 제2 형상 상태로부터 제1 형상 상태로 당해 거리를 감소시키도록 제1부 및/또는 제2부를 부세하는 부세 수단을 가지고 이루어지고, 상태 보유 수단이, 당해 거리가 감소하는 것을 금지하는 거리 감소 금지 수단이라도 좋다(이하, 「거리 감소 금지 본 시험기」라고 한다.).

소정의 변형 사이클에 의해 시험체에 생기는 제1 형상 상태로부터 제2 형상 상태로의 천이 과정에 있어서, 제1부와 제2부의 사이의 거리가 증가하는 경우, 탈착 부분이 부세 수단을 가지고, 당해 부세 수단이, 제2 형상 상태로부터 제1 형상 상태로 당해 거리를 감소시키도록 제1부 및/또는 제2부를 부세하는 것으로 하고, 상태 보유 수단이, 당해 거리가 감소하는 것을 금지하는 거리 감소 금지 수단으로 하면, 상태 보유 수단인 거리 감소 금지 수단이 당해 거리의 감소를 금지하는 방향으로 제1부 및/또는 제2부의 변위를 제한하면 되기 때문에, 상태 보유 수단을 간단하게 구성할 수가 있다.

거리 증가 금지 본 시험기 또는 거리 감소 금지 본 시험기에 있어서는, 상태 보유 수단이, 일단측이 제1부에 부착됨과 아울러 타단측이 제2부에 부착되는 상태 보유 부재와, 상태 보유 부재의 당해 일단측을 제1부에 착탈 자유롭게 부착하는 일단측 착탈부와, 상태 보유 부재의 당해 타단측을 제2부에 착탈 자유롭게 부착하는 타단측 착탈부를 포함하여 이루어지는 것이라도 좋다.

이렇게 함으로써, 일단측 착탈부에 의해 상태 보유 부재의 일단측을 제1부에 착탈 자유롭게 부착함과 아울러, 타단측 착탈부에 의해 상태 보유 부재의 타단측을 제2부에 착탈 자유롭게 부착함으로써, 상태 보유 부재가 그 일단측이 제1부에 착탈 자유롭게 부착됨과 아울러 그 타단측이 제2부에 착탈 자유롭게 부착되므로, 상태 보유 수단인 거리 증가 금지 수단(거리 증가 금지 본 시험기의 경우) 또는 거리 감소 금지 수단(거리 감소 금지 본 시험기의 경우)을 간단하게 구성할 수가 있다.

본 시험기에 있어서는, 상태 보유 수단이, 시험체가 취할 수가 있는 형상 상태의 모든 형상 상태에 있어서의 제1부에 대한 제2부의 상대적인 위치를 고정할 수가 있는 것이라도 좋다.

이렇게 함으로써, 시험체가 취할 수가 있는 형상 상태의 모든 형상 상태에 있어서의 제1부에 대한 제2부의 상대적인 위치를 고정할 수가 있으므로, 변형 시험을 개시한 후, 시험체가 취할 수가 있는 어느 형상 상태에 있어서도 형상 상태를 보유하면서 시험체의 관찰이나 분석 등을 행할 수가 있다.

본 시험기에 있어서는, 탈착 부분이 본체 부분에 부착되었을 때, 탈착 부분을 본체 부분에 대해서 소정 방향으로 이동시키고 탈착 부분을 본체 부분으로부터 떼어낼 수가 있지만, 탈착 부분과 본체 부분이 맞닿음 함으로써 당해 소정 방향과는 반대 방향으로 탈착 부분을 본체 부분에 대해서 이동시키는 것은 금지됨과 아울러 당해 소정 방향에 수직인 평면을 따른 어느 방향으로도 탈착 부분을 본체 부분에 대해서 이동시키는 것은 금지되는 것(이하, 「탈착 방향 규정 본 시험기」라고 한다.)이라도 좋다.

이렇게 함으로써, 탈착 부분이 본체 부분에 부착된 상태(이하, 「부착 상태」라고 한다.)에 있어서는, 탈착 부분을 본체 부분에 대해서 소정 방향(이하, 「떼어냄 방향」이라고 한다.)으로 이동시킴으로써, 탈착 부분을 본체 부분으로부터 떼어낼 수가 있다. 그렇지만 부착 상태에 있어서, 탈착 부분과 본체 부분의 맞닿음에 의해, 당해 소정 방향(떼어냄 방향)과는 반대 방향으로 탈착 부분을 본체 부분에 대해서 이동시키는 것은 금지된다. 그리고, 부착 상태에 있어서, 탈착 부분과 본체 부분의 맞닿음에 의해, 당해 소정 방향(떼어냄 방향)에 수직인 평면을 따른 어느 방향으로도 탈착 부분을 본체 부분에 대해서 이동하는 것은 금지된다. 이 때문에 부착 상태에 있어서는, 탈착 부분을 본체 부분에 대해서 당해 소정 방향(떼어냄 방향)으로 이동시키고 떼어낼 수 있지만, 당해 소정 방향(떼어냄 방향) 이외의 방향으로의 이동은 금지되어, 탈착 부분을 본체 부분에 부착한 상태를 용이하게 보유할 수가 있다. 그리고, 본체 부분으로부터 떼어내어진 탈착 부분을, 당해 소정 방향(떼어냄 방향)과는 반대 방향으로 본체 부분에 대해서(상기 맞닿음이 형성될 때까지) 이동시킴으로써, 당해 수직인 평면을 따른 탈착 부분의 본체 부분에 대한 위치 결정(당해 수직인 평면에의 탈착 부분의 정투영이, 당해 수직인 평면에의 본체 부분의 정투영에 대한 상대 위치가 소정의 위치에 정해진다.)과 당해 소정 방향(떼어냄 방향)을 따른 탈착 부분의 본체 부분에 대한 위치 결정의 양방을 용이하고 확실하게 행할 수가 있다.

탈착 방향 규정 본 시험기에 있어서는, 상기 소정 방향으로의 본체 부분에 대한 탈착 부분의 이동을 제한하는 이동 제한 수단을 구비하는 것(이하, 「탈착 방향 이동 제한 본 시험기」라고 한다.)이라도 좋다.

이렇게 함으로써, 이동 제한 수단은, 탈착 부분이 본체 부분에 부착된 부착 상태에 있어서 탈착 부분이 본체 부분에 대해서 상기 소정 방향(떼어냄 방향)으로 이동하는 것을 제한하므로, 갑자기 탈착 부분이 본체 부분으로부터 탈락 등을 하는 것을 방지 또는 감소시킬 수가 있다. 또 여기에 말하는 상기 소정 방향으로의 본체 부분에 대한 탈착 부분의 이동의 제한이란, 상기 소정 방향으로의 본체 부분에 대한 탈착 부분의 이동을 완전하게 금지하는 것만이 아니라, 탈착 부분이 본체 부분으로부터 탈락하지 않는 정도의 상기 소정 방향으로의 본체 부분에 대한 탈착 부분의 이동을 허용하는 것도 포함한다.

탈착 방향 이동 제한 본 시험기에 있어서는, 이동 제한 수단이, 상기 소정 방향과는 반대 방향이 연직 하방향으로의 성분을 가질 때의 탈착 부분의 중력과, 탈착 부분 및 본체 부분의 어느 일방에 설치되어 타방을 흡인하는 자력 발생 수단의 적어도 일방을 포함하는 것이라도 좋다.

이동 제한 수단은, 부착 상태에 있어서 탈착 부분이 본체 부분에 대해서 상기 소정 방향(떼어냄 방향)으로 이동하는 것을 제한하는 것이면 좋고, 예를 들면, 탈착 부분과 본체 부분을 계지하는 핀(pin)과 그것을 감입하는 감입 구멍, 탈착 부분과 본체 부분에 설치되는 서로 계합하는 한 벌의 면패스너, 탈착 부분과 본체 부분을 계지하는 수나사와 거기에 나합하는 암나사, 탈착 부분과 본체 부분을 연결하는 연결 벨트 등을 들 수가 있지만, 상기 소정 방향(떼어냄 방향)과는 반대 방향이 연직 하방향으로의 성분을 가질 때(즉, 상기 소정 방향(떼어냄 방향)과는 반대 방향으로의 탈착 부분의 이동에 의해 탈착 부분의 중심 위치가 강하한다.)의 탈착 부분의 중력으로 하면 각별한 구성을 필요로 하지 않으므로 본 시험기를 용이하고 간결하게 구성할 수가 있고, 또한 탈착 부분 및 본체 부분의 어느 일방에 설치되어 타방을 흡인하는 자력 발생 수단(예를 들면, 영구자석이나 전자석)으로 하면 탈착 부분 및 본체 부분이 서로 근접하였을 때에 각별한 조작을 필요로 하는 일 없이 양자가 서로 끌어당기므로 본 시험기의 조작을 용이하게 한다. 또, 이동 제한 수단이 이들 탈착 부분의 당해 중력과 당해 자력 발생 수단의 양방을 포함하는 것이라도 좋다.

