WO2018142613A1 - 検出装置 - Google Patents

検出装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2018142613A1
WO2018142613A1 PCT/JP2017/004225 JP2017004225W WO2018142613A1 WO 2018142613 A1 WO2018142613 A1 WO 2018142613A1 JP 2017004225 W JP2017004225 W JP 2017004225W WO 2018142613 A1 WO2018142613 A1 WO 2018142613A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
similarity
data
phase
calculated
surface data
Prior art date
Application number
PCT/JP2017/004225
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
淳二 堀
恒次 阪田
拓弥 橋口
敬太 望月
清高 渡邊
浩之 笹井
Original Assignee
三菱電機株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 三菱電機株式会社 filed Critical 三菱電機株式会社
Priority to PCT/JP2017/004225 priority Critical patent/WO2018142613A1/ja
Priority to DE112017006997.1T priority patent/DE112017006997T5/de
Priority to CN201780084710.9A priority patent/CN110226075A/zh
Priority to JP2018565223A priority patent/JP6590088B2/ja
Priority to US16/463,852 priority patent/US11099138B2/en
Priority to KR1020197022529A priority patent/KR20190104184A/ko
Publication of WO2018142613A1 publication Critical patent/WO2018142613A1/ja

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
    • D—TEXTILES; PAPER
    • D01—NATURAL OR MAN-MADE THREADS OR FIBRES; SPINNING
    • D01H—SPINNING OR TWISTING
    • D01H13/00—Other common constructional features, details or accessories
    • D01H13/32—Counting, measuring, recording or registering devices
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • D—TEXTILES; PAPER
    • D07—ROPES; CABLES OTHER THAN ELECTRIC
    • D07B—ROPES OR CABLES IN GENERAL
    • D07B1/00—Constructional features of ropes or cables
    • D07B1/14—Ropes or cables with incorporated auxiliary elements, e.g. for marking, extending throughout the length of the rope or cable
    • D07B1/145—Ropes or cables with incorporated auxiliary elements, e.g. for marking, extending throughout the length of the rope or cable comprising elements for indicating or detecting the rope or cable status
    • D—TEXTILES; PAPER
    • D07—ROPES; CABLES OTHER THAN ELECTRIC
    • D07B—ROPES OR CABLES IN GENERAL
    • D07B2301/00—Controls
    • D07B2301/55—Sensors
    • D07B2301/5531—Sensors using electric means or elements
    • D07B2301/5572—Sensors using electric means or elements optical

Definitions

  • the present invention relates to a detection device that uses a long body as a detection target.
  • Patent Document 1 describes an apparatus for inspecting a rope.
  • the device described in Patent Document 1 includes a light source and a light receiving element.
  • a rope is disposed between the light source and the light receiving element.
  • the diameter of the rope is calculated based on the amount of light received by the light receiving element.
  • the position of the rope is calculated by making the calculated peak value interval of the diameter coincide with the strand interval.
  • An object of the present invention is to provide a detection device capable of detecting an abnormality of a long body even when the moving speed of the long body varies.
  • the detection apparatus includes a data acquisition unit that acquires first surface data and second surface data of a long body having a periodic pattern on a surface, and a memory that stores first reference data and second reference data.
  • Similarity calculation means for calculating the second similarity between the second surface data and the first reference data acquired by the second reference data and the fourth similarity between the second surface data and the second reference data acquired by the data acquisition means;
  • the declination of the first similarity vector having the first similarity and the second similarity calculated by the similarity calculation means as the first phase is used as the first phase.
  • phase calculation means for calculating the second phase of the second similarity vector having the third similarity and the fourth similarity calculated as the second phase, and a phase calculation means.
  • a period calculating unit that calculates a period of the pattern formed on the long body, and a first unit that detects an abnormality in the long body based on the period calculated by the period calculating unit. 1 abnormality detection means.
  • the detection apparatus includes a data acquisition unit that acquires a plurality of surface data of a long body having a periodic pattern on a surface, a storage unit that stores first reference data and second reference data, and data acquisition Selecting means for selecting the first surface data and the second surface data from the surface data acquired by the means; the first similarity between the first surface data selected by the selecting means and the first reference data; The second similarity between the selected first surface data and the second reference data, the second similarity between the second surface data and the first reference data selected by the selection means, and the second surface data selected by the selection means Similarity calculation means for calculating the fourth similarity of the second reference data and the first similarity calculated by the similarity calculation means The second similarity vector having the third similarity and the fourth similarity calculated by the similarity calculating means as a first phase, and the first similarity vector having the second similarity as an element is calculated as the first phase.
  • a phase calculation unit that calculates a declination angle of the second pattern as a second phase, and a cycle calculation unit that calculates a cycle of a pattern formed on the elongated body based on the first phase and the second phase calculated by the phase calculation unit;
  • first abnormality detecting means for detecting an abnormality of the elongated body based on the period calculated by the period calculating means.
  • the detection device has a first surface data of a first long body having a periodic pattern on the surface and a second long surface having the same pattern as the pattern formed on the surface of the first long body.
  • Data acquisition means for acquiring the second surface data of the body, storage means for storing the first reference data and the second reference data, and the first similarity between the first surface data and the first reference data acquired by the data acquisition means.
  • Similarity calculation means for calculating the fourth similarity between the second surface data and the second reference data acquired by the first data calculated by the similarity calculation means.
  • the first similarity vector having the similarity and the second similarity as elements is calculated as the first phase, and the second similarity having the third similarity and the fourth similarity calculated by the similarity calculation means as elements.
  • the phase calculation means for calculating the deviation angle of the similarity vector as the second phase, and the first phase and the second phase calculated by the phase calculation means there is an abnormality in the first elongated body or the second elongated body.
  • First abnormality detecting means for detecting the occurrence.
  • the detection apparatus includes, for example, similarity calculation means, phase calculation means, period calculation means, and first abnormality detection means.
  • the phase calculation means calculates the declination of the first similarity vector as the first phase, and calculates the declination of the second similarity vector as the second phase.
  • the period calculating means calculates the period of the pattern formed on the long body based on the first phase and the second phase calculated by the phase calculating means.
  • the first abnormality detection means detects the abnormality of the long body based on the period calculated by the period calculation means. With the detection device according to the present invention, even when the moving speed of the long body varies, the abnormality of the long body can be detected.
  • FIG. 1 It is a figure which shows the example of the detection apparatus in Embodiment 1 of this invention. It is the figure which looked at the elongate body from the direction of the arrow A shown in FIG. It is a figure which shows the processing method of the light reception image acquired by the light receiving element. It is a figure which shows the example of a control apparatus. It is a figure for demonstrating the function of a data processing part. It is a figure which shows the example of reference data. It is a figure for demonstrating the function of a phase calculation part. It is a flowchart which shows the operation example of the detection apparatus in Embodiment 1 of this invention. It is a figure for demonstrating the other example of a sensor head.
  • FIG. 1 is a diagram showing an example of a detection apparatus according to Embodiment 1 of the present invention.
  • the detection device is a device for detecting an abnormality in the long body.
  • the long body includes, for example, the rope 1.
  • FIG. 2 is a view of the elongated body viewed from the direction of arrow A shown in FIG.
  • the x-axis, y-axis and z-axis are set as shown in FIGS.
  • the y-axis is an axis that faces the longitudinal direction of the long body.
  • the x axis is orthogonal to the y axis and the z axis.
  • the z axis is orthogonal to the y axis and the x axis.
  • the x-axis, y-axis, and z-axis are axes set to represent coordinates in a three-dimensional space.
  • FIG. 2 corresponds to a view of a long body viewed from the + z direction.
  • the long body moves in the longitudinal direction.
  • the rope 1 moves in the + y direction or the ⁇ y direction.
  • An example of the rope 1 that moves in this way is a wire rope used in an elevator.
  • the rope 1 may move in both the + y direction and the ⁇ y direction. Note that the long body to be detected by the detection device is not limited to the rope 1.
  • the rope 1 includes a plurality of strands.
  • the rope 1 is formed by twisting a plurality of strands. For this reason, the rope 1 has a periodic pattern on the surface.
  • the object for which the detection apparatus detects an abnormality is a long body having a periodic pattern on the surface.
  • the “pattern” includes, for example, a shape, a figure, a color, and a color shade.
  • 1 and 2 show an example in which a rope 1 is formed by twisting eight strands.
  • irregularities formed by a plurality of strands being twisted together are regularly arranged.
  • the ideal cross-sectional shape of the rope 1 is the same for each distance obtained by dividing the twist pitch by the number of strands.
  • the cross section is a cross section in a direction orthogonal to the longitudinal direction of the rope 1. The distance obtained by dividing the winding pitch by the number of strands is the strand pitch, that is, the period of the pattern.
  • the detection device calculates the period of the pattern formed on the long body and determines whether there is an abnormality.
  • the detection device includes a sensor head 2 and a control device 3, for example.
  • the sensor head 2 is an example of means for acquiring surface data of a long body.
  • “Surface data” is data relating to the pattern of the surface of the elongated body.
  • the sensor head 2 simultaneously acquires surface data at two locations on the long body.
  • the sensor head 2 acquires data representing the unevenness formed on the surface of the portion of the rope 1 that passes through the first position as the first surface data.
  • the sensor head 2 acquires data representing the irregularities formed on the surface of the portion of the rope 1 that passes through the second position as the second surface data.
  • the second position is a position different from the first position.
  • the second position is a position away from the first position by a certain distance in the y-axis direction.
  • FIG. 1 shows an example in which the sensor head 2 is an optical profile measuring instrument.
  • the sensor head 2 includes, for example, a light source 4, a light source 5, a light receiving element 6, and a light receiving element 7.
  • the light source 4 irradiates the surface of the rope 1 with light.
  • 1 and 2 show an example in which the light source 4 emits laser light in a direction orthogonal to the longitudinal direction of the rope 1.
  • the light emitted from the light source 4 strikes the surface of the portion of the rope 1 that passes through the first position. In the example shown in FIGS. 1 and 2, the light emitted from the light source 4 strikes a straight line from one end of the rope 1 to the other end so as to cross the rope 1.
  • the light source 5 irradiates the surface of the rope 1 with light.
  • the light source 5 emits light parallel to the light emitted from the light source 4.
  • the timing at which the light source 5 emits light is the same as the timing at which the light source 4 emits light.
  • 1 and 2 show an example in which the light source 5 emits laser light in a direction orthogonal to the longitudinal direction of the rope 1.
  • the light emitted from the light source 5 strikes the surface of the portion of the rope 1 that passes through the second position. That is, the light emitted from the light source 5 strikes the rope 1 at a position away from the position where the light from the light source 4 strikes the rope 1 by a certain distance in the y-axis direction. In the example shown in FIGS. 1 and 2, the light emitted from the light source 5 strikes a straight line from one end of the rope 1 to the other end so as to cross the rope 1.
  • the light receiving element 6 receives light reflected from the surface of the rope 1 among the light emitted from the light source 4.
  • the light receiving element 6 is disposed obliquely with respect to the direction in which the light source 4 emits light.
  • the light receiving element 6 receives light reflected obliquely at a certain angle with respect to the longitudinal direction of the rope 1 out of light from the light source 4 reflected on the surface of the rope 1.
  • the light receiving element 7 receives the light reflected from the surface of the rope 1 among the light irradiated from the light source 5.
  • the light receiving element 7 is disposed obliquely with respect to the direction in which the light source 5 emits light.
  • the light receiving element 7 receives light reflected obliquely at a certain angle with respect to the longitudinal direction of the rope 1 out of light from the light source 5 reflected on the surface of the rope 1.
  • the light receiving element 7 receives light reflected at the same angle as the light received by the light receiving element 6 on the surface of the rope 1.
  • the light a shown in FIGS. 1 and 2 is light emitted from the light source 4 toward the rope 1.
  • the light b and the light c are light reflected at an angle received by the light receiving element 6 among the light a reflected from the surface of the rope 1.
  • the light b is light reflected at the outermost portion of the strand.
  • the light c is light reflected by a groove formed by adjacent strands.
  • the light d shown in FIGS. 1 and 2 is the light irradiated on the rope 1 from the light source 5.
  • the light e and the light f are light reflected at an angle received by the light receiving element 7 among the light d reflected on the surface of the rope 1.
  • the light e is light reflected at the outermost portion of the strand.
  • the light f is light reflected by a groove formed by adjacent strands.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating a method of processing a received light image acquired by the light receiving element 6 and the light receiving element 7.
  • the upper part of FIG. 3 shows a light reception image of the light receiving element 6 and a light reception image of the light receiving element 7.
  • the lower part of FIG. 3 shows the first surface data P1 converted from the received light image of the light receiving element 6 and the second surface data P2 converted from the received light image of the light receiving element 7.
  • 3 indicates that the first surface data P1 and the second surface data P2 each include a plurality of data in the x direction. The number of data included in the surface data is arbitrarily determined.
  • the control device 3 detects a pitch abnormality occurring in the rope 1 based on the first surface data and the second surface data acquired by the sensor head 2. That is, the control device 3 detects a cycle abnormality of the pattern formed on the surface of the long body.
  • FIG. 1 shows an example in which the control device 3 is connected to the sensor head 2 by a signal line 8. You may arrange
  • the sensor head 2 may include some of the functions of the control device 3.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating an example of the control device 3.
  • the control device 3 includes, for example, a storage unit 9, a data processing unit 10, a similarity calculation unit 11, a phase calculation unit 12, a cycle calculation unit 13, and an abnormality detection unit 14.
  • Two pieces of reference data are stored in the storage unit 9.
  • one reference data stored in the storage unit 9 is referred to as first reference data.
  • the other reference data stored in the storage unit 9 is referred to as second reference data.
  • the data processing unit 10 processes the first surface data received from the sensor head 2 and outputs the processed data as final first surface data.
  • the data processing unit 10 processes the second surface data received from the sensor head 2 and outputs the processed data as final second surface data.
  • the data processing unit 10 constitutes a part of means for acquiring the surface data of the long body. In detecting the pitch abnormality of the rope 1, it is desirable to employ data obtained by removing a specific frequency component from the surface data acquired by the sensor head 2 as final surface data. By performing such data processing, it is possible to emphasize the periodic pattern component of the rope 1 on the surface.
  • FIG. 5 is a diagram for explaining the function of the data processing unit 10.
  • FIG. 5 shows the first surface data P1 and the second surface data P2 after the data processing by the data processing unit 10 is performed.
  • the data processing unit 10 obtains the first surface data P1 shown in FIG. 5 by performing a low-frequency component removal process on the first surface data P1 shown in FIG.
  • the data processing unit 10 obtains the second surface data P2 illustrated in FIG. 5 by performing a low-frequency component removal process on the second surface data P2 illustrated in FIG.
  • the influence of the diameter of the rope 1 is removed from the first surface data P1 and the second surface data P2 shown in FIG.
  • the function of the data processing unit 10 may be provided in the sensor head 2. Further, the means for acquiring the surface data of the long body may not have the function of the data processing unit 10. In the example shown in the present embodiment, the output from the data processing unit 10 is the final output from the means for acquiring the surface data of the long body. If the data processing unit 10 is not provided, the output from the sensor head 2 is the final output from the means for acquiring the surface data of the long body.
  • the first surface data P1 obtained at the position L1 at time t can be expressed as P (t, L1).
  • the second surface data P2 acquired at the position L2 at the same time t can be expressed as P (t, L2).
  • FIG. 6 is a diagram showing an example of reference data.
  • the rope 1 has a periodic pattern on the surface.
  • a sine wave having the same period as the pattern formed on the surface of the rope 1 is stored in the storage unit 9 as the first reference data.
  • a cosine wave having the same period as the pattern formed on the surface of the rope 1 is stored in the storage unit 9 as the second reference data.
  • the first reference data Ref1 and the second reference data Ref2 can be expressed as a matrix of n rows and 1 column as follows.
  • the first surface data P (t, L1), the second surface data P (t, L2), the first reference data Ref1, and the second reference data Ref2 are multidimensional vector data, that is, the number of elements n.
  • An example of the vector will be described.