탈착 방향 규정 본 시험기에 있어서는, 탈착 부분 및 본체 부분의 어느 일방이, 상기 소정 방향 또는 그 역방향으로 돌출하는 돌출 부재를 가지고, 당해 어느 타방이, 당해 돌출 부재를 상기 소정 방향 또는 그 역방향으로 감입하는 감입 구멍을 가지는 것이라도 좋다.

이와 같이 탈착 부분 및 본체 부분의 어느 일방이, 상기 소정 방향(당해 일방이 본체 부분) 또는 그 역방향(당해 일방이 탈착 부분)으로 돌출하는 돌출 부재를 가지고, 당해 어느 타방이, 당해 돌출 부재를 상기 소정 방향(당해 타방이 탈착 부분) 또는 그 역방향(당해 타방이 본체 부분)으로 감입하는 감입 구멍을 가짐으로써, 돌출 부재와 그것을 감입하는 감입 구멍이라고 하는 간단한 구성에 의해, 부착 상태로부터 탈착 부분을 본체 부분에 대해서 상기 소정 방향으로 이동시키고 탈착 부분을 본체 부분으로부터 떼어낼 수가 있음과 아울러, 부착 상태에 있어서 상기 소정 방향에 수직인 평면을 따른 어느 방향으로도 탈착 부분을 본체 부분에 대해서 이동하는 것을 금지(예를 들면, 당해 어느 방향으로 탈착 부분이 본체 부분에 대해서 이동해도, 돌출 부재의 외면과 감입 구멍의 내면이 맞닿도록 해도 좋다.)할 수가 있다.

본 시험기에 있어서는, 본체 부분이, 제1부를 부착하는 제1부 부착 부분과, 제2부를 부착하는 제2부 부착 부분과, 제1부 부착 부분에 부착된 제1부와 제2부 부착 부분에 부착된 제2부가 변위 사이클을 반복하도록 제1부 부착 부분과 제2부 부착 부분을 상대적으로 반복하여 변위시키는 구동 수단을 포함하여 이루어지는 것이라도 좋다.

이렇게 함으로써, 본체 부분이 제1부 부착 부분과 제2부 부착 부분과 구동 수단을 포함하고, 구동 수단이, 제1부가 부착된 제1부 부착 부분과 제2부가 부착된 제2부 부착 부분을, 제1부와 제2부가 변위 사이클을 반복하도록 상대적으로 반복하여 변위시킨다. 제1부와 제2부를 상대적으로 변위시키는 구동 수단은, 본 시험기에 있어서 중량 및/또는 체적에 관해서 비교적 큰 비율을 차지하는 것이 많고, 이러한 구동 수단을 본체 부분에 포함하여 탈착 부분에 포함하지 않게 함으로써 탈착 부분을 소형 경량으로 구성할 수가 있으므로, 탈착 부분을 본체 부분으로부터 떼어내어 시험체의 관찰이나 분석 등을 용이하게 행할 수가 있다.

본 시험기에 있어서의 본체 부분, 탈착 부분 및 상태 보유 수단에 있어서는, 본 시험기에 있어서의 시험의 목적이나 사양 등에 따라 여러 가지로 변경되므로, 각각 다른 종류의 본체 부분, 탈착 부분 및 상태 보유 수단을 준비(제조, 판매)해 두고, 시험의 목적이나 사양 등에 잘 적합시키도록, 본체 부분, 탈착 부분 및 상태 보유 수단을 조합하여 이용할 수도 있다.

도 1은 본 발명의 일실시 형태와 관련되는 변형 시험기(본 시험기)를 나타내는 분해 사시도이다.
도 2는 본 시험기의 정면도이다.
도 3은 시험 카트리지의 확대 사시도이다.
도 4a는 제1 본체, 감입 핀 및 영구자석의 관계를 나타내는 일부 확대 분해 사시도이고, 도 4b는 제1 본체, 감입 핀 및 영구자석의 관계를 나타내는 일부 확대 분해 사시도이고, 도 4c는 제2 본체, 감입 핀 및 영구자석의 관계를 나타내는 일부 확대 분해 사시도이고, 도 4d는 제2 본체, 감입 핀 및 영구자석의 관계를 나타내는 일부 확대 분해 사시도이다.
도 5는 시험체 지지부의 회동을 계지하는 회동 스토퍼(stopper)를 나타내는 일부 확대 사시도이다.
도 6은 변형 시험 상태를 나타내는 정면도이다.
도 7a는 시험 카트리지(cartridge)를 시험기 본체로부터 떼어낸 상태를 나타내는 사시도이고, 도 7b는 시험 카트리지를 시험기 본체로부터 떼어낸 상태를 나타내는 사시도이다.

이하, 본 발명의 실시의 형태를 도면을 참조하여 설명한다. 그렇지만, 이들에 의해 본 발명은 아무런 제한되는 것은 아니다.

도 1은 본 발명의 일실시 형태와 관련되는 변형 시험기(본 시험기)(11)를 나타내는 분해 사시도이고, 도 2는 본 시험기(11)의 정면도(도 1 중의 화살표 V방향으로부터 본 것을 나타내고 있다. 다만 상태 보유부(30)는 떼어내고 있고, 구동부(97)는 도시를 생략하고 있다.)이고, 도 3은 후술의 시험 카트리지(20)의 확대 사시도이고, 도 4a 및 도 4b는 후술의 제1 본체(24), 감입 핀(94a, 94b) 및 영구자석(94m)의 관계를 나타내는 일부 확대 분해 사시도이고, 도 4c 및 도 4d는 후술의 제2 본체(26), 감입 핀(96a, 96b) 및 영구자석(96m)의 관계를 나타내는 일부 확대 분해 사시도이고, 그리고 도 5는 후술의 시험체 지지부(21a)의 회동을 계지하는 회동(回動) 스토퍼(29b)를 나타내는 일부 확대 사시도이다. 도 1 내지 도 5를 참조하여 본 시험기(11)에 대해 설명한다.

본 시험기(11)는, 대략적으로는, 시험기 본체(91)와, 시험 카트리지(20)와, 상태 보유부(30)를 구비하여 이루어진다.

시험기 본체(91)는, 본 시험기(11)를 설치하는 재치면(201)에 움직이지 않도록 놓여지는 프레임(92)과, 프레임(92)의 상부에 배설(配設)되고 시험 카트리지(20)의 제1 부분(23)을 착탈 자유롭게 지지하는 고정 지지부(93)와, 시험 카트리지(20)의 제2 부분(25)을 착탈 자유롭게 지지하는 이동 지지부(95)와, 이동 지지부(95)를 변위 방향(도 1 및 도 2 중의 화살표 S방향)으로 왕복 운동시키는 구동부(97)를 가지고 이루어진다.

프레임(92)은, 중공 또한 개방된 직방체 형상으로 강재에 의해 형성되고, 수평면인 재치면(201)에 하부가 맞닿아 있다.

또, 다른 측면으로부터는, 판상의 시험체(101)의 만곡 시험을 행하는 변형 시험기는, 시험기 본체(91) 및 시험 카트리지(20)를 포함한다. 거의 직방체에 있어서의 변의 부분을 구성하고 시험기 본체의 개형(槪形)을 구성하는 프레임(92)과, 시험기 본체(91)를 거의 수평인 재치면에 배치했을 때 상면시로 거의 직사각형 공간의 윤곽을 형성하는 프레임(92)이 둘러싸 규정하는 직사각형의 가상면의 하나의 변을 따른 측에 구비되는 고정 지지부(93)와, 이 하나의 변의 양단으로부터 각각 수직으로 뻗은 다른 2개의 변(프레임(92)으로 형성되어 있어도 좋다.)을 따라 뻗은 한 벌의 슬라이드 레일(85a, 85b)과, 직사각형의 가상면을 끼워 대향하는 서로 거의 평행한 슬라이드 레일(85a, 85b)의 사이를 걸치도록 구비되는 기초부(95b)를 포함한 이동 지지부(95)와, 이동 지지부(95)를 상기 슬라이드 레일(85a, 85b)을 따른 방향(상술하는 다른 2개의 변을 따르는 방향)으로 왕복 운동시키는 구동부(97)를 포함한다.

고정 지지부(93)는, 프레임(92) 상부에 걸쳐 놓여진 기초부(93b)와, 기초부(93b)의 상면에 부착된 한 벌의 「L」형의 앵글 부재(93a1, 93a2)와, 앵글 부재(93a1, 93a2) 각각의 상면으로부터 상방을 향해 돌출하도록 설치된 한 벌의 감입 핀(94a, 94b)과, 앵글 부재(93a1, 93a2) 각각의 근방의 기초부(93b)의 상면에 매설된 영구자석(94m)(앵글 부재(93a1) 근방의 영구자석(94m)은 도 4b 참조)을 포함하여 이루어진다. 또 앵글 부재(93a1, 93a2)는, 주표면이 연직으로 되도록 고정 판상 부재(81)를 지지한다.