  • the inner product of the first reference data Ref1 and the second reference data Ref2 is preferably 0 as in the example shown in FIG.
  • the first reference data Ref1 and the second reference data Ref2 shown in FIG. 6 are sine waves having an orthogonal relationship. However, the inner product of the first reference data Ref1 and the second reference data Ref2 may not be zero.
  • the first reference data Ref1 and the second reference data Ref2 are not limited to the example shown in FIG.
  • the similarity calculation unit 11 calculates the similarity between the surface data and the reference data. For example, the similarity calculation unit 11 calculates a first similarity, a second similarity, a third similarity, and a fourth similarity.
  • the first similarity is a similarity between the first surface data output from the data processing unit 10 and the first reference data stored in the storage unit 9.
  • the second similarity is a similarity between the first surface data output from the data processing unit 10 and the second reference data stored in the storage unit 9.
  • the third similarity is a similarity between the second surface data output from the data processing unit 10 and the first reference data stored in the storage unit 9.
  • the fourth similarity is a similarity between the second surface data output from the data processing unit 10 and the second reference data stored in the storage unit 9.
  • the similarity calculation unit 11 calculates the correlation coefficient ⁇ 1 (t, L1) between the first surface data P (t, L1) and the first reference data Ref1 as the first similarity.
  • the similarity calculation unit 11 calculates a correlation coefficient ⁇ 2 (t, L1) between the first surface data P (t, L1) and the second reference data Ref2 as the second similarity.
  • the similarity calculation unit 11 calculates a correlation coefficient ⁇ 1 (t, L2) between the second surface data P (t, L2) and the first reference data Ref1 as the third similarity.
  • the similarity calculation unit 11 calculates a correlation coefficient ⁇ 2 (t, L2) between the second surface data P (t, L2) and the second reference data Ref2 as the fourth similarity.
  • FIG. 7 is a diagram for explaining the function of the phase calculation unit 12.
  • the phase calculation unit 12 calculates the deviation angle of the similarity vector S as the phase ⁇ .
  • the phase calculation unit 12 calculates the phase ⁇ (t, L1) of the similarity vector S (t, L1) related to the first surface data.
  • the similarity vector S (t, L1) is a vector having the correlation coefficient ⁇ 1 (t, L1) and the correlation coefficient ⁇ 2 (t, L1) calculated by the similarity calculation unit 11 as elements.
  • the phase ⁇ (t, L1) is an argument of the similarity vector S (t, L1).
  • the phase calculation unit 12 calculates the phase ⁇ (t, L2) of the similarity vector S (t, L2) related to the second surface data.
  • the similarity vector S (t, L2) is a vector having the correlation coefficient ⁇ 1 (t, L2) and the correlation coefficient ⁇ 2 (t, L2) calculated by the similarity calculation unit 11 as elements.
  • the phase ⁇ (t, L2) is an argument of the similarity vector S (t, L2).
  • FIG. 7 shows the similarity vector S (t, L1) and the similarity vector on an orthogonal plane with the similarity to the first reference data Ref1 as the horizontal axis and the similarity to the second reference data Ref2 as the vertical axis.
  • the example which plotted S (t, L2) is shown.
  • the locus of the similarity vector S (t, L1) has a circular shape with a radius of 1 at the maximum.
  • the locus of the similarity vector S (t, L2) has a circular shape with a radius of 1 at the maximum.
  • the period calculation unit 13 calculates the period of the pattern formed on the surface of the rope 1. In the example shown in the present embodiment, as described above, the period matches the strand pitch of the rope 1. As shown in FIG. 7, the starting point of the similarity vector S is the origin. The end point of the similarity vector S is a point having coordinates of two similarity degrees calculated by the similarity vector element, that is, the similarity calculation unit 11. The phase ⁇ represents the direction of the similarity vector S. The period calculation unit 13 can calculate the strand pitch SP of the rope 1 by the following equation.
  • the period calculation unit 13 calculates the strand pitch SP based on the phase ⁇ (t, L1) and the phase ⁇ (t, L2) calculated by the phase calculation unit 12. For example, the period calculation unit 13 calculates the strand pitch SP by calculating the positional change rate of the phase corresponding to the position change in the y-axis direction.
  • the abnormality detection unit 14 detects an abnormality that has occurred in the rope 1.
  • the abnormality detection unit 14 detects, for example, a cycle abnormality of the pattern formed on the long body based on the cycle calculated by the cycle calculation unit 13.
  • the storage unit 9 stores in advance a reference range for determining that the pattern cycle is normal. If the period calculated by the period calculation unit 13 is within the reference range, the abnormality detection unit 14 determines that no pitch abnormality has occurred in the rope 1. The abnormality detection unit 14 determines that a pitch abnormality has occurred in the rope 1 if the cycle calculated by the cycle calculation unit 13 is not within the reference range.
  • FIG. 8 is a flowchart showing an operation example of the detection apparatus according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 8 shows the processing flow described above.
  • an alarm may be issued from the control device 3.
  • the abnormality of the rope 1 can be detected even when the moving speed of the rope 1 is fluctuating.
  • This detection device also has an advantage of high noise resistance.
  • the control device 3 may further include a speed calculation unit 15 and a position calculation unit 16.
  • the speed calculation unit 15 calculates the speed at which the rope 1 moves.
  • the speed calculation unit 15 can calculate the moving speed V of the rope 1 at time t by the following equation.
  • ⁇ t shown in the above equation is a time interval for acquiring the surface data.
  • the speed calculation unit 15 calculates the moving speed of the rope 1 based on the phase ⁇ (t, L1) and the phase ⁇ (t, L2) calculated by the phase calculation unit 12. For example, the speed calculation unit 15 calculates the movement speed of the rope 1 by calculating the change of the phase ⁇ (t, L1) or the phase ⁇ (t, L2) with time.
  • the position calculation unit 16 calculates the position of the abnormality that has occurred in the rope 1.
  • the position calculation unit 16 calculates the position based on the moving speed V of the rope 1 calculated by the speed calculation unit 15.
  • the position calculating unit 16 can specify how much the rope 1 has moved from the acquisition start position of the surface data by integrating the moving speed V of the rope 1 calculated by the speed calculating unit 15.
  • the position calculation unit 16 calculates the position of the detected abnormality on the rope 1 based on the movement distance when the abnormality is detected by the abnormality detection unit 14. With the above calculation method, the position can be calculated even if the strand pitch of the rope 1 is unknown or fluctuates.
  • the control device 3 may further include an invalid unit 17.
  • the invalidation unit 17 invalidates the abnormality detection by the abnormality detection unit 14. As shown in FIG. 7, the locus of the similarity vector S (t, L1) is circular. If irregularities formed by twisting a plurality of strands are neatly arranged on the surface of the rope 1, the locus of the similarity vector S (t, L1) continues to draw a similar circle centered on the origin. .
  • the locus of the similarity vector S (t, L1) changes so as to approach the origin. For this reason, if a normal range is set in advance for the norm of the similar vector S (t, L1), it can be detected that the reliability of the acquired surface data has become low.
  • the normal range is set to 0.3 to 1, for example. The same is true for the similarity vector S (t, L2).
  • the invalidation unit 17 invalidates the function that the abnormality detection unit 14 detects an abnormality based on the norm of the similarity vector S (t, L1). If the norm of the similarity vector S (t, L1) is out of the normal range, the invalid unit 17 prevents the abnormality detection unit 14 from detecting an abnormality.
  • the invalidation part 17 may invalidate the function in which the abnormality detection part 14 detects abnormality based on the norm of the similarity vector S (t, L2). For example, the invalid unit 17 prevents the abnormality detection unit 14 from detecting an abnormality if the norm of the similarity vector S (t, L2) is out of the normal range.
  • the invalidation unit 17 invalidates the abnormality detection by the abnormality detection unit 14 when both the norm of the similarity vector S (t, L1) and the norm of the similarity vector S (t, L2) are out of the normal range.
  • the position calculating unit 16 may calculate the movement distance of the rope 1 using the strand pitch SP calculated immediately before. Thereby, an appropriate interpolation becomes possible.
  • the control device 3 may further include an abnormality detection unit 18.
  • the abnormality detection unit 18 detects an abnormality of the rope 1 that is different from the abnormality detected by the abnormality detection unit 14. For example, the abnormality detection unit 18 detects an abnormality of the pattern formed on the surface of the rope 1.
  • the locus of the similarity vector S (t, L1) is circular. If there is no abnormality in signal transmission, the locus of the similarity vector S (t, L1) is the origin if the irregularities formed by twisting a plurality of strands are neatly arranged on the surface of the rope 1. Continue to draw a similar circle centered on. On the other hand, when a defect occurs in the winding due to non-uniform spacing between strands, the locus of the similarity vector S (t, L1) changes so as to approach the origin. Therefore, if a normal range is set in advance for the norm of the similar vector S (t, L1), it is possible to detect that an abnormality has occurred in the pattern formed on the surface of the rope 1. The normal range is set to 0.6 to 1, for example. The same is true for the similarity vector S (t, L2).
  • the abnormality detection unit 18 detects that an abnormality has occurred in the pattern of the rope 1 based on the norm of the similarity vector S (t, L1). If the norm of the similarity vector S (t, L1) is out of the normal range, the abnormality detection unit 18 detects that an abnormality has occurred in the pattern of the rope 1. In the example shown in the present embodiment, the abnormality detection unit 18 detects a shape abnormality of the rope 1. The abnormality detection unit 18 may detect that an abnormality has occurred in the pattern of the rope 1 based on the norm of the similarity vector S (t, L2). For example, the abnormality detection unit 18 detects the shape abnormality of the rope 1 if the norm of the similarity vector S (t, L2) is out of the normal range. The abnormality detecting unit 18 detects the shape abnormality of the rope 1 when both the norm of the similarity vector S (t, L1) and the norm of the similarity vector S (t, L2) are out of the normal range. May be.
  • the abnormality detection unit 18 When the abnormality of the pattern is detected by the abnormality detection unit 18, data that can confirm the abnormality may be stored in the storage unit 9. For example, when a pattern abnormality is detected by the abnormality detection unit 18, surface data used for detecting the abnormality is stored in the storage unit 9. As will be described later, the sensor head 2 may include a camera in order to acquire surface data. When the abnormality of the pattern is detected by the abnormality detection unit 18, the image data captured by the camera may be stored in the storage unit 9.
  • FIG. 9 is a diagram for explaining another example of the sensor head 2.
  • the sensor head 2 shown in FIG. 9 includes a light source 4, a light source 5, and a light receiving element 6, for example.
  • FIG. 9 shows an example in which one light receiving element 6 receives both the light from the light source 4 reflected on the surface of the rope 1 and the light from the light source 5 reflected on the surface of the rope 1.
  • FIG. 10 is a diagram illustrating a method of processing a received light image acquired by the light receiving element 6.
  • the upper part of FIG. 10 shows a received light image of the light receiving element 6.
  • the lower part of FIG. 10 shows the first surface data P1 and the second surface data P2 converted from the light reception image of the light receiving element 6. 10 indicates that the first surface data P1 and the second surface data P2 each include a plurality of data in the x direction. The number of data included in the surface data is arbitrarily determined.
  • the sensor head 2 it is not necessary to provide the sensor head 2 with a plurality of light receiving elements. Moreover, if the wavelength of the light from the light source 4 and the wavelength of the light from the light source 5 are different, the surface data extraction process can be easily performed.
  • the sensor head 2 is not limited to an optical profile measuring instrument.
  • FIG. 11 and FIG. 12 are diagrams for explaining another example of the sensor head 2.
  • the sensor head 2 shown in FIGS. 11 and 12 includes a camera 20, for example.
  • the sensor head 2 may acquire data obtained from image data obtained by photographing the surface of the rope 1 with the camera 20 as surface data.
  • the image data photographed by the camera 20 does not include information on the height.
  • the sensor head 2 may acquire data representing the color and color density applied to the surface of the rope 1 as surface data. For example, the sensor head 2 acquires data representing colors and shades of colors assigned to ranges of x1 ⁇ x ⁇ xr and L1 ⁇ y ⁇ LM on the surface of the rope 1. This data corresponds to M surface data.
  • the sensor head 2 outputs two preset surface data as the first surface data and the second surface data from the M surface data.
  • FIG. 13 is a diagram illustrating a method of processing image data captured by the camera 20.
  • Embodiment 2 an example for improving the calculation accuracy of the strand pitch SP will be described.
  • the detection device in the present embodiment is the same as the example shown in FIG. 11, for example.
  • the detection device includes a sensor head 2 and a control device 3, for example.
  • the sensor head 2 includes a camera 20, for example.
  • the sensor head 2 acquires, for example, data representing the color and shade of the color attached to the surface of the rope 1 as surface data.
  • the sensor head 2 acquires M surface data from the image data acquired by the camera 20.
  • M is a natural number of 3 or more, for example.
  • FIG. 14 is a diagram illustrating an example of the control device 3 according to Embodiment 2 of the present invention.
  • the control device 3 includes a storage unit 9, a data processing unit 10, a selection unit 19, a similarity calculation unit 11, a phase calculation unit 12, a period calculation unit 13, and an abnormality detection unit 14.
  • the control device 3 may not include the data processing unit 10.
  • the control device 3 may further include a speed calculation unit 15, a position calculation unit 16, an invalid unit 17, and an abnormality detection unit 18.
  • the first reference data Ref1 and the second reference data Ref2 are stored in the storage unit 9.
  • the first reference data Ref1 can be expressed as a matrix of n rows and 1 column.
  • the second reference data Ref2 can be expressed as a matrix of n rows and 1 column.
  • the data processing unit 10 processes each surface data received from the sensor head 2 into surface data that can be compared with reference data. For example, the data processing unit 10 performs a bias removal process on each of the surface data received from the sensor head 2. From the data processing unit 10, for example, M pieces of surface data P (t, L1), P (t, L2),..., P (t, LM) subjected to bias removal processing are output.
  • the selection unit 19 selects the first surface data P (t, L ⁇ ) and the second surface data P (t, t, L from the M surface data output from the data processing unit 10 based on a preset condition. L ⁇ ).
  • the similarity calculation unit 11 calculates the similarity between the surface data selected by the selection unit 19 and the reference data. That is, the similarity calculation unit 11 calculates the first similarity, the second similarity, the third similarity, and the fourth similarity.
  • the first similarity is a similarity between the first surface data selected by the selection unit 19 and the first reference data stored in the storage unit 9.
  • the second similarity is a similarity between the first surface data selected by the selection unit 19 and the second reference data stored in the storage unit 9.
  • the third similarity is a similarity between the second surface data selected by the selection unit 19 and the first reference data stored in the storage unit 9.
  • the fourth similarity is a similarity between the second surface data selected by the selection unit 19 and the second reference data stored in the storage unit 9.
  • phase calculation unit 12 is the same as the function disclosed in the first embodiment.
  • period calculation unit 13 is the same as the function disclosed in the first embodiment.
  • the function of the abnormality detection unit 14 is the same as the function disclosed in the first embodiment.
  • FIG. 15 is a flowchart showing an operation example of the detection apparatus according to Embodiment 2 of the present invention.
  • M surface data are output from the data processing unit 10 (S201).
  • the selection unit 19 selects the first surface data P (t, L ⁇ ) and the second surface data P (t, L ⁇ ) from the M surface data output from the data processing unit 10 (S202). .
  • the similarity calculation unit 11 calculates the similarity with the first reference data and the similarity with the second reference data for each surface data output from the data processing unit 10.
  • FIG. 15 shows an example in which the correlation coefficient ⁇ 1 is calculated as the similarity to the first reference data, and the correlation coefficient ⁇ 2 is calculated as the similarity to the second reference data.
  • a similarity vector S having the correlation coefficient ⁇ 1 and the correlation coefficient ⁇ 2 as elements is calculated for each surface data.
  • the norm of the similarity vector S is calculated for each surface data.
  • the selection unit 19 selects the first surface data P (t, L ⁇ ) and the second surface data P (t, L ⁇ ) based on the norm of the calculated similarity vector S, for example.
  • FIG. 16 is a diagram for explaining the function of the selection unit 19. For example, among the M pieces of surface data output from the data processing unit 10, the selection unit 19 determines the first surface data P (t, L ⁇ ) and second surface data P (t, L ⁇ ). Here, L ⁇ > L ⁇ .
  • the similarity vector S (t, L ⁇ ) is a vector having the correlation coefficient ⁇ 1 (t, L ⁇ ) and the correlation coefficient ⁇ 2 (t, L ⁇ ) calculated by the similarity calculation unit 11 as elements.
  • the phase ⁇ (t, L ⁇ ) is a deviation angle of the similarity vector S (t, L ⁇ ).
  • the phase calculation unit 12 calculates the phase ⁇ (t, L ⁇ ) of the similarity vector S (t, L ⁇ ) (S203).
  • the similarity vector S (t, L ⁇ ) is a vector having the correlation coefficient ⁇ 1 (t, L ⁇ ) and the correlation coefficient ⁇ 2 (t, L ⁇ ) calculated by the similarity calculation unit 11 as elements.
  • the phase ⁇ (t, L ⁇ ) is an argument of the similarity vector S (t, L ⁇ ).
  • the period calculation unit 13 calculates the strand pitch SP from the following equation based on the phase ⁇ (t, L ⁇ ) and the phase ⁇ (t, L ⁇ ) calculated by the phase calculation unit 12, for example.
  • the abnormality detection unit 14 detects a cycle abnormality of the pattern formed on the long body based on the cycle calculated by the cycle calculation unit 13. For example, the abnormality detection unit 14 determines that a pitch abnormality has occurred in the rope 1 when the period calculated by the period calculation unit 13 is out of the reference range.
  • the abnormality of the rope 1 can be detected even when the moving speed of the rope 1 is fluctuating.
  • the calculation accuracy of the strand pitch SP can be improved.
  • the selection unit 19 may select the first surface data P (t, L ⁇ ) and the second surface data P (t, L ⁇ ) by a method different from the method described above. For example, the selection unit 19 first selects, from among the M pieces of surface data output from the data processing unit 10, those whose similarity vector S has a norm equal to or greater than a reference value.
  • the reference value is stored in advance in the storage unit 9. For example, the reference value is 0.3.
  • the selection unit 19 selects the two pieces of the first surface data P (t, L ⁇ ) and the second surface data P (t, L ⁇ ) that have the maximum angle formed from those having the norm of the similarity vector S equal to or greater than the reference value. ) To select.
  • any of the features disclosed in the first embodiment may be adopted.
  • Embodiment 3 As described above, a wire rope used in an elevator is an example of a long body that is a detection target of the detection device.
  • the elevator car is suspended from the hoistway by, for example, a plurality of wire ropes.
  • the elevator car is suspended by a plurality of wire ropes, it is desirable that the same tension acts on any wire rope.
  • the detection device sets a plurality of long bodies as detection targets.
  • FIG. 17 is a diagram showing an example of a detection apparatus according to Embodiment 3 of the present invention.
  • 18 is a view of the long body viewed from the direction of arrow A shown in FIG.
  • FIG. 18 shows an example in which a rope 21 is arranged in parallel with the rope 1.
  • the rope 21 moves in the longitudinal direction in the same manner as the rope 1.
  • the rope 21 moves in the + y direction or the ⁇ y direction.
  • the rope 21 may move in both the + y direction and the ⁇ y direction.
  • the rope 21 includes a plurality of strands.
  • the rope 21 is formed by twisting a plurality of strands.
  • the rope 21 has the same pattern on the surface as the pattern formed on the surface of the rope 1.
  • the detection device includes a sensor head 2 and a control device 3, for example.
  • the sensor head 2 includes a light source 4 and a light receiving element 6, for example.
  • the light source 4 irradiates both the surface of the rope 1 and the surface of the rope 21 simultaneously.
  • 17 and 18 show an example in which the light source 4 irradiates laser light in the longitudinal direction of the rope 1 and the direction orthogonal to the longitudinal direction of the rope 21.
  • the light emitted from the light source 4 hits the rope 1 and the rope 21 at the same height.
  • the light emitted from the light source 4 strikes linearly from one end of the rope 1 to the other end so as to cross the rope 1.
  • the light emitted from the light source 4 strikes linearly from one end of the rope 21 to the other end so as to cross the rope 21.
  • the light receiving element 6 receives light reflected from the surface of the rope 1 among the light emitted from the light source 4.
  • the light receiving element 6 receives light reflected from the surface of the rope 21 among the light emitted from the light source 4.
  • the light receiving element 6 is disposed obliquely with respect to the direction in which the light source 4 emits light.
  • the light receiving element 6 receives light reflected obliquely at a certain angle with respect to the longitudinal direction of the rope 1 out of light from the light source 4 reflected on the surface of the rope 1.
  • the light receiving element 6 receives light reflected obliquely at a certain angle with respect to the longitudinal direction of the rope 1 among the light from the light source 4 reflected on the surface of the rope 21.
  • the light a shown in FIGS. 17 and 18 is light emitted from the light source 4 toward the rope 1.
  • the light b and the light c are light reflected at an angle received by the light receiving element 6 among the light a reflected from the surface of the rope 1.
  • the sensor head 2 acquires data representing the cross-sectional shape of the portion of the rope 1 that has been irradiated with light from the light source 4 as first surface data.
  • the light g shown in FIGS. 17 and 18 is light emitted from the light source 4 toward the rope 21.
  • the light h and the light i are light reflected at an angle received by the light receiving element 6 out of the light g reflected on the surface of the rope 21.
  • the sensor head 2 acquires data indicating a cross-sectional shape of a portion of the rope 21 that has been irradiated with light from the light source 4 as second surface data.
  • FIG. 19 is a diagram illustrating a method of processing a received light image acquired by the light receiving element 6.
  • the upper part of FIG. 19 shows a received light image of the light receiving element 6.
  • the lower part of FIG. 19 shows the first surface data P3 and the second surface data P4 converted from the light reception image of the light receiving element 6.
  • the horizontal axis in the lower part of FIG. 19 indicates that the first surface data P3 and the second surface data P4 each include a plurality of data in the x direction.
  • the number of data included in the surface data is arbitrarily determined.
  • FIG. 20 is a diagram illustrating an example of the control device 3.
  • the control device 3 includes a storage unit 9, a data processing unit 10, a similarity calculation unit 11, a phase calculation unit 12, and an abnormality detection unit 14, for example.
  • the control device 3 may not include the data processing unit 10.
  • the control device 3 may further include an invalid unit 17 and an abnormality detection unit 18.
  • the first reference data Ref1 and the second reference data Ref2 are stored in the storage unit 9.
  • the first reference data Ref1 can be expressed as a matrix of n rows and 1 column.
  • the second reference data Ref2 can be expressed as a matrix of n rows and 1 column.
  • the data processing unit 10 processes the first surface data received from the sensor head 2, for example, and outputs the processed data as final first surface data.
  • the data processing unit 10 processes the second surface data received from the sensor head 2 and outputs the processed data as final second surface data.
  • the similarity calculation unit 11 calculates the similarity between the surface data and the reference data. For example, the similarity calculation unit 11 calculates the first correlation coefficient ⁇ 1 (t, L1 (P3)) between the first surface data P3 (t, L1) output from the data processing unit 10 and the first reference data Ref1. Calculated as similarity. The similarity calculation unit 11 uses the correlation coefficient ⁇ 2 (t, L1 (P3)) between the first surface data P3 (t, L1) and the second reference data Ref2 output from the data processing unit 10 as the second similarity.
  • the similarity calculation unit 11 uses the correlation coefficient ⁇ 1 (t, L1 (P4)) between the second surface data P4 (t, L1) output from the data processing unit 10 and the first reference data Ref1 as the third similarity.
  • the similarity calculation unit 11 uses the correlation coefficient ⁇ 2 (t, L1 (P4)) between the second surface data P4 (t, L1) output from the data processing unit 10 and the second reference data Ref2 as the fourth similarity.
  • FIG. 21 is a diagram for explaining the function of the phase calculation unit 12.
  • the phase calculation unit 12 calculates the deviation angle of the similarity vector S as the phase ⁇ .
  • the phase calculation unit 12 calculates the phase ⁇ 3 (t, L1) of the similarity vector S3 (t, L1) related to the first surface data.
  • the similarity vector S3 (t, L1) has the correlation coefficient ⁇ 1 (t, L1 (P3)) and the correlation coefficient ⁇ 2 (t, L1 (P3)) calculated by the similarity calculation unit 11 as elements. Is a vector.
  • the phase ⁇ 3 (t, L1) is a deviation angle of the similarity vector S3 (t, L1).
  • the phase calculation unit 12 calculates the phase ⁇ 4 (t, L1) of the similarity vector S4 (t, L1) related to the second surface data.
  • the similarity vector S4 (t, L1) has the correlation coefficient ⁇ 1 (t, L1 (P4)) and the correlation coefficient ⁇ 2 (t, L1 (P4)) calculated by the similarity calculation unit 11 as elements. Is a vector.
  • the phase ⁇ 4 (t, L1) is a deviation angle of the similarity vector S4 (t, L1).
  • the speed at which the rope 1 moves and the speed at which the rope 21 moves are the same. If the strand pitch of the rope 1 and the strand pitch of the rope 21 are the same, the angle formed by the similarity vector S3 (t, L1) and the similarity vector S4 (t, L1) is constant regardless of the speed. Become.
  • the angle formed by the similarity vector S3 (t, L1) and the similarity vector S4 (t, L1) is the difference between the phase ⁇ 4 (t, L1) and the phase ⁇ 3 (t, L1), that is, the phase difference.
  • the abnormality detection unit 14 has an abnormality in the rope 1 or the rope 21 based on the phase ⁇ 4 (t, L1) and the phase ⁇ 3 (t, L1) calculated by the phase calculation unit 12. Detect what happened. For example, the abnormality detection unit 14 detects a period abnormality of the pattern formed on the surface of the rope 1 or the pattern formed on the surface of the rope 21.
  • the storage unit 9 stores in advance a reference range for determining that the pattern cycle is normal. If the difference between the phase ⁇ 4 (t, L1) and the phase ⁇ 3 (t, L1) is within the reference range, the abnormality detection unit 14 indicates that there is no pitch abnormality in both the rope 1 and the rope 21. judge. If the difference between the phase ⁇ 4 (t, L1) and the phase ⁇ 3 (t, L1) is not within the reference range, the abnormality detection unit 14 generates a pitch abnormality in either the rope 1 or the rope 21. It is determined that
  • the detection device can target a plurality of long bodies. In the example shown in the present embodiment, it can be detected that an abnormality has occurred even when the moving speeds of the rope 1 and the rope 21 are fluctuating.
  • the abnormality detection unit 18 when the control device 3 further includes the abnormality detection unit 18, the abnormality detection unit 18 has an abnormality in the pattern of the rope 1 based on the norm of the similarity vector S3 (t, L1). Detect that. For example, if the norm of the similarity vector S3 (t, L1) is out of the normal range, the abnormality detection unit 18 detects that an abnormality has occurred in the pattern of the rope 1. Further, the abnormality detection unit 18 detects that an abnormality has occurred in the pattern of the rope 21 based on the norm of the similarity vector S4 (t, L1). For example, if the norm of the similarity vector S4 (t, L1) is out of the normal range, the abnormality detection unit 18 detects that an abnormality has occurred in the pattern of the rope 21.
  • the control device 3 further includes a period calculation unit 13, a velocity calculation unit 15, and a position calculation unit 16 in the example shown in the present embodiment. Also good.
  • the sensor head 2 includes a light source 4, a light source 5, a light receiving element 6, and a light receiving element 7, for example.
  • the light source 4 irradiates the surface of the rope 1 with light.
  • the light receiving element 6 receives light reflected from the surface of the rope 1 among the light irradiated from the light source 4.
  • the light source 5 irradiates the surface of the rope 21 with light.
  • the light emitted from the light source 5 strikes the rope 21 at a position away from the position where the light from the light source 4 strikes the rope 1 by a certain distance in the y-axis direction.
  • the light receiving element 7 receives light reflected from the surface of the rope 21 among the light emitted from the light source 5.
  • the sensor head 2 may include a camera 20.
  • the speed calculation unit 15 calculates the moving speeds of the rope 1 and the rope 21 based on the phase ⁇ (t, L1) and the phase ⁇ (t, L2) calculated by the phase calculation unit 12.
  • L ⁇ b> 2 indicates a height at which the light from the light source 5 hits the rope 21.
  • the position calculation unit 16 calculates the position of the detected abnormality on the rope 1 or the position on the rope 21 based on the moving distance when the abnormality is detected by the abnormality detection unit 14.
  • any of the features disclosed in the first or second embodiment may be employed.
  • Embodiment 4 An elevator to which the present detection apparatus can be applied is provided with a governor for detecting the speed of the car.
  • the speed governor includes, for example, a speed control rope, a speed control sheave, and an encoder.
  • the speed control rope is wound around the speed control sheave and moves in conjunction with the elevator car. That is, when the car moves, the governing rope moves. Further, when the speed control rope moves, the speed control sheave rotates.
  • the encoder outputs a rotation signal corresponding to the rotation direction and rotation angle of the governing sheave. The rotation signal output from the encoder is used to control the car.
  • the speed calculation unit 15 calculates the moving speed V of the rope 1. If the elevator car is suspended by the rope 1, the moving speed V of the rope 1 matches the moving speed of the car. For this reason, in the elevator, the speed of the car may be detected using the speed calculation unit 15 instead of the governor. In such a case, the elevator may not have a governor. In the elevator, the speed of the car may be detected using the speed calculator 15 together with the speed governor.
  • a detection error may occur due to a slip generated between a governor rope and a governor sheave.
  • a detection error may occur due to wear of the governor sheave. If it is this detection apparatus, acquisition of surface data can be performed without contact. For this reason, the speed of the car can be detected with high accuracy. Furthermore, if it is not necessary to provide a governor, the construction of the elevator can be simplified.
  • FIG. 22 is a diagram illustrating an example of a hardware configuration of the control device 3.
  • the control device 3 includes a processing circuit including, for example, a processor 22 and a memory 23 as hardware resources.
  • the functions of the storage unit 9 are realized by the memory 23.
  • the control device 3 executes the program stored in the memory 23 by the processor 22, thereby realizing the functions of the units indicated by reference numerals 10 to 19.
  • the processor 22 is also called a CPU (Central Processing Unit), a central processing unit, a processing unit, an arithmetic unit, a microprocessor, a microcomputer, or a DSP.
  • a semiconductor memory a magnetic disk, a flexible disk, an optical disk, a compact disk, a mini disk, or a DVD may be employed.
  • Semiconductor memories that can be used include RAM, ROM, flash memory, EPROM, EEPROM, and the like.
  • control device 3 may be realized by hardware.
  • hardware for realizing the functions of the control device 3 a single circuit, a composite circuit, a programmed processor, a parallel programmed processor, an ASIC, an FPGA, or a combination thereof may be employed.
  • the detection apparatus according to the present invention can be applied to an apparatus for detecting a long body having a periodic pattern on the surface.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Spinning Or Twisting Of Yarns (AREA)