또, 다른 측면으로부터는, 고정 지지부(93)는, 직사각형의 가상면의 하나의 변을 형성하는 프레임(92)을 따라 구비되는 긴 판상의 기초부(93b)(하나의 판면(상면)을 위를 향해 거의 수평으로 배치)와, 기초부(93b)의 길이 방향(상술하는 하나의 변을 따르는 방향)의 가운데 정도에 소정의 거리를 띄워 기초부(93b)의 상면에 부착된 한 벌의 앵글 부재(93a1, 93a2)(수직인 선분의 하단 및 수평인 선분의 좌단에서 결합되어 구성되는 「L」자 형상을 가지지만, 이 「L」자를 뒤집어, 시험기 본체(91)의 거의 직사각형의 가상면의 내부측으로부터 기초부(93b)에 근접시키고 수평인 선분에 상당하는 부재의 하면을 기초부(93b)의 상면에 맞닿게 부착하고, 수직인 선분에 상당하는 부재를 기초부(93b)의 내부측으로 수직 방향 하향으로 늘어뜨린 것)와, 앵글 부재(93a1, 93a2)의 수평인 선분에 상당하는 부재의 상면에 있어서 상술하는 직사각형의 가상면의 내부측에 가까운 위치에 상방으로 돌출하도록 구비되는 감입 핀(94a, 94b)과, 기초부(93b)의 상면에 있어서 앵글 부재(93a1, 93a2)의 수평인 선분에 상당하는 부재의 외측(기초부 93b의 길이 방향의 각각의 단부측)에 각각 그 부재를 따라 구비되는 2개의 영구자석(94m)을 포함한다.

이동 지지부(95)는, 변위 방향(도 1 및 도 2 중의 화살표 S방향)에 평행하게 프레임(92)의 상부에 부착된 한 벌의 슬라이드 레일(85a, 85b)의 사이에 걸치도록 부착된 기초부(95b)(슬라이드 레일(85a, 85b)에 대해서 변위 방향(도 중의 화살표 S방향)으로 슬라이드 자유롭다.)와, 기초부(95b)의 상면에 부착된 한 벌의 「L」형의 앵글 부재(95a1, 95a2)와, 앵글 부재(95a1, 95a2) 각각의 상면으로부터 상방을 향해 돌출하도록 설치된 한 벌의 감입 핀(96a, 96b)과, 앵글 부재(95a1, 95a2) 각각의 근방의 기초부(95b)의 상면에 매설된 영구자석(96m)(앵글 부재(95a1) 근방의 영구자석(96m)은 도에 나타나지 않는다.)을 포함하여 이루어진다. 또 앵글 부재(95a1, 95a2)는, 주표면이 연직으로 되도록 이동 판상 부재(83)를 지지한다.

또, 다른 측면으로부터는, 이동 지지부(95)는, 한 벌의 슬라이드 레일(85a, 85b)의 사이에 걸치도록 구비되는 슬라이드 레일(85a, 85b)을 따라 슬라이드 가능하게 마운트(mount)되는 마운트부(mount part)를 각각의 슬라이드 레일(85a, 85b)에 대하도록 양단 근방에 구비하는 긴 판상의 기초부(95b)(하나의 판면(상면)을 위를 향해 거의 수평으로 배치)와, 기초부(95b)의 길이 방향(한 벌의 슬라이드 레일(85a, 85b)을 걸치는 방향)의 가운데 정도에 소정의 거리를 띄워 기초부(95b)의 상면에 부착된 한 벌의 앵글 부재(95a1, 95a2)(수직인 선분의 하단 및 수평인 선분의 좌단에서 결합되어 구성되는 「L」자 형상을 가지지만, 이 「L」자를 뒤집어, 시험기 본체(91)의 거의 직사각형의 가상면의 내부측으로부터 기초부(95b)에 근접시키고 수평인 선분에 상당하는 부재의 하면을 기초부(95b)의 상면에 맞닿게 부착하고, 수직인 선분에 상당하는 부재를 기초부(95b)의 내부측으로 수직 방향 하향으로 늘어뜨린 것)와, 앵글 부재(95a1, 95a2)의 수평인 선분에 상당하는 부재의 상면에 있어서 상술하는 직사각형의 가상면의 내부측에 가까운 위치에 상방으로 돌출하도록 구비되는 감입 핀(96a, 96b)과, 기초부(95b)의 상면에 있어서 앵글 부재(95a1, 95a2)의 수평인 선분에 상당하는 부재의 외측(기초부(95b)의 길이 방향의 각각의 단부측)에 각각 그 부재를 따라 구비되는 2개의 영구자석(96m)을 포함한다.

구동부(97)는, 일단이 이동 지지부(95)에 연결되는 연결봉(97a)(길이 방향이 변위 방향(도 1 및 도 2 중의 화살표 S방향)에 평행이다.)과. 연결봉(97a)의 기단을 정해진 진폭 및 주파수에 의해 변위 방향(도 1 및 도 2 중의 화살표 S방향)으로 왕복 운동시키는 구동 유닛(97b)을 포함하여 이루어지고, 이동 지지부(95)를 정해진 진폭 및 주파수에 의해 변위 방향(도 1 및 도 2 중의 화살표 S방향)으로 왕복 운동시킨다.

또, 다른 측면으로부터는, 구동부(97)는, 프레임(92)에 의한 직방체 형상의 외측에 있어서 재치면(201)에 배치되지만, 일단이 이동 지지부(95)에 연결되고 슬라이드 레일(85a, 85b)에 평행한 방향인 변위 방향으로 뻗은 연결봉(97a)과, 연결봉(97a)의 타단인 기단측에 변위 방향을 따른 방향(연결봉(97a)의 축방향)으로 연결봉(97a)를 이동시키는 구동 유닛(97b)를 포함한다. 프레임(92)으로 구성되는 부분과 구동 유닛(97b)은, 연결봉(97a)의 이동(예를 들면, 왕복 운동)이나 연결봉(97a)의 일단이 연결되는 이동 지지부(95)의 이동이 생겨도 이동하지 않도록 각각 재치면(201)에 대해 고정되어 있다.

시험 카트리지(20)는, 대략적으로는, 시험기 본체(91)의 고정 지지부(93)에 착탈 자유롭게 부착되는 제1 부분(23)과, 시험기 본체(91)의 이동 지지부(95)에 착탈 자유롭게 부착되는 제2 부분(25)과, 제1 부분(23)과 제2 부분(25)을 서로 연결하는 한 벌의 판스프링(22a, 22b)을 포함하여 이루어진다. 기본 형태에 있어서는, 시험 카트리지(20)는 윤곽에 의해 상면시로 거의 직사각형을 나타내고 있고, 그 직사각형의 윤곽의 대향하는 2개의 변에 상당하는 부분에 각각 고정 지지부(93) 및 이동 지지부(95)에 대응하는 제1 부분(23) 및 제2 부분(25)을 구비하고, 상술하는 직사각형의 다른 대향하는 2개의 변에 상당하는 부분에 각각 판스프링(22a, 22b)을 구비하고, 제1 부분(23) 및 제2 부분(25)을 연결하도록 구성된다.

제1 부분(23)은, 한 벌의 감입 핀(94a, 94b)에 상방으로부터 감입(嵌入)됨으로써 부착되는 제1 본체(24)와, 제1 본체(24)에 대해서 제1 회동축 C1(도 3 참조)을 중심으로 회동 자유롭게 부착되는 시험체 지지부(21a)를 가지고 이루어진다. 또, 제1 부분(23)은, 상면시로 「C」자 형상을 하는 대체로 판상의 것으로 「C」자 형상의 배부가 상술하는 직사각형의 대향하는 2개의 변 중의 하나에 따르는 것이고, 「C」자 형상의 배부의 반대측의 개구부가 상술하는 윤곽에 의한 직사각형의 내측을 향하고 있는 제1 본체(24)와, 「C」자 형상 내에 적어도 일부가 들어가고 그 개구부로부터 다른 부분이 돌출하고 또한 돌출부로부터 양측의 판스프링(22a, 22b)을 향해 조금 외측으로 뻗은 부분(작은 연장부)을 구비하는 상면시로 거의 직사각형을 나타내는 시험체 지지부(21a)와, 제1 본체(24) 및 시험체 지지부(21a)를 회동 자유롭게 결합하는 상술하는 직사각형의 대향하는 2개의 변에 평행한 방향으로 뻗은 제1 회동축 C1(예를 들면, 경첩)을 포함한다. 여기서, 제1 회동축 C1의 단부(23c)가 판스프링(22b)의 건너편에 보이고 있다(도 2). 또 제1 본체(24)의 하면에는, 감입 핀(94a, 94b)이 감입되는 한 벌의 감입 구멍(24ha, 24hb)(도 4a 참조)이 천설(穿設)되어 있지만, 감입 핀(94a, 94b)은, 앵글 부재(93a1, 93a2)의 상면에 구비되므로, 제1 본체(24)의 하면에 설치되는 부재와의 간섭이 회피된다.

그리고, 제1 본체(24)가 고정 지지부(93)에 부착되었을 때(감입 핀(94a, 94b)이 감입 구멍(24ha, 24hb)에 감입된다.), 영구자석(94m)이 제1 본체(24)(자석에 흡인되는 강재에 의해 형성되어 있다.)를 흡인함으로써, 제1 본체(24)의 고정 지지부(93)에의 부착을 확실하게 한다.

또, 시험체 지지부(21a)가, 제1 본체(24)에 대해서 제1 회동축 C1을 중심으로 회동하는 것을 규제하는 회동 스토퍼(29a, 29b)가 제1 본체(24)의 하면에 판스프링(22a, 22b)이 뻗는 방향(또는 변위 방향)을 따라 뻗도록 배설되어 있지만, 앵글 부재(93a1, 93a2)의 간섭을 회피하도록, 제1 본체(24)의 「C」자 형상의 배부(背部)를 따르는 방향에 있어서, 소정의 거리를 띄워 설치된 한 벌의 앵글 부재(93a1, 93a2)의 외측벽의 위치보다 큰 폭으로 띄워져 있다(도 4a 및 도 5 참조). 회동 스토퍼(29a, 29b)는, 시험체 지지부(21a)가 제1 회동축 C1을 중심으로 회동하면, 선단(29aa, 29ba)이, 시험체 지지부(21a)의 작은 연장부의 하면 또는 작은 연장부에 연결·고정되는 외측을 향해 뻗은 소편으로 이루어지는 판스프링 고정편의 하면에 맞닿음 함으로써 더 이루어지는 회동을 금지한다.

그리고, 시험체 지지부(21a)에는, 회동 스토퍼(29a, 29b)의 외측벽의 위치보다 클리어런스(clearance)를 가하여 더 큰 폭으로 띄워지고, 판스프링(22a, 22b)이 뻗는 방향(또는 변위 방향)을 따라 뻗도록, 한 벌의 인장 스프링(21as)의 일방의 단(end)이 걸려지는 부착 돌기가 그 하면에 배설되고, 타방의 단(end)은, 제1 본체(24)의 하면에 배설되는 부착 돌기에 걸린다. 이 한 벌의 인장 스프링(21as)은, 제1 회동축 C1보다 하방에 설치되어 있으므로, 시험체 지지부(21a)가 하방을 향해 회동하도록 끌어당겨지고 있고, 시험체 지지부(21a)가 제1 회동축 C1을 중심으로 상방으로 회동하는 것을 방지하여, 시험체(101)가 항상 하방향으로 만곡하게 되어 있다(이 인장 스프링(21as)은, 특허 문헌 1에 있어서 부착부(5, 6)를 하방으로 끌어당기는 스프링(11)에 상당한다.).

제2 부분(25)은, 한 벌의 감입 핀(96a, 96b)에 상방으로부터 감입됨으로써 부착되는 제2 본체(26)와, 제2 본체(26)에 대해서 제2 회동축 C2(도 3 참조. C1과 C2와는 평행이다.)을 중심으로 회동 자유롭게 부착된 시험체 지지부(21b)를 가지고 이루어진다. 또, 제2 부분(25)은, 상면시로 「C」자 형상을 하는 대체로 판상의 것이고 「C」자 형상의 배부가 상술하는 직사각형의 대향하는 2개의 변 중의 하나를 따르는 것이고 「C」자 형상의 배부의 반대측의 개구부가 상술하는 윤곽에 의한 직사각형의 내측을 향하고 있는 제2 본체(26)와, 「C」자 형상 내에 적어도 일부가 들어가고 그 개구부로부터 다른 부분이 돌출하고 또한 돌출부로부터 양측의 판스프링(22a, 22b)을 향해 조금 외측으로 뻗은 부분(작은 연장부)을 구비하는 상면시로 거의 직사각형을 나타내는 시험체 지지부(21b)와, 제2 본체(26) 및 시험체 지지부(21b)를 회동 자유롭게 결합하는 상술하는 직사각형의 대향하는 2개의 변에 평행한 방향으로 뻗은 제2 회동축 C2를 포함한다. 여기서, 제2 회동축 C2 단부(25c)가 판스프링(22b)의 건너편에 보이고 있다(도 2). 또 제2 본체(26)의 하면에는, 제1 본체(24)의 하면과 마찬가지로, 감입 핀(96a, 96b)이 감입되는 한 벌의 감입 구멍(26ha, 26hb)이 천설되어 있지만, 감입 핀(96a, 96b)은, 앵글 부재(95a1, 95a2)의 상면에 구비되므로, 제2 본체(26)의 하면에 설치되는 부재와의 간섭이 회피된다.

그리고, 제2 본체(26)가 이동 지지부(95)에 부착되었을 때(감입 핀(96a, 96b)이, 제2 본체(26)의 하면의 한 벌의 감입 구멍에 감입된다.), 영구자석(96m)이 제2 본체(26)(자석에 흡인되는 강재에 의해 형성되어 있다.)를 흡인함으로써, 제2 본체(26)의 이동 지지부(95)에의 부착을 확실하게 한다.

또, 시험체 지지부(21b)가, 제2 본체(26)에 대해서 제2 회동축 C2를 중심으로 회동하는 것을 규제하는 회동 스토퍼(29a, 29b)가 제2 본체(26)의 하면에 판스프링(22a, 22b)이 뻗는 방향(또는 변위 방향)을 따라 뻗도록 배설되어 있지만, 앵글 부재(95a1, 95a2)의 간섭을 회피하도록, 제2 본체(26)의 「C」자 형상의 배부를 따르는 방향에 있어서, 소정의 거리를 띄워 설치된 한 벌의 앵글 부재(95a1, 95a2)의 외측벽의 위치보다 큰 폭으로 띄워져 있다. 당해 회동 스토퍼는, 전술의 회동 스토퍼(29a, 29b)와 마찬가지의 것이고, 시험체 지지부(21b)가 제2 회동축 C2를 중심으로 회동하면, 그 선단이 시험체 지지부(21b)의 작은 연장부의 하면 또는 작은 연장부에 연결·고정되는 외측을 향해 뻗은 소편으로 이루어지는 판스프링 고정편의 하면에 맞닿음 함으로써 더 이루어지는 회동을 금지한다.

그리고, 시험체 지지부(21b)에는, 회동 스토퍼(29a, 29b)의 외측벽의 위치보다 클리어런스(clearance)를 가하여 더 큰 폭으로 띄워지고, 판스프링(22a, 22b)이 뻗는 방향(또는 변위 방향)을 따라 뻗도록, 한 벌의 인장 스프링(21bs)의 일방의 단(end)이 걸려지는 부착 돌기가 그 하면에 배설되고, 타방의 단(end)은, 제2 본체(26)의 하면에 배설되는 부착 돌기에 걸린다. 이 한 벌의 인장 스프링(21bs)은, 제2 회동축 C2보다 하부에 설치되어 있으므로, 시험체 지지부(21b)가 하방을 향해 회동하도록 끌어당겨지고 있고, 시험체 지지부(21b)가 제2 회동축 C2를 중심으로 상방으로 회동하는 것을 방지하여, 시험체(101)가 항상 하방향으로 만곡하게 되어 있다(이 인장 스프링(21bs)은, 특허 문헌 1에 있어서 부착부(5, 6)를 하방으로 끌어당기는 스프링(11)에 상당한다.).

판스프링(22a, 22b)은, 모두 일단이 시험체 지지부(21a)에 부착됨과 아울러 타단이 시험체 지지부(21b)에 부착된 쪽 곧은 형상 단책(短冊) 형상(홀쪽한 판상)의 스프링이고, 그 단책의 길이 방향은 서로 평행하게 되도록 배치되어 있다(시험 카트리지(20)가 시험기 본체(91)에 부착되면, 단책의 당해 길이 방향은 변위 방향(도 1 및 도 2중의 화살표 S방향)에 평행으로 된다.). 이 판스프링(22a, 22b)은, 중력 이외의 힘이 가해지지 않은 경우에는(무부하 상태라고도 말할 수가 있다.),

시험체(101)의 양쪽 주표면이 평면에 거의 따르도록(여기에서는 시험체(101)가 접착되는 시험체 지지부(21a)의 표면(여기에서는 상면)과, 시험체 지지부(21b)의 표면(여기에서는 상면)은, 엄밀하게는 인장 스프링(21as, 21bs)의 인장에 의해 약간 하방으로 회동하고 있지만, 거의 수평인 하나의 평면에 존재하도록 위치하고 있다. 이 인장 스프링(21as, 21bs)의 인장에 의해 시험체(101)의 양쪽 주표면은 하방으로 약간 만곡하고 있지만, 거의 평면을 따른 상태이다.) 시험체 지지부(21a, 21b)가 서로 떨어지도록 부세한다. 즉, 제1 부분(23) 및 제2 부분(25)을 연결하도록, 상면시로 거의 직사각형의 시험 카트리지(20)의 개형(槪形)을 구성하고, 이하에 말하듯이, 중앙에 시험체(101)를 보유하는 공간을 확보한다.