Abstract

位相算出部（１２）は、類似度算出部（１１）によって算出された第１類似度及び第２類似度を要素とする第１類似度ベクトルの偏角を第１位相として算出する。位相算出部（１２）は、類似度算出部（１１）によって算出された第３類似度及び第４類似度を要素とする第２類似度ベクトルの偏角を第２位相として算出する。周期算出部（１３）は、位相算出部（１２）によって算出された第１位相及び第２位相に基づいて、長尺体に形成された模様の周期を算出する。異常検出部（１４）は、周期算出部（１３）によって算出された周期に基づいて、長尺体の異常を検出する。

Description

検出装置
　この発明は、長尺体を検出対象とする検出装置に関する。
　特許文献１に、ロープを検査する装置が記載されている。特許文献１に記載された装置は、光源と受光素子とを備える。光源と受光素子との間にロープが配置される。特許文献１に記載された装置では、受光素子が受けた光量に基づいてロープの直径が算出される。算出した直径のピーク値の間隔をストランドの間隔に一致させることにより、ロープの位置を算出する。
国際公開第２０１１／１０８１７３号
　特許文献１に記載された装置では、ロープの移動速度が変動していると、ロープの移動速度が変動しているのかロープのストランドピッチが変動しているのかを区別することができない。即ち、特許文献１に記載された装置で採用されている検出方法では、ロープの移動速度が変動していると、ロープに発生した異常、例えばピッチ異常を検出することができなかった。
　この発明は、上述のような課題を解決するためになされた。この発明の目的は、長尺体の移動速度が変動している場合でも、長尺体の異常を検出することができる検出装置を提供することである。
　この発明に係る検出装置は、表面に周期的な模様を有する長尺体の第１表面データ及び第２表面データを取得するデータ取得手段と、第１リファレンスデータ及び第２リファレンスデータを記憶する記憶手段と、データ取得手段によって取得された第１表面データと第１リファレンスデータの第１類似度、データ取得手段によって取得された第１表面データと第２リファレンスデータの第２類似度、データ取得手段によって取得された第２表面データと第１リファレンスデータの第３類似度、及びデータ取得手段によって取得された第２表面データと第２リファレンスデータの第４類似度を算出する類似度算出手段と、類似度算出手段によって算出された第１類似度及び第２類似度を要素とする第１類似度ベクトルの偏角を第１位相として算出し、類似度算出手段によって算出された第３類似度及び第４類似度を要素とする第２類似度ベクトルの偏角を第２位相として算出する位相算出手段と、位相算出手段によって算出された第１位相及び第２位相に基づいて、長尺体に形成された模様の周期を算出する周期算出手段と、周期算出手段によって算出された周期に基づいて、長尺体の異常を検出する第１異常検出手段と、を備える。
　この発明に係る検出装置は、表面に周期的な模様を有する長尺体の複数の表面データを取得するデータ取得手段と、第１リファレンスデータ及び第２リファレンスデータを記憶する記憶手段と、データ取得手段によって取得された表面データの中から第１表面データ及び第２表面データを選択する選択手段と、選択手段によって選択された第１表面データと第１リファレンスデータの第１類似度、選択手段によって選択された第１表面データと第２リファレンスデータの第２類似度、選択手段によって選択された第２表面データと第１リファレンスデータの第３類似度、及び選択手段によって選択された第２表面データと第２リファレンスデータの第４類似度を算出する類似度算出手段と、類似度算出手段によって算出された第１類似度及び第２類似度を要素とする第１類似度ベクトルの偏角を第１位相として算出し、類似度算出手段によって算出された第３類似度及び第４類似度を要素とする第２類似度ベクトルの偏角を第２位相として算出する位相算出手段と、位相算出手段によって算出された第１位相及び第２位相に基づいて、長尺体に形成された模様の周期を算出する周期算出手段と、周期算出手段によって算出された周期に基づいて、長尺体の異常を検出する第１異常検出手段と、を備える。
　この発明に係る検出装置は、表面に周期的な模様を有する第１長尺体の第１表面データ及び第１長尺体の表面に形成された模様と同じ模様を表面に有する第２長尺体の第２表面データを取得するデータ取得手段と、第１リファレンスデータ及び第２リファレンスデータを記憶する記憶手段と、データ取得手段によって取得された第１表面データと第１リファレンスデータの第１類似度、データ取得手段によって取得された第１表面データと第２リファレンスデータの第２類似度、データ取得手段によって取得された第２表面データと第１リファレンスデータの第３類似度、及びデータ取得手段によって取得された第２表面データと第２リファレンスデータの第４類似度を算出する類似度算出手段と、類似度算出手段によって算出された第１類似度及び第２類似度を要素とする第１類似度ベクトルの偏角を第１位相として算出し、類似度算出手段によって算出された第３類似度及び第４類似度を要素とする第２類似度ベクトルの偏角を第２位相として算出する位相算出手段と、位相算出手段によって算出された第１位相及び第２位相に基づいて、第１長尺体又は第２長尺体に異常が発生したことを検出する第１異常検出手段と、を備える。
　この発明に係る検出装置は、例えば類似度算出手段、位相算出手段、周期算出手段及び第１異常検出手段を備える。位相算出手段は、第１類似度ベクトルの偏角を第１位相として算出し、第２類似度ベクトルの偏角を第２位相として算出する。周期算出手段は、位相算出手段によって算出された第１位相及び第２位相に基づいて、長尺体に形成された模様の周期を算出する。第１異常検出手段は、周期算出手段によって算出された周期に基づいて長尺体の異常を検出する。この発明に係る検出装置であれば、長尺体の移動速度が変動している場合でも、長尺体の異常を検出することができる。
この発明の実施の形態１における検出装置の例を示す図である。 図１に示す矢印Ａの方向から長尺体を見た図である。 受光素子によって取得された受光画像の処理方法を示す図である。 制御装置の例を示す図である。 データ処理部の機能を説明するための図である。 リファレンスデータの例を示す図である。 位相算出部の機能を説明するための図である。 この発明の実施の形態１における検出装置の動作例を示すフローチャートである。 センサヘッドの他の例を説明するための図である。 受光素子によって取得された受光画像の処理方法を示す図である。 センサヘッドの他の例を説明するための図である。 センサヘッドの他の例を説明するための図である。 カメラによって撮影された画像データの処理方法を示す図である。 この発明の実施の形態２における制御装置の例を示す図である。 この発明の実施の形態２における検出装置の動作例を示すフローチャートである。 選択部の機能を説明するための図である。 この発明の実施の形態３における検出装置の例を示す図である。 図１７に示す矢印Ａの方向から長尺体を見た図である。 受光素子によって取得された受光画像の処理方法を示す図である。 制御装置の例を示す図である。 位相算出部の機能を説明するための図である。 制御装置のハードウェア構成の例を示す図である。
　添付の図面を参照し、本発明を説明する。重複する説明は、適宜簡略化或いは省略する。各図において、同一の符号は同一の部分又は相当する部分を示す。
実施の形態１．
　図１は、この発明の実施の形態１における検出装置の例を示す図である。検出装置は、長尺体の異常を検出するための装置である。長尺体には、例えばロープ１が含まれる。図２は、図１に示す矢印Ａの方向から長尺体を見た図である。
　説明を容易にするため、図１及び図２に示すように、ｘ軸、ｙ軸及びｚ軸を設定する。ｙ軸は、長尺体の長手の方向を向く軸である。ｘ軸は、ｙ軸及びｚ軸に直交する。ｚ軸は、ｙ軸及びｘ軸に直交する。ｘ軸、ｙ軸及びｚ軸は、３次元空間上での座標を表すために設定された軸である。図２は、＋ｚ方向から長尺体を見た図に相当する。
　長尺体は、長手の方向に移動する。例えば、ロープ１は＋ｙ方向或いは－ｙ方向に移動する。このように移動するロープ１の例として、エレベーターで使用されるワイヤロープが挙げられる。ロープ１は、＋ｙ方向及び－ｙ方向の双方に移動しても良い。なお、検出装置が検出対象とする長尺体は、ロープ１に限定されない。
　ロープ１は、複数のストランドを備える。ロープ１は、複数のストランドが縒り合わされることによって形成される。このため、ロープ１は、表面に周期的な模様を有する。本検出装置が異常を検出する対象は、表面に周期的な模様を有する長尺体である。「模様」には、例えば形状、図形、色及び色の濃淡が含まれる。図１及び図２は、８本のストランドが縒り合わされることによってロープ１が形成される例を示す。ロープ１の表面には、複数のストランドが縒り合わされることによって形成される凹凸が規則的に並んでいる。理想的なロープ１の断面形状は、縒りピッチをストランドの数で割った距離毎に同じになる。上記断面とは、ロープ１の長手の方向と直交する方向の断面である。縒りピッチをストランドの数で割った距離は、ストランドピッチ、即ち模様の周期である。
　本実施の形態に示す例では、検出装置は、長尺体に形成された模様の周期を算出し、異常の有無を判定する。検出装置は、例えばセンサヘッド２と制御装置３とを備える。
　センサヘッド２は、長尺体の表面データを取得する手段の一例である。「表面データ」は、長尺体の表面の模様に関するデータである。本実施の形態に示す例では、センサヘッド２は、長尺体の２箇所の表面データを同時に取得する。例えば、センサヘッド２は、ロープ１のうち第１位置を通過する部分の表面に形成された凹凸を表すデータを第１表面データとして取得する。同時に、センサヘッド２は、ロープ１のうち第２位置を通過する部分の表面に形成された凹凸を表すデータを第２表面データとして取得する。第２位置は、第１位置とは異なる位置である。例えば、第２位置は、第１位置からｙ軸方向に一定距離だけ離れた位置である。図１は、センサヘッド２が光学式のプロファイル測定器である例を示す。センサヘッド２は、例えば光源４、光源５、受光素子６及び受光素子７を備える。
　光源４は、ロープ１の表面に光を照射する。図１及び図２は、光源４がロープ１の長手の方向と直交する方向にレーザ光を照射する例を示す。光源４から照射された光は、ロープ１のうち第１位置を通過する部分の表面に当たる。図１及び図２に示す例では、光源４から照射された光は、ロープ１を横断するようにロープ１の一側の端から他側の端にかけて直線状に当たる。
　光源５は、ロープ１の表面に光を照射する。光源５は、光源４から照射される光に対して平行に光を照射する。光源５が光を照射するタイミングは、光源４が光を照射するタイミングと同じである。図１及び図２は、光源５がロープ１の長手の方向と直交する方向にレーザ光を照射する例を示す。光源５から照射された光は、ロープ１のうち第２位置を通過する部分の表面に当たる。即ち、光源５から照射された光は、光源４からの光がロープ１に当たる位置からｙ軸方向に一定距離だけ離れた位置でロープ１に当たる。図１及び図２に示す例では、光源５から照射された光は、ロープ１を横断するようにロープ１の一側の端から他側の端にかけて直線状に当たる。
　受光素子６は、光源４から照射された光のうちロープ１の表面で反射した光を受光する。受光素子６は、光源４が光を照射する方向に対して斜めに配置される。受光素子６は、ロープ１の表面で反射した光源４からの光のうち、ロープ１の長手の方向に対して一定の角度で斜めに反射した光を受光する。
　受光素子７は、光源５から照射された光のうちロープ１の表面で反射した光を受光する。受光素子７は、光源５が光を照射する方向に対して斜めに配置される。受光素子７は、ロープ１の表面で反射した光源５からの光のうち、ロープ１の長手の方向に対して一定の角度で斜めに反射した光を受光する。例えば、受光素子７は、ロープ１の表面において受光素子６が受光する光と同じ角度で反射した光を受光する。
　図１及び図２に示す光ａは、光源４からロープ１に向けて照射された光である。例えば、光ａはｙ＝Ｌ１でロープ１の表面に当たる。光ｂ及び光ｃは、ロープ１の表面で反射した光ａのうち、受光素子６によって受光される角度で反射した光である。光ｂは、ストランドの最も外側に膨らんだ部分で反射した光である。光ｃは、隣り合うストランドによって形成された溝の部分で反射した光である。受光素子６が光ｂ及び光ｃ等を受光することにより、センサヘッド２は、光源４からの光が当たった部分の断面形状を表すデータを第１表面データとして取得する。
　図１及び図２に示す光ｄは、光源５からロープ１に照射された光である。例えば、光ｄはｙ＝Ｌ２でロープ１の表面に当たる。光ｅ及び光ｆは、ロープ１の表面で反射した光ｄのうち、受光素子７によって受光される角度で反射した光である。光ｅは、ストランドの最も外側に膨らんだ部分で反射した光である。光ｆは、隣り合うストランドによって形成された溝の部分で反射した光である。受光素子７が光ｅ及び光ｆ等を受光することにより、センサヘッド２は、光源５からの光が当たった部分の断面形状を示すデータを第２表面データとして取得する。
　図３は、受光素子６及び受光素子７によって取得された受光画像の処理方法を示す図である。図３の上段は、受光素子６の受光画像と受光素子７の受光画像とを示す。図３の下段は、受光素子６の受光画像から変換された第１表面データＰ１と受光素子７の受光画像から変換された第２表面データＰ２とを示す。図３の下段の横軸は、第１表面データＰ１及び第２表面データＰ２がｘ方向にそれぞれ複数個のデータを含むことを示す。表面データが含むデータの個数は任意に決定される。
　本実施の形態に示す例では、制御装置３は、センサヘッド２によって取得された第１表面データ及び第２表面データに基づいて、ロープ１に発生したピッチ異常を検出する。即ち、制御装置３は、長尺体の表面に形成された模様の周期異常を検出する。図１は、制御装置３が信号線８によってセンサヘッド２に接続される例を示す。センサヘッド２と制御装置３とを同じ筐体内に配置しても良い。制御装置３が有する機能の一部をセンサヘッド２が備えても良い。
　図４は、制御装置３の例を示す図である。制御装置３は、例えば記憶部９、データ処理部１０、類似度算出部１１、位相算出部１２、周期算出部１３及び異常検出部１４を備える。
　記憶部９に２つのリファレンスデータが記憶される。以下の説明では、記憶部９に記憶された一方のリファレンスデータを第１リファレンスデータと表記する。記憶部９に記憶されたもう一方のリファレンスデータを第２リファレンスデータと表記する。
　データ処理部１０は、センサヘッド２から受信した第１表面データを加工し、加工したデータを最終的な第１表面データとして出力する。データ処理部１０は、センサヘッド２から受信した第２表面データを加工し、加工したデータを最終的な第２表面データとして出力する。本実施の形態に示す例では、データ処理部１０は、長尺体の表面データを取得する手段の一部を構成する。ロープ１のピッチ異常を検出する上では、センサヘッド２によって取得された表面データから特定周波数成分を除去したデータを最終的な表面データとして採用することが望ましい。このようなデータ処理を行うことにより、ロープ１が表面に有する周期的な模様の成分を強調することができる。
　図５は、データ処理部１０の機能を説明するための図である。図５は、データ処理部１０によるデータ処理が行われた後の第１表面データＰ１及び第２表面データＰ２を示す。データ処理部１０は、例えば、図３に示す第１表面データＰ１に対して低周波成分除去処理を行うことによって図５に示す第１表面データＰ１を取得する。データ処理部１０は、例えば、図３に示す第２表面データＰ２に対して低周波成分除去処理を行うことによって図５に示す第２表面データＰ２を取得する。図５に示す例では、図３に示す第１表面データＰ１及び第２表面データＰ２から、ロープ１の径の影響が除去されている。
　データ処理部１０の機能は、センサヘッド２に備えられても良い。また、長尺体の表面データを取得する手段は、データ処理部１０の機能を備えていなくても良い。本実施の形態に示す例では、データ処理部１０からの出力が長尺体の表面データを取得する手段からの最終的な出力となる。データ処理部１０が備えられていなければ、センサヘッド２からの出力が長尺体の表面データを取得する手段からの最終的な出力となる。
　光源４及び光源５からは同時に光が出力される。時刻ｔに位置Ｌ１で取得された第１表面データＰ１は、Ｐ（ｔ，Ｌ１）と表記できる。同時刻ｔに位置Ｌ２で取得された第２表面データＰ２は、Ｐ（ｔ，Ｌ２）と表記できる。第１表面データＰ（ｔ，Ｌ１）及び第２表面データＰ（ｔ，Ｌ２）は、下記のようにｎ行１列の行列で表記できる。ｎは、例えば２以上の整数である。図５は、ｎ＝１５０である例を示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
　図６は、リファレンスデータの例を示す図である。上述したように、ロープ１は、表面に周期的な模様を有する。例えば、ロープ１の表面に形成された模様の周期と同じ周期を有する正弦波が第１リファレンスデータとして記憶部９に記憶される。ロープ１の表面に形成された模様の周期と同じ周期を有する余弦波が第２リファレンスデータとして記憶部９に記憶される。第１リファレンスデータＲｅｆ１及び第２リファレンスデータＲｅｆ２は、下記のようにｎ行１列の行列で表記できる。図６は、ｎ＝１５０である例を示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
　本実施の形態では、第１表面データＰ（ｔ，Ｌ１）、第２表面データＰ（ｔ，Ｌ２）、第１リファレンスデータＲｅｆ１及び第２リファレンスデータＲｅｆ２が多次元のベクトルデータ、即ち要素数ｎのベクトルである例について説明する。第１リファレンスデータＲｅｆ１と第２リファレンスデータＲｅｆ２との内積は、図６に示す例のように０であることが好ましい。図６に示す第１リファレンスデータＲｅｆ１と第２リファレンスデータＲｅｆ２は直交関係にある正弦波である。但し、第１リファレンスデータＲｅｆ１と第２リファレンスデータＲｅｆ２との内積は０でなくても良い。第１リファレンスデータＲｅｆ１及び第２リファレンスデータＲｅｆ２は、図６に示す例に限定されない。
　類似度算出部１１は、表面データとリファレンスデータとの類似度を算出する。例えば、類似度算出部１１は、第１類似度、第２類似度、第３類似度及び第４類似度を算出する。第１類似度は、データ処理部１０から出力された第１表面データと記憶部９に記憶された第１リファレンスデータとの類似度である。第２類似度は、データ処理部１０から出力された第１表面データと記憶部９に記憶された第２リファレンスデータとの類似度である。第３類似度は、データ処理部１０から出力された第２表面データと記憶部９に記憶された第１リファレンスデータとの類似度である。第４類似度は、データ処理部１０から出力された第２表面データと記憶部９に記憶された第２リファレンスデータとの類似度である。