시험체(101)는, 여기에서는 양쪽 주표면이 대략 직사각형을 이루는 것이고, 유기 EL의 플렉서블 디스플레이로서 이용되는 얇고 유연한 수지판이다.

시험체(101)는, 제1부의 시험체 지지부(21a)의 표면(여기에서는 상면)과, 제2부의 시험체 지지부(21b)의 표면(여기에서는 상면)에 시험체(101)의 양쪽 가장자리 근방(양쪽 가장자리로부터 소정의 폭의 부분)이 접착함으로써 부착되어 있다.

그리고, 제1 부분(23)과 제2 부분(25)에, 중력 이외의 힘이 가해지지 않은 경우에는, 시험체(101)의 양쪽 주표면이 평면을 대략 따르고 있다(전술과 마찬가지로, 엄밀하게는 인장 스프링(21as, 21bs)의 인장에 의해 시험체(101)의 양쪽 주표면은 하방으로 약간 만곡하고 있다.).

상태 보유부(30)는, 쪽 곧은 형상 단책 형상(홀쪽한 판상)의 보유판(31, 32)과, 보유판(31)을 시험 카트리지(20)에 부착하기 위한 부착 나사(35a, 35b)와, 보유판(32)을 시험 카트리지(20)에 부착하기 위한 부착 나사(36a, 36b)를 포함하여 이루어진다. 보유판(31, 32)은, 모두 그 길이 방향을 따른 긴 구멍(31h, 32h)이 형성되어 있다. 부착 나사(35a, 35b)의 축부는 모두 긴 구멍(31h)을 관통 가능하지만, 부착 나사(35a, 35b)의 머리 부분은 모두 긴 구멍(31h)을 통과할 수 없다. 마찬가지로 부착 나사(36a, 36b)의 축부는 모두 긴 구멍(32h)을 관통 가능하지만, 부착 나사(36a, 36b)의 머리 부분은 모두 긴 구멍(32h)을 통과할 수 없다. 부착 나사(35a, 36a)의 축부에는 수나사가 나사 새김되어 있고, 당해 수나사가 나합 가능한 암나사(27a, 27b)가 제1 부분(23)(제1 본체(24)) 상면에 천설됨과 아울러 부착 나사(35b, 36b)의 축부에는 수나사가 나사 새김되어 있고, 당해 수나사가 나합 가능한 암나사(28a, 28b)가 제2 부분(25)(제2 본체(26)) 표면에 천설되어 있다.

본 시험기(11)를 이용하여 시험체(101)의 만곡 시험을 행할 때에, 우선 제1로, 상술과 같이, 시험 카트리지(20)를 시험기 본체(91)에 부착한다. 이 때에 감입 핀(94a, 94b)을 감입 구멍(24ha, 24hb)에 감입함과 아울러(도 4a 참조), 감입 핀(96a, 96b)을 제2 본체(26) 하면에 형성한 감입 구멍에 감입한다. 이 상태에서는, 영구자석(94m)이 제1 본체(24)를 흡인함과 아울러 영구자석(96m)이 제2 본체(26)를 흡인함으로써, 시험 카트리지(20)의 시험기 본체(91)에의 부착을 확실하게 한다.

제2로, 시험체(101)의 양쪽 가장자리 근방을 시험체 지지부(21a, 21b)의 표면(여기에서는 상면)에 접착함으로써 부착한다. 통상은, 시험체 지지부(21a)의 표면(상면)과, 시험체 지지부(21b)의 표면(상면)이 하나의 평면(서로 평행한 제1 회동축 C1 및 제2 회동축 C2를 포함하는 평면)에 거의 속하는 상태에 있어서, 시험체(101)의 양쪽 주표면이 당해 하나의 평면을 거의 따르도록 부착한다(상술한 바와 같이, 엄밀하게는, 인장 스프링(21as, 21bs)의 인장에 시험체 지지부(21a)의 표면(상면)과 시험체 지지부(21b)의 표면(상면)은 약간 하방으로 회동함과 아울러, 시험체(101)의 양쪽 주표면은 하방으로 약간 만곡하고 있다.).

제3으로, 구동부(97)에 의해, 이동 지지부(95)를 소정의 진폭 및 주파수로 화살표 S와 평행 방향으로 왕복 운동시킨다(이 때에는 상태 보유부(30)를 장착하고 있지 않다.). 이동 지지부(95)의 왕복 운동은, 이동 지지부(95)에 부착된 제2 부분(25)을 당해 소정의 진폭 및 주파수로 화살표 S와 평행 방향으로 왕복 운동시킨다. 또 제1 부분(23)은 고정되어 있으므로, 제2 부분(25)의 당해 왕복 운동에 의해, 제1 부분(23)과 제2 부분(25)의 사이의 거리가 증감하고(판스프링(22a, 22b)의 부세력에 저항하여 당해 거리가 감소한다.), 제1 부분(23)과 제2 부분(25)의 사이에 부착된 시험체(101)는 굴신(屈伸)된다(이 때에 인장 스프링(21as, 21bs)에 의해 시험체(101)는 항상 하방향으로 만곡한다.).

시험체(101)가 소정 횟수 굴신한 후, 시험체(101)의 관찰이나 분석 등을 행하는 경우, 시험체(101)가 소망의 만곡 상태에 있어서 상태 보유부(30)를 시험 카트리지(20)에 장착한다. 구체적으로는, 시험체(101)가 소망의 만곡 상태로 되도록 구동부(97)를 정지하고, 그 상태에 있어서, 부착 나사(35a, 35b)의 축부를 긴 구멍(31h)에 관통함과 아울러 부착 나사(36a, 36b)의 축부를 긴 구멍(32h)에 관통시킨 보유판(31, 32)을 시험 카트리지(20)에 부착한다(구체적으로는, 부착 나사(35a, 36a)를 암나사(27a, 27b)에 나합시킴과 아울러 부착 나사(35b, 36b)를 암나사(28a, 28b)에 나합시켜 단단히 조인다. 이에 의해 부착 나사(35a, 35b)의 긴 구멍(31h)에 대한 위치가 고정됨과 아울러 부착 나사(36a, 36b)의 긴 구멍(32h)에 대한 위치가 고정된다.). 이렇게 함으로써 제1 부분(23)과 제2 부분(25)의 사이의 거리가 변화하는 것을 상태 보유부(30)에 의해 금지함으로써, 후술과 같이 시험 카트리지(20)를 시험기 본체(91)로부터 떼어내도 시험체(101)의 소망의 만곡 상태가 보유된다.

이상과 같이 상태 보유부(30)를 장착한 시험 카트리지(20)를 시험기 본체(91)로부터 상방으로 이동시킴으로써 떼어낸다. 구체적으로는, 시험 카트리지(20)를 시험기 본체(91)에 대해서 상방으로 이동시키도록 힘을 가함으로써, 영구자석(94m, 96m)의 흡인력 및 시험 카트리지(20)의 중력에 저항하여 시험 카트리지(20)를 시험기 본체(91)로부터 떼어낼 수가 있다(이 때에 감입 핀(94a, 94b)은 감입 구멍(24ha, 24hb)으로부터 빠짐과 아울러, 감입 핀(96a, 96b)은 제2 본체(26) 하면에 형성한 감입 구멍으로부터 빠진다.).

시험기 본체(91)로부터 떼어낸 시험 카트리지(20)는, 거기에 장착한 상태 보유부(30)에 의해, 제1 부분(23)과 제2 부분(25)의 사이의 거리의 변화가 금지되고, 시험체(101)의 소망의 만곡 상태가 보유되므로, 당해 소망의 만곡 상태인 채로 시험체(101)의 관찰이나 분석 등을 행할 수가 있다.

시험체(101)의 관찰이나 분석 등의 후에 상태 보유부(30)를 장착한 시험 카트리지(20)를 다시 시험기 본체(91)에 부착한다(감입 핀(94a, 94b)을 감입 구멍(24ha, 24hb)에 감입하고, 감입 핀(96a, 96b)을 제2 본체(26) 하면에 형성한 감입 구멍에 감입한다. 그리고 영구자석(94m, 96m)의 흡인력에 의해 시험 카트리지(20)의 시험기 본체(91)에의 부착을 확실하게 한다.).

그리고, 상태 보유부(30)를 시험 카트리지(20)로부터 떼어낸다(부착 나사(35a, 36a)를 암나사(27a, 27b)로부터 빼냄과 아울러 부착 나사(35b, 36b)를 암나사(28a, 28b)로부터 빼낸다.). 이렇게 함으로써 제1 부분(23)과 제2 부분(25)의 사이의 거리의 변화가 허용되므로, 구동부(97)에 의해, 이동 지지부(95)를 소정의 진폭 및 주파수로 화살표 S와 평행 방향으로 왕복 운동시킴으로써, 시험체(101)의 만곡 시험을 속행할 수가 있다. 또, 이 만곡 시험의 후, 상술과 마찬가지로 몇 번이라도 시험 카트리지(20)를 시험기 본체(91)로부터 떼어내어, 시험체(101)의 관찰이나 분석 등을 적당하게 행할 수가 있다.

예를 들면, 도 6(도 2와 마찬가지의 방향으로부터 보았을 때, 제1 부분(23) 및 제2 부분(25)을 포함하는 부분을 나타낸 도)과 같이, 시험체(101)의 만곡 시험에 있어서는, 시험체 지지부(21b)가 제1 부분(23)으로부터 가장 멀어진 상태(이 때에는 시험체(101)의 양쪽 주표면은, 전술한 바와 같이, 엄밀하게는, 인장 스프링(21as, 21bs)의 인장에 의해 하방으로 약간 만곡하고 있지만, 거의 평면을 따른 상태이다. 이 때의 시험체 지지부(21b)의 위치를 P1로 나타낸다.)로부터 시험체 지지부(21b)가 제1 부분(23)에 가까워진 상태(이 때에는 시험체(101)의 양쪽 주표면은 하방으로 만곡하고 있다. 이 때의 시험체 지지부(21b)의 위치를 P2로 나타낸다.)를 거쳐 시험체 지지부(21b)가 제1 부분(23)에 가장 가까워진 상태(이 때에는 시험체(101)의 양쪽 주표면은 크게 하방으로 만곡하고 있다. 이 때의 시험체 지지부(21b)의 위치를 P3로 나타낸다.)에 다다름으로써 시험체(101)가 거의 평평한 상태로부터 크게 하방으로 만곡한다. 그 후에 시험체 지지부(21b)가 위치 P3로부터 위치 P2를 거쳐 위치 P1로 되돌아옴으로써, 시험체(101)가 크게 아래에 만곡한 상태로부터 거의 평평한 상태로 되돌아온다. 이와 같이 시험체 지지부(21b)가, 위치 P1, 위치 P2, 위치 P3, 위치 P2 그리고 위치 P1으로 변위함으로써 시험체(101)가 1회 굴신하게 되므로, 이 시험체 지지부(21b)의 이동 속도, 변위 거리(위치 P1과 위치 P3의 사이의 거리) 및 횟수를 적당하게 설정하여 시험체(101)의 굴신 시험을 행할 수가 있다.

이 시험체 지지부(21b)가 위치 P1로부터 위치 P3까지의 어느 위치에 있어도, 상태 보유부(30)를 시험 카트리지(20)에 장착함으로써 시험체(101)의 소망의 만곡 상태를 보유한 채로, 시험 카트리지(20)를 시험기 본체(91)로부터 떼어내어 당해 소망의 만곡 상태인 채로 시험체(101)의 관찰이나 분석 등을 행할 수가 있다. 예를 들면, 도 7a는 도 6에 있어서 시험체 지지부(21b)가 위치 P1에 존재하는 상태에서 상태 보유부(30)를 시험 카트리지(20)에 장착하여 시험 카트리지(20)를 시험기 본체(91)로부터 떼어낸 것을 나타내는 사시도이고, 도 7b는 도 6에 있어서 시험체 지지부(21b)가 위치 P3에 존재하는 상태에서 상태 보유부(30)를 시험 카트리지(20)에 장착하여 시험 카트리지(20)를 시험기 본체(91)로부터 떼어낸 것을 나타내는 사시도이고, 도 7a 및 도 7b의 어느 것에 있어서도 시험체(101)의 소망의 만곡 상태를 보유하고 있다.

그리고, 상술한 바와 같이, 시험체(101)의 관찰이나 분석 등의 후에 상태 보유부(30)를 장착한 시험 카트리지(20)를 다시 시험기 본체(91)에 부착하고, 상태 보유부(30)를 시험 카트리지(20)로부터 떼어내어, 재차 시험체(101)의 만곡 시험을 행할 수가 있다. 이와 같이 시험체(101)의 만곡 시험과 시험체(101)의 관찰 분석 등(시험 카트리지(20)는 시험기 본체(91)로부터 떼어낸 상태)을 자유롭게 몇 번이라도 행할 수가 있다.

또, 이와 같이 시험 카트리지(20)가 착탈 자유롭게 되어 있기 때문에, 미리 시험체(101)를 부착한 복수의 시험 카트리지(20)를 준비해 둠으로써, 차례차례로 시험 카트리지(20)를 시험기 본체(91)에 장착하여 만곡 시험을 행할 수가 있으므로(시험체(101)를 시험 카트리지(20)에 장착하는 시간에 비해, 시험 카트리지(20)를 시험기 본체(91)에 장착하는 시간은 매우 짧다.), 복수의 만곡 시험을 신속하게 행할 수가 있다(각 만곡 시험에 대응하는 시험 카트리지(20)를 차례차례 교환하면서, 복수의 만곡 시험을 신속하게 행할 수가 있어 시험기 본체(91)의 가동률을 향상시킬 수가 있다.).

이상 설명한 바와 같이, 본 시험기(11)는, 시험체(101)가 다른 적어도 2개의 부분(여기에서는 대략 평행한 양쪽 가장자리 근방) 각각이 제1부(여기에서는 제1 부분(23))의 제1 부착부(여기에서는 시험체 지지부(21a)) 및 제2부(여기에서는 제2 부분(25))의 제2 부착부(여기에서는 시험체 지지부(21b))에 부착되고(여기에서는 접착), 제1 형상 상태(시험체 지지부(21b)가 위치 P1에 존재하는 상태)로부터 제2 형상 상태(시험체 지지부(21b)가 위치 P3에 존재하는 상태)를 거쳐 다시 제1 형상 상태(시험체 지지부(21b)가 위치 P1에 존재하는 상태)로 되돌아오는 소정의 변형 사이클을 시험체(101)에 생기게 하는 제1부(제1 부분(23))에 대한 제2부(제2 부분(25))의 상대적인 변위인 변위 사이클(시험체 지지부(21b)가, 위치 P1, 위치 P2, 위치 P3, 위치 P2 그리고 위치 P1로 변위하는 사이클)을 반복하는 탈착 부분(여기에서는 시험 카트리지(20))과 탈착 부분(시험 카트리지(20))이 착탈 자유롭게 부착되는 본체 부분(여기에서는 시험기 본체(91))을 구비하여 이루어지는 변형 시험기(여기에서는 만곡 시험기)이고, 시험체(101)가 취할 수가 있는 형상 상태 중에서 적어도 하나(여기에서는 모두)의 형상 상태에 있어서의 제1부(제1 부분(23))에 대한 제2부(제2 부분(25))의 상대적인 위치를 고정하는 상태 보유 수단(여기에서는 상태 보유부(30))이, 본체 부분(시험기 본체(91))에 부착된 탈착 부분(시험 카트리지(20))에 착탈 자유로움과 아울러, 상태 보유 수단(상태 보유부(30))이 장착된 탈착 부분(시험 카트리지(20))이 본체 부분(시험기 본체(91))에 탈착 자유로운 것인 변형 시험기이다.

본 시험기(11)에 있어서는, 탈착 부분(시험 카트리지(20))이, 상태 보유 수단(상태 보유부(30))을 부착하기 위한 상태 보유 수단 부착부(여기에서는 부착 나사(35a, 36a)의 축부에 나사 새김된 수나사가 나합 가능한 암나사(27a, 27b)와, 부착 나사(35b, 36b)의 축부에 나사 새김된 수나사가 나합 가능한 암나사(28a, 28b)에 의해 구성된다.)를 가지고 이루어지는 것이다.

본 시험기(11)에 있어서는, 제1 형상 상태(시험체 지지부(21b)가 위치 P1)로부터 제2 형상 상태(시험체 지지부(21b)가 위치 P3)로 천이할 때에, 제1부(제1 부분(23))와 제2부(제2 부분(25))의 사이의 거리가 감소하는 것이고, 탈착 부분(시험 카트리지(20))이, 제2 형상 상태(시험체 지지부(21b)가 위치 P3)로부터 제1 형상 상태(시험체 지지부(21b)가 위치 P1)로 당해 거리를 증가시키도록 제1부(제1 부분(23)) 및 제2부(제2 부분(25))를 부세하는 부세 수단(여기에서는 판스프링(22a, 22b))을 가지고 이루어지고, 상태 보유 수단(상태 보유부(30))이, 당해 거리가 증가하는 것을 금지하는 거리 증가 금지 수단이다.