　例えば、類似度算出部１１は、第１表面データＰ（ｔ，Ｌ１）と第１リファレンスデータＲｅｆ１との相関係数ρ１（ｔ，Ｌ１）を第１類似度として算出する。類似度算出部１１は、第１表面データＰ（ｔ，Ｌ１）と第２リファレンスデータＲｅｆ２との相関係数ρ２（ｔ，Ｌ１）を第２類似度として算出する。類似度算出部１１は、第２表面データＰ（ｔ，Ｌ２）と第１リファレンスデータＲｅｆ１との相関係数ρ１（ｔ，Ｌ２）を第３類似度として算出する。類似度算出部１１は、第２表面データＰ（ｔ，Ｌ２）と第２リファレンスデータＲｅｆ２との相関係数ρ２（ｔ，Ｌ２）を第４類似度として算出する。
　図７は、位相算出部１２の機能を説明するための図である。位相算出部１２は、類似度ベクトルＳの偏角を位相θとして算出する。本実施の形態に示す例では、位相算出部１２は、第１表面データに関する類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）の位相θ（ｔ，Ｌ１）を算出する。類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）は、類似度算出部１１によって算出された相関係数ρ１（ｔ，Ｌ１）と相関係数ρ２（ｔ，Ｌ１）とを要素とするベクトルである。位相θ（ｔ，Ｌ１）は、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）の偏角である。また、位相算出部１２は、第２表面データに関する類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ２）の位相θ（ｔ，Ｌ２）を算出する。類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ２）は、類似度算出部１１によって算出された相関係数ρ１（ｔ，Ｌ２）と相関係数ρ２（ｔ，Ｌ２）とを要素とするベクトルである。位相θ（ｔ，Ｌ２）は、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ２）の偏角である。
　図７は、第１リファレンスデータＲｅｆ１との類似度を横軸とし、第２リファレンスデータＲｅｆ２との類似度を縦軸とした直交平面上に、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）及び類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ２）をプロットした例を示す。例えば、ロープ１が－ｙ方向に移動すると、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）及び類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ２）は、図７に示すＢ方向に回転する。類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）の軌跡は、半径が最大で１となる円状である。同様に、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ２）の軌跡は、半径が最大で１となる円状である。ロープ１が１ストランドピッチ分の距離だけ移動すると、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）及び類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ２）は１回転する。
　周期算出部１３は、ロープ１の表面に形成された模様の周期を算出する。本実施の形態に示す例では、上述したように、上記周期はロープ１のストランドピッチに一致する。図７に示すように、類似度ベクトルＳの始点は原点である。類似度ベクトルＳの終点は、その類似度ベクトルの要素、即ち類似度算出部１１によって算出された２つの類似度を座標とする点である。位相θは、類似度ベクトルＳの向きを表す。周期算出部１３は、ロープ１のストランドピッチＳＰを次式によって算出できる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
　上式に示すように、周期算出部１３は、位相算出部１２によって算出された位相θ（ｔ，Ｌ１）と位相θ（ｔ，Ｌ２）とに基づいて、ストランドピッチＳＰを算出する。例えば、周期算出部１３は、ｙ軸方向の位置変化に対応した位相の位置的変化率を算出することにより、ストランドピッチＳＰを求める。
　異常検出部１４は、ロープ１に発生した異常を検出する。異常検出部１４は、例えば周期算出部１３によって算出された周期に基づいて、長尺体に形成された模様の周期異常を検出する。例えば、記憶部９に、模様の周期が正常であることを判定するための基準範囲が予め記憶される。異常検出部１４は、周期算出部１３によって算出された周期が上記基準範囲に入っていれば、ロープ１にピッチ異常が発生していないと判定する。異常検出部１４は、周期算出部１３によって算出された周期が上記基準範囲に入っていなければ、ロープ１にピッチ異常が発生していると判定する。
　図８は、この発明の実施の形態１における検出装置の動作例を示すフローチャートである。図８は、上述した処理フローを示す。異常検出部１４によってピッチ異常が検出されると、制御装置３から警報を発しても良い。
　本実施の形態に示す例であれば、ロープ１の移動速度が変動している場合でも、ロープ１の異常を検出することができる。本検出装置は、耐ノイズ性が高いといった利点もある。
　以下に、本検出装置が備えることが可能な他の機能について説明する。
　制御装置３は、速度算出部１５及び位置算出部１６を更に備えても良い。速度算出部１５は、ロープ１が移動する速度を算出する。速度算出部１５は、時刻ｔにおけるロープ１の移動速度Ｖを次式によって算出できる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
　図８に示す動作は、例えば一定の周期で繰り返し行われる。上式に示すΔｔは、表面データを取得する時間間隔である。上式に示すように、速度算出部１５は、位相算出部１２によって算出された位相θ（ｔ，Ｌ１）と位相θ（ｔ，Ｌ２）とに基づいて、ロープ１の移動速度を算出する。例えば、速度算出部１５は、位相θ（ｔ，Ｌ１）或いは位相θ（ｔ，Ｌ２）の時間経過に応じた変化を算出することにより、ロープ１の移動速度を求める。
　位置算出部１６は、ロープ１に発生した異常の位置を算出する。位置算出部１６は、速度算出部１５によって算出されたロープ１の移動速度Ｖに基づいて、上記位置の算出を行う。例えば、位置算出部１６は、速度算出部１５によって算出されたロープ１の移動速度Ｖを積分することにより、表面データの取得開始位置からロープ１がどれだけ移動したのかを特定できる。位置算出部１６は、異常検出部１４によって異常が検出された時の移動距離に基づいて、検出された異常のロープ１上の位置を算出する。上記算出方法であれば、ロープ１のストランドピッチが未知であったり変動したりしても、位置の算出が可能である。
　制御装置３は、無効部１７を更に備えても良い。無効部１７は、異常検出部１４による異常検出を無効にする。図７に示すように、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）の軌跡は円状である。複数のストランドが縒り合わされることによって形成される凹凸がロープ１の表面にきれいに並んでいれば、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）の軌跡は、原点を中心とした同じような円を描き続ける。
　一方、制御装置３が受け取る信号に無視できないような大きなノイズが乗る等して、信号伝送に異常が発生すると、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）の軌跡は原点に近づくように変化する。このため、類似ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）のノルムに対して予め正常範囲を設定しておけば、取得された表面データの信頼性が低くなったことを検出できる。上記正常範囲は、例えば０．３から１に設定される。同様のことは、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ２）に関しても言える。
　例えば、無効部１７は、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）のノルムに基づいて、異常検出部１４が異常を検出する機能を無効にする。無効部１７は、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）のノルムが上記正常範囲から外れていれば、異常検出部１４によって異常が検出されないようにする。無効部１７は、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ２）のノルムに基づいて、異常検出部１４が異常を検出する機能を無効にしても良い。例えば、無効部１７は、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ２）のノルムが上記正常範囲から外れていれば、異常検出部１４によって異常が検出されないようにする。無効部１７は、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）のノルム及び類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ２）のノルムの双方が上記正常範囲から外れている場合に、異常検出部１４による異常検出を無効にしても良い。
　無効部１７によって異常検出部１４による異常検出機能が無効にされている間、位置算出部１６は、直前に算出されたストランドピッチＳＰを用いてロープ１の移動距離を算出しても良い。これにより、適切な補間が可能となる。
　制御装置３は、異常検出部１８を更に備えても良い。異常検出部１８は、異常検出部１４が検出する異常とは異なるロープ１の異常を検出する。例えば、異常検出部１８は、ロープ１の表面に形成された模様の異常を検出する。
　上述したように、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）の軌跡は円状である。信号伝送に異常が発生していない場合、複数のストランドが縒り合わされることによって形成される凹凸がロープ１の表面にきれいに並んでいれば、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）の軌跡は、原点を中心とした同じような円を描き続ける。一方、ストランドの間隔が不均一になる等して、縒りに不良が発生すると、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）の軌跡は原点に近づくように変化する。このため、類似ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）のノルムに対して予め正常範囲を設定しておけば、ロープ１の表面に形成された模様に異常が発生していることを検出できる。上記正常範囲は、例えば０．６から１に設定される。同様のことは、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ２）に関しても言える。
　例えば、異常検出部１８は、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）のノルムに基づいて、ロープ１の模様に異常が発生したことを検出する。異常検出部１８は、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）のノルムが上記正常範囲から外れていれば、ロープ１の模様に異常が発生したことを検出する。本実施の形態に示す例であれば、異常検出部１８は、ロープ１の形状異常を検出する。異常検出部１８は、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ２）のノルムに基づいて、ロープ１の模様に異常が発生したことを検出しても良い。例えば、異常検出部１８は、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ２）のノルムが上記正常範囲から外れていれば、ロープ１の形状異常を検出する。異常検出部１８は、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ１）のノルム及び類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌ２）のノルムの双方が上記正常範囲から外れている場合に、ロープ１の形状異常を検出しても良い。
　異常検出部１８によって模様の異常が検出された場合に、その異常を確認できるデータを記憶部９に記憶させても良い。例えば、異常検出部１８によって模様の異常が検出されると、その異常を検出するために使用された表面データを記憶部９に記憶させる。後述するが、センサヘッド２は、表面データを取得するためにカメラを備えても良い。異常検出部１８によって模様の異常が検出された場合に、カメラによって撮影された画像データを記憶部９に記憶させても良い。
　図９は、センサヘッド２の他の例を説明するための図である。図９に示すセンサヘッド２は、例えば光源４、光源５及び受光素子６を備える。図９は、ロープ１の表面で反射した光源４からの光とロープ１の表面で反射した光源５からの光との双方を１つの受光素子６で受ける例を示す。図９に示す例では、光源５は、光源４からの光の波長とは異なる波長の光をロープ１に当てることが望ましい。
　図１０は、受光素子６によって取得された受光画像の処理方法を示す図である。図１０の上段は、受光素子６の受光画像を示す。図１０の下段は、受光素子６の受光画像から変換された第１表面データＰ１及び第２表面データＰ２を示す。図１０の下段の横軸は、第１表面データＰ１及び第２表面データＰ２がｘ方向にそれぞれ複数個のデータを含むことを示す。表面データが含むデータの個数は任意に決定される。
　図９及び図１０に示す例であれば、センサヘッド２に複数の受光素子を備える必要がない。また、光源４からの光の波長と光源５からの光の波長とが異なっていれば、表面データの抽出処理を容易に行うことができる。
　センサヘッド２は、光学式のプロファイル測定器に限定されない。図１１及び図１２は、センサヘッド２の他の例を説明するための図である。図１１及び図１２に示すセンサヘッド２は、例えばカメラ２０を備える。センサヘッド２は、カメラ２０によってロープ１の表面を撮影した画像データから得られるデータを表面データとして取得しても良い。
　カメラ２０によって撮影された画像データには、高さに関する情報が含まれない。センサヘッド２は、ロープ１の表面に付された色及び色の濃淡を表すデータを表面データとして取得しても良い。例えば、センサヘッド２は、ロープ１の表面のうちｘ１≦ｘ≦ｘｒ及びＬ１≦ｙ≦ＬＭの範囲に付された色及び色の濃淡を表すデータを取得する。このデータは、Ｍ個の表面データに相当する。センサヘッド２は、Ｍ個の表面データの中から、予め設定された２つの表面データを第１表面データ及び第２表面データとして出力する。
　図１３は、カメラ２０によって撮影された画像データの処理方法を示す図である。図１３は、ロープ１のうちｙ＝Ｌαの位置を通過する部分の表面に付された色及び色の濃淡を表すデータを第１表面データＰαとして取得する例を示す。同様に、図１３は、ロープ１のうちｙ＝Ｌβの位置を通過する部分の表面に付された色及び色の濃淡を表すデータを第２表面データＰβとして取得する例を示す。
実施の形態２．
　本実施の形態では、ストランドピッチＳＰの算出精度を向上させるための例について説明する。本実施の形態における検出装置は、例えば図１１に示す例と同様である。検出装置は、例えばセンサヘッド２と制御装置３とを備える。センサヘッド２は、例えばカメラ２０を備える。
　センサヘッド２は、例えば、ロープ１の表面に付された色及び色の濃淡を表すデータを表面データとして取得する。センサヘッド２は、カメラ２０によって取得された画像データからＭ個の表面データを取得する。Ｍは、例えば３以上の自然数である。
　図１４は、この発明の実施の形態２における制御装置３の例を示す図である。図１４に示す例では、制御装置３は、記憶部９、データ処理部１０、選択部１９、類似度算出部１１、位相算出部１２、周期算出部１３及び異常検出部１４を備える。制御装置３は、データ処理部１０を備えなくても良い。制御装置３は、速度算出部１５、位置算出部１６、無効部１７及び異常検出部１８を更に備えても良い。
　記憶部９に、第１リファレンスデータＲｅｆ１及び第２リファレンスデータＲｅｆ２が記憶される。例えば、第１リファレンスデータＲｅｆ１はｎ行１列の行列で表記できる。第２リファレンスデータＲｅｆ２はｎ行１列の行列で表記できる。
　データ処理部１０は、センサヘッド２から受信した各表面データを、リファレンスデータと比較可能な表面データに加工する。例えば、データ処理部１０は、センサヘッド２から受信した表面データのそれぞれに対して、バイアス除去処理を行う。データ処理部１０からは、例えばバイアス除去処理が行われたＭ個の表面データＰ（ｔ，Ｌ１）、Ｐ（ｔ，Ｌ２）、・・・、Ｐ（ｔ，ＬＭ）が出力される。表面データＰ（ｔ，Ｌ１）は、ロープ１のうち時刻ｔにｙ＝Ｌ１を通過する部分の表面に付された色及び色の濃淡を表すデータである。表面データＰ（ｔ，Ｌ２）は、ロープ１のうち時刻ｔにｙ＝Ｌ２を通過する部分の表面に付された色及び色の濃淡を表すデータである。表面データＰ（ｔ，ＬＭ）は、ロープ１のうち時刻ｔにｙ＝ＬＭを通過する部分の表面に付された色及び色の濃淡を表すデータである。Ｌ１からＬＭの値は予め設定される。
　選択部１９は、データ処理部１０から出力されたＭ個の表面データの中から、予め設定された条件に基づいて、第１表面データＰ（ｔ，Ｌα）と第２表面データＰ（ｔ，Ｌβ）とを選択する。
　類似度算出部１１は、選択部１９によって選択された表面データとリファレンスデータとの類似度を算出する。即ち、類似度算出部１１は、第１類似度、第２類似度、第３類似度及び第４類似度を算出する。第１類似度は、選択部１９によって選択された第１表面データと記憶部９に記憶された第１リファレンスデータとの類似度である。第２類似度は、選択部１９によって選択された第１表面データと記憶部９に記憶された第２リファレンスデータとの類似度である。第３類似度は、選択部１９によって選択された第２表面データと記憶部９に記憶された第１リファレンスデータとの類似度である。第４類似度は、選択部１９によって選択された第２表面データと記憶部９に記憶された第２リファレンスデータとの類似度である。