본 시험기(11)에 있어서는, 상태 보유 수단(상태 보유부(30))이, 일단측이 제1부(제1 부분(23))에 부착됨과 아울러 타단측이 제2부(제2 부분(25))에 부착되는 상태 보유 부재(여기에서는 보유판(31, 32))와, 상태 보유 부재(보유판(31, 32))의 당해 일단측을 제1부(제1 부분(23))에 착탈 자유롭게 부착하는 일단측 착탈부(여기에서는 부착 나사(35a, 36a))와, 상태 보유 부재(보유판(31, 32))의 당해 타단측을 제2부(제2 부분(25))에 착탈 자유롭게 부착하는 타단측 착탈부(여기에서는 부착 나사(35b, 36b))를 포함하여 이루어진다.

본 시험기(11)에 있어서는, 상태 보유 수단(상태 보유부(30))이, 시험체(101)가 취할 수가 있는 형상 상태의 모든 형상 상태에 있어서의 제1부(제1 부분(23))에 대한 제2부(제2 부분(25))의 상대적인 위치를 고정할 수가 있는 것이다(여기에서는 긴 구멍(31h, 32h)의 길이 방향의 어디에 있어서도, 부착 나사(35a, 36a, 35b, 36b)를 체결함으로써 보유판(31, 32)에 제1 부분(23) 및 제2 부분(25)을 계지할 수가 있다.).

본 시험기(11)에 있어서는, 탈착 부분(시험 카트리지(20))이 본체 부분(시험기 본체(91))에 부착되었을 때, 탈착 부분(시험 카트리지(20))을 본체 부분(시험기 본체(91))에 대해서 소정 방향(도 중의 화살표 K로 나타내는 연직 상방향)으로 이동시키고 탈착 부분(시험 카트리지(20))을 본체 부분(시험기 본체(91))으로부터 떼어낼 수가 있지만, 탈착 부분(시험 카트리지(20))과 본체 부분(시험기 본체(91))이 맞닿음 함으로써 당해 소정 방향(화살표 K로 나타내는 연직 상방향)과는 반대 방향으로 탈착 부분(시험 카트리지(20))을 본체 부분(시험기 본체(91))에 대해서 이동시키는 것은 금지됨과 아울러 당해 소정 방향(화살표 K로 나타내는 연직 상방향)에 수직인 평면(여기에서는 수평면)을 따른 어느 방향으로도 탈착 부분(시험 카트리지(20))을 본체 부분(시험기 본체(91))에 대해서 이동시키는 것은 금지되는 것이다.

본 시험기(11)에 있어서는, 상기 소정 방향(화살표 K로 나타내는 연직 상방향)으로의 본체 부분(시험기 본체(91))에 대한 탈착 부분(시험 카트리지(20))의 이동을 제한하는 이동 제한 수단을 구비하는 것이다.

본 시험기(11)에 있어서는, 이동 제한 수단이, 상기 소정 방향(화살표 K로 나타내는 연직 상방향)과는 반대 방향이 연직 하방향으로의 성분을 가질 때(여기에서는 당해 반대 방향이 연직 하방향이다.)의 탈착 부분(시험 카트리지(20))의 중력과 탈착 부분(시험 카트리지(20)) 및 본체 부분(시험기 본체(91))의 어느 일방(여기에서는 시험기 본체(91))에 설치되고 타방(여기에서는 시험 카트리지(20))을 흡인하는 자력 발생 수단(여기에서는 영구자석(94m, 96m))의 적어도 일방(여기에서는 양방)을 포함한다.

본 시험기(11)에 있어서는, 탈착 부분(시험 카트리지(20)) 및 본체 부분(시험기 본체(91))의 어느 일방(여기에서는 시험기 본체(91))이, 상기 소정 방향 또는 그 역방향(여기에서는 상기 소정 방향(화살표 K로 나타내는 연직 상방향))으로 돌출하는 돌출 부재(여기에서는 감입 핀(94a, 94b)과 감입 핀(96a, 96b))를 가지고, 당해 어느 타방(여기에서는 시험 카트리지(20))이, 당해 돌출 부재(감입 핀(94a, 94b), 감입 핀(96a, 96b))를 상기 소정 방향 또는 그 역방향(여기에서는 상기 소정 방향(화살표 K로 나타내는 연직 상방향))으로 감입하는 감입 구멍(여기에서는 제1 본체(24) 하면에 형성된 감입 핀(94a, 94b)이 감입되는 감입 구멍(24ha, 24hb)과 제2 본체(26) 하면에 형성된 감입 핀(96a, 96b)이 감입되는 한 벌의 감입 구멍)을 가지는 것이다.

본 시험기(11)에 있어서는, 본체 부분(시험기 본체(91))이, 제1부(제1 부분(23))를 부착하는 제1부 부착 부분(여기에서는 고정 지지부(93))과, 제2부(제2 부분(25))를 부착하는 제2부 부착 부분(여기에서는 이동 지지부(95))과, 제1부 부착 부분(고정 지지부(93))에 부착된 제1부(제1 부분(23))와 제2부 부착 부분(이동 지지부(95))에 부착된 제2부(제2 부분(25))가 변위 사이클을 반복하도록 제1부 부착 부분(고정 지지부(93))과 제2부 부착 부분(이동 지지부(95))을 상대적으로 반복하여 변위시키는 구동 수단(여기에서는 구동부(97))을 포함하여 이루어진다.

또, 다른 실시예에 있어서는, 제1부(제1 부분(23))를 부착하는 제1부 부착 부분을 이동 가능하게 할 수도 있고, 그 때에는 제1부 부착 부분과의 거리가 상대적으로 반복하여 변화할 수가 있다면, 제2부 부착 부분을 고정해도 좋고, 혹은, 이동 가능하게 해도 좋다.

이상 설명해 온 것처럼, 본 발명의 하나의 실시예에 있어서, 판상 또는 필름 형양의 시험체를 만곡시켜 평가하는 변형 시험기(11)는,

적어도 하나의 방향(예를 들면, S)에 있어서, 서로의 거리가 반복하여 상대적으로 변화할 수가 있는 제1부 부착 부분(93) 및 제2부 부착 부분(95)과,

상기 제1부 부착 부분(93) 및 상기 제2부 부착 부분(95)의 사이의 상대적인 거리를 반복하여 변화시킬 수가 있는 구동부(97)와,

상기 제1부 부착 부분(93) 및 상기 제2부 부착 부분(95)에 계합하여 상기 시험체를 만곡시키도록 보유하는 시험 카트리지(20)를 포함하고,

상기 시험 카트리지(20)는,

　상기 제1부 부착 부분(93)에 계합하는 제1 부분(23)과,

　상기 제2부 부착 부분(95)에 계합하는 제2 부분(25)과,

　상기 제1 부분(23) 및 상기 제2 부분(25)의 사이에 상기 적어도 하나의 방향(예를 들면, S)을 따라 무부하로 소정의 거리를 유지 가능하게 걸쳐 놓여지는 탄성체(예를 들면, 판스프링(22a, 22b))와,

　상기 적어도 하나의 방향(예를 들면, S)을 따라, 부하 또는 무부하로 상기 제1 부분(23) 및 상기 제2 부분(25)의 사이의 상대적인 거리를 고정하여 보유 가능한 상태 보유부(30)를 포함하고,

　　상기 제1 부분(23)은,

　　　상기 제1부 부착 부분(93)과 계합하여 상기 적어도 하나의 방향(예를 들면, S)을 따라 계합 고정한 채로 상기 제1부 부착 부분(93)과 함께 이동할 수가 있도록 구성되는 제1 본체(24)와,

　　　상기 제1 본체(24)에, 상기 적어도 하나의 방향으로 실질적으로 수직인 회동축(C1)을 통해, 회동 자유롭게 접속되도록 구성되는 제1 시험체 지지부(21a)를 포함하고,

　　　상기 제1 본체(24)는, 상기 적어도 하나의 방향(예를 들면, S)에 실질적으로 수직인 방향의 이동에 의해, 상기 제1부 부착 부분(93)에 장착(裝着) 가능한 및 장탈(裝脫) 가능한 계합 부재(예를 들면, 감입 구멍(24ha, 24hb))를, 및 상기 제1부 부착 부분(93)은, 그 계합 부재에 대응 가능한 대응 부재(예를 들면, 감입 핀(94a, 94b))를 구비하고,

　　상기 제2 부분(25)은,

　　　상기 제2부 부착 부분(95)과 계합하여 상기 적어도 하나의 방향에 따라 계합 고정한 채로 상기 제2부 부착 부분(95)과 함께 이동할 수가 있도록 구성되는 제2 본체(26)와,

　　　상기 제2 본체(26)에, 상기 적어도 하나의 방향(예를 들면, S)에 실질적으로 수직인 회동축 C2를 통해, 회동 자유롭게 접속되도록 구성되는 제2 시험체 지지부(21b)를 포함하고,

　　　상기 제2 본체(26)는, 상기 적어도 하나의 방향(예를 들면, S)에 거의 수직인 방향의 이동에 의해, 상기 제2부 부착 부분(95)에 장착 가능한 및 장탈 가능한 계합 부재(예를 들면, 감입 구멍(26ha, 26hb))를, 및 상기 제2부 부착 부분(95)은, 그 계합 부재에 대응 가능한 대응 부재(예를 들면, 감입 핀(96a, 96b))를 구비하고,

　　상기 제1 시험체 지지부(21a) 및 상기 제2 시험체 지지부(21b)는, 상기 시험체(101)가 다른 부분을 보유 가능하게 구성되고, 그리고 상기 제1 시험체 지지부(21a) 및 상기 제2 시험체 지지부(21b)의 사이는, 이러한 보유에 의해, 상기 시험체(101)를 배치할 수가 있도록 구성되고, 그리고

　　상기 상태 보유부(30)는, 상기 탄성체(예를 들면, 판스프링(22a, 22b))의 복원력에 저항하여, 상대적인 거리를 고정할 수가 있도록 구성된다.