　位相算出部１２の機能は実施の形態１で開示した機能と同様である。周期算出部１３の機能は実施の形態１で開示した機能と同様である。異常検出部１４の機能は実施の形態１で開示した機能と同様である。
　図１５は、この発明の実施の形態２における検出装置の動作例を示すフローチャートである。上述したように、データ処理部１０からはＭ個の表面データが出力される（Ｓ２０１）。選択部１９は、データ処理部１０から出力されたＭ個の表面データの中から、第１表面データＰ（ｔ，Ｌα）と第２表面データＰ（ｔ，Ｌβ）とを選択する（Ｓ２０２）。
　例えば、類似度算出部１１は、データ処理部１０から出力された各表面データに対し、第１リファレンスデータとの類似度及び第２リファレンスデータとの類似度を算出する。図１５は、第１リファレンスデータとの類似度として相関係数ρ１が、第２リファレンスデータとの類似度として相関係数ρ２が算出される例を示す。次に、各表面データに対し、相関係数ρ１と相関係数ρ２とを要素とする類似度ベクトルＳが算出される。更に、各表面データに対し、類似度ベクトルＳのノルムが算出される。
　選択部１９は、例えば算出された類似度ベクトルＳのノルムに基づいて、第１表面データＰ（ｔ，Ｌα）と第２表面データＰ（ｔ，Ｌβ）とを選択する。図１６は、選択部１９の機能を説明するための図である。選択部１９は、例えば、データ処理部１０から出力されたＭ個の表面データのうち、類似度ベクトルＳのノルムが１番大きいものと２番目に大きいものとを第１表面データＰ（ｔ，Ｌα）及び第２表面データＰ（ｔ，Ｌβ）として選択する。ここで、Ｌβ＞Ｌαである。
　Ｓ２０２において第１表面データＰ（ｔ，Ｌα）及び第２表面データＰ（ｔ，Ｌβ）が選択されると、図８のＳ１０３からＳ１０６に示す処理と同様の処理が行われる。図１５に示す例では、Ｓ２０２においてρ１（ｔ，Ｌα）、ρ２（ｔ，Ｌα）、ρ１（ｔ，Ｌβ）及びρ２（ｔ，Ｌβ）が既に算出されている。第１表面データＰ（ｔ，Ｌα）及び第２表面データＰ（ｔ，Ｌβ）が選択部１９によって選択されると、位相算出部１２は、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌα）の位相θ（ｔ，Ｌα）を算出する（Ｓ２０３）。類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌα）は、類似度算出部１１によって算出された相関係数ρ１（ｔ，Ｌα）と相関係数ρ２（ｔ，Ｌα）とを要素とするベクトルである。位相θ（ｔ，Ｌα）は、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌα）の偏角である。また、位相算出部１２は、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌβ）の位相θ（ｔ，Ｌβ）を算出する（Ｓ２０３）。類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌβ）は、類似度算出部１１によって算出された相関係数ρ１（ｔ，Ｌβ）と相関係数ρ２（ｔ，Ｌβ）とを要素とするベクトルである。位相θ（ｔ，Ｌβ）は、類似度ベクトルＳ（ｔ，Ｌβ）の偏角である。
　周期算出部１３は、例えば位相算出部１２によって算出された位相θ（ｔ，Ｌα）と位相θ（ｔ，Ｌβ）とに基づいて、次式からストランドピッチＳＰを算出する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000005
　異常検出部１４は、周期算出部１３によって算出された周期に基づいて、長尺体に形成された模様の周期異常を検出する。例えば、異常検出部１４は、周期算出部１３によって算出された周期が基準範囲から外れた場合に、ロープ１にピッチ異常が発生していると判定する。
　本実施の形態に示す例であれば、ロープ１の移動速度が変動している場合でも、ロープ１の異常を検出することができる。本実施の形態に示す例であれば、ストランドピッチＳＰの算出精度を向上させることができる。
　ノイズの影響を少なくするため、選択部１９は、上述した方法とは異なる方法によって第１表面データＰ（ｔ，Ｌα）と第２表面データＰ（ｔ，Ｌβ）とを選択しても良い。例えば、選択部１９は、先ず、データ処理部１０から出力されたＭ個の表面データのうち、類似度ベクトルＳのノルムが基準値以上のものを選択する。上記基準値は、記憶部９に予め記憶される。例えば、基準値は０．３である。選択部１９は、類似度ベクトルＳのノルムが基準値以上のものの中から、なす角度が最大になる２つのものを第１表面データＰ（ｔ，Ｌα）及び第２表面データＰ（ｔ，Ｌβ）として選択する。
　本実施の形態で開示しない特徴については、実施の形態１で開示された何れの特徴が採用されても良い。
実施の形態３．
　上述したように、本検出装置の検出対象となる長尺体の例として、エレベーターで使用されるワイヤロープが挙げられる。エレベーターのかごは、例えば複数本のワイヤロープによって昇降路に吊り下げられる。エレベーターのかごが複数本のワイヤロープで吊り下げられている場合、どのワイヤロープに対しても同じ張力が作用することが望ましい。
　例えば、１本のワイヤロープにのみ大きな張力が作用すると、そのワイヤロープに伸びが発生する。伸びが発生したワイヤロープでは、ストランドピッチが長くなる。即ち、当該ワイヤロープにピッチ異常が発生する。本実施の形態では、検出装置が複数本の長尺体を検出対象にする例について説明する。
　図１７は、この発明の実施の形態３における検出装置の例を示す図である。図１８は、図１７に示す矢印Ａの方向から長尺体を見た図である。図１８は、ロープ１と平行にロープ２１が配置されている例を示す。
　ロープ２１は、ロープ１と同様に、長手の方向に移動する。例えば、ロープ２１は、＋ｙ方向或いは－ｙ方向に移動する。ロープ２１は、＋ｙ方向及び－ｙ方向の双方に移動しても良い。ロープ２１は、複数のストランドを備える。ロープ２１は、複数のストランドが縒り合わされることによって形成される。ロープ２１は、ロープ１の表面に形成された模様と同じ模様を表面に有する。
　検出装置は、例えばセンサヘッド２と制御装置３とを備える。センサヘッド２は、例えば光源４及び受光素子６を備える。本実施の形態に示す例では、光源４は、ロープ１の表面及びロープ２１の表面の双方に対して同時に光を照射する。図１７及び図１８は、光源４がロープ１の長手の方向及びロープ２１の長手の方向と直交する方向にレーザ光を照射する例を示す。光源４から照射された光は、同じ高さでロープ１及びロープ２１に当たる。図１７及び図１８に示す例では、光源４から照射された光は、ロープ１を横断するようにロープ１の一側の端から他側の端にかけて直線状に当たる。同様に、光源４から照射された光は、ロープ２１を横断するようにロープ２１の一側の端から他側の端にかけて直線状に当たる。
　受光素子６は、光源４から照射された光のうちロープ１の表面で反射した光を受光する。また、受光素子６は、光源４から照射された光のうちロープ２１の表面で反射した光を受光する。受光素子６は、光源４が光を照射する方向に対して斜めに配置される。受光素子６は、ロープ１の表面で反射した光源４からの光のうち、ロープ１の長手の方向に対して一定の角度で斜めに反射した光を受光する。同様に、受光素子６は、ロープ２１の表面で反射した光源４からの光のうち、ロープ１の長手の方向に対して一定の角度で斜めに反射した光を受光する。
　図１７及び図１８に示す光ａは、光源４からロープ１に向けて照射された光である。例えば、光ａはｙ＝Ｌ１でロープ１の表面に当たる。光ｂ及び光ｃは、ロープ１の表面で反射した光ａのうち、受光素子６によって受光される角度で反射した光である。受光素子６が光ｂ及び光ｃ等を受光することにより、センサヘッド２は、ロープ１のうち光源４からの光が当たった部分の断面形状を表すデータを第１表面データとして取得する。
　同様に、図１７及び図１８に示す光ｇは、光源４からロープ２１に向けて照射された光である。例えば、光ｇはｙ＝Ｌ１でロープ２１の表面に当たる。光ｈ及び光ｉは、ロープ２１の表面で反射した光ｇのうち、受光素子６によって受光される角度で反射した光である。受光素子６が光ｈ及び光ｉ等を受光することにより、センサヘッド２は、ロープ２１のうち光源４からの光が当たった部分の断面形状を示すデータを第２表面データとして取得する。
　図１９は、受光素子６によって取得された受光画像の処理方法を示す図である。図１９の上段は、受光素子６の受光画像を示す。図１９の下段は、受光素子６の受光画像から変換された第１表面データＰ３及び第２表面データＰ４を示す。図１９の下段の横軸は、第１表面データＰ３及び第２表面データＰ４がｘ方向にそれぞれ複数個のデータを含むことを示す。表面データが含むデータの個数は任意に決定される。
　図２０は、制御装置３の例を示す図である。制御装置３は、例えば記憶部９、データ処理部１０、類似度算出部１１、位相算出部１２及び異常検出部１４を備える。制御装置３は、データ処理部１０を備えなくても良い。制御装置３は、無効部１７及び異常検出部１８を更に備えても良い。
　記憶部９に、第１リファレンスデータＲｅｆ１及び第２リファレンスデータＲｅｆ２が記憶される。例えば、第１リファレンスデータＲｅｆ１はｎ行１列の行列で表記できる。第２リファレンスデータＲｅｆ２はｎ行１列の行列で表記できる。
　データ処理部１０は、例えばセンサヘッド２から受信した第１表面データを加工し、加工したデータを最終的な第１表面データとして出力する。データ処理部１０は、例えばセンサヘッド２から受信した第２表面データを加工し、加工したデータを最終的な第２表面データとして出力する。
　類似度算出部１１は、表面データとリファレンスデータとの類似度を算出する。例えば、類似度算出部１１は、データ処理部１０から出力された第１表面データＰ３（ｔ，Ｌ１）と第１リファレンスデータＲｅｆ１との相関係数ρ１（ｔ，Ｌ１（Ｐ３））を第１類似度として算出する。類似度算出部１１は、データ処理部１０から出力された第１表面データＰ３（ｔ，Ｌ１）と第２リファレンスデータＲｅｆ２との相関係数ρ２（ｔ，Ｌ１（Ｐ３））を第２類似度として算出する。類似度算出部１１は、データ処理部１０から出力された第２表面データＰ４（ｔ，Ｌ１）と第１リファレンスデータＲｅｆ１との相関係数ρ１（ｔ，Ｌ１（Ｐ４））を第３類似度として算出する。類似度算出部１１は、データ処理部１０から出力された第２表面データＰ４（ｔ，Ｌ１）と第２リファレンスデータＲｅｆ２との相関係数ρ２（ｔ，Ｌ１（Ｐ４））を第４類似度として算出する。
　図２１は、位相算出部１２の機能を説明するための図である。位相算出部１２は、類似度ベクトルＳの偏角を位相θとして算出する。本実施の形態に示す例では、位相算出部１２は、第１表面データに関する類似度ベクトルＳ３（ｔ，Ｌ１）の位相θ３（ｔ，Ｌ１）を算出する。類似度ベクトルＳ３（ｔ，Ｌ１）は、類似度算出部１１によって算出された相関係数ρ１（ｔ，Ｌ１（Ｐ３））と相関係数ρ２（ｔ，Ｌ１（Ｐ３））とを要素とするベクトルである。位相θ３（ｔ，Ｌ１）は、類似度ベクトルＳ３（ｔ，Ｌ１）の偏角である。また、位相算出部１２は、第２表面データに関する類似度ベクトルＳ４（ｔ，Ｌ１）の位相θ４（ｔ，Ｌ１）を算出する。類似度ベクトルＳ４（ｔ，Ｌ１）は、類似度算出部１１によって算出された相関係数ρ１（ｔ，Ｌ１（Ｐ４））と相関係数ρ２（ｔ，Ｌ１（Ｐ４））とを要素とするベクトルである。位相θ４（ｔ，Ｌ１）は、類似度ベクトルＳ４（ｔ，Ｌ１）の偏角である。
　エレベーターのかごがロープ１及びロープ２１によって昇降路に吊り下げられている場合、ロープ１が移動する速度とロープ２１が移動する速度とは同じである。ロープ１のストランドピッチとロープ２１のストランドピッチとが同じであれば、類似度ベクトルＳ３（ｔ，Ｌ１）と類似度ベクトルＳ４（ｔ，Ｌ１）とがなす角度は、上記速度によらず一定になる。類似度ベクトルＳ３（ｔ，Ｌ１）と類似度ベクトルＳ４（ｔ，Ｌ１）とがなす角度は、位相θ４（ｔ，Ｌ１）と位相θ３（ｔ，Ｌ１）との差、即ち位相差である。
　本実施の形態に示す例では、異常検出部１４は、位相算出部１２によって算出された位相θ４（ｔ，Ｌ１）及び位相θ３（ｔ，Ｌ１）に基づいて、ロープ１又はロープ２１に異常が発生したことを検出する。例えば、異常検出部１４は、ロープ１の表面に形成された模様或いはロープ２１の表面に形成された模様の周期異常を検出する。例えば、記憶部９に、模様の周期が正常であることを判定するための基準範囲が予め記憶される。異常検出部１４は、位相θ４（ｔ，Ｌ１）と位相θ３（ｔ，Ｌ１）との差が上記基準範囲に入っていれば、ロープ１及びロープ２１の双方にピッチ異常が発生していないと判定する。異常検出部１４は、位相θ４（ｔ，Ｌ１）と位相θ３（ｔ，Ｌ１）との差が上記基準範囲に入っていなければ、ロープ１或いはロープ２１の何れか一方にピッチ異常が発生していると判定する。
　本実施の形態に示す例であれば、検出装置は、複数本の長尺体を検出対象とすることができる。また、本実施の形態に示す例であれば、ロープ１及びロープ２１の移動速度が変動している場合でも、異常が発生したことを検出できる。
　本実施の形態に示す例において制御装置３が異常検出部１８を更に備える場合、異常検出部１８は、類似度ベクトルＳ３（ｔ，Ｌ１）のノルムに基づいてロープ１の模様に異常が発生したことを検出する。例えば、異常検出部１８は、類似度ベクトルＳ３（ｔ，Ｌ１）のノルムが正常範囲から外れていれば、ロープ１の模様に異常が発生したことを検出する。また、異常検出部１８は、類似度ベクトルＳ４（ｔ，Ｌ１）のノルムに基づいてロープ２１の模様に異常が発生したことを検出する。例えば、異常検出部１８は、類似度ベクトルＳ４（ｔ，Ｌ１）のノルムが正常範囲から外れていれば、ロープ２１の模様に異常が発生したことを検出する。
　本実施の形態に示す例では、光源４から照射された光がロープ１及びロープ２１に同じ高さで当たる例について説明した。センサヘッド２が異なる高さの表面データを取得することができれば、本実施の形態に示す例においても、制御装置３は、周期算出部１３、速度算出部１５及び位置算出部１６を更に備えても良い。
　かかる場合、センサヘッド２は、例えば光源４、光源５、受光素子６及び受光素子７を備える。光源４は、ロープ１の表面に光を照射する。受光素子６は、光源４から照射された光のうちロープ１の表面で反射した光を受光する。光源５は、ロープ２１の表面に光を照射する。光源５から照射された光は、光源４からの光がロープ１に当たる位置からｙ軸方向に一定距離だけ離れた位置でロープ２１に当たる。受光素子７は、光源５から照射された光のうちロープ２１の表面で反射した光を受光する。センサヘッド２は、カメラ２０を備えても良い。
　また、速度算出部１５は、位相算出部１２によって算出された位相θ（ｔ，Ｌ１）と位相θ（ｔ，Ｌ２）とに基づいて、ロープ１及びロープ２１の移動速度を算出する。この例において、Ｌ２は、光源５からの光がロープ２１に当たる高さを示す。位置算出部１６は、異常検出部１４によって異常が検出された時の移動距離に基づいて、検出された異常のロープ１上の位置或いはロープ２１上の位置を算出する。
　本実施の形態で開示しない特徴については、実施の形態１又は２で開示された何れの特徴が採用されても良い。
実施の形態４．
　本検出装置が適用可能なエレベーターには、かごの速度を検出するために調速機が備えられる。調速機は、例えば調速ロープ、調速綱車及びエンコーダを備える。調速ロープは、調速綱車に巻き掛けられ、エレベーターのかごに連動して移動する。即ち、かごが移動すると、調速ロープが移動する。また、調速ロープが移動すると、調速綱車が回転する。エンコーダは、調速綱車の回転方向及び回転角度に応じた回転信号を出力する。エンコーダから出力された回転信号は、かごを制御するために利用される。
　実施の形態１から３に示す例では、速度算出部１５がロープ１の移動速度Ｖを算出する。エレベーターのかごがロープ１によって吊り下げられていれば、ロープ１の移動速度Ｖはかごの移動速度に一致する。このため、エレベーターにおいて、調速機の代わりに速度算出部１５を用いてかごの速度を検出しても良い。かかる場合、エレベーターは調速機を備えていなくても良い。また、エレベーターにおいて、調速機とともに速度算出部１５を用いてかごの速度を検出しても良い。
　調速機では、調速ロープと調速綱車との間に発生する滑りによって検出誤差が生じ得る。調速機では、調速綱車の摩耗によって検出誤差が生じ得る。本検出装置であれば、表面データの取得を非接触で行うことができる。このため、かごの速度を精度良く検出することができる。更に、調速機を備える必要がなければ、エレベーターの構成を簡素化できる。
　符号９～１９に示す各部は、制御装置３が有する機能を示す。図２２は、制御装置３のハードウェア構成の例を示す図である。制御装置３は、ハードウェア資源として、例えばプロセッサ２２とメモリ２３とを含む処理回路を備える。記憶部９が有する機能はメモリ２３によって実現される。制御装置３は、メモリ２３に記憶されたプログラムをプロセッサ２２によって実行することにより、符号１０～１９に示す各部の機能を実現する。
　プロセッサ２２は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ　Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ　Ｕｎｉｔ）、中央処理装置、処理装置、演算装置、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ或いはＤＳＰともいわれる。メモリ２３として、半導体メモリ、磁気ディスク、フレキシブルディスク、光ディスク、コンパクトディスク、ミニディスク或いはＤＶＤを採用しても良い。採用可能な半導体メモリには、ＲＡＭ、ＲＯＭ、フラッシュメモリ、ＥＰＲＯＭ及びＥＥＰＲＯＭ等が含まれる。
　制御装置３が有する各機能の一部又は全部をハードウェアによって実現しても良い。制御装置３の機能を実現するハードウェアとして、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ＡＳＩＣ、ＦＰＧＡ、又はこれらの組み合わせを採用しても良い。
　この発明に係る検出装置は、表面に周期的な模様を有する長尺体を検出の対象とする装置に適用できる。
　１　ロープ
　２　センサヘッド
　３　制御装置
　４　光源
　５　光源
　６　受光素子
　７　受光素子
　８　信号線
　９　記憶部
　１０　データ処理部
　１１　類似度算出部
　１２　位相算出部
　１３　周期算出部
　１４　異常検出部
　１５　速度算出部
　１６　位置算出部
　１７　無効部
　１８　異常検出部
　１９　選択部
　２０　カメラ
　２１　ロープ
　２２　プロセッサ
　２３　メモリ

Claims (11)

  1. 　表面に周期的な模様を有する長尺体の第１表面データ及び第２表面データを取得するデータ取得手段と、
    　第１リファレンスデータ及び第２リファレンスデータを記憶する記憶手段と、
    　前記データ取得手段によって取得された第１表面データと前記第１リファレンスデータの第１類似度、前記データ取得手段によって取得された第１表面データと前記第２リファレンスデータの第２類似度、前記データ取得手段によって取得された第２表面データと前記第１リファレンスデータの第３類似度、及び前記データ取得手段によって取得された第２表面データと前記第２リファレンスデータの第４類似度を算出する類似度算出手段と、
    　前記類似度算出手段によって算出された第１類似度及び第２類似度を要素とする第１類似度ベクトルの偏角を第１位相として算出し、前記類似度算出手段によって算出された第３類似度及び第４類似度を要素とする第２類似度ベクトルの偏角を第２位相として算出する位相算出手段と、
    　前記位相算出手段によって算出された第１位相及び第２位相に基づいて、前記長尺体に形成された模様の周期を算出する周期算出手段と、
    　前記周期算出手段によって算出された周期に基づいて、前記長尺体の異常を検出する第１異常検出手段と、
    を備えた検出装置。
  2. 　表面に周期的な模様を有する長尺体の複数の表面データを取得するデータ取得手段と、
    　第１リファレンスデータ及び第２リファレンスデータを記憶する記憶手段と、
    　前記データ取得手段によって取得された表面データの中から第１表面データ及び第２表面データを選択する選択手段と、
    　前記選択手段によって選択された第１表面データと前記第１リファレンスデータの第１類似度、前記選択手段によって選択された第１表面データと前記第２リファレンスデータの第２類似度、前記選択手段によって選択された第２表面データと前記第１リファレンスデータの第３類似度、及び前記選択手段によって選択された第２表面データと前記第２リファレンスデータの第４類似度を算出する類似度算出手段と、
    　前記類似度算出手段によって算出された第１類似度及び第２類似度を要素とする第１類似度ベクトルの偏角を第１位相として算出し、前記類似度算出手段によって算出された第３類似度及び第４類似度を要素とする第２類似度ベクトルの偏角を第２位相として算出する位相算出手段と、
    　前記位相算出手段によって算出された第１位相及び第２位相に基づいて、前記長尺体に形成された模様の周期を算出する周期算出手段と、
    　前記周期算出手段によって算出された周期に基づいて、前記長尺体の異常を検出する第１異常検出手段と、
    を備えた検出装置。
  3. 　前記選択手段は、前記データ取得手段によって取得された表面データのうち、前記第１リファレンスデータとの類似度及び前記第２リファレンスデータとの類似度を要素とする類似度ベクトルのノルムが１番大きいものと２番目に大きいものとを第１表面データ及び第２表面データとして選択する請求項２に記載の検出装置。
  4. 　前記選択手段は、前記データ取得手段によって取得された表面データのうち、前記第１リファレンスデータとの類似度及び前記第２リファレンスデータとの類似度を要素とする類似度ベクトルのノルムが基準値以上のものの中から、なす角度が最大になる２つのものを第１表面データ及び第２表面データとして選択する請求項２に記載の検出装置。
  5. 　前記位相算出手段によって算出された第１位相及び第２位相に基づいて、前記長尺体の速度を算出する速度算出手段と、
    　前記速度算出手段によって算出された速度に基づいて、前記第１異常検出手段によって検出された異常の前記長尺体上での位置を算出する位置算出手段と、
    を更に備えた請求項１から請求項４の何れか一項に記載の検出装置。
  6. 　前記類似度算出手段によって算出された第１類似度及び第２類似度を要素とする第１類似度ベクトルのノルム又は前記類似度算出手段によって算出された第３類似度及び第４類似度を要素とする第２類似度ベクトルのノルムの少なくとも何れか一方に基づいて、前記長尺体の模様に異常が発生したことを検出する第２異常検出手段を更に備えた請求項１から請求項５の何れか一項に記載の検出装置。
  7. 　前記データ取得手段は、
    　前記長尺体に光を照射する第１光源と、
    　前記第１光源からの光の波長とは異なる波長の光を前記長尺体に照射する第２光源と、
    　前記長尺体で反射した前記第１光源からの光及び前記長尺体で反射した前記第２光源からの光を受ける受光素子と、
    を備えた請求項１から請求項６の何れか一項に記載の検出装置。
  8. 　表面に周期的な模様を有する第１長尺体の第１表面データ及び前記第１長尺体の表面に形成された模様と同じ模様を表面に有する第２長尺体の第２表面データを取得するデータ取得手段と、
    　第１リファレンスデータ及び第２リファレンスデータを記憶する記憶手段と、
    　前記データ取得手段によって取得された第１表面データと前記第１リファレンスデータの第１類似度、前記データ取得手段によって取得された第１表面データと前記第２リファレンスデータの第２類似度、前記データ取得手段によって取得された第２表面データと前記第１リファレンスデータの第３類似度、及び前記データ取得手段によって取得された第２表面データと前記第２リファレンスデータの第４類似度を算出する類似度算出手段と、
    　前記類似度算出手段によって算出された第１類似度及び第２類似度を要素とする第１類似度ベクトルの偏角を第１位相として算出し、前記類似度算出手段によって算出された第３類似度及び第４類似度を要素とする第２類似度ベクトルの偏角を第２位相として算出する位相算出手段と、
    　前記位相算出手段によって算出された第１位相及び第２位相に基づいて、前記第１長尺体又は前記第２長尺体に異常が発生したことを検出する第１異常検出手段と、
    を備えた検出装置。
  9. 　前記類似度算出手段によって算出された第１類似度及び第２類似度を要素とする第１類似度ベクトルのノルムに基づいて前記第１長尺体の模様に異常が発生したことを検出し、前記類似度算出手段によって算出された第３類似度及び第４類似度を要素とする第２類似度ベクトルのノルムに基づいて前記第２長尺体の模様に異常が発生したことを検出する第２異常検出手段を更に備えた請求項８に記載の検出装置。
  10. 　前記データ取得手段は、
    　前記第１長尺体及び前記第２長尺体に光を照射する光源と、
    　前記第１長尺体で反射した前記光源からの光及び前記第２長尺体で反射した前記光源からの光を受ける受光素子と、
    を備えた請求項８又は請求項９に記載の検出装置。
  11. 　前記類似度算出手段によって算出された第１類似度及び第２類似度を要素とする第１類似度ベクトルのノルム又は前記類似度算出手段によって算出された第３類似度及び第４類似度を要素とする第２類似度ベクトルのノルムの少なくとも何れか一方に基づいて、前記第１異常検出手段による異常検出を無効にする無効手段を更に備えた請求項１から請求項１０の何れか一項に記載の検出装置。
PCT/JP2017/004225 2017-02-06 2017-02-06 検出装置 WO2018142613A1 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2017/004225 WO2018142613A1 (ja) 2017-02-06 2017-02-06 検出装置
DE112017006997.1T DE112017006997T5 (de) 2017-02-06 2017-02-06 Detektionseinrichtung
CN201780084710.9A CN110226075A (zh) 2017-02-06 2017-02-06 检测装置
JP2018565223A JP6590088B2 (ja) 2017-02-06 2017-02-06 検出装置
US16/463,852 US11099138B2 (en) 2017-02-06 2017-02-06 Detection device
KR1020197022529A KR20190104184A (ko) 2017-02-06 2017-02-06 검출 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2017/004225 WO2018142613A1 (ja) 2017-02-06 2017-02-06 検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2018142613A1 true WO2018142613A1 (ja) 2018-08-09

Family

ID=63039448

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2017/004225 WO2018142613A1 (ja) 2017-02-06 2017-02-06 検出装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US11099138B2 (ja)
JP (1) JP6590088B2 (ja)
KR (1) KR20190104184A (ja)
CN (1) CN110226075A (ja)
DE (1) DE112017006997T5 (ja)
WO (1) WO2018142613A1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109341538A (zh) * 2018-10-17 2019-02-15 太原科技大学 一种测量轴承偏移量的测量方法
JP2020034387A (ja) * 2018-08-29 2020-03-05 オーチス エレベータ カンパニーＯｔｉｓ Ｅｌｅｖａｔｏｒ Ｃｏｍｐａｎｙ エレベータロープ伸び計測装置及びエレベータロープ伸び計測方法
JP2021021664A (ja) * 2019-07-30 2021-02-18 株式会社明電舎 エレベータ用ワイヤロープの速度検出装置、エレベータ用ワイヤロープの速度検出方法
WO2024171431A1 (ja) * 2023-02-17 2024-08-22 三菱電機株式会社 情報処理装置、検出方法、及び検出プログラム

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63219635A (ja) * 1986-12-06 1988-09-13 ローベルト・マーセン 糸またはロープの特性の測定および／または監視方法および装置
US20050002036A1 (en) * 2003-07-01 2005-01-06 Sang-Joon Bae Method and apparatus for measuring a pitch of stranded cable
WO2011105629A1 (ja) * 2010-02-25 2011-09-01 Ｊｆｅスチール株式会社 ワイヤロープピッチの測定方法とワイヤロープピッチ測定装置およびワイヤロープの製造方法
WO2016157290A1 (ja) * 2015-03-27 2016-10-06 三菱電機株式会社 検出装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI278598B (en) * 2004-12-22 2007-04-11 Univ Electro Communications 3D shape measurement device
WO2011108173A1 (ja) 2010-03-03 2011-09-09 三菱電機株式会社 ロープ検査装置
JP2012127675A (ja) * 2010-12-13 2012-07-05 Asahi Glass Co Ltd 表面形状の評価方法および評価装置
CN103429985B (zh) * 2011-01-19 2016-10-19 诺威量测设备股份有限公司 用于光学测量具有通孔的图案化结构的方法
FR3016699B1 (fr) * 2014-01-22 2016-02-12 Msc & Sgcc Procede et dispositif pour la detection notamment de defauts refractants

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63219635A (ja) * 1986-12-06 1988-09-13 ローベルト・マーセン 糸またはロープの特性の測定および／または監視方法および装置
US20050002036A1 (en) * 2003-07-01 2005-01-06 Sang-Joon Bae Method and apparatus for measuring a pitch of stranded cable
WO2011105629A1 (ja) * 2010-02-25 2011-09-01 Ｊｆｅスチール株式会社 ワイヤロープピッチの測定方法とワイヤロープピッチ測定装置およびワイヤロープの製造方法
WO2016157290A1 (ja) * 2015-03-27 2016-10-06 三菱電機株式会社 検出装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020034387A (ja) * 2018-08-29 2020-03-05 オーチス エレベータ カンパニーＯｔｉｓ Ｅｌｅｖａｔｏｒ Ｃｏｍｐａｎｙ エレベータロープ伸び計測装置及びエレベータロープ伸び計測方法
JP7134793B2 (ja) 2018-08-29 2022-09-12 オーチス エレベータ カンパニー エレベータロープ伸び計測装置及びエレベータロープ伸び計測方法
CN109341538A (zh) * 2018-10-17 2019-02-15 太原科技大学 一种测量轴承偏移量的测量方法
JP2021021664A (ja) * 2019-07-30 2021-02-18 株式会社明電舎 エレベータ用ワイヤロープの速度検出装置、エレベータ用ワイヤロープの速度検出方法
JP7318395B2 (ja) 2019-07-30 2023-08-01 株式会社明電舎 エレベータ用ワイヤロープの速度検出装置、エレベータ用ワイヤロープの速度検出方法
WO2024171431A1 (ja) * 2023-02-17 2024-08-22 三菱電機株式会社 情報処理装置、検出方法、及び検出プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
DE112017006997T5 (de) 2019-10-17
US11099138B2 (en) 2021-08-24
JPWO2018142613A1 (ja) 2019-11-07
US20190345648A1 (en) 2019-11-14
CN110226075A (zh) 2019-09-10
JP6590088B2 (ja) 2019-10-16
KR20190104184A (ko) 2019-09-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6590088B2 (ja) 検出装置
US8718352B2 (en) System and method for testing ropes
KR101748559B1 (ko) 회전체 진단 장치 및 방법
US20150308909A1 (en) Fiber optic pipeline acoustic measurement method, device, and system
US10684120B2 (en) Wire rope measuring device and wire rope measuring method
KR20170068506A (ko) 로프 지름 계측 시스템, 로프 지름 계측 장치, 로프 지름 계측 방법 및 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 저장된 프로그램
JP4285486B2 (ja) ケーブルの形状状態測定方法、及びこれに用いるケーブルの形状状態測定システム、ケーブルの形状状態測定プログラム、ケーブル状態評価方法
JP6013088B2 (ja) 中心位置検出装置、プログラム、記録媒体、及び方法
CN115298513A (zh) 带有绳索附接装置的用于绳索的三维光学测量移动设备
JP2020532438A (ja) 非接触工具設定装置および方法
KR101936009B1 (ko) 검출 장치
KR102618682B1 (ko) 로프의 파라미터를 측정하기 위한 장치
US11344982B2 (en) Screw fastening device and screw fastening method
JP6356579B2 (ja) 渦電流探傷装置および渦電流探傷方法
US7227641B2 (en) Method and apparatus for measuring a pitch of stranded cable
EP3161440B1 (en) A method of determining deformation in a structure
Menke et al. Development of a combined measurement system for torque and angular position
JP7566698B2 (ja) 測定システム及び測定方法
JP5943778B2 (ja) 座厚測定装置、プログラム、記録媒体、及び方法
JP7087824B2 (ja) 角度検出装置及び角度検出方法
WO2016157289A1 (ja) 検出装置
KR102267667B1 (ko) 응력 측정 방법
JP2006112964A (ja) 光学センサ装置
CN113532287B (zh) 基于dic的海洋柔性管道螺旋构件相对滑移的测量方法
KR101426658B1 (ko) 기어의 형상을 검사하는 방법 및 장치

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 17895126

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2018565223

Country of ref document: JP

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20197022529

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 17895126

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1