여기서, 상기 상태 보유부(30)는, 상기 탄성체(예를 들면, 판스프링(22a, 22b)) 및 상기 시험체(101)의 복원력에 저항하여 충분히 견딜만한 구조 및/또는 재료 및 이들 탄성체 및 시험체를 그 상태로 상기 상태 보유부에 고정 가능한 고정 장치(예를 들면, 패스너(fastener), 나사, 볼트, 볼록부, 및 대응하는 패스너, 나사 구멍, 너트, 오목부 등)를 포함할 수가 있다. 또, 상기 상태 보유부(30)는, 상기 시험 카트리지(20)를 취출할 때에, 상기 계합 부재(예를 들면, 감입 구멍(24ha, 24hb)) 및 상기 대응 부재(예를 들면, 감입 핀(94a, 94b)) 및 상기 계합 부재(예를 들면, 감입 구멍(26ha, 26hb)) 및 상기 대응 부재(예를 들면, 감입 핀(96a, 96b))의 계합을 해제할 때에, 적당한 클리어런스(clearance)를 공급할 수가 있다.

또한, 상기 시험 카트리지(20)는, 상기 적어도 하나의 방향(예를 들면, S)에 있어서의 임의의 위치에서, 상기 제1부 부착 부분(93) 및 상기 제2부 부착 부분(95)이 정지 가능하게 구성되어 있고, 그 상태에서, 상기 상태 보유부(30)는, 상기 탄성체(예를 들면, 판스프링(plate spring)(22a, 22b)) 및 상기 시험체(101)를 고정할 수가 있다.

11　본 시험기　　　 20　시험 카트리지
21a　시험체 지지부 21as　인장 스프링(spring)
21b　시험체 지지부 21bs　인장 스프링(spring)
22a, 22b　판스프링(plate spring) 23　제1 부분
24　제1 본체　　　　　 24ha, 24hb　감입 구멍
25　제2 부분　　　　　 26　제2 본체
27a, 27b　암나사　　　　　 28a, 28b　암나사
29a, 29b　회동 스토퍼(stopper)　　 29aa, 29ba　선단
30　상태 보유부　　　　　 31, 32 보유판
31h, 32h　긴 구멍　　　　　 35a, 35b　부착 나사
36a, 36b　부착 나사　　　　　 81　고정 판상 부재
83　이동 판상 부재　　　　　
85a, 85b　슬라이드 레일(slide rail)
91　시험기 본체　　　　　 92　프레임(frame)　　　　　
93　고정 지지부
93a1, 93a2　앵글(angle) 부재　　 93b　기초부
94a, 94b　감입 핀(pin)　　　 94m　영구자석
95　이동 지지부　　　　　 95a1, 95a2　앵글(angle) 부재
95b　기초부　　　　　 96a, 96b　감입(嵌入) 핀(pin)
96m　영구자석　　　　　 97　구동부　　　　　
97a　연결봉 97b　구동 유닛(unit)　　　　
101　시험체 201　재치면

Claims

시험체의 다른 적어도 2개의 부분 각각이 제1부의 제1 부착부 및 제2부의 제2 부착부에 부착되고, 제1 형상 상태로부터 제2 형상 상태를 거쳐 다시 제1 형상 상태로 되돌아오는 소정의 변형 사이클을 시험체에 생기게 하는 제1부에 대한 제2부의 상대적인 변위인 변위 사이클을 반복하는 탈착 부분과,
탈착 부분이 착탈 자유롭게 부착되는 본체 부분을 구비하여 이루어지는 변형 시험기로서,
시험체가 취할 수가 있는 형상 상태 중에서 적어도 하나의 형상 상태에 있어서의 제1부에 대한 제2부의 상대적인 위치를 고정하는 상태 보유 수단이, 본체 부분에 부착된 탈착 부분에 착탈 자유로움과 아울러, 상태 보유 수단이 장착된 탈착 부분이 본체 부분에 탈착 자유로운 것인 변형 시험기.
제1항에 있어서,
탈착 부분이, 상태 보유 수단을 부착하기 위한 상태 보유 수단 부착부를 가지고 이루어지는 것인 변형 시험기.
제1항 또는 제2항에 있어서,
제1 형상 상태로부터 제2 형상 상태로 천이할 때에, 제1부와 제2부의 사이의 거리가 감소하는 것이고,
탈착 부분이, 제2 형상 상태로부터 제1 형상 상태로 당해 거리를 증가시키도록 제1부 및/또는 제2부를 부세하는 부세 수단을 가지고 이루어지고,
상태 보유 수단이, 당해 거리가 증가하는 것을 금지하는 거리 증가 금지 수단인 변형 시험기.
제1항 또는 제2항에 있어서,
제1 형상 상태로부터 제2 형상 상태로 천이할 때에, 제1부와 제2부의 사이의 거리가 증가하는 것이고,
탈착 부분이, 제2 형상 상태로부터 제1 형상 상태로 당해 거리를 감소시키도록 제1부 및/또는 제2부를 부세하는 부세 수단을 가지고 이루어지고,
상태 보유 수단이, 당해 거리가 감소하는 것을 금지하는 거리 감소 금지 수단인 변형 시험기.
제3항 또는 제4항에 있어서,
상태 보유 수단이, 일단측이 제1부에 부착됨과 아울러 타단측이 제2부에 부착되는 상태 보유 부재와, 상태 보유 부재의 당해 일단측을 제1부에 착탈 자유롭게 부착하는 일단측 착탈부와, 상태 보유 부재의 당해 타단측을 제2부에 착탈 자유롭게 부착하는 타단측 착탈부를 포함하여 이루어지는 변형 시험기.
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
상태 보유 수단이, 시험체가 취할 수가 있는 형상 상태의 모든 형상 상태에 있어서의 제1부에 대한 제2부의 상대적인 위치를 고정할 수가 있는 것인 변형 시험기.
제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
탈착 부분이 본체 부분에 부착되었을 때, 탈착 부분을 본체 부분에 대해서 소정 방향으로 이동시키고 탈착 부분을 본체 부분으로부터 떼어낼 수가 있지만, 탈착 부분과 본체 부분이 맞닿음 함으로써 당해 소정 방향과는 반대 방향으로 탈착 부분을 본체 부분에 대해서 이동시키는 것은 금지됨과 아울러 당해 소정 방향에 수직인 평면을 따른 어느 방향으로도 탈착 부분을 본체 부분에 대해서 이동시키는 것은 금지되는 것인 변형 시험기.
제7항에 있어서,
상기 소정 방향으로의 본체 부분에 대한 탈착 부분의 이동을 제한하는 이동 제한 수단을 구비하는 것인 변형 시험기.
제8항에 있어서,
이동 제한 수단이, 상기 소정 방향과는 반대 방향이 연직 하방향으로의 성분을 가질 때의 탈착 부분의 중력과, 탈착 부분 및 본체 부분의 어느 일방에 설치되어 타방을 흡인하는 자력 발생 수단의 적어도 일방을 포함하는 변형 시험기.
제7항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,
탈착 부분 및 본체 부분의 어느 일방이, 상기 소정 방향 또는 그 역방향으로 돌출하는 돌출 부재를 가지고, 당해 어느 타방이, 당해 돌출 부재를 상기 소정 방향 또는 그 역방향으로 감입하는 감입 구멍을 가지는 것인 변형 시험기.
제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,
본체 부분이, 제1부를 부착하는 제1부 부착 부분과, 제2부를 부착하는 제2부 부착 부분과, 제1부 부착 부분에 부착된 제1부와 제2부 부착 부분에 부착된 제2부가 변위 사이클을 반복하도록 제1부 부착 부분과 제2부 부착 부분을 상대적으로 반복하여 변위시키는 구동 수단을 포함하여 이루어지는 변형 시험기.
제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 기재의 변형 시험기를 구성하는 탈착 부분.
제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 기재의 변형 시험기를 구성하는 본체 부분.
제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 기재의 변형 시험기에 부착되는 상태 보유 수단